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Description
として提供するという提供態様が採られるようになっている。この種の電子データは、一
般に、パーソナルコンピュータ(PC)などが備える表示装置に表示されることで、その
内容が閲覧されるという特徴を有している。
、持ち運びのし難さ等の利便性に欠く相違点がある。
ている(例えば、特許文献1参照)。可撓性を有する電子ペーパーの表示部をトランジス
タ等の素子を用いて形成する場合には、当該トランジスタを駆動するための回路を設ける
必要がある。この場合、電子ペーパーを湾曲させることにより、回路が破壊されるおそれ
がある。また、駆動回路により電子ペーパーの湾曲が制限される場合も考えられる。
とを低減する表示装置を提供することを目的の一とする。または、開示する発明の一態様
では、構造を簡略化した表示装置を提供することを目的の一とする。
ルと、可撓性の表示パネルの一端部を拘持する支持部と、支持部に設けられ信号線に信号
を出力する信号線駆動回路と、表示パネルの可撓面に支持部と略垂直方向に配設され走査
線に信号を出力する走査線駆動回路とを有する表示装置である。
は互いに離間して設けられている表示装置でもよい。
よい。
し、走査線駆動回路を構成するトランジスタと信号線駆動回路を構成するトランジスタの
構造が異なる表示装置でもよい。
、非単結晶半導体であり、信号線駆動回路を構成するトランジスタのチャネル層は、単結
晶半導体である表示装置でもよい。
コン、ポリシリコン又は酸化物半導体である表示装置でもよい。
ランジスタと走査線駆動回路を構成するトランジスタのチャネル層が同じ材料で設けられ
ている表示装置でもよい。
テナ、CPU、メモリのいずれか一を有する表示装置でもよい。
全般を指し、電気光学装置、半導体回路および電子機器は全て半導体装置に含まれる。
光素子を含み、液晶表示装置は液晶素子を含む。発光素子は、電流または電圧によって輝
度が制御される素子をその範疇に含んでおり、具体的には無機EL(Electro L
uminescence)素子、有機EL素子等がある。
ることができる。
。
の形態の記載内容に限定されず、本明細書等において開示する発明の趣旨から逸脱するこ
となく形態および詳細を様々に変更し得ることは当業者にとって自明である。また、異な
る実施の形態に係る構成は、適宜組み合わせて実施することが可能である。なお、以下に
説明する発明の構成において、同一部分または同様な機能を有する部分には同一の符号を
用い、その繰り返しの説明は省略する。
瞭化のために誇張されて表記している場合がある。よって、必ずしもそのスケールに限定
されない。
同を避けるために付したものであり、数的に限定するものではないことを付記する。
本実施の形態では、表示装置の一例について、図面を参照して説明する。
示パネルと、可撓性の表示パネルの一端部を拘持する支持部と、支持部に設けられ信号線
に信号を出力する信号線駆動回路と、表示パネルの可撓面に支持部と略垂直方向に配設さ
れ走査線に信号を出力する走査線駆動回路とを有している。
場合を示している。以下に図1を参照して、表示装置の具体的な構成について説明する。
なお、図1(A)は表示装置を横にした状態を示し、図1(B)は表示装置を立てた状態
を示している。
11の一端部に設けられた支持部4308と、表示部4301の表示制御を行う走査線駆
動回路4321a、4321bと、表示部4301の表示制御を行う信号線駆動回路43
23とを有している。
路4323は支持部4308の内部に設けられている。
ク等の可撓性を有する基板上に表示部4301を構成する画素回路と、走査線駆動回路4
321a、4321bを設ければよい。
とすることが好ましい。一例として、支持部4308を構成する筐体を、表示パネル43
11より厚いプラスチックや金属等で形成することができる。この場合、表示装置は、支
持部4308以外の部分で曲がる(湾曲する)構成とすることができる。
11の一端部に沿って支持部4308を設けることができる。例えば、図1に示すように
、表示パネル4311を矩形状とする場合には、所定の一辺に沿って(一辺を固定するよ
うに)支持部4308を設けることができる。なお、ここでいう矩形状とは、角部が丸ま
っている場合も含むものとする。
8を中空を有する柱状または円柱状の筐体で設け、当該中空部分に信号線駆動回路432
3を設けることができる。信号線駆動回路4323を支持部4308の内部に設けること
により、表示パネル4311の曲げに起因する信号線駆動回路4323の破損を防止でき
る。
1において、支持部4308と概略平行な方向の両端部に設けることが好ましい。これに
より、走査線駆動回路及び信号線駆動回路を一箇所(例えば、支持部4308)に設ける
場合と比較して、配線の引き回しを低減し、構造を簡略化することができる。
じプロセスで可撓性を有する基板上に形成することにより、走査線駆動回路4321a、
4321bの湾曲を可能とすると共に、低コスト化を図ることができる。
る素子としては、薄膜トランジスタ等で形成することができる。一方で、信号線駆動回路
4323等の高速動作する回路は、シリコン等の半導体基板やSOI基板を用いて形成さ
れたIC(Integrated Circuit)を用いて形成し、当該ICを支持部
4308の内部に設けることができる。
設け、走査線駆動回路と表示部を構成する画素回路を可撓性を有する基板上に薄膜トラン
ジスタ等の素子で形成することにより、信号線駆動回路及び走査線駆動回路をICで設け
る場合と比較して、表示パネルの湾曲を容易にすると共に表示パネルの曲げに起因するI
Cの破壊を抑制し、さらに低コスト化を図ることができる。また、走査線駆動回路を、表
示パネルにおいて支持部と概略垂直な方向の端部に設けることにより、配線の引き回しを
抑止し構造を簡略化することができる。
が、一方の端部にのみ(走査線駆動回路4321aと走査線駆動回路4321bのいずれ
か一方のみ)設ける構成としてもよい。
である。
本実施の形態では、上記図1に示した表示装置の具体的な構成について、図面を参照して
説明する。なお、本実施の形態で示す構成は多くの部分で上記実施の形態1と共通してい
る。したがって、以下においては、重複する部分の説明は省略し、異なる点について詳細
に説明する。
A)は表示装置の平面図を示し、図2(B)は図2(A)のA1-B1間の断面を示し、
図2(C)は断面の詳細な模式図を示している。
に信号線駆動回路4323が設けられている。ここでは、信号線駆動回路4323がIC
で形成され、当該ICが支持部4308の内部に設けられている。ICは、シリコン等の
半導体基板やSOI基板等を用いて形成することができる。もちろん、信号線駆動回路以
外の回路(例えば、CPU、メモリ等)をICに設けることができる。
omated Bonding)方式を用いてFPC(Flexible Printe
d Circuit)に実装する場合を示している。より具体的には、表示部4301を
制御する信号線駆動回路4323がFPC4324上に設けられ、当該FPC4324が
プリント基板4325と電気的に接続されている。
ができる。
中領域4326を設けることが好ましい。応力集中領域4326を表示パネルに設けるこ
