JP4418720B2 - 放射線撮像装置及び方法、並びに放射線撮像システム - Google Patents
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Description
Vout=−Q/Cfとなり、この信号が信号出力回路103により外部に読み出される。信号読み出し後は、共通のバイアス線110の電位変化により、光電変換素子111で発生し転送されきれなかった電荷が除去される。
先ず、第1の実施形態について説明する。
図1は、第1の実施形態による放射線撮像装置の一例を模式的に示す概略平面図であり、図2はこの等価回路図、図3はこの放射線撮像装置における1画素及び信号読出回路の等価回路図である。
光電変換素子11及びTFT21は、以下のようにして構成される。
基板201上にゲート電極となる電極層202がパターン形成され、この電極層202を覆うように絶縁層203が堆積する。絶縁層203上にはシリコン等の半導体層204がパターン形成され、この半導体層204の両側部に不純物が高濃度にイオン注入され、ソース又はドレインとなる一対の不純物拡散層205,206が形成されている。そして、各不純物拡散層205,206と接続するようにソース電極又はドレイン電極となる電極層207,208がパターン形成され、TFT21が構成される。
電極層202,207,208上を含む全面に絶縁層209が堆積し、この絶縁層209上でTFT21と隣接するように、シリコン等の半導体層210がパターン形成され、この半導体層210の表層にn型不純物の高濃度領域となるn+半導体層211が形成されている。このn+半導体層211上にバイアス線12がパターン形成され、バイアス線12上を含むn+半導体層211上にバイアス線12と接続するように電極層212がパターン形成され、電極層212上及びTFT21側の絶縁層209上を含む全面に保護層213が堆積する。更に、保護層213を覆い、表面が平坦化されてなる接着層214が形成され、この接着層214上に波長変換体である蛍光体層215が形成されて、光電変換素子11が構成される。なお、保護層213と接着層214の間にPI等の有機保護層を配置しても良い。
画素6内で電荷増幅を行わない場合に発生するノイズは、kTC1ノイズ、信号線14aの抵抗ノイズ、信号線14aの寄生容量ノイズ、及びアンプ15a(利得切替回路17を含む)のノイズによって決まる。これに対して、ソースフォロア回路であるTFT22を用い、画素6内で電荷増幅を行う場合に発生するノイズは、kTC1ノイズ、及びソースフォロア回路のノイズによって決まる。このとき、ソースフォロア回路のノイズは非常に小さい。つまり、画素6内で電荷増幅を行わない場合に比べ、ソースフォロア回路を使用し、画素6内で電荷増幅を行う場合の方が感度(S/N)が高い。
以下、各信号線を選択した場合の具体的な撮像方法について説明する。
この場合、以下のように信号線14aを選択し、画素6内で電荷増幅を行わず、信号線14aを介して当該画素6の出力信号を読み出す。ここで、光電変換素子11の容量をC1、信号線14aの寄生容量をC2、アンプ15aのキャパシタCf1,Cf2及びCf3によって決まる容量をCfとする。
Vout=−Q/Cfとなる。そして、信号線14a側のTFT28をオンすることにより、この信号が信号出力回路3により外部に読み出される。信号読み出し後は、信号線14a側のTFT24により光電変換素子11の電荷を除去する。ここで、アンプ15aでは、Cf1〜Cf3の組み合わせによりゲインの切換えができる。
この場合、以下のように信号線14bを選択し、画素6内で電荷増幅を行い、信号線14bを介して当該画素6の出力信号を読み出す。ここで、ソースフォロワであるTFT22の閾値電圧をVthとする。
本実施形態では、走査回路2及び信号出力回路3を、それぞれセンサ基板1の片側のみに配置した構成を開示したが、図5に示すように、走査回路2及び信号出力回路3をそれぞれセンサ基板1の両側に配置しても良い。この場合、上記した本実施形態の効果に加え、駆動速度が向上する等の効果を奏し、更に優れた放射線撮像装置が実現する。
次に、第2の実施形態について説明する。
本実施形態の放射線撮像装置は、第1の実施形態のそれとほぼ同様の構成を有するが、信号出力回路のICの構成が若干異なる点で相違する。
この放射線撮像装置の信号出力回路3のIC31は、第1の実施形態のIC5と同様に信号線14a,14bにより画素6と接続されているが、第1の実施形態と異なり、アンプ15bを有さず、信号線14a,14bが共通のアンプ15aに接続されている。
この場合、以下のように信号線14aを選択し、画素6内で電荷増幅を行わず、信号線14aを介して当該画素6の出力信号を読み出す。ここで、光電変換素子11の容量をC1、信号線14aの寄生容量をC2、アンプ15aのキャパシタCf1,Cf2及びCf3によって決まる容量をCfとする。
Vout=−Q/Cfとなる。そして、この信号が信号出力回路3により外部に読み出される。信号読み出し後は、信号線14a側のTFT24により光電変換素子11の電荷を除去する。ここで、アンプ15aでは、Cf1〜Cf3の組み合わせによりゲインの切換えができる。
この場合、以下のように信号線14bを選択し、画素6内で電荷増幅を行い、信号線14bを介して当該画素6の出力信号を読み出す。ここで、信号線14b側のTFT22の閾値電圧をVthとする。
Vout=−Q/Cf
となり、この信号がアンプ15aを介して信号出力回路3により外部に読み出される。信号読み出し後は、信号線14b側のTFT26により光電変換素子11の電荷を除去する。
次に、第3の実施形態について説明する。
