DE4105830A1 - Sonde zur entnahme von gasproben und zur ausfuehrung von thermischen messungen in einem schachtofen - Google Patents

Sonde zur entnahme von gasproben und zur ausfuehrung von thermischen messungen in einem schachtofen

Info

Publication number
DE4105830A1
DE4105830A1 DE4105830A DE4105830A DE4105830A1 DE 4105830 A1 DE4105830 A1 DE 4105830A1 DE 4105830 A DE4105830 A DE 4105830A DE 4105830 A DE4105830 A DE 4105830A DE 4105830 A1 DE4105830 A1 DE 4105830A1
Authority
DE
Germany
Prior art keywords
probe
protective jacket
furnace
spacers
outside
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Granted
Application number
DE4105830A
Other languages
English (en)
Other versions
DE4105830C2 (de
Inventor
Pierre Mailliet
Emile Lonardi
Georges Wies
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Paul Wurth SA
Original Assignee
Paul Wurth SA
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Paul Wurth SA filed Critical Paul Wurth SA
Publication of DE4105830A1 publication Critical patent/DE4105830A1/de
Application granted granted Critical
Publication of DE4105830C2 publication Critical patent/DE4105830C2/de
Anticipated expiration legal-status Critical
Expired - Fee Related legal-status Critical Current

Links

Classifications

    • CCHEMISTRY; METALLURGY
    • C21METALLURGY OF IRON
    • C21CPROCESSING OF PIG-IRON, e.g. REFINING, MANUFACTURE OF WROUGHT-IRON OR STEEL; TREATMENT IN MOLTEN STATE OF FERROUS ALLOYS
    • C21C5/00Manufacture of carbon-steel, e.g. plain mild steel, medium carbon steel or cast steel or stainless steel
    • C21C5/28Manufacture of steel in the converter
    • C21C5/42Constructional features of converters
    • C21C5/46Details or accessories
    • C21C5/4673Measuring and sampling devices
    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01KMEASURING TEMPERATURE; MEASURING QUANTITY OF HEAT; THERMALLY-SENSITIVE ELEMENTS NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
    • G01K13/00Thermometers specially adapted for specific purposes
    • G01K13/12Thermometers specially adapted for specific purposes combined with sampling devices for measuring temperatures of samples of materials
    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01NINVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
    • G01N1/00Sampling; Preparing specimens for investigation
    • G01N1/02Devices for withdrawing samples
    • G01N1/22Devices for withdrawing samples in the gaseous state
    • G01N1/26Devices for withdrawing samples in the gaseous state with provision for intake from several spaces
    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01NINVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
    • G01N1/00Sampling; Preparing specimens for investigation
    • G01N1/02Devices for withdrawing samples
    • G01N1/10Devices for withdrawing samples in the liquid or fluent state
    • G01N1/14Suction devices, e.g. pumps; Ejector devices
    • G01N1/1409Suction devices, e.g. pumps; Ejector devices adapted for sampling molten metals
    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01NINVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
    • G01N1/00Sampling; Preparing specimens for investigation
    • G01N1/02Devices for withdrawing samples
    • G01N1/22Devices for withdrawing samples in the gaseous state
    • G01N1/2247Sampling from a flowing stream of gas
    • G01N1/2252Sampling from a flowing stream of gas in a vehicle exhaust
    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01NINVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
    • G01N1/00Sampling; Preparing specimens for investigation
    • G01N1/02Devices for withdrawing samples
    • G01N1/22Devices for withdrawing samples in the gaseous state
    • G01N1/2226Sampling from a closed space, e.g. food package, head space
    • G01N2001/2235Sampling from a closed space, e.g. food package, head space over a melt, e.g. furnace
    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01NINVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
    • G01N1/00Sampling; Preparing specimens for investigation
    • G01N1/02Devices for withdrawing samples
    • G01N1/22Devices for withdrawing samples in the gaseous state
    • G01N2001/2282Devices for withdrawing samples in the gaseous state with cooling means

Landscapes

  • Engineering & Computer Science (AREA)
  • Chemical & Material Sciences (AREA)
  • General Physics & Mathematics (AREA)
  • Life Sciences & Earth Sciences (AREA)
  • Health & Medical Sciences (AREA)
  • Physics & Mathematics (AREA)
  • Immunology (AREA)
  • Manufacturing & Machinery (AREA)
  • Biochemistry (AREA)
  • General Health & Medical Sciences (AREA)
  • Molecular Biology (AREA)
  • Biomedical Technology (AREA)
  • Pathology (AREA)
  • Analytical Chemistry (AREA)
  • Materials Engineering (AREA)
  • Metallurgy (AREA)
  • Organic Chemistry (AREA)
  • Investigating Or Analyzing Materials Using Thermal Means (AREA)
  • Sampling And Sample Adjustment (AREA)
  • Heat Treatment Of Articles (AREA)
  • Measuring Temperature Or Quantity Of Heat (AREA)
  • Blast Furnaces (AREA)

