JPH11183323A - 欠陥画素検出装置、欠陥画素検出方法、撮像装置、撮像方法および記憶媒体 - Google Patents

Abstract

(57)【要約】 【課題】 均一な光量の照明を使用することなく欠陥画
素を検出できるようにする。 【解決手段】 複数の画素を有する固体撮像素子１１を
所定方向に所定量だけ移動させる移動手段１３と、前記
固体撮像素子１１の撮像動作を制御して画像情報を生成
させる撮像制御手段１４と、前記固体撮像素子１１から
出力される画像情報をもとにして前記固体撮像素子の欠
陥位置を検出する欠陥位置検出手段２０とを設け、欠陥
画素検出装置の構成を簡素化するとともに、正確な欠陥
画素検出を行うことができるようにする。

Description

【発明の詳細な説明】

【０００１】

【発明の属する技術分野】本発明は、欠陥画素検出装
置、欠陥画素検出方法、撮像方法、撮像装置および記憶
媒体に関し、特に、欠陥画素を有する固体撮像素子の欠
陥画素の位置を検出する装置、光応答の特異な欠陥画素
の位置を検出する装置に関するものである。

【０００２】

【従来の技術】ビデオカメラや電子スチルカメラなどに
用いられるＣＣＤ等の固体撮像素子は、その製造過程に
おいて複数の欠陥画素を生じる。そのため、欠陥画素の
出力を前置画素と置換したり、または欠陥画素が接する
周囲画素の平均値で置換して欠陥の無い画像を出力する
ようにしていた。

【０００３】これらの欠陥には、おもに暗電流の応答が
その周囲の画素より高いために白点を生じる白欠陥や、
画素の光応答がその周囲の画素より低いために黒点を生
じる黒欠陥等がある。

【０００４】従来より、これら欠陥画素の検出には、固
体撮像素子内や周辺画素の平均値に一定の幅をもたせた
閾値と比較して、その値に対して特異なレベルを出力す
る画素を欠陥画素として検出していた。

【０００５】

【発明が解決しようとする課題】前記のような欠陥画素
の検出方法では、光応答が特異な欠陥を検出するために
均一な光量の照明を必要とし、その照明に斑等の異常が
生じた場合には、正常な画素であるにもかかわらず、欠
陥と判定されてしまうことがあった。

【０００６】本発明は前述の問題点にかんがみ、均一な
光量の照明を使用することなく欠陥画素を高精度に検出
できるようにすることを目的とする。

【０００７】

【課題を解決するための手段】前記目的を達成するため
に、本発明に関わる欠陥画素検出装置は、複数の画素を
有する固体撮像素子の欠陥画素を検出する欠陥画素検出
装置であって、前記固体撮像素子を所定方向に所定量だ
け移動させる移動手段と、前記固体撮像素子の撮像動作
を制御して画像情報を生成させる撮像制御手段と、前記
固体撮像素子から出力される画像情報をもとにして前記
固体撮像素子の欠陥位置を検出する欠陥位置検出手段と
を有することを特徴としている。

【０００８】また、本発明の欠陥画素検出装置の他の特
徴とするところは、複数の画素を有する固体撮像素子の
欠陥画素を検出する欠陥画素検出装置であって、前記固
体撮像素子を所定方向に所定量だけ移動させる移動手段
と、前記移動手段によって移動される固体撮像素子の撮
像動作を制御して複数の画像情報を生成させる撮像制御
手段と、前記固体撮像素子が出力する複数の画像情報を
処理する信号処理手段と、前記信号処理手段から出力さ
れる画像情報を記憶する画像情報記憶手段と、前記画像
情報記憶手段から読み出された複数の画像情報をもとに
前記固体撮像素子の欠陥位置を検出する欠陥位置検出手
段とを有することを特徴としている。

【０００９】また、本発明の欠陥画素検出装置の他の特
徴とするところは、前記欠陥位置検出手段は、前記画像
情報記憶手段に記憶された画像情報をもとに、前記固体
撮像素子の欠陥候補を選定する欠陥候補選定手段と、前
記欠陥候補選定手段が選定した欠陥候補情報を記憶する
欠陥候補情報記憶手段と、前記欠陥候補情報記憶手段の
欠陥候補情報をもとに、前記固体撮像素子の欠陥位置を
決定する欠陥位置決定手段と、前記欠陥位置決定手段が
決定した前記固体撮像素子の欠陥位置を記憶する欠陥位
置記憶手段とを有することを特徴としている。

【００１０】また、本発明の欠陥画素検出装置の他の特
徴とするところは、前記欠陥候補選定手段が選定した欠
陥候補情報をもとに前記移動手段の移動方向および移動
量を決定する移動量方向決定手段を有することを特徴と
している。

【００１１】また、本発明の撮像装置は、複数の画素を
有する固体撮像素子と、前記固体撮像素子を所定方向に
所定量だけ移動させる移動手段と、前記移動手段によっ
て移動させられる固体撮像素子の撮像動作を制御して画
像情報を生成させる撮像制御手段と、前記移動手段によ
り前記固体撮像素子を移動させながら取り込んだ複数の
画像情報をもとにして前記固体撮像素子の欠陥位置を検
出して欠陥位置情報を出力する欠陥位置検出手段と、前
記欠陥位置検出手段から出力される欠陥位置情報をもと
に、前記固体撮像素子により生成された画像情報に基づ
いて欠陥画素を補正する欠陥画素補正手段とを有するこ
とを特徴としている。

