JP2006345279A - 固体撮像素子の画素欠陥検出方法 - Google Patents
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Abstract
【解決手段】 複数の光電変換素子にそれぞれ蓄積された信号電荷を電荷転送路に取り出して出力する固体撮像素子に対し、所定光量の照明光で撮像して撮像画像信号を生成し、この撮像画像信号が所定レベル以下の画素を画素欠陥を含む画素として検出する固体撮像素子の画素欠陥検出方法であって、所定光量の照明光による撮像画像信号に加えて、この所定光量よりも低い光量の照明光で撮像した撮像画像信号を用いて画素欠陥を含む画素を検出するようにした。
【選択図】 図1
Description
ところが、CCD製造メーカで画素欠陥の検出を行う際、ノイズの影響を受けてしまうと欠陥の情報量が多くなりすぎてしまい、隣接した位置に欠陥画素が生じる確率が増加し、この欠陥画素を補正しようとした場合に、補正ができなくなってしまう可能性がある。それに加え、特許文献1に開示されているように、欠陥画素情報をROM等の不揮発性メモリに記憶させ、その情報を参照して欠陥画素補正を行う場合に、欠陥画素情報が多すぎると大容量のメモリを必要としてしまう不利がある。
上記の理由により、一般的に、ノイズの影響を少なくするため比較的高い信号レベルで欠陥画素の検出を行っている。例えば、CCDの各画素のフォトダイオードに対する電荷飽和レベルの1/3〜1/2の信号量を出力させるように光量を調整している。
しかしながら、従来のように信号レベルが高い状態でのみ画素欠陥の検出を行ったのでは、このような連続した画素欠陥である連続傷は検出されにくいので、その画素欠陥に対する欠陥画素の補正処理の対象とならない。その結果、信号の高い場合は補正の効いている固体撮像素子の出力画像を得られるが、信号の低い場合の出力画像データとしては、補正の効いていない劣化した画像しか得られないことになる。
(1)複数の光電変換素子にそれぞれ蓄積された信号電荷を電荷転送路に取り出して出力する固体撮像素子に対し、所定光量の照明光で撮像して撮像画像信号を生成し、この撮像画像信号が所定レベル以下の画素を画素欠陥を含む画素として検出する固体撮像素子の画素欠陥検出方法であって、前記所定光量の照明光による撮像画像信号に加えて、前記所定光量よりも低い光量の照明光で撮像した撮像画像信号を用いて画素欠陥を含む画素を検出することを特徴とする固体撮像素子の画素欠陥検出方法。
図1は本発明の画素欠陥検出方法を実施するための画素欠陥検査装置の概略構成を示したブロック図である。
画素欠陥検査装置100は、被検査対象となるCCD11を駆動する駆動回路13と、CCD11による撮像に際し、照明等の撮像条件を設定する撮像条件設定部15と、CCD11により撮像信号をデジタル信号に変換するA/D変換部17と、デジタル信号化された撮像画像信号に対して画素欠陥を検出するための所定の処理を行う演算部19と、検出された画素欠陥の位置情報を記憶する欠陥画素情報記憶部21と、上記各部を制御して画素欠陥の検出結果を出力する制御部23と、を有している。
撮像条件設定部15は、CCD11の照明用光源を有し、制御部23からの指令に基づいて照明用光源を所定の光量で発光させ、CCD11を照明する。
演算部19は、CCD11により撮像されて出力された撮像画像信号がA/D変換された後、例えば8bit階調のデジタル画像データとされて入力されてきたとき、この画像データを画像処理することで、階調値が所定のレベル以下の画素を抽出して、その画素情報を欠陥画素情報記憶部21に出力する。
図2は本発明に係る画素欠陥検出方法の一例を示すフローチャートである。
画素欠陥検出方法を図2に基づいて順次説明するが、本画素欠陥検出方法は、本例の手順に限定されることなく、適宜な変更が可能である。
まず、制御部23は、撮像条件設定部15に所定の光量でCCD11を照明させる(ステップ1、以降はS1と略記する)。ここでいう所定の光量とは、CCD11からの出力信号量が、CCD各画素のフォトダイオードに対する電荷飽和レベルの30〜50%の範囲となる照明光量である。そして、駆動回路13によりCCD11へ撮像信号を送り、CCD11が撮像する(S2)。この撮像により得られる撮像画像データから、階調値が所定レベル以下の低レベル画素を抽出する(S3)。この抽出された低レベル画素の階調値及び画素位置等の画素情報は、欠陥画素情報記憶部21に出力され保存される。
ここで、上述し画素欠陥の検出手順は一例であって、例えば、CCDからの出力信号が高レベルの場合と低レベルの場合とで連続して撮像し、その後、各撮像画像を処理して画素欠陥を検出することでもよい。また、高レベルと低レベルの2つのレベルに限らず、任意の複数段階に設定して画素欠陥を検出するようにしてもよい。また、出力信号レベルを調整する際は、照明光量だけでなく電子シャッタを用いて調整してもよい。
13 駆動回路
15 撮像条件設定部
17 A/D変換部
19 演算部
21 欠陥画素情報記憶部
23 制御部
25 撮像領域
27 水平電荷転送路
29 出力アンプ部
100 画素欠陥検査装置
Claims (2)
- 複数の光電変換素子にそれぞれ蓄積された信号電荷を電荷転送路に取り出して出力する固体撮像素子に対し、所定光量の照明光で撮像して撮像画像信号を生成し、この撮像画像信号が所定レベル以下の画素を画素欠陥を含む画素として検出する固体撮像素子の画素欠陥検出方法であって、
前記所定光量の照明光による撮像画像信号に加えて、前記所定光量よりも低い光量の照明光で撮像した撮像画像信号を用いて画素欠陥を含む画素を検出することを特徴とする固体撮像素子の画素欠陥検出方法。 - 前記検出される複数の画素のうち、互いに連続した位置関係にある画素群のみを画素欠陥として登録し、孤立した画素は画素欠陥から除外することを特徴とする請求項1記載の固体撮像素子の画素欠陥検出方法。
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