JPH1127585A - 固体撮像素子の欠陥画素検出方法 - Google Patents

Abstract

(57)【要約】 【課題】固体撮像素子の欠陥画素の検出時間を短縮した
固体撮像素子の欠陥画素検出方法を提供する。 【解決手段】撮像装置に備える固体撮像素子で入射光を
映像信号に光電変換し、固体撮像素子から出力される映
像信号の画素毎の信号レベルと設定されたしきい値とを
比較し、比較された結果にもとづいて固体撮像素子の欠
陥画素を検出する固体撮像素子の欠陥画素検出方法にお
いて、固体撮像素子に配列されている複数の画素を所要
の大きさの小ブロックに分割されるように設定し、分割
設定された各小ブロック単位で映像信号出力レベルのピ
ークレベル値を検出し、検出されたピークレベル値が所
定レベル以上の小ブロックの１画素毎の映像信号レベル
を検出し、検出された１画素毎の映像信号レベルと設定
されたしきい値とを比較し、比較された結果にもとづい
て固体撮像素子の欠陥画素を検出する。

Description

【発明の詳細な説明】

【０００１】

【発明の属する技術分野】本発明は、固体撮像素子を使
用した撮像装置における固体撮像素子の欠陥画素検出方
法の改良に関するものである。

【０００２】

【従来の技術】固体撮像素子が実用化され撮像装置に使
用されてから久しく、撮像装置と言えば、当然、固体撮
像素子が使用されていると思うような普及状況である
が、さらなる精細な画質への向上を目指し、半導体技術
の発展とともに、固体撮像素子の画素数（光電変換素子
数）は増加の一途にあり、高精細、高感度、高画質の撮
像装置に使用することができる固体撮像素子となりつつ
ある。しかし、固体撮像素子は、画素数が増加するとと
もに、欠陥画素の無い固体撮像素子を製造することは難
しく、固体撮像素子の限られた大きさの中で画素数が増
加することは、多くの画素の中には欠陥画素が含まれる
ことになる。この欠陥画素を含む固体撮像素子を使用し
た撮像装置で撮像した撮像画面をビデオモニタで見る
と、欠陥画素による撮像部分が白キズとなって現れるの
で、画面中央部に欠陥画素がある固体撮像素子は使用す
ることができないことになる。したがって、固体撮像素
子の製造時に、検査により欠陥画素を含む固体撮像素子
を除去するようにしても、画素数が多いために検査時間
がかかることになり、かつ、歩留まりが悪くなり、価格
が高くなる要因となる。そのため、ある程度の欠陥画素
を含む固体撮像素子を撮像装置に使用するようにし、使
用した固体撮像素子に含まれる欠陥画素を検出し、その
欠陥画素から出力される映像信号を補正する方法が使用
される。

【０００３】従来の固体撮像素子の欠陥画素検出方法に
は、例えば、図５に示す固体撮像素子を使用した撮像装
置における固体撮像素子の欠陥画素検出方法がある。
（図５に示す撮像装置のブロック図は、固体撮像素子の
欠陥画素検出方法を説明するのに必要な撮像装置の一部
のみを示している。） また、図７は、格子状に配列された複数の光電変換素子
を有する固体撮像素子を示しており、複数の光電変換素
子の一つ一つを画素と呼んでいる。（図７に示す固体撮
像素子は、説明に必要な光電変換素子のみを示してい
る。） 図５において、１は入射光を映像信号に光電変換する固
体撮像素子、２は、固体撮像素子１から出力される映像
信号に重畳している雑音を低減するＣＤＳ（Correlated
Double Sampling：相関二重サンプリング）回路、３
は、ＣＤＳ回路２から出力された映像信号をディジタル
の映像信号に変換するＡＤ変換器、５は、固体撮像素子
１の複数の光電変換素子の１画素毎の映像信号出力レベ
ルを検出する１画素レベル検出部、６は、１画素レベル
検出部５で検出する映像信号のアドレスを比較制御する
とともに１画素レベル検出部５から出力される１画素毎
の映像信号レベルをしきい値と比較し正常か欠陥かの判
定をする中央処理装置（ＣＰＵ）、７は、ＣＰＵ６で欠
陥と判定した１画素の映像信号を出力した光電変換素子
の所要のデータを記憶する欠陥画素データメモリを示
す。なお、１画素レベル検出部５は、図６に示すよう
に、Ｘアドレスカウンタ６１、Ｘアドレス比較器６２、
Ｙアドレスカウンタ６３、Ｙアドレス比較器６４、ＡＮ
Ｄ回路６５、スイッチ回路６６を備えている。

