TW479432B - Picture signal processing apparatus and method for detecting pixel defect - Google Patents

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TW479432B TW089120201A TW89120201A TW479432B TW 479432 B TW479432 B TW 479432B TW 089120201 A TW089120201 A TW 089120201A TW 89120201 A TW89120201 A TW 89120201A TW 479432 B TW479432 B TW 479432B
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479432 6727pif.doc/006 B7 五、發明說明（/ ) 本發^是有關於一種檢測出在影像信號中的缺陷而加 以修正的影像信號處理裝置，以及檢測出缺陷畫素的檢測 方法。 CCD影像感測器等之類的固態攝影元件與畫素的受光 位階（level)無關，通常是累積一定的電荷後，再以固定的 準位輸出，如此便會產生畫素缺陷的情況。爲此，在對從 固態攝影元件所得到的影像信號進行影像處理的過程，便 必須進行使在播放畫面上不會呈現出缺陷畫素的缺陷修正 處理程序。 - 第15圖係繪示對缺陷畫素進行修正處理的攝影裝置 之方塊圖。 CCD感測器1係由複數個受光畫素以行列方式排列而 成，對應到受到光線照射的被攝體之影像會將電荷累積在 各個對應的受光畫素上。CCD 1係由垂直驅動信φν號與水 平驅動信號Φίι所驅動，在各個受光畫素上所累積的電荷便 會以一列爲單位依序輸出，而輸出滿足既定格式的影像信 號Υ0。驅動電路2則依據垂直同步信號VD與水平同步信 號HD而產生用以驅動CCD感測器1之垂直驅動信φν號 與水平驅動信號(t>h到CCD感測器1。 濟 部 智 慧 財 產 局 員 工 消 費 合 作 社 印 製 (請先閱讀背面之注意事項再填寫本頁) 動態控制電路3將一固定週期之基準時脈信號加以分 頻，藉以產生決定垂直掃描之時序的垂直同步信號VD以 及水平掃描之時序的水平同步信號HD，以傳送至驅動電 路2。例如，在NTSC格式的情況下，將14.32MHz之基準 時脈信號以910分頻而產生水平同步信號HD，此水平同 本紙張尺度適用中國國家標準（CNS)A4規格（210 X 297公釐） 479432 6727pif.doc/006 A7 B7 1、發明說明（之） 步信號再以525/2分頻以產生垂直同步信號VD。此外，時 序控制電路3係用以供應時序信號至後述的信號處理電路 4與缺陷修正電路5，使其個別的操作時序能與CCD 1之 操作時序同步。 信號處理電路4係針對CCD 1所輸出之影像信號Y0 進行取樣保持（sampling and hold)、準位修正等之信號處理 後，輸出影像信號Y1。例如，對取樣保持處理而言，係 對影像信號Y0重複對信號準位與重置準位進行處理，在 鉗制住重置準位後而取得信號準位，之後持續進行信號準 位的處理而產生影像信號Y1。此外，對準位修正處理而 言，則在目標範圍內擷取輸出之影像信號Y1的平均準位 後，在進行增益回復控制的處理程序。信號處理電路4在 將影像信號取樣保持後，將取樣保持所得的値進行類比/數 位(A/D)轉換，之後便利用數位方式來進行信號處理。 缺陷修正電路5係依據記錄於修正資料記憶體6中之 修正資料，對影像信號Y1進行缺陷修正處理。例如，缺 陷產生之畫素資料係由其前後畫素資料的平均値加以置換 所構成的。利用記憶CCD 1之畫素缺陷的位置，例如監測 預定的CCD 1之輸出而檢測出缺陷畫素的位置，而將其檢. 測結果做爲修正位址的資料而記憶儲存於修正資料記憶體 6中。 由於CCD 1即使是以相同的製程來製造出晶片，各晶 片之每一個缺陷畫素發生的位置相異，便必須在用以攝影 裝置之CCD 1上檢測出每一個缺陷畫素的位置，藉以產生 5 本紙張尺度適用中國國家標準（CNS)A4規格（210 X 297公爱） (請先閱讀背面之注意事項再填寫本頁) i 裝！1訂·！1線· 經濟部智慧財產局員工消費合作社印製 479432 A7 6727pif.doc/006 五、發明說明（> ) 儲存記憶於修正資料記憶體6之修正位址資料。爲此，對 於元件的組合程序，甚至於組裝元件之攝影裝置的裝配均 會在製程上導致成本的遽增。 此外，CCD 1之缺陷畫素會由於時間的改變而增加， 在長時間使用的情況下，便不得不更新修正資料記憶體6 之修正位址的資料。然而，對一般使用攝影裝置的人而言， 因爲並不具有更新改寫修正資料記憶體6的工具與裝置， 對修正資料記憶體6進行修正資料位址的更新改寫，是有 實際執行的困難存在。 · 在此，本發明之目的係提供不會增加組裝製程成本的 方法，同時對於元件隨時間的變化而可以產生對應的缺陷 畫素改變。 本發明之影像信號處理裝置係從構成影像之複數個畫 素中檢測出包含的缺陷畫素。此裝置包括檢測電路，其依 據緊鄰目標畫素之複數個周邊畫素的信號準位，將目標畫 素的信號準位與設定的判斷基準値做比較後，檢測出候選 缺陷畫素；判斷電路係進行缺陷判斷動作，係依據從檢測 電路所檢測出之候選缺陷畫素，在跨過數個畫面之連續性 來判斷出缺陷畫素；以及記憶體電路，其用以記憶判斷電 路所判斷之缺陷畫素的位址，並依據對應位址之缺陷畫素 的目標畫素進行修正。 藉此’將目標畫素與其週邊畫素進行比較，而檢測出 可能爲缺陷畫素之候選缺陷畫素。