JP2002026419A - 磁電変換装置 - Google Patents

磁電変換装置

Info

Publication number
JP2002026419A
JP2002026419A JP2000206403A JP2000206403A JP2002026419A JP 2002026419 A JP2002026419 A JP 2002026419A JP 2000206403 A JP2000206403 A JP 2000206403A JP 2000206403 A JP2000206403 A JP 2000206403A JP 2002026419 A JP2002026419 A JP 2002026419A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
support plate
magnetic
hall element
semiconductor
magnetic layer
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Pending
Application number
JP2000206403A
Other languages
English (en)
Other versions
JP2002026419A5 (ja
Inventor
Hiroichi Goto
博一 後藤
Koji Otsuka
康二 大塚
Takashi Kato
隆志 加藤
Hiromichi Kumakura
弘道 熊倉
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Sanken Electric Co Ltd
Original Assignee
Sanken Electric Co Ltd
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Sanken Electric Co Ltd filed Critical Sanken Electric Co Ltd
Priority to JP2000206403A priority Critical patent/JP2002026419A/ja
Priority to US09/893,937 priority patent/US6545457B2/en
Priority to EP01116341A priority patent/EP1180804A3/en
Publication of JP2002026419A publication Critical patent/JP2002026419A/ja
Publication of JP2002026419A5 publication Critical patent/JP2002026419A5/ja
Pending legal-status Critical Current

Links

Classifications

    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01RMEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
    • G01R33/00Arrangements or instruments for measuring magnetic variables
    • G01R33/02Measuring direction or magnitude of magnetic fields or magnetic flux
    • G01R33/06Measuring direction or magnitude of magnetic fields or magnetic flux using galvano-magnetic devices
    • G01R33/07Hall effect devices
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L2224/00Indexing scheme for arrangements for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies and methods related thereto as covered by H01L24/00
    • H01L2224/01Means for bonding being attached to, or being formed on, the surface to be connected, e.g. chip-to-package, die-attach, "first-level" interconnects; Manufacturing methods related thereto
    • H01L2224/42Wire connectors; Manufacturing methods related thereto
    • H01L2224/47Structure, shape, material or disposition of the wire connectors after the connecting process
    • H01L2224/48Structure, shape, material or disposition of the wire connectors after the connecting process of an individual wire connector
    • H01L2224/4805Shape
    • H01L2224/4809Loop shape
    • H01L2224/48091Arched
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L2224/00Indexing scheme for arrangements for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies and methods related thereto as covered by H01L24/00
    • H01L2224/01Means for bonding being attached to, or being formed on, the surface to be connected, e.g. chip-to-package, die-attach, "first-level" interconnects; Manufacturing methods related thereto
    • H01L2224/42Wire connectors; Manufacturing methods related thereto
    • H01L2224/47Structure, shape, material or disposition of the wire connectors after the connecting process
    • H01L2224/48Structure, shape, material or disposition of the wire connectors after the connecting process of an individual wire connector
    • H01L2224/481Disposition
    • H01L2224/48151Connecting between a semiconductor or solid-state body and an item not being a semiconductor or solid-state body, e.g. chip-to-substrate, chip-to-passive
    • H01L2224/48221Connecting between a semiconductor or solid-state body and an item not being a semiconductor or solid-state body, e.g. chip-to-substrate, chip-to-passive the body and the item being stacked
    • H01L2224/48245Connecting between a semiconductor or solid-state body and an item not being a semiconductor or solid-state body, e.g. chip-to-substrate, chip-to-passive the body and the item being stacked the item being metallic
    • H01L2224/48247Connecting between a semiconductor or solid-state body and an item not being a semiconductor or solid-state body, e.g. chip-to-substrate, chip-to-passive the body and the item being stacked the item being metallic connecting the wire to a bond pad of the item
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L2224/00Indexing scheme for arrangements for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies and methods related thereto as covered by H01L24/00
    • H01L2224/01Means for bonding being attached to, or being formed on, the surface to be connected, e.g. chip-to-package, die-attach, "first-level" interconnects; Manufacturing methods related thereto
    • H01L2224/42Wire connectors; Manufacturing methods related thereto
    • H01L2224/47Structure, shape, material or disposition of the wire connectors after the connecting process
    • H01L2224/48Structure, shape, material or disposition of the wire connectors after the connecting process of an individual wire connector
    • H01L2224/481Disposition
    • H01L2224/48151Connecting between a semiconductor or solid-state body and an item not being a semiconductor or solid-state body, e.g. chip-to-substrate, chip-to-passive
    • H01L2224/48221Connecting between a semiconductor or solid-state body and an item not being a semiconductor or solid-state body, e.g. chip-to-substrate, chip-to-passive the body and the item being stacked
    • H01L2224/48245Connecting between a semiconductor or solid-state body and an item not being a semiconductor or solid-state body, e.g. chip-to-substrate, chip-to-passive the body and the item being stacked the item being metallic
    • H01L2224/48257Connecting between a semiconductor or solid-state body and an item not being a semiconductor or solid-state body, e.g. chip-to-substrate, chip-to-passive the body and the item being stacked the item being metallic connecting the wire to a die pad of the item
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L2924/00Indexing scheme for arrangements or methods for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies as covered by H01L24/00
    • H01L2924/15Details of package parts other than the semiconductor or other solid state devices to be connected
    • H01L2924/181Encapsulation

