JP5249926B2 - 低減されたアクセス粒度を備えたメモリモジュール - Google Patents
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Description
本発明は、データ記憶方法およびシステムに関する。
信号速度の向上は、ダイナミックランダムアクセスメモリ(DRAM)におけるコアアクセス時間の改善を上回り続け、ピークデータ転送速度に応じるために、アクセスごとにますます多量のデータを出力するメモリ装置およびサブシステムに至っている。多くの場合に、データ出力の増加は、出力バーストの長さ、すなわちメモリコア内の所与の位置から受信されたデータを出力するために連続して実行されるデータ送信の数の単純な拡張を通して達成される。図1A−1Cは、メモリコントローラ101およびメモリモジュール103によって形成された先行技術のメモリシステム100内において、このアプローチを示す。メモリモジュール103には、メモリ装置Aおよびメモリ装置Bとして、グループ化された形態で示される2セットのメモリ装置が含まれるが、全てのメモリ装置は、共有コマンド/アドレス経路(CA)、共有クロック線(CLK)および共有チップ選択線(CS)に結合され、メモリ装置Aは、データ線の第1のセットDQ−Aに結合され、メモリ装置Bは、データ線の第2のセットDQ−Bに結合される。図1Bを参照すると、メモリコントローラは、クロック信号(Clk)の連続サイクル0および1の間に、行活性化コマンド(ACT)および列アクセスコマンド(RD)、ならびに関連する行および列アドレス値をコマンド/アドレス経路に出力して、両方のクロックサイクル中にチップ選択信号をアサートする(すなわちCS=1)ことによって、メモリアクセスを開始する。全てのメモリ装置(すなわち、メモリ装置Aおよびメモリ装置B)は、クロックサイクル0および1の間にコマンド/アドレス経路をサンプリングして行活性化コマンドおよび列アクセスコマンド(本明細書では、メモリアクセスコマンドとして一括して呼ばれる)を受信することによって、チップ選択信号のアサーションに応答する。その後、AおよびBメモリ装置のそれぞれは、メモリコア内のアドレス指定された行を活性化し、次に活性化された行内のアドレス指定された列から読み出しデータを検索することによって、クロックサイクル0および1の間に受信されたメモリアクセスコマンドに応答する。したがって、メモリアクセスコマンドの受信から多少の時間TRD後に、AおよびBメモリ装置のそれぞれの内部で検索された読み出しデータ値は、クロックサイクル4および5の間に、並列データバーストシーケンス(すなわち、バーストシーケンス内の各送信が、0−3の番号を連続的に付けられる)でデータ線DQ−AおよびDQ−Bに出力される。この動作によって、メモリアクセストランザクションは、パイプライン化され、所与のトランザクション用のメモリアクセスコマンドが、前に送信されたメモリアクセスコマンド用のデータ送信と同時に送信されるようにしてもよい。データバーストの長さ(時には「プリフェッチ」と呼ばれる)が、メモリアクセスコマンド長さと一致するので、コマンド/アドレスおよびデータ経路リソースは、ピークデータ転送の期間中に完全に利用することが可能である。
信号リソースのより効率的な利用およびメモリアクセス粒度の低減を可能にするメモリシステムおよびメモリモジュールが、様々な実施形態で開示される。一実施形態において、メモリモジュールに配置され、かつデータ経路のそれぞれの部分に結合された2セット以上のメモリ装置が、共有コマンド/アドレス経路を介して独立してアクセスされ、かくして、データ経路のそれぞれの部分で転送される各トランザクション用のデータを用いて、2つ以上の低減された粒度のメモリトランザクションを並列に実行できるようにする。特定の実施形態において、データ経路のそれぞれの部分に結合されたメモリ装置セットへの独立したアクセスが、各メモリ装置セット用に別個のチップ選択線を設けることによって達成される。