依據檢測結果之連續性 來判斷缺陷畫素，可以確實地檢測出在重播畫面上之缺陷 6 -----------^裝--------訂-------線\ (請先閲讀背面之注意事項再填寫本頁) 經濟部智慧財產局員工消費合作社印製 本紙張尺度適用中國國家標準（CNS)A4規格（210 X 297公釐） 經濟部智慧財產局員工消費合作社印製 479432 6727pif.doc/006 A7 B7 五、發明說明（ψ) 畫素。 本發明更提出一種缺陷畫素之檢測方法，其用以依據 表示畫面之影像信號，在構成該畫面中之複數個畫素中檢 測出缺陷畫素。缺陷畫素之檢測方法包括：第一步驟’其 依據緊鄰目標畫素之數個週邊畫素所對應的影像信號’設 定出判斷基準値，並將目標畫素所對應之影像信號與判斷 基準値做比較後，以檢測出候選缺陷畫素，並且儲存候選 缺陷畫素之位址；第二步驟係將第一步驟中所記憶的目標 畫素之信號準位與前述之判斷基準値做比較，而從上述之 候選缺陷畫素中得到缺陷畫素；以及第三步驟則將在第一 步驟所記憶的候選缺陷畫素更新爲在第二步驟所的到之缺 陷畫素的位址，並且重複第二到該第三步驟，來檢測出該 缺陷畫素。 再者，本發明之缺陷畫素之檢測方法包括：第一步驟， 其依據緊鄰目標畫素之數個週邊畫素所對應的影像信號， 設定出判斷基準値，並將目標畫素所對應之影像信號與判 斷基準値做比較後，以檢測出候選缺陷畫素；在第二步驟 則在數個畫面間以上述之判斷基準値反覆對候選缺陷畫素 之目標畫素的信號準位進行比較；以及在第三步驟中，將. 第二步驟反覆操作所得的比較結果與第一步驟中之比較結 果加以比較，並判斷結果是否一致，在第三步驟中，若判 Wf爲一致的結果到達預定的次數時，便判定爲缺陷畫素。 藉此，就算影像畫面一時難以檢測出缺陷畫素，藉由 持續進行檢測缺陷畫素與判斷動作，可以降低產生錯誤檢 7 本紙張尺度適用中國國家標準（CNS)A4規格（210 X 297公釐） ------------^ 裝·--— — — — —訂·--------線 (請先閱讀背面之注意事項再填寫本頁) _π —_ _π —_ 77 發明說明（〈） 測的機率。 * 爲讓本發明之上述目的、特徵、和優點能更明顯易懂， 下文特舉較佳實施例，並配合所附圖式，作詳細說明如下： 圖式之簡單說明： 第1圖繪示依據本發明之畫影像信號處理裝置的第一 實施例的功能方塊示意圖； 第2圖繪示構成影像記憶體的方塊； 第3圖繪示目標畫素與週邊畫素的關係之平面圖； 第4圖係繪示構成缺陷檢測電路之方塊示意圖； 第5圖係繪示出判斷基準値與週邊畫素準位間的關係 不意圖， 第6圖則繪示缺陷畫素判斷動作之步驟的流程圖； 第7圖係繪示位址產生電路的方塊示意圖； 第8圖繪示用來說明畫面上之缺陷畫素之位址的說明 圖； 第9圖係做爲構成缺陷修正電路的方塊示意圖； 第10圖係繪示本發明之影像信號處理裝置的第二實 施例之方塊示意圖； 第11圖係繪示本發明之影像信號處理裝置之第三實 施例的方塊示意圖； 第12圖係繪示本發明之影像信號處理裝置之第四實 施例的方塊示意圖； 第13圖係繪示本發明之缺陷畫素的第一種檢測方法 的流程圖； 8 ----------丨！脖乂 - - ----—訂·--------線----- (請先閱讀背面之注意事項再填寫本頁) 經濟部智慧財產局員工消費合作社印製 本紙張尺度適用中0國家標準（CNSM丨規格（210 x 297公堃） 479432 6727pif.doc/006 A7 B7 五、發明說明（<) 第14圖係繪示本發明之缺陷畫素的第二種檢測方法 的流程圖；以及 : 第15圖係繪示構成固態攝影裝置之方塊圖。 (請先閱讀背面之注意事項再填寫本頁) 標號說明： 1 CCD攝影器 3時序控制電路 5缺陷修正電路 10影像信號處理裝置 12缺陷檢測電路 13a—次記憶體 14缺陷判斷電路 16缺陷修正電路 21、22迴路記憶體 31平均値計算電路 33最小値檢測電路 36加法器 51水平計數器 53水平閂鎖器 61〜64除法器 68選擇器 14’缺陷判斷電路 2驅動電路 4信號處理電路 6修正資料記憶體 11影像記憶體 13位置記憶體 13b二次記憶體 15缺陷儲存電路 經濟部智慧財產局員工消費合作社印製 18介面電路 實施例 第1圖係繪示依據本發明之畫影像信號處理裝置的第 23〜28閂鎖器 32最大値檢測電路 34、35減法器 37、38比較器 52垂直計數器 54垂直閂鎖器 65〜67加法器 69比較器 17區域指定電路 19串列匯流排 本紙張尺度適用中國國家標準（CNS)A4規格（210 X 297公釐） 479432 6727pif.doc/006 A7 _ B7 五、發明說明（q) 一實施例的功能方塊示意圖。 . (請先閱讀背面之注意事項再填寫本頁) 本發明之影像信號處理裝釐係由影像記憶體11、缺陷 檢測電路12、位置記憶體13、缺陷判斷電路丨4、缺陷儲 存電路15以及缺陷修正電路16所構成。影像信號處理裝 置對攝影元件之輸出進行既定的處理程序，進行類比/數位 (A/D)轉換而得到數位資料，並對產生的影像信號γ(η)進 行缺陷畫素的修正處理程序。 影像記憶體電路11具有複數個迴路記憶體與複數個 問鎖器’其以一列爲單位擷取輸入的影像信號Υ(η)，並輸 出對應目標畫像Ρ0的影像信號Υ(Ρ0)與對應其周邊畫素 Ρ1〜Ρ8的影像信號Υ(Ρ1)〜Υ(Ρ8)。 經濟部智慧財產局員工消費合作社印製 缺陷檢測電路12係依據從影像記憶體電路11所輸入 之周邊畫素Ρ1〜Ρ8的影像信號γ(Ρΐ)〜γ(Ρ8)來產生做爲判 斷白色缺陷之判斷基準値Lw與做爲判斷黑色缺陷之判斷 基準値Lb。將此判斷基準値Lw、Lb與目標畫素P0之影 像信號Y(PO)做比較，以檢測出缺陷畫素。