JPH11330943A - ドライバ回路 - Google Patents

ドライバ回路

Info

Publication number
JPH11330943A
JPH11330943A JP10153713A JP15371398A JPH11330943A JP H11330943 A JPH11330943 A JP H11330943A JP 10153713 A JP10153713 A JP 10153713A JP 15371398 A JP15371398 A JP 15371398A JP H11330943 A JPH11330943 A JP H11330943A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
level
driver circuit
gate
load
logic
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Granted
Application number
JP10153713A
Other languages
English (en)
Other versions
JP3339410B2 (ja
Inventor
Kazuyuki Yamada
和志 山田
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
NEC Corp
Original Assignee
NEC Corp
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by NEC Corp filed Critical NEC Corp
Priority to JP15371398A priority Critical patent/JP3339410B2/ja
Priority to US09/304,270 priority patent/US6175252B1/en
Publication of JPH11330943A publication Critical patent/JPH11330943A/ja
Application granted granted Critical
Publication of JP3339410B2 publication Critical patent/JP3339410B2/ja
Anticipated expiration legal-status Critical
Expired - Fee Related legal-status Critical Current

Links

Classifications

    • HELECTRICITY
    • H03ELECTRONIC CIRCUITRY
    • H03KPULSE TECHNIQUE
    • H03K17/00Electronic switching or gating, i.e. not by contact-making and –breaking
    • H03K17/16Modifications for eliminating interference voltages or currents
    • H03K17/161Modifications for eliminating interference voltages or currents in field-effect transistor switches
    • H03K17/165Modifications for eliminating interference voltages or currents in field-effect transistor switches by feedback from the output circuit to the control circuit
    • H03K17/166Soft switching
    • H03K17/167Soft switching using parallel switching arrangements

Landscapes

  • Logic Circuits (AREA)
  • Electronic Switches (AREA)
  • Static Random-Access Memory (AREA)

Abstract

(57)【要約】 【課題】 負荷として容量成分の大きな論理回路が接続
されても大きな駆動電力を必要とせず、高速化や雑音の
低減が可能であるドライバ回路を提供する。 【解決手段】 電源電位と負荷側との間に挿入された第
1の駆動手段は、入力レベルが“H”の時、第1の検出
手段によって負荷側レベルが第1のレベルを上回ったと
検出されるまでオン、第1の検出手段によって負荷側レ
ベルが第1のレベルを上回ったと検出されるとオフにな
り、接地電位と負荷側との間に挿入された第2の駆動手
段は、入力レベルが“L”の時、第2の検出手段によっ
て負荷側レベルが第2のレベルを下回ったと検出される
までオン、第2の検出手段によって負荷側レベルが第2
のレベルを下回ったと検出されるとオフになる。この第
1のレベルは、ドライバ回路からの信号を受信する論理
ゲートの論理しきい値よりも高く、第2のレベルは、ド
ライバ回路からの信号を受信する論理ゲートの論理しき
い値よりも低い。