本実施形態では、第1又は第2の実施形態、ここでは第2の実施形態で説明した放射線撮像装置を備えた放射線撮像システムを開示する。勿論、第1の実施形態で説明した放射線撮像装置をこの放射線撮像システムに適用することも可能である。なお、第1及び第2の実施形態と対応する構成部材等については、同符号を記す。
静止画モードの場合、胸部レントゲンの静止画撮影等に使用される比較的高線量のX線を発生させる。これに対して動画モードの場合、被検体(患者)に長時間X線を曝射するため、ここでは低線量のX線をパルス状に発生させる。
撮影スイッチ44の1段目44aが押下され、動画モードが選択されると、放射線撮像装置41に撮影信号が入力される。続いて、駆動手段42によりTFT23がオンとなり、ここでTFT26とTFT22をオンすることで、回路のリセットを行う。続いて、X線発生手段43から被検体に向けて曝射されたX線が被検体により減衰を受けて透過し、図4に示す波長変換体である蛍光体層215で可視光に波長変換され、この可視光が光電変換素子11に入射し、電荷に変換される。この電荷Qは、TFT22のゲート電極に対し、光電変換素子11への入射光量に応じた電位変動Vinを発生させる。この電位変動によりTFT22がオンし、C2’に電荷が蓄積される。続いてTFT27をオンにすることによりC3に電荷が蓄積され、TFT32をオンにするとアンプ15aを介して信号出力回路3により外部に読み出される。そして、撮影スイッチ44の1段目44aが押下されている間は、連続してこの動画撮影を繰り返す。
2 走査回路
3 信号出力回路
4,5,31 IC
6 画素
11 光電変換素子
12 バイアス線
13a,13b ゲート線
14a,14b 信号読出用配線(信号線)
15a,15b アンプ
16 電源
17 利得切替回路
21,22,23,24,25,26,27,28,29,32 TFT
41 放射線撮像装置
42 駆動手段
43 X線発生手段
44 撮像スイッチ44
45 撮影モード選択手段
46 制御手段
Claims (14)
- 入射した放射線を電荷に変換する少なくとも1つの光電変換素子を含み構成される画素が、マトリクス状に複数配置されてなるとともに、前記画素からの信号を出力するための信号出力回路を備えた放射線撮像装置であって、
前記画素と前記信号出力回路とを接続する信号読出用配線が、1つの前記画素に対応して複数本配置されており、
前記各画素は、前記各信号読出用配線と接続された半導体素子をそれぞれ有しており、前記各信号読出用配線は、前記半導体素子の作動により選択自在であることを特徴とする放射線撮像装置。 - 前記光電変換素子は、入射した放射線を波長変換する波長変換体を有することを特徴とする請求項1に記載の放射線撮像装置。
- 前記各信号読出用配線は、放射線量に応じて前記半導体素子の作動により選択自在とされてなることを特徴とする請求項1又は2に記載の放射線撮像装置。
- 前記各半導体素子のうちの少なくとも1つは、ソースフォロワであることを特徴とする請求項3に記載の放射線撮像装置。
- 前記各信号読出用配線には、前記画素からの信号を読み出すための信号読出回路がそれぞれ配置されていることを特徴とする請求項1〜4のいずれか1項に記載の放射線撮像装置。
- 複数の前記信号読出用配線には、前記画素からの信号を読み出すための信号読出回路が共通に配置されていることを特徴とする請求項1〜4のいずれか1項に記載の放射線撮像装置。
- 前記信号出力回路を2つ備えてなることを特徴とする請求項1〜6のいずれか1項に記載の放射線撮像装置。
- 入射した放射線を電荷に変換する少なくとも1つの光電変換素子を含み構成される画素が、マトリクス状に複数配置されてなるとともに、前記画素からの信号を出力するための信号出力回路を備えた装置を用いた放射線撮像方法であって、
前記装置は、前記各信号読出用配線と接続された半導体素子をそれぞれ有しており、
1つの前記画素について当該画素と前記信号出力回路とを接続する複数の信号読出用配線のうち、撮影形態に応じて1つの前記信号読出用配線を選択して使用するように前記半導体素子を作動させることを特徴とする放射線撮像方法。 - 前記光電変換素子は、入射した放射線を波長変換した後、電荷に変換することを特徴とする請求項8に記載の放射線撮像方法。
- 放射線量の多少に応じて前記半導体素子を作動させて前記信号読出用配線を選択することを特徴とする請求項8又は9に記載の放射線撮像方法。
- 前記各画素は、前記各信号読出用配線と接続された半導体素子をそれぞれ有しており、前記各半導体素子のうちの少なくとも1つがソースフォロワであり、
放射線量が少ない前記撮影形態の場合に、前記ソースフォロワを有する前記各信号読出用配線を選択することを特徴とする請求項9に記載の放射線撮像方法。 - 請求項1〜7のいずれか1項に記載の放射線撮像装置と、
放射線を照射する放射線発生手段と、
放射線量の多少に応じて、前記放射線撮像装置における前記複数の信号読出用配線のうちの1つを選択する選択手段と、
前記選択手段による選択に基づいて、前記放射線発生手段による放射線の照射及び前記放射線撮像装置の駆動を制御する制御手段と
を含むことを特徴とする放射線撮像システム。 - 操作者の入力に基づき前記各信号読出用配線をそれぞれ選択自在とされた撮像スイッチを含み、
前記撮像スイッチの入力により、前記選択手段が前記信号読出用配線を選択することを特徴とする請求項12に記載の放射線撮像システム。 - 前記撮像スイッチは、前記信号読出用配線の数に応じた複数の段階に押下するように構成されており、前記各段階が昇順で放射線量の増加に対応していることを特徴とする請求項13に記載の放射線撮像システム。
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