JP4220217B2 - 半導体メモリ装置及びそれに関連する方法 - Google Patents

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Families Citing this family (105)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US7042770B2 (en) * 2001-07-23 2006-05-09 Samsung Electronics Co., Ltd. Memory devices with page buffer having dual registers and method of using the same
KR100472726B1 (ko) * 2002-10-29 2005-03-10 주식회사 하이닉스반도체 고속 데이터억세스를 위한 반도체 메모리장치 및 그구동방법
JP3935139B2 (ja) 2002-11-29 2007-06-20 株式会社東芝 半導体記憶装置
KR100514415B1 (ko) * 2003-01-22 2005-09-09 주식회사 하이닉스반도체 낸드 플래시 메모리의 페이지 버퍼
US7139213B2 (en) 2003-06-02 2006-11-21 Silicon Aquarius, Inc. Multiple data path memories and systems
US7254690B2 (en) * 2003-06-02 2007-08-07 S. Aqua Semiconductor Llc Pipelined semiconductor memories and systems
JP4156985B2 (ja) * 2003-06-30 2008-09-24 株式会社東芝 半導体記憶装置
KR100626371B1 (ko) 2004-03-30 2006-09-20 삼성전자주식회사 캐쉬 읽기 동작을 수행하는 비휘발성 메모리 장치, 그것을포함한 메모리 시스템, 그리고 캐쉬 읽기 방법
EP1583102B1 (en) * 2004-03-30 2007-08-01 STMicroelectronics S.r.l. A sequential program-verify method with result buffering
KR100575336B1 (ko) * 2004-04-20 2006-05-02 에스티마이크로일렉트로닉스 엔.브이. 듀얼 레지스터를 갖는 페이지 버퍼, 이를 구비한 반도체메모리 장치 및 그의 프로그램 방법
KR100624287B1 (ko) * 2004-05-11 2006-09-18 에스티마이크로일렉트로닉스 엔.브이. 낸드 플래시 메모리 소자의 리던던시 회로
US7490283B2 (en) * 2004-05-13 2009-02-10 Sandisk Corporation Pipelined data relocation and improved chip architectures
KR100635202B1 (ko) * 2004-05-14 2006-10-16 에스티마이크로일렉트로닉스 엔.브이. 듀얼 레지스터를 갖는 페이지 버퍼의 제어방법 및 그제어회로
DE602004010239T2 (de) * 2004-05-20 2008-09-25 Stmicroelectronics S.R.L., Agrate Brianza Verbesserter Seitenspeicher für eine programmierbare Speichervorrichtung
KR100567912B1 (ko) * 2004-05-28 2006-04-05 주식회사 하이닉스반도체 플래시 메모리 장치의 페이지 버퍼 및 이를 이용한 데이터프로그램 방법
US7159069B2 (en) * 2004-06-23 2007-01-02 Atmel Corporation Simultaneous external read operation during internal programming in a flash memory device
EP1610343B1 (en) * 2004-06-24 2007-12-19 STMicroelectronics S.r.l. An improved page buffer for a programmable memory device
US7466597B2 (en) * 2004-09-09 2008-12-16 Samsung Electronics Co., Ltd. NAND flash memory device and copyback program method for same
US7379333B2 (en) * 2004-10-28 2008-05-27 Samsung Electronics Co., Ltd. Page-buffer and non-volatile semiconductor memory including page buffer
US7298648B2 (en) 2004-11-19 2007-11-20 Samsung Electronics Co., Ltd. Page buffer and multi-state nonvolatile memory device including the same
JP4654671B2 (ja) * 2004-11-29 2011-03-23 ソニー株式会社 半導体記憶装置
US7158421B2 (en) * 2005-04-01 2007-01-02 Sandisk Corporation Use of data latches in multi-phase programming of non-volatile memories
US7120051B2 (en) * 2004-12-14 2006-10-10 Sandisk Corporation Pipelined programming of non-volatile memories using early data
US7420847B2 (en) * 2004-12-14 2008-09-02 Sandisk Corporation Multi-state memory having data recovery after program fail
KR100597788B1 (ko) * 2004-12-17 2006-07-06 삼성전자주식회사 프로그램 동작 속도를 개선하는 불휘발성 반도체 메모리장치의 페이지 버퍼와 이에 대한 구동방법
