DE102020110198A1 - Magnetische aufzeichnungskassette - Google Patents

Abstract

Eine magnetische Aufzeichnungskassette schließt ein magnetisches Aufzeichnungsmedium ein, dessen durchschnittliche Dicke tTtT≤ 5, 6 µm beträgt, dessen Ausmaß der Dimensionsänderung Δw in einer Richtung der Breite bezüglich einer Spannungsänderung in Längsrichtung 660 ppm/N ≤ Δw beträgt und dessen Rechtwinkligkeitsverhältnis in einer vertikalen Richtung 65% oder mehr beträgt, wobei das magnetische Aufzeichnungsmedium in einem um eine Spule gewickelten Zustand aufgenommen ist und (eine Servospurbreite auf einer inneren Wickelseite des magnetischen Aufzeichnungsmediums) - (eine Servospurbreite auf einer äußeren Wickelseite des magnetischen Aufzeichnungsmediums) > 0 erfüllt ist.

Description

• Diese Anmeldung beansprucht den Nutzen der japanischen Prioritätspatentanmeldung JP 2019-086717 , eingereicht am 26. April 2019, deren gesamter Inhalt hierin durch die Bezugnahme inbegriffen ist.
• [Technisches Gebiet]
• Die vorliegende Technologie bezieht sich auf eine magnetische Aufzeichnungskassette.
• [Allgemeiner Stand der Technik]
• In den letzten Jahren sind in Magnetbändern (magnetischen Aufzeichnungsmedien), die als Datenspeicher für Computer verwendet werden, die Spurbreite und der Abstand zwischen benachbarten Spuren sehr schmal geworden, um die Aufzeichnungsdichte von Daten zu verbessern. So wird dann, wenn die Spurbreite und der Abstand zwischen den Spuren schmal sind wie oben beschrieben, das maximal zulässige Änderungsausmaß als ein Ausmaß der Dimensionsänderung eines Bandes selbst aufgrund von Umweltfaktoren, wie zum Beispiel einer Veränderung oder dergleichen der Temperatur und Feuchtigkeit, gering.
• Mehrere Technologien zum Verringern des Ausmaßes der Dimensionsänderung sind bislang vorgeschlagen worden. Zum Beispiel ist in dem magnetischen Aufzeichnungsmedium, das in der PTL 1 weiter unten offenbart ist, in einem Fall, in dem das Young-Modul eines nichtmagnetischen Trägers in einer Richtung der Breite X ist und das Young-Modul einer Rückseitenschicht in Richtung der Breite Y ist, X × Y 6 × 10⁵ oder mehr, wenn X 850 kg/mm² oder größer oder weniger als 850 kg/mm² ist und Y/Z 6,0 oder weniger ist, wenn der Young-Modul einer Schicht in Richtung der Breite, die eine magnetische Schicht einschließt, Z ist.
• [Zitationsliste]
• [Patentliteratur]
• [PTL 1]
  JP 2005-332510A
• [Zusammenfassung]
• [Technisches Problem]
• Es ist erwünscht, eine magnetische Aufzeichnungskassette bereitzustellen, die ein magnetisches Aufzeichnungsmedium einschließt, das zum Unterdrücken einer Dimensionsänderung in Richtung der Breite durch Einstellen der in der Längsrichtung eines Bandes angewandten Spannung imstande ist.
• [Lösung zum Problem]
• Gemäß einer Ausführungsform der vorliegenden Technologie wird eine magnetische Aufzeichnungskassette, die ein magnetisches Aufzeichnungsmedium einschließt, bereitgestellt dessen durchschnittliche Dicke t_T t_T ≤ 5,6 µm beträgt, dessen Ausmaß der Dimensionsänderung Δw in einer Richtung der Breite bezüglich einer Spannungsänderung in einer Längsrichtung 660 ppm/N ≤ Δw beträgt, und dessen Rechtwinkligkeitsverhältnis in einer vertikalen Richtung 65% oder mehr beträgt, wobei das magnetische Aufzeichnungsmedium in einem um eine Spule gewickelten Zustand aufgenommen ist und (eine Servospurbreite auf einer inneren Wickelseite des magnetischen Aufzeichnungsmediums) - (eine Servospurbreite auf einer äußeren Wickelseite des magnetischen Aufzeichnungsmediums) > 0 erfüllt ist.
• Das magnetische Aufzeichnungsmedium kann eine Servospurbreite von größer als die Servo-Lesekopfspurbreite einer magnetischen Aufzeichnungs- und Wiedergabevorrichtung aufweisen, in der die magnetische Aufzeichnungskassette geladen ist.
• Die magnetische Aufzeichnungs- und Wiedergabevorrichtung kann eine magnetische Aufzeichnungs- und Wiedergabevorrichtung vom Timing- bzw. Zeiteinstellungs-Servotyp sein.
• Das Ausmaß der Dimensionsänderung Δw kann 700 ppm/N ≤ Δw betragen.
  Das Ausmaß der Dimensionsänderung Δw kann 750 ppm/N ≤ Δw betragen.
  Das Ausmaß der Dimensionsänderung Δw kann 800 ppm/N ≤ Δw betragen.
• Das magnetische Aufzeichnungsmedium kann eine Rückseitenschicht einschließen, und die Oberflächenrauhigkeit Rab der Rückseitenschicht kann 3,0 nm ≤ Rab ≤ 7,5 nm betragen.
• Das magnetische Aufzeichnungsmedium kann eine magnetische Schicht und eine Rückseitenschicht einschließen, und der Reibungskoeffizient µ zwischen einer Oberfläche auf einer Seite der magnetischen Schicht und einer Oberfläche auf einer Seite der Rückseitenschicht kann 0,20 ≤ µ ≤ 0,80 betragen.
• Der Wärmeausdehnungskoeffizient α des magnetischen Aufzeichnungsmediums kann 5,5 ppm/°C ≤ α ≤ 9 ppm/°C betragen und der Feuchtigkeitsausdehnungskoeffizient β des magnetischen Aufzeichnungsmediums kann β ≤ 5,5 ppm/%RH betragen.
• Die Poisson-Zahl ρ des magnetischen Aufzeichnungsmediums kann 0,25 ≤ ρ betragen.
• Der Elastizitätsgrenzwert σ_MD des magnetischen Aufzeichnungsmediums in Längsrichtung kann 0,7 N ≤ σ_MD betragen.
• Der Elastizitätsgrenzwert σ_MD könnte nicht von einer Geschwindigkeit V abhängen, wenn die Elastizitätsgrenze gemessen wird.
• Das magnetische Aufzeichnungsmedium kann eine magnetische Schicht einschließen, und die magnetische Schicht kann vertikal ausgerichtet sein.
• Das magnetische Aufzeichnungsmedium kann eine Rückseitenschicht einschließen, und die durchschnittliche Dicke t_b der Rückseitenschicht kann t_b ≤ 0,6 µm betragen.
• Gemäß einer weiteren Ausführungsform der vorliegenden Technologie kann das magnetische Aufzeichnungsmedium eine magnetische Schicht einschließen, und die magnetische Schicht kann eine gesputterte Schicht sein.
• In einem Fall, in dem die magnetische Schicht eine geputterte Schicht ist, kann die durchschnittliche Dicke t_m der magnetischen Schicht 9 nm ≤ t_m ≤ 90 nm betragen.
• Gemäß noch einer anderen Ausführungsform der vorliegenden Technologie kann das magnetische Aufzeichnungsmedium eine magnetische Schicht einschließen, und die magnetische Schicht kann magnetisches Pulver enthalten.
• In einem Fall, in dem die magnetische Schicht magnetisches Pulver enthält, kann die durchschnittliche Dicke t_m der magnetischen Schicht 35 nm ≤ t_m ≤ 90 nm betragen.
• Das magnetische Pulver kann ε-Eisenoxid-Magnetpulver, Bariumferrit-Magnetpulver, Cobaltferrit-Magnetpulver oder Strontiumferrit-Magnetpulver einschließen.
• Darüber hinaus wird gemäß einer weiteren Ausführungsform der vorliegenden Technologie eine magnetische Aufzeichnungskassette bereitgestellt, die ein magnetisches Aufzeichnungsmedium einschließt,
  dessen durchschnittliche Dicke t_T t_T ≤ 5,6 µm beträgt,
  dessen Ausmaß der Dimensionsänderung Δw in einer Richtung der Breite bezüglich einer Spannungsänderung in einer Längsrichtung 660 ppm/N ≤ Δw beträgt, und
  dessen Rechtwinkligkeitsverhältnis in einer vertikalen Richtung 65% oder mehr beträgt,
  wobei das magnetische Aufzeichnungsmedium eine Servospurbreite von größer als die Servo-Lesekopfbreite einer magnetischen Aufzeichnungs- und Wiedergabevorrichtung hat, in der die magnetische Aufzeichnungskassette geladen ist.
• Figurenliste
• [1A] Die 1A ist eine schematische Ansicht eines Beispiels einer magnetischen Aufzeichnungskassette gemäß einer Ausführungsform der vorliegenden Technologie.
• [1B] Die 1B ist eine Querschnittsansicht, die ein Beispiel einer Konfiguration eines magnetischen Aufzeichnungsmediums zeigt, das in einer magnetischen Aufzeichnungskassette gemäß einer Ausführungsform der vorliegenden Technologie eingeschlossen ist.
• [2] Die 2 ist eine Querschnittsansicht, die ein Beispiel einer Konfiguration eines magnetischen Partikels zeigt.
• [3A] Die 3A ist eine perspektivische Ansicht, die eine Konfiguration einer Messvorrichtung zeigt.
• [3B] Die 3B ist eine schematische Ansicht, welche die Details einer Messvorrichtung zeigt.
• [4] Die 4 ist ein Graph, welcher ein Beispiel einer SFD-Kurve zeigt.
• [5] Die 5 ist eine schematische Ansicht, die eine Konfiguration einer Aufzeichnungs- und Wiedergabevorrichtung zeigt.
• [6] Die 6 ist eine Querschnittsansicht, die eine Konfiguration eines magnetischen Partikels in einer Modifikation zeigt.
• [7] Die 7 ist eine Querschnittsansicht, die eine Konfiguration eines magnetischen Aufzeichnungsmediums in einer Modifikation zeigt.
• [8] Die 8 ist eine Querschnittsansicht, die ein weiteres Beispiel einer Konfiguration eines magnetischen Aufzeichnungsmediums zeigt, das in einer magnetischen Aufzeichnungskassette gemäß einer Ausführungsform der vorliegenden Technologie eingeschlossen ist.
• [9] Die 9 ist eine schematische Ansicht, die eine Konfiguration einer Sputtervorrichtung zeigt.
• [10] Die 10 ist eine Querschnittsansicht, die ein weiteres Beispiel einer Konfiguration eines magnetischen Aufzeichnungsmediums zeigt, das in einer magnetischen Aufzeichnungskassette gemäß einer Ausführungsform der vorliegenden Technologie eingeschlossen ist.
• [11] Die 11 ist eine schematische Ansicht, die Messpositionen eines Abweichungsausmaßes einer Servospurbreite zeigt.
• [12A bis 12C] Die 12A bis 12C sind schematische Ansichten, die eine Methode zum Messen eines Abweichungsausmaßes einer Servospurbreite zeigen.
• [Beschreibung von Ausführungsformen]
• Im Folgenden werden bevorzugte Ausführungsformen zum Implementieren der vorliegenden Technologie beschrieben. Man beachte, dass die weiter unten beschriebenen Ausführungsformen repräsentative Ausführungsformen der vorliegenden Technologie zeigen, und der Umfang der vorliegenden Technologie ist nicht nur auf diese Ausführungsformen beschränkt.
• Die vorliegende Technologie wird in der folgenden Reihenfolge beschrieben.
1. 1. Beschreibung der vorliegenden Technologie
2. 2. Erste Ausführungsform (Beispiel einer magnetischen Aufzeichnungskassette, die ein magnetisches Aufzeichnungsmedium vom Beschichtungstyp einschließt)
   1. (1) Konfiguration einer magnetischen Aufzeichnungskassette
   2. (2) Beschreibung jeder einzelnen Schicht
   3. (3) Physikalische Eigenschaften und Struktur
   4. (4) Verfahren zur Fertigung eines magnetischen Aufzeichnungsmediums
   5. (5) Aufzeichnungs- und Wiedergabevorrichtung
   6. (6) Wirkung
   7. (7) Modifikation
3. 3. Zweite Ausführungsform (Beispiel einer magnetischen Aufzeichnungskassette, die ein magnetisches Aufzeichnungsmedium vom Vakuum-Dünnfilmtyp einschließt)
   1. (1) Konfiguration einer magnetischen Aufzeichnungskassette
   2. (2) Beschreibung jeder einzelnen Schicht
   3. (3) Physikalische Eigenschaften und Struktur
   4. (4) Konfiguration einer Sputtervorrichtung
   5. (5) Verfahren zur Fertigung eines magnetischen Aufzeichnungsmediums
   6. (6) Wirkung
   7. (7) Modifikation
   8. (8) Andere Beispiele von magnetischen Aufzeichnungsmedien
4. 4. Beispiel
• Beschreibung der vorliegenden Technologie
• Es besteht ein Bedarf an einer weiteren Verbesserung der Aufzeichnungskapazität per magnetischer Aufzeichnungskassette. Zum Beispiel um die Aufzeichnungskapazität zu erhöhen, ist es denkbar, eine Bandlänge per magnetischer Aufzeichnungskassette durch Verringern der Dicke eines magnetischen Aufzeichnungsmediums (z. B. eines magnetischen Aufzeichnungsbandes), das in der magnetischen Aufzeichnungskassette eingeschlossen ist, zu erhöhen (Reduzieren der Gesamtdicke).
• Jedoch kann es mit dem Dünnerwerden des magnetischen Aufzeichnungsmediums zu einer Dimensionsänderung in Richtung der Spurbreite kommen. Die Dimensionsänderung in Richtung der Breite kann ein unerwünschtes Phänomen für die magnetische Aufzeichnung verursachen, wie, zum Beispiel ein Off-Track-Phänomen, etc. Das Off-Track-Phänomen bezieht sich auf eine Situation, in der eine Zielspur bei einer Spurposition für einen Magnetkopf zum Lesen nicht vorhanden ist, oder eine Situation, in der der Magnetkopf eine falsche Spurposition liest.
• In der Vergangenheit wird zum Unterdrücken der Dimensionsänderung des magnetischen Aufzeichnungsmediums zum Beispiel ein Verfahren zum Hinzufügen einer Schicht zum Unterdrücken der Dimensionsänderung des magnetischen Aufzeichnungsmediums oder dergleichen durchgeführt.
• Jedoch kann die Hinzufügung der Schicht die Dicke des magnetischen Aufzeichnungsbandes erhöhen und erhöht nicht die Bandlänge je Kassettenprodukt.
• Die Erfinder der vorliegenden Technologie untersuchen ein magnetisches Aufzeichnungsmedium, das für die Verwendung in einer Aufzeichnungs- und Wiedergabevorrichtung geeignet ist, dessen Breite konstant oder im Wesentlichen konstant gehalten wird durch Einstellen der (Zug-)Spannung des langförmigen magnetischen Aufzeichnungsmediums in Längsrichtung. Die Aufzeichnungs- und Wiedergabevorrichtung erkennt zum Beispiel Dimensionen oder eine Dimensionsänderung in Richtung der Breite des magnetischen Aufzeichnungsmediums und passt die Spannung in Längsrichtung auf der Basis eines Erkennungsergebnisses an.
• Jedoch ist in dem magnetischen Aufzeichnungsmedium mit unterdrückter Dimensionsänderung das Ausmaß der Dimensionsänderung in Richtung der Breite auf Basis der Spannungsänderung in Längsrichtung gering. Deshalb ist es schwierig, die Breite des magnetischen Aufzeichnungsmediums konstant oder im Wesentlichen konstant zu halten, obgleich die Spannung in Längsrichtung durch die Aufzeichnungs- und Wiedergabevorrichtung angepasst wird.
• Unter Berücksichtigung der oben genannten Umfänge untersuchten die Erfinder der vorliegenden Anmeldung eine magnetische Aufzeichnungskassette mit einer hohen Aufzeichnungskapazität je Kassette. Als eine Folge davon fanden die Erfinder der vorliegenden Anmeldung heraus, dass eine magnetische Aufzeichnungskassette mit einer spezifischen Konfiguration eine hohe Aufzeichnungsdichte besitzt und für die Verwendung in einer Aufzeichnungs- und Wiedergabevorrichtung geeignet ist, die die Spannung in Längsrichtung anpasst.
• Darüber hinaus kann die Spannungsanpassung ein der Spannungsanpassung eigenes Phänomen verursachen, wie Falten-bzw. Furchenbildung, wenn das magnetische Aufzeichnungsmedium um eine Spule gewickelt wird. Das Phänomen kann besonders in einem Fall auftreten, in dem die Spannung sich lockert bzw. nachlässt. Die Erfinder der vorliegenden Anmeldung haben ebenfalls herausgefunden, dass das Auftreten des Phänomens durch eine magnetische Aufzeichnungskassette mit einer spezifischen Konfiguration verhindert werden kann.
• Mit anderen Worten, die vorliegende Technologie stellt eine magnetische Aufzeichnungskassette bereit, die ein magnetisches Aufzeichnungsmedium einschließt, in dem die durchschnittliche Dicke t_T t_T ≤ 5,6 µm beträgt, das Ausmaß der Dimensionsänderung Δw in Richtung der Breite bezüglich einer Spannungsänderung in einer Längsrichtung 660 ppm/N ≤ Δw beträgt und das Rechtwinkligkeitsverhältnis in einer vertikalen Richtung 65% oder mehr beträgt. Das magnetische Aufzeichnungsmedium ist in der magnetischen Aufzeichnungskassette in einem Zustand untergebracht, in dem das magnetische Aufzeichnungsmedium um eine Spule gewickelt ist und (Servospurbreite auf einer inneren Wickelseite des magnetischen Aufzeichnungsmediums) - (Servospurbreite auf einer äußeren Wickelseite des magnetischen Aufzeichnungsmediums) > 0 erfüllt ist.
• Die durchschnittliche Dicke t_T des magnetischen Aufzeichnungsmediums, das in der magnetischen Aufzeichnungskassette gemäß der Ausführungsform der vorliegenden Technologie eingeschlossen ist, kann 5,6 µm oder weniger, bevorzugter Weise 5,5 µm oder weniger, stärker bevorzugt 5,3 µm oder weniger und noch mehr bevorzugt 5,2 µm oder weniger, 5,0 µm oder weniger oder 4,6 µm oder weniger betragen. Weil das magnetische Aufzeichnungsmedium so dünn ist, kann zum Beispiel die Länge des aufgewickelten Bandes in einer magnetischen Aufzeichnungskassette länger sein, wodurch die Aufzeichnungskapazität per magnetischer Aufzeichnungskassette erhöht wird.
• In dem magnetischen Aufzeichnungsmedium, das in der magnetischen Aufzeichnungskassette gemäß der Ausführungsform der vorliegenden Technologie eingeschlossen ist, beträgt das Ausmaß der Dimensionsänderung Δw in Richtung der Breite bezüglich der Spannungsänderung in Längsrichtung 660 ppm/N oder mehr, stärker bevorzugt 670 ppm/N oder mehr und noch mehr bevorzugt 700 ppm/N oder mehr, 710 ppm/N oder mehr, 730 ppm/N oder mehr, 750 ppm/N oder mehr, 780 ppm/N oder mehr oder 800 ppm/N oder mehr. Die Tatsache, dass das magnetische Aufzeichnungsmedium das Ausmaß der Dimensionsänderung Δw innerhalb des oben stehenden Zahlenbereichs hat, trägt dazu bei, dass es möglich gemacht wird, die Breite des magnetischen Aufzeichnungsmediums auf einem konstanten Level zu halten durch Anpassen der Spannung des magnetischen Aufzeichnungsmediums in Längsrichtung.
• Darüber hinaus unterliegt eine Obergrenze für das Ausmaß der Dimensionsänderung Δw keiner besonderen Beschränkung und kann zum Beispiel 1700000 ppm/N oder weniger, bevorzugter Weise 20000 ppm/N oder weniger, stärker bevorzugt 8000 ppm/N oder weniger, noch mehr bevorzugt 5000 ppm/N oder weniger, 4000 ppm/N oder weniger, 3000 ppm/N oder weniger oder 2000 ppm/N oder weniger betragen. In einem Fall, in dem das Ausmaß der Dimensionsänderung Δw zu groß ist, kann es schwierig sein, in stabiler Weise in dem Fertigungsverfahren zu laufen.
• Ein Verfahren zum Messen des Ausmaßes der Dimensionsänderung Δw wird in (3) von 2 weiter unten beschrieben.
• Das magnetische Aufzeichnungsmedium, das in der magnetischen Aufzeichnungskassette gemäß der Ausführungsform der vorliegenden Technologie eingeschlossen ist, hat ein Rechtwinkligkeitsverhältnis in der vertikalen Richtung von 65% oder mehr, bevorzugter Weise 70% oder mehr, stärker bevorzugt 73% oder mehr und noch mehr bevorzugt 80% oder mehr. Weil das magnetische Aufzeichnungsmedium ein Rechtwinkligkeitsverhältnis S2 innerhalb des oben genannten Zahlenbereichs hat, kann eine exzellentere elektromagnetische Umwandlungscharakteristik erhalten werden. Darüber hinaus wird die Servosignalgestalt verbessert, was es leichter macht, eine Antriebsseite zu kontrollieren.
• Ein Verfahren zum Messen eines Rechtwinkligkeitsverhältnisses in der vertikalen Richtung wird in (3) von 2 weiter unten beschrieben.
• Wie oben beschrieben, ist das magnetische Aufzeichnungsmedium, das in der magnetischen Aufzeichnungskassette gemäß der Ausführungsform der vorliegenden Technologie eingeschlossen ist, dünn, geeignet für eine Aufzeichnungs- und Wiedergabevorrichtung, die die Spannung in Längsrichtung anpasst und besitzt eine hervorragende elektromagnetische Umwandlungscharakteristik, und damit kann die Aufzeichnungskapazität per magnetischer Aufzeichnungskassette deutlich erhöht werden.
• Außerdem schließt die magnetische Aufzeichnungskassette gemäß der Ausführungsform der vorliegenden Technologie das magnetische Aufzeichnungsmedium in einem um eine Spule gewickelten Zustand ein und (Servospurbreite auf der inneren Wickelseite des magnetischen Aufzeichnungsmediums) - (Servospurbreite auf der äußeren Wickelseite des magnetischen Aufzeichnungsmediums) > 0 µm ist erfüllt. Im Folgenden wird in der vorliegenden Patentbeschreibung (Servospurbreite auf der inneren Wickelseite des magnetischen Aufzeichnungsmediums) - (Servospurbreite auf der äußeren Wickelseite des magnetischen Aufzeichnungsmediums) auch als „Unterschied zwischen Servospurbreiten der inneren und der äußeren Wickelseite“ bezeichnet. Der Unterschied zwischen den Servospurbreiten auf der inneren Wickelseite und der äußeren Wickelseite ist bevorzugter Weise 0,01 µm oder mehr, stärker bevorzugt 0,02 µm oder mehr und noch mehr bevorzugt 0,05 µm oder mehr. Der Unterschied zwischen Servospurbreiten auf der inneren Wickelseite und der äußeren Wickelseite kann zum Beispiel 0,10 µm oder mehr, 0,15 µm oder mehr oder 0,20 µm oder mehr betragen. Wenn der Unterschied zwischen den Servospurbreiten der inneren Wickelseite und der äußeren Wickelseite innerhalb des oben genannten Zahlenbereichs liegt, kann das Auftreten von Falten bzw. Furchen in dem magnetischen Aufzeichnungsmedium (insbesondere in einem näher an der Spule befindlichen Bereich des magnetischen Aufzeichnungsmediums), das um die Spule in der Kassette gewickelt ist, verhindert werden. Die Falten können zum Beispiel eine Wicklungsabweichung, Spurabweichung oder dergleichen während des Laufs verursachen, und das Auftreten dieser Phänomene infolge der Falten kann auch durch die vorliegende Technologie verhindert werden. Ein Verfahren zum Messen des Unterschieds und ein Verfahren zum Messen des Abweichungsausmaßes der Servospurbreite, die zum Berechnen des Unterschieds angewandt wird, wird in (3) von 2 weiter unten beschrieben.
• Die Unterdrückung des Auftretens von Falten wird detaillierter weiter unten beschrieben.
• Die Aufzeichnungs- und Wiedergabevorrichtung, die die Breite des magnetischen Aufzeichnungsmediums konstant oder im Wesentlichen konstant halten kann durch Anpassen der Spannung des langförmgien magnetischen Aufzeichnungsmediums in Längsrichtung, passt die Spannung in Längsrichtung entsprechend zum Beispiel der Servospurbreiten an. Zum Beispiel erhöht in einem Fall, in dem die Servospurbreite breiter ist als eine vorbestimmte Breite, die Vorrichtung die Spannung in Längsrichtung, um die Servospurbreite konstant zu halten, und in einem Fall, in dem die Servospurbreite schmaler ist als die vorbestimmte Breite, verringert die Vorrichtung die Spannung in Längsrichtung, um die Servospurbreite konstant zu halten. Auf diese Weise wird die Breite des magnetischen Aufzeichnungsmediums konstant gehalten.
• Wenn ein Unterschied zwischen den Servospurbreiten der inneren und äußeren Wickelseite ein negativer Wert ist, bedeutet dies, dass die Servospurbreite der inneren Wickelseite schmaler ist als diejenige der äußeren Wickelseite. In einem Fall, in dem der Unterschied ein negativer Wert ist, liegt zum Beispiel eine Servospurbreite mit dem schmalsten Bereich innerhalb einer Halbregion eines Endbereichs (im Folgenden auch als „mit der Spule verbundener Endbereich“ bezeichnet) des magnetischen Aufzeichnungsmediums, das mit einer Spule der magnetischen Aufzeichnungskassette verbunden ist, vor, das heißt, die Servospurbreite einer Region nahe dem mit der Spule verbundenen Endbereich ist schmaler als eine Servospurbreite einer Region nahe dem gegenüberliegenden Endbereich (im Folgenden auch als ein „äußerer Endbereich“ bezeichnet). Deshalb ist in einem Fall, in dem das magnetische Aufzeichnungsmedium um die Spule in der magnetischen Aufzeichnungskassette gewickelt ist, eine an die Wicklung in der Region nahe dem mit der Spule verbundenen Endbereich angewandte längsgerichtete Spannung bzw. Longitudinalspannung schwächer und eine an die Wicklung in der Region nahe dem äußeren Endbereich angewandte Spannung ist stärker, um die Servospurbreite konstant zu halten. Als eine Folge davon ist die Region des magnetischen Aufzeichnungsmediums nahe dem mit der Spule verbundenen Endbereich um die Spule mit einer schwächeren Spannung gewickelt als die Region davon nahe des äußeren Endbereichs. Wenn das magnetische Aufzeichnungsmedium auf diese Weise gewickelt ist, kann es zu einem Phänomen kommen, in dem Falten in der Region nahe dem mit der Spule verbundenen Endbereich auftreten können. Die Falten können zum Beispiel eine Wicklungsabweichung, Spurabweichung oder dergleichen während des Laufs bewirken. Das Phänomen, in dem die Falten auftreten, mag nicht in einem Fall auftreten, in dem der Wicklungszustand für eine kurze Zeit bestehen bleibt, tritt aber leicht in einem Fall auf, in dem der oben genannte Zustand über eine lange Zeit bestehen bleibt. Zum Beispiel kann das magnetische Aufzeichnungsmedium um die Spule in der magnetischen Aufzeichnungs- und Wiedergabevorrichtung gewickelt sein, doch bleibt dieser Zustand, in dem das magnetische Aufzeichnungsmedium um die Spule in der Vorrichtung gewickelt ist, allgemein nur für eine kurze Zeit bestehen, so dass das oben genannte Phänomen nicht auftritt. Unterdessen bleibt der Zustand, in dem das magnetische Aufzeichnungsmedium um die Spule in der magnetischen Aufzeichnungskassette gewickelt ist, besonders für eine lange Zeit bestehen in einem Fall, in dem die Kassette über lange Zeit aufbewahrt wird. Deshalb kann das Phänomen in dem magnetischen Aufzeichnungsmedium in der magnetischen Aufzeichnungskassette auftreten.
• In der magnetischen Aufzeichnungskassette gemäß der Ausführungsform der vorliegenden Technologie ist der Unterschied zwischen den Servospurbreiten der inneren und äußeren Wickelseite ein positiver Wert, das heißt, die Servospurbreite der inneren Wickelseite ist größer als die Servospurbreite der äußeren Wickelseite. So ist die Servospurbreite der Region nahe dem mit der Spule verbundenen Endbereich größer als die Servospurbreite der Region nahe dem äußeren Endbereich. Deshalb ist in einem Fall, in dem das magnetische Aufzeichnungsmedium um die Spule in der magnetischen Aufzeichnungskassette gewickelt ist, eine auf die Wicklung in der Region nahe der mit dem Endbereich verbundenen Region angewandte längsgerichtete Spannung stärker, und eine auf die Wicklung in der Region nahe dem äußeren Endbereich angewandte längsgerichtete Spannung ist schwächer, um die Servospurbreite konstant zu halten. Als eine Folge davon ist das magnetische Aufzeichnungsmedium um die Spule mit der stärkeren Spannung in der Region nahe dem mit der Spule verbundenen Endbereich gewickelt als in der Region nahe dem äußeren Endbereich. Durch Wickeln des magnetischen Aufzeichnungsmediums auf diese Weise ist es möglich, das Auftreten von Falten in der Region nahe dem mit der Spule verbundenen Endbereich zu verhindern.
• Der Unterschied in der Servospurbreite zwischen der inneren und äußeren Wickelseite kann zum Beispiel 2,5 µm oder weniger, bevorzugter Weise 1,8 µm oder weniger und stärker bevorzugt 1,5 µm oder weniger, 1,0 µm oder weniger, 0,8 µm oder weniger oder 0,5 µm oder weniger betragen. Da der Unterschied zwischen den Servospurbreiten der inneren und äußeren Wickelseite gleich oder weniger als der obere Grenzwert ist, kann die Breite des magnetischen Aufzeichnungsmediums durch eine Spannungsanpassung leichter konstant gehalten werden.
• Gemäß einer bevorzugten Ausführungsform der vorliegenden Technologie kann das magnetische Aufzeichnungsmedium eine Servospurbreite von größer als die Servo-Lesekopfbreite der magnetischen Aufzeichnungs- und Wiedergabevorrichtung haben, in der die magnetische Aufzeichnungskassette geladen ist (in der die magnetische Aufzeichnung auf das magnetische Aufzeichnungsmedium und/oder die magnetische Wiedergabe von dem magnetischen Aufzeichnungsmedium erfolgt). Stärker bevorzugt kann das magnetische Aufzeichnungsmedium eine Servospurbreite von größer als die Servo-Lesekopfbreite über die gesamte Länge einer inneren Region, die an den Positionen 50 m entfernt von beiden Endbereichen des magnetischen Aufzeichnungsmediums eingebettet ist. Da das magnetische Aufzeichnungsmedium eine Servospurbreite von größer als die Servo-Lesekopfbreite hat, ist es möglich, das Auftreten einer Wickelabweichung zu verhindern, wenn das magnetische Aufzeichnungsmedium um die Spule in der magnetischen Aufzeichnungs- und Wiedergabevorrichtung gewickelt wird. Das Verfahren zum Messen des Unterschieds in der Servospurbreite kann das gleiche sein wie das Verfahren zum Messen des Unterschieds in der oben beschriebenen Servospurbreite, was den Unterschied in der Servospurbreite zwischen der inneren und äußeren Wickelseite angeht, und dies wird in (3) von 2 weiter unten beschrieben.
• In einem Fall, in dem das magnetische Aufzeichnungsmedium eine Servospurbreite von kleiner als die Servo-Lesekopfbreite hat, wird die längsgerichtete Spannung des magnetischen Aufzeichnungsmediums durch die magnetische Aufzeichnungs- und Wiedergabevorrichtung zum Anpassen der längsgerichteten Spannung des oben beschriebenen magnetischen Aufzeichnungsmediums gelockert und die Bandbreite wird erweitert. Allerdings kann das Lockern der Spannung eine Wickelabweichung verursachen.
• In der vorliegenden Ausführungsform kann, da das magnetische Aufzeichnungsmedium eine Servospurbreite von größer als die Servo-Lesekopfbreite hat, die längsgerichtete Spannung erhöht werden durch die magnetische Aufzeichnungs- und Wiedergabevorrichtung. Demzufolge kann das Auftreten einer Wickelabweichung verhindert werden.
• Darüber hinaus stellt die vorliegende Technologie eine magnetische Aufzeichnungskassette bereit, die ein magnetisches Aufzeichnungsmedium einschließt, in dem die durchschnittliche Dicke t_T t_T ≤ 5,6 µm beträgt, in dem das Ausmaß der Dimensionsänderung Δw in einer Richtung der Breite bezüglich einer Spannungsänderung in Längsrichtung 660 ppm/N ≤ Δw beträgt und das Rechtwinkligkeitsverhältnis in einer vertikalen Richtung 65% oder mehr beträgt, wobei das magnetische Aufzeichnungsmedium eine Servospurbreite von größer als die Servo-Lesekopfbreite einer magnetischen Aufzeichnungs- und Wiedergabevorrichtung hat, in der die magnetische Aufzeichnungskassette geladen ist. Die magnetische Aufzeichnungskassette hat eine hohe Aufzeichnungskapazität und ist für die Verwendung in einer Aufzeichnungs- und Wiedergabevorrichtung geeignet, die die Spannung in der Längsrichtung anpasst. Die magnetische Aufzeichnungskassette kann eine Wickelabweichung verhindern, die mit der Spannungsanpassung auftreten kann. Auch kann für diese magnetische Aufzeichnungskassette jede beliebige oder eine Kombination von zwei oder mehr von den Konfigurationen, die für die magnetische Aufzeichnungskassette in der vorliegenden Patentbeschreibung beschrieben werden, eingeführt werden.
• Das magnetische Aufzeichnungsmedium, das in der magnetischen Aufzeichnungskassette gemäß der Ausführungsform der vorliegenden Technologie eingeschlossen ist, ist bevorzugter Weise ein langförmiges magnetisches Aufzeichnungsmedium und kann zum Beispiel ein magnetisches Aufzeichnungsband (insbesondere ein langförmiges magnetisches Aufzeichnungsband) sein.
• Das magnetische Aufzeichnungsmedium, das in der magnetischen Aufzeichnungskassette gemäß der Ausführungsform der vorliegenden Technologie eingeschlossen ist, kann eine magnetische Schicht, eine Basisschicht und eine Rückseitenschicht aufweisen und kann jede andere Schicht zusätzlich zu diesen Schichten einschließen. Die andere Schicht kann entsprechend den Typen eines magnetischen Aufzeichnungsmediums gewählt werden. Das magnetische Aufzeichnungsmedium kann zum Beispiel ein magnetisches Aufzeichnungsmedium vom Beschichtungstyp oder ein magnetisches Aufzeichnungsmedium vom Vakuum-Dünnfilmtyp sein. Das magnetische Aufzeichnungsmedium vom Beschichtungstyp wird detaillierter in 2 weiter unten beschrieben. Das magnetische Aufzeichnungsmedium vom Vakuum-Dünnfilmtyp wird detaillierter in 3 weiter unten beschrieben. Für die in dem magnetischen Aufzeichnungsmedium eingeschlossenen Schichten kann im Unterschied zu den oben genannten drei Schichten auf diese Beschreibungen Bezug genommen werden.
• Das magnetische Aufzeichnungsmedium, das in der magnetischen Aufzeichnungskassette gemäß der Ausführungsform der vorliegenden Technologie eingeschlossen ist, kann zum Beispiel wenigstens ein Datenband und wenigstens zwei Servobänder aufweisen. Die Anzahl der Datenbänder kann zum Beispiel 2 bis 10, insbesondere 3 bis 6, und noch spezieller 4 oder 5 betragen. Die Anzahl der Servobänder kann zum Beispiel 3 bis 11, insbesondere 4 bis 7, und noch spezieller 5 oder 6 betragen. Diese Servobänder und Datenbänder können zum Beispiel so angeordnet sein, dass sie sich in Längsrichtung des langförmigen magnetischen Aufzeichnungsmediums (insbesondere eines magnetischen Aufzeichnungsbands) erstrecken und insbesondere im Wesentlichen parallel sind. Die Datenbänder und die Servobänder können in der magnetischen Schicht vorgesehen sein. Die magnetischen Aufzeichnungsmedien mit den Datenbändern und den Servobändern können ein magnetisches Aufzeichnungsband, das dem Linear-Tape-Open (LTO)-Standard entspricht, einschließen. Mit anderen Worten, das magnetische Aufzeichnungsmedium kann ein magnetisches Aufzeichnungsband sein, das dem LTO-Standard entspricht. Zum Beispiel kann das magnetische Aufzeichnungsmedium ein magnetisches Aufzeichnungsband sein, das LTO8 oder einem späteren Standard (z. B. LTO9, LTO10, LTO11, LTO12, etc.) entspricht, sein.
• Die Breite des langförmigen magnetischen Aufzeichnungsmediums (besonders des magnetischen Aufzeichnungsbands) kann zum Beispiel 5 mm bis 30 mm, besonders 7 mm bis 25 mm, im Besonderen 10 mm bis 20 mm, und noch spezieller 11 mm bis 19 mm betragen. Die Länge des langförmigen magnetischen Aufzeichnungsmediums (insbesondere des magnetischen Aufzeichnungsbands) kann zum Beispiel 500 m bis 1 500 m betragen. Zum Beispiel beträgt die Bandbreite gemäß dem LTO8-Standard 12,65 mm und die Länge beträgt 960 m. 2. Erste Ausführungsform (Beispiel einer magnetischen Aufzeichnungskassette, die ein magnetische Aufzeichnungsmedium vom Beschichtungstyp einschließt)
• Konfiguration der magnetischen Aufzeichnungskassette
• Zuerst wird eine Konfiguration einer magnetischen Aufzeichnungskassette gemäß der Ausführungsform der vorliegenden Technologie mit Bezug auf die 1A beschrieben. Die 1A ist eine schematische Ansicht eines Beispiels einer magnetischen Aufzeichnungskassette gemäß der Ausführungsform der vorliegenden Technologie. Die in der 1A gezeigte magnetische Aufzeichnungskassette 1 schließt eine Spule 3 ein, die in einem Kassettengehäuse 2 bereitgestellt ist. Ein magnetisches Aufzeichnungsmedium 10 (insbesondere ein magnetisches Aufzeichnungsband) ist um die Spule 3 gewickelt.
• Als Nächstes wird eine Konfiguration des magnetischen Aufzeichnungsmediums 10 mit Bezug auf die 1B beschrieben. Das magnetische Aufzeichnungsmedium 10 ist zum Beispiel ein magnetisches Aufzeichnungsmedium, das einer vertikalen Ausrichtungsbearbeitung unterzogen wird, und wie in der 1B gezeigt schließt es eine langförmige Basisschicht (auch als Substrat bezeichnet) 11, eine Grundschicht (nicht-magnetische Schicht) 12, die auf der Hauptebene der Basisschicht 11 vorgesehen ist, eine magnetische Schicht (oder eine Aufzeichnungsschicht) 13, die auf der Grundschicht 12 vorgesehen ist, und eine Rückseitenschicht 14, die auf der anderen Hauptebene der Basisschicht 11 vorgesehen ist, ein. Im Folgenden wird unter den beiden Hauptebenen des magnetischen Aufzeichnungsmediums 10 die Ebene, auf welcher die magnetische Schicht 13 vorgesehen ist, als eine magnetische Oberfläche bezeichnet, und die Ebene gegenüberliegend zu der magnetischen Oberfläche (die Ebene, auf welcher die Rückseitenschicht 14 vorgesehen ist) wird als eine Rückseite bezeichnet.
• Das magnetische Aufzeichnungsmedium 10 hat eine lange Gestalt und läuft in Längsrichtung während des Aufzeichnens und Wiedergebens. Darüber hinaus kann das magnetische Aufzeichnungsmedium 10 so konfiguriert sein, um in der Lage zu sein, ein Signal bei der kürzesten Aufzeichnungswellenlänge von bevorzugter Weise 100 nm oder weniger, stärker bevorzugt 75 nm oder weniger, noch mehr bevorzugt 60 nm oder weniger, ganz bevorzugter Weise 50 nm oder weniger aufzuzeichnen und kann zum Beispiel für eine Aufzeichnungs- und Wiedergabevorrichtung, deren kürzeste Aufzeichnungswellenlänge im oben genannten Bereich liegt, verwendet werden. Die Aufzeichnungs- und Wiedergabevorrichtung kann einen Kopf vom Ringtyp als einen Aufzeichnungskopf einschließen. Eine Aufzeichnungsspurbreite ist zum Beispiel 2 µm oder weniger.
• Beschreibung jeder einzelnen Schicht
• (Basisschicht)
• Die Basisschicht 11 kann als ein Träger des magnetischen Aufzeichnungsmediums 10 fungieren und kann zum Beispiel ein langförmiges flexibles nicht-magnetisches Substrat sein und kann insbesondere ein nicht-magnetischer Film sein. Die Dicke der Basisschicht 11 kann zum Beispiel 2 µm bis 8 µm, bevorzugter Weise 2,2 µm bis 7 µm, stärker bevorzugt 2,5 µm bis 6 µm und noch mehr bevorzugt 2,6 µm bis 5 µm betragen. Die Basisschicht 11 kann zum Beispiel wenigstens eines aus einem Harz auf Polyesterbasis, einem Harz auf Polyolefinbasis, einem Cellulosederivat, einem Harz auf Vinylbasis, einem aromatischen Polyetherketonharz oder jedem anderen Polymerharz enthalten. In einem Fall, in dem die Basisschicht 11 zwei oder mehr von den oben beschriebenen Materialien enthält, können die zwei oder mehr Materialien gemischt, copolymerisiert oder geschichtet sein.
• Beispiele des Harzes auf Polyesterbasis können eines oder eine Mischung von zwei oder mehreren aus Polyethylenterephthalat (PET), Polyethylennaphthalat (PEN), Polybutylenterephthalat (PBT), Polybutylennaphthalat (PBN), Polycyclohexylendimethylenterephthalat (PCT), Polyethylenp-oxybenzoat (PEB) und Polyethylenbisphenoxycarboxylat einschließen. Gemäß einer bevorzugten Ausführungsform der vorliegenden Technologie kann die Basisschicht 11 PET oder PEN einschließen.
• Das Harz auf Polyolefinbasis kann zum Beispiel eines oder eine Mischung von zwei oder mehreren aus Polyethylen (PE) und Polypropylen (PP) sein.
• Das Cellulosederivat kann zum Beispiel eines oder eine Mischung von zwei oder mehreren von Cellulosediacetat, Cellulosetriacetat, Celluloseacetatbutyrat (CAB) und Celluloseacetatpropionat (CAP) sein.
• Das Harz auf Vinylbasis kann zum Beispiel eines oder eine Mischung von zwei oder mehreren von Polyvinylchlorid (PVC) und Polyvinylidenchlorid (PVDC) sein.
• Das aromatische Polyetherketonharz kann zum Beispiel eines oder eine Mischung von zwei oder mehreren von Polyetherketon (PEK), Polyetheretherketon (PEEK), Polyetherketonketon (PEKK) und Polyetheretherketonketon (PEEKK) sein. Gemäß einer bevorzugten Ausführungsform der vorliegenden Technologie kann die Basisschicht 11 PEEK einschließen.
• Beispiele von einem beliebigen anderen Polymerharz können zum Beispiel eines oder eine Mischung von zwei oder mehreren aus Polyamid (PA, Nylon), aromatischem PA (aromatischem Polyamid, Aramid), Polyimid (PI), aromatischem PI, Polyamidimid (PAI), aromatischem PAI, Polybenzoxazol (PBO) (z. B. Zylon, (eingetragenes Warenzeichen)), Polyether, Polyetherester, Polyethersulfon (PES), Polyetherimid (PEI), Polysulfon (PSF), Polyphenylensulfid (PPS), Polycarbonat (PC), Polyarylat (PAR) und Polyurethan (PU) sein.
• (Magnetische Schicht)
• Die magnetische Schicht 13 kann zum Beispiel eine senkrechte Aufzeichnungsschicht sein. Die magnetische Schicht 13 kann magnetisches Pulver enthalten. Die magnetische Schicht 13 kann ferner zum Beispiel ein Bindemittel und leitfähige Partikel zusätzlich zu dem magnetischen Pulver enthalten. Die magnetische Schicht 13 kann ferner zum Beispiel Additive, wie ein Gleitmittel, ein Schleifmittel, ein Korrosionsschutzmittel und dergleichen, erforderlichenfalls enthalten.
• Eine durchschnittliche Dicke t_m der magnetischen Schicht 13 ist bevorzugter Weise 35 nm ≤ t_m ≤ 120 nm, stärker bevorzugt 35 nm ≤ t_m ≤ 100 nm und ganz bevorzugter Weise 35 nm ≤ t_m ≤ 90 nm. Wenn die durchschnittliche Dicke t_m der magnetischen Schicht 13 innerhalb des oben genannten Zahlenbereichs liegt, trägt die magnetische Schicht 13 zur Verbesserung der elektromagnetischen Umwandlungscharakteristik bei.
• Die durchschnittliche Dicke t_m der magnetischen Schicht 13 kann wie folgt erhalten werden. Zuerst wird ein Prüfling durch Bearbeiten des magnetischen Aufzeichnungsmediums 10 senkrecht zur Hauptoberfläche davon angefertigt, und es wird ein Querschnitt des Prüflings durch ein Transmissionselektronenmikroskop (TEM) unter den folgenden Bedingungen begutachtet.
  Vorrichtung: TEM (H9000NAR hergestellt von Hitachi, Ltd.)
  Beschleunigungsspannung: 300 kV
  Vergrößerung: 100 000-fach
• Als Nächstes wird mit Hilfe einer erhaltenen TEM-Aufnahme die Dicke der magnetischen Schicht 13 an Positionen von wenigstens 10 Stellen in Längsrichtung des magnetischen Aufzeichnungsmediums 10 gemessen, und anschließend werden die gemessenen Werte einfach gemittelt (arithmetisches Mittel), um als eine durchschnittliche Dicke t_m (nm) der magnetischen Schicht 13 bestimmt zu werden.
• Die magnetische Schicht 13 ist bevorzugter Weise eine vertikal ausgerichtete magnetische Schicht. In der vorliegenden Patentschrift bezieht sich vertikale Ausrichtung darauf, dass ein Rechtwinkligkeitsverhältnis S1, gemessen in Längsrichtung (Laufrichtung) des magnetischen Aufzeichnungsmediums 10, 35% oder weniger beträgt. Ein Verfahren zum Messen des Rechtwinkligkeitsverhältnisses S1 wird separat weiter unten beschrieben.
• Man beachte, dass die magnetische Schicht 13 eine magnetische Schicht sein kann, die auf gleicher Ebene ausgerichtet ist (Längsausrichtung). Mit anderen Worten, das magnetische Aufzeichnungsmedium 10 kann ein magnetisches Aufzeichnungsmedium vom horizontalen Aufzeichnungstyp sein. Allerdings ist eine vertikale Ausrichtung stärker bevorzugt in Bezug auf eine höhere Aufzeichnungsdichte.
• (Magnetisches Pulver)
• Beispiele von magnetischen Partikeln, die in der magnetischen Schicht 13 enthaltenes magnetisches Pulver bilden, können Eisenoxid vom Epsilon-Typ (ε-Eisenoxid), Gamma-Hämatit, Magnetit, Chromdioxid, Cobaltbeschichtetes Eisenoxid, hexagonales Ferrit, Bariumferrit (BaFe), Co-Ferrit, Strontiumferrit, ein Metall oder dergleichen enthalten, sind aber nicht darauf beschränkt. Das magnetische Pulver kann eines oder eine Kombination oder zwei oder mehrere davon sein. Insbesondere kann das magnetische Pulver bevorzugter Weise magnetisches ε-Eisenoxidpulver, magnetisches Bariumferritpulver, magnetisches Cobaltferritpulver oder magnetisches Strontiumferritpulver enthalten. Man beachte, dass ε-Eisenoxid Ga und/oder Al enthalten kann. Diese magnetischen Partikel können in geeigneter Weise durch Fachleute auf der Grundlage von Faktoren wie zum Beispiel dem Fertigungsverfahren der magnetischen Schicht 13, den Spezifikationen des Bandes, der Funktion des Bandes und dergleichen, ausgewählt werden.
• Die durchschnittliche Teilchengröße (durchschnittliche Teilchen-Maximalgröße D des magnetischen Pulvers kann bevorzugter Weise 22 nm oder weniger, stärker bevorzugt 8 nm bis 22 nm und noch mehr bevorzugt 10 nm bis 20 nm betragen.
• Die durchschnittliche Teilchengröße D des oben genannten magnetischen Pulvers wird wie folgt erhalten. Zuerst wird das zu messende magnetische Aufzeichnungsmedium 10 durch ein fokussiertes Ionenstrahl (FIB-) Verfahren oder dergleichen bearbeitet, um ein dünnes Stück herzustellen, und der Querschnitt des dünnen Stücks wird durch ein Transmissionselektronenmikroskop (TEM) begutachtet. Als Nächstes werden 500 ε-Eisenoxidpartikel statistisch aus dem aufgenommenen TEM-Bild ausgewählt, die maximale Partikelgröße dmax von jedem Partikel wird gemessen, und es wird eine Partikelgrößenverteilung der maximalen Partikelgröße dmax des magnetischen Pulvers erhalten. Hier bezieht sich die „maximale Partikelgröße dmax“ auf den so genannten maximalen Feret-Durchmesser. Insbesondere bezieht sich die „maximale Partikelgröße dmax“ auf einen maximalen Abstand unter Abständen zwischen zwei parallelen Linien, die von allen Winkeln gezogen werden, so dass sie in Berührung mit der Kontur des ε-Eisenoxidpartikels stehen. Im Anschluss wird ein mittlerer Durchmesser (50% Durchmesser, D50) der maximalen Partikelgröße dmax aus der Partikelgrößenverteilung der erhaltenen maximalen Partikelgröße dmax erhalten und wird als die durchschnittliche Partikelgröße (durchschnittliche maximale Partikelgröße) D des magnetischen Pulvers bestimmt.
• Die Gestalt der magnetischen Partikel hängt von der Kristallstruktur der magnetischen Partikel ab. Zum Beispiel können BaFe- und Strontiumferrite eine hexagonale Plattengestalt haben. Das ε-Eisenoxid kann sphärisch sein. Das Cobaltferrit kann kubisch sein. Das Metall kann eine Spindelgestalt haben. Diese magnetischen Partikel werden in dem Fertigungsverfahren des magnetischen Aufzeichnungsmediums 10 ausgerichtet.
• Gemäß einer bevorzugten Ausführungsform der vorliegenden Technologie kann das magnetische Pulver Pulver von Nanopartikeln enthalten, die bevorzugter Weise ε-Eisenoxid enthalten (im Folgenden als „ε-Eisenoxidpartikel bezeichnet“). Selbst mit den feinen Partikeln von ε-Eisenoxidpartikeln kann eine hohe Koerzitivkraft erhalten werden. Bevorzugter Weise ist das in dem ε-Eisenoxidpartikel enthaltene ε-Eisenoxid vorzugsweise kristallausgerichtet in Richtung der Dicke (vertikale Richtung) des magnetischen Aufzeichnungsmediums 10.
• Die ε-Eisenoxidpartikel haben eine sphärische oder im Wesentlichen sphärische Gestalt oder haben eine kubische oder im Wesentlichen kubische Gestalt. Da die ε-Eisenoxidpartikel die wie weiter oben erwähnte Gestalt haben, wird in einem Fall, in dem ε-Eisenoxidpartikel als die magnetischen Partikel verwendet werden, der Kontaktbereich zwischen Partikeln in Richtung der Dicke des Mediums reduziert, um so die Aggregation der Partikel zu unterbinden, verglichen mit einem Fall, in dem Bariumferritpartikel mit einer hexagonalen plattenähnlichen Gestalt als magnetische Partikel verwendet werden. Deshalb kann die Dispergierbarkeit des magnetischen Pulvers erhöht werden, um so ein besseres Signal-Rausch-Verhältnis (SNR) zu erhalten.
• Die ε-Eisenoxidpartikel haben eine Struktur vom Kern-Schale-Typ. Insbesondere, wie in der 2 gezeigt, schließt das ε-Eisenoxidpartikel einen Kernbereich 21 und einen Schalenbereich 22, der um den Kernbereich 21 angeordnet ist und eine Zweischichtstruktur aufweist, ein. Der Schalenbereich 22 mit der Zweischichtstruktur schließt einen ersten Schalenbereich 22a, der auf dem Kernbereich 21 vorgesehen ist, und einen zweiten Schalenbereich 22b, der auf dem ersten Schalenbereich 22a vorgesehen ist, ein.
• Der Kernbereich 21 enthält ε-Eisenoxid. Das in dem Kernbereich 21 enthaltene ε-Eisenoxid hat bevorzugter Weise einen ε-Fe₂O₃-Kristall als eine Hauptphase und schließt stärker bevorzugt ein Einzelphasen-ε-Fe₂O₃ ein.
• Der erste Schalenbereich 22a bedeckt wenigstens einen Teil der Peripherie des Kernbereichs 21. Insbesondere kann der erste Schalenbereich 22a teilweise die Peripherie des Kernbereichs 21 bedecken oder kann die gesamte Peripherie des Kernbereichs 21 bedecken. Wenn die Austauschkopplung des Kernbereichs 21 und des ersten Schalenbereichs 22a ausreichend ist und was die Verbesserung der magnetischen Charakteristik angeht, bedeckt der erste Schalenbereich 22a bevorzugter Weise die gesamte Oberfläche des Kernbereichs 21.
• Der erste Schalenbereich 22a ist eine so genannte weiche magnetische Schicht und kann zum Beispiel ein weiches magnetisches Material, wie α-Fe, eine Ni-Fe-Legierung, eine Fe-Si-Al-Legierung oder dergleichen enthalten. α-Fe kann durch Reduzieren des in dem Kernbereich 21 enthaltenen ε-Eisenoxids erhalten werden.
• Der zweite Schalenbereich 22b ist ein Oxidfilm als eine Antioxidationsschicht. Der zweite Schalenbereich 22b kann α-Eisenoxid, Aluminiumoxid oder Siliciumoxid enthalten. Das α-Eisenoxid kann zum Beispiel wenigstens eines von Fe₃O₄, Fe₂O₃ oder FeO enthalten. In einem Fall, in dem der erste Schalenbereich 22a α-Fe (weiches magnetisches Material) enthält, kann das α-Eisenoxid durch Oxidieren von in dem ersten Schalenbereich 22a enthaltenem α-Fe erhalten werden.
• Da die ε-Eisenoxidpartikel den ersten Schalenbereich 22a wie oben beschrieben aufweisen, kann die thermische Stabilität sichergestellt werden, wodurch die Koerzitivkraft Hc des Einzelkernbereichs 21 auf einem großen Wert gehalten werden kann und/oder die Gesamtkoerzitivkraft Hc der ε-Eisenoxidpartikel (Partikel vom Kern-Schale-Typ) an die Koerzitivkraft Hc angepasst werden kann, die für das Aufzeichnen angemessen ist. Darüber hinaus, da die ε-Eisenoxidpartikel den zweiten Schalenbereich 22b wie oben beschrieben aufweisen, wird verhindert, dass die ε-Eisenoxidpartikel in der Luft während oder vor dem Fertigungsverfahren des magnetischen Aufzeichnungsmediums 10 exponiert sind, so dass ein Rosten oder dergleichen der Partikeloberflächen bewirkt wird, und auf diese Weise kann eine Verschlechterung der Charakteristik der ε-Eisenoxidpartikel unterdrückt werden. Aus diesem Grund kann eine Verschlechterung der Charakteristika des magnetischen Aufzeichnungsmediums 10 unterdrückt werden.
• Das ε-Eisenoxidpartikel kann einen Schalenbereich 23 mit einer Einzelschichtstruktur wie in der 6 gezeigt aufweisen. In diesem Fall hat der Schalenbereich 23 eine Konfiguration ähnlich wie bei dem ersten Schalenbereich 22a. Jedoch weist vom Standpunkt der Unterdrückung der Verschlechterung der Charakteristika des ε-Eisenoxidpartikels das ε-Eisenoxidpartikel bevorzugter Weise einen Schalenbereich 22 mit einer Zweischichtstruktur auf.
• Das ε-Eisenoxidpartikel kann ein Additiv an Stelle der Struktur vom Kern-Schale-Typ enthalten oder kann die Struktur vom Kern-Schale-Typ aufweisen und kann ebenso das Additiv enthalten. In diesen Fällen wird ein Teil von Fe des ε-Eisenoxidpartikels durch das Additiv ersetzt. Da die Koerzitivkraft Hc des gesamten ε-Eisenoxidpartikels an die Koerzitivkraft Hc angepasst werden kann, die für das Aufzeichnen auch durch das Additiv enthaltende ε-Eisenoxidpartikel geeignet ist, kann das einfache Aufzeichnen verbessert werden. Das Additiv ist eines oder mehrere, die aus der Gruppe gewählt sind, die ein anderes Metallelement als Eisen, bevorzugter Weise dreiwertiges Metallelement, stärker bevorzugt Aluminium (Al), Gallium (Ga) und Indium (In), einschließt.
• Insbesondere ist das Additiv enthaltende ε-Eisenoxid ein ε-Fe_2-xM_xO₃-Kristall (worin M eines oder mehrere ist, gewählt aus der Gruppe, die andere Metallelemente als Eisen, bevorzugter Weise dreiwertige Metallelemente, stärker bevorzugt Al, Ga und In, einschließt) und x ist zum Beispiel 0 <x <1).
• Gemäß einer anderen bevorzugten Ausführungsform der vorliegenden Technologie kann das magnetische Pulver magnetisches Bariumferrit (BaFe)-Pulver sein. Das magnetische Bariumferritpulver enthält magnetische Partikel von Eisenoxid, die Bariumferrit als eine Hauptphase enthalten (im Folgenden als „Bariumferritpartikel“ bezeichnet). Das magnetische Bariumferritpulver hat eine hohe Zuverlässigkeit der Datenaufzeichnung, zum Beispiel dadurch, dass die Koerzitivkraft nicht verringert wird selbst in einer Umgebung mit hoher Temperatur und hoher Feuchtigkeit und dergleichen. Von diesem Standpunkt betrachtet ist magnetisches Bariumferritpulver als das magnetische Pulver bevorzugt.
• Die durchschnittliche Teilchengröße des magnetischen Bariumferritpulvers ist 50 nm oder weniger, stärker bevorzugt 10 nm bis 40 nm und noch mehr bevorzugt 12 nm bis 25 nm.
• In einem Fall, in dem die magnetische Schicht 13 das magnetische Bariumferritpulver als magnetisches Pulver enthält, ist die durchschnittliche Dicke t_m[nm] der magnetischen Schicht 13 bevorzugter Weise 35 nm ≤ t_m ≤ 100 nm. Darüber hinaus beträgt die Koerzitivkraft Hc des magnetischen Aufzeichnungsmediums 10, gemessen in Richtung der Dicke (vertikale Richtung) bevorzugter Weise 160 kA/m bis 280 kA/m, stärker bevorzugt 165 kA/m bis 275 kA/m und noch mehr bevorzugt 170 kA/m bis 270 kA/m.
• Gemäß noch einer anderen bevorzugten Ausführungsform der vorliegenden Technologie kann das magnetische Pulver magnetisches Cobaltferritpulver sein. Das magnetische Cobaltferritpulver enthält magnetische Partikel von Eisenoxid-haltigem Cobaltferrit als eine Hauptphase (im Folgenden als „magnetische Cobaltferritpartikel“ bezeichnet). Die magnetischen Cobaltferritpartikel weisen bevorzugter Weise eine uniaxiale Anisotropie auf. Die magnetischen Cobaltferritpartikel haben zum Beispiel eine kubische Gestalt oder eine im Wesentlichen kubische Gestalt. Das Cobaltferrit ist Cobaltferrit-haltiges Co. Das Cobaltferrit kann ferner eines oder mehrere, gewählt aus der Gruppe, die Ni, Mn, Al, Cu und Zn einschließt, zusätzlich zu Co enthalten.
• Das Cobaltferrit hat zum Beispiel eine durchschnittliche Zusammensetzung, repräsentiert durch die folgende Formel (1). Co_xM_yFe₂O_z (1) (wobei in der Formel (1) M zum Beispiel ein oder mehrere Metalle ist, gewählt aus der Grupppe, die Ni, Mn, Al, Cu und Zn einschließt; x ein Wert innerhalb eines Bereichs von 0,4 ≤ x ≤ 1,0 ist; y ein Wert im Bereich von 0 ≤ y ≤ 0,3 ist; jedoch x und y die Beziehung (x + y) ≤ 1,0 erfüllen; z ein Wert innerhalb eines Bereichs von 3 ≤ z ≤ 4 ist; ein Teil von Fe durch ein anderes Metallelement substituiert sein kann).
• Die durchschnittliche Teilchengröße des magnetisches Cobaltferritpulvers beträgt bevorzugter Weise 25 nm oder weniger, stärker bevorzugt 23 nm oder weniger. Die Koerzitivkraft Hc des magnetisches Cobaltferritpulvers beträgt bevorzugter Weise 2500 Oe oder mehr und stärker bevorzugt 2600 Oe oder mehr und 3500 Oe oder weniger.
• Gemäß doch noch einer anderen bevorzugten Ausführungsform der vorliegenden Technologie kann das magnetische Pulver Pulver aus Nanopartikeln, welche hexagonales Ferrit enthalten, enthalten (nachfolgend als „hexagonale Ferritpartikel“ bezeichnet). Das hexagonale Ferritpartikel hat zum Beispiel eine hexagonale Plättchenform oder eine im Wesentlichen hexagonale Plättchenform. Das hexagonale Ferrit kann bevorzugter Weise wenigstens eines von Ba, Sr, Pb oder Ca und stärker bevorzugt wenigstens eines von Ba oder Sr enthalten. Das hexagonale Ferrit kann zum Beispiel Bariumferrit oder Strontiumferrit sein. Das Bariumferrit kann ferner wenigstens eines von Sr, Pb oder Ca zusätzlich zu Ba enthalten. Das Strontiumferrit kann ferner wenigstens eines von Ba, Pb oder Ca zusätzlich zu Sr enthalten.
• Insbesondere kann das hexagonale Ferrit eine durchschnittliche Zusammensetzung haben, die durch eine allgemeine Formel MFe₁₂O₁₉ angegeben ist. Hierbei ist M zum Beispiel wenigstens ein Metall aus Ba, Sr, Pb und Ca, bevorzugter Weise wenigstens ein Metall aus Ba und Sr. M kann eine Kombination von Ba und wenigstens einem Metall sein, das aus der Gruppe gewählt wird, die Sr, Pb und Ca einschließt. Darüber hinaus kann M eine Kombination von Sr und einem oder mehreren Metallen, gewählt aus der Gruppe, die Ba, Pb und Ca einschließt, sein. In der obenstehenden allgemeinen Formel kann ein Teil von Fe durch ein anderes Metallelement substituiert sein.
• In dem Fall, bei dem das magnetische Pulver Pulver aus hexagonalen Ferritpartikeln enthält, beträgt die durchschnittliche Teilchengröße des magnetischen Pulvers bevorzugter Weise 50 nm oder weniger, stärker bevorzugt 10 nm bis 40 nm und noch mehr bevorzugt 15 nm bis 30 nm.
• (Bindemittel)
• Das Bindemittel ist bevorzugter Weise ein Harz mit einer Struktur, in der eine Vernetzungsreaktion bei einem Harz auf Polyurethanbasis, einem Harz auf Vinylchloridbasis oder dergleichen erfolgt. Jedoch ist das Bindemittel nicht darauf beschränkt, und es können beliebige andere Harze in geeigneter Weise gemischt werden, in Abhängigkeit von physikalischen Eigenschaften und dergleichen, die für das magnetische Aufzeichnungsmedium 10 erwünscht sind. Das Harz, das gemischt wird, unterliegt keiner besonderen Beschränkung, solange es sich um ein Harz handelt, das allgemein in dem magnetischen Aufzeichnungsmedium 10 vom Beschichtungstyp verwendet wird.
• Das Bindemittel kann zum Beispiel Polyvinylchlorid, Polyvinylacetat, ein Vinylchlorid-Vinylacetat-Copolymer, ein Vinylchlorid-Vinylidenchlorid-Copolymer, ein Vinylchlorid-Acrylnitril-Copolymer, ein Acrylsäureester-Acrylnitril-Copolymer, ein Acrylsäureester-Vinylchlorid-Vinylidenchlorid-Copolymer, ein Acrylsäureester-Acrylnitril-Copolymer, ein Acrylsäureester-Vinylidenchlorid-Copolymer, ein Methacrylsäureester-Vinylidenchlorid-Copolymer, ein Methacrylsäureester-Vinylchlorid-Copolymer, ein Methacrylsäureester-Ethylen-Copolymer, ein Polyvinylfluorid, Vinylidenchlorid-Acrylnitril-Copolymer, ein Acrylnitril-Butadien-Copolymer, ein Polyamidharz, Polyvinylbutyral, ein Cellulosederivat (Celluloseacetatbutyrat, Cellulosediacetat, Cellulosetriacetat, Cellulosepropionat und Nitrocellulose), ein Styrol-Butadien-Copolymer, ein Polyesterharz, ein Aminoharz, synthetischen Kautschuk und dergleichen einschließen.
• Darüber hinaus kann als Bindemittel ein thermohärtendes Harz oder ein reaktives Harz verwendet werden, und Beispiele davon schließen ein Phenolharz, ein Epoxidharz, ein Harnstoffharz, ein Melaminharz, ein Alkydharz, ein Silikonharz, ein Polyaminharz, ein Harnstoff-Formaldehyd-Harz und dergleichen ein.
• Außerdem können polare funktionelle Gruppen, wie -SO₃M,-OSO₃M, -COOM, P=O(OM)₂ oder dergleichen, in jedes oben beschriebene Bindemittel eingeführt werden, um die Dispergierbarkeit des magnetischen Pulvers zu verbessern. Hierbei ist M in der Formel ein Wasserstoffatom oder ein Alkalimetal wie Lithium, Kalium, Natrium und dergleichen.
• Außerdem können Beispiele der polaren funktionellen Gruppe einen Seitenkettentyp mit einer Endgruppe -NR1R2 und-NR1R2R3⁺X^- oder einen Hauptkettentyp von >NR1R2⁺X^- einschließen. Hier sind in den Formeln R1, R2 und R3 ein Wasserstoffatom oder eine Kohlenwasserstoffgruppe, und X^- ist ein Halogenelemention, wie Fluor, Chlor, Brom, Iod oder dergleichen, oder ein anorganisches oder organisches Ion. Darüber hinaus kann die polare funktionelle Gruppe auch -OH, -SH, -CN und eine Epoxidgruppe einschließen.
• (Additiv)
• Die magnetische Schicht 13 kann ferner Aluminiumoxid (α-, β- oder γ-Aluminiumoxid), Chromoxid, Siliciumoxid, Diamant, Granat, Schmirgel, Bornitrid, Titancarbid, Siliciumcarbid, Titancarbid, Titanoxid (Titancarbid vom Rutiltyp oder Titanoxid vom Anatasetyp) oder dergleichen als nicht-magnetische verstärkende Partikel enthalten.
• (Grundschicht)
• Die Grundschicht 12 ist eine nicht-magnetische Schicht, die nicht-magnetisches Pulver und ein Bindemittel als Hauptbestandteile enthält. Die oben genannte Beschreibung hinsichtlich des Bindemittels, das in der magnetischen Schicht 13 enthalten ist, trifft auch auf das in der Grundschicht 12 enthaltene Bindemittel zu. Die Grundschicht 12 kann ferner wenigstens eines der Additive aus leitfähigen Partikeln, einem Gleitmittel, einem Härtungsmittel, einem Rostschutzmittel oder dergleichen enthalten, sofern erforderlich.
• Die durchschnittliche Dicke der Grundschicht 12 ist bevorzugter Weise 0,6 µm bis 2,0 µm und stärker bevorzugt 0,8 µm bis 1,4 µm. Man beachte, dass die durchschnittliche Dicke der Grundschicht 12 in einer ähnlichen Weise erhalten wird, wie die durchschnittliche Dicke t_m der magnetischen Schicht 13. Jedoch wird eine Vergrößerung einer TEM-Aufnahme in angemessener Weise entsprechend der Dicke der Grundschicht 12 angepasst.
• (Nicht-magnetisches Pulver)
• Das nicht-magnetisches Pulver, das in der Grundschicht 12 enthalten ist, kann zum Beispiel wenigstens eines, das aus anorganischen Partikeln und organischen Partikeln gewählt ist, einschließen. Eine Art eines nicht-magnetischen Pulvers kann allein verwendet werden, oder es können zwei oder mehr Arten von nicht-magnetischem Pulver in Kombination verwendet werden. Die anorganischen Partikel schließen zum Beispiel eines oder eine Kombination von zwei oder mehr ein, gewählt aus Metall, Metalloxid, Metallcarbonat, Metallsulfat, Metallnitrid, Metallcarbid und Metallsulfid. Insbesondere können die anorganischen Partikel zum Beispiel eines oder mehrere sein, die aus Eisenoxidhydroxid, Hämatit, Titanoxid und Ruß gewählt sind. Die Form des nicht-magnetischen Pulvers kann zum Beispiel verschiedene Formen, wie eine Nadelform, Kugelform, kubische Form, Plattenform oder dergleichen, einschließen, ist aber nicht speziell darauf beschränkt.
• (Rückseitenschicht)
• Die Rückseitenschicht 14 kann ein Bindemittel und nicht-magnetisches Pulver enthalten. Die Rückseitenschicht 14 kann nach Bedarf verschiedene Additive, wie a Gleitmittel, ein Härtungsmittel, ein Antistatikmittel und dergleichen, enthalten. Die obige Beschreibung des Bindemittels und des nicht-magnetischen Pulvers, die in der Grundschicht 12 enthalten sind, trifft auch auf das Bindemittel und das nicht-magnetische Pulver, enthalten in der Rückseitenschicht 14, zu.
• Die durchschnittliche Teilchengröße der anorganischen Partikel, die in der Rückseitenschicht 14 enthalten sind, ist bevorzugter Weise 10 nm bis 150 nm und stärker bevorzugt 15 nm bis 110 nm. Die durchschnittliche Partikelgröße der anorganischen Partikel wird in einer ähnlichen Weise wie die durchschnittliche Partikelgröße D des oben beschriebenen magnetischen Pulvers erhalten.
• Die durchschnittliche Dicke t_b der Rückseitenschicht 14 beträgt bevorzugter Weise t_b ≤ 0,6 µm. Da die durchschnittliche Dicke t_b der Rückseitenschicht 14 innerhalb des oben genannten Bereichs liegt, selbst in einem Fall, in dem die durchschnittliche Dicke t_T des magnetischen Aufzeichnungsmediums 10 t_T ≤ 5,5 µm beträgt, kann die Dicke der Grundschicht 12 und der Basisschicht 11 dick gehalten werden, wodurch die Laufstabilität des magnetischen Aufzeichnungsmediums 10 in der Aufzeichnungs- und Wiedergabevorrichtung beibehalten werden kann.
• Die durchschnittliche Dicke t_b der Rückseitenschicht 14 wird wie folgt erhalten. Zuerst wird ein 1/2 Zoll breites magnetisches Aufzeichnungsmedium 10 hergestellt und auf eine Länge von 250 mm geschnitten zur Herstellung einer Probe. Als Nächstes werden die Dicken von verschiedenen Stellen der Probe an 5 oder mehr Punkten mit Hilfe eines Laser-Hologage, hergestellt von Mitsutoyo Co., Ltd., als Messgerät gemessen, und die gemessenen Werte werden einfach gemittelt (arithmetisches Mittel), um einen Durchschnittswert t_T[µm] zu erhalten. Anschließend wird die Rückseitenschicht 14 der Probe mit einem Lösemittel, wie Methylethylketon (MEK) oder verdünnter Chlorwasserstoffsäure, entfernt, und anschließend werden die Dicken von verschiedenen Stellen der Probe an 5 oder mehr Punkten mit Hilfe des Laser-Hologage gemessen, und die gemessenen Werte werden einfach gemittelt (arithmetisches Mittel), um einen Durchschnittswert t_B[µm] zu erhalten. Anschließend wird die durchschnittliche Dicke t_b [µm] der Rückseitenschicht 14 durch die folgende Gleichung erhalten. $${\text{t}}_{\text{b}}\left[\mathrm{\mu }\text{m}\right]={\text{t}}_{\text{T}}\left[\mathrm{\mu }\text{m}\right]-{\text{t}}_{\text{B}}\left[\mu \text{m}\right]$$

