CN111007325B - 一种测试腔体、天线测试装置及天线测试系统 - Google Patents

Abstract

本发明实施例提供了一种测试腔体、天线测试装置以及天线测试系统，所述测试腔体包括本体，设置在所述本体的电路板，与所述电路板连接的探针，以及与所述本体连接并密封所述电路板的盖板；所述本体设有测试孔，以及与所述测试孔匹配连接的导电胶圈，所述探针穿过所述导电胶圈，使所述探针与所述导电胶圈形成非标准的射频测试端口，所述探针与所述导电胶圈用于对非标准接口的天线进行测试。整个腔体结构简单，拆装简单，使用方便，可以通过配合测试标准与非标准多端口天线，灵活性强，同时整个测试腔体使用寿命长，制作成本低，也可以有效降低测试成本。

Description

一种测试腔体、天线测试装置及天线测试系统

技术领域

本发明涉及天线工业领域，特别是涉及一种测试腔体、一种天线测试装置以及天线测试系统。

背景技术

天线是一种变换器，它把传输线上传播的导行波，变换成在无界媒介(通常是自由空间)中传播的电磁波，或者进行相反的变换。而天线进行电磁波接收或发送最主要的部件就是天线端口。

天线端口位置及数量，以及端口外露导体的尺寸均由客户的整机设计决定，由此衍生出了非标准式结构的天线。为了提高产品质量，以及生产商的信誉，在交付产品前，需要对产品质量进行管控，可通过快速判断该天线的驻波量级是否超标，或驻波波形是否有异常，以判断该天线是否为合格产品。

目前常用的检查方法主要有两种，一种是定制特定形状或结构的接头测试天线。这种方法定制接头成本高，且接头的有效使用次数有限，需要经常更换，导致测试成本极高。另一种是采用多端口测试设备进行测试，由于测试设备与天线形状不匹配，使测试设备与天线接触时，接触天线外露的内导体长度有偏差，而且在装配过程中测试的针头以及天线的铝板变形，导致测试设备无法和待测天线进行有效的接触，使得测试波形异常，无法测出准确的天线驻波值。

发明内容

鉴于上述问题，提出了以便提供克服上述问题或者至少部分地解决上述问题的一种测试腔体、一种天线测试装置以及天线测试系统。

本发明提出了一种测试腔体，包括本体，设置在所述本体的电路板，与所述电路板连接的探针，以及与所述本体连接并密封所述电路板的盖板；

所述本体设有测试孔，以及与所述测试孔匹配连接的导电胶圈，所述探针穿过所述导电胶圈，使所述探针与所述导电胶圈形成非标准的射频测试端口，所述探针与所述导电胶圈用于对非标准接口的天线进行测试。

可选地，所述本体设有固定槽，所述电路板设置在所述固定槽内，所述盖板与所述固定槽连接并密封所述固定槽。

可选地，所述测试腔体还包括接头，所述本体侧边设有连接孔，所述连接孔与所述固定槽连通，所述接头通过所述连接孔与所述电路板连接。

可选地，所述导电胶圈包括固定体与触碰体，所述固定体与触碰体中间设有胶圈孔，所述探针设置在所述胶圈孔中，所述固定体设置在所述测试孔，与所述测试孔匹配连接，所述触碰体与所述本体的外壁连接；

当天线压向所述本体时，所述触碰体与天线的铝板接触，使所述触碰体与天线形成射频外导体，以及所述探针与天线外露的内导体接触，使所述探针与天线形成射频内导体。

可选地，所述固定体为圆柱状，所述触碰体为圆台形状，所述触碰体的截面的直径大于所述固定体的直径，所述触碰体的胶圈孔呈倒圆台形状，所述触碰体的胶圈孔的底面的直径大于或等于所述探针的直径；

当所述触碰体与天线接触时，使所述触碰体压缩形变，以拓宽所述触碰体与天线的接触面积。

本发明还提出了一种天线测试装置，包括如上所述的测试腔体和压接台，所述压接台包括机架，所述机架设有腔体固定座，所述测试腔体设置在所述腔体固定座上。

可选地，所述压接台还包括压接器，以及与所述压接器连接的控制器，所述控制器设置在所述机架上，所述压接器设置在所述腔体固定座的顶部，所述控制器用于控制所述压接器上下移动，以使所述压接器将天线压向所述测试腔体。

可选地，所述压接器包括底板，以及设置所述底部的一个或多个压接柱，所述控制器包括气缸，以及与所述气缸连接的控制柱，所述控制柱与所述底板连接，所述气缸用于控制所述控制柱带动所述底板上下移动，以使所述底板带动压接柱上下移动，使得所述压接柱将天线压向所述测试腔体。

