JP4066522B2 - プリント配線板 - Google Patents

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Description

【0001】
【技術分野】
本発明は,導体パターンの密着強度に優れたプリント配線板に関する。
【0002】
【従来技術】
図5(A)に示すごとく,従来のプリント配線板9は,絶縁基板2と,該絶縁基板2に設けた複数の導体パターン93と,これらを被覆する絶縁性保護膜94とよりなる。
上記導体パターン93は,上記絶縁基板2に密着した底面931の幅aが上面932の幅bと等しい断面長方形である。また,上記導体パターン93の側面935は,上記絶縁性保護膜94によって完全に被覆してある。
上記導体パターン93は,配線用,外部端子用に用いられる。また,上記導体パターン93は,上記絶縁性保護膜94の形成後に形成されている。
【0003】
【解決しようとする課題】
しかしながら,上記従来のプリント配線板9には,次の問題がある。
即ち,上記導体パターン93は断面長方形であり,底面931の幅aが上面932の幅bと等しく,上記絶縁基板2に密着する部分が比較的少ない。そのため,上記絶縁基板2への上記導体パターン93の密着強度が低い。それ故,図5(B)に示すごとく,熱応力等の外力が加わった場合に,上記導体パターン93が,上記絶縁基板2の表面から剥離するおそれがある。
【0004】
これを解決するため,図6(A)に示すごとく,上記導体パターン93を,上記底面931の幅aが上面932の幅bよりも大きい断面台形に形成することが考えられる。
しかし,この場合には,上記導体パターン93の形成時に,上記導体パターン93を形成するためのメッキ等が,アンダーカット状の上記絶縁性保護膜94を押し上げる。そのため,図6(B)に示すごとく,上記絶縁性保護膜94が,上記絶縁基板2の表面から剥離するおそれがある。
また,図6(C)に示すごとく,上記絶縁性保護膜94の底面と上記絶縁基板2の表面との間に上記導体パターン93の一部939がもぐり込み,隣の導体パターン93と接触(短絡)するおそれもある。
【0005】
また,プリント配線板の導体パターン93に,例えば接続端子用のメッキ95及び半田ボール96等を接合させる場合がある。
上記導体パターン93の側面935は,上記絶縁性保護膜94によって完全に被覆してある。そのため,半田ボール96は上記導体パターン93の側面935に引っ掛かる部分がない。それ故,図7(A)に示すごとく,半田ボール96に横方向の力がかかると,半田ボール96が上記導体パターン93から剥離するおそれがある。
【0006】
これを解決するため,図7(B)に示すごとく,半田ボール96が上記導体パターン93の側面935側に侵入できるように,上記導体パターン93の側面935を完全に露出させることが考えられる。
しかし,この場合には,上記半田ボール96は上記導体パターン93の側面935側に侵入して,機械的強度の比較的低い絶縁基板2に接触する。この絶縁基板2との接触部分は半田ボールの表面張力によって非常に少なくなっている。そのため,半田ボール96に横方向の力がかかると,その力が絶縁基板2に集中的に作用して,上記絶縁基板2に亀裂99が生じるおそれがある。
【0007】
本発明は,かかる従来の問題点に鑑みてなされたもので,絶縁基板への導体パターンの密着強度に優れ,かつ絶縁基板の損傷を防止できるプリント配線板を提供しようとするものである。
【0008】
【課題の解決手段】
請求項1に記載の発明は,絶縁基板と,該絶縁基板に設けた導体パターンと,上記絶縁基板と上記導体パターンとを被覆する絶縁性保護膜とよりなるプリント配線板において,
上記導体パターンは,上記絶縁基板に密着した基底部の底面幅が上方部の上面幅よりも大きい断面台形であり,
かつ上記基底部の側面は上記絶縁性保護膜によって被覆してあり,一方上記上方部の側面が上記絶縁性保護膜から露出しており,
上記導体パターンの上方部は,その上面及び側面がメッキで被覆されており,
また,上記導体パターンの上方部の上面は上記絶縁性保護膜の表面よりも下方に存在する一方で,上記メッキの最上部は上記絶縁性保護膜の表面よりも上方に存在することを特徴とするプリント配線板にある。
【0009】
本発明において最も注目すべきことは,上記導体パターンは基底部の底面幅が上方部の上面幅よりも大きい断面台形であり,上記基底部の側面は上記絶縁性保護膜によって被覆してあり,上記上方部の側面は露出していることである。
【0010】
次に,本発明の作用につき説明する。
本発明のプリント配線板においては,上記導体パターンは断面台形であり,基底部の底面幅が上方部の上面幅よりも大きく,上記絶縁基板に密着する部分が比較的多い。そのため,断面長方形の導体パターンに比べて,上記絶縁基板への上記導体パターンの密着強度を高くすることができる。それ故,上記絶縁基板の表面からの上記導体パターンの剥離を防止することができる。
【0011】