【０００４】従来技術による固体撮像素子を使用した撮
像装置における固体撮像素子の欠陥画素検出方法を説明
する。撮像装置に入射した所定の照度の入射光は、固体
撮像素子１に入射され、固体撮像素子１で映像信号に光
電変換されて、ＣＤＳ回路２へ出力される。ＣＤＳ回路
２は、入力された映像信号に重畳している雑音を除去
し、雑音を除去した映像信号を、ＡＤ変換器３へ出力す
る。ＡＤ変換器３は、入力された映像信号をディジタル
信号に変換し、ディジタル映像信号３ａを１画素レベル
検出部５とその他の回路とへ出力する。前記１画素レベ
ル検出部５には、前記ディジタル映像信号３ａの他に、
入力されたディジタル映像信号３ａの固体撮像素子１上
の１画素のアドレスを特定するアドレス信号６ｂ（Ｘ方
向、Ｙ方向のアドレスで、例えばＸ方向アドレスを上位
データ、Ｙ方向のアドレスを下位データとする）が制御
プログラムで制御されているＣＰＵ（中央処理装置）６
から入力されている。１画素レベル検出部５は、ＡＤ変
換器３から入力されたディジタル映像信号３ａの制御プ
ログラムで設定したアドレスのＸアドレスとＹアドレス
とが一致したディジタル映像信号３ａを、１画素レベル
検出部５から出力される所要のアドレスの１画素のディ
ジタル映像信号５ａとしてＣＰＵ６へ出力する。

【０００５】さらに１画素レベル検出部５（図６参照）
内部での動作を説明する。Ｘアドレス比較器６２は、Ｘ
アドレスカウンタ６１から入力されたＸアドレスカウン
タ値６１ａとＣＰＵ６から入力されたアドレス信号６ｂ
のＸ方向アドレスデータ６ｂ１とを比較し、比較結果で
あるＸアドレスデータ６２ａをＡＮＤ回路６５へ出力す
る。Ｙアドレス比較器６４は、Ｙアドレスカウンタ６３
から入力されたＹアドレスカウンタ値６３ａとＣＰＵ６
から入力されたアドレス信号６ｂのＹ方向アドレスデー
タ６ｂ２とを比較し、比較結果であるＹアドレスデータ
６４ａをＡＮＤ回路６５へ出力する。ＡＮＤ回路６５
は、Ｘアドレス比較器６２から入力されたＸアドレスデ
ータ６２ａとＹアドレス比較器６４から入力されたＹア
ドレスデータ６４ａとが一致した場合、アドレス一致信
号６５ａをスイッチ回路６６へ出力する。スイッチ回路
６６は、ＡＮＤ回路６５から入力されたアドレス一致信
号６５ａにより制御され、ＡＤ変換器３から入力された
ディジタル映像信号３ａの所要のアドレスのディジタル
映像信号５ａを１画素のディジタル映像信号５ａとして
ＣＰＵ６へ出力している。

