JPH04251943A - 電子部品用リードフレームにおけるモールド部のマルチ式成形方法及び成形装置 - Google Patents
電子部品用リードフレームにおけるモールド部のマルチ式成形方法及び成形装置Info
- Publication number
- JPH04251943A JPH04251943A JP3012927A JP1292791A JPH04251943A JP H04251943 A JPH04251943 A JP H04251943A JP 3012927 A JP3012927 A JP 3012927A JP 1292791 A JP1292791 A JP 1292791A JP H04251943 A JPH04251943 A JP H04251943A
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- lead frames
- lead frame
- lead
- mold
- raw material
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Granted
Links
- 238000000034 method Methods 0.000 title claims description 13
- 238000000465 moulding Methods 0.000 claims abstract description 36
- 239000002994 raw material Substances 0.000 claims description 30
- 229920003002 synthetic resin Polymers 0.000 claims description 17
- 239000000057 synthetic resin Substances 0.000 claims description 17
- 238000002347 injection Methods 0.000 claims description 10
- 239000007924 injection Substances 0.000 claims description 10
- 238000013459 approach Methods 0.000 abstract description 2
- 238000007796 conventional method Methods 0.000 description 2
- 230000007547 defect Effects 0.000 description 2
- 230000000694 effects Effects 0.000 description 2
- 238000004891 communication Methods 0.000 description 1
- 238000004519 manufacturing process Methods 0.000 description 1
- 238000004806 packaging method and process Methods 0.000 description 1
- 238000003825 pressing Methods 0.000 description 1
- 238000004904 shortening Methods 0.000 description 1
Classifications
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01L—SEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
- H01L21/00—Processes or apparatus adapted for the manufacture or treatment of semiconductor or solid state devices or of parts thereof
- H01L21/02—Manufacture or treatment of semiconductor devices or of parts thereof
- H01L21/04—Manufacture or treatment of semiconductor devices or of parts thereof the devices having at least one potential-jump barrier or surface barrier, e.g. PN junction, depletion layer or carrier concentration layer
- H01L21/50—Assembly of semiconductor devices using processes or apparatus not provided for in a single one of the subgroups H01L21/06 - H01L21/326, e.g. sealing of a cap to a base of a container
- H01L21/56—Encapsulations, e.g. encapsulation layers, coatings
-
- B—PERFORMING OPERATIONS; TRANSPORTING
- B29—WORKING OF PLASTICS; WORKING OF SUBSTANCES IN A PLASTIC STATE IN GENERAL
- B29C—SHAPING OR JOINING OF PLASTICS; SHAPING OF MATERIAL IN A PLASTIC STATE, NOT OTHERWISE PROVIDED FOR; AFTER-TREATMENT OF THE SHAPED PRODUCTS, e.g. REPAIRING
- B29C45/00—Injection moulding, i.e. forcing the required volume of moulding material through a nozzle into a closed mould; Apparatus therefor
- B29C45/14—Injection moulding, i.e. forcing the required volume of moulding material through a nozzle into a closed mould; Apparatus therefor incorporating preformed parts or layers, e.g. injection moulding around inserts or for coating articles