Description

Die vorliegende Erfindung betrifft eine Sonde zur Entnahme von Gasproben und zur Ausführung von thermischen Messungen in einem Schachtofen, aus im wesentlichen einer Halterung in Form eines Schutzmantels, die über der Beschickungsoberfläche durch eine Öffnung in der Wand des Ofens eingeführt wird, einer Reihe von inneren Sondenrohren, die längs des Schutzmantels verteilte Öffnungen mit einer außerhalb des Ofens angeordneten Vorrichtung zur Ausführung von thermischen Messungen und zur Aufnahme von Gasproben verbinden, Thermoelementen, die im Bereich der besagten Öffnungen des Schutzmantels angeordnet sind, Abstandsstücken, die in dem Schutzmantel transversal angeordnet sind und die inneren Rohre festhalten, und aus einem oder mehreren, in dem Schutzmantel verlaufenden Kühlkreisen.
Eine Sonde dieser Art ist beispielsweise aufgrund des US-Patents 31 30 584 bekannt. Angesichts der äußerst harten Einsatzbedingungen erfordern diese Sonden eine häufige Wartung, beispielsweise zum Ersetzen eines schadhaften Thermoelements oder zum Reinigen eines verstopften Gasproben-Entnahmerohrs. Um diese Wartungsarbeiten auszuführen, war es bisher erforderlich, die Sonde ganz auszubauen und diese Arbeiten meistens in der Reparaturwerkstatt auszuführen, was natürlich einen Zeitverlust darstellt.
Die vorliegende Erfindung hat zum Ziel, eine neue Sonde vorzuschlagen, bei der die inneren Sondenrohre "in situ" ersetzt werden können, ohne die Sonde ausbauen zu müssen.
Um dieses Ziel zu erreichen, wird gemäß der vorliegenden Erfindung eine Sonde von der in dem Oberbegriff beschriebenen Art vorgeschlagen, die bei ihrer bevorzugten Ausführungsform im wesentlichen dadurch gekennzeichnet ist, daß die Oberfläche der Abstandsstücke von der Wand des Ofens bis zu der Spitze der Sonde immer kleiner wird, daß der Oberflächenunterschied zwischen zwei benachbarten Abstandsstücken einen exponierten Teil des größeren Abstandsstücks und eine entsprechende transversale Stufe des Schutzmantels definiert, daß die besagten Öffnungen sich in den besagten exponierten Teilen befinden, und daß die inneren Sondenrohre zur Entnahme von Gasproben und zur Ausführung von thermischen Messungen ausnahmslos gerade, austauschbare individuelle Elemente sind, die in geraden Halte- und Schutzkanälen angeordnet sind, von denen jeder von außerhalb des Ofens bis zu dem jeweiligen exponierten Teil durch den Schutzmantel verläuft.
Gemäß einer bevorzugten Ausführungsform haben die besagten exponierten Teile der Abstandsstücke eine im wesentlichen dreieckige Form, wobei die Spitze zu der Beschickungsoberfläche hin gerichtet ist, während die verschiedenen aufeinanderfolgenden dreieckigen Teile bei axialer Projektion gegeneinander versetzt angeordnet sind. Jedes der inneren Sondenrohre kann außerhalb des Ofens direkt an den Schutzmantel angeflanscht werden. Die inneren Sondenrohre können außerhalb des Ofens auch durch eine Schraubenfeder in ihrem Haltekanal festgehalten werden.
Das innere Ende jedes für die Ausführung von thermischen Messungen vorgesehenen Sondenrohrs weist eine geschlossene Spitze auf, in der ein Thermoelement untergebracht ist, das in ein Material mit guter Wärmeleitfähigkeit eingebettet ist und über das Sondenrohr mit der außerhalb des Ofens angeordneten Vorrichtung zur Ausführung von thermischen Messungen verbunden ist.
Weitere Besonderheiten und Merkmale der Erfindung werden sich aus der Beschreibung einiger vorteilhafter Ausführungsformen ergeben, die nachstehend zur Veranschaulichung wiedergegeben werden, wobei auf die im Anhang beigefügten Zeichnungen Bezug genommen wird, die Folgendes darstellen:
Fig. 1 ist eine schematische Darstellung einer ersten Ausführungsform einer Sonde gemäß der vorliegenden Erfindung.
Fig. 2 ist eine schematische Darstellung einer zweiten Ausführungsform einer Sonde gemäß der vorliegenden Erfindung.
Fig. 3 ist eine axiale Ansicht der Sonde von dem Inneren des Ofens aus.
Fig. 4 ist eine Schnittansicht des inneren Endes der Sonde gemäß der Schnittebene A-A der Fig. 3.
Fig. 5 ist eine schematische perspektivische Ansicht eines Teils der Sonde.
Fig. 6 ist ein Teilausschnitt einer vertikalen Schnittansicht einer ersten Ausführungsform für die Anordnung der Probenentnahme-Rohre.
Fig. 7 ist eine zu der Fig. 6 analoge Ansicht einer zweiten Ausführungsform für die Probenentnahme- Rohre.
Fig. 8 ist eine schematische Ansicht des inneren Endes eines Rohrs zur Ausführung von thermischen Messungen.
In der Fig. 1 ist ein Teil des Kopfes eines Schachtofens 10 schematisch dargestellt. Die Kennziffer 12 bezeichnet eine Sonde zur Ausführung von thermischen Messungen und zur Entnahme von Gasproben, die in einer Halterung 14 der Wand des Ofens festgehalten wird und sich über der Beschickungsoberfläche in horizontaler Richtung bis zu der Mittelachse des Ofens erstreckt. Diese Sonde besteht im wesentlichen aus einem äußeren Schutzmantel 16, in dem Rohre zur Entnahme von Gasproben und zur Ausführung von thermischen Messungen angeordnet sind, wobei diese Rohre gemäß der vorliegenden Erfindung ausnahmslos gerade, austauschbare individuelle Elemente sind, von denen jedes bei einer der Stufen 18 endet, die bei dem Schutzmantel 16 über die gesamte Länge der Sonde vorgesehen sind und dieser Sonde eine sich verjüngende Form geben.
Die Fig. 2 zeigt eine Sonde 12, die in der gleichen Weise aufgebaut ist wie die Sonde der Fig. 1, aber bezüglich der Horizontalen geneigt ist, wobei die Spitze der Sonde 12 niedriger als die Halterung 14 ist. Diese Anordnung wurde gewählt, damit die Sonde 12 in den mit einem V-förmigen Beschickungsprofil arbeitenden Öfen parallel zu der Beschickungsoberfläche ist.
Das besondere stufenförmige Aussehen der Sonde 12 ist aus den Fig. 3 und 5 klar ersichtlich. Wie sich aus der perspektivischen Ansicht der Fig. 5 ergibt, nimmt der Querschnitt der Sonde 12 vom Sondenende bis zur Sondenspitze in aufeinanderfolgenden Stufen 18 ab, die bezüglich der Achse der Sonde radial verlaufen und in denen Kanäle 20, 22 enden, die für die Entnahme von Gasproben bzw. für die Ausführung von thermischen Messungen vorgesehen sind. Wie aus der Fig. 3 ersichtlich ist, haben die Stufen 18 eine im wesentlichen dreieckige Form. Sie sind abwechselnd auf der einen und der anderen Seite einer vertikalen Ebene angeordnet, die durch die Achse der Sonde verläuft. Die Kennziffer 24 in der Fig. 3 bezeichnet einen axialen Kanal für die Umwälzung einer Kühlflüssigkeit, während die Kennziffer 26 eine Schutzumhüllung bezeichnet, die normalerweise um den oberen Teil der Sonde herum vorgesehen ist, und die zum Beispiel in an sich bekannter Weise aus einem Kasten-Verbundmaterial bestehen kann.
Die Fig. 4 zeigt, im Schnitt, das innere Ende der Sonde 12 mit der vorletzten und der letzten der Stufen 18, wobei die letzte Stufe nur teilweise sichtbar ist, da sie jenseits der vertikalen Symmetrieebene gelegen ist. Diese Figur zeigt einen geraden Kanal 20, der am Ende des Schutzmantels 16 mündet, und einen zweiten, ähnlichen Kanal 20, der in der radialen Fläche der vorletzten Stufe 18 mündet. In der letzten Stufe 18 mündet ein weiterer, ähnlicher Kanal, der jedoch in der Fig. 4 nicht sichtbar ist. Die Kanäle 20 werden innerhalb des Schutzmantels 16 von transversalen Abstandsstücken 28 festgehalten, die mit dem Schutzmantel 16 fest verbunden sind und von denen jedes die radiale Fläche von einer der Stufen 18 bildet. Die Abstandsstücke 28 halten innerhalb des Schutzmantels 16 außerdem den axialen Kanal 24 oder eventuell mehrere Kanäle für die Umwälzung der Kühlflüssigkeit fest. Diese Kühlflüssigkeit, die einfach Wasser sein kann, füllt den gesamten Schutzmantel 16 aus und fließt über nicht-dichte Durchführungen in den um die Kanäle 20, 22 und 24 angeordneten Abstandsstücken oder über zusätzliche Bohrungen in den Abstandsstücken bis zu der Spitze des Schutzmantels 16, und danach über den axialen Kanal 24 nach außerhalb des Ofens zurück. Die in der Fig. 4 nicht sichtbaren Kanäle 22 entsprechen den Kanälen 20 und verlaufen parallel dazu durch den Schutzmantel 16 und die Abstandsstücke 28.
Eine der Besonderheiten der vorliegenden Erfindung ist, daß in jeden der Kanäle 20, 22 von außerhalb der Sonde 12 die Mittel zur Entnahme von Gasproben und zur Ausführung von thermischen Messungen eingeführt werden können, ohne daß die Sonde 12 aus dem Ofen herausgenommen werden muß, und ohne daß der Kühlkreis entleert werden muß.
In der Fig. 6 ist der eine der inneren Sondenkanäle 20 in detaillierterer Form wiedergegeben. Dieser Kanal erstreckt sich von einer der Stufen 18 bis nach der Außenseite des Ofens, wobei er über eine Dichtung 30, durch die die Kühlflüssigkeit innerhalb des Schutzmantels 16 zurückgehalten wird und die unterschiedlichen Ausdehnungen zwischen dem Schutzmantel 16 und dem Kanal 20 ausgeglichen werden, aus dem Schutzmantel 16 herausgeführt ist. Der in der Fig. 6 dargestellte Kanal 20 enthält ein Rohr 32, das sich über die gesamte Länge des Kanals 20 erstreckt und in der radialen Fläche von einer der Stufen 18 herausgeführt ist. Im vorliegenden Fall handelt es sich um ein Rohr zur Entnahme von Gasproben, wobei das Gas bei der Stufe 18 in das Rohr 32 einströmen kann und dann durch dieses Rohr weiterströmt, bis es außerhalb des Ofens aufgefangen wird, um Analysen des Gases zu machen. Bei der Ausführungsform der Fig. 6 ist das Rohr 32 außerhalb der Sonde 12 auf den Kanal 20 aufgeflanscht. Das innere Ende ragt dagegen frei aus dem Kanal 20 heraus, um unterschiedliche Wärmeausdehungen auszugleichen und den Ausbau zu erleichtern. Für diesen Ausbau genügt es in der Tat, das Rohr 32 außerhalb des Ofens loszuschrauben und dann aus dem Kanal 20 herauszuziehen, wobei die Funktionsweise der übrigen Bereiche der Sonde nicht gestört wird. Es ist ebenfalls möglich, durch Einschieben einer Stange von außerhalb des Ofens dieses Rohr 32 zu entstopfen.
Die Fig. 7 zeigt eine zweite Ausführungsform für die Einführung und Befestigung eines Rohrs 32a zur Entnahme von Gasproben. Dieses Rohr 32a ist ebenfalls einfach in den Kanal 20 eingeführt, weist aber an seinem inneren Ende einen Wulst 34 auf, der mit dem inneren Ende des Kanals 20 zusammenwirkt, um die Arbeitsposition des Rohrs 32a festzulegen. Außerhalb der Sonde 12 weist das Rohr 32a einen peripheren Flansch 36 auf, auf den eine Schraubenfeder 38 einwirkt, um das Rohr in den Kanal 20 hineinzudrücken, wobei diese Schraubenfeder 38 um das Rohr 32a herum angeordnet ist und sich auf dem Boden einer Kappe abstützt, die auf den äußeren Teil des Kanals 20 oder auf den Schutzmantel 16 aufgeschraubt ist. Das Rohr 32a wird also elastisch festgehalten, wobei die Feder 38 einen Ausgleich der unterschiedlichen Wärmeausdehungen ermöglicht. Zum Ausbau genügt es, einfach die Kappe 40 abzuschrauben und das Rohr 32a herauszuziehen.
In der Fig. 8 ist ein Rohr 42 für die thermischen Messungen veranschaulicht. Dieses Rohr 42 ist auf die gleiche Weise wie das Rohr 32 in der Fig. 6, oder das Rohr 32a in der Fig. 7 in den entsprechenden Kanal 22 eingeschoben. An das innere Ende von jedem der Rohre 42 ist eine Kappe 44 von der Form einer geschlossenen Spitze angeschweißt, die ein Thermoelement 46 enthält, das in ein Material mit guter Wärmeleitfähigkeit eingebettet ist. Jedes Thermoelement 46 ist über seine durch das Rohr 42 verlaufende Stange 48 mit der außerhalb des Ofens angeordneten Meßvorrichtung elektrisch verbunden. In der Arbeitsposition werden die Rohre 42 in ihrem Kanal 42 so festgehalten, daß die Kappe 42 bei der entsprechenden Stufe aus der Wand des Schutzmantels 16 herausragt, wie dies in der perspektivischen Ansicht der Fig. 5 dargestellt ist.

Claims (6)

1. Sonde zur Entnahme von Gasproben und zur Ausführung von thermischen Messungen in einem Schachtofen, aus im wesentlichen einer Halterung in Form eines Schutzmantels (16), die über der Beschickungsoberfläche durch eine Öffnung in der Wand des Ofens (10) eingeführt wird, einer Reihe von inneren Sondenrohren (32), (42), die die längs des Schutzmantels (16) verteilten Öffnungen mit einer außerhalb des Ofens angeordneten Vorrichtung zur Ausführung von thermischen Messungen und zur Aufnahme von Gasproben verbinden, Thermoelementen (46), die im Bereich der besagten Öffnungen des Schutzmantels (16) angeordnet sind, Abstandsstücken (28), die in dem Schutzmantel (16) in Querrichtung angeordnet sind und die inneren Rohre festhalten, und aus einem oder mehreren, in dem Schutzmantel verlaufenden Kühlkreisen, dadurch gekennzeichnet, daß die Oberfläche der Abstandsstücke (28) von der Wand des Ofens bis zu der Spitze der Sonde immer kleiner wird, daß der Oberflächenunterschied zwischen zwei benachbarten Abstandsstücken einen exponierten Teil des größeren Abstandsstücks und eine entsprechende transversale Stufe (18) des Schutzmantels (16) definiert, daß die besagten Öffnungen des Schutzmantels (16) sich in den besagten exponierten Teilen befinden, und daß die besagten inneren Sondenrohre (32), (34) zur Entnahme von Gasproben und zur Ausführung von thermischen Messungen ausnahmslos gerade, austauschbare individuelle Elemente sind, die in geraden Halte- und Schutzkanälen (20), (22) untergebracht sind, von denen jeder außerhalb des Ofens bis zu dem besagten jeweiligen exponierten Teil durch den Schutzmantel verläuft.
2. Sonde gemäß Anspruch 1, dadurch gekennzeichnet, daß die besagten exponierten Teile der Abstandsstücke (28) eine im wesentlichen dreieckige Form haben, wobei die Spitze zu der Beschickungsoberfläche hin gerichtet ist, und daß die verschiedenen aufeinanderfolgenden dreieckigen Teile bei axialer Projektion der Sonde gegeneinander versetzt angeordnet sind.
3. Sonde gemäß Anspruch 1, dadurch gekennzeichnet, daß jedes der inneren Rohre (32), (42) außerhalb des Ofens auf den Schutzmantel (16) aufgeflanscht ist.
4. Sonde gemäß Anspruch 1, dadurch gekennzeichnet, daß jedes der Rohre (32a), (42) über eine außerhalb des Ofens angeordnete Schraubenfeder (38) in seinem Haltekanal (20), (22) festgehalten wird.
5. Sonde gemäß irgendeinem der Ansprüche 1 bis 4, dadurch gekennzeichnet, daß der Schutzmantel (16) ein dichtes Gehäuse bildet, in dem die gegenüber diesem Gehäuse abgedichteten Kanäle (20) und (22) untergebracht sind, und das außerhalb des Ofes an einen Kühlkreis angeschlossen ist.
6. Sonde gemäß Anspruch 5, gekennzeichnet durch einen axialen Kanal (24) oder mehrere Kanäle zur Umwälzung der Kühlflüssigkeit, die von den Abstandsstücken (28) festgehalten werden.
DE4105830A 1990-03-07 1991-02-25 Sonde für Gasprobenentnahmen und thermische Messungen in einem Schachtofen Expired - Fee Related DE4105830C2 (de)