とにより、表示パネル4311を折り曲げる場合にFPC4324に加わる応力を低減し
、FPC4324上に設けられた信号線駆動回路4323の破壊を抑制することができる
。
びに対する強度の変更により形成される、応力の集中する領域のことをいう。具体的には
、表示パネル4311の折り曲げたい部分に、切り込み部(凹部、溝)を設けることによ
り応力集中領域4326を形成することができる。
素子基板4331と封止基板4332の一方又は双方に切り込み部を設けた構成とするこ
とができる。図2では、封止基板4332に切り込み部を設けることにより応力集中領域
4326を形成する場合を示している。また、ここで示す構造において、素子基板433
1には表示部4301を駆動する画素回路と走査線駆動回路4321a、4321bを形
成し、これらの回路とFPC4324を電気的に接続することができる。
61、信号線4362が直交するように配置される。なお画素の配置は、縦方向もしくは
横方向において、画素が直線上に並んで配置されている場合や、ギザギザな線上に配置さ
れている場合を含む。よって、例えばストライプ配置されている場合や、三つの色要素の
ドットがデルタ配置されている場合には、当該画素の配置に応じて走査線4361及び信
号線4362が配置される。
ばよい。例えば、図2(A)において、支持部4308に概略平行な方向に沿って表示パ
ネル4311の上端から下端まで切り込み部を設けることにより、表示パネル4311を
折り曲げる方向を制御できる(支持部4308と垂直な方向に表示パネル4311を選択
的に折り曲げることができる)と共に、FPC4324上に設けられた信号線駆動回路4
323の破壊を抑制することができる。
例えば、支持部4308を表示パネル4311に近接するように設ける場合には、支持部
4308の外側(例えば、支持部4308と表示部4301との間)に応力集中領域43
26を設けることが好ましい。
示装置の平面図を示し、図3(B)は図3(A)のA2-B2間の断面を示し、図3(C
)は断面の詳細な模式図を示している。
号線駆動回路4323が形成されたICを実装する場合を示している。より具体的には、
表示部4301を制御する信号線駆動回路4323が表示パネル4311を構成する素子
基板4331上に設けられ、信号線駆動回路4323がFPC4324を介してプリント
基板4325と電気的に接続されている。
示パネル4311に応力集中領域4326を設けることが好ましい。この場合、応力集中
領域4326は、信号線駆動回路4323が設けられた領域と異なる領域(信号線駆動回
路4323が設けられた領域を避けた領域)に設ける。例えば、封止基板4332側に設
けることにより、表示パネル4311を折り曲げる場合に信号線駆動回路4323に加わ
る応力を低減し、信号線駆動回路4323の破壊を抑制することができる。
)は表示装置の平面図を示し、図4(B)は図4(A)のA3-B3間の断面を示し、図
4(C)は断面の詳細な模式図を示している。
ト基板と表示パネルをFPCを用いて接続する場合を示している。より具体的には、表示
部4301を制御する信号線駆動回路4323がプリント基板4327上に設けられ、表
示パネル4311と信号線駆動回路4323がFPC4324を介して電気的に接続され
ている。
示パネル4311に応力集中領域を設けない構成とすることができる。
いて、図5を参照して説明する。
いて説明する。これらの回路は、シリコン等の半導体基板やSOI基板を用いて形成され
たICを用いて形成することができる。
、映像信号発生回路215、信号線駆動回路4323、操作部219等を有する構成とす
ることができる。また、各構成はインターフェース等を介して接続することができる。ま
た、表示制御部200は、表示パネル4311と電気的に接続されている。ここでは、操
作部219を支持部4308に設ける場合を示しているが、操作部219を表示パネル4
311上に設けることもできる。
、データ入力部211は、外部機器とのデータの送受信を行うために、アンテナ216を
有してもよい。この場合、データ入力部211は、アンテナ216で受信したデータや記
録媒体(外部メモリ213)に記憶されたデータを内部メモリ209に転送する機能を有
する。
構成とすることができる。内部メモリ209、データ入力部211及び外部メモリ213
には、表示部4301に表示する情報や表示装置を動作させるプログラム等を記録するこ
とができる。
回路215及び/または電源供給回路207に出力する信号をCPU201で処理するた
めのプログラムや、データ入力部211から転送されるデータ等を記憶する記憶部を有す
る。内部メモリ209の一例として、DRAM(Dynamic Random Acc
ess Memory)、SRAM(Static Random Access Me
mory)、マスクROM(Read Only Memory)、PROM(Prog
rammable Read Only Memory)等で構成されるものである。
ウム電池、好ましくはゲル状電解質を用いるリチウムポリマー電池、リチウムイオン電池
等を用いることで、小型化が可能である。勿論、充電可能な電池であればなんでもよく、
ニッケル水素電池、ニカド電池、有機ラジカル電池、鉛蓄電池、空気二次電池、ニッケル
亜鉛電池、銀亜鉛電池などの充電放電可能な電池であってもよい。キャパシタとしては、
電気二重層キャパシタ、リチウムイオンキャパシタや他の大容量のキャパシタなどを用い
ることができる。キャパシタは、充放電の回数が増えても劣化が小さく、急速充電特性に
も優れているため好適である。給電部205の形状としては、シート状、円柱状、角柱状
、板状、コイン状等を適宜選択すればよい。
、給電部205にアンテナを設ければよい。
示を行うために、表示素子への電源供給を制御するための回路である。
を表示パネル4311に設ける場合には、表示部4301をタッチディスプレイとして、
表示部を操作部として機能させることができる。
チング電源やDC-DCコンバータ等のいわゆるパワーデバイスを設けてもよい。
切り替えを行うことができる。また、表示部4301をタッチディスプレイとして、表示
部4301に指や入力ペンなどで触れることにより操作する構成としてもよい。
筐体で保護することができる。また、表示装置を薄型にすることができる。
、4321bを表示部4301に沿って設ける場合を示したが、これに限られない。
1a、4321bを表示部4301と比較して支持部4308から離間するように設ける
ことができる。一般的に、走査線駆動回路4321a、4321bを構成する素子は、画
素回路を構成する素子より集約して設けられるため、表示パネル4311が折り曲げられ
る部分から走査線駆動回路4321a、4321bを離間して設けることにより、走査線
駆動回路4321a、4321bの破損を抑制することができる。
ぞれ複数の回路部に分割して設け、複数の回路部を互いに離間して設けることができる。
これにより、表示パネル4311を湾曲させた場合であっても、走査線駆動回路4321
a、4321bに加わる応力を低減し、走査線駆動回路4321a、4321bの破損を
抑制することができる。図6(B)は、走査線駆動回路4321a、4321bをそれぞ
れ2つの回路部に分割して設け、図6(C)は、走査線駆動回路4321a、4321b