- B29C45/14639—Injection moulding, i.e. forcing the required volume of moulding material through a nozzle into a closed mould; Apparatus therefor incorporating preformed parts or layers, e.g. injection moulding around inserts or for coating articles for obtaining an insulating effect, e.g. for electrical components
- B29C45/14655—Injection moulding, i.e. forcing the required volume of moulding material through a nozzle into a closed mould; Apparatus therefor incorporating preformed parts or layers, e.g. injection moulding around inserts or for coating articles for obtaining an insulating effect, e.g. for electrical components connected to or mounted on a carrier, e.g. lead frame
-
- B—PERFORMING OPERATIONS; TRANSPORTING
- B29—WORKING OF PLASTICS; WORKING OF SUBSTANCES IN A PLASTIC STATE IN GENERAL
- B29C—SHAPING OR JOINING OF PLASTICS; SHAPING OF MATERIAL IN A PLASTIC STATE, NOT OTHERWISE PROVIDED FOR; AFTER-TREATMENT OF THE SHAPED PRODUCTS, e.g. REPAIRING
- B29C45/00—Injection moulding, i.e. forcing the required volume of moulding material through a nozzle into a closed mould; Apparatus therefor
- B29C45/17—Component parts, details or accessories; Auxiliary operations
- B29C45/26—Moulds
- B29C45/27—Sprue channels ; Runner channels or runner nozzles
- B29C45/2701—Details not specific to hot or cold runner channels
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01L—SEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
- H01L21/00—Processes or apparatus adapted for the manufacture or treatment of semiconductor or solid state devices or of parts thereof
- H01L21/02—Manufacture or treatment of semiconductor devices or of parts thereof
- H01L21/04—Manufacture or treatment of semiconductor devices or of parts thereof the devices having at least one potential-jump barrier or surface barrier, e.g. PN junction, depletion layer or carrier concentration layer
- H01L21/50—Assembly of semiconductor devices using processes or apparatus not provided for in a single one of the subgroups H01L21/06 - H01L21/326, e.g. sealing of a cap to a base of a container
- H01L21/56—Encapsulations, e.g. encapsulation layers, coatings
- H01L21/565—Moulds
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01L—SEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
- H01L2924/00—Indexing scheme for arrangements or methods for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies as covered by H01L24/00
- H01L2924/0001—Technical content checked by a classifier
- H01L2924/0002—Not covered by any one of groups H01L24/00, H01L24/00 and H01L2224/00
-
- Y—GENERAL TAGGING OF NEW TECHNOLOGICAL DEVELOPMENTS; GENERAL TAGGING OF CROSS-SECTIONAL TECHNOLOGIES SPANNING OVER SEVERAL SECTIONS OF THE IPC; TECHNICAL SUBJECTS COVERED BY FORMER USPC CROSS-REFERENCE ART COLLECTIONS [XRACs] AND DIGESTS
- Y10—TECHNICAL SUBJECTS COVERED BY FORMER USPC
- Y10S—TECHNICAL SUBJECTS COVERED BY FORMER USPC CROSS-REFERENCE ART COLLECTIONS [XRACs] AND DIGESTS