【０００６】ＣＰＵ６は、１画素レベル検出部５から入
力された１画素のディジタル映像信号５ａの出力レベル
を、あらかじめ制御プログラムに設定し記憶してあるし
きい値と比較を行ない、入力された１画素のディジタル
映像信号５ａの出力レベルが、設定したしきい値を越え
る場合は、この１画素のディジタル映像信号５ａを出力
した固体撮像素子１上の画素が欠陥画素であると判定す
る。また、ＣＰＵ６は、１画素レベル検出部５から入力
された１画素のディジタル映像信号５ａの出力レベルか
ら、この１画素のディジタル映像信号５ａを出力した固
体撮像素子１上の画素が欠陥画素であると判定した場
合、ＣＰＵ６の内部に持つＲＡＭに欠陥画素のＸ方向、
Ｙ方向のアドレスデータと、出力レベルを記憶する。前
述の欠陥画素の判定、ついで、欠陥画素であると判定し
た場合のＣＰＵ６の内部に持つＲＡＭに欠陥画素のＸ方
向、Ｙ方向のアドレスデータと出力レベルとを記憶する
という手順を、固体撮像素子１を構成するすべての画素
から出力された映像信号について順次行なう。固体撮像
素子１を構成するすべての画素について判定が終了後、
ＣＰＵ６の内部に持つＲＡＭに記憶された欠陥画素のＸ
方向、Ｙ方向のアドレスデータと、欠陥画素から出力さ
れた映像信号の出力レベルとを、欠陥画素データ６Ｃと
して欠陥画素データメモリ７へ転送する。欠陥画素デー
タメモリ７は、ＣＰＵ６から転送された欠陥画素データ
６Ｃの欠陥画素のＸ方向、Ｙ方向のアドレスデータと、
欠陥画素から出力された映像信号の出力レベルとを記憶
する。撮像装置は、欠陥画素データメモリ７に記憶した
欠陥画素のＸ方向、Ｙ方向のアドレスと、欠陥画素から
出力された映像信号の出力レベルとを、映像信号処理に
おいて使用し、固体撮像素子１の欠陥画素から映像信号
が出力された場合、その欠陥画素から出力された映像信
号のみ出力レベルの補正を行ない白キズの発生をなくす
ようにする。

【０００７】

【発明が解決しようとする課題】従来技術による固体撮
像素子を使用した撮像装置における固体撮像素子の欠陥
画素検出方法は、撮像装置に使用した固体撮像素子の撮
像画面を構成するすべての光電変換素子の出力レベル
を、１画素づつ順次調べる方法であるため、所要の１画
素の出力レベルを得るには１フィールド期間（約１６ｍ
ｓ）の時間が必要となることから、例えば撮像画面を構
成する画素数を３６万画素すると、全ての画素の欠陥画
素判定を行なうためには約１．６時間を要し、欠陥画素
の検出に膨大な時間を要するという問題がある。本発明
は、前記問題を解決し、固体撮像素子の欠陥画素の検出
時間を短縮した固体撮像素子の欠陥画素検出方法を提供
することを目的とする。

【０００８】

【課題を解決するための手段】前記目的を達成するため
に、本発明の固体撮像素子の欠陥画素検出方法は、撮像
装置に備える固体撮像素子で入射光を映像信号に光電変
換し、前記固体撮像素子から出力される映像信号の画素
毎の信号レベルと設定されたしきい値とを比較し、比較
された結果にもとづいて前記固体撮像素子の欠陥画素を
検出する固体撮像素子の欠陥画素検出方法において、前
記固体撮像素子に配列されている複数の画素を所要の大
きさの小ブロックに分割されるように設定し、分割設定
された各小ブロック単位で映像信号出力レベルのピーク
レベル値を検出し、検出されたピークレベル値が所定レ
ベル以上の小ブロックの１画素毎の映像信号レベルを検
出し、検出された１画素毎の映像信号レベルと設定され
たしきい値とを比較し、比較された結果にもとづいて前
記固体撮像素子の欠陥画素を検出するものである。

【０００９】また、本発明の固体撮像素子の欠陥画素検
出方法は、撮像装置に備える固体撮像素子で入射光を映
像信号に光電変換し、前記固体撮像素子から出力される
映像信号の画素毎の信号レベルと設定されたしきい値と
を比較し、比較された結果にもとづいて前記固体撮像素
子の欠陥画素を検出する固体撮像素子の欠陥画素検出方
法において、前記固体撮像素子に配列されている複数の
画素を所要の大きさの小ブロックに分割されるように設
定し、分割設定された各小ブロック単位で映像信号出力
レベルのピークレベル値を検出し、検出された各小ブロ
ック単位のピークレベル値と設定されたしきい値とを比
較し、比較された結果にもとづき欠陥画素を含む小ブロ
ックを検出し、検出された欠陥画素を含む小ブロックの
１画素毎の映像信号レベルを検出し、検出された１画素
毎の映像信号レベルと設定したしきい値とを比較し、比
較された結果にもとづいて前記固体撮像素子の欠陥画素
を検出するものである。