異なる時間に別個のチップ選択線でチップ選択信号をアサートすることによって、メモリ装置の対応するセットが、異なる時間に共有コマンド/アドレス経路を介して転送されるコマンドおよびアドレス値をサンプリングすることが可能になり、実際上は、共有コマンド/アドレス経路を時間多重化して、異なるメモリ装置セットが別個のコマンドおよび対応アドレスを受信できようにする。したがって、各メモリ装置に送信されるコマンドをずらすことによって、多数の独立したメモリアクセス動作が、メモリモジュール内で並列に(すなわち、時間において少なくとも部分的に重複して)開始および実行可能であり、各メモリアクセスにおいてメモリモジュールへまたはそこから転送されるデータは、完全なデータ経路に結合された全てのメモリ装置に向けられた単一のメモリアクセストランザクションの粒度に比べて、低減された粒度を有する。さらに、出力データバーストレートが増加される(すなわち信号速度が増加する)と、当然、追加的な帯域幅が、コマンド/アドレス経路で利用可能になる可能性があるので、増加したコマンド/アドレス帯域幅を、メモリ装置の各追加的な独立してアクセス可能なセットに供給される追加コマンド/アドレスを伝達するために適用し、それによって、信号リソースの完全かつ効率的な利用を可能にしてもよい。メモリモジュールデータ経路のそれぞれの部分に結合されたメモリ装置セット内における独立したメモリアクセス動作を可能にするための代替技術には、限定ではなく例として、共有チップ選択線の活性化に関連してメモリ装置の異なるセット内で異なるコマンド/アドレスサンプリング時刻を確立することと、メモリ装置の異なるセット内で、異なるチップ選択アサーション極性を確立することと、コマンド/アドレス値内にかまたはそれに関連して、チップ識別子の値を含むことと、が含まれる。これらおよび他の特徴および技術は、以下でさらに詳細に開示する。
)もまた、アクティブロー信号を示すために用いられる。用語「結合される(された)」は、直接接続と同様に、1つまたは複数の介在する回路または構造を通した接続を表すために用いられる。集積回路装置の「プログラミング」には、限定ではなく例として、ホスト命令に応じて装置内のレジスタまたは他の記憶回路に制御値をロードし、かくして、装置の動作態様を制御することと、ワンタイムプログラミング動作(例えば、装置の製造中に設定回路内でヒューズを飛ばすこと)を通して装置構成を確立するかまたは装置の動作態様を制御することと、および/または装置の1つもしくは複数の選択されたピンもしくは他のコンタクト構造を基準電圧線に接続(ストラッピングとも呼ばれる)して、装置の特定の装置構成もしくは動作態様を確立することと、を含んでもよい。用語「例示的な」は、優位または要件ではなく、例を表すために用いられる。
Claims (57)
- プリント回路基板と、
メモリモジュールをコネクタの相手コンタクトに電気的に結合可能にする、前記プリント回路基板のエッジに配置されたコンタクトと、
前記プリント回路基板に配置され、かつ前記コンタクトから延びて、制御経路ならびに第1および第2のデータ経路を形成する信号線と、
前記制御経路に共通に結合され、かつ前記第1および第2のデータ経路にそれぞれ結合された第1および第2のメモリ装置であって、前記制御経路を介してそれぞれの異なる第1および第2のメモリアクセスコマンドを受信し、かつ前記第1および第2のメモリアクセスコマンドに応じて、それぞれ、前記第1および第2のデータ経路において時間的に並列にデータを転送する並列データ転送を行う制御回路を有する第1および第2のメモリ装置と、
を含むメモリモジュール。 - 前記第1のメモリアクセスコマンドが、前記第1のメモリ装置内でアクセスされる記憶位置を示す第1のアドレス値を含み、前記第2のメモリアクセスコマンドが、前記第2のメモリ装置内でアクセスされる記憶位置を示す第2のアドレス値を含む、請求項1に記載のメモリモジュール。
- 前記第1のメモリ装置と一緒に、メモリ装置の第1のセットを構成する1つまたは複数のメモリ装置であって、前記第1のセットの前記メモリ装置のそれぞれが、前記第1のデータ経路のそれぞれの信号線に結合され、かつ前記制御経路に共通に結合される1つまたは複数のメモリ装置と、
前記第2のメモリ装置と一緒に、メモリ装置の第2のセットを構成する1つまたは複数のメモリ装置であって、前記第2のセットの前記メモリ装置のそれぞれが、前記第2のデータ経路のそれぞれの信号線に結合され、かつ前記制御経路に共通に結合される1つまたは複数のメモリ装置と、