Abstract

(57)【要約】 【課題】 ホール素子を使用して磁気を高感度に検出す
ることが困難であった。 【解決手段】 導電性の高い金属製支持板2と透磁率の
高い磁性体層3との積層体を設ける。この積層体の上に
ホール素子を含む半導体装置1を配置して絶縁性被覆体
4で被覆する。

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【発明の属する技術分野】本発明は、ホール素子を備え
た磁電変換装置に関する。
【0002】
【従来の技術】ホール素子は、ここに印加される磁界に
正比例した電圧即ちホール電圧を発生する。従って、ホ
ール素子を磁気検出装置に使用することができる。ま
た、ホール素子を電流通路に沿って配置すると、電流通
路を流れる電流に比例して発生する磁界がホール素子に
作用し、ホール素子から電流に比例した電圧を得ること
ができる。
【0003】
【発明が解決しようとする課題】ところで、ホール素子
による磁束検出の感度を更に高めること、及び外来ノイ
ズを十分に防止すること、及びコストの低減が要求され
ている。
【0004】そこで、本発明の目的は、磁気検出感度の
向上及び耐ノイズ性の向上を容易に図ることができる磁
電変換装置を提供することにある。
【0005】
【課題を解決するための手段】上記課題を解決し、上記
目的を達成するための本発明は、金属製の支持板と、前
記支持板の一方又は両方の主面に固着され且つ前記支持
板の透磁率よりも高い透磁率を有している磁性体層と、
前記磁性体層又は前記支持板に固着され且つホール素子
を含んでいる半導体装置と、前記支持板と前記磁性体層
と前記半導体装置とを被覆している絶縁性被覆体とを備
え、前記支持板は前記磁性体層よりも抵抗率の低い材料
から成ることを特徴とする磁電変換装置に係わるもので
ある。
【0006】なお、請求項2に示すように支持板は銅板
又はニッケルメッキ層を有する銅板であり、磁性体層は
パーマロイシ−トであることが望ましい。
【0007】
【発明の効果】各請求項の発明によれば次の効果が得ら
れる。 (1) ホール素子を含む半導体装置を支持するための
金属製支持板の表面に磁性体層を設けたので、被測定磁
束の通路の磁気抵抗を良好に下げることができ、磁気検
出感度を高めることができる。 (2) 支持板と磁性体層との積層構造体がホール素子
を含む半導体装置の一方の主面を覆うように配置される
ので、積層構造体の半導体装置が固着されていない側か
ら侵入した外来の磁気又は電磁波ノイズを良好に阻止す
ることができる。即ち、高い周波数の磁束から成る高周
波ノイズによって支持板に渦電流が流れ、ノイズ吸収作
用が生じ、また、透磁率が高い磁性体層が外来ノイズの
バイパスとして作用し、ホール素子に対する外来ノイズ
の作用を防ぐので、耐ノイズ性が向上する。
【0008】
【実施形態】次に、図1〜図6を参照して本発明の実施
形態を説明する。図1及び図2に示す本発明の実施形態
に従う磁電変換装置は、ホール素子を含む半導体装置1
と、金属製支持板2と、集磁器としての磁性体層3と、
絶縁性被覆体4と、外部リード端子5、6、7,8と、
内部接続ワイヤ9、10、11、12とを備えている。
【0009】図1及び図2に概略的に示されている半導
体装置1は、四角形の平面形状を有し、支持板2及び磁
性体層3の主表面の面積よりも小さい表面積を有する。
半導体装置1は図5に示すように半導体基板13を有す
る。半導体基板13には図4及び図5に示すホール素子
14の他に、図3に概略的に示す増幅器15、制御電流
供給回路16、第1、第2、第3及び第4の端子17、
18、19、20が設けられている。
【0010】ホール素子14、増幅器15及び制御電流
供給回路16は化合物半導体(例えばガリウム砒素)か
ら成る同一の半導体基板13の中に周知の方法で形成さ
れている。半導体装置1の形成方法及び構成は周知であ
るので、図4及び図5には磁気検出に直接に関係するホ
ール素子14のみが示され、増幅器15及び制御電流供
給回路16の図示が省略されている。
【0011】平面的に見て四角形の半導体基板13の中
には、ホール素子14を形成するためにn型の第1、第
2、第3、第4及び第5の半導体領域21、22、2
3、24、25と、p型の第6、第7及び第8の半導体
領域26、27、28が形成されている。n型の第5の
半導体領域25は半導体基板13の大部分を占めるp型
の第8の半導体領域28の中に島状に形成され、図4に
示すように平面的に見て十字状のパターンを有する。n
型の第1及び第2の半導体領域21、22はn型の第5
の半導体領域25の不純物濃度よりも高い不純物濃度を
有するn型半導体領域であって、図4に示すように
Y軸方向において互いに離間して対向配置され且つ第5
の半導体領域25の中に島状に形成されている。この第
1及び第2の半導体領域21、22には図3に示すよう
に第1及び第2の電極29、30がオーミック接触して
いる。第1及び第2の電極29、30は制御電流供給回
路16に接続されているので、第5の半導体領域25に
第1の半導体領域21から第2の半導体領域22に向っ
て周知の制御電流Ic が流れる。従って、第1及び第2
の半導体領域21、22を制御電流供給用半導体領域と
呼ぶこともできる。なお、第1及び第2の電極29、3
0は周知の制御電流供給回路16を介して直流電源接続
用の第3及び第4の端子19、20に接続されている。
【0012】n型の第3及び第4の半導体領域23、2
4は、n型の第5の半導体領域25の不純物濃度よりも
高い不純物濃度を有するn型半導体領域であって、
第5の半導体領域15のY軸方向の中央部分の両端の近
くに配置されている。この第3及び第4の半導体領域2
3、24の一部は第5の半導体領域25に隣接し、残部
はp型半導体から成る第6及び第7の半導体領域26、
27に隣接している。X軸方向において互いに対向して
いる第3及び第4の半導体領域23、24には図3及び
図5に示すように第3及び第4の電極31、32がオー
ミック接触している。従って、第3及び第4の半導体領
域23、24をホール電圧検出用半導体領域と呼ぶこと
もできる。p型の第6及び第7の半導体領域26、27
はn型の第3及び第4の半導体領域23、24の第5
の半導体領域25に対する接触面積を制限するものであ
る。
【0013】第1及び第2の半導体領域21、22間に
制御電流Ic が流れ、この制御電流Ic に対して直交す
るように磁界を印加すると、第3及び第4の半導体領域
23、24間に周知のホール効果の原理に従ってホール
電圧が得られる。従って、ホール素子14のホール電圧
を発生させるための主動作領域は、第5の半導体領域2
