CN215728617U - 一种按压式老化测试装置 - Google Patents
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Abstract
一种按压式老化测试座，其包括一个底座，一个设置在所述底座上端中部的安装腔，一个嵌装在所述安装腔中的测试针座，一个设置在所述底座上方的上盖，一个设置在所述上盖中部的进料口，一个设置在所述底座与上盖之间的弹性按压结构，以及一个设置在所述上盖上的转动限位结构。所述转动限位结构包括两个对称设置在所述底座两侧且连通安装腔的安装缺口，两个分别对应设置在所述安装缺口中的定位销，一个套设在所述定位销外侧上的限位块，一个设置在所述限位块靠近测试针座一端的压头，本按压式老化测试装置能够反复实用，结构通用型强，实现芯片的双向弹性抵接限位，测试稳定性好。
Description
技术领域
本实用新型属于测试装置技术领域，特别是一种按压式老化测试装置。
背景技术
随着集成电路集成度的不断增加、集成电路应用领域的不断扩展、集成电路功能的更加多样化，集成电路芯片的功能性能筛选及可靠性测试越来越受到重视。
现有的芯片老化测试装置中，使用的是性能较差的工程塑料模与插针式触电一一焊接在电路板上的方式或放置待测芯片的夹具和电路板是固定在一起的，放进老化测试机，电路板放进测试装置内后还需要接通，测试完后又要断开电路板，将电路板和夹具一起取出，安装操作与拆卸不方便，浪费时间。
实用新型内容
有鉴于此，本实用新型提供了一种按压式老化测试装置，以解决上述问题。
一种按压式老化测试座，其包括一个底座，一个设置在所述底座上端中部的安装腔，一个嵌装在所述安装腔中的测试针座，一个设置在所述底座上方的上盖，一个设置在所述上盖中部的进料口，一个设置在所述底座与上盖之间的弹性按压结构，以及一个设置在所述上盖上的转动限位结构。所述转动限位结构包括两个对称设置在所述底座两侧且连通安装腔的安装缺口，两个分别对应设置在所述安装缺口中的定位销，一个套设在所述定位销外侧上的限位块，一个设置在所述限位块靠近测试针座一端的压头，至少一个设置在所述限位块远离测试针座一端的连接孔，至少一个穿设在所述连接孔的铰接销，以及至少一个设置在所述上盖一侧底部且与铰接销连接的下压柱。
进一步地，所述弹性按压结构包括四个分别设置在所述底座上端角部的安装盲孔一，四个分别设置在所述上盖底端角部的安装盲孔二，一个设置在所述安装盲孔一和安装盲孔二之间的固定销，一个套设在所述固定销外侧且位于安装盲孔一和安装盲孔二之间的的弹性体，以及一个设置在所属底座和上盖之间的导向结构。
进一步地，所述固定销的长度小于安装盲孔一的深度和安装盲孔二的深度之和。
进一步地，所述导向结构包括两个对称设置在所述底座两侧外壁的让位槽，至少一个设置在所述让位槽内壁上的导向销，两个对称设置在所述上盖两侧底部且伸入让位槽中的导向柱，以及至少一个供所述导向销穿过的导向条形孔。
进一步地，所述测试针座包括一个设置在所述底座底部的负载测试板，一个设置在所述底座上且与负载测试板连接的针板，一个设置在所述针板上端中部的限位框，以及若干个竖直穿设在所述针板且伸出限位框的弹簧顶针。
进一步地，所述针板上端且位于限位框的周边边缘设有导向倒角。
进一步地，所述上盖还设有两个连通所述进料口且供压头旋转卡入的让位缺口。
与现有技术相比，本实用新型提供的一种按压式老化测试装置采用弹性按压结构配合转动限位结构达到芯片上端限位，只需针对不同芯片测试更换测试针座，能够反复实用，结构通用型强，同时配合测试针座的限位框和底部的弹簧顶针，实现芯片的双向弹性抵接限位，测试稳定性好。
附图说明
图1为本实用新型提供的一种按压式老化测试装置的结构示意图。
图2为图1的按压式老化测试装置所具有的测试针座的结构示意图。
图3为图1的按压式老化测试装置所具有的转动限位结构的结构示意图。
图4为图1的按压式老化测试装置所具有的弹性按压结构的结构示意图。
具体实施方式
以下对本实用新型的具体实施例进行进一步详细说明。应当理解的是，此处对本实用新型实施例的说明并不用于限定本实用新型的保护范围。