をさらに含む、請求項1に記載のメモリモジュール。 - 前記第1および第2のデータ経路において並列データ転送を行う、前記第1および第2のメモリ装置内の前記制御回路が、第1の期間中に前記第1のデータ経路において読み出しデータを送信する、前記第1のメモリ装置内の送信回路と、第2の期間中に前記第2のデータ経路において読み出しデータを送信する、前記第2のメモリ装置内の送信回路と、
を含み、前記第1および第2の期間が、時間的に少なくともいくらか重複する、請求項1に記載のメモリモジュール。 - 前記第1および第2のデータ経路において並列データ転送を行う、前記第1および第2のメモリ装置内の前記制御回路が、第1の期間中に前記第1のデータ経路を介して書き込みデータを受信する、前記第1のメモリ装置内の受信回路と、第2の期間中に前記第2のデータ経路を介して書き込みデータを受信する、前記第2のメモリ装置内の受信回路と、
を含み、前記第1および第2の期間が、時間的に少なくともいくらか重複する、請求項1に記載のメモリモジュール。 - 前記第1および第2のデータ経路において並列データ転送を行う、前記第1および第2のメモリ装置内の前記制御回路が、第1の期間中に前記第1のデータ経路において読み出しデータを送信する、前記第1のメモリ装置内の送信回路と、第2の期間中に前記第2のデータ経路を介して書き込みデータを受信する、前記第2のメモリ装置内の受信回路と、
を含み、前記第1および第2の期間が、時間的に少なくともいくらか重複する、請求項1に記載のメモリモジュール。 - 前記第1および第2のメモリ装置にそれぞれ結合されて、前記第1および第2のメモリ装置を独立して選択できるようにする第1および第2のチップ選択線をさらに含む、請求項1に記載のメモリモジュール。
- 前記第1のメモリ装置が、前記第1のチップ選択線を介して受信される第1のチップ選択信号に応じて、前記第1のメモリアクセスコマンドをサンプリングするサンプリング回路を含み、前記第2のメモリ装置が、前記第2のチップ選択線を介して受信される第2のチップ選択信号に応じて、前記第2のメモリアクセスコマンドをサンプリングするサンプリング回路を含む、請求項7に記載のメモリモジュール。
- 前記第1および第2のメモリ装置に共通に結合されるチップ選択線をさらに含み、前記第1のメモリ装置が、前記チップ選択線におけるチップ選択信号のアサーションに関連して、第1の時間に、前記制御経路に存在する信号をサンプリングして前記第1のメモリアクセスコマンドを受信するサンプリング回路を含み、前記第2のメモリ装置が、前記チップ選択信号のアサーションに関連して、第2の時間に、前記制御経路に存在する信号をサンプリングして前記第2のメモリアクセスコマンドを受信するサンプリング回路を含む、請求項1に記載のメモリモジュール。
- 前記第1および第2のメモリ装置のそれぞれの内の前記サンプリング回路が、前記チップ選択信号のアサーションと前記制御経路における信号のサンプリングとの間で生じる、クロック信号のサイクル数を示すそれぞれのサンプル待ち時間値を記憶する記憶レジスタを含む、請求項9に記載のメモリモジュール。
- 前記第1および第2のメモリ装置のそれぞれが、外部ソースから前記それぞれのサンプル待ち時間値および関連するレジスタ書き込みコマンドを受信し、かつ前記レジスタ書き込みコマンドに応じて前記サンプル待ち時間値を前記記憶レジスタにロードする制御回路を含む、請求項10に記載のメモリモジュール。
- 前記第1および第2のメモリ装置のそれぞれが、第1および第2のチップ選択入力部ならびに論理回路を含み、前記チップ選択信号が前記第1または第2のチップ選択入力部で受信されるかどうかに従って、前記第1の時間または前記第2の時間のどちらかにサンプルイネーブル信号をアサートし、前記チップ選択線が、前記第1のメモリ装置の前記第1のチップ選択入力部および前記第2のメモリ装置の前記第2のチップ選択入力部に結合される、請求項9に記載のメモリモジュール。
