JPS6238617A - 出力回路装置 - Google Patents

出力回路装置

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JPS6238617A
JPS6238617A JP60177688A JP17768885A JPS6238617A JP S6238617 A JPS6238617 A JP S6238617A JP 60177688 A JP60177688 A JP 60177688A JP 17768885 A JP17768885 A JP 17768885A JP S6238617 A JPS6238617 A JP S6238617A
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Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 〔発明の技術分野〕 本発明は、出力回路装置に関し、特に出力電位及び電源
電位の安定化を図った出力回路装置に関する。
〔発明の技術的前頭とその問題点〕
最近の半導体装置におっては、チップサイズを縮小する
ために高集積化、高密度化が進んでいるとともに、高速
化を図るためにトランジスタの駆動面力を高める傾向に
ある。
チップサイズを縮小するためには、アルミ等によって形
成される配線の幅を細くする必要があり、配線幅を細く
することにより配線に存在する誘導性負荷すなわちイン
ダクタンスが増大することになる。そして、トランジス
タの大きさを大きくすることによりトランジスタの電流
駆動能力を増大させた場合には、配線に存在する誘導性
負荷の増加に起因する問題が生じることになる。以下第
18図及び第19図を用いてこの問題について説明する
第18図はN源配線及び出力配線のインダクタンス成分
を考慮した一般的なインバータ回路の構成例を示すもの
で、PチャンネルのMOsトランジスタ(PMOSトラ
ンジスタ)101とNチャンネルのMOS t−ランリ
スタ(NMOSトランジスタ)103とで構成されてい
る。PMOSトランジスタ101はそのソース端子がア
ルミにより形成された電源配線に存在するインダクタン
ス105を介してvDD電位を供給する高位電圧源VD
Dに接続され、NMo5トランジスタ103はそのソー
ス端子がアルミにより形成された電源配線に存在するイ
ンダクタンス107を介してVss電位(通常OV)を
供給する低位電圧源Vssに接続されており、さらにP
MOSトランジスタ101及びNMOSトランジスタ1
03は、そのゲート端子がともに反転しようとする信号
を入力する入力端子INに接続されていることに加えて
、それぞれのドレイン端子がアルミにより形成された出
力配線に存在するインダクタンス109を介して出力端
子OUTに接続されており、この出力端子OUTには負
荷容量111が接続されている。
そして、入力端子INにロウレベル(Vss電位)の信
号が入力されると、PMOSトランジスタ101が導通
状態、NMO8トランジスタ103が非導通状態となる
ので、高位電圧源vDDからPMOSトランジスタ10
1を介して負荷容量111に電流が流れこみ、出力端子
OUTはハイレベル(vDD1位)となる。逆に、入力
端子INにハイレベル(Voo電位)の信号が入力され
ると、PMOSトランジスタ101は非導通状態、NM
OSトランジスタ103は導通状態となるので、負荷容
量に蓄積された電荷がNMO3トランジスタ103を介
して低位電圧源Vssに流入して、出力端子OUTはロ
ウレベル(V ss電位)となる。
したがって、上述した作用により、出力端子OUTには
入力端子INに入力される信号に対しこれを反転した信
号が出力されることになる。
ところで、このように構成されたインバータ回路におい
て、出力電位を高速に反転しようとするためにトランジ
スタの大きさを大きくして電流駆動能力を高めた場合に
は、トランジスタのオン抵抗は小さくなり、高位電圧源
■DDと負荷容量111および低位電圧IVssと負荷
容量111との間には、電源配線及び出力配線に存在す
るインダクタンスと負荷容量とからなる共擾回路が形成
されることになる。そして、第19図に示すように、入
力電位がV 5sffi位からVo D 電位に変わり
NMOSトランジスタ107が導通状態となり、負荷容
」111に蓄積された電荷が急激に低位電圧源Vssに
流入して出力電位がVDD電位からVss電位に低下す
ると、Vss電位の近傍において過渡電流が流れ、所謂
アンダーシュート現象が引き起こされることになる。逆
に、負荷容量111が高位電圧源VDDからの電流の流
入により急激に充電されて出力電位がVss電位からv
DD電位に上昇した場合においても、vDD電位の近傍
において過渡電流が流れ、所謂オーバーシュート現象が
引き起こされる。
その結果、出力電位は反転された直接一時的に変動する
ことになり、誤った電位の信号が伝達されてしまうとい
う問題が生じることになる。さらに、高位電圧源VOO
及び低位電圧源Vssが変動することになり、これによ
り同じ電源配線に接続されている他の素子の入出力レベ
ルが変動して、回路が誤動作してしまうというおそれも
ある。
〔発明の目的〕
本発明は、上記に鑑みてなされたもので、その目的とす
るところは、出力電位及び電源電位の変動を抑制して、
誤動作の防止に寄与し得る出力回路装置を提供すること
にある。
〔発明の概要〕
入力信号の反転動作を行なう反転回路と、この反転回路
と出力端子を共通として、前記反転回路の出力段におけ
る容量性負荷の充放電速度を出力電位に応じて制御する
制御回路とを有することを要旨とする。
〔発明の効果〕
この発明によれば、出力電位に応じて出力回路装置の駆
動能力の制御を行なうことにより、出力端子に接続され
る負荷の充放電時における過渡電流を抑制したので、出
力電位及び電源電位のオーバーシュート、アンダーシュ
ート現象を抑制することが可能であり、出力電位及び電
源電位の安定化を向上させることができる。
〔発明の実施例〕
以下、図面を用いて本発明の詳細な説明する。
第1図は本発明の第1の実施例に係るインバータ回路を
示すものである。まず構成を説明する。
第1図において、1は入力端子INから入力される信号
を反転する第1反転部であり、3は出力電位により駆動
制御され、第1反転部1が行なう反転動作を補助する第
2反転部である。
第1反転部1は、第1のPチャンネルMO8型トランジ
スタ(以下し第1 PMO8トランジスタ」と呼ぶ。)
5と第1のNチャンネルMO8型トランジスタ(以下「
第1 NMO8トランジスタ」と呼ぶ。)7とにより構
成されている。
第1PMOSトランジスタ5及び第1 NMOSトラン
ジスタ7はそれぞれのゲート端子がともに反転しようと
する信号が入力される入力端子INに接続され、それぞ
れのドレイン端子がともに反転された信号を出力する出
力端子OUTに接続されており、第1 PMO8トラン
ジスタ5のソース端子がVoo電位を供給する高位電圧
源vDDに接続され、第lNMOSトランジスタ7のソ
ース端子がVss電位く通常OV)を供給する低位電圧
’# V ssに接続されている。
第2反転部3は、第2のNチャンネルMO8型トランジ
スタ(以下「第2NMOSトランジスタ」と呼ぶ。)9
と第2のPチャンネルMO5型トランジスタ(以下[第
2PMO3トランジスタ」と呼)。)11とにより構成
されている。
第2NMOSトランジスタ9及び第2PMOSトランジ
スタ11はそれぞれのゲート端子及びドレイン端子が共
に出力端子OUTに接続されており、第2NMOSトラ
ンジスタ9のソース端子が高位電圧源vDDに接続され
、第2PMO8トランジスタ11のソース端子が載位電
圧源yssに接続されている。また、出力端子OUTに
