CN214626979U - 一种光模块误码测试系统 - Google Patents

Abstract

本申请提供光模块误码测试系统包括误码仪主板、测试板和温控装置，其中误码仪主板和测试板通过高频连接器实现电连接，测试板表面设有温控装置和光源模块接口，光源模块接口外接光源模块，温控装置可通过温度不同的冷热气体调节光模块表面温度至高温、常温和低温；同时，测试板表面设有待测光模块接口，将待测光模块的电口与待测光模块接口对接以实现待测光模块与测试板的电连接；这样可以对不同温度的待测光模块进行误码测试，本申请将误码仪主板和测试板通过高频连接器实现电连接，同时实现二者快速插拔，取代传统高频线缆连接方式；且将光源模块、温控装置均集成在测试板表面实现小型化设计；同时可以实现对待测光模块三温下的误码测试。

Description

一种光模块误码测试系统

技术领域

本申请涉及通信技术领域，尤其涉及一种光模块误码测试系统。

背景技术

对于光模块而言，误码测试为光模块关键测试之一，且随着光模块应用的推广，三温(高温、常温、低温)下分别对光模块误码进行测试越来越重要，因此需要将温控系统与误码测试系统二者结合起来以实现三温下对光模块误码的测试，成为需要解决的技术问题。

实用新型内容

本申请实施例提供了一种光模块误码测试系统，以将温控系统与误码测试系统二者结合起来以实现三温下对光模块误码的测试。

本申请提供的光模块误码测试系统包括：

误码仪主板，设有高频连接器母头；

测试板，设有高频连接器公头和待测光模块接口，通过高频连接杆连接所述高频连接器母头和所述高频连接器公头以实现所述误码仪主板和所述测试板的电连接；

温控装置，设于所述测试板表面，用于调节所述待测光模块温度，包括待测光模块支撑板、透气板、气体腔室和气体连接器，其中所述气体连接器用于与冷热冲击机连接并将带有温度的气体输送至所述气体腔室，所述气体依次经过所述气体腔室、所述透气板和所述光模块支撑板至所述待测光模块表面，且所述待测光模块包括电口，所述电口与所述光模块接口连接以实现所述待测光模块与所述测试板的电连接。

有益效果：

由上述方案可见，本申请提供的光模块误码测试系统包括误码仪主板、测试板和温控装置，其中误码仪主板和测试板通过高频连接器母头、高频连接器公头和高频连杆实现二者的电连接，在测试板表面设有温控装置和光源模块接口，光源模块接口外接光源模块，温控装置可以通过输送温度不同的冷热气体至待测光模块表面以调节光模块表面温度至高温、常温和低温，即通过温控装置实现待测光模块表面温度的三温调节；同时，测试板表面设有待测光模块接口，将待测光模块的电口与待测光模块接口对接以实现待测光模块与测试板的电连接；这样可以对不同温度的待测光模块进行误码测试，其中误码测试过程包括：误码仪主板向光源模块发送第一电信号，光模模块将接收到的第一电信号转换为光信号传递至待测光模块，待测光模块将接收到的光信号转换为第二电信号并通过测试板传递至误码仪主板，误码仪主板根据第一电信号和第二电信号进行对比判断是否发生误码。

本申请提供的光模块误码测试中将误码仪主板和测试板通过高频连接器实现电连接，取代传统的高频线缆连接方式，高频连接器连接可以实现误码仪主板和测试板之间便捷快速的插拔，且传输信号质量更高；且将光源模块、温控装置均集成在测试板表面实现小型化设计；同时可以实现对待测光模块三温下的误码测试。

附图说明

为了更清楚地说明本实用新型实施例的技术方案，下面将对实施例或现有技术描述中所需要使用的附图作简单地介绍，显而易见地，下面描述中的附图仅仅是本实用新型的一些实施例，对于本领域普通技术人员来讲，在不付出创造性劳动的前提下，还可以根据这些附图获得其他的附图。