请参阅图1至图4，其为本实用新型提供的一种按压式老化测试装置的结构示意图。一种按压式老化测试座，其包括一个底座10，所述底座10上端中部具有一个安装腔11，所述安装腔11中嵌装有一个测试针座30，所述底座10上方的设有一个上盖20，所述上盖20中部具有一个进料口21，所述底座10与上盖20之间通过弹性按压结构40连接，由弹性按压结构实现上盖竖直弹性移动，同时驱动设置在所述上盖20上的转动限位结构50进行对应操作。可以想到的是，本按压式老化测试座还包括其他功能组件以及具体结构，例如电气连接组件，安装结构等，其均为本领域技术人员所习知的技术，故在此不再一一详细说明。
底座10作为安装载体，安装腔11给予测试针座30安装空间，也利于测试针座30与、弹性按压结构40和转动限位结构50相互配合。
所述测试针座30包括一个设置在所述底座10底部的负载测试板31，一个设置在所述底座10上且与负载测试板31连接的针板32，一个设置在所述针板32上端中部的限位框33，以及若干个竖直穿设在所述针板32且伸出限位框33的弹簧顶针34。负载测试板31连接针板32，针板32分别上针板和下针板且竖直连接配合，待测试的芯片由进料口21进入安装腔11，并放置在限位框33实现定位，所述针板32上端且位于限位框33的周边边缘设有导向倒角35，通过该导向倒角35，有利于待测试的芯片的精确放置且避免倾斜情况。针板32为弹簧顶针34提供行程路径，弹簧顶针34上下端均有凸出针板32表面，分别对应接触待测试的芯片和负载测试版上的连接点。弹簧顶针34内部设有弹性，使其一定行程内进行压缩回弹，当待测试的芯片放置在限位框33中时，弹簧顶针34受力回缩且始终与待测试的芯片紧密连接。
所述弹性按压结构40包括四个分别设置在所述底座10上端角部的安装盲孔一41，四个分别设置在所述上盖20底端角部的安装盲孔二42，一个设置在所述安装盲孔一41和安装盲孔二42之间的固定销43，一个套设在所述固定销43外侧且位于安装盲孔一41和安装盲孔二42之间的的弹性体44，以及一个设置在所属底座10和上盖20之间的导向结构45。通过按压上盖20向底座10移动，挤压弹性体44，即可驱动转动限位结构50，待到撤去上盖20的外力后，弹性体44具有的弹性势能，迫使转动限位结构50回至原位。弹性体44即为压缩弹簧，通过安装盲孔一41，安装盲孔二42和固定销43，使弹性体44竖直导向压缩。所述固定销43的长度小于安装盲孔一41的深度和安装盲孔二42的深度之和，避免弹性压缩过程固定销43两端对安装盲孔一41和安装盲孔二42的施力破坏。在本实施例中，固定销43固定在安装盲孔二42中。
所述导向结构45包括两个对称设置在所述底座10两侧外壁的让位槽451，至少一个设置在所述让位槽451内壁上的导向销452，两个对称设置在所述上盖20两侧底部且伸入让位槽451中的导向柱453，以及至少一个供所述导向销452穿过的导向条形孔454。让位槽451与和导向柱453的配合使结构更加紧凑，在按压上盖20和上盖20回升时，导向销452不动，导向条形孔454竖直移动，进一步针对弹性按压结构40的运动方向保持稳定性。
所述转动限位结构50包括两个对称设置在所述底座10两侧且连通安装腔11的安装缺口51，两个分别对应设置在所述安装缺口51中的定位销52，一个套设在所述定位销52外侧上的限位块53，一个设置在所述限位块53靠近测试针座30一端的压头54，至少一个设置在所述限位块53远离测试针座30一端的连接孔55，至少一个穿设在所述连接孔55的铰接销56，以及至少一个设置在所述上盖20一侧底部且与铰接销56连接的下压柱57。所述上盖20还设有两个连通所述进料口21且供压头54旋转卡入的让位缺口。下压柱57随上盖20同步移动，即随弹性按压结构40受力驱动。当下压柱57随上盖20下压时，驱动限位块53的铰接销56的一端下降，压头54一端向上打开并卡入让位缺口中同时该压头54呈弧形状，使待测试的芯片由进料口21放置在限位框33时不会与压头54之间产生干涉。上盖20上取消施压力，限位部翻转，压头54受到压缩弹簧反向压力便会按压住待测试芯片。此时弹簧顶针34上下端均有施加力收缩，而待测试的芯片上下两端均为弹性抵接限位，不会损坏芯片，最终等待安装并与客户机台设备后便可实现导通测试。