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【発明の属する技術分野】この発明は、集積回路等の内
部に形成される論理回路の出力段として用いて好適なド
ライバ回路に関する。
【0002】
【従来の技術】集積回路等の内部に設けられる論理回路
には、出力段に大容量負荷を駆動することを目的とした
ドライバ回路が設けられているものがある。図4は、こ
ういった目的に用いられるドライバ回路50と、出力側
の様子を示す接続図である。
【0003】図4に示すドライバ回路50は、大電流出
力能力を有するPMOS−Tr(P-channel Metal O
xide Semiconductor field effect Transistor)52
ならびにNMOS−Tr(N-channel Metal Oxide
Semiconductor field effectTransistor)53と、そ
の出力端がPMOS−Tr52のゲート端子とNMOS
−Tr53のゲート端子とに接続され、PMOS−Tr
52とNMOS−Tr53とを駆動するためのプリドラ
イバであるインバータ51とからなる。
【0004】ドライバ回路50の出力端子74には、ド
ライバ回路50からの信号を受信するためにゲート63
等を入力段に持つ論理回路62が接続されている。また
この出力端子74には、論理回路62との配線が有する
浮遊容量やゲート63の入力容量等の負荷容量61も接
続されることになる。
【0005】上述のドライバ回路50のデータ入力端7
1に“H(ハイレベル)”が入力されると、ドライバ回
路50は出力端子74に接続された大容量負荷61を充
電する。一方データ入力端71に“L(ローレベル)”
が入力されると、ドライバ回路50は大容量負荷61を
放電する。
【0006】
【発明が解決しようとする課題】しかしながら、図4に
示すような構成では、次のような問題点が生じる。第1
に、負荷容量を電源電圧だけフルスウィングさせるため
に、大きな駆動電流が必要であり、動作速度も遅い。
【0007】第2に、PMOS−Tr52ならびにNM
OS−Tr53には大電流出力能力が要求されるため
に、ゲート幅が広い。このため、電源配線や接地配線に
雑音成分が乗り易い。第3に、同様の理由で、負荷駆動
中の貫通電流が大きい。
【0008】この発明は、このような背景の下になされ
たもので、負荷として容量成分の大きな論理回路が接続
されても大電流出力を必要とせず、高速化や雑音の低減
が可能であるドライバ回路を提供することを目的として
いる。
【0009】
【課題を解決するための手段】上述した課題を解決する
ために、請求項1に記載の発明にあっては、負荷側レベ
ルが第1のレベルを上回ったことを検出する第1の検出
手段と、前記負荷側レベルが第2のレベルを下回ったこ
とを検出する第2の検出手段と、入力側レベルと前記第
1の検出手段の検出手段とに基づいて電源電圧と前記負
荷側との間をオン/オフする第1の駆動素子と、前記入
力側レベルと前記第2の検出手段の検出手段とに基づい
て接地電圧と前記負荷側との間をオン/オフする第2の
駆動素子とを具備することを特徴とする。また、請求項
2に記載の発明にあっては、請求項1に記載のドライバ
回路では、前記第1の検出手段は、論理しきい値の高い
論理ゲートから構成されることを特徴とする。また、請
求項3に記載の発明にあっては、請求項1に記載のドラ
イバ回路では、前記第2の検出手段は、論理しきい値の
低い論理ゲートから構成されることを特徴とする。ま
た、請求項4に記載の発明にあっては、請求項1ないし
請求項3の何れかに記載のドライバ回路では、前記第1
の駆動手段は、前記入力レベルがハイレベルの時、前記
第1の検出手段によって負荷側レベルが前記第1のレベ
ルを上回ったことが検出されるまではオンであり、前記
第1の検出手段によって負荷側レベルが前記第1のレベ
ルを上回ったことが検出されるとオフになることを特徴