5における第1及び第2の半導体領域21、22の相互
間及び第3及び第4の半導体領域23、24の相互間で
ある。しかし、概略的には第5の半導体領域25の全体
をホール素子の主動作領域と呼ぶことができる。ホール
電圧検出用の第3及び第4の電極31、32は、図3に
示すように周知の増幅器15を介して第1及び第2の端
子17、18に接続されている。
【0014】半導体基板13の一方の主面には例えばシ
リコン酸化膜から成る絶縁膜33が設けられ、他方の主
面には例えばアルミニウムから成る金属層34が設けら
れている。絶縁膜33は多層配線構造とするために第1
及び第2の絶縁膜33a、33bの積層体から成る。第
1及び第2の電極29、30は第1及び第2の絶縁膜3
3a、33bの開口を介して第1及び第2の半導体領域
21、22に接続され、第3及び第4の電極31、32
は第1の絶縁膜33aの開口を介して第3及び第4の半
導体領域23、24に接続されている。図5に示すよう
に半導体基板13の他方の主面の金属層34は導電性又
は絶縁性の接合材35によって磁性体層3に固着されて
いる。磁性体層3は比透磁率が5500、厚さが100
μmの鉄−ニッケル系合金のパーマロイのシートから成
り、支持板2にエポキシ樹脂等の接合材36によって固
着されている。磁性体層3は平面的に見てホール素子1
4よりも大きな面積を有することが望ましく、この実施
形態では、支持板2と同一の面積を有している。なお、
図2においては、図示を簡略化するために、図5の接合
材35及び36が省略されている。この実施形態では、
磁性体層3を接着したが、この代りに磁性体を支持板2
に対して蒸着、圧着、溶着することによって磁性体層3
を得ることができる。
【0015】支持板2は、図2から明らかなように、こ
の主面に垂直な方向から見て即ち平面的に見て全体的に
四角形のパターンに形成されており、半導体装置1より
も大きな面積を有する。支持板2と第1〜第4の外部リ
ード端子5〜8とはリードフレームに基づいて形成され
ており、互いに同一厚み且つ同一の材料の例えば銅板に
ニッケルメッキした金属板から成る。支持板2はワイヤ
9によって半導体装置1の第1の端子17に接続されて
いる。この支持板2に連結された外部リード端子5は一
般にはグランドに接続される。半導体装置1の第2、第
3及び第4の端子18、19、20は、ワイヤ11、1
2、13によって外部リード端子6、7、8に接続され
ている。
【0016】図1及び図2に示す磁電変換装置によって
例えば図1及び図2で破線で示すU字状電流通路形成用
導体37の電流を検出する時には、被検出電流が流れて
いる導体37に沿うようにホール素子14を配置する。
電流通路形成用導体37に電流が流れると、アンペアの
右ネジの法則に従って図2及び図5で破線で示す向きの
磁界Hが発生し、3方向からホール素子14に磁界即ち
磁束が作用する。この磁界Hの向きは第5の半導体領域
25の制御電流Ic の向きに垂直であるので、第3及び
第4の半導体領域23、24間即ち第3及び第4の電極
31、32間にホール電圧が発生する。このホール電圧
は磁界Hに比例し、磁界Hは被検出電流に比例するの
で、ホール電圧によって被検出電流を検出することがで
きる。
【0017】磁性体層4の効果を調べるために、磁性体
層4を設けない他は、図1〜図5の実施形態と実質的に
同一の構成の比較用磁電変換装置を作成し、図1及び図
2と同様に導体37に電流を流してこの時の電流検出感
度を求め、これを基準の1とし、本実施形態の磁電変換
装置の電流検出感度を求めたところ、1.23であっ
た。
【0018】本実施形態の磁電変換装置は次の利点を有
する。 (1) 磁性体層3を半導体基板13の一方の外側に配
置することによってホール素子14を通る磁束の通路の
磁気抵抗を下げること、及び磁束の不要な広がりを防ぐ
ことができ、磁束検出感度を高めることができる。 (2) 支持体2と磁性体層3との組み合せによって外
来ノイズがホール素子に作用することを良好に防ぐこと
ができる。即ち、支持板2側からホール素子14に向っ
て周波数の比較的高い電磁波又は磁気ノイズが外部から
侵入した時には支持板2に渦電流が流れ、電磁波ノイズ
が吸収される。また、支持板2に渦電流が流れない範囲
の比較的低い周波数の電磁波又は磁気ノイズが外部から
侵入した時には、磁性体層3がバイパスとして機能し、
ノイズがホール素子14に至ることを防ぐことができ、
ホール素子14の耐ノイズ性を高めることができる。 (3) 支持板2によってホール素子14を電界ノイズ
から防ぐことができる。
【0019】
【変形例】本発明は上述の実施形態に限定されるもので
なく、例えば次の変形が可能なものである。 (1) 図6に示すように支持板2の一方の主面に磁性
体層3を設けるのみでなく、他方の主面にも接合材36
aを介して磁性体層3aを設けることができる。また、
図2において磁性体層3を支持板2の下面側に設け、支
持板2に磁性体層を介さずに半導体装置1を固着するこ
とができる。 (2) 支持板2をアルミニウム等の導電性の良い金属
にすること、磁性体層4をフェライト等の透磁率の高い
材料にすることができる。 (3) 半導体装置1から増幅器15、制御電流供給回
路16等を省くことができる。 (4) 電流通路形成用導体37を磁電変換装置に一体
化することができる。
【図面の簡単な説明】
【図1】本発明に従う実施形態の磁電変換装置を示す平
面図である。
【図2】図1の磁電変換装置のA−A線を概略的に示す
拡大断面図である。
【図3】図1の半導体装置の平面図である。
【図4】図3の半導体基板のホール素子部分を示す平面
図である。
【図5】図3のB−B線の一部を示す断面図である。
【図6】変形例の支持板と磁性体層との積層体を示す断
面図である。
【符号の説明】
1 半導体装置 2 支持板 3 磁性体層 4 絶縁性被覆体 14 ホール素子
───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (51)Int.Cl.7 識別記号 FI テーマコート゛(参考) G01R 33/07 G01R 33/06 H (72)発明者 加藤 隆志 埼玉県新座市北野三丁目6番3号 サンケ ン電気株式会社内 (72)発明者 熊倉 弘道 埼玉県新座市北野三丁目6番3号 サンケ ン電気株式会社内 Fターム(参考) 2G017 AA02 AB01 AB04 AC01 AC06 AC07 AD53 AD61 AD62 AD63 AD65 2G025 AA01 AA07 AB02 2G035 AA08 AA12 AB01 AC13 AD00