  
• Physikalischen Eigenschaften und Struktur
• (Durchschnittliche Dicke t_T des magnetischen Aufzeichnungsmediums)
• Die durchschnittliche Dicke t_T des magnetischen Aufzeichnungsmediums 10 beträgt t_T ≤ 5,6 µm. Wenn die durchschnittliche Dicke t_T des magnetischen Aufzeichnungsmediums 10 t_T ≤ 5,6 µm beträgt, kann die Aufzeichnungskapazität, die in einer Datenkassette aufgezeichnet werden kann, erhöht werden im Vergleich zu dem verwandten Fachbereich. Ein unterer Grenzwert der durchschnittlichen Dicke t_T des magnetischen Aufzeichnungsmediums 10 ist zum Beispiel 3,5 µm ≤ t_T, unterliegt aber keiner speziellen Beschränkung.
• Die durchschnittliche Dicke t_T des magnetischen Aufzeichnungsmediums 10 wird durch das Verfahren zum Messen des oben beschriebenen Durchschnittswerts t_T in dem Verfahren zum Messen der durchschnittlichen Dicke t_b der Rückseitenschicht 14 erhalten.
• (Ausmaß der Dimensänderung Δw)
• Das Ausmaß der Dimensionsänderung Δw [ppm/N] des magnetischen Aufzeichnungsmediums 10 in der Richtung der Breite bezüglich einer Spannungsänderung des magnetischen Aufzeichnungsmediums 10 in Längsrichtung beträgt 660 ppm/N ≤ Δw, stärker bevorzugt 670 ppm/N ≤ Δw, stärker bevorzugt 700 ppm/N ≤ Δw, stärker bevorzugt 710 ppm/N ≤ Δw, stärker bevorzugt 730 ppm/N ≤ Δw, stärker bevorzugt 750 ppm/N ≤ Δw, noch mehr bevorzugt 780 ppm/N ≤ Δw und besonders bevorzugt 800 ppm/N ≤ Δw. Wenn das Ausmaß der Dimensionsänderung Δw Δw <640 ppm/N beträgt, kann es schwierig sein, eine Änderung in der Breite bei der Anpassung der längsgerichteten Spannung durch die Aufzeichnungs- und Wiedergabevorrichtung zu unterdrücken. Der obere Grenzwert für das Ausmaß der Dimensionsänderung Δw unterliegt keiner speziellen Beschränkung. Zum Beispiel ist Δw ≤ 1700000 ppm/N, bevorzugter Weise Δw ≤ 20000 ppm/N, stärker bevorzugt Δw ≤ 8000 ppm/N, noch mehr bevorzugt Δw ≤ 5000 ppm/N, Δw ≤ 4000 ppm/N, Δw ≤ 3000 ppm/N oder Δw ≤ 2000 ppm/N.
• Fachleute auf dem Gebiet können in entsprechender Weise das Ausmaß der Dimensionsänderung Δw festlegen. Zum Beispiel kann das Ausmaß der Dimensionsänderung Δw auf einen gewünschten Wert festgelegt werden durch Auswählen der Dicke der Basisschicht 11 und/oder eines Materials der Basisschicht 11. Darüber hinaus kann das Ausmaß der Dimensionsänderung Δw auf einen gewünschten Wert festgelegt werden, zum Beispiel durch Anpassen der Dehnungsfestigkeit in der vertikalen und horizontalen Richtung des die Basisschicht bildenden Films. Zum Beispiel nimmt Δw stärker ab, wenn der Film in Richtung der Breite stärker gedehnt wird und umgekehrt. Δw nimmt zu, wenn der Film in Längsrichtung stark gedehnt wird.
• Das Ausmaß der Dimensionsänderung Δw wird wie folgt erhalten. Zuerst wird ein 1/2 Zoll breites magnetisches Aufzeichnungsmedium 10 hergestellt und auf eine Länge von 250 mm geschnitten, um eine Probe 10S herzustellen. Als Nächstes werden (Zug-)Belastungen in der Größenordnung von 0,2 N, 0,6 N und 1,0 N in der Längsrichtung der Probe 10S angewandt, und es werden die Breiten der Probe 10S bei den Belastungen 0,2 N, 0,6 N und 1,0 N gemessen. Anschließend wird das Ausmaß der Dimensionsänderung Δw aus der nachstehenden Gleichung ermittelt. Man beachte, dass die Messung in einem Fall der Anwendung einer Belastung von 0,6 N durchgeführt wird, um zu prüfen, ob in der Messung nicht eine Abnormalität aufgetreten ist (insbesondere um zu prüfen, ob diese drei Messergebnisse linear sind), und die Messergebnisse werden nicht in der nachstehenden Gleichung verwendet. $$\Delta \text{w}\left[\text{ppm}/\text{N}\right]=\frac{\text{D}\left(0.2\text{N}\right)\left[\text{mm}\right]-\text{D}\left(1.0\text{N}\right)\left[\text{mm}\right]}{\text{D}\left(0.2\text{N}\right)\left[\text{mm}\right]}\times \frac{\mathrm{1,000,000}}{\left(1.0\left[\text{N}\right]\right)-\left(0.2\left[\text{N}\right]\right)}$$

  

  (worin D(0,2 N) und D(1,0 N) für die Breiten der Probe 10S stehen, wenn 0,2 N bzw. 1,0 N in der Längsrichtung der Probe 10S angewandt werden).
• Die Breiten der Probe 10S werden bei Anwendung der jeweiligen Belastung wie folgt gemessen. Zuerst wird eine in der 3A gezeigte Messungsvorrichtung, die ein digitales Längenmessgerät LS-7000, hergestellt von Keyence Corporation, einschließt, als eine Messvorrichtung vorbereitet, und die Probe 10S wird in die Messvorrichtung platziert. Insbesondere wird ein Ende der langförmigen Probe (magnetisches Aufzeichnungsmedium) 10S durch einen Fixierbereich 231 fixiert. Als Nächstes wird, wie in der 3A gezeigt, die Probe 10S auf fünf im Wesentlichen zylindrische und stabförmige Trägerbauteile 232 platziert. Die Probe 10S wird auf die fünf Trägerbauteile 232 platziert, so dass eine Rückseite davon mit den fünf Bauteilen 232 in Kontakt steht. Die fünf Trägerbauteile 232 (besonders Oberflächen davon) schließen alle rostfreien Stahl SUS304 ein, und die Oberflächenrauigkeit Rz (maximale Höhe) davon ist 0,15 µm bis 0,3 µm.
• Die Anordnung der fünf stabförmigen Trägerbauteile 232 wird mit Bezug auf die 3B beschrieben. Wie in der 3B gezeigt, wird die Probe 10S auf die fünf Trägerbauteile 232 platziert. Im Folgenden wird auf die fünf Trägerbauteile 232 Bezug genommen als, beginnend von der am nächsten an dem Fixierbereich 231 gelegenen Seite, einem „ersten Trägerbauteil“, einem „zweiten Trägerbauteil“, einem „dritten Trägerbauteil“ (mit einem Schlitz 232A), einem „vierten Trägerbauteil“ und einem „fünften Trägerbauteil“ (am nächsten an einem Gewicht 233 gelegen). Der Durchmesser dieser fünf Trägerbauteile beträgt 7 mm. Der Abstand d₁ zwischen dem ersten Trägerbauteil und dem zweiten Trägerbauteil (insbesondere der Abstand zwischen den Zentren dieser Trägerbauteile) beträgt 20 mm. Der Abstand d₂ zwischen dem zweiten Trägerbauteil und dem dritten Trägerbauteil beträgt 30 mm. Der Abstand d₃ zwischen dem dritten Trägerbauteil und dem vierten Trägerbauteil beträgt 30 mm. Der Abstand d₄ zwischen dem vierten Trägerbauteil und dem fünften Trägerbauteil beträgt 20 mm. Darüber hinaus sind das zweite Trägerbauteil, das dritte Trägerbauteil und das vierte Trägerbauteil so angeordnet, dass Bereiche der Probe 10S, die zwischen das zweite Trägerbauteil, das dritte Trägerbauteil und das vierte Trägerbauteil platziert ist, eine im Wesentlichen senkrechte Ebene bezüglich der Richtung der Schwerkraft bilden. Darüber hinaus sind das erste Trägerbauteil und das zweite Trägerbauteil so angeordnet, dass die Probe 10S einen Winkel θ₁ = 30° in Bezug auf die im Wesentlichen senkrechte Ebene zwischen dem ersten Trägerbauteil und dem zweiten Trägerbauteil bildet. Außerdem sind das vierte Trägerbauteil und das fünfte Trägerbauteil so angeordnet, dass die Probe 10S einen Winkel θ₂ = 30° mit Bezug auf die im Wesentlichen senkrechte Ebene zwischen dem vierten Trägerbauteil und dem fünften Trägerbauteil bildet.
• Weiterhin ist unter den fünf Trägerbauteilen 232 das dritte Trägerbauteil so fixiert, dass es nicht rotiert, während die anderen vier Trägerbauteile alle rotierbar sind.
• Die Probe 10S wird auf dem Trägerbauteil 232 gehalten, um sich nicht in Richtung der Breite der Probe 10S zu bewegen. Man beachte, dass unter den Trägerbauteilen 232 das Trägerbauteil 232, das zwischen einem Lichtemitter 234 und einem Lichtempfänger 235 positioniert ist und im Wesentlichen im Zentrum zwischen dem Fixierbereich 231 und einem belastungausübenden Bereich positioniert ist, den Schlitz 232A aufweist. Licht L wird vom Lichtemitter 234 auf den Lichtempfänger 235 durch den Schlitz 232A ausgestrahlt. Die Schlitzbreite des Schlitzes 232A beträgt 1 mm und das Licht L kann durch die Breite hindurch passieren, ohne durch den Rand bzw. die Einfassung des Schlitzes 232A blockiert zu werden.
• Anschließend, nachdem die Messvorrichtung in einer Kammer untergebracht wurde, die in einer vorher festgelegten Umgebung kontrolliert wird, die auf eine konstante Temperatur von 25°C und eine relative Feuchtigkeit von 50% einreguliert ist, wird das Gewicht 233 zum Ausüben einer Belastung von 0,2 N am anderen Ende der Probe 10S befestigt, und die Probe 10S wird 2 Stunden in der Umgebung stehen gelassen. Nach 2 Stunden wird die Breite der Probe 10S gemessen. Als Nächstes wird das Gewicht zum Ausüben der Belastung von 0,2 N auf ein Gewicht zum Ausüben einer Belastung von 0,6 N geändert, und es wird die Breite der Probe 10S 5 Minuten nach dem Wechsel gemessen. Schließlich wird das Gewicht auf ein Gewicht zum Ausüben einer Belastung von 1,0 N geändert, und es wird die Breite der Probe 10S 5 Minuten nach dem Wechsel gemessen.
• Wie oben beschrieben, kann durch Anpassen des Gewichts des Gewichts 233 die in Längsrichtung der Probe 10S angewandte Belastung verändert werden. Bei jeder angewandten Belastung wird Licht L von dem Lichtemitter 234 in Richtung des Lichtempfängers 235 ausgestrahlt, und es wird die Breite der Probe 10S, auf welche die Belastung in Längsrichtung angewandt wird, gemessen. Die Messung der Breite erfolgt in einem Zustand, in dem die Probe 10S nicht gewellt bzw. gekräuselt ist. Der Lichtemitter 234 und der Lichtempfänger 235 sind in dem digitalen Längenmessgerät LS-7000 vorgesehen.
• (Thermischer Ausdehnungskoeffizient α)
• Der Wärmeausdehnungskoeffizient α [ppm/°C] des magnetischen Aufzeichnungsmediums 10 kann bevorzugter Weise 5,5 ppm/°C ≤ α ≤ 9 ppm/°C und stärker bevorzugt 5,9 ppm/°C ≤ α ≤ 8 ppm/°C betragen. Wenn der Wärmeausdehnungskoeffizient α innerhalb des oben genannten Bereichs liegt, kann eine Änderung in der Breite des magnetischen Aufzeichnungsmediums 10 ferner durch Anpassen der Spannung in Längsrichtung des magnetischen Aufzeichnungsmediums 10 durch die Aufzeichnungs- und Wiedergabevorrichtung unterdrückt werden.
• Der Temperaturausdehnungskoeffizient α wird wie folgt erhalten. Zuerst wird die Probe 10S in einer ähnlichen Weise wie bei dem Verfahren zum Messen des Ausmaßes der Dimensionsänderung Δw hergestellt, die Probe 10S wird in eine ähnliche Messvorrichtung gelegt wie bei dem Verfahren zum Messen des Ausmaßes der Dimensionsänderung Δw, und im Anschluss wird die Messvorrichtung in einer Kammer mit einer zuvor festgelegten Umgebung untergebracht, die auf eine Temperatur von 29°C und eine relative Feuchtigkeit von 24% reguliert ist. Als Nächstes wird eine Belastung von 0,2 N in der Längsrichtung der Probe 10S angewandt, und die Probe 10S wurde in die oben genannte Umgebung für 2 Stunden platziert.
• Im Anschluss werden unter Beibehaltung der relativen Feuchtigkeit von 24% die Breiten der Probe 10S bei 45°C, 29°C und 10°C gemessen, während die Temperaturen im Größenbereich von 45°C, 29°C und 10°C geändert werden, und es wird der Temperaturausdehnungskoeffizient α aus der folgenden Gleichung erhalten. Hier werden die Breiten der Probe 10S bei diesen Temperaturen 2 Stunden nach Erreichen der jeweiligen Temperatur gemessen. Man beachte, dass die Messung bei einer Temperatur von 29°C durchgeführt wird, um zu prüfen, ob nicht eine Abnormalität in der Messung aufgetreten ist (insbesondere um zu prüfen, ob diese drei Messergebnisse linear sind), und die Messergebnisse werden nicht in der nachstehenden Gleichung verwendet. $$\alpha \left[\text{ppm}/°\text{C}\right]=\frac{\text{D}\left(45°\text{C}\right)\left[\text{mm}\right]-\text{D}\left(10°\text{C}\right)\left[\text{mm}\right]}{\text{D}\left(10°\text{C}\right)\left[\text{mm}\right]}\times \frac{\mathrm{1,000,000}}{\left(45\left[°\text{C}\right]\right)-\left(10\left[°\text{C}\right]\right)}$$

  

  (worin D(45°C) und D(10°C) für die Breiten der Probe 10S bei den Temperaturen von 45°C bzw. 10°C stehen).
• (Feuchtigkeitsausdehnungskoeffizient β)
• Ein Feuchtigkeitsausdehnungskoeffizient β [ppm/%RH] des magnetischen Aufzeichnungsmediums 10 kann bevorzugter Weise β ≤ 5,5 ppm/%RH, stärker bevorzugt β ≤ 5,2 ppm/%RH und noch mehr bevorzugt β ≤ 5,0 ppm/%RH betragen. Wenn der Feuchtigkeitsausdehnungskoeffizient β innerhalb des Bereichs liegt, kann eine Änderung der Breite des magnetischen Aufzeichnungsmediums 10 ferner unterdrückt werden durch Anpassen der Spannung in Längsrichtung des magnetischen Aufzeichnungsmediums 10 durch die Aufzeichnungs- und Wiedergabevorrichtung.
• Der Feuchtigkeitsausdehnungskoeffizient β wird wie folgt erhalten. Zuerst wird die Probe 10S in einer ähnlichen Weise wie bei dem Verfahren zum Messen des Ausmaßes der Dimensionsänderung Δw hergestellt und in eine ähnliche Messvorrichtung wie bei dem Verfahren zum Messen des Ausmaßes der Dimensionsänderung Δw gelegt, und anschließend wird die Messvorrichtung in einer Kammer mit einer zuvor festgelegten Umgebung untergebracht, die auf eine Temperatur von 29°C und eine relative Feuchtigkeit von 24% reguliert ist. Als Nächstes wird eine Belastung von 0,2 N in der Längsrichtung der Probe 10S angewandt, und die Probe wird in der Umgebung für 2 Stunden stehen gelassen. Im Anschluss werden unter Beibehaltung der Temperatur von 29°C die Breiten der Probe 10S bei einer relativen Feuchtigkeit von 80%, 24% und 10% gemessen, während die relative Feuchtigkeit in einem Größenbereich von 80%, 24% und 10% verändert wird, und es wird ein Feuchtigkeitsausdehnungskoeffizient β durch die nachstehende Gleichung erhalten. Hier werden die Breiten der Probe 10S bei diesen Anteilen von Feuchtigkeit unmittelbar nach Erreichen der jeweiligen Feuchtigkeit gemessen. Man beachte, dass die Messung bei einer Feuchtigkeit von 24% durchgeführt wird, um zu prüfen, ob nicht eine Abnormalität in der Messung aufgetreten ist, und die Messergebnisse werden nicht in der nachstehenden Gleichung verwendet. $$\beta \left[\text{ppm}/\%\text{RH}\right]=\frac{\text{D}\left(80\%\right)\left[\text{mm}\right]-\text{D}\left(10\%\right)\left[\text{mm}\right]}{\text{D}\left(10\%\right)\left[\text{mm}\right]}\times \frac{\mathrm{1,000,000}}{\left(80\left[\text{\%}\right]\right)-\left(10\left[\%\right]\right)}$$

  

  (worin D(80%) und D(10%) für die Breiten der Probe 10S bei der relativen Feuchtigkeit von 80% bzw. 10% stehen).
• (Poisson-Zahl ρ)
• Eine Poisson-Zahl ρ des magnetischen Aufzeichnungsmediums 10 kann bevorzugter Weise 0,25 ≤ ρ, stärker bevorzugt 0,29 ≤ ρ und noch mehr bevorzugt 0,3 ≤ ρ betragen. Wenn die Poisson-Zahl innerhalb des oben genannten Bereichs liegt, kann eine Veränderung in der Breite des magnetischen Aufzeichnungsmediums 10 weiter unterdrückt werden durch Anpassen der Spannung in der Längsrichtung des magnetischen Aufzeichnungsmediums 10 durch die Aufzeichnungs- und Wiedergabevorrichtung.
• Die Poisson-Zahl ρ wird wie folgt erhalten. Zuerst wird ein 1/2 Inch breites magnetisches Aufzeichnungsmedium 10 hergestellt und auf eine Länge von 150 mm geschnitten zur Herstellung einer Probe, und es wird eine Markierung mit einer Größe von 6 mm × 6 mm im Zentrum der Probe vorgesehen. Als Nächstes werden beide Endbereiche in der Längsrichtung der Probe eingespannt, so dass der Abstand zwischen den Einspannbacken 100 mm beträgt, eine anfängliche Belastung von 2 N wird angewandt, es wird die Länge der Markierung in der Längsrichtung der Probe zu dem Zeitpunkt als Anfangslänge bestimmt und die Breite der Markierung in Richtung der Breite der Probe wird als Anfangsbreite bestimmt. Anschließend wird die Probe mit einem Universal-Zugfestigkeitsprüfgerät vom Instron-Typ bei einer Zuggeschwindigkeit von 0,5 mm/min gestreckt, und es werden die Ausmaße der Dimensionsänderung der Markierung in der Länge der Markierung in Längsrichtung der Probe und der Breite der Markierung in Richtung der Breite der Probe mit einem Bildsensor, hergestellt von der Keyence Corporation, gemessen. Im Anschluss wird die Poisson-Zahl ρ aus der nachstehenden Gleichung erhalten. $$\rho =\frac{\left\{\frac{AusmaßderDimensions\ddot{a}nderungderMarkierunginderBreite\left[\text{mm}\right])}{\left(\text{Anf}\ddot{\text{a}}\text{ngliche Breite}\left[\text{mm}\right]\right)}\right\}}{\left\{\frac{\left(AusmaßderDimensions\ddot{a}nderungderMarkierunginderL\ddot{a}nge\left[\text{mm}\right]\right)}{\left(\text{Anf}\ddot{\text{a}}\text{ngliche Breite}\left[\text{mm}\right]\right)}\right\}}$$

  
• (Längselastizitäts-Grenzwert σ_MD)
• Der Elastizitätsgrenzwert σ_MD[N] in der Längsrichtung des magnetischen Aufzeichnungsmediums 10 kann bevorzugter Weise 0,7 N ≤ σ_MD, stärker bevorzugt 0,75 N ≤ σ_MD und noch mehr bevorzugt 0,8 N ≤ σ_MD betragen. Wenn der Elastizitätsgrenzwert σ_MD innerhalb des oben genannten Bereichs liegt, kann eine Veränderung in der Breite des magnetischen Aufzeichnungsmediums 10 durch Anpassen der Spannung in Längsrichtung des magnetischen Aufzeichnungsmediums 10 durch die Aufzeichnungs- und Wiedergabevorrichtung weiter unterdrückt werden. Darüber hinaus ist es leichter, eine Antriebsseite zu steuern. Ein oberer Grenzwert des Elastizitätsgrenzwerts σ_MD in der Längsrichtung des magnetischen Aufzeichnungsmediums 10 unterliegt keiner besonderen Beschränkung und kann zum Beispiel σ_MD ≤ 5,0 N betragen. Bevorzugter Weise hängt der Elastizitätsgrenzwert σ_MD nicht von einer Geschwindigkeit V ab, wenn die Elastizitätsgrenze gemessen wird. Der Grund liegt darin, dass, wenn der Elastizitätsgrenzwert σ_MD nicht von der Geschwindigkeit V abhängt, die Veränderung der Breite des magnetischen Aufzeichnungsmediums 10 wirksam unterdrückt werden kann, ohne durch die Laufgeschwindigkeit des magnetischen Aufzeichnungsmediums 10 in der Aufzeichnungs- und Wiedergabevorrichtung und eine Spannungsanpassungsgeschwindigkeit oder die Ansprechbarkeit der Aufzeichnungs- und Wiedergabevorrichtung beeinflusst zu werden. Der Elastizitätsgrenzwert σ_MD ist auf einen gewünschten Wert gesetzt, zum Beispiel in Abhängigkeit von einer Auswahl der Härtungsbedingungen der Grundschicht 12, der magnetischen Schicht 13 und der Rückseitenschicht 14 und oder einer Auswahl eines Materials der Basisschicht 11. Zum Beispiel wird in dem Maße, wie die Zeit zum Aushärten von Farbe für die Bildung der Grundschicht von Farbe für die Bildung der magnetischen Schicht und von Farbe für die Bildung der Rückseitenschicht erhöht wird oder wie die Härtungstemperatur davon zunimmt, wird eine Reaktion zwischen einem Bindemittel und einem Härtungsmittel, die in jeder Farbe enthalten sind, beschleunigt. Als eine Folge davon wird die elastische Eigenschaft verbessert zur Verbesserung des Elastizitätsgrenzwerts σ_MD.
• Der Elastizitätsgrenzwert σ_MD wird wie folgt erhalten. Zuerst wird ein 1/2 Inch breites magnetisches Aufzeichnungsmedium 10 hergestellt, auf eine Länge von 150 mm geschnitten zur Herstellung einer Probe, und beide Enden der Probe werden in Längsrichtung in dem Universal-Zugfestigkeitsprüfgerät eingespannt, so dass der Abstand λ₀ zwischen den Einspannbacken 100 mm beträgt (λ₀ = 100 mm). Als Nächstes wird die Probe bei einer Zuggeschwindigkeit von 0,5 mm/min gedehnt, und es wird eine Belastung σ(N) hinsichtlich des Abstands λ(mm) zwischen den Einspannbacken kontinuierlich gemessen. Anschließend wird die Beziehung zwischen Δλ(%) und σ(N) unter Nutzung der erhaltenen Daten von λ(mm) und σ(N) grafisch dargestellt. Dagegen ist Δλ(%) durch die nachstehende Gleichung angegeben. $$\Delta \mathrm{\lambda }\left(\%\right)=\left(\left(\mathrm{\lambda }-{\mathrm{\lambda }}_0\right)/{\mathrm{\lambda }}_0\right)\times 100$$

  
• Als Nächstes wird in dem obenstehenden Graphen eine Region, in der der Graph eine gerade Linie ist, in der Region von σ ≥ 0,2 N berechnet, und die maximale Belastung σ davon wird als ein Elastizitätsgrenzwert σ_MD(N) festgelegt.
• (Reibungskoeffizient µ zwischen magnetischer Oberfläche und Rückseite)
• Ein Reibungskoeffizient µ zwischen der Oberfläche der magnetischen Schichtseite und der Oberfläche der Rückseitenschichtseite des magnetischen Aufzeichnungsmediums 10 (im Folgenden auch als Zwischenschicht-Reibungskoeffizient µ bezeichnet) beträgt bevorzugter Weise 0,20 ≤ µ ≤ 0,80, stärker bevorzugt 0,20 ≤ µ ≤ 0,78 und noch mehr bevorzugt 0,25 ≤ µ ≤ 0,75. Wenn der Reibungskoeffizient µ innerhalb des oben genannten Bereichs liegt, werden die Handhabungseigenschaften des magnetischen Aufzeichnungsmediums 10 verbessert. Zum Beispiel wenn der Reibungskoeffizient µ innerhalb des oben genannten Bereichs liegt, wird das Auftreten einer Wicklungsabweichung, wenn das magnetische Aufzeichnungsmedium 10 um die Spule gewickelt wird (zum Beispiel die Spule 10C, etc., in der 5), unterdrückt. Insbesondere ist in einem Fall, in dem der Reibungskoeffizient µ zu klein ist (zum Beispiel im Fall von µ <0,18), eine zwischen den Schichten erfolgende Reibung zwischen einer magnetischen Oberfläche eines Bereichs des magnetischen Aufzeichnungsmediums 10, das bereits um die Kassettenspule gewickelt wurde, positioniert auf dem äußersten Umfang und einer Rückseite des magnetischen Aufzeichnungsmediums 10, das neu um die Außenseite davon gewickelt wird, extrem niedrig und damit kann das magnetische Aufzeichnungsmedium 10, das neu gewickelt wird, leicht von der magnetischen Oberfläche der Bereichsposition auf dem äußersten Umfang des magnetischen Aufzeichnungsmediums 10 abweichen, das bereits gewickelt wurde. Deshalb kommt es zu einer Wicklungsabweichung des magnetischen Aufzeichnungsmediums 10. Inzwischen ist in einem Fall, in dem der Reibungskoeffizient µ zu groß ist (zum Beispiel im Fall von 0,82 < µ oder 0,80 < µ), eine zwischen den Schichten erfolgende Reibung zwischen der Rückseite des magnetischen Aufzeichnungsmediums 10, die endgültig von dem äußersten Umfang der Spule auf der Antriebsseite und der magnetischen Oberfläche des magnetischen Aufzeichnungsmediums 10 losgelöst wird, die unmittelbar darunter positioniert ist und die sich in einem noch auf die Spule auf der Antriebsseite gewickelten Zustand befindet, extrem hoch, so dass die Rückseite und die magnetische Oberfläche aneinanderhaften. Deshalb wird der Betrieb des magnetischen Aufzeichnungsmediums 10 zur Kassettenspule hin instabil, wodurch eine Wicklungsabweichung des magnetischen Aufzeichnungsmediums 10 bewirkt wird.
• Der Reibungskoeffizient µ wird wie folgt erhalten. Zuerst wird das magnetische Aufzeichnungsmedium 10 mit einer Breite von 1/2 Inch, wobei die Rückseite nach oben zeigt, um einen Umfang mit einem Durchmesser von 1 Inch gewickelt, um fixiert zu werden. Als Nächstes wird das magnetische Aufzeichnungsmedium 10 mit einer Breite von 1/2 Inch mit dem Umfang in einem Umschlingungswinkel von θ(°) = 180° + 1° bis 180° - 10° in Kontakt gebracht, so dass die magnetische Oberfläche davon sich in Kontakt damit befindet und ein Ende des magnetischen Aufzeichnungsmediums 10 mit einem beweglichen Dehnungsmessstreifen verbunden ist und die Spannung T₀ = 0,6(N) an das andere Ende des magnetischen Aufzeichnungsmediums 10 weitergegeben wird. Die Ablesung bzw. Anzeige T₁(N) bis T₈(N) des beweglichen Dehnungsmessstreifens an jeder äußeren Bahn, wenn der bewegliche Dehnungsmessstreifen 8-mal mit 0,5 mm/s hin- und herbewegt wird, wird gemessen und es wird ein Durchschnittswert von T₄ bis T₈ als T_ave(N) ermittelt. Anschließend wird der Reibungskoeffizient µ aus der nachstehenden Gleichung erhalten. $$\mu =\frac{1}{\left(\theta [°]\right)\times \left(\pi /180\right)}\times lo{g}_e\left(\frac{T_{ave}\left[\text{N}\right]}{T_0\left[\text{N}\right]}\right)$$