- Y10S425/00—Plastic article or earthenware shaping or treating: apparatus
- Y10S425/228—Injection plunger or ram: transfer molding type
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【0001】
【産業上の利用分野】本発明は、適宜長さのリードフレ
ームにおいて、当該リードフレームに対してその長手方
向に適宜間隔で設けた電子部品の各々における合成樹脂
のモールド部を、二本のリードフレームに対して同時に
成形すると言うマルチ式成形方法の改良に関するもので
ある。
ームにおいて、当該リードフレームに対してその長手方
向に適宜間隔で設けた電子部品の各々における合成樹脂
のモールド部を、二本のリードフレームに対して同時に
成形すると言うマルチ式成形方法の改良に関するもので
ある。
【0002】
【従来の技術】一般に、IC又はトランジスター等の電
子部品の製造は、適宜長さのリードフレームに、その長
手方向に一定の間隔で電子部品を設け、この各電子部品
の部分を合成樹脂のモールド部でパッケージしたのち、
各電子部品を、リードフレームから切り放すと言う順序
で行なわれる。そして、前記リードフレームに対して、
その各電子部品におけるモールド部を成形するに際して
は、図4及び図5に示すように、下金型1と上金型2と
の間に、二本のリードフレームA,Bを、互いに平行に
並べて配設する一方、前記下金型2には、前記両リード
フレームA,Bの間の部位に、合成樹脂の原料タブレッ
ト4を装填する複数個の原料タブレット装填室3を形成
し、該各原料タブレット装填室3内に装填した原料タブ
レット4を、加熱して溶融状態にし、この溶融合成樹脂
を、各原料タブレット装填室3内にプランジャ5を押し
込むことによって各原料タブレット装填室3から両リー
ドフレームA,Bの各々における各電子部品a,bに対
するモールド部成形用キャビティー6,7内に、ランナ
ー溝8,9を介して注入すると言うマルチ式の成形方法
を採用している。
子部品の製造は、適宜長さのリードフレームに、その長
手方向に一定の間隔で電子部品を設け、この各電子部品
の部分を合成樹脂のモールド部でパッケージしたのち、
各電子部品を、リードフレームから切り放すと言う順序
で行なわれる。そして、前記リードフレームに対して、
その各電子部品におけるモールド部を成形するに際して
は、図4及び図5に示すように、下金型1と上金型2と
の間に、二本のリードフレームA,Bを、互いに平行に
並べて配設する一方、前記下金型2には、前記両リード
フレームA,Bの間の部位に、合成樹脂の原料タブレッ
ト4を装填する複数個の原料タブレット装填室3を形成
し、該各原料タブレット装填室3内に装填した原料タブ
レット4を、加熱して溶融状態にし、この溶融合成樹脂
を、各原料タブレット装填室3内にプランジャ5を押し
込むことによって各原料タブレット装填室3から両リー
ドフレームA,Bの各々における各電子部品a,bに対
するモールド部成形用キャビティー6,7内に、ランナ
ー溝8,9を介して注入すると言うマルチ式の成形方法
を採用している。
【0003】ところで、前記該電子部品a,bにおける
モールド部成形用キャビティー6,7内に合成樹脂を溶
融状態で注入してモールド部を成形するに際しては、前
記各モールド部成形用キャビティー6,7内への溶融合
成樹脂の注入方向を、各電子部品a,bの各々について
同じ方向に揃えることにより、換言すると、各電子部品
a,bに対するモールド部成形用キャビティー6,7内
には、溶融合成樹脂を、各電子部品a,bの各々につい
て同じ方向から注入することによって、製品の均一化を
図ることが必要である。そこで、従来のマルチ式の成形
方法においては、下金型1と上金型2との間に、二本の
リードフレームA,Bを互いに平行に並べて配設するに
際して、当該両リードフレームA,Bのうち他方のリー
ドフレームBを、一方のリードフレームAに対して対称
配置とするように反転すると共に、両リードフレームA
,Bを、当該両リードフレームA,Bにおける各電子部
品a,bが同じ位置に並ぶように長手方向を揃えて配設
する一方、前記各原料タブレット装填室3と、両リード
フレームA,Bの各モールド部成形用キャビティー6,
7における同じ個所の隅角部に設けた注入口6a,7a
とを、前記ランナー溝8,9を介して連通することによ
り、前記各モールド部成形用キャビティー6,7に対す
る溶融合成樹脂の注入方向を、各電子部品a,bの各々
について同じ方向に揃えるように構成している。
モールド部成形用キャビティー6,7内に合成樹脂を溶
融状態で注入してモールド部を成形するに際しては、前
記各モールド部成形用キャビティー6,7内への溶融合
成樹脂の注入方向を、各電子部品a,bの各々について
同じ方向に揃えることにより、換言すると、各電子部品
a,bに対するモールド部成形用キャビティー6,7内
には、溶融合成樹脂を、各電子部品a,bの各々につい
て同じ方向から注入することによって、製品の均一化を
図ることが必要である。そこで、従来のマルチ式の成形
方法においては、下金型1と上金型2との間に、二本の
リードフレームA,Bを互いに平行に並べて配設するに
際して、当該両リードフレームA,Bのうち他方のリー
ドフレームBを、一方のリードフレームAに対して対称
配置とするように反転すると共に、両リードフレームA
,Bを、当該両リードフレームA,Bにおける各電子部
品a,bが同じ位置に並ぶように長手方向を揃えて配設
する一方、前記各原料タブレット装填室3と、両リード
フレームA,Bの各モールド部成形用キャビティー6,
7における同じ個所の隅角部に設けた注入口6a,7a
とを、前記ランナー溝8,9を介して連通することによ
り、前記各モールド部成形用キャビティー6,7に対す
る溶融合成樹脂の注入方向を、各電子部品a,bの各々
について同じ方向に揃えるように構成している。
【0004】しかし、この従来のように、下金型1と上
金型2との間に、両リードフレームA,Bを、当該両リ
ードフレームA,Bにおける各電子部品a,bが同じ位
置に並ぶにように長手方向を揃えて配設すると言う構成
であると、前記各原料タブレット装填室3と各モールド
部成形用キャビティー6,7とを接続する各ランナー溝
8,9が、両リードフレームA,Bの長手方向と直角な
直交線Cに対して大きく傾斜した状態になり、当該各ラ
ンナー溝8,9の長さが長くなり、従って、モールド部
用の合成樹脂としては、硬化時間を長くした合成樹脂を
使用しなければならず、一回の成形に要する時間が長く
なり、モールド部成形の能率が低くなるから、モールド
部の成形に要するコストがアップするのであった。
金型2との間に、両リードフレームA,Bを、当該両リ
ードフレームA,Bにおける各電子部品a,bが同じ位
