CN212207665U - 一种tr组件参数测试夹具 - Google Patents

Abstract

本实用新型公开了一种TR组件参数测试夹具，包括PCB板，所述PCB板的背面设置有测试电路，正面封装有外壳，所述外壳表面设置有测试腔A和测试腔B，所述测试腔A和测试腔B均向下凹陷形成凹槽，所述测试腔A底部设置有2个射频同轴连接器接头，所述测试腔B底部设置有测试接口B；所述PCB板上还设置有控制信号通道的切换开关，所述PCB板的背面通过线缆连接有移动测试接口C，所述PCB板上还设置有通讯控制供电接口和高频插头，所述射频同轴连接器接头、测试接口B、移动测试接口C、通讯控制供电接口、高频插头和切换开关均与测试电路电连接。本实用新型对TR组件进行快速测试，减少电缆测试安装，安装操作简单，成本低。

Description

一种TR组件参数测试夹具

技术领域

本实用新型涉及TR组件的测试领域，具体涉及一种TR组件参数测试夹具。

背景技术

TR组件是相控阵天线实现信号发射和回波接收的核心部件。在相控阵天线的研制和生产过程中，TR组件数量大、测试指标多、待处理数据复杂，TR组件的测试方法和速度，直接决定相控阵雷达的研制周期、进度以及生产成本，所以TR组件性能的快速测试和指标准确标定尤为重要。

在TR组件的研发、生产过程中需要进行大量复杂且精密的参数测试和调试，由于测试项目多，往往需要多个设备进行测试、分析，并且TR组件在生产过程中其形态也会发生变化，所以在TR组件的测试连接和参数测试工作带来了难度，传统的测试方式采用电缆通过接口直接连接TR组件的信号导入到仪器中，电缆较多，既不美观，且操作较为繁琐，测试效率低，测量精度低，所以需要一种能够提高测试效率的TR组件参数测试夹具。

发明内容

本实用新型的目的在于：提供了一种TR组件参数测试夹具，以解决TR组件在生产过程中测试效率低的问题。

本实用新型采用的技术方案如下：

本实用新型是一种TR组件参数测试夹具，包括PCB板，所述PCB板的背面设置有测试电路，正面封装有外壳，所述外壳表面设置有测试腔A和测试腔B，所述测试腔A和测试腔B均向下凹陷形成凹槽，所述测试腔A底部设置有2个射频同轴连接器接头，所述测试腔B底部设置有测试接口B；所述PCB板上还设置有控制信号通道的切换开关，所述PCB板的背面通过线缆连接有移动测试接口C，所述PCB板上还设置有通讯控制供电接口和高频插头，所述射频同轴连接器接头、测试接口B、移动测试接口C、通讯控制供电接口、高频插头和切换开关均与测试电路电连接。

传统的测试方式采用电缆通过接口直接连接TR组件的信号导入到仪器中，电缆较多，既不美观，且操作较为繁琐，本实用新型是针对TR组件的测试夹具，本实用新型中的TR组件有组块A和组块B，在生产过程中，有两种形态，其中一种是组块A和组块B分开，组块A与测试腔A形状匹配，组块A具有信号接口的一面对准测试腔A位置后，将组块A向下压，组块A上的两个信号端口对接上射频同轴连接器接头，同样的，组块B具有接口的一面对准测试腔B位置后，将组块B向下压，组块B上的接口连接测试接口B，TR组件则卡紧在测试夹具上。

TR组件在生产过程中的另一种形态是组块A和组块B合并在一起，组块A具有信号接口的一面对准测试腔A，组块A上的两个信号端口对接上射频同轴连接器接头，此时，组块B上的接口位于TR组件整体的上表面，移动测试接口C移动至TR组件上连接组块B上的接口。

上述TR组件两种形态的参数测试的供电和控制通过通讯控制供电接口接入整个测试系统，其测试参数结果通过高频插头外接仪器显示，通过拨动切换开关可切换TR组件信号信号通道，即切换组块A上的两个信号端口与射频同轴连接器接头的信号连通，对TR组件各个信号通道进行测试，本实用新型的测试夹具可以对TR组件在生产过程中进行快速测试，减少电缆测试安装，安装操作简单，成本低，通过拨动切换开关对TR组件进行多个通道收发数据进行测试，提高测试效率，便于后期对TR组件参数调试。

进一步的，所述通讯控制供电接口和高频插头均设置两个。采用上述结构，两个通讯控制供电接口通过测试电路分别连接测试接口B和移动测试接口C，通过测试接口B和移动测试接口C对TR组件进行通讯控制和供电。