は負荷容量13が接続されている。
以上のように、本発明の第1の実施例のインバータ回路
は構成されており、次に、この第1の実施例の作用を第
2図を用いて説明する。
まず最初に、第2図に示す如く、入力端子INの入力電
位がロウレベル(Vss電位)からハイレベル(VDD
電位)に変わった場合について説明する。なお、この状
態の変更前にあっては、第1PMO3トランジスタ5及
び第2NMOSトランジスタ9が導通状態で、第lNM
OSトランジスタ7及び第2PMOSトランジスタ11
が非導通状態にあって、負荷容量13は高位電圧源■D
Dからの給電により充電されており出力電位はハイレベ
ル(Vo o 71位)となっている。
入力端子INに入力されたハイレベルの信号が第1PM
OSトランジスタ5及び第1 NMOSトランジスタ7
のそれぞれのゲート端子に供給されると、第1PMOS
トランジスタ5は導通状態から非導通状態、第1 NM
O3トランジスタ7は非導通状態から導通状態にそれぞ
れ変わる。第lNMOSトランジスタ7が導通状態に変
わったことで、出力端子0LITに接続されている負荷
容量13に出力端子OUTの信号状態がハイレベル時に
蓄積されていた電荷が、第1 NMO8トランジスタ7
を介して低位電圧源VSSに流れ込み、出力電位は第2
図に示ずように低下しはじめる。そして、出力電位が第
2NMOSトランジスタ9及び第2PMOSトランジス
タ11のスレッショルド電圧Vtまで低下すると、第2
NMOSトランジスタ9は導通状態から非導通状態、第
2PMOSトランリスタ11は非導通状態から導通状態
に変わり、負荷容量13に蓄積されていた電荷の一部は
第2PMOSトランジスタ11を介して低位電圧源VS
Sに流れ込むことになる。
すなわち、入力電位がハイレベル状態になると、負荷容
113に蓄積された電荷は第1 NMOSトランジスタ
7を介してのみ放電するために、出力電位はVDD電位
からVt電位までは比較的ゆるやかに低下することにな
り、Vt電位がらVss電位までは第lNMOSトラン
ジスタ7及び第2PMOSトランジスタ11の両トラン
ジスタを介して電荷が放電するために、インバータ回路
全体としては駆動能力が増大したことになり、出力電位
は第2図に示すように急速に低下することになる。
したがって、第2反転部3が動作する時点においては、
負荷容量13に蓄積された電荷の一部は故覆して出力電
位はVt電位まで低下しているので、負荷容量13に蓄
積された電荷を一度に放電させた場合に比べて、過渡電
流は小さくなりアンダーシュート現象は抑制されること
になる。
次に出力端子0LITがロウレベル状態において、入力
端子INに入力される信号がハイレベルからロウレベル
に変わった場合について説明する。このロウレベルの信
号が第1PMOSトランジスタ5及び第lNMOSトラ
ンジスタ7のゲート端子に供給されると、第1 PMO
8トランジスタ5は非導通状態から導通状態、第lNM
OSトランジスタ7は導通状態から非導通状態にそれぞ
れ変わる。第1PMOSトランジスタ5が導通状態に変
わったことにより、この第1 PMO5トランジスタ5
を介して高位電圧源Vooから負荷容量13に電流が流
れ込み、負荷容量13が充電され出力電位は第2図に示
すように上昇しはじめる。そして、出力電位が第2NM
OSトランジスタ9及び第2PMOSトランジスタ11
のスレッショルド電圧Vtまで上昇すると、第2NMO
Sトランジスタ9は非導通状態から導通状態、第2PM
OSトランジスタ11は導通状態から非導通状態に変わ
り、負荷容量13に蓄積される電荷の一部は第2NMO
Sトランジスタ9を介して高位電圧源V0Dから供給さ
れることになる。
すなわち、入力電位がハイレベルからロウレベル状態と
なり、出力電位がVss電位がらVt電位までは、高位
電圧源Vooから第1PMosトランジスタ5を介して
のみ負荷容[[13に電荷が供給され充電されるために
、出力電位は比較的ゆるやかに上昇することになり、出
力電位がVt電位からVDD電位までは、第1PMOS
トランジスタ5及び第2NMOSトランジスタ9を介し
て高位電圧源VDDから負荷容量13に電荷が供給され
充電されるために、出力電位は第2図に示すように急速
に上昇することになる。
したがって、出力電位の立ち下りと同様に、第2反転部
3が動作して急速に出力電位が上昇しても、第2反転部
3が動作する時点においては、出力電位はVt電位まで
上昇しているので、出力電位をVss電位から■DD電
位まで一度に上昇させた場合に比べて、過渡電流は小さ
くなりオーバーシュート現象は抑制されることになる。
第3図は本発明の第2の実施例に係るインバータ回路を
示すものである。その特徴とするところは、第1図に示
したインバータ回路において、出力電位により第2反転
部3の動作!ill IIを行なう制御部15を第2反
転部3の前段に設けたことにある。なお、以下の実施例
においては、出力端子OUTに接続される負荷容」の図
示は省略する。
制御部15は第3のPチャンネルMO8型トランジスタ
(以下「第3PMOSトランジスタ」と呼ぶ。)21と
第3のNチャンネルMO8型トランジスタ(以下「第3
NMO8トランジスタJと呼ぶ。)23との0M08回
路により構成されている。
第3PMOSトランジスタ21及び第3 NMOSトラ
ンジスタ23はそれぞれのゲート端子がともに出力端子
OUTに接続されており、それぞれのドレイン端子はお
互いに接続され、第3PMOSトランジスタ21のソー
ス端子は高位電圧源VDDに接続され、第3NMOSト
ランジスタ23のソース端子は低位電圧源Vssに接続
されている。
第2反転回路3は第4のPチャンネルMO8型トランジ
スタ(以下[第4PMOSトランジスタ」と呼ぶ。)1
7と第4のNチャンネルMO3型トランジスタ(以下「
第4NMOSトランジスタ」と呼ぶ。)19との0M0
8回路により構成されている。
第4 PMO8トランジスタ17及び第4 NMOSト
ランジスタ19はそれぞれのゲート端子がともに第3P
MOSトランジスタ21及び第3NMOSトランジスタ
23のドレイン端子に接続され、それぞれのドレイン端
子が出力端子OUTに接続されており、第4 PMO8
I’ランジリス17のソース端子が高位電圧源VDDに
接続され、第4NMOSトランジスタ19のソース端子
が低位電圧源Vssに接続されている。なお、第1図と
同符号のものは同一物を示しその説明は省略する。
このような構成において、制御部15は第3PMOSト
ランジスタ21及び第3NMOSトランジスタ23のス
レッショルド電圧Vtによりその反転動作を行ない、第
2反転部3の動作制御を行なうのぐ、第2反転部3は第
1の実施例と同じように動作することになる。ゆえに、
第4図に示すように、出力電位の立ち下がりにおいて、
出力電位のvDD電位からVt電位までの低下はゆるや
かに行なわれ、■【電位からVSS電位までの低下は急
速に行なわれる。また、出力電位の立ち上がりにおいて
は、出力電位のVSS電位からVt電位までの上昇はゆ
るやかに行なわれ、Vt電位からVDD電位までの上昇
は急速に行なわれることになる。
したがって、このような構成においても第1の実施例と
同様な効果が得られるとともに、第2反転部3の第4P
MOSトランジスタ17のソース端子が高位電圧源VO
Oに接続され、第4NMOSトランジスタ19のソース
端子が低位電圧源■SSに接続されているために、第2
反転部3はVss電位からVDD電位間のフルスイング
動作を行なうことができる。
なお、第1の実施例及び第2の実施例において、第1反
転部1と第2反転部3は出力電位の反転時に、出力電位
に対してお互いに逆電位側に導通状態となる。このため
、確実に反転動作を行なうためには、第1の実施例にお
いては、第1 PMOSトランジスタ5の駆動能力を第