本发明还提出了一种天线测试系统，包括如上所述的天线测试装置，以及与天线测试装置连接的主机装置，所述主机装置用于发送测试信号至所述天线测试装置，或接收所述天线测试装置发送的反射信号，并存储所述反射信号。

可选地，所述主机装置包括测试主机，以及与测试主机连接的测试仪器；

所述测试仪器用于发送测试信号至所述天线测试装置，或接收所述天线测试装置发送的反射信号；

所述主机装置用于存储并分析所述反射信号。

本发明实施例具有以下优点：

本发明提出的测试腔体可以通过将电路板设置在本体内并用盖板密封，在本体中设置测试孔，将导电胶圈与探针一端可以与电路板连接，探针的另一端可以穿过导电胶圈，直接与天线触碰连接。当天线与压向本体，天线可以压着导电胶圈与探针，让导电胶圈与探针可以匹配天线发生适量的形变，可以增加导电胶圈与探针和天线的有效接触面积，可以准确测出驻波比值，可以避免因与待测天线接触不充分而导致波形异常的问题；而且整个测试腔体结构简单，拆装简单，使用方便，可以通过配合测试标准与非标准多端口天线，灵活性强，同时整个测试腔体使用寿命长，制作成本低，也可以有效降低测试成本。

附图说明

为了更清楚地说明本发明的技术方案，下面将对本发明的描述中所需要使用的附图作简单地介绍，显而易见地，下面描述中的附图仅仅是本发明的一些实施例，对于本领域普通技术人员来讲，在不付出创造性劳动性的前提下，还可以根据这些附图获得其他的附图。

图1是本发明的非标准多端口天线的其中一种实施例的结构示意图；

图2是本发明的本体的其中一种实施例的结构示意图；

图3是本发明的本体的其中一种实施例的侧视图；

图4是本发明的电路板的其中一种实施例的结构示意图；

图5是本发明的探针的其中一种实施例的结构示意图；

图6是本发明的导电胶圈的其中一种实施例的结构示意图；

图7是本发明的导电胶圈与探针结合的结构示意图；

图8是本发明的盖板的其中一种实施例的结构示意图；

图9是本发明的驻波比的测试数据图表一；

图10是本发明的驻波比的测试数据图表二；

图11是本发明的驻波比的测试数据图表三；

图12是本发明的驻波比的测试数据图表四；

图13是本发明的驻波比的测试数据图表五；

图14是本发明的驻波比的测试数据图表六；

图15是本发明的驻波比的测试数据图表七；

图16是本发明的驻波比的测试数据图表八；

图17是本发明的驻波比的测试数据图表九；

图18是本发明的驻波比的测试数据图表十；

图19是本发明的天线测试装置的其中一种实施例的结构示意图；

图20是本发明的天线测试装置的其中一种实施例的主视图；

图21是本发明的天线测试装置的其中一种实施例的侧视图；

图22是本发明的天线测试装置的其中一种实施例的俯视图；

图23是本发明的天线测试系统的其中一种实施例的结构示意图。

具体实施方式

为使本发明的上述目的、特征和优点能够更加明显易懂，下面结合附图和具体实施方式对本发明作进一步详细的说明。显然，所描述的实施例是本发明一部分实施例，而不是全部的实施例。基于本发明中的实施例，本领域普通技术人员在没有作出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例，都属于本发明保护的范围。

在网络的电磁传输中，为了配合不同的网络制式和传输要求，往往需要配置不同端口的天线。不同的端口的具体形状和结构会不同。在具体的实际测试中，若天线采用的端口为SMA型或N型等类型的接头的端口的，则该天线可以为标准天线；若天线采用的端口为非SMA型或非N型等类型的接头的端口，则该天线可以为非标准天线。参照图1，示出了本发明的非标准多端口天线的其中一种实施例的结构示意图。

在本实施例中，主要是测试天线的驻波比，驻波比全称为电压驻波比,又名VSWR和SWR，为英文Voltage Standing Wave Ratio的简写。是指驻波波腹电压与波谷电压幅度之比，又称为驻波系数、驻波比。驻波比等于1时，表示馈线和天线的阻抗完全匹配，此时高频能量全部被天线辐射出去，没有能量的反射损耗；驻波比为无穷大时，表示全反射，能量完全没有辐射出去。

通过测试天线的驻波比可以确定该天线产品能否将高频能量辐射出去，从而可以确定天线是否正常工作，确定该天线是否有质量问题。

具体地，本发明实施例提出了一种测试腔体，该测试腔体可以用于测试天线的驻波比。

在本实施例中，该测试腔体可以包括本体1，电路板2，盖板3，接头4，探针5。电路板2可以设置本体1上，并由盖板3将电路板2密封，接头4设置在本体1的侧边并与电路板2连接，探针5设置在电路板2并穿过本体1。