进一步的，所述测试接口B和移动测试接口C均为矩形连接器。

进一步的，所述PCB板的背面还设置有支脚，所述支脚有4个，分别设置在PCB板的各个支撑点上。采用上述结构，支脚将整个测试夹具稳定支撑起来，防止PCB板背面的电路接触桌面，便于移动测试接口C的移动。

进一步的，所述测试腔A和测试腔B均向下凹陷的深度为1-5mm。

由于采用了本技术方案，本实用新型的有益效果是：

1.本实用新型一种TR组件参数测试夹具，对TR组件在生产过程中进行快速测试，减少电缆测试安装，安装操作简单，成本低。

2.本实用新型一种TR组件参数测试夹具，通过拨动切换开关对TR组件进行多个通道收发数据进行测试，提高测试效率，便于后期对TR组件参数调试。

附图说明

为了更清楚地说明本实用新型实施例的技术方案，下面将对实施例中所需要使用的附图作简单地介绍，应当理解，以下附图仅示出了本实用新型的某些实施例，因此不应被看作是对范围的限定，对于本领域普通技术人员来讲，在不付出创造性劳动的前提下，还可以根据这些附图获得其他相关的附图，本说明书附图中的各个部件的比例关系不代表实际选材设计时的比例关系，其仅仅为结构或者位置的示意图，其中：

图1是本实用新型的结构示意图；

图2是本实用新型的右侧视图。

图中标记：1-PCB板，2-外壳，201-测试腔A，202-测试腔B，3-射频同轴连接器接头，4-测试接口B，5-切换开关，6-测试接口C，7-通讯控制供电接口，8-高频插头，9-支脚。

具体实施方式

为了使本实用新型的目的、技术方案及优点更加清楚明白，以下结合附图及实施例，对本实用新型进行进一步详细说明。应当理解，此处所描述的具体实施例仅用以解释本实用新型，并不用于限定本实用新型，即所描述的实施例仅仅是本实用新型一部分实施例，而不是全部的实施例。通常在此处附图中描述和示出的本实用新型实施例的组件可以以各种不同的配置来布置和设计。

需要说明的是，术语“第一”和“第二”等之类的关系术语仅仅用来将一个实体或者操作与另一个实体或操作区分开来，而不一定要求或者暗示这些实体或操作之间存在任何这种实际的关系或者顺序。而且，术语“包括”、“包含”或者其任何其他变体意在涵盖非排他性的包含，从而使得包括一系列要素的过程、方法、物品或者设备不仅包括那些要素，而且还包括没有明确列出的其他要素，或者是还包括为这种过程、方法、物品或者设备所固有的要素。在没有更多限制的情况下，由语句“包括一个……”限定的要素，并不排除在包括所述要素的过程、方法、物品或者设备中还存在另外的相同要素。

因此，以下对在附图中提供的本实用新型的实施例的详细描述并非旨在限制要求保护的本实用新型的范围，而是仅仅表示本实用新型的选定实施例。基于本实用新型的实施例，本领域技术人员在没有做出创造性劳动的前提下所获得的所有其他实施例，都属于本实用新型保护的范围。

本说明书中公开的所有特征，或公开的所有方法或过程中的步骤，除了互相排斥的特征和/或步骤以外，均可以以任何方式组合。

下面结合图1对本实用新型作详细说明。

实施例一

如图1-2所示，本实用新型一种TR组件参数测试夹具，包括PCB板1，所述PCB板1的背面设置有测试电路，正面封装有外壳2，所述外壳2表面设置有测试腔A201和测试腔B202，所述测试腔A201和测试腔B202均向下凹陷形成凹槽，所述测试腔A201底部设置有2个射频同轴连接器接头3，所述测试腔B202底部设置有测试接口B4；所述PCB板1上还设置有控制信号通道的切换开关5，所述PCB板1的背面通过线缆连接有移动测试接口C6，所述PCB板1上还设置有通讯控制供电接口7和高频插头8，所述射频同轴连接器接头3、测试接口B4、移动测试接口C6、通讯控制供电接口7、高频插头8和切换开关5均与测试电路电连接。

传统的测试方式采用电缆通过接口直接连接TR组件的信号导入到仪器中，电缆较多，既不美观，且操作较为繁琐，本实用新型是针对TR组件的测试夹具，本实用新型中的TR组件有组块A和组块B，在生产过程中，有两种形态，其中一种是组块A和组块B分开，组块A与测试腔A201形状匹配，组块A具有信号接口的一面对准测试腔A201位置后，将组块A向下压，组块A上的两个信号端口对接上射频同轴连接器接头3，同样的，组块B具有接口的一面对准测试腔B202位置后，将组块B向下压，组块B上的接口连接测试接口B4，TR组件则卡紧在测试夹具上。