また,上記導体パターンは,上記絶縁性保護膜の形成前に形成されることが好ましい。この場合には,上記導体パターンの形成時に,上記絶縁性保護膜は存在しないので,上記導体パターンが上記絶縁性保護膜を押し上げることがない。それ故,上記絶縁基板の表面からの上記絶縁性保護膜の剥離を防止することができる。
また,上記絶縁性保護膜の底面と上記絶縁基板の表面との間に,上記導体パターンの一部がもぐり込むことがないので,隣り合う導体パターン同士の接触(短絡)を防止することができる。
【0012】
また,上記導体パターンは,上記上方部の側面を上記絶縁性保護膜から露出させている。そのため,上記導体パターンに,例えば半田ボール等を接合させる際に,上記導体パターンの上方部の側面側に半田ボール等を侵入させることができる。それ故,接合後の半田ボール等に横方向の力がかかっても,この半田ボールには上記上方部の側面に引っ掛かる部分があるので,上記導体パターンからの半田ボール等の剥離を防止することができる。
【0013】
また,上記導体パターンは,上記基底部の側面を上記絶縁性保護膜によって被覆してある。そのため,例えば半田ボール等は上記絶縁基板に接触することなく,これよりも機械的強度の高い上記導体パターンに接触する。それ故,接合後の半田ボールに横方向の力がかかっても,その力は上記導体パターンに作用するので,上記絶縁基板に亀裂等の損傷が生じることを防止することができる。
【0014】
また,上記導体パターンは,略左右対称の断面台形であることが好ましい。この場合には,上記導体パターンの形成が容易である。
また,上記基底部の底面幅から上記上方部の上面幅を差し引いた値の半分の値を,上記導体パターンの高さで除した値は,0.1〜2.5の範囲となることが好ましい。この場合には,上記導体パターンの基底部の側面と上記絶縁性保護膜との接触面積が大きくなる。また,上記絶縁性保護膜によって上方から上記基底部の側面を充分に押さえつけることもできる。それ故,絶縁基板への上記導体パターンの密着強度をより一層高くすることができる。
【0015】
なお,上記基底部の底面幅から上記上方部の上面幅を差し引いた値の半分の値を,上記導体パターンの高さで除した値が,0.1未満の場合には,上記導体パターンの基底部の側面と上記絶縁性保護膜との接触面積が少なくなる。また,上記絶縁性保護膜によって上方から上記基底部の側面を充分に押さえつけることができない場合がある。一方,上記の値が,2.5を越える場合には,上記導体パターンの露出部分の面積が少なくなり,半導体部品との接続エリアが小さくなるので,強度が低くなるおそれがある。
【0016】
次に,請求項2に記載の発明のように,上記基底部の高さは,上記導体パターンの高さの50%以上で100%未満であることが好ましい。
この場合には,上記基底部の側面を上記絶縁性保護膜によって確実に被覆することができる。それ故,例えば導体パターンに接合した半田ボール等に横方向の力がかかっても,上記絶縁基板の損傷を確実に防止することができる。
【0017】
なお,上記基底部の高さが,上記導体パターンの高さの50%未満である場合には,上記基底部の側面を上記絶縁性保護膜によって確実に被覆することができない場合がある。そのため,例えば導体パターンに接合した半田ボール等に横方向にかかる力が,上記基底部下の絶縁基板に加わり,この絶縁基板に亀裂等の損傷が生じるおそれがある。一方,100%である場合には,上記導体パターンの上方部が存在しなくなる。
【0018】
次に,請求項3に記載の発明のように,上記導体パターンの上方部は,その上面及び側面がメッキで被覆されている。
これにより,上記導体パターンへの上記半田ボールの接合を容易にすることができる。
【0019】
次に,請求項に記載の発明のように,上記導体パターンの表面には半田ボールが接合されているとともに,上記半田ボールは上記導体パターンの側面に係止されていることが好ましい。
この場合には,上記導体パターンの表面に接合された半田ボールに対して横方向の力がかかっても,上記半田ボールは上記導体パターンの側面に係止されているので,上記導体パターンからの半田ボールの剥離を防止することができる。
【0020】
【発明の実施の形態】
実施形態例1
本発明の実施形態例にかかるプリント配線板について,図1,図2を用いて説明する。
本例のプリント配線板1は,図1,図2に示すごとく,絶縁基板2と,該絶縁基板2に設けた導体パターン3と,上記絶縁基板2と上記導体パターン3とを被覆する絶縁性保護膜としてのソルダーレジスト4とよりなる。
上記導体パターン3は,図1に示すごとく,上記絶縁基板2に密着した基底部31の底面310の幅cが上方部32の上面320の幅dよりも大きい断面台形である。
また,上記基底部31の側面315は上記ソルダーレジスト4によって被覆してあり,一方上記上方部32の側面325が上記ソルダーレジスト4から露出している。
【0021】
また,上記基底部31の高さhは,上記導体パターンの高さpの95%である。
また,上記導体パターン3の上方部32は,その上面320及び側面325を接続端子用のメッキ5で被覆されている。
また,このメッキ5を介して,上記導体パターン3の表面には半田ボール6が接合されているとともに,上記半田ボール6は上記導体パターン3の上方部32の側面325に係止されている。
