CN214675156U - 一种光模块测试装置用测试盒 - Google Patents
一种光模块测试装置用测试盒 Download PDFInfo
- Publication number
- CN214675156U CN214675156U CN202120998451.4U CN202120998451U CN214675156U CN 214675156 U CN214675156 U CN 214675156U CN 202120998451 U CN202120998451 U CN 202120998451U CN 214675156 U CN214675156 U CN 214675156U
- Authority
- CN
- China
- Prior art keywords
- box body
- testing
- test
- testing box
- test box
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Active
Links
Images
Landscapes
- Mounting Of Printed Circuit Boards And The Like (AREA)
Abstract
本实用新型公开了一种光模块测试装置用测试盒，包括底板，所述底板的顶部滑动连接有对称设置的两个测试盒盒体，所述测试盒盒体的顶部设置有用于放置待测模块的放置组件，所述底板的底部四角均固定连接有脚垫，本实用新型结构简单，通过将插卡测试测试板卡平稳地插入主测试箱内，使得多针连接器插头与多针连接器插座连接，待测模块精准地插入插卡测试测试板卡内，即可开始检测，多个模块插卡卡槽的设置，也可以大幅提高工作效率，并且节省成本，使用方便。
Description
技术领域
本实用新型涉及光模块测试技术领域，尤其涉及一种光模块测试装置用测试盒。
背景技术
随着互联网与无线通信技术的飞速发展，光纤介质逐渐替代铜用于通信传输，而光模块作为光纤系统中的核心器件之一，其质量的好坏直接影响到光纤通信的质量。
为了保证光模块产品的质量，通常需要对光模块的使用参数进行测量。但是，目前现有的光模块测试设备在对光模块产品进行测量时，一次只能测试一个模块，导致需要大量装置进行检测，不仅占用了空间，耗费大量成本，同时也需要更多的工人对其进行检测，并且测试效率低，不能满足需求，所以我们提出一种光模块测试装置用测试盒，用以解决上述所提到的问题。
实用新型内容
本实用新型的目的是为了解决现有技术中存在的缺点，而提出的一种光模块测试装置用测试盒。
为了实现上述目的，本实用新型采用了如下技术方案：
一种光模块测试装置用测试盒，包括底板，所述底板的顶部滑动连接有对称设置的两个测试盒盒体，所述测试盒盒体的顶部设置有用于放置待测模块的放置组件，所述底板的底部四角均固定连接有脚垫。
优选地，所述放置组件包括设置在测试盒盒体顶部的压块，所述压块通过第三锁紧螺丝与测试盒盒体相连接，所述测试盒盒体的内部设置有插卡测试测试板卡，所述插卡测试测试板卡的一端设置有多针连接器插头，所述多针连接器插头卡合在压块和测试盒盒体之间，所述测试盒盒体的顶部设置有测试盒盖板，所述测试盒盖板的顶部开设有进气口，所述测试盒盖板和测试盒盒体通过第二锁紧螺丝固定连接，所述插卡测试测试板卡的一侧设置有多个模块插卡卡槽。
优选地，所述测试盒盒体的顶部设置有两两对称的四个滑轨，所述滑轨与测试盒盒体通过第一固定螺丝固定连接，所述测试盒盒体的顶部固定连接有两两对称的四个限位螺丝，所述限位螺丝位于滑轨的一侧，所述滑轨的内部滑动连接有滑块，所述滑块与测试盒盒体的底部通过模块插卡卡槽固定连接。
优选地，位于同一侧的两个所述滑轨之间的距离为11厘米。
优选地，所述测试盒盒体的一侧中部设置有固定板，所述固定板与测试盒盒体通过第二固定螺丝固定连接，所述固定板的底部固定连接有拉手，所述测试盒盒体的顶部螺纹连接有对称设置的两个定位螺丝，所述拉手的顶部设置有与定位螺丝相适配的螺纹孔。
优选地，所述插卡测试测试板卡设置有两种，且均设计有I2C总线BUS的扩展。
与现有技术相比，本实用新型的有益效果是：
1、本实用新型中，将插卡测试测试板卡平稳地插入主测试箱内，使得多针连接器插头与多针连接器插座连接，用于保证气密性，进而延长装置的使用寿命；
2、本实用新型中，确认插入完毕后，利用定位螺丝将拉手固定在底板上，以保证测试盒盒体稳定不晃动；
3、本实用新型中，将待测模块精准地插入插卡测试测试板卡内，根据插卡测试板的类型可同时插入四个SFP28/SFP+的模块，或者两个QSFP28的模块，进而提高检测效率；
4、本实用新型中，通过软件对待测模块进行测试，在测试时，通过进气口使测试产品时把产品温度升高到高温或降低低温，气体由设备加热或降温，通过进气口进入测试盒盖板的内部，进而使测试盒盒体内部温度达到需要的问题，测试在此温度下的产品性能。
本实用新型结构简单，通过将插卡测试测试板卡平稳地插入主测试箱内，使得多针连接器插头与多针连接器插座连接，待测模块精准地插入插卡测试测试板卡内，即可开始检测，多个模块插卡卡槽的设置，也可以大幅提高工作效率，并且节省成本，使用方便。
附图说明
图1为本实用新型提出的一种光模块测试装置用测试盒去除一个测试盒盒体的三维图；
