JP7434287B2 - 複数の感度範囲を有する電流センサ - Google Patents
複数の感度範囲を有する電流センサ Download PDFInfo
- Publication number
- JP7434287B2 JP7434287B2 JP2021509765A JP2021509765A JP7434287B2 JP 7434287 B2 JP7434287 B2 JP 7434287B2 JP 2021509765 A JP2021509765 A JP 2021509765A JP 2021509765 A JP2021509765 A JP 2021509765A JP 7434287 B2 JP7434287 B2 JP 7434287B2
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- magnetic field
- current
- sensor device
- conductor
- range
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Active
Links
- 230000035945 sensitivity Effects 0.000 title claims description 41
- 230000005291 magnetic effect Effects 0.000 claims description 316
- 239000004020 conductor Substances 0.000 claims description 130
- 238000005259 measurement Methods 0.000 claims description 68
- 238000000034 method Methods 0.000 claims description 22
- 230000000295 complement effect Effects 0.000 claims description 18
- 238000003475 lamination Methods 0.000 claims description 8
- 239000000696 magnetic material Substances 0.000 claims description 7
- 239000010410 layer Substances 0.000 description 48
- 230000008878 coupling Effects 0.000 description 30
- 238000010168 coupling process Methods 0.000 description 30
- 238000005859 coupling reaction Methods 0.000 description 30
- 125000006850 spacer group Chemical group 0.000 description 8
- 230000005290 antiferromagnetic effect Effects 0.000 description 6
- 230000009977 dual effect Effects 0.000 description 6
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 4
- 230000007423 decrease Effects 0.000 description 3
- 230000005415 magnetization Effects 0.000 description 3
- 229920006395 saturated elastomer Polymers 0.000 description 3
- 238000001514 detection method Methods 0.000 description 2
- 230000005294 ferromagnetic effect Effects 0.000 description 2
- 230000005669 field effect Effects 0.000 description 2
- 230000005355 Hall effect Effects 0.000 description 1
- 238000000151 deposition Methods 0.000 description 1
- 230000036039 immunity Effects 0.000 description 1
- 239000002356 single layer Substances 0.000 description 1
- 230000005641 tunneling Effects 0.000 description 1
Images
Classifications
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01R—MEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
- G01R33/00—Arrangements or instruments for measuring magnetic variables
- G01R33/02—Measuring direction or magnitude of magnetic fields or magnetic flux
- G01R33/06—Measuring direction or magnitude of magnetic fields or magnetic flux using galvano-magnetic devices
- G01R33/09—Magnetoresistive devices
- G01R33/093—Magnetoresistive devices using multilayer structures, e.g. giant magnetoresistance sensors
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01R—MEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
- G01R15/00—Details of measuring arrangements of the types provided for in groups G01R17/00 - G01R29/00, G01R33/00 - G01R33/26 or G01R35/00
- G01R15/14—Adaptations providing voltage or current isolation, e.g. for high-voltage or high-current networks
- G01R15/20—Adaptations providing voltage or current isolation, e.g. for high-voltage or high-current networks using galvano-magnetic devices, e.g. Hall-effect devices, i.e. measuring a magnetic field via the interaction between a current and a magnetic field, e.g. magneto resistive or Hall effect devices
- G01R15/205—Adaptations providing voltage or current isolation, e.g. for high-voltage or high-current networks using galvano-magnetic devices, e.g. Hall-effect devices, i.e. measuring a magnetic field via the interaction between a current and a magnetic field, e.g. magneto resistive or Hall effect devices using magneto-resistance devices, e.g. field plates
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01R—MEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
- G01R15/00—Details of measuring arrangements of the types provided for in groups G01R17/00 - G01R29/00, G01R33/00 - G01R33/26 or G01R35/00
- G01R15/14—Adaptations providing voltage or current isolation, e.g. for high-voltage or high-current networks
- G01R15/20—Adaptations providing voltage or current isolation, e.g. for high-voltage or high-current networks using galvano-magnetic devices, e.g. Hall-effect devices, i.e. measuring a magnetic field via the interaction between a current and a magnetic field, e.g. magneto resistive or Hall effect devices
- G01R15/207—Constructional details independent of the type of device used
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01R—MEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
- G01R33/00—Arrangements or instruments for measuring magnetic variables
- G01R33/0017—Means for compensating offset magnetic fields or the magnetic flux to be measured; Means for generating calibration magnetic fields
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01R—MEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
- G01R33/00—Arrangements or instruments for measuring magnetic variables
- G01R33/02—Measuring direction or magnitude of magnetic fields or magnetic flux
- G01R33/06—Measuring direction or magnitude of magnetic fields or magnetic flux using galvano-magnetic devices
- G01R33/09—Magnetoresistive devices
- G01R33/096—Magnetoresistive devices anisotropic magnetoresistance sensors
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01R—MEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
- G01R33/00—Arrangements or instruments for measuring magnetic variables
- G01R33/02—Measuring direction or magnitude of magnetic fields or magnetic flux
- G01R33/06—Measuring direction or magnitude of magnetic fields or magnetic flux using galvano-magnetic devices
- G01R33/09—Magnetoresistive devices
- G01R33/098—Magnetoresistive devices comprising tunnel junctions, e.g. tunnel magnetoresistance sensors
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01R—MEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
