KR20010067343A - 화상 신호 처리 장치 및 화소 결함의 검출 방법 - Google Patents

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Abstract

화상 신호에 포함되는 화소 결함을 효율적으로 검출한다.
결함 검출 회로(12)로 목표 화소의 화상 신호를 주변 화소의 화상 신호와 대비하여 화소 결함 후보를 검출하고, 화소 결함 후보의 어드레스 정보를 위치 메모리 회로(13)에 기억한다. 위치 메모리 회로(13)에 기억된 어드레스 정보에 기초하여 결함 판정 회로(14)가 화소 결함의 판정을 반복하고, 그 판정 결과의 연속성으로부터 화소 결함의 어드레스 정보를 결정하여, 결함 등록 회로(15)에 등록한다. 등록된 화소 결함의 어드레스 정보에 따라서 결함 보정 회로(16)가 화상 신호 Y(n)를 보정하여, 화상 신호 Y'(n)를 생성한다.

Description

화상 신호 처리 장치 및 화소 결함의 검출 방법{IMAGE SIGNAL PROCESSING DEVICE AND METHOD OF DETECTING PIXEL DEFECT}
본 발명은, 화상 신호에 포함되는 결함을 검출하여 보정하는 화상 신호 처리 장치 및 화소 결함을 검출하는 검출 방법에 관한 것이다.
CCD 이미지 센서(1) 등의 고체 촬상 소자에 있어서는, 화소의 수광 레벨에는 관계 없이, 항상 일정한 전하가 축적되어 고정 레벨을 출력하도록 되는, 소위 화소 결함이 생기는 경우가 있다. 이 때문에, 고체 촬상 소자로부터 얻어지는 화상 신호에 대한 신호 처리의 과정에 있어서, 재생 화면 상에 화소 결함이 나타나지 않도록 하는 결함 보정 처리가 행해진다.
도 15는, 화소 결함의 보정 처리를 행하도록 한 촬상 장치의 구성을 나타내는 블록도이다.
CCD 이미지 센서(1)는, 복수의 수광 화소가 행렬 배치되고, 수광한 피사체 화상에 따라서 각 수광 화소에 정보 전하를 축적한다. 이 CCD 이미지 센서(1)는, 수직 구동 신호 Φv 및 수평 구동 신호 Φh에 의해 구동되고, 각 수광 화소에 축적된 정보 전하가 1라인 단위로 순차 전송 출력되어, 소정의 형식에 따르는 화상 신호 Y0을 출력한다. 구동 회로(2)는, 수직 동기 신호 VD 및 수평 동기 신호 HD에 따라, CCD 이미지 센서(1)를 구동하는 수직 구동 신호 Φv 및 수평 구동 신호 Φh를 생성하고, CCD 이미지 센서(1)에 공급한다.
타이밍 제어 회로(3)는, 일정 주기의 기준 클럭을 분주하고, 수직 주사의 타이밍을 결정하는 수직 동기 신호 VD 및 수평 주사의 타이밍을 결정하는 수평 동기 신호 HD를 생성하여, 구동 회로(2)에 공급한다. 예를 들면, NTSC 형식의 경우, 14.32㎒의 기준 클럭을 910분주하여 수평 동기 신호 HD를 생성하고, 이 수평 동기 신호를 525/2 분주하여 수직 동기 신호 VD를 생성한다. 또한, 타이밍 제어 회로(3)는, 후술하는 신호 처리 회로(4) 및 결함 보정 회로(5)에 대하여, 각각의 동작 타이밍을 CCD(1)의 동작 타이밍으로 동기시키기 위한 타이밍 신호를 공급한다.
신호 처리 회로(4)는, CCD(1)로부터 출력되는 화상 신호 Y0에 대하여, 샘플홀드, 레벨 보정 등의 신호 처리를 실시하고, 화상 신호 Y1로서 출력한다. 예를 들면, 샘플 홀드 처리에 있어서는, 신호 레벨과 리세트 레벨을 반복하는 화상 신호 Y0에 대하여, 리세트 레벨을 클램프한 후에 신호 레벨을 추출하도록 하여, 신호 레벨을 계속하는 화상 신호 Y1을 생성한다. 또한, 레벨 보정 처리에 있어서는, 출력되는 화상 신호 Y1의 평균 레벨을 목표 범위 내에 들어가도록 하여 게인의 귀환 제어가 실시된다. 이 신호 처리 회로(4)에 있어서는, 화상 신호 Y0을 샘플 홀드한 후, 샘플 홀드치가 A/D 변환되고, 그 이후에는 디지털 처리가 채용되는 경향에 있다.
결함 보정 회로(5)는, 보정 정보 메모리(6)에 기억된 보정 정보에 기초하여, 화상 신호 Y1에 대하여 결함 보정 처리를 실시한다. 예를 들면, 결함이 생긴 화소의 정보를, 그 전후의 화소의 정보의 평균치로 치환하도록 구성된다. 보정 정보 메모리(6)는 CCD 이미지 센서(1)의 화소 결함의 위치를 기억함으로써, 예를 들면, 미리 CCD 이미지 센서(1)의 출력을 모니터하여 화소 결함의 위치를 검출하고, 그 검출 결과를 보정 어드레스 정보로서 기억한다.
CCD 이미지 센서(1)는, 동일 공정에서 제조된 칩에서도, 각 칩마다 화소 결함이 발생하는 위치가 다르기 때문에, 촬상 장치에 이용하는 CCD 이미지 센서(1)는, 각각에 화소 결함의 위치를 검출하고, 보정 정보 메모리(6)에 기억하는 보정 어드레스 정보를 생성할 필요가 있다. 이 때문에, 소자의 조립 공정 또한, 소자를 조립하는 촬상 장치의 조립 공정에서 비용의 증대를 초래하고 있다.
또한, CCD 이미지 센서(1)의 화소 결함은, 경시 변화에 의해 증대되는 경우가 있고, 그와 같은 경시 변화가 생긴 경우에는, 보정 정보 메모리(6)의 보정 어드레스 정보를 재기입하지 않으면 안된다. 그러나, 촬상 장치의 일반적인 사용자는, 보정 정보 메모리(6)의 내용을 재기입하기 위한 수단을 구비하고 있지 않기 때문에, 보정 정보 메모리(6)의 보정 정보 어드레스를 재기입하는 것은, 사실상 곤란하다.
그래서 본 발명은, 조립 공정의 비용을 증대시키지 않고, 소자의 경시 변화에 의한 화소 결함의 변화에도 대응할 수 있도록 하는 것을 목적으로 한다.
본 발명의 화상 신호 처리 장치는, 화면을 구성하는 복수의 화소에 포함되는 화소 결함을 검출함으로써, 목표 화소의 신호 레벨을 목표 화소에 인접하는 복수의 주변 화소의 신호 레벨에 기초하여 설정되는 판정 기준치와 비교하여 결함 후보를 검출하는 검출 회로와, 상기 검출 회로에 의해 검출된 결함 후보의 복수의 화면에 걸치는 연속성에 기초하여 화소 결함을 판정하는 판정 회로와, 상기 판정 회로에서 판정된 화소 결함의 위치를 나타내는 결함 정보를 기억하는 메모리 회로를 포함하고, 상기 메모리 회로에 기억된 결함 정보에 따라서 상기 목표 화소를 보정하는 것을 특징으로 한다.