2PMOSトランジスタ11の駆動能力よりも高くする
とともに、第lNMOSトランジスタ7の駆動能力を第
2NMOSトランジスタ9の駆動能力よりも高くするこ
とが必要である。また、第2の実施例においては、第1
PMOSトランジスタ5の駆動能力を第4NMO8トラ
ンジスタ19の駆動能力よりも高くするとともに、第l
NMOSトランジスタ7の駆動能力を第4PMOSトラ
ンジスタ17の駆動能力よりも高くすることが必要であ
る。
第5図は本発明の第3の実施例に係るインバータ回路を
示すものである。その特徴とするところは、第2の実施
例で示したtiIJ 111部15をNOTゲート25
.NANDゲート27.NORゲート29により構成し
て、第1の実施例及び第2の実施例で示したインバータ
回路において、第1反転部1と第2反転部3とが出力電
位に対して逆電位側に同時に動作することを防止したこ
とにある。
NOTゲート25はその入力端子がインバータ回路の入
力端子INに接続されており、NOTゲート25の出力
端子は2入力端子を有するNANDゲート27の入力端
子の一端に接続されているとともに、2入力端子を有す
るNORゲート29の入力端子の一端に接続されている
。NANDゲート27及びNORゲート29の入力端子
のそれぞれの他端は出力端子OUTに接続され、NAN
Dゲート27の出力端子は第4PMOSトランジスタ1
7のゲート端子に接続され、NORゲート29の出力端
子は第4NMOSトランジスタ19のゲート端子に接続
されている。
このような構成において、インバータ回路は出力電位が
NANDゲート27及びNORゲート29のスレッショ
ルド電圧■【を越えると、第2反転部3が動作してイン
バータ回路全体としての駆動能力が高くなるようになっ
ている。したがって、出力電位は第2図において示した
と同様の特性を有することになる。また、入力電位が反
転してから出力電位がNANDゲート27及びNORゲ
ート29のスレッショルド電圧Vtに達するまでの間は
第2反転部3はハイインピーダンス状態にあり、第1反
転部1だけが動作することになり、第1反転部1と第2
反転部3とが出力電位に対して逆電位側に同時に導通状
態となることはない。なお、第3図と同符号のものは同
一物を示しその説明は省略した。
第6図は本発明の第4の実施例に係るインバータ回路を
示すものである。このインバータ回路は第5図に示した
インバータ回路と同様に第2反転部3のv制御を行なう
制御部15を第2反転部3の前段に設けたものである。
制御部15はNOTゲート、NANDゲート。
NORゲートにより構成されている。NORゲート31
及びNANDゲート33はそれぞれの入力端子の一端が
入力端子INに接続され、それぞれの入力端子の他端が
NOTゲート35を介して出力端子OUTに接続されて
おり、NORゲート31の出力端子はNOVゲート37
を介して第4PMOSトランジスタ17のゲート端子に
接続され、NANDゲート33の出力端子はNOTゲー
ト3つを介して第4NMOSトランジスタ19のゲート
端子に接続されている。なお、第4図と同符号のものは
同一物を示しその説明は省略した。
このような構成とすることにより、第5図に示したイン
バータ回路と同様の入出力特性を有し、同様の効果を得
ることができる。
第7図は本発明の第5の実施例に係るバッファ回路を示
すものである。その特徴とするところは、入力端子IN
と第1反転部1との間にNOTゲート41を接続してバ
ッファ動作を行ない、第2反転部3の前段に制御部15
を設けて出力電位の立ち上り、立ち下り動作におけるオ
ーバシュート及びアンダーシュート現象を抑制したこと
にある。
制御部15はNANDゲートとNORゲートとにより構
成されている。NANDゲート43及びNORゲート4
5はそれぞれの入力端子の一端が入力端子INに接続さ
れ、それぞれの入力端子の他端は出力端子0LJTに接
続されており、NANDゲート43の出力端子は第4P
MOSトランジスタ17のゲート端子に接続され、NO
Rゲート45の出力端子は第4NMO8トランジスタ1
9のゲート端子に接続されている。なお、第3図と同符
号のものは同一物を示しその説明は省略した。
このような構成にすることにより、出力電位がNAND
ゲート43及びNORゲート45のスレッショルド電圧
Vtを越えると第2反転部3が動作して、バッファ回路
全体としての駆動能力が高まり、出力電位の立ち上がり
、立ち下がり動作を第5図に示したインバータ回路と同
様に2段階に分割することができる。
第8図は本発明の第6の実施例に係るインバータ回路を
示すものである。その特徴とするところは、出力端子O
UTに対して第2反転部3と並列に第2反転部3と同じ
構成、機能を有する第3反転部3−を設けて、この第3
反転部3′及び第2反転部3の反転動作を出力電位に基
づいて制御部15により制御を行ない、インバータ回路
全体としての駆動能力を3段階に変化させたことにある
制御部15はNOTゲート、NANDゲート。
NORゲートにより構成されている。NANDゲート4
9.53及びNORゲート51.55はそれぞれの入力
端子の一端が出力端子OUTに接続され、それぞれの入
力端子の他端がNOTゲート47を介して入力端子IN
に接続されている。NANDゲート49の出力端子は第
4PMO8トランジスタ17のゲート端子に接続され、
NORゲート51の出力端子は第4NMOSトランジス
タ19のゲート端子に接続され、NANDゲート53の
出力端子は第3反転部3′を構成する第5のPチャンネ
ルMO8型トランジスタ17′のゲート端子に接続され
ており、NORゲート55の出力端子は第5のNチャン
ネルMO8型トランジスタ19′に接続されている。
このような構成にあって、例えば出力電位の立ち下り動
作においては、入力電位がロウレベルからハイレベルに
変わると、まず第1反転部1が動作して、出力電位が低
下してVDD電位からNANDゲート53及びNORゲ
ート55のスレッショルド電位Vt+ に達すると、第
3反転部3′が動作することになる。そして、出力電位
がざらに低下LTNANDゲート49及びNORゲート
−ト51のスレッショルド電圧vt2まで達すると、第
2反転13が動作することになるので、順次インバータ
回路の駆動能力が増加されることになる。
また、出力電位の立ち上り動作においても同様に順次イ
ンバータ回路の駆動能力が増加されることになる。した
がって、この実施例におけるインバータ回路にあっては
第9図に示すような人出特性を有し、第3の実施例で説
明したインバータ回路と同じ効果を得ることができる。
第10図は本発明の第7の実施例に係るインバータ回路
を示すものである。その特徴とするところは、2つの入
力端子のスレッショルド電圧がそれぞれ異なるエクスク
ル−シブオアゲート及びエクスクル−シブノアゲートを
有する制御部15が、出力電位に基づいて第2反転部3
の動作制御を行ない、出力電位のVSS電位及びVDD
電位の近傍におけるインバータ回路の駆動能力を弱めて
、出力電位の低下及び上昇をゆるやかに行なうようにし
たものである。
制御部15はNOTゲート、エクスクル−シブ・オアゲ
ート(以下fEX、ORゲート」と呼ぶ。
)、エクスクールシブ・ノアゲート(以下rEX。
NORゲート」と呼ぶ。)、NANDゲート、NORゲ
ートとから構成されている。2つの入力端子のスレッシ
ョルド電圧がそれぞれVt+、Vt2とするEX、OR
ゲート59及びEX、NORゲート61はそれぞれの入
力端子が出力端子OUTに接続され、EX、ORゲート
5つの出力端子はNANDゲート63の入力端子の一端
に接続されており、EX、NORゲートの出力端子はN
Rゲート65の入力端子の一端に接続されている。
NANDゲート63及びNORゲート65のそれぞれの
入力端子の他端は、NOTORゲート5フして入力端子