US7849381B2 (en) * 2004-12-21 2010-12-07 Sandisk Corporation Method for copying data in reprogrammable non-volatile memory
KR100669342B1 (ko) * 2004-12-21 2007-01-16 삼성전자주식회사 낸드 플래시 메모리 장치의 프로그램 방법
KR100666171B1 (ko) * 2005-01-10 2007-01-09 삼성전자주식회사 로드 프리 타입의 와이어드 오어 구조를 가지는 불휘발성반도체 메모리 장치와, 이에 대한 구동방법
KR100567158B1 (ko) 2005-01-10 2006-04-03 삼성전자주식회사 캐쉬기능을 가지는 와이어드 오어 타입의 페이지 버퍼 및이를 포함하는 불휘발성 반도체 메모리 장치, 그리고,이를 이용한 프로그램 방법
KR100666170B1 (ko) * 2005-01-17 2007-01-09 삼성전자주식회사 결함 페이지 버퍼로부터의 데이터 전송이 차단되는와이어드 오어 구조의 불휘발성 반도체 메모리 장치
TWI286764B (en) * 2005-01-20 2007-09-11 Himax Tech Ltd Memory architecture of display device and memory writing method for the same
KR100672149B1 (ko) * 2005-02-17 2007-01-19 주식회사 하이닉스반도체 불휘발성 메모리 장치의 페이지 버퍼 동작 방법
KR100672148B1 (ko) * 2005-02-17 2007-01-19 주식회사 하이닉스반도체 불휘발성 메모리 장치 및 그것의 페이지 버퍼 동작 방법
KR100672150B1 (ko) * 2005-02-23 2007-01-19 주식회사 하이닉스반도체 불휘발성 메모리 장치 및 그것의 페이지 버퍼 동작 방법
KR100672122B1 (ko) * 2005-03-10 2007-01-19 주식회사 하이닉스반도체 소비 전력이 감소된 플래시 메모리 장치의 페이지 버퍼 회로
KR100680478B1 (ko) * 2005-03-22 2007-02-08 주식회사 하이닉스반도체 면적이 감소된 플래시 메모리 장치와 그 액세스 제어 방법
KR100704628B1 (ko) * 2005-03-25 2007-04-09 삼성전자주식회사 다수의 스트링을 사용하여 상태 정보를 저장하는 방법 및비휘발성 저장 장치
KR100723772B1 (ko) * 2005-03-28 2007-05-30 주식회사 하이닉스반도체 개선된 프로그램 동작 성능을 가지는 플래쉬 메모리 소자의페이지 버퍼 및 그것의 프로그램 동작 제어 방법
KR100626392B1 (ko) 2005-04-01 2006-09-20 삼성전자주식회사 읽기 속도를 향상시킬 수 있는 플래시 메모리 장치
US7463521B2 (en) * 2005-04-01 2008-12-09 Sandisk Corporation Method for non-volatile memory with managed execution of cached data
US7447078B2 (en) 2005-04-01 2008-11-04 Sandisk Corporation Method for non-volatile memory with background data latch caching during read operations
US7206230B2 (en) * 2005-04-01 2007-04-17 Sandisk Corporation Use of data latches in cache operations of non-volatile memories
TWI410974B (zh) * 2005-04-01 2013-10-01 Sandisk Technologies Inc 於編程失敗後具有資料回復之複數狀態記憶體
US7123521B1 (en) * 2005-04-27 2006-10-17 Micron Technology, Inc. Random cache read
KR100706247B1 (ko) * 2005-06-03 2007-04-11 삼성전자주식회사 플래시 메모리 장치 및 그것의 독출 방법
KR100694968B1 (ko) * 2005-06-30 2007-03-14 주식회사 하이닉스반도체 비휘발성 메모리 장치와 그것의 멀티-페이지 프로그램,독출 및 카피백 프로그램 방법
US7706183B2 (en) * 2005-07-27 2010-04-27 Spansion Llc Read mode for flash memory
KR100648291B1 (ko) * 2005-07-28 2006-11-23 삼성전자주식회사 단일의 페이지 버퍼 구조로 멀티-비트 및 단일-비트프로그램 동작을 수행하는 플래시 메모리 장치
JP4961693B2 (ja) * 2005-07-29 2012-06-27 ソニー株式会社 コンピュータシステム
KR100669352B1 (ko) 2005-09-07 2007-01-16 삼성전자주식회사 카피 백 프로그램 동작 동안에 에러 검출 및 데이터 리로딩동작을 수행할 수 있는 낸드 플래시 메모리 장치
KR100713983B1 (ko) * 2005-09-22 2007-05-04 주식회사 하이닉스반도체 플래시 메모리 장치의 페이지 버퍼 및 그것을 이용한프로그램 방법
US7573776B2 (en) * 2005-09-29 2009-08-11 Hynix Semiconductor, Inc. Semiconductor memory device having data-compress test mode
KR100656446B1 (ko) * 2005-11-29 2006-12-11 주식회사 하이닉스반도체 반도체 메모리 장치의 어드레스 입력 회로
KR100669349B1 (ko) * 2005-12-02 2007-01-16 삼성전자주식회사 플래시 메모리 장치 및 그것의 읽기 방법
JP4734110B2 (ja) * 2005-12-14 2011-07-27 株式会社東芝 不揮発性半導体記憶装置