置に並ぶにように長手方向を揃えて配設すると言う構成
であると、前記各原料タブレット装填室3と各モールド
部成形用キャビティー6,7とを接続する各ランナー溝
8,9が、両リードフレームA,Bの長手方向と直角な
直交線Cに対して大きく傾斜した状態になり、当該各ラ
ンナー溝8,9の長さが長くなり、従って、モールド部
用の合成樹脂としては、硬化時間を長くした合成樹脂を
使用しなければならず、一回の成形に要する時間が長く
なり、モールド部成形の能率が低くなるから、モールド
部の成形に要するコストがアップするのであった。
【0005】また、前記従来のように、下金型1と上金
型2との間に、両リードフレームA,Bを、当該両リー
ドフレームA,Bにおける各電子部品a,bが同じ位置
に並ぶにように長手方向を揃えて配設すると言う構成で
あると、前記各原料タブレット装填室3のうち一つの原
料タブレット装填室3における溶融合成樹脂を、図6に
示すように、一方のリードフレームAにおける二つのモ
ールド部成形用キャビティー6と、他方のリードフレー
ムBにおける二つのモールド部成形用キャビティー7と
に分配する場合において、これらの相互間を接続する各
ランナー溝8′,8″及び9′,9″のうち或るものは
その長さが大幅に長くなると共に、前記各ランナー溝8
′,8″及び9′,9″の長さに長い短いができること
になるから、前記と同様にモールド部の成形に要するコ
ストがアップすると言う問題を有するばかりか、前記各
ランナー溝8′,8″及び9′,9″の長さが不揃いで
あることにより、各電子部品の品質にバラ付きや不良が
発生すると言う問題もあった。
型2との間に、両リードフレームA,Bを、当該両リー
ドフレームA,Bにおける各電子部品a,bが同じ位置
に並ぶにように長手方向を揃えて配設すると言う構成で
あると、前記各原料タブレット装填室3のうち一つの原
料タブレット装填室3における溶融合成樹脂を、図6に
示すように、一方のリードフレームAにおける二つのモ
ールド部成形用キャビティー6と、他方のリードフレー
ムBにおける二つのモールド部成形用キャビティー7と
に分配する場合において、これらの相互間を接続する各
ランナー溝8′,8″及び9′,9″のうち或るものは
その長さが大幅に長くなると共に、前記各ランナー溝8
′,8″及び9′,9″の長さに長い短いができること
になるから、前記と同様にモールド部の成形に要するコ
ストがアップすると言う問題を有するばかりか、前記各
ランナー溝8′,8″及び9′,9″の長さが不揃いで
あることにより、各電子部品の品質にバラ付きや不良が
発生すると言う問題もあった。
【0006】
【発明が解決しようとする課題】本発明は、二本のリー
ドフレームに対してモールド部を、マルチ式の成形方法
によって成形するに際して、原料タブレットの装填室と
、前記両リードフレームの各電子部品におけるモールド
部成形用キャビティーとを接続する各ランナー溝の長さ
を短くすると共に、各ランナー溝の長さを等しくするこ
とによって、モールド部の成形に要するコストの低減と
、品質の均一化とを図った成形方法を提供するものであ
る。
ドフレームに対してモールド部を、マルチ式の成形方法
によって成形するに際して、原料タブレットの装填室と
、前記両リードフレームの各電子部品におけるモールド
部成形用キャビティーとを接続する各ランナー溝の長さ
を短くすると共に、各ランナー溝の長さを等しくするこ
とによって、モールド部の成形に要するコストの低減と
、品質の均一化とを図った成形方法を提供するものであ
る。
【0007】
【課題を解決するための手段】この技術的課題を達成す
るため本発明は、下金型と上金型との間に、二本のリー
ドフレームを、当該両リードフレームを互いに平行にす
ると共に、当該両リードフレームのうち一方のリードフ
レームを他方のリードフレームに対して対称配置とする
ように反転して配設する一方、前記両リードフレームの
間の部位にその長手方向に沿って適宜間隔で複数個設け
た各原料タブレット装填室内における溶融合成樹脂を、
前記両リードフレームの各モールド部成形用キャビティ
ーにおける同じ一つの隅角部に設けた注入口に、ランナ
ー溝を介して導くようにしたマルチ式成形方法において
、前記両リードフレームを、当該両リードフレームの長
手方向に適宜寸法だけずらせることにした。
るため本発明は、下金型と上金型との間に、二本のリー
ドフレームを、当該両リードフレームを互いに平行にす
ると共に、当該両リードフレームのうち一方のリードフ
レームを他方のリードフレームに対して対称配置とする
ように反転して配設する一方、前記両リードフレームの
間の部位にその長手方向に沿って適宜間隔で複数個設け
た各原料タブレット装填室内における溶融合成樹脂を、
前記両リードフレームの各モールド部成形用キャビティ
ーにおける同じ一つの隅角部に設けた注入口に、ランナ
ー溝を介して導くようにしたマルチ式成形方法において
、前記両リードフレームを、当該両リードフレームの長
手方向に適宜寸法だけずらせることにした。
【0008】
【作用】このように、両リードフレームを、その長手方
向に適宜寸法だけずらせることにより、この両リードフ
レームのうち一方のリードフレームにおける各モールド
部成形用キャビティーの注入口と、他方のリードフレー
ムにおける各モールド部成形用キャビティーの注入口と
が、両リードフレームの長手方向に沿って互いに接近す
ることになるから、各原料タブレット装填室と、両リー
ドフレームにおける各モールド部成形用キャビティーの
注入口とを接続する各ランナー溝の長さを短くすること
ができると共に、前記各ランナー溝を長さを略同じに揃
えることができるのである。
向に適宜寸法だけずらせることにより、この両リードフ
レームのうち一方のリードフレームにおける各モールド
部成形用キャビティーの注入口と、他方のリードフレー
ムにおける各モールド部成形用キャビティーの注入口と
が、両リードフレームの長手方向に沿って互いに接近す
ることになるから、各原料タブレット装填室と、両リー
ドフレームにおける各モールド部成形用キャビティーの
注入口とを接続する各ランナー溝の長さを短くすること
ができると共に、前記各ランナー溝を長さを略同じに揃
えることができるのである。
【0009】
【発明の効果】このように,本発明によると、各原料タ
ブレット装填室と、両リードフレームにおける各モール
ド部成形用キャビティーの注入口とを接続する各ランナ
ー溝の長さを短くすることができると共に、前記各ラン
ナー溝の長さを略同じに揃えることができるから、モー
ルド部用の合成樹脂としては、硬化時間の短い合成樹脂
を使用して、一回の成形に要する時間を短縮できて、モ
ールド部成形の能率を向上できることにより、モールド
部の成形に要するコストを大幅に低減できるのであり、
しかも、両リードフレームにおける各電子部品の品質に
