KR20040038193A - 이미지센서의 불량픽셀 보상장치 - Google Patents

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KR20040038193A KR1020020067076A KR20020067076A KR20040038193A KR 20040038193 A KR20040038193 A KR 20040038193A KR 1020020067076 A KR1020020067076 A KR 1020020067076A KR 20020067076 A KR20020067076 A KR 20020067076A KR 20040038193 A KR20040038193 A KR 20040038193A
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Abstract

본 발명은 이미지센서의 불량픽셀 보상장치에 관한 것으로, 이를 위한 본 발명은 다수의 단위픽셀들로 어레이된 픽셀어레이를 구비하는 이미지센서에서 상기 다수의 단위픽셀들 중 불량픽셀을 검출하고 보상하는 장치에 있어서, 복수개의 이미지 프레임을 입력받아 상기 다수의 단위픽셀들 중 불량픽셀를 검출해내는 불량픽셀 검출부; 상기 불량픽셀 검출부의 출력에 제어받아 제 1 이미지 프레임에서 불량픽셀로 판명된 픽셀의 어드레스를 저장하는 제 1 메모리; 상기 제 1 메모리의 출력과 후속 프레임에서 불량픽셀로 판명된 픽셀의 주소를 비교하여 출력하는 비교기; 상기 비교기의 출력에 따라 최종적으로 불량픽셀로 판명된 픽셀의 주소를 저장하는 제 2 메모리; 및 상기 제 2 메모리의 출력과 읽고자 하는 픽셀의 주소를 비교하여 불량픽셀에 대한 보상을 수행하는 불량픽셀 보상부를 포함하여 이루어진다.

Description

이미지센서의 불량픽셀 보상장치{Defective pixel concealment apparatus in image sensor}
본 발명은 이미지센서에 관한 것으로 특히, 이미지센서의 불량픽셀 (Defective pixel)을 보상하는 장치에 관한 것이다.
일반적으로, 이미지센서라 함은 광학 영상(optical image)을 전기 신호로 변환시키는 반도체소자로서, 이 중에서 전하결합소자(CCD : charge coupled device)는 개개의 MOS(Metal-Oxide-Silicon) 커패시터가 서로 매우 근접한 위치에 있으면서 전하 캐리어가 커패시터에 저장되고 이송되는 소자이며, 시모스(Complementary MOS) 이미지센서는 제어회로(control circuit) 및 신호처리회로(signal processing circuit)를 주변회로로 사용하는 CMOS 기술을 이용하여 화소수 만큼의 MOS트랜지스터를 만들고 이것을 이용하여 차례차례 출력(output)을 검출하는 스위칭 방식을 채용하는 소자이다.
이러한 이미지센서는 디지탈 카메라, 디지탈 캠코더, 이동통신수단 및 스캐너 등에 주로 사용되어 그 이용이 급증하고 있으며, 이미지센서에서 사용되는 이미지정보는 빛의 정보라 할 수 있는데 밝기와 색상으로 구분하여 표현이 가능하다.
이미지센서는 여러개의 픽셀이 2차원 구조로 배열되어 있으며 각 픽셀은 들어오는 빛의 밝기에 따라서 이를 전기적인 신호로 변환시키게 되는데, 이러한 전기신호를 측정하면 각 픽셀에 들어오는 빛의 양을 알 수 있고 이를 이용하여 픽셀단위의 이미지를 구성할 수 있다.
이러한 이미지센서는 수십만에서 수백만개의 픽셀로 이루어진 픽셀어레이와 픽셀에서 감지한 아날로그 데이터를 디지탈 데이터로 바꿔주는 장치와 수백에서 수천개의 저장장치 등으로 구성되는데 이때, 이러한 많은 수의 장치들로 인하여 이미지센서는 공정상의 오류를 항상 가지게 되는 바, 이러한 이유때문에 픽셀들 중에서 불량픽셀이 발생하게 되고 이러한 불량픽셀은 이미지센서의 등급과 가격을 결정하는 중요한 요소가 되고 있다.