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
LU87693A LU87693A1 (fr) 1990-03-07 1990-03-07 Sonde de prise d'echantillons gazeux et de mesures thermiques dans un four a cuve

Publications (2)

Publication Number Publication Date
DE4105830A1 true DE4105830A1 (de) 1991-09-12
DE4105830C2 DE4105830C2 (de) 1999-03-11

Family

ID=19731222

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
DE4105830A Expired - Fee Related DE4105830C2 (de) 1990-03-07 1991-02-25 Sonde für Gasprobenentnahmen und thermische Messungen in einem Schachtofen

Country Status (12)

Country Link
US (1) US5108192A (de)
EP (1) EP0445599B1 (de)
JP (1) JPH0658855A (de)
CN (1) CN1028907C (de)
AT (1) ATE132624T1 (de)
AU (1) AU635391B2 (de)
BR (1) BR9100969A (de)
CA (1) CA2037224A1 (de)
CZ (1) CZ283311B6 (de)
DE (1) DE4105830C2 (de)
ES (1) ES2082021T3 (de)
LU (1) LU87693A1 (de)

Cited By (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
DE10202357A1 (de) * 2001-06-21 2003-01-09 Schott Glas Verfahren und Vorrichtung zum Entnehmen einer Glasprobe aus einer Glassschmelze, insbesondere aus Bereichen unterhalb der Oberfläche der Glasschmelze
DE102006019723A1 (de) * 2006-03-31 2007-10-04 Alstom Technology Ltd. Messsondensystem, Anordnung und Verfahren zur Erfassung von Abgasparametern stromabwärts einer Gasturbine
DE202011001277U1 (de) 2011-01-10 2012-04-16 Klaus Irrgang Thermoelektrischer Temperaturfühler
DE102011008176A1 (de) 2011-01-10 2012-07-12 Klaus Irrgang Thermoelektrischer Temperaturfühler