【0022】
以下,上記プリント配線板1の製造方法に従って説明する。
まず,図2(A)に示すごとく,ガラスエポキシ基板等からなる絶縁基板に銅箔を張り付けた銅張積層板に対して,エッチング等を施すことによって,上記絶縁基板2上に,底面310の幅cが上面320の幅dよりも大きい断面台形の導体パターン3を複数個形成する。
具体的には,上記底面310の幅cは30〜200μm,上記上面320の幅dは10〜180μmとすることが好ましい。本例においては,上記底面310の幅cを80μm,上記上面320の幅dを70μm,上記導体パターン3の高さpを35μmとする。
【0023】
次いで,図2(B)に示すごとく,上記導体パターン3を形成した絶縁基板2の表面全体に,ソルダーレジスト4の高さが略一定となるように,ソルダーレジスト4を塗布する。このとき,上記導体パターン3の配置に拘わらず,ソルダーレジスト4の表面41は平らに形成する。
【0024】
次いで,図2(C)に示すごとく,上記ソルダーレジスト4の表面41に対して,各導体パターン3を個々に露出させるようにレーザを照射する。そして,上記導体パターン3の高さpの5%が露出した段階で,レーザ照射を止めてソルダーレジスト4の除去を停止する。
これにより,上記上方部32の上面320と側面325とが,上記ソルダーレジスト4の開口部40から露出した状態となる。一方,上記導体パターン3の基底部31の高さhは略33μmとなる。
【0025】
次いで,図2(D)に示すごとく,所定の導体パターン3に対してメッキ処理を行うことによって,その上方部32の上面320と側面325とを接続端子用のメッキ5で被覆する。このメッキ5は,例えば銅,金,ニッケル等の金属からなる。
次いで,図2(E)に示すごとく,上記メッキ5の表面に半田ボール(図示略)を供給して,これを加熱溶融させる。これにより,上記メッキ5を介して,上記導体パターン3の上方部32に半田ボール6を接合する。
【0026】
また,接続端子用の上記メッキ5の最上部は,上記ソルダーレジスト4の表面41よりも高い位置に形成される。
これにより,例えば接続用の半田ボールや半田ペースト等が接合しやすくなる。また,上記プリント配線板1の電気的テストを行うにあたって,このテストに用いられる端子,例えばプローブや異方性導電ゴム等に接触しやすくなる。
一方,上記メッキ5の最上部が,上記ソルダーレジスト4の表面41よりも低い位置に形成される場合には,上記接合,接触が困難になるおそれがある。
【0027】
次に,本例の作用につき説明する。
本例のプリント配線板1においては,図1に示すごとく,上記導体パターン3は断面台形であり,基底部31の底面310の幅cが上方部32の上面320の幅dよりも大きく,上記絶縁基板2に密着する部分が比較的多い。そのため,従来例に示した断面長方形の導体パターン93に比べて,上記絶縁基板2への上記導体パターン3の密着強度を高くすることができる。それ故,上記絶縁基板2の表面からの上記導体パターン3の剥離を防止することができる。
【0028】
また,上記導体パターン3は,上記のごとく,上記ソルダーレジスト4の形成前に形成されている。そのため,上記導体パターン3の形成時に,上記ソルダーレジスト4は存在しないので,上記導体パターン3が上記ソルダーレジスト4を押し上げることがない。それ故,上記絶縁基板2の表面からの上記ソルダーレジスト4の剥離を防止することができる。
また,上記ソルダーレジスト4の底面と上記絶縁基板2の表面との間に,上記導体パターン3の一部がもぐり込むことがないので,隣り合う導体パターン同士の接触(短絡)を防止することができる。
【0029】
また,上記導体パターン3は,上記上方部32の側面325を上記ソルダーレジスト4から露出させている。そのため,上記導体パターン3の表面に上記メッキ5を介して上記半田ボール6を接合させる際に,上記導体パターン3の上方部32の側面325側に半田ボール6を侵入させることができる。それ故,接合後の半田ボール6に横方向の力がかかっても,図2(E)に示すごとく,この半田ボール6には上記上方部32の側面325に引っ掛かる係止部分63があるので,上記導体パターン3からの半田ボール6の剥離を防止することができる。
【0030】
また,上記導体パターン3は,上記基底部31の側面315を上記ソルダーレジスト4によって被覆してある。そのため,半田ボール6は上記絶縁基板2に接触することなく,これよりも機械的強度の高い上記導体パターン3に接触する。それ故,接合後の半田ボール6に横方向の力がかかっても,その力は上記導体パターン3に作用するので,上記絶縁基板2に亀裂等の損傷が生じることを防止することができる。
【0031】
また,上記導体パターン3は,左右対称の断面台形であるので,その形成が容易である。
また,上記底面310の幅cから上記上面320の幅dを差し引いた値の半分の値を,上記導体パターン3の高さpで除した値{(c−d)/2}/pは,0.1〜2.5の範囲内の略0.14となる。これにより,上記導体パターン3の基底部31の側面315と上記ソルダーレジスト4との接触面積が大きくなり,上記ソルダーレジスト4によって上方から上記基底部31の側面315を充分に押さえつけることができる。それ故,絶縁基板2への上記導体パターン3の密着強度をより一層高くすることができる。