따라서, 이러한 불량픽셀의 데이터를 보상하는 장치(Defective Pixel Concealment 회로, 이하 'DPC 회로' 라 한다.)가 필요하게 되었는데 도 1a 내지 도 1b는 종래에 사용되던 이미지센서의 불량픽셀 보상장치를 도시한 도면으로, 이를 참조하여 종래의 불량픽셀 검출장치에 대해 설명하면 다음과 같다.
도 1a는 종래의 불량픽셀 보상방법의 개요를 도시한 개념도로서, 이에 따르면 먼저, 광학테스트를 거쳐 확인된 불량픽셀의 어드레스를 칩 내부 또는 칩 외부에 위치한 메모리에 저장한다. 이후에, 픽셀의 출력을 얻고자 할때는 메모리에 저장된 불량픽셀의 어드레스를 이용하여 디지탈 신호처리부(DSP)에서 불량픽셀의 데이터를 주변픽셀 값으로부터 유추하여 변환시킴으로써 불량픽셀을 보상하는 방법을 사용하였다.
즉, 이미지센서의 픽셀어레이 부분이 완성되면 광학테스트를 통해 불량픽셀들을 검출한 뒤, 해당 불량픽셀들의 어드레스를 이미지센서 칩 내부 또는 칩 외부에 마련된 메모리에 저장시키고 이를 이용하여 불량픽셀을 보상해 준다. 이때, 사용되는 메모리는 비휘발성 메모리로서 주로 EPROM(Erasable Programmable Read-Only Memory) 등을 이용하였다.
도 1b는 종래의 불량픽셀 보상장치의 세부적인 블록도로서 이를 참조하여 종래의 불량픽셀 보상장치의 동작을 설명한다. 먼저, 개략적으로 불량픽셀 보상장치의 동작을 설명하면, 픽셀의 데이터를 읽을때 해당픽셀이 정상픽셀이면 정상적인 픽셀 데이터가 제3 멀티플렉서(108)를 통해 출력으로 나오고, 해당픽셀이 불량픽셀이라면 보상회로(107)를 거쳐서 보상된 데이터가 제3 멀티플렉서(108)를 통해 출력으로 나오게 되는 동작을 수행한다. 여기서 픽셀 데이터는 아날로그/디지탈 변환기(미도시)에서 출력되는 값이다.
이를 상세히 설명하면 다음과 같다. 메모리(104)에 저장된 불량픽셀의 어드레스가 제1 멀티플렉서(103)를 통해 DPC 어드레스 버퍼(102)로 입력되면, 비교기(105)에서는 DPC 어드레스 버퍼(102)로부터 입력받은 불량픽셀의 어드레스와 리얼 데이터 어드레스 카운터(101)에서 입력받은 읽고자 하는 픽셀의 어드레스를비교하여 양 어드레스가 일치하는지 안하는지를 비교한다.
만일 양 어드레스가 일치한다면 데이터를 읽고자 하는 픽셀이 불량픽셀이기 때문에, 이에 대한 제어신호가 제2 멀티플렉서(106) 및 제3 멀티플렉서(108)로 출력된다.
이와같이 데이터를 읽고자 하는 픽셀이 불량픽셀이라면, 픽셀 데이터가 제2 멀티플렉서(106)를 거쳐서 보상회로(107)로 입력되며 상기 보상회로(107)를 거쳐 보상된 데이터가 최종적으로 제3 멀티플렉서(108)를 통해 출력된다.
만일 데이터를 읽고자 하는 픽셀이 불량픽셀이 아니라면(즉, 비교기(105)에서 비교되는 양 어드레스가 일치하지 않는다면) 제2 멀티플렉서(106)는 'Disable' 신호를 선택하여 출력한다. 'Disable' 신호는 보상회로(107)의 동작을 비활성화시키는 신호이다. 따라서, 이때에는 정상적인 픽셀데이터가 제3 멀티플렉서(108)를 통해 출력된다.
이와같은 불량픽셀 보상장치에서 불량픽셀의 데이터를 적절한 값으로 보상해 주는 방법은 여러가지가 있는데, 주변픽셀들의 평균값을 이용할 수도 있으며 또는 문턱값을 이용하거나 기타 다른 방법을 통해 보상해 줄 수 있다. 불량픽셀을 보상하는 방법은 이미 많은 방법이 소개되어 있으므로 이에 대해서는 상술하지 않는다.