  
• (Oberflächenrauigkeit Rab der Rückseitenschicht)
• Die Oberflächenrauhigkeit R_ab[nm] (mit anderen Worten, Oberflächenrauigkeit der Rückseite) der Rückseitenschicht 14 ist bevorzugter Weise 7,5 nm oder weniger, stärker bevorzugt 7,2 nm oder weniger, noch mehr bevorzugt 7,0 nm oder weniger, 6,5 nm oder weniger, 6,3 nm oder weniger oder 6,0 nm oder weniger. Ferner ist die Oberflächenrauhigkeit Rab bevorzugter Weise 3,0 nm oder mehr, stärker bevorzugt 3,2 nm oder mehr und noch mehr bevorzugt 3,4 nm oder mehr. Wenn die Oberflächenrauigkeit Rab der Rückseitenschicht innerhalb des oben genannten Bereichs liegt, können die Handhabungseigenschaften magnetischen Aufzeichnungsmediums 10 verbessert werden. Darüber hinaus kann, wenn das magnetische Aufzeichnungsmedium 10 gewickelt wird, der Einfluss auf die Oberfläche der magnetischen Schicht verringert werden und so eine nachteilige Wirkung auf die elektromagnetische Umwandlungscharakteristik unterdrückt werden. Die Handhabungseigenschaften und die elektromagnetische Umwandlungscharakteristik sind widersprüchliche Eigenschaften, doch die Oberflächenrauhigkeit Rab innerhalb des Zahlenbereichs ermöglicht ihre Kompatibilität.
• Die Oberflächenrauhigkeit Rab der Rückseite wird wie folgt erhalten. Zuerst wird das magnetische Aufzeichnungsmedium 10 mit einer Breite von 1/2 Inch hergestellt, und das magnetische Aufzeichnungsmedium 10 wird an einem Objektträger befestigt, wobei die Rückseite nach oben zeigt (das heißt, die magnetische Oberfläche wird an dem Objektträger befestigt), um es als Probenstück zu verwenden. Als Nächstes wird die Oberflächenrauhigkeit der Rückseite des Probenstücks durch das folgende berührungslose Rauheitsmessgerät mit Hilfe von optischer Interferenz gemessen.
  Vorrichtung: Berührungsloses Rauheitsmessgerät unter Nutzung von optischer Interferenz
  (VertScan R5500GL-M100-AC, berührungsloses Oberflächen- und Schichtquerschnittsform-Messsystem, hergestellt von Ryoka Systems Inc.)
  Objektivlinse: 20-fach (ungefähr 237 µm × 178 µm Sichtfeld)
  Auflösung: 640 Punkte × 480 Punkte
  Messmodus: Phase
  Wellenlängenfilter: 520 nm
  Oberflächenkorrektur: Korrektur durch quadratische Polynomnäherungsebene
• Wie oben beschrieben, wird die Oberflächenrauhigkeit an Positionen von wenigstens fünf Punkten in Längsrichtung und ein Durchschnittswert von jedem arithmetischen Mittel bestimmt.
• Rauigkeit Sa(nm), die automatisch aus einem Oberflächenprofil berechnet wird, das an jeder Position erhalten wird, wird als die Oberflächenrauigkeit R_ab(nm) der Rückseite bestimmt.
• ((Servospurbreite auf der Innenseite der Wicklung)-(Servospurbreite auf der Außenseite der Wicklung))
• Der Unterschied zwischen den Servospurbreiten auf der Innenseite der Wicklung und der Außenseite der Wicklung ist größer als 0 µm, bevorzugter Weise 0,01 µm oder mehr, stärker bevorzugt 0,02 µm oder mehr und noch mehr bevorzugt 0,05 µm oder mehr. Der Unterschied zwischen Servospurbreiten auf der Innenseite der Wicklung und der Außenseite der Wicklung kann zum Beispiel 0,10 µm oder mehr, 0,15 µm oder mehr oder 0,20 µm oder mehr betragen. Demzufolge kann das Auftreten von Falten auf dem um die Spule gewickelten magnetischen Aufzeichnungsmedium in der Kassette verhindert werden.
• Der Unterschied in der Servospurbreite zwischen der Innen- und Außenseite der Wicklung kann zum Beispiel 2,5 µm oder weniger, bevorzugter Weise 1,8 µm oder weniger und stärker bevorzugt 1,5 µm oder weniger, 1,0 µm oder weniger, 0,8 µm oder weniger oder 0,5 µm oder weniger betragen.
• Um den Unterschied zwischen den Servospurbreiten auf der Innen- und Außenseite der Wicklung zu erhalten, werden das Abweichungsausmaß T_inW der Servospurbreite auf der Innenseite der Wicklung des magnetischen Aufzeichnungsmediums bzw. das Abweichungsausmaß T_outW der Servospurbreite auf der Außenseite der Wicklung gemessen. Die Messung wird unter einer Umgebung einer Temperatur von 23 ± 3°C und einer relativen Feuchtigkeit von 50% ± 5% durchgeführt. Diese Abweichungsausmaße zeigen an, wie groß oder klein die Servospurbreiten sind in Bezug auf eine Standard-Servospurbreite. Ein Verfahren zum Messen der Abweichungsausmaße wird separat weiter unten beschrieben.
• In dieser Patentschrift bezieht sich auf der Basis einer Position, als Ausgangspunkt, 50 m entfernt vom Endbereich (im Folgenden als ein „innerer Endbereich bezeichnet“), eingerichtet auf der Spule (um die das magnetische Aufzeichnungsmedium gewickelt ist) in der magnetischen Aufzeichnungskassette, die Innenseite der Wicklung auf eine Region bis zu einer Position 10 m weg von der Ausgangsposition weiter in einer Richtung hin zum Endbereich (im Folgenden als ein „äußerer Endbereich“ bezeichnet) gegenüberliegend zum inneren Endbereich der zwei Endbereiche des magnetischen Aufzeichnungsmediums.
• In dieser Patentschrift bezieht sich auf der Basis einer Position, als Ausgangspunkt, 50 m entfernt vom äußeren Endbereich, die Außenseite der Wicklung auf eine Region bis zu einer Position, 10 m weg von der Ausgangsposition in einer Richtung hin zum inneren Endbereich zwischen den zwei Endbereichen des magnetischen Aufzeichnungsmediums.
• Die Innenseite und die Außenseite der Wicklung wird detaillierter beschrieben mit Bezug auf die 11. In der 11 ist ein innerer Endbereich E1 der Spule 3 der magnetischen Aufzeichnungskassette 1 vorgesehen. Eine Region zwischen einer Position A 50 m entfernt von dem inneren Endbereich E1 und einer Position B 10 m entfernt von der Position A hin zum äußeren Endbereich E2 ist die Innenseite der Wicklung. Eine Region zwischen einer Position C 50 m weg vom äußeren Endbereich E2 hin zum inneren Endbereich E1 und eine Position D 10 m weiter weg von der Position C hin zum inneren Endbereich E1 ist die Außenseite der Wicklung.
• Das Abweichungsausmaß T_inW der Servospurbreite auf der Innenseite der Wicklung wird gemessen, während das in der magnetischen Aufzeichnungskassette untergebrachte magnetische Aufzeichnungsmedium laufen gelassen wird, so dass es in die magnetische Aufzeichnungs- und Wiedergabevorrichtung gezogen wird (das heißt, während das magnetische Aufzeichnungsmedium in Vorwärtsrichtung laufen gelassen wird). In der Messung beträgt die an das magnetische Aufzeichnungsmedium angelegte Spannung 0,55 N, und die Laufgeschwindigkeit beträgt 3 bis 6 m/s. Der Durchschnittswert der Abweichungsausmaße der Servospurbreiten, gemessen über die Region von 10 m der Innenseite der Wicklung, wird als ein Abweichungsausmaß T_inW der Servospurbreite der Innenseite der Wicklung genutzt für den Erhalt des oben genannten Unterschieds. Der Durchschnittswert wird durch einfache Mittelwertbildung berechnet.
• Die Messung des Abweichungsausmaßes T_outW der Servospurbreite auf der Außenseite der Wicklung wird ebenfalls durchgeführt, während das magnetische Aufzeichnungsmedium in Vorwärtsrichtung laufen gelassen wird, ähnlich wie bei der Innenseite der Wicklung. Der Durschnittswert der Abweichungsausmaße der Servospurbreiten, gemessen über die Region von 10 m der Außenseite der Wicklung, wird als ein Abweichungsausmaß T_outW der Servospurbreite der Außenseite der Wicklung genutzt für den Erhalt des oben genannten Unterschieds. Der Durchschnittswert wird auch durch einfache Mittelwertbildung berechnet.
• Der Unterschied (T_inW-T_outW) wird durch Subtrahieren des Abweichungsausmaßes T_outW der Servospurbreite auf der Außenseite der Wicklung von dem Abweichungsausmaß T_inW der Servospurbreite auf der Innenseite der wie oben beschrieben erhaltenen Wicklung erhalten, und der oben genannte Unterschied ist (Servospurbreite auf der Innenseite der Wicklung) - (Servospurbreite auf der Außenseite der Wicklung).
• (Abweichungsausmaß der Servospurbreite)
• Ein Verfahren zur Messung eines Abweichungsausmaßes der Servospurbreite wird mit Bezug auf die 12A bis 12C beschrieben. Die 12A ist eine schematische Darstellung eines Datenbands und eines Servobands, die in einer magnetischen Schicht eines magnetischen Aufzeichnungsbandes gebildet wurden. Wie in der 12A gezeigt wird, hat die magnetische Schicht vier Datenbänder d0 bis d3. Die magnetische Schicht hat eine Gesamtzahl von fünf Servobändern S0 bis S4, so dass jedes Datenband sich zwischen zwei Servobändern befindet. Wie in der 12B gezeigt wird, hat jedes Servoband sich wiederholende Rahmeneinheiten (Frame Units), die jeweils fünf Servosignale S5a, die um einen zuvor bestimmten Winkel 91 geneigt sind, fünf Servosignale S5b, die um den gleichen Winkel in die entgegengesetzte Richtung des Servosignals S5a geneigt sind, vier Servosignale S4a, die um einen zuvor bestimmten Winkel 91 geneigt sind und vier Servosignale S4b, die um den gleichen Winkel in die entgegengesetzte Richtung des Servosignals S4a geneigt sind, beinhalten. Der Winkel θ1 kann zum Beispiel 5° bis 25° und insbesondere 11° bis 20° betragen.
• Das Abweichungsausmaß der Servospurbreite, welches in dem oben genannten Messverfahren gemessen worden ist, ist das Abweichungsausmaß der Servospurbreite zwischen zwei Servospuren S1 und S2, die das zweite Datenband d1 von oben in der 12A in Bezug auf eine Standard-Servospurbreite einschließen.
• In einem Fall, wo zwei Servospuren S1 und S2, die das Datenband d1 einschließen, zum Zeitpunkt des Antriebs reproduziert werden, wird eine Wellenform, wie in der 12C gezeigt, für jede Servospur durch ein digitales Oszilloskop erhalten (WAVEPRO 960, hergestellt von der Lecroy Corporation).
• Eine Zeit zwischen den Timingsignalen wird von der Wellenform erhalten, die durch Reproduktion der Servospur S1 erhalte wurde, und eine Entfernung zwischen einem führenden Magnetstreifen von Burst A und einem führenden Magnetstreifen von Burst B in der Servospur S1 wird aus der Zeit und einer Bandlaufgeschwindigkeit berechnet. Zum Beispiel wird, wie in der 12B gezeigt, eine Entfernung L1 zwischen einen führenden Magnetstreifen (der am weitesten links liegende Magnetstreifen unter den fünf Magnetstreifen) von Burst A S5a-1 und einem führenden Magnetstreifen (der am weitesten links liegende Magnetstreifen unter den fünf Magnetstreifen) von Burst B S5b-1 berechnet.
• Gleichsam wird eine Zeit zwischen den Timingsignalen aus einer Wellenform erhalten, die durch Reproduktion der Servospur S2 erhalten wurde, und eine Entfernung zwischen dem führenden Magnetstreifen von Burst A und dem führenden Magnetstreifen von Burst B in der Servospur S2 wird aus der Zeit und einer Bandlaufgeschwindigkeit berechnet. Zum Beispiel wird, wie in der 11(b) gezeigt wird, eine Entfernung L2 zwischen einem führenden Magnetstreifen von Burst A S5a-2 und einem führenden Magnetstreifen von Burst B S5b-2 berechnet.
• Zum Beispiel ist, in einem Fall, wo das magnetische Aufzeichnungsband in der Breitenrichtung vergrößert ist, zum Beispiel eine Zeit zwischen Timingsignalen, die durch Reproduktion der Servospur S1 erhalten wurde, verlängert und als ein Ergebnis kann die berechnete Entfernung L1 ebenfalls vergrößert sein. In einem Fall, wo das magnetische Aufzeichnungsband in Breitenrichtung verkleinert ist, kann die berechnete Entfernung L1 verringert sein. Deshalb kann unter Verwendung der Entfernung bzw. Distanz L1, der Entfernung bzw. Distanz L2 und eines Azimutwinkels das Abweichungsausmaß der Servospurbreite erhalten werden. Das Abweichungsausmaß der Servospurbreite wird aus der folgenden Gleichung erhalten. $$\begin{array}{l}\left(\text{Abweichungsausmaß der Servospurbreite}\right)=\left\{\left(\text{L1}-\text{L2}\right)/2\right\}\times \\ \text{tan}\left(90°-\mathrm{\theta }1\right)\end{array}$$

  
• In dieser Gleichung sind L1 und L2 die Entfernungen L1 und L2, die oben beschrieben werden, und θ1 ist der Neigungswinkel 91, der oben beschrieben wurde und der ebenfalls als ein Azimutwinkel bezeichnet wurde. 91 wird durch Entwickeln des magnetischen Aufzeichnungsbands, welches aus der Kassette entnommen wurde, mit FERRICOLLOID-Entwickler und unter Verwendung eines Universalwerkzeug-Mikroskops (TOPCON TUM-220ES) und eines Datenverarbeitungsgeräts (TOPCON CA-1B) erhalten.
• Das Abweichungsausmaß der Servospurbreite ist ein Änderungsausmaß in Bezug auf eine Standard-Servospurbreite. Die Standard-Servospurbreite kann gleich der Servo-Führungskopfbreite der magnetischen Aufzeichnungs- und Wiedergabevorrichtung sein und kann, zum Beispiel gemäß der Art des magnetischen Aufzeichnungsmediums 10, wie ein Standard, dem das magnetische Aufzeichnungsmedium 10 folgt, und dergleichen bestimmt werden.
• Es ist anzumerken, dass die Servospurbreite eingestellt werden kann und zwar zum Beispiel wie folgt. Um eine Verzerrung abzumildern, die in dem magnetischen Aufzeichnungsmedium 10 auftritt, kann die Wickelspannung in einem Trocknungsverfahren des magnetischen Aufzeichnungsmediums 10 und/oder einem Kalandrierungsverfahren (Erhitzungsbereich) verringert werden. Ferner kann, um die Verzerrung in einem Pfannkuchen-Zustand und/oder einem Kassettenzustand nach dem Schneiden abzumildern, das magnetische Aufzeichnungsmedium 10 für eine lange Zeit bei einer Temperatur von 55°C oder höher gelagert werden. Die Servospurbreite kann durch Verringerung der Verzerrung auf diese Art eingestellt werden.
• (Servospurbreite größer als die Servo-Führungskopfbreite)
• Das magnetische Aufzeichnungsmedium 10 hat bevorzugter Weise eine Servospurbreite, die größer ist als der Servo-Führungskopfbreite der magnetischen Aufzeichnungs- und Wiedergabevorrichtung, in welche die magnetische Aufzeichnungskassette 1 geladen wird. Die Servospurbreite ist eine Servospurbreite zwischen den Servospuren S1 und S2, die oben beschrieben wurden. Die Servo-Führungskopfbreite ist eine Breite zweier benachbarter Servosignal-Magnetlesekopf-Lücken, die in der magnetischen Aufzeichnungs- und Wiedergabevorrichtung eingeschlossen ist, und die Servosignale zweier benachbarter Servobänder werden durch die zwei entsprechenden benachbarten Servosignal-Magnetlesekopf-Lücken abgelesen. Die Servo-Führungskopfbreite kann zum Beispiel die Standard-Servospurbreite haben, die oben beschrieben ist.
• Zum Beispiel werden das Abweichungsausmaß T_inW der Servospurbreite auf der Innenseite der Windung und das Abweichungsausmaß T_outW der Servospurbreite auf der Außenseite der Windung unter Verwendung der Servo-Führungskopfbreite als Standard-Servospurbreite gemessen, und in einem Fall, wo
  beide der gemessenen Abweichungsausmaße positive Werte sind (zum Beispiel mehr als 0,00 pm), wird bestimmt, dass das magnetische Aufzeichnungsmedium eine Servospurbreite größer als die Servo-Führungskopfbreite aufweist. In einem Fall, wo ein Abweichungsausmaß 0 oder weniger beträgt, oder in einem Fall, wo das Abweichungsausmaß beider 0 oder weniger beträgt, wird bestimmt, dass das magnetische Aufzeichnungsmedium keine Servospurbreite größer als die Servo-Führungskopfbreite aufweist.
• Bevorzugter Weise betragen sowohl das Abweichungsausmaß T_inW der Servospurbreite auf der Innenseite der Windung und das Abweichungsausmaß T_outW der Servospurbreite auf der Außenseite der Windung bevorzugter Weise 0,01 µm oder mehr, stärker bevorzugt 0,05 µm oder mehr und noch mehr bevorzugt 0,10 µm oder mehr.
• Das Abweichungsausmaß T_inW der Servospurbreite auf der Innenseite der Windung und das Abweichungsausmaß T_outW der Servospurbreite auf der Außenseite der Windung betragen beide zum Beispiel 5,0 µm oder weniger, stärker bevorzugt 4,0 µm oder weniger und noch mehr bevorzugt 3,0 µm oder weniger oder 2,0 µm oder weniger oder 1,0 µm oder weniger.
• Die Messung dieser Abweichungsausmaße wird wie oben beschrieben durchgeführt.
• (Koerzitivkraft Hc)
• Die Koerzitivkraft Hc, gemessen in Dickenrichtung (vertikaler Richtung) des magnetischen Aufzeichnungsmediums 10, beträgt bevorzugter Weise 220 kA/m bis 310 kA/m, stärker bevorzugt 230 kA/m bis 300 kA/, noch mehr bevorzugt 240 kA/m bis 290 kA/m. Wenn die Koerzitivkraft Hc 220 kA/m oder mehr beträgt, erreicht die Koerzitivkraft Hc eine ausreichende Größenordnung, und somit kann eine Verschlechterung des magnetischen Signals, welches auf einer benachbarten Spur aufgezeichnet worden ist, aufgrund eines magnetischen Streufeldes (leakage field) aus dem Aufzeichnungskopf unterdrückt werden. Deshalb kann eine bessere SNR erhalten werden. Andererseits wird, wenn die Koerzitivkraft Hc 310 kA/m oder weniger beträgt, eine Sättigungsaufzeichnung durch den Aufzeichnungskopf gefördert werden und somit kann eine bessere SNR erhalten werden.
• Die Koerzitivkraft Hc wird wie folgt erhalten. Zuerst wird eine Messprobe aus dem langförmigen magnetischen Aufzeichnungsmedium 10 ausgeschnitten, und ein M-H-Loop bzw. -Schleife der gesamten Messprobe wird in Dickenrichtung der Messprobe (Dickenrichtung des magnetischen Aufzeichnungsmediums 10) unter Verwendung eines Vibrating-Sample-Magnetometers (VSM) gemessen. Als Nächstes wird der Beschichtungsfilm (Grundschicht 12, magnetische Schicht 13 etc.) unter Verwendung von Aceton, Ethanol oder dergleichen beseitigt, um nur die Basisschicht 11 für die Hintergrundkorrektur übrig zu lassen, und der M-H-Loop der Basisschicht 11 wird in Dickenrichtung der Basisschicht 11 (die Dickenrichtung des magnetischen Aufzeichnungsmediums 10) unter Verwendung des VSM gemessen. Danach wird der M-H-Loop der Basisschicht 11 von dem M-H-Loop der gesamten Messprobe subtrahiert, um einen M-H-Loop nach der Hintergrundkorrektur zu erhalten. Die Koerzitivkraft Hc wird von dem erhaltenen M-H-Loop erhalten. Es ist anzumerken, dass angenommen wird, dass die Messung des M-H-Loops über die Gänze bei 25°C durchgeführt wird. Ferner wird ebenfalls angenommen, dass eine „entmagnetisierende Feldkorrektur“, wenn der M-H-Loop in Dickenrichtung (vertikaler Richtung) des magnetischen Aufzeichnungsmediums 10 gemessen wird, nicht durchgeführt wird.
• (Verhältnis R von Koerzitivkraft Hc(50) und Koerzitivkraft Hc(25))
• Das Verhältnis R (=(Hc(50)/Hc(25)) × 100) zwischen der Koerzitivkraft Hc(50), gemessen bei 50°C in der Dickenrichtung (vertikaler Richtung) des magnetischen Aufzeichnungsmediums 10, zu der Koerzitivkraft Hc(25), gemessen bei 25°C in der Dickenrichtung des magnetischen Aufzeichnungsmediums 10, ist bevorzugter Weise 95% oder mehr, stärker bevorzugt 96% oder mehr, noch mehr bevorzugt 97% oder mehr und besonders bevorzugter Weise 98% oder mehr. Wenn das Verhältnis R 95% oder mehr beträgt, ist die Temperaturabhängigkeit der Koerzitivkraft Hc klein, und somit kann eine Verschlechterung der SNR unter einer hochtemperaturigen Umgebung unterdrückt werden.
• Die Koerzitivkraft Hc(25) wird auf eine Art und Weise erhalten, die dem Messverfahren der Koerzitivkraft Hc ähnlich ist. Ferner wird die Koerzitivkraft Hc(50) auf eine Art und Weise erhalten, die dem Messverfahren der Koerzitivkraft Hc ähnlich ist, außer dass die M-H-Loops der Messprobe und die Basisschicht 11 alle bei 50°C gemessen werden.
• (Rechtwinkligkeitsverhältnis S1, gemessen in Längsrichtung)
• Das Rechtwinkligkeitsverhältnis S1, gemessen in Längsrichtung (Laufrichtung) des magnetischen Aufzeichnungsmediums 10, beträgt bevorzugter Weise 35% oder weniger, stärker bevorzugt 27% oder weniger und noch mehr bevorzugt 20% oder weniger. Wenn das Rechtwinkligkeitsverhältnis S1 35% oder weniger beträgt, ist eine vertikale Ausrichtung des magnetischen Pulvers ausreichend hoch und deshalb kann ein besseres SNR erhalten werden. Daher kann eine bessere elektromagnetische Umwandlungscharakteristik erhalten werden. Ferner wird die Form des Servosignals verbessert, und daher kann die Kontrolle auf der Antriebsseite leichter durchgeführt werden.
• In dieser Patentanmeldung kann die rechtwinklige Ausrichtung des magnetischen Aufzeichnungsmediums meinen, dass das Rechtwinkligkeitsverhältnis S1 des magnetischen Aufzeichnungsmediums innerhalb des oben genannten Zahlenbereichs liegt (zum Beispiel 35% oder weniger). Das magnetische Aufzeichnungsmedium gemäß der Ausführungsform der vorliegenden Technologie ist bevorzugter Weise perpendikular bzw. senkrecht ausgerichtet.
• Das Rechtwinkligkeitsverhältnis S1 wird wie folgt erhalten. Zuerst wird eine Messprobe aus einem langformigen magnetischen Aufzeichnungsmedium 10 ausgeschnitten, und ein M-H-Loop der gesamten Messprobe entsprechend der Längsrichtung (Laufrichtung) des magnetischen Aufzeichnungsmediums 10 wird unter Verwendung des VSM gemessen. Als Nächstes wird der Beschichtungsfilm (Grundschicht 12, magnetische Schicht 13 etc.) unter Verwendung von Aceton, Ethanol oder dergleichen beseitigt, um nur die Basisschicht 11 für die Hintergrundkorrektur übrig zu lassen, und der M-H-Loop der Basisschicht 11 entsprechend der Längsrichtung der Basisschicht 11 (Laufrichtung des magnetischen Aufzeichnungsmediums 10) wird unter Verwendung des VSM gemessen. Danach wird der M-H-Loop der Basisschicht 11 von dem M-H-Loop der gesamten Messprobe subtrahiert, um einen M-H-Loop nach Hintergrundkorrektur zu erhalten. Das Rechtwinkligkeitsverhältnis S1(%) wird durch Substitution einer Sättigungsmagnetisierung Ms(emu) und Restmagnetisierung Mr(emu) des erhaltenen M-H-Loops in die folgende Gleichung berechnet. Es ist anzumerken, dass angenommen wird, dass die Messung des M-H-Loops gänzlich bei 25°C durchgeführt wird. $$\text{Rechtwinkligkeitsverh}\ddot{\text{a}}\text{ltnis S1}\left(\%\right)=\left(\text{Mr}/\text{Ms}\right)\times 100$$

  
• (Rechtwinkligkeitsverhältnis S2, gemessen in vertikaler Richtung)
• Das Rechtwinkligkeitsverhältnis S2, gemessen in der vertikalen Richtung (Dickenrichtung) des magnetischen Aufzeichnungsmediums 10 ist bevorzugter Weise 65% oder mehr, stärker bevorzugt 73% oder mehr und noch mehr bevorzugt 80% oder mehr. Wenn das Rechtwinkligkeitsverhältnis S2 65% oder mehr beträgt, ist die vertikale Ausrichtung des magnetischen Pulvers ausreichend hoch und daher kann eine bessere SNR erhalten werden. Deshalb kann eine bessere elektromagnetische Umwandlungscharakteristik erhalten werden. Ferner wird eine Servosignalform verbessert, was es einfacher macht, eine Antriebsseite zu kontrollieren.
• In dieser Patentanmeldung kann die senkrechte Ausrichtung des magnetischen Aufzeichnungsmediums meinen, dass das Rechtwinkligkeitsverhältnis S2 des magnetischen Aufzeichnungsmediums innerhalb des oben genannten Zahlenbereichs liegt (zum Beispiel 65% oder mehr).
• Das Rechtwinkligkeitsverhältnis S2 wird auf eine ähnliche Art und Weise wie das Rechtwinkligkeitsverhältnis S1 erhalten, außer dass die M-H-Loops in vertikaler Richtung (Dickenrichtung) des magnetischen Aufzeichnungsbands 10 und der Basisschicht 11 gemessen werden. Es ist anzumerken, dass in der Messung des Rechtwinkligkeitsverhältnisses S2 angenommen wird, dass die „entmagnetisierende Feldkorrektur“, wenn der M-H-Loop in der vertikalen Richtung des magnetischen Aufzeichnungsmediums 10 gemessen wird, nicht durchgeführt wird.
• Das Rechtwinkligkeitsverhältnis S1 und S2 kann auf einen gewünschten Wert durch, zum Beispiel, Einstellen der Stärke eines angewandten magnetischen Feldes auf die magnetische Schicht, die das Überzugsmaterial bildet, einer Anwendungszeit des magnetischen Feldes auf das magnetische Pulver in der magnetischen Schicht, die das Überzugsmaterial bildet und einer Konzentration des Feststoffgehalts in der magnetischen Schicht, die das Überzugsmaterial bildet, gesetzt werden. Speziell nimmt, zum Beispiel, so wie die Stärke des magnetischen Feldes zunimmt, das Rechtwinkligkeitsverhältnis S1 ab, während das Rechtwinkligkeitsverhältnis S2 zunimmt. Ferner nimmt, so wie die Anwendungszeit des magnetischen Feldes länger ist, das Rechtwinkligkeitsverhältnis S1 ab, während das Rechtwinkligkeitsverhältnis S2 zunimmt. Ferner nimmt, so wie die Dispersionsrate des magnetischen Pulvers sich verbessert, das Rechtwinkligkeitsverhältnis S1 ab, während das Rechtwinkligkeitsverhältnis S2 zunimmt. Ferner nimmt, so wie die Konzentration des Feststoffgehalts abnimmt, das Rechtwinkligkeitsverhältnis S1 ab, während das Rechtwinkligkeitsverhältnis S2 zunimmt. Es ist anzumerken, dass das oben genannte Verfahren zur Einstellung bzw. Adjustierung allein oder in Kombination mit zwei oder mehreren verwendet werden kann.
• (SFD)
• In einer Switching-Field-Distribution (SFD) -Kurve des magnetischen Aufzeichnungsmediums 10 beträgt ein Peakverhältnis X/Y einer Hauptpeakhöhe X und einer Höhe Y eines Sub-Peaks in der Nähe der Magnetfeldnullstelle ist bevorzugter Weise 3,0 oder mehr, stärker bevorzugt 5,0 oder mehr, noch mehr bevorzugt 7,0 oder mehr, besonders bevorzugter Weise 10,0 oder mehr und am meisten bevorzugt 20,0 oder mehr (siehe 4). Wenn das Peakverhältnis X/Y 3,0 oder mehr beträgt, ist es möglich, die Inklusion einer großen Menge an Koerzitivkraftkomponente zu unterdrücken (zum Beispiel weiche magnetische Teilchen, superparamagnetische Teilchen etc.), die einzigartig für ε-Eisenoxidteilchen außer den ε-Eisenoxidteilchen ist, die zu der eigentlichen Aufzeichnung in dem magnetischen Pulver beitragen. Deshalb wird eine Verschlechterung der Magnetisierungssignale, die auf benachbarten Spuren aufgezeichnet sind, aufgrund eines magnetischen Streufeldes (leakage field) aus dem Aufzeichnungskopf unterdrückt, und somit kann eine bessere SNR erhalten werden. Eine obere Schranke für das Peakverhältnis X/Y ist nicht spezifisch beschränkt, beträgt aber zum Beispiel 100 oder weniger.
• Das Peakverhältnis X/Y wird wie folgt erhalten. Zuerst wird ein M-H-Loop nach Hintergrundkorrektur auf eine Art und Weise erhalten, die ähnlich ist zu dem Verfahren zur Messung der Koerzitivkraft Hc, die oben beschrieben wurde. Als Nächstes wird eine SFD-Kurve aus dem oben erhaltenen M-H-Loop berechnet. Die Berechnung der SFD-Kurve kann unter Verwendung eines Programmes, welches dem Messungsgerät beigefügt ist, oder unter Verwendung anderer Programme durchgeführt werden. Unter der Annahme, dass ein Absolutwert eines Punktes, an welchem die berechnete SFD-Kurve die Y-Achse durchschreitet (dM/dH), „Y“ ist und eine Höhe des Hauptpeaks, die in der Nähe der Koerzitivkraft Hc in dem M-H-Loop zu sehen ist, „X“ ist, wird ein Peakverhältnis X/Y berechnet. Es ist anzumerken, dass die Messung des M-H-Loops bei 25°C durchgeführt wird und zwar auf eine Art und Weise, die ähnlich zu dem Verfahren zur Messung der Koerzitivkraft Hc ist, die oben beschrieben wurde. Ferner wird ebenfalls angenommen, dass eine „entmagnetisierende Feldkorrektur“, wenn der M-H-Loop in der Dickenrichtung (vertikaler Richtung) des magnetischen Aufzeichnungsmediums 10 gemessen wird, nicht durchgeführt wird.
• (Aktivierungsvolumen Vact)
• Das Aktivierungsvolumen Vact beträgt bevorzugter Weise 8000 nm³ oder weniger, stärker bevorzugt 6000 nm³ oder weniger, noch mehr bevorzugt 5000 nm³ oder weniger, besonders bevorzugter Weise 4000 nm³ oder weniger und am meisten bevorzugt 3000 nm³ oder weniger. Wenn das Aktivierungsvolumen Vact 8000 nm³ oder weniger beträgt, wird der Dispersionszustand des magnetischen Pulvers verbessert, und somit kann eine Bit-Reversal-Region steil gemacht und eine Verschlechterung des Magnetisierungssignals, welches auf der benachbarten Spur aufgezeichnet ist, aufgrund eines magnetischen Streufeldes aus dem Aufzeichnungskopf unterdrückt werden. Deshalb gibt es eine Möglichkeit, dass eine bessere SNR nicht erhalten werden kann.
• Das Aktivierungsvolumen Vact ist wird durch die folgende Gleichung erhalten, die von Street & Woolley abgeleitet worden ist. $${\text{V}}_{\text{act}}\left({\text{nm}}^3\right)={\text{k}}_{\text{B}}\times \text{T}\times {\text{X}}_{\text{irr}}/\left({\mathrm{\mu }}_0\times \text{Ms}\times \text{S}\right)$$

  

  (wobei k_B: Boltzmann-Konstante (1,38×10^-23J/K), T: Temperatur (K), X_irr: irreversible magnetische Suszeptibilität, µ₀: Permeabilität im Vakuum, S: magnetischer Viskositätskoeffizient, Ms: Sättigungsmagnetisierung (emu/cm³))
• Die irreversible magnetische Suszeptibilität X_irr, die Sättigungsmagnetisierung Ms und der magnetische Viskositätskoeffizient S, die in der oben genannten Gleichung substituiert werden, werden wie folgt unter Verwendung des VSM erhalten. Es ist anzumerken, dass die Messrichtung durch das VSM die Dickenrichtung (vertikaler Richtung) des magnetischen Aufzeichnungsmediums 10 ist. Ferner wird angenommen, dass die Messung durch das VSM bei 25°C für die Messprobe durchgeführt wird, die aus dem langförmigen magnetischen Aufzeichnungsmedium 10 ausgeschnitten worden ist. Ferner wird ebenfalls angenommen, dass eine „entmagnetisierende Feldkorrektur“, wenn der M-H-Loop in Dickenrichtung (vertikaler Richtung) des magnetischen Aufzeichnungsmediums 10 gemessen wird, nicht durchgeführt wird.
• (Irreversible magnetische Suszeptibilität X_irr)
• Die irreversible magnetische Suszeptibilität X_irr wird als eine Neigung in der Nähe der residualen Koerzitivkraft Hr in der Neigung der residualen Magnetisierungskurve (DCD-Kurve) definiert. Zuerst wird ein Magnetfeld von -1193 kA/m (15 kOe) auf das gesamte magnetische Aufzeichnungsmedium 10 angewandt, und das Magnetfeld kehrt auf Null zurück, um einen residualen Magnetisierungszustand zu erreichen. Danach wird ein Magnetfeld von etwa 15,9 kA/m (200 Oe) wird in die entgegengesetzte Richtung angewandt, und das Magnetfeld wird erneut auf Null zurückgesetzt, und das Ausmaß der Restmagnetisierung wird gemessen. Danach wird gleichsam eine Messung beim Anlegen eines Magnetfeldes, welches 15,9 kA/m größer ist, als das unmittelbar zuvor angewandte Magnetfeld und Zurückkehren des Magnetfelds auf Null wiederholt durchgeführt, und eine DCD-Kurve wird durch grafisches Auftragen einer Restmagnetisierungsmenge gegen das angewandte Magnetfeld gemessen. Aus der erhaltenen DCD-Kurve wird der Punkt, an welchem die Magnetisierungsmenge Null ist als die residuale Koerzitivkraft Hr gesetzt, und eine Neigung der DCD-Kurve in dem jeweiligen Magnetfeld wird durch erneutes Ableiten der DCD-Kurve erhalten. In der Neigung der DCD-Kurve beträgt die Neigung nahe der residualen Koerzitivkraft Hr X_irr.
• (Sättigungsmagnetisierung Ms)
• Zuerst wird ein M-H-Loop des gesamten magnetischen Aufzeichnungsmediums 10 (Messprobe) in Dickenrichtung des magnetischen Aufzeichnungsmediums 10 gemessen. Als Nächstes wird der Beschichtungsfilm (Grundschicht 12, magnetische Schicht 13, etc.) unter Verwendung von Aceton, Ethanol oder dergleichen beseitigt, um nur die Basisschicht 11 für die Hintergrundkorrektur übrig zu lassen, und der M-H-Loop der Basisschicht 11 wird in Dickenrichtung der Basisschicht 11 gleichsam gemessen. Danach wird der M-H-Loop von der Basisschicht 11 von den M-H-Loops des gesamten magnetischen Aufzeichnungsmediums 10 abgezogen, um einen M-H-Loop nach der Hintergrundkorrektur zu erhalten. Ms (emu/cm³) wird aus dem Wert der Sättigungsmagnetisierung Ms(emu) des erhaltenen M-H-Loops und dem Volumen (cm³) der magnetischen Schicht 13 in der Messprobe berechnet. Es ist anzumerken, dass das Volumen der magnetischen Schicht 13 durch Multiplikation der Fläche der Messprobe mit der durchschnittlichen Dicke der magnetischen Schicht 13 erhalten wird. Ein Verfahren zur Berechnung der durchschnittlichen Dicke der magnetischen Schicht 13, die zur Berechnung des Volumens der magnetischen Schicht 13 notwendig ist, wird später beschrieben.
• (Magnetischer Viskositätskoeffizient S)
• Zuerst wird ein magnetisches Feld von -1193 kA/m (15 kOe) auf das gesamte magnetische Aufzeichnungsmedium 10 (Messprobe) angewandt, und das Magnetfeld kehrt auf Null zurück, um einen Restmagnetisierungszustand zu erreichen. Danach wird in die entgegengesetzte Richtung ein Magnetfeldäquivalent für den Wert der residualen Koerzitivkraft Hr, erhalten aus der DCD-Kurve, angewandt. Mit dem angewandten Magnetfeld wird das Ausmaß an Magnetisierung kontinuierlich bei konstanten Zeitintervallen für 1000 Sekunden gemessen. Eine Beziehung zwischen der Zeit t und dem Ausmaß der Magnetisierung M(t), die somit erhalten worden ist, wird mit der folgenden Gleichung verglichen, um den magnetischen Viskositätskoeffizienten S zu berechnen. $$\text{M}\left(\text{t}\right)=\text{M0}+\text{S}\times \text{ln}\left(\text{t}\right)$$

  