なお,上記導体パターン3の側面315,325は,上記のごとく平面でもよいし,凹状の曲面でもよい。
【0032】
次に,上記導体パターン3の基底部31の高さhは,上記導体パターン3の高さpの95%である。これにより,上記基底部31の側面315を上記ソルダーレジスト4によって確実に被覆することができる。それ故,導体パターン3の表面に接合した半田ボール6に横方向の力がかかっても,上記絶縁基板2の損傷を確実に防止することができる。
次に,上記導体パターン3の上方部32は,その上面320及び側面325を上記メッキ5で被覆されている。これにより,上記導体パターン3への上記半田ボール6の接合を容易にすることができる。
【0033】
実施形態例2
本例は,図3に示すごとく,上記導体パターン3の配置に対応して,上記ソルダーレジスト4の表面42を凹凸状に形成したものである。
即ち,図4(A)に示すごとく,上記銅張積層板にエッチング等を施すことによって,上記絶縁基板2上に,底面310の幅cが上面320の幅dよりも大きい断面台形の導体パターン3を複数個形成する。
次いで,図4(B)に示すごとく,上記導体パターン3を形成した絶縁基板2の表面全体に,ソルダーレジスト4の厚みが略一定となるように,ソルダーレジスト4を塗布する。このとき,上記導体パターン3の配置に対応して,ソルダーレジスト4の表面42は凹凸状に形成される。
【0034】
次いで,図4(C)に示すごとく,上記ソルダーレジスト4の表面42に対して,各導体パターン3を個々に露出させるようにレーザを照射する。そして,上記導体パターン3の高さpの5%が露出した段階で,レーザ照射を止めてソルダーレジスト4の除去を停止する。これにより,上記上方部32の上面320と側面325とが,上記ソルダーレジスト4の開口部40から露出した状態となる。一方,上記導体パターン3の基底部31の高さhは,上記導体パターン3の高さpの95%となる。
【0035】
次いで,実施形態例1と同様に,図4(D)に示すごとく,所定の導体パターン3に対してメッキ処理を行い,その上方部32をメッキ5で被覆する。
次いで,図4(E)に示すごとく,上記メッキ5の表面の半田ボール(図示略)を加熱溶融させて,上記メッキ5を介して,上記導体パターン3の上方部32に半田ボール6を接合する。
その他は,実施形態例1と同様である。
本例においても,実施形態例1と同様の作用効果を有する。
【0036】
【発明の効果】
上述のごとく,本発明によれば,絶縁基板への導体パターンの密着強度に優れ,かつ絶縁基板の損傷を防止できるプリント配線板を提供することができる。
【図面の簡単な説明】
【図1】実施形態例1における,プリント配線板の断面図。
【図2】実施形態例1における,プリント配線板の製造方法の説明図。
【図3】実施形態例2における,プリント配線板の断面図。
【図4】実施形態例2における,プリント配線板の製造方法の説明図。
【図5】従来例における,(A)断面長方形の導体パターンを設けたプリント配線板の断面図,(B)導体パターンの剥離を示す説明図。
【図6】従来例における,(A)断面台形の導体パターンを設けたプリント配線板の断面図,(B)ソルダーレジストの剥離を示す説明図,(C)導体パターンの短絡を示す説明図。
【図7】従来例における,(A)半田ボールの剥離を示す説明図,(B)絶縁基板の亀裂を示す説明図。
【符号の説明】
1...プリント配線板,
2...絶縁基板,
3...導体パターン,
31...基底部,
310...底面,
315...側面,
32...上方部,
320...上面,
325...側面,
4...ソルダーレジスト(絶縁性保護膜),
5...メッキ,
6...半田ボール,

Claims (3)

  1. 絶縁基板と,該絶縁基板に設けた導体パターンと,上記絶縁基板と上記導体パターンとを被覆する絶縁性保護膜とよりなるプリント配線板において,
    上記導体パターンは,上記絶縁基板に密着した基底部の底面幅が上方部の上面幅よりも大きい断面台形であり,
    かつ上記基底部の側面は上記絶縁性保護膜によって被覆してあり,一方上記上方部の側面が上記絶縁性保護膜から露出しており,
    上記導体パターンの上方部は,その上面及び側面がメッキで被覆されており,
    また,上記導体パターンの上方部の上面は上記絶縁性保護膜の表面よりも下方に存在する一方で,上記メッキの最上部は上記絶縁性保護膜の表面よりも上方に存在することを特徴とするプリント配線板。
  2. 請求項1において,上記基底部の高さは,上記導体パターンの高さの50%以上で100%未満であることを特徴とするプリント配線板。
  3. 請求項1又は2において,上記導体パターンの表面には半田ボールが接合されているとともに,上記半田ボールは上記導体パターンの側面に係止されていることを特徴とするプリント配線板。