测试时，通过本体1与天线接触，由电路板2通过探针5向天线发送测试信号，或电路板2通过探针5接收天线发送的反射信号，电路板2再将接收的反射信号从接口发送走，完成对天线的测试，而盖板3可以将电路板2密封，从而提高本体1的密封性能，可以避免电路板2损坏，而且在本体1与天线接触时，盖板3也可以将用于支撑与固定本体1，使得本体1与天线更加平整地接触，增加本体1与天线的有效接触面积，从而可以提高测试的准确性。

参照图2-3，分别示出了本发明的本体的其中一种实施例的结构示意图和本发明的本体的其中一种实施例的侧视图，本体1设有测试孔11，固定槽12和导电胶圈13。固定槽12可以用于固定电路板2，电路板2可以设置固定槽12中，再由盖板3密封固定槽12，使得电路板2可以设置在本体1内。在可选的实施例中，固定槽12可以设置在本体1的底面，本体1可以将底面挖空使本体1的底面形成与电路板2相匹配的固定槽12。

在本实施例中，测试孔11可以设置在固定槽12的正面，并从固定槽12的底面贯穿至本体1的正面，使测试孔11与固定槽12连通。在另一可选的实施例中，测试孔11也可以设置本体1的侧边，并从固定槽12的侧边贯穿至本体1的侧边，使测试孔11与固定槽12连通。

导电胶圈13可以穿过测试孔11，，导电胶圈一端固定在测试孔，一段露出在本体1的表面，可以当天线压向测试腔体的本体1时，可以用于直接与天线接触；，导电胶圈及测试孔加弹性探针构成一个非标准测试端口可以接收电路板2的测试信号并将测试信号发送至天线，或接收天线的反射信号并将发射信号发送至电路板2中。

在可选的实施例中，本体1的结构可以正方形、矩形或多边形等等，具体可以根据实际需要进行调整，例如，若要测试的天线是多边形的多端口天线，本体1可以设置成多边形，若要测试的天线的方形，本体1可以设置成正方形或矩形。

可选地，固定槽12的也可以是方形、矩形或多边形，固定槽12的结构可以与电路板2的结构相匹配。若电路板2平面结构是方形，固定槽12也可以设置成方形，若电路板2的平面结构为多边形，固定槽12也可以设置成多边线，若电路板2是不规则图形，固定槽12也可以是不规则图形。

在另一可选的实施例中，固定槽12的深度可以大于或等于电路板2的厚度，且固定槽12的深度可以小于电路板2厚度加探针5的高度。当电路板2安装在固定槽12后，探针5可以穿过测试孔11。

在具体实现中，可以参照图2，本体1设置成长方形，固定槽12也可以设置成长方形。将本体1与固定槽12设置成长方形，可以让整个本体1的结构更加牢固，而且固定方便。

另外，测试孔11的数量也可以根据实际需要进行调整，若需要测试的天线体积较小，天线的端口较少，可以适当减少测试孔11的数量；若需要测试的天线端口较多，可以增加测试孔11的数量。在具体实现中，测试孔11可以设置16个，16个测试孔11均设置在本体1的正面，并沿本体1的中心水平一字型排列设置。通过设置16个测试孔11，可以增加整个测试本体1的测试范围，而且测试孔11呈一字型排列设置，即可以让本体1测试非标准多端口天线，也可以让本体1测试标准多端口天线，可以提高本体1的测试灵活性，以及实用性。

可以参照图2-3，该测试腔体还可以包括一个或多个接头4，在本体1的侧边可以设有一个或多个连接孔14，连接孔14可以与固定槽12连通，使得接头4可以通过连接孔14与固定槽12内的电路板2连接。

在本实施例中，接头4可以用于与外接信号源连接，可以接收外接信号源的测试信号，也可以向外接信号源发送反射信号。

在可选的实施例中，接头4可以是射频接头，优选地，该射频接头可以为SMA接头或N型接头。

在具体操作中，在本体1的侧边可以设有16个连接孔14，可以设置16个接头4，16个接头4可以成一字型设置在本体1的侧边。

参照图4，示出了本发明的电路板的其中一种实施例的结构示意图。在本实施例中，电路板2可以设置有设置成长方形，使得电路板2可以与固定槽12匹配连接。

在具体实现中，固定槽12设置测试孔11的底面，在固定槽12周边可以设置底面固定孔121，在电路板2的侧边可以设有电路板固定孔21，电路板固定孔21与底面固定孔121可以匹配连接，使得电路板2可以通过电路板固定孔21设置在固定槽12内。具体地，可以采用螺丝分别穿过电路板固定孔21与底面固定孔121，将电路板2设置在固定槽12内。而且适用螺纹将电路板2与固定槽12固定连接，可以使得电路板2更加牢固，而且在天线压向电路板2，使得导电胶圈13与探针5形变探测，也不会让电路板2移位，可以避免天线与导电胶圈13以及探针5的接触不充分的问题。