- G01R15/00—Details of measuring arrangements of the types provided for in groups G01R17/00 - G01R29/00, G01R33/00 - G01R33/26 or G01R35/00
- G01R15/08—Circuits for altering the measuring range
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01R—MEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
- G01R15/00—Details of measuring arrangements of the types provided for in groups G01R17/00 - G01R29/00, G01R33/00 - G01R33/26 or G01R35/00
- G01R15/14—Adaptations providing voltage or current isolation, e.g. for high-voltage or high-current networks
- G01R15/142—Arrangements for simultaneous measurements of several parameters employing techniques covered by groups G01R15/14 - G01R15/26
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01R—MEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
- G01R33/00—Arrangements or instruments for measuring magnetic variables
- G01R33/02—Measuring direction or magnitude of magnetic fields or magnetic flux
- G01R33/06—Measuring direction or magnitude of magnetic fields or magnetic flux using galvano-magnetic devices
- G01R33/07—Hall effect devices
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01R—MEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
- G01R33/00—Arrangements or instruments for measuring magnetic variables
- G01R33/02—Measuring direction or magnitude of magnetic fields or magnetic flux
- G01R33/06—Measuring direction or magnitude of magnetic fields or magnetic flux using galvano-magnetic devices
- G01R33/09—Magnetoresistive devices
Landscapes
- Physics & Mathematics (AREA)
- General Physics & Mathematics (AREA)
- Condensed Matter Physics & Semiconductors (AREA)
- Measuring Instrument Details And Bridges, And Automatic Balancing Devices (AREA)
- Measuring Magnetic Variables (AREA)
Description
磁界感知素子200の寸法は、たとえば、以下の範囲内であってよい。
- 磁界感知素子200の主要部201の長さ(L)は、約10μmから10ミリメートルまでの範囲であってよく、
- 磁界感知素子200のアーム206、208の長さ(l)は、幅(W)の少なくとも3倍であってよく、
- 磁界感知素子200の幅(W)は、約1μmから約20μmまでの範囲であってよい。
第1の電流範囲信号と第2の電流範囲信号とは、導体で伝達される電流に対応する出力信号を生成するために、合成されてよい。いくつかの実施形態において、出力信号(Vout(t))は、以下の式を使用して決定されてよい。
Claims (29)
- 導体を流れる電流によって生成された磁界を感知する電流センサであって、
前記導体を流れる第1の電流範囲に対応する第1の測定範囲で磁界を感知するように構成され、さらに前記第1の測定範囲で感知された磁界を示す第1の磁界信号を生成するように構成された、2つ以上の磁気抵抗素子を含む第1のセンサ装置と、
前記導体を流れる第2の電流範囲に対応する第2の測定範囲で前記磁界を感知するように構成され、さらに前記第2の測定範囲で感知された磁界を示す第2の磁界信号を生成するように構成された、2つ以上の磁気抵抗素子を含む第2のセンサ装置と
を備え、
前記第1のセンサ装置と前記第2のセンサ装置とが、形状異方性特性、シールド特性、前記第1のセンサ装置および前記第2のセンサ装置の磁気抵抗素子間の間隔、並びに/または積層特性のうちの1つ以上の点で互いに異なり、
前記電流センサは、
前記第1の磁界信号および前記第2の磁界信号に応答して、前記第1の磁界信号と前記第2の磁界信号との合成を示す出力信号を生成するように構成された回路を備え、前記出力信号が前記導体を流れる前記電流に対応するものであり、
前記回路は、
前記第2の磁界信号を使用して飽和係数を生成するための飽和モジュールであって、前記飽和係数が、前記第2の磁界信号の値に応じて0から1の範囲内で連続的に変化しうる値を有する、飽和モジュールと、
前記第1の磁界信号に前記飽和係数を適用して第1の電流範囲信号を生成するための第1のユニットと、
前記第2の磁界信号に前記飽和係数の補数である係数を適用して第2の電流範囲信号を生成するための第2のユニットと、
前記第1の電流範囲信号と前記第2の電流範囲信号とを合成して前記導体を流れる前記電流に対応する前記出力信号を生成するための第3のユニットと
を含む、電流センサ。 - 前記第1のセンサ装置が、第1のブリッジに配置された第1の複数の磁気抵抗素子を含み、前記第2のセンサ装置が、第2のブリッジに配置された第2の複数の磁気抵抗素子を含む、請求項1に記載の電流センサ。
- 前記第1のブリッジにおける前記第1の複数の磁気抵抗素子間の間隔が、前記第2のブリッジにおける前記第2の複数の磁気抵抗素子間の間隔とは異なる、請求項2に記載の電流センサ。
- 前記導体がエッジを有し、前記第1のブリッジにおける前記第1の複数の磁気抵抗素子の各々が、前記エッジから実質的に等距離にあり、前記第2のブリッジにおける前記第2の複数の磁気抵抗素子の各々が、前記エッジから実質的に等距離にある、請求項2に記載の電流センサ。
- 前記導体がエッジを有し、前記第1のブリッジにおける前記第1の複数の磁気抵抗素子の各々が、前記エッジから第1の距離に配置され、前記第2のブリッジにおける前記第2の複数の磁気抵抗素子の各々が、前記エッジから第2の距離に配置され、前記第2の距離が前記第1の距離よりも大きい、請求項4に記載の電流センサ。
- 前記第1のセンサ装置および前記第2のセンサ装置のうちの少なくとも一方が、軟磁性材料で作られたシールド層をさらに含み、前記第1のセンサ装置および前記第2のセンサ装置のうちの前記少なくとも一方に感じられる磁界が、前記シールド層により生ずる要因によって低減されるようにする、請求項1に記載の電流センサ。
- 前記第1のセンサ装置と前記第2のセンサ装置とが、形状異方性特性の点で互いに異なり、前記第1のセンサ装置の少なくとも1つの磁気抵抗素子が第1の幅を有し、前記第2のセンサ装置の少なくとも1つの磁気抵抗素子が前記第1の幅とは異なる第2の幅を有する、請求項1に記載の電流センサ。
- 感知された前記第1の電流範囲が、感知された前記第2の電流範囲よりも小さく、前記第1の幅が前記第2の幅よりも大きい、請求項7に記載の電流センサ。
- 前記第1のセンサ装置が第1の飽和閾値を有し、前記第2のセンサ装置が第2の飽和閾値を有する、請求項1に記載の電流センサ。
- 前記飽和係数は、低電流範囲が測定されるときに前記第1の磁界信号を打ち消すように選択された値を有し、
前記飽和係数の補数は、前記飽和係数の値を1から減算して得られる値を有する、請求項1に記載の電流センサ。 - 前記1つ以上の磁気抵抗素子が、巨大磁気抵抗(GMR)素子、異方性磁気抵抗(AMR)素子、トンネル磁気抵抗(TMR)素子、および磁気トンネル接合(MTJ)素子のうちの少なくとも1つを含む、請求項1に記載の電流センサ。
- 導体を流れる電流によって生成された磁界を感知する方法であって、
2つ以上の磁気抵抗素子を含む第1のセンサ装置が、前記導体を流れる第1の電流範囲に対応する第1の測定範囲で磁界を感知するとともに、前記第1の測定範囲で感知された磁界を示す第1の磁界信号を生成するステップと、
2つ以上の磁気抵抗素子を含む第2のセンサ装置が、前記導体を流れる第2の電流範囲に対応する第2の測定範囲で前記磁界を感知するとともに、前記第2の測定範囲で感知された磁界を示す第2の磁界信号を生成するステップと
を備え、
前記第1のセンサ装置と前記第2のセンサ装置とが、形状異方性特性、シールド特性、前記第1のセンサ装置および前記第2のセンサ装置の磁気抵抗素子間の間隔、および積層特性のうちの1つ以上の点で互いに異なり、
前記方法は、
前記第2の磁界信号を使用して飽和係数を生成するステップであって、前記飽和係数が、前記第2の磁界信号の値に応じて0から1の範囲内で連続的に変化しうる値を有する、ステップと、
前記第1の磁界信号に前記飽和係数を適用して第1の電流範囲信号を生成するステップと、
前記第2の磁界信号に前記飽和係数の補数である係数を適用して第2の電流範囲信号を生成するステップと、
前記第1の電流範囲信号と前記第2の電流範囲信号とを合成して前記導体を流れる前記電流に対応する出力信号を生成するステップと
をさらに備える、方法。 - 前記飽和係数は、低電流範囲が測定されるときに前記第1の磁界信号を打ち消すように選択された値を有し、
前記飽和係数の補数は、前記飽和係数の値を1から減算して得られる値を有する、請求項12に記載の方法。 - 前記第1のセンサ装置が、第1のブリッジに配置された第1の複数の磁気抵抗素子を含み、前記第2のセンサ装置が、第2のブリッジに配置された第2の複数の磁気抵抗素子を含む、請求項12に記載の方法。
- 前記第1の複数の磁気抵抗素子間の間隔が、前記第2の複数の磁気抵抗素子間の間隔とは異なる、請求項14に記載の方法。
- 前記導体がエッジを有し、前記第1のブリッジにおける前記第1の複数の磁気抵抗素子の各々が、前記エッジから実質的に等距離にあり、前記第2のブリッジにおける前記第2の複数の磁気抵抗素子の各々が、前記エッジから実質的に等距離にある、請求項14に記載の方法。
- 前記導体がエッジを有し、前記第1のブリッジにおける前記第1の複数の磁気抵抗素子の各々が、前記エッジから第1の距離に配置され、前記第2のブリッジにおける前記第2の複数の磁気抵抗素子の各々が、前記エッジから第2の距離に配置され、前記第2の距離が前記第1の距離よりも大きい、請求項14に記載の方法。
- 前記第1のセンサ装置と前記第2のセンサ装置とがシールド層により生ずる感度の点で互いに異なるように、前記第1のセンサ装置および前記第2のセンサ装置のうちの少なくとも一方に軟磁性材料の前記シールド層を形成するステップをさらに備え、
前記シールド層が軟磁性材料を含み、前記第1のセンサ装置または前記第2のセンサ装置に感じられる磁界が前記シールド層により生ずる要因によって低減されるようにする、請求項12に記載の方法。 - 前記第1のセンサ装置と前記第2のセンサ装置とが、形状異方性特性の点で互いに異なり、前記第1のセンサ装置の少なくとも1つの磁気抵抗素子が第1の幅を有し、前記第2のセンサ装置の少なくとも1つの磁気抵抗素子が前記第1の幅とは異なる第2の幅を有する、請求項12に記載の方法。
- 感知された前記第1の電流範囲が、感知された前記第2の電流範囲よりも小さく、前記第1の幅が前記第2の幅よりも大きい、請求項19に記載の方法。
- 導体を流れる電流によって生成された磁界を感知する電流センサであって、
前記導体を流れる第1の電流範囲に対応する第1の測定範囲で磁界を感知するように構成されるとともに、前記第1の測定範囲で感知された磁界を示す第1の磁界信号を生成するように構成された、2つ以上の磁気抵抗素子を含む第1の感知手段と、
前記導体を流れる第2の電流範囲に対応する第2の測定範囲で前記磁界を感知するように構成されるとともに、前記第2の測定範囲で感知された磁界を示す第2の磁界信号を生成するように構成された、2つ以上の磁気抵抗素子を含む第2の感知手段と
を備え、