INに接続され、NANDゲート63の出力端子は第4
PMO8トランジスタ17のゲート端子に接続されてお
り、NORゲート65の出力端子は第4NMO3トラン
ジスタ19のゲート端子に接続されている。なお、第3
図と同符号のものは同一物を示しその説明は省略する。
このような構成にあって、例えば出力電位の立ち下り動
作においては、出力電位がV[+ とVt2電位との間
にある時には、EX、NORゲート61からロウレベル
の信号がNORゲート65に出力され、NORゲート6
5はこの信号を受けてハイレベルの信号を第2反転部3
の第4NMOSトランジスタ19に供給し、第4NMO
Sトランジスタ19は導通状態となる。したがって、イ
ンバータ回路全体として駆動能力が高まり、出力電位は
急速に低下することになる。出力電位がVDO電位とV
t+ffi位及びV[2電位とvSS電位との間にある
場合には、第1反転部1の第1 NMOSトランジスタ
7だけが導通状態となり、第2反転部3は、ハイインピ
ーダンス状態となり、出力電位はゆるやかに低下するこ
とになる。また、出力電位の立ち上り動作においても、
立ち下り動作と同様に出力電位がVt+電位とVt2電
位との間にある時にのみインバータ回路全体としての駆
動能力が高まることになる。したがって、この実施例に
おけるインバータ回路にあっては、第11図に示すよう
な入出力特性を有し、第3の実施例で説明したインバー
タ回路と同じ効果を得ることができる。
第12図は本発明の第8の実施例に係るインバータ回路
を示すものである。その特徴とするところは、第2の実
施例と同様に出力電位に基づいて第2反転部3の動作制
御を行なう制御部15を第2反転部3の前段に設けて、
出力電位の立ち下り、立ち上り動作において、第3の実
施例の入出力特性とは逆に、最初インバータ回路全体と
しての駆動能力を高め出力電位を急速に低下あるいは上
昇させ、途中で駆動能力を弱めて出力電位をゆるやかに
低下あるいは上界させるようにしたものである。
制御部15はNOTゲート、NANDゲート。
NORゲートから構成されている。NANDゲート67
及びNORゲート69はそれぞれの入力端子の一端がN
OTORゲート5介して入力端子INに接続され、それ
ぞれの入力端子の他端がN。
■ゲート73を介して出力端子OUTに接続されており
、NANDゲート67の出力端子は第4PMOSトラン
ジスタ17のゲート端子に接続され、NORゲート69
の出力端子は第4NMOSトランジスタ19のゲート端
子に接続されている。なお、第3図と同符号のものは同
一物を示しその説明は省略する。
このような構成にあって、例えば出力電位の立ち下がり
動作においては、入力電位がロウレベルからハイレベル
に変わると、第lNMOSトランジスタが導通状態とな
り、出力電位がNOTゲート73のスレッショルド電圧
Vtに達するまではNORゲート69の両入力端子には
ロウレベルの信号が入力されるので、NORゲート69
はハイレベルの出力信号を第4NMOSトランジスタ1
9に供給して、第4NMOSトランジスタ19も導通状
態となる。したがって、インバータ回路全体としての駆
動能力が高まり、出力電位は急速に低下することになる
そして、出力電位がV【電位に達すると、NOTゲート
73を介して出力端子OUTに接続されているNORゲ
ート69の入力端子にはハイレベルの信号が入力される
ので、ロウレベルの出力信号がNORゲート69から第
4NMOSトランジスタ19に供給されて、第4NMO
Sトランジスタ19は非導通状態となり、インバータ回
路全体としての駆動能力が弱められて、出力電位はゆる
やかに低下する。また、出力電位の立ち上り動作におい
ても、立ち下がり動作と同様に出力電位がVt電位を越
えるとインバータ回路全体としての駆動能力が弱まり、
第13図に示すような入出力特性を有することになる。
しかるに、第13図に示すような入出力特性にあっては
、最初大きな過渡電流が流れるが出力電位がVt電位を
越えると駆動力が弱められて過渡電流は抑制される。こ
のため、出力電位がVOO電位あるいはVss電位の近
傍においては過渡電流はかなり小さくなり、オーバーシ
ュート及びアンダーシュート現象を抑制することができ
る。さらに、出力電位は最初急速に低下あるいは上昇す
るために、0M08回路等の入力信号のレベルによって
動作する素子に対しては伝達時間を短くすることができ
る。
第14図は本発明の第9の実施例に係るインバータ回路
を示すものであり、制御部15を第8の実施例において
示した回路とは異なる回路により構成して、第8の実施
例と同様に第2反転部3の動作制御を行なうようにした
ものである。
制御部15はNOTゲート、NANDゲート。
NORゲートにより構成されており、NORゲート73
及びNANDゲート75はそれぞれの入力端子の−aが
ともにインバータ回路の入力端子INに接続され、それ
ぞれの入力端子の他端がともにインバータ回路の出力端
子OUTに接続されており、NORゲート73の出力端
子はNOTゲート77を介して第4 PMO8トランジ
スタ17のゲート端子に接続され、NANDゲート75
の出力端子はNOTゲート79を介して第4NMOSト
ランジスタ19のゲート端子に接続されている。
なお、第3図と同符号のものは同一物を示しその説明は
省略する。
このような構成とすることにより、第13図に示したと
同じ入出力特性を得ることができ、第8の実施例と同様
な効果を得ることができる。
第15図は本発明の第10の実施例に係るバッファ回路
を示すものであり、第7図に示した第4の実施例におけ
るバッフ?回路のt(J御部15において、バッファ回
路の入力端子INに接続されていない側のNANDゲー
ト43及びNORゲート45の入力端子を、NOTゲー
ト81を介してバッファ回路の出力端子0tJTに接続
することによりこの実施例のバッファ回路の制御部15
を構成してものである。なお、第3図と同符号のものは
同一物を示しその説明は省略した。
このような構成にあって、例えば出力電位の立ち上り動
作においては、出力電位がNOTゲート81のスレッシ
ョルド電圧V【に達するまでは、第1PMOSトランジ
スタ5及び第4PMOSトランジスタ17は導通状態に
あり、インバータ回路全体としての駆動能力が高められ
て、出力電位は急速に上昇する。そして、出力電位がV
t電位まで達すると、第4PMOSトランジスタ17は
非導通状態となり、駆動能力は弱められて出力電位はゆ
るやかに上昇することになる。また、出力電位の立ち下
り動作においても、立ち上り動作と同様に出力電位は最
初急速に低下するが、出力電位がVt電位に達すると出
力電位はゆるやかに低下することになる。したがって、
第8の実施例と同様な効果を得ることができる。
第16図は本発明の第11の実施例に係るインバータ回
路を示すもである。その特徴とするところは、インバー
タ回路の入力端子を2つ設けて、この2つの入力端子の
信号状態により出力端子OUTをハイインピーダンス状
態とすることができるようにしたことにある。
第16図において、第1反転部1を構成する第1 PM
O3トランジスタ5のゲート端子は入力端子INIに接
続され、第lNMOSトランジスタ7のゲート端子は入
力端子IN2に接続されている。 制御部15はNOT
ゲート、NANDゲート、NORゲートにより構成され
ており、NANDゲート83はその入力端子の一端がN
OTゲート87を介してインバータ回路の入力端子IN
1に接続され、その入力端子の他端がインバータ回路の
出力端子OUTに接続されており、その出力端子が第4
PMOSトランジスタ17のゲート端子に接続されてい
る。NORゲート85はその入力端子の一端がNOTゲ
ート8つを介してインバータ回路の入力端子IN2に接
続され、その入力端子の他端がインバータ回路の出力端