- 前記第1および第2のメモリ装置に共通に結合されたチップ選択線をさらに含み、前記第1のメモリ装置が、前記チップ選択線の論理ハイ状態に応じて前記制御経路に存在する信号をサンプリングし、前記第1のメモリアクセスコマンドを受信するサンプリング回路を含み、前記第2のメモリ装置が、前記チップ選択線の論理ロー状態に応じて前記制御経路に存在する信号をサンプリングし、前記第2のメモリアクセスコマンドを受信するサンプリング回路を含む、請求項1に記載のメモリモジュール。
- 前記第1および第2のメモリ装置のそれぞれの内における前記サンプリング回路が、チップ選択線の論理ハイまたは論理ロー状態に応じて前記制御経路における信号がサンプリングされることになるかどうかを示すそれぞれのレベル選択値を記憶する記憶レジスタを含む、請求項13に記載のメモリモジュール。
- 前記第1および第2のメモリ装置のそれぞれが、外部ソースから前記それぞれのレベル選択値および関連するレジスタ書き込みコマンドを受信し、かつ前記レジスタ書き込みコマンドに応じて前記レベル選択値を前記記憶レジスタにロードする制御回路を含む、請求項14に記載のメモリモジュール。
- 前記第1および第2のメモリ装置のそれぞれが、第1および第2のチップ選択入力部ならびに論理回路を含み、前記チップ選択線が前記第1または第2のチップ選択入力部に結合されるかどうかに従い、前記チップ選択線の前記論理ハイ状態または前記論理ロー状態のどちらかに応じてサンプルイネーブル信号をアサートし、前記チップ選択線が、前記第1のメモリ装置の前記第1のチップ選択入力部および前記第2のメモリ装置の前記第2のチップ選択入力部に結合される、請求項13に記載のメモリモジュール。
- 前記第1のメモリ装置が、第1の識別子の値を含むメモリアクセスコマンドの実行を可能にする識別回路を有し、前記第2のメモリ装置が、第2の識別子の値を含むメモリアクセスコマンドの実行を可能にする識別回路を有し、前記第1および第2のメモリアクセスコマンドが、前記第1および第2の識別子の値をそれぞれ含む、請求項1に記載のメモリモジュール。
- 前記第1のメモリ装置の前記識別回路が、外部装置からのレジスタ書き込み命令に応じて前記第1の識別子の値を記憶する記憶レジスタを含む、請求項17に記載のメモリモジュール。
- 前記制御経路に共通に結合され、かつ前記第1および第2のデータ経路にそれぞれ結合される第3および第4のメモリ装置をさらに含み、前記第3および第4のメモリ装置が、前記制御経路を介してそれぞれの第3および第4のメモリアクセスコマンドを受信する制御回路であって、前記第1および第2のメモリ装置が前記第1および第2のデータ経路においてデータ転送をできないようにされる期間中に、前記第3および第4のメモリアクセスコマンドに応じて前記第1および第2のデータ経路において並列データ転送を行う制御回路を有する、請求項1に記載のメモリモジュール。
- 前記基板が、別個の第1および第2の面を有し、前記第1および第2のメモリ装置が、前記第1の面に配置され、前記第3および第4のメモリ装置が、前記第2の面に配置される、請求項19に記載のメモリモジュール。
- チップ選択線の第1および第2セットをさらに含み、各セットが、1つまたは複数の構成チップ選択線を含み、チップ選択線の前記第1のセットが、前記第1および第2のメモリ装置に結合され、チップ選択線の前記第2のセットが、前記第3および第4のメモリ装置に結合されて、前記第1および第2のメモリ装置が、前記第3および第4のメモリ装置から独立して選択可能にされる、請求項20に記載のメモリモジュール。
- 複数のメモリ装置を有し、かつコネクタの相手コンタクトに自身を電気的に結合可能にするエッジコンタクトを有するメモリモジュールにおいて、
前記エッジコンタクトから延びる共有制御経路を介して、前記複数のメモリ装置における第1のメモリ装置内で第1のメモリアクセスコマンドを、前記複数のメモリ装置における第2のメモリ装置内で第2のメモリアクセスコマンドを受信することと、
第1の期間にわたり、前記第1のメモリアクセスコマンドに応じて、前記エッジコンタクトから前記第1のメモリ装置に延びる1つまたは複数の信号線を含む第1のデータ経路と前記第1のメモリ装置との間で第1のデータを伝達することと、