이에 따라, 목표 화소에 대하여 그 주변 화소와 비교하여 결함의 가능성이 있는 화소 결함 후보를 검출하고, 그 검출 결과의 연속성에 기초하여 화소 결함을 판정함으로써, 재생 화면 상에서 시각적으로 인식되는 화소 결함을 정확하게 검출할 수가 있게 된다.
그리고, 본 발명의 화소 결함의 검출 방법은, 1화면을 표시하는 화상 신호로부터, 화면을 구성하는 복수의 화소에 포함되는 화소 결함을 검출하는 것으로서, 목표 화소의 신호 레벨을 목표 화소에 인접하는 복수의 주변 화소의 신호 레벨에 기초하여 설정되는 판정 기준치와 비교하여 결함 후보를 검출하고, 결함 후보의 위치를 기억하는 제1 스텝과, 상기 제1 스텝에서 기억된 위치의 목표 화소의 신호 레벨을 상기 판정 기준치와 비교하여 상기 결함 후보 중으로부터 화소 결함을 추출하는 제2 스텝과, 상기 제1 스텝에서 기억한 결함 후보의 위치를 상기 제2 스텝에서 추출한 화소 결함에 따라서 갱신하는 제3 스텝을 포함하고, 상기 제2 및 제3 스텝을 여러번 반복하여 화소 결함을 검출하는 것을 특징으로 한다.
또한 본 발명의 화소 결함의 검출 방법은, 목표 화소의 신호 레벨을 목표 화소에 인접하는 복수의 주변 화소의 신호 레벨에 기초하여 설정되는 판정 기준치와 비교하여 결함 후보를 검출하는 제1 스텝과, 결함 후보가 된 목표 화소의 신호 레벨을 복수의 화면으로 상기 판정 기준치와 반복하여 비교하는 제2 스텝과, 반복하여 얻어지는 상기 제2 스텝의 비교 결과가 상기 제1 스텝의 비교 결과와 일치하는지의 여부를 판정하는 제3 스텝을 포함하고, 상기 제3 스텝에서 소정의 횟수 이상 일치한다고 판정된 목표 화소를 화소 결함으로 하는 것을 특징으로 한다.
이에 따라, 화면이 일시적으로 화소 결함을 검출하기 어려운 상태가 되었다고 해도, 화소 결함의 검출, 판정의 동작을 계속함으로써, 잘못된 검출이 이루어질 가능성을 낮게 할 수 있다.
도 1은 본 발명의 화상 신호 처리 장치의 제1 실시예를 나타내는 블록도.
도 2는 메모리 회로의 구성을 나타내는 블록도.
도 3은 목표 화소와 주변 화소와의 위치 관계를 나타내는 평면도.
도 4는 결함 검출 회로의 구성을 나타내는 블록도.
도 5는 판정 기준치와 주변 화소의 레벨과의 관계를 나타내는 도면.
도 6은 결함 판정 회로의 동작을 설명하는 플로우차트.
도 7은 어드레스 발생 회로의 구성을 나타내는 블록도.
도 8은 화면 상의 화소 결함의 어드레스를 설명하는 평면도.
도 9는 결함 보정 회로의 구성을 나타내는 블록도.
도 10은 본 발명의 화상 신호 처리 장치의 제2 실시예를 나타내는 블록도이다.
도 11은 본 발명의 화상 신호 처리 장치의 제3 실시예를 나타내는 블록도.
도 12는 본 발명의 화상 신호 처리 장치의 제4 실시예를 나타내는 블록도.
도 13은 본 발명의 화소 결함의 제1 검출 방법을 설명하는 플로우차트.
도 14는 본 발명의 화소 결함의 제2 검출 방법을 설명하는 플로우차트.
도 15는 고체 촬상 장치의 구성을 나타내는 블록도.
〈도면의 주요 부분에 대한 부호의 설명〉
1 : CCD 이미지 센서
2 : 구동 회로
3 : 타이밍 제어 회로
4 : 신호 처리 회로
5 : 결함 보정 회로
6 : 보정 정보 메모리
11 : 화상 메모리 회로
12 : 결함 검출 회로
13 :위치 메모리 회로
14, 14' : 결함 판정 회로
15 : 결함 등록 회로
16 : 결함 보정 회로
17 : 영역 지정 회로
18 : 인터 페이스 회로
21, 22 : 라인 메모리
23∼28 : 래치
31 : 평균치 산출부
32 : 최대치 검출부
33 : 최소치 검출부
34, 35 : 감산기
36 : 가산기
37, 38 : 비교기
51 : 수평 카운터
52 : 수직 카운터
53 : 수평 데이터 래치
54 : 수직 데이터 래치
61∼64 : 제산기
65∼67 : 가산기
68 : 셀렉터
69 : 비교기
도 1은, 본 발명의 화상 신호 처리 장치의 제1 실시예를 나타내는 블록도이다.
본 발명의 화상 신호 처리 장치는 화상 메모리 회로(11), 결함 검출 회로(12), 위치 메모리 회로(13), 결함 판정 회로(14), 결함 등록 회로(15) 및 결함 보정 회로(16)로 구성된다. 이 화상 신호 처리 장치는, 촬상 소자의 출력에 대하여 소정의 처리가 실시되고, A/D 변환되어 디지털 데이터로서 제공되는 화상 신호 Y(n)에 대하여 화소 결함의 보정 처리를 실시하도록 구성된다.
화상 메모리 회로(11)는, 복수의 라인 메모리와 복수의 래치를 구비하고, 1 행 단위로 연속하여 입력되는 화상 신호 Y(n)를 수신하고, 목표 화소 P0에 대응하는 화상 신호 Y(P0)와, 그 주변 화소 P1∼P8에 대응하는 화상 신호 Y(P1)∼Y(P8)을 출력한다.
결함 검출 회로(12)는, 화상 메모리 회로(11)로부터 입력되는 주변 화소 P1∼P8의 화상 신호 Y(P1)∼Y(P8)에 기초하여 백(白) 결함을 판정하기 위한 판정 기준치 Lw와 흑(黑) 결함을 판정하기 위한 판정 기준치 Lb를 생성하고, 이들 판정 기준치 Lw, Lb와 목표 화소 P0의 화상 신호 Y(P0)를 비교하여 화소 결함을 검출한다. 이 결함 검출 회로(12)에서는, 화상 신호 Y(n)를 얻는 고체 촬상 소자의 물리적인 결함에 기인하는 진(眞) 화소 결함과, 피사체의 상태에 따라 우발적으로 화소 결함으로 간주되는 외관상의 화소 결함이 구별 없이 검출되고, 이들이 전부 결함 후보가 된다. 이 결함 검출 회로(12)의 검출 동작에 있어서는, 화소 결함의 위치가 어드레스 정보로서 출력된다. 예를 들면, 화상 신호 Y(n)의 입력에 동기하여 화소수를 카운트하고, 화소 결함이 검출되었을 때의 카운트치를 어드레스 정보로서 출력하도록 구성된다.