をそれぞれ4つの回路部に分割して設ける場合を示しているが、分割する数はこれに限ら
れない。
線駆動回路4321aと走査線駆動回路4321bのいずれか一方のみ)設ける構成とし
てもよい。これにより、表示装置の狭額縁化を図ることが可能となる。
である。
本実施の形態では、可撓性の表示パネルを有する表示装置を、湾曲させて使用する際に関
し、上記実施の形態の作用効果について一例を示し、図7乃至図10を参照して説明する
。
)において、ユーザが表示装置を使用した際の上面平面図、について示し説明する。
ル4311は、表示部4301を有し、表示部4301は、表示部4301に走査信号を
供給する走査線駆動回路4321、表示部4301に画像信号を供給する信号線駆動回路
4323によって表示の制御が行われることとなる。また図7(A)では、ユーザの手4
350によって支持部4308を握持する様子について併せて図示している。また図7(
A)に示す正面平面図では、図7(B)に示す上面平面図を見る際の視線について併せて
付記している。
7(B)に示すように、ユーザが手4350で表示装置を使用する際、可撓性を有する表
示パネルには、図中Cに示す矢印の範囲に折曲部(以下、折曲部Cという)、図中Dに示
す矢印の範囲に非折曲部(以下、非折曲部Dという)形成されることとなる。
ついて、支持部4308に近接する側を折曲部Cとし、支持部4308から離れた側を非
折曲部Dとして説明している。折曲部C、非折曲部Dの位置は、支持部4308の構成及
び表示パネルを構成する基板の材質に応じて、表示パネルの湾曲の仕方が異なるものであ
る。そのため、表示パネル4311の折曲部C、非折曲部Dについて、支持部4308か
ら離れた側が折曲部Cとなり、支持部4308に近接する側が非折曲部Dとなることもあ
る。
4308の延在する方向(図7(B)中奥向き(または手前向き)の矢印7001)と垂
直方向(図7(B)中矢印7002)となる表示パネル4311に折曲部C、非折曲部D
が形成されることとなる。そのため、信号線駆動回路4323を上記のように配置するこ
とで、支持部4308と垂直な方向に曲げを可能とすると共に破損を防止できる。また走
査線駆動回路4321を表示パネル4311において支持部4308と概略平行な方向の
端部に設けることにより表示部と同プロセスで作製することも可能になるため、低コスト
化を図ることができ、支持部4308に設ける場合と比較して表示部への配線の引き回し
を低減できる。なお折曲部C、非折曲部Dは、複数形成されても良いし、交互に形成され
ていてもよい。また表示パネルに応力集中領域を設け、人為的に折曲部C、非折曲部Dを
形成してもよい。
平面図を示し、折曲部C及び非折曲部Dに対する、走査線駆動回路4321の配置につい
て説明する。
た側を非折曲部Dとして説明している。そのため、走査線駆動回路4321は、それぞれ
支持部4308から離れた側の非折曲部Dに設けるようにする。なお、表示部における画
素TFT4352への走査信号の供給は、走査線駆動回路4321から延びる配線を表示
部の各走査線に引き回すことによって行えばよい。なお走査線駆動回路4321を駆動す
るためのクロック信号等の制御信号の供給は、支持部4308内の映像信号発生回路から
延びる配線を通して行われる。回路間の電気的な接続を行うための配線は、金属膜等の微
細加工により形成されており、走査線駆動回路を構成するトランジスタの半導体膜は、珪
素膜等の半導体材料で形成される。金属膜は半導体材料に比べ、延性に優れ、湾曲による
ダメージが小さい。そのため、折曲部Cにあたる箇所に走査線駆動回路に接続される配線
を配設し、非折曲部Dにあたる箇所に走査線駆動回路を構成するトランジスタを配設する
ことにより、湾曲によるトランジスタの半導体膜へのダメージを小さくすることができる
。その結果、図8(A)のように走査線駆動回路4321を配置することで、ユーザが手
4350で表示装置を使用する際、回路の破損を抑制することができる。
Dとを交互に設ける構成について示している。そのため、走査線駆動回路4321の配置
は、非折曲部Dにおいて、駆動回路を複数に分割し、互いに離間して設けるようにする。
なお、表示部における画素TFT4352への走査信号の供給は、走査線駆動回路432
1から延びる配線を引き回すことによって行えばよい。なお走査線駆動回路4321を駆
動するためのクロック信号等の制御信号は、支持部4308内の映像信号発生回路から延
びる配線を通して行われる。また、走査線駆動回路を構成するフリップフロップ等のパル
ス信号生成回路間を伝搬する信号は、配線を通して行われる。回路間の電気的な接続を行
うための配線は、金属膜等の微細加工により形成されており、走査線駆動回路を構成する
トランジスタの半導体膜は、珪素膜等の半導体材料で形成される。金属膜は半導体材料に
比べ、延性に優れ、湾曲によるダメージが小さい。そのため、折曲部Cにあたる箇所に走
査線駆動回路に接続される配線を配設し、非折曲部Dにあたる箇所に走査線駆動回路を構
成するトランジスタを配設することにより、湾曲によるトランジスタの半導体膜へのダメ
ージを小さくすることができる。また図8(B)では、駆動回路を複数に分割し、互いに
離間して設けており、湾曲させた際に走査線駆動回路に掛かる応力を分散させることが出
来る。その結果、図8(B)のように走査線駆動回路4321を配置することで、ユーザ
が手4350で表示装置を使用する際、より効果的に、回路の破損を抑制することができ
る。
4321a、走査線駆動回路4321bとして配置し、冗長化する構成、または走査信号
を出力する機能を分散させる構成としてもよい。図8(C)では、図8(B)で説明した
構成を表示パネルの上下に配置した図である。画素TFT4352に供給する走査信号を
、走査線駆動回路4321aと走査線駆動回路4321bとで上下に配置して供給するこ
とで、走査線駆動回路を構成するフリップフロップ等のパルス信号生成回路を削減するこ
とができるため、ユーザが手4350で表示装置を使用する際、回路の破損を抑制するこ
とができる。
査線駆動回路を配置せず、非折曲部Dとなる領域に走査線駆動回路を配置する利点につい
て説明している。当該構成により、湾曲させた際に走査線駆動回路に掛かる応力を分散さ
せることができ、ユーザが手4350で表示装置を使用する際、回路の破損を抑制するこ
とができる。
して設けた際、表示パネルにおける折曲部C及び非折曲部Dを人為的に形成するための応
力集中領域を設ける一例について、図9、図10で説明する。なお、図9(A)は表示装
置の平面図を示し、図9(B)及び図9(C)は図9(A)のE1-F1間の断面図の例
である。また、図10(A)は表示装置の平面図を示し、図10(B)及び図10(C)
は図10(A)のE2-F2間の断面図の例である。
4321、信号線駆動回路4323について示している。走査線駆動回路4321は2つ
の回路部に分割して示しており、配線920を介して互いに離間して設けられている。応
力集中領域921は、配線920と重畳するように形成することが好ましい。図9(B)
には、支持部と垂直方向の断面図について示しており、配線920と重畳する応力集中領
域921では、封止基板923に切りこみ部922aを設け、素子基板924に切り込み
部922bを、一例として設ければよい。なお、図9(C)に示すように、素子基板92