图1为本申请实施例提供的光模块误码测试系统的整体结构示意图；

图2为本申请实施例提供的光模块误码测试系统的分解误码仪主板保护罩的结构示意图；

图3为本申请实施例提供的光模块误码测试系统拆除误码仪主板保护罩后的结构示意图；

图4为本申请实施例提供的光模块误码测试系统的分解结构示意图一；

图5为本申请实施例提供的光模块误码测试系统的分解结构示意图二；

图6为本申请实施例提供的光模块误码测试系统的框体的结构示意图；

图7为本申请实施例提供的光模块误码测试系统的误码仪主板与测试板连接示意图；

图8为本申请实施例提供的光模块误码测试系统的误码仪主板与测试板连接结构示意图；

图9为本申请实施例提供的光模块误码测试系统的误码仪主板、测试板与框体之间连接的剖面结构示意图；

图10为本申请实施例提供的光模块误码测试系统的温控装置的结构示意图；

图11为本申请实施例提供的光模块误码测试系统的温控装置的局部结构示意图；

图12为本申请实施例提供的光模块误码测试系统的温控装置的分解结构示意图；

图13为本申请实施例提供的光模块误码测试系统的温控装置、误码仪主板、测试板之间的连接示意图；

图14为本申请实施例提供的光模块误码测试系统的温控装置的局部示意图一；

图15为本申请实施例提供的光模块误码测试系统的温控装置的局部示意图二。

具体实施方式

下面将结合本申请实施例中的附图，对本申请实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，所描述的实施例仅仅是本申请一部分实施例，而不是全部的实施例。基于本申请中的实施例，本领域普通技术人员在没有做出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例，都属于本申请保护的范围。

光通信的核心环节之一是光、电信号的相互转换。光通信使用携带信息的光信号在光纤/光波导等信息传输设备中传输，利用光在光纤/光波导中的无源传输特性可以实现低成本、低损耗的信息传输；而计算机等信息处理设备使用的是电信号，为了在光纤/光波导等信息传输设备与计算机等信息处理设备之间建立信息连接，就需要实现电信号与光信号的相互转换。

光模块在光纤通信技术领域中实现上述光、电信号的相互转换功能，光信号与电信号的相互转换是光模块的核心功能。光模块通过其内部电路板上的金手指实现与外部上位机之间的电连接，主要的电连接包括供电、I2C信号、数据信号以及接地等；采用金手指实现的电连接方式已经成为光模块行业的主流连接方式，以此为基础，金手指上引脚的定义形成了多种行业协议/规范。

在光通信行业，光模块测试使用的一个重要设备就是误码仪，当前误码仪设计大都采用整体仪表的形式，通过SMA头和高频线缆与待测模块的测试板以及信号转换的光源板进行连接。其中在三温(高温、常温和低温)测试时由于需要使用冷热冲击机，繁杂的高频线缆连接，使整个测试系统非常复杂，维护和搭建困难，加上高频电缆成本昂贵，不利于25G模块的大规模系统搭建。

本申请实施例提供了一种光模块误码测试系统，以将温控系统与误码测试系统二者结合起来以实现三温下对光模块误码的测试。

图1为本申请实施例提供的光模块误码测试系统的整体结构示意图；图2为本申请实施例提供的光模块误码测试系统的分解误码仪主板保护罩的结构示意图；图3为本申请实施例提供的光模块误码测试系统拆除误码仪主板保护罩后的结构示意图；图4为本申请实施例提供的光模块误码测试系统的分解结构示意图一；图5为本申请实施例提供的光模块误码测试系统的分解结构示意图二；下面结合图1-5对本申请实施例提供的光模块误码测试系统进行说明。

图1为本申请实施例提供的测试系统的整体结构示意图，图1中可以看出测试系统包括框体1和误码仪主板保护罩5，图2为测试系统的布局分解结构，图2中将误码仪主板保护罩5分解出来，图3中为了更好展示测试系统的主要结构因此将误码仪主板保护罩从测试系统中拆除，图4和图5为测试系统拆除误码仪主板保护罩后的分解结构示意图，从图3-图5中可以看出，测试系统包括框体1，框体1的表面设有误码仪主板2和测试板3，在测试板3的表面设有温控装置4。