【００１２】また、本発明の撮像装置の他の特徴とする
ところは、複数の画素を有する固体撮像素子と、前記固
体撮像素子を所定方向に所定量だけ移動させる移動手段
と、前記移動手段によって移動される固体撮像素子の撮
像動作を制御して複数の画像情報を生成させる撮像制御
手段と、前記固体撮像素子が出力する画像情報を処理す
る信号処理手段と、前記信号処理手段が出力した画像情
報を記憶する画像情報記憶手段と、前記移動手段により
前記固体撮像素子を移動させながら取り込んだ複数の画
像情報をもとに前記固体撮像素子の欠陥位置を検出する
欠陥位置検出手段と、前記欠陥位置検出手段から出力さ
れる欠陥位置情報をもとに、前記固体撮像素子により生
成された画像情報に基づいて欠陥画素を補正する欠陥画
素補正手段とを有することを特徴としている。

【００１３】また、本発明の撮像装置のその他の特徴と
するところは、前記欠陥位置検出手段は、前記画像情報
記憶手段に記憶された画像情報をもとに、前記固体撮像
素子の欠陥候補を選定する欠陥候補選定手段と、前記欠
陥候補選定手段が選定した欠陥候補情報を記憶する欠陥
候補情報記憶手段と、前記欠陥候補情報記憶手段の欠陥
候補情報をもとに、前記固体撮像素子の欠陥位置を決定
する欠陥位置決定手段と、前記欠陥位置決定手段が決定
した前記固体撮像素子の欠陥位置を記憶する欠陥位置記
憶手段とを有することを特徴としている。

【００１４】また、本発明の撮像装置のその他の特徴と
するところは、前記欠陥候補選定手段が選定した欠陥候
補情報をもとに前記移動手段の移動方向および移動量を
決定する移動量方向決定手段を有することを特徴として
いる。

【００１５】また、本発明の欠陥画素検出方法の特徴と
するところは、複数の画素を有する固体撮像素子を用い
る欠陥画素検出方法であって、前記固体撮像素子を所定
方向に所定量だけ移動させる移動処理と、前記移動処理
によって移動される固体撮像素子の撮像動作を制御して
複数の画像情報を生成させる撮像制御処理と、前記撮像
制御処理により生成した複数の画像情報をもとにして前
記固体撮像素子の欠陥位置を検出する欠陥位置検出処理
とを行うことを特徴としている。

【００１６】また、本発明の欠陥画素検出方法の他の特
徴とするところは、複数の画素を有する固体撮像素子を
用いる欠陥画素検出方法であって、前記固体撮像素子を
所定方向に所定量だけ移動させる移動処理と、前記固体
撮像素子の撮像動作を制御する撮像処理と、前記固体撮
像素子が出力する画像情報を処理する信号処理と、前記
信号処理された画像情報を記憶する画像情報記憶処理
と、前記移動処理により前記固体撮像素子を移動させな
がら、取り込んだ複数の画像情報をもとに前記固体撮像
素子の欠陥位置を検出する欠陥位置検出処理とを行うこ
とを特徴としている。

【００１７】また、本発明の欠陥画素検出方法のその他
の特徴とするところは、前記欠陥位置検出処理は、前記
画像情報記憶処理の画像情報をもとに、前記固体撮像素
子の欠陥候補を選定する欠陥候補選定処理と、前記欠陥
候補選定処理が選定した欠陥候補情報を記憶する欠陥候
補情報記憶処理と、前記欠陥候補情報記憶処理の欠陥候
補情報をもとに、前記固体撮像素子の欠陥位置を決定す
る欠陥位置決定処理と、前記欠陥位置決定処理が決定し
た前記固体撮像素子の欠陥位置を記憶する欠陥位置記憶
処理とを行うことを特徴としている。

【００１８】また、本発明の欠陥画素検出方法のその他
の特徴とするところは、前記欠陥候補選定処理が選定し
た欠陥候補情報をもとに前記移動処理の移動方向および
移動量を決定する移動量方向決定処理を有することを特
徴としている。

【００１９】また、本発明の撮像方法の特徴とするとこ
ろは、複数の画素を有する固体撮像素子を所定方向に所
定量だけ移動させる移動処理と、前記移動処理によって
移動させられる固体撮像素子の撮像動作を制御して画像
情報を生成させる撮像制御処理と、前記移動処理により
前記固体撮像素子を移動させながら取り込んだ複数の画
像情報をもとにして前記固体撮像素子の欠陥位置を検出
して欠陥位置情報を出力する欠陥位置検出処理と、前記
欠陥位置検出処理から出力される欠陥位置情報をもと
に、前記固体撮像素子により生成された画像情報に基づ
いて欠陥画素を補正する欠陥画素補正処理とを行うこと
を特徴としている。

