CN216387153U - 一种表面贴装陶瓷射频衰减器的测试治具 - Google Patents

Abstract

本实用新型公开了一种表面贴装陶瓷射频衰减器的测试治具，包括：探针、测试电路板、底座、产品测试定位装置及连接件；探针用以改善表面贴装陶瓷射频衰减器工作地与测试电路板工作地的可靠接触；测试电路板，是对表面陶瓷射频衰减器进行性能测试的关键部件，用以测试表面贴装陶瓷射频衰减器的射频性能；测试电路板设有射频测试连接器及探针通孔；产品测试定位装置用于定位待测的表面贴装陶瓷射频衰减器的位置。该测试治具可明显提升产品与测试电路板的接触性能，提升测试精度、测试效率和测试准确性，防止良品误测及不良品误判为合格品。同时，该治具还可有效防止测试过程中对产品的压力过大，导致产品碎裂或损伤风险。从而提升产品的可靠性。

Description

一种表面贴装陶瓷射频衰减器的测试治具

技术领域

本实用新型涉及厚膜射频衰减器技术领域，具体涉及一种表面贴装陶瓷射频衰减器的测试治具。

背景技术

随着移动通信系统、特别是5G移动通信系统的快速发展以及微波技术快速发展，射频衰减器是应用于移动通信及微波技术中非常重要的射频器件。在移动通信基站、微波系统中，如基站射频功放及其信号监测、雷达、多信道通信系统接收信号的测量中都离不开射频衰减器，射频功率衰减器广泛用于移动通信、微波信号传输、电子仪器的测量、电磁兼容测试、以及测量仪器内部的衰减等等，其性能的好坏直接影响移动通信系统及微波信号传输系统性能及测量仪器测试的准确度和测量仪器的精度，根据不同的应用场景，射频衰减器的种类较多，其中表面贴装陶瓷射频衰减器便是其中应用最广泛的射频衰减器。

在现有技术中，表面贴装陶瓷射频衰减器的射频性能测试过程中，通常要求将产品排放在测试电路板上精确的位置，而且要求射频衰减器的底部电极与测试电路板的对应部位接触良好。当产品工作频率很高时，微小的位置差异会引起产品测试性能的巨大误差；另外待测产品与测试电路板接触面的轻微变化也会引起产品测试性能的较大误差。

特别是陶瓷射频衰减器，因为产品的输入端、输出端及其工作地等三个电极大小区别很大。产品在进行表面电镀后，由于电镀工艺本身的特性，产品输入端、输出端与产品工作地通常很难保持在同一个平面。为了实现精确测试，需要将产品焊接到测试电路板上来实现产品性能的精确测试，经过焊接的产品又不能适合后续通讯设备生产的正常使用。

因此，本技术领域亟需一种配置简单、测试操作方便高效、在不伤害产品的前提下实现精确测试的测试治具。

实用新型内容

为了解决上述技术问题，本实用新型提出了一种配置简单、测试方便高效、表面贴装陶瓷射频衰减器的新型测试治具，以有效地解决现有技术的不足。

为了实现上述目的，本实用新型的技术方案如下：

本实用新型公开了一种表面贴装陶瓷射频衰减器的测试治具，包括：探针、测试电路板、底座、产品测试定位装置及连接件；所述探针，用以改善表面贴装陶瓷射频衰减器工作地与测试电路板工作地的可靠接触；所述测试电路板，是对所述表面陶瓷射频衰减器进行性能测试的关键部件，位于所述底座与所述产品测试定位装置之间，所述测试电路板设有射频测试连接器及探针通孔，所述探针通孔设在所述测试电路板与待测的表面贴装陶瓷射频衰减器相接触的位置，用以穿过所述探针；所述底座，设有探针固定孔、方槽及连接孔，所述探针固定孔用以固定所述探针，所述方槽与所述射频测试连接器匹配设置，用以容纳并固定所述射频测试连接器；所述产品测试定位装置，用于定位待测的表面贴装陶瓷射频衰减器的位置，并通过所述连接件与所述底座连接固定。

上述技术方案的有益效果在于：充分考虑了现有技术中表面贴装陶瓷射频衰减器经表面电镀后的产品输入端、输出端与产品工作地通常很难保持在同一个平面，传统以焊接的方式保证测试精度不适合通讯设备生产的正常使用的缺陷，通过在测试治具中引入产品测试定位装置，并与探针及底座配合，为表面贴装陶瓷射频衰减器进行精准定位，从而为探针的稳定性接触奠定基础，进而能够有效解决陶瓷基材厚膜射频衰减器由于产品底部电极不够平整，导致待测射频衰减器的信号输入端、信号端、产品工作地等三个电极与测试电路板的对应信号电路的接触部位不够好，导致产品测试性能不准确,特别是产品的测试衰减值变大的问题。该治具结构简单，操作方便，可以明显提升产品与测试电路板的接触性能，提升测试精度、测试效率和测试准确性，防止良品误测及不良品误判为合格品。同时，该治具还可以有效防止测试过程中对产品的压力过大，导致产品碎裂或损伤风险。从而提升产品的可靠性。