前記第1の感知手段と前記第2の感知手段とが、形状異方性特性、シールド特性、前記第1の感知手段および前記第2の感知手段の磁気抵抗素子間の間隔、または積層特性のうちの1つ以上の点で互いに異なり、
前記電流センサは、前記第1の磁界信号および前記第2の磁界信号に応答して、出力信号を生成する手段を備え、前記出力信号が前記第1の磁界信号と前記第2の磁界信号との合成を示し、かつ前記出力信号が前記導体で伝達される前記電流に対応するものであり、
前記出力信号を生成する当該手段は、
前記第2の磁界信号を使用して飽和係数を生成する手段であって、前記飽和係数が、前記第2の磁界信号の値に応じて0から1の範囲内で連続的に変化しうる値を有する、手段と、
前記第1の磁界信号に前記飽和係数を適用して第1の電流範囲信号を生成する手段と、
前記第2の磁界信号に前記飽和係数の補数である係数を適用して第2の電流範囲信号を生成する手段と、
前記第1の電流範囲信号と前記第2の電流範囲信号とを合成して前記導体を流れる前記電流に対応する前記出力信号を生成する手段と
を含む、電流センサ。 - 前記第1の感知手段が、第1のブリッジに配置された第1の複数の磁気抵抗素子を含み、前記第2の感知手段が、第2のブリッジに配置された第2の複数の磁気抵抗素子を含む、請求項21に記載の電流センサ。
- 前記第1の複数の磁気抵抗素子間の間隔が、前記第2の複数の磁気抵抗素子間の間隔とは異なる、請求項22に記載の電流センサ。
- 前記導体がエッジを有し、前記第1のブリッジにおける前記第1の複数の磁気抵抗素子の各々が、前記エッジから実質的に等距離にあり、前記第2のブリッジにおける前記第2の複数の磁気抵抗素子の各々が、前記エッジから実質的に等距離にある、請求項23に記載の電流センサ。
- 前記導体がエッジを有し、前記第1のブリッジにおける前記第1の複数の磁気抵抗素子の各々が、前記エッジから第1の距離に配置され、前記第2のブリッジにおける前記第2の複数の磁気抵抗素子の各々が、前記エッジから第2の距離に配置され、前記第2の距離が前記第1の距離よりも大きい、請求項24に記載の電流センサ。
- 前記第1の感知手段および前記第2の感知手段のうちの少なくとも一方が、軟磁性材料のシールド層を含み、前記第1の感知手段および前記第2の感知手段のうちの前記少なくとも一方に感じられる磁界が、前記シールド層により生ずる要因によって低減されるようにする、請求項21に記載の電流センサ。
- 前記第1の感知手段と前記第2の感知手段とが、形状異方性特性の点で互いに異なり、前記第1の感知手段の少なくとも1つの磁気抵抗素子が第1の幅を有し、前記第2の感知手段の少なくとも1つの磁気抵抗素子が前記第1の幅とは異なる第2の幅を有する、請求項21に記載の電流センサ。
- 感知された前記第1の電流範囲が、感知された前記第2の電流範囲よりも小さく、前記第1の幅が前記第2の幅よりも大きい、請求項27に記載の電流センサ。
- 前記飽和係数は、低電流範囲が測定されるときに前記第1の磁界信号を打ち消すように選択された値を有し、
前記飽和係数の補数は、前記飽和係数の値を1から減算して得られる値を有する、請求項21に記載の電流センサ。
Applications Claiming Priority (3)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
US15/999,448 US10935612B2 (en) | 2018-08-20 | 2018-08-20 | Current sensor having multiple sensitivity ranges |
US15/999,448 | 2018-08-20 | ||
PCT/US2019/042921 WO2020040921A1 (en) | 2018-08-20 | 2019-07-23 | Current sensor having multiple sensitivity ranges |
Publications (3)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JP2021534416A JP2021534416A (ja) | 2021-12-09 |
JPWO2020040921A5 JPWO2020040921A5 (ja) | 2023-12-01 |
JP7434287B2 true JP7434287B2 (ja) | 2024-02-20 |
Family
ID=67660798
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP2021509765A Active JP7434287B2 (ja) | 2018-08-20 | 2019-07-23 | 複数の感度範囲を有する電流センサ |
Country Status (5)
Country | Link |
---|---|
US (1) | US10935612B2 (ja) |
EP (1) | EP3821263A1 (ja) |
JP (1) | JP7434287B2 (ja) |
KR (1) | KR102704207B1 (ja) |
WO (1) | WO2020040921A1 (ja) |
Families Citing this family (12)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
KR102562500B1 (ko) * | 2018-07-20 | 2023-08-02 | 에이치엘만도 주식회사 | 연산 증폭기를 이용한 전류 측정 장치 및 방법 |
US11561112B2 (en) | 2020-03-13 | 2023-01-24 | Allegro Microsystems, Llc | Current sensor having stray field immunity |
US11226382B2 (en) | 2020-04-07 | 2022-01-18 | Allegro Microsystems, Llc | Current sensor system |
EP3974845A1 (en) * | 2020-09-24 | 2022-03-30 | Melexis Technologies SA | Current sensor system |
DE102020215410A1 (de) | 2020-12-07 | 2022-06-09 | Robert Bosch Gesellschaft mit beschränkter Haftung | Stromstärkemessung |
US11366141B1 (en) | 2021-01-28 | 2022-06-21 | Allegro Microsystems, Llc | Multipath wide bandwidth current sensor |
US11567108B2 (en) * | 2021-03-31 | 2023-01-31 | Allegro Microsystems, Llc | Multi-gain channels for multi-range sensor |
US11656250B2 (en) | 2021-09-07 | 2023-05-23 | Allegro Microsystems, Llc | Current sensor system |
US11892476B2 (en) | 2022-02-15 | 2024-02-06 | Allegro Microsystems, Llc | Current sensor package |
US12112865B2 (en) | 2022-03-15 | 2024-10-08 | Allegro Microsystems, Llc | Multiple branch bus bar for coreless current sensing application |
US11940470B2 (en) | 2022-05-31 | 2024-03-26 | Allegro Microsystems, Llc | Current sensor system |
DE102022134015A1 (de) | 2022-12-20 | 2024-06-20 | Sensitec Gmbh | Stromsensoranordnung |
Citations (10)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2011185772A (ja) | 2010-03-09 | 2011-09-22 | Alps Green Devices Co Ltd | 電流センサ |
JP2015503735A (ja) | 2011-12-30 | 2015-02-02 | 江▲蘇▼多▲維▼科技有限公司Jiang Su Multi Dimension Technology Co.,Ltd | 電流センサ |
WO2016021500A1 (ja) | 2014-08-05 | 2016-02-11 | アルプス・グリーンデバイス株式会社 | 電流センサ |
WO2016021575A1 (ja) | 2014-08-05 | 2016-02-11 | アルプス・グリーンデバイス株式会社 | 電流センサ |
WO2016021480A1 (ja) | 2014-08-05 | 2016-02-11 | アルプス・グリーンデバイス株式会社 | 電流センサ |
JP2017505538A (ja) | 2014-01-09 | 2017-02-16 | アレグロ・マイクロシステムズ・エルエルシー | 磁界に対する応答が改善された磁気抵抗素子 |
US20170184635A1 (en) | 2015-12-28 | 2017-06-29 | Everspin Technologies, Inc. | Sensing apparatus for sensing current through a conductor and methods therefor |
JP6324129B2 (ja) | 2014-03-17 | 2018-05-16 | 大阪瓦斯株式会社 | 吸収式冷凍機 |
JP2018115928A (ja) | 2017-01-17 | 2018-07-26 | 日立金属株式会社 | 電流センサの信号補正方法、及び電流センサ |
US20190219643A1 (en) | 2018-01-12 | 2019-07-18 | Allegro Microsystems, Llc | Magnetic Field Sensor Having Magnetoresistance Elements with Opposite Bias Directions |
Family Cites Families (225)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPS592657B2 (ja) | 1976-07-26 | 1984-01-19 | アイシン精機株式会社 | アンチスキツド制御装置 |
US4283643A (en) | 1979-05-25 | 1981-08-11 | Electric Power Research Institute, Inc. | Hall sensing apparatus |
CH651151A5 (de) | 1979-11-27 | 1985-08-30 | Landis & Gyr Ag | Messwandler zum messen eines insbesondere von einem messstrom erzeugten magnetfeldes. |
JPS5687273A (en) | 1979-12-17 | 1981-07-15 | Sanyo Electric Co Ltd | Automatic head leading device |
US4343026A (en) | 1980-07-09 | 1982-08-03 | Spin Physics, Inc. | Magnetoresistive head employing field feedback |
JPS57105977A (en) | 1980-12-23 | 1982-07-01 | Toshiba Corp | Air cell |
CH651671A5 (de) | 1980-12-24 | 1985-09-30 | Landis & Gyr Ag | Anordnung zur messung elektrischer leistung oder energie. |
CH651701A5 (de) | 1980-12-24 | 1985-09-30 | Landis & Gyr Ag | Kompensierter messwandler. |
JPS57187671A (en) | 1981-05-15 | 1982-11-18 | Nec Corp | Magnetism sensor |
JPS58155761A (ja) | 1982-03-10 | 1983-09-16 | Sharp Corp | ホ−ル効果半導体集積回路 |
DE3426784A1 (de) | 1984-07-20 | 1986-01-30 | Bosch Gmbh Robert | Magnetoresistiver sensor zur abgabe von elektrischen signalen |