误码仪主板2属于整个测试系统的硬件核心；测试板3作为温控装置4和光源模块的载体，同时与误码仪主体组成整个板载误码仪系统的硬件构成；框体1用于整套误码仪测试系统的固定，组合和散热；温控装置4，配合冷热冲击机出风口对接，实现模块测试的温度控制和温度点温。

误码仪主板2和测试板3电连接，温控装置4中设有光模块支撑板，光模块支撑板承载着待测光模块，待测光模块上具有电口，测试板3表面设有光模块接口，将待测光模块的电口与光模块接口对接则可将待测光模块与测试板实现电连接，这样，待测光模块与测试板电连接，测试板与误码仪主板2电连接。

图3示出了在测试板3的表面还设有光源模块8，为了避免温控装置4的温度变化对光源模块8的影响，本申请实施例中在光源模块8的周围设有光源模块隔离罩9，将光源模块与温控装置4中的气体隔离以避免温控装置4的温度变化对光源模块8的影响，保证光源模块8不受温度变化的影响；本申请实施例将光源模块、温控装置均集成在测试板表面实现小型化设计。

在此基础上进行待测光模块的误码测试，误码测试过程包括：误码仪主板2向光源模块发送第一电信号，光模模块将接收到的第一电信号转换为光信号传递至待测光模块，待测光模块将接收到的光信号转换为第二电信号并通过测试板3传递至误码仪主板2，误码仪主板2根据第一电信号和第二电信号进行对比判断是否发生误码。

图6为本申请实施例测试系统中的框体的结构示意图，如图6所示，框体1包括误码仪主板嵌设槽11、测试板嵌设槽12和限位槽13，其中误码仪主板2设于误码仪主板嵌设槽11内，测试板3设于测试板嵌设槽12内，误码仪主板2和测试板3之间通过高频连接器实现电连接。另外，框体1采用轻型防静电材料，利于实现轻量化和小型化设计。

图7和图8示出了误码仪主板和测试板之间的连接结构示意图，其中误码仪主板包括人机接口模块、电源模块、逻辑控制单元、信号发生模块和误码检测模块，如图7和图8所示，误码仪主板2上设有高频连接器母头21，测试板3上设有高频连接器公头31，高频连接器母头21和高频连接器公头31之间通过高频连接杆6实现连接进而将误码仪主板和测试板二者实现电连接。具体地，高频连接器母头21固定在误码仪主板2上，高频连接器公头31固定在测试板3上，在高频连接过程中，可以将高频连接杆6固定在高频连接器母头21上，然后将测试板3上的高频连接器公头31在限位槽13内滑动至高频连接杆6上，这样，高频连接杆6的一端连接高频连接器母头21，另一端连接高频连接器公头31，且高频连接器母头21、高频连接器公头31及高频连接杆6三者的活动空间限于限位槽13内。

测试板3的表面设有光模块接口32，通过光模块接口32可以实现待测光模块与测试板3的电连接，还设有光源模块接口33，通过光源模块接口33可以实现光源模块与测试板3的竭诚，具体地，图3中的光源模块8插入光源模块接口33中。

高频连接杆6可以防止误码仪主板2、测试板3对接时硬接触导致的应力，且可以使误码仪主板2、测试板3连接时的相对位置通过高频连接杆6进行调整。

由于误码仪主板2、测试板3为板载连接，因此二者之间的对接牢固性和稳定性对高速信号传输至关重要，为了保证二者之间的对接牢固性和稳定性，本申请实施例中误码仪主板2和测试板3二者的高度最好在同一水平面上。

另外，测试板3为定期更换部件，误码仪主板2和测试板3之间的便捷、快速插拔显的比较重要，本申请实施例中，采用误码仪主板2始终固定的模式，测试板3可以在限位槽13内前后滑动，需要将测试板3拆卸下来时只需要将测试板3在限位槽13内向后滑动，此时误码仪主板2与测试板3分离，需要安装测试板3时只需要将测试板3在限位槽13内向前滑动，测试误码仪主板2与测试板3连接。