위치 메모리 회로(13)는 스태틱 메모리(SRAM) 등 고속 동작에 대응할 수 있는 휘발성의 1차 메모리부(13a) 및 프로그래머블 메모리 (EEPROM) 등의 불휘발성의 2차 메모리부(13b)로 이루어지고, 결함 검출 회로(12)나 결함 판정 회로(14)로부터 출력되는 어드레스 정보를 화소 결함의 위치 정보로서 기억한다. 1차 메모리부(13a)는 화소 결함의 판정 동작을 행하는 과정에서 일시적으로 생성되는 어드레스 정보를 기억한다. 2차 메모리부(13b)는 화소 결함의 판정 동작의 결과, 최종적으로 화소 결함이라고 판정된 어드레스 정보를 기억한다.
결함 판정 회로(14)는, 위치 메모리 회로(13)에 기억된 어드레스 정보에 대해, 화소 결함의 복수의 화면에 걸친 연속성에 기초하여, 각 어드레스 정보에 의해서 나타내는 위치의 화소가, 진 화소 결함인지의 여부를 판정한다. 즉, 피사체의 상태에 따라 우발적으로 화소 결함으로서 검출된 경우에는, 어느 정도의 시간이 경과한 단계에서 화소 결함으로 검출되지 않기 때문에, 어느 정도의 필드 기간 계속하여 결함이라고 판정된 어드레스만을 진 화소 결함이라고 판정하도록 구성된다. 예를 들면, 위치 메모리 회로3에 기억된 어드레스 정보가 나타내는 화소에 대해, 복수의 화면으로 결함 검출 회로(12)에 있어서의 검출 동작과 동일한 검출 동작을 반복하는 것이나, 결함 검출 회로(12)를 복수의 화면으로 연속하여 동작시키면서, 각 화면마다 얻어지는 화소 결함을 나타내는 어드레스 정보를 대비함으로써, 화소 결함의 연속성을 판단하도록 구성된다. 또, 결함 판정 회로(14)에 있어서의 검출동작이 결함 검출 회로(12)의 검출 동작과 동일한 경우, 검출 회로의 일부를 공유하도록 하여도 좋다.
결함 등록 회로(15)는, 결함 판정 회로(14)에 있어서, 진 화소 결함이라고 판정된 화소의 어드레스 정보를 추출하여 위치 메모리 회로(13)에 기억시킨다. 그리고, 결함 보정 회로(16)는, 결함 등록 회로(15)에 의해서 위치 메모리 회로(13)에 기억된 어드레스 정보에 기초하여, 화상 신호 Y(P0)를 보정 신호 Y(c)로 치환한다. 여기서, 보정 신호 Y(c)는 예를 들면, 목표 화소 P0의 주변에 위치하는 복수의 주변 화소의 화상 신호를 평균함으로써 생성된다. 이에 따라, 결함 보정 회로(15)로부터는, 백 결함 및 흑 결함이 보정된 화상 신호 Y'(n)가 출력되게 된다.
그런데, 결함 검출 회로(12)에 있어서의 화소 결함의 검출에 대해서는, 판정 기준치 Lw, Lb를 다단층으로 설정하고, 화소 결함 후보에 비중을 두도록 하여도 좋다. 즉, 결함으로서 판정된 화소에서도, 소정의 판정 기준치 Lw, Lb로부터 크게 벗어난 경우와 약간 벗어난 경우에서는, 표시되는 화면 상에서 눈에 띄는 쪽이 다르기 때문에, 화소 결함 정도의 레벨를 부여하여 위치 메모리 회로(13)에 기억시키도록 한다. 이와 같이 화소 결함 정도의 레벨을 부여하여 위치 메모리 회로(13)에 기억시켜 놓으면, 위치 메모리 회로(13)에 등록할 수 있는 화소 결함의 수에 제한이 있을 때, 결함 등록 회로(15)가 화소 결함의 레벨이 높은 것부터 우선적으로 등록하도록 구성할 수가 있다. 또한, 이미 위치 메모리 회로(13)에 새로운 화소 결함을 등록할 여유가 없을 때에는, 새롭게 등록하려고 하는 화소 결함과 이미 등록되어 있는 화소 결함과의 결함 레벨을 비교하여, 그 비교 결과에 따라서 재기입을함으로써, 화면 상에서 눈에 띄기 쉬운 화소 결함부터 우선적으로 보정하는 것이 가능하다.
도 2는, 화상 메모리 회로(211)의 일례를 나타내는 블록도이다. 이 메모리 회로(11)는, 제1, 제2 라인 메모리(21, 22) 및 제1 내지 제6 래치(23∼28)로 구성되고, 도 3에 도시한 바와 같이, 목표 화소 PO과, 그 주변에 인접하는 8개의 주변 화소 P 1∼P8에 대응하는 화상 신호 Y(0), Y(1)∼Y(8)을 동시에 출력한다.
제1 및 제2 라인 메모리(21, 22)는 상호 직렬로 접속되고, 순차 입력되는 화상 신호 Y(n)가 제1 라인 메모리(21)에 기입함과 함께, 제1 라인 메모리(21)로부터 순차 판독되는 화상 신호 Y(n)가 제2 라인 메모리(22)에 기입된다. 이에 따라, 순차 입력되어 오는 화상 신호 Y(n)에 대하여, 제1 라인 메모리(21)로부터는, 1행전의 화상 신호 Y(n)가 판독되고, 제2 라인 메모리(22)로부터는, 2행 전의 화상 신호 Y(n)가 판독된다.
제1 및 제2 래치(23, 24)는, 화상 신호 Y(n)의 입력에 대하여 직렬로 접속되고, 1화소 전의 화상 신호 Y(n)가 제1 래치(23)에 보유되고, 2화소 전의 화상 신호 Y(n)가 제2 래치(24)에 보유된다. 이에 따라, 입력되는 화상 신호 Y(n)가, 그대로 주변 화소 P8에 대응하는 화상 신호 Y(P8)로서 출력되고, 제1 및 제2 래치(23, 24)에 보유된 화상 신호 Y(n)가, 각각 주변 화소 P7, P6에 대응하는 화상 신호 Y(P7), Y(P6)로서 출력된다.
제3 및 제4 래치(25, 26)는, 제1 라인 메모리(21)의 입력에 대하여 직렬로 접속되고, 1행전이고 또한 1화소 전의 화상 신호 Y(n)가 제3 래치(25)에 보유되고,2화소 전의 화상 신호 Y(n)가 제4 래치(26)에 보유된다. 이에 따라, 제1 라인 메모리로부터 판독되는 화상 신호 Y(n)가, 주변 화소 P5에 대응하는 화상 신호 Y(P5)로서 출력되고, 제3 및 제4 래치(25, 26)에 보유된 화상 신호 Y(n)가, 각각 목표 화소 P0에 대응하는 화상 신호 Y(P0) 및 주변 화소 P4에 대응하는 화상 신호 Y(P4)로서 출력된다.
마찬가지로, 제5 및 제6 래치(27, 28)는, 제2 라인 메모리(22)의 입력에 대하여 직렬로 접속되고, 2행 전이고 또한 1화소 전의 화상 신호 Y(n)가 제5 래치(27)에 보유되고, 2화소 전의 화상 신호 Y(n)가 제6 래치(28)에 보유된다. 이에 따라, 제2 라인 메모리로부터 판독되는 화상 신호 Y(n)가, 주변 화소 P3에 대응하는 화상 신호 Y(P3)로서 출력되고, 제5 및 제6 래치(27, 28)에 보유된 화상 신호 Y(n)가, 각각 주변 화소 P2, P1에 대응하는 화상 신호 Y(P2), Y(P2)로서 출력된다.