とする。また、請求項5に記載の発明にあっては、請求
項1ないし請求項3の何れかに記載のドライバ回路で
は、前記第2の駆動手段は、前記入力レベルがローレベ
ルの時、前記第2の検出手段によって負荷側レベルが前
記第2のレベルを下回ったことが検出されるまではオン
であり、前記第2の検出手段によって負荷側レベルが前
記第2のレベルを下回ったことが検出されるとオフにな
ることを特徴とする。また、請求項6に記載の発明にあ
っては、入力レベルがハイレベルの時にオンとなる第1
の駆動手段と、負荷側レベルが第1のレベルを上回った
ときにオフとなる第3の駆動手段とを具備し、電源電圧
と前記負荷側との間に前記第1の駆動手段と前記第3の
駆動手段とが直列に接続されることを特徴とする。ま
た、請求項7に記載の発明にあっては、入力レベルがロ
ーレベルの時にオンとなる第2の駆動手段と、負荷側レ
ベルが第2のレベルを下回ったときにオフとなる第4の
駆動手段とを具備し、前記負荷側と接地電圧との間に前
記第4の駆動手段と前記第2の駆動手段とが直列に接続
されることを特徴とする。また、請求項8に記載の発明
にあっては、前記第1のレベルは本発明のドライバ回路
からの信号を受信する側の論理ゲートの論理しきい値よ
りも高く、かつその電位レベルが受信側論理ゲートに入
力されたとき該論理ゲートに流れる貫通電流が充分小さ
くなるような電位であることを特徴とする。また、請求
項9に記載の発明にあっては、前記第2のレベルは本発
明のドライバ回路からの信号を受信する側の論理ゲート
の論理しきい値よりも低く、かつその電位レベルが受信
側論理ゲートに入力されたとき該論理ゲートに流れる貫
通電流が充分小さくなるような電位であることを特徴と
する。
【0010】この発明によれば、電源電圧と負荷側との
間をオン/オフする第1の駆動手段は、入力レベルがハ
イレベルの時、第1の検出手段によって負荷側レベルが
第1のレベルを上回ったことが検出されるまではオンで
あり、第1の検出手段によって負荷側レベルが第1のレ
ベルを上回ったことが検出されるとオフになり、接地電
圧と負荷側との間をオン/オフする第2の駆動手段は、
入力レベルがローレベルの時、第2の検出手段によって
負荷側レベルが第2のレベルを下回ったことが検出され
るまではオンであり、第2の検出手段によって負荷側レ
ベルが第2のレベルを下回ったことが検出されるとオフ
になる。または、電源電圧と負荷側との間に第1の駆動
手段と第3の駆動手段とが直列に接続され、負荷側と接
地電圧との間に第4の駆動手段と第2の駆動手段とが直
列に接続され、第1の駆動手段は入力レベルがハイレベ
ルの時にオンとなり、第3の駆動手段は負荷側レベルが
第1のレベルを上回ったときにオフとなり、第2の駆動
手段は入力レベルがローレベルの時にオンとなり、第4
の駆動手段は負荷側レベルが第2のレベルを下回ったと
きにオフとなる。これら第1のレベルは、本発明のドラ
イバ回路からの信号を受信する側の論理ゲートの論理し
きい値よりも高く、かつその電位レベルが受信側論理ゲ
ートに入力されたとき該論理ゲートに流れる貫通電流が
充分小さくなるような電位であり、これら第2のレベル
は、本発明のドライバ回路からの信号を受信する側の論
理ゲートの論理しきい値よりも低く、かつその電位レベ
ルが受信側論理ゲートに入力されたとき該論理ゲートに
流れる貫通電流が充分小さくなるような電位である
【0011】
【発明の実施の形態】A.第1の実施の形態 以下に、本発明について説明する。図1は、本発明の第
1の実施の形態にかかるドライバ回路の構成を示す接続
図である。
【0012】図1において、1が本実施の形態のドライ
バ回路である。このドライバ回路1の出力端子24に
は、ドライバ回路1からの信号を受信するためにゲート
13(本実施の形態ではクロックドインバータ)等を入
力段に持つ論理回路12が接続されている。またこの出
力端子24に接続される負荷として、論理回路12との