第2の期間にわたり、前記第2のメモリアクセスコマンドに応じて、前記エッジコンタクトから前記第2のメモリ装置に延びる1つまたは複数の信号線を含む第2のデータ経路と前記第2のメモリ装置との間で第2のデータを伝達することであって、前記第1および第2の期間が、時間的に少なくともいくらか重複することと、
を含む方法。 - 第1および第2のメモリアクセスコマンドを受信することが、第1および第2のメモリ読み出しコマンドを受信することを含み、前記第1のメモリ装置と前記第1のデータ経路との間で前記第1のデータを伝達することが、前記第1のメモリ読み出しコマンドに応じて、前記第1のメモリ装置から前記第1のデータ経路へ第1の読み出しデータを出力することを含み、前記第2のメモリ装置と前記第2のデータ経路との間で前記第2のデータを伝達することが、前記第2のメモリ読み出しコマンドに応じて、前記第2のメモリ装置から前記第2のデータ経路へ第2の読み出しデータを出力することを含む、請求項22に記載の方法。
- 第1および第2のメモリアクセスコマンドを受信することが、第1および第2のメモリ書き込みコマンドを受信することを含み、前記第1のメモリ装置と前記第1のデータ経路との間で前記第1のデータを伝達することが、前記第1のメモリ書き込みコマンドに応じて、前記第1のデータ経路から前記第1のメモリ装置へ第1の書き込みデータを受信することを含み、前記第2のメモリ装置と前記第2のデータ経路との間で前記第2のデータを伝達することが、前記第2のメモリ書き込みコマンドに応じて、前記第2のデータ経路から前記第2のメモリ装置へ第2の書き込みデータを受信することを含む、請求項22に記載の方法。
- 第1および第2のメモリアクセスコマンドを受信することが、前記第1のメモリ装置内でメモリ読み出しコマンドを、および前記第2のメモリ装置内でメモリ書き込みコマンドを受信すること含み、前記第1のメモリ装置と前記第1のデータ経路との間で前記第1のデータを伝達することが、前記メモリ読み出しコマンドに応じて、前記第1のメモリ装置から前記第1のデータ経路へ読み出しデータを出力することを含み、前記第2のメモリ装置と前記第2のデータ経路との間で前記第2のデータを伝達することが、前記メモリ書き込みコマンドに応じて、前記第2のデータ経路から前記第2のメモリ装置へ書き込みデータを受信することを含む、請求項22に記載の方法。
- 前記第1のメモリ装置内で前記第1のメモリアクセスコマンドを、および前記第2のメモリ装置内で前記第2のメモリアクセスコマンドを受信することが、前記第1および第2のメモリ装置内のそれぞれの受信回路が前記制御経路に存在する信号をそれぞれの非重複期間にサンプリングできるようにすることを含む、請求項22に記載の方法。
- 前記第1および第2のメモリ装置内のそれぞれの受信回路が前記制御経路に存在する信号をそれぞれの非重複期間にサンプリングできるようにすることが、第1の時間に、前記第1のメモリ装置の入力部で第1のチップ選択信号のアサーションを検出することと、第2の時間に、前記第2のメモリ装置の入力部で第2のチップ選択信号のアサーションを検出することと、を含む、請求項26に記載の方法。
- 前記第1および第2のチップ選択信号が、独立したチップ選択線を介して、前記第1および第2のメモリ装置に伝達される、請求項27に記載の方法。
- 前記第1および第2のチップ選択信号が、共通チップ選択線を介して、前記第1および第2のメモリ装置に伝達され、前記第1のチップ選択信号のアサーションを検出することが、前記チップ選択線の論理ハイ状態を検出することを含み、前記第2のチップ選択信号のアサーションを検出することが、前記チップ選択線の論理ロー状態を検出することを含む、請求項27に記載の方法。
- 前記第1のチップ選択信号のアサーションを検出することが、前記第1のメモリ装置内の設定レジスタに記憶されたレベル選択値に従って、前記チップ選択線の論理ハイ状態または前記チップ選択線の論理ロー状態のどちらかを検出することを含む、請求項29に記載の方法。
- 前記第1および第2のメモリ装置内のそれぞれの受信回路が前記制御経路に存在する信号をそれぞれの非重複期間にサンプリングできるようにすることが、第1のチップ選択信号のアサーションに対して、第1の時間に前記第1のメモリ装置内のサンプリング回路をイネーブルにすることと、前記第1のチップ選択信号のアサーションに対して、第2の時間に前記第2のメモリ装置内のサンプリング回路をイネーブルにすることと、を含む、請