따라서, 화상 메모리 회로(11)에 있어서는, 화상 신호 Y(n)를 차례로 수신하면서, 목표 화소 P0의 화상 신호 Y(P0)와, 그 주변에 위치하는 주변 화소 P1∼P8의 화상 신호 Y(P1)∼Y(P8)와 병렬로 출력되도록 된다.
도 4는, 결함 검출 회로(12)의 구성을 나타내는 블록도이다. 이 결함 검출 회로(12)는 평균치 산출부(31), 최대치 검출부(32), 최소치 검출부(33), 제1 및 제2 감산기(34, 35), 가산기(36), 제1 및 제2 비교기(37, 38)로 구성된다.
평균치 산출부(31)는, 주변 화소 P1∼P8의 화상 신호 Y(P1)∼Y(P8)를 각각 수신하고, 이들의 평균 레벨 Lav를 산출한다. 최대치 검출부(32) 및 최소치 검출부(33)는 화상 신호 Y(P1)∼Y(P8) 중의 최대 레벨 Lmax 및 최소 레벨 Lmin을 각각검출한다.
제1 감산기(34)는, 최소치 검출부(33)로부터 입력되는 최소 레벨 Lmin을 최대치 검출부(32)로부터 입력되는 최대 레벨 Lmax로부터 감산하고, 이들의 차 ΔL을 산출한다. 그리고, 제1 가산기(36)는 평균치 산출부(31)로부터 입력되는 평균 레벨 Lav에 차 ΔL을 가산하고, 백 결함을 판정하기 위한 판정 기준치 Lw를 생성한다. 또한, 제2 감산기(35)는, 평균치 산출부(31)로부터 입력되는 평균 레벨 Lav로부터 제1 감산기(34)로부터 입력되는 차 ΔL을 감산하여, 흑 결함을 판정하기 위한 판정 기준치 Lb를 생성한다.
제1 비교기(37)는, 제2 감산기(35)로부터 입력되는 판정 기준치 Lb와 목표 화소 P0에 대응하는 화상 신호 Y(P0)를 비교하고, 화상 신호 Y(P0)의 레벨이 판정 기준치 Lb에 도달하고 있지 않을 때, 즉, 목표 화소 P0이 흑 결함이라고 판정되었을 때에 상승되는 검출 출력 Db를 발생한다. 제2 비교기(38)는 가산기(36)로부터 입력되는 판정 기준치 Lw와 목표 화소 P0에 대응하는 화상 신호 Y(P0)을 비교하여, 화상 신호 Y(P0)의 레벨이 판정 기준치 Lw에 도달하였을 때, 즉, 목표 화소 P 0이 백 결함이라고 판정되었을 때에 상승되는 검출 출력 Dw를 발생한다.
도 5는, 주변 화소를 나타내는 화상 신호의 레벨과, 이들 레벨로부터 산출되는 화소 결함의 판정 레벨과의 관계를 나타내는 도면이고, 도 6은 결함 판정 동작의 동작 스텝을 나타내는 플로우차트이다. 이들 도면에 있어서는, 도 3에 도시한 바와 같이, 목표 화소 P0에 대하여, 목표 화소 P0에 인접하는 8개의 주변 화소 P1∼P8을 참조하여 화소 결함의 판정을 행하는 경우를 나타내고 있다.
제1 스텝 S1에서는, 평균치 산출 회로(31)에 있어서, 주변 화소 P1∼P8을 나타내는 8화소분의 화상 신호 Y(P1)∼Y(P8)의 평균 레벨 Lav를 산출한다. 제2 스텝 S2에서는, 최대치 검출 회로(32) 및 최소치 검출 회로(33)에 있어서, 주변 화소 P 1∼P8을 나타내는 8화소분의 화상 신호 Y(P1)∼Y(P8)의 최대 레벨 Lmax 및 최소 레벨 Lmin을 검출한다. 이상의 제1 스텝 S1 및 제2 스텝 S2에 대해서는, 순부동으로 지장은 없다.
제3 스텝 S3에서는, 제1 감산기(34)에 있어서, 최대 레벨 Lmax으로부터 최소 레벨 Lmin을 감산하고, 양 레벨의 차 ΔL을 산출한다. 제4 스텝 S4에서는, 제2 감산기(35)에 있어서, 평균 레벨 Lav로부터 차 ΔL을 감산하여, 흑 결함을 검출하기 위한 제1 판정 기준치 Lb를 생성하고, 가산기(36)에 있어서, 평균 레벨 Lav에 차 ΔL을 가산하여, 백 결함을 검출하기 위한 제2 판정 기준치 Lw를 생성한다. 그리고, 제5 스텝 S5에서는, 제1 및 제2 비교기(37, 38)에 있어서, 제1 및 제2 판정 기준치 Lb, Lw를 목표 화소 P0의 화상 신호 Y(P0)과 비교하여 화소 결함을 판정하여, 검출 출력 Db, Dw를 발생한다.
제1 내지 제5 스텝에 의해 생성된 제1 판정 기준치 Lw 및 제2 판정 기준치 Lb는 주변 화소의 상황에 따라 변화하고, 항상 최적인 값으로 유지되게 된다. 여기서, 판정 기준치 Lw, Lb에 대해서는, 주변 화소의 레벨차가 작을 때, 평균 레벨 Lav에 가까운 값으로 되고, 주변 화소의 레벨차가 클 때에는, 평균 레벨 Lav로부터 벗어난 값으로 된다. 따라서, 화면 상에서 농담의 차가 작은 영역에서는 판정 기준치 Lw, Lb의 범위가 좁아지고, 반대로, 농담의 차가 큰 영역에서는 판정 기준치Lw, Lb의 범위가 넓어지기 때문에, 시각적으로 눈에 띄기 쉬운 화소 결함을 효율적으로 검출할 수 있다.
도 7은, 결함 검출 회로(12)에 있어서, 어드레스 정보를 생성하기 위한 회로의 일례를 나타내는 블록도이다. 이 어드레스 정보를 생성하는 회로는, 수평 카운터(51), 수직 카운터(52), 수평 데이터 래치(53) 및 수직 데이터 래치(54)로 구성된다.
수평 카운터(51)는, 수평 동기 신호 HD1에 따른 타이밍으로 리세트되고, 결함 검출 회로(12)의 검출 동작에 동기한 일정 주기의 클럭 CK1에 따른 타이밍으로 카운트업된다. 이에 따라, 수평 카운터(51)는 각 수평 주사 기간에, 1라인분의 화소수만큼 카운트 동작을 반복하고, 수평 방향의 화소 번호를 카운트한다. 수직 카운터(52)는, 수직 동기 신호 VD1에 따른 타이밍으로 리세트되고, 수평 동기 신호 HD1에 따른 타이밍으로 카운트업된다. 이에 따라, 수직 카운터(51)는, 각 수직 주사 기간에, 1화면분의 수평 주사선수만큼 카운트 동작을 반복하고, 수직 방향의 화소 번호를 카운트한다.