CA1248222A (en) | 1984-08-27 | 1989-01-03 | Yutaka Souda | Magnetic transducer head utilizing magnetoresistance effect |
DE3632624C1 (de) | 1986-09-25 | 1988-03-10 | Balluff Gebhard Feinmech | Stoerfeldunempfindlicher Naeherungsschalter |
CH669852A5 (ja) | 1986-12-12 | 1989-04-14 | Lem Liaisons Electron Mec | |
JPS63150384A (ja) | 1986-12-15 | 1988-06-23 | Hitachi Ltd | 潤滑剤 |
US4772929A (en) | 1987-01-09 | 1988-09-20 | Sprague Electric Company | Hall sensor with integrated pole pieces |
KR910004261B1 (ko) | 1987-04-09 | 1991-06-25 | 후지쓰 가부시끼가이샤 | 자전 변환 소자를 이용한 검지기 |
JPS63263782A (ja) | 1987-04-22 | 1988-10-31 | Hitachi Ltd | 磁電変換素子 |
EP0300635B1 (en) | 1987-07-07 | 1995-09-13 | Nippondenso Co., Ltd. | Current detecting device using ferromagnetic magnetoresistance element |
JPS6475969A (en) | 1987-09-17 | 1989-03-22 | Mitsubishi Electric Corp | Measuring device of current |
US4823075A (en) | 1987-10-13 | 1989-04-18 | General Electric Company | Current sensor using hall-effect device with feedback |
CH674089A5 (ja) | 1987-10-16 | 1990-04-30 | Lem Liaisons Electron Mec | |
GB8725467D0 (en) | 1987-10-30 | 1987-12-02 | Honeywell Control Syst | Making current sensor |
US4939459A (en) | 1987-12-21 | 1990-07-03 | Tdk Corporation | High sensitivity magnetic sensor |
US5227721A (en) | 1987-12-25 | 1993-07-13 | Sharp Kabushiki Kaisha | Superconductive magnetic sensor having self induced magnetic biasing |
JPH01251763A (ja) | 1988-03-31 | 1989-10-06 | Res Dev Corp Of Japan | 縦型ホール素子と集積化磁気センサ |
JPH0216475A (ja) | 1988-07-04 | 1990-01-19 | Sharp Corp | 超電導磁気測定装置 |
US5041780A (en) | 1988-09-13 | 1991-08-20 | California Institute Of Technology | Integrable current sensors |
US4847584A (en) | 1988-10-14 | 1989-07-11 | Honeywell Inc. | Magnetoresistive magnetic sensor |
US4926116A (en) | 1988-10-31 | 1990-05-15 | Westinghouse Electric Corp. | Wide band large dynamic range current sensor and method of current detection using same |
JPH02170061A (ja) | 1988-12-23 | 1990-06-29 | Fujitsu Ltd | 電力検知装置 |
JPH02212789A (ja) | 1989-02-13 | 1990-08-23 | Nec Corp | 磁気センサ |
JPH02238372A (ja) | 1989-03-13 | 1990-09-20 | Fujitsu Ltd | 電流検出器 |
JP2796391B2 (ja) | 1990-01-08 | 1998-09-10 | 株式会社日立製作所 | 物理量検出方法および物理量検出装置あるいはこれらの方法あるいは装置を利用したサーボモータおよびこのサーボモータを使用したパワーステアリング装置 |
JPH03214783A (ja) | 1990-01-19 | 1991-09-19 | Aichi Tokei Denki Co Ltd | 積層型センサ |
JPH04290979A (ja) | 1991-03-20 | 1992-10-15 | Hitachi Ltd | 磁気センサ、磁気センサを持つ位置検出装置および磁気センサを利用したトルク検出装置、モータ制御装置、あるいはこのトルク検出装置を有する電動パワーステアリング装置 |
JP3093813B2 (ja) | 1991-03-29 | 2000-10-03 | 科学技術振興事業団 | 磁気センサ |
JP3206027B2 (ja) | 1991-07-05 | 2001-09-04 | 株式会社村田製作所 | 微小電流センサ |
EP0537419A1 (de) | 1991-10-09 | 1993-04-21 | Landis & Gyr Business Support AG | Anordnung mit einem integrierten Magnetfeldsensor sowie einem ferromagnetischen ersten und zweiten Magnetfluss-Konzentrator und Verfahren zum Einbau einer Vielzahl von Anordnungen in je einem Kunststoffgehäuse |
JPH05126865A (ja) | 1991-10-22 | 1993-05-21 | Hitachi Ltd | 電流検出装置あるいは電流検出方法 |
JPH05264701A (ja) | 1992-01-23 | 1993-10-12 | Fujitsu Ltd | 磁気センサ |
DE4212737C1 (en) | 1992-04-16 | 1993-07-08 | Leica Mikroskopie Und Systeme Gmbh | Compact bridge-connected sensor - has thin-film resistors on substrate |
CH683469A5 (de) | 1992-07-03 | 1994-03-15 | Landis & Gyr Business Support | Anordnung mit einem einen Magnetfeldsensor enthaltenden Halbleiterplättchen zwischen einem ersten und einem zweiten Polschuh und Verfahren zur Herstellung einer Vielzahl der Anordnungen. |
JPH0627150A (ja) | 1992-07-07 | 1994-02-04 | Honda Motor Co Ltd | ホール素子型電流センサ |
US5402064A (en) | 1992-09-02 | 1995-03-28 | Santa Barbara Research Center | Magnetoresistive sensor circuit with high output voltage swing and temperature compensation |
DE4243358A1 (de) | 1992-12-21 | 1994-06-23 | Siemens Ag | Magnetowiderstands-Sensor mit künstlichem Antiferromagneten und Verfahren zu seiner Herstellung |
DE4300605C2 (de) | 1993-01-13 | 1994-12-15 | Lust Electronic Systeme Gmbh | Sensorchip |
JPH0812233B2 (ja) * | 1993-05-12 | 1996-02-07 | 株式会社超伝導センサ研究所 | 磁束変化量測定方法 |
US5442283A (en) | 1993-09-03 | 1995-08-15 | Allegro Microsystems, Inc. | Hall-voltage slope-activated sensor |
US6002553A (en) | 1994-02-28 | 1999-12-14 | The United States Of America As Represented By The United States Department Of Energy | Giant magnetoresistive sensor |
US5583725A (en) | 1994-06-15 | 1996-12-10 | International Business Machines Corporation | Spin valve magnetoresistive sensor with self-pinned laminated layer and magnetic recording system using the sensor |
US5500590A (en) | 1994-07-20 | 1996-03-19 | Honeywell Inc. | Apparatus for sensing magnetic fields using a coupled film magnetoresistive transducer |
DE4436876A1 (de) | 1994-10-15 | 1996-04-18 | Lust Antriebstechnik Gmbh | Sensorchip |
JPH08130338A (ja) | 1994-10-31 | 1996-05-21 | Nec Corp | 薄膜磁気センサ |
US5561368A (en) | 1994-11-04 | 1996-10-01 | International Business Machines Corporation | Bridge circuit magnetic field sensor having spin valve magnetoresistive elements formed on common substrate |
US5570034A (en) | 1994-12-29 | 1996-10-29 | Intel Corporation | Using hall effect to monitor current during IDDQ testing of CMOS integrated circuits |
US5488294A (en) | 1995-01-18 | 1996-01-30 | Honeywell Inc. | Magnetic sensor with means for retaining a magnet at a precise calibrated position |
FR2734058B1 (fr) | 1995-05-12 | 1997-06-20 | Thomson Csf | Amperemetre |
EP0772046B1 (de) | 1995-10-30 | 2002-04-17 | Sentron Ag | Magnetfeldsensor und Strom- oder Energiesensor |
JPH09166612A (ja) | 1995-12-18 | 1997-06-24 | Nissan Motor Co Ltd | 磁気センサ |
JPH09257835A (ja) | 1996-03-22 | 1997-10-03 | Toshiba Corp | 電流検出装置 |
US5929636A (en) | 1996-05-02 | 1999-07-27 | Integrated Magnetoelectronics | All-metal giant magnetoresistive solid-state component |