在缺陷檢測電 路12中由獲得影像信號Υ(η)之固態攝影元件之物理性缺 陷所引起的真正缺陷畫素，以及因爲被拍攝物體的條件所 產生之偶發性原因而被認爲看起來是缺陷畫素並無法加以 檢測區別，故其全部均爲候選的缺陷畫素。缺陷檢測電路 11之檢測動作係輸出做爲位址資料的缺陷畫素位置。例 如，以同步於影像信號Υ(η)之輸入來計數畫素數目，在檢 測出缺陷畫素時，輸出做爲位址資料之計數値。 位置記憶體13係由可以執行高速操作的靜態記憶體 本紙張尺度適用中國國家標準（CNS)A4規格（210 X 297公釐） 479432 6727pif.doc/006 經濟部智慧財產局員工消費合作社印製 B7 五、發明說明（分） (SRAM)之一次記憶體元件13a與可程式記憶體（EEPROM) 之非揮發性二次記億體元件13b所構成，並將從缺陷檢測 電路12與缺陷判斷電路14所輸出之位址資料加以記憶儲 存做爲缺陷畫素的位置資料。一次記憶體元件13a係用以 儲存在進行缺陷畫素之判斷動作過程中暫時產生的位址資 料。二次記憶體元件13b則將缺陷畫素的判斷動作之所產 生的結果，進行最後判斷且判定爲缺陷畫素之位址資料加 以記憶儲存。 缺陷判斷電路14係就記憶於位置記憶體13之位址資 料，依據連續地跨過含缺陷畫素之複數個畫面，以各位址 資料所顯示位址的畫素，來判斷是否爲真正的缺陷畫素。 亦即，因爲被攝體之偶發性狀況而被檢測出爲缺陷畫素 時，則再經過一定時間後便不會被檢測出爲缺陷畫素，所 以在持續經過一定量的畫域(field)後，便能夠僅判斷出真 正缺陷畫素之缺陷畫素位址。例如，顯示出記憶於位址記 憶電路13之位址資料的畫素係一方面以複數個畫面來反 覆操作與缺陷檢測電路12之檢測動作相同的動作以及缺 陷檢測電路12以複數個畫面連續操作下，而藉由將顯示 各個畫面所得的缺陷畫素之位址資料作比較，來判斷缺陷· 畫素的連續性。此外，在缺陷判斷電路14之檢測動作與 缺陷檢測電路13之檢測動作相同的情形下，也可以共同 使用同一個檢測電路。 缺陷儲存電路15係將在缺陷判斷電路14中判斷爲真 正缺陷畫素之畫素的位址資料讀出，並將其記憶儲存在位 本紙張尺度適用中國國家標準（CNS)A4規格（210 X 297公笼） ---------I--- 裝·-------訂·！-----線， (請先閱讀背面之注意事項再填寫本頁) 479432 6727pif.doc/006 A7 B7 經濟部智慧財產局員工消費合作社印製 五、發明說明（） 址記憶體13中。之後，缺陷修正電路16藉由缺陷儲存電 路15並依據記憶於位置記憶體13中之位址資料，將影像 信號Y(P〇)更換爲修正信號Y(c)。在此，修正信號Y(c)係 例如將位於目標畫素P0周圍之數個周邊畫素加以平均而 產生。藉此，從缺陷修正電路15輸出以白色缺陷與黑色 缺陷所修正之影像信號Y’(n)。 因此，在缺陷檢測電路12所檢測出之缺陷畫素係多 階段地設定判斷基準値Lw與Lb，以加強候選缺陷畫素。 亦即，就算被判斷爲缺陷畫素，因爲在比預設之判斷基準 値Lw與Lb還大的情形以及稍微偏離的情況，其在畫面上 所呈現出之狀況也就不相同，故對缺陷畫素之缺陷程度附 上等級(level)而記憶儲存於位置記憶體13中。如此將附加 上等級程度之缺陷畫素而儲存於位置記憶體13之情況， 若可以記憶儲存於位置記憶體13之缺陷畫素的數目有限 制時，缺陷儲存電路15便可以將缺陷畫素等級較高的畫 素優先儲存。此外，在位置記憶體13中沒有足夠的空間 儲存新的缺陷畫素時，新登錄之缺陷畫素與已經登錄記憶 之缺陷畫素之缺陷等級做比較，對應其比較結果來更新資 料，如此便可以將畫面上非常顯目之缺陷畫素優先修正。 第2圖係繪示做爲影像記憶體11之例子的方塊圖。 影像記憶體11係由第一與第二迴路記憶體（llne memory)21、22，以及第一至第六問鎖器23〜28所構成，並 且同時輸出對應於如第3圖所示之目標畫素P0與其周圍 緊鄰之8個周邊畫素P1〜P8之影像信號Y(P〇)與 (請先閲讀背面之注意事項再填寫本頁) 衮 _ ϋ WMm mat !| 訂·！ ！！-線· 本紙張尺度適用中國國家標準（CNS)A4規格（210 X 297公釐） 479432 A7 B7 6727pif.doc/006 五、發明說明（々） Y(P1)〜Y(P8) 〇 第一及第二迴路記憶體21、22係互相串聯連接’依 序輸入之影像信號Υ(η)被寫入到第一迴路記憶體21 ’並且 將從第一迴路記憶體21所依序讀出之Υ(η)再寫入到第二 迴路記憶體22。藉此，對於依序輸入之影像信號Υ(η)而言’ 從第一迴路記憶體21讀取前一行之影像信號Υ(η)，而從 第二迴路記憶體22讀取前兩行影像信號Υ(η)。 第一與第二閂鎖器23、24係接收輸入的影像信號Υ(η) 並且串聯連接。前一畫素之影像信號Υ(η)係閂鎖於第一閂 鎖器23，而前兩畫素之影像信號Υ(η)則閂鎖於第二閂鎖器 24中。藉此，輸入之影像信號Υ(ιι)就做爲對應到周邊畫素 Ρ8之影像信號Υ(Ρ8)而輸出，閂鎖於第一與第二閂鎖器23、 24之影像信號Υ(η)則分別做爲對應到周邊畫素Ρ7 ' Ρ8之 影像信號Υ(Ρ7)、Υ(Ρ6)而輸出。 第三與第四閂鎖器25、26係串聯連接並接收第一迴 路記憶體21做爲輸入信號，前一行且前一個畫素之影像 信號Υ(η)係閂鎖於第三閂鎖器25，而前兩畫素之影像信號 Υ(η)則閂鎖於第四閂鎖器26中。藉此，第一迴路記憶體21 所讀出之影像信號Υ(η)就做爲對應到周邊畫素Ρ5之影像 信號Υ(Ρ5)而輸出，閂鎖於第三與第四閂鎖器25、26之影 像信號Υ(η)則分別做爲對應到目標畫素Ρ〇之影像信號 以及周邊畫素Ρ4之影像信號Υ(Ρ4)而輸出。 