4及び封止基板923の走査線駆動回路4321上に、補強板925を貼付することで、
切り込み部922a及び切り込み部922bを形成する構成としてもよい。なお切り込み
部922a及び切り込み部922bは、支持部4308の長軸方向に平行に設けても良い
し、一部にのみ設ける構成としてもよい。
に対する強度の変更により形成される、応力の集中する領域のことをいう。
アウトとなる領域が、配線引き回しに充てられる領域によって分割される状態のことをい
う。
示部4301、走査線駆動回路4321、信号線駆動回路4323について示している。
走査線駆動回路4321は4つの回路部に分割され、配線920を介して互いに離間して
設けられている。応力集中領域921は、複数の配線920と重畳するように形成するこ
とが好ましい。図10(B)には、支持部と垂直方向の断面図について示しており、配線
920と重畳する応力集中領域921では、封止基板923に複数の切り込み部922a
を設け、素子基板924に複数の切り込み部922bを、一例として設ければよい。なお
、図10(C)に示すように、素子基板924及び封止基板923の走査線駆動回路43
21上に、補強板925を貼付することで、複数の切り込み部922a及び複数の切り込
み部922bを形成する構成としてもよい。なお複数の切り込み部922a及び複数の切
り込み部922bは、支持部4308の長軸方向に平行に設けても良いし、一部にのみ設
ける構成としてもよい。
任意の数に分割して設ければよい。
路の破損をより効果的に抑制できる。また本実施の形態の構成によると、表示パネルに対
し予め切り込み部等による応力集中領域を設けることで、より効果的に、走査線駆動回路
の破損を抑制できる。
である。
本実施の形態では、表示装置に設ける表示パネルの例を示す。表示パネルは様々の表示素
子を有する表示パネルを適用することができ、パッシブマトリクス型でもアクティブマト
リクス型でもよい。
)パネル)、液晶表示パネルなどを用いることができる。表示パネルは、表示素子が封止
された状態にあるパネルであり、コネクター、例えばFPC(Flexible pri
nted circuit)もしくはTAB(Tape Automated Bond
ing)テープもしくはTCP(Tape Carrier Package)が取り付
けられ信号線駆動回路を含む外部回路と電気的に接続する。信号線駆動回路であるICが
、COG(Chip On Glass)方式により表示パネルに直接実装されてもよい
。
パネルを用いてもよい。両面表示型パネルは、両面射出型の表示パネルを用いてもよいし
、片面射出型の表示パネルを貼り合わせて用いてもよい。また、間にバックライト(好適
には薄型のELパネル)を挟んだ2つの液晶表示パネルを用いてもよい。
す。なお、図11(A)乃至(C)において、矢印は光の射出方向(視認側)を示してい
る。
3であり、基板100側に第1の表示部4302、基板101側に第2の表示部4310
が設けられている。表示素子102によって、第1の表示部4302及び第2の表示部4
310が表示されるため、基板100及び基板101は透光性を有する。表示素子102
は、自発光型の発光素子であるEL素子を用いると好ましい。なお、表示パネル4313
に入射する光を利用する場合、表示素子102として液晶表示素子や電気泳動表示素子を
用いることもできる。
パネル、及び基板111と基板113とに挟持された表示素子115を含む片面表示パネ
ルを積層した表示パネル4313であり、基板110側に第1の表示部4302、基板1
11側に第2の表示部4310が設けられている。表示素子114によって第1の表示部
4302が表示され、表示素子115によって第2の表示部4310が表示されるため基
板110及び基板111は透光性を有する。一方、基板112及び基板113は透光性を
有する必要はなく、反射性を有していてもよい。なお、片面表示パネル同士は、基板11
2及び基板113を接着層によって接着して貼り合わせればよい。また、基板112及び
基板113のどちらか一方のみを用いてもよい。
4313に入射する光を利用する場合表示素子114及び表示素子115として液晶表示
素子や電気泳動表示素子を用いることもできる。光の取り出し効率を向上させるため、片
面表示型の表示パネルとして反射型の表示パネルを用いると好ましい。
11(C)は、基板120及び基板122に挟持された表示素子124を含む透光型液晶
表示パネル、及び基板121と基板123とに挟持された表示素子125を含む透光型液
晶表示パネルを、光源となるバックライト126を介して積層した表示パネル4313で
あり、基板120側に第1の表示部4302、基板121側に第2の表示部4310が設
けられている。バックライト126の光及び表示素子124によって第1の表示部430
2が表示され、バックライト126の光及び表示素子125によって第2の表示部431
0が表示されるため基板120、基板121、基板122及び基板123は透光性を有す
る。
い。また、基板122及び基板123のどちらか一方のみを用いてもよい。バックライト
126としては、薄型のELパネルを用いると、表示パネル4313を薄型化できるため
好ましい。
設けると、表示パネルの強度を向上できるため好ましい。
至14、及び図16は、図4(A)のM-Nにおける断面図に相当する。図12乃至図1
4、及び図16は、画素回路を有する表示部4301及び走査線駆動回路4321aを有
する表示パネル4311にFPC4324が取り付けられた例であり、素子基板4331
上に設けられた表示部4301及び走査線駆動回路4321aは、シール材4005によ
って封止基板4332で封止されている。
5及び端子電極4016を有しており、接続端子電極4015及び端子電極4016はF
PC4324が有する端子と異方性導電膜4019を介して、電気的に接続されている。
016は、薄膜トランジスタ4010、4011のソース電極層及びドレイン電極層と同
じ導電膜で形成されている。
膜で形成された信号線駆動回路4323はFPCによって実装され、支持部4308内に
設けられている。信号線駆動回路4323、走査線駆動回路4321a及び表示部430
1に与えられる各種信号及び電位は、FPC4324から供給される。
、ワイヤボンディング方法、或いはTAB方法などを用いることができる。
薄膜トランジスタを複数有しており、図12乃至図14、及び図16では、表示部430
1に含まれる薄膜トランジスタ4010と、走査線駆動回路4321aに含まれる薄膜ト
ランジスタ4011とを例示している。薄膜トランジスタ4010、4011上には絶縁
層4020、4021が設けられている。なお、絶縁膜4023は下地膜として機能する
絶縁膜である。
することができる。図12乃至図14、及び図16では、薄膜トランジスタ4010、4
011として、ボトムゲート構造の逆スタガ薄膜トランジスタを用いる例を示す。薄膜ト
ランジスタ4010、4011はチャネルエッチ型を示すが、半導体層上にチャネル保護
膜を設けたチャネル保護型の逆スタガ薄膜トランジスタを用いてもよい。
示パネルを構成する。表示素子は表示を行うことがでれば特に限定されず、様々な表示素
子を用いることができる。
み手段として電界、磁界、光、又は熱の利用、表示媒体の変化については形状や位置変化