且，经过仿真验证，本申请中误码仪主板2、测试板3之间的高频连接器公母头的设计比传统的高频线缆信号质量更好，高频信号损耗更低，进而测试的准确率更高。

因此，本申请提供的光模块误码测试中将误码仪主板和测试板通过高频连接器实现电连接，取代传统的高频线缆连接方式，高频连接器连接可以实现误码仪主板和测试板之间便捷快速的插拔，且传输信号质量更高。

图9为本申请实施例提供的光模块误码测试系统的误码仪主板、测试板与框体之间连接的剖面结构示意图；从图9中可以看出，高频连接杆6的一端插入高频连接器母头21内，另一端插入高频连接器公头31内，通过高频连接器母头21、高频连接杆6和高频连接器公头31三者的配合可以将误码仪主板2和测试板3电连接，且可以实现误码仪主板2和测试板3二者之间的便捷、快速插拔，具体的插拔为：采用误码仪主板2始终固定的模式，测试板3可以在限位槽13内前后滑动，需要将测试板3拆卸下来时只需要将测试板3在限位槽13内向后滑动，此时误码仪主板2与测试板3分离，需要安装测试板3时只需要将测试板3在限位槽13内向前滑动，测试误码仪主板2与测试板3连接。

图10为本申请实施例提供的光模块误码测试系统的温控装置的结构示意图；图11为本申请实施例提供的光模块误码测试系统的温控装置的局部结构示意图；图12为本申请实施例提供的光模块误码测试系统的温控装置的分解结构示意图；下面结合图10-12对本申请实施例测试系统中的温控装置进行说明。

由于需要在三温下对待测光模块进行误码测试，因此需要调节待测光模块的表面温度至三温，为此，本申请实施例提供了温控装置4，通过温控装置4可以将待测光模块的表面温度调节至高温、常温和低温下，然后对具有一定表面温度的待测光模块进行误码测试。

图10为温控装置4的整体结构，温控装置4包括光模块支撑板41、透气板42、气体腔室43、气体连接器44、光模块点温器保护罩45和光模块保护罩46；图11中为拆除光模块点温器保护罩45和光模块保护罩46后的结构示意图；图12为光模块支撑板41、透气板42、气体腔室43、气体连接器44的分解结构示意图。

气体连接器44外接冷热冲击机，冷热冲击机向气体连接器44内输送带有温度的气体，然后气体依次经过气体连接器44、气体腔室43、透气板42至光模块支撑板41表面的待测光模块上，不同温度的气体输送至待测光模块表面，进而将待测光模块表面的温度调节至三温模式下。

具体地，气体连接器44为空腔，具有上下贯通的通孔，冷热冲击机输送的气体经过通孔到达气体腔室43内，气体腔室43为收集气体的容器，其同样具有上下贯通的通孔，气体通过该通孔到达透气板42上，透气板42表面均匀设有透气孔，气体腔室43收集的气体可以通过透气孔向下释放至光模块支撑板41上，光模块支撑板41承载着待测光模块，进而带有温度的气体被输送至待测光模块的表面。

其中，气体腔室43可以将气体进行收集，然后通过透气板42上均匀设置的透气孔将气体均匀输送至待测光模块表面，这样可以实现待测光模块表面温度的平稳均匀且全面变化。

为了监控待测光模块的表面温度，在光模块支撑板41上设有光模块点温器47，光模块点温器47可以获取待测光模块的表面温度，然后将具体的温度值传递至冷热冲击机内，冷热冲击机根据接收到的温度值调整输出的气体的温度，进而保证待测光模块的表面温度达到三温测试的目标温度，光模块点温器47固定在光模块支撑板41上，并穿过透气板42上贯穿设置的光模块电温器嵌设槽421，然后上方被光模块点温器保护罩45保护。