进一步的，所述探针包括探针座、弹簧及探针头；所述探针座的内部为中空结构；所述弹簧的一端连接于所述探针座的内部，其另一端所述探针头与所述探针头连接。

上述技术方案的有益效果在于：探针头与弹簧的配合设置，在弹性作用力下，在一定范围内均能保证探针头与待测试的表面贴装陶瓷射频衰减器的底部接触良好。

再进一步的，所述探针的探针座一端固定于所述底座上，所述探针头穿过所述测试电路板的探针通孔伸出所述测试电路板。

再进一步的，当所述探针头处于自由状态时，所述探针头的顶端高于所述测试电路板背向所述底座的表面，当所述探针头下压至最低时，探针头的顶端不高于所述测试电路板背向所述底座的表面。

上述技术方案的有益效果在于：设置探针头的顶端在自由状态下高出测试电路板表面，以保证弹性作用范围内可以有效触及待测试的表面贴装陶瓷射频衰减器的底部；设置探针头的顶端在下压至最低时不高出底座表面，以保证当待测试的表面贴装陶瓷射频衰减器的底部与底座的表面高度相同时，探针头受压能够顺利缩回探针座，且不会对待测试的表面贴装陶瓷射频衰减器的底部产生刚性支撑。

再进一步的，所述探针头处于自由状态时，所述探针头的顶端超出所述测试电路板的表面的长度范围为1.5-3.0mm。

再进一步的，待测射频衰减器设有信号输入端、信号输出端及产品工作地，所述探针的探针头与表面贴装陶瓷射频衰减器的产品工作地预压接触。

更进一步的，所述底座上设有两对以上所述方槽，且每对所述方槽均设在所述底座的顶面与侧面接合处。

上述技术方案的有益效果在于：方槽的设置，为同轴连接器提供了避让空间，便于同轴连接器的安放并通过与测试固定装置配合，将测试连接器夹紧，便于保护测试电路板；设置方槽的数量为两对以上，通常位于底座的不同方向上，便于适用于不同型号表面贴装陶瓷射频衰减器的测试需求，拓展了测试治具的适用范围。

更进一步的，所述产品测试定位装置设有槽孔，所述槽孔与待测的表面贴装陶瓷射频衰减器的外形尺寸相匹配，用以限定表面贴装陶瓷射频衰减器的测试位置。

上述技术方案的有益效果在于：设置槽孔的外形尺寸与表面贴装陶瓷射频衰减器相匹配，便于限定表面贴装陶瓷射频衰减器的位置，防止在测试过程中出现位移，影响测试精度。

更进一步的，所述产品测试定位装置还设有避让条形孔，所述避让条形孔与测试电路板上的导线位置相对应。

上述技术方案的有益效果在于：避让条形孔的设置，可以准确地将表面贴装陶瓷射频衰减器定位在测试电路板的对应位置，并牢固地固定测试电路板的2个同轴连接器。

更进一步的，所述测试治具还包括两个以上的定位销，两个以上所述的定位销布设在所述底座上，所述测试电路板及产品测试定位装置上均设有定位孔，所述定位销穿过所述定位孔用以限定所述测试电路板及产品测试定位装置与所述底座之间的相对位置。

上述技术方案的有益效果在于：定位销与定位孔的配合设置，有助于精确定位底座、测试电路板及产品测试定位装置之间的相对位置的定位精度，且不受重复装卸的影响，产品测试的精度易于保证。

附图说明

为了更为清楚地说明本实用新型实施例或现有技术中的技术方案，下面将对实施例或现有技术描述中所需要使用的附图作简单地介绍，显而易见地，下面描述中的附图仅仅是本实用新型的一些实施例，对于本领域普通技术人员而言，在不付出创造性劳动的前提下，还可以根据这些附图获得其它附图。

图1为本实用新型一种测试治具的组装前示意图；

图2为本实用新型一种测试治具的组装后示意图；

图3为图2中Ⅰ处探针局部放大示意图；

图4为本实用新型一种表面贴装陶瓷射频衰减器示意图；

图5为本实用新型另一种测试治具的组装后俯视示意图；

图中数字所表示的相应的部件名称如下：

待测射频衰减器01；信号输入端011；信号输出端012；产品工作地013；探针1；探针座11；弹簧12；探针头13；测试电路板2；射频测试连接器21；探针通孔22；底座3；探针固定孔31；方槽32；连接孔33；产品测试定位装置4；槽孔41；避让条形孔42；连接件5；定位销6。