【００１０】さらに、詳しくは、本発明の固体撮像素子
の欠陥画素検出方法における固体撮像素子に配列されて
いる複数の画素を所要の大きさの小ブロックに分割され
るようにする設定は、前記固体撮像素子に配列されてい
る複数の画素を、所要の基準画素アドレスと、該基準画
素アドレスの基準画素を基準とする所要の水平幅の信
号、垂直幅の信号とで設定される小ブロックに分割設定
するものである。また、本発明の固体撮像素子の欠陥画
素検出方法における分割設定された各小ブロック単位で
映像信号出力レベルのピークレベル値を検出する手段
は、入力される基準画素アドレス信号から所要の水平幅
の信号と垂直幅の信号とを発生するパルス発生器と、該
パルス発生器から入力する所要の水平幅の信号と垂直幅
の信号とを論理合成し小ブロック信号を出力するＡＮＤ
回路と、入力されるディジタル映像信号と前回比較した
ディジタル映像信号のピークレベル値とを比較してより
高いピークレベル値を出力する比較器と、前記小ブロッ
ク信号と前記ピークレベル値とを論理合成しレジスタ制
御信号を出力するＡＮＤ回路と、入力されるディジタル
映像信号を前記レジスタ制御信号で制御しピークレベル
値を出力するレジスタとを有するものである。

【００１１】

【発明の実施の形態】本発明による固体撮像素子を使用
した撮像装置における固体撮像素子の欠陥画素検出方法
の実施の形態を説明する。図１は、本発明による固体撮
像素子の欠陥画素検出方法を実施した撮像装置のブロッ
ク図（図１は、固体撮像素子の欠陥画素検出方法を説明
するのに必要な撮像装置の一部のみを示している）であ
る。図１において、１は入射光を映像信号に光電変換す
る固体撮像素子、２は、ローパスフィルタと組合せて使
用して、固体撮像素子１から出力される映像信号に重畳
する雑音を低減するＣＤＳ（相関二重サンプリング）回
路、３は、ＣＤＳ回路２から出力されたアナログの映像
信号をディジタルの映像信号に変換するＡＤ変換器、４
は、固体撮像素子１の格子状に配列された複数の光電変
換素子の所要の小ブロック毎の映像信号のピークレベル
を検出する小ブロックピークレベル検出部、５は、固体
撮像素子１の格子状に配列された複数の光電変換素子の
所要の小ブロックの１画素毎の映像信号の出力レベルを
検出する１画素レベル検出部、６は、小ブロックピーク
レベル検出部４においてピークレベルを検出する所要の
小ブロックの映像信号のアドレスを制御するとともに検
出されるピークレベルの判定と、１画素レベル検出部５
における出力レベルを検出する所要の小ブロックの１画
素の映像信号のアドレスを制御するとともに検出される
出力レベルの正常か欠陥かの判定をするＣＰＵ、７は、
ＣＰＵ６で欠陥と判定した１画素の映像信号を出力した
光電変換素子の所要のデータを記憶する欠陥画素データ
メモリを示す。なお、小ブロックピークレベル検出部４
は、図２に示すように、パルス発生器２１、ＡＮＤ回路
２２、比較器２３、ＡＮＤ回路２４、レジスタ２５を備
えている。１画素レベル検出部５の構成は、従来技術の
説明において使用したものと同一であるので説明を省略
する。

【００１２】まず、本発明による固体撮像素子の欠陥画
素検出方法について、実施の形態の詳細な説明をする前
に、概略の説明をする。従来技術による固体撮像素子の
欠陥画素検出方法は、固体撮像素子の複数の画素のすべ
てについて、１画素毎の映像信号から欠陥画素の検出と
判定を行なっているが、本発明による固体撮像素子の欠
陥画素検出方法は、複数の画素のすべてを所要の複数の
小ブロックに分割し、分割した小ブロック単位で映像信
号出力のピークレベルの検出としきい値との比較を行な
い、欠陥画素を含むと推測される小ブロックを検出し、
検出した小ブロックについてのみ、１画素毎の映像信号
から欠陥画素の検出と判定を行なうものである。本発明
における小ブロックとは、図３に示すように、格子状に
配列された複数の画素（光電変換素子）３２を有する固
体撮像素子１において、所要の画素を基準画素として所
要のＸ（水平）幅、Ｙ（垂直）幅で決定する複数個の画
素の集まりが小ブロック３１である。