子OUTに接続されており、その出力端子が第4NMO
Sトランジスタ19のゲート端子に接続されている。
なお、第3図と同符号のものは同一物を示しその説明は
省略した。
このような構成において、入力端子IN1にハイレベル
の信号が入力されるとともに、入力端子IN2にロウレ
ベルの信号が入力されると、第1PMOSトランジスタ
5及び第lNMOSトランジスタ7はともに非導通状態
となる。また、NANDゲート83の一方の入力端子に
はNOTゲート87を介してロウレベル信号が入力され
、ハイレベルの信号がNANDゲート83の出力端子か
ら第4PMOSトランジスタ17のゲート端子に供給さ
れて、第4 PMO3+−ランリスタ17は非導通状態
となる。さらに、NORゲート85の一方の入力端子に
はNOTゲート89を介してハイレベルの信号が入力さ
れ、ロウレベルの信号がNORゲート85の出力端子か
ら第4NMOSトランジスタ19のゲート端子に供給さ
れて、第4NMO8l−ランリスタ19も非導通状態と
なる。
したがって、出力電位の状態にかかわらず、入力端子I
NIにハイレベルの信号が入力され、入力端子IN2に
ロウレベルの信号が入力されると、出ノJ 9Q子OU
Tはハイインピーダンス状態となる。
また、入力端子1N1.IN2に、ともに同相の信号を
入力した場合には、第5図において示した第3の実施例
のインバータ回路と同様の入出力特性を有し、第3の実
施例と同じ効果を得ることができろ。
第17図は本発明の第12の実施例に係るインバータ回
路を示すものであり、その特徴とするところは、第16
図における制御部15にあって、NOTゲート87.8
9に接続されていない側のNANDゲート83及びNO
Rゲート85の入力端子をNOTゲート91を介して出
力端子OUTに接続することにより、この実施例におけ
るインバータ回路の制御部15を構成して、第16図に
示したインバータ回路と同様に出力電位の状態にかかわ
らず、出力端子OUTをハイインピーダンス状態とする
ことができるようにしたものである。
また、この実施例のインバータ回路にあっては、第13
図に示したと同様の入出力特性を有し、第8の実施例と
同じ効果を得ることができる。なお、第16図と同符号
のものは同一物を示しその説明は省略した。
【図面の簡単な説明】
第1図は本発明の第1の実施例に係るインバータ回路を
示すものであり、第2図は第1図の入出力特性を示すも
のであり、第3図は本発明の第2の実施例に係るインバ
ータ回路を承りものであり、第4図は第3図の入出力特
性を示すものであり、第5図は本発明の第3の実施例に
係るインバータ回路を示すものであり、第6図は本発明
の第4の実施例に係るインバータ回路を示すものであり
、第7図は本発明の第5の実施例に係るバッフ7回路を
示すものであり、第8図は本発明の第6の実施例に係る
インバータ回路を示すものであり、第9図は第8図の入
出力特性を示ずものであり、第10図は本発明の第7の
実施例に係るインバータ回路を示すものであり、第11
図は第10図の入出力特性を示すものであり、第12図
は本発明の第8の実施例に係るインバータ回路を示すも
のであり、第13図は第12図の入出力特性を示すもの
であり、第14図は本発明の第9の実施例に係るインバ
ータ回路を示すものであり、第15図は本発明の第10
の実施例に係るバッファ回路を示すものであり、第16
図は本発明の第11の実施例に係るインバータ回路を示
すものであり、第17図は本発明の第12の実施例に係
るインバータ回路を示すものであり、第18図は従来よ
り用いられているインバータ回路を示すものであり、第
19図は第18図の入出力特性を示すものである。 (図の主要な部分を表わす符号の説明)1・・・第1反
転部 3・・・第2反転部 15・・・制御部 第1図 第2図 第3図 第4図 第5図 濃   8 >   jg g」 第10図 第12図 第14図   3 第15図   3 第16図    3 、】 第17図    j

Claims (6)

    【特許請求の範囲】
  1. (1)入力信号の反転動作を行なう反転回路と、この反
    転回路と出力端子を共通として、前記反転回路の出力段
    における容量性負荷の充放電速度を出力電位に応じて制
    御する制御回路とを有することを特徴とする出力回路装
    置。
  2. (2)前記反転回路は2つの入力端子を有し、その出力
    端子がハイインピーダンス状態をとりえることを特徴と
    する特許請求の範囲第1項に記載の出力回路装置。
  3. (3)前記制御回路はゲート端子及びドレイン端子がと
    もに前記出力端子に接続され、ソース端子が高位電圧源
    に接続されたNチャンネルトランジスタと、ゲート端子
    及びドレイン端子がともに前記出力端子に接続され、ソ
    ース端子が低位電圧源に接続されたPチャンネルトラン
    ジスタとにより構成したことを特徴とする特許請求の範
    囲第1項に記載の出力回路装置。
  4. (4)前記制御回路は反転動作を行なう反転回路を2段
    に直列に接続して構成したことを特徴とする特許請求の
    範囲第1項に記載の出力回路装置。
  5. (5)前記制御回路は複数の論理回路と反転動作を行な
    う反転回路とにより構成したことを特徴とする特許請求
    の範囲第1項に記載の出力回路装置。
  6. (6)前記制御回路は複数の論理回路と前記出力端子に
    対して並列に接続され、反転動作を行なう2つの反転回
    路とにより構成したことを特徴とする特許請求の範囲第
    1項に記載の出力回路装置。
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US06/894,914 US4779013A (en) 1985-08-14 1986-08-08 Slew-rate limited output driver having reduced switching noise
DE86111280T DE3689296T2 (de) 1985-08-14 1986-08-14 Ausgangsschaltung mit Pegelstabilisierung.
EP86111280A EP0212584B1 (en) 1985-08-14 1986-08-14 Output circuit device with stabilized potential

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DE (1) DE3689296T2 (ja)

Cited By (7)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS6460107A (en) * 1987-08-13 1989-03-07 Advanced Micro Devices Inc Output buffer reducing earth rebound noise significantly
JPH01184013A (ja) * 1988-01-14 1989-07-21 Ryowa Chiyouon Kogyo Kk フィルタ用吹出口ユニット
JPH025615A (ja) * 1988-01-14 1990-01-10 Philips Gloeilampenfab:Nv プッシュプル出力回路
JPH02142216A (ja) * 1988-11-24 1990-05-31 Mitsubishi Electric Corp 半導体集積回路装置
JPH02177718A (ja) * 1988-12-28 1990-07-10 Nec Ic Microcomput Syst Ltd ダイナミック保持型バスドライバー