电路板2的的引线23与弹性的探针5构成非标准测试口的内导体，导电橡胶13与本体1及电路板2的板面构成非标准测试口的外导体，测试信号通过这个非标准测试口进行传输。

在具体实现中，电路板2可以是PCB电路板。在电路板2中可以设置16个胶圈连接位22，可以与16个测试孔11匹配使用，并在胶圈连接位22中引16条引线23，通过引线23与接头4连接，接头4接收测试信号后可以通过上述非标准测试口传输，同样，天线的反射信号也是通过非标准测试口传输至接头4。

参照图5，示出了本发明的探针的其中一种实施例的结构示意图。在本实施例中，探针5可以分别探针本体51与针头52，在探针本体51的底部可以设有探针底座，探针5可以通过探针底座设置在电路板2中，针头52穿过测试孔11。若待测试的天线的端口较深，可以适当调整探针的长度，可以适当增加针头52的长度或探针本体51的长度，使得针头52可以与导电胶圈13一同外露本体；若待测试的天线的端口较浅，可以适当减少针头52或探针本体的51的长度，使得针头52可以藏在导电胶圈13的胶圈孔内。

在具体实现中，探针5可以通过探针底座设置在电路板2的胶圈连接位22处，与电路板2连接。优选地，可以通过焊接的方式，将探针5焊接在电路板2的胶圈连接位22处，使得探针5可以在电路板2中固定得更加牢固，并且探针5可以直接向天线发送或接收信号，并将信号传输至电路板2中。

在测试时，天线会逐渐压向本体1，被测天线会先触碰到导电橡胶13，并且在压缩过程中被测天线的端口内导体会触碰到探针55。在本实施例中，若待测试的天线的端口外露导体较短，可以当增加探针的长度，。，在天线压向本体1的同时，探针5会发送适量的形变，针头52可以压缩，在针头52压缩的同时，会使得针头52与天线之间外露的内导体触碰可靠接触，。在启动测试后，电路板2可以接收外接信号源发送的测试信号，由电路板2将测试信号传输至探针5及导电橡胶13，向待测天线发送测试信号；接着天线的内导体在接收测试信号后，会向探针5及导电橡胶13反射回反射信号，并将反射信号通过电路板2发送至外接的信号源，完成测试。

通过使用可形变的导电橡胶13，可以有效地保证所有的测试口与待测天线的外导体有效接触，通过使用探针5，可以保证所有的测试口与待测天线的内导体有效接触，从而可以提高测试的准确性。

在本实施例中，探针5可以是弹性射频探针，相比与定制的测试接头，价格低廉。目前常用的定制接头价格大约每个为500-1000元，使用寿命大约为10000-15000次；而本实施例，弹性射频探针价格每个小于2元，使用寿命大约为30000--50000次，而导电胶圈13的使用寿命大约为10000次以上,价格每个小于2元。若以32端口的非标准天线产品为例，假设每周测试15000件，使用定制接头则每周需要投入的成本大约在15000至32000元之间，而采用本实施例的测试腔体后，则每周需要投入的成本约在100元，而且使用寿命长，可以大大降低测试成本。

参照图6，示出了本发明的导电胶圈13的其中一种实施例的结构示意图。导电胶圈13可以穿过测试孔11，与本体1的外壁触碰连接，且导电胶圈13的底部与电路板2连接。优选地，导电胶圈13可以与电路板2的胶圈连接位22连接。使得导电胶圈13可以通过胶圈连接位22接收或发送信号。而且导电胶圈13设置在胶圈连接位22，可以让探针5从导电胶圈13中穿过，让导电胶圈13包围着探针5，使得导电胶圈13与探针5一起测试天线。

导电胶圈13可以包括固定体131与触碰体132，固定体131与触碰体132中间设有胶圈孔，探针5可以设置在胶圈孔中穿过本体1，导电胶圈13可以外露在本体1处，并与天线接触，胶圈孔的直径可以大于或等于探针5的直径，使得探针5可以与导电胶圈13连接更加紧密，而且也可以使得探针5与导电胶圈13同时与天线接触，使得探针5与导电胶圈13同时对天线进行测试，固定体131与触碰体132均可以采用导电物质制作。