이상과 같이 설명한 종래의 불량픽셀 보상장치의 단점을 설명하면 다음과 같다. 먼저, 종래에는 광학테스트를 통해 판명된 불량픽셀의 어드레스를 메모리에 저장시키고 나서 그 정보를 변경함이 없이 계속 사용하였다.
불량픽셀중에는 화이트픽셀(White Pixel) 또는 다크픽셀(Dark Pixel)과 같이주변 픽셀값보다 유난히 크거나 작은 값을 갖는 픽셀이 있는 반면에, 때로는 정상픽셀로 나타나고 때로는 불량픽셀로 나타나는 픽셀도 있다.
후자와 같은 불량픽셀을 무빙픽셀(Moving Pixel)이라고 하는데, 종래와 같은 불량픽셀 보상장치에서는 이와같은 무빙픽셀에 대해서는 그 결함을 보상해 주지 못하였다. 즉, 처음에 불량픽셀로 판정된 픽셀들의 어드레스만 메모리에 저장하고 나서 이 정보를 계속해서 사용하기 때문에 무빙픽셀에 대해서는 보상이 불가능하였다.
다음으로, 종래의 불량픽셀 보상장치에 사용되던 메모리는 비휘발성 메모리로 주로 EPROM을 사용하였는데, 주지하다시피 EPROM은 그 제조공정이 이미지센서와 판이하게 다르기 때문에 이미지센서 칩을 제작하는 공정에 같이 사용할 수 없었다.
따라서, 별도의 공정을 거쳐서 EPROM을 이미지센서 칩 외부나 칩 내부에 마련해야 했기 때문에 공정이 복잡해지고 코스트가 증가하는 단점이 있었다.
또 다른 단점으로, 종래에는 불량픽셀을 보상해 주고 나서 보상이 제대로 이루어졌는지 확인하기 위하여 추가적인 재테스트가 필요하였는데 이 역시 제품의 가격을 상승시키는 요인으로 작용하였다.
본 발명은 상기한 종래의 문제점을 해결하기 위한 것으로, 추가적인 재테스트가 없으며 미래에 발생할 수 있는 불량픽셀도 보상가능한 이미지센서의 불량픽셀 보상장치를 제공함을 그 목적으로 한다.
도 1a는 종래의 불량픽셀 보상방법의 개요를 도시한 개념도,
도 1b는 종래의 불량픽셀 보상장치의 세부적인 블록도,
도 2a는 본 발명에 따른 불량픽셀 보상방법의 개요를 도시한 개념도,
도 2b는 본 발명에 따른 불량픽셀 보상장치의 세부적인 블록도,
도 3은 본 발명에 따른 불량픽셀 보상장치에서 복수개의 프레임을 이용하여 불량픽셀을 검출하는 개념을 도시한 도면,
도 4는 본 발명에 따른 불량픽셀 보상장치에서 불량픽셀을 검출하는 동작순서를 도시한 순서도.
*도면의 주요부분에 대한 부호의 설명*
201 : 불량픽셀 검출부
202 : 프리픽셀 메모리
203 : 불량픽셀 메모리
204 : 제 1 비교기
205 : 리얼 데이터 어드레스 카운터
206 : DPC 어드레스 카운터
207 : 제 2 비교기
208 : 제 4 멀티플렉서
209 : 보상회로
210 : 제 5 멀티플렉서
211 : 불량픽셀 보상부
상기한 목적을 달성하기 위한 본 발명은, 다수의 단위픽셀들로 어레이된 픽셀어레이를 구비하는 이미지센서에서 상기 다수의 단위픽셀들 중 불량픽셀을 검출하고 보상하는 장치에 있어서, 복수개의 이미지 프레임을 입력받아 상기 다수의 단위픽셀들 중 불량픽셀를 검출해내는 불량픽셀 검출부; 상기 불량픽셀 검출부의 출력에 제어받아 제 1 이미지 프레임에서 불량픽셀로 판명된 픽셀의 어드레스를 저장하는 제 1 메모리; 상기 제 1 메모리의 출력과 후속 프레임에서 불량픽셀로 판명된 픽셀의 주소를 비교하여 출력하는 비교기; 상기 비교기의 출력에 따라 최종적으로 불량픽셀로 판명된 픽셀의 주소를 저장하는 제 2 메모리; 및 상기 제 2 메모리의 출력과 읽고자 하는 픽셀의 주소를 비교하여 불량픽셀에 대한 보상을 수행하는 불량픽셀 보상부를 포함하여 이루어진다.