DE19619806A1 (de) | 1996-05-15 | 1997-11-20 | Siemens Ag | Magnetfeldempfindliche Sensoreinrichtung mit mehreren GMR-Sensorelementen |
FR2749664B1 (fr) | 1996-06-05 | 1998-07-24 | Chauvin Arnoux | Dispositif de mesure de courants faibles par pince amperemetrique |
FR2750769B1 (fr) | 1996-07-05 | 1998-11-13 | Thomson Csf | Capteur de champ magnetique en couche mince |
US5831426A (en) | 1996-08-16 | 1998-11-03 | Nonvolatile Electronics, Incorporated | Magnetic current sensor |
US5896030A (en) | 1996-10-09 | 1999-04-20 | Honeywell Inc. | Magnetic sensor with components attached to transparent plate for laser trimming during calibration |
DE19650078A1 (de) | 1996-12-03 | 1998-06-04 | Inst Mikrostrukturtechnologie | Sensorelement zur Bestimmung eines Magnetfeldes oder eines Stromes |
JPH10293141A (ja) | 1997-04-18 | 1998-11-04 | Yasusuke Yamamoto | 電流センサー |
EP0874244B1 (de) | 1997-04-19 | 2002-01-30 | LUST ANTRIEBSTECHNIK GmbH | Verfahren zum Messen von elektrischen Strömen in n Leitern sowie Vorrichtung zur Durchführung des Verfahrens |
US5877705A (en) | 1997-04-22 | 1999-03-02 | Nu-Metrics, Inc. | Method and apparatus for analyzing traffic and a sensor therefor |
US5861747A (en) | 1997-05-27 | 1999-01-19 | Ford Global Technologies, Inc. | Magnetoresistive rotary position sensor providing a linear output independent of modest fluctuations |
EP0927361A1 (en) | 1997-06-13 | 1999-07-07 | Koninklijke Philips Electronics N.V. | Sensor comprising a wheatstone bridge |
US5952825A (en) | 1997-08-14 | 1999-09-14 | Honeywell Inc. | Magnetic field sensing device having integral coils for producing magnetic fields |
EP0944839B1 (en) | 1997-09-15 | 2006-03-29 | AMS International AG | A current monitor system and a method for manufacturing it |
US5883567A (en) | 1997-10-10 | 1999-03-16 | Analog Devices, Inc. | Packaged integrated circuit with magnetic flux concentrator |
US6094330A (en) | 1998-01-14 | 2000-07-25 | General Electric Company | Circuit interrupter having improved current sensing apparatus |
US6300617B1 (en) | 1998-03-04 | 2001-10-09 | Nonvolatile Electronics, Incorporated | Magnetic digital signal coupler having selected/reversal directions of magnetization |
JP3544141B2 (ja) | 1998-05-13 | 2004-07-21 | 三菱電機株式会社 | 磁気検出素子および磁気検出装置 |
JP3623367B2 (ja) | 1998-07-17 | 2005-02-23 | アルプス電気株式会社 | 巨大磁気抵抗効果素子を備えたポテンショメータ |
JP3623366B2 (ja) | 1998-07-17 | 2005-02-23 | アルプス電気株式会社 | 巨大磁気抵抗効果素子を備えた磁界センサおよびその製造方法と製造装置 |
US6809515B1 (en) | 1998-07-31 | 2004-10-26 | Spinix Corporation | Passive solid-state magnetic field sensors and applications therefor |
US6424018B1 (en) | 1998-10-02 | 2002-07-23 | Sanken Electric Co., Ltd. | Semiconductor device having a hall-effect element |
TW434411B (en) | 1998-10-14 | 2001-05-16 | Tdk Corp | Magnetic sensor apparatus, current sensor apparatus and magnetic sensing element |
TW534999B (en) | 1998-12-15 | 2003-06-01 | Tdk Corp | Magnetic sensor apparatus and current sensor apparatus |
JP3414292B2 (ja) | 1998-12-25 | 2003-06-09 | 株式会社豊田中央研究所 | 磁界検出装置及び磁界検出素子 |
CN1165770C (zh) | 1999-01-21 | 2004-09-08 | Tdk株式会社 | 电流传感装置 |
EP1031844A3 (fr) | 1999-02-25 | 2009-03-11 | Liaisons Electroniques-Mecaniques Lem S.A. | Procédé de fabrication d'un capteur de courant électrique |
US6331773B1 (en) | 1999-04-16 | 2001-12-18 | Storage Technology Corporation | Pinned synthetic anti-ferromagnet with oxidation protection layer |
JP3583649B2 (ja) | 1999-04-27 | 2004-11-04 | Tdk株式会社 | 薄膜磁気ヘッドおよびその製造方法ならびに磁気抵抗効果装置 |
DE10017374B4 (de) | 1999-05-25 | 2007-05-10 | Siemens Ag | Magnetische Koppeleinrichtung und deren Verwendung |
GB2352522B (en) | 1999-05-28 | 2003-08-06 | Caithness Dev Ltd | A sensor |
WO2000079298A2 (en) | 1999-06-18 | 2000-12-28 | Koninklijke Philips Electronics N.V. | Magnetic systems with irreversible characteristics and a method of manufacturing and repairing and operating such systems |
JP3696448B2 (ja) | 1999-09-02 | 2005-09-21 | 矢崎総業株式会社 | 電流検出器 |
JP2001084535A (ja) | 1999-09-16 | 2001-03-30 | Tdk Corp | 薄膜磁気ヘッドの製造方法および磁気抵抗効果装置の製造方法 |
DE60044568D1 (de) | 1999-10-01 | 2010-07-29 | Nve Corp | Gerät zur Überwachung eines magnetischen digitalen Überträgers |
US6445171B2 (en) | 1999-10-29 | 2002-09-03 | Honeywell Inc. | Closed-loop magnetoresistive current sensor system having active offset nulling |
US6462541B1 (en) | 1999-11-12 | 2002-10-08 | Nve Corporation | Uniform sense condition magnetic field sensor using differential magnetoresistance |
JP2001165963A (ja) | 1999-12-09 | 2001-06-22 | Sanken Electric Co Ltd | ホール素子を備えた電流検出装置 |
JP3852554B2 (ja) | 1999-12-09 | 2006-11-29 | サンケン電気株式会社 | ホール素子を備えた電流検出装置 |
JP4164615B2 (ja) | 1999-12-20 | 2008-10-15 | サンケン電気株式会社 | ホ−ル素子を備えた電流検出装置 |
US6433981B1 (en) | 1999-12-30 | 2002-08-13 | General Electric Company | Modular current sensor and power source |
JP4216984B2 (ja) | 2000-02-14 | 2009-01-28 | パナソニック株式会社 | 部品振り分け制御装置、部品振り分け方法、および部品振り分けシステム。 |
JP2001227902A (ja) | 2000-02-16 | 2001-08-24 | Mitsubishi Electric Corp | 半導体装置 |
WO2001071713A1 (en) | 2000-03-22 | 2001-09-27 | Nve Corporation | Read heads in planar monolithic integrated circuit chips |
DE10028640B4 (de) | 2000-06-09 | 2005-11-03 | Institut für Physikalische Hochtechnologie e.V. | Wheatstonebrücke, beinhaltend Brückenelemente, bestehend aus einem Spin-Valve-System, sowie ein Verfahren zu deren Herstellung |
JP2002082136A (ja) | 2000-06-23 | 2002-03-22 | Yazaki Corp | 電流センサ |
JP2002026419A (ja) | 2000-07-07 | 2002-01-25 | Sanken Electric Co Ltd | 磁電変換装置 |
US6429640B1 (en) | 2000-08-21 | 2002-08-06 | The United States Of America As Represented By The Secretary Of The Air Force | GMR high current, wide dynamic range sensor |
JP2002107382A (ja) | 2000-09-27 | 2002-04-10 | Asahi Kasei Corp | 半導体装置およびその製造方法、並びに電流センサ |
JP2002131342A (ja) | 2000-10-19 | 2002-05-09 | Canon Electronics Inc | 電流センサ |
DE20018538U1 (de) | 2000-10-27 | 2002-03-07 | Mannesmann Vdo Ag | Sensormodul |