  (wobei M(t) : Ausmaß der Magnetisierung zur Zeit t, M0: anfängliches Ausmaß der Magnetisierung, S: magnetischer Viskositätskoeffizient, ln(t): natürlicher Logarithmus der Zeit)
• (Arithmetischer Mittenrauwert Ra)
• Der arithmetische Mittenrauwert Ra der magnetischen Oberfläche beträgt bevorzugter Weise 2,5 nm oder weniger und stärker bevorzugt 2,0 nm oder weniger. Wenn Ra 2,5 nm oder weniger beträgt, kann eine bessere SNR erhalten werden.
• Der arithmetische Mittenrauwert Ra wird wie folgt erhalten. Zuerst wird die Oberfläche der Seite, auf welcher die magnetische Schicht 13 bereitgestellt wird, unter Verwendung eines Rasterkraftmikroskops (AFM, Atomkraftmikroskop) (Dimension Icon, hergestellt von Bruker Corporation) beobachtet, um ein Querschnittsprofil zu erhalten. Als Nächstes wird der arithmetische Mittenrauwert Ra aus dem erhaltenen Querschnittsprofil gemäß JIS B0601: 2001 erhalten.
• Herstellungsverfahren des magnetischen Aufzeichnungsmediums
• Als Nächstes wird ein Herstellungsverfahren für das magnetische Aufzeichnungsmedium 10 mit der oben beschriebenen Konfiguration beschrieben. Zuerst wird ein die Grundschicht bildendes Überzugsmaterial durch Kneten und/oder Dispergieren eines nichtmagnetischen Pulvers, eines Bindemittels oder dergleichen in einem Lösemittel hergestellt. Anschließend wird das die magnetische Schicht bildende Überzugsmaterial durch Kneten und/oder Dispergieren des magnetischen Pulvers und des Bindemittels in einem Lösemittel hergestellt. Für die Herstellung des die magnetische Schicht bildenden Überzugsmaterials und des die Grundschicht bildenden Überzugsmaterials können, zum Beispiel, die folgenden Lösemittel, eine Dispergiervorrichtung und eine Knetvorrichtung verwendet werden.
• Beispiele von für die Herstellung des oben beschriebenen Überzugsmaterials verwendeten Lösemitteln schließen Ketonlösemittel, wie Aceton, Methylethylketon, Methylisobutylketon, Cyclohexanon und dergleichen; Alkohollösemittel, wie Methanol, Ethanol und Propanol; Esterlösemittel, wie Methylacetat, Ethylacetat, Butylacetat, Propylacetat, Ethyllactat, Ethylenglycolacetat und dergleichen; Etherlösemittel, wie Diethylenglycoldimethylether, 2-Ethoxyethanol, Tetrahydrofuran, Dioxan und dergleichen; aromatische Kohlenwasserstofflösemittel, wie Benzol, Toluol und Xylol; und halogenierte Kohlenwasserstofflösemittel, wie Methylenchlorid, Ethylenchlorid, Tetrachlorkohlenstoff, Chloroform, Chlorbenzol und dergleichen ein. Eines dieser kann verwendet werden, oder eine Mischung zweier oder mehrerer davon kann verwendet werden.
• Als die Knetvorrichtung, die in der Herstellung des Überzugsmaterialpräparats, welches oben beschrieben wurde, verwendet wird, kann zum Beispiel eine Knetvorrichtung, wie ein kontinuierlicher biaxialer Kneter, ein kontinuierlicher biaxialer Kneter, der in der Lage ist, in mehreren Schritten zu verdünnen, ein Kneter, ein Presskneter und ein Rollenkneter verwendet werden, die vorliegende Technologie ist aber nicht spezifisch auf diese beschränkt. Ferner schließen Beispiele der Dispergiervorrichtung, die in der Herstellung des Überzugsmaterialpräparats verwendet wird, das oben beschrieben wird, schließen Walzenmühlen, Kugelmühlen, horizontale Sandmühlen, vertikale Sandmühlen, Spike-Mühlen, Stiftmühlen, Turmmühlen, Perlmühlen (zum Beispiel DCP Mill, hergestellt von Nippon Eirich Co., Ltd., etc.), einen Homogenisator, ein Ultraschall-Dispergiergerät oder dergleichen ein, die verwendet werden können, wobei die vorliegende Technologie nicht spezifisch auf diese beschränkt ist.
• Als Nächstes wird das Grundschicht-bildende Überzugsmaterial auf eine Hauptfläche der Basisschicht 11 aufgetragen und getrocknet, um die Grundschicht 12 zu bilden. Anschließend wird das die magnetische Schicht bildende Überzugsmaterial auf die Grundschicht 12 aufgetragen und getrocknet, um die magnetische Schicht 13 auf der Grundschicht 12 zu bilden. Es ist anzumerken, dass zum Zeitpunkt der Trocknung das magnetische Pulver magnetisch in die Dickenrichtung der Basisschicht 11 durch, zum Beispiel, eine Solenoidspule ausgerichtet ist. Ferner kann, zum Zeitpunkt der Trocknung, das magnetische Pulver magnetisch in Längsrichtung (Laufrichtung) der Basisschicht 11 ausgerichtet sein und dann magnetisch in die Dickenrichtung der Basisschicht 11 durch eine Solenoidspule ausgerichtet werden. Nach der Bildung der magnetischen Schicht 13 wird die Rückseitenschicht 14 auf der anderen Hauptfläche der Basisschicht 11 gebildet. Demzufolge wird das magnetische Aufzeichnungsmedium 10 erhalten.
• Danach wird das erhaltene magnetische Aufzeichnungsmedium 10 um einen Kern mit großem Durchmesser erneut gewunden und eine Härtungsbehandlung wird daran durchgeführt. Schließlich wird ein Kalandrieren auf dem magnetischen Aufzeichnungsmedium 10 durchgeführt, und danach wird das magnetische Aufzeichnungsmedium 10 in eine vorherbestimmte Breite (zum Beispiel ½ Zoll breit) geschnitten. Als Ergebnis kann ein magnetisches Aufzeichnungsmedium 10 einer gewünschten länglichen Form erhalten werden.
• Aufzeichnungs- und Wiedergabevorrichtung
• [Konfiguration der Aufzeichnungs- und Wiedergabevorrichtung]
• Als Nächstes wird ein Beispiel einer Konfiguration einer Aufzeichnungs- und Wiedergabevorrichtung 30, welche die Funktion des Aufzeichnens und Wiedergebens des magnetischen Aufzeichnungsmediums 10 erfüllt, das in der magnetischen Aufzeichnungskassette 1 mit der oben beschriebenen Konfiguration untergebracht ist, mit Bezug auf die 5 beschrieben.
• Die Aufzeichnungs- und Wiedergabevorrichtung 30 hat eine Konfiguration, die zum Anpassen der in der Längsrichtung des magnetischen Aufzeichnungsmediums 10 ausgeübten Spannung fähig ist. Darüber hinaus hat die Aufzeichnungs- und Wiedergabevorrichtung 30 eine Konfiguration, die das Laden der magnetischen Aufzeichnungskassette 1 in diese erlaubt. Hier wird zur Erleichterung der Beschreibung ein Fall, in dem die Aufzeichnungs- und Wiedergabevorrichtung 30 eine Konfiguration hat, die das Laden von einer magnetischen Aufzeichnungskassette 1 in diese erlaubt, beschrieben, jedoch kann die Aufzeichnungs- und Wiedergabevorrichtung 30 so konfiguriert sein, so dass eine Vielzahl von magnetischen Aufzeichnungskassetten 1 darin geladen werden kann.
• Die Aufzeichnungs- und Wiedergabevorrichtung 30 ist bevorzugter Weise eine magnetische Aufzeichnungs- und Wiedergabevorrichtung vom Timing- bzw. Zeiteinstellungs-Servotyp. Das magnetische Aufzeichnungsmedium gemäß der Ausführungsform der vorliegenden Technologie ist für die Verwendung in einer magnetischen Aufzeichnungs- und Wiedergabevorrichtung vom Timing- bzw. Zeiteinstellungs-Servotyp geeignet.
• Die Aufzeichnungs- und Wiedergabevorrichtung 30 ist mit einer Informations-verarbeitungsvorrichtung, wie einem Server 41 und einem Personal Computer (im Folgenden als „PC“ bezeichnet) 42 über ein Netzwerk 43 verbunden und ist dafür konfiguriert, um Daten, die von diesen Informationsverarbeitungsvorrichtungen in dem magnetischen Aufzeichnungsmedium 10 in der magnetischen Aufzeichnungskassette 1 geliefert werden, aufzuzeichnen. Die kürzeste Aufzeichnungswellenlänge der Aufzeichnungs- und Wiedergabevorrichtung 30 ist bevorzugter Weise 100 nm oder weniger, stärker bevorzugt 75 nm oder weniger, noch mehr bevorzugt 60 nm oder weniger und besonders bevorzugter Weise 50 nm oder weniger.
• Wie in der 5 veranschaulicht, schließt die Aufzeichnungs- und Wiedergabevorrichtung eine Spindel 31, eine Spule 32 auf der Aufzeichnungs- und Wiedergabevorrichtungsseite, eine Spindelantriebsvorrichtung 33, eine Spulenantriebsvorrichtung 34, eine Vielzahl von Führungsrollen 35, eine Kopfeinheit 36, eine Kommunikationsschnittstelle (I/F) 37 und eine Steuervorrichtung 38 ein.
• Die Spindel 31 ist so konfiguriert, um die magnetische Aufzeichnungskassette 1 zu montieren. Die magnetische Aufzeichnungskassette 1 ist mit dem Linear-Tape-Open (LTO)-Standard konform und nimmt eine einzelne Spule 3 auf, um welche das magnetische Aufzeichnungsmedium 10 gewickelt ist, und ist in dem Kassettengehäuse 2 montiert. In dem magnetischen Aufzeichnungsmedium 10 wird ein umgekehrtes V-förmiges Servomuster im Voraus als ein Servosignal aufgezeichnet. Die Spule 32 ist so konfiguriert, um ein vorderes Ende des magnetischen Aufzeichnungsmediums 10, das aus der magnetischen Aufzeichnungskassette 1 gezogen wird, zu fixieren.
• Die Spindelantriebsvorrichtung 33 ist eine Vorrichtung zum Rotationsantrieb der Spindel 31. Die Spulenantriebsvorrichtung 34 ist eine Vorrichtung zum Rotationsantrieb der Spule 32. Wenn Daten auf das magnetische Aufzeichnungsmedium 10 aufgezeichnet werden oder von diesem wiedergegeben werden, treiben die Spindelantriebsvorrichtung 33 und die Spulenantriebsvorrichtung 34 die Spindel 31 und die Spule 32 in rotierender Weise an, so dass sie das magnetische Aufzeichnungsmedium 10 zum Laufen bringen. Die Führungsrolle 35 ist eine Rolle, um den Lauf des magnetischen Aufzeichnungsmediums 10 zu lenken.
• Die Kopfeinheit 36 schließt eine Vielzahl von Aufzeichnungsköpfen zum Aufzeichnen von Datensignalen auf das magnetische Aufzeichnungsmedium 10, eine Vielzahl von Wiedergabeköpfen zum Wiedergeben der Datensignale, die auf dem magnetischen Aufzeichnungsmedium 10 aufgezeichnet sind, und eine Vielzahl von Servoköpfen zum Wiedergeben eines Servosignals, das auf dem magnetischen Aufzeichnungsmedium 10 aufgezeichnet ist, ein. Als Aufzeichnungskopf kann zum Beispiel ein Kopf vom Ringtyp verwendet werden, doch unterliegt der Typ des Aufzeichnungskopfes keiner Beschränkung.
• Die Kommunikationsstelle I/F 37 dient zum Kommunizieren mit der Informationsverarbeitungsvorrichtung, wie dem Server 41 und dem PC 42, und ist mit dem Netzwerk 43 verbunden.
• Die Steuervorrichtung 38 steuert die gesamte Aufzeichnungs- und Wiedergabevorrichtung 30. Zum Beispiel zeichnet die Steuervorrichtung 38 das Datensignal auf, das von der Informationsverarbeitungsvorrichtung, wie dem Server 41 oder dem PC 42, an das magnetische Aufzeichnungsmedium 10 durch die Kopfeinheit 36 in Reaktion auf eine Abfrage von der Informationsverarbeitungsvorrichtung geliefert wird. Darüber hinaus gibt die Steuervorrichtung 38 das Datensignal wieder, das auf dem magnetischen Aufzeichnungsmedium 10 durch die Kopfeinheit 36 aufgezeichnet wird, und liefert das wiedergegebene Datensignal an die Informationsverarbeitungsvorrichtung in Reaktion auf die Abfrage von der Informationsverarbeitungsvorrichtung, wie den Server 41 und den PC 42.
• Darüber hinaus detektiert die Steuervorrichtung 38 eine Änderung in der Breite des magnetischen Aufzeichnungsmediums 10 auf der Grundlage des Servosignals, das von der Kopfeinheit 36 geliefert wird. Insbesondere weist das magnetische Aufzeichnungsmedium 10 eine Vielzahl von umgekehrten V-förmigen Servomustern auf, die als Servosignale darauf aufgezeichnet sind, und die Kopfeinheit 36 gibt gleichzeitig zwei verschiedene Servomuster durch die zwei Servoköpfe auf der Kopfeinheit 36 wieder und empfängt jedes einzelne Servosignal. Die Position der Kopfeinheit 36 wird gesteuert, um dem Servomuster unter Verwendung der Servomuster- und jeweiligen Positionsinformationen der Kopfeinheit, die von diesem Servosignal erhalten werden, zu folgen. Zur gleichen Zeit können Distanzinformationen zwischen den Servomustern erhalten werden durch Vergleichen der zwei Servosignal-Wellenformen. Durch Vergleichen der Distanzinformationen zwischen den zum Zeitpunkt von jeder Messung erhaltenen Servomustern kann eine Veränderung in der Distanz zwischen den Servomustern zum Zeitpunkt von jeder Messung erhalten werden. Durch Hinzufügen der Distanzinformationen zwischen den Servomustern zum Zeitpunkt der Servomusteraufzeichnung kann eine Veränderung in der Breite des magnetischen Aufzeichnungsmediums 10 ebenfalls berechnet werden. Die Steuervorrichtung 38 passt die Spannung in Längsrichtung des magnetischen Aufzeichnungsmediums 10 an, so dass die Breite des magnetischen Aufzeichnungsmediums 10 eine definierte Breite oder eine im Wesentlichen definierte Breite ist, durch Kontrollieren des Rotationsantriebs der Spindelantriebsvorrichtung 33 und der Spulenantriebsvorrichtung 34 auf der Grundlage der Veränderung in der Distanz zwischen den wie oben beschrieben erhaltenen Servomustern oder der berechneten Breite des magnetischen Aufzeichnungsmediums 10. Demzufolge kann eine Veränderung in der Breite des magnetischen Aufzeichnungsmediums 10 unterdrückt werden.
• [Betrieb der Aufzeichnungs- und Wiedergabevorrichtung]
• Als Nächstes wird der Betrieb der Aufzeichnungs- und Wiedergabevorrichtung 30 mit der oben beschriebenen Konfiguration beschrieben.
• Zuerst wird die magnetische Aufzeichnungskassette 1 an der Aufzeichnungs- und Wiedergabevorrichtung 30 befestigt, ein vorderes Ende des magnetischen Aufzeichnungsmediums 10 wird ausgezogen und auf die Spule 32 durch die Vielzahl von Führungsrollen 35 und die Kopfeinheit 36 überführt, und das vordere Ende des magnetischen Aufzeichnungsmediums 10 wird auf der Spule 32 installiert.
• Als Nächstes, wenn eine Betriebseinheit (nicht gezeigt) betrieben wird, werden die Spindelantriebsvorrichtung 33 und die Spulenantriebsvorrichtung 34 unter der Kontrolle der Steuervorrichtung 38 angetrieben, und die Spindel 31 und die Spule 32 werden in der gleichen Richtung gedreht, so dass das magnetische Aufzeichnungsmedium 10 von der Spule 3 in Richtung der Spule 32 läuft. Als Folge davon, während das magnetische Aufzeichnungsmedium 10 um die Spule 32 gewickelt wird, werden Informationen auf dem magnetischen Aufzeichnungsmedium 10 aufgezeichnet oder auf dem magnetischen Aufzeichnungsmedium 10 aufgezeichnete Informationen werden durch die Kopfeinheit 36 wiedergegeben.
• Darüber hinaus werden in einem Fall, in dem das magnetische Aufzeichnungsmedium 10 erneut um die Spule 3 gewickelt wird, die Spindel 31 und die Spule 32 in rotierender Weise in einer Richtung entgegengesetzt zu der oben genannten Richtung angetrieben, so dass das magnetische Aufzeichnungsmedium 10 von der Spule 32 zu der Spule 3 läuft. Auch werden zum Zeitpunkt des erneuten Wickelns die Informationen auf dem magnetische Aufzeichnungsmedium 10 aufgezeichnet, oder die aufgezeichneten Informationen werden auf dem magnetischen Aufzeichnungsmedium 10 durch die Kopfeinheit 36 wiedergegeben.
• Wirkung
• Das magnetische Aufzeichnungsmedium 10, das in der magnetischen Aufzeichnungskassette gemäß der ersten Ausführungsform eingeschlossen ist, hat eine durchschnittliche Dicke t_T von t_T ≤ 5,6 µm und ein Ausmaß der Dimensionsänderung Δw von 660 ppm/N ≤ Δw in einer Richtung der Breite des magnetischen Aufzeichnungsmediums 10 bezüglich einer Änderung in der Spannung in der Längsrichtung des magnetischen Aufzeichnungsmediums 10 und eines Rechtwinkligkeitsverhältnisses von 65% oder mehr in einer vertikalen Richtung. Als eine Folge davon ist die Aufzeichnungskapazität per Kassette hoch, und eine Veränderung in der Breite des magnetischen Aufzeichnungsmediums 10 kann durch Anpassen der Spannung in der Längsrichtung des magnetischen Aufzeichnungsmediums 10 durch die Aufzeichnungs- und Wiedergabevorrichtung unterdrückt werden.
• Außerdem ist das magnetische Aufzeichnungsmedium 10 in einem um eine Spule gewickelten Zustand untergebracht und (Servospurbreite auf der inneren Wickelseite des magnetischen Aufzeichnungsmediums) - (Servospurbreite auf der äußeren Wickelseite des magnetischen Aufzeichnungsmediums)> 0 ist erfüllt. Als eine Folge davon kann das Auftreten von Falten auf der Innenseite der Wicklung in der Kassette unterdrückt werden.
• Wie oben beschrieben, hat die magnetische Aufzeichnungskassette gemäß der ersten Ausführungsform eine hohe Aufzeichnungskapazität per Kassette, ist für die Verwendung in einer Aufzeichnungs- und Wiedergabevorrichtung geeignet, die die Spannung in der Längsrichtung des magnetischen Aufzeichnungsmediums anpasst, und unterdrückt das Auftreten von Falten, die mit der Spannungsanpassung auftreten können.
• Modifikation
• [Modifikation 1]
• Das magnetische Aufzeichnungsmedium 10 kann ferner eine Barrierenschicht 15 einschließen, die auf wenigstens einer Oberfläche der Basisschicht 11 vorgesehen ist, wie in der 7 gezeigt. Die Barrierenschicht 15 ist eine Schicht zum Unterdrücken einer Dimensionsänderung in der Basisschicht 11 in Abhängigkeit von der Umgebung. Zum Beispiel ist die Feuchtigkeitsaufnahme der Basisschicht 11 ein Beispiel einer Ursache der Dimensionsänderung, und die Penetrationsgeschwindigkeit von Feuchtigkeit in die Basisschicht 11 kann durch die Barrierenschicht 15 verringert werden. Die Barrierenschicht 15 schließt ein Metall oder ein Metalloxid ein. Als Metall kann zum Beispiel wenigstens eines von Al, Cu, Co, Mg, Si, Ti, V, Cr, Mn, Fe, Ni, Zn, Ga, Ge, Y, Zr, Mo, Ru, Pd, Ag, Ba, Pt, Au oder Ta verwendet werden. Als Metalloxid kann zum Beispiel wenigstens eines von Al₂O₃, CuO, CoO, SiO₂, Cr₂O₃, TiO₂, Ta₂O₅ oder ZrO₂ verwendet werden, und es können beliebige von den Oxiden der oben genannten Metalle ebenfalls verwendet werden. Darüber hinaus kann ein diamantähnlicher Kohlenstoff (DLC), Diamant und dergleichen ebenfalls verwendet werden.
• Die durchschnittliche Dicke der Barrierenschicht 15 beträgt bevorzugter Weise 20 nm bis 1000 nm und stärker bevorzugt 50 nm bis 1000 nm. Die durchschnittliche Dicke der Barrierenschicht 15 wird in einer Weise erhalten, die ähnlich zu der durchschnittliche Dicke t_m der magnetischen Schicht 13 ist. Jedoch wird eine Vergrößerung der TEM-Aufnahme in geeigneter Weise entsprechend den Dicken der Barrierenschicht 15 angepasst.
• [Modifikation 2]
• Das magnetische Aufzeichnungsmedium 10 kann in einen Bibliotheksapparat eingebunden sein. Mit anderen Worten, die vorliegende Technologie stellt auch einen Bibliotheksapparat bereit, die wenigstens ein magnetisches Aufzeichnungsmedium 10 einschließt. Der Bibliotheksapparat hat eine Konfiguration, die zum Anpassen von in der Längsrichtung des magnetischen Aufzeichnungsmediums 10 ausgeübter Spannung fähig ist, und kann eine Vielzahl der oben beschriebenen Aufzeichnungs- und Wiedergabevorrichtungen 30 einschließen.
• [Modifikation 3]
• Das magnetische Aufzeichnungsmedium 10 kann an einer Servosignal-Schreibverarbeitung durch einen Servoschreiber angebracht sein. Der Servoschreiber kann Spannung in der Längsrichtung des magnetischen Aufzeichnungsmediums 10 anpassen beim Aufzeichnen eines Servosignals oder dergleichen, wodurch die Breite des magnetischen Aufzeichnungsmediums 10 konstant oder im Wesentlichen konstant gehalten wird. In diesem Fall kann der Servoschreiber eine Detektionsvorrichtung zum Detektieren der Breite des magnetischen Aufzeichnungsmediums 10 aufweisen. Der Servoschreiber kann die Spannung in der Längsrichtung des magnetischen Aufzeichnungsmediums 10 auf der Grundlage eines Detektionsergebnisses von der Detektionsvorrichtung anpassen.
• Zweite Ausführungsform (Beispiel einer magnetischen Aufzeichnungskassette, die ein magnetisches Aufzeichnungsmedium vom Vakuum-Dünnfilmtyp einschließt)
• Konfiguration einer magnetischen Aufzeichnungskassette
• Die magnetische Aufzeichnungskassette der vorliegenden Ausführungsform ist die gleiche wie die magnetische Aufzeichnungskassette 1, die in „(1) Konfiguration der magnetischen Kassette“ von 2 beschrieben wird, außer dass ein magnetisches Aufzeichnungsmedium vom Vakuum-Dünnfilmtyp 110 an Stelle des magnetischen Aufzeichnungsmediums vom Beschichtungstyp 10 verwendet wird. Im Folgenden wird das magnetische Aufzeichnungsmedium vom Vakuum-Dünnfilmtyp 110 beschrieben.
• Das magnetische Aufzeichnungsmedium 110 ist ein langes, vertikales magnetisches Aufzeichnungsmedium und schließt eine Basisschicht vom Filmtyp 111, eine weiche magnetische Unterlage 112 (im Folgenden als SUL bezeichnet), eine erste Keimschicht 113A, eine zweite Keimschicht 113B, eine erste Grundschicht 114A, eine zweite Grundschicht 114B und eine magnetische Schicht 115 ein, wie in der 8 veranschaulicht. Die SUL 112, die erste und zweite Keimschicht 113A und 113B, die erste und zweite Grundschicht 114A und 114B und die magnetische Schicht 115 können zum Beispiel Vakuum-Dünnfilme, wie Schichten, die durch Sputtern gebildet werden (im Folgenden auch als „gesputterte Schicht“ bezeichnet), oder dergleichen sein.
• Die SUL 112, die erste und zweite Keimschicht 113A und 113B und die erste und zweite Grundschicht 114A und 114B sind zwischen einer Hauptoberfläche der Basisschicht 111 (im Folgenden als „Oberfläche“ bezeichnet) und der magnetischen Schicht 115 vorgesehen, und die SUL 112, die erste Keimschicht 113A, die zweite Keimschicht 113B, die erste Grundschicht 114A und die zweite Grundschicht 114B sind in dieser Reihenfolge von der Basisschicht 111 in Richtung der magnetischen Schicht 115 geschichtet.
• Das magnetische Aufzeichnungsmedium 110 kann ferner eine Schutzschicht 116, die auf der magnetischen Schicht 115 vorgesehen ist, und eine Gleitschicht 117, die auf der Schutzschicht 116 vorgesehen ist, bei Bedarf einschließen. Darüber hinaus kann das magnetische Aufzeichnungsmedium 110 ferner eine Rückseitenschicht 118, die auf der anderen Hauptoberfläche (im Folgenden als „Rückseite“ bezeichnet) der Basisschicht 111 vorgesehen ist, bei Bedarf einschließen.
• Im Folgenden wird die Längsrichtung des magnetischen Aufzeichnungsmediums 110 (Längsrichtung der Basisschicht 111) als eine Maschinenrichtung (MD) bezeichnet. Hier bezieht sich die Maschinenrichtung auf eine relative Bewegungsrichtung eines Aufzeichnungs- und Wiedergabekopfes bezüglich des magnetischen Aufzeichnungsmediums 110, das heißt, die Richtung, in der das magnetische Aufzeichnungsmedium 110 zum Zeitpunkt des Aufzeichnens und der Wiedergabe läuft.
• Das magnetische Aufzeichnungsmedium 110 wird bevorzugter Weise als ein Speichermedium für ein Datenarchiv verwendet, nach dem die Nachfrage in der Zukunft steigen soll. Dieses magnetische Aufzeichnungsmedium 110 kann eine Oberflächenaufzeichnungsdichte des 10-Fachen oder mehr, das heißt, eine Oberflächenaufzeichnungsdichte von 50 Gb/in² oder mehr, zum Beispiel des gegenwärtigen magnetischen Aufzeichnungsmediums vom Beschichtungstyp für die Speicherung realisieren. In einem Fall, in dem eine Datenkassette vom allgemeinen linearen Aufzeichnungstyp unter Verwendung des magnetischen Aufzeichnungsmediums 110 mit einer solchen Oberflächenaufzeichnungsdichte konfiguriert ist, kann eine Aufzeichnung mit großer Kapazität von 100 TB oder mehr per Datenkassette realisiert werden.
• Das magnetische Aufzeichnungsmedium 110 wird bevorzugter Weise in einer Aufzeichnungs- und Wiedergabevorrichtung (Aufzeichnungs- und Wiedergabevorrichtung zum Aufzeichnen und Wiedergeben von Daten) mit einem Aufzeichnungskopf vom Ringtyp und einem Wiedergabekopf vom Giant magnetoresistiven (GMR) Typ oder einem Wiedergabekopf vom magnetoresistiven mit Tunneleffekt (TMR)-Typ verwendet. Darüber hinaus ist es bevorzugt, dass das magnetische Aufzeichnungsmedium 110 gemäß der zweiten Ausführungsform einen Aufzeichnungskopf vom Ringtyp als Servosignal-Schreibkopf verwendet. In der magnetischen Schicht 115 wird zum Beispiel ein Datensignal vertikal durch einen Aufzeichnungskopf vom Ringtyp aufgezeichnet. Darüber hinaus wird in der magnetischen Schicht 115 zum Beispiel ein Servosignal vertikal durch den Aufzeichnungskopf vom Ringtyp aufgezeichnet.
• Beschreibung jeder einzelnen Schicht
• (Basisschicht)
• Die Beschreibung hinsichtlich der Basisschicht 11 in der ersten Ausführungsform trifft auf die Basisschicht 111 zu und daher unterbleibt eine Beschreibung hinsichtlich der Basisschicht 111.
• (SUL)
• Die SUL 112 enthält ein weiches magnetisches Material in einem amorphen Zustand. Das weiche magnetische Material schließt zum Beispiel wenigstens eines aus einem Co-basierten Material oder einem Fe-basierten Material ein. Das Co-basierte Material schließt zum Beispiel CoZrNb, CoZrTa oder CoZrTaNb ein. Das Fe-basierte Material schließt zum Beispiel FeCoB, FeCoZr oder FeCoTa ein.
• Die SUL 112 ist eine Einzelschicht-SUL und ist direkt auf der Basisschicht 111 vorgesehen. Die durchschnittliche Dicke der SUL 112 ist bevorzugter Weise 10 nm oder mehr bis 50 nm oder weniger und stärker bevorzugt 20 nm oder mehr und 30 nm oder weniger.
• Die durchschnittliche Dicke der SUL 112 wird durch das gleiche Verfahren wie das Verfahren zum Messen der durchschnittlichen Dicke der magnetischen Schicht 13 in der ersten Ausführungsform erhalten. Man beachte, dass die durchschnittlichen Dicken von anderen Schichten als der SUL 112, wie später beschrieben (mit anderen Worten, die durchschnittlichen Dicken der ersten und zweiten Keimschicht 113A und 113B, der ersten und zweiten Grundschicht 114A und 114B und einer magnetischen Schicht 115) ebenfalls durch das gleiche Verfahren wie das Verfahren zum Messen der durchschnittlichen Dicke der magnetischen Schicht 13 in der ersten Ausführungsform erhalten werden. Jedoch wird eine Vergrößerung einer TEM-Aufnahme in entsprechender Weise gemäß der Dicke von jeder einzelnen Schicht angepasst.
• (Erste und zweite Keimschicht)
• Die erste Keimschicht 113A enthält eine Legierung, die Ti und Cr enthält, und weist einen amorphen Zustand auf. Darüber hinaus kann diese Legierung ferner O (Sauerstoff) enthalten. Der Sauerstoff kann eine Sauerstoffverunreinigung sein, die in einer kleinen Menge in der ersten Keimschicht 113A enthalten ist, wenn die erste Keimschicht 113A durch ein Filmbildungsverfahren, wie ein Sputterverfahren oder dergleichen, gebildet wird.
• Hier bedeutet die „Legierung“ wenigstens eines aus einer Feststofflösung, einem eutektischen Material, einer intermetallischen Verbindung oder dergleichen, die Ti und Cr enthalten. Der „amorphe Zustand“ bedeutet einen Zustand, in dem ein Halogen durch ein Röntgenbeugungs-, Elektronenstrahlbeugungsverfahren oder dergleichen festgestellt wird und eine Kristallstruktur nicht spezifiziert werden kann.
• Das Atomverhältnis von Ti zu einer Gesamtmenge von Ti und Cr, die in der ersten Keimschicht 113A enthalten ist, beträgt bevorzugter Weise 30 Atom-% oder mehr und weniger als 100 Atom-% und stärker bevorzugt 50 Atom-% oder mehr und weniger als 100 Atom-%. Wenn das Atomverhältnis von Ti weniger als 30 Atom-% beträgt, ist eine (100)-Ebene einer körperzentrierten Struktur mit kubischem Gitter (bcc) von Cr so ausgerichtet, so dass die Möglichkeit besteht, dass die Ausrichtung der ersten und zweiten Grundschicht 114A und 114B, die auf der ersten Keimschicht 113A ausgebildet sind, verringert wird.
• Das Atomverhältnis von Ti wird wie folgt erhalten. Eine Analyse in Richtung der Tiefe (Tiefenprofilmessung) der ersten Keimschicht 113A durch Auger-Elektronenspektroskopie (im Folgenden als „AES“ bezeichnet) wird durchgeführt, während das magnetische Aufzeichnungsmedium 110 von der Seite der magnetischen Schicht 115 einem Ionenstrahlätzen unterzogen wird. Als Nächstes wird eine durchschnittliche Zusammensetzung (durchschnittliches Atomverhältnis) von Ti und Cr in Richtung der Filmdicke aus dem erhaltenen Tiefenprofil erhalten. Als Nächstes wird das Atomverhältnis von Ti unter Verwendung der erhaltenen durchschnittlichen Zusammensetzung von Ti und Cr erhalten.
• In einem Fall, in dem die erste Keimschicht 113A Ti, Cr und O enthält, ist das Atomverhältnis von O zu der Gesamtmenge von Ti, Cr und O, die in der ersten Keimschicht 113A enthalten ist, bevorzugter Weise 15 Atom-% oder weniger und stärker bevorzugt 10 Atom-% oder weniger. In einem Fall, in dem das Atomverhältnis von O 15 Atom-% übersteigt, werden TiO₂-Kristalle gebildet, was die Keimbildung der ersten und zweiten Grundschicht 114A und 114B, die auf der ersten Keimschicht 113A gebildet werden, beeinflusst, so dass die Möglichkeit besteht, dass die Ausrichtung der ersten und zweiten Grundschicht 114A und 114B reduziert wird. Das Atomverhältnis von O wird mit Hilfe eines ähnlichen Verfahrens wie dem Verfahren zum Analysieren des Atomverhältnisses von Ti erhalten.
• Die in der ersten Keimschicht 113A enthaltene Legierung kann ferner ein anderes Element als Ti und Cr als ein zusätzliches Element enthalten. Dieses zusätzliche Element kann zum Beispiel ein oder mehrere Elemente sein, die aus der Gruppe gewählt sind, die Nb, Ni, Mo, Al und W einschließt.
• Die durchschnittliche Dicke der ersten Keimschicht 113A ist bevorzugter Weise 2 nm bis 15 nm und stärker bevorzugt 3 nm bis 10 m.
• Die zweite Keimschicht 113B enthält zum Beispiel NiW oder Ta und hat einen kristallinen Zustand. Die durchschnittliche Dicke der zweiten Keimschicht 113B ist bevorzugter Weise 3 nm bis 20 nm und stärker bevorzugt 5 nm bis 15 nm.
• Die erste und zweite Keimschicht 113A und 113B haben eine Kristallstruktur ähnlich derjenigen der ersten und zweiten Grundschicht 114A und 114B und sind keine Keimschichten, die zum Zweck des Kristallwachstums vorgesehen sind, sondern sind Keimschichten, die die vertikale Ausrichtung der ersten und zweiten Grundschicht 114A und 114B durch die amorphen Zustände der ersten und zweiten Keimschicht 113A und 113B verbessern.
• (Erste und zweite Grundschicht)
• Es ist bevorzugt, dass die erste und zweite Grundschicht 114A und 114B eine ähnliche Kristallstruktur haben wie diejenige der magnetischen Schicht 115. In einem Fall, in dem die magnetische Schicht 115 eine Co-basierte Legierung enthält, ist es bevorzugt, dass die erste und zweite Grundschicht 114A und 114B ein Material mit einer hexagonalen, am dichtesten gepackten (hcp) Struktur ähnlich derjenigen der Co-basierten Legierung enthalten, und die c-Achse der hcp-Struktur ist in einer Richtung (das heißt Filmdickenrichtung) senkrecht zu einer Filmoberfläche ausgerichtet. Der Grund ist, weil die Ausrichtung der magnetischen Schicht 115 verbessert werden kann und das Einpassen in eine Gitterkonstante zwischen der zweiten Grundschicht 114B und der magnetischen Schicht 115 relativ gut vorgenommen werden kann. Als Material mit der hexagonalen am dichtesten gepackten (hcp)-Struktur ist es bevorzugt, ein Material zu verwenden, das Ru enthält, und insbesondere ist es bevorzugt, Ru allein zu verwenden oder eine Ru-Legierung zu verwenden. Beispiele der Ru-Legierung können Ru-Legierungsoxide, wie Ru-SiO₂, Ru-TiO₂, Ru-ZrO₂, und dergleichen einschließen, und die Ru-Legierung kann eine beliebige von Ru-SiO₂, Ru-TiO₂ und Ru-ZrO₂ sein.
• Wie oben beschrieben, können ähnliche Materialien als die Materialien der ersten und zweiten Grundschicht 114A und 114B verwendet werden. Jedoch unterscheiden sich die beabsichtigten Wirkungen von jeder aus der ersten und zweiten Grundschicht 114A und 114B voneinander. Insbesondere weist die zweite Grundschicht 114B eine Filmstruktur auf, die eine körnige Struktur der magnetischen Schicht 115 fördert, die eine obere Schicht der zweiten Grundschicht 114B ist, und die erste Grundschicht 114A weist eine Filmstruktur mit einer hohen Kristallausrichtung auf. Um eine solche Filmstruktur zu erhalten, ist es bevorzugt, dass die filmbildenden Bedingungen, wie Sputterbedingungen oder dergleichen, von jeder aus der ersten und zweiten Grundschicht 114A und 114B voneinander unterschiedlich gemacht werden.
• Die durchschnittliche Dicke der ersten Grundschicht 114A beträgt bevorzugter Weise 3 nm bis 15 nm oder weniger und stärker bevorzugt 5 nm bis 10 nm. Die durchschnittliche Dicke der zweiten Grundschicht 114B beträgt bevorzugter Weise 7 nm bis 40 nm und stärker bevorzugt 10 nm bis 25 nm.
• (Magnetische Schicht)
• Die magnetische Schicht (auch als eine Aufzeichnungsschicht bezeichnet) 115 kann eine vertikale magnetische Aufzeichnungsschicht sein, in der ein magnetisches Material vertikal ausgerichtet ist. Es ist bevorzugt, dass die magnetische Schicht 115 eine körnige magnetische Schicht ist, die eine Co-basierte Legierung enthält, im Hinblick auf die Verbesserung der Aufzeichnungsdichte. Die körnige magnetische Schicht enthält ferromagnetische Kristallpartikel, die die Co-basierte Legierung und nicht-magnetische Korngrenzen (nicht-magnetisches Material) enthalten, die die ferromagnetischen Kristallpartikel umgeben. Insbesondere enthält die körnige magnetische Schicht Säulen (Stengelkristall), die eine Co-basierte Legierung und nicht-magnetische Korngrenzen (zum Beispiel Oxide wie SiO₂) enthalten, die die Säulen umgeben und magnetisch die jeweiligen Säulen voneinander trennen. In dieser Struktur kann die magnetische Schicht 115 mit einer Struktur, in der die jeweiligen Säulen magnetisch voneinander getrennt sind, konfiguriert sein.
• Die Co-basierte Legierung hat eine hexagonale, am dichtesten gepackte (hcp)-Struktur, und die c-Achse der hcp-Struktur ist in der Richtung (Filmdickenrichtung) senkrecht zu der Filmoberfläche ausgerichtet. Als die Co-basierte Legierung ist die Verwendung einer CoCrPt-basierten Legierung, die wenigstens Co, Cr und Pt enthält, bevorzugt. Die CoCrPt-basierte Legierung kann ferner ein Additivelement enthalten. Beispiele des Additivelements können ein oder mehrere Elemente einschließen, die aus der Ni und Ta einschließenden Gruppe gewählt sind.
• Die nicht-magnetischen Korngrenzen, die die ferromagnetischen Kristallkörner umgeben, enthalten ein nicht-magnetisches metallisches Material. Hier schließt das Metall ein Metalloid ein. Als das nicht-magnetische Metallmaterial kann zum Beispiel wenigstens eines aus einem Metalloxid oder einem Metallnitrid verwendet werden, und es ist bevorzugt, das Metalloxid zu verwenden, was eine stabilere Erhaltung der körnigen Struktur angeht. Beispiele des Metalloxids können Metalloxide einschließen, die ein oder mehrere Elemente enthalten, die aus der Gruppe gewählt sind, die Si, Cr, Co, Al, Ti, Ta, Zr, Ce, Y, Hf, und dergleichen einschließt, und das Metalloxid ist bevorzugter Weise ein Metalloxid, das wenigstens Si-Oxid (das heißt SiO₂) einschließt. Spezifische Beispiele des Metalloxids können SiO₂, Cr₂O₃, CoO, Al₂O₃, TiO₂, Ta₂O₅, ZrO₂, HfO₂, und dergleichen einschließen. Beispiele des Metallnitrids können Metallnitride einschließen, die ein oder mehrere Elemente enthalten, die aus der Gruppe gewählt sind, die Si, Cr, Co, Al, Ti, Ta, Zr, Ce, Y, Hf und dergleichen einschließt.
• Spezifische Beispiele des Metallnitrids können SiN, TiN, AlN, und dergleichen einschließen.
• Es ist bevorzugt, dass die CoCrPt-basierte Legierung, die in dem ferromagnetischen Kristallpartikel enthalten ist, und das Si-Oxid, das in der nicht-magnetischen Korngrenze enthalten ist, eine durchschnittliche Zusammensetzung haben, die in der nachstehenden Formel (1) angegeben ist. Der Grund ist, weil eine Sättigungsmagnetisierungsmenge Ms, in welcher ein Einfluss eines entmagnetisierenden Feldes unterdrückt werden kann und eine ausreichende Wiedergabeleistung erzielt werden kann, realisiert werden kann, was zu einer weiteren Verbesserung der Aufzeichnungs- und Wiedergabecharakteristika führt. $${\left({\text{Co}}_{\text{x}}{\text{Pt}}_{\text{y}}{\text{Cr}}_{100-\text{x}-\text{y}}\right)}_{100-\text{z}}-{\left({\text{SiO}}_{\text{2}}\right)}_{\text{z}}$$