【００２０】また、本発明の撮像方法の他の特徴とする
ところは、複数の画素を有する固体撮像素子と、前記固
体撮像素子を所定方向に所定量だけ移動させる移動処理
と、前記移動処理によって移動される固体撮像素子の撮
像動作を制御して複数の画像情報を生成させる撮像制御
処理と、前記固体撮像素子が出力する画像情報を処理す
る信号処理と、前記信号処理が出力した画像情報を記憶
する画像情報記憶処理と、前記移動処理により前記固体
撮像素子を移動させながら取り込んだ複数の画像情報を
もとに前記固体撮像素子の欠陥位置を検出する欠陥位置
検出処理と、前記欠陥位置検出処理から出力される欠陥
位置情報をもとに、前記固体撮像素子により生成された
画像情報に基づいて欠陥画素を補正する欠陥画素補正処
理とを行うことを特徴としている。

【００２１】また、本発明の撮像方法の他の特徴とする
ところは、前記欠陥位置検出処理は、前記画像情報記憶
処理に記憶された画像情報をもとに、前記固体撮像素子
の欠陥候補を選定する欠陥候補選定処理と、前記欠陥候
補選定処理が選定した欠陥候補情報を記憶する欠陥候補
情報記憶処理と、前記欠陥候補情報記憶処理の欠陥候補
情報をもとに、前記固体撮像素子の欠陥位置を決定する
欠陥位置決定処理と、前記欠陥位置決定処理が決定した
前記固体撮像素子の欠陥位置を記憶する欠陥位置記憶処
理とを行うことを特徴としている。

【００２２】また、本発明の撮像方法の他の特徴とする
ところは、前記欠陥候補選定処理が選定した欠陥候補情
報をもとに前記移動処理の移動方向および移動量を決定
する移動量方向決定処理を行うことを特徴としている。

【００２３】また、本発明の記憶媒体の特徴とするとこ
ろは、前記各手段としてコンピュータに機能させるため
のプログラムを格納したことを特徴としている。

【００２４】また、本発明の記憶媒体の他の特徴とする
ところは、前記各処理の手順をコンピュータに実行させ
るためのプログラムを格納したことを特徴としている。

【００２５】

【発明の実施の形態】以下に、添付図面を参照しながら
本発明の実施の形態を詳細に説明する。図１は、本発明
の欠陥画素検出装置の構成図である。図１に示すよう
に、検査対象の固体撮像素子１１は複数のマトリクス状
に配列した受光素子からなり、移動手段１２上に配置さ
れている。

【００２６】移動手段１２は、移動制御手段１３により
その動作が制御され、固体撮像素子１１は駆動手段１４
によって駆動制御される。

【００２７】駆動手段１４は、移動制御手段１３とも結
合させており、駆動と移動のタイミングを図っている。
前記移動手段１２は、例えばボールネジをスッテッピン
グモータ、またはサーボモータで駆動させて固体撮像素
子１１を固定したテーブルを移動させる構造になってい
る。

【００２８】そして、固体撮像素子１１から出力される
信号は、信号処理手段１５によってアナログ・デジタル
（Ａ／Ｄ）変換され、撮影毎に第１の画像記憶手段１６
ａ、第２の画像記憶手段１６ｂにそれぞれ記憶される。
なお、本実施の形態では、２個の画像記憶手段を図示し
ているが、もちろんこの数に限定することはなく、複数
の画像を記憶できる所定の容量があればよい。この第１
および第２の画像記憶手段１６ａ、１６ｂは具体的には
ＲＡＭやＨＤのような読書き可能な記憶媒体である。

【００２９】固体撮像素子１１の欠陥画素を検出する欠
陥画素検出手段１７は、例えば、欠陥候補選定手段１８
と第１の欠陥候補情報記憶手段１９ａ、第２の欠陥候補
情報記憶手段１９ｂと、欠陥位置決定手段２０、および
欠陥位置記憶手段２１からなる。ここでは、これらで構
成される欠陥画素検出手段１７について説明する。

【００３０】欠陥候補選定手段１８は、前述の第１の画
像記憶手段１６ａ、第２の画像記憶手段１６ｂに記憶さ
れた画像をそれぞれ対応する画素毎に比較して、固体撮
像素子１１の欠陥画素候補を選定する。

【００３１】この選定過程で出力される演算出力は、第
１の欠陥候補情報記憶手段１９ａ、第２の欠陥候補情報
記憶手段１９ｂに記憶される。欠陥位置決定手段２０
は、第１の欠陥候補情報記憶手段１９ａ、第２の欠陥候
補情報記憶手段１９ｂにそれぞれ記憶された欠陥候補情
報をもとに、対応した画素毎をそれぞれ比較すること
で、欠陥画素の位置を決定する。

【００３２】ここで決定された欠陥画素の位置は、欠陥
位置記憶手段２１に記憶される。この欠陥位置記憶手段
２１に記憶された欠陥位置情報は、例えばＲＯＭ焼き付
け装置等の出力装置に出力することも可能である。

【００３３】ここで、欠陥画素の検出方法を図２を用い
て詳しく説明する。図２（Ａ）は、５×５の受光素子を
マトリクス状に配置した固体撮像素子１１の出力を図示
したもので、図中の網点部は固体撮像素子１１の欠陥画
素の出力を示している。