KR100693250B1 (ko) * 2005-12-28 2007-03-13 삼성전자주식회사 페이지 버퍼 및 그것의 읽기 방법
KR100772863B1 (ko) 2006-01-13 2007-11-02 삼성전자주식회사 요구 페이징 기법을 적용한 시스템에서 페이지 교체 수행시간을 단축시키는 방법 및 장치
US7423915B2 (en) * 2006-01-17 2008-09-09 Spansion Llc Random cache read using a double memory
KR100684909B1 (ko) * 2006-01-24 2007-02-22 삼성전자주식회사 읽기 에러를 방지할 수 있는 플래시 메모리 장치
KR100666183B1 (ko) * 2006-02-01 2007-01-09 삼성전자주식회사 3-레벨 불휘발성 반도체 메모리 장치 및 이에 대한구동방법
KR100739254B1 (ko) * 2006-02-08 2007-07-12 주식회사 하이닉스반도체 프로그램 동작의 패일을 감소시키는 플래시 메모리 장치의페이지 버퍼 회로 및 그 프로그램 동작 방법
US7336543B2 (en) * 2006-02-21 2008-02-26 Elite Semiconductor Memory Technology Inc. Non-volatile memory device with page buffer having dual registers and methods using the same
DE102006031076A1 (de) * 2006-03-17 2007-09-20 Osram Opto Semiconductors Gmbh Optisches Projektionsgerät
KR100694972B1 (ko) * 2006-03-27 2007-03-14 주식회사 하이닉스반도체 센싱 노드용 프리차지 전압을 선택적으로 변경하는 기능을가지는 플래시 메모리 장치 및 그 독출 동작 방법
KR100754226B1 (ko) * 2006-08-22 2007-09-03 삼성전자주식회사 비휘발성 데이터 저장장치의 프로그래밍 방법 및 그 장치
US7593259B2 (en) 2006-09-13 2009-09-22 Mosaid Technologies Incorporated Flash multi-level threshold distribution scheme
KR100753156B1 (ko) * 2006-09-13 2007-08-30 삼성전자주식회사 플래시 메모리 장치 및 그것의 메모리 셀 어레이
JP2008097736A (ja) * 2006-10-13 2008-04-24 Spansion Llc 半導体装置およびその制御方法
KR100816155B1 (ko) * 2006-12-28 2008-03-21 주식회사 하이닉스반도체 불휘발성 메모리 장치 및 불휘발성 메모리 장치의 멀티레벨 셀 프로그램 방법
KR100811278B1 (ko) * 2006-12-29 2008-03-07 주식회사 하이닉스반도체 셀프 부스팅을 이용한 낸드 플래시 메모리소자의 읽기 방법
KR100816162B1 (ko) * 2007-01-23 2008-03-21 주식회사 하이닉스반도체 낸드 플래시 메모리 장치 및 셀 특성 개선 방법
US8560760B2 (en) * 2007-01-31 2013-10-15 Microsoft Corporation Extending flash drive lifespan
KR100823175B1 (ko) 2007-02-27 2008-04-18 삼성전자주식회사 프로그램 성능을 향상시킬 수 있는 플래시 메모리 장치 및그것을 포함한 메모리 시스템
US7657572B2 (en) 2007-03-06 2010-02-02 Microsoft Corporation Selectively utilizing a plurality of disparate solid state storage locations
KR100833199B1 (ko) 2007-03-19 2008-05-28 삼성전자주식회사 프로그램 동작의 신뢰성을 향상시킬 수 있는 불휘발성메모리 장치 및 그 프로그램 방법
US7577015B2 (en) * 2007-03-30 2009-08-18 Intel Corporation Memory content inverting to minimize NTBI effects
US7577029B2 (en) 2007-05-04 2009-08-18 Mosaid Technologies Incorporated Multi-level cell access buffer with dual function
US7545678B2 (en) * 2007-06-29 2009-06-09 Sandisk Corporation Non-volatile storage with source bias all bit line sensing
US7471567B1 (en) * 2007-06-29 2008-12-30 Sandisk Corporation Method for source bias all bit line sensing in non-volatile storage
US7961512B2 (en) * 2008-03-19 2011-06-14 Sandisk Corporation Adaptive algorithm in cache operation with dynamic data latch requirements
WO2010077414A1 (en) * 2008-12-09 2010-07-08 Rambus Inc. Non-volatile memory device for concurrent and pipelined memory operations
KR101016078B1 (ko) * 2009-01-21 2011-02-17 주식회사 하이닉스반도체 불휘발성 메모리 장치 및 그 동작 방법
KR101081311B1 (ko) * 2009-12-07 2011-11-08 주식회사 하이닉스반도체 불휘발성 메모리 장치 및 그 동작 방법
US20110149667A1 (en) * 2009-12-23 2011-06-23 Fatih Hamzaoglu Reduced area memory array by using sense amplifier as write driver