同理，第五與第六閂鎖器27、28係串聯連接並接收 第二迴路記憶體22做爲輸入信號，前兩行且前一畫素之 13 本紙張尺度適用中國國家標準（CNS)A4規格（210 X 297公釐） ------------^--------訂---------線 (請先閲讀背面之注意事項再填寫本頁) 經濟部智慧財產局員工消費合作社印製 479432 6727pif.doc/006 A7 B7 五、發明說明（丨/ ) 影像信號Y(n)係閂鎖於第五閂鎖器27，而前兩畫素之影像 信號Υ(η)則閂鎖於第六閂鎖器28中。藉此，第二迴路記 憶體22所讀出之影像信號Υ(η)就做爲對應到周邊畫素Ρ3 之影像信號Υ(Ρ3)而輸出，閂鎖於第五與第六閂鎖器27、28 之影像信號Υ(η)則分別做爲對應到周邊畫素Ρ2、Ρ1之影 像信號Υ(Ρ2)、Υ(Ρ1)而輸出。 因此，影像記憶體11依序從影像信號Υ(η)取出畫素 資料，而並列輸出目標畫素之影像信號Υ(ΡΟ)與位於其周 邊之周邊畫素Ρ1〜Ρ8之影像信號Υ(Ρ1)〜Υ(Ρ8)。 - 第4圖係繪示構成缺陷檢測電路12之方塊示意圖。 缺陷檢測電路12係由平均値計算電路31、最大値檢測電 路32、最小値檢測電路33、第一與第二減法器34，35、 加法器36以及第一與第二比較器37，38所構成。 平均値計算電路31係分別讀取周邊畫素Ρ1〜Ρ8之影 像信號Υ(Ρ1)〜Υ(Ρ8)，在將其算出平均値Lav。最大値檢測 電路32與最小値檢測電路33係分別用來檢測出影像信號 Y(P1)〜Y(P8)中之最大値Lmax與最小値Lmin。 第一減法器34係將從最小値檢測電路33所輸入之最 小値Lmin與從最大値檢測電路32所輸入之最大値Lmax 相減，而計算出兩者的差値AL。之後，加法器36將平均 値I十算電路31所輸入之平均値Lav與差値AL相加，而產 生做爲判斷白色缺陷之判斷基準値Lw。此外，第：：：減法 器35將平均値計算電路31所輸入之平均値Lav與第一減 法器34所輸入之差値AL相減，而產生做爲判斷黑色缺陷 本紙張尺度適用中國國家標準（CNS)A4規格（210 X 297公釐） (請先閱讀背面之注意事項再填寫本頁) · I I I I Γ I I a — — — — — — — — 9. 經濟部智慧財產局員工消費合作社印製 479432 A7 B7 6727pif. doc/006 五、發明說明（D) 之判斷基準値Lb。 (請先閱讀背面之注意事項再填寫本頁) 第一比較器37將第二減法器35輸入之判斷基準値Lb 與目標畫所所對應之影像信號Y(P〇)加以比較。當影像信 號Υ(ΡΟ)之準位達到判斷基準値Lb時，亦即判斷目標畫素 P0爲黑色缺陷時，便打出Db之檢測信號。第二比較器38 將加法器36輸入之判斷基準値Lw與目標畫所所對應之影 像信號Y(P〇)加以比較。當影像信號Y(P〇)之準位達到判斷 基準値Lw時，亦即判斷目標畫素Ρ0爲白色缺陷時，便打 出Dw之檢測信號。 第5圖係繪示出表示周邊畫素之影像信號的準位與從 該些準位計算出之缺陷畫素的判斷準位間的關係示意圖。 第6圖則繪示缺陷畫素判斷動作之步驟的流程圖。此些圖 式係針對如第3圖所示之目標畫素P0,並參照目標畫素P0 之周邊畫素P1〜P8，來進行判斷缺陷畫素。 經濟部智慧財產局員工消費合作社印製 第一步驟S1係關於平均値計算電路31，其將表示周 邊畫素P1〜P8的個畫素之影像信號Y(P1)〜Y(P8)的平準準 位値Lav計算出來。第二步驟S2則關於最大値檢測電路32 與最小値檢測電路33，其用以將表示周邊畫素P1〜P8的個 畫素之影像信號Y(P1)〜Y(P8)的最大値Lmax與最小値Lmin 檢測出來。上述之第一步驟S1與第二步驟S2之順序不同 時，對於檢測結果是沒有影響的。 第三步驟S3則關於第一減法器34,用以將上述檢測 出之最大値Lmax與最小値Lmin相減，而得到兩者準位之 間的差値AL。在第四步驟S4中，則是以第二減法器35， 本紙張尺度適用中國國家標準（CNS)A4規格（210 X 297公釐） 479432 6727pif.doc/006 B7 五、發明說明（G) 求取平均値準位Lav與差値AL兩者的差，以得到做爲檢 測黑色缺陷之第一判斷基準値Lb;另外以加法器36求取 平均値準位Lav與差値AL兩者的和，以得到做爲檢測白 色缺陷之第二判斷基準値Lw。之後，在第五步驟S5，以 第一與第二比較器37、38，將第一與第二判斷基準値Lb、 Lw與目標畫素P〇分別進行比較，來判斷出缺陷畫素，並 產生檢測輸出信號Db、Dw。 由第一到第五步驟所產生之第一判斷基準値Lb與第 二判斷基準値Lw會隨著周變化素的狀況產生變化，需要 常常保持適當的値。對於判斷基準値Lb、Lw而言，周邊 畫素之準位差較小時，會接近平均値Lav ;而當周邊畫素 之準位差變大時，則會偏離平均値Lav。因此，在畫面上 濃淡差異小的區域中，其判斷基準値Lb、Lw的範圍比較 狹窄；反之，由於在畫面上濃淡差異大的區域中，判斷基 準値Lb、Lw的範圍變大，視覺上很明顯的缺陷畫素便可 以很有效率地被檢測出來。 第7圖係繪示用以產生位址資料之缺陷檢測電路12 電路的方塊示意圖。產生位址資料之電路係由水平計數器 51、垂直計數器52、水平資料閂鎖器53與垂直資料閂鎖 器54所構成。 水平計數器51係被水平同步信號HD1之時脈重置， 並依據同步於缺陷檢測電路12檢測動作之固定週期的時 脈CK1，向上計數。藉此，水平計數器51在各個水平掃 描期間，反覆地計數一行(lme)內的畫像數而計數水平方向 本紙張尺度適用中國國家標準（CNS)A4規格（210 X 297公爱） (請先閲讀背面之注意事項再填寫本頁) 哀--------訂---------線- 經濟部智慧財產局員工消費合作社印製 479432 A7 B7 6727pif.doc/006 五、發明說明（w) 的畫素編號。