求項26に記載の方法。 - 前記第2のメモリ装置内の前記サンプリング回路をイネーブルにすることが、前記第2のメモリ装置内の設定レジスタに記憶されたサンプル待ち時間値によって示されたクロックサイクル数だけ前記第1の時間に対して遅延された時間に、前記第2のメモリ装置内の前記サンプリング回路が前記制御経路に存在する信号をサンプリングできるようにすることを含む、請求項31に記載の方法。
- 前記第1のメモリ装置内で前記第1のメモリアクセスコマンドを、および前記第2のメモリ装置内で前記第2のメモリアクセスコマンドを受信することが、前記第1および前記第2のメモリアクセスコマンドに関連するデバイス識別子の値が前記第1および前記第2のメモリ装置に関連するデバイス識別子の値と一致するかどうかを決定することを含む、請求項22に記載の方法。
- 制御経路ならびに第1および第2のデータ経路を形成する信号線と、
前記制御経路に結合され、前記制御経路において異なる第1および第2のメモリアクセスコマンドを送信し、かつ前記第1および第2のデータ経路に結合されたメモリコントローラと、
前記制御経路に共通に結合され、かつ前記第1および第2のデータ経路にそれぞれ結合された少なくとも第1および第2のメモリ装置を含む複数のメモリ装置を有するメモリモジュールであって、前記第1および第2のメモリ装置が、前記制御経路を介して、前記第1および第2のメモリアクセスコマンドをそれぞれ受信し、かつ前記第1および第2のメモリアクセスコマンドに応じてそれぞれ前記第1および第2のデータ経路において時間的に並列にデータを転送する並列データ転送を行う制御回路を有するメモリモジュールと、
を含むメモリシステム。 - メモリモジュールに配置された複数のメモリ装置を制御する方法であって、
第1および第2のメモリアクセスコマンドを、共通制御経路を介して、前記複数のメモリ装置の第1および第2のメモリ装置にそれぞれ送信することと、
第1の期間中に前記第1のメモリアクセスコマンドに応じ、第1のデータ経路を介して前記第1のメモリ装置から出力されたデータを受信することと、
第2の期間中に前記第2のメモリアクセスコマンドに応じ、第2のデータ経路を介して前記第2のメモリ装置から出力されたデータを受信することであって、前記第2の期間が、時間において、少なくとも部分的に前記第1の期間に重複することと、
を含む方法。 - 前記第1および第2のメモリ装置のそれぞれが、ダイナミックランダムアクセスメモリ(DRAM)装置である、請求項1に記載のメモリモジュール。
- 前記プリント回路基板の前記エッジに配置された前記コンタクトが、前記プリント回路基板の前記エッジが前記コネクタに挿入された場合に、前記コネクタの相手コンタクトと接触するように構成される、請求項1に記載のメモリモジュール。
- 前記複数のメモリ装置が、前記プリント回路基板の第1の面に配置されている、請求項1に記載のメモリモジュール。
- 前記プリント回路基板の第2の面に配置され、かつ前記制御経路に共通に結合された追加的な複数のメモリ装置をさらに含む、請求項38に記載のメモリモジュール。
- 前記第1および第2のメモリ装置のそれぞれが、ダイナミックランダムアクセスメモリ(DRAM)装置である、請求項22に記載の方法。
- 前記第1および第2のメモリ装置のそれぞれが、ダイナミックランダムアクセスメモリ(DRAM)装置である、請求項34に記載のメモリシステム。
- 前記第1および第2のメモリ装置のそれぞれが、ダイナミックランダムアクセスメモリ(DRAM)装置である、請求項35に記載の方法。
- 第1のメモリアレイと、
第2のメモリアレイと、
コマンドバスインタフェースと、
前記第1のアレイに結合された第1の部分および前記第2のアレイに結合された第2の部分を備えた幅を有するデータバスインタフェースと、
モードレジスタを含むコマンドバスインタフェース論理であって、
第1のモードにおいて、メモリアクセスコマンドが、前記幅に対応する大きさのメモリワードを処理するために、前記第1のメモリアレイおよび前記第2のメモリアレイの両方に同時に向けられていると解釈され、