具体实施方式

为了便于理解本实用新型，下文将结合说明书附图和较佳的实施例对本实用新型作更全面、细致地描述，但本实用新型的保护范围并不限于以下具体的实施例。需要说明的是，在不冲突的情况下，本实用新型中的实施例及实施例中的特征可以相互组合。

为了实现本实用新型的目的，本实用新型提供的技术方案为：

在一些实施例中，如图1所示，公开了一种表面贴装陶瓷射频衰减器的测试治具，包括：探针1、测试电路板2、底座3、产品测试定位装置4及连接件5；探针1，用以改善表面贴装陶瓷射频衰减器工作地与测试电路板工作地的可靠接触；测试电路板2，是对表面陶瓷射频衰减器进行性能测试的关键部件，位于底座3与产品测试定位装置4之间，测试电路板2设有射频测试连接器21及探针通孔22，探针通孔22设在测试电路板2与待测的表面贴装陶瓷射频衰减器相接触的位置，用以穿过探针1；底座3，设有探针固定孔31、方槽32及连接孔33，探针固定孔31用以固定探针1，方槽32与射频测试连接器21匹配设置，用以容纳并固定射频测试连接器21；产品测试定位装置4，用于定位待测的表面贴装陶瓷射频衰减器的位置，并通过连接件5与底座3连接固定。

上述技术方案的有益效果在于：充分考虑了现有技术中表面贴装陶瓷射频衰减器经表面电镀后的产品输入端、输出端与产品工作地013通常很难保持在同一个平面，传统以焊接的方式保证测试精度不适合通讯设备生产的正常使用的缺陷，通过在测试治具中引入产品测试定位装置4，并与探针1及底座3配合，为表面贴装陶瓷射频衰减器进行精准定位，从而为探针1的稳定性接触奠定基础，进而能够有效解决陶瓷基材厚膜射频衰减器由于产品底部电极不够平整，导致待测射频衰减器01的信号输入端011、信号端、产品工作地013等三个电极与测试电路板2的对应信号电路的接触部位不够好，导致产品测试性能不准确,特别是产品的测试衰减值变大的问题。该治具结构简单，操作方便，可以明显提升产品与测试电路板的接触性能，提升测试精度、测试效率和测试准确性，防止良品误测及不良品误判为合格品。同时，该治具还可以有效防止测试过程中对产品的压力过大，导致产品碎裂或损伤风险。从而提升产品的可靠性。

在另一些实施例中，如图3所示，探针1包括探针座11、弹簧12及探针头13；探针座11的内部为中空结构；弹簧12的一端连接于探针座11的内部，其另一端探针头13与探针头13连接。

上述技术方案的有益效果在于：探针头13与弹簧12的配合设置，在弹性作用力下，在一定范围内均能保证探针头13与待测试的表面贴装陶瓷射频衰减器的底部接触良好。

在另一些实施例中，如图2所示，探针1的探针座11一端固定于底座3上，探针头13穿过测试电路板2的探针通孔22伸出测试电路板2。

在另一些实施例中，如图2，3所示，当探针头13处于自由状态时，探针头13的顶端高于测试电路板2背向底座3的表面，当探针头13下压至最低时，探针头13的顶端不高于测试电路板2背向底座3的表面。

上述技术方案的有益效果在于：设置探针头13的顶端在自由状态下高出测试电路板2的表面，以保证弹性作用范围内可以有效触及待测试的表面贴装陶瓷射频衰减器的底部；设置探针头13的顶端在下压至最低时不高出底座3表面，以保证当待测试的表面贴装陶瓷射频衰减器的底部与底座3的表面高度相同时，探针头13受压能够顺利缩回探针座11，且不会对待测试的表面贴装陶瓷射频衰减器的底部产生刚性支撑。

在另一些实施例中，探针头13处于自由状态时，探针头13的顶端超出测试电路板2的表面的长度范围为1.5-3.0mm。

在另一些实施例中，如图4所示，待测射频衰减器01设有信号输入端011、信号输出端012及产品工作地013，探针1的探针头13与表面贴装陶瓷射频衰减器的产品工作地013预压接触。

在另一些实施例中，如图1,2所示，底座3上设有两对以上方槽32，且每对方槽32均设在底座3的顶面与侧面接合处。

上述技术方案的有益效果在于：方槽32的设置，为同轴连接器提供了避让空间，便于同轴连接器的安放并通过与测试固定装置配合，将测试连接器夹紧，便于保护测试电路板；设置方槽32的数量为两对以上，通常位于底座3的不同方向上，便于适用于不同型号表面贴装陶瓷射频衰减器的测试需求，拓展了测试治具的适用范围。

在另一些实施例中，如图1,5所示，产品测试定位装置4设有槽孔41，槽孔41与待测的表面贴装陶瓷射频衰减器的外形尺寸相匹配，用以限定表面贴装陶瓷射频衰减器的测试位置。