【００１３】欠陥画素の検出と判定を行なうに先立ち、
撮像画面を構成する複数の画素すべてを、所要の複数の
小ブロックに分割したように設定するため、小ブロック
ピークレベル検出部４において検出する映像信号の小ブ
ロックのアドレスを、ＣＰＵ６の制御プログラムに設定
する。つぎに、１つの小ブロック内の複数の画素から出
力された映像信号を小ブロックピークレベル検出部４に
より順次比較し、信号レベルが大きい場合にはその信号
レベルを保持していくことを、小ブロック内の最後の画
素の映像信号まで行なうことで、小ブロック内のピーク
レベル値４ａを検出する。この小ブロック内のピークレ
ベル検出を、分割したすべての小ブロックについて行な
う。検出した各小ブロック内のピークレベル値４ａは、
ＣＰＵ６において、あらかじめ制御プログラムにより設
定されたしきい値と比較され、欠陥画素を含むと推測さ
れる小ブロックを特定する。

【００１４】つぎに、欠陥画素を含むと推測される小ブ
ロックが特定された場合、１画素レベル検出部５によ
り、欠陥画素を含むと推測された小ブロック内の複数の
画素のすべての画素の出力レベル５ａを１画素毎に検出
し、ＣＰＵ６で検出結果としきい値とを比較して、その
大小により欠陥画素の判定を行なう。ＣＰＵ６は、検出
結果としきい値との差が所定の値より大きかった場合、
この映像信号を出力した画素を欠陥画素と判定する。Ｃ
ＰＵ６により欠陥画素と判定された場合には、ＣＰＵ６
の内部に持つＲＡＭに欠陥画素のＸ方向、Ｙ方向のアド
レスと出力レベルとを記憶する。上述の手順を、分割し
たすべての小ブロックについて行ない、その後、ＣＰＵ
６の内部に持つＲＡＭに記憶された欠陥画素のＸ方向、
Ｙ方向のアドレスと出力レベルとを欠陥画素データ６Ｃ
として欠陥画素データメモリ７へ転送し、欠陥画素デー
タメモリ７に記憶する。

【００１５】本発明による固体撮像素子の欠陥画素検出
方法を、実施例により詳細に説明する。なお、ＣＰＵ６
の動作フローチャートを図８に示してある。本実施例で
は、図４に示すようにＸ方向３２画素×Ｙ方向３０画素
で構成する固体撮像素子１を想定し、この固体撮像素子
１のすべての画素を、６０個の小ブロック（１個の小ブ
ロックは、Ｘ幅１６画素、Ｙ幅１画素の計１６画素とす
る）に分割する設定の場合について説明する。まず、固
体撮像素子１のすべての画素を、Ｘ幅１６画素、Ｙ幅１
画素で６０個の小ブロック４１に分割したように設定す
る各小ブロックの基準画素のアドレスを設定した基準画
素アドレス信号６ａ（図１参照）をＣＰＵ６から小ブロ
ックピークレベル検出部４へ出力するように、ＣＰＵ６
の制御プログラムを設定する。（図８、ステップ８１参
照）

【００１６】ＣＰＵの制御プログラムに前記設定がなさ
れている撮像装置に入射した所定の照度の入射光は、固
体撮像素子１に入射され、固体撮像素子１で映像信号に
光電変換されて、ＣＤＳ回路２へ出力される。ＣＤＳ回
路２は、固体撮像素子１から入力された映像信号に重畳
している雑音を除去し、雑音を除去した映像信号を、Ａ
Ｄ変換器３へ出力する。ＡＤ変換器３は、入力されたア
ナログの映像信号をディジタル信号に変換し、ディジタ
ル映像信号３ａを小ブロックピークレベル検出部４と１
画素レベル検出部５とその他の回路とへ出力する。小ブ
ロックピークレベル検出部４は、ＡＤ変換器３から入力
されたディジタル映像信号３ａの他に、ＣＰＵ６から制
御プログラムにもとづく分割をする小ブロックの基準画
素アドレス信号６ａが入力されており、基準画素を基に
制御プログラムにより設定されたＸ幅１６画素、Ｙ幅１
画素の小ブロック４１内の複数の画素４２から出力され
た各映像信号３ａの中で、最も大きなピークレベル値４
ａを検出し、ＣＰＵ６へ出力する。（図８、ステップ８
２参照）