Claims (2)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】 金属製の支持板と、 前記支持板の一方又は両方の主面に固着され且つ前記支
    持板の透磁率よりも高い透磁率を有している磁性体層
    と、 前記磁性体層又は前記支持板に固着され且つホール素子
    を含んでいる半導体装置と、 前記支持板と前記磁性体層と前記半導体装置とを被覆し
    ている絶縁性被覆体とを備え、前記支持板は前記磁性体
    層よりも抵抗率の低い材料から成ることを特徴とする磁
    電変換装置。
  2. 【請求項2】 前記支持板は銅板又は表面にニッケルメ
    ッキ層を有する銅板であり、前記磁性体層はパーマロイ
    シートであることを特徴とする請求項1記載の磁電変換
    装置。
JP2000206403A 2000-07-07 2000-07-07 磁電変換装置 Pending JP2002026419A (ja)

Priority Applications (3)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2000206403A JP2002026419A (ja) 2000-07-07 2000-07-07 磁電変換装置
US09/893,937 US6545457B2 (en) 2000-07-07 2001-06-29 Current detector utilizing hall effect
EP01116341A EP1180804A3 (en) 2000-07-07 2001-07-05 Hall-effect magnetoelectric converter

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2000206403A JP2002026419A (ja) 2000-07-07 2000-07-07 磁電変換装置

Publications (2)

Publication Number Publication Date
JP2002026419A true JP2002026419A (ja) 2002-01-25
JP2002026419A5 JP2002026419A5 (ja) 2006-06-15