본 발명은 프레임간의 연속성을 이용하여 불량픽셀을 검출하고, 이를 이용하여 지속적으로 불량픽셀을 검출/보상하여 줌으로써 장래에 발생하는 불량픽셀을 보상해 줄 수 있는 발명이다.
또한, 본 발명은 불량픽셀 보상장치에 사용되는 메모리를 EPROM 같은 비휘발성 메모리 대신에 디램(Dynamic Random Access Memory : DRAM) 이나 에스램(Static DRAM : SRAM) 같은 메모리를 사용함으로써, 이미지센서 칩 제조공정에 메모리 제조공정을 용이하게 포함시킬 수 있어, 이미지센서 칩 내부에 메모리를 용이하게 장착할 뿐 아니라 공정의 단순화와 제조단가를 감소시킨 발명이다.
이하, 본 발명이 속하는 기술분야에서 통상의 지식을 가진 자가 본 발명의 기술적 사상을 용이하게 실시할 수 있을 정도로 상세히 설명하기 위하여, 본 발명의 가장 바람직한 실시예를 첨부된 도면을 참조하여 설명한다.
도 2a 내지 도 2b는 본 발명의 일실시예에 따른 불량픽셀 보상장치를 도시한 도면으로 이를 참조하여 설명하면 먼저, 도 2a는 본 발명의 일실시예에 따른 불량픽셀 보상방법의 개요를 도시한 개념도로서 메모리를 이용한다는 점은 종래기술과 동일하다.
하지만, 본 발명의 일실시예에 따른 불량픽셀 보상장치에서는 동작중에도 메모리에 읽기/쓰기를 계속한다는 점이 종래기술과 다른 점이다. 종래에는 광학테스트에서 검출된 불량픽셀의 어드레스를 메모리에 한번 쓰고 난 후 계속해서 이 값을 이용하였지만, 본 발명의 일실시예에 따른 불량픽셀 보상장치에서는 지속적으로 불량픽셀을 검출하여 그 어드레스를 메모리에 저장하고 그 어드레스 값들을 계속 갱신하면서 사용하기 때문에 향후 발생할 수 있는 불량픽셀(예를 들면 무빙픽셀)에 대해서도 보상이 가능하다.
도 2b는 본 발명의 일실시예에 따른 불량픽셀 보상장치의 세부 블록도로서 이를 참조하여 본 발명의 일실시예에 따른 불량픽셀 보상장치를 상세히 설명한다.
먼저, 본 발명의 일실시예에 따른 불량픽셀 보상장치는 픽셀 데이터를 입력받아 해당 픽셀이 불량픽셀인지 아닌지를 검출하는 불량픽셀 검출부(201)와 상기 불량픽셀 검출부(201)의 출력에 제어받아 불량픽셀의 어드레스를 저장하는 프리-픽셀 메모리(202)와 프리-픽셀 메모리(202)의 출력과 불량픽셀 검출부(201)의 출력을비교하여 비교결과를 출력하는 제 1 비교기(204)와 제 1 비교기(204)의 출력에 제어받아 최종적을 불량픽셀로 판명된 픽셀의 어드레스를 저장하는 불량픽셀 메모리(203)와 불량픽셀 메모리(203)에 저장된 최종 불량픽셀의 어드레스를 입력받는 DPC 어드레스 카운터(206)와 읽고자 하는 픽셀의 어드레스를 입력받는 리얼 데이터 어드레스 카운터(205)와 리얼 데이터 어드레스 카운터(205)의 출력과 DPC 어드레스 카운터(206)의 출력을 비교하여 그 결과를 제 4 멀티플렉서(208)와 제 5 멀티플렉서(210)로 출력하는 제 2 비교기(207)와 픽셀 데이터와 'Disable 신호' 중 어느하나를 선택하여 출력하는 제 4 멀티플렉서(208)와 제 4 멀티플렉서(208)의 출력을 입력받아 소정의 보상작업을 수행하여 보상된 픽셀데이터를 출력하는 보상회로(209)와 보상회로(209)의 출력과 픽셀데이터 중 어느 하나를 선택하여 출력하는 제5 멀티플렉서(210)로 구성되어 있다.