の利用、物理的変化の利用など様々な組み合わせで多くの方式がある。例えば、ツイスト
ボール方式、電気泳動方式、粉体系方式(トナーディスプレイとも呼ばれる)、液晶方式
などが挙げられる。
用いた例を示す。電子ペーパーは、紙と同じ読みやすさ、他の表示パネルに比べ低消費電
力、薄くて軽い形状とすることが可能という利点を有している。
ペーパーを示す。
ツイストボール表示方式とは、白と黒に塗り分けられた球形粒子を表示素子に用いる電極
層間に配置し、電極層間に電位差を生じさせての球形粒子の向きを制御することにより、
表示を行う方法である。
られた第2の電極層4031との間には黒色領域4615a及び白色領域4615bを有
し、周りに液体で満たされているキャビティ4612を含む球形粒子4613が設けられ
ており、球形粒子4613の周囲は樹脂等の充填材4614で充填されている。第2の電
極層4031が共通電極(対向電極)に相当する。第2の電極層4031は、共通電位線
と電気的に接続される。
して電気泳動素子を用いる例を図12(B)に示す。透明な液体4712と、第1の粒子
として負に帯電した黒い微粒子4715aと、第2の粒子として正に帯電した白い微粒子
4715bとを封入した直径10μm~200μm程度のマイクロカプセル4713を用
いる。
13は、第1の電極層4030と第2の電極層4031によって、電場が与えられると、
白い微粒子4715bと、黒い微粒子4715aが逆の方向に移動し、白または黒を表示
することができる。この原理を応用した表示素子が電気泳動表示素子である。電気泳動表
示素子は、反射率が高いため、補助ライトは不要であり、また消費電力が小さく、薄暗い
場所でも表示部を認識することが可能である。また、表示部に電源が供給されない場合で
あっても、一度表示した像を保持することが可能であるため、電波発信源から表示パネル
を遠ざけた場合であっても、表示された像を保存しておくことが可能となる。
のである。また、第1の粒子および第2の粒子の色は異なるもの(無色を含む)とする。
の電子インクはガラス、プラスチック、布、紙などの表面に印刷することができる。また
、カラーフィルタや色素を有する粒子を用いることによってカラー表示も可能である。
半導体材料、磁性材料、液晶材料、強誘電性材料、エレクトロルミネセント材料、エレク
トロクロミック材料、磁気泳動材料から選ばれた一種の材料、またはこれらの複合材料を
用いればよい。
して電子粉流体を用いる例を図16に示す。第1の電極層4030、第2の電極層403
1、及びリブ4814に区切られた空間4812に、正に帯電した黒い粉流体4815a
と負に帯電した白い粉流体4815bとを充填する。なお空間4812は空気である。
体4815aと、白い粉流体4815bが逆の方向に移動し、白または黒を表示すること
ができる。粉流体として赤、黄、青のようなカラー粉体を用いてもよい。
用いてもよい。エレクトロルミネッセンスを利用する発光素子は、発光材料が有機化合物
であるか、無機化合物であるかによって区別され、一般的に、前者は有機EL素子、後者
は無機EL素子と呼ばれている。
がそれぞれ発光性の有機化合物を含む層に注入され、電流が流れる。そして、それらキャ
リア(電子および正孔)が再結合することにより、発光性の有機化合物が励起状態を形成
し、その励起状態が基底状態に戻る際に発光する。このようなメカニズムから、このよう
な発光素子は、電流励起型の発光素子と呼ばれる。
類される。分散型無機EL素子は、発光材料の粒子をバインダ中に分散させた発光層を有
するものであり、発光メカニズムはドナー準位とアクセプター準位を利用するドナー-ア
クセプター再結合型発光である。薄膜型無機EL素子は、発光層を誘電体層で挟み込み、
さらにそれを電極で挟んだ構造であり、発光メカニズムは金属イオンの内殻電子遷移を利
用する局在型発光である。なお、ここでは、発光素子として有機EL素子を用いて説明す
る。
て、基板上に薄膜トランジスタ及び発光素子を形成し、基板とは逆側の面から発光を取り
出す上面射出や、基板側の面から発光を取り出す下面射出や、基板側及び基板とは反対側
の面から発光を取り出す両面射出構造の発光素子があり、どの射出構造の発光素子も適用
することができる。
示素子である発光素子4513は、表示部4301に設けられた薄膜トランジスタ401
0と電気的に接続している。なお発光素子4513の構成は、第1の電極層4030、電
界発光層4511、第2の電極層4031の積層構造であるが、示した構成に限定されな
い。発光素子4513から取り出す光の方向などに合わせて、発光素子4513の構成は
適宜変えることができる。
特に感光性の材料を用い、第1の電極層4030上に開口部を形成し、その開口部の側壁
が連続した曲率を持って形成される傾斜面となるように形成することが好ましい。
されていてもどちらでも良い。
4031及び隔壁4510上に保護膜を形成してもよい。保護膜としては、窒化珪素膜、
窒化酸化珪素膜、DLC膜等を形成することができる。また、素子基板4331、封止基
板4332、及びシール材4005によって封止された空間には充填材4514が設けら
れ密封されている。このように外気に曝されないように気密性が高く、脱ガスの少ない保
護フィルム(貼り合わせフィルム、紫外線硬化樹脂フィルム等)やカバー材でパッケージ
ング(封入)することが好ましい。
は熱硬化樹脂を用いることができ、PVC(ポリビニルクロライド)、アクリル、ポリイ
ミド、エポキシ樹脂、シリコーン樹脂、PVB(ポリビニルブチラル)またはEVA(エ
チレンビニルアセテート)を用いることができる。例えば充填材として窒素を用いればよ
い。
位相差板(λ/4板、λ/2板)、カラーフィルタなどの光学フィルムを適宜設けてもよ
い。また、偏光板又は円偏光板に反射防止膜を設けてもよい。例えば、表面の凹凸により
反射光を拡散し、映り込みを低減できるアンチグレア処理を施すことができる。
表示素子である液晶素子4013は、第1の電極層4030、第2の電極層4031、及
び液晶層4008を含む。なお、液晶層4008を挟持するように配向膜として機能する
絶縁膜4032、4033が設けられている。第2の電極層4031は封止基板4332
側に設けられ、第1の電極層4030と第2の電極層4031とは液晶層4008を介し
て積層する構成となっている。
液晶層4008の膜厚(セルギャップ)を制御するために設けられている。なお球状のス
ペーサを用いていても良い。
トリクス(遮光層)、偏光部材、位相差部材、反射防止部材などの光学部材(光学基板)
などは適宜設ける。例えば、偏光基板及び位相差基板による円偏光を用いてもよい。また
、光源としてバックライト、サイドライトなどを用いてもよい。バックライトとしてはE
Lパネルを用いると薄型化できるために好ましい。
あり、コレステリック液晶を昇温していくと、コレステリック相から等方相へ転移する直
前に発現する相である。ブルー相は狭い温度範囲でしか発現しないため、温度範囲を改善
するために5重量%以上のカイラル剤を混合させた液晶組成物を用いて液晶層4008に
用いる。ブルー相を示す液晶とカイラル剤とを含む液晶組成物は、応答速度が10μs~
100μsと短く、光学的等方性であるため配向処理が不要であり、視野角依存性が小さ
い。
晶表示パネルでも適用できる。