【００３４】ここでは、説明を容易にするために欠陥画
素を網点で示しているが、実際には欠陥画素の位置はこ
の時点ではわかっていない。この出力画像を、例えば第
１の画像記憶手段１６ａに保存する。ちなみに、左上の
黒点は画像の原点を理解しやすくするために記したもの
である。

【００３５】次に、図２（Ｂ）に示すように、例えば１
画素分、固体撮像素子１１を右に移動させて画像を取得
すると、図２（Ａ）の座標より右に１画素分ずれた画像
となる。同様にこの画像を、例えば第２の画像記憶手段
１６ｂに保存する。これら２つの画像を対応する画素毎
に差分を取ると、図２（Ｃ）に示すように、欠陥画素に
対応した画素の位置に特異な値を示す画像が得られる。
この画像を、例えば第１の欠陥候補情報記憶手段１９ａ
に保存する。

【００３６】今度は、図２（Ｄ）に示すように、例えば
１画素分だけ固体撮像素子１１を左に移動させて画像を
取得すると、図２（Ａ）の座標より左に１画素分ずれた
画像となる。この画像を、例えば第２の画像記憶手段１
６ｂに上書き保存する。

【００３７】この画像と、既に取得している図２（Ａ）
の画像とを対応する画素毎に差分を取ると、図２（Ｅ）
に示すように、欠陥画素に対応した画素の位置に特異な
値を示す画像が得られる。この画像を、例えば第２の欠
陥候補情報記憶手段１９ｂに保存する。

【００３８】第１の欠陥候補情報記憶手段１９ａと第２
の欠陥候補情報記憶手段１９ｂに保存された画像、ここ
では図２（Ｃ）と（Ｅ）とを対応する画像毎に論理積を
とると、図２（Ｆ）に示すように、欠陥画素を検出する
ことができる。検出された欠陥の位置は、欠陥位置記憶
手段２１に記憶される。

【００３９】また、例えば、図３（Ａ）に示すように、
連続して欠陥画素が存在する場合は、図３（Ｂ）に示す
ように欠陥画素が連続する方向に固体撮像素子１１を移
動させた場合は、図３（Ｃ）に示すように、網点部は特
異な値を示すが、その間の画素は欠陥画素値同士の差分
を取ったために特異な値を示さないことがある。

【００４０】また、図３（Ｄ）に示すように、逆方向に
移動させたときも図３（Ｅ）に示すように、欠陥画素値
同士の差分を取ったために同様に特異な値を示さない場
合がある。図３（Ｃ）と図３（Ｅ）との論理積をとって
も欠陥画素の位置を特定することはできない。

【００４１】そこで、論理和をとって、図３（Ｆ）に示
すような欠陥画素候補画像として、例えば第１の欠陥候
補情報記憶手段１９ａに保存しておく。

【００４２】次に、図３（Ｇ）に示すように、図３
（Ｂ）と図３（Ｄ）とは異なる方向に移動させて、この
画像と既に取得している図２（Ａ）の画像とを対応する
画素毎に差分を取ると、図２（Ｈ）に示すように、欠陥
画素に対応した画素の位置に特異な値を示す画像が得ら
れる。

【００４３】この画像と先ほど保存した図３（Ｆ）との
論理積をとると、図３（Ｉ）に示すように欠陥画素を決
定することができる。このように移動量方向決定手段２
２は、それぞれの処理で検出される欠陥候補情報をもと
に検出残しがないように移動方向や移動量を決定する手
段である。移動量方向決定手段２２は、欠陥候補選定手
段１８と結合しているとともに、移動制御手段１３とも
結合して移動量と方向を指定する。

【００４４】以上の説明では、各画像を取得する回数は
特に記述しなかったが、もちろん各画像とも複数回取得
して、平均化した画像を用いて処理することで、ランダ
ムノイズの影響を低減することができる。

【００４５】また、本装置をビデオカメラ等の撮影装置
に組み込んで、工場検査時には欠陥画素ではなかった
が、その後に生じた欠陥画素を検出する装置として用い
ることも可能である。

【００４６】図４は、前述した欠陥画素検出方法の手順
を示すフローチャートである。図４に示したように、本
実施の形態の欠陥画素検出方法は、ステップＳ４１で移
動処理を行い、ステップＳ４２で撮像処理を行い、ステ
ップＳ４３で信号処理を行い、ステップＳ４４で画像情
報記憶処理を行い、ステップＳ４５で欠陥位置検出処理
を行う。

【００４７】前記移動処理は、前記固体撮像素子１１を
所定方向に所定量だけ移動させる処理である。また、前
記撮像処理は、前記固体撮像素子１１の撮像動作を制御
して画像情報を取得する処理である。

【００４８】前記信号処理は、前記固体撮像素子１１が
出力する画像情報に所定の信号処理を施す処理である。
前記画像情報記憶処理は、前記信号処理が施された画像
情報を記憶手段に記憶する処理である。

【００４９】前記欠陥位置検出処理は、前記移動処理に
より前記固体撮像素子１１を移動させながら、取り込ん
だ複数の画像情報をもとに前記固体撮像素子１１の欠陥
位置を検出する処理である。