이와 같이 구성된 본 발명의 일실시예에 따른 불량픽셀 보상장치에서 불량픽셀을 보상해 주는 방법은 종래기술과 동일하다. 즉, 도 2b를 참조하면 불량픽셀 보상부(211)로 표시된 부분은 종래기술과 동일하며, 해당픽셀이 정상픽셀이면 정상적인 픽셀 데이터가 제 5 멀티플렉서(210)를 통해 출력으로 나오고, 해당픽셀이 불량픽셀이라면 보상회로(209)를 거쳐서 보상된 데이터가 제 5 멀티플렉서(210)를 통해 출력으로 나오게 되는 동작을 수행한다. 여기서 픽셀 데이터는 아날로그/디지탈 변환기(미도시)에서 출력되는 값이다.
본 발명의 일실시예에 따른 불량픽셀 보상장치는 자체적으로 불량픽셀을 검출해내는 불량픽셀 검출부(201)를 구비하고 있으며, 불량픽셀 검출부(201)는 복수개의 이미지 프레임을 이용하여 불량픽셀을 검출해 낸다.
도 3은 본 발명의 일실시예에 따른 불량픽셀 보상장치에서 복수개의 프레임을 이용하여 불량픽셀을 검출하는 개념을 도시한 도면으로 이를 참조하면, 먼저 첫번째 프레임에서 불량픽셀로 판명된 픽셀들의 어드레스를 메모리에 기록한다. 다음으로 후속 프레임에서도 마찬가지로 불량픽셀 여부를 판별한다. 후속 프레임에서 불량픽셀로 판명된 픽셀의 주소와 전 프레임에서 불량픽셀로 판명된 픽셀의 어드레스를 비교하여 어드레스가 일치하는 픽셀은 불량픽셀로 최종적으로 분류하고, 어드레스가 일치하지 않는 픽셀은 정상픽셀로 분류한다.
도3 은 이와같은 불량픽셀 검출을 3개의 프레임들을 비교하여 수행하는 것을 도시한 것이다. 여기서 각각의 프레임들은 시간적으로 연속적인 프레임들일 수도 있고 또는 각 프레임들 간에 일정한 시간간격을 갖고 있을 수도 있다. 또한 도 3에서는 3개의 프레임들을 비교하여 불량픽셀 여부를 판별하였는데, 임의의 복수개의 프레임을 사용하여 불량픽셀 여부를 판별할 수도 있다.
그리고, 본 발명의 일실시예에서는 해당픽셀이 정상픽셀인지 불량픽셀인지 판별하는 방법으로 문턱값을 이용하였다. 즉, 화이트픽셀(White Pixel) 또는 다크픽셀(Dark Pixel)과 같이 해당픽셀의 데이터가 주변 픽셀값보다 문턱값 이상으로 크거나, 또는 문턱값 이상으로 작을 경우에는 불량픽셀로 판별하였으며, 여기서 문턱값은 이미지센서의 화질과 공정조건을 고려하여 임의로 정할 수 있다.
도 3의 프레임 1 에 불량픽셀로 판명되어 점으로 표시된 픽셀은 이러한 문턱값을 이용하여 불량픽셀로 판정된 것이다. 마찬가지로 프레임 2 와 프레임 3 에서도 문턱값을 이용하여 해당픽셀이 불량픽셀인지 아닌지를 판별한다.