第2のモードにおいて、前記メモリアクセスコマンドが、所与の瞬間に、前記第1のメモリアレイおよび前記第2のメモリアレイのまさに1つに向けられていると解釈されるコマンドバスインタフェース論理と、
を含み、
前記第1のモードにおいて、前記コマンドバスインタフェースを介してそれぞれの異なる第1および第2のメモリアクセスコマンドを受信し、かつ前記第1および第2のメモリアクセスコマンドに応じて、それぞれ、データバスインタフェースにおいて時間的に並列にデータを転送する並列データ転送を行う、メモリ機器。 - メモリモジュールとして具体化される、請求項43に記載のメモリ機器。
- 前記第1のメモリアレイおよび前記第2のメモリアレイのそれぞれが、別個のメモリ装置である、請求項43に記載のメモリ機器。
- 前記機器が、メモリコントローラを含むメモリシステムとして具体化される、請求項43に記載のメモリ機器。
- 前記コマンドバスインタフェースが、前記メモリアクセスコマンドを解釈して、非重複時点に前記第1のメモリアレイおよび前記第2のメモリアレイのそれぞれにアクセスする、請求項43に記載のメモリ機器。
- 前記レジスタが、前記第2のモード中に、前記第1のメモリアレイまたは前記第2のメモリアレイの一方に対して、前記第1のメモリアレイまたは前記第2のメモリアレイの他方の出力を交互に行う際に用いるためのプログラム可能待ち時間を受け入れる、請求項47に記載のメモリ機器。
- 前記レジスタが、前記第2のモード中に共通チップ選択部に対して、プログラム可能コマンドバス待ち時間に依存して時間をずらす方法で、前記メモリアレイの1つのために前記コマンドバスのサンプリングを行わせることになる前記プログラム可能コマンドバス待ち時間を受け入れる、請求項43に記載のメモリ機器。
- 前記レジスタが、前記第2のモード中に各メモリアレイに対して、プログラム可能コマンドバス待ち時間に依存して時間をずらす方法で、各メモリアレイのために前記コマンドバスのサンプリングを行わせることになる前記プログラム可能コマンドバス待ち時間を受け入れる、請求項43に記載のメモリ機器。
- 前記機器が、前記第2のモードにある場合に、前記第2のメモリアレイにデータを書き込むコマンドを処理する一方で、前記第1のメモリアレイ用の読み出しデータを同時に送信するように構成される、請求項43に記載のメモリ機器。
- 前記機器が2つのチップ選択部をさらに含み、
前記第1のモードにおいて、1つのチップ選択部を用いて、前記第1のメモリアレイおよび前記第2のメモリアレイの両方を選択し、
前記第2のモードにおいて、1つのチップ選択部が、それぞれ、前記第1のメモリアレイおよび第2のメモリアレイのそれぞれに対して専用である、請求項43に記載のメモリ機器。 - 前記機器が、前記第1のメモリアレイおよび第2のメモリアレイによって共有されるチップ選択部を含み、
前記第2のモードにおいて、前記第1のメモリアレイまたは前記第2のメモリアレイの一方が、前記チップ選択部の論理ハイ値を用いてアクセスされ、前記第1のメモリアレイまたは前記第2のメモリアレイの他方が、前記チップ選択部の論理ロー値を用いてアクセスされる、請求項43に記載のメモリ機器。 - 前記レジスタが、前記第1のメモリアレイまたは前記第2のメモリアレイの少なくとも1つのためにチップ選択部アサーション極性をプログラムで定義する際に用いるためのプログラム可能論理レベル値を受け入れる、請求項53に記載のメモリ機器。
- 各メモリアレイが専用装置IDに関連し、
前記コマンドバスインタフェース論理が、着信コマンドのID値が前記第1のメモリアレイまたは第2のメモリアレイの1つに関連するIDと一致するかどうかを決定するID弁別回路をさらに含む、請求項43に記載のメモリ機器。 - 単一のチップに具体化される、請求項43に記載のメモリ機器。
- 前記第1の部分の大きさが前記第2の部分と等しく、前記第1の部分および前記第2の部分のそれぞれが前記幅の半分に等しい、請求項43に記載のメモリ機器。
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