JPH04229714A (ja) * 1990-04-25 1992-08-19 American Teleph & Telegr Co <Att> バッファを有する集積回路
JP2019169912A (ja) * 2018-03-26 2019-10-03 新日本無線株式会社 D級増幅器

Families Citing this family (94)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS63234622A (ja) * 1987-03-23 1988-09-29 Toshiba Corp デ−タ出力回路
JPS63240128A (ja) * 1987-03-27 1988-10-05 Toshiba Corp 論理回路
US4829199A (en) * 1987-07-13 1989-05-09 Ncr Corporation Driver circuit providing load and time adaptive current
JP2542678B2 (ja) * 1988-06-17 1996-10-09 富士通株式会社 半導体装置
JPH073945B2 (ja) * 1988-06-27 1995-01-18 日本電気株式会社 Cmos出力回路
US4880997A (en) * 1988-08-18 1989-11-14 Ncr Corporation Low noise output buffer circuit
JPH0282713A (ja) * 1988-09-19 1990-03-23 Fujitsu Ltd スイッチング補助回路
JPH0777345B2 (ja) * 1988-11-04 1995-08-16 三菱電機株式会社 半導体装置
US4906867A (en) * 1988-11-09 1990-03-06 Ncr Corporation Buffer circuit with load sensitive transition control
JPH0666674B2 (ja) * 1988-11-21 1994-08-24 株式会社東芝 半導体集積回路の出力回路
US5010256A (en) * 1989-02-21 1991-04-23 United Technologies Corporation Gate output driver using slew-rate control
US5216294A (en) * 1989-05-31 1993-06-01 Samsung Electronics Co., Ltd. Data output buffer using a junction field effect transistor
US4962345A (en) * 1989-11-06 1990-10-09 Ncr Corporation Current limiting output driver
US4973865A (en) * 1989-12-20 1990-11-27 Vlsi Technology, Inc. Auto-delay gain circuit
US5070259A (en) * 1989-12-26 1991-12-03 Linear Technology Corporation Constant current, highspeed, auto-zeroed, CMOS comparator
GB2242587B (en) * 1990-02-01 1994-05-25 Mole Valley Systems Ltd Power control circuit for reactive loads
JPH03231455A (ja) * 1990-02-07 1991-10-15 Toshiba Corp 半導体集積回路
JPH0435224A (ja) * 1990-05-28 1992-02-06 Nec Corp 半導体装置
US5241221A (en) * 1990-07-06 1993-08-31 North American Philips Corp., Signetics Div. CMOS driver circuit having reduced switching noise
IL95576A0 (en) * 1990-09-04 1991-06-30 Quick Tech Ltd Controlled slew rate buffer
US5122690A (en) * 1990-10-16 1992-06-16 General Electric Company Interface circuits including driver circuits with switching noise reduction
JPH04154212A (ja) * 1990-10-17 1992-05-27 Mitsubishi Electric Corp 半導体記憶装置の出力回路
JP2978302B2 (ja) * 1991-01-28 1999-11-15 三菱電機株式会社 出力バッファ回路
JP2573431B2 (ja) * 1991-04-30 1997-01-22 株式会社東芝 出力バッファ回路
US5194760A (en) * 1991-12-23 1993-03-16 Motorola, Inc. Slew rate limited inductive load driver
JPH066195A (ja) * 1992-06-18 1994-01-14 Mitsubishi Electric Corp 出力ドライバ回路
US5306965A (en) * 1992-07-01 1994-04-26 Hewlett-Packard Co. Process compensating variable impedence I/O driver with feedback
DE4233850C1 (de) * 1992-10-08 1994-06-23 Itt Ind Gmbh Deutsche Schaltungsanordnung zur Stromeinstellung eines monolithisch integrierten Padtreibers
US5444398A (en) * 1992-12-17 1995-08-22 Siemens Aktiengesellschaft Decoded-source sense amplifier with special column select driver voltage
US5426376A (en) * 1993-04-23 1995-06-20 Vlsi Technology, Inc. Noise isolated I/O buffer that uses two separate power supplies
US5751167A (en) * 1993-08-16 1998-05-12 Nec Corporation CMOS output buffer circuit which converts CMOS logic signals to ECL logic signals and which discharges parasitic load capacitances
US5436584A (en) * 1993-11-15 1995-07-25 Intel Corporation Noise suppressing circuit for VLSI
FR2716758B1 (fr) * 1994-02-28 1996-05-31 Sgs Thomson Microelectronics Circuit de polarisation pour transistor dans une cellule de mémorisation.