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Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN100475187C (zh) * 2002-12-06 2009-04-08 高露洁-棕榄公司 组合物

Families Citing this family (53)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
KR100396787B1 (ko) * 2001-11-13 2003-09-02 엘지전자 주식회사 반도체 패키지용 인쇄회로기판의 와이어 본딩패드 형성방법
JP2004066017A (ja) * 2002-08-01 2004-03-04 Nippon Paint Co Ltd ソルダーレジスト膜の形成方法
CN1326432C (zh) * 2002-12-23 2007-07-11 矽统科技股份有限公司 无焊垫设计的高密度电路板及其制造方法
US7081209B2 (en) * 2003-07-09 2006-07-25 Taiwan Semiconductor Manufacturing Co., Ltd. Solder mask removal method
US7307222B2 (en) * 2003-09-24 2007-12-11 Agilent Technologies, Inc. Printed circuit board test access point structures and method for making the same
JP2005183464A (ja) * 2003-12-16 2005-07-07 Nitto Denko Corp 配線回路基板
KR20120104641A (ko) 2004-02-04 2012-09-21 이비덴 가부시키가이샤 다층프린트배선판
TWI231028B (en) * 2004-05-21 2005-04-11 Via Tech Inc A substrate used for fine-pitch semiconductor package and a method of the same
JP4351129B2 (ja) * 2004-09-01 2009-10-28 日東電工株式会社 配線回路基板
US7626829B2 (en) * 2004-10-27 2009-12-01 Ibiden Co., Ltd. Multilayer printed wiring board and manufacturing method of the multilayer printed wiring board
JP4955263B2 (ja) * 2004-12-15 2012-06-20 イビデン株式会社 プリント配線板
GB0505826D0 (en) * 2005-03-22 2005-04-27 Uni Microelektronica Ct Vsw Methods for embedding of conducting material and devices resulting from said methods
JP4738971B2 (ja) * 2005-10-14 2011-08-03 Okiセミコンダクタ株式会社 半導体装置及びその製造方法
JP2007317852A (ja) * 2006-05-25 2007-12-06 Fujikura Ltd プリント配線板及び基板間接続構造
US7964800B2 (en) 2006-05-25 2011-06-21 Fujikura Ltd. Printed wiring board, method for forming the printed wiring board, and board interconnection structure
JP5072283B2 (ja) * 2006-07-31 2012-11-14 三洋電機株式会社 回路基板
TWI320680B (en) * 2007-03-07 2010-02-11 Phoenix Prec Technology Corp Circuit board structure and fabrication method thereof
JP5227531B2 (ja) * 2007-03-30 2013-07-03 日本発條株式会社 ディスク装置用サスペンション
US8709934B2 (en) * 2007-06-05 2014-04-29 Stats Chippac Ltd. Electronic system with vertical intermetallic compound
TWI340614B (en) * 2007-08-03 2011-04-11 Unimicron Technology Corp Circuit board and method of fabricating the same
KR100951449B1 (ko) * 2008-01-03 2010-04-07 삼성전기주식회사 인쇄회로기판 및 그 제조방법