配線が有する浮遊容量やゲート13の入力容量等の負荷
容量11も存在している。
【0013】ドライバ回路1内の2はPMOS−Trで
あり、3はNMOS−Trである。これらPMOS−T
r2とNMOS−Tr3とが、高電流出力のドライバを
形成している。
【0014】6は高論理閾値インバータであり、その入
力端は出力端子24に接続されている。7は低論理閾値
インバータであり、やはり入力端はドライバ出力端子2
4に接続されている。
【0015】4は、2入力のNAND(負論理出力論理
積)ゲートである。NANDゲート4の出力端子は、P
MOS−Tr2のゲート端子に接続されている。NAN
Dゲート4の入力端子の一方は高論理閾値インバータ6
の出力端子22に接続され、入力端子の他方は入力端子
21に接続されている。
【0016】5は、2入力のNOR(負論理出力論理
和)ゲートである。NORゲート5の出力端子は、NM
OS−Tr3のゲート端子に接続されている。NORゲ
ート5の入力端子の一方は低論理閾値インバータ7の出
力端子23に接続され、入力端子の他方は入力端子21
に接続されている。
【0017】図2は、ゲート13の閾値の様子を示す説
明図である。ここでは、ゲート13の論理閾値をVth
Mとするが、一般にこの論理閾値VthMは、電源電圧
VDDの1/2程度である。通常、ゲート13のような
論理素子は、論理閾値VthM近傍の入力電圧変化に対
して急峻な出力電圧変化を示す。
【0018】ここで、出力電圧が概ね電源電圧VDDと
なる臨界の入力電圧をVthL、一方出力電圧が概ね接
地電圧VSSとなる臨界の入力電圧をVthHとし、V
thL<VthM<VthHの関係が成り立つものとす
る。
【0019】本実施の形態では、高論理閾値インバータ
6は、1つのPMOS−Trと、直列に接続した2つの
NMOS−Trとから構成されている。これらのMOS
−Trの各々のゲート幅Wとゲート長は、高論理閾値イ
ンバータ6の論理値が上述のVthHとなるように決定
する。
【0020】本実施の形態では、低論理閾値インバータ
7は、1つのNMOS−Trと、直列に接続した2つの
PMOS−Trとから構成されている。これらのMOS
−Trの各々のゲート幅Wとゲート長は、低論理閾値イ
ンバータ7の論理値が上述のVthLとなるように決定
する。
【0021】本実施の形態のおいて、出力端子24の電
圧がVthLよりも低いとすると、高論理閾値インバー
タ6の出力端子22と低論理閾値インバータ7の出力端
子23とは“H”となる。
【0022】入力端子21に“H”が入力されると、P
MOS−Tr2がオン、一方NMOS−Tr3がオフと
なるため、負荷容量11は充電される。こうして出力端
子24の電圧がVthHまで上昇した時点で、高論理閾
値インバータ6の出力端子22は“L”となり、これに
よってPMOS−Tr2はオフとなって充電は終了す
る。
【0023】同様に、出力端子24の電圧がVthHよ
りも高いとすると、高論理閾値インバータ6の出力端子
22と低論理閾値インバータ7の出力端子23とは
“L”となる。
【0024】入力端子21に“L”が入力されると、P
MOS−Tr2がオフ、一方NMOS−Tr3がオンと
なるため、負荷容量11は放電される。こうして出力端
子24の電圧がVthLまで降下した時点で、低論理閾
値インバータ7の出力端子23は“H”となり、これに
よってNMOS−Tr3はオフとなって放電は終了す
る。
【0025】一般に、静電容量Cのコンデンサを電圧V
DDだけ駆動するときの電力Pは、 P=C・VDD・VDD ・・・(1) であるが、本発明では駆動振幅をVthH−VthLに
減少させている。これにより電力Pは、 P=C・VDD・(VthH−VthL) ・・・(2) に減少する。これに伴って雑音の発生も低減できる。
【0026】本実施の形態では、こういった低振幅負荷
駆動を、低電圧電源を用いずに電源電圧VDDのドライ