JP3190199B2 (ja) * 1994-03-16 2001-07-23 株式会社東芝 同相信号出力回路、逆相信号出力回路、二相信号出力回路及び信号出力回路
JPH07307649A (ja) * 1994-05-13 1995-11-21 Fujitsu Ltd 電子装置
JP3442149B2 (ja) * 1994-07-28 2003-09-02 富士通株式会社 半導体回路
US5486782A (en) * 1994-09-27 1996-01-23 International Business Machines Corporation Transmission line output driver
JP2590758B2 (ja) * 1994-10-31 1997-03-12 日本電気株式会社 バスドライバ
WO1996036911A1 (en) * 1995-05-17 1996-11-21 Motorola Inc. Low power regenerative feedback device and method
US5739715A (en) * 1995-10-31 1998-04-14 Hewlett-Packard Co. Digital signal driver circuit having a high slew rate
US5602785A (en) * 1995-12-13 1997-02-11 Micron Technology, Inc. P-channel sense amplifier pull-up circuit with a timed pulse for use in DRAM memories having non-bootstrapped word lines
US6194923B1 (en) * 1996-10-08 2001-02-27 Nvidia Corporation Five volt tolerant output driver
US5793228A (en) * 1997-01-31 1998-08-11 International Business Machines Corporation Noise-tolerant dynamic circuits
US6472917B2 (en) * 1997-03-19 2002-10-29 Hitachi, Ltd. Semiconductor integrated circuit device having compensation for wiring distance delays
US5963076A (en) * 1997-04-14 1999-10-05 Motorola, Inc. Circuit with hot-electron protection and method
US6094075A (en) 1997-08-29 2000-07-25 Rambus Incorporated Current control technique
US6870419B1 (en) * 1997-08-29 2005-03-22 Rambus Inc. Memory system including a memory device having a controlled output driver characteristic
EP0911970A3 (en) * 1997-10-09 2001-01-10 Lucent Technologies Inc. Edge detection circuit
US5945850A (en) * 1997-11-03 1999-08-31 Lucent Technologies Inc. Edge signal restoration circuit and method
US5973522A (en) * 1998-02-05 1999-10-26 Applied Micro Circuits Corporation Current injected ramp with reduced recovery time background of the invention
US5952949A (en) * 1998-02-05 1999-09-14 Applied Micro Circuits Corporation Timer with dynamic reset threshold
US5914621A (en) * 1998-02-05 1999-06-22 Applied Micro Circuits Corporation Charge balanced ramp with improved signal linearity
US6281706B1 (en) 1998-03-30 2001-08-28 National Semiconductor Corp. Programmable high speed quiet I/O cell
US6356140B1 (en) * 1998-07-15 2002-03-12 Linear Technology Corporation Active pullup circuitry for open-drain signals
US6072729A (en) * 1998-08-24 2000-06-06 Micron Technology, Inc. Data-output driver circuit and method
KR100295053B1 (ko) * 1998-09-03 2001-07-12 윤종용 부하적응형저잡음출력버퍼
KR100433799B1 (ko) * 1998-12-03 2004-06-04 가부시키가이샤 히타치세이사쿠쇼 전압구동형 스위칭 소자의 게이트 구동회로
EP1014583A1 (en) * 1998-12-17 2000-06-28 United Memories, Inc. Multi-stage data anticipation driver and method for an integrated circuit device
US6249147B1 (en) * 1999-03-09 2001-06-19 Fujitsu, Ltd. Method and apparatus for high speed on-chip signal propagation
US6208185B1 (en) * 1999-03-25 2001-03-27 Wisconsin Alumni Research Corporation High performance active gate drive for IGBTs
US7173474B1 (en) 1999-09-15 2007-02-06 Linear Technology Corporation Load-generated drive, no quiescent current, techniques and circuits for high speed switching of transistors
US6531909B1 (en) * 1999-09-15 2003-03-11 Linear Technology Corporation Load-generated drive, substantially no quiescent current, techniques and circuits for high speed switching of transistors
US6321282B1 (en) 1999-10-19 2001-11-20 Rambus Inc. Apparatus and method for topography dependent signaling
US6646953B1 (en) 2000-07-06 2003-11-11 Rambus Inc. Single-clock, strobeless signaling system
US7051130B1 (en) 1999-10-19 2006-05-23 Rambus Inc. Integrated circuit device that stores a value representative of a drive strength setting
JP4083946B2 (ja) * 1999-12-24 2008-04-30 株式会社ルネサステクノロジ 論理回路
US6924669B2 (en) * 2000-03-30 2005-08-02 Fujitsu Limited Output buffer circuit and control method therefor
US6670683B2 (en) 2001-01-04 2003-12-30 International Business Machines Corporation Composite transistor having a slew-rate control
US7079775B2 (en) 2001-02-05 2006-07-18 Finisar Corporation Integrated memory mapped controller circuit for fiber optics transceiver
GB2388981B (en) * 2002-05-20 2006-11-15 Micron Technology Inc Increasing drive strength and reducing propagation delays through the use of feedback
US7119549B2 (en) 2003-02-25 2006-10-10 Rambus Inc. Output calibrator with dynamic precision
US6657912B1 (en) 2003-03-20 2003-12-02 International Business Machines Corporation Circuit for optimizing power consumption and performance
DE10355509A1 (de) * 2003-11-27 2005-07-07 Infineon Technologies Ag Schaltung und Verfahren zum verzögerten Einschalten einer elektrischen Last
US7027332B2 (en) * 2004-05-13 2006-04-11 Solid State System Co., Ltd. Memory I/O driving circuit with reduced noise and driving method
US7142018B2 (en) * 2004-06-08 2006-11-28 Transmeta Corporation Circuits and methods for detecting and assisting wire transitions
US7071747B1 (en) * 2004-06-15 2006-07-04 Transmeta Corporation Inverting zipper repeater circuit
US7142015B2 (en) * 2004-09-23 2006-11-28 International Business Machines Corporation Fast turn-off circuit for controlling leakage