US8058726B1 (en) * 2008-05-07 2011-11-15 Amkor Technology, Inc. Semiconductor device having redistribution layer
US20100032194A1 (en) * 2008-08-08 2010-02-11 Ibiden Co., Ltd. Printed wiring board, manufacturing method for printed wiring board and electronic device
JP5426122B2 (ja) * 2008-08-21 2014-02-26 セイコーインスツル株式会社 回路基板
US8686300B2 (en) * 2008-12-24 2014-04-01 Ibiden Co., Ltd. Printed wiring board and method for manufacturing the same
JP5360221B2 (ja) * 2009-09-16 2013-12-04 株式会社村田製作所 電子部品内蔵モジュール
US8528200B2 (en) * 2009-12-18 2013-09-10 Ibiden Co., Ltd. Printed wiring board and method for manufacturing printed wiring board
US8755196B2 (en) * 2010-07-09 2014-06-17 Ibiden Co., Ltd. Wiring board and method for manufacturing the same
JP2012142557A (ja) * 2010-12-15 2012-07-26 Ngk Spark Plug Co Ltd 配線基板及びその製造方法
US9449933B2 (en) 2012-03-29 2016-09-20 Taiwan Semiconductor Manufacturing Co., Ltd. Packaging device and method of making the same
US8664090B1 (en) 2012-04-16 2014-03-04 Amkor Technology, Inc. Electronic component package fabrication method
JP2013229491A (ja) * 2012-04-26 2013-11-07 Kyocera Corp 電極構造、半導体素子、半導体装置、サーマルヘッドおよびサーマルプリンタ
JP5341227B1 (ja) * 2012-05-16 2013-11-13 日本特殊陶業株式会社 配線基板
JP5410580B1 (ja) * 2012-08-09 2014-02-05 日本特殊陶業株式会社 配線基板
TWI536508B (zh) * 2012-08-24 2016-06-01 Ngk Spark Plug Co Wiring board
US9245862B1 (en) 2013-02-12 2016-01-26 Amkor Technology, Inc. Electronic component package fabrication method and structure
US9412702B2 (en) 2013-03-14 2016-08-09 Intel Corporation Laser die backside film removal for integrated circuit (IC) packaging
US8975177B2 (en) * 2013-03-14 2015-03-10 Intel Corporation Laser resist removal for integrated circuit (IC) packaging
JP2014216585A (ja) * 2013-04-27 2014-11-17 京セラSlcテクノロジー株式会社 配線基板およびその製造方法
JP6081875B2 (ja) * 2013-04-28 2017-02-15 京セラ株式会社 配線基板の製造方法
JP2015015302A (ja) * 2013-07-03 2015-01-22 イビデン株式会社 プリント配線板及びプリント配線板の製造方法
JP6424453B2 (ja) * 2014-04-10 2018-11-21 株式会社村田製作所 多層基板の製造方法および多層基板
JP6503687B2 (ja) * 2014-10-23 2019-04-24 イビデン株式会社 プリント配線板
JP6434328B2 (ja) * 2015-02-04 2018-12-05 新光電気工業株式会社 配線基板及び電子部品装置とそれらの製造方法
JP6368657B2 (ja) * 2015-02-02 2018-08-01 日本発條株式会社 金属ベース回路基板及びその製造方法