バラ付きや不良が発生することを確実に低減できる効果
を有する。
ブレット装填室と、両リードフレームにおける各モール
ド部成形用キャビティーの注入口とを接続する各ランナ
ー溝の長さを短くすることができると共に、前記各ラン
ナー溝の長さを略同じに揃えることができるから、モー
ルド部用の合成樹脂としては、硬化時間の短い合成樹脂
を使用して、一回の成形に要する時間を短縮できて、モ
ールド部成形の能率を向上できることにより、モールド
部の成形に要するコストを大幅に低減できるのであり、
しかも、両リードフレームにおける各電子部品の品質に
バラ付きや不良が発生することを確実に低減できる効果
を有する。
【0010】
【実施例】以下、本発明の実施例を図面について説明す
る。図1及び図2は、第1の実施例を示し、この図にお
いて符号11は下金型を、符号12は上金型を各々示し
、前記下金型11と前記上金型12との間に、二本のリ
ードフレームA,Bを、当該両リードフレームA,Bを
互いに平行にすると共に、当該両リードフレームA,B
のうち一方のリードフレームAを他方のリードフレーム
Bに対して対称配置とするように反転して配設する。 一方、前記下金型11には、前記両リードフレームA,
Bの間の部位に、原料タブレット14を装填するための
複数個の原料タブレット装填室13を、両リードフレー
ムA,Bの長手方向に適宜間隔を隔てて設けて、この各
原料タブレット装填室13に、当該原料タブレット装填
室13内における原料タブレット14を押圧するプラン
ジャ15を各々挿入する。
る。図1及び図2は、第1の実施例を示し、この図にお
いて符号11は下金型を、符号12は上金型を各々示し
、前記下金型11と前記上金型12との間に、二本のリ
ードフレームA,Bを、当該両リードフレームA,Bを
互いに平行にすると共に、当該両リードフレームA,B
のうち一方のリードフレームAを他方のリードフレーム
Bに対して対称配置とするように反転して配設する。 一方、前記下金型11には、前記両リードフレームA,
Bの間の部位に、原料タブレット14を装填するための
複数個の原料タブレット装填室13を、両リードフレー
ムA,Bの長手方向に適宜間隔を隔てて設けて、この各
原料タブレット装填室13に、当該原料タブレット装填
室13内における原料タブレット14を押圧するプラン
ジャ15を各々挿入する。
【0011】また、前記下金型11の上面と、前記上金
型12の下面とには、前記両リードフレームA,Bの各
々における各電子部品a,bに対してモールド部を成形
するためのモールド部成形用キャビティー16,17が
各々凹み形成されており、更に、前記下金型11の上面
には、前記各モールド部成形用キャビティー16,17
における同じ個所の隅角部に、当該モールド部成形用キ
ャビティー16,17内への注入口16a,17aを刻
設すると共に、これら各注入口16a,17aの各々と
、前記各原料タブレット装填室13とを連通するランナ
ー溝18,19を刻設して、前記各原料タブレット装填
室13内における溶融合成樹脂を、当該各原料タブレッ
ト装填室13内にプランジャ14を押し込むことによっ
て、前記各ランナー溝18,19を介して前記両リード
フレームA,Bにおける各モールド部成形用キャビティ
ー16,17内に注入することにより、前記両リードフ
レームA,Bにおける各電子部品a,bにモールド部を
成形する。
型12の下面とには、前記両リードフレームA,Bの各
々における各電子部品a,bに対してモールド部を成形
するためのモールド部成形用キャビティー16,17が
各々凹み形成されており、更に、前記下金型11の上面
には、前記各モールド部成形用キャビティー16,17
における同じ個所の隅角部に、当該モールド部成形用キ
ャビティー16,17内への注入口16a,17aを刻
設すると共に、これら各注入口16a,17aの各々と
、前記各原料タブレット装填室13とを連通するランナ
ー溝18,19を刻設して、前記各原料タブレット装填
室13内における溶融合成樹脂を、当該各原料タブレッ
ト装填室13内にプランジャ14を押し込むことによっ
て、前記各ランナー溝18,19を介して前記両リード
フレームA,Bにおける各モールド部成形用キャビティ
ー16,17内に注入することにより、前記両リードフ
レームA,Bにおける各電子部品a,bにモールド部を
成形する。
【0012】そして、本発明は、前記両リードフレーム
A,Bを、前記下金型11と上金型12との間に、平行
に並べて配設するに際して、両リードフレームA,Bを
、従来のように、当該リードフレームA,Bにおける各
電子部品a,bが同じ位置に並ぶように長手方向を揃え
て配設することなく、両リードフレームA,Bを、その
長手方向に適宜寸法Lだけ互いにずらせて配設するので
ある。すると、一方のリードフレームAの各モールド部
成形用キャビティー16における注入口16aと、他方
のリードフレームBの各モールド部成形用キャビティー
17における注入口17aとが、両リードフレームA,
Bの長手方向に沿って互いに接近することになるから、
各原料タブレット装填室13と、両リードフレームA,
Bにおける各モールド部成形用キャビティー16,17
の注入口16a,17aとを接続する各ランナー溝18
,19の長さを、前記従来の場合よりも大幅に短くする
ことができる。従って、モールド部用の合成樹脂として
は、硬化時間の短い合成樹脂を使用することができるか
ら、一回の成形に要する時間を大幅に短縮できるのであ
る。
A,Bを、前記下金型11と上金型12との間に、平行
に並べて配設するに際して、両リードフレームA,Bを
、従来のように、当該リードフレームA,Bにおける各
電子部品a,bが同じ位置に並ぶように長手方向を揃え
て配設することなく、両リードフレームA,Bを、その
長手方向に適宜寸法Lだけ互いにずらせて配設するので
ある。すると、一方のリードフレームAの各モールド部
成形用キャビティー16における注入口16aと、他方
のリードフレームBの各モールド部成形用キャビティー
17における注入口17aとが、両リードフレームA,
Bの長手方向に沿って互いに接近することになるから、
各原料タブレット装填室13と、両リードフレームA,
Bにおける各モールド部成形用キャビティー16,17
の注入口16a,17aとを接続する各ランナー溝18
,19の長さを、前記従来の場合よりも大幅に短くする
ことができる。従って、モールド部用の合成樹脂として
は、硬化時間の短い合成樹脂を使用することができるか
ら、一回の成形に要する時間を大幅に短縮できるのであ
る。
【0013】図3は、第2の実施例を示す。この第2の
実施例は、前記各原料タブレット装填室13のうち一つ
の原料タブレット装填室13における溶融合成樹脂を、
一方のリードフレームAにおける二つのモールド部成形
用キャビティー16と、他方のリードフレームBにおけ
る二つのモールド部成形用キャビティー17とに分配す