  

  (wobei in der Allgemeinen Formel (1), x, y und z Werte innerhalb von Bereichen sind, in denen 69 ≤ x ≤ 75, 10 ≤ y ≤ 16 bzw. 9 ≤ Z ≤ 12 erfüllt sind).
• Man beachte, dass die oben genannte Zusammensetzung wie folgt erhalten werden kann. Eine durchschnittliche Zusammensetzung (durchschnittliches Atomverhältnis) von Co, Pt, Cr, Si und O in der Filmdickenrichtung wird durch Durchführen der Analyse in Tiefenrichtung auf der magnetischen Schicht 115 durch die AES erhalten, während das magnetische Aufzeichnungsmedium 110 von der Seite der magnetischen Schicht 115 einem Ionenstrahlätzen unterworfen wird.
• Die durchschnittliche Dicke t_m [nm] der magnetischen Schicht 115 ist bevorzugter Weise 9 nm ≤ t_m ≤ 90 nm, stärker bevorzugt 9 nm ≤ t_m ≤ 20 nm und noch mehr bevorzugt 9 nm ≤ t_m ≤ 15 nm. Die durchschnittliche Dicke t_m der magnetischen Schicht 13 liegt innerhalb des oben genannten Zahlenbereichs, so dass die elektromagnetischen Umwandlungscharakteristika verbessert werden können.
• (Schutzschicht)
• Die Schutzschicht 116 enthält zum Beispiel ein Kohlenstoffmaterial oder Siliciumdioxid (SiO₂), und es ist bevorzugt, dass die Schutzschicht 116 ein Kohlenstoffmaterial im Hinblick auf die Filmfestigkeit der Schutzschicht 116 enthält. Beispiele des Kohlenstoffmaterials schließen Graphit, diamantähnlichen Kohlenstoff (DLC), Diamant oder dergleichen ein
• (Gleitschicht)
• Die Gleitschicht 117 enthält wenigstens ein Gleitmittel. Die Gleitschicht 117 kann nach Bedarf ferner verschiedene Additive enthalten, zum Beispiel ein Rostinhibitor. Ein Gleitmittel hat wenigstens zwei Carboxylgruppen und eine Esterbindung und enthält wenigstens eine von auf Carbonsäure basierenden Verbindungen, welche durch die folgende Allgemeine Formel (1) repräsentiert werden. Das Gleitmittel kann ferner ein anderes Gleitmittel als die Verbindung auf Carbonsäurebasis enthalten, repräsentiert durch die folgende Allgemeine Formel (1).
• Allgemeine Formel (1):

  

  (wobei Rf eine unsubstituierte oder substituierte, gesättigte oder ungesättigte fluorhaltige Kohlenwasserstoffgruppe oder eine Kohlenwasserstoffgruppe ist. Es eine Esterbindung ist, R abwesend sein kann, aber eine unsubstituierte oder substituierte, gesättigte oder ungesättigte Kohlenwasserstoffgruppe ist).
• Es ist bevorzugt, dass die Verbindung auf Carbonsäurebasis durch die folgende Allgemeine Formel (2) oder (3) repräsentiert wird.
• Allgemeine Formel (2):

  

  (wobei Rf eine unsubstituierte oder substituierte gesättigte oder ungesättigte fluorhaltige Kohlenwasserstoffgruppe oder eine Kohlenwasserstoffgruppe ist).
• Allgemeine Formel (3):

  

  (wobei Rf eine unsubstituierte oder substituierte, gesättigte oder ungesättigte fluorhaltige Kohlenwasserstoffgruppe oder eine Kohlenwasserstoffgruppe ist) .
• Es ist bevorzugt, dass das Gleitmittel eine oder beide der Verbindung auf Carbonsäurebasis, die durch die obigen Allgemeinen Formeln (2) und (3) wird bzw. werden, enthält.
• Wenn das Gleitmittel. welches die Verbindung auf Carbonsäurebasis enthält, die durch die Allgemeine Formel (1) repräsentiert wird, auf die magnetische Schicht 115, die Schutzschicht 116 oder dergleichen, aufbeschichtet wird, zeigt sich eine Gleitwirkung durch Kohäsion zwischen den fluorhaltigen Kohlenwasserstoffgruppen oder den Kohlenwasserstoffgruppen Rf, bei denen es sich um hydrophobe Gruppen handelt. In einem Fall, in dem die Rf-Gruppe die fluorhaltige Kohlenwasserstoffgruppe ist, ist es bevorzugt, dass die gesamte Kohlenstoffzahl 6 bis 50 beträgt und die gesamte Kohlenstoffzahl der fluorierten Kohlenwasserstoffgruppe 4 bis 20 beträgt. Die Rf-Gruppe kann zum Beispiel eine gesättigte oder ungesättigte geradkettige, verzweigtkettige oder cyclische Kohlenwasserstoffgruppe sein, kann aber bevorzugter Weise eine gesättigte geradkettige Kohlenwasserstoffgruppe sein.
• Zum Beispiel ist es in einem Fall, in dem die Rf-Gruppe die Kohlenwasserstoffgruppe ist, bevorzugt, dass die Rf-Gruppe eine Gruppe ist, die durch die folgende Allgemeine Formel (4) repräsentiert wird.
• Allgemeine Formel (4):

  

  (wobei in der Allgemeinen Formel (4) 1 eine ganze Zahl ist, gewählt aus dem Bereich von 8 bis 30 und stärker bevorzugt 12 bis 20).
• Darüber hinaus ist es in einem Fall, in dem die Rf-Gruppe die fluorhaltige Kohlenwasserstoffgruppe ist, bevorzugt, dass die Rf-Gruppe durch die folgende Allgemeine Formel (5) repräsentiert wird.
• Allgemeine Formel (5):

  

  (wobei in der Allgemeinen Formel (5) m und n jeweils ganze Zahlen sind, die unabhängig voneinander innerhalb der folgenden Bereiche gewählt werden: m: 2 bis 20, n: 3 bis 18 und stärker bevorzugt m: 4 bis 13, n: 3 bis 10).
• Die fluorierte Kohlenwasserstoffgruppe kann an einer Position in dem Molekül wie oben beschrieben konzentriert sein oder kann wie in der folgenden Allgemeinen Formel (6) dispergiert sein und kann -CHF₂, -CHF- oder dergleichen sein, sowie -CF₃ oder -CF₂-.
• Allgemeine Formel (6):

  