Families Citing this family (342)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
FR2702047A1 (fr) * 1993-02-26 1994-09-02 Framatome Sa Dispositif de prélèvements d'échantillons ou de mesures de grandeurs physiques dans un milieu sous-marin.
US5505544A (en) * 1994-03-17 1996-04-09 Sony Corp. Chamber temperature uniformity test fixture
GB0019176D0 (en) * 2000-08-05 2000-09-27 Cambridge Material Science Lim Monitoring thermal events
US6550963B2 (en) * 2001-04-26 2003-04-22 Daily Instruments Multipoint thermocouple
EP1636129B1 (de) * 2003-03-31 2017-08-09 Saudi Arabian Oil Company Messung des gehalts an geschmolzenem schwefel in behältnissen
KR100776914B1 (ko) * 2005-06-14 2007-11-15 주식회사 엘지화학 온도 측정 장치
DE102006058286B4 (de) * 2006-12-08 2009-05-14 Technische Universität München Gasentnahmeventil und dessen Anordnung in einer Brennkammer einer Verbrennungskraftmaschine sowie Verfahren zum Betrieb eines derartigen Gasentnahmeventils
WO2008143962A1 (en) * 2007-05-18 2008-11-27 Enviormental Energy Services, Inc. Method for measuring ash/slag deposition in a utility boiler
US20090052498A1 (en) * 2007-08-24 2009-02-26 Asm America, Inc. Thermocouple
US10378106B2 (en) 2008-11-14 2019-08-13 Asm Ip Holding B.V. Method of forming insulation film by modified PEALD
US8262287B2 (en) * 2008-12-08 2012-09-11 Asm America, Inc. Thermocouple
US9394608B2 (en) 2009-04-06 2016-07-19 Asm America, Inc. Semiconductor processing reactor and components thereof
US8382370B2 (en) * 2009-05-06 2013-02-26 Asm America, Inc. Thermocouple assembly with guarded thermocouple junction
US8100583B2 (en) * 2009-05-06 2012-01-24 Asm America, Inc. Thermocouple
US9297705B2 (en) * 2009-05-06 2016-03-29 Asm America, Inc. Smart temperature measuring device
US8802201B2 (en) 2009-08-14 2014-08-12 Asm America, Inc. Systems and methods for thin-film deposition of metal oxides using excited nitrogen-oxygen species
GB2483931B (en) * 2010-09-27 2015-12-23 Endet Ltd Combined fluid sampling and monitoring probe
US9312155B2 (en) 2011-06-06 2016-04-12 Asm Japan K.K. High-throughput semiconductor-processing apparatus equipped with multiple dual-chamber modules
US10364496B2 (en) 2011-06-27 2019-07-30 Asm Ip Holding B.V. Dual section module having shared and unshared mass flow controllers
US10854498B2 (en) 2011-07-15 2020-12-01 Asm Ip Holding B.V. Wafer-supporting device and method for producing same
US20130023129A1 (en) 2011-07-20 2013-01-24 Asm America, Inc. Pressure transmitter for a semiconductor processing environment
US9017481B1 (en) 2011-10-28 2015-04-28 Asm America, Inc. Process feed management for semiconductor substrate processing
CN102443667B (zh) * 2011-12-07 2013-04-17 首钢总公司 一种风口回旋区取样测量装置
ES2723885T3 (es) 2012-07-19 2019-09-03 Daiichi Sankyo Co Ltd Anticuerpos anti-Siglec-15
US9659799B2 (en) 2012-08-28 2017-05-23 Asm Ip Holding B.V. Systems and methods for dynamic semiconductor process scheduling
US10714315B2 (en) 2012-10-12 2020-07-14 Asm Ip Holdings B.V. Semiconductor reaction chamber showerhead
CN103115692A (zh) * 2013-01-23 2013-05-22 宁波松科磁材有限公司 一种钕铁硼烧结测温法兰
US20160376700A1 (en) 2013-02-01 2016-12-29 Asm Ip Holding B.V. System for treatment of deposition reactor
USD702188S1 (en) 2013-03-08 2014-04-08 Asm Ip Holding B.V. Thermocouple
US9484191B2 (en) 2013-03-08 2016-11-01 Asm Ip Holding B.V. Pulsed remote plasma method and system
US9589770B2 (en) 2013-03-08 2017-03-07 Asm Ip Holding B.V. Method and systems for in-situ formation of intermediate reactive species
CN103411697B (zh) * 2013-07-11 2016-04-27 青岛新力通工业有限责任公司 材料高温力学试验机的铠装热电偶测温装置
US9240412B2 (en) 2013-09-27 2016-01-19 Asm Ip Holding B.V. Semiconductor structure and device and methods of forming same using selective epitaxial process
CN103602770B (zh) * 2013-12-05 2015-05-13 江苏联兴成套设备制造有限公司 可在线更换的带预警功能的十字测温装置
US10683571B2 (en) 2014-02-25 2020-06-16 Asm Ip Holding B.V. Gas supply manifold and method of supplying gases to chamber using same
US10167557B2 (en) 2014-03-18 2019-01-01 Asm Ip Holding B.V. Gas distribution system, reactor including the system, and methods of using the same
US11015245B2 (en) 2014-03-19 2021-05-25 Asm Ip Holding B.V. Gas-phase reactor and system having exhaust plenum and components thereof
US10858737B2 (en) 2014-07-28 2020-12-08 Asm Ip Holding B.V. Showerhead assembly and components thereof
US9890456B2 (en) 2014-08-21 2018-02-13 Asm Ip Holding B.V. Method and system for in situ formation of gas-phase compounds
US10941490B2 (en) 2014-10-07 2021-03-09 Asm Ip Holding B.V. Multiple temperature range susceptor, assembly, reactor and system including the susceptor, and methods of using the same
US9657845B2 (en) 2014-10-07 2017-05-23 Asm Ip Holding B.V. Variable conductance gas distribution apparatus and method
US10048098B2 (en) * 2014-12-11 2018-08-14 Cim-Tech Inc. Probes, blast furnaces equipped therewith, and methods of fabricating probes
KR102263121B1 (ko) 2014-12-22 2021-06-09 에이에스엠 아이피 홀딩 비.브이. 반도체 소자 및 그 제조 방법
US10529542B2 (en) 2015-03-11 2020-01-07 Asm Ip Holdings B.V. Cross-flow reactor and method
US10276355B2 (en) 2015-03-12 2019-04-30 Asm Ip Holding B.V. Multi-zone reactor, system including the reactor, and method of using the same
US10458018B2 (en) 2015-06-26 2019-10-29 Asm Ip Holding B.V. Structures including metal carbide material, devices including the structures, and methods of forming same
US10600673B2 (en) 2015-07-07 2020-03-24 Asm Ip Holding B.V. Magnetic susceptor to baseplate seal
US9960072B2 (en) 2015-09-29 2018-05-01 Asm Ip Holding B.V. Variable adjustment for precise matching of multiple chamber cavity housings
US10211308B2 (en) 2015-10-21 2019-02-19 Asm Ip Holding B.V. NbMC layers
US10322384B2 (en) 2015-11-09 2019-06-18 Asm Ip Holding B.V. Counter flow mixer for process chamber
US11139308B2 (en) 2015-12-29 2021-10-05 Asm Ip Holding B.V. Atomic layer deposition of III-V compounds to form V-NAND devices
US10529554B2 (en) 2016-02-19 2020-01-07 Asm Ip Holding B.V. Method for forming silicon nitride film selectively on sidewalls or flat surfaces of trenches
US10468251B2 (en) 2016-02-19 2019-11-05 Asm Ip Holding B.V. Method for forming spacers using silicon nitride film for spacer-defined multiple patterning
US10501866B2 (en) 2016-03-09 2019-12-10 Asm Ip Holding B.V. Gas distribution apparatus for improved film uniformity in an epitaxial system
US10343920B2 (en) 2016-03-18 2019-07-09 Asm Ip Holding B.V. Aligned carbon nanotubes
US9892913B2 (en) 2016-03-24 2018-02-13 Asm Ip Holding B.V. Radial and thickness control via biased multi-port injection settings
US10865475B2 (en) 2016-04-21 2020-12-15 Asm Ip Holding B.V. Deposition of metal borides and silicides
US10190213B2 (en) 2016-04-21 2019-01-29 Asm Ip Holding B.V. Deposition of metal borides
US10367080B2 (en) 2016-05-02 2019-07-30 Asm Ip Holding B.V. Method of forming a germanium oxynitride film
US10032628B2 (en) 2016-05-02 2018-07-24 Asm Ip Holding B.V. Source/drain performance through conformal solid state doping
KR102592471B1 (ko) 2016-05-17 2023-10-20 에이에스엠 아이피 홀딩 비.브이. 금속 배선 형성 방법 및 이를 이용한 반도체 장치의 제조 방법
US11453943B2 (en) 2016-05-25 2022-09-27 Asm Ip Holding B.V. Method for forming carbon-containing silicon/metal oxide or nitride film by ALD using silicon precursor and hydrocarbon precursor
CN106153402A (zh) * 2016-06-15 2016-11-23 安徽省绿巨人环境技术有限公司 一种基于储气罐的空气采样装置
US10388509B2 (en) 2016-06-28 2019-08-20 Asm Ip Holding B.V. Formation of epitaxial layers via dislocation filtering
US10612137B2 (en) 2016-07-08 2020-04-07 Asm Ip Holdings B.V. Organic reactants for atomic layer deposition
US9859151B1 (en) 2016-07-08 2018-01-02 Asm Ip Holding B.V. Selective film deposition method to form air gaps
US10714385B2 (en) 2016-07-19 2020-07-14 Asm Ip Holding B.V. Selective deposition of tungsten
KR102354490B1 (ko) 2016-07-27 2022-01-21 에이에스엠 아이피 홀딩 비.브이. 기판 처리 방법
KR102532607B1 (ko) 2016-07-28 2023-05-15 에이에스엠 아이피 홀딩 비.브이. 기판 가공 장치 및 그 동작 방법
US10395919B2 (en) 2016-07-28 2019-08-27 Asm Ip Holding B.V. Method and apparatus for filling a gap
US9812320B1 (en) 2016-07-28 2017-11-07 Asm Ip Holding B.V. Method and apparatus for filling a gap
US9887082B1 (en) 2016-07-28 2018-02-06 Asm Ip Holding B.V. Method and apparatus for filling a gap
KR102613349B1 (ko) 2016-08-25 2023-12-14 에이에스엠 아이피 홀딩 비.브이. 배기 장치 및 이를 이용한 기판 가공 장치와 박막 제조 방법
US10410943B2 (en) 2016-10-13 2019-09-10 Asm Ip Holding B.V. Method for passivating a surface of a semiconductor and related systems
US10643826B2 (en) 2016-10-26 2020-05-05 Asm Ip Holdings B.V. Methods for thermally calibrating reaction chambers
US11532757B2 (en) 2016-10-27 2022-12-20 Asm Ip Holding B.V. Deposition of charge trapping layers
US10643904B2 (en) 2016-11-01 2020-05-05 Asm Ip Holdings B.V. Methods for forming a semiconductor device and related semiconductor device structures
US10229833B2 (en) 2016-11-01 2019-03-12 Asm Ip Holding B.V. Methods for forming a transition metal nitride film on a substrate by atomic layer deposition and related semiconductor device structures
US10435790B2 (en) 2016-11-01 2019-10-08 Asm Ip Holding B.V. Method of subatmospheric plasma-enhanced ALD using capacitively coupled electrodes with narrow gap
US10714350B2 (en) 2016-11-01 2020-07-14 ASM IP Holdings, B.V. Methods for forming a transition metal niobium nitride film on a substrate by atomic layer deposition and related semiconductor device structures
US10134757B2 (en) 2016-11-07 2018-11-20 Asm Ip Holding B.V. Method of processing a substrate and a device manufactured by using the method
KR102546317B1 (ko) 2016-11-15 2023-06-21 에이에스엠 아이피 홀딩 비.브이. 기체 공급 유닛 및 이를 포함하는 기판 처리 장치
US10340135B2 (en) 2016-11-28 2019-07-02 Asm Ip Holding B.V. Method of topologically restricted plasma-enhanced cyclic deposition of silicon or metal nitride
KR20180068582A (ko) 2016-12-14 2018-06-22 에이에스엠 아이피 홀딩 비.브이. 기판 처리 장치
US11447861B2 (en) 2016-12-15 2022-09-20 Asm Ip Holding B.V. Sequential infiltration synthesis apparatus and a method of forming a patterned structure
US11581186B2 (en) 2016-12-15 2023-02-14 Asm Ip Holding B.V. Sequential infiltration synthesis apparatus
KR102700194B1 (ko) 2016-12-19 2024-08-28 에이에스엠 아이피 홀딩 비.브이. 기판 처리 장치
US10269558B2 (en) 2016-12-22 2019-04-23 Asm Ip Holding B.V. Method of forming a structure on a substrate
US10867788B2 (en) 2016-12-28 2020-12-15 Asm Ip Holding B.V. Method of forming a structure on a substrate
US11390950B2 (en) 2017-01-10 2022-07-19 Asm Ip Holding B.V. Reactor system and method to reduce residue buildup during a film deposition process
DE102017102046B4 (de) * 2017-02-02 2024-10-31 Deutsches Zentrum für Luft- und Raumfahrt e.V. Entnahmesonde und Verfahren zur Entnahme von Abgas
US10655221B2 (en) 2017-02-09 2020-05-19 Asm Ip Holding B.V. Method for depositing oxide film by thermal ALD and PEALD
US10468261B2 (en) 2017-02-15 2019-11-05 Asm Ip Holding B.V. Methods for forming a metallic film on a substrate by cyclical deposition and related semiconductor device structures
US10283353B2 (en) 2017-03-29 2019-05-07 Asm Ip Holding B.V. Method of reforming insulating film deposited on substrate with recess pattern
US10529563B2 (en) 2017-03-29 2020-01-07 Asm Ip Holdings B.V. Method for forming doped metal oxide films on a substrate by cyclical deposition and related semiconductor device structures
KR102457289B1 (ko) 2017-04-25 2022-10-21 에이에스엠 아이피 홀딩 비.브이. 박막 증착 방법 및 반도체 장치의 제조 방법
US10446393B2 (en) 2017-05-08 2019-10-15 Asm Ip Holding B.V. Methods for forming silicon-containing epitaxial layers and related semiconductor device structures
US10892156B2 (en) 2017-05-08 2021-01-12 Asm Ip Holding B.V. Methods for forming a silicon nitride film on a substrate and related semiconductor device structures
US10770286B2 (en) 2017-05-08 2020-09-08 Asm Ip Holdings B.V. Methods for selectively forming a silicon nitride film on a substrate and related semiconductor device structures
US10504742B2 (en) 2017-05-31 2019-12-10 Asm Ip Holding B.V. Method of atomic layer etching using hydrogen plasma
US10886123B2 (en) 2017-06-02 2021-01-05 Asm Ip Holding B.V. Methods for forming low temperature semiconductor layers and related semiconductor device structures
US12040200B2 (en) 2017-06-20 2024-07-16 Asm Ip Holding B.V. Semiconductor processing apparatus and methods for calibrating a semiconductor processing apparatus
US11306395B2 (en) 2017-06-28 2022-04-19 Asm Ip Holding B.V. Methods for depositing a transition metal nitride film on a substrate by atomic layer deposition and related deposition apparatus