バを用いて実現している。従って、低電源電圧のドライ
バよりも高速に動作する。
【0027】定常状態では、本実施の形態のドライバ回
路1はハイインピーダンス出力となるので、PMOS−
Tr2とNMOS−Tr3からなるドライバには貫通電
流は全く流れない。
【0028】また負荷の電位は、常に高論理閾値インバ
ータ6と低論理閾値インバータ7とによって監視されて
いる。従って、外部からの雑音等によって出力端子24
の電位がVthLよりも高く、且つVthHよりも低い
電位になった場合には、速やかにドライバ回路1が作動
し、雑音による電位変化は解消される。
【0029】大容量負荷を駆動するPMOS−Tr2な
らびにNMOS−Tr3と比較すれば、高論理閾値イン
バータ6と低論理閾値インバータ7のMOS−Trは小
さくてよい。このため本実施の形態では、チップ面積の
増加は比較的小さい。
【0030】また、大容量負荷11の容量と比べて、高
論理閾値インバータ6と低論理閾値インバータ7のゲー
ト容量は非常に小さいので、ドライバ回路1の駆動容量
の増加は無視できる。
【0031】なお、上述の実施の形態では、高論理閾値
インバータ6として、1つのPMOS−Trと直列接続
した2つのNMOS−Trとから構成された例を示し
た。しかしこの他に、例えばW/Lの大きなPMOS−
TrとW/Lの小さなNMOS−Trとを組み合わせて
も、高論理閾値インバータを構成することができる。
【0032】低論理閾値インバータ7についても同様
で、例えば、W/Lの小さなPMOS−TrとW/Lの
大きなNMOS−Trとを組み合わせても、低論理閾値
インバータを構成することができる。
【0033】B.第2の実施の形態 図3は、本発明の第2の実施の形態にかかるドライバ回
路の構成を示す接続図である。なお図3において、図1
に示す各部と対応する部分には同一の符号を付し、その
説明は省略する。
【0034】図3に示す1aはドライバ回路であり、直
列に接続されたPMOS−Tr2とPMOS−Tr3
2、および直列に接続されたNMOS−Tr3とNMO
S−Tr33を有している。
【0035】31は、プリドライバのインバータであ
る。このインバータ31の出力端子は、そしてPMOS
−Tr2のゲート端子とNMOS−Tr3のゲート端子
とに接続されている。また、PMOS−Tr32のゲー
ト端子とNMOS−Tr33のゲート端子とは、出力端
子24に接続されている。
【0036】本実施の形態のPMOS−Tr32は、出
力端子24の電圧が低くなるに従ってオン抵抗が低くな
る。このため、負荷容量11があまり充電されていない
うちにはドライバ回路1aの駆動電流は大きく、充電が
進むにつれて次第に駆動電流が小さくなる。こうして、
電源電圧VDDから出力端子24までの電圧がPMOS
−Tr32の閾値に達するとPMOS−Tr32はオフ
となり、充電は終了する。
【0037】同様に、NMOS−Tr33は、出力端子
24の電圧が高くなるに従ってオン抵抗が低くなる。こ
のため、負荷容量11があまり放電されていないうちに
はドライバ回路1aの駆動電流は大きく、放電が進むに
つれて次第に駆動電流が小さくなる。こうして、ドライ
バ出力端子24の電圧がNMOS−Tr33の閾値に達
するとNMOS−Tr33はオフし、放電は終了する。
【0038】本実施の形態では、出力端子24の電圧変
化に対し、ドライバ回路1aの駆動電流が刻々と変化す
る。このため、充電または放電が終了し、出力端子24
がフローティング状態にあるときに外部から雑音が飛来
し、出力端子24の電圧が変動した場合にも、ドライバ
回路1aが動作して電圧変動を解消するまでの時間が短
い。
【0039】
【発明の効果】以上説明したように、この発明によれ
ば、電源電圧と負荷側との間をオン/オフする第1の駆
動手段は、入力レベルがハイレベルの時、第1の検出手
段によって負荷側レベルが第1のレベルを上回ったこと
