CN219417648U - 抽取式高温测试装置 - Google Patents
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Abstract
本实用新型涉及一种抽取式高温测试装置，包括抽屉板和转接板，抽屉板的左右两侧设置有滑块，其上方则固定有测试插板；测试插板上设置有若干IC插座和第一端子，若干IC插座与第一端子电性连接；转接板前方设置有与第一端子配合的第二端子，其后方设置有若干连接端子，第一端子和第二端子为相互配合的公母端子，第二端子与若干连接端子电性连接且将测试信号分流至若干连接端子。本实用新型通过采用抽屉模式，将以前固定式的测试插板设计成两个模块，分别为测试插板和转接板。从而将以前固定式的测试插板转换为可抽取式的测试插板，方便人员操作，操作人员无需再烘箱内部进行操作，大大提高IC芯片的测试效率和操作的安全性能。
Description
技术领域
本实用新型涉及半导体IC芯片测试技术领域，具体涉及一种抽取式高温测试装置。
背景技术
随着半导体技术的快速发展，在IC芯片封装后，一般还需要对其进行多项的电性测试，以模拟其在实际环境中的性能表现。在原有的IC芯片高温测试中，芯片测试板是固定在烘箱内部的层板上，操作人员需要将手伸进烘箱内部取放IC芯片。烘箱内部的高温环境给取放IC芯片带来了很多的不便，而且严重影响测试的效率。
同时，因为芯片测试板与烘箱里的层板是固定的，为了确保烘箱内部温度的稳定，焊接有连接端子的后端测试板需要伸出烘箱外，连接端子用于连接通信端子与计算机进行通信。因此通信端子在拔插的时候，需要注意角度和力度，避免破坏连接端子和测试版。
实用新型内容
本实用新型解决的技术问题是提供一种抽取式高温测试装置，以提高IC芯片的测试效率和安全性能。
本实用新型解决其技术问题所采用的技术方案是：
抽取式高温测试装置，包括抽屉板和转接板，所述抽屉板的左右两侧设置有滑块，其上方则固定有测试插板；所述测试插板上设置有若干IC插座和第一端子，所述若干IC插座与所述第一端子电性连接；所述转接板前方设置有与第一端子配合的第二端子，其后方设置有若干连接端子，所述第一端子和所述第二端子为相互配合的公母端子，所述第二端子与所述若干连接端子电性连接且将测试信号分流至若干连接端子。
进一步的，所述转接板前方设置有用于密封的密封皮，其后方设置有用于压紧的固定板，所述固定板、所述转接板和所述密封皮前后均开孔，并通过螺丝固定在烘箱后方。
进一步的，所述第一端子的左右两侧设置有定位孔，其后方开有定位孔，所述第二端子的左右两侧则设置有定位柱，所述定位柱插入到所述定位孔中实现所述第一端子和第二端子的快速对齐定位。
优选的，所述第一端子为公端子，所述第二端子为母端子。
优选的，所述抽屉板和所述测试插板均均为矩形，且后缘对齐，所述第一端子伸出所述抽屉板。
进一步的，所述抽屉板前方设置有用于握持的把手。
进一步的，所述连接端子设置有四个。
进一步的，所述测试插板和所述转接板均为PCB板。
本实用新型的有益效果是：
本实用新型通过采用抽屉模式，将以前固定式的测试插板设计成两个模块，分别为测试插板和转接板，测试插板固定在抽屉板上方，并在抽屉板的左右两侧设置有滑块，测试插板的后端则设置有公端子，转接板固定在烘箱后方，其前方设置有母端子，通过公母端子的连接，公母端子配合连接实现通讯。从而将以前固定式的测试插板转换为可抽取式的测试插板，从而方便人员操作，操作人员无需再烘箱内部进行操作，通过将测试插板快速抽出即可更换IC芯片，大大提高IC芯片的测试效率和操作的安全性能。而且，方便后期的维护工作，测试插板和转接板可以快速的拆卸取出。
附图说明
图1为本实用新型的爆炸图；
图2为图1的组合状态图；
图3为图2另一视角的结构图；
图4为本实用新型的应用示意图；
图中标记为：
1、抽屉板，101、把手、102、螺丝孔柱，103、滑块，104、滑轨，2、测试插板，201、第一端子，2011、定位块，202、IC插座，3、转接板，301、第二端子，3011、定位柱，302、连接端子，303、密封皮，304、固定板，4、烘箱框架，5、压紧门。
具体实施方式
为使本实用新型的上述目的、特征和优点能够更加明显易懂，下面结合附图对本实用新型的具体实施方式做详细的说明。在下面的描述中阐述了很多具体细节以便于充分理解本实用新型。但是本实用新型能够以很多不同于在此描述的其它方式来实施，本领域技术人员可以在不违背本实用新型内涵的情况下做类似改进，因此本实用新型不受下面公开的具体实施例的限制。
除非另有定义，本文所使用的所有的技术和科学术语与属于本实用新型的技术领域的技术人员通常理解的含义相同。本文中在本实用新型的说明书中所使用的术语只是为了描述具体的实施例的目的，不是旨在于限制本实用新型。本文所使用的术语“及/或”包括一个或多个相关的所列项目的任意的和所有的组合。