垂直計數器52係被垂直同步信號VD1之時 脈重置，並依據水平同步信號HD1之時脈，向上計數。藉 此，垂直計數器52在各個垂直掃描期間，反覆地計數一 畫面的水平掃描線數而計數垂直方向的畫素編號。 水平資料閂鎖器53連接到水平計數器51，以回應檢 測輸出信號Db、Dw的其中之一，而讀出水平計數器51 的計數値。藉此，打上之Db、Dw之時序便輸入到水平資 料閂鎖器53 ;亦即，將顯示以缺陷檢測電路12所檢測出 之缺陷畫素的水平方向位置之水平位址信號Fh讀取出來。 垂直資料閂鎖器54連接到垂直計數器52,以回應檢測輸 出信號Db、Dw的其中之一，而讀出垂直計數器52的計 數値。藉此，打上之Db、Dw之時序便輸入到垂直資料閂 鎖器54 ;亦即，將顯示以缺陷檢測電路12所檢測出之缺 陷畫素的垂直方向位置之垂直位址信號Fv讀取出來。 例如，考慮如第8圖所示之6行8列之畫面的情形， 水平計數器51在“1”到“8”的範圍內反覆計數，垂直計數器 52則在“Γ到“6”的範圍內反數計數。在此例中，若在第3 行第3列有一個缺陷畫素時，以送出之檢測輸出信號Db、 Dw在水平資料閂鎖器53中讀取出水平計數器51的計數 値，並輸出做爲水平位址信號Fh之“3”。之後，以送出之 檢測輸出信號Db、Dw在垂直資料閂鎖器54中讀取出垂 直計數器52的計數値，並輸出做爲垂直位址信號Fv之 “3” °藉由如上述之方式而輸出之位址信號ph、Fv係表示 可能爲缺陷畫素的候選畫素，並將其輸入到缺陷判斷電路 本紙張尺度適用中國國家標準（CNS)A4規格（210 X 297公釐） --I!--T i — I — I 丨丨訂·！ I! 線 1 (請先閲讀背面之注意事項再填寫本頁) 經濟部智慧財產局員工消費合作社印製 經濟部智慧財產局員工消費合作社印製 479432 6727pif.doc/006 A7 B7 五、發明說明（/Ο 14 〇 第9圖係做爲構成缺陷修正電路16之例子的方塊示 意圖。圖不之缺陷修正電路16係由第一到第四除法器 61〜64、第一到第三加法器65〜67、選擇器68與比較器69 所構成。此例之缺陷修正電路16係依據位於目標畫素p〇 上下之周邊畫素P2、P7之影像信號Y(P2)、Y(P7)以及位 於目標畫素Ρ0左右之周邊畫素Ρ4、Ρ5之影像信號Υ(Ρ4)、 Υ(Ρ5)，而產生修正信號Y(c)。 第一到第四除法器61〜64係分別將從影像記憶體.11 所輸入之影像信號Y(P2)、Y(P7)、Y(P4)與Y(P5)除以4。 第一加法器65則將第一與第二除法器61、62個別之除算 結果相加，而第二加法器66則將第三與第四除法器63、64 個別之除算結果相加。之後，第三加法器67將第一與第 二加法器65、66個別之結果相加，而產生修正信號Y(c)。 選擇器68依據由比較器69所輸入之選擇控制信號S， 選擇目標畫素P0之影像信號Y(PO)或修正信號Y(c)後，而 輸出做爲修正缺陷畫素之影像信號Y’(P〇)。 比較器69依據記憶於位置記憶體13之位址資料，將 水平位址信號Fh以及垂直位址信號Fv拿來與隨水平掃描 週期變化之水平參考信號Rh和垂直參考信號RV進行比 較；當結果一致時，產生選擇控制信號S。在此所使用之 水平參考信號Rh和垂直參考信號RV可以利用第7圖所示 之位址產生電路的水平計數器51與垂直計數器52來產 生。 本紙張尺度適用中國國家標準（CNS)A4規格（210 X 297公釐） I--!|丨！ * 裝！ —訂ί丨！！ 線 (請先閲讀背面之注意事項再填寫本頁) 479432 6727pif.doc/006 A7 B7 五、發明說明（/Ο (請先閱讀背面之注意事項再填寫本頁) 因此，當儲存於位置記憶體13之用以顯示缺陷畫素 之位置的位址資料Fh、Fv與參考信號Rh、Rv之時序一致 下，選擇器68將目標畫素P0之影像信號Y(PO)更換爲修 正信號Y(c)。故缺陷畫素可以以其周邊畫素之資料來加以 修正。 第10圖係繪示本發明之影像信號處理裝置的第二實 施例之方塊示意圖。在此實施例中，缺陷判斷電路14’判 斷目標畫素爲缺陷時，在缺陷畫素的連續性中增加使用獲 得影像信號Y(n)之攝影裝置的攝影條件。此外，缺陷判斷 電路14以外的各構件與第1圖所示之第一實施例的影像 信號處理裝置相同。 經濟部智慧財產局員工消費合作社印製 缺陷判斷電路14’係依據儲存於位置記憶體13中之候 選缺陷畫素的位址資料，反覆進行缺陷畫素的判斷，以更 新缺陷畫素位址的資料。此缺陷畫素的判斷方式係與缺陷 檢測電路12之缺陷畫素所執行的判斷方式相同，同時亦 取得獲得影像信號Υ(η)之攝影裝置的操作狀態，並針對各 個獲得的資料內容來更新判斷基準値。亦即，因爲當被攝 體影像的亮度很高時白色缺陷便顯得不明顯，而當被攝體 影像的亮度很低時黑色缺陷便顯得不明顯，因此單獨僅用 影像信號Υ(η)的準位來判斷缺陷畫素的話，便不能判斷出 真正的缺陷畫素。因此，藉由表示獲得影像信號Υ(η)攝影 裝置的操作狀態之曝光控制資料E(m)與增益控制資料 G(m)，來變更缺陷畫素之判斷基準値，同時依據被攝體狀 態將缺陷畫素之判斷操作本身暫時終止。例如，由曝光控 本紙張尺度適用中國國家標準（CNS)A4規格（210 X 297公釐） 479432 6727pif.doc/006 B7 五、發明說明（/1}) (請先閱讀背面之注意事項再填窝本頁) 制資料E(m)與增益控制資料G(m)推知被攝體亮度超過某 個基準値時，便停止白色缺陷畫素的判斷動作；而被攝體 亮度未達到某個基準値時’便停止黑色缺陷畫素的判斷動 作。 