在本实施例中，固定体131可以为圆柱状，固定体131的直径可以与测试孔11的直径相同，或略大于测试孔11的直径。在本实施例中，固定孔的直径可以等于测试孔11的直径+0.1～0.3毫米。在本实施例中，导电胶圈13可以采用可形变的导电物质制成。在安装过程中，固定体131略大于测试孔11，可以使得整个导电胶圈13在测试孔11中固定得更加牢固，不容易从测试孔11中脱落。

可以参照图6，触碰体132可以是圆台形状，该触碰体132的截面直径可以大于或等于固定体131的直径，触碰体132底面的直径大于截面的直径。当固定体131设在测试孔11时，触碰体132可以设置在本体1的外壁，与本体1的外壁触碰连接。当天线压向本体1时，可以同时与触碰体132和天线触碰连接，由于触碰体132的体积较天线大，触碰体132的直径也较天线大，当探针5与天线外露的内导体触碰时，触碰体132可以通过触碰到天线的铝板，天线的铝板与触碰体132以及电路板2可以形成射频外导体，从而通过向外导体发送信号，进行测试。而且触碰体132可以导电，电路板2通电时，可以将电路板2的测试信号经过触碰体132发射至天线的铝板，也可以从天线的铝板接收反射信号，并将发射信号发送至电路板2。

在本实施例中，触碰体132的胶圈孔成倒圆台形状，触碰体132的胶圈孔的直径从触碰体132的截面向触碰体132的底面逐渐减少，触碰体132的胶圈孔的底面直径可以大于或等于探针5直径，使得探针5可以穿过触碰体132。

参照图7，示出了本发明的导电胶圈与探针结合的结构示意图。在测试过程中，当天线压向本体1时，天线可以先触碰触碰体132与探针5。由于天线的重量及压接工装的压力，导致探针5与触碰体132会形变压缩，而触碰体132的胶圈孔呈倒圆台形状，触碰体132会在压缩过程中，胶圈孔会打开，使得探针5可以暴露在触碰体132中，并可以直接与天线的端口连接，插入至天线的端口，可以与天线外露的内导体触碰连接，使探针5与天线外露的内导体以及电路板2形成射频内导体，可以通过外接信号源向该射频内导体发送信号，进行测试。可选地，天线在压向本体时，天线的端口也可以插入触碰体132内，使得端口可以撑开触碰体132，让天线的端口与探针5触碰连接。而天线压向触碰体132时，触碰体132可以以胶圈孔为中心向四周张开，可以扩大触碰体132与天线铝板的接触面积，可以让触碰体132直接触碰到天线端口周边的铝板，使得天线的铝板与触碰体132以及电路板2三者触碰连接，形成射频外导体，外接的信号源发送信号直接测试外导体。

将探针5设置在导电胶圈13中，使得导电胶圈13可以与探针5相互匹配使用，可以使得导电胶圈13和探针5可以与天线有效且充分地接触，提高测试的准确性，准确地测出天线的驻波值。

可以参照图7，在具体操作中，可以适当减少探针5的体积，可以将探针5设置在测试孔内，可以进一步减少探针5的成本。

在可选的实施例中，可以缩短导电胶圈13的固定体131的长度，可以减少导电胶圈13的体积。在使用时，可以让固定体131与测试孔11的内壁接触，在天线的端口与导电胶圈13触碰连接时，由天线将导电胶圈往测试孔11内压，使得导电胶圈13可以与电路板2触碰连接，让天线的铝板与导电胶圈以及电路板形成射频外导体。

在另一可选的实施例中，探针5可以焊接在电路板2上，也可以设置在电路板2的测试过孔中，直接将测试的信号或反射的信号发送至电路板2中。

在本实施例中，在探针与导电胶圈的连接空隙，可以设置导电介质，该导电介质可以提高导电胶圈与探针和天线的信号传输速度，提高测试效率。

参照图8，示出了本发明的盖板的其中一种实施例的结构示意图。在本实施例中，盖板3可以与本体1连接，可以用于密封电路板2，使得电路板2在本体1中固定得更加牢固稳定，在测试过程中不会变形或脱落，而且盖板3还可以用于固定整个本体1，当需要测试时，可以通过固定盖板3，将整个本体1固定设置在测试的地方。

在可选的实施例中，在本体1的侧边可以设有与盖板3连接的一个或多个侧边连接孔15，在盖板3可以设置与侧边连接孔15匹配连接的盖板连接孔31，可以通过螺丝穿过侧边连接孔15和盖板连接孔31，使得本体1与盖板3固定连接。

在具体实现中，在盖板3的侧边可以设有盖板固定孔32，可以通过盖板固定孔32，将盖板3固定。在实际操作中，需要将天线压向本体1，可以通过盖板3将本体1固定在一个稳定的测试平台或平面上，可以避免天线压向本体1时，本体1发生移位，从而导致本体1与天线接触补充分的问题。