る場合に適用したものであり、この場合においても、両
リードフレームA,Bを、従来のように、当該リードフ
レームA,Bにおける各電子部品a,bが同じ位置に並
ぶように長手方向を揃えて配設することなく、その長手
方向に適宜寸法Lだけ互いにずらせて配設するのである
。このようにすると、一つの原料タブレット装填室13
と、四つのモールド部成形用キャビティー16,17と
を接続する四本の各ランナー溝18′,18″及び19
′,19″は、そのうち特定のものが長くなることを防
止できると共に、その各々における長さを略等しい長さ
に揃えることができるのである。
実施例は、前記各原料タブレット装填室13のうち一つ
の原料タブレット装填室13における溶融合成樹脂を、
一方のリードフレームAにおける二つのモールド部成形
用キャビティー16と、他方のリードフレームBにおけ
る二つのモールド部成形用キャビティー17とに分配す
る場合に適用したものであり、この場合においても、両
リードフレームA,Bを、従来のように、当該リードフ
レームA,Bにおける各電子部品a,bが同じ位置に並
ぶように長手方向を揃えて配設することなく、その長手
方向に適宜寸法Lだけ互いにずらせて配設するのである
。このようにすると、一つの原料タブレット装填室13
と、四つのモールド部成形用キャビティー16,17と
を接続する四本の各ランナー溝18′,18″及び19
′,19″は、そのうち特定のものが長くなることを防
止できると共に、その各々における長さを略等しい長さ
に揃えることができるのである。
【0014】前記両実施例は、下金型11の方に、原料
タブレット装填室13を形成する場合を示したが、この
原料タブレット装填室13は、上金型12の方に形成す
るようにして良く、また、前記各ランナー18,18′
,18″及び19,19′,19″も、上金型12の方
に、又は両金型11,12の両方に刻設するようにして
も良いのである。また、符号a′,b′は、各電子部品
A,Bの方向を示すマークである。
タブレット装填室13を形成する場合を示したが、この
原料タブレット装填室13は、上金型12の方に形成す
るようにして良く、また、前記各ランナー18,18′
,18″及び19,19′,19″も、上金型12の方
に、又は両金型11,12の両方に刻設するようにして
も良いのである。また、符号a′,b′は、各電子部品
A,Bの方向を示すマークである。
【図1】本発明の第1実施例を示す下金型の平面図であ
る。
る。
【図2】図1のII−II視拡大断面図である。
【図3】本発明の第2実施例を示す下金型の平面図であ
る。
る。
【図4】従来のものを示す下金型の平面図である。
【図5】図4のV−V視拡大断面図である。
【図6】従来のものを示す下金型の平面図である。
A,B リードフレーム
a,b 電子部品
11 下金型
12 上金型
13 原料タブレット装填室14
原料タブレット 15 プランジャ 16,17 モールド部成形用キャビティー16a,
17a 注入口
原料タブレット 15 プランジャ 16,17 モールド部成形用キャビティー16a,
17a 注入口
Claims (1)
- 【請求項1】下金型と上金型との間に、二本のリードフ
レームを、当該両リードフレームを互いに平行にすると
共に、当該両リードフレームのうち一方のリードフレー
ムを他方のリードフレームに対して対称配置とするよう
に反転して配設する一方、前記両リードフレームの間の
部位にその長手方向に沿って適宜間隔で複数個設けた各
原料タブレット装填室内における溶融合成樹脂を、前記
両リードフレームの各モールド部成形用キャビティーに
おける同じ一つの隅角部に設けた注入口に、ランナー溝
を介して導くようにしたマルチ式成形方法において、前
記両リードフレームを、当該両リードフレームの長手方
向に適宜寸法だけずらせたことを特徴とする電子部品用
リードフレームにおけるモールド部のマルチ式成形方法
。
Priority Applications (3)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP3012927A JP2564707B2 (ja) | 1991-01-09 | 1991-01-09 | 電子部品用リードフレームにおけるモールド部のマルチ式成形方法及び成形装置 |
KR1019920000141A KR100238845B1 (ko) | 1991-01-09 | 1992-01-08 | 전자부품용 리드프레임에 있어서의 몰드부의 다중 성형방법 |
US08/007,381 US5302101A (en) | 1991-01-09 | 1993-01-21 | Mold for resin-packaging electronic components |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP3012927A JP2564707B2 (ja) | 1991-01-09 | 1991-01-09 | 電子部品用リードフレームにおけるモールド部のマルチ式成形方法及び成形装置 |
Related Child Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP1100396A Division JPH08236558A (ja) | 1996-01-25 | 1996-01-25 | 電子部品用リードフレームにおけるモールド部のマルチ式成形方法 |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPH04251943A true JPH04251943A (ja) | 1992-09-08 |
JP2564707B2 JP2564707B2 (ja) | 1996-12-18 |
Family
ID=11818957
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP3012927A Expired - Fee Related JP2564707B2 (ja) | 1991-01-09 | 1991-01-09 | 電子部品用リードフレームにおけるモールド部のマルチ式成形方法及び成形装置 |
Country Status (3)
Country | Link |
---|---|
US (1) | US5302101A (ja) |
JP (1) | JP2564707B2 (ja) |
KR (1) | KR100238845B1 (ja) |
Cited By (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPH0677268A (ja) * | 1992-08-24 | 1994-03-18 | Nec Corp | 半導体樹脂封止用成形金型 |