도 2a 와 도 3을 참조하여 본 발명에 따른 일실시예에 따른 불량픽셀 보상장치에서 불량픽셀을 검출해내고 검출된 불량픽셀을 보상하는 동작을 설명하면 다음과 같다.
픽셀 데이터는 아날로그/디지탈 변환기의 출력으로 픽셀데이터는 각각 불량픽셀 검출부(201)와 제4 멀티플렉서(208)로 입력된다.
불량픽셀 검출부(201)는 입력된 픽셀데이터를 이용하여 해당픽셀이 불량픽셀 인지 아닌지를 판별하고, 그에 따른 제어신호를 프리-픽셀 메모리(202)로 출력한다. 프리-픽셀 메모리(202)는 리얼 데이터 어드레스 카운터(205)의 출력을 입력받아 해당픽셀이 불량픽셀인 경우, 제어신호에 따라 불량픽셀의 주소를 저장한다.
다음 프레임의 이미지 데이터가 입력되면 불량픽셀 검출부(201)는 마찬가지로 해당픽셀이 불량픽셀인지 아닌지를 판별하고 불량픽셀인 경우, 불량픽셀의 어드레스를 제 1 비교기(204)로 출력한다.
제 1 비교기(204)는 프리-픽셀 메모리(202)에 저장된 불량픽셀의 어드레스와 후속프레임에서 불량픽셀로 판명된 픽셀들의 어드레스를 비교하여 그 결과를 불량픽셀 메모리(203)로 출력한다.
불량픽셀 메모리(203)는 전/후 프레임에서 모두 불량픽셀로 판정된 픽셀들의 어드레스를 제 1 비교기(204)의 출력인 제어신호에 따라 저장하고, 이를 DPC 어드레스 버퍼(206)로 출력한다.
다음으로, 제 2 비교기(207)는 DPC 어드레스 버퍼(206)와 리얼 데이터 어드레스 버퍼(205)의 출력을 비교하여 그 결과를 각각 제 4 멀티플렉서(208)와 제 5 멀티플렉서(210)로 출력하는데, 보상회로(209)와 멀티플렉서(208, 210)를 이용하여 불량픽셀을 보상하는 방법은 종래기술과 동일하기 때문에 상술하지 않는다.
도 4는 복수개의 프레임을 이용하여 불량픽셀을 최종적으로 판별하는 동작순서를 도시한 순서도로서 3개의 프레임을 이용한 경우를 도시하고 있다. 도 4를 참조하면 먼저, 제 1 프레임의 픽셀데이터를 검사하여 불량픽셀이 있는지 없는지를 판별한다(403).
제 1 프레임의 픽셀데이터 중에서 불량픽셀이 있는 경우에는 불량픽셀의 주소를 프리-픽셀 메모리에 저장하고(404)난 후, 제 2 프레임의 픽셀데이터를 검사한다(406). 만일, 불량픽셀이 없는 경우에는 곧바로 제 2 프레임의 픽셀데이터를 검사한다.(406).
제2 프레임의 픽셀데이터를 검사하여 불량픽셀이 없다면 제 3 프레임의 데이터를 입력받고(409), 만일 불량픽셀이 있다면 그 불량픽셀의 주소와 프리-픽셀 메모리에 저장된 주소를 비교한다(407). 두 주소가 일치한다면 그 픽셀은 최종적으로 불량픽셀로 판정되고 불량픽셀 메모리에 주소가 저장된다(408).
제2 프레임의 픽셀데이터 중에서 불량픽셀로 판정된 픽셀의 주소와 프리-픽셀 메모리에 저장된 주소가 일치하지 않는다면 곧바로 제 3 프레임의 데이터를 입력받는다(409).
제3 프레임의 데이터를 입력받은 후, 마찬가지로 불량픽셀의 유무을 검사하고(410) 불량픽셀이 있으면 그 주소를 프리픽셀 메모리에 저장된 주소와비교하여(411)와 양 주소가 일치한다면 최종적으로 불량픽셀으로 판정하여 그 주소를 불량픽셀 메모리에 저장한다(408).