在测试前，技术人员可以将在本体1的测试孔11中设置安装导电胶圈13，使得导电胶圈13可以固定在测试孔11内，接着可以将电路板2设在本体1的固定槽12内，使得电路板2的探针5可以穿过导电胶圈13的胶圈孔，并使导电胶圈13可以设置在电路板2的胶圈连接位22触碰连接，让探针5与导电胶圈13可以一同外露在本体1外，再让电路板2与本体1侧边的接头4连接，该接头4可以与外接的信号源连接，然后将盖板3与本体1连接，让盖板3可以密封电路板2，再将盖板3固定在测试平台或平台中。

在测试时，天线可以压向本体1，使得天线可以与设置本体1外的导电胶圈13和探针5触碰连接，让探针5可以穿过天线的端口，插入天线端口的内部，与天线端口外露的内导体触碰接触，使天线外露的内导体与探针5以及电路板2形成射频传输的内导体；而导电橡胶可以与天线端口四周的铝板触碰连接，让天线铝板与导电橡胶以及电路板2形成射频传输的外导体。接着由外接信号源向形成的外导体与内导体发送测试信号，外导体与内导体在接收信号，可以根据测试信号反射一个反射信号，反射信号再发送外接的信号源中，在外接的信号源中接收反射信号，根据反射信号确定测试天线的驻波比。

参照图9-18，分别为本实施例中100个天线的其中10个端口的驻波比的测试数据图表，下图中，横坐标为测试频率，纵坐标为驻波量级，驻波量级低，波行一致性好。

在本实施例中，通过将电路板设置在本体内并用盖板密封，在本体中设置测试孔，将导电胶圈与探针一端可以与电路板连接，另一端穿过测试孔外露在本体，直接与天线触碰连接。当天线与压向本体，天线可以压着导电胶圈与探针，让导电胶圈与探针可以匹配天线发生适量的形变，可以增加导电胶圈与探针和天线的有效接触面积，可以准确测出驻波比值，可以避免因与待测天线接触不充分而导致波形异常的问题；而且整个测试腔体结构简单，拆装简单，使用方便，可以通过配合测试非标准多端口天线，灵活性强，同时整个测试腔体使用寿命长，制作成本低，也可以有效降低测试成本。

参照图19，示出了本发明的天线测试装置的其中一种实施例的结构示意图。该天线测试装置可以包括如上实施例中所有技术特征的测试腔体6，以及压接台。

该压接台可以包括机架7，在机架7上可以设有腔体固定座71，测试腔体6可以设置在腔体固定座71中。

在具体实现中，可以在测试腔体的盖板3两侧可以设置盖板固定孔32，在腔体固定座71中可以设置与盖板固定孔32匹配的座固定孔，通过螺丝穿过盖板固定孔32与座固定孔，将整个测试腔体设在腔体固定座中。

在本实施例中，压接台还可以包括压接器和控制器，压接器可以与控制器连接，压接器与控制器均可以设在机架7上，使得压接器与控制器以及机架7成一体式结构。

可以参照图20-22，分别示出了本发明的天线测试装置的其中一种实施例的主视图、本发明的天线测试装置的其中一种实施例的侧视图和本发明的天线测试装置的其中一种实施例的俯视图。在本实施例中，压接器可以设置在机架7的顶部，并与腔体固定座上下对称相匹配，控制器可以设置在机架7的机体内。控制器用于控制压接器在机架7上下移动，使得压接器可以从机架7顶部压向测试腔体或从测试腔体往机架7顶部移动。压接器用于将天线压向测试腔体。

参照图20-22，压接器包括底板72以及一个或多个压接柱73，压接柱73可以设置固定在底板72上，底板72与机架7的顶部连接，使得一个或多个压接柱73朝向测试腔体。控制器可以包括一个或多个气缸74以及与气缸74连接的控制柱75，控制柱75设置在机架7上，底板72可以与控制柱75连接。

气缸74可以控制控制柱75上下移动，使得控制柱75带动底板72上下移动，以使底板72带动压接柱73上下移动，使得压接柱73可以将天线压向测试腔体。

在本实施例中，压接柱73可以设置多个，压接柱73的长度可以根据实际需要进行调整，在压接柱73与天线的触碰端可以设置缓冲层，可以避免在将天线压向测试腔体时，损坏天线。在另一可选的实施例中，若设置多个压接柱73，可以按照测试需要设置不同形状，也可以设置在底板72的侧边。