Families Citing this family (20)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
WO1993020996A1 (fr) * | 1992-04-13 | 1993-10-28 | Apic Yamada Corporation | Procede et appareil de moulage par transfert |
US5834339A (en) | 1996-03-07 | 1998-11-10 | Tessera, Inc. | Methods for providing void-free layers for semiconductor assemblies |
US5776796A (en) * | 1994-05-19 | 1998-07-07 | Tessera, Inc. | Method of encapsulating a semiconductor package |
US6465743B1 (en) * | 1994-12-05 | 2002-10-15 | Motorola, Inc. | Multi-strand substrate for ball-grid array assemblies and method |
USH1654H (en) * | 1995-01-10 | 1997-06-03 | Rounds; Nicholas A. | Transfer molding process for encapsulating semiconductor devices |
JP2701766B2 (ja) * | 1995-01-27 | 1998-01-21 | 日本電気株式会社 | 半導体装置用リ−ドフレ−ム及びこれを用いるモ−ルド装置 |
US6531083B1 (en) * | 1995-05-02 | 2003-03-11 | Texas Instruments Incorporated | Sproutless pre-packaged molding for component encapsulation |
DE19524001A1 (de) * | 1995-06-30 | 1997-03-06 | Siemens Ag | Verfahren zum Verpacken einer druckempfindlichen elektronischen Schaltung mit einer allseitig abdichtenden Schutzumhäusung |
JP3483994B2 (ja) * | 1995-08-31 | 2004-01-06 | ローム株式会社 | 樹脂パッケージ型半導体装置の成形用金型装置、および半導体装置の樹脂パッケージング方法 |
US5766987A (en) * | 1995-09-22 | 1998-06-16 | Tessera, Inc. | Microelectronic encapsulation methods and equipment |
JPH09115936A (ja) * | 1995-10-23 | 1997-05-02 | Mitsubishi Electric Corp | 半導体装置の樹脂封止用金型 |
US5876765A (en) * | 1995-11-09 | 1999-03-02 | Micron Technology, Inc. | Injection molding equipment for encapsulating semiconductor die and the like |
US5855924A (en) * | 1995-12-27 | 1999-01-05 | Siemens Microelectronics, Inc. | Closed-mold for LED alphanumeric displays |
US5888443A (en) * | 1996-05-02 | 1999-03-30 | Texas Instruments Incorporated | Method for manufacturing prepackaged molding compound for component encapsulation |
US5776798A (en) * | 1996-09-04 | 1998-07-07 | Motorola, Inc. | Semiconductor package and method thereof |
US6015280A (en) * | 1997-04-28 | 2000-01-18 | Advanced Micro Devices | Apparatus for reducing warping of plastic packages |
US6214640B1 (en) | 1999-02-10 | 2001-04-10 | Tessera, Inc. | Method of manufacturing a plurality of semiconductor packages |
US7525180B2 (en) * | 2005-10-24 | 2009-04-28 | Panasonic Corporation | Semiconductor mount substrate, semiconductor device and method of manufacturing semiconductor package |
KR20110082422A (ko) * | 2010-01-11 | 2011-07-19 | 삼성전자주식회사 | 몰딩 장치 및 몰딩 방법 |
CN115050720B (zh) * | 2022-08-15 | 2023-01-06 | 华羿微电子股份有限公司 | 一种顶部散热功率器件引线框架 |
Citations (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPS5711030A (en) * | 1980-06-25 | 1982-01-20 | Toshiba Corp | Positioning method of lead frame in mold |
Family Cites Families (10)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
DE1144621B (de) * | 1961-05-08 | 1963-02-28 | Spezialmaschinen Co H Ludwig K | Vorrichtung zum Anspritzen von Kunststoffsohlen an Schuhoberteile |