光模块支撑板41的结构如图14所示，光模块支撑板41表面设有第一待测光模块嵌设槽411和第二待测光模块嵌设槽412，第一待测光模块嵌设槽411和第二待测光模块嵌设槽412可以分别放置第一待测光模块和第二待测光模块，即本申请实施例提供的测试系统可以同时测试两个待测光模块，且实现了两个待测光模块使用同一个冷热冲击机，节省了压缩空气的使用，降低生产成本，且使用同一光模块支撑板41、透气板42、气体腔室43、气体连接器44，可以节省系统空间，在不增加系统空间的情况下即可同时对两个待测光模块进行测试。

图15为光模块支撑板41底端的结构示意图，如图15所示，光模块支撑板41内嵌设有两个待测光模块7，待测光模块7的一端设有电口71，电口71与图7中的光模块接口32对接，以实现将待测光模块7与测试板3的电连接。同时，从图15中可以看出，光模块保护罩46罩设在两个待测光模块7的表面起到保护待测光模块的作用。

图13为本申请实施例提供的光模块误码测试系统的温控装置、误码仪主板、测试板之间的连接示意图；如图13所示，光模块支撑板41的底端与测试板3相接触，光模块支撑板41上的待测光模块底部的电口与测试板3表面的光模块接口32对接即可实现待测光模块7与测试板3的电连接，同时实现了温控装置4与测试板3的电连接。

由上述可见：

本申请实施例提供的测试系统包括误码仪主板2、与误码仪主板2电连接的测试板3，测试板3的表面设有光源模块和温控装置4，即测试板3作为光源模块和温控装置4的载体，携带有温度的气体依次经过气体连接器44、气体腔室43、透气板42至光模块支撑板41表面的待测光模块上，不同温度的气体输送至待测光模块表面，进而将待测光模块表面的温度调节至三温模式下的目标温度；待测光模块的电口与测试板3表面的光模块接口对接进而实现待测光模块与测试板3的电连接，同时实现温控装置4与测试板3的连接。上述方案带来的有益效果包括如下：

本申请实施例中误码仪主板和测试板采用板载对接方案，核心是将原本需要高频线缆连接的部分实现了一体化，配合独特的电路原理设计，将误码仪主板、测试板、光源模块三部分合成一个整体，极大地节省了系统空间，极大地简化了系统搭建和维护工作，节省高频电缆。

同时，整个误码测试系统在不增加空间体积的情况下，使用同一冷热冲击机和同一个温控装置完成两只模块的同时测试，节省压缩空气的使用，降低生产成本，且可以节省系统空间，有利于实现测试系统的小型化设计。

同时，本申请实施例中的误码仪主板和测试板之间的高频连接公母头设计，通过高频连接器母头、高频连接杆和高频连接器公头实现误码仪主板和测试板之间的板载连接，且可以实现便捷快速地将测试板与误码仪主板的分离和连接，经仿真验证，比高频线缆方案信号质量更好，插回损优于高频线缆方式，降低高频信号损耗，提高测试的准确性和效率。

同时，本申请实施例中设有光源模块隔离罩，有效避免距离温冲机较近的光源模块收到温度变化影响，使测试更加稳定有效。

综述，本申请提供的光模块误码测试系统包括误码仪主板、测试板和温控装置，其中误码仪主板和测试板通过高频连接器母头、高频连接器公头和高频连杆实现二者的电连接，在测试板表面设有温控装置和光源模块接口，光源模块接口外接光源模块，温控装置可以通过输送温度不同的冷热气体至待测光模块表面以调节光模块表面温度至高温、常温和低温，即通过温控装置实现待测光模块表面温度的三温调节；同时，测试板表面设有待测光模块接口，将待测光模块的电口与待测光模块接口对接以实现待测光模块与测试板的电连接；这样可以对不同温度的待测光模块进行误码测试，其中误码测试过程包括：误码仪主板向光源模块发送第一电信号，光模模块将接收到的第一电信号转换为光信号传递至待测光模块，待测光模块将接收到的光信号转换为第二电信号并通过测试板传递至误码仪主板，误码仪主板根据第一电信号和第二电信号进行对比判断是否发生误码。