EP3322267A1 (en) * 2016-11-10 2018-05-16 AT & S Austria Technologie & Systemtechnik Aktiengesellschaft Component carrier with adhesion promoting shape of wiring structure
US10446515B2 (en) 2017-03-06 2019-10-15 Advanced Semiconductor Engineering, Inc. Semiconductor substrate and semiconductor packaging device, and method for forming the same
US10381296B2 (en) * 2017-03-06 2019-08-13 Advanced Semiconductor Engineering, Inc. Semiconductor device package and a method of manufacturing the same
KR102463386B1 (ko) * 2017-06-20 2022-11-04 가부시키가이샤 무라타 세이사쿠쇼 모듈 및 그 제조 방법
TWI693872B (zh) 2018-10-29 2020-05-11 欣興電子股份有限公司 電路板製造方法
JP2020161728A (ja) * 2019-03-27 2020-10-01 イビデン株式会社 配線基板
JP2020188209A (ja) * 2019-05-16 2020-11-19 イビデン株式会社 プリント配線板とプリント配線板の製造方法
JP2022133504A (ja) * 2021-03-02 2022-09-14 イビデン株式会社 プリント配線板

Family Cites Families (32)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US4289834A (en) * 1977-10-20 1981-09-15 Ibm Corporation Dense dry etched multi-level metallurgy with non-overlapped vias
JPS5828846A (ja) * 1981-08-14 1983-02-19 Nec Corp ボンデイング端子電極
JPS60234982A (ja) * 1984-05-09 1985-11-21 Alps Electric Co Ltd パタ−ン形成方法
JPS6292453A (ja) * 1985-10-18 1987-04-27 Fuji Electric Co Ltd 半導体装置の製造方法
US5207103A (en) * 1987-06-01 1993-05-04 Wise Kensall D Ultraminiature single-crystal sensor with movable member
JPH0666290B2 (ja) * 1987-12-29 1994-08-24 日本電気株式会社 半導体装置の製造方法
JPH01238132A (ja) * 1988-03-18 1989-09-22 Oki Electric Ind Co Ltd 半田接続用電極及び半田接続用電極の製造方法
JPH03153049A (ja) * 1989-11-10 1991-07-01 Fujitsu Ltd 半導体装置
JP2764632B2 (ja) 1990-04-09 1998-06-11 イビデン株式会社 電子回路基板とその製造方法
JP2855882B2 (ja) * 1991-05-27 1999-02-10 松下電器産業株式会社 回路基板およびその製造方法
JPH0529363A (ja) * 1991-07-22 1993-02-05 Sony Corp 配線基板
US5316788A (en) * 1991-07-26 1994-05-31 International Business Machines Corporation Applying solder to high density substrates
JP3141364B2 (ja) * 1992-05-06 2001-03-05 住友電気工業株式会社 半導体チップ
JPH05327179A (ja) 1992-05-15 1993-12-10 Sony Corp プリント配線基板の製造方法
US5609704A (en) * 1993-09-21 1997-03-11 Matsushita Electric Industrial Co., Ltd. Method for fabricating an electronic part by intaglio printing
JP3578232B2 (ja) * 1994-04-07 2004-10-20 インターナショナル・ビジネス・マシーンズ・コーポレーション 電気接点形成方法、該電気接点を含むプローブ構造および装置
US5656550A (en) * 1994-08-24 1997-08-12 Fujitsu Limited Method of producing a semicondutor device having a lead portion with outer connecting terminal