此外，假如除了曝光控制資料E(m)與增益控制資料 G(m)之外，還有其他使用於攝影裝置之攝影控制資料存在 時，也可以使用於缺陷判斷基準値上。例如，使用控制攝 影裝置之光學系統焦距的焦距控制資料，在焦距還沒對準 之前集中進行缺陷判斷。在真正的缺陷畫素存在時，即使 攝影裝置之光學系統的焦距尙未對準，由於與周邊畫素會 產生明顯的差異，故若在焦點對準前便進行缺陷判斷的 話，便可以很正確地判斷出缺陷畫素。 此外，在缺陷判斷電路14’僅以影像信號γ(η)之準位 來判斷缺陷畫素，之後在將所獲得的位址資料上把曝光控 制資料E(m)與增益控制資料G(m)等控制資料附加上去也 可以。亦即，藉由在表示缺陷畫素之位址資料中所附加攝 影控制資料，可以在進行缺陷畫素修正時選擇是否對位址 資料所表示之畫素進行缺陷畫素的修正處理。 經濟部智慧財產局員工消費合作社印製 第11圖係繪示本發明之影像信號處理裝置之第三實 施例的方塊示意圖。在此實施例中，係在第一實施例所示 之影像信號處理裝置中在增設區域指定電路17，在每個影 像特定區域中限制缺陷檢測電路12的檢測動作。在此實 施例中，缺陷判斷電路14亦與第10圖所示的第二實施例 相同，在進行缺陷畫素判斷時，可以在影像信號Y(n)的準 20 本紙張尺度適用中國國家標準（CNS)A4規格（210 X 297公釐） ~ 479432 6727pif.doc/006 B7 五、發明說明（β) 位上增加獲得影像信號Y(n)之攝影裝置的攝影資料。 區域指定電路17係同步於影像信號Υ(η)之水平掃描 與垂直掃描之時序，指示缺陷檢測電路12將一畫面分割 成數個區域。例如，將水平掃描期間做4分割並將垂直掃 描期間做3分割，而將一個3行χ4列之畫面分割成12個 區域，並其中僅有一個分割區域允許缺陷檢測電路12之 缺陷檢測動作。之後，區域指定電路17依據來自缺陷儲 存電路15的指示，亦即確定一個分割區域之缺陷畫素的 位址，而使缺陷儲存電路15將缺陷畫素之位址資料登錄 完畢時，再變更進行缺陷畫素檢測之分割區域。此外，在 分割區域內沒有檢測出缺陷畫素時，缺陷儲存電路15不 進行缺陷畫素的登錄，在預定的缺陷檢測動作完成時，再 變更進行缺陷畫素檢測之分割區域。藉此，缺陷檢測電路 12可對畫面上複數個分割區域依序以時間分割方式來進行 缺陷畫素之檢測。 缺陷檢測電路在各個分割區域以時間分割方式操作的 話，用來儲存以缺陷檢測電路12所檢測出候選缺陷畫素 的位置記憶體13之容量可被節省。亦即，缺陷檢測電路12 最後會檢測出比登錄爲缺陷畫素還多的畫素，使得記憶該 些畫素之位址會暫時地大量增加，因此位置記憶體電路 13,特別是一次記憶體13a之容量便不得不要設定的較大。 故，缺陷檢測電路12若以時間分割方式來進行檢測的話， 可以節省一次記憶體13a之容量，並且可以防止電路體積 過大。 本紙張尺度適用中國國家標準（CNS)A4規格（210 X 297公釐） (請先閱讀背面之注意事項再填寫本頁) 裝-----!訂- -------線、 經濟部智慧財產局員工消費合作社印製 經濟部智慧財產局員工消費合作社印製 479432 672 7pi f. doc/〇 〇 6 Α7 Β7 五、發明說明（ly) 第12圖係繪示本發明之影像信號處理裝置之第四實 施例的方塊示意圖。在此實施例中，係在第一實施例所示 之影像信號處理裝置中在增設介面電路18。在此實施例 中，缺陷判斷電路14亦與第1〇圖所示的第二實施例相同， 在進行缺陷畫素判斷時，可以在影像信號γ(η)的準位上增 加獲得影像信號Υ(η)之攝影裝置的攝影資料。其^，亦^ 以與第u圖所示的第三實施例相同，設置區域指定電1 Π，使缺陷檢測電路12在每個畫面上之分_域進行檢 測動作。 介面電路18連接到串列匯流排(SeHal busm，透過串 列匯流排19可以連接到影像信號處壤裝置外部的電腦等 機械上。藉此，便可以從連接至串列隨流排19之電腦'， 對位置記憶體13之位址資料與缺陷判斷電路14之判斷基 準値設定進行變更。例如，在第二實施例中，判斷是否使 用加人缺陷判斷電路14之曝光控_料邮)與增益控制 資料G(m)的選擇’以及在使用的場合中哪一種畜料優先考 慮使用等，均可以透過串列匯流排丨9辑介面電路ls以電 腦來加以設定。此外’在第三實施例中，區域指定電路17 的分割範圍亦可以透過介面電路18以電腦輸入而加以變 更。 因此，介面電路18除了透過匯流排連接到其他各電 路之外，直接連接到缺陷判斷電路14 _陷儲存電路15 也是可行的方式之一。 第U圖係繪示本發明之缺陷畫讀的第一種檢測方法 22 本紙張尺度適用中國國家標準（CNS)A4規格（210 X 297公釐） (請先閲讀背面之注意事項再填寫本頁) 裝I丨丨訂·！！1-線 479432 6727pif :/006 B7 經濟部智慧財產局員工消費合作社印製 五、發明說明（>) 的流程圖。本檢測方法係利用第1圖（或者第10圖 '第11 圖與第12圖其中之一)所示之缺陷檢測電路12、位置記憶 體13、缺陷判斷電路14、缺陷儲存電路15以及缺陷修正 電路16來實施。 在第一步驟S1，缺陷檢測電路12將所有可能之候選 缺陷畫素檢測出來’將具有缺陷畫素可能性之位址資料儲 存於位置記憶體13中。接著在第一步驟S2中，係針對依 據記憶於位置記憶體13之位址資料所指定畫素之影像信 號Y(n)，缺陷判斷電路14進行與缺陷檢測電路12相同的 檢測操作，並判斷是否爲真正的缺陷畫素。之後，在第三 步驟S3，將判斷爲缺陷畫素之畫素的判斷結果記憶儲存。 在第四步驟S4，判斷候選缺陷畫素的判斷操作是第幾 次，在預設的規定次數內的話則回到第二步驟S2繼續重 複對候選缺陷畫素進行判斷’若到達預定的判斷次數時則 執行第五步驟S5。