图2为本实用新型提出的一种光模块测试装置用测试盒的爆炸图；
图3为本实用新型提出的一种光模块测试装置用测试盒的主视结构示意图；
图4为本实用新型提出的一种光模块测试装置用测试盒的右视结构示意图；
图5为本实用新型提出的一种光模块测试装置用测试盒的左视结构示意图；
图6为本实用新型提出的一种光模块测试装置用测试盒的俯视结构示意图；
图7为本实用新型提出的一种光模块测试装置用测试盒去除两个测试盒盒体的俯视结构示意图。
图中：1、压块；2、第三锁紧螺丝；3、进气口；4、测试盒盒体；5、第二固定螺丝；6、拉手；7、固定板；8、模块插卡卡槽；9、测试盒盖板；10、定位螺丝；11、限位螺丝；12、滑轨；13、第一固定螺丝；14、脚垫；15、滑块；16、第二锁紧螺丝；17、底板；18、多针连接器插头；19、插卡测试测试板卡；20、第一锁紧螺丝。
具体实施方式
下面将结合本实用新型实施例中的附图，对本实用新型实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，所描述的实施例仅仅是本实用新型一部分实施例，而不是全部的实施例。
实施例一
参照图1-7，一种光模块测试装置用测试盒，包括底板17，底板17的顶部滑动连接有对称设置的两个测试盒盒体4，测试盒盒体4的顶部设置有用于放置待测模块的放置组件，底板17的底部四角均固定连接有脚垫14。
实施例二
本实施例在实施例一的基础上进行改进：放置组件包括设置在测试盒盒体4顶部的压块1，压块1通过第三锁紧螺丝2与测试盒盒体4相连接，测试盒盒体4的内部设置有插卡测试测试板卡19，插卡测试测试板卡19的一端设置有多针连接器插头18，所述多针连接器插头35为金手指插座(母)，多针连接器插头18卡合在压块1和测试盒盒体4之间，测试盒盒体4的顶部设置有测试盒盖板9，测试盒盖板9的顶部开设有进气口3，测试盒盖板9和测试盒盒体4通过第二锁紧螺丝16固定连接，插卡测试测试板卡19的一侧设置有多个模块插卡卡槽8。
实施例三
本实施例在实施例一的基础上进行改进：测试盒盒体4的顶部设置有两两对称的四个滑轨12，滑轨12与测试盒盒体4通过第一固定螺丝13固定连接，测试盒盒体4的顶部固定连接有两两对称的四个限位螺丝11，限位螺丝11位于滑轨12的一侧，滑轨12的内部滑动连接有滑块15，滑块15与测试盒盒体4的底部通过第一锁紧螺丝(20)固定连接，位于同一侧的两个滑轨12之间的距离为11厘米，测试盒盒体4的一侧中部设置有固定板7，固定板7与测试盒盒体4通过第二固定螺丝5固定连接，固定板7的底部固定连接有拉手6，测试盒盒体4的顶部螺纹连接有对称设置的两个定位螺丝10，拉手6的顶部设置有与定位螺丝10相适配的螺纹孔，插卡测试测试板卡19设置有两种，且均设计有I2C总线BUS的扩展。
工作原理：将插卡测试测试板卡19平稳地插入主测试箱内，使得多针连接器插头18与多针连接器插座连接，用于保证气密性，进而延长装置的使用寿命，确认插入完毕后，利用定位螺丝10将拉手6固定在底板17上，以保证测试盒盒体4稳定不晃动，将待测模块精准地插入插卡测试测试板卡19内，根据插卡测试板的类型可同时插入四个SFP28/SFP+的模块，或者两个QSFP28的模块，双槽位独立设计，进而提高检测效率；通过软件对待测模块进行测试，在测试时，通过进气口3使测试产品时把产品温度升高到高温或降低低温，气体由设备加热或降温，通过进气口3进入测试盒盖板9的内部，进而使测试盒盒体4内部温度达到需要的问题，测试在此温度下的产品性能。
以上所述，仅为本实用新型较佳的具体实施方式，但本实用新型的保护范围并不局限于此，任何熟悉本技术领域的技术人员在本实用新型揭露的技术范围内，根据本实用新型的技术方案及其实用新型构思加以等同替换或改变，都应涵盖在本实用新型的保护范围之内。
Claims (6)
1.一种光模块测试装置用测试盒，包括底板(17)，其特征在于，所述底板(17)的顶部滑动连接有对称设置的两个测试盒盒体(4)，所述测试盒盒体(4)的顶部设置有用于放置待测模块的放置组件，所述底板(17)的底部四角均固定连接有脚垫(14)。
2.根据权利要求1所述的一种光模块测试装置用测试盒，其特征在于，所述放置组件包括设置在测试盒盒体(4)顶部的压块(1)，所述压块(1)通过第三锁紧螺丝(2)与测试盒盒体(4)相连接，所述测试盒盒体(4)的内部设置有插卡测试测试板卡(19)，所述插卡测试测试板卡(19)的一端设置有多针连接器插头(18)，所述多针连接器插头(18)卡合在压块(1)和测试盒盒体(4)之间，所述测试盒盒体(4)的顶部设置有测试盒盖板(9)，所述测试盒盖板(9)的顶部开设有进气口(3)，所述测试盒盖板(9)和测试盒盒体(4)通过第二锁紧螺丝(16)固定连接，所述插卡测试测试板卡(19)的一侧设置有多个模块插卡卡槽(8)。
3.根据权利要求1所述的一种光模块测试装置用测试盒，其特征在于，所述测试盒盒体(4)的顶部设置有两两对称的四个滑轨(12)，所述滑轨(12)与测试盒盒体(4)通过第一固定螺丝(13)固定连接，所述测试盒盒体(4)的顶部固定连接有两两对称的四个限位螺丝(11)，所述限位螺丝(11)位于滑轨(12)的一侧，所述滑轨(12)的内部滑动连接有滑块(15)，所述滑块(15)与测试盒盒体(4)的底部通过第一锁紧螺丝(20)固定连接。