수평 데이터 래치(53)는 수평 카운터(51)에 접속되고, 검출 출력 Db, Dw 중 어느 하나에 응답하여 수평 카운터(51)의 카운트치를 받아들인다. 이에 따라, 수평 데이터 래치(53)로부터, 검출 출력 Db, Dw의 상승의 타이밍, 즉, 결함 검출 회로(12)에서 검출된 화소 결함의 수평 방향의 위치를 나타내는 수평 어드레스 신호 Fh가 추출된다. 수직 데이터 래치(54)는 수직 카운터(52)에 접속되고, 수평 데이터 래치(53)와 마찬가지로, 검출 출력 Db, Dw 중 어느 하나에 응답하여 수직 카운터(52)의 카운트치를 받아들인다. 이에 따라, 수직 데이터 래치(54)로부터, 검출 출력 Db, Dw의 상승의 타이밍, 즉, 결함 검출 회로(12)에서 검출된 화소 결함의 수직 방향의 위치를 나타내는 수직 어드레스 신호 Fv가 추출된다.
예를 들면, 도 8에 도시한 바와 같이, 6행×8열의 화면을 고려한 경우, 수평 카운터(51)는, 「1」∼「8」의 범위에서 카운트를 반복하고, 수직 카운터(52)는, 「1」∼「6」의 범위에서 카운트를 반복한다. 그래서, 3행 3열째에 화소 결함이 있었다고 한다면, 검출 출력 Db, Dw의 상승으로 수평 카운터(51)의 카운트치를 수평 데이터 래치(53)에 받아들이면, 수평 어드레스 신호 Fh로서「3」이 출력된다. 그리고, 검출 출력 Db, Dw의 상승으로 수직 카운터(52)의 카운트치를 수직 데이터 래치(54)에 받아들이면, 수직 어드레스 신호 Fv로서「3」이 출력된다. 이와 같이 하여 출력되는 어드레스 신호 Fh, Fv는, 화소 결함일 가능성을 포함하는 후보를 나타냄으로써, 결함 판정 회로(14)에 공급된다.
도 9는, 결함 보정 회로(16)의 구성의 일례를 나타내는 블록도이다. 이 결함 보정 회로(16)는, 제1 내지 제4 제산기(61∼64), 제1 내지 제3 가산기(65∼67), 셀렉터(68) 및 비교기(69)로 구성된다. 이 결함 보정 회로(15)에 있어서는, 목표 화소 P0의 상하에 위치하는 주변 화소 P2, P7의 화상 신호 Y(P2), Y(P7)과, 상하로 위치하는 주변 화소 P4, P5의 화상 신호 Y(P4), Y(P5)와 기초하여 보정 신호 Y(c)를 생성하는 경우를 나타내고 있다.
제1 내지 제4 제산기(61∼64)는, 메모리 회로(11)로부터 입력되는 화상 신호 Y(P2), Y(P7), Y(P4), Y(P5)를 각각 1/4로 한다 . 제1 가산기(65)는 제1 및 제2 제산기(61, 62)의 제산 결과를 가산하고, 제2 가산기(66)는 제3 및 제4 제산기(63, 64)의 제산 결과를 가산한다. 그리고, 제3 가산기(67)는 제1 가산기(65)의 가산 결과와 제2 가산기(66)에 가산 결과를 가산하여, 보정 신호 Y(c)를 생성한다.
셀렉터(68)는 비교기(69)로부터 입력되는 선택 제어 신호 S에 응답하여, 목표 화소 P0의 화상 신호 Y(P0) 또는 보정 신호 Y(c) 중 어느 하나를 선택하고, 화소 결함을 보정한 화상 신호 Y'(P0)로서 출력한다.
비교기(69)는, 위치 메모리 회로(13)에 기억된 어드레스 정보에 기초하는 수평 위치 정보 Fh 및 수직 위치 정보 Fv를, 수평 주사 주기로 변화하는 수평 참조 정보 Rh 및 수직 참조 정보 Rv와 비교하고, 이들이 상호 일치했을 때에 상승되는 선택 제어 신호 S를 발생한다. 여기서 이용되는 수평 참조 정보 Rh 및 수직 참조 정보 Rv에 대해서는, 도 7에 도시한 어드레스 발생 회로의 수평 카운터(51) 및 수직 카운터(52)를 이용하여 생성할 수가 있다.
따라서, 셀렉터(68)는, 위치 메모리 회로(13)에 기억된, 화소 결함의 위치를 나타내는 어드레스 정보에 따른 위치 정보 Fh, Fv와 참조 정보 Rh, Rv가 일치한 타이밍으로, 목표 화소 P0의 화상 신호 Y(P0)가 보정 신호 Y(c)로 치환된다. 이 결과, 화소 결함은 그 주변 화소의 정보에 의해서 보정되게 된다.
도 10은, 본 발명의 화상 신호 처리 장치의 제2 실시예를 나타내는 블록도이다. 이 실시예에 있어서는, 결함 판정 회로(14')가, 목표 화소의 결함을 판정할 때, 화소 결함의 연속성 외에, 화상 신호 Y(n)를 얻는 촬상 장치의 촬상 조건을 이용하도록 구성하고 있다. 또, 결함 판정 회로(14') 이외의 각부에 대해서는, 도 1에 도시한 제1 실시예의 화상 신호 처리 장치와 동일하다.
결함 판정 회로(14')는, 위치 메모리 회로(13)에 기억된 결함 후보의 어드레스 정보에 기초하여, 결함 화소의 판정을 반복하고, 어드레스 정보를 갱신한다. 이 결함 화소의 판정에 있어서는, 결함 검출 회로(12)에 있어서의 화소 결함의 판정과 마찬가지의 판정을 행함과 함께, 화상 신호 Y(n)를 얻는 촬상 장치의 동작 상태를 나타내는 정보를 수취하고, 각각의 정보의 내용에 따라서 판정 기준을 변경하도록 구성하고 있다. 즉, 피사체 화상의 휘도가 높을 때에는 백 결함이 눈에 띄지 않고, 반대로, 피사체 화상의 휘도가 낮을 때에는 흑 결함이 눈에 띄지 않기 때문에, 단순하게 화상 신호 Y(n)의 레벨만으로 화소 결함의 판정을 행하면, 진 결함이 결함으로서 판정되지 않을 우려가 있다. 그래서, 화상 신호 Y(n)를 얻는 촬상 장치의 동작 상태를 나타내는 노광 제어 정보 E(m)나 이득 제어 정보 G(m) 등에 기초하여, 화소 결함의 판정 기준을 변경하거나, 피사체의 상태에 따라서는 화소 결함의 판정 동작 자체를 일시적으로 정지하도록 구성하고 있다. 예를 들면, 노광 제어 정보 E(m)이나 이득 제어 정보 G(m)에 의해서 추정되는 피사체 휘도가 어떤 기준을 초과할 때에 백 결함의 판정 동작을 정지하고, 어떤 기준에 도달하고 있지 않을 때에 흑 결함의 판정 동작을 정지하도록 구성한다.