如图1-3所示，本实用新型提供了一种抽取式高温测试装置，包括抽屉板1和转接板3，抽屉板1上固定有测试插板2，测试插板2为一测试PCB板，其上方设置有若干用于连接IC芯片的IC插座202，其后端设置有第一端子201，转接板3为一转接PCB板，其前方设置有与第一端子201配合的第二端子301，其后方设置有若干连接端子302。前述若干IC插座202与第一端子201电性连接，第二端子301与若干连接端子302电性连接且进行信号分流处理，第一端子201和第二端子301为相互配合的公母端子，在一实施例中，第一端子201为公端子，第二端子301为母端子，相互配合的公母端子采用300pin的端子，连接端子则采用68pin的端子，从而可以实现一转四，实现若干IC芯片的同步测试工作，在本实施例中，一块测试PCB板上最大可安装16个IC芯片进行同步测试工作。
上述抽屉板1前端设置有把手101、其两侧设置有滑块103，在烘箱的层板上则固定有与所述滑块103配合的滑轨104，滑块103包括但不限于滑轮，其与滑轨104滑动连接。通过前后抽拉把手101，即可带动抽屉板上方的测试插板前后运动，向前插入烘箱内部，测试插板后端的第一端子201插入到转接板前方的第二端子301实现电性连接和信号通讯，向后抽出烘箱，第一端子与第二端子分离。通过抽屉板从而方便操作人员快速抽出以更换IC芯片，大大提高了IC芯片的测试效率。操作人员也不需要在烘箱内部操作，大大提高了安全性能。
进一步的，如图1所示，抽屉板1和测试插板2均为矩形，抽屉板1上设置有若干用于固定测试插板2的螺纹柱102。测试插板2平铺固定在抽屉板1上表面，其后端对齐，且第一端子201伸出抽屉板1的后缘以插入到第二端子301中。第一端子和第二端子均通过螺丝分别固定在测试插板和转接板上，为了将第一端子和第二端子顺利的对准插入实现通讯，第一端子的左右两侧固定有定位块2011，其后方开有定位孔，相对应的转接板前方的第二端子左右两侧则设置有定位柱3011，通过将定位柱插入到定位孔中，可快速的将第一端子和第二端子对齐插入。进一步的，所述定位柱可以是固定第二端子的螺丝柱，通过螺丝柱一方面可以将第二端子固定在转接板上，另一方面可以实现定位柱的功能。
其中，IC插座阵列布置焊接在测试插板上表面，在一实施例中，测试插板2上焊接有16个IC插座，分上下两排阵列布置，可同时对16个IC芯片进行高温测试工作。
如图2-4所示，为本实用新型的应用示意图，转接板3前方设置有密封皮303，密封皮采用硅胶片，尺寸与转接板相同，其后方设置有固定板304，并开有若干固定孔，通过螺丝将固定板304、转接板3和密封皮303固定在烘箱后侧。密封皮303为了确保烘箱内部环境处于密封，确保测试温度的稳定，固定板304为了避免螺丝破坏转接板。
如图4所示，烘箱内部包括烘箱框架4，烘箱烘烤4上水平布置有若干层板，前述的滑轨就固定在左右层板上，抽屉板通过滑块与滑轨的配合，在层板上前后滑动。进一步的，为了避免测试过程中抽屉板的移动，导致第一端子和第二端子断开，在烘箱门内侧还设置有用于压紧抽屉板的压紧门5。
以上所述的具体实施例，对本实用新型的目的、技术方案和有益效果进行了进一步详细说明，所应理解的是，以上所述仅为本实用新型的具体实施例而已，并不用于限制本实用新型，凡在本实用新型的精神和原则之内，所做的任何修改、等同替换、改进等，均应包含在本实用新型的保护范围之内。
Claims (8)
1.抽取式高温测试装置，其特征在于：包括抽屉板和转接板，所述抽屉板的左右两侧设置有滑块，其上方则固定有测试插板；所述测试插板上设置有若干IC插座和第一端子，所述若干IC插座与所述第一端子电性连接；所述转接板前方设置有与第一端子配合的第二端子，其后方设置有若干连接端子，所述第一端子和所述第二端子为相互配合的公母端子，所述第二端子与所述若干连接端子电性连接且将测试信号分流至若干连接端子。
2.如权利要求1所述的抽取式高温测试装置，其特征在于：所述转接板前方设置有用于密封的密封皮，其后方设置有用于压紧的固定板，所述固定板、所述转接板和所述密封皮前后均开孔，并通过螺丝固定在烘箱后方。
3.如权利要求1所述的抽取式高温测试装置，其特征在于：所述第一端子的左右两侧设置有定位孔，其后方开有定位孔，所述第二端子的左右两侧则设置有定位柱，所述定位柱插入到所述定位孔中实现所述第一端子和第二端子的快速对齐定位。
4.如权利要求1-3任一权利要求所述的抽取式高温测试装置，其特征在于：所述第一端子为公端子，所述第二端子为母端子。
5.如权利要求4所述的抽取式高温测试装置，其特征在于：所述抽屉板和所述测试插板均为矩形，且后缘对齐，所述第一端子伸出所述抽屉板。
6.如权利要求5所述的抽取式高温测试装置，其特征在于：所述抽屉板前方设置有用于握持的把手。
7.如权利要求4所述的抽取式高温测试装置，其特征在于：所述连接端子设置有四个。
8.如权利要求4所述的抽取式高温测试装置，其特征在于：所述测试插板和所述转接板均为PCB板。
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