在具体实现中，压接柱73可以设置16个，每个压接柱73可以与测试腔体的测试孔上下匹配，在测试时，可以让压接柱73压在天线的端口处，使得测试腔体的导电胶圈与探针5可以直接与天线的端口触碰。

在启动测试时，技术人员可以将测试腔体固定在腔体固定座中，然后将天线放置在测试腔体上，接着启动控制器，由气泵74带动控制柱75，由控制柱75带动底板72从机架7的顶部向下移动，使得压接柱73触碰到天线，将天线压向测试腔体，最后由连接测试腔体的外接信号源发送测试信号至测试腔体，测试天线。当外接信号源由测试腔体中接收天线的反射信号后，可以控制控制器将压接器向上移动。测试腔体的导电胶圈与探针5回复原状，在弹力的作用下，天线可以与测试腔体分开，技术人员可以将天线从压接台移走，在放置一块新的待测天线，开始下一次的测试。

在本实施例中，整个天线测试装置结构简单，操作简单，通过将测试腔体设置压接台中，可以让测试腔体设置得更加牢固稳定，可以增加天线与测试腔体的有效接触面积。而且测试过程简单，可以有效提高测试效率，也可以有效降低测试成本。

参照图23，示出了本发明的天线测试系统的其中一种实施例的结构示意图。在本实施例中，该天线测试装置可以包括如上实施例中所有技术特征的天线测试装置141以及主机装置142，该主机装置可以与天线测试装置连接。

在本实施例中，主机装置可以用于发送测试信号至天线测试装置，或接收天线测试装置发送的反射信号，并存储所述反射信号。

在本实施例中，主机装置可以包括测试主机和测试仪器，测试主机可以与测试仪器连接。

在本实施例中，测试仪器用于发送测试信号至天线测试装置，或接收天线测试装置发送的反射信号；

主机装置用于存储并分析反射信号。

在测试时，技术人员可以将待测天线放置在天线测试装置中，通过按动压接台的压接按钮，启动压接动作，在压接器的作用下，使得天线的内外导体可以与安装在压接台上的测试腔体就会实现可靠接触，此时测试仪器可以向测试腔体发送测试信号，测试腔体可以将测试信号发送至天线，天线会返回一个反射信号至测试腔体，再由测试腔体将发射信号返回给测试仪器，测试仪器通过比对发射的测试信号与反射信号强度得到所需要的测试驻波比值，测试主机再读取并记录测试仪器的测试数据。

在本实施例中，整个天线测试系统结构简单，拆装方便，操作容易，而且测试天线准确，可以准确地测试出天线的驻波比值，也可以有效地降低测试成本。

本说明书中的各个实施例均采用递进的方式描述，每个实施例重点说明的都是与其他实施例的不同之处，各个实施例之间相同相似的部分互相参见即可。

本领域内的技术人员应明白，本发明实施例可提供为方法、装置、或计算机程序产品。因此，本发明实施例可采用完全硬件实施例、完全软件实施例、或结合软件和硬件方面的实施例的形式。而且，本发明实施例可采用在一个或多个其中包含有计算机可用程序代码的计算机可用存储介质(包括但不限于磁盘存储器、CD-ROM、光学存储器等)上实施的计算机程序产品的形式。

本发明实施例是参照根据本发明实施例的方法、终端设备(系统)、和计算机程序产品的流程图和/或方框图来描述的。应理解可由计算机程序指令实现流程图和/或方框图中的每一流程和/或方框、以及流程图和/或方框图中的流程和/或方框的结合。可提供这些计算机程序指令到通用计算机、专用计算机、嵌入式处理机或其他可编程数据处理终端设备的处理器以产生一个机器，使得通过计算机或其他可编程数据处理终端设备的处理器执行的指令产生用于实现在流程图一个流程或多个流程和/或方框图一个方框或多个方框中指定的功能的装置。

这些计算机程序指令也可存储在能引导计算机或其他可编程数据处理终端设备以特定方式工作的计算机可读存储器中，使得存储在该计算机可读存储器中的指令产生包括指令装置的制造品，该指令装置实现在流程图一个流程或多个流程和/或方框图一个方框或多个方框中指定的功能。

这些计算机程序指令也可装载到计算机或其他可编程数据处理终端设备上，使得在计算机或其他可编程终端设备上执行一系列操作步骤以产生计算机实现的处理，从而在计算机或其他可编程终端设备上执行的指令提供用于实现在流程图一个流程或多个流程和/或方框图一个方框或多个方框中指定的功能的步骤。

尽管已描述了本发明实施例的优选实施例，但本领域内的技术人员一旦得知了基本创造性概念，则可对这些实施例做出另外的变更和修改。所以，所附权利要求意欲解释为包括优选实施例以及落入本发明实施例范围的所有变更和修改。