【００１７】ここで、さらに小ブロックピークレベル検
出部４（図２参照）内部での動作を詳細に説明する。Ｃ
ＰＵ６から入力されたすべての画素を複数の小ブロック
４１に分割をするための各小ブロックの基準画素を設定
する基準画素アドレス信号６ａは、パルス発生器２１に
入力する。パルス発生器２１は、入力した基準画素アド
レス信号６ａにより、基準画素アドレスの基準画素を基
準とする小ブロックを設定するための水平（Ｘ）幅パル
ス２１ａと垂直（Ｙ）幅パルス２１ｂとを発生し、ＡＮ
Ｄ回路２２へ出力する。ＡＮＤ回路２２は、入力された
水平幅パルス２１ａと垂直幅パルス２１ｂとにより小ブ
ロック信号２２ａを合成し、ＡＮＤ回路２４へ出力す
る。

【００１８】また、ＡＤ変換器３から入力されたディジ
タル映像信号３ａは、比較器２３とレジスタ２５とに入
力する。一方の比較器２３は、ＡＤ変換器３から入力さ
れたディジタル映像信号３ａと、レジスタ２５から入力
するレジスタ２５に保存されている前回比較したときの
ピークレベル値４ａとのピークレベルの比較を行ない、
比較した結果のピークレベル値２３ａをＡＮＤ回路２４
へ出力する。この比較器２３におけるピークレベルの比
較において、入力されたディジタル映像信号３ａ＞前回
のピーク値４ａであった場合、比較の結果、レジスタ２
５に保存するピークレベル値４ａは、ＡＤ変換器３から
入力されたディジタル映像信号３ａに更新される。この
レジスタ２５でのピークレベル値の更新は、比較器２３
から出力されたピークレベル値２３ａとＡＮＤ回路２２
から出力された小ブロック信号２２ａとがＡＮＤ回路２
４に入力されており、小ブロック信号２２ａと一致した
ときのピークレベル値２３ａによるレジスタ制御信号２
４ａがレジスタ２５へ出力されることになり、水平幅パ
ルス２１ａと垂直幅パルス２１ｂとによる小ブロックの
大きさを持ち、かつ、ＣＰＵ６から指定された基準画素
アドレスを基準画素とする小ブロック４１内の各画素の
中のピークレベル値についてのみ行なわれる。上述のよ
うにして、設定された小ブロック４１内の全画素のピー
クレベル値の比較が終了すると、レジスタ２５に設定さ
れた小ブロック４１内のピークレベル値４ａが記憶され
る。

【００１９】この小ブロック４１内の全画素についてピ
ークレベル検出に要する時間は、小ブロック４１内に何
個の画素があっても小ブロック１個当たり１フィールド
期間(約１６ｍｓ)で終了することになる。検出した小ブ
ロック４１内のピークレベル値４ａは、ＣＰＵ６に入力
され、あらかじめ制御プログラムで設定した所定のしき
い値（例えば、Ｌ１とする）と比較され（図８、ステッ
プ８３参照）、この小ブロック４１が欠陥画素を含むか
どうかの判定（ピークレベル値４ａ−しきい値Ｌ１）が
行なわれる。（図８、ステップ８４参照）

【００２０】欠陥画素検出中の各小ブロック４１内のい
ずれかに欠陥画素を含むと判定された場合、欠陥画素を
含むと判定された小ブロック４１内のすべての画素につ
いて、１画素レベル検出部５において１画素毎に順次映
像信号レベルを検出し、正常か欠陥かの判定を行なう。
（図８、ステップ８５参照）１画素レベル検出部５に
は、ディジタル映像信号３ａの他に、固体撮像素子１上
の欠陥画素を含むと判定された小ブロック４１内の１画
素のアドレスを指定するアドレス信号６ｂ（Ｘ方向、Ｙ
方向のアドレスで、例えばＸ方向アドレスを上位デー
タ、Ｙ方向アドレスを下位データとする）が、制御プロ
グラムで制御されているＣＰＵ６から入力されている。
１画素レベル検出部５は、欠陥画素を含むと判定された
小ブロック４１内の複数の画素の出力レベルを順次１画
素づつ検出し、検出した１画素のディジタル映像信号５
ａをＣＰＵ６に入力し、あらかじめ制御プログラムで設
定してある所定のしきい値（例えば、Ｌ２とする）と比
較し（図８、ステップ８６参照）、この画素が欠陥か正
常かの判定（小ブロック内の１画素の出力レベル−しき
い値Ｌ２）を行ない、欠陥画素の特定をする。