JP2002163808A (ja) | 2000-11-22 | 2002-06-07 | Tdk Corp | 磁気抵抗効果装置およびその製造方法ならびに薄膜磁気ヘッドおよびその製造方法 |
GB0029815D0 (en) | 2000-12-06 | 2001-01-17 | Pace Micro Tech Plc | Voltage measuring apparatus |
US6833615B2 (en) | 2000-12-29 | 2004-12-21 | Intel Corporation | Via-in-pad with off-center geometry |
US20020093332A1 (en) | 2001-01-18 | 2002-07-18 | Thaddeus Schroeder | Magnetic field sensor with tailored magnetic response |
DE10108640A1 (de) | 2001-02-22 | 2002-09-19 | Infineon Technologies Ag | Sensoranordnung zur kontaktlosen Strommessung |
US6661083B2 (en) | 2001-02-27 | 2003-12-09 | Chippac, Inc | Plastic semiconductor package |
DE10159607B4 (de) | 2001-03-09 | 2010-11-18 | Siemens Ag | Analog/Digital-Signalwandlereinrichtung mit galvanischer Trennung in ihrem Singalübertragungsweg |
DE10120408B4 (de) | 2001-04-25 | 2006-02-02 | Infineon Technologies Ag | Elektronisches Bauteil mit einem Halbleiterchip, elektronische Baugruppe aus gestapelten Halbleiterchips und Verfahren zu deren Herstellung |
JP3260740B1 (ja) | 2001-04-25 | 2002-02-25 | ティーディーケイ株式会社 | 磁気抵抗効果装置の製造方法および薄膜磁気ヘッドの製造方法 |
JP3284130B1 (ja) | 2001-04-25 | 2002-05-20 | ティーディーケイ株式会社 | 磁気抵抗効果装置およびその製造方法、薄膜磁気ヘッドおよびその製造方法、ヘッドジンバルアセンブリならびにハードディスク装置 |
US6946834B2 (en) | 2001-06-01 | 2005-09-20 | Koninklijke Philips Electronics N.V. | Method of orienting an axis of magnetization of a first magnetic element with respect to a second magnetic element, semimanufacture for obtaining a sensor, sensor for measuring a magnetic field |
DE10128150C1 (de) | 2001-06-11 | 2003-01-23 | Siemens Ag | Magnetoresistives Sensorsystem |
US6542375B1 (en) | 2001-06-14 | 2003-04-01 | National Semiconductor Corporation | Hybrid PCB-IC directional coupler |
EP1267173A3 (en) | 2001-06-15 | 2005-03-23 | Sanken Electric Co., Ltd. | Hall-effect current detector |
JP4164626B2 (ja) | 2001-06-15 | 2008-10-15 | サンケン電気株式会社 | ホ−ル素子を備えた電流検出装置 |
EP1273921A1 (en) | 2001-07-06 | 2003-01-08 | Sanken Electric Co., Ltd. | Hall-effect current detector |
JP2003043074A (ja) | 2001-07-26 | 2003-02-13 | Asahi Kasei Corp | 電流検出装置及びその製造方法 |
DE10140043B4 (de) | 2001-08-16 | 2006-03-23 | Siemens Ag | Schichtensystem mit erhöhtem magnetoresistiven Effekt sowie Verwendung desselben |
US6949927B2 (en) | 2001-08-27 | 2005-09-27 | International Rectifier Corporation | Magnetoresistive magnetic field sensors and motor control devices using same |
DE10142114C1 (de) | 2001-08-30 | 2003-02-13 | Infineon Technologies Ag | Elektronisches Bauteil mit wenigstens zwei Halbleiterchips sowie Verfahren zu seiner Herstellung |
DE10142118B4 (de) | 2001-08-30 | 2007-07-12 | Infineon Technologies Ag | Elektronisches Bauteil mit wenigstens zwei gestapelten Halbleiterchips sowie Verfahren zu seiner Herstellung |
DE10142120A1 (de) | 2001-08-30 | 2003-03-27 | Infineon Technologies Ag | Elektronisches Bauteil mit wenigstens zwei gestapelten Halbleiterchips sowie Verfahren zu seiner Herstellung |
DE10143437A1 (de) | 2001-09-05 | 2003-03-27 | Hella Kg Hueck & Co | Vorrichtung zur Ermittlung der Position eines Schaltstocks oder eines Wählhebels eines Fahrzeuggetriebes |
CN1295514C (zh) | 2001-11-01 | 2007-01-17 | 旭化成电子材料元件株式会社 | 电流传感器与电流传感器的制造方法 |
DE10155423B4 (de) | 2001-11-12 | 2006-03-02 | Siemens Ag | Verfahren zur homogenen Magnetisierung eines austauschgekoppelten Schichtsystems eines magneto-resistiven Bauelements, insbesondere eines Sensor-oder Logikelements |
US6667682B2 (en) | 2001-12-26 | 2003-12-23 | Honeywell International Inc. | System and method for using magneto-resistive sensors as dual purpose sensors |
DE10202287C1 (de) | 2002-01-22 | 2003-08-07 | Siemens Ag | Verfahren zur Herstellung einer monolithischen Brückenschaltung bestehend aus mehreren, als magneto-resistive Elemente ausgebildeten Brückengliedern und eine hiernach hergestellte monolithische Brückenschaltung |
US6815944B2 (en) | 2002-01-31 | 2004-11-09 | Allegro Microsystems, Inc. | Method and apparatus for providing information from a speed and direction sensor |
US6984978B2 (en) | 2002-02-11 | 2006-01-10 | Honeywell International Inc. | Magnetic field sensor |
DE10222395B4 (de) | 2002-05-21 | 2010-08-05 | Siemens Ag | Schaltungseinrichtung mit mehreren TMR-Sensorelementen |
US7106046B2 (en) | 2002-06-18 | 2006-09-12 | Asahi Kasei Emd Corporation | Current measuring method and current measuring device |
DE10228764B4 (de) | 2002-06-27 | 2006-07-13 | Infineon Technologies Ag | Anordnung zum Testen von Halbleitereinrichtungen |
US6781359B2 (en) | 2002-09-20 | 2004-08-24 | Allegro Microsystems, Inc. | Integrated current sensor |
JP2004132790A (ja) | 2002-10-09 | 2004-04-30 | Fuji Electric Holdings Co Ltd | 電流センサ |
JP3896590B2 (ja) | 2002-10-28 | 2007-03-22 | サンケン電気株式会社 | 電流検出装置 |
JP2004158668A (ja) | 2002-11-07 | 2004-06-03 | Asahi Kasei Corp | ハイブリッド磁気センサ及びその製造方法 |
JP4200358B2 (ja) | 2002-12-13 | 2008-12-24 | サンケン電気株式会社 | ホール素子を備えた電流検出装置 |
US7259545B2 (en) | 2003-02-11 | 2007-08-21 | Allegro Microsystems, Inc. | Integrated sensor |
US6995957B2 (en) | 2003-03-18 | 2006-02-07 | Hitachi Global Storage Technologies Netherland B.V. | Magnetoresistive sensor having a high resistance soft magnetic layer between sensor stack and shield |
DE10314602B4 (de) | 2003-03-31 | 2007-03-01 | Infineon Technologies Ag | Integrierter differentieller Magnetfeldsensor |
JP2004356338A (ja) | 2003-05-28 | 2004-12-16 | Res Inst Electric Magnetic Alloys | 薄膜磁気センサ及びその製造方法 |
EP1636810A1 (en) | 2003-06-11 | 2006-03-22 | Koninklijke Philips Electronics N.V. | Method of manufacturing a device with a magnetic layer-structure |
US20060219436A1 (en) | 2003-08-26 | 2006-10-05 | Taylor William P | Current sensor |
US7075287B1 (en) | 2003-08-26 | 2006-07-11 | Allegro Microsystems, Inc. | Current sensor |
US7166807B2 (en) | 2003-08-26 | 2007-01-23 | Allegro Microsystems, Inc. | Current sensor |
US7709754B2 (en) | 2003-08-26 | 2010-05-04 | Allegro Microsystems, Inc. | Current sensor |