US10685834B2 (en) 2017-07-05 2020-06-16 Asm Ip Holdings B.V. Methods for forming a silicon germanium tin layer and related semiconductor device structures
KR20190009245A (ko) 2017-07-18 2019-01-28 에이에스엠 아이피 홀딩 비.브이. 반도체 소자 구조물 형성 방법 및 관련된 반도체 소자 구조물
US11374112B2 (en) 2017-07-19 2022-06-28 Asm Ip Holding B.V. Method for depositing a group IV semiconductor and related semiconductor device structures
US10541333B2 (en) 2017-07-19 2020-01-21 Asm Ip Holding B.V. Method for depositing a group IV semiconductor and related semiconductor device structures
US11018002B2 (en) 2017-07-19 2021-05-25 Asm Ip Holding B.V. Method for selectively depositing a Group IV semiconductor and related semiconductor device structures
US10312055B2 (en) 2017-07-26 2019-06-04 Asm Ip Holding B.V. Method of depositing film by PEALD using negative bias
US10605530B2 (en) 2017-07-26 2020-03-31 Asm Ip Holding B.V. Assembly of a liner and a flange for a vertical furnace as well as the liner and the vertical furnace
US10590535B2 (en) 2017-07-26 2020-03-17 Asm Ip Holdings B.V. Chemical treatment, deposition and/or infiltration apparatus and method for using the same
US10692741B2 (en) 2017-08-08 2020-06-23 Asm Ip Holdings B.V. Radiation shield
US10770336B2 (en) 2017-08-08 2020-09-08 Asm Ip Holding B.V. Substrate lift mechanism and reactor including same
US11139191B2 (en) 2017-08-09 2021-10-05 Asm Ip Holding B.V. Storage apparatus for storing cassettes for substrates and processing apparatus equipped therewith
US10249524B2 (en) 2017-08-09 2019-04-02 Asm Ip Holding B.V. Cassette holder assembly for a substrate cassette and holding member for use in such assembly
US11769682B2 (en) 2017-08-09 2023-09-26 Asm Ip Holding B.V. Storage apparatus for storing cassettes for substrates and processing apparatus equipped therewith
USD900036S1 (en) 2017-08-24 2020-10-27 Asm Ip Holding B.V. Heater electrical connector and adapter
US11830730B2 (en) 2017-08-29 2023-11-28 Asm Ip Holding B.V. Layer forming method and apparatus
US11056344B2 (en) 2017-08-30 2021-07-06 Asm Ip Holding B.V. Layer forming method
US11295980B2 (en) 2017-08-30 2022-04-05 Asm Ip Holding B.V. Methods for depositing a molybdenum metal film over a dielectric surface of a substrate by a cyclical deposition process and related semiconductor device structures
KR102491945B1 (ko) 2017-08-30 2023-01-26 에이에스엠 아이피 홀딩 비.브이. 기판 처리 장치
KR102401446B1 (ko) 2017-08-31 2022-05-24 에이에스엠 아이피 홀딩 비.브이. 기판 처리 장치
US10607895B2 (en) 2017-09-18 2020-03-31 Asm Ip Holdings B.V. Method for forming a semiconductor device structure comprising a gate fill metal
KR102630301B1 (ko) 2017-09-21 2024-01-29 에이에스엠 아이피 홀딩 비.브이. 침투성 재료의 순차 침투 합성 방법 처리 및 이를 이용하여 형성된 구조물 및 장치
US10844484B2 (en) 2017-09-22 2020-11-24 Asm Ip Holding B.V. Apparatus for dispensing a vapor phase reactant to a reaction chamber and related methods
US10658205B2 (en) 2017-09-28 2020-05-19 Asm Ip Holdings B.V. Chemical dispensing apparatus and methods for dispensing a chemical to a reaction chamber
US10403504B2 (en) 2017-10-05 2019-09-03 Asm Ip Holding B.V. Method for selectively depositing a metallic film on a substrate
US10319588B2 (en) 2017-10-10 2019-06-11 Asm Ip Holding B.V. Method for depositing a metal chalcogenide on a substrate by cyclical deposition
US10923344B2 (en) 2017-10-30 2021-02-16 Asm Ip Holding B.V. Methods for forming a semiconductor structure and related semiconductor structures
US10910262B2 (en) 2017-11-16 2021-02-02 Asm Ip Holding B.V. Method of selectively depositing a capping layer structure on a semiconductor device structure
KR102443047B1 (ko) 2017-11-16 2022-09-14 에이에스엠 아이피 홀딩 비.브이. 기판 처리 장치 방법 및 그에 의해 제조된 장치
US11022879B2 (en) 2017-11-24 2021-06-01 Asm Ip Holding B.V. Method of forming an enhanced unexposed photoresist layer
JP7206265B2 (ja) 2017-11-27 2023-01-17 エーエスエム アイピー ホールディング ビー.ブイ. クリーン・ミニエンバイロメントを備える装置
CN111316417B (zh) 2017-11-27 2023-12-22 阿斯莫Ip控股公司 与批式炉偕同使用的用于储存晶圆匣的储存装置
US10290508B1 (en) 2017-12-05 2019-05-14 Asm Ip Holding B.V. Method for forming vertical spacers for spacer-defined patterning
US10872771B2 (en) 2018-01-16 2020-12-22 Asm Ip Holding B. V. Method for depositing a material film on a substrate within a reaction chamber by a cyclical deposition process and related device structures
TWI799494B (zh) 2018-01-19 2023-04-21 荷蘭商Asm 智慧財產控股公司 沈積方法
CN111630203A (zh) 2018-01-19 2020-09-04 Asm Ip私人控股有限公司 通过等离子体辅助沉积来沉积间隙填充层的方法
USD903477S1 (en) 2018-01-24 2020-12-01 Asm Ip Holdings B.V. Metal clamp
US11018047B2 (en) 2018-01-25 2021-05-25 Asm Ip Holding B.V. Hybrid lift pin
USD880437S1 (en) 2018-02-01 2020-04-07 Asm Ip Holding B.V. Gas supply plate for semiconductor manufacturing apparatus
US10535516B2 (en) 2018-02-01 2020-01-14 Asm Ip Holdings B.V. Method for depositing a semiconductor structure on a surface of a substrate and related semiconductor structures
US11081345B2 (en) 2018-02-06 2021-08-03 Asm Ip Holding B.V. Method of post-deposition treatment for silicon oxide film
CN116732497A (zh) 2018-02-14 2023-09-12 Asm Ip私人控股有限公司 通过循环沉积工艺在衬底上沉积含钌膜的方法
US10896820B2 (en) 2018-02-14 2021-01-19 Asm Ip Holding B.V. Method for depositing a ruthenium-containing film on a substrate by a cyclical deposition process
US10731249B2 (en) 2018-02-15 2020-08-04 Asm Ip Holding B.V. Method of forming a transition metal containing film on a substrate by a cyclical deposition process, a method for supplying a transition metal halide compound to a reaction chamber, and related vapor deposition apparatus
KR102636427B1 (ko) 2018-02-20 2024-02-13 에이에스엠 아이피 홀딩 비.브이. 기판 처리 방법 및 장치
US10658181B2 (en) 2018-02-20 2020-05-19 Asm Ip Holding B.V. Method of spacer-defined direct patterning in semiconductor fabrication
US10975470B2 (en) 2018-02-23 2021-04-13 Asm Ip Holding B.V. Apparatus for detecting or monitoring for a chemical precursor in a high temperature environment
US11473195B2 (en) 2018-03-01 2022-10-18 Asm Ip Holding B.V. Semiconductor processing apparatus and a method for processing a substrate
US11629406B2 (en) 2018-03-09 2023-04-18 Asm Ip Holding B.V. Semiconductor processing apparatus comprising one or more pyrometers for measuring a temperature of a substrate during transfer of the substrate
US11114283B2 (en) 2018-03-16 2021-09-07 Asm Ip Holding B.V. Reactor, system including the reactor, and methods of manufacturing and using same
KR102646467B1 (ko) 2018-03-27 2024-03-11 에이에스엠 아이피 홀딩 비.브이. 기판 상에 전극을 형성하는 방법 및 전극을 포함하는 반도체 소자 구조
US10510536B2 (en) 2018-03-29 2019-12-17 Asm Ip Holding B.V. Method of depositing a co-doped polysilicon film on a surface of a substrate within a reaction chamber
US11088002B2 (en) 2018-03-29 2021-08-10 Asm Ip Holding B.V. Substrate rack and a substrate processing system and method
US11230766B2 (en) 2018-03-29 2022-01-25 Asm Ip Holding B.V. Substrate processing apparatus and method
KR102501472B1 (ko) 2018-03-30 2023-02-20 에이에스엠 아이피 홀딩 비.브이. 기판 처리 방법
KR102709511B1 (ko) 2018-05-08 2024-09-24 에이에스엠 아이피 홀딩 비.브이. 기판 상에 산화물 막을 주기적 증착 공정에 의해 증착하기 위한 방법 및 관련 소자 구조
US12025484B2 (en) 2018-05-08 2024-07-02 Asm Ip Holding B.V. Thin film forming method
TW202349473A (zh) 2018-05-11 2023-12-16 荷蘭商Asm Ip私人控股有限公司 用於基板上形成摻雜金屬碳化物薄膜之方法及相關半導體元件結構
KR102596988B1 (ko) 2018-05-28 2023-10-31 에이에스엠 아이피 홀딩 비.브이. 기판 처리 방법 및 그에 의해 제조된 장치
TWI840362B (zh) 2018-06-04 2024-05-01 荷蘭商Asm Ip私人控股有限公司 水氣降低的晶圓處置腔室
US11718913B2 (en) 2018-06-04 2023-08-08 Asm Ip Holding B.V. Gas distribution system and reactor system including same
US11286562B2 (en) 2018-06-08 2022-03-29 Asm Ip Holding B.V. Gas-phase chemical reactor and method of using same
US10797133B2 (en) 2018-06-21 2020-10-06 Asm Ip Holding B.V. Method for depositing a phosphorus doped silicon arsenide film and related semiconductor device structures
KR102568797B1 (ko) 2018-06-21 2023-08-21 에이에스엠 아이피 홀딩 비.브이. 기판 처리 시스템
TW202405221A (zh) 2018-06-27 2024-02-01 荷蘭商Asm Ip私人控股有限公司 用於形成含金屬材料及包含含金屬材料的膜及結構之循環沉積方法
JP2021529254A (ja) 2018-06-27 2021-10-28 エーエスエム・アイピー・ホールディング・ベー・フェー 金属含有材料ならびに金属含有材料を含む膜および構造体を形成するための周期的堆積方法
US10612136B2 (en) 2018-06-29 2020-04-07 ASM IP Holding, B.V. Temperature-controlled flange and reactor system including same
KR102686758B1 (ko) 2018-06-29 2024-07-18 에이에스엠 아이피 홀딩 비.브이. 박막 증착 방법 및 반도체 장치의 제조 방법
US10755922B2 (en) 2018-07-03 2020-08-25 Asm Ip Holding B.V. Method for depositing silicon-free carbon-containing film as gap-fill layer by pulse plasma-assisted deposition
US10388513B1 (en) 2018-07-03 2019-08-20 Asm Ip Holding B.V. Method for depositing silicon-free carbon-containing film as gap-fill layer by pulse plasma-assisted deposition
US10767789B2 (en) 2018-07-16 2020-09-08 Asm Ip Holding B.V. Diaphragm valves, valve components, and methods for forming valve components
US10483099B1 (en) 2018-07-26 2019-11-19 Asm Ip Holding B.V. Method for forming thermally stable organosilicon polymer film
US11053591B2 (en) 2018-08-06 2021-07-06 Asm Ip Holding B.V. Multi-port gas injection system and reactor system including same
US10883175B2 (en) 2018-08-09 2021-01-05 Asm Ip Holding B.V. Vertical furnace for processing substrates and a liner for use therein
US10829852B2 (en) 2018-08-16 2020-11-10 Asm Ip Holding B.V. Gas distribution device for a wafer processing apparatus
US11430674B2 (en) 2018-08-22 2022-08-30 Asm Ip Holding B.V. Sensor array, apparatus for dispensing a vapor phase reactant to a reaction chamber and related methods
KR102707956B1 (ko) 2018-09-11 2024-09-19 에이에스엠 아이피 홀딩 비.브이. 박막 증착 방법
US11024523B2 (en) 2018-09-11 2021-06-01 Asm Ip Holding B.V. Substrate processing apparatus and method
US11049751B2 (en) 2018-09-14 2021-06-29 Asm Ip Holding B.V. Cassette supply system to store and handle cassettes and processing apparatus equipped therewith
CN110970344B (zh) 2018-10-01 2024-10-25 Asmip控股有限公司 衬底保持设备、包含所述设备的系统及其使用方法
US11232963B2 (en) 2018-10-03 2022-01-25 Asm Ip Holding B.V. Substrate processing apparatus and method
KR102592699B1 (ko) 2018-10-08 2023-10-23 에이에스엠 아이피 홀딩 비.브이. 기판 지지 유닛 및 이를 포함하는 박막 증착 장치와 기판 처리 장치
US10847365B2 (en) 2018-10-11 2020-11-24 Asm Ip Holding B.V. Method of forming conformal silicon carbide film by cyclic CVD
US10811256B2 (en) 2018-10-16 2020-10-20 Asm Ip Holding B.V. Method for etching a carbon-containing feature
KR102605121B1 (ko) 2018-10-19 2023-11-23 에이에스엠 아이피 홀딩 비.브이. 기판 처리 장치 및 기판 처리 방법
KR102546322B1 (ko) 2018-10-19 2023-06-21 에이에스엠 아이피 홀딩 비.브이. 기판 처리 장치 및 기판 처리 방법
USD948463S1 (en) 2018-10-24 2022-04-12 Asm Ip Holding B.V. Susceptor for semiconductor substrate supporting apparatus
US10381219B1 (en) 2018-10-25 2019-08-13 Asm Ip Holding B.V. Methods for forming a silicon nitride film
US11087997B2 (en) 2018-10-31 2021-08-10 Asm Ip Holding B.V. Substrate processing apparatus for processing substrates
KR20200051105A (ko) 2018-11-02 2020-05-13 에이에스엠 아이피 홀딩 비.브이. 기판 지지 유닛 및 이를 포함하는 기판 처리 장치
US11572620B2 (en) 2018-11-06 2023-02-07 Asm Ip Holding B.V. Methods for selectively depositing an amorphous silicon film on a substrate
US11031242B2 (en) 2018-11-07 2021-06-08 Asm Ip Holding B.V. Methods for depositing a boron doped silicon germanium film
CN113039292A (zh) * 2018-11-13 2021-06-25 安赛乐米塔尔公司 具有用于内部气体分析的探针的直接还原竖炉
US10818758B2 (en) 2018-11-16 2020-10-27 Asm Ip Holding B.V. Methods for forming a metal silicate film on a substrate in a reaction chamber and related semiconductor device structures
US10847366B2 (en) 2018-11-16 2020-11-24 Asm Ip Holding B.V. Methods for depositing a transition metal chalcogenide film on a substrate by a cyclical deposition process
US10559458B1 (en) 2018-11-26 2020-02-11 Asm Ip Holding B.V. Method of forming oxynitride film
US12040199B2 (en) 2018-11-28 2024-07-16 Asm Ip Holding B.V. Substrate processing apparatus for processing substrates
US11217444B2 (en) 2018-11-30 2022-01-04 Asm Ip Holding B.V. Method for forming an ultraviolet radiation responsive metal oxide-containing film
KR102636428B1 (ko) 2018-12-04 2024-02-13 에이에스엠 아이피 홀딩 비.브이. 기판 처리 장치를 세정하는 방법
US11158513B2 (en) 2018-12-13 2021-10-26 Asm Ip Holding B.V. Methods for forming a rhenium-containing film on a substrate by a cyclical deposition process and related semiconductor device structures
JP7504584B2 (ja) 2018-12-14 2024-06-24 エーエスエム・アイピー・ホールディング・ベー・フェー 窒化ガリウムの選択的堆積を用いてデバイス構造体を形成する方法及びそのためのシステム
TW202405220A (zh) 2019-01-17 2024-02-01 荷蘭商Asm Ip 私人控股有限公司 藉由循環沈積製程於基板上形成含過渡金屬膜之方法
TWI756590B (zh) 2019-01-22 2022-03-01 荷蘭商Asm Ip私人控股有限公司 基板處理裝置
CN111524788B (zh) 2019-02-01 2023-11-24 Asm Ip私人控股有限公司 氧化硅的拓扑选择性膜形成的方法
TWI845607B (zh) 2019-02-20 2024-06-21 荷蘭商Asm Ip私人控股有限公司 用來填充形成於基材表面內之凹部的循環沉積方法及設備
US11482533B2 (en) 2019-02-20 2022-10-25 Asm Ip Holding B.V. Apparatus and methods for plug fill deposition in 3-D NAND applications