が検出されるまではオンであり、第1の検出手段によっ
て負荷側レベルが第1のレベルを上回ったことが検出さ
れるとオフになり、接地電圧と負荷側との間をオン/オ
フする第2の駆動手段は、入力レベルがローレベルの
時、第2の検出手段によって負荷側レベルが第2のレベ
ルを下回ったことが検出されるまではオンであり、第2
の検出手段によって負荷側レベルが第2のレベルを下回
ったことが検出されるとオフになる。または、電源電圧
と負荷側との間に第1の駆動手段と第3の駆動手段とが
直列に接続され、負荷側と接地電圧との間に第4の駆動
手段と第2の駆動手段とが直列に接続され、第1の駆動
手段は入力レベルがハイレベルの時にオンとなり、第3
の駆動手段は負荷側レベルが第1のレベルを上回ったと
きにオフとなり、第2の駆動手段は入力レベルがローレ
ベルの時にオンとなり、第4の駆動手段は負荷側レベル
が第2のレベルを下回ったときにオフとなる。これら第
1のレベルは、負荷がハイレベルとローレベルとの境界
に有する所定幅の閾値電圧範囲の上限と等しく、第2の
レベルは当該閾値電圧範囲の下限と等しいので、負荷と
して容量成分の大きな論理回路が接続されても大電流出
力を必要とせず、高速化や雑音の低減が可能であるドラ
イバ回路が実現可能であるという効果が得られる。
【0040】即ち本発明によれば、負荷の駆動振幅を閾
値電圧幅の上限(VthH)〜閾値電圧幅の下限(Vt
hL)までの範囲に狭めることができる。これによっ
て、負荷容量を駆動する消費電力が削減される。
【0041】また本発明では、負荷側の入力段のゲート
回路の電気的特性に合わせて高論理閾値インバータと低
論理閾値インバータの特性を設定する。これによって、
負荷側の回路構成に変更を加えなくてよい。また回路設
計が複雑化することはなく、過去の回路設計資産の流用
が容易である。
【0042】また本発明では、駆動する電圧を電源電圧
VDDとしたまま、負荷を駆動する電圧振幅を小さくし
ているので、高速に動作する。また本発明では、駆動電
流が小さくてよいので、大電流で負荷を駆動することに
よって発生する電源配線や接地配線の雑音の発生が抑え
られる。
【0043】また、出力端子の電圧がVthHより高い
か、あるいはVthLよりも低いときには出力端子が開
放され、出力端子と電源配線あるいは接地配線とは電気
的に分離される。このため、電源配線や接地配線に雑音
が乗っていても、その影響が出力端子の電圧変動として
現れにくい。
【0044】さらに本発明では、PMOS−TrとNM
OS−Trとは非動作時にはオフとなっている。入力信
号の遷移が始まったとき、PMOS−TrとNMOS−
Trとの何れかのトランジスタがオンになるが、そのと
き他方のトランジスタはオフのままであるので、貫通電
流が非常に小さい。
【図面の簡単な説明】
【図1】 本発明の第1の実施の形態にかかるドライバ
回路の構成を示す接続図である。
【図2】 図1に示すゲート13の閾値の様子を示す説
明図である。
【図3】 本発明の第2の実施の形態にかかるドライバ
回路の構成を示す接続図である。
【図4】 従来のドライバ回路と、出力側の様子を示す
接続図である。
【符号の説明】
1 ドライバ回路 1a ドライバ回路 2 PMOS−Tr(第1の駆動素子) 3 NMOS−Tr(第2の駆動素子) 4 NANDゲート 5 NORゲート 6 高論理閾値インバータ(第1の検出手段) 7 低論理閾値インバータ(第2の検出手段) 11 負荷容量 12 論理回路 13 ゲート 21 入力端子 22 出力端子 23 出力端子 24 出力端子 31 インバータ 32 PMOS−Tr(第3の駆動手段) 33 NMOS−Tr(第4の駆動手段) 50 ドライバ回路 52 PMOS−Tr 53 NMOS−Tr 61 負荷容量 62 論理回路 63 ゲート 71 入力端子 74 出力端子 51 インバータ VthH 論理閾値(第1のレベル) VthL 論理閾値(第2のレベル)