제 3 프레임의 데이터 중에서 불량픽셀이 없거나 또는 불량픽셀이 있더라도그 주소가 프리-픽셀 메모리에 저장된 주소와 일치하지 않는다면 불량픽셀 메모리에 저장된 주소를 갖는 픽셀이 최종적으로 불량픽셀이 되며 동작이 마무리된다.
전술한 바와 같은 불량픽셀 검출과 불량픽셀 보상을 주기적으로 수행한다면 미래에 발생할 수도 있는 불량픽셀(예를 들면, 무빙픽셀)도 보상해 줄 수 있어 이미지센서의 화질향상에 큰 도움을 줄 수 있다. 또한 본 발명의 일실시예에서 사용된 메모리는 EPROM이 아닌 디램 또는 에스램 이므로 이미지센서 칩을 제조하는 공정에 쉽게 포함될 수 있어 제조단가가 감소하는 장점이 있다.
이상에서 설명한 바와 같이 본 발명은 전술한 실시예 및 첨부된 도면에 의해 한정되는 것이 아니고, 본 발명이 기술적 사상을 벗어나지 않는 범위 내에서 여러 가지 치환, 변형 및 변경이 가능함이 본 발명이 속하는 기술분야에서 통상의 지식을 가진자에게 있어 명백할 것이다.
본 발명을 이미지센서에 적용하게 되면 미래에 발생할 수도 있는 불량픽셀(예를 들면, 무빙픽셀)도 보상해 줄 수 있어 이미지센서의 화질을 향상시키는 효과가 있으며, 또한 본 발명의 일실시예에서 사용된 메모리는 EPROM이 아닌 디램 또는에스램 이므로 이미지센서 칩을 제조하는 공정에 쉽게 포함될 수 있어 제조단가가 감소하는 장점이 있다.

Claims (6)

  1. 다수의 단위픽셀들로 어레이된 픽셀어레이를 구비하는 이미지센서에서 상기 다수의 단위픽셀들 중 불량픽셀을 검출하고 보상하는 장치에 있어서,
    복수개의 이미지 프레임을 입력받아 상기 다수의 단위픽셀들 중 불량픽셀를 검출해내는 불량픽셀 검출부;
    상기 불량픽셀 검출부의 출력에 제어받아 제 1 이미지 프레임에서 불량픽셀로 판명된 픽셀의 어드레스를 저장하는 제 1 메모리;
    상기 제 1 메모리의 출력과 후속 프레임에서 불량픽셀로 판명된 픽셀의 주소를 비교하여 출력하는 비교기;
    상기 비교기의 출력에 따라 최종적으로 불량픽셀로 판명된 픽셀의 주소를 저장하는 제 2 메모리; 및
    상기 제 2 메모리의 출력과 읽고자 하는 픽셀의 주소를 비교하여 불량픽셀에 대한 보상을 수행하는 불량픽셀 보상부
    를 포함하여 이루어지는 이미지센서의 불량픽셀 보상장치.
  2. 제1항에 있어서,
    상기 제 1 이미지 프레임과 후속 이미지 프레임은 연속적인 이미지 프레임 인 것을 특징으로 하는 이미지센서의 불량픽셀 보상장치.
  3. 제1항에 있어서,
    상기 제 1 이미지 프레임과 후속 이미지 프레임 사이에는 시간간격을 갖는 것을 특징으로 하는 이미지센서의 불량픽셀 보상장치.
  4. 제1항 또는 제2항에 있어서,
    상기 불량픽셀 검출부는 문턱값을 이용하여 불량픽셀을 검출하는 것을 특징으로 하는 이미지센서의 불량픽셀 보상장치.
  5. 제1항 또는 제2항에 있어서,
    상기 불량픽셀 보상부는 문턱값 또는 주변픽셀 값들의 평균값을 이용하여 불량픽셀을 보상하는 것을 특징으로 하는 이미지센서의 불량픽셀 보상장치.
  6. 제1항 또는 제2항에 있어서,
    상기 제1 메모리 또는 상기 제2 메모리는 에스램 또는 디램으로 이루어진 것을 특징으로 하는 이미지센서의 불량픽셀 보상장치.
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