TR组件在生产过程中的另一种形态是组块A和组块B合并在一起，组块A具有信号接口的一面对准测试腔A201，组块A上的两个信号端口对接上射频同轴连接器接头3，此时，组块B上的接口位于TR组件整体的上表面，移动测试接口C6移动至TR组件上连接组块B上的接口。

上述TR组件两种形态的参数测试的供电和控制通过通讯控制供电接口7接入整个测试系统，其测试参数结果通过高频插头8外接仪器显示，通过拨动切换开关5可切换TR组件信号信号通道，即切换组块A上的两个信号端口与射频同轴连接器接头3的信号连通，对TR组件各个信号通道进行测试，本实用新型的测试夹具可以对TR组件在生产过程中进行快速测试，减少电缆测试安装，安装操作简单，成本低，通过拨动切换开关5对TR组件进行多个通道收发数据进行测试，提高测试效率，便于后期对TR组件参数调试。

在本实施例中，射频同轴连接器接头3的型号采用2020-F1-18-2(SMP-J)，高频插头8的型号为SMA-KHD27，通讯控制供电接口7的型号采用DB-9S。

实施例二

本实施例是对本实用新型做出进一步地实施说明。

如图1所示，本实施例在实施例一的基础上，本实用新型的一种优选实施例中，所述通讯控制供电接口7和高频插头8均设置两个。采用上述结构，两个通讯控制供电接口7通过测试电路分别连接测试接口B4和移动测试接口C6，通过测试接口B4和移动测试接口C6对TR组件进行通讯控制和供电。

实施例三

本实施例是对本实用新型的进一步地实施说明。

本实施例在上述实施例的基础上，本实用新型的一种优选实施例中，所述测试接口B4和移动测试接口C6均为矩形连接器。矩形连接器的型号为J30J-9TJ-Q60A。

实施例四

本实施例是对本实用新型的进一步地实施说明。

如图2所示，本实施例在上述实施例的基础上，本实用新型的一种优选实施例中，所述PCB板1的背面还设置有支脚9，所述支脚9有4个，分别设置在PCB板1的各个支撑点上。采用上述结构，支脚9将整个测试夹具稳定支撑起来，防止PCB板1背面的电路接触桌面，便于移动测试接口C6的移动。

实施例五

本实施例是对本实用新型的进一步地实施说明。

本实施例在上述实施例的基础上，所述测试腔A201和测试腔B202均向下凹陷的深度为2mm。

实施例六

本实施例是对本实用新型的进一步地实施说明。

本实施例与实施例五的不同之处在于，所述测试腔A201和测试腔B202均向下凹陷的深度为1mm。

实施例七

本实施例是对本实用新型的进一步地实施说明。

本实施例与实施例五的不同之处在于，所述测试腔A201和测试腔B202均向下凹陷的深度为5mm。

以上所述，仅为本实用新型的优选实施方式，但本实用新型的保护范围并不局限于此，任何熟悉本领域的技术人员在本实用新型所揭露的技术范围内，可不经过创造性劳动想到的变化或替换，都应涵盖在本实用新型的保护范围之内。因此，本实用新型的保护范围应该以权利要求书所限定的保护范围为准。

Claims (5)

1.一种TR组件参数测试夹具，其特征在于：包括PCB板(1)，所述PCB板(1)的背面设置有测试电路，正面封装有外壳(2)，所述外壳(2)表面设置有测试腔A(201)和测试腔B(202)，所述测试腔A(201)和测试腔B(202)均向下凹陷形成凹槽，所述测试腔A(201)底部设置有2个射频同轴连接器接头(3)，所述测试腔B(202)底部设置有测试接口B(4)；所述PCB板(1)上还设置有控制信号通道的切换开关(5)，所述PCB板(1)的背面通过线缆连接有移动测试接口C(6)，所述PCB板(1)上还设置有通讯控制供电接口(7)和高频插头(8)，所述射频同轴连接器接头(3)、测试接口B(4)、移动测试接口C(6)、通讯控制供电接口(7)、高频插头(8)和切换开关(5)均与测试电路电连接。

2.根据权利要求1所述的一种TR组件参数测试夹具，其特征在于：所述通讯控制供电接口(7)和高频插头(8)均设置两个。

3.根据权利要求1所述的一种TR组件参数测试夹具，其特征在于：所述测试接口B(4)和移动测试接口C(6)均为矩形连接器。

4.根据权利要求1所述的一种TR组件参数测试夹具，其特征在于：所述PCB板(1)的背面还设置有支脚(9)，所述支脚(9)有4个，分别设置在PCB板(1)的各个支撑点上。

5.根据权利要求1所述的一种TR组件参数测试夹具，其特征在于：所述测试腔A(201)和测试腔B(202)均向下凹陷的深度为1-5mm。

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