【００２１】ＣＰＵ６は、１画素レベル検出部５から入
力された小ブロック４１内の１画素のディジタル映像信
号５ａの出力レベルから、この１画素のディジタル映像
信号５ａを出力した固体撮像素子１上の画素が欠陥画素
であると判定した場合、ＣＰＵ６の内部に持つＲＡＭに
欠陥画素のＸ方向、Ｙ方向のアドレスデータと、出力レ
ベルを記憶する。前述の判定の手順を、分割したすべて
の小ブロック４１に対して行い、すべての小ブロック４
１に対して判定の終了後、ＣＰＵ６の内部に持つＲＡＭ
に記憶された欠陥画素のＸ方向、Ｙ方向のアドレスデー
タと欠陥画素から出力された映像信号の出力レベルと
を、欠陥画素データ６Ｃとして欠陥画素データメモリ７
に転送する。欠陥画素データメモリ７は、ＣＰＵ６から
転送された欠陥画素データ６Ｃの欠陥画素のＸ方向、Ｙ
方向のアドレスデータと欠陥画素から出力された映像信
号の出力レベルを記憶する。（図８、ステップ８８参
照）撮像装置は、欠陥画素データメモリ７に記憶した欠
陥画素のＸ方向、Ｙ方向のアドレスと、欠陥画素から出
力された映像信号の出力レベルとを、映像信号処理にお
いて使用し、固体撮像素子１の欠陥画素から映像信号が
出力された場合、その欠陥画素から出力された映像信号
のみ出力レベルの補正を行ない白キズの発生をなくすよ
うにする。

【００２２】なお、本実施例では、小ブロック４１の大
きさを１６×１画素として説明したが、例えば３２×１
画素や１６×４画素等、小ブロックの大きさを変えて
も、同様に欠陥画素の検出を行うことができることは言
うまでもない。本発明によれば、欠陥画素の検出は、ま
ず小ブロック単位のピークレベル検出で欠陥画素を含む
小ブロックを推測し、その小ブロックのみを１画素毎の
詳細な検出を行って欠陥画素を特定するので、撮像画面
を構成する全ての画素を１画素毎に検出していく従来の
方法よりも、短時間で欠陥画素の検出を行うことができ
る。本発明による固体撮像素子の欠陥画素検出方法を使
用し、検出に要する時間は、例えば固体撮像素子の画素
数を３６万画素とした場合、約６．２分である。なお、
上述の説明において、本発明の固体撮像素子の欠陥画素
検出方法は、固体撮像素子を使用した撮像装置に実施し
た例で説明したが、固体撮像素子の検査装置にも適用で
きるものである。