4.根据权利要求3所述的一种光模块测试装置用测试盒，其特征在于，位于同一侧的两个所述滑轨(12)之间的距离为11厘米。
5.根据权利要求1所述的一种光模块测试装置用测试盒，其特征在于，所述测试盒盒体(4)的一侧中部设置有固定板(7)，所述固定板(7)与测试盒盒体(4)通过第二固定螺丝(5)固定连接，所述固定板(7)的底部固定连接有拉手(6)，所述测试盒盒体(4)的顶部螺纹连接有对称设置的两个定位螺丝(10)，所述拉手(6)的顶部设置有与定位螺丝(10)相适配的螺纹孔。
6.根据权利要求2所述的一种光模块测试装置用测试盒，其特征在于，所述插卡测试测试板卡(19)设置有两种，且均设计有I2C总线BUS的扩展。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| CN202120998451.4U CN214675156U (zh) | 2021-05-11 | 2021-05-11 | 一种光模块测试装置用测试盒 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| CN202120998451.4U CN214675156U (zh) | 2021-05-11 | 2021-05-11 | 一种光模块测试装置用测试盒 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| CN214675156U true CN214675156U (zh) | 2021-11-09 |
Family
ID=78487704
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| CN202120998451.4U Active CN214675156U (zh) | 2021-05-11 | 2021-05-11 | 一种光模块测试装置用测试盒 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| CN (1) | CN214675156U (zh) |
-
2021
- 2021-05-11 CN CN202120998451.4U patent/CN214675156U/zh active Active
Similar Documents
| Publication | Publication Date | Title |
|---|---|---|
| CN106134013A (zh) | 高效散热连接器系统 | |
| CN211785866U (zh) | 一种电池化成分容设备的校准装置 | |
| CN214675156U (zh) | 一种光模块测试装置用测试盒 | |
| CN113238902A (zh) | 一种多工位光模块测试装置 | |
| CN112462223B (zh) | 一种半导体芯片测试座 | |
| CN212965292U (zh) | 一种便捷式插拨测试装置 | |
| CN207352040U (zh) | 一种珠状热敏电阻器测试夹具 | |
| CN213875919U (zh) | 一种半导体芯片测试座 | |
| CN216957971U (zh) | 一种用于光发射器件双层软板的单面压接夹具 | |
| CN214670585U (zh) | 一种光模块一体机 | |
| CN213337905U (zh) | 芯片试验装置及系统 | |
| CN215813180U (zh) | 一种集成式光模块测试电路 | |
| US20130016487A1 (en) | Memory adapter receiving device | |
| CN211698066U (zh) | Qfp封装集成电路的电性检测仪 | |
| CN109270311B (zh) | 硅通孔通道测试装置 | |
| CN221804191U (zh) | 芯片电性能测试机构 | |
| CN221924874U (zh) | 一种连接器检测治具 | |
| CN214812810U (zh) | 一种芯片筛选装置 | |
| CN210863910U (zh) | 一种电力计量采集运维调试工具 | |
| CN205749848U (zh) | 一种用于gsm‑r通信系统的测试装置 | |
| CN215818153U (zh) | 一种光模块测试装置用加热组件 | |
| CN204760358U (zh) | 一种用于ipm和igbt测试的适配器 | |
| CN221261204U (zh) | 一种用于集成被动均衡线路的pfca的测试工装 | |
| CN221124793U (zh) | 一种芯片测试装置 | |
| CN220568889U (zh) | 半导体器件测试装置和半导体器件测试系统 |
Legal Events
| Date | Code | Title | Description |
|---|---|---|---|
| GR01 | Patent grant | ||
| GR01 | Patent grant |