しては、透光性を有するプラスチックなどを用いることができる。プラスチックとしては
、FRP(Fiberglass-Reinforced Plastics)板、PV
F(ポリビニルフルオライド)フィルム、ポリエステルフィルムまたはアクリル樹脂フィ
ルムを用いることができる。また、アルミニウムホイルをPVFフィルムやポリエステル
フィルムで挟んだ構造のシートを用いることもできる。
ぐためのものであり、緻密な膜が好ましい。保護膜は、スパッタ法を用いて、酸化珪素膜
、窒化珪素膜、酸化窒化珪素膜、窒化酸化珪素膜、酸化アルミニウム膜、窒化アルミニウ
ム膜、酸化窒化アルミニウム膜、又は窒化酸化アルミニウム膜の単層、又は積層で形成す
ればよい。
クロブテン、ポリアミド、エポキシ等の、耐熱性を有する有機材料を用いることができる
。また上記有機材料の他に、低誘電率材料(low-k材料)、シロキサン系樹脂、PS
G(リンガラス)、BPSG(リンボロンガラス)等を用いることができる。なお、これ
らの材料で形成される絶縁膜を複数積層させることで、絶縁層を形成してもよい。
ッタ法、SOG法、スピンコート、ディップ、スプレー塗布、液滴吐出法(インクジェッ
ト法、スクリーン印刷、オフセット印刷等)、ドクターナイフ、ロールコーター、カーテ
ンコーター、ナイフコーター等を用いることができる。絶縁層を材料液を用いて形成する
場合、ベークする工程で同時に、半導体層のアニール(200℃~400℃)を行っても
よい。絶縁層の焼成工程と半導体層のアニールを兼ねることで効率よく表示パネルを作製
することが可能となる。
示部に設けられる基板、絶縁膜、導電膜などの薄膜はすべて可視光の波長領域の光に対し
て透光性とする。
向電極層などともいう)においては、取り出す光の方向、電極層が設けられる場所、及び
電極層のパターン構造によって透光性、反射性を選択すればよい。
化物、酸化タングステンを含むインジウム亜鉛酸化物、酸化チタンを含むインジウム酸化
物、酸化チタンを含むインジウム錫酸化物、インジウム錫酸化物(以下、ITOと示す。
)、インジウム亜鉛酸化物、酸化ケイ素を添加したインジウム錫酸化物などの透光性を有
する導電性材料を用いることができる。
(Mo)、ジルコニウム(Zr)、ハフニウム(Hf)、バナジウム(V)、ニオブ(N
b)、タンタル(Ta)、クロム(Cr)、コバルト(Co)、ニッケル(Ni)、チタ
ン(Ti)、白金(Pt)、アルミニウム(Al)、銅(Cu)、銀(Ag)等の金属、
又はその合金、若しくはその金属窒化物から一つ、又は複数種を用いて形成することがで
きる。
マーともいう)を含む導電性組成物を用いて形成することができる。導電性高分子として
は、いわゆるπ電子共役系導電性高分子が用いることができる。例えば、ポリアニリンま
たはその誘導体、ポリピロールまたはその誘導体、ポリチオフェンまたはその誘導体、若
しくはこれらの2種以上の共重合体などがあげられる。
回路を設けることが好ましい。保護回路は、非線形素子を用いて構成することが好ましい
。
である。
本実施の形態では、表示装置を構成する材料や素子構造の例を詳細に説明する。
信号線駆動回路として、高速動作が可能な半導体基板(半導体ウエハー)を用いた半導体
集積回路チップ(IC)を用いることが好ましい。半導体基板として単結晶半導体基板及
び多結晶半導体基板を用いることができ、シリコンウエハーやゲルマニウムウエハーなど
の半導体ウエハー、ガリウムヒ素やインジウムリンなどの化合物半導体ウエハーを適用す
る。
SOI基板)を用いてもよい。SOI基板は、SIMOX(Separation by
IMplanted Oxygen)法や、Smart-Cut法を用いて形成するこ
とができる。SIMOX法は、単結晶シリコン基板に酸素イオンを注入し、所定の深さに
酸素含有層を形成した後、熱処理を行い、表面から一定の深さで埋込絶縁層を形成し、埋
込絶縁層の上に単結晶シリコン層を形成する方法である。また、Smart-Cut法は
、酸化された単結晶シリコン基板に水素イオン注入を行い、所望の深さに相当する所に水
素含有層を形成し、他の半導体基板(表面に貼り合わせ用の酸化シリコン膜を有する単結
晶シリコン基板など)と貼り合わせ、加熱処理を行うことにより水素含有層にて単結晶シ
リコン基板を分断し、半導体基板上に酸化シリコン膜と単結晶シリコン層との積層を形成
する方法である。
導体層を用いるメモリ(記憶)素子なども適用することができ、多用途に渡って要求され
る機能を満たす半導体集積回路を設けることができる。
定されない。走査線駆動回路及び表示部は可撓性基板に直接形成してもよいし、他の作製
基板上に作製し、その後作製基板から剥離法を用いて素子層のみを可撓性基板へ転置して
設けてもよい。例えば、走査線駆動回路及び表示部を同一工程で作製基板に形成し、走査
線駆動回路及び表示部を表示パネルの可撓性基板に転置して設けることができる。この場
合、走査線駆動回路及び表示部は同工程で形成されるため、同じ構造及び材料のトランジ
スタとすると低コスト化できて好ましい。よって、走査線駆動回路及び表示部を構成する
トランジスタのチャネル層が同じ材料で設けられる。
へ接着して設けてもよい。例えば、作製基板に走査線駆動回路のみを複数形成し、可撓性
の支持基板に転置した後、可撓性の支持基板ごと個々の走査線駆動回路に分断して、1つ
の表示パネルに必要なだけ可撓性の支持基板上に設けられた走査線駆動回路を接着して設
けてもよい。この場合、走査線駆動回路と表示部とは別工程で作製されるため、それぞれ
種々の構成及び材料のトランジスタを選択できる。
表示部、走査線駆動回路部、FPCなどを電気的に接続する配線を表示パネルの可撓性基
板に直接形成すればよい。
基板としては、ガラス基板、石英基板、サファイア基板、セラミック基板、表面に絶縁層
が形成された金属基板などを用いることができる。また、処理温度に耐えうる耐熱性を有
するプラスチック基板を用いてもよい。
テルサルフォン(PES)樹脂、ポリフェニレンサルファイド(PPS)樹脂、ポリイミ
ド(PI)樹脂などを用いることができる。また、繊維に有機樹脂が含浸された構造体で
あるプリプレグを用いてもよい。
とができる。例えば作製基板と素子層との間に剥離層を形成すればよい。
基板側で設ける対向電極層なども含む。よって剥離工程は、素子基側及び封止基板側どち
らにも用いることができる。また、工程の簡便性を考慮し、作製基板より可撓性基板へ転
置した後、作製工程において該可撓性基板をガラス基板等に仮接着して作製工程を進める
こともできる。
ン(W)、モリブデン(Mo)、チタン(Ti)、タンタル(Ta)、ニオブ(Nb)、
ニッケル(Ni)、コバルト(Co)、ジルコニウム(Zr)、亜鉛(Zn)、ルテニウ
ム(Ru)、ロジウム(Rh)、パラジウム(Pd)、オスミウム(Os)、イリジウム
(Ir)、珪素(Si)から選択された元素、又は元素を主成分とする合金材料、又は前
記元素を主成分とする化合物材料からなる層を、単層又は積層して形成する。珪素を含む
層の結晶構造は、非晶質、微結晶、多結晶のいずれの場合でもよい。なお、ここでは、塗
布法は、スピンコーティング法、液滴吐出法、ディスペンス法を含む。
ンとモリブデンの混合物を含む層を形成する。又は、タングステンの酸化物若しくは酸化
窒化物を含む層、モリブデンの酸化物若しくは酸化窒化物を含む層、又はタングステンと