TW202044325A (zh) 2019-02-20 2020-12-01 荷蘭商Asm Ip私人控股有限公司 填充一基板之一表面內所形成的一凹槽的方法、根據其所形成之半導體結構、及半導體處理設備
KR102626263B1 (ko) 2019-02-20 2024-01-16 에이에스엠 아이피 홀딩 비.브이. 처리 단계를 포함하는 주기적 증착 방법 및 이를 위한 장치
TWI842826B (zh) 2019-02-22 2024-05-21 荷蘭商Asm Ip私人控股有限公司 基材處理設備及處理基材之方法
KR20200108243A (ko) 2019-03-08 2020-09-17 에이에스엠 아이피 홀딩 비.브이. SiOC 층을 포함한 구조체 및 이의 형성 방법
KR20200108248A (ko) 2019-03-08 2020-09-17 에이에스엠 아이피 홀딩 비.브이. SiOCN 층을 포함한 구조체 및 이의 형성 방법
KR20200108242A (ko) 2019-03-08 2020-09-17 에이에스엠 아이피 홀딩 비.브이. 실리콘 질화물 층을 선택적으로 증착하는 방법, 및 선택적으로 증착된 실리콘 질화물 층을 포함하는 구조체
JP2020167398A (ja) 2019-03-28 2020-10-08 エーエスエム・アイピー・ホールディング・ベー・フェー ドアオープナーおよびドアオープナーが提供される基材処理装置
KR20200116855A (ko) 2019-04-01 2020-10-13 에이에스엠 아이피 홀딩 비.브이. 반도체 소자를 제조하는 방법
US11447864B2 (en) 2019-04-19 2022-09-20 Asm Ip Holding B.V. Layer forming method and apparatus
KR20200125453A (ko) 2019-04-24 2020-11-04 에이에스엠 아이피 홀딩 비.브이. 기상 반응기 시스템 및 이를 사용하는 방법
KR20200130121A (ko) 2019-05-07 2020-11-18 에이에스엠 아이피 홀딩 비.브이. 딥 튜브가 있는 화학물질 공급원 용기
KR20200130118A (ko) 2019-05-07 2020-11-18 에이에스엠 아이피 홀딩 비.브이. 비정질 탄소 중합체 막을 개질하는 방법
KR20200130652A (ko) 2019-05-10 2020-11-19 에이에스엠 아이피 홀딩 비.브이. 표면 상에 재료를 증착하는 방법 및 본 방법에 따라 형성된 구조
JP2020188254A (ja) 2019-05-16 2020-11-19 エーエスエム アイピー ホールディング ビー.ブイ. ウェハボートハンドリング装置、縦型バッチ炉および方法
JP2020188255A (ja) 2019-05-16 2020-11-19 エーエスエム アイピー ホールディング ビー.ブイ. ウェハボートハンドリング装置、縦型バッチ炉および方法
USD975665S1 (en) 2019-05-17 2023-01-17 Asm Ip Holding B.V. Susceptor shaft
USD947913S1 (en) 2019-05-17 2022-04-05 Asm Ip Holding B.V. Susceptor shaft
USD935572S1 (en) 2019-05-24 2021-11-09 Asm Ip Holding B.V. Gas channel plate
US11408779B2 (en) 2019-06-03 2022-08-09 Daily Thermetrics Corporation Temperature sensor and methods of use
USD922229S1 (en) 2019-06-05 2021-06-15 Asm Ip Holding B.V. Device for controlling a temperature of a gas supply unit
KR20200141003A (ko) 2019-06-06 2020-12-17 에이에스엠 아이피 홀딩 비.브이. 가스 감지기를 포함하는 기상 반응기 시스템
KR20200143254A (ko) 2019-06-11 2020-12-23 에이에스엠 아이피 홀딩 비.브이. 개질 가스를 사용하여 전자 구조를 형성하는 방법, 상기 방법을 수행하기 위한 시스템, 및 상기 방법을 사용하여 형성되는 구조
USD944946S1 (en) 2019-06-14 2022-03-01 Asm Ip Holding B.V. Shower plate
USD931978S1 (en) 2019-06-27 2021-09-28 Asm Ip Holding B.V. Showerhead vacuum transport
KR20210005515A (ko) 2019-07-03 2021-01-14 에이에스엠 아이피 홀딩 비.브이. 기판 처리 장치용 온도 제어 조립체 및 이를 사용하는 방법
JP7499079B2 (ja) 2019-07-09 2024-06-13 エーエスエム・アイピー・ホールディング・ベー・フェー 同軸導波管を用いたプラズマ装置、基板処理方法
CN112216646A (zh) 2019-07-10 2021-01-12 Asm Ip私人控股有限公司 基板支撑组件及包括其的基板处理装置
KR20210010307A (ko) 2019-07-16 2021-01-27 에이에스엠 아이피 홀딩 비.브이. 기판 처리 장치
KR20210010820A (ko) 2019-07-17 2021-01-28 에이에스엠 아이피 홀딩 비.브이. 실리콘 게르마늄 구조를 형성하는 방법
KR20210010816A (ko) 2019-07-17 2021-01-28 에이에스엠 아이피 홀딩 비.브이. 라디칼 보조 점화 플라즈마 시스템 및 방법
US11643724B2 (en) 2019-07-18 2023-05-09 Asm Ip Holding B.V. Method of forming structures using a neutral beam
KR20210010817A (ko) 2019-07-19 2021-01-28 에이에스엠 아이피 홀딩 비.브이. 토폴로지-제어된 비정질 탄소 중합체 막을 형성하는 방법
TWI839544B (zh) 2019-07-19 2024-04-21 荷蘭商Asm Ip私人控股有限公司 形成形貌受控的非晶碳聚合物膜之方法
CN112309843A (zh) 2019-07-29 2021-02-02 Asm Ip私人控股有限公司 实现高掺杂剂掺入的选择性沉积方法
CN112309899A (zh) 2019-07-30 2021-02-02 Asm Ip私人控股有限公司 基板处理设备
CN112309900A (zh) 2019-07-30 2021-02-02 Asm Ip私人控股有限公司 基板处理设备
US11587815B2 (en) 2019-07-31 2023-02-21 Asm Ip Holding B.V. Vertical batch furnace assembly
US11227782B2 (en) 2019-07-31 2022-01-18 Asm Ip Holding B.V. Vertical batch furnace assembly
US11587814B2 (en) 2019-07-31 2023-02-21 Asm Ip Holding B.V. Vertical batch furnace assembly
CN112323048B (zh) 2019-08-05 2024-02-09 Asm Ip私人控股有限公司 用于化学源容器的液位传感器
USD965044S1 (en) 2019-08-19 2022-09-27 Asm Ip Holding B.V. Susceptor shaft
USD965524S1 (en) 2019-08-19 2022-10-04 Asm Ip Holding B.V. Susceptor support
JP2021031769A (ja) 2019-08-21 2021-03-01 エーエスエム アイピー ホールディング ビー.ブイ. 成膜原料混合ガス生成装置及び成膜装置
USD949319S1 (en) 2019-08-22 2022-04-19 Asm Ip Holding B.V. Exhaust duct
KR20210024423A (ko) 2019-08-22 2021-03-05 에이에스엠 아이피 홀딩 비.브이. 홀을 구비한 구조체를 형성하기 위한 방법
USD940837S1 (en) 2019-08-22 2022-01-11 Asm Ip Holding B.V. Electrode
USD979506S1 (en) 2019-08-22 2023-02-28 Asm Ip Holding B.V. Insulator
USD930782S1 (en) 2019-08-22 2021-09-14 Asm Ip Holding B.V. Gas distributor
US11286558B2 (en) 2019-08-23 2022-03-29 Asm Ip Holding B.V. Methods for depositing a molybdenum nitride film on a surface of a substrate by a cyclical deposition process and related semiconductor device structures including a molybdenum nitride film
KR20210024420A (ko) 2019-08-23 2021-03-05 에이에스엠 아이피 홀딩 비.브이. 비스(디에틸아미노)실란을 사용하여 peald에 의해 개선된 품질을 갖는 실리콘 산화물 막을 증착하기 위한 방법
KR20210029090A (ko) 2019-09-04 2021-03-15 에이에스엠 아이피 홀딩 비.브이. 희생 캡핑 층을 이용한 선택적 증착 방법
KR20210029663A (ko) 2019-09-05 2021-03-16 에이에스엠 아이피 홀딩 비.브이. 기판 처리 장치
US11562901B2 (en) 2019-09-25 2023-01-24 Asm Ip Holding B.V. Substrate processing method
CN112593212B (zh) 2019-10-02 2023-12-22 Asm Ip私人控股有限公司 通过循环等离子体增强沉积工艺形成拓扑选择性氧化硅膜的方法
KR20210042810A (ko) 2019-10-08 2021-04-20 에이에스엠 아이피 홀딩 비.브이. 활성 종을 이용하기 위한 가스 분배 어셈블리를 포함한 반응기 시스템 및 이를 사용하는 방법
TWI846953B (zh) 2019-10-08 2024-07-01 荷蘭商Asm Ip私人控股有限公司 基板處理裝置
KR20210043460A (ko) 2019-10-10 2021-04-21 에이에스엠 아이피 홀딩 비.브이. 포토레지스트 하부층을 형성하기 위한 방법 및 이를 포함한 구조체
US12009241B2 (en) 2019-10-14 2024-06-11 Asm Ip Holding B.V. Vertical batch furnace assembly with detector to detect cassette
TWI834919B (zh) 2019-10-16 2024-03-11 荷蘭商Asm Ip私人控股有限公司 氧化矽之拓撲選擇性膜形成之方法
US11637014B2 (en) 2019-10-17 2023-04-25 Asm Ip Holding B.V. Methods for selective deposition of doped semiconductor material
KR20210047808A (ko) 2019-10-21 2021-04-30 에이에스엠 아이피 홀딩 비.브이. 막을 선택적으로 에칭하기 위한 장치 및 방법
KR20210050453A (ko) 2019-10-25 2021-05-07 에이에스엠 아이피 홀딩 비.브이. 기판 표면 상의 갭 피처를 충진하는 방법 및 이와 관련된 반도체 소자 구조
US11646205B2 (en) 2019-10-29 2023-05-09 Asm Ip Holding B.V. Methods of selectively forming n-type doped material on a surface, systems for selectively forming n-type doped material, and structures formed using same
KR20210054983A (ko) 2019-11-05 2021-05-14 에이에스엠 아이피 홀딩 비.브이. 도핑된 반도체 층을 갖는 구조체 및 이를 형성하기 위한 방법 및 시스템
US11501968B2 (en) 2019-11-15 2022-11-15 Asm Ip Holding B.V. Method for providing a semiconductor device with silicon filled gaps
KR20210062561A (ko) 2019-11-20 2021-05-31 에이에스엠 아이피 홀딩 비.브이. 기판의 표면 상에 탄소 함유 물질을 증착하는 방법, 상기 방법을 사용하여 형성된 구조물, 및 상기 구조물을 형성하기 위한 시스템
CN112951697A (zh) 2019-11-26 2021-06-11 Asm Ip私人控股有限公司 基板处理设备
US11450529B2 (en) 2019-11-26 2022-09-20 Asm Ip Holding B.V. Methods for selectively forming a target film on a substrate comprising a first dielectric surface and a second metallic surface
CN112885693A (zh) 2019-11-29 2021-06-01 Asm Ip私人控股有限公司 基板处理设备
CN112885692A (zh) 2019-11-29 2021-06-01 Asm Ip私人控股有限公司 基板处理设备
JP7527928B2 (ja) 2019-12-02 2024-08-05 エーエスエム・アイピー・ホールディング・ベー・フェー 基板処理装置、基板処理方法
KR20210070898A (ko) 2019-12-04 2021-06-15 에이에스엠 아이피 홀딩 비.브이. 기판 처리 장치
KR20210078405A (ko) 2019-12-17 2021-06-28 에이에스엠 아이피 홀딩 비.브이. 바나듐 나이트라이드 층을 형성하는 방법 및 바나듐 나이트라이드 층을 포함하는 구조
US11527403B2 (en) 2019-12-19 2022-12-13 Asm Ip Holding B.V. Methods for filling a gap feature on a substrate surface and related semiconductor structures
JP2021111783A (ja) 2020-01-06 2021-08-02 エーエスエム・アイピー・ホールディング・ベー・フェー チャネル付きリフトピン
JP2021109175A (ja) 2020-01-06 2021-08-02 エーエスエム・アイピー・ホールディング・ベー・フェー ガス供給アセンブリ、その構成要素、およびこれを含む反応器システム
US11993847B2 (en) 2020-01-08 2024-05-28 Asm Ip Holding B.V. Injector
KR20210093163A (ko) 2020-01-16 2021-07-27 에이에스엠 아이피 홀딩 비.브이. 고 종횡비 피처를 형성하는 방법
KR102675856B1 (ko) 2020-01-20 2024-06-17 에이에스엠 아이피 홀딩 비.브이. 박막 형성 방법 및 박막 표면 개질 방법
TW202130846A (zh) 2020-02-03 2021-08-16 荷蘭商Asm Ip私人控股有限公司 形成包括釩或銦層的結構之方法
TW202146882A (zh) 2020-02-04 2021-12-16 荷蘭商Asm Ip私人控股有限公司 驗證一物品之方法、用於驗證一物品之設備、及用於驗證一反應室之系統
US11776846B2 (en) 2020-02-07 2023-10-03 Asm Ip Holding B.V. Methods for depositing gap filling fluids and related systems and devices
US11781243B2 (en) 2020-02-17 2023-10-10 Asm Ip Holding B.V. Method for depositing low temperature phosphorous-doped silicon
TW202203344A (zh) 2020-02-28 2022-01-16 荷蘭商Asm Ip控股公司 專用於零件清潔的系統
KR20210116249A (ko) 2020-03-11 2021-09-27 에이에스엠 아이피 홀딩 비.브이. 록아웃 태그아웃 어셈블리 및 시스템 그리고 이의 사용 방법
KR20210116240A (ko) 2020-03-11 2021-09-27 에이에스엠 아이피 홀딩 비.브이. 조절성 접합부를 갖는 기판 핸들링 장치
KR20210117157A (ko) 2020-03-12 2021-09-28 에이에스엠 아이피 홀딩 비.브이. 타겟 토폴로지 프로파일을 갖는 층 구조를 제조하기 위한 방법
KR20210124042A (ko) 2020-04-02 2021-10-14 에이에스엠 아이피 홀딩 비.브이. 박막 형성 방법
TW202146689A (zh) 2020-04-03 2021-12-16 荷蘭商Asm Ip控股公司 阻障層形成方法及半導體裝置的製造方法
TW202145344A (zh) 2020-04-08 2021-12-01 荷蘭商Asm Ip私人控股有限公司 用於選擇性蝕刻氧化矽膜之設備及方法
KR20210128343A (ko) 2020-04-15 2021-10-26 에이에스엠 아이피 홀딩 비.브이. 크롬 나이트라이드 층을 형성하는 방법 및 크롬 나이트라이드 층을 포함하는 구조
US11821078B2 (en) 2020-04-15 2023-11-21 Asm Ip Holding B.V. Method for forming precoat film and method for forming silicon-containing film
US11996289B2 (en) 2020-04-16 2024-05-28 Asm Ip Holding B.V. Methods of forming structures including silicon germanium and silicon layers, devices formed using the methods, and systems for performing the methods
KR20210132605A (ko) 2020-04-24 2021-11-04 에이에스엠 아이피 홀딩 비.브이. 냉각 가스 공급부를 포함한 수직형 배치 퍼니스 어셈블리
JP2021172884A (ja) 2020-04-24 2021-11-01 エーエスエム・アイピー・ホールディング・ベー・フェー 窒化バナジウム含有層を形成する方法および窒化バナジウム含有層を含む構造体
KR20210132600A (ko) 2020-04-24 2021-11-04 에이에스엠 아이피 홀딩 비.브이. 바나듐, 질소 및 추가 원소를 포함한 층을 증착하기 위한 방법 및 시스템
KR20210134226A (ko) 2020-04-29 2021-11-09 에이에스엠 아이피 홀딩 비.브이. 고체 소스 전구체 용기
KR20210134869A (ko) 2020-05-01 2021-11-11 에이에스엠 아이피 홀딩 비.브이. Foup 핸들러를 이용한 foup의 빠른 교환
TW202147543A (zh) 2020-05-04 2021-12-16 荷蘭商Asm Ip私人控股有限公司 半導體處理系統
KR20210141379A (ko) 2020-05-13 2021-11-23 에이에스엠 아이피 홀딩 비.브이. 반응기 시스템용 레이저 정렬 고정구
TW202146699A (zh) 2020-05-15 2021-12-16 荷蘭商Asm Ip私人控股有限公司 形成矽鍺層之方法、半導體結構、半導體裝置、形成沉積層之方法、及沉積系統
TW202147383A (zh) 2020-05-19 2021-12-16 荷蘭商Asm Ip私人控股有限公司 基材處理設備
KR20210145078A (ko) 2020-05-21 2021-12-01 에이에스엠 아이피 홀딩 비.브이. 다수의 탄소 층을 포함한 구조체 및 이를 형성하고 사용하는 방법
TW202200837A (zh) 2020-05-22 2022-01-01 荷蘭商Asm Ip私人控股有限公司 用於在基材上形成薄膜之反應系統
TW202201602A (zh) 2020-05-29 2022-01-01 荷蘭商Asm Ip私人控股有限公司 基板處理方法
TW202212620A (zh) 2020-06-02 2022-04-01 荷蘭商Asm Ip私人控股有限公司 處理基板之設備、形成膜之方法、及控制用於處理基板之設備之方法
TW202218133A (zh) 2020-06-24 2022-05-01 荷蘭商Asm Ip私人控股有限公司 形成含矽層之方法
TW202217953A (zh) 2020-06-30 2022-05-01 荷蘭商Asm Ip私人控股有限公司 基板處理方法
TW202202649A (zh) 2020-07-08 2022-01-16 荷蘭商Asm Ip私人控股有限公司 基板處理方法
TW202219628A (zh) 2020-07-17 2022-05-16 荷蘭商Asm Ip私人控股有限公司 用於光微影之結構與方法
TW202204662A (zh) 2020-07-20 2022-02-01 荷蘭商Asm Ip私人控股有限公司 用於沉積鉬層之方法及系統
US12040177B2 (en) 2020-08-18 2024-07-16 Asm Ip Holding B.V. Methods for forming a laminate film by cyclical plasma-enhanced deposition processes
US11725280B2 (en) 2020-08-26 2023-08-15 Asm Ip Holding B.V. Method for forming metal silicon oxide and metal silicon oxynitride layers
TW202229601A (zh) 2020-08-27 2022-08-01 荷蘭商Asm Ip私人控股有限公司 形成圖案化結構的方法、操控機械特性的方法、裝置結構、及基板處理系統
USD990534S1 (en) 2020-09-11 2023-06-27 Asm Ip Holding B.V. Weighted lift pin
USD1012873S1 (en) 2020-09-24 2024-01-30 Asm Ip Holding B.V. Electrode for semiconductor processing apparatus
US12009224B2 (en) 2020-09-29 2024-06-11 Asm Ip Holding B.V. Apparatus and method for etching metal nitrides
KR20220045900A (ko) 2020-10-06 2022-04-13 에이에스엠 아이피 홀딩 비.브이. 실리콘 함유 재료를 증착하기 위한 증착 방법 및 장치
CN114293174A (zh) 2020-10-07 2022-04-08 Asm Ip私人控股有限公司 气体供应单元和包括气体供应单元的衬底处理设备
TW202229613A (zh) 2020-10-14 2022-08-01 荷蘭商Asm Ip私人控股有限公司 於階梯式結構上沉積材料的方法
TW202217037A (zh) 2020-10-22 2022-05-01 荷蘭商Asm Ip私人控股有限公司 沉積釩金屬的方法、結構、裝置及沉積總成
TW202223136A (zh) 2020-10-28 2022-06-16 荷蘭商Asm Ip私人控股有限公司 用於在基板上形成層之方法、及半導體處理系統
TW202235649A (zh) 2020-11-24 2022-09-16 荷蘭商Asm Ip私人控股有限公司 填充間隙之方法與相關之系統及裝置
KR20220076343A (ko) 2020-11-30 2022-06-08 에이에스엠 아이피 홀딩 비.브이. 기판 처리 장치의 반응 챔버 내에 배열되도록 구성된 인젝터
US11946137B2 (en) 2020-12-16 2024-04-02 Asm Ip Holding B.V. Runout and wobble measurement fixtures
TW202242184A (zh) 2020-12-22 2022-11-01 荷蘭商Asm Ip私人控股有限公司 前驅物膠囊、前驅物容器、氣相沉積總成、及將固態前驅物裝載至前驅物容器中之方法
TW202231903A (zh) 2020-12-22 2022-08-16 荷蘭商Asm Ip私人控股有限公司 過渡金屬沉積方法、過渡金屬層、用於沉積過渡金屬於基板上的沉積總成
TW202226899A (zh) 2020-12-22 2022-07-01 荷蘭商Asm Ip私人控股有限公司 具匹配器的電漿處理裝置
USD1023959S1 (en) 2021-05-11 2024-04-23 Asm Ip Holding B.V. Electrode for substrate processing apparatus
USD981973S1 (en) 2021-05-11 2023-03-28 Asm Ip Holding B.V. Reactor wall for substrate processing apparatus
USD980814S1 (en) 2021-05-11 2023-03-14 Asm Ip Holding B.V. Gas distributor for substrate processing apparatus
USD980813S1 (en) 2021-05-11 2023-03-14 Asm Ip Holding B.V. Gas flow control plate for substrate processing apparatus
USD990441S1 (en) 2021-09-07 2023-06-27 Asm Ip Holding B.V. Gas flow control plate
CN114252302A (zh) * 2021-11-22 2022-03-29 五冶集团上海有限公司 一种干熄焦炉斜道区在线测温及气体取样装置和方法