【００５０】図５に、前記欠陥位置検出処理の詳細を示
す。図５に示したように、欠陥位置検出処理は、欠陥候
補選定処理（ステップＳ５１）、欠陥候補情報記憶処理
（ステップＳ５２）、欠陥位置決定処理（ステップＳ５
３）、欠陥位置記憶処理（ステップＳ５４）を行う。

【００５１】欠陥候補選定処理は、前記画像情報記憶処
理の画像情報をもとに、前記固体撮像素子１１の欠陥候
補を選定する。欠陥候補情報記憶処理は、前記欠陥候補
選定処理で選定した欠陥候補情報を記憶する。

【００５２】欠陥位置決定処理は、前記欠陥候補情報記
憶処理の欠陥候補情報をもとに、前記固体撮像素子１１
の欠陥位置を決定する。欠陥位置記憶処理は、前記欠陥
位置決定処理で決定した前記固体撮像素子１１の欠陥位
置を記憶する。

【００５３】また、本実施の形態においては、前記欠陥
候補選定処理で選定した欠陥候補情報をもとに前記移動
処理の移動方向および移動量を決定する移動量方向決定
処理を行っている。

【００５４】次に、図６〜図１０を参照しながら本発明
の撮像装置および撮像方法を説明する。図６は、本実施
の形態における撮像装置の要部構成を示すブロック図で
ある。なお、図６において、図１と同一の構成について
は同一の符号を付して詳細な説明を省略している。

【００５５】図６に示したように、本実施の形態の撮像
装置は、欠陥補正手段２１８を具備し、欠陥画素を補正
した画像を画像出力手段２１９に出力するようにしてい
る。前記欠陥補正手段２１８は、第１および第２の画像
記憶手段１６ａ、１６ｂに記憶された画像と、固体撮像
素子１１の欠陥画素の位置を記憶した欠陥位置記憶手段
２１に記憶された情報とをもとに、欠陥画素を補正す
る。

【００５６】以下に、欠陥画素の補正方法を、図７を用
いて説明する。図７は、５×５の受光素子をマトリクス
状に配置した固体撮像素子１１の出力を図示したもの
で、２２１、２２２は撮像素子の欠陥画素を示してい
る。

【００５７】取得した画像を補正することなく出力する
と、欠陥画素２２１、２２２の位置に欠陥を生じた画像
となる。そこで、図７（Ｂ）に示すように、例えば１画
素分、固体撮像素子１１を移動させて画像を取得する
と、前画像よりも１画素分ずれた画像となる。

【００５８】これらの２つの画像を図７（Ｃ）に示すよ
うに、一方の欠陥画素に他方の画素値を挿入すること
で、欠陥の無い画像（もとの欠陥位置を薄い網点で示し
た）を得ることができる。また、例えば欠陥の無い画素
は、図７（Ａ）と図７（Ｂ）との画素の平均値を出力す
ることで、ランダムに生じるノイズを低減することがで
きる。ただし、ここでは図７（Ｃ）において、左端の一
列の画素は、移動させたために対応する画素が存在しな
いので、そのまま画素値を出力することになる。

【００５９】図８（Ａ）に示すように欠陥画素が連続す
る場合は、図８（Ｂ）に示すように、連続する方向に固
体撮像素子１１を移動させると、図８（Ｂ）´に示すよ
うに補正しきれない部分が生じる。しかし、図８（Ｃ）
に示すように、欠陥画素と異なる方向に固体撮像素子１
１を移動させると、欠陥画素を補正することができる
（もとの欠陥位置を薄い網点で示した）。

【００６０】図６に示した移動量方向決定手段２２は、
欠陥位置記憶手段２１に記憶された欠陥位置情報を元に
固体撮像素子１１の移動量および移動方向を決定する手
段である。欠陥画素が経時的に変化することがないもの
は、移動方向および移動量をあらかじめ決定しておくこ
とができるが、経時的に欠陥画素が生じる場合等は有効
な手段として機能する。

【００６１】また、欠陥画素が複数個点在する場合は、
移動後欠陥画素が他の欠陥画素に対応しないように移動
方向および移動量を決定する。移動量方向決定手段２２
は移動制御手段１３と結合しているとともに、欠陥補正
手段２１８とも結合している。これは、移動方向および
移動量によって対応させる画素が変わるためである。

【００６２】本実施の形態の撮像装置は前述のようにし
て欠陥画素を補正するようにしたので、固体撮像素子１
１に欠陥画素があっても、それを良好に補正して欠陥の
無い画像を出力することができる。

【００６３】図９は、前述した撮像方法の手順を示すフ
ローチャートである。図９に示したように、本実施の形
態の撮像方法は、ステップＳ９１で移動処理、ステップ
Ｓ９２で撮像制御処理、ステップＳ９３で信号処理を行
い、ステップＳ９４で画像情報記憶処理、ステップＳ９
５で欠陥位置検出処理、ステップＳ９６で欠陥画素補正
処理、ステップＳ９７で欠陥補正した画像を表示する処
理を行う。

【００６４】前記移動処理は、複数の画素を有する固体
撮像素子を所定方向に所定量だけ移動させる処理であ
る。前記撮像制御処理は、前記移動処理によって移動さ
れる固体撮像素子の撮像動作を制御して複数の画像情報
を生成させる撮像制御処理である。