モリブデンの混合物の酸化物若しくは酸化窒化物を含む層を形成する。なお、タングステ
ンとモリブデンの混合物とは、例えば、タングステンとモリブデンの合金に相当する。
はタングステンとモリブデンの混合物を含む層を形成し、2層目として、タングステン、
モリブデン又はタングステンとモリブデンの混合物の酸化物、窒化物、酸化窒化物又は窒
化酸化物を形成する。
する場合、タングステンを含む層を形成し、その上層に酸化物で形成される絶縁層を形成
することで、タングステン層と絶縁層との界面に、タングステンの酸化物を含む層が形成
されることを活用してもよい。さらには、タングステンを含む層の表面を、熱酸化処理、
酸素プラズマ処理、オゾン水等の酸化力の強い溶液での処理等を行ってタングステンの酸
化物を含む層を形成してもよい。またプラズマ処理や加熱処理は、酸素、窒素、一酸化二
窒素単体、あるいは前記ガスとその他のガスとの混合気体雰囲気下で行ってもよい。これ
は、タングステンの窒化物、酸化窒化物及び窒化酸化物を含む層を形成する場合も同様で
あり、タングステンを含む層を形成後、その上層に窒化珪素層、酸化窒化珪素層、窒化酸
化珪素層を形成するとよい。
の間に金属酸化膜を設け、当該金属酸化膜を結晶化により脆弱化して、当該素子層を剥離
する方法、耐熱性の高い基板と素子層の間に水素を含む非晶質珪素膜を設け、レーザ光の
照射またはエッチングにより当該非晶質珪素膜を除去することで、当該素子層を剥離する
方法、基板と素子層の間に剥離層を形成し、剥離層と素子層との間に金属酸化膜を設け、
当該金属酸化膜を結晶化により脆弱化し、剥離層の一部を溶液やNF3、BrF3、Cl
F3等のフッ化ハロゲンガスによりエッチングで除去した後、脆弱化された金属酸化膜に
おいて剥離する方法、素子層が形成された基板を機械的に削除又は溶液やNF3、BrF
3、ClF3等のフッ化ハロゲンガスによるエッチングで除去する方法等を適宜用いるこ
とができる。また、剥離層として窒素、酸素や水素等を含む膜(例えば、水素を含む非晶
質珪素膜、水素含有合金膜、酸素含有合金膜など)を用い、剥離層にレーザ光を照射して
剥離層内に含有する窒素、酸素や水素をガスとして放出させ素子層と基板との剥離を促進
する方法を用いてもよい。
ザ光の照射、ガスや溶液などによる剥離層へのエッチング、鋭いナイフやメスなどによる
機械的な削除を行い、剥離層と素子層とを剥離しやすい状態にしてから、物理的な力(機
械等による)によって剥離を行うこともできる。
体としては水などを用いることができる。
スタの構造や用いる半導体材料は種々用いることができる。
ける薄膜トランジスタ4010に用いることのできる薄膜トランジスタの例である。
縁膜4023上に薄膜トランジスタ4010a、410b、4010c、4010dが設
けられている。薄膜トランジスタ4010a、4010b、4010c、4010d上に
絶縁層4020、絶縁層4021が形成され、薄膜トランジスタ4010a、4010b
、4010c、4010dと電気的に接続する第1の電極層4030が設けられている。
ース電極層及びドレイン電極層として機能する配線層405a、405bと半導体層40
3とがn+層を介さずに接する構成である。
基板である素子基板4331、絶縁膜4023上に、ゲート電極層401、ゲート絶縁層
402、半導体層403、ソース電極層又はドレイン電極層として機能する配線層405
a、405bを含む。
する基板である素子基板4331、絶縁膜4023上に、ゲート電極層401、ゲート絶
縁層402、ソース電極層又はドレイン電極層として機能する配線層405a、405b
、ソース領域又はドレイン領域として機能するn+層404a、404b、及び半導体層
403を含む。n+層404a、404bは、半導体層403より低抵抗な半導体層であ
る。また、薄膜トランジスタ4010bを覆い、半導体層403に接する絶縁層4020
が設けられている。
間に設ける構造としてもよい。また、n+層をゲート絶縁層及び配線層の間と、配線層と
半導体層の間と両方に設ける構造としてもよい。
ート絶縁層402が存在し、ゲート絶縁層402と絶縁表面を有する基板である素子基板
4331の間にゲート電極層401が設けられている。ゲート絶縁層402上には配線層
405a、405b、及びn+層404a、404bが設けられている。そして、ゲート
絶縁層402、配線層405a、405b、及びn+層404a、404b上に半導体層
403が設けられている。また、図示しないが、ゲート絶縁層402上には配線層405
a、405bに加えて配線層を有し、該配線層は半導体層403の外周部より外側に延在
している。
びドレイン電極層と半導体層とが、n+層を介さずに接する構成である。
ート絶縁層402が存在し、ゲート絶縁層402と絶縁表面を有する基板である素子基板
4331の間にゲート電極層401が設けられている。ゲート絶縁層402上には配線層
405a、405bが設けられている。そして、ゲート絶縁層402、配線層405a、
405b上に半導体層403が設けられている。また、図示しないが、ゲート絶縁層40
2上には配線層405a、405bに加えて配線層を有し、該配線層は半導体層403の
外周部より外側に延在している。
ジスタ4010dはプラナー型の薄膜トランジスタの例である。絶縁表面を有する基板で
ある素子基板4331、絶縁膜4023上に、ソース領域又はドレイン領域として機能す
るn+層404a、404bを含む半導体層403、半導体層403上にゲート絶縁層4
02が形成され、ゲート絶縁層402上にゲート電極層401が形成されている。またn
+層404a、404bと接してソース電極層又はドレイン電極層として機能する配線層
405a、405bが形成されている。n+層404a、404bは、半導体層403よ
り低抵抗な半導体領域である。
ート構造でもよい。この場合、半導体層の上方及び下方にゲート電極層を設ける構造でも
良く、半導体層の片側(上方又は下方)にのみ複数ゲート電極層を設ける構造でもよい。
いることのできる材料の例を説明する。
料ガスを用いて気相成長法やスパッタリング法で作製される非晶質(アモルファス、以下
「AS」ともいう。)半導体、該非晶質半導体を光エネルギーや熱エネルギーを利用して
結晶化させた多結晶半導体、或いは微結晶(セミアモルファス若しくはマイクロクリスタ
ルとも呼ばれる。以下「SAS」ともいう。)半導体などを用いることができる。半導体
層はスパッタ法、LPCVD法、またはプラズマCVD法等により成膜することができる
。
定状態に属するものである。すなわち、自由エネルギー的に安定な第3の状態を有する半
導体であって、短距離秩序を持ち格子歪みを有する。柱状または針状結晶が基板表面に対
して法線方向に成長している。微結晶半導体の代表例である微結晶シリコンは、そのラマ
ンスペクトルが単結晶シリコンを示す520cm-1よりも低波数側に、シフトしている
。即ち、単結晶シリコンを示す520cm-1とアモルファスシリコンを示す480cm
-1の間に微結晶シリコンのラマンスペクトルのピークがある。また、未結合手(ダング
リングボンド)を終端するため水素またはハロゲンを少なくとも1原子%またはそれ以上
含ませている。さらに、ヘリウム、アルゴン、クリプトン、ネオンなどの希ガス元素を含
ませて格子歪みをさらに助長させることで、安定性が増し良好な微結晶半導体膜が得られ