US3779506A (en) * | 1971-08-25 | 1973-12-18 | Motorola Inc | Apparatus for equalizing the flow rate of molding compound into each of a series of mold cavities |
EP0070320A4 (en) * | 1981-01-26 | 1985-03-06 | Dai Ichi Seiko Co Ltd | MOLDING AND SEALING APPARATUS. |
US4453903A (en) * | 1981-04-15 | 1984-06-12 | North American Philips Corporation | Insert molding gate design for encapsulating electronic ceramics with thermoplastic materials |
JPS5886315U (ja) * | 1981-12-07 | 1983-06-11 | 坂東 一雄 | 半導体樹脂封入成形用金型装置 |
US4946633A (en) * | 1987-04-27 | 1990-08-07 | Hitachi, Ltd. | Method of producing semiconductor devices |
JPH0225253A (ja) * | 1988-07-14 | 1990-01-26 | Nkk Corp | 連続鋳造用浸漬ノズル |
JPH03205117A (ja) * | 1990-01-05 | 1991-09-06 | Toshiba Corp | マルチプランジャー成形金型 |
US5139728A (en) * | 1990-02-13 | 1992-08-18 | Motorola, Inc. | Method of using molding pot having configured bottom |
NL193526C (nl) * | 1991-02-26 | 2000-01-04 | Boschman Tech Bv | Inrichting voor het omhullen van elektronische onderdelen met een kunststof. |
-
1991
- 1991-01-09 JP JP3012927A patent/JP2564707B2/ja not_active Expired - Fee Related
-
1992
- 1992-01-08 KR KR1019920000141A patent/KR100238845B1/ko not_active IP Right Cessation
-
1993
- 1993-01-21 US US08/007,381 patent/US5302101A/en not_active Expired - Lifetime
Patent Citations (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPS5711030A (en) * | 1980-06-25 | 1982-01-20 | Toshiba Corp | Positioning method of lead frame in mold |
Cited By (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPH0677268A (ja) * | 1992-08-24 | 1994-03-18 | Nec Corp | 半導体樹脂封止用成形金型 |
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
JP2564707B2 (ja) | 1996-12-18 |
KR920015971A (ko) | 1992-08-27 |
KR100238845B1 (ko) | 2000-01-15 |
US5302101A (en) | 1994-04-12 |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
JPH04251943A (ja) | 電子部品用リードフレームにおけるモールド部のマルチ式成形方法及び成形装置 | |
US5204122A (en) | Mold for use in resin encapsulation molding | |
JP2015093441A (ja) | スタックモールド射出圧縮成形金型 | |
JP5054923B2 (ja) | 電子部品の樹脂封止成形方法 | |
KR920005448B1 (ko) | 반도체 소자의 수지봉지장치 및 그것을 사용한 반도체 소자의 수지봉지방법 | |
JPH08236558A (ja) | 電子部品用リードフレームにおけるモールド部のマルチ式成形方法 | |
JPH11126787A (ja) | 電子部品の樹脂封止成形方法及び金型 | |
JPH0726089Y2 (ja) | 多色成形金型 | |
JPH0432755Y2 (ja) | ||
JPS6058813A (ja) | 成形型 | |
KR200354758Y1 (ko) | 진공성형구조 금형 | |
JP3592880B2 (ja) | パッケージ型電子部品及びその製造方法 | |
JP3348925B2 (ja) | 電子部品用リードフレームにおけるモールド部の成形方法 | |
JPH05109798A (ja) | 電子部品におけるモールド部の成形方法 | |
JP2000141406A (ja) | 大型積層物の成形方法および成形用金型 | |
KR870000162B1 (ko) | 봉입 성형 장치 | |
KR20060126188A (ko) | 트랜스퍼 성형용 몰드 | |
JPH03284920A (ja) | 樹脂成型品の射出成形方法及び装置 | |
JP3162548B2 (ja) | モールド金型 | |
KR100221229B1 (ko) | 반도체 팩케지의 성형방법과 성형장치 | |
JPH058106Y2 (ja) | ||
JP2736554B2 (ja) | 樹脂封止成形方法及び樹脂注入ゲートの構成方法 | |
JPH0742671Y2 (ja) | トランスフア成形装置 | |
JP2000158493A (ja) | 射出成形装置および方法 | |
JPS63228631A (ja) | 半導体素子を樹脂封止する金型装置 |
Legal Events
Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20091003 Year of fee payment: 13 |
|
LAPS | Cancellation because of no payment of annual fees |