【００６５】前記信号処理は、前記固体撮像素子が出力
する画像情報に所定の信号処理を施すステップである。
前記画像情報記憶処理は、前記信号処理が出力した画像
情報を記憶する処理である。

【００６６】前記欠陥位置検出処理は、前記移動処理に
より前記固体撮像素子を移動させながら取り込んだ複数
の画像情報をもとに前記固体撮像素子の欠陥位置を検出
する処理である。

【００６７】また、前記欠陥画素補正処理は、前記欠陥
位置検出処理から出力される欠陥位置情報をもとに、前
記固体撮像素子により生成された画像情報に基づいて欠
陥画素を補正する処理である。

【００６８】また、前記欠陥位置検出処理は、図１０の
フローチャートに示すように、４つのステップからなっ
ている。すなわち、ステップＳ１０１で欠陥候補選定処
理を行い、ステップＳ１０２で欠陥候補情報記憶処理を
行い、ステップＳ１０３で欠陥位置決定処理を行い、ス
テップＳ１０４で欠陥位置記憶処理を行う。

【００６９】前記欠陥候補選定処理は、前記画像情報記
憶処理に記憶された画像情報をもとに、前記固体撮像素
子の欠陥候補を選定する。そして、選定した欠陥候補情
報をもとに前記移動処理の移動方向および移動量を決定
する。前記欠陥候補情報記憶処理は、前記欠陥候補選定
処理が選定した欠陥候補情報を記憶する。

【００７０】（本発明の他の実施の形態）本発明は複数
の機器（例えば、ホストコンピュータ、インタフェース
機器、リーダ、プリンタ等）から構成されるシステムに
適用しても１つの機器からなる装置に適用しても良い。

【００７１】また、前述した実施の形態の機能を実現す
るように各種のデバイスを動作させるように、前記各種
デバイスと接続された装置あるいはシステム内のコンピ
ュータに対し、前記実施の形態の機能を実現するための
ソフトウェアのプログラムコードを供給し、そのシステ
ムあるいは装置のコンピュータ（ＣＰＵあるいはＭＰ
Ｕ）に格納されたプログラムに従って前記各種デバイス
を動作させることによって実施したものも、本発明の範
疇に含まれる。

【００７２】また、この場合、前記ソフトウェアのプロ
グラムコード自体が前述した実施の形態の機能を実現す
ることになり、そのプログラムコード自体、およびその
プログラムコードをコンピュータに供給するための手
段、例えばかかるプログラムコードを格納した記憶媒体
は本発明を構成する。かかるプログラムコードを記憶す
る記憶媒体としては、例えばフロッピーディスク、ハー
ドディスク、光ディスク、光磁気ディスク、ＣＤ−ＲＯ
Ｍ、磁気テープ、不揮発性のメモリカード、ＲＯＭ等を
用いることができる。

【００７３】また、コンピュータが供給されたプログラ
ムコードを実行することにより、前述の実施の形態の機
能が実現されるだけでなく、そのプログラムコードがコ
ンピュータにおいて稼働しているＯＳ（オペレーティン
グシステム）あるいは他のアプリケーションソフト等の
共同して前述の実施の形態の機能が実現される場合にも
かかるプログラムコードは本発明の実施の形態に含まれ
ることは言うまでもない。

【００７４】さらに、供給されたプログラムコードがコ
ンピュータの機能拡張ボードやコンピュータに接続され
た機能拡張ユニットに備わるメモリに格納された後、そ
のプログラムコードの指示に基づいてその機能拡張ボー
ドや機能拡張ユニットに備わるＣＰＵ等が実際の処理の
一部または全部を行い、その処理によって前述した実施
の形態の機能が実現される場合にも本発明に含まれるこ
とは言うまでもない。

【００７５】

【発明の効果】以上説明したように、本発明の欠陥画素
検出装置によれば、固体撮像素子を移動させながら複数
の画像情報を取り込み、前記取り込んだ画像情報をもと
に前記固体撮像素子の欠陥位置を検出するようにしたの
で、均一な光量の照明を使用することなく欠陥画素を検
出することができ、欠陥画素検出装置の構成を簡素化で
きるとともに、正確な欠陥画素検出を行うことができ
る。

【００７６】また、本発明の撮像装置によれば、複数の
画素を有する固体撮像素子を所定方向に所定量だけ移動
させながら取り込んだ複数の画像情報をもとにして前記
固体撮像素子の欠陥位置を検出し、その検出結果に基い
て欠陥画素を補正するようにしたので、固体撮像素子に
欠陥画素があっても良好に補正することが可能となり、
欠陥の無い高品質の画像を出力することができる。

【図面の簡単な説明】

【図１】本発明の欠陥画素検出装置の実施の形態を示す
構成図である。

【図２】欠陥画素の検出方法の説明図である。

【図３】固体撮像素子の移動方向を説明する図である。

【図４】欠陥画素検出方法の一例を示すフローチャート
である。

【図５】欠陥位置検出処理を説明するフローチャートで
ある。

【図６】本発明の撮像装置の実施の形態を示す構成図で
ある。

【図７】欠陥画素の検出方法の説明図である。

【図８】固体撮像素子の移動方向を説明する図である。

【図９】欠陥画素補正方法の一例を示すフローチャート
である。

【図１０】欠陥位置検出処理を説明するフローチャート
である。

【符号の説明】

１１ 固体撮像素子 １２ 移動手段 １３ 移動制御手段 １４ 駆動手段 １５ 信号処理手段 １６ 画像記憶手段 １７ 欠陥画素検出手段 １８ 欠陥候補選定手段

Claims (18)