JPH08125341A (ja) * 1994-10-25 1996-05-17 Hitachi Ltd 電子回路装置
JPH08181423A (ja) * 1994-12-27 1996-07-12 Nippon Telegr & Teleph Corp <Ntt> はんだバンプ実装用端子電極構造
JP3291950B2 (ja) 1994-12-28 2002-06-17 日産自動車株式会社 設計支援装置
US5597469A (en) * 1995-02-13 1997-01-28 International Business Machines Corporation Process for selective application of solder to circuit packages
JP2671851B2 (ja) * 1995-02-21 1997-11-05 日本電気株式会社 プリント配線板の製造方法
US5634268A (en) * 1995-06-07 1997-06-03 International Business Machines Corporation Method for making direct chip attach circuit card
US5886877A (en) * 1995-10-13 1999-03-23 Meiko Electronics Co., Ltd. Circuit board, manufacturing method therefor, and bump-type contact head and semiconductor component packaging module using the circuit board
US5801689A (en) 1996-01-22 1998-09-01 Extended Systems, Inc. Hypertext based remote graphic user interface control system
KR100216839B1 (ko) * 1996-04-01 1999-09-01 김규현 Bga 반도체 패키지의 솔더 볼 랜드 메탈 구조
US5796169A (en) * 1996-11-19 1998-08-18 International Business Machines Corporation Structurally reinforced ball grid array semiconductor package and systems
US5929521A (en) * 1997-03-26 1999-07-27 Micron Technology, Inc. Projected contact structure for bumped semiconductor device and resulting articles and assemblies
JPH10270624A (ja) * 1997-03-27 1998-10-09 Toshiba Corp チップサイズパッケージ及びその製造方法
JP3346263B2 (ja) * 1997-04-11 2002-11-18 イビデン株式会社 プリント配線板及びその製造方法
US6335571B1 (en) * 1997-07-21 2002-01-01 Miguel Albert Capote Semiconductor flip-chip package and method for the fabrication thereof
JP3446825B2 (ja) * 1999-04-06 2003-09-16 沖電気工業株式会社 半導体装置およびその製造方法

Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN100475187C (zh) * 2002-12-06 2009-04-08 高露洁-棕榄公司 组合物

Also Published As

Publication number Publication date
EP1143776A4 (en) 2006-05-03
WO2000005933A1 (fr) 2000-02-03
DE69935009T2 (de) 2007-08-23
US6809415B2 (en) 2004-10-26
US20010002728A1 (en) 2001-06-07
JP2000040868A (ja) 2000-02-08
KR100385422B1 (ko) 2003-05-27
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EP1143776A1 (en) 2001-10-10
KR20010042711A (ko) 2001-05-25
DE69935009D1 (de) 2007-03-15

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