또한, 노광 제어 정보 E(m)나 이득 제어 정보 G(m) 외에, 촬상 장치에 있어서 촬상 제어에 이용되는 정보 이면, 판정 동작에 이용하는 것이 가능하다. 예를 들면, 촬상 장치의 광학계의 초점을 제어하기 위한 포커스 제어 정보를 이용하고, 초점이 정해지기 전에 집중하여 결함 판정을 행하도록 구성한다. 진 화소 결함 이면, 촬상 장치의 광학계의 초점이 정해져 있지 않을 때에도, 주변의 화소와는 분명한 차가 생기기 때문에, 초점이 정해지기 전에 결함 판정을 행하면, 보다 정확한 판정을 하는 것이 가능하게 된다.
또한, 결함 판정 회로(14')에서는, 화소 결함을 화상 신호 Y(n)의 레벨만으로 판정하고, 그 판정 결과로부터 얻어지는 어드레스 정보에 노광 제어 정보 E(m)이나 이득 제어 정보 G(m) 등의 제어 정보를 부가하도록 하여도 좋다. 즉, 화소 결함을 나타내는 어드레스 정보에, 촬상 제어 정보를 부가하여 놓음으로써, 결함 보정을 행하는 시점에서 어드레스 정보에 의해 나타낼 수 있는 화소에 대하여 화소 결함으로서의 보정 처리를 실시하는지의 여부를 선택할 수가 있게 된다.
도 11은, 본 발명의 화상 신호 처리 장치의 제3 실시예를 나타내는 블록도이다. 이 실시예에 있어서는, 도 1에 도시한 제1 실시예의 화상 신호 처리 장치의 구성 외에, 영역 지정 회로(17)를 설치하고, 결함 검출 회로(12)의 검출 동작을 화상의 특정 영역마다 제한하도록 하고 있다. 여기서, 결함 판정 회로(14)에 대해서는, 도 10에 도시한 제2 실시예와 마찬가지로, 화소 결함의 판정을 행할 때, 화상 신호 Y(n)의 레벨 외에, 화상 신호 Y(n )을 얻는 촬상 장치의 촬상 정보를 이용하 도록 하는 것도 가능하다.
영역 지정 회로(17)는, 화상 신호 Y(n)의 수평 주사 및 수직 주사의 타이밍으로 동기하고, 1화면을 복수의 영역으로 분할하도록 결함 검출 회로(12)에 대하여 지시를 제공한다. 예를 들면, 수평 주사 기간을 4분할함과 함께, 수직 주사 기간을 3분할함으로써, 1화면을 3행×4열로 이루어지는 12의 영역으로 분할하고, 그 중의 1개의 분할 영역만으로 결함 검출 회로(12)의 결함 검출 동작을 허가하도록 구성된다. 그리고, 영역 지정 회로(17)는, 결함 등록 회로(15)로부터의 지시, 즉, 1개의 분할 영역의 화소 결함의 어드레스가 확정되고, 결함 등록 회로(15)가 화소 결함의 어드레스 정보의 등록을 완료했을 때, 화소 결함의 검출을 행하는 분할 영역을 변경한다. 또, 분할 영역 내에 화소 결함이 검출되지 않고, 결함 등록 회로(15)가 화소 결함의 등록을 행하지 않은 경우에서도, 소정의 결함 검출 동작이 완료한 시점에서, 화소 결함의 검출을 행하는 분할 영역이 변경된다. 이에 따라, 결함 검출 회로(12)에서는, 화면 상의 복수의 분할 영역에 대하여, 시분할로 순차 화소 결함의 검출이 행해지게 된다.
결함 검출 회로(12)를 각 분할 영역마다 시분할로 동작시키도록 하면, 결함 검출 회로(12)에서 검출되는 결함 후보를 기억하는 위치 메모리(13)의 용량을 절약할 수가 있다. 즉, 결함 검출 회로(12)에서는, 최종적으로 화소 결함으로서 등록되는 화소보다도 많은 화소가 검출되기 때문에, 그 화소의 어드레스를 일시적으로 기억해 놓기 위해서는, 위치 메모리 회로(13), 특히 1차 메모리부(13a)의 용량을 크게 설정하지 않으면 안된다. 그래서, 결함 검출 회로(12)를 시분할로 동작시키도록 하면, 일시 메모리부(13a)의 용량을 절약할 수 있어, 회로 규모의 증대를 방지할 수가 있다.
도 12는, 본 발명의 화상 신호 처리 장치의 제4 실시예를 나타내는 블록도이다. 이 실시예에 있어서는, 도 1에 도시한 제1 실시예의 화상 신호 처리 장치의 구성 외에, 인터 페이스 회로(18)를 설치하도록 하고 있다. 여기서, 결함 판정 회로(14)에 대해서는, 도 10에 도시한 제2 실시예와 마찬가지로, 화소 결함의 판정을 행할 때, 화상 신호 Y(n)의 레벨 외에, 화상 신호 Y(n)를 얻는 촬상 장치의 촬상 정보를 이용하도록 하는 것도 가능하다. 또한, 도 11에 도시한 제3 실시예와 마찬가지로, 영역 지정 회로(17)를 설치하여, 결함 검출 회로(12)를 화면 상의 분할 영역마다 동작시키도록 하여도 좋다.
인터페이스 회로(18)는, 직렬 버스(19)에 접속되고, 그 직렬 버스(19)를 통해 화상 신호 처리 장치를 외부의 컴퓨터 기기와 접속할 수 있도록 하고 있다. 이에 따라, 직렬 버스(19)에 접속되는 컴퓨터 기기로부터, 위치 메모리 회로(13)의 어드레스 정보나 결함 판정 회로(14)의 판정 기준의 설정을 변경할 수 있게 된다. 예를 들면, 제2 실시예에 있어서, 결함 판정 회로(12)에 제공되는 노광 제어 정보 E(m)나 이득 제어 정보 G(m)를 판정에 이용하는지 여부의 선택이나, 이용하는 경우에는, 어느 하나의 정보를 우선시키는지 등을 직렬 버스 및 인터페이스 회로(18)를 통해 컴퓨터 기기로부터 설정할 수 있게 된다. 또한, 제3 실시예에 있어서는, 영역 지정 회로(17)의 분할 범위를 직렬 버스 및 인터페이스 회로(18)를 통해 컴퓨터 기기로부터 공급하여 변경할 수 있게 된다.
그런데, 인터 페이스 회로(18)에 대해서는, 버스 라인을 통해 각부에 접속하는 것 외에, 결함 판정 회로(14)나 결함 등록 회로(15)에 대하여 직접 접속하도록하여도 좋다.
도 13은, 본 발명의 화상 결함의 제1 검출 방법을 나타내는 플로우차트이다. 이 검출 방법은, 도 1 (또는 도 10, 도 11, 도 12 중 어느 하나)에 도시한 결함 검출 회로(12), 위치 메모리 회로(13), 결함 판정 회로(14), 결함 등록 회로(15) 및 결함 보정 회로(16)에 의해 실행된다.