  (wobei in den Allgemeinen Formeln (5) und (6), n1 + n2 = n und m1 + m2 = m gilt).
• Der Grund, warum die Zahl von Kohlenstoffatomen in den Allgemeinen Formeln (4), (5) und (6) wie oben beschrieben begrenzt ist, ist, weil, wenn die Zahl (1 oder die Summe von m und n) von Kohlenstoffatomen, die eine Alkylgruppe oder eine fluorhaltige Alkylgruppe bilden, gleich der oder mehr als die oben stehende Untergrenze ist, die Länge eine angemessene Länge wird, so dass sich die Kohäsion zwischen den hydrophoben Gruppen wirksam zeigt und der Reibungs- und Abnutzungsverschleiß verbessert wird. Darüber hinaus ist der Grund, weil, wenn die Zahl der Kohlenstoffatome gleich der oder weniger als die oben genannte Obergrenze ist, die Löslichkeit in einem Lösemittel eines Gleitmittels, das die Verbindung auf Carbonsäurebasis einschließt, gut bleibt.
• Insbesondere, wenn die Rf-Gruppe in den Allgemeinen Formeln (1), (2) und (3) ein Fluoratom enthält, gibt es eine Wirkung der Reduzierung des Reibungskoeffizienten und der Verbesserung der Laufleistung. Jedoch ist es bevorzugt, eine Kohlenwasserstoffgruppe zwischen der fluorhaltigen Kohlenwasserstoffgruppe und der Esterbindung vorzusehen, um die fluorhaltige Kohlenwasserstoffgruppe und die Esterbindung voneinander zu trennen, wodurch die Stabilität der Esterbindung gesichert wird und eine Hydrolyse verhindert wird.
• Darüber hinaus kann die Rf-Gruppe eine Fluoralkylethergruppe oder eine Perfluorpolyethergruppe aufweisen.
• Eine R-Gruppe in der Allgemeinen Formel (1) kann fehlen, doch in einem Fall, in dem die R-Gruppe in der Allgemeinen Formel (1) vorhanden ist, ist dies bevorzugter Weise eine Kohlenwasserstoffkette mit einer relativ kleinen Zahl von Kohlenstoffatomen.
• Darüber hinaus enthält die Rf-Gruppe oder R-Gruppe ein Element oder eine Vielzahl von Elementen, die aus der Gruppe gewählt sind, die Stickstoff, Sauerstoff, Schwefel, Phosphor und Halogen als Bestandselemente einschließt, und kann ferner eine Hydroxylgruppe, eine Carboxylgruppe und eine Carbonylgruppe, eine Aminogruppe, eine Esterbindung und dergleichen zusätzlich zu der oben beschriebenen funktionellen Gruppe aufweisen.
• Es ist bevorzugt, dass die Verbindung auf Carbonsäurebasis, repräsentiert durch die Allgemeine Formel (1), spezifisch wenigstens eine von den unten gezeigten Verbindungen ist. Mit anderen Worten ist es bevorzugt, dass das Gleitmittel wenigstens eine von den unten gezeigten Verbindungen enthält.
  CF₃(CF₂)₇ (CH₂)₁₀COOCH(COOH)CH₂COOH
  CF₃(CF₂) ₃ (CH₂)₁₀COOCH (COOH) CH₂COOH
  C₁₇H₃₅COOCH (COOH) CH₂COOH
  CF₃(CF₂) ₇(CH₂)₂OCOCH₂CH(C₁₈H₃₇)COOCH (COOH) CH₂COOH
  CF₃(CF₂) ₇COOCH (COOH) CH₂COOH
  CHF₂(CF₂) ₇COOCH (COOH) CH₂COOH
  CF₃(CF₂) ₇(CH₂)₂OCOCH₂CH(COOH)CH₂COOH
  CF₃(CF₂)₇(CH₂)₆OCOCH₂CH(COOH)CH₂COOH
  CF₃(CF₂) ₇(CH₂)₁₁OCOCH₂CH(COOH)CH₂COOH
  CF₃(CF₂)₃(CH₂)₆OCOCH₂CH(COOH)CH₂COOH
  C₁₈H₃₇OCOCH₂CH(COOH)CH₂COOH
  CF₃(CF₂) ₇(CH₂)₄COOCH(COOH)CH₂COOH
  CF₃(CF₂) ₃(CH₂)₄COOCH(COOH)CH₂COOH
  CF₃(CF₂) ₃(CH₂)₇COOCH (COOH)CH₂COOH
  CF₃(CF₂)₉(CH₂)₁₀COOCH(COOH)CH₂COOH
  CF₃(CF₂)₇(CH₂)₁₂COOCH(COOH)CH₂COOH
  CF₃(CF₂)₅(CH₂)₁₀COOCH(COOH)CH₂COOH
  CF₃(CF₂)₇CH(C₉H₁₉)CH₂CH=CH(CH₂)₇COOCH (COOH)CH₂COOH
  CF₃(CF₂)₇CH(C₆H₁₃)(CH₂)₇COOCH (COOH)CH₂COOH
  CH₃(CH₂)₃(CH₂CH₂CH(CH₂CH₂(CF₂)₉CF₃))₂(CH₂)₇COOCH (COOH)CH₂COOH
• Die Verbindung auf Carbonsäurebasis, repräsentiert durch die Allgemeine Formel (1), ist in einem nicht-fluorierten Lösemittel mit einer geringen Belastung für die Umwelt löslich und hat den Vorteil, dass ein Betrieb, wie Beschichten, Eintauchen, Besprühen oder dergleichen, unter Verwendung eines Universallösemittels, wie zum Beispiel eines Lösemittels auf Kohlenstoffbasis, eine Lösemittels auf Ketonbasis, eines Lösemittels auf Alkoholbasis, eines Lösemittels auf Esterbasis und dergleichen, durchgeführt werden kann. Insbesondere können Beispiele des Universallösemittels Hexan, Heptan, Oktan, Decan, Dodecan, Benzol, Toluol, Xylol, Cyclohexan, Methylethylketon, Methylisobutylketon, Methanol, Ethanol, Isopropanol, Diethylether, Tetrahydrofuran, Dioxan, Cyclohexanon und dergleichen einschließen.
• In einem Fall, in dem die Schutzschicht 116 ein Kohlenstoffmaterial enthält, wenn die Verbindung auf Carbonsäurebasis auf die Schutzschicht 116 als Gleitmittel aufbeschichtet ist, können zwei Carboxylgruppen und wenigstens eine Esterbindungsgruppe, die polare Gruppenteile von Gleitmittelmolekülen sind, auf der Schutzschicht 116 adsorbiert werden zur Bildung einer besonders beständigen bzw. langlebigen Gleitschicht 117 durch Kohäsion zwischen hydrophoben Gruppen.
• Man beachte, dass das Gleitmittel nicht nur auf der Oberfläche des magnetischen Aufzeichnungsmediums 110 als Gleitschicht 117 wie oben beschrieben gehalten wird, sondern auch in Schichten, wie der magnetischen Schicht 115, der Schutzschicht 116 und dergleichen, welche das magnetische Aufzeichnungsmedium 110 bilden, enthalten sein können oder gehalten werden können.
• (Rückseitenschicht)
• Die Beschreibung hinsichtlich der Rückseitenschicht 14 in der ersten Ausführungsform trifft auf die Rückseitenschicht 118 zu.
• Physikalische Eigenschaften und Struktur
• Alle Beschreibungen hinsichtlich der physikalischen Eigenschaften und der Struktur, die weiter oben in (3) von 2 beschrieben werden, treffen auch auf die zweite Ausführungsform zu. Zum Beispiel können die durchschnittliche Dicke t_T des magnetischen Aufzeichnungsmediums 110, das Ausmaß der Dimensionsänderung Δw, der Unterschied zwischen der Servospurbreite einer inneren Wickelseite und der Servospurbreite einer äußeren Wickelseite), das Abweichungsausmaß der Servospurbreite, der Temperaturausdehnungskoeffizient α und der Feuchtigkeitsausdehnungskoeffizient β, die Poisson-Zahl ρ, der Elastizitätsgrenzwert σ_MD in der Längsrichtung, der Reibungskoeffizient µ zwischen der magnetischen Oberfläche und der Rückseite und die Oberflächenrauhigkeit Rab der Rückseitenschicht 118 ähnlich sein wie in der ersten Ausführungsform. Deshalb unterbleibt eine Beschreibung der physikalischen Eigenschaften und der Struktur des magnetischen Aufzeichnungsmediums der zweiten Ausführungsform.
• Konfiguration der Sputtervorrichtung
• Im Folgenden wird ein Beispiel einer Konfiguration einer Sputtervorrichtung 120, die für die Herstellung des magnetischen Aufzeichnungsmediums 110 verwendet wird, mit Bezug auf die 9 beschrieben. Die Sputtervorrichtung 120 ist ein Sputtering vom Endloswicklungstyp, das zum Bilden der SUL 112, der ersten Keimschicht 113A, der zweiten Keimschicht 113B, der ersten Grundschicht 114A, der zweiten Grundschicht 114B und der magnetischen Schicht 115 angewandt wird, und schließt eine filmbildende Kammer 121, eine Trommel 122, bei der es sich um einen Metallkanister (rotierenden Körper) handelt, Kathoden 123a bis 123f, eine Zufuhrspule 124, eine Wickelspule 125 und eine Vielzahl von Führungsrollen 127a bis 127c und 128a bis 128c ein, wie in der 9 gezeigt ist. Die Sputtervorrichtung 120 ist zum Beispiel eine Vorrichtung, die einen DC (Gleichstrom-) Magnetron-Sputter-Betrieb nutzt, jedoch ist der Sputterbetrieb nicht hierauf beschränkt.
• Die filmbildende Kammer 121 ist mit einer Vakuumpumpe (nicht gezeigt) durch eine Auslassöffnung 126 verbunden, und die Atmosphäre in der filmbildenden Kammer 121 wird auf einen im Voraus festgelegten Vakuumgrad durch die Vakuumpumpe gesetzt.
• Die Trommel 122 mit einer drehbaren Konfiguration, die Zufuhrspule 124 und die Wickelspule 125 sind in der filmbildenden Kammer 121 angeordnet. Die Vielzahl der Führungsrollen 127a bis 127c zum Lenken des Transports der Basisschicht 111 zwischen der Zufuhrspule 124 und der Trommel 122 und die Vielzahl der Führungsrollen 128a bis 128c zum Lenken des Transports der Basisschicht 111 zwischen der Trommel 122 und der Wickelspule 125 sind in der filmbildenden Kammer 121 vorgesehen. Zum Zeitpunkt des Sputterns wird die von der Zufuhrspule 124 abgewickelte Basisschicht 111 um die Wickelspule 125 durch die Führungsrollen 127a bis 127c, die Trommel 122 und die Führungsrollen 128a bis 128c gewickelt. Die Trommel 122 hat eine zylindrische Gestalt, und die lange Basisschicht 111 wird entlang einer Umfangsfläche der zylindrischen Oberfläche der Trommel 122 transportiert. Die Trommel 122 ist mit einem Kühlmechanismus (nicht gezeigt) versehen und wird zum Beispiel auf etwa -20°C zum Zeitpunkt des Sputterns abgekühlt. Eine Vielzahl von Kathoden 123a bis 123f ist in der filmbildenden Kammer 121 so angeordnet, um der Umfangsfläche der Trommel 122 zugewandt zu sein. Zielvorgaben werden jeweils für die Kathoden 123a bis 123f festgelegt. Insbesondere werden Zielvorgaben für die Bildung der SUL 112, der ersten Keimschicht 113A, der zweiten Keimschicht 113B, der ersten Grundschicht 114A, der zweiten Grundschicht 114B und der magnetischen Schicht 115 für die Kathoden 123a, 123b, 123c, 123d, 123e bzw. 123f festgelegt. Eine Vielzahl von Filmtypen, das heißt die SUL 112, die erste Keimschicht 113A, die zweite Keimschicht 113B, die erste Grundschicht 114A, die zweite Grundschicht 114B und die magnetische Schicht 115 werden gleichzeitig durch diese Kathoden 123a bis 123f gebildet.
• In der Sputtervorrichtung 120 mit der oben beschriebenen Konfiguration werden die SUL 112, die erste Keimschicht 113A, die zweite Keimschicht 113B, die erste Grundschicht 114A, die zweite Grundschicht 114B und die magnetische Schicht 115 kontinuierlich durch ein Rolle-zu-Rolle-Verfahren gebildet.
• Verfahren der Herstellung eines magnetischen Aufzeichnungsmediums
• Das magnetische Aufzeichnungsmedium 110 kann zum Beispiel wie folgt hergestellt werden.
• Zuerst werden die SUL 112, die erste Keimschicht 113A, die zweite Keimschicht 113B, die erste Grundschicht 114A, die zweite Grundschicht 114B und die magnetische Schicht 115 hintereinander auf einer Oberfläche der Basisschicht 111 mit Hilfe der in der 9 gezeigten Sputtervorrichtung 120 gebildet. Insbesondere werden die Filme wie folgt gebildet. Zuerst wird die filmbildende Kammer 121 auf einen vorbestimmten Druck evakuiert. Anschließend werden die für die Kathoden 123a bis 123f gesetzten Zielvorgaben gesputtert, während ein Prozessgas, wie ein Ar-Gas oder dergleichen, in die filmbildende Kammer 121 eingeleitet wird. Deshalb werden die SUL 112, die erste Keimschicht 113A, die zweite Keimschicht 113B, die erste Grundschicht 114A, die zweite Grundschicht 114B und die magnetische Schicht 115 hintereinander auf der Oberfläche der weiterlaufenden Basisschicht 111 gebildet.
• Die Atmosphäre der filmbildenden Kammer 121 zum Zeitpunkt des Sputterns ist zum Beispiel auf etwa 1 × 10^-5 Pa bis 5 × 10^-5 Pa gesetzt. Die Filmdicken und Charakteristiken der SUL 112, der ersten Keimschicht 113A, der zweiten Keimschicht 113B, der ersten Grundschicht 114A, der zweiten Grundschicht 114B und der magnetischen Schicht 115 können durch Anpassen der Tape-Line-Geschwindigkeit, bei welcher die Basisschicht 111 gewickelt wird, dem Druck (Sputtering-Gasdruck) des Prozessgases, wie des Ar-Gases oder dergleichen, das zum Zeitpunkt des Sputterns eingeleitet wird, der zugeführten Energie und dergleichen, kontrolliert werden.
• Als Nächstes wird die Schutzschicht 116 auf der magnetischen Schicht 115 gebildet. Als Verfahren zum Bilden der Schutzschicht 116 kann zum Beispiel ein chemisches Dampfabscheidungs (CVD-) Verfahren oder ein physikalisches Dampfabscheidungs (PVD-) Verfahren angewandt werden.
• Als Nächstes werden ein Bindemittel, anorganische Partikel, ein Gleitmittel und dergleichen geknetet und in einem Lösemittel dispergiert zur Herstellung eines Überzugsmaterials für die Bildung einer Rückseitenschicht. Als Nächstes wird die Rückseitenschicht 118 auf der Rückseite der Basisschicht 111 gebildet durch Aufbringen des Überzugsmaterials für die Bildung einer Rückseitenschicht auf der Rückseite der Basisschicht 111 und anschließendes Trocknen des Überzugsmaterials.
• Als Nächstes wird zum Beispiel das Gleitmittel auf die Schutzschicht 116 aufbeschichtet zur Bildung der Gleitschicht 117. Als Verfahren zum Aufbeschichten des Gleitmittels können zum Beispiel verschiedene Beschichtungsverfahren, wie Gravurbeschichten, Tauchbeschichten und dergleichen, angewandt werden. Als Nächstes wird das magnetische Aufzeichnungsmedium 110 auf eine zuvor festgelegte Breite zurechtgeschnitten, sofern erforderlich. Auf diese Weise wird das in der 8 gezeigte magnetische Aufzeichnungsmedium 110 erhalten.
• Wirkung
• In der magnetischen Aufzeichnungskassette gemäß der zweiten Ausführungsform kann die Aufzeichnungskapazität hoch sein, und eine Änderung in der Breite des magnetischen Aufzeichnungsmediums 110 kann durch Anpassen der Spannung in Längsrichtung des magnetischen Aufzeichnungsmediums 110 durch die Aufzeichnungs- und Wiedergabevorrichtung ähnlich wie in der ersten Ausführungsform unterdrückt werden.
• Außerdem ist das magnetische Aufzeichnungsmedium 110 in einem um eine Spule gewickelten Zustand und in dem (Servospurbreite innerhalb des magnetischen Aufzeichnungsmediums) - (Servospurbreite außerhalb des magnetischen Aufzeichnungsmedium) > 0 erfüllt ist, untergebracht. Als eine Folge davon kann das Auftreten von Falten auf der Innenseite der Wicklung in der Kassette unterdrückt werden.
• Wie oben beschrieben, besitzt die magnetische Aufzeichnungskassette gemäß der zweiten Ausführungsform eine hohe Aufzeichnungskapazität per Kassette, ist für die Verwendung in einer Aufzeichnungs- und Wiedergabevorrichtung geeignet, die die Spannung in der Längsrichtung des magnetischen Aufzeichnungsmediums anpasst und das Auftreten von Falten, die mit der Spannungsanpassung auftreten können, unterdrückt.
• Modifikation
• Das magnetische Aufzeichnungsmedium 110 kann ferner eine Grundschicht zwischen der Basisschicht 111 und der SUL 112 einschließen. Da die SUL 112 den amorphen Zustand aufweist, spielt die SUL 112 keine Rolle bei der Unterstützung des Epitaxialwachstums einer auf der SUL 112 gebildeten Schicht, doch stört erwünschtermaßen nicht die Kristallausrichtung der ersten und zweiten Grundschicht 114A und 114B, die auf der SUL 112 gebildet werden. Für diesen Zweck ist es bevorzugt, dass das weiche magnetische Material eine feine Struktur besitzt, die keine Säule bildet, doch in einem Fall, in dem der Einfluss der Freisetzung eines Gases, wie Feuchtigkeit oder dergleichen, von der Basisschicht 111 groß ist, kann das weiche magnetische Material vergröbert werden, um die Kristallausrichtung der ersten und zweiten Grundschicht 114A und 114B, die auf der SUL 112 gebildet werden, zu stören. Um den Einfluss der Freisetzung des Gases, wie von Feuchtigkeit oder dergleichen, von der Basisschicht 111 zu unterdrücken, ist es bevorzugt, dass die Grundschicht, die eine Ti und Cr enthaltende Legierung enthält und einen amorphen Zustand aufweist, zwischen der Basisschicht 111 und der SUL 112 vorgesehen wird, wie weiter oben beschrieben. Als eine spezifische Konfiguration der Grundschicht kann eine Konfiguration ähnlich derjenigen der ersten Keimschicht 113A der zweiten Ausführungsform zur Anwendung kommen.
• Das magnetische Aufzeichnungsmedium 110 schließt möglicherweise nicht wenigstens eines von der zweiten Keimschicht 113B oder der zweiten Grundschicht 114B ein. Allerdings ist es stärker bevorzugt, dass das magnetische Aufzeichnungsmedium 110 sowohl die zweite Keimschicht 113B als auch die zweite Basisschicht 114B einschließt, was die Verbesserung des SNR angeht.
• Das magnetische Aufzeichnungsmedium 110 kann eine antiparallel gekoppelte SUL (APC-SUL) an Stelle der Einzelschicht-SUL einschließen.
• Andere Beispiele von magnetischen Aufzeichnungsmedien
• (Konfiguration vom magnetischen Aufzeichnungsmedium)
• Das magnetische Aufzeichnungskassette 1 kann ein magnetisches Aufzeichnungsmedium 130, wie später beschrieben, anstelle des magnetischen Aufzeichnungsmediums 110 einschließen. Das magnetische Aufzeichnungsmedium 130 schließt eine Basisschicht 111, eine SUL 112, eine Keimschicht 131, eine erste Grundschicht 132A, eine zweite Grundschicht 132B und eine magnetische Schicht 115, wie in der 10 gezeigt, ein. Man beachte hinsichtlich der Beschreibung des magnetischen Aufzeichnungsmediums 130, dass die gleichen Komponenten wie diejenigen des magnetischen Aufzeichnungsmediums 110 durch die gleichen Bezugsziffern bezeichnet werden und eine Beschreibung davon unterbleibt.
• Die SUL 112, die Keimschicht 131 und die ersten und zweiten Grundschichten 132A und 132B sind zwischen einer Hauptoberfläche der Basisschicht 111 und der magnetischen Schicht 115 vorgesehen, und die SUL 112, die Keimschicht 131, die erste Grundschicht 132A und die zweite Grundschicht 132B sind nacheinander von der Basisschicht 111 in Richtung zur magnetischen Schicht 115 gestapelt.
• (Keimschicht)
• Die Keimschicht 131 enthält Cr, Ni und Fe und hat eine flächenzentrierte kubische Gitter (fcc)-Struktur, und eine (111)-Ebene der flächenzentrierten kubischen Gitterstruktur ist vorzugsweise so ausgerichtet, dass sie parallel mit einer Oberfläche der Basisschicht 111 verläuft. Hier bedeutet die bevorzugte Ausrichtung einen Zustand, in dem die Beugungspeakintensität von der (111)-Ebene der flächenzentrierten kubischen Gitterstruktur größer ist als die Beugungspeaks von anderen Kristallebenen in einem θ-2θ-Scan einer Röntgenbeugungsmethode, oder einen Zustand, in dem nur die Beugungspeakintensität von der (111)-Ebene der flächenzentrierten kubischen Gitterstruktur in dem θ-2θ-Scan der Röntgenbeugungsmethode festgestellt wird.
• Das Intensitätsverhältnis der Röntgenbeugung der Keimschicht 131 ist bevorzugter Weise 60 cps/nm oder mehr, stärker bevorzugt 70 cps/nm oder mehr und noch mehr bevorzugt 80 cps/nm oder mehr, was die Verbesserung des SNR angeht. Hier ist das Intensitätsverhältnis der Röntgenbeugung der Keimschicht 131 ein Wert (I/D) (cps/nm) ), der durch Teilen der Intensität I(cps) der Röntgenbeugung der Keimschicht 131 durch die durchschnittliche Dicke D (nm) der Keimschicht 131 erhalten wird.
• Es ist bevorzugt, dass Cr, Ni und Fe, enthalten in der Keimschicht 131, eine durchschnittliche Zusammensetzung aufweisen, die durch die folgende Formel (2) repräsentiert wird. Cr_x (NiyFe_100-Y) _100-X (2) (wobei in der Formel (2) X im Bereich ist, in dem 10 ≤ X ≤ 45 erfüllt ist, Y im Bereich ist, in dem 60 ≤ Y ≤ 90 erfüllt ist). Wenn X in den oben genannten Bereich liegt, wird die (111)-Ausrichtung einer flächenzentrierten kubischen Gitterstruktur von Cr, Ni und Fe verbessert, so dass ein besseres SNR erhalten werden kann. In ähnlicher Weise wird, wenn Y im oben genannten Bereich liegt, die (111) -Ausrichtung der flächenzentrierten kubischen Gitterstruktur von Cr, Ni und Fe verbessert, so dass ein besseres SNR erzielt werden kann.
• Es ist bevorzugt, dass die durchschnittliche Dicke der Keimschicht 131 5 nm oder mehr bis 40 nm oder weniger beträgt. Durch Festlegen der durchschnittlichen Dicke der Keimschicht 131 auf diesen Bereich wird die (111)-Ausrichtung der flächenzentrierten kubischen Gitterstruktur von Cr, Ni und Fe verbessert so dass ein besseres SNR erzielt werden kann. Man beachte, dass die durchschnittliche Dicke der Keimschicht 131 in einer ähnlichen Weise wie bei der magnetischen Schicht 13 in der ersten Ausführungsform erhalten wird. Jedoch wird eine Vergrößerung einer TEM-Aufnahme in entsprechender Weise gemäß der Dicke der Keimschicht 131 angepasst.
• (Erste und zweite Grundschicht)
• Die erste Grundschicht 132A enthält Co und O mit einer flächenzentrierten kubischen Gitterstruktur und hat eine Säulen- (Stengelkristall-) Struktur. In der ersten Grundschicht 132A, die Co und O enthält, wird im Wesentlichen eine Wirkung (Funktion), die im Wesentlichen derjenigen der Ru enthaltenden zweiten Grundschicht 132B ähnelt, erzielt. Das Konzentrationsverhältnis der durchschnittlichen atomaren Konzentration von O zu der durchschnittlichen atomaren Konzentration von Co ((durchschnittliche atomare Konzentration von O) / (durchschnittliche atomare Konzentration von Co)) ist 1 oder mehr. Wenn das Konzentrationsverhältnis 1 oder mehr ist, wird die Wirkung der Vorsehung der ersten Basisschicht 132A verbessert, so dass ein besseres SNR erhalten werden kann.
• Es ist bevorzugt, dass die Säulenstruktur geneigt ist im Hinblick auf die Verbesserung des SNR. Es ist bevorzugt, dass die Richtung der Neigung eine Längsrichtung des langförmigen magnetischen Aufzeichnungsmediums 130 ist. Der Grund, warum es bevorzugt ist, dass die Richtung der Neigung die Längsrichtung ist, ist wie folgt. Das magnetische Aufzeichnungsmedium 130 ist ein so genanntes magnetisches Aufzeichnungsmedium für die lineare Aufzeichnung, und eine Aufzeichnungsspur verläuft parallel mit der Längsrichtung des magnetischen Aufzeichnungsmediums 130. Darüber hinaus ist das magnetische Aufzeichnungsmedium 130 auch ein so genanntes senkrechtes magnetisches Aufzeichnungsmedium, und es ist bevorzugt, dass die Kristallausrichtungsachse der magnetischen Schicht 115 senkrecht verläuft im Hinblick auf die Aufzeichnungscharakteristika, doch kann eine Neigung in der Kristallausrichtungsachse der magnetischen Schicht 115 erzeugt werden infolge des Einflusses einer Neigung der Säulenstruktur der ersten Grundschicht 132A. In dem magnetischen Aufzeichnungsmedium 130 für das lineare Aufzeichnen kann in einer Beziehung mit dem Kopfmagnetfeld zum Zeitpunkt des Aufzeichnens der Einfluss der Neigung der Kristallausrichtungsachse auf die Aufzeichnungscharakteristika in einer Konfiguration verringert werden, in der die Kristallausrichtungsachse der magnetischen Schicht 115 in der Längsrichtung des magnetischen Aufzeichnungsmediums 130 geneigt ist im Vergleich mit einer Konfiguration, in der die Kristallausrichtungsachse der magnetischen Schicht 115 in Richtung der Breite des magnetischen Aufzeichnungsmediums 130 geneigt ist. Um die Kristallausrichtungsachse der magnetischen Schicht 115 in der Längsrichtung des magnetischen Aufzeichnungsmediums 130 zu neigen, ist es bevorzugt, dass die Neigungsrichtung der Säulenstruktur der ersten Grundschicht 132A die Längsrichtung des magnetischen Aufzeichnungsmediums 130 ist, wie oben beschrieben.
• Es ist bevorzugt, dass der Neigungswinkel der Säulenstruktur größer als 0° und 60° oder weniger ist. In dem Bereich, in dem der Neigungswinkel größer als 0° und 60° oder weniger ist, ist die Veränderung bei der Spitzengestalt der in der ersten Grundschicht 132A enthaltenen Säule groß, so dass die Spitzengestalt im Wesentlichen zu einer dreieckigen Gestalt wird. Deshalb tendiert die Wirkung der körnigen Struktur zu einer Verbesserung, Geräusche tendieren dazu, reduziert zu werden, und das SNR tendiert zu einer Verbesserung. Andererseits, wenn der Neigungswinkel 60° übersteigt, ist die Veränderung bei der Spitzengestalt der in der ersten Grundschicht 132A enthaltenen Säule gering, so dass es für die Spitzengestalt schwierig ist, eine im Wesentlichen dreieckige Gestalt zu werden. Deshalb tendiert der Geräuschreduzierungseffekt zu einer Verschlechterung.
• Der durchschnittliche Partikeldurchmesser der Säulenstruktur ist 3 nm oder mehr bis 13 nm oder weniger. Wenn die durchschnittliche Partikelgröße weniger als 3 nm ist, wird die durchschnittliche Partikelgröße der in der magnetischen Schicht 115 eingeschlossenen Säulenstruktur reduziert und somit besteht eine Möglichkeit, dass die Fähigkeit zum Halten einer Aufzeichnung mit einem gegenwärtigen magnetischen Material verschlechtert wird. Andererseits, wenn die durchschnittliche Partikelgröße 13 nm oder weniger ist, wird das Geräusch unterdrückt, so dass ein besseres SNR erzielt werden kann.
• Die durchschnittliche Dicke der ersten Grundschicht 132A ist bevorzugter Weise 10 nm oder mehr bis 150 nm oder weniger. Wenn die durchschnittliche Dicke der ersten Grundschicht 132A 10 nm oder mehr ist, wird die (111)-Ausrichtung der flächenzentrierten kubischen Gitterstruktur der ersten Grundschicht 132A verbessert, so dass ein besseres SNR erhalten werden kann. Demgegenüber kann, wenn die durchschnittliche Dicke der ersten Grundschicht 132A 150 nm oder weniger ist, eine Zunahme im Partikeldurchmesser der Säule unterdrückt werden. Deshalb wird das Geräusch unterdrückt, so dass ein besseres SNR erzielt werden kann. Man beachte, dass die durchschnittliche Dicke der ersten Grundschicht 132A in einer ähnlichen Weise erhalten wird wie bei der magnetischen Schicht 13 in der ersten Ausführungsform. Jedoch wird eine Vergrößerung einer TEM-Aufnahme in entsprechender Weise gemäß der Dicke der ersten Grundschicht 132A angepasst.
• Es ist bevorzugt, dass die zweite Grundschicht 132B eine Kristallstruktur aufweist ähnlich derjenigen der magnetischen Schicht 115. In einem Fall, in dem die magnetische Schicht 115 eine Co-basierte Legierung enthält, enthält die zweite Grundschicht 132B ein Material mit einer hexagonalen, am dichtesten gepackten (hcp)-Struktur ähnlich derjenigen der Co-basierten Legierung, und es ist bevorzugt, dass die c-Achse der hcp-Struktur in einer Richtung (das heißt in Richtung der Filmdicke) senkrecht zur Filmoberfläche ausgerichtet ist. Der Grund ist, weil die Ausrichtung der magnetischen Schicht 115 verbessert werden kann und das Anpassen in eine Gitterkonstante zwischen der zweiten Grundschicht 132B und der magnetischen Schicht 115 relativ gut gemacht werden kann. Als das Material mit der hexagonalen, am dichtesten gepackten Struktur ist es bevorzugt, ein Ru enthaltendes Material zu verwenden, und insbesondere ist es bevorzugt, Ru allein zu verwenden oder eine Ru-Legierung zu verwenden. Beispiele der Ru-Legierung können ein Ru-Legierungsoxid, wie Ru-SiO₂, Ru-TiO₂, Ru-ZrO₂ oder dergleichen, einschließen.
• Die durchschnittliche Dicke der zweiten Grundschicht 132B kann dünner sein als diejenige einer Grundschicht (zum Beispiel einer Ru enthaltenden Grundschicht) in einem allgemeinen magnetischen Aufzeichnungsmedium und kann zum Beispiel 1 nm oder mehr bis 5 nm oder weniger sein. Da die Keimschicht 131 und die erste Grundschicht 132A mit den oben beschriebenen Konfigurationen unter der zweiten Grundschicht 132B vorgesehen werden, obgleich die durchschnittliche Dicke der zweiten Grundschicht 132B dünn ist, wie oben beschrieben, wird ein gutes SNR erzielt. Man beachte, dass die durchschnittliche Dicke der zweiten Grundschicht 132B in einer ähnlichen Weise wie bei der magnetischen Schicht 13 in der ersten Ausführungsform erhalten wird. Jedoch wird eine Vergrößerung einer TEM-Aufnahme in entsprechender Weise gemäß der Dicke der zweiten Grundschicht 132B angepasst.
• (Wirkung)
• In der magnetischen Aufzeichnungskassette gemäß der zweiten Ausführungsform kann selbst in einem Fall der Verwendung des magnetischen Aufzeichnungsmediums 130 an Stelle des magnetischen Aufzeichnungsmediums 110 die Aufzeichnungskapazität hoch sein, und die Änderung in der Breite des magnetischen Aufzeichnungsmediums 130 kann durch Anpassen der Spannung in Längsrichtung des magnetischen Aufzeichnungsmediums 130 durch die Aufzeichnungs- und Wiedergabevorrichtung ähnlich wie bei der ersten Ausführungsform unterdrückt werden.
• Das magnetische Aufzeichnungsmedium 130 schließt die Keimschicht 131 und die erste Grundschicht 132A zwischen der Basisschicht 111 und der zweiten Grundschicht 132B ein. Die Keimschicht 131 enthält Cr, Ni und Fe und hat eine flächenzentrierte kubische Gitterstruktur, und die (111)-Ebene der flächenzentrierten kubischen Struktur ist vorzugsweise so ausgerichtet, um parallel zu der Oberfläche der Basisschicht 111 zu verlaufen. Die erste Grundschicht 132A hat eine Säulenstruktur, in der sie Co und O enthält, das Verhältnis der durchschnittlichen atomaren Konzentration von O zu der durchschnittlichen atomaren Konzentration von Co ist 1 oder mehr und der durchschnittliche Partikeldurchmesser ist 3 nm oder mehr bis 13 nm oder weniger. Deshalb ist es möglich, die magnetische Schicht 115 mit einer guten Kristallausrichtung und einer hohen Koerzitivkraft ohne die Verwendung von Ru, welches ein teures Material ist, so dünn wie möglich durch Reduzieren der Dicke der zweiten Grundschicht 132B zu realisieren.
• Ru, das in der zweiten Grundschicht 132B enthalten ist, hat die gleiche hexagonale, am dichtesten gepackte Gitterstruktur wie diejenige von Co, welches die Hauptkomponente der magnetischen Schicht 115 ist. Deshalb hat Ru die Wirkung der Verbesserung der Kristallausrichtung der magnetischen Schicht 115 und der Unterstützung der körnigen Eigenschaft. Darüber hinaus wird zur weiteren Verbesserung der Kristallausrichtung von Ru, das in der zweiten Grundschicht 132B enthalten ist, die erste Grundschicht 132A und die Keimschicht 131 unter der zweiten Grundschicht 132B vorgesehen. In dem magnetischen Aufzeichnungsmedium 130 wird eine Wirkung (Funktion), die im Wesentlichen derjenigen der zweiten Grundschicht 132B, die Ru enthält, ähnelt, durch die erste Grundschicht 132A, die billiges CoO mit der flächenzentrierten kubischen Gitterstruktur enthält, realisiert. Deshalb kann die Dicke der zweiten Grundschicht 132B reduziert werden. Darüber hinaus wird zur Verbesserung der Kristallausrichtung der ersten Grundschicht 132A die Keimschicht 131, die Cr, Ni und Fe enthält, bereitgestellt.
• Beispiel
• Im Folgenden wird die vorliegende Technologie spezifisch durch Beispiele beschrieben, doch ist die vorliegende Technologie nicht nur auf diese Beispiele beschränkt.
• In den nachstehenden Beispielen und Vergleichsbeispielen sind die durchschnittliche Dicke t_T eines Magnetbandes, das Ausmaß der Dimensionsänderung Δw in Richtung der Breite des Magnetbandes bei einer Spannungsänderung in einer Längsrichtung des Magnetbandes, der Temperaturausdehnungskoeffizient α des Magnetbandes, der Feuchtigkeitsausdehnungskoeffizient β des Magnetbandes, die Poisson-Zahl ρ des Magnetbandes, der Elastizitätsgrenzwert σ_MD in der Längsrichtung des Magnetbandes, die durchschnittliche Dicke t_m einer magnetischen Schicht, das Rechtwinkligkeitsverhältnis S2, die durchschnittliche Dicke t_b einer Rückseitenschicht, die Oberflächenrauigkeit Rab der Rückseitenschicht, der Zwischenschicht-Reibungskoeffizient µ zwischen einer magnetischen Oberfläche und einer Rückseite, das Abweichungsausmaß einer Servospurbreite einer inneren Wickelseite (ein Abweichungsausmaß mit einer Wiedergabe-Servolesekopfbreite) T_inW, das Abweichungsausmaß einer Servospurbreite einer äußeren Wickelseite (ein Abweichungsausmaß mit einer Wiedergabe-Servolesekopfbreite) T_outW und der Unterschied in einer Servospurbreite zwischen der Innenseite und der Außenseite der Wicklung (T_inW-T_outW) Werte, die durch ein in der ersten Ausführungsform beschriebenes Messverfahren erhalten werden. Jedoch wurde, wie später in Beispiel 11 beschrieben wird, die Geschwindigkeit V zum Zeitpunkt des Messens eines Elastizitätsgrenzwerts σ_MD in Längsrichtung auf einen Wert gesetzt, der sich von dem in der ersten Ausführungsform beschriebenen Messverfahren unterscheidet.
• [Beispiel 1]
• (Verfahren zur Herstellung des magnetischen schichtbildenden Überzugsmaterials)
• Ein magnetisches schichtbildendes Überzugsmaterial wurde wie folgt hergestellt. Zuerst wurde eine erste Zusammensetzung der folgenden Mischung mit einem Extruder geknetet. Als Nächstes wurden die geknetete erste Zusammensetzung und eine zweite Zusammensetzung der folgenden Mischung in einen Rührtank gegeben, der mit einer Dispergiervorrichtung ausgerüstet war, und es wurde ein vorbereitendes Mischen durchgeführt. Anschließend wurde erneut ein Sandmühlenmischen durchgeführt und das Ganze wurde einem Filtrieren unterzogen zur Herstellung eines magnetischen schichtbildenden Überzugsmaterials.