Family

ID=18703337

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP2000206403A Pending JP2002026419A (ja) 2000-07-07 2000-07-07 磁電変換装置

Country Status (3)

Country Link
US (1) US6545457B2 (ja)
EP (1) EP1180804A3 (ja)
JP (1) JP2002026419A (ja)

Cited By (18)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPWO2003107018A1 (ja) * 2002-06-18 2005-10-13 旭化成エレクトロニクス株式会社 電流測定方法および電流測定装置
US7476816B2 (en) 2003-08-26 2009-01-13 Allegro Microsystems, Inc. Current sensor
US7598601B2 (en) 2003-08-26 2009-10-06 Allegro Microsystems, Inc. Current sensor
US8080994B2 (en) 2006-05-12 2011-12-20 Allegro Microsystems, Inc. Integrated current sensor
US8093670B2 (en) 2008-07-24 2012-01-10 Allegro Microsystems, Inc. Methods and apparatus for integrated circuit having on chip capacitor with eddy current reductions
US8629539B2 (en) 2012-01-16 2014-01-14 Allegro Microsystems, Llc Methods and apparatus for magnetic sensor having non-conductive die paddle
US9190606B2 (en) 2013-03-15 2015-11-17 Allegro Micosystems, LLC Packaging for an electronic device
US9411025B2 (en) 2013-04-26 2016-08-09 Allegro Microsystems, Llc Integrated circuit package having a split lead frame and a magnet
US9494660B2 (en) 2012-03-20 2016-11-15 Allegro Microsystems, Llc Integrated circuit package having a split lead frame
US9666788B2 (en) 2012-03-20 2017-05-30 Allegro Microsystems, Llc Integrated circuit package having a split lead frame
US9685412B2 (en) 2013-09-04 2017-06-20 Kabushiki Kaisha Toshiba Semiconductor apparatus and manufacturing method for same
US9812588B2 (en) 2012-03-20 2017-11-07 Allegro Microsystems, Llc Magnetic field sensor integrated circuit with integral ferromagnetic material
US10234513B2 (en) 2012-03-20 2019-03-19 Allegro Microsystems, Llc Magnetic field sensor integrated circuit with integral ferromagnetic material
US10345343B2 (en) 2013-03-15 2019-07-09 Allegro Microsystems, Llc Current sensor isolation
US10991644B2 (en) 2019-08-22 2021-04-27 Allegro Microsystems, Llc Integrated circuit package having a low profile
CN114144684A (zh) * 2019-08-08 2022-03-04 森斯泰克有限责任公司 用于交变电流的频率补偿测量的基于磁场的电流传感器
US11768230B1 (en) 2022-03-30 2023-09-26 Allegro Microsystems, Llc Current sensor integrated circuit with a dual gauge lead frame
US11800813B2 (en) 2020-05-29 2023-10-24 Allegro Microsystems, Llc High isolation current sensor