【特許請求の範囲】
1. 【請求項１】 複数の画素を有する固体撮像素子の欠陥
   画素を検出する欠陥画素検出装置であって、 前記固体撮像素子を所定方向に所定量だけ移動させる移
   動手段と、 前記固体撮像素子の撮像動作を制御して画像情報を生成
   させる撮像制御手段と、 前記固体撮像素子から出力される画像情報をもとにして
   前記固体撮像素子の欠陥位置を検出する欠陥位置検出手
   段とを有することを特徴とする欠陥画素検出装置。
2. 【請求項２】 複数の画素を有する固体撮像素子の欠陥
   画素を検出する欠陥画素検出装置であって、 前記固体撮像素子を所定方向に所定量だけ移動させる移
   動手段と、 前記移動手段によって移動される固体撮像素子の撮像動
   作を制御して複数の画像情報を生成させる撮像制御手段
   と、 前記固体撮像素子が出力する複数の画像情報を処理する
   信号処理手段と、 前記信号処理手段から出力される画像情報を記憶する画
   像情報記憶手段と、 前記画像情報記憶手段から読み出された複数の画像情報
   をもとに前記固体撮像素子の欠陥位置を検出する欠陥位
   置検出手段とを有することを特徴とする欠陥画素検出装
   置。
3. 【請求項３】 前記欠陥位置検出手段は、 前記画像情報記憶手段に記憶された画像情報をもとに、
   前記固体撮像素子の欠陥候補を選定する欠陥候補選定手
   段と、 前記欠陥候補選定手段が選定した欠陥候補情報を記憶す
   る欠陥候補情報記憶手段と、 前記欠陥候補情報記憶手段の欠陥候補情報をもとに、前
   記固体撮像素子の欠陥位置を決定する欠陥位置決定手段
   と、 前記欠陥位置決定手段が決定した前記固体撮像素子の欠
   陥位置を記憶する欠陥位置記憶手段とを有することを特
   徴とする請求項２に記載の欠陥画素検出装置。
4. 【請求項４】 前記欠陥候補選定手段が選定した欠陥候
   補情報をもとに前記移動手段の移動方向および移動量を
   決定する移動量方向決定手段を有することを特徴とする
   請求項３に記載の欠陥画素検出装置。
5. 【請求項５】 複数の画素を有する固体撮像素子と、 前記固体撮像素子を所定方向に所定量だけ移動させる移
   動手段と、 前記移動手段によって移動させられる固体撮像素子の撮
   像動作を制御して画像情報を生成させる撮像制御手段
   と、 前記移動手段により前記固体撮像素子を移動させながら
   取り込んだ複数の画像情報をもとにして前記固体撮像素
   子の欠陥位置を検出して欠陥位置情報を出力する欠陥位
   置検出手段と、 前記欠陥位置検出手段から出力される欠陥位置情報をも
   とに、前記固体撮像素子により生成された画像情報に基
   づいて欠陥画素を補正する欠陥画素補正手段とを有する
   ことを特徴とする撮像装置。
6. 【請求項６】 複数の画素を有する固体撮像素子と、 前記固体撮像素子を所定方向に所定量だけ移動させる移
   動手段と、 前記移動手段によって移動される固体撮像素子の撮像動
   作を制御して複数の画像情報を生成させる撮像制御手段
   と、前記固体撮像素子が出力する画像情報を処理する信
   号処理手段と、 前記信号処理手段が出力した画像情報を記憶する画像情
   報記憶手段と、 前記移動手段により前記固体撮像素子を移動させながら
   取り込んだ複数の画像情報をもとに前記固体撮像素子の
   欠陥位置を検出する欠陥位置検出手段と、 前記欠陥位置検出手段から出力される欠陥位置情報をも
   とに、前記固体撮像素子により生成された画像情報に基
   づいて欠陥画素を補正する欠陥画素補正手段とを有する
   ことを特徴とする撮像装置。
7. 【請求項７】 前記欠陥位置検出手段は、 前記画像情報記憶手段に記憶された画像情報をもとに、
   前記固体撮像素子の欠陥候補を選定する欠陥候補選定手
   段と、 前記欠陥候補選定手段が選定した欠陥候補情報を記憶す
   る欠陥候補情報記憶手段と、 前記欠陥候補情報記憶手段の欠陥候補情報をもとに、前
   記固体撮像素子の欠陥位置を決定する欠陥位置決定手段
   と、 前記欠陥位置決定手段が決定した前記固体撮像素子の欠
   陥位置を記憶する欠陥位置記憶手段とを有することを特
   徴とする請求項６に記載の撮像装置。
8. 【請求項８】 前記欠陥候補選定手段が選定した欠陥候
   補情報をもとに前記移動手段の移動方向および移動量を
   決定する移動量方向決定手段を有することを特徴とする
   請求項７に記載の撮像装置。
9. 【請求項９】 複数の画素を有する固体撮像素子を用い
   る欠陥画素検出方法であって、 前記固体撮像素子を所定方向に所定量だけ移動させる移