最后，还需要说明的是，在本文中，诸如第一和第二等之类的关系术语仅仅用来将一个实体或者操作与另一个实体或操作区分开来，而不一定要求或者暗示这些实体或操作之间存在任何这种实际的关系或者顺序。而且，术语“包括”、“包含”或者其任何其他变体意在涵盖非排他性的包含，从而使得包括一系列要素的过程、方法、物品或者终端设备不仅包括那些要素，而且还包括没有明确列出的其他要素，或者是还包括为这种过程、方法、物品或者终端设备所固有的要素。在没有更多限制的情况下，由语句“包括一个……”限定的要素，并不排除在包括所述要素的过程、方法、物品或者终端设备中还存在另外的相同要素。

以上对所提供的一种测试腔体、一种天线测试装置以及一种天线测试系统，进行了详细介绍，本文中应用了具体个例对本发明的原理及实施方式进行了阐述，以上实施例的说明只是用于帮助理解本发明的方法及其核心思想；同时，对于本领域的一般技术人员，依据本发明的思想，在具体实施方式及应用范围上均会有改变之处，综上所述，本说明书内容不应理解为对本发明的限制。

Claims (9)

1.一种测试腔体，其特征在于，包括本体，设置在所述本体的电路板，与所述电路板连接的探针，以及与所述本体连接并密封所述电路板的盖板；

所述本体设有测试孔，以及与所述测试孔匹配连接的导电胶圈，所述探针穿过所述导电胶圈，使所述探针与所述导电胶圈形成非标准的射频测试端口，所述探针与所述导电胶圈用于对非标准接口的天线进行测试；导电胶圈包括固定体与触碰体，固定体与触碰体中间设有胶圈孔，探针设置在胶圈孔中穿过本体，导电胶圈外露在本体处，并与天线接触；

所述导电胶圈包括固定体与触碰体，所述固定体与触碰体中间设有胶圈孔，所述探针设置在所述胶圈孔中，所述固定体设置在所述测试孔内，与所述测试孔匹配连接，所述触碰体与所述本体的外壁连接；

当天线压向所述本体时，所述触碰体与天线的铝板接触，使所述触碰体与天线形成射频外导体，以及所述探针与天线外露的内导体接触，使所述探针与天线形成射频内导体。

2.根据权利要求1所述的测试腔体，其特征在于，所述本体设有固定槽，所述电路板设置在所述固定槽内，所述盖板与所述固定槽连接并密封所述固定槽。

3.根据权利要求2所述的测试腔体，其特征在于，所述测试腔体还包括接头，所述本体侧边设有连接孔，所述连接孔与所述固定槽连通，所述接头通过所述连接孔与所述电路板连接。

4.根据权利要求1所述的测试腔体，其特征在于，所述固定体为圆柱状，所述触碰体为圆台形状，所述触碰体的截面的直径大于所述固定体的直径，所述触碰体的胶圈孔呈倒圆台形状，所述触碰体的胶圈孔的底面的直径大于或等于所述探针的直径；

当所述触碰体与天线接触时，使所述触碰体压缩形变，以拓宽所述触碰体与天线的接触面积。

5.一种天线测试装置，其特征在于，包括如权利要求1-4任一项所述的测试腔体和压接台，所述压接台包括机架，所述机架设有腔体固定座，所述测试腔体设置在所述腔体固定座上。

6.根据权利要求5所述的天线测试装置，其特征在于，所述压接台还包括压接器，以及与所述压接器连接的控制器，所述控制器设置在所述机架上，所述压接器设置在所述腔体固定座的顶部，所述控制器用于控制所述压接器上下移动，以使所述压接器将天线压向所述测试腔体。

7.根据权利要求6所述的天线测试装置，其特征在于，所述压接器包括底板，以及设置所述底板的一个或多个压接柱，所述控制器包括气缸，以及与所述气缸连接的控制柱，所述控制柱与所述底板连接，所述气缸用于控制所述控制柱带动所述底板上下移动，以使所述底板带动压接柱上下移动，使得所述压接柱将天线压向所述测试腔体。

8.一种天线测试系统，其特征在于，包括如权利要求6-7任一项所述的天线测试装置，以及与天线测试装置连接的主机装置，所述主机装置用于发送测试信号至所述天线测试装置，或接收所述天线测试装置发送的反射信号，并存储所述反射信号。

9.根据权利要求8的天线测试系统，其特征在于，所述主机装置包括测试主机，以及与测试主机连接的测试仪器；

所述测试仪器用于发送测试信号至所述天线测试装置，或接收所述天线测试装置发送的反射信号；

所述主机装置用于存储并分析所述反射信号。

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