Citations (5)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US3130584A (en) * 1961-02-14 1964-04-28 United States Steel Corp Blast furnace probe
US3240069A (en) * 1963-09-04 1966-03-15 United States Steel Corp Blast furnace probe
LU65940A1 (de) * 1972-08-23 1973-01-15
DE2343470A1 (de) * 1972-09-05 1974-03-14 Wurth Anciens Ets Paul Vorrichtung zur entnahme von gasproben an schachtoefen, insbesondere hochoefen
DE2751727A1 (de) * 1977-01-14 1978-07-20 Koppers Co Inc Sonde zur gewinnung von gasproben aus einem schachtofen

Family Cites Families (8)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US2382888A (en) * 1943-01-23 1945-08-14 William B Levy Thermocouple mounting for furnaces
US3247714A (en) * 1963-05-15 1966-04-26 Union Carbide Corp Pyrometer
US3834237A (en) * 1972-10-05 1974-09-10 Leeds & Northrup Co Thermocouple for surface temperature measurements
US3923552A (en) * 1972-12-21 1975-12-02 Ppg Industries Inc Hermetically sealed thermocouple assembly
US3946610A (en) * 1973-06-12 1976-03-30 Societe Des Aciers Fins De L'est Temperature measuring device for metallurgical furnaces
US4098122A (en) * 1975-08-05 1978-07-04 The Broken Hill Propietary Company Limited Temperature probes
US4822570A (en) * 1986-12-01 1989-04-18 De Dietrich (Usa), Inc. Thermal sensing apparatus in outlet nozzle
US4919543A (en) * 1988-06-20 1990-04-24 Reynolds Metals Company Molten metal temperature probe