本实用新型提供的一种按压式老化测试装置采用弹性按压结构40配合转动限位结构50达到芯片上端限位，只需针对不同芯片测试更换测试针座30，能够反复实用，结构通用型强，同时配合测试针座30的限位框33和底部的弹簧顶针34，实现芯片的双向弹性抵接限位，测试稳定性好。
以上仅为本实用新型的较佳实施例，并不用于局限本实用新型的保护范围，任何在本实用新型精神内的修改、等同替换或改进等，都涵盖在本实用新型的权利要求范围内。
Claims (7)
1.一种按压式老化测试装置，其特征在于：所述按压式老化测试座包括一个底座，一个设置在所述底座上端中部的安装腔，一个嵌装在所述安装腔中的测试针座，一个设置在所述底座上方的上盖，一个设置在所述上盖中部的进料口，一个设置在所述底座与上盖之间的弹性按压结构，以及一个设置在所述上盖上的转动限位结构，所述转动限位结构包括两个对称设置在所述底座两侧且连通安装腔的安装缺口，两个分别对应设置在所述安装缺口中的定位销，一个套设在所述定位销外侧上的限位块，一个设置在所述限位块靠近测试针座一端的压头，至少一个设置在所述限位块远离测试针座一端的连接孔，至少一个穿设在所述连接孔的铰接销，以及至少一个设置在所述上盖一侧底部且与铰接销连接的下压柱。
2.如权利要求1所述的按压式老化测试装置，其特征在于：所述弹性按压结构包括四个分别设置在所述底座上端角部的安装盲孔一，四个分别设置在所述上盖底端角部的安装盲孔二，一个设置在所述安装盲孔一和安装盲孔二之间的固定销，一个套设在所述固定销外侧且位于安装盲孔一和安装盲孔二之间的弹性体，以及一个设置在所属底座和上盖之间的导向结构。
3.如权利要求2所述的按压式老化测试装置，其特征在于：所述固定销的长度小于安装盲孔一的深度和安装盲孔二的深度之和。
4.如权利要求2所述的按压式老化测试装置，其特征在于：所述导向结构包括两个对称设置在所述底座两侧外壁的让位槽，至少一个设置在所述让位槽内壁上的导向销，两个对称设置在所述上盖两侧底部且伸入让位槽中的导向柱，以及至少一个供所述导向销穿过的导向条形孔。
5.如权利要求1所述的按压式老化测试装置，其特征在于：所述测试针座包括一个设置在所述底座底部的负载测试板，一个设置在所述底座上且与负载测试板连接的针板，一个设置在所述针板上端中部的限位框，以及若干个竖直穿设在所述针板且伸出限位框的弹簧顶针。
6.如权利要求5所述的按压式老化测试装置，其特征在于：所述针板上端且位于限位框的周边边缘设有导向倒角。
7.如权利要求1所述的按压式老化测试装置，其特征在于：所述上盖还设有两个连通所述进料口且供压头旋转卡入的让位缺口。
Priority Applications (1)
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| CN202121642126.0U CN215728617U (zh) | 2021-07-19 | 2021-07-19 | 一种按压式老化测试装置 |
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Denomination of utility model: A press aging test device Effective date of registration: 20220621 Granted publication date: 20220201 Pledgee: Zhejiang Jiashan Rural Commercial Bank Co.,Ltd. Yaozhuang sub branch Pledgor: Zhejiang bangruida Technology Co.,Ltd. Registration number: Y2022990000350 |
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