   動処理と、 前記移動処理によって移動される固体撮像素子の撮像動
   作を制御して複数の画像情報を生成させる撮像制御処理
   と、 前記撮像制御処理により生成した複数の画像情報をもと
   にして前記固体撮像素子の欠陥位置を検出する欠陥位置
   検出処理とを行うことを特徴とする欠陥画素検出方法。
10. 【請求項１０】 複数の画素を有する固体撮像素子を用
    いる欠陥画素検出方法であって、 前記固体撮像素子を所定方向に所定量だけ移動させる移
    動処理と、 前記固体撮像素子の撮像動作を制御する撮像処理と、 前記固体撮像素子が出力する画像情報を処理する信号処
    理と、 前記信号処理された画像情報を記憶する画像情報記憶処
    理と、 前記移動処理により前記固体撮像素子を移動させなが
    ら、取り込んだ複数の画像情報をもとに前記固体撮像素
    子の欠陥位置を検出する欠陥位置検出処理とを行うこと
    を特徴とする欠陥画素検出方法。
11. 【請求項１１】 前記欠陥位置検出処理は、 前記画像情報記憶処理の画像情報をもとに、前記固体撮
    像素子の欠陥候補を選定する欠陥候補選定処理と、 前記欠陥候補選定処理が選定した欠陥候補情報を記憶す
    る欠陥候補情報記憶処理と、 前記欠陥候補情報記憶処理の欠陥候補情報をもとに、前
    記固体撮像素子の欠陥位置を決定する欠陥位置決定処理
    と、 前記欠陥位置決定処理が決定した前記固体撮像素子の欠
    陥位置を記憶する欠陥位置記憶処理とを行うことを特徴
    とする請求項１０に記載の欠陥画素検出方法。
12. 【請求項１２】 前記欠陥候補選定処理が選定した欠陥
    候補情報をもとに前記移動処理の移動方向および移動量
    を決定する移動量方向決定処理を有することを特徴とす
    る請求項１１に記載の欠陥画素検出方法。
13. 【請求項１３】 複数の画素を有する固体撮像素子を所
    定方向に所定量だけ移動させる移動処理と、 前記移動処理によって移動させられる固体撮像素子の撮
    像動作を制御して画像情報を生成させる撮像制御処理
    と、 前記移動処理により前記固体撮像素子を移動させながら
    取り込んだ複数の画像情報をもとにして前記固体撮像素
    子の欠陥位置を検出して欠陥位置情報を出力する欠陥位
    置検出処理と、 前記欠陥位置検出処理から出力される欠陥位置情報をも
    とに、前記固体撮像素子により生成された画像情報に基
    づいて欠陥画素を補正する欠陥画素補正処理とを行うこ
    とを特徴とする撮像方法。
14. 【請求項１４】 複数の画素を有する固体撮像素子と、 前記固体撮像素子を所定方向に所定量だけ移動させる移
    動処理と、 前記移動処理によって移動される固体撮像素子の撮像動
    作を制御して複数の画像情報を生成させる撮像制御処理
    と、前記固体撮像素子が出力する画像情報を処理する信
    号処理と、 前記信号処理が出力した画像情報を記憶する画像情報記
    憶処理と、 前記移動処理により前記固体撮像素子を移動させながら
    取り込んだ複数の画像情報をもとに前記固体撮像素子の
    欠陥位置を検出する欠陥位置検出処理と、 前記欠陥位置検出処理から出力される欠陥位置情報をも
    とに、前記固体撮像素子により生成された画像情報に基
    づいて欠陥画素を補正する欠陥画素補正処理とを行うこ
    とを特徴とする撮像方法。
15. 【請求項１５】 前記欠陥位置検出処理は、 前記画像情報記憶処理に記憶された画像情報をもとに、
    前記固体撮像素子の欠陥候補を選定する欠陥候補選定処
    理と、 前記欠陥候補選定処理が選定した欠陥候補情報を記憶す
    る欠陥候補情報記憶処理と、 前記欠陥候補情報記憶処理の欠陥候補情報をもとに、前
    記固体撮像素子の欠陥位置を決定する欠陥位置決定処理
    と、 前記欠陥位置決定処理が決定した前記固体撮像素子の欠
    陥位置を記憶する欠陥位置記憶処理とを行うことを特徴
    とする請求項１４に記載の撮像方法。
16. 【請求項１６】 前記欠陥候補選定処理が選定した欠陥
    候補情報をもとに前記移動処理の移動方向および移動量
    を決定する移動量方向決定処理を行うことを特徴とする
    請求項１５に記載の撮像方法。
17. 【請求項１７】 請求項１〜８の何れか１項に記載の各
    手段としてコンピュータに機能させるためのプログラム
    を格納したことを特徴とする記憶媒体。
18. 【請求項１８】 請求項９〜１６の何れか１項に記載の
    各処理の手順をコンピュータに実行させるためのプログ
    ラムを格納したことを特徴とする記憶媒体。