Claims (9)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】 負荷側レベルが、電源電位レベルと受信
    側論理ゲートの論理しきい値レベルとの間にある第1の
    レベル(VthH)を上回ったことを検出する第1の検
    出手段(6)と、 前記負荷側レベルが、接地電位レベルと前記第1のレベ
    ルとの間にある第2のレベル(VthL)を下回ったこ
    とを検出する第2の検出手段(7)と、 入力側レベルと前記第1の検出手段の検出結果に基づい
    て電源電位と前記負荷側との間をオン/オフする第1の
    駆動素子(2)と、 前記入力側レベルと前記第2の検出手段の検出結果に基
    づいて接地電位と前記負荷側との間をオン/オフする第
    2の駆動素子(3)とを具備することを特徴とするドラ
    イバ回路。
  2. 【請求項2】 前記第1の検出手段は、 高論理しきい値の論理ゲート(例えば、ゲート幅÷ゲー
    ト長の値が大きなPチャネル電界効果トランジスタと、
    ゲート幅÷ゲート長の値が小さなNチャネル電界効果ト
    ランジスタから構成されるインバータ)から構成される
    ことを特徴とする請求項1に記載のドライバ回路。
  3. 【請求項3】 前記第2の検出手段は、 低論理しきい値の論理ゲート(例えば、ゲート幅÷ゲー
    ト長の値が小さなPチャネル電界効果トランジスタと、
    ゲート幅÷ゲート長の値が大きなNチャネル電界効果ト
    ランジスタからなるインバータ)から構成されることを
    特徴とする請求項1に記載のドライバ回路。
  4. 【請求項4】 前記第1の駆動手段は、 前記入力レベルがハイレベルの時、 前記第1の検出手段によって負荷側レベルが前記第1の
    レベルを上回ったことが検出されるまではオンであり、 前記第1の検出手段によって負荷側レベルが前記第1の
    レベルを上回ったことが検出されるとオフになることを
    特徴とする請求項1ないし請求項3の何れかに記載のド
    ライバ回路。
  5. 【請求項5】 前記第2の駆動手段は、 前記入力レベルがローレベルの時、 前記第2の検出手段によって負荷側レベルが前記第2の
    レベルを下回ったことが検出されるまではオンであり、 前記第2の検出手段によって負荷側レベルが前記第2の
    レベルを下回ったことが検出されるとオフになることを
    特徴とする請求項1ないし請求項3の何れかに記載のド
    ライバ回路。
  6. 【請求項6】 入力レベルがハイレベルの時にオンとな
    る第1の駆動手段と、 負荷側レベルが第1のレベルを上回ったときにオフとな
    る第3の駆動手段(32)とを具備し、 電源電圧と前記負荷側との間に前記第1の駆動手段と前
    記第3の駆動手段とが直列に接続されることを特徴とす
    るドライバ回路。
  7. 【請求項7】 入力レベルがローレベルの時にオンとな
    る第2の駆動手段と、 負荷側レベルが第2のレベルを下回ったときにオフとな
    る第4の駆動手段(33)とを具備し、 前記負荷側と接地電圧との間に前記第4の駆動手段と前
    記第2の駆動手段とが直列に接続されることを特徴とす
    るドライバ回路。
  8. 【請求項8】 前記第1のレベルは、ドライバ回路から
    の信号を受信する側の論理ゲートの論理しきい値よりも
    高く、かつそのレベルが前記受信側の論理ゲートに入力
    されたとき該論理ゲートに流れる貫通電流が充分小さな
    値となるような電位であることを特徴とする請求項1な
    いし請求項7に記載のドライバ回路。
  9. 【請求項9】 前記第2のレベルは、ドライバ回路から
    の信号を受信する側の論理ゲートの論理しきい値よりも
    低く、かつそのレベルが前記受信側の論理ゲートに入力
    されたとき該論理ゲートに流れる貫通電流が充分小さな
    値となるような電位であることを特徴とする請求項1な
    いし請求項7に記載のドライバ回路。
JP15371398A 1998-05-20 1998-05-20 ドライバ回路 Expired - Fee Related JP3339410B2 (ja)