KR101069013B1 (ko) * 2010-07-09 2011-09-29 주식회사 하이닉스반도체 반도체 메모리 장치 및 그의 동작 방법
KR101082614B1 (ko) * 2010-07-09 2011-11-10 주식회사 하이닉스반도체 반도체 메모리 장치
JP2012038385A (ja) * 2010-08-06 2012-02-23 Renesas Electronics Corp データ処理装置
US8472280B2 (en) 2010-12-21 2013-06-25 Sandisk Technologies Inc. Alternate page by page programming scheme
KR20120119321A (ko) * 2011-04-21 2012-10-31 에스케이하이닉스 주식회사 반도체 메모리 장치
US9588883B2 (en) 2011-09-23 2017-03-07 Conversant Intellectual Property Management Inc. Flash memory system
US20140003176A1 (en) * 2012-06-28 2014-01-02 Man Lung Mui Compact High Speed Sense Amplifier for Non-Volatile Memory with Reduced layout Area and Power Consumption
KR20140029953A (ko) * 2012-08-31 2014-03-11 에스케이하이닉스 주식회사 반도체 메모리 장치 및 그 동작 방법
KR102045909B1 (ko) * 2012-12-17 2019-12-02 에스케이하이닉스 주식회사 데이터 전달회로, 이를 포함하는 메모리 및 데이터 전달방법
US9224480B2 (en) * 2013-02-27 2015-12-29 Texas Instruments Incorporated Dual-function read/write cache for programmable non-volatile memory
KR20140142960A (ko) * 2013-06-05 2014-12-15 중소기업은행 병렬 파이프라인 더블래치로 구동되는 spi 낸드 플래시 메모리
JP5714681B2 (ja) * 2013-10-25 2015-05-07 ウィンボンド エレクトロニクス コーポレーション 半導体記憶装置
KR20160071054A (ko) * 2014-12-11 2016-06-21 에스케이하이닉스 주식회사 반도체 메모리 장치 및 그의 동작 방법
JP6359491B2 (ja) * 2015-06-12 2018-07-18 東芝メモリ株式会社 半導体記憶装置
US9997250B2 (en) * 2016-03-17 2018-06-12 SK Hynix Inc. Non-volatile memory device with a plurality of cache latches and switches and method for operating non-volatile memory device
KR102662764B1 (ko) * 2016-11-17 2024-05-02 삼성전자주식회사 페이지 버퍼, 이를 포함하는 메모리 장치 및 이의 독출 방법
KR20180106127A (ko) * 2017-03-17 2018-10-01 에스케이하이닉스 주식회사 반도체 메모리 장치 및 이를 위한 플래그 생성회로와 데이터 출력 방법
US10818327B2 (en) * 2018-06-29 2020-10-27 Taiwan Semiconductor Manufacturing Company, Ltd. Memory circuit and method of operating same
JP7313889B2 (ja) 2019-04-24 2023-07-25 キオクシア株式会社 半導体記憶装置及びメモリシステム
KR102732380B1 (ko) * 2019-07-19 2024-11-22 에스케이하이닉스 주식회사 반도체 메모리 장치
KR102736213B1 (ko) * 2019-09-23 2024-12-02 에스케이하이닉스 주식회사 메모리 장치 및 그 동작 방법

Family Cites Families (8)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US5218569A (en) * 1991-02-08 1993-06-08 Banks Gerald J Electrically alterable non-volatile memory with n-bits per memory cell
KR960000616B1 (ko) 1993-01-13 1996-01-10 삼성전자주식회사 불휘발성 반도체 메모리 장치
KR0169412B1 (ko) 1995-10-16 1999-02-01 김광호 불휘발성 반도체 메모리 장치
KR0172366B1 (ko) 1995-11-10 1999-03-30 김광호 불휘발성 반도체 메모리 장치의 독출 및 프로그램 방법과 그 회로
US5724303A (en) * 1996-02-15 1998-03-03 Nexcom Technology, Inc. Non-volatile programmable memory having an SRAM capability
KR100255957B1 (ko) * 1997-07-29 2000-05-01 윤종용 전기적으로 소거 및 프로그램 가능한 메모리 셀들을 구비한반도체 메모리 장치
JPH11176177A (ja) * 1997-12-12 1999-07-02 Toshiba Corp 不揮発性半導体記憶装置
US5930172A (en) * 1998-06-23 1999-07-27 Advanced Micro Devices, Inc. Page buffer for a multi-level flash memory with a limited number of latches per memory cell

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