FR2878065A1 (fr) * 2004-11-18 2006-05-19 St Microelectronics Sa Circuit de decharge d'une charge electrique, et etage de sortie de puissance comprenant un tel circuit de decharge pour la commande de cellules d'ecran plasma
US7193450B1 (en) 2004-12-02 2007-03-20 National Semiconductor Corporation Load sensing buffer circuit with controlled switching current noise (di/dt)
US7317333B1 (en) * 2005-02-10 2008-01-08 Xilinx, Inc. Large loading split I/O driver with negligible crowbar
WO2006097132A1 (de) * 2005-03-18 2006-09-21 Infineon Technologies Ag Regeneriervorrichtung zum regenerieren von signalflanken eines signals, anordnung und verfahren zum regenerieren von signialflanken eines signals
US7768296B2 (en) * 2006-02-23 2010-08-03 Freescale Semiconductor, Inc. Electronic device and method
US7733134B1 (en) * 2006-03-31 2010-06-08 Ciena Corporation High speed low noise switch
JP2007274422A (ja) * 2006-03-31 2007-10-18 Oki Electric Ind Co Ltd 駆動回路
US7646211B2 (en) * 2006-04-03 2010-01-12 Nokia Corporation Circuit and apparatus for reducing interference of digital signals
US7710153B1 (en) * 2006-06-30 2010-05-04 Masleid Robert P Cross point switch
US7809408B2 (en) * 2006-12-06 2010-10-05 Broadcom Corporation Method and system for a power switch with a slow in-rush current
US8324943B1 (en) * 2009-01-28 2012-12-04 Cirrus Logic, Inc. High voltage linear amplifier driving heavy capacitive loads with reduced power dissipation
CN201421494Y (zh) * 2009-05-11 2010-03-10 中山大洋电机股份有限公司 一种微处理器时钟检测电路及直流无刷电机的单片机mcu时钟检测电路
US20130076424A1 (en) * 2011-09-23 2013-03-28 Qualcomm Incorporated System and method for reducing cross coupling effects
US9124266B1 (en) * 2012-08-31 2015-09-01 Marvell Israel (M.I.S.L) Ltd. Increasing switching speed of logic circuits
EP3182589A1 (en) * 2015-12-17 2017-06-21 IMEC vzw Delay control circuit
US20230308099A1 (en) * 2022-03-28 2023-09-28 Mediatek Inc. Buffer circuits and semiconductor structures thereof
US20230387937A1 (en) * 2022-05-30 2023-11-30 Novatek Microelectronics Corp. Digital-to-analog conversion device and operation method thereof

Citations (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS57166733A (en) * 1981-04-06 1982-10-14 Matsushita Electric Ind Co Ltd Electronic circuit

Family Cites Families (16)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
GB1451732A (en) * 1973-03-19 1976-10-06 Motorola Inc Signal shaping circuit
GB2063025A (en) * 1979-11-09 1981-05-28 Emi Ltd Active termination of a transmission line
DE3072118D1 (en) * 1979-12-26 1988-09-22 Toshiba Kk A driver circuit for charge coupled device
JPS56162539A (en) * 1980-05-19 1981-12-14 Nec Corp Signal-line driving circuit
US4499387A (en) * 1981-12-15 1985-02-12 Tokyo Shibaura Denki Kabushiki Kaisha Integrated circuit formed on a semiconductor substrate with a variable capacitor circuit
JPS58137331A (ja) * 1982-02-10 1983-08-15 Nec Corp インバ−タ回路
EP0088291B1 (en) * 1982-02-26 1985-07-10 Kabushiki Kaisha Toshiba Mos switch circuit
US4477741A (en) * 1982-03-29 1984-10-16 International Business Machines Corporation Dynamic output impedance for 3-state drivers
JPS58185091A (ja) * 1982-04-24 1983-10-28 Toshiba Corp 昇圧電圧出力回路および昇圧電圧出力回路を備えたアドレスデコ−ド回路
JPS58196726A (ja) * 1982-05-12 1983-11-16 Hitachi Ltd Mos出力回路
JPS5942690A (ja) * 1982-09-03 1984-03-09 Toshiba Corp 半導体記憶装置
JPS59181829A (ja) * 1983-03-31 1984-10-16 Toshiba Corp 半導体素子の出力バツフア回路
US4549101A (en) * 1983-12-01 1985-10-22 Motorola, Inc. Circuit for generating test equalization pulse
US4567378A (en) * 1984-06-13 1986-01-28 International Business Machines Corporation Driver circuit for controlling signal rise and fall in field effect transistor processors
US4622482A (en) * 1985-08-30 1986-11-11 Motorola, Inc. Slew rate limited driver circuit which minimizes crossover distortion
US4638187A (en) * 1985-10-01 1987-01-20 Vtc Incorporated CMOS output buffer providing high drive current with minimum output signal distortion

Patent Citations (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS57166733A (en) * 1981-04-06 1982-10-14 Matsushita Electric Ind Co Ltd Electronic circuit

Cited By (7)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS6460107A (en) * 1987-08-13 1989-03-07 Advanced Micro Devices Inc Output buffer reducing earth rebound noise significantly
JPH01184013A (ja) * 1988-01-14 1989-07-21 Ryowa Chiyouon Kogyo Kk フィルタ用吹出口ユニット
JPH025615A (ja) * 1988-01-14 1990-01-10 Philips Gloeilampenfab:Nv プッシュプル出力回路
JPH02142216A (ja) * 1988-11-24 1990-05-31 Mitsubishi Electric Corp 半導体集積回路装置
JPH02177718A (ja) * 1988-12-28 1990-07-10 Nec Ic Microcomput Syst Ltd ダイナミック保持型バスドライバー
JPH04229714A (ja) * 1990-04-25 1992-08-19 American Teleph & Telegr Co <Att> バッファを有する集積回路
JP2019169912A (ja) * 2018-03-26 2019-10-03 新日本無線株式会社 D級増幅器

Also Published As

Publication number Publication date
EP0212584B1 (en) 1993-11-18
EP0212584A2 (en) 1987-03-04
JPH0720060B2 (ja) 1995-03-06
DE3689296D1 (de) 1993-12-23
US4779013A (en) 1988-10-18
EP0212584A3 (en) 1988-08-17
DE3689296T2 (de) 1994-04-28

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