FR2860592B1 (fr) | 2003-10-06 | 2006-01-21 | Michel Remy Jean Combier | Dispositif de mesure de courant sans contact, a grande dynamique, robuste et a bas cout. |
US8970049B2 (en) | 2003-12-17 | 2015-03-03 | Chippac, Inc. | Multiple chip package module having inverted package stacked over die |
JP2005195427A (ja) | 2004-01-06 | 2005-07-21 | Asahi Kasei Electronics Co Ltd | 電流測定装置、電流測定方法および電流測定プログラム |
DE102004003369A1 (de) | 2004-01-22 | 2005-08-18 | Siemens Ag | Magnetisches Bauelement mit hoher Grenzfrequenz |
US7375516B2 (en) | 2004-02-19 | 2008-05-20 | Mitsubishi Electric Corporation | Magnetic field detector, current detector, position detector and rotation detector employing it |
JP4433820B2 (ja) | 2004-02-20 | 2010-03-17 | Tdk株式会社 | 磁気検出素子およびその形成方法ならびに磁気センサ、電流計 |
DE102004009267B3 (de) | 2004-02-26 | 2005-09-22 | Siemens Ag | Ausleseeinrichtung wenigstens eines magnetoresistiven Elementes |
US7422930B2 (en) | 2004-03-02 | 2008-09-09 | Infineon Technologies Ag | Integrated circuit with re-route layer and stacked die assembly |
JP4511219B2 (ja) | 2004-03-04 | 2010-07-28 | 三洋電機株式会社 | モータ駆動回路 |
DE102004062474A1 (de) | 2004-03-23 | 2005-10-13 | Siemens Ag | Vorrichtung zur potenzialfreien Strommessung |
DE102004017191B4 (de) | 2004-04-07 | 2007-07-12 | Infineon Technologies Ag | Vorrichtung und Verfahren zur Ermittlung einer Richtung eines Objekts |
US20050246114A1 (en) | 2004-04-29 | 2005-11-03 | Rannow Randy K | In-line field sensor |
US7961431B2 (en) | 2004-05-04 | 2011-06-14 | Illinois Tool Works Inc. | Additive-free fiber for metal texture of hard disk drives |
DE102004021862B4 (de) | 2004-05-04 | 2014-08-07 | Infineon Technologies Ag | Stromsenor |
DE102004027273A1 (de) | 2004-06-04 | 2005-12-29 | Infineon Technologies Ag | Halbleiterbaustein mit einer ersten und mindestens einer weiteren Halbleiterschaltung und Verfahren |
DE102004038847B3 (de) | 2004-08-10 | 2005-09-01 | Siemens Ag | Einrichtung zur potenzialfreien Messung eines in einer elektrischen Leiterbahn fließenden Stromes |
DE102005037905A1 (de) | 2004-08-18 | 2006-03-09 | Siemens Ag | Magnetfeldsensor zum Messen eines Gradienten eines magnetischen Feldes |
DE102004040079B3 (de) | 2004-08-18 | 2005-12-22 | Siemens Ag | Magnetfeldsensor |
DE102004043737A1 (de) | 2004-09-09 | 2006-03-30 | Siemens Ag | Vorrichtung zum Erfassen des Gradienten eines Magnetfeldes und Verfahren zur Herstellung der Vorrichtung |
JP4360998B2 (ja) | 2004-10-01 | 2009-11-11 | Tdk株式会社 | 電流センサ |
US7777607B2 (en) | 2004-10-12 | 2010-08-17 | Allegro Microsystems, Inc. | Resistor having a predetermined temperature coefficient |
JP4105142B2 (ja) | 2004-10-28 | 2008-06-25 | Tdk株式会社 | 電流センサ |
DE102004053551A1 (de) | 2004-11-05 | 2006-05-18 | Siemens Ag | Vorrichtung zum Erfassen eines beweglichen oder bewegbaren elektrisch und/oder magnetisch leitenden Teiles |
JP4105145B2 (ja) | 2004-11-30 | 2008-06-25 | Tdk株式会社 | 電流センサ |
JP4105147B2 (ja) | 2004-12-06 | 2008-06-25 | Tdk株式会社 | 電流センサ |
JP4131869B2 (ja) | 2005-01-31 | 2008-08-13 | Tdk株式会社 | 電流センサ |
US7476953B2 (en) | 2005-02-04 | 2009-01-13 | Allegro Microsystems, Inc. | Integrated sensor having a magnetic flux concentrator |
ATE381024T1 (de) | 2005-02-15 | 2007-12-15 | Fiat Ricerche | Oberflächenmontierter integrierter stromsensor |
DE102006008257B4 (de) | 2005-03-22 | 2010-01-14 | Siemens Ag | Magnetoresistives Mehrschichtensystem vom Spin Valve-Typ mit einer magnetisch weicheren Elektrode aus mehreren Schichten und dessen Verwendung |
JP2008541039A (ja) | 2005-05-04 | 2008-11-20 | エヌエックスピー ビー ヴィ | センサモジュールを具える装置 |
US7358724B2 (en) | 2005-05-16 | 2008-04-15 | Allegro Microsystems, Inc. | Integrated magnetic flux concentrator |
JP2007003237A (ja) | 2005-06-21 | 2007-01-11 | Denso Corp | 電流センサ |
DE102006021774B4 (de) | 2005-06-23 | 2014-04-03 | Siemens Aktiengesellschaft | Stromsensor zur galvanisch getrennten Strommessung |
JP4466487B2 (ja) | 2005-06-27 | 2010-05-26 | Tdk株式会社 | 磁気センサおよび電流センサ |
US7541804B2 (en) | 2005-07-29 | 2009-06-02 | Everspin Technologies, Inc. | Magnetic tunnel junction sensor |
DE102005038655B3 (de) | 2005-08-16 | 2007-03-22 | Siemens Ag | Magnetfeldsensitive Sensoreinrichtung |
DE102005040539B4 (de) | 2005-08-26 | 2007-07-05 | Siemens Ag | Magnetfeldsensitive Sensoreinrichtung |
JP2007064851A (ja) | 2005-08-31 | 2007-03-15 | Tdk Corp | コイル、コイルモジュールおよびその製造方法、ならびに電流センサおよびその製造方法 |
JP4415923B2 (ja) | 2005-09-30 | 2010-02-17 | Tdk株式会社 | 電流センサ |
JP4298691B2 (ja) | 2005-09-30 | 2009-07-22 | Tdk株式会社 | 電流センサおよびその製造方法 |
JP4224483B2 (ja) | 2005-10-14 | 2009-02-12 | Tdk株式会社 | 電流センサ |
DE102005052688A1 (de) | 2005-11-04 | 2007-05-24 | Siemens Ag | Magnetfeldsensor mit einer Messbrücke mit MR-Sensor |
US7768083B2 (en) | 2006-01-20 | 2010-08-03 | Allegro Microsystems, Inc. | Arrangements for an integrated sensor |
JP2007218700A (ja) | 2006-02-15 | 2007-08-30 | Tdk Corp | 磁気センサおよび電流センサ |
DE102006007770A1 (de) | 2006-02-20 | 2007-08-30 | Siemens Ag | Sensoreinrichtung zur Erfassung einer Magnetfeldgröße |
US20070279053A1 (en) | 2006-05-12 | 2007-12-06 | Taylor William P | Integrated current sensor |
DE102006026148A1 (de) | 2006-06-06 | 2007-12-13 | Insta Elektro Gmbh | Elektrisches/elektronisches Gerät |
DE102006028250A1 (de) | 2006-06-20 | 2007-12-27 | Carl Zeiss Microimaging Gmbh | Verfahren zur Überwachung von Laserbearbeitungsprozessen |
DE102006028698B3 (de) | 2006-06-22 | 2007-12-13 | Siemens Ag | OMR-Sensor und Anordnung aus solchen Sensoren |
DE102006046736B4 (de) | 2006-09-29 | 2008-08-14 | Siemens Ag | Verfahren zum Betreiben eines Magnetfeldsensors und zugehöriger Magnetfeldsensor |
DE102006046739B4 (de) | 2006-09-29 | 2008-08-14 | Siemens Ag | Verfahren zum Betreiben eines Magnetfeldsensors und zugehöriger Magnetfeldsensor |
US7816905B2 (en) | 2008-06-02 | 2010-10-19 | Allegro Microsystems, Inc. | Arrangements for a current sensing circuit and integrated current sensor |