在回到第二步驟的場合時，對候選缺陷 畫素繼續進行判斷後，接著執行第三步驟S3，並儲存其判 斷結果。第三步驟S3之判斷結果之記憶，會依序記錄第 二步驟S2之重複操作的次數。 在第五步驟，判斷候選缺陷畫素反覆判斷次數，且反 覆進行判斷次數是否超過預定之基準値。亦即，僅進行規 定次數之候選缺陷畫素的判斷，其中被判斷爲缺陷畫素（真 正缺陷）之次數超過預設之基準値次數，便認定爲真正的 缺陷畫素，之後缺陷儲存電路15將可以進行修正處理的 位址記憶在位置記憶體13中。 23 ^紙張尺度適用中國國家標準（CNS)A4規格（21()><297公爱） " 一 ------ 裝II丨訂·！-線， (請先閱讀背面之注意事項再填寫本頁) 經濟部智慧財產局員工消費合作社印製 479432 6727pif.doc/006 A7 _B7___ 五、發明說明（α|) 之後，在第六步驟S6，將對應於記憶於位置記憶體13 之位址的畫素，利用缺陷修正電路16進行修正處理，並 產生已修正缺陷畫素之影像信號Y’(n)。 以上之第一步驟S1到第六步驟S6不僅僅只針對一個 畫面上之畫素的狀況，由於可以將跨過複數個畫面之畫素 況來判斷初缺陷畫素，因此由被拍攝物體之狀態而偶發產 生的缺陷畫素便可以加以區分。 對候選缺陷畫素之判斷操作的重複次數來說，雖然判 斷的次數月多所需要的判斷時間就越長，但是可以獲得更 正確的結果。此外，關於第五驟S5中之缺陷儲存動作， 除了從判斷次數來決定是否爲真的缺陷畫素之外，假如再 包括第10圖所示之第二實施例所得到之曝光控制資料E(m) 與增益控制資料G(m)，與聚焦控制資料等資料來做判斷的 話，判斷的精確度便可以提昇。 第14圖係繪示本發明之缺陷畫素的第二種檢測方法 的流程圖。本檢測方法係利用與第13圖場合類似之第1 圖（或者第10圖、第11圖與第12圖其中之一)所示之缺陷 檢測電路12、位置記憶體13、缺陷判斷電路14、缺陷儲 存電路15以及缺陷修正電路16來實施。 在第一步驟S1，缺陷檢測電路12檢測出初期畫面之 候選缺陷畫素，將一畫面（或是分割區域）中所有的候選缺 陷畫素之位址資料記憶儲存於位置記憶體13中。在第二 步驟S 2 ’缺陷判斷電路14檢測出下一^個畫面中之候選缺 陷畫素。接著在第三步驟S3，將第二步驟S2所檢測出之 24 本紙張尺度適用中國國家標準（CNS)A4規格（21G X 297公爱) · " !!!— 裝！！1訂！！線 (請先閱讀背面之注意事項再填寫本頁) 479432 6727pif.doc/006 B7 五、發明說明（u) 候選缺陷畫素與在第一步驟S1中位置記憶體13所記憶之 最初畫面之缺陷畫素的位址資料是否一致進行判斷。 (請先閱讀背面之注意事項再填寫本頁) 在第四步驟中，將在第三步驟S3中確定一致之位址 保留下來，而將確認爲不一致的位址資料刪除；亦即，將 位置記憶體13之資料更新。或者是，在第三步驟S3中， 僅僅保留在連續預定的次數（畫面數）可以確認爲一致之位 址資料，並刪除在連續預定的次數（畫面數）可以確認爲不 一致之位址資料。關於對位址資料選擇保留或刪除，可以 利用是否改寫位置記憶體之資料來進行。 在第五步驟S5，判斷缺陷資訊的更新是第幾次，若在 預定的次數內的話，則回到第二步驟S2重複候選缺陷畫 素之檢測，若到達規定的次數時，則進行第六步驟S6。在 第六步驟S6，將記憶於位置記憶體13之位址資料取入缺 陷儲存電路15，並登錄儲存爲真正的缺陷畫素。之後，在 第七步驟S7，針對對應登錄儲存於缺陷儲存電路15之位 址的畫素，以缺陷修正電路16進行修正處理，並產生缺 陷畫素之修正影像信號Y’(n)。 經濟部智慧財產局員工消費合作社印製 以上之第一步驟S1到第六步驟S7不僅僅只針對一個 畫面上之畫素的狀況，由於可以將跨過複數個畫面之畫素 況來判斷初缺陷畫素，因此由被拍攝物體之狀態而偶發產 生的缺陷畫素便可以加以區分。 發明效果 關於以上各個實施例，係依據緊鄰目標畫素之3行χ3 列總共8個週邊畫素之準位來決定判斷基準値而加以說 25 本紙張尺度適用中國國家標準（CNS)A4規格（210 X 297^釐） 479432 67 2 7pif. doc/006 Β7 五、發明說明（8) 明。然以上僅做爲說明例子之用，利用3行χ5列總共14 個週邊畫素之準位或5行χ5列總共24個週邊畫素之準位 來決定判斷基準値也是可行的方式。 藉由本發明，由於可以將缺陷畫素逐次更新，即使攝 影元件因長期使用而使缺陷畫素增加的情況下，不需要特 別地變更設定，便可以缺陷畫素進行修正。 此外，在缺陷畫素之判斷基準値上利用產生影像信號 之攝影裝置的控制資料，因此可以很正確地判斷缺陷畫 素。再者，可以將畫面分割後在進行缺陷畫素的判斷「故 可以節省記憶缺陷畫素資料之位置記憶體的容量。其此， 各種控制資料之寫入與讀出可以利用介面電路連接到外部 的電腦，以方便對控制資料進行變更。 綜上所述，雖然本發明已以較佳實施例揭露如上，然 其並非用以限定本發明，任何熟習此技藝者，在不脫離本 發明之精神和範圍內，當可作各種之更動與潤飾，因此本 發明之保護S虽視後附之申請專利範圍所界定者爲準。 (請先閱讀背面之注意事項再填寫本頁) 裝 II--訂---------線 經濟部智慧財產局員工消費合作社印製 26 本紙張尺度適用中國國家標準（CNS)A4規格（210 X 297公爱）

Claims (1)