• (Erste Zusammensetzung)
• Pulver aus ε-Eisenoxid-Nanopartikeln (ε-Fe₂O₃-Kristallpartikel): 100 Massenteile
  Vinylchloridharz (30 Massen-% einer Cyclohexanonlösung): 10 Massenteile (enthaltend einen Polymerisationsgrad von 300, Mn = 10000, OSO₃K = 0,07 mmol/g als eine polare Gruppe und sekundäres OH = 0,3 mmol/g)
  Aluminiumoxidpulver: 5 Massenteile
  (α-Al₂O₃, durchschnittliche Teilchengröße 0,2 µm)
  Carbon-Black bzw. Ruß: 2 Massenteile
  (Hergestellt von TOKAI CARBON CO., LTD, Handelsname: SEAST TA)
• (Zweite Zusammensetzung)
• Vinylchloridharz: 1,1 Massenteile
  (Harzlösung: 30 Massen-% Harz, 70 Massen-% Cyclohexanon)
  n-Butylstearat: 2 Massenteile
  Methylethylketon: 121,3 Massenteile
  Toluol: 121,3 Massenteile
  Cyclohexanon: 60,7 Massenteile
• Schließlich wurden 4 Massenteile Polyisocyanat (Handelsname: Coronate L, hergestellt von Nippon Polyurethane Co., Ltd.) und 2 Massenteile Myristinsäure als ein Härtungsmittel dem die magnetische Schicht bildenden Überzugsmaterial, hergestellt wie oben beschrieben, hinzugesetzt.
• (Verfahren zur Herstellung des die Grundschicht bildenden Überzugsmaterials)
• Ein die Grundschicht bildendes Überzugsmaterial wurde wie folgt hergestellt. Zuerst wurde eine dritte Zusammensetzung der folgenden Mischung durch einen Extruder geknetet. Als Nächstes wurde die geknetete dritte Zusammensetzung und eine vierte Zusammensetzung der folgenden Mischung in einen Rührtank gegeben, der mit einer Dispergiervorrichtung ausgerüstet war, und es wurde ein vorbereitendes Mischen durchgeführt. Anschließend wurde weiter ein Sandmühlenmischen durchgeführt, und die Mischung wurde einem Filtrieren unterzogen zur Herstellung eines magnetischen schichtbildenden Überzugsmaterials.
• (Dritte Zusammensetzung)
• Nadelähnliches Eisenoxidpulver: 100 Massenteile
  (α-Fe₂O₃, durchschnittliche Hauptachsenlänge 0,15 pm)
  Vinylchloridharz: 55,6 Massenteile
  (Harzlösung: 30 Massen-% Harz, 70 Massen-% Cyclohexanon)
  Carbon-Black: 10 Massenteile
  (Durchschnittliche Partikelgröße 20 nm)
• (Vierte Zusammensetzung)
• Polyurethanharz UR8200(hergestellt von TOYO BOSEKI): 18,5 Massenteile
  n-Butylstearat: 2 Massenteile
  Methylethylketon: 108,2 Massenteile
  Toluen: 108,2 Massenteile
  Cyclohexanon: 18,5 Massenteile
• Schließlich wurden 4 Massenteile Polyisocyanat (Handelsname: Coronate L, hergestellt von Nippon Polyurethane Co., Ltd.) und 2 Massenteile Myristinsäure als ein Härtungsmittel zu dem die Grundschicht bildenden Überzugsmaterial, hergestellt wie oben beschrieben, hinzugesetzt.
• (Verfahren zur Herstellung eines die Rückseitenschicht bildenden Überzugsmaterials)
• Ein die Rückseitenschicht bildendes Überzugsmaterial wurde wie folgt hergestellt. Die folgenden Rohmaterialien wurden in einem Rührtank gemischt, der mit einer Dispergiervorrichtung ausgerüstet war, und wurden einem Filtrieren unterzogen zur Herstellung eines die Rückseitenschicht bildenden Überzugsmaterials.
  Carbon-Black (hergestellt von Asahi Carbon Co., Ltd., Handelsname: #80): 100 Massenteile
  Polyesterpolyurethan: 100 Massenteile
  (Nippon Polyurethane Co., Ltd., Handelsname: N-2304)
  Methylethylketon: 500 Massenteile
  Toluen: 400 Massenteile
  Cyclohexanon: 100 Massenteile
• (Filmbildungsverfahren)
• Unter Verwendung des Überzugsmaterials, das wie oben beschrieben hergestellt wird, wurde eine Grundschicht mit einer durchschnittlichen Dicke von 1,0 µm und eine magnetische Schicht mit einer durchschnittlichen Dicke t_m von 90 nm auf einem langen Polyethylennaphthalatfilm (im Folgenden als „PEN-Film“ bezeichnet), bei dem es sich um einen nicht-magnetischen Träger handelt, in der folgenden Weise gebildet. Zuerst wurde das die Grundschicht bildende Überzugsmaterial auf den Film aufgebracht und getrocknet zur Bildung einer Grundschicht auf dem Film. Als Nächstes wurde ein die magnetische Schicht bildendes Überzugsmaterial auf die Grundschicht aufgebracht und getrocknet zur Bildung einer magnetischen Schicht auf der Grundschicht. Man beachte, dass, wenn das die magnetische Schicht bildende Überzugsmaterial getrocknet wurde, das magnetische Pulver in einer Richtung der Dicke des Films durch eine Magnetspule magnetisch ausgerichtet wurde. Darüber hinaus wurde das Rechtwinkligkeitsverhältnis S2 in der Dickenrichtung (vertikalen Richtung) des Magnetbandes auf 65% gesetzt durch Anpassen der Anwendungszeit des Magnetfelds auf das die magnetische Schicht bildende Überzugsmaterial.
• Anschließend wurde eine Rückseitenschicht mit einer durchschnittlichen Dicke t_b von 0,6 µm auf den Film aufgebracht, auf dem die Grundschicht und die magnetische Schicht gebildet wurden, und getrocknet. Dann wurde der Film, auf dem die Grundschicht, die magnetische Schicht und die Rückseitenschicht gebildet wurden, einer Härtungsbehandlung unterzogen. Anschließend wurde ein Kalandrieren zur Glättung der Oberfläche der magnetischen Schicht durchgeführt. Hier wurden die Bedingungen (Temperatur) zum Kalandrieren eingestellt, so dass der Zwischenschicht-Reibungskoeffizient µ einer magnetischen Oberfläche und einer Rückseite etwa 0,5 betrug, und es wurde ein erneutes Härten durchgeführt zum Erhalt eines Magnetbandes mit einer durchschnittlichen Dicke t_T von 5,5 µm.
• (Schneideverfahren)
• Das Magnetband, das wie oben beschrieben erhalten wurde, wurde auf eine Breite von 1/2 Inch (12,65 mm) geschnitten und um einen Kern gewickelt zum Erhalt einer Pfannkuchenform (pancake) .
• Das Magnetband, das wie oben beschrieben erhalten wurde, hatte die in der Tabelle 1 gezeigten Charakteristika. Zum Beispiel betrug das Ausmaß der Dimensionsänderung Δw des Magnetbandes 707 ppm/N.
• Das 1/2 Inch breite Magnetband wurde um eine Spule gewickelt, die in dem Kassettengehäuse hergestellt wurde zum Erhalt einer magnetischen Aufzeichnungskassette. Ein Servosignal wurde auf dem Magnetband aufgezeichnet. Das Servosignal schließt eine Reihe von umgekehrten V-förmigen magnetischen Mustern ein, und die magnetischen Muster werden zuvor parallel in der Längsrichtung in zwei oder mehr Linien in bekannten Intervallen hergestellt (im Folgenden als „Standard-Servospurbreite bezeichnet“).
• [Beispiel 2]
• Ein Magnetband wurde in gleicher Weise wie in Beispiel 1 hergestellt, außer dass die Dicke des PEN-Films dünner als in Beispiel 1 gemacht wurde, so dass das Ausmaß der Dimensionsänderung Δw 750 ppm/N betrug. Die durchschnittliche Dicke t_T des Magnetbandes war 5 µm. Wie in Beispiel 1 wurde eine magnetische Aufzeichnungskassette unter Verwendung des Magnetbandes hergestellt, und ein Servosignal wurden dann auf dem Magnetband aufgezeichnet.
• [Beispiel 3]
• Ein Magnetband wurde in gleicher Weise wie in Beispiel 1 hergestellt, außer dass die Dicke des PEN-Films dünner als in Beispiel 1 war, und die durchschnittliche Dicke der Rückseitenschicht und die Grundschicht waren dünner, so dass das Ausmaß der Dimensionsänderung Δw 800 ppm/N betrug. Die durchschnittliche Dicke t_T des Magnetbandes betrug 4,5 µm. Wie in Beispiel 1 wurde eine magnetische Aufzeichnungskassette unter Verwendung des Magnetbandes hergestellt, und ein Servosignal wurden dann auf dem Magnetband aufgezeichnet.
• [Beispiel 4]
• Ein Magnetband wurde in gleicher Weise wie in Beispiel 1 hergestellt, außer dass die Dicke des PEN-Films dünner als in Beispiel 1 war, die durchschnittliche Dicke der Rückseitenschicht und die Grundschicht dünner waren und die Bedingungen der Härtungsbehandlung des Films, auf welchem die Grundschicht, die magnetische Schicht und die Rückseitenschicht gebildet wurden, so eingestellt wurden, dass das Ausmaß der Dimensionsänderung Δw 800 ppm/N betrug. Wie in Beispiel 1 wurde eine magnetische Aufzeichnungskassette unter Verwendung des Magnetbandes hergestellt, und ein Servosignal wurden dann auf dem Magnetband aufgezeichnet.
• [Beispiel 5]
• Ein Magnetband wurde in gleicher Weise wie in Beispiel 4 erhalten, außer dass die Zusammensetzung des die Grundschicht bildenden Überzugsmaterial so abgeändert wurde, dass der thermischer Ausdehnungskoeffizient α 8,0 ppm/°C betrug. Wie in Beispiel 1 wurde eine magnetische Aufzeichnungskassette unter Verwendung des Magnetbandes hergestellt, und ein Servosignal wurden dann auf dem Magnetband aufgezeichnet.
• [Beispiel 6]
• Ein Magnetband wurde in gleicher Weise wie in Beispiel 4 erhalten, außer dass eine Barrierenschicht auf einer Seite des PEN-Films ausgebildet wurde, so dass der Feuchtigkeits-Expansionskoeffizient β 3,0 ppm/%RH betrug. Wie in Beispiel 1 wurde eine magnetische Aufzeichnungskassette unter Verwendung des Magnetbandes hergestellt, und ein Servosignal wurden dann auf dem Magnetband aufgezeichnet.
• [Beispiel 7]
• Ein Magnetband wurde in gleicher Weise wie in Beispiel 4 erhalten, außer dass longitudinale und transversale Streckkräfte des Basisfilms abgeändert wurden, so dass die Poisson-Zahl ρ 0,31 betrug. Wie in Beispiel 1 wurde eine magnetische Aufzeichnungskassette unter Verwendung des Magnetbandes hergestellt, und ein Servosignal wurden dann auf dem Magnetband aufgezeichnet.
• [Beispiel 8]
• Ein Magnetband wurde in gleicher Weise wie in Beispiel 4 erhalten, außer dass longitudinale und transversale Streckkräfte des Basisfilms abgeändert wurden, so dass die Poisson-Zahl ρ 0,35 betrug. Wie in Beispiel 1 wurde eine magnetische Aufzeichnungskassette unter Verwendung des Magnetbandes hergestellt, und ein Servosignal wurden dann auf dem Magnetband aufgezeichnet.
• [Beispiel 9]
• Ein Magnetband wurde in gleicher Weise wie in Beispiel 7 erhalten, außer dass die Härtungsbedingungen des Films, auf welchem die Grundschicht, die magnetische Schicht und die Rückseitenschicht ausgebildet worden waren, eingestellt wurden, so dass der Elastizitätsgrenzwert σ_MD in der Längsrichtung 0,8 N betrug. Wie in Beispiel 1 wurde eine magnetische Aufzeichnungskassette unter Verwendung des Magnetbandes hergestellt, und ein Servosignal wurden dann auf dem Magnetband aufgezeichnet.
• [Beispiel 10]
• Ein Magnetband wurde in gleicher Weise wie in Beispiel 7 erhalten, außer dass die Härtungsbedingungen und die Bedingungen des erneuten Härtens des Film, auf welchem die Grundschicht, die magnetische Schicht und die Rückseitenschicht ausgebildet worden waren, eingestellt wurden, so dass der Elastizitätsgrenzwert σ_MD in der Längsrichtung 3,5 N betrug. Wie in Beispiel 1 wurde eine magnetische Aufzeichnungskassette unter Verwendung des Magnetbandes hergestellt, und ein Servosignal wurden dann auf dem Magnetband aufgezeichnet.
• [Beispiel 11]
• Ein Magnetband wurde in einer ähnlichen Weise wie dasjenige von Beispiel 9 erhalten. Danach wurde der Elastizitätsgrenzwert σ_MD des erhaltenen Magnetbandes durch Ändern der Geschwindigkeit V beim Messen des Elastizitätsgrenzwerts σ_MD in der Längsrichtung auf 5 mm/min gemessen. Als Ergebnis ergab sich ein Elastizitätsgrenzwert σ_MD in der Längsrichtung von 0,8, ohne irgendeine Änderung im Vergleich mit dem Elastizitätsgrenzwert σ_MD in der Längsrichtung bei einer Geschwindigkeit V von 0,5 mm/min (Beispiel 9). Wie im Beispiel 1 wurde eine magnetische Aufzeichnungskassette unter Verwendung des Magnetbandes hergestellt, und es wurde ein Servosignal danach auf dem Magnetband aufgezeichnet.
• [Beispiel 12]
• Ein Magnetband wurde in gleicher Weise wie in Beispiel 7 erhalten, außer dass die Überzugsdicke des die magnetische Schicht bildenden Überzugsmaterials abgeändert wurde, so dass die durchschnittliche Dicke t_m der magnetischen Schicht 40 nm betrug. Wie in Beispiel 1 wurde eine magnetische Aufzeichnungskassette unter Verwendung des Magnetbandes hergestellt, und ein Servosignal wurden dann auf dem Magnetband aufgezeichnet.
• [Beispiel 13]
• (Filmbildungsverfahren von SUL)
• Zuerst wurde eine CoZrNb-Schicht (SUL) mit einer durchschnittlichen Dicke von 10 nm auf einer Oberfläche eines langen Polymerfilms als nicht-magnetischer Träger unter den folgenden Filmbildungsbedingungen gebildet. Man beachte, dass ein PEN-Film als Polymerfilm verwendet wurde.
  Filmbildungsverfahren: DC-Magnetron-Sputterverfahren
  Target: CoZrNb-Target
  Gastyp: Ar
  Gasdruck: 0,1 Pa
  (Verfahren zur Bildung der erste Keimschicht)
• Als Nächstes wurde eine TiCr-Schicht (erste Keimschicht) mit einer durchschnittlichen Dicke von 5 nm auf der CoZrNb-Schicht unter den folgenden Filmbildungsbedingungen ausgebildet.
  Sputterverfahren: DC-Magnetron-Sputterverfahren
  Target: TiCr-Target
  Erreichtes Vakuum: 5×10^-5 Pa
  Gastyp: Ar
  Gasdruck: 0,5 Pa
• (Verfahren zur Bildung der zweite Keimschicht)
• Als Nächstes wurde eine NiW-Schicht (zweite Keimschicht) mit einer durchschnittlichen Dicke von 10 nm auf der TiCr-Schicht unter den folgenden Filmbildungsbedingungen ausgebildet.
  Sputterverfahren: DC-Magnetron-Sputterverfahren
  Target: NiW-Target
  Erreichtes Vakuum: 5×10^-5 Pa
  Gastyp: Ar
  Gasdruck: 0,5 Pa
• (Verfahren zur Bildung der erste Grundschicht)
• Als Nächstes wurde eine Ru-Schicht (erste Grundschicht) mit einer durchschnittlichen Dicke von 10 nm auf der NiW-Schicht unter den folgenden Filmbildungsbedingungen ausgebildet.
  Sputterverfahren: DC-Magnetron-Sputterverfahren
  Target: Ru-Target
  Gastyp: Ar
  Gasdruck: 0,5 Pa
• (Verfahren zur Bildung der zweite Grundschicht)
• Als Nächstes wurde eine Ru-Schicht (zweite Grundschicht) mit einer durchschnittlichen Dicke von 20 nm auf der Ru-Schicht unter den folgenden Filmbildungsbedingungen ausgebildet.
  Sputterverfahren: DC-Magnetron-Sputterverfahren
  Target: Ru-Target
  Gastyp: Ar
  Gasdruck: 1,5 Pa
  (Verfahren zur Bildung der magnetischen Schicht)
• Als Nächstes wurde eine (CoCrPt)-(SiO₂)-Schicht (magnetische Schicht) mit einer durchschnittlichen Dicke von 9 nm auf der Ru-Schicht unter den folgenden Filmbildungsbedingungen ausgebildet.
  Filmbildungsverfahren: DC-Magnetron-Sputterverfahren
  Target: (CoCrPt) - (SiO₂) -Target
  Gastyp: Ar
  Gasdruck: 1,5 Pa
• (Verfahren zur Bildung der Schutzschicht)
• Als Nächstes wurde eine Kohlenstoffschicht (Schutzschicht) mit einer durchschnittlichen Dicke von 5 nm auf der magnetischen Schicht unter den folgenden Filmbildungsbedingungen ausgebildet.
  Filmbildungsverfahren: DC-Magnetron-Sputterverfahren
  Target: Kohlenstoff-Target
  Gastyp: Ar
  Gasdruck: 1,0 Pa
• (Verfahren zur Bildung der Gleitschicht)
• Als Nächstes wurde ein Gleitmittel auf die Schutzschicht aufgetragen, um eine Gleitschicht zu bilden.
• (Verfahren zur Bildung der Rückseitenschicht)
• Als Nächstes wurde ein die Rückseitenschicht bildendes Überzugsmaterial auf eine Oberfläche gegenüberliegend der magnetischen Schicht aufgebracht und getrocknet zur Bildung einer Rückseitenschicht mit einer durchschnittlichen Dicke t_b von 0,3 µm. Als eine Folge davon wurde ein Magnetband mit einer durchschnittlichen Dicke t_T von 4,0 µm erhalten.
• (Schneideverfahren)
• Das wie oben beschrieben erhaltene Magnetband wurde auf eine Breite von 1/2 Inch (12,65 mm) geschnitten.
• Das Magnetband, das wie oben beschrieben erhalten worden war, hatte die Charakteristiken, die in der Tabelle 1 angeführt sind. Zum Beispiel betrug das Ausmaß der Dimensionsänderung Δw des Magnetbandes 800 ppm/N. Wie in Beispiel 1 wurde eine magnetische Aufzeichnungskassette unter Verwendung des Magnetbandes hergestellt, und ein Servosignal wurden dann auf dem Magnetband aufgezeichnet.
• [Beispiel 14]
• Ein Magnetband wurde in gleicher Weise wie in Beispiel 7 erhalten, außer dass die Dicke der Rückseitenschicht auf 0,2 µm geändert wurde. Die durchschnittliche Dicke des Magnetbandes betrug 4,4 µm. Wie in Beispiel 1 wurde eine magnetische Aufzeichnungskassette unter Verwendung des Magnetbandes hergestellt, und ein Servosignal wurden dann auf dem Magnetband aufgezeichnet.
• [Beispiel 15]
• Ein Magnetband wurde in gleicher Weise wie in Beispiel 7 erhalten, außer dass die Zusammensetzung des die Rückseitenschicht bildenden Überzugsmaterials abgeändert wurde, so dass die Oberflächenrauigkeit Rab der Rückseitenschicht 3 nm betrug. Wie in Beispiel 1 wurde eine magnetische Aufzeichnungskassette unter Verwendung des Magnetbandes hergestellt, und ein Servosignal wurden dann auf dem Magnetband aufgezeichnet.
• [Beispiel 16]
• Ein Magnetband wurde in gleicher Weise wie in Beispiel 7 erhalten, außer dass die Bedingungen (Temperatur) des Kalandrierens eingestellt wurden, so dass der Reibungskoeffizient µ was 0,20. Wie in Beispiel 1 eine magnetische Aufzeichnungskassette wurde unter Verwendung des Magnetbandes hergestellt, und ein Servosignal wurden dann auf dem Magnetband aufgezeichnet.
• [Beispiel 17]
• Ein Magnetband wurde in gleicher Weise wie in Beispiel 7 erhalten, außer dass die Zusammensetzung des die Rückseitenschicht bildenden Überzugsmaterials so abgeändert wurde, dass die Oberflächenrauigkeit Rab der Rückseitenschicht 3 nm betrug und die Bedingungen (Temperatur) des Kalandrierens so eingestellt wurden, dass der Reibungskoeffizient µ 0,80 betrug. Wie in Beispiel 1 wurde eine magnetische Aufzeichnungskassette unter Verwendung des Magnetbandes hergestellt, und ein Servosignal wurden dann auf dem Magnetband aufgezeichnet.
• [Beispiel 18]
• Ein Magnetband wurde in gleicher Weise wie in Beispiel 7 erhalten, außer dass die Überzugsdicke des die magnetische Schicht bildenden Überzugsmaterials so abgeändert wurde, dass die durchschnittliche Dicke t_m der magnetischen Schicht 110 nm betrug. Wie in Beispiel 1 wurde eine magnetische Aufzeichnungskassette unter Verwendung des Magnetbandes hergestellt, und ein Servosignal wurden dann auf dem Magnetband aufgezeichnet.
• [Beispiel 19]
• Ein Magnetband wurde in gleicher Weise wie in Beispiel 7 erhalten, außer dass die Zusammensetzung des die Rückseitenschicht bildenden Überzugsmaterials so abgeändert wurde, dass die Oberflächenrauigkeit Rab der Rückseitenschicht 7 nm betrug. Wie in Beispiel 1 wurde eine magnetische Aufzeichnungskassette unter Verwendung des Magnetbandes hergestellt, und ein Servosignal wurden dann auf dem Magnetband aufgezeichnet.
• [Beispiel 20]
• Ein Magnetband wurde in gleicher Weise wie in Beispiel 7 erhalten, außer dass die Bedingungen (Temperatur) zum Kalandrieren so eingestellt wurden, dass der Reibungskoeffizient µ 0,18 betrug. Wie in Beispiel 1 wurde eine magnetische Aufzeichnungskassette unter Verwendung des Magnetbandes hergestellt, und ein Servosignal wurden dann auf dem Magnetband aufgezeichnet.
• [Beispiel 21]
• Ein Magnetband wurde in gleicher Weise wie in Beispiel 7 erhalten, außer dass die Bedingungen (Temperatur) zum Kalandrieren so eingestellt wurden, dass der Reibungskoeffizient µ 0,82 betrug. Wie in Beispiel 1 wurde eine magnetische Aufzeichnungskassette unter Verwendung des Magnetbandes hergestellt, und ein Servosignal wurden dann auf dem Magnetband aufgezeichnet.
• [Beispiel 22]
• Ein Magnetband wurde in gleicher Weise wie in Beispiel 7 erhalten, außer dass das Rechtwinkligkeitsverhältnis S2 in des Dickenrichtung (vertikaler Richtung) des Magnetbandes auf 73 % eingestellt wurde, und zwar durch Einstellen der Zeit der Anlegung des magnetischen Feldes an das die magnetische Schicht bildenden Überzugsmaterials. Wie in Beispiel 1 wurde eine magnetische Aufzeichnungskassette unter Verwendung des Magnetbandes hergestellt, und ein Servosignal wurden dann auf dem Magnetband aufgezeichnet.
• [Beispiel 23]
• Ein Magnetband wurde in gleicher Weise wie in Beispiel 7 erhalten, außer dass das Rechtwinkligkeitsverhältnis S2 in die Dickenrichtung (vertikaler Richtung) des Magnetbandes auf 80 % eingestellt wurde, und zwar durch Einstellen der Zeit der Anlegung des magnetischen Feldes an das die magnetische Schicht bildenden Überzugsmaterials. Wie in Beispiel 1 wurde eine magnetische Aufzeichnungskassette unter Verwendung des Magnetbandes hergestellt, und ein Servosignal wurden dann auf dem Magnetband aufgezeichnet.
• [Beispiel 24]
• Ein Magnetband wurde in gleicher Weise wie in Beispiel 7 erhalten, außer dass die Härtungsbedingungen und die Bedingungen des erneuten Härtens des Film, auf welchem die Grundschicht, die magnetische Schicht und die Rückseitenschicht ausgebildet worden waren, so eingestellt wurden, dass der Elastizitätsgrenzwert σ_MD in der Längsrichtung 5 N betrug. Wie in Beispiel 1 wurde eine magnetische Aufzeichnungskassette unter Verwendung des Magnetbandes hergestellt, und ein Servosignal wurden dann auf dem Magnetband aufgezeichnet.
• [Beispiel 25]
• Ein Magnetband wurde in gleicher Weise wie in Beispiel 7 erhalten, außer dass Bariumferrit (BaFe₁₂O₁₉)-Nanopartikel anstelle von ε-Eisenoxid-Nanopartikeln verwendet wurden. Wie in Beispiel 1 wurde eine magnetische Aufzeichnungskassette unter Verwendung des Magnetbandes hergestellt, und ein Servosignal wurden dann auf dem Magnetband aufgezeichnet.
• [Beispiel 26]
• Ein Magnetband wurde in der gleichen Weise wie in Beispiel 1 hergestellt, außer dass das Servosignal aufgezeichnet wurde, während es bei niedriger Spannung lief. Wie in Beispiel 1 wurde eine magnetische Aufzeichnungskassette unter Verwendung des Magnetbandes hergestellt, und ein Servosignal wurden dann auf dem Magnetband aufgezeichnet.
• [Vergleichsbeispiel 1]
• Ein Magnetband wurde in gleicher Weise wie in Beispiel 1 hergestellt, außer dass die Streckbehandlung des PEN-Films so abgeändert wurde, dass das Ausmaß der Dimensionsänderung Δw 650 [ppm/N] betrug und die Wickelspannung in dem Beschichtungsverfahren erhöht war. Wie in Beispiel 1 wurde eine magnetische Aufzeichnungskassette unter Verwendung des Magnetbandes hergestellt, und ein Servosignal wurden dann auf dem Magnetband aufgezeichnet.
• [Vergleichsbeispiel 2]
• Ein Magnetband wurde in gleicher Weise wie in Beispiel 2 hergestellt, außer dass dickerer Basisfilm verwendet wurde und das Servosignal aufgezeichnet wurde, während die Spannung eingestellt wurde. Wie in Beispiel 1 wurde eine magnetische Aufzeichnungskassette unter Verwendung des Magnetbandes hergestellt, und ein Servosignal wurden dann auf dem Magnetband aufgezeichnet.
• [Vergleichsbeispiel 3]
• Ein Magnetband wurde in gleicher Weise wie in Beispiel 2 hergestellt, außer dass ein dickerer Basisfilm verwendet wurde und das Servosignal aufgezeichnet wurde, während die Spannung eingestellt wurde. Wie in Beispiel 1 wurde eine magnetische Aufzeichnungskassette unter Verwendung des Magnetbandes hergestellt, und ein Servosignal wurden dann auf dem Magnetband aufgezeichnet.
• [Vergleichsbeispiel 4]
• Ein Magnetband wurde in gleicher Weise wie in Beispiel 7 erhalten, außer dass eine vertikale Ausrichtung nicht erfolgte. Wie in Beispiel 1 wurde eine magnetische Aufzeichnungskassette unter Verwendung des Magnetbandes hergestellt, und ein Servosignal wurden dann auf dem Magnetband aufgezeichnet.
• (Bestimmung des Ausmaßes der Änderung der Bandbreite)
• Wie oben beschrieben, werden auf dem in der magnetischen Aufzeichnungskassette eingeschlossenen Magnetband zwei oder mehr Reihen von umgekehrten V-förmigen magnetischen Mustern zuvor parallel in der Längsrichtung in einem bekannten Intervall („Standard-Servospurbreite“) aufgezeichnet. Das magnetische Aufzeichnungsband in jeder magnetischen Aufzeichnungskassette wurde in der Aufzeichnungs- und Wiedergabevorrichtung wechselseitig hin und her bewegt.
• Danach wurden zum Zeitpunkt des Hin- und Herlaufens zwei oder mehr Reihen des oben genannten umgekehrten V-förmigen Musters gleichzeitig wiedergegeben, und das Intervall zwischen den Reihen des magnetischen Musters während des Laufens wurde kontinuierlich anhand der Gestalt einer Wiedergabe-Wellenform von jede Reihe gemessen. Man beachte, dass die Laufzeit, der Rotationsantrieb der Spindelantriebsvorrichtung und der Spulenantriebsvorrichtung auf der Basis der gemessenen Intervallinformationen der magnetischen Musterreihe gesteuert wurde, um die Spannung in der Längsrichtung des Magnetbandes automatisch anzupassen, so dass das Intervall zwischen den magnetischen Musterreihen eine vorgeschriebene Breite oder im Wesentlichen eine vorgeschriebene Breite wird. Ein einfacher Durchschnitt von allen gemessenen Werten für ein Hin- und Herlaufen des Intervalls zwischen den magnetischen Musterreihen wird als ein „gemessenes Intervall zwischen magnetischen Musterreihen“ bestimmt, und der Unterschied zwischen diesem und der „Standard-Servospurbreite“ ist die „Änderung in der Bandbreite“.
• Darüber hinaus wurde das Hin- und Herlaufen lassen durch die Aufzeichnungs- und Wiedergabevorrichtung in einer Kammer mit konstanter Temperatur und Feuchtigkeit durchgeführt. Die Geschwindigkeit des Hin- und Herlaufens betrug 5 m/s. Die Temperatur und Feuchtigkeit während des Hin- und Herlaufens wurden schrittweise und wiederholt gemäß einem Programm mit zuvor festgelegter Umfeldveränderung in einem Temperaturbereich von 10°C bis 45°C und dem relativen Feuchtigkeitsbereich von 10% bis 80% verändert, unabhängig von dem oben beschriebenen Hin- und Herlaufen (zum Beispiel kann das zuvor festgelegte Umfeldveränderungsprogramm zum Beispiel so sein, dass 10°C und 10% → 29°C und 80% → 10°C und 10% in diesem Fall zweimal wiederholt werden, die Temperatur und Feuchtigkeit von 10°C und 10% auf 29°C und 80% in zwei Stunden und von 29°C und 80% auf 10°C und 10% in zwei Stunden geändert werden).
• Diese Evaluierung wurde wiederholt, bis das „zuvor festgelegte Umfeldveränderungsprogramm“ beendet war. Nach der Evaluierung wurde ein Durchschnittswert (einfacher Durchschnitt) unter Verwendung aller absoluter Werte von jedem aus der „Änderung in der Bandbreite“, die bei jedem Hin- und Herlaufen erhalten wurden, berechnet, und der Wert wurde als ein „tatsächliches Änderungsausmaß der Bandbreite“ des Bands bestimmt. Eine Bestimmung erfolgte auf jedem Band entsprechend der Abweichung (je kleiner, desto besser) von einem Idealwert des „tatsächlichen Änderungsausmaßes der Bandbreite“, und es wurden die jeweiligen Acht-Stufen-Bestimmungswerte angegeben. Man beachte, dass die Evaluierung „8“ das am meisten erwünschte Bestimmungsergebnis angab und die Evaluierung „1“ das am wenigsten erwünschte Bestimmungsergebnis angab. Das Magnetband hat eine gewisse Evaluierung der 8 Stufen, und die folgenden Zustände werden beobachtet, wenn das Magnetband läuft.
• 8: Es kam zu keiner Abnormalität
• 7: Ein leichter Anstieg in der Fehlergeschwindigkeit ist beim Lauf zu beobachten
• 6: Ein gravierender Anstieg in der Fehlergeschwindigkeit ist beim Lauf zu beobachten.
• 5: Während des Laufs kann das Magnetband möglicherweise nicht ein Servosignal lesen, und es erfolgt ein geringfügiges (ein- oder zweimal) Neuladen.
• 4: Während des Laufs kann das Magnetband möglicherweise nicht ein Servosignal lesen, und es erfolgt ein starkes (bis zu 10-mal) Neuladen.
• 3: Während des Laufs kann das Magnetband möglicherweise nicht ein Servosignal lesen, und es erfolgt ein starkes (bis zu 10-mal) Neuladen.
• 2: Das Magnetband kann möglicherweise nicht servolesen und stoppt gelegentlich infolge eines Systemfehlers.
• 1: Das Magnetband kann möglicherweise nicht servolesen und stoppt sofort infolge eines Systemfehlers.
• (Evaluierung der elektromagnetischen Umwandlungscharakteristik)
• Zuerst wurde ein Wiedergabesignal des Magnetbandes mit Hilfe eines Schleifenprüfers (hergestellt von Microphysics) erfasst. Die Bedingungen zum Erfassen des Wiedergabesignals werden weiter unten beschrieben.
  Kopf: GMR
  Kopfgeschwindigkeit: 2 m/s
  Signal: Einzelaufzeichnungsfrequenz (10 MHz)
• Aufzeichnungsstrom: Optimaler Aufzeichnungsstrom
• Als Nächstes wurde das Wiedergabesignal durch einen Spektrumanalysator bei einer Spannbreite (SPAN) von 0 bis 20 MHz (Auflösungsbandbreite = 100 kHz, VBW = 30 kHz) übernommen. Als Nächstes wurde ein Peak des übernommenen Spektrums als Signalstärke S genommen, das Grundrauschen bzw. der Rauschteppich ohne den Peak wurde integriert, um einen Rauschanteil N zu erhalten, und es wurde das Verhältnis S/N der Signalstärke S zu dem Rauschanteil N als ein Signal-Rausch-Verhältnis (SNR) erhalten. Als Nächstes wurde das erhaltene SNR in einen relativen Wert (dB) auf der Basis des SNR von Vergleichsbeispiel 1 als Referenzmedium umgewandelt. Als Nächstes wurde das wie oben beschrieben erhaltene SNR (dB), die Qualität einer elektromagnetischen Umwandlungscharakteristik wie folgt bestimmt.
• Besser: Das SNR des Magnetbandes ist 1 dB oder viel besser als das SNR (= 0 (dB) ) des Evaluierungs-Referenzprüflings (Vergleichsbeispiel 1).
• Gut: Das SNR des Magnetbandes ist gleich oder größer als das SNR (=0 (dB) des Evaluierungs-Referenzprüflings (Vergleichsbeispiel 1)
• Nahezu gut: Es gibt einen Bereich, in dem das SNR des Magnetbandes kleiner als das SNR (=0(dB)) des Evaluierungs-Referenzprüflings ist (Vergleichsbeispiel 1).
• Schlecht: Das SNR des Magnetbandes ist kleiner als das SNR (=0(dB)) des Evaluierungs-Referenzprüflings (Vergleichsbeispiel 1) über die gesamte Fläche.
• (Evaluierung der Wickelabweichung)
• Zuerst wurde eine magnetische Aufzeichnungskassette nach der oben erwähnten „Bestimmung des Ausmaßes der Änderung der Bandbreite“ hergestellt. Als Nächstes wurde die Spule, um welche das Band gewickelt wurde, aus der magnetischen Aufzeichnungskassette entnommen und es wurde die Stirnseite des gewickelten Bandes mit bloßem Auge begutachtet. Man beachte, dass die Spule einen Flansch aufweist und wenigstens ein Flansch transparent oder transluzent ist, so dass die innere Bandwicklung über dem Flansch begutachtet werden kann.
• Gemäß Beobachtungsergebnissen wurde in einem Fall, in dem die Stirnseite des Bandes nicht flach ist und es eine Stufe oder eine Erhebung des Bandes gibt, ermittelt, dass das Band eine Wicklungsabweichung aufweist. Darüber hinaus gilt die „Wicklungsabweichung“ als schlimmer, wenn eine Vielzahl von Stufen und Erhebungen festgestellt wird. Die oben genannte Bestimmung erfolgte für jede einzelne Probe. Der Wicklungsabweichungszustand von jeder Probe wurde mit dem Wicklungsabweichungszustand von Vergleichsbeispiel 1 als einem Referenzmedium verglichen, und die Qualität wurde wie folgt bestimmt.
• Gut: In einem Fall, in dem der Wicklungsabweichungszustand der Probe gleich oder geringer als der Wicklungsabweichungszustand der Referenzprobe ist (Vergleichsbeispiel 1)
• Schlecht: In einem Fall, in dem der Wicklungsabweichungszustand der Probe größer ist als der Wicklungsabweichungszustand der Referenzprobe (Vergleichsbeispiel 1)
• (Evaluierung des Wicklungszustands (Evaluierung des Vorhandenseins oder Fehlens von Falten))
• Zuerst wurde eine magnetische Aufzeichnungskassette nach der oben erwähnten „Bestimmung des Änderungsausmaßes der Bandbreite“ hergestellt. Durch visuelle Begutachtung des Wicklungszustands des magnetischen Aufzeichnungsmediums in der magnetischen Aufzeichnungskassette von der Seite mit dem bloßen Auge kann das Vorliegen oder Fehlen einer Störung des Wicklungszustands infolge des Auftretens von Falten geprüft werden. Bei der Begutachtung wurde der Wicklungszustand gemäß den nachstehenden Kriterien bestimmt.
• Gut: Es gibt keine durch Falten verursachte Störung des Wicklungszustands.
• Schlecht: Es gibt eine durch Falten verursachte Störung des Wicklungszustands.
• Die Tabelle 1 zeigt die Konfigurationen und Evaluierungsresultate des Magnetbandes der Beispiele 1 bis 26 und der Vergleichsbeispiele 1 bis 4.