Families Citing this family (55)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US6794862B2 (en) * 2001-05-08 2004-09-21 Ramot At Tel-Aviv University Ltd. Magnetic thin film sensor based on the extraordinary hall effect
JP3616605B2 (ja) * 2002-04-03 2005-02-02 沖電気工業株式会社 半導体装置
US6781359B2 (en) 2002-09-20 2004-08-24 Allegro Microsystems, Inc. Integrated current sensor
JP2004207477A (ja) * 2002-12-25 2004-07-22 Sanken Electric Co Ltd ホール素子を有する半導体装置
US20040251506A1 (en) * 2003-06-10 2004-12-16 Johnson Mark B. Hall effect devices, memory devices, and hall effect device readout voltage increasing methods
US7709754B2 (en) 2003-08-26 2010-05-04 Allegro Microsystems, Inc. Current sensor
US7476953B2 (en) * 2005-02-04 2009-01-13 Allegro Microsystems, Inc. Integrated sensor having a magnetic flux concentrator
US7988363B2 (en) * 2005-02-22 2011-08-02 Ntn Corporation Bearing with rotation detection device
US7541804B2 (en) * 2005-07-29 2009-06-02 Everspin Technologies, Inc. Magnetic tunnel junction sensor
US7768083B2 (en) * 2006-01-20 2010-08-03 Allegro Microsystems, Inc. Arrangements for an integrated sensor
JP4628987B2 (ja) * 2006-04-10 2011-02-09 矢崎総業株式会社 温度検出機能付き電流センサ
EP2557430B1 (en) * 2006-04-13 2014-05-14 Asahi Kasei EMD Corporation Magnetic sensor and method for fabricating the same
US7816772B2 (en) * 2007-03-29 2010-10-19 Allegro Microsystems, Inc. Methods and apparatus for multi-stage molding of integrated circuit package
US9823090B2 (en) 2014-10-31 2017-11-21 Allegro Microsystems, Llc Magnetic field sensor for sensing a movement of a target object
US7816905B2 (en) * 2008-06-02 2010-10-19 Allegro Microsystems, Inc. Arrangements for a current sensing circuit and integrated current sensor
US8486755B2 (en) 2008-12-05 2013-07-16 Allegro Microsystems, Llc Magnetic field sensors and methods for fabricating the magnetic field sensors
US20100188078A1 (en) * 2009-01-28 2010-07-29 Andrea Foletto Magnetic sensor with concentrator for increased sensing range
DE102009028956A1 (de) * 2009-08-28 2011-03-03 Robert Bosch Gmbh Magnetfeldsensor
US10215550B2 (en) 2012-05-01 2019-02-26 Allegro Microsystems, Llc Methods and apparatus for magnetic sensors having highly uniform magnetic fields
US9817078B2 (en) 2012-05-10 2017-11-14 Allegro Microsystems Llc Methods and apparatus for magnetic sensor having integrated coil
US10725100B2 (en) 2013-03-15 2020-07-28 Allegro Microsystems, Llc Methods and apparatus for magnetic sensor having an externally accessible coil
US9810519B2 (en) 2013-07-19 2017-11-07 Allegro Microsystems, Llc Arrangements for magnetic field sensors that act as tooth detectors
US10495699B2 (en) 2013-07-19 2019-12-03 Allegro Microsystems, Llc Methods and apparatus for magnetic sensor having an integrated coil or magnet to detect a non-ferromagnetic target
US10145908B2 (en) 2013-07-19 2018-12-04 Allegro Microsystems, Llc Method and apparatus for magnetic sensor producing a changing magnetic field
US10712403B2 (en) 2014-10-31 2020-07-14 Allegro Microsystems, Llc Magnetic field sensor and electronic circuit that pass amplifier current through a magnetoresistance element
US9720054B2 (en) 2014-10-31 2017-08-01 Allegro Microsystems, Llc Magnetic field sensor and electronic circuit that pass amplifier current through a magnetoresistance element
US9823092B2 (en) 2014-10-31 2017-11-21 Allegro Microsystems, Llc Magnetic field sensor providing a movement detector
US9719806B2 (en) 2014-10-31 2017-08-01 Allegro Microsystems, Llc Magnetic field sensor for sensing a movement of a ferromagnetic target object
US9741924B2 (en) * 2015-02-26 2017-08-22 Sii Semiconductor Corporation Magnetic sensor having a recessed die pad
JP6663259B2 (ja) * 2016-03-15 2020-03-11 エイブリック株式会社 半導体装置とその製造方法
US10260905B2 (en) 2016-06-08 2019-04-16 Allegro Microsystems, Llc Arrangements for magnetic field sensors to cancel offset variations
US10012518B2 (en) 2016-06-08 2018-07-03 Allegro Microsystems, Llc Magnetic field sensor for sensing a proximity of an object
US10041810B2 (en) 2016-06-08 2018-08-07 Allegro Microsystems, Llc Arrangements for magnetic field sensors that act as movement detectors
US11428755B2 (en) 2017-05-26 2022-08-30 Allegro Microsystems, Llc Coil actuated sensor with sensitivity detection
US10324141B2 (en) 2017-05-26 2019-06-18 Allegro Microsystems, Llc Packages for coil actuated position sensors
US10837943B2 (en) 2017-05-26 2020-11-17 Allegro Microsystems, Llc Magnetic field sensor with error calculation
US10641842B2 (en) 2017-05-26 2020-05-05 Allegro Microsystems, Llc Targets for coil actuated position sensors
US10310028B2 (en) 2017-05-26 2019-06-04 Allegro Microsystems, Llc Coil actuated pressure sensor
US10996289B2 (en) 2017-05-26 2021-05-04 Allegro Microsystems, Llc Coil actuated position sensor with reflected magnetic field
US10866117B2 (en) 2018-03-01 2020-12-15 Allegro Microsystems, Llc Magnetic field influence during rotation movement of magnetic target
US10921391B2 (en) 2018-08-06 2021-02-16 Allegro Microsystems, Llc Magnetic field sensor with spacer
US11255700B2 (en) 2018-08-06 2022-02-22 Allegro Microsystems, Llc Magnetic field sensor
US10935612B2 (en) 2018-08-20 2021-03-02 Allegro Microsystems, Llc Current sensor having multiple sensitivity ranges
US10823586B2 (en) 2018-12-26 2020-11-03 Allegro Microsystems, Llc Magnetic field sensor having unequally spaced magnetic field sensing elements
US11061084B2 (en) 2019-03-07 2021-07-13 Allegro Microsystems, Llc Coil actuated pressure sensor and deflectable substrate
US11035910B2 (en) * 2019-03-29 2021-06-15 Ablic Inc. Magnetic substance detection sensor
US10955306B2 (en) 2019-04-22 2021-03-23 Allegro Microsystems, Llc Coil actuated pressure sensor and deformable substrate
US11280637B2 (en) 2019-11-14 2022-03-22 Allegro Microsystems, Llc High performance magnetic angle sensor
US11237020B2 (en) 2019-11-14 2022-02-01 Allegro Microsystems, Llc Magnetic field sensor having two rows of magnetic field sensing elements for measuring an angle of rotation of a magnet
US11262422B2 (en) 2020-05-08 2022-03-01 Allegro Microsystems, Llc Stray-field-immune coil-activated position sensor
US11320466B1 (en) 2020-10-29 2022-05-03 Allegro Microsystems, Llc Differential current sensor
US11493361B2 (en) 2021-02-26 2022-11-08 Allegro Microsystems, Llc Stray field immune coil-activated sensor
US11402409B1 (en) 2021-03-22 2022-08-02 Allegro Microsystems, Llc Differential current sensor package
US11567108B2 (en) 2021-03-31 2023-01-31 Allegro Microsystems, Llc Multi-gain channels for multi-range sensor
US11578997B1 (en) 2021-08-24 2023-02-14 Allegro Microsystems, Llc Angle sensor using eddy currents