US8203332B2 (en) | 2008-06-24 | 2012-06-19 | Magic Technologies, Inc. | Gear tooth sensor (GTS) with magnetoresistive bridge |
JP4859903B2 (ja) | 2008-10-23 | 2012-01-25 | 三菱電機株式会社 | 移動方向検出装置 |
GB2472654A (en) | 2009-08-15 | 2011-02-16 | Bentley Motors Ltd | A retention system |
WO2012070337A1 (ja) | 2010-11-26 | 2012-05-31 | アルプス・グリーンデバイス株式会社 | 電流センサ |
DE102012012759A1 (de) | 2012-06-27 | 2014-01-02 | Sensitec Gmbh | Anordnung zur Strommessung |
US8907669B2 (en) * | 2012-07-24 | 2014-12-09 | Allegro Microsystems, Llc | Circuits and techniques for adjusting a sensitivity of a closed-loop current sensor |
JP6199730B2 (ja) | 2013-12-25 | 2017-09-20 | 株式会社東芝 | 電流センサ及び電流センサモジュール |
JP6339890B2 (ja) * | 2014-08-05 | 2018-06-06 | アルプス電気株式会社 | 電流センサ |
JP6763887B2 (ja) | 2015-06-05 | 2020-09-30 | アレグロ・マイクロシステムズ・エルエルシー | 磁界に対する応答が改善されたスピンバルブ磁気抵抗効果素子 |
US10114085B2 (en) | 2016-03-04 | 2018-10-30 | Allegro Microsystems, Llc | Magnetic field sensor with improved response immunity |
WO2017199519A1 (ja) | 2016-05-17 | 2017-11-23 | アルプス電気株式会社 | 平衡式磁気検知装置 |
US10247758B2 (en) | 2016-08-08 | 2019-04-02 | Allegro Microsystems, Llc | Current sensor |
US10114044B2 (en) | 2016-08-08 | 2018-10-30 | Allegro Microsystems, Llc | Current sensor |
US10481181B2 (en) | 2017-04-25 | 2019-11-19 | Allegro Microsystems, Llc | Systems and methods for current sensing |
US10557873B2 (en) | 2017-07-19 | 2020-02-11 | Allegro Microsystems, Llc | Systems and methods for closed loop current sensing |
-
2018
- 2018-08-20 US US15/999,448 patent/US10935612B2/en active Active
-
2019
- 2019-07-23 JP JP2021509765A patent/JP7434287B2/ja active Active
- 2019-07-23 EP EP19755717.6A patent/EP3821263A1/en active Pending
- 2019-07-23 KR KR1020217005860A patent/KR102704207B1/ko active IP Right Grant
- 2019-07-23 WO PCT/US2019/042921 patent/WO2020040921A1/en unknown
Patent Citations (10)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2011185772A (ja) | 2010-03-09 | 2011-09-22 | Alps Green Devices Co Ltd | 電流センサ |
JP2015503735A (ja) | 2011-12-30 | 2015-02-02 | 江▲蘇▼多▲維▼科技有限公司Jiang Su Multi Dimension Technology Co.,Ltd | 電流センサ |
JP2017505538A (ja) | 2014-01-09 | 2017-02-16 | アレグロ・マイクロシステムズ・エルエルシー | 磁界に対する応答が改善された磁気抵抗素子 |
JP6324129B2 (ja) | 2014-03-17 | 2018-05-16 | 大阪瓦斯株式会社 | 吸収式冷凍機 |
WO2016021500A1 (ja) | 2014-08-05 | 2016-02-11 | アルプス・グリーンデバイス株式会社 | 電流センサ |
WO2016021575A1 (ja) | 2014-08-05 | 2016-02-11 | アルプス・グリーンデバイス株式会社 | 電流センサ |
WO2016021480A1 (ja) | 2014-08-05 | 2016-02-11 | アルプス・グリーンデバイス株式会社 | 電流センサ |
US20170184635A1 (en) | 2015-12-28 | 2017-06-29 | Everspin Technologies, Inc. | Sensing apparatus for sensing current through a conductor and methods therefor |
JP2018115928A (ja) | 2017-01-17 | 2018-07-26 | 日立金属株式会社 | 電流センサの信号補正方法、及び電流センサ |
US20190219643A1 (en) | 2018-01-12 | 2019-07-18 | Allegro Microsystems, Llc | Magnetic Field Sensor Having Magnetoresistance Elements with Opposite Bias Directions |
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
WO2020040921A1 (en) | 2020-02-27 |
JP2021534416A (ja) | 2021-12-09 |
KR102704207B1 (ko) | 2024-09-06 |
US10935612B2 (en) | 2021-03-02 |
KR20210044799A (ko) | 2021-04-23 |
US20200057120A1 (en) | 2020-02-20 |
EP3821263A1 (en) | 2021-05-19 |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
JP7434287B2 (ja) | 複数の感度範囲を有する電流センサ | |
US9063185B2 (en) | Current sensor | |
JP4224483B2 (ja) | 電流センサ | |
US7723983B2 (en) | Magnetic sensor and current sensor | |
US8593134B2 (en) | Current sensor | |
EP1720027B1 (en) | Magnetic field detector and current detection device, position detection device and rotation detection device using the magnetic field detector | |
US7394240B2 (en) | Current sensor | |
CN103415776B (zh) | 电流传感器 | |
US8847591B2 (en) | Current sensor | |
JP4508058B2 (ja) | 磁界検出装置およびその製造方法 | |
US9945913B2 (en) | Magnetic sensor, method for manufacturing magnetic sensor, and current sensor | |
JP6526319B2 (ja) | 平衡式磁界検知装置 | |
JPWO2013129276A1 (ja) | 磁気センサ素子 | |
JP2018112481A (ja) | 磁気センサ | |
WO2015190155A1 (ja) | 電流センサ | |
JP2023084140A (ja) | 磁気センサ装置、インバータ装置、バッテリ装置、電動モータおよび車両 | |
US11181557B2 (en) | Magnetic sensor device and current sensor | |
JP2012063232A (ja) | 磁界検出装置の製造方法および磁界検出装置 | |
WO2011111457A1 (ja) | 磁気センサ及びそれを備えた磁気平衡式電流センサ | |
JP7122836B2 (ja) | 磁気センサおよび電流センサ | |
JP2017078594A (ja) | 磁気センサ、磁界の測定方法、電流センサ、および電流の測定方法 | |
CN109541503A (zh) | 磁传感器 | |
US11543469B2 (en) | Current sensor, and electric control apparatus including the current sensor | |
JP2017058376A (ja) | 電力検知センサ | |
JP2021152479A (ja) | 磁気センサ及びその製造方法 |
Legal Events
Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
A521 | Request for written amendment filed |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523 Effective date: 20210224 |
|
A621 | Written request for application examination |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A621 Effective date: 20220117 |
|
A131 | Notification of reasons for refusal |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131 Effective date: 20230228 |
|
A521 | Request for written amendment filed |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523 Effective date: 20230531 |
|
A131 | Notification of reasons for refusal |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131 Effective date: 20230823 |
|
A524 | Written submission of copy of amendment under article 19 pct |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A524 Effective date: 20231122 |
|
TRDD | Decision of grant or rejection written | ||
A01 | Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01 Effective date: 20240202 |
|
A61 | First payment of annual fees (during grant procedure) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A61 Effective date: 20240207 |
|
R150 | Certificate of patent or registration of utility model |
Ref document number: 7434287 Country of ref document: JP Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R150 |