本申请提供的光模块误码测试中将误码仪主板和测试板通过高频连接器实现电连接，取代传统的高频线缆连接方式，高频连接器连接可以实现误码仪主板和测试板之间便捷快速的插拔，且传输信号质量更高；且将光源模块、温控装置均集成在测试板表面实现小型化设计；同时可以实现对待测光模块三温下的误码测试。

最后应说明的是：以上实施例仅用以说明本实用新型的技术方案，而非对其限制；尽管参照前述实施例对本实用新型进行了详细的说明，本领域的普通技术人员应当理解：其依然可以对前述各实施例所记载的技术方案进行修改，或者对其中部分技术特征进行等同替换；而这些修改或者替换，并不使相应技术方案的本质脱离本实用新型各实施例技术方案的精神和范围。

Claims (10)

1.一种光模块误码测试系统，其特征在于，包括：

误码仪主板，设有高频连接器母头；

测试板，设有高频连接器公头和待测光模块接口，通过高频连接杆连接所述高频连接器母头和所述高频连接器公头以实现所述误码仪主板和所述测试板的电连接；

温控装置，设于所述测试板表面，用于调节所述待测光模块温度，包括待测光模块支撑板、透气板、气体腔室和气体连接器，其中所述气体连接器用于与冷热冲击机连接并将带有温度的气体输送至所述气体腔室，所述气体依次经过所述气体腔室、所述透气板和所述光模块支撑板至所述待测光模块表面，且所述待测光模块包括电口，所述电口与所述光模块接口连接以实现所述待测光模块与所述测试板的电连接。

2.根据权利要求1所述的光模块误码测试系统，其特征在于，所述气体连接器与冷热冲击机连接，所述冷热冲击机向所述气体连接器内输送气体；

所述气体连接器设有第一气体通孔，所述气体腔室内设有第二气体通孔，所述第一气体通孔和所述第二气体通孔相连通；

所述透气板上表面设有透气孔，所述第二气体通孔和所述透气孔相连通；

所述光模块支撑板表面设有待测光模块嵌设槽，所述透气孔与所述待测光模块嵌设槽相连通。

3.根据权利要求1所述的光模块误码测试系统，其特征在于，所述测试板表面还设有光源模块接口，用于连接光源模块；

所述光模块支撑板表面设有光源模块隔离罩，用于将所述光源模块和所述气体隔离。

4.根据权利要求1所述的光模块误码测试系统，其特征在于，所述系统还包括框体，所述框体表面设有误码仪主板嵌设槽、测试板嵌设槽和限位槽，其中：

所述误码仪主板设于所述误码仪主板嵌设槽内，所述测试板设于所述测试板嵌设槽内；

所述限位槽用于为所述高频连接器母头、所述高频连接器公头和所述高频连接杆提供活动空间。

5.根据权利要求1所述的光模块误码测试系统，其特征在于，所述光模块支撑板表面设有待测光模块嵌设槽和光模块点温器，所述待测光模块嵌设槽内置所述待测光模块，所述光模块点温器用于获取所述待测光模块的壳体温度。

6.根据权利要求5所述的光模块误码测试系统，其特征在于，所述光模块点温器设于所述待测光模块表面的上方，且所述透气板表面设有光模块点温器通孔，所述光模块点温器贯穿所述光模块点温器通孔。

7.根据权利要求1所述的光模块误码测试系统，其特征在于，所述透气板表面均匀设置有透气孔。

8.根据权利要求5所述的光模块误码测试系统，其特征在于，所述光模块支撑板和所述透气板的端面设有光模块保护罩，用于保护所述待测光模块；

所述透气板表面设有光模块点温器保护罩，用于保护所述光模块点温器。

9.根据权利要求1所述的光模块误码测试系统，其特征在于，所述误码仪主板与所述测试板的高度在同一水平面上。

10.根据权利要求5所述的光模块误码测试系统，其特征在于，所述光模块支撑板表面设有第一待测光模块嵌设槽和第二待测光模块嵌设槽。

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