Citations (8)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS6079281A (ja) * 1983-10-06 1985-05-07 Toshiba Corp 磁気センサ
JPS62260374A (ja) * 1986-05-06 1987-11-12 Toshiba Corp 集磁効果型ホ−ル素子とその製造方法
JPH02307067A (ja) * 1989-05-22 1990-12-20 Asahi Kasei Denshi Kk 磁気センサユニット
JPH04106988A (ja) * 1990-08-27 1992-04-08 Asahi Chem Ind Co Ltd InAsホール素子
JPH06216307A (ja) * 1993-01-13 1994-08-05 Mitsubishi Electric Corp 樹脂封止型半導体装置
JP3010974U (ja) * 1994-11-09 1995-05-09 旭化成電子株式会社 磁電変換素子
JPH0732973U (ja) * 1993-11-30 1995-06-16 昭和電工株式会社 ホール素子
JPH11248808A (ja) * 1998-03-05 1999-09-17 Hitachi Cable Ltd 磁気センサ及びその製造方法

Family Cites Families (5)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
KR910002313B1 (ko) * 1985-05-10 1991-04-11 아사히가세이고오교 가부시끼가이샤 자전 변환소자
JP2557998B2 (ja) * 1990-04-04 1996-11-27 旭化成工業株式会社 InAsホール効果素子
US5883567A (en) * 1997-10-10 1999-03-16 Analog Devices, Inc. Packaged integrated circuit with magnetic flux concentrator
JP3464369B2 (ja) * 1997-10-17 2003-11-10 旭化成電子株式会社 薄型高感度ホール素子の製造方法
JP2000174357A (ja) 1998-10-02 2000-06-23 Sanken Electric Co Ltd ホ―ル効果素子を有する半導体装置

Patent Citations (8)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS6079281A (ja) * 1983-10-06 1985-05-07 Toshiba Corp 磁気センサ
JPS62260374A (ja) * 1986-05-06 1987-11-12 Toshiba Corp 集磁効果型ホ−ル素子とその製造方法
JPH02307067A (ja) * 1989-05-22 1990-12-20 Asahi Kasei Denshi Kk 磁気センサユニット
JPH04106988A (ja) * 1990-08-27 1992-04-08 Asahi Chem Ind Co Ltd InAsホール素子
JPH06216307A (ja) * 1993-01-13 1994-08-05 Mitsubishi Electric Corp 樹脂封止型半導体装置
JPH0732973U (ja) * 1993-11-30 1995-06-16 昭和電工株式会社 ホール素子
JP3010974U (ja) * 1994-11-09 1995-05-09 旭化成電子株式会社 磁電変換素子
JPH11248808A (ja) * 1998-03-05 1999-09-17 Hitachi Cable Ltd 磁気センサ及びその製造方法