る。
たは周波数が1GHz以上のマイクロ波プラズマCVD装置により形成することができる
。代表的には、SiH4、Si2H6、SiH2Cl2、SiHCl3、SiCl4、S
iF4などの水素化珪素を水素で希釈して形成することができる。また、水素化珪素及び
水素に加え、ヘリウム、アルゴン、クリプトン、ネオンから選ばれた一種または複数種の
希ガス元素で希釈して微結晶半導体膜を形成することができる。これらのときの水素化珪
素に対して水素の流量比を5倍以上200倍以下、好ましくは50倍以上150倍以下、
更に好ましくは100倍とする。
しては代表的にはポリシリコンなどがあげられる。ポリシリコン(多結晶シリコン)には
、800℃以上のプロセス温度を経て形成されるポリシリコンを主材料として用いた所謂
高温ポリシリコンや、600℃以下のプロセス温度で形成されるポリシリコンを主材料と
して用いた所謂低温ポリシリコン、また結晶化を促進する元素などを用いて、非晶質シリ
コンを結晶化させたポリシリコンなどを含んでいる。もちろん、前述したように、微結晶
半導体又は半導体層の一部に結晶相を含む半導体を用いることもできる。
GaAs、InP、SiC、ZnSe、GaN、SiGeなどのような化合物半導体も用
いることができる。
法(レーザ結晶化法、熱結晶化法、またはニッケルなどの結晶化を助長する元素を用いた
熱結晶化法等)を用いれば良い。また、SASである微結晶半導体をレーザ照射して結晶
化し、結晶性を高めることもできる。結晶化を助長する元素を導入しない場合は、非晶質
珪素膜にレーザ光を照射する前に、窒素雰囲気下500℃で1時間加熱することによって
非晶質珪素膜の含有水素濃度を1×1020atoms/cm3以下にまで放出させる。
これは水素を多く含んだ非晶質珪素膜にレーザ光を照射すると非晶質珪素膜が破壊されて
しまうからである。
面又はその内部に存在させ得る手法であれば特に限定はなく、例えばスパッタ法、CVD
法、プラズマ処理法(プラズマCVD法も含む)、吸着法、金属塩の溶液を塗布する方法
を使用することができる。このうち溶液を用いる方法は簡便であり、金属元素の濃度調整
が容易であるという点で有用である。また、このとき非晶質半導体膜の表面の濡れ性を改
善し、非晶質半導体膜の表面全体に水溶液を行き渡らせるため、酸素雰囲気中でのUV光
の照射、熱酸化法、ヒドロキシラジカルを含むオゾン水又は過酸化水素による処理等によ
り、酸化膜を成膜することが望ましい。
体膜に結晶化を促進する元素(触媒元素、金属元素とも示す)を添加し、熱処理(550
℃~750℃で3分~24時間)により結晶化を行ってもよい。結晶化を助長(促進)す
る元素としては、鉄(Fe)、ニッケル(Ni)、コバルト(Co)、ルテニウム(Ru
)、ロジウム(Rh)、パラジウム(Pd)、オスミウム(Os)、イリジウム(Ir)
、白金(Pt)、銅(Cu)及び金(Au)から選ばれた一種又は複数種類を用いること
ができる。
接して、不純物元素を含む半導体膜を形成し、ゲッタリングシンクとして機能させる。不
純物元素としては、n型を付与する不純物元素、p型を付与する不純物元素や希ガス元素
などを用いることができ、例えばリン(P)、窒素(N)、ヒ素(As)、アンチモン(
Sb)、ビスマス(Bi)、ボロン(B)、ヘリウム(He)、ネオン(Ne)、アルゴ
ン(Ar)、Kr(クリプトン)、Xe(キセノン)から選ばれた一種または複数種を用
いることができる。結晶化を促進する元素を含む結晶性半導体膜に、希ガス元素を含む半
導体膜を形成し、熱処理(550℃~750℃で3分~24時間)を行う。結晶性半導体
膜中に含まれる結晶化を促進する元素は、希ガス元素を含む半導体膜中に移動し、結晶性
半導体膜中の結晶化を促進する元素は除去、又は軽減される。その後、ゲッタリングシン
クとなった希ガス元素を含む半導体膜を除去する。
熱処理やレーザ光照射を単独で、複数回行っても良い。
法を用いて、結晶性半導体膜を選択的に基板に形成してもよい。
(SnO2)なども用いることができる。ZnOを半導体層に用いる場合、ゲート絶縁層
をY2O3、Al2O3、TiO2、それらの積層などを用い、ゲート電極層、ソース電
極層、ドレイン電極層としては、ITO、Au、Tiなどを用いることができる。また、
ZnOにInやGaなどを添加することもできる。
できる。なお、Mは、ガリウム(Ga)、鉄(Fe)、ニッケル(Ni)、マンガン(M
n)及びコバルト(Co)から選ばれた一の金属元素又は複数の金属元素を示す。例えば
Mとして、Gaの場合があることの他、GaとNi又はGaとFeなど、Ga以外の上記
金属元素が含まれる場合がある。また、上記酸化物半導体において、Mとして含まれる金
属元素の他に、不純物元素としてFe、Niその他の遷移金属元素、又は該遷移金属の酸
化物が含まれているものがある。例えば、酸化物半導体層としてIn-Ga-Zn-O系
非単結晶膜を用いることができる。
非単結晶膜のかわりに、Mを他の金属元素とするInMO3(ZnO)m(m>0)膜を
用いてもよい。また、酸化物半導体層に適用する酸化物半導体として上記の他にも、In
-Sn-Zn-O系、In-Al-Zn-O系、Sn-Ga-Zn-O系、Al-Ga-
Zn-O系、Sn-Al-Zn-O系、In-Zn-O系、Sn-Zn-O系、Al-Z
n-O系、In-O系、Sn-O系、Zn-O系の酸化物半導体を適用することができる
。
である。
Claims (4)
- 第1の樹脂及び第2の樹脂と、
表示部と、
走査線駆動回路と、
信号線駆動回路と、
FPCと、を有し、
前記表示部が有する第1のトランジスタは、前記第1の樹脂と前記第2の樹脂との間に位置する領域を有し、
前記走査線駆動回路が有する第2のトランジスタは、前記第1の樹脂と前記第2の樹脂との間に位置する領域を有し、
前記信号線駆動回路は、前記第1の樹脂と前記第2の樹脂との間に位置せず、
前記第1の樹脂は、前記表示部及び前記走査線駆動回路と重なる第1の領域と、前記FPCと重なる第2の領域と、前記第1の領域と前記第2の領域との間であって前記第2の樹脂と重なる第3の領域とを有し、
前記第1の樹脂は、前記第3の領域において折り曲がる機能を有する表示装置。 - 第1の樹脂及び第2の樹脂と、
表示部と、
走査線駆動回路と、
信号線駆動回路と、
FPCと、を有し、
前記表示部が有する第1のトランジスタは、前記第1の樹脂と前記第2の樹脂との間に位置する領域を有し、
前記走査線駆動回路が有する第2のトランジスタは、前記第1の樹脂と前記第2の樹脂との間に位置する領域を有し、
前記信号線駆動回路は、前記第1の樹脂と前記第2の樹脂との間に位置せず、
前記第1の樹脂は、前記表示部及び前記走査線駆動回路と重なる第1の領域と、前記FPCと重なる第2の領域と、前記第1の領域と前記第2の領域との間であって前記第2の樹脂と重なる第3の領域とを有し、
前記第1の樹脂は、前記第3の領域において折り曲がる機能を有し、
前記表示部は、折り曲がる機能を有する表示装置。 - 請求項1又は請求項2において、
前記FPC上に前記信号線駆動回路を有する表示装置。 - 請求項1又は請求項2において、
前記第1の樹脂は、前記信号線駆動回路と重なる第4の領域を有する表示装置。
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