上述技术方案的有益效果在于：设置槽孔41的外形尺寸与表面贴装陶瓷射频衰减器相匹配，便于限定表面贴装陶瓷射频衰减器的位置，防止在测试过程中出现位移，影响测试精度。

在另一些实施例中，如图5所示，产品测试定位装置4还设有避让条形孔42，避让条形孔42与测试电路板2上的导线位置相对应。

上述技术方案的有益效果在于：避让条形孔42的设置，可以准确地将表面贴装陶瓷射频衰减器定位在测试电路板2的对应位置，并牢固地固定测试电路板2的2个同轴连接器。

在另一些实施例中，如图5所示，测试治具还包括两个以上的定位销6，两个以上的定位销6布设在底座3上，测试电路板2及产品测试定位装置4上均设有定位孔，定位销6穿过定位孔用以限定测试电路板2及产品测试定位装置4与底座3之间的相对位置。

上述技术方案的有益效果在于：定位销6与定位孔的配合设置，有助于精确定位底座3、测试电路板2及产品测试定位装置4之间的相对位置的定位精度，且不受重复装卸的影响，产品测试的精度易于保证。

上述实施例只为说明本实用新型的技术构思及特点，其目的在于让本领域普通技术人员能够了解本实用新型的内容并加以实施，并不能以此限制本实用新型的保护范围，凡根据本实用新型精神实质所作的等效变化或修饰，都应涵盖在本实用新型的保护范围内。

Claims (10)

1.一种表面贴装陶瓷射频衰减器的测试治具，其特征在于，包括：探针、测试电路板、底座、产品测试定位装置及连接件；

所述探针，用以改善表面贴装陶瓷射频衰减器工作地与测试电路板工作地的可靠接触；

所述测试电路板，位于所述底座与所述产品测试定位装置之间，所述测试电路板设有射频测试连接器及探针通孔，所述探针通孔设在所述测试电路板与待测的表面贴装陶瓷射频衰减器相接触的位置，用以穿过所述探针；

所述底座，设有探针固定孔、方槽及连接孔，所述探针固定孔用以固定所述探针，所述方槽与所述射频测试连接器匹配设置，用以容纳并固定所述射频测试连接器；

所述产品测试定位装置，用于定位待测的表面贴装陶瓷射频衰减器的位置，并通过所述连接件与所述底座连接固定。

2.根据权利要求1所述的表面贴装陶瓷射频衰减器的测试治具，其特征在于,所述探针包括探针座、弹簧及探针头；所述探针座的内部为中空结构；所述弹簧的一端连接于所述探针座的内部，其另一端所述探针头与所述探针头连接。

3.根据权利要求2所述的表面贴装陶瓷射频衰减器的测试治具，其特征在于,所述探针的探针座一端固定于所述底座上，所述探针头穿过所述测试电路板的探针通孔伸出所述测试电路板。

4.根据权利要求3所述的表面贴装陶瓷射频衰减器的测试治具，其特征在于,当所述探针头处于自由状态时，所述探针头的顶端高于所述测试电路板背向所述底座的表面，当所述探针头下压至最低时，探针头的顶端不高于所述测试电路板背向所述底座的表面。

5.根据权利要求4所述的表面贴装陶瓷射频衰减器的测试治具，其特征在于,所述探针头处于自由状态时，所述探针头的顶端超出所述测试电路板的表面的长度范围为1.5-3.0mm。

6.根据权利要求5所述的表面贴装陶瓷射频衰减器的测试治具，其特征在于,待测射频衰减器设有信号输入端、信号输出端及产品工作地，所述探针的探针头与表面贴装陶瓷射频衰减器的产品工作地预压接触。

7.根据权利要求1所述的表面贴装陶瓷射频衰减器的测试治具，其特征在于,所述底座上设有两对以上所述方槽，且每对所述方槽均设在所述底座的顶面与侧面接合处。

8.根据权利要求7所述的表面贴装陶瓷射频衰减器的测试治具，其特征在于,所述产品测试定位装置设有槽孔，所述槽孔与待测的表面贴装陶瓷射频衰减器的外形尺寸相匹配，用以限定表面贴装陶瓷射频衰减器的测试位置。

9.根据权利要求8所述的表面贴装陶瓷射频衰减器的测试治具，其特征在于,所述产品测试定位装置还设有避让条形孔，所述避让条形孔与测试电路板上的导线位置相对应。

10.根据权利要求1所述的表面贴装陶瓷射频衰减器的测试治具，其特征在于,还包括两个以上的定位销，两个以上所述的定位销布设在所述底座上，所述测试电路板及产品测试定位装置上均设有定位孔，所述定位销穿过所述定位孔用以限定所述测试电路板及产品测试定位装置与所述底座之间的相对位置。

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