Cited By (31)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP4575153B2 (ja) * 2002-06-18 2010-11-04 旭化成エレクトロニクス株式会社 電流測定方法および電流測定装置
JPWO2003107018A1 (ja) * 2002-06-18 2005-10-13 旭化成エレクトロニクス株式会社 電流測定方法および電流測定装置
US7476816B2 (en) 2003-08-26 2009-01-13 Allegro Microsystems, Inc. Current sensor
US7598601B2 (en) 2003-08-26 2009-10-06 Allegro Microsystems, Inc. Current sensor
US8080994B2 (en) 2006-05-12 2011-12-20 Allegro Microsystems, Inc. Integrated current sensor
US8093670B2 (en) 2008-07-24 2012-01-10 Allegro Microsystems, Inc. Methods and apparatus for integrated circuit having on chip capacitor with eddy current reductions
US9620705B2 (en) 2012-01-16 2017-04-11 Allegro Microsystems, Llc Methods and apparatus for magnetic sensor having non-conductive die paddle
US8629539B2 (en) 2012-01-16 2014-01-14 Allegro Microsystems, Llc Methods and apparatus for magnetic sensor having non-conductive die paddle
US9299915B2 (en) 2012-01-16 2016-03-29 Allegro Microsystems, Llc Methods and apparatus for magnetic sensor having non-conductive die paddle
US10333055B2 (en) 2012-01-16 2019-06-25 Allegro Microsystems, Llc Methods for magnetic sensor having non-conductive die paddle
US10916665B2 (en) 2012-03-20 2021-02-09 Allegro Microsystems, Llc Magnetic field sensor integrated circuit with an integrated coil
US11677032B2 (en) 2012-03-20 2023-06-13 Allegro Microsystems, Llc Sensor integrated circuit with integrated coil and element in central region of mold material
US9666788B2 (en) 2012-03-20 2017-05-30 Allegro Microsystems, Llc Integrated circuit package having a split lead frame
US11961920B2 (en) 2012-03-20 2024-04-16 Allegro Microsystems, Llc Integrated circuit package with magnet having a channel
US9812588B2 (en) 2012-03-20 2017-11-07 Allegro Microsystems, Llc Magnetic field sensor integrated circuit with integral ferromagnetic material
US11828819B2 (en) 2012-03-20 2023-11-28 Allegro Microsystems, Llc Magnetic field sensor integrated circuit with integral ferromagnetic material
US10230006B2 (en) 2012-03-20 2019-03-12 Allegro Microsystems, Llc Magnetic field sensor integrated circuit with an electromagnetic suppressor
US10234513B2 (en) 2012-03-20 2019-03-19 Allegro Microsystems, Llc Magnetic field sensor integrated circuit with integral ferromagnetic material
US9494660B2 (en) 2012-03-20 2016-11-15 Allegro Microsystems, Llc Integrated circuit package having a split lead frame
US11444209B2 (en) 2012-03-20 2022-09-13 Allegro Microsystems, Llc Magnetic field sensor integrated circuit with an integrated coil enclosed with a semiconductor die by a mold material
US10753963B2 (en) 2013-03-15 2020-08-25 Allegro Microsystems, Llc Current sensor isolation
US9190606B2 (en) 2013-03-15 2015-11-17 Allegro Micosystems, LLC Packaging for an electronic device
US10345343B2 (en) 2013-03-15 2019-07-09 Allegro Microsystems, Llc Current sensor isolation
US9865807B2 (en) 2013-03-15 2018-01-09 Allegro Microsystems, Llc Packaging for an electronic device
US9411025B2 (en) 2013-04-26 2016-08-09 Allegro Microsystems, Llc Integrated circuit package having a split lead frame and a magnet
US9685412B2 (en) 2013-09-04 2017-06-20 Kabushiki Kaisha Toshiba Semiconductor apparatus and manufacturing method for same
CN114144684A (zh) * 2019-08-08 2022-03-04 森斯泰克有限责任公司 用于交变电流的频率补偿测量的基于磁场的电流传感器
JP2022543120A (ja) * 2019-08-08 2022-10-07 ゼンジテック ゲゼルシャフト ミット ベシュレンクテル ハフツング 交流を周波数補償して測定する磁場ベースの電流センサ
US10991644B2 (en) 2019-08-22 2021-04-27 Allegro Microsystems, Llc Integrated circuit package having a low profile
US11800813B2 (en) 2020-05-29 2023-10-24 Allegro Microsystems, Llc High isolation current sensor
US11768230B1 (en) 2022-03-30 2023-09-26 Allegro Microsystems, Llc Current sensor integrated circuit with a dual gauge lead frame

Also Published As

Publication number Publication date
EP1180804A3 (en) 2003-03-26
US6545457B2 (en) 2003-04-08
EP1180804A2 (en) 2002-02-20
US20020011841A1 (en) 2002-01-31

Similar Documents

Publication Publication Date Title
JP2002026419A (ja) 磁電変換装置
JP3852554B2 (ja) ホール素子を備えた電流検出装置
US6462531B1 (en) Current detector having a hall-effect device
JP4164626B2 (ja) ホ−ル素子を備えた電流検出装置
JP4575153B2 (ja) 電流測定方法および電流測定装置
US6841989B2 (en) Hall-effect current detector
US6727683B2 (en) Hall-effect current detector
US6791313B2 (en) Electrical current detector having a U-shaped current path and hall-effect device
JP2001339109A (ja) ホ−ル素子を備えた電流検出装置
US6769166B1 (en) Method of making an electrical current sensor
JP4164629B2 (ja) ホール素子を備えた電流検出装置
JP2007503584A (ja) 電流センサ
US6781358B2 (en) Hall-effect current detector
JP2002202327A (ja) ホール素子を備えた電流検出装置
JP3230580B2 (ja) ホ−ル素子を備えた電流検出装置
JP2002040058A (ja) ホ−ル素子を備えた電流検出装置
JP2018170478A (ja) 電流検出用抵抗器
JP4200358B2 (ja) ホール素子を備えた電流検出装置
JP4164624B2 (ja) ホ−ル素子を備えた電流検出装置
JP2003004773A (ja) ホ−ル素子を備えた電流検出装置
Steiner et al. Fully packaged CMOS current monitor using lead-on-chip technology
JP2021135196A (ja) 磁気センサ及び磁気検出方法

Legal Events

Date Code Title Description
A621 Written request for application examination

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A621

Effective date: 20040917

A977 Report on retrieval

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A971007

Effective date: 20050921

A521 Request for written amendment filed

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523

Effective date: 20060428

A131 Notification of reasons for refusal

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131

Effective date: 20061018

A02 Decision of refusal

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A02

Effective date: 20070328