제1 스텝 S1에서는, 결함 검출 회로(12)에 있어서, 화소 결함 후보로 하여야하는지의 여부를 검출하고, 화소 결함의 가능성이 있는 것만 그 위치를 나타내는 어드레스 정보를 위치 메모리 회로(13)에 기억시킨다. 계속되는 제2 스텝 S2에서는, 위치 메모리 회로(13)에 기억된 어드레스 정보에 의해 지정되는 화소의 화상 신호 Y(n)에 대해, 결함 판정 회로(14)가 결함 검출 회로(12)와 마찬가지의 검출 처리를 행함으로써, 화소 결함 후보가 진 화소 결함인지의 여부의 판정을 행한다. 그리고, 제3 스텝 S3에서는, 화소 결함이라고 판정된 화소에 대해, 판정 결과가 기억된다.
제4 스텝 S4에서는, 결함 후보의 판정이 몇회째인지를 판정하고, 미리 설정되는 규정 횟수 이내이면 제2 스텝 S2로 되돌아가 결함 후보의 판정을 반복하여,규정 횟수에 도달하면, 제5 스텝 S5로 진행한다. 제2 스텝 S2로 되돌아간 경우, 재차, 화소 결함 후보에 대한 판정이 행해지고, 계속되는 제3 스텝 S3에 있어서, 그 판정 결과가 기억된다. 이 제3 스텝 S3에 있어서의 판정 결과의 기억은, 제2 스텝 S2에서 판정이 반복되는 횟수분만큼 차례로 추가하도록 행해진다.
제5 스텝 S5에서는, 규정 횟수만큼 반복된 화소 결함 후보의 판정으로, 소정의 기준치를 초과하고 있는지의 여부가 판정된다. 즉, 규정 횟수만큼 화소 결함 후보의 판정을 행하고, 그 중, 화소 결함 (진) 이라고 판정된 횟수가 기준치로서 설정되는 횟수를 초과한 것에 대해, 진 화소 결함이라고 하여, 결함 등록 회로(15)가 보정 처리를 실시해야 되는 어드레스를 위치 메모리 회로(13)에 기억시킨다. 그리고, 제6 스텝 S6에서는, 위치 메모리 회로(13)에 등록된 어드레스의 화소에 대하여, 결함 보정 회로(16)에 의해 보정 처리가 실시되고, 화소 결함이 보정된 화상 신호 Y'(n)가 생성된다.
이상의 제1 스텝 S1 내지 제6 스텝 S6에 따르면, 1화면의 화소의 상황만이 아니라, 복수의 화면에 걸치는 화소의 상황으로부터 화소 결함을 판정할 수 있기 때문에, 피사체의 상태에 기인하는 우발적인 화소 결함을 구별할 수가 있다.
여기서, 결함 후보의 판정의 반복 횟수에 대해서는, 횟수를 많게 할수록 판정에 요하는 시간은 길어지지만, 보다 정확한 판정 결과를 얻을 수 있게 된다. 또한, 제5 스텝 S5에 있어서의 결함 등록 동작에서는, 판정 횟수로부터 화소 결함이 참인지의 여부를 결정하는 것 외에,도 10에 도시한 제2 실시예에 있어서 얻어지는 노광 제어 정보 E(m)나 이득 제어 정보 정보 G(m), 또한, 포커스 제어 정보 등의 각종 제어 정보를 포함해서 판정하면, 판정 제도를 더욱 향상시킬 수 있다.
도 14는, 본 발명의 화상 결함의 제2 검출 방법을 나타내는 플로우차트이다. 이 검출 방법은, 도 13의 경우와 마찬가지로, 도 1 (또는 도 10, 도 11, 도 12 중 어느 하나)에 도시한 결함 검출 회로(12), 위치 메모리 회로(13), 결함 판정 회로(14), 결함 등록 회로(15) 및 결함 보정 회로(16)에 의해 실행된다.
제1 스텝 S1에서는, 결함 검출 회로(12)에 있어서, 초기 화면의 화소 결함 후보를 검출하고, 1화면 (혹은 분할 영역)의 모든 화소 결함 후보를 나타내는 어드레스 정보를 위치 메모리 회로(13)에 기억한다. 제2 스텝 S2에서는, 결함 판정 회로(14)에 있어서, 다음의 화면의 화소 결함 후보를 검출하고, 계속되는 제3 스텝 S3에서, 제2 스텝 S2에서 검출된 화소 결함 후보가 제1 스텝 S1에서 위치 메모리 회로(13)에 기억된 최초의 화면의 화소 결함의 어드레스 정보와 일치하지의 여부를 판정한다.
제4 스텝 S4에서는, 제3 스텝 S3에 있어서 일치가 확인된 어드레스 정보를 남기고, 일치를 확인할 수 없던 어드레스 정보를 폐기하도록 하여 결함 정보, 즉, 위치 메모리 회로(13)의 정보를 갱신한다. 혹은, 제3 스텝 S3에 있어서, 소정의 횟수 (화면수) 연속하여 일치를 확인할 수 있던 어드레스 정보만을 남기거나, 소정의 횟수 (화면수) 연속하여 일치가 확인할 수 없던 어드레스 정보만을 폐기한다. 이 어드레스 정보를 남기는지 폐기하는지의 선택에 대해서도, 위치 메모리 회로(13)의 정보를 재기입하는지의 여부에 따라 행해진다.
제5 스텝 S5에서는, 결함 정보의 갱신이 몇회째인지를 판정하고, 미리 설정되는 규정 횟수 이내이면 제2 스텝 S2로 되돌아가 결함 후보의 검출을 반복하고, 규정 횟수에 도달하고 있으면, 제6 스텝 S6으로 진행한다. 제6 스텝 S6에서는, 위치 메모리 회로(13)에 기억된 어드레스 정보가 결함 등록 회로(15)에 받아들여 진 화소 결함으로서 등록된다. 그리고, 제7 스텝 S7에서는, 결함 등록 회로(15)에 등록된 어드레스의 화소에 대하여, 결함 보정 회로(16)에 의해서 보정 처리가 실시되고, 화소 결함이 보정된 화상 신호 Y'(n)가 생성된다.
이상의 제1 스텝 S1 내지 제7 스텝 S7에 따르면, 도 13에 도시한 검출 방법과 마찬가지로, 1화면의 화소의 상황만이 아니라, 복수의 화면에 걸친 화소의 상황으로부터 화소 결함을 판정할 수 있기 때문에, 피사체의 상태에 기인하는 우발적인 화소 결함을 구별할 수가 있다.
이상의 실시예에 있어서는, 판정 기준치를 목표 화소에 인접하는 3행×3열의 합계 8개의 주변 화소의 레벨에 기초하여 결정하는 경우를 예시하였지만, 그 이상, 예를 들면, 3행×5열의 14개의 주변 화소나, 5행×5열의 24개의 주변 화소의 레벨에 기초하여 판정 기준치를 설정하도록 하여도 좋다.
본 발명에 따르면, 화소 결함의 정보를 축차 갱신할 수가 있기 때문에, 촬상 소자의 경시 변화에 따라 화소 결함이 늘어난 경우에서도, 특별히 설정을 변경할 필요 없이, 화소 결함의 보정이 가능하다.
또한, 화소 결함의 판정 기준으로, 화상 신호를 생성하는 촬상 장치의 제어 정보를 이용하도록 함으로써, 보다 정확한 판정이 가능하게 된다. 그리고, 화소 결함의 판정을, 화면을 분할하여 행하도록 함으로써, 화소 결함 정보를 기억하는 위치 메모리 회로의 용량을 절약할 수가 있다. 또한, 각 제어 정보의 판독 및 기입이 가능한 인터페이스 회로를 접속함으로써, 외부 부착되는 컴퓨터 기기로부터 제어 정보를 용이하게 변경할 수가 있게 되어, 장치의 범용성을 확대할 수 있다.