Priority Applications (2)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP15371398A JP3339410B2 (ja) 1998-05-20 1998-05-20 ドライバ回路
US09/304,270 US6175252B1 (en) 1998-05-20 1999-05-06 Driver circuit

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP15371398A JP3339410B2 (ja) 1998-05-20 1998-05-20 ドライバ回路

Publications (2)

Publication Number Publication Date
JPH11330943A true JPH11330943A (ja) 1999-11-30
JP3339410B2 JP3339410B2 (ja) 2002-10-28

Family

ID=15568480

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP15371398A Expired - Fee Related JP3339410B2 (ja) 1998-05-20 1998-05-20 ドライバ回路

Country Status (2)

Country Link
US (1) US6175252B1 (ja)
JP (1) JP3339410B2 (ja)

Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US6910937B2 (en) 2001-07-30 2005-06-28 Sony Corporation Method for forming fine barrier, method for fabricating planar display and abrasive for blast

Families Citing this family (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP4400389B2 (ja) * 2004-09-21 2010-01-20 株式会社デンソー 駆動モータ制御装置

Family Cites Families (6)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US3631267A (en) * 1970-06-18 1971-12-28 North American Rockwell Bootstrap driver with feedback control circuit
JPS63211906A (ja) 1987-02-27 1988-09-05 Citizen Watch Co Ltd アナログ値インバ−タ回路
JPS6416017A (en) 1987-07-09 1989-01-19 Nec Corp Output buffer for mos semiconductor integrated circuit
US4829199A (en) * 1987-07-13 1989-05-09 Ncr Corporation Driver circuit providing load and time adaptive current
US5293082A (en) * 1988-06-21 1994-03-08 Western Digital Corporation Output driver for reducing transient noise in integrated circuits
GB2283626B (en) * 1993-11-05 1998-02-18 Motorola Inc Driver circuits

Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US6910937B2 (en) 2001-07-30 2005-06-28 Sony Corporation Method for forming fine barrier, method for fabricating planar display and abrasive for blast

Also Published As

Publication number Publication date
JP3339410B2 (ja) 2002-10-28
US6175252B1 (en) 2001-01-16

Similar Documents

Publication Publication Date Title
US4779013A (en) Slew-rate limited output driver having reduced switching noise
US6459322B1 (en) Level adjustment circuit and data output circuit thereof
KR930003926B1 (ko) 반도체집적회로
KR960011964B1 (ko) 출력버퍼장치
JPH0584597B2 (ja)
US5073727A (en) Cmos inverter with noise reduction feedback means
US6084459A (en) Voltage level shifting circuit
JP3657243B2 (ja) レベルシフタ、半導体集積回路及び情報処理システム
US6707324B1 (en) Low ground bounce output driver
KR920010824B1 (ko) 반도체 메모리
US6833749B2 (en) System and method for obtaining hysteresis through body substrate control
JP3339410B2 (ja) ドライバ回路
US5604448A (en) Output buffer circuit having low noise characteristics
JPH06224730A (ja) 出力バッファ回路
EP0421448B1 (en) Signal output circuit having bipolar transistors at output, for use in a MOS semiconductor integrated circuit
JP3190191B2 (ja) 出力バッファ回路
JP3299071B2 (ja) 出力バッファ回路
JP2933620B1 (ja) 出力バッファ回路
JP3745144B2 (ja) 出力バッファ回路
US6559678B1 (en) Node predisposition circuit
JP4129349B2 (ja) 出力回路および半導体集積回路
JP4680423B2 (ja) 出力回路
JP2930227B2 (ja) 半導体集積回路の出力バッファ回路
JPH04242319A (ja) Cmos集積回路
JPH0374926A (ja) 出力回路

Legal Events

Date Code Title Description
LAPS Cancellation because of no payment of annual fees