  

  

  

  

  

  
• Man beachte, dass jedes Symbol in der Tabelle 1 sich auf die folgenden Messwerte bezieht.
  t_T: Dicke des Magnetbands (Einheit: µm)
  Δw: Ausmaß der Dimensionsänderung in Richtung der Breite des Magnetbandes bezüglich einer Änderung in der Spannung in der Längsrichtung des Magnetbandes (Einheit: ppm/N)
  α: Wärmeausdehnungskoeffizient des Magnetbands (Einheit: ppm/°C)
  β: Feuchtigkeitsausdehnungskoeffizient des Magnetbands (Einheit: ppm/%RH)
  ρ: Poisson-Zahl des Magnetbands
  σ_MD: Elastizitätsgrenzwert in der Längsrichtung des Magnetbands (Einheit: N)
  V: Geschwindigkeit für das Messen der Elastizitätsgrenze (Einheit: mm/min)
  t_m: Durchschnittliche Dicke der magnetischen Schicht (Einheit: nm)
  S2: Rechtwinkligkeitsverhältnis (Einheit: %) in der Dickenrichtung (vertikaler Richtung) des Magnetbandes (Einheit: %)
  t_b: Durchschnittliche Dicke der Rückseitenschicht (Einheit: µm)
  Rab: Oberflächenrauigkeit der Rückseitenschicht (Einheit: nm) µ: Reibungskoeffizient zwischen der magnetischen Oberfläche und der Rückseite
  T_inW: Abweichungsausmaß der Servospurbreite auf der Innenseite der Wicklung (Einheit: µm)
  T_outW: Abweichungsausmaß der Servospurbreite auf der Außenseite der Wicklung (Einheit: µm)
  T_inW-T_outW: (Abweichungsausmaß der Servospurbreite auf der Innenseite der Wicklung) - (Abweichungsausmaß der Servospurbreite auf der Außenseite der Wicklung) (Einheit: µm). Der Unterschied zwischen den Servospurbreiten auf der Innenseite der Wicklung und der Außenseite der Wicklung.
• Anhand der in der Tabelle 1 gezeigten Ergebnisse lässt sich Folgendes erkennen.
• Bei allen Magnetbändern der Beispiele 1 bis 26 waren die Bestimmungsergebnisse des Änderungsausmaßes bei der Bandlänge vor und nach der Lagerung 4 oder mehr. (Mit anderen Worten, die Abweichung von dem Idealwert des „tatsächlichen Änderungsausmaßes der Bandbreite“ ist gering). Deshalb lässt sich erkennen, dass die magnetische Aufzeichnungskassette gemäß der Ausführungsform der vorliegenden Technologie für die Verwendung in einer Aufzeichnungs- und Wiedergabevorrichtung zum Anpassen der Spannung in Längsrichtung geeignet ist.
• Anhand der Bestimmungsergebnisse der Änderungsausmaße der Bandbreiten der Beispiele 1 bis 26 und von Vergleichsbeispiel 1 lässt sich erkennen, dass das Ausmaß der Dimensionsänderung Δw des magnetischen Aufzeichnungsbands 660 ppm/N oder mehr, stärker bevorzugt 700 ppm/N oder mehr, sogar mehr bevorzugt 750 ppm/N, noch mehr bevorzugt 800 ppm/N oder mehr beträgt und somit das magnetische Aufzeichnungsband mehr geeignet ist für die Verwendung in der Aufzeichnungs- und Wiedergabevorrichtung zum Anpassen der Spannung in der Längsrichtung (insbesondere für die Anpassung der Bandbreite durch Anpassen der Spannung).
• Anhand des Vergleichs der Beispiele 1 bis 26 und der Vergleichsbeispiele 2 und 3 lässt sich erkennen, dass der Unterschied in der Servospurbreite zwischen der Innenseite und der Außenseite der Wicklung größer als 0,00 µm, bevorzugter Weise 0,01 µm oder mehr, stärker bevorzugt 0,02 µm oder mehr, noch mehr bevorzugt 0,05 µm ist und damit der Wicklungszustand gut ist (Falten treten nicht auf in einem Fall, in dem das magnetische Aufzeichnungsband um die Spule in der Kassette gewickelt ist).
• Anhand des Vergleichs der Evaluierungsergebnisse der Beispiele 3 bis 6 und dergleichen ist der thermische Ausdehnungskoeffizient α bevorzugter Weise 5,9 ppm/°C ≤ α ≤ 8 ppm/°C vom Standpunkt der Unterdrückung der Abweichung vom Idealwert des „tatsächlichen Änderungsausmaßes der Bandbreite“. Darüber hinaus lässt sich anhand des Vergleichs der Evaluierungsergebnisse der Beispiele 3 bis 6 und dergleichen erkennen, dass der Feuchtigkeitsausdehnungskoeffizient β bevorzugter Weise β ≤ 5 ppm/%RH ist vom Standpunkt der Unterdrückung der Abweichung vom Idealwert des „tatsächlichen Änderungsausmaßes der Bandbreite“.
• Anhand des Vergleichs der Evaluierungsergebnisse der Beispiele 7, 9, 10, und dergleichen lässt sich erkennen, dass der Elastizitätsgrenzwert σ_MD in der Längsrichtung 0,8 N ≤ σ_MD beträgt vom Standpunkt der Unterdrückung der Abweichung vom Idealwert des „tatsächlichen Änderungsausmaßes der Bandbreite“.
• Anhand des Vergleichs der Beispiele 9 und 11 lässt sich erkennen, dass der Elastizitätsgrenzwert σ_MD nicht von der Geschwindigkeit V abhängt, wenn die Messung der Elastizitätsgrenze durchgeführt wird.
• Anhand des Vergleichs der Evaluierungsergebnisse der Beispiele 7 und 18 lässt sich erkennen, dass die Dicke der magnetischen Schicht bevorzugter Weise 100 nm oder weniger, besonders 90 nm oder weniger vom Standpunkt der Verbesserung der elektromagnetischen Umwandlungscharakteristik beträgt.
• Anhand des Vergleichs der Evaluierungsergebnisse der Beispiele 7, 15, 17 und 19 lässt sich erkennen, dass die Oberflächenrauigkeit Rab der Rückseitenschicht bevorzugter Weise 3,0 nm ≤ Rab ≤ 7,5 nm vom Standpunkt der Verbesserung der elektromagnetischen Umwandlungscharakteristik beträgt.
• Wenn die Evaluierungsergebnisse der Beispiele 7, 16, 17, 20 und 21 miteinander verglichen werden, ist der Reibungskoeffizient µ 0,18 < µ < 0,82, insbesondere 0,20 ≤ µ ≤ 0,80, noch spezieller, 0,20 ≤ µ ≤ 0,78 und noch spezieller 0,25 ≤ µ ≤ 0,75 vom Standpunkt der Unterdrückung der Wicklungsabweichung.
• Wenn die Beispiele 1 bis 26 und das Vergleichsbeispiel 4 miteinander verglichen werden, ist es bevorzugt, dass die magnetische Schicht vertikal oder im Wesentlichen vertikal ausgerichtet ist vom Standpunkt der Verbesserung der elektromagnetischen Umwandlungscharakteristik. Darüber hinaus lässt sich anhand des Vergleichs der Evaluierungsergebnisse der Beispiele 7, 22 und 23 erkennen, dass das Rechtwinkligkeitsverhältnis S2 des Magnetbandes in der vertikalen Richtung bevorzugter Weise 73% oder mehr und insbesondere 80% oder mehr beträgt vom Standpunkt der Verbesserung der elektromagnetischen Umwandlungscharakteristik.
• Anhand des Vergleichs der Evaluierungsergebnisse der Beispiele 7 und 25 oder dergleichen lässt sich erkennen, dass ähnliche Evaluierungsergebnisse wie diejenigen, die unter Verwendung von ε-Eisenoxid-Nanopartikeln als magnetische Partikel erhalten werden, selbst in einem Fall erhalten werden können, in dem die Bariumferrit-Nanopartikel als magnetische Partikel verwendet werden.
• Anhand des Vergleichs der Ergebnisse von Beispiel 13 und anderen Beispielen lässt sich erkennen, dass ähnliche Evaluierungsergebnisse wie diejenigen des magnetischen Aufzeichnungsbands vom Beschichtungstyp sogar erzielt werden können, wenn das magnetische Aufzeichnungsband vom Vakuum-Dünnfilmtyp (Sputtertyp) verwendet wird.
• Anhand des Vergleichs von Beispiel 1 und Beispiel 26 wird davon ausgegangen, dass das Auftreten einer Wicklungsabweichung verhindert wird, weil sowohl die Servospurbreite auf der Innenseite der Wicklung und die Servospurbreite auf der Außenseite der Wicklung breiter sind als die Servo-Führungskopfbreite. Das Magnetband, in dem sowohl die Servospurbreite auf der Innenseite der Wicklung als auch die Servospurbreite auf der Außenseite der Wicklung breiter ist als die Servo-Führungskopfbreite, hat eine größere Servospurbreite als die Servo-Führungskopfbreite über die gesamte Länge. Deshalb wird davon ausgegangen, dass der Wicklungszustand besser ist, weil die Servospurbreite größer ist als die Servo-Führungskopfbreite über die gesamte Länge des Magnetbandes.
• Obwohl die Ausführungsformen und Beispiele der vorliegenden Technologie spezifisch weiter oben beschrieben worden sind, ist die vorliegende Technologie nicht auf die oben beschriebenen Ausführungsformen und Beispiele beschränkt, und es können verschiedene Modifikationen auf der Grundlage der technischen Idee der vorliegenden Technologie vorgenommen werden.
• Zum Beispiel sind die Konfigurationen, Verfahren, Schritte, Gestalten und Materialien und die Zahlenwerte oder dergleichen in den oben genannten Ausführungsformen und Beispielen lediglich Beispiele, und es kann auch eine Konfiguration, ein Verfahren, ein Schritt, eine Gestalt, ein Material und ein Zahlenwert oder dergleichen, die sich davon unterscheiden, verwendet werden. Darüber hinaus sind die chemischen Formeln der Verbindungen und dergleichen typisch und sind nicht auf die genannten Wertigkeiten im Fall des Gattungsnamens der gleichen Verbindung beschränkt.
• Darüber hinaus können die Konfigurationen, Verfahren, Schritte, Gestalten, Materialien und Zahlenwerte oder dergleichen der oben beschriebenen Ausführungsformen und Beispiele kombiniert werden, ohne vom Erfindungsgedanken der vorliegenden Technologie abzuweichen.
• Darüber hinaus gibt in dieser Patentschrift der Zahlwertbereich, der durch „bis“ angegeben wird, den Bereich an, der die vor und nach „bis“ genannten Zahlenwerte als den Mindestwert bzw. den Höchstwert einschließt. In dem schrittweise in dieser Patentschrift erwähnten Zahlenbereich kann die Ober- und Untergrenze des Zahlenbereichs einer bestimmten Stufe durch die Ober- und Untergrenze des Zahlenbereichs der anderen Stufe ersetzt werden. Die in dieser Patentschrift beispielhaft veranschaulichten Materialien können allein oder in Kombination von zwei oder mehr verwendet werden, wenn nicht in anderer Weise angegeben.
• Es ist zu beachten, dass die vorliegende Technologie die folgende Konfiguration aufweisen kann.
1. [1] Eine magnetische Aufzeichnungskassette, einschließlich ein magnetisches Aufzeichnungsmedium, dessen durchschnittliche Dicke t_T t_T ≤ 5,6 pm beträgt, Ausmaß der Dimensionsänderung Δw in einer Richtung der Breite bezüglich einer Spannungsänderung in einer Längsrichtung 660 ppm/N ≤ Δw beträgt, und Rechtwinkligkeitsverhältnis in einer vertikalen Richtung ist 65% oder mehr beträgt, wobei das magnetische Aufzeichnungsmedium in einem um eine Spule gewickelten Zustand aufgenommen ist und (eine Servospurbreite auf einer inneren Wickelseite des magnetischen Aufzeichnungsmediums) - (eine Servospurbreite auf einer äußeren Wickelseite des magnetischen Aufzeichnungsmediums) > 0 erfüllt ist
2. [2] Die magnetische Aufzeichnungskassette, die in [1] beschrieben ist, wobei das magnetische Aufzeichnungsmedium eine Servospurbreite von größer als die Servo-Lesekopfbreite einer magnetischen Aufzeichnungs- und Wiedergabevorrichtung hat, in der die magnetische Aufzeichnungskassette geladen ist
3. [3] Die magnetische Aufzeichnungskassette, die in [2] beschrieben ist, wobei die magnetische Aufzeichnungs- und Wiedergabevorrichtung eine magnetische Aufzeichnungs- und Wiedergabevorrichtung vom Timing- bzw. Zeiteinstellungs-Servotyp ist.
4. [4] Die magnetische Aufzeichnungskassette, die in einem beliebigen von [1] bis [3] beschrieben ist, bei der das Ausmaß der Dimensionsänderung Δw 700 ppm/N ≤ Δw beträgt.
5. [5] Die magnetische Aufzeichnungskassette, die in einem beliebigen von [1] bis [3] beschrieben ist, in der das Ausmaß der Dimensionsänderung Δw 750 ppm/N ≤ Δw beträgt.
6. [6] Die magnetische Aufzeichnungskassette, die in einem beliebigen von [1] bis [3] beschrieben ist, in der das Ausmaß der Dimensionsänderung Δw 800 ppm/N ≤ Δw beträgt.
7. [7] Die magnetische Aufzeichnungskassette, die einem beliebigen von [1] bis [6] beschrieben ist, in der das magnetische Aufzeichnungsmedium eine Rückseitenschicht einschließt und die Oberflächenrauigkeit Rab der Rückseitenschicht 3,0 nm ≤ Rab ≤ 7,5 nm beträgt.
8. [8] Die magnetische Aufzeichnungskassette, die in einem beliebigen von [1] bis [7] beschrieben ist, in der das magnetische Aufzeichnungsmedium eine magnetische Schicht und eine Rückseitenschicht einschließt und der Reibungskoeffizient µ zwischen einer Oberfläche auf einer Seite der magnetischen Schicht und einer Oberfläche auf einer Seite der Rückseitenschicht 0,20 ≤ µ ≤ 0,80 beträgt.
9. [9] Die magnetische Aufzeichnungskassette, die in einem beliebigen von [1] bis [8] beschrieben ist, in der der thermische Ausdehnungskoeffizient α des magnetischen Aufzeichnungsmediums 5,5 ppm/°C ≤ α ≤ 9 ppm/°C ist und der Feuchtigkeitsausdehnungskoeffizient β des magnetischen Aufzeichnungsmediums β ≤ 5,5 ppm/%RH beträgt.
10. [10] Die magnetische Aufzeichnungskassette, die in einem beliebigen von [1] bis [9] beschrieben ist, bei der die Poisson-Zahl ρ des magnetischen Aufzeichnungsmediums 0,25 ≤ ρ beträgt.
11. [11] Die magnetische Aufzeichnungskassette, die in einem beliebigen von [1] bis [10] beschrieben ist, bei der der Elastizitätsgrenzwert σ_MD des magnetischen Aufzeichnungsmediums in der Längsrichtung 0,7 N ≤ σ_MD beträgt.
12. [12] Die magnetische Aufzeichnungskassette, die in [11] beschrieben ist, bei der der Elastizitätsgrenzwert σ_MD nicht von einer Geschwindigkeit V abhängt, wenn eine Elastizitätsgrenze gemessen wird.
13. [13] Die magnetische Aufzeichnungskassette, die in einem beliebigen von [1] bis [12] beschrieben ist, bei der das magnetische Aufzeichnungsmedium eine magnetische Schicht einschließt und die magnetische Schicht vertikal ausgerichtet ist.
14. [14] Die magnetische Aufzeichnungskassette, die in einem beliebigen von [1] bis [13] beschrieben ist, bei der das magnetische Aufzeichnungsmedium die Rückseitenschicht einschließt und die durchschnittliche Dicke t_b einer Rückseitenschicht t_b ≤ 0,6 µm beträgt.
15. [15] Die magnetische Aufzeichnungskassette, die in einem beliebigen von [1] bis [14] beschrieben ist, bei der das magnetische Aufzeichnungsmedium eine magnetische Schicht einschließt und die magnetische Schicht eine gesputterte Schicht ist.
16. [16] Die magnetische Aufzeichnungskassette, die in [15] beschrieben ist, bei der die durchschnittliche Dicke t_m der magnetischen Schicht 9 nm ≤ t_m ≤ 90 nm beträgt.
17. [17] Die magnetische Aufzeichnungskassette, die in einem beliebigen von [1] bis [16] beschrieben ist, bei der das magnetische Aufzeichnungsmedium eine magnetische Schicht einschließt und die magnetische Schicht magnetisches Pulver enthält.
18. [18] Die magnetische Aufzeichnungskassette, die in [17] beschrieben ist, bei der die durchschnittliche Dicke t_m der magnetischen Schicht 35 nm ≤ t_m ≤ 120 nm beträgt.
19. [19] Die magnetische Aufzeichnungskassette, die in [17] oder [18] beschrieben ist, bei der das magnetische Pulver ε-Eisenoxid-Magnetpulver, Bariumferrit-Magnetpulver, Cobaltferrit-Magnetpulver oder Strontiumferrit-Magnetpulver einschließt.
20. [20] Eine magnetische Aufzeichnungskassette, einschließend ein magnetisches Aufzeichnungsmedium, dessen durchschnittliche Dicke t_T t_T ≤ 5,6 µm beträgt, Ausmaß der Dimensionsänderung Δw in einer Richtung der Breite bezüglich einer Spannungsänderung in einer Längsrichtung 660 ppm/N ≤ Δw beträgt, und Rechtwinkligkeitsverhältnis in einer vertikalen Richtung 65% oder mehr beträgt, wobei das magnetische Aufzeichnungsmedium eine Servospurbreite von größer als die Servo-Lesekopfbreite einer magnetischen Aufzeichnungs- und Wiedergabevorrichtung hat, in der die magnetische Aufzeichnungskassette geladen ist.
• Bezugszeichenliste

1

Magnetische Aufzeichnungskassette

3

Spule

10

Magnetische Aufzeichnungsmedium

11

Basisschicht

12

Grundschicht

13

Magnetische Schicht

14

Rückseitenschicht

• ZITATE ENTHALTEN IN DER BESCHREIBUNG
• Diese Liste der vom Anmelder aufgeführten Dokumente wurde automatisiert erzeugt und ist ausschließlich zur besseren Information des Lesers aufgenommen. Die Liste ist nicht Bestandteil der deutschen Patent- bzw. Gebrauchsmusteranmeldung. Das DPMA übernimmt keinerlei Haftung für etwaige Fehler oder Auslassungen.
• Zitierte Patentliteratur
• JP 2019086717 [0001]
• JP 2005332510 A [0005]

Claims (20)

1. Magnetische Aufzeichnungskassette, umfassend: ein magnetisches Aufzeichnungsmedium, dessen durchschnittliche Dicke t_T t_T ≤ 5,6 pm beträgt, dessen Ausmaß der Dimensionsänderung Δw in einer Richtung der Breite bezüglich einer Spannungsänderung in einer Längsrichtung 660 ppm/N ≤ Δw beträgt, und dessen Rechtwinkligkeitsverhältnis in einer vertikalen Richtung 65% oder mehr beträgt, wobei das magnetische Aufzeichnungsmedium in einem um eine Spule gewickelten Zustand aufgenommen ist und (eine Servospurbreite auf einer inneren Wickelseite des magnetischen Aufzeichnungsmediums) - (eine Servospurbreite auf einer äußeren Wickelseite des magnetischen Aufzeichnungsmediums) > 0 erfüllt ist.
2. Magnetische Aufzeichnungskassette gemäß Anspruch 1, wobei das magnetische Aufzeichnungsmedium eine Servospurbreite von größer als die Servo-Lesekopfbreite einer magnetischen Aufzeichnungs- und Wiedergabevorrichtung hat, in der die magnetische Aufzeichnungskassette geladen ist.
3. Magnetische Aufzeichnungskassette gemäß Anspruch 2, wobei die magnetische Aufzeichnungs- und Wiedergabevorrichtung eine magnetische Aufzeichnungs- und Wiedergabevorrichtung vom Timing- bzw. Zeiteinstellungs-Servotyp ist.
4. Magnetische Aufzeichnungskassette gemäß Anspruch 1, wobei das Ausmaß der Dimensionsänderung Δw 700 ppm/N ≤ Δw beträgt.
5. Magnetische Aufzeichnungskassette gemäß Anspruch 1, wobei das Ausmaß der Dimensionsänderung Δw 750 ppm/N ≤ Δw beträgt.
6. Magnetische Aufzeichnungskassette gemäß Anspruch 1, wobei das Ausmaß der Dimensionsänderung Δw 800 ppm/N ≤ Δw beträgt.
7. Magnetische Aufzeichnungskassette gemäß Anspruch 1, wobei das magnetische Aufzeichnungsmedium eine Rückseitenschicht einschließt und die Oberflächenrauigkeit Rab der Rückseitenschicht 3,0 nm ≤ R_ab ≤ 7,5 nm beträgt.
8. Magnetische Aufzeichnungskassette gemäß Anspruch 1, wobei das magnetische Aufzeichnungsmedium eine magnetische Schicht und eine Rückseitenschicht einschließt und der Reibungskoeffizient µ zwischen einer Oberfläche auf einer Seite der magnetischen Schicht und einer Oberfläche auf einer Seite der Rückseitenschicht 0,20 ≤ µ ≤ 0,80 beträgt.
9. Magnetische Aufzeichnungskassette gemäß Anspruch 1, wobei der Wärmeausdehnungskoeffizient α des magnetischen Aufzeichnungsmediums 5,5 ppm/°C ≤ α ≤ 9 ppm/°C beträgt und der Feuchtigkeitsausdehnungskoeffizient β des magnetischen Aufzeichnungsmediums β ≤ 5,5 ppm/%RH beträgt.
10. Magnetische Aufzeichnungskassette gemäß Anspruch 1, wobei die Poisson-Zahl ρ des magnetischen Aufzeichnungsmediums 0,25 ≤ ρ beträgt.
11. Magnetische Aufzeichnungskassette gemäß Anspruch 1, wobei der Elastizitätsgrenzwert σ_MD des magnetischen Aufzeichnungsmediums in Längsrichtung 0,7 N ≤ σ_MD beträgt.
12. Magnetische Aufzeichnungskassette gemäß Anspruch 11, wobei der Elastizitätsgrenzwert σ_MD nicht von einer Geschwindigkeit V abhängt, wenn eine Elastizitätsgrenze gemessen wird.
13. Magnetische Aufzeichnungskassette gemäß Anspruch 1, wobei das magnetische Aufzeichnungsmedium eine magnetische Schicht einschließt und die magnetische Schicht vertikal ausgerichtet ist.
14. Magnetische Aufzeichnungskassette gemäß Anspruch 1, wobei das magnetische Aufzeichnungsmedium eine Rückseitenschicht einschließt und die durchschnittliche Dicke t_b der Rückseitenschicht t_b ≤ 0,6 pm beträgt.
15. Magnetische Aufzeichnungskassette gemäß Anspruch 1, wobei das magnetische Aufzeichnungsmedium eine magnetische Schicht einschließt und die magnetische Schicht eine gesputterte Schicht ist.
16. Magnetische Aufzeichnungskassette gemäß Anspruch 15, wobei die durchschnittliche Dicke t_m der magnetischen Schicht 9 nm ≤ t_m ≤ 90 nm beträgt.
17. Magnetische Aufzeichnungskassette gemäß Anspruch 1, wobei das magnetische Aufzeichnungsmedium eine magnetische Schicht einschließt und die magnetische Schicht magnetisches Pulver enthält.
18. Magnetische Aufzeichnungskassette gemäß Anspruch 17, wobei die durchschnittliche Dicke t_m der magnetischen Schicht 35 nm ≤ t_m ≤ 120 nm beträgt.
19. Magnetische Aufzeichnungskassette gemäß Anspruch 17, wobei das magnetische Pulver ε-Eisenoxid-Magnetpulver, Bariumferrit-Magnetpulver, Cobaltferrit-Magnetpulver oder Strontiumferrit-Magnetpulver einschließt.
20. Magnetische Aufzeichnungskassette, umfassend ein magnetisches Aufzeichnungsmedium, dessen durchschnittliche Dicke t_T t_T ≤ 5,6 pm beträgt, dessen Ausmaß der Dimensionsänderung Δw in einer Richtung der Breite bezüglich einer Spannungsänderung in einer Längsrichtung 660 ppm/N ≤ Δw beträgt, und dessen Rechtwinkligkeitsverhältnis in einer vertikalen Richtung 65% oder mehr beträgt, wobei das magnetische Aufzeichnungsmedium eine Servospurbreite von größer als die Servo-Lesekopfbreite einer magnetischen Aufzeichnungs- und Wiedergabevorrichtung hat, in der die magnetische Aufzeichnungskassette geladen ist.

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