Patent Citations (5)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US3130584A (en) * 1961-02-14 1964-04-28 United States Steel Corp Blast furnace probe
US3240069A (en) * 1963-09-04 1966-03-15 United States Steel Corp Blast furnace probe
LU65940A1 (de) * 1972-08-23 1973-01-15
DE2343470A1 (de) * 1972-09-05 1974-03-14 Wurth Anciens Ets Paul Vorrichtung zur entnahme von gasproben an schachtoefen, insbesondere hochoefen
DE2751727A1 (de) * 1977-01-14 1978-07-20 Koppers Co Inc Sonde zur gewinnung von gasproben aus einem schachtofen

Cited By (6)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
DE10202357A1 (de) * 2001-06-21 2003-01-09 Schott Glas Verfahren und Vorrichtung zum Entnehmen einer Glasprobe aus einer Glassschmelze, insbesondere aus Bereichen unterhalb der Oberfläche der Glasschmelze
DE10202357C2 (de) * 2001-06-21 2003-04-24 Schott Glas Verfahren und Vorrichtung zum Entnehmen einer Glasprobe aus einer Glassschmelze, insbesondere aus Bereichen unterhalb der Oberfläche der Glasschmelze
DE102006019723A1 (de) * 2006-03-31 2007-10-04 Alstom Technology Ltd. Messsondensystem, Anordnung und Verfahren zur Erfassung von Abgasparametern stromabwärts einer Gasturbine
DE102006019723B4 (de) * 2006-03-31 2014-12-24 Alstom Technology Ltd. Messsondensystem, Anordnung und Verfahren zur Erfassung von Abgasparametern stromabwärts einer Gasturbine
DE202011001277U1 (de) 2011-01-10 2012-04-16 Klaus Irrgang Thermoelektrischer Temperaturfühler
DE102011008176A1 (de) 2011-01-10 2012-07-12 Klaus Irrgang Thermoelektrischer Temperaturfühler

Also Published As

Publication number Publication date
EP0445599A3 (en) 1992-03-11
CS9100594A2 (en) 1991-10-15
BR9100969A (pt) 1991-11-05
ATE132624T1 (de) 1996-01-15
CZ283311B6 (cs) 1998-02-18
AU635391B2 (en) 1993-03-18
US5108192A (en) 1992-04-28
CA2037224A1 (en) 1991-09-08
ES2082021T3 (es) 1996-03-16
CN1028907C (zh) 1995-06-14
EP0445599A2 (de) 1991-09-11
LU87693A1 (fr) 1991-10-08
JPH0658855A (ja) 1994-03-04
EP0445599B1 (de) 1996-01-03
CN1054663A (zh) 1991-09-18
AU7134791A (en) 1991-09-12
DE4105830C2 (de) 1999-03-11

Similar Documents

Publication Publication Date Title
DE4105830A1 (de) Sonde zur entnahme von gasproben und zur ausfuehrung von thermischen messungen in einem schachtofen
DE2801253C2 (de) Vorrichtung zur Messung der Leistungsverteilung in einer Brennstoffanordnung eines Kernreaktors
DE2328637C3 (de)
EP0113118A2 (de) Küvette zur Durchführung einer photometrischen Messung
DD249765A5 (de) Küvette für die flammenlose Atomabsorptions-Spektroskopie
DE4306319A1 (de)
DE3305232A1 (de) Vorrichtung zum entnehmen einer heissen gasprobe aus einem gasvolumen
DE2718416C3 (de) Temperaturmeßvorrichtung für Graphitrohrküvetten
DE3016981C2 (de)
DE1299136B (de) Kuevette mit Temperiermantel, insbesondere solche Fluessigkeitskuevette
EP0994322B1 (de) Wärmetauscher mit einem Verbindungsstück
DE102016110170B3 (de) Verzinkungsofen und Verfahren zum Betrieb eines Verzinkungsofens
DE3641710A1 (de) Vorrichtung zum waermetausch zwischen einem einen nh(pfeil abwaerts)3(pfeil abwaerts)-konverter verlassenden kreislaufgas und wasser
DE3538515A1 (de) Vorrichtung zum kuehlen von heissen, staubbeladenen gasen
DE2937021A1 (de) Verbesserungen bei der feststellung von undichtigkeiten von kuehlfluessigkeit in hochofenduesen
DE462163C (de) Luftgekuehlte Rauchklappe
DE102004012607B4 (de) Vorrichtung und Verfahren zur thermischen Behandlung von Süßwarenmassen
DE3023421C2 (de) Ofen für feste Abfallbrennstoffe
DE4111232C2 (de)
DE1598792B2 (de) Meßkopf zur Durchführung von Thermoanalysen
DE9419440U1 (de) Vorrichtung zur Ermittlung des Bindemittelgehaltes von Proben
DE3310122C2 (de) Heizungskessel
DE2318030C3 (de) Wärmeübertrager mit in einem vertikalen Kessel vertikal angeordneten Rohrbündel
DE375477C (de) Lufterhitzer
DE2419936C3 (de) Vorrichtung zum Untersuchen von Proben mittels flammenloser Atomabsorptionsmessung

Legal Events

Date Code Title Description
8110 Request for examination paragraph 44
D2 Grant after examination
8364 No opposition during term of opposition
8339 Ceased/non-payment of the annual fee