Claims (16)

  1. 화면을 표시하는 화상 신호에 기초하여, 화면 상의 화소 결함을 검출하는 화상 신호 처리 장치에 있어서,
    목표 화소에 대응하는 화상 신호의 레벨을 목표 화소에 인접하는 복수의 주변 화소에 대응하는 화상 신호의 레벨에 기초하여 설정되는 판정 기준치와 비교하여 결함 후보를 검출하는 검출 회로,
    상기 검출 회로에 의해 검출된 결함 후보의 복수의 화면에 걸치는 연속성에 기초하여 화소 결함을 판정하는 판정 회로,
    상기 판정 회로에서 판정된 화소 결함의 위치를 나타내는 결함 정보를 기억하는 메모리 회로를 포함하고,
    상기 메모리 회로에 기억된 결함 정보에 따라서 상기 목표 화소를 보정하는 것을 특징으로 하는 화상 신호 처리 장치.
  2. 제1항에 있어서,
    상기 검출 회로는, 상기 복수의 주변 화소의 신호 레벨의 최대치와 최소치와의 차를 상기 복수의 주변 화소의 신호 레벨의 평균치에 대하여 가산 또는 감산하여 판정 기준치를 설정하는 것을 특징으로 하는 화상 신호 처리 장치.
  3. 제2항에 있어서,
    상기 검출 회로는, 상기 판정 기준치를 다단계로 설정하고, 각 단계마다 결함 후보를 검출하는 것을 특징으로 하는 화상 신호 처리 장치.
  4. 제1항 내지 제3항 중 어느 한항에 있어서,
    상기 판정 회로는, 복수 필드에서 결함 판정 동작을 계속하여 화소 결함의 위치를 결정한 후, 상기 검출 회로와 함께 동작을 정지하는 것을 특징으로 하는 화상 신호 처리 장치.
  5. 제4항에 있어서,
    상기 판정 회로는 소정의 주기로 결함 판정 동작을 반복하는 것을 특징으로 하는 화상 신호 처리 장치.
  6. 제1항에 있어서,
    상기 메모리 회로는, 상기 결함 정보를 상기 검출 회로의 검출 결과와 함께 일시적으로 기억하는 제1 메모리부와, 상기 제1 메모리부로부터 상기 화소 결함의 위치를 취하여 기억하는 불휘발성의 제2 메모리부를 포함하는 것을 특징으로 하는 화상 신호 처리 장치.
  7. 제1항에 있어서,
    상기 판정 회로는, 상기 화상 신호를 얻는 촬상 장치의 촬상 제어 정보를 받아, 이 촬상 제어 정보와 상기 판정 기준치에 기초하여 화소 결함의 판정을 행하는 것을 특징으로 하는 화상 신호 처리 장치.
  8. 제7항에 있어서,
    상기 판정 회로는, 상기 화상 신호를 얻는 촬상 장치의 촬상 제어 정보를 받아, 이 촬상 제어 정보로부터 추정되는 피사체의 휘도가 소정의 범위일 때에 상기 판정 기준치에 기초하여 화소 결함의 판정을 행하는 것을 특징으로 하는 화상 신호 처리 장치.
  9. 제1항에 있어서,
    상기 판정 회로는, 1화면을 복수의 영역으로 분할한 각 영역마다 결함 판정 동작을 행하는 것을 특징으로 하는 화상 신호 처리 장치.
  10. 제9항에 있어서,
    상기 판정 회로는, 1화면을 복수의 영역으로 분할한 각 영역마다에 대해 시분할로 반복하여 결함 판정 동작을 행하는 것을 특징으로 하는 화상 신호 처리 장치.
  11. 제1항에 있어서,
    상기 판정 회로 및 상기 메모리 회로의 적어도 한쪽은, 외부 기기가 접속 가능한 버스에 접속되고, 외부 기기로부터 화소 결함의 판정 조건이 변경되는 것을 특징으로 하는 화상 신호 처리 장치.
  12. 1화면을 표시하는 화상 신호에 기초하여, 화면을 구성하는 복수의 화소에 포함되는 화소 결함을 검출하는 검출 방법에 있어서,
    목표 화소의 신호 레벨을 목표 화소에 인접하는 복수의 주변 화소의 신호 레벨에 기초하여 설정되는 판정 기준치와 비교하여 결함 후보를 검출하고, 결함 후보의 위치를 기억하는 제1 스텝,
    상기 제1 스텝에서 기억된 위치의 목표 화소의 신호 레벨을 상기 판정 기준치와 재차 비교하는 제2 스텝, 및
    상기 제2 스텝의 비교 결과를 기억하는 제3 스텝
    을 포함하고, 상기 제2 및 제3 스텝을 여러번 반복하여 얻어지는 복수의 비교 결과에 따라서 화소 결함을 검출하는 것을 특징으로 하는 화소 결함의 검출 방법.
  13. 제12항에 있어서,
    상기 복수의 주변 화소의 신호 레벨의 최대치와 최소치와의 차를 상기 복수의 주변 화소의 신호 레벨의 평균치에 대하여 가산 또는 감산하여 판정 기준치를 설정하는 것을 특징으로 하는 화소 결함의 검출 방법.
  14. 제12항에 있어서,
    상기 제2 및 제3 스텝을 여러번 반복하여 얻어지는 복수의 비교 결과와 함께상기 화상 신호를 얻는 촬상 장치의 촬상 조건에 따라서 화소 결함을 검출하는 것을 특징으로 하는 화소 결함의 검출 방법.
  15. 1화면을 표시하는 화상 신호로부터, 화면을 구성하는 복수의 화소에 포함되는 화소 결함을 검출하는 검출 방법에 있어서,
    목표 화소의 신호 레벨을 목표 화소에 인접하는 복수의 주변 화소의 신호 레벨에 기초하여 설정되는 판정 기준치와 비교하여 제1 결함 후보를 검출하여 상기 제1 결함 후보의 위치를 기억하는 제1 스텝,
    목표 화소의 신호 레벨을 목표 화소에 인접하는 복수의 주변 화소의 신호 레벨에 기초하여 설정되는 판정 기준치와 비교하여 제2 결함 후보를 검출하는 제2 스텝,
    상기 제1 화소 결함 후보의 위치와 상기 제2 결함 후보의 위치의 일치를 판정하는 제3 스텝, 및
    상기 제1 스텝에서 기억된 제1 결함 후보의 위치를, 상기 제3 스텝에서 일치한다고 판정된 위치를 남겨 갱신하는 제4 스텝
    을 포함하고, 상기 제2 내지 제3 스텝을 반복하는 것을 특징으로 하는 화소 결함의 검출 방법.
  16. 제15항에 있어서,
    상기 복수의 주변 화소의 신호 레벨의 최대치와 최소치와의 차를 상기 복수의 주변 화소의 신호 레벨의 평균치에 대하여 가산 또는 감산하여 판정 기준치를 설정하는 것을 특징으로 하는 화소 결함의 검출 방법.
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