  1. A8B8C8D8 479432 6727pif.d〇c/〇〇6 六、申請專利範圍 1 · 一種影像信號處理裝置，用以將表示—畫面之影像 信號，在該畫面上檢測出一缺陷畫素，該影像信號處理裝 置包括： 一檢測電路，依據緊鄰一目標畫素之複數個週邊畫素 所對應的影像信號，設定出一判斷基準値，並將該目標I 素所對應之影像信號與該判斷基準値做比較後，以檢測出 一候選缺陷畫素； 一判斷電路，進行一缺陷判斷動作，係依據從該檢測 電路所檢測出之該候選缺陷畫素，在跨過複數個畫面之一 連續性來判斷出該缺陷畫素；以及 己丨息體電路，用以δ己憶該判斷電路所判斷之該缺陷 畫素的-位址’並依據對麵位址之該缺陷畫素的該目標 畫素進行修正。 2·如申請專利範圍第丨觀述之影像信號處理裝置， 其中該判斷基準値係將該些週邊畫素之影像信號之—平均 ^住與，週邊畫素之影像信號之―最大値或—最小値分 別進丫了加法與減法所得。 3·如申阳專利範圍第1項所述之影像信號處理裝置， 基準値以-多階段設定，在各該階段中檢測 出Μ候選缺陷畫素。 )·如申請專利範圍第1項所述之影像信號處理裝置， 其中β判斷電路係以複數個畫域持續該缺陷判斷動作，並 在決定該缺陷畫素之該位址後，同時停止該檢測電路之操 作。 ^-----!ti-------^ (請先閱讀背面之注音？事項再填寫本頁) 27 A8B8C8D8 479432 6727pif·doc/006 六、申請專利範圍 5. 如申請專利範圍第4項所述之影像信號處理裝置， 其中該判斷電路係以一預定週期反覆操作該缺陷判斷動 作。 6. 如申請專利範圍第1項所述之影像信號處理裝置， 其中該記憶體電路更包括： 一第一記憶體，用以將該檢測電路之一檢測結果與該 缺陷資料暫存；以及 一第二記憶體，係一非揮發性記憶體，用以儲存從該 第一記憶體所讀出之該缺陷畫素之該位址。 · 7. 如申請專利範圍第1項所述之影像信號處理裝置， 其中該判斷電路更接收產生該影像信號之一攝影裝置之至 少一攝影控制資料，依據該攝影控制資料與該判斷基準値 進行該缺陷畫素之判斷。 8. 如申請專利範圍第1項所述之影像信號處理裝置， 其中該判斷電路更接收產生該影像信號之該攝影裝置之該 攝影控制資料，並當由該攝影控制資料推知一被攝體之亮 度在一預定範圍內時，才依據該判斷基準値對該缺陷畫素 進行判斷。 9. 如申請專利範圍第1項所述之影像信號處理裝置， 其中該判斷電路係在該畫面分割成複數個區域後，在各該 些區域進行該缺陷判斷動作。 10. 如申請專利範圍第1項所述之影像信號處理裝置， '其中該判斷電路係在該畫面分割成複數個區域後，在各該 些區域以時間分割方式進行該缺陷判斷動作。 28 本紙張尺度適用中國國家標準（CNS)A4規格（210 χ 297公釐） --------------- (請先閱讀背面之注意事項再填寫本頁) T 象 6727pif. doc/〇〇6 D8 1 " Π 1 _ _ 六、申請專利範圍 ιι·如申請專利範圍第i項所述之影像信號處理裝置 其中該判斷電路與該記憶體電路至少其中之一，利用一匯 流排連接到一外邰機器，並從該外部機器變更該缺陷畫素 之判斷條件。 12·—種缺陷畫素之檢測方法，用以依據表示一畫面之 影像信號，包含在構成該畫面中之複數個畫素中檢測出一 缺陷畫素，該缺陷畫素之檢測方法包括： 一第一步驟，依據緊鄰一目標畫素之複數個週邊畫素 所對應的影像信號’設定出一判斷基準値，並將該目標畫 素所對應之影像信號與該判斷基準値做比較後，以檢測出 一候選缺陷畫素，並且儲存該候選缺陷畫素之一位址； 一第二步驟’將該第一步驟中所記憶知該位址之該目 標畫素之影像信號與該判斷基準値再次進行比較；以及 一第三步驟，儲存該第二步驟之比較結果，並且重複 該第一到該第二步驟，並對應複數個比較結果來檢測出該 缺陷畫素。 13·如申請專利範圍第12項所述之缺陷畫素之檢測方 法，其中該判斷基準値係將該些週邊畫素之影像信號之一 平均値，與該些週邊畫素之影像信號之一最大値或一最小 値分別進行加法與減法所得。 14·如申請專利範圍第12項所述之缺陷畫素之檢測方 法’更包括重複該第一到g亥第一步驟，並依據該些比較結 果以及用以獲得該影像信號之攝影裝置的攝影條件來檢測 出該缺陷畫素。 29 本紙張尺度適用中國國家標準（CNS)A4規格（21〇 X 297公爱） 479432 6727pif.doc/006 A8 B8 C8 D8 六 聲 丨才 1 I ± :P 申請專利範圍 .15.—種缺陷畫素之檢測方法，用以依據表示一畫面之 影像信號，包含在構成該畫面中之複數個畫素中檢測出一 缺陷畫素，該缺陷畫素之檢測方法包括： 一第一步驟，依據緊鄰一目標畫素之複數個週邊畫素 所對應的影像信號，設定出一判斷基準値，並將該目標畫 素所對應之影像信號與該判斷基準値做比較後，以檢測出 一第一候選缺陷畫素，並且儲存該第一候選缺陷畫素之一 位址； 一第二步驟，依據緊鄰該目標畫素之該些週邊畫素所 對應的影像信號，設定出該判斷基準値，並將該目標畫素 所對應之影像信號與該判斷基準値做比較後，以檢測出一 第二候選缺陷畫素，並且儲存該第二候選缺陷畫素之一位 址； 一第三步驟，判斷該第一候選缺陷畫素之該位址與該 第二候選缺陷畫素之該位址是否一致；以及 一第四步驟，將該第三步驟中判斷爲一致之該位址保 留更新，並重複該第二到該第三步驟。 16.如申請專利範圍第15項所述之缺陷畫素之檢測方 法，其中該判斷基準値係將該些週邊畫素之影像信號之一 平均値，與該些週邊畫素之影像信號之一最大値或一最小 値分別進行加法與減法所得。 30 -----— — — — — —--裝 —--訂·！ I! 線 I f (請先閱讀背面之注意事項再填寫本頁) 本紙張尺度適用中國國家標準（CNS)A4規格（210 X 297公釐）
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