【００２３】

【発明の効果】本発明によれば、固体撮像素子の欠陥画
素の検出時間を短縮した固体撮像素子の欠陥画素検出方
法を提供することができる。

【図面の簡単な説明】

【図１】本発明による固体撮像素子の欠陥画素検出方法
を使用した撮像装置のブロック図。

【図２】本発明による固体撮像素子の欠陥画素検出方法
を使用した撮像装置を構成する小ブロックピークレベル
検出部のブロック図。

【図３】本発明による固体撮像素子の欠陥画素検出方法
における固体撮像素子を構成する画素と小ブロックとの
関係を説明する図。

【図４】本発明による固体撮像素子の欠陥画素検出方法
における固体撮像素子を構成する画素と小ブロックとの
関係を示す図。

【図５】従来技術による固体撮像素子の欠陥画素検出方
法を使用した撮像装置のブロック図。

【図６】固体撮像素子の欠陥画素検出方法を使用した撮
像装置を構成する１画素レベル検出部のブロック図。

【図７】固体撮像素子の構成説明図。

【図８】本発明による固体撮像素子の欠陥画素検出方法
を使用した撮像装置を構成するＣＰＵの動作を示すフロ
ーチャート。

【符号の説明】

１…固体撮像素子、２…ＣＤＳ回路、３…ＡＤ変換器、
４…小ブロックピークレベル検出部、５…１画素レベル
検出部、６…ＣＰＵ、７…欠陥画素データメモリ、２１
…パルス発生器、２２、２４、６５…ＡＮＤ回路、２３
…比較器、２５…レジスタ、６１…Ｘアドレスカウン
タ、６２…Ｘアドレス比較器、６３…Ｙアドレスカウン
タ、６４…Ｙアドレス比較器、６６…スイッチ回路。 ３ａ…ディジタル映像信号、４ａ…ピークレベル値、５
ａ…１画素のディジタル映像信号、６ａ…基準画素アド
レス信号、６ｂ…アドレス信号、６Ｃ…欠陥画素デー
タ。

Claims (4)

【特許請求の範囲】
1. 【請求項１】 撮像装置に備える固体撮像素子で入射光
   を映像信号に光電変換し、前記固体撮像素子から出力さ
   れる映像信号の画素毎の信号レベルと設定されたしきい
   値とを比較し、比較された結果にもとづいて前記固体撮
   像素子の欠陥画素を検出する固体撮像素子の欠陥画素検
   出方法において、 前記固体撮像素子に配列されている複数の画素を所要の
   大きさの小ブロックに分割されるように設定し、分割設
   定された各小ブロック単位で映像信号出力レベルのピー
   クレベル値を検出し、 検出されたピークレベル値が所定レベル以上の小ブロッ
   クの１画素毎の映像信号レベルを検出し、検出された１
   画素毎の映像信号レベルと設定されたしきい値とを比較
   し、比較された結果にもとづいて前記固体撮像素子の欠
   陥画素を検出することを特徴とする固体撮像素子の欠陥
   画素検出方法。
2. 【請求項２】 撮像装置に備える固体撮像素子で入射光
   を映像信号に光電変換し、前記固体撮像素子から出力さ
   れる映像信号の画素毎の信号レベルと設定されたしきい
   値とを比較し、比較された結果にもとづいて前記固体撮
   像素子の欠陥画素を検出する固体撮像素子の欠陥画素検
   出方法において、 前記固体撮像素子に配列されている複数の画素を所要の
   大きさの小ブロックに分割されるように設定し、分割設
   定された各小ブロック単位で映像信号出力レベルのピー
   クレベル値を検出し、 検出された各小ブロック単位のピークレベル値と設定さ
   れたしきい値とを比較し、比較された結果にもとづき欠
   陥画素を含む小ブロックを検出し、 検出された欠陥画素を含む小ブロックの１画素毎の映像
   信号レベルを検出し、検出された１画素毎の映像信号レ
   ベルと設定したしきい値とを比較し、比較された結果に
   もとづいて前記固体撮像素子の欠陥画素を検出すること
   を特徴とする固体撮像素子の欠陥画素検出方法。
3. 【請求項３】 請求項１および請求項２記載のものにお
   いて、 固体撮像素子に配列されている複数の画素を所要の大き
   さの小ブロックに分割されるようにする設定は、 前記固体撮像素子に配列されている複数の画素を、所要
   の基準画素アドレスと、該基準画素アドレスの基準画素
   を基準とする所要の水平幅の信号、垂直幅の信号とで設
   定される小ブロックに分割設定するものであることを特
   徴とする固体撮像素子の欠陥画素検出方法。
4. 【請求項４】 請求項１および請求項２記載のものにお
   いて、 分割設定された各小ブロック単位で映像信号出力レベル
   のピークレベル値を検出する手段は、 入力される基準画素アドレス信号から所要の水平幅の信
   号と垂直幅の信号とを発生するパルス発生器と、 該パルス発生器から入力する所要の水平幅の信号と垂直
   幅の信号とを論理合成し小ブロック信号を出力するＡＮ
   Ｄ回路と、 入力されるディジタル映像信号と前回比較したディジタ
   ル映像信号のピークレベル値とを比較してより高いピー
   クレベル値を出力する比較器と、 前記小ブロック信号と前記ピークレベル値とを論理合成
   しレジスタ制御信号を出力するＡＮＤ回路と、 入力されるディジタル映像信号を前記レジスタ制御信号
   で制御しピークレベル値を出力するレジスタとを有する
   ものであることを特徴とする固体撮像素子の欠陥画素検
   出方法。