JP6167494B2 - 電子デバイス用容器の製造方法、電子デバイスの製造方法、電子デバイス、電子機器及び移動体機器 - Google Patents
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Description
特許文献1には、シーム溶接を用いて製造される圧電デバイスが開示されている。圧電デバイスは、電子素子用の容器と、圧電素子と、を備えている。電子素子用の容器は、凹陥部を有する容器本体と、蓋体と、備えている。
容器本体は、基板部の一方の主面に枠部が設けられて、凹陥部が形成されている。容器本体を構成する基板部は、例えばアルミナセラミックス等のセラミック材料を複数積層することよって形成されている。枠部は、コバール等の金属から成り、中空部を有する枠状のシールリングが用いられる。また、枠部は、基板部の一方の主面に形成されたメタライズに、ロウ付けなどにより接続される。そして、基板部の一方の主面には、一対の素子搭載パッドが設けられている。また、容器本体の他方の主面には、複数の実装端子が設けられている。
蓋体には外側縁部から内側に向かって傾斜部が設けられているため、ローラ電極と搬送治具の接触を防止できる。また、ローラ電極の傾斜角を大きくしても、蓋体と枠部とが接触している幅(接合幅)を小さくできる。これにより、容器本体にかかる熱応力(残留応力)を低減することができ、容器体本に生じる割れやカケ等を防止することができると、開示されている。
本発明は上記問題を解決するためになされたもので、溶接時に生じる熱応力(残留応力)を緩和する応力緩和部を蓋体に設ける電子デバイス用容器の製造方法と、電子デバイスの製造方法、この製造方法を用いた電子デバイス、電子機器、及び移動体機器を提供することにある。
図1(a)は、本発明に係る電子デバイス用容器1の一実施形態の分解斜視図であり、同図(b)は(a)のP−P断面図であり、同図(c)は蓋体3の拡大断面図である。
電子素子を収容する容器1は、電子素子を搭載可能な凹陥部を有するセラミック製のベース基板(容器本体)2と、ベース基板2の一面に設けられた凹陥部(キャビティー)18を気密封止する蓋体3と、を備えている。
本発明に係る電子デバイス用容器1の製造方法の概略は次の通りである。即ち、セラミックを材料とする絶縁基板2Aを備えたベース基板2と、金属製の蓋体3と、を備えた電子デバイス用容器1の製造方法であり、凹陥部18を有し、凹陥部の周縁に封止部10を備えているベース基板2と、金属を材料とする基材層とロウ材層とを含んでいる蓋体3とを用意する工程と、封止部とロウ材層とが重なるように蓋体をベース基板に配置する工程と、蓋体の板厚が、封止部と接合された部分よりも、厚み方向の平面視でその内側に位置する部分の方が小さくなるように、前記エネルギービームを照射して前記封止部に前記蓋体を接合する工程と、を有している。
これを換言すれば、本発明の電子デバイス容器の製造方法は、凹陥部(キャビティー)18を有し、この凹陥部(キャビティー)18の上部周縁に封止部(メタライズ層)10を備えたベース基板2を用意する工程と、蓋体用基材層11a、及び蓋体用基材層11aの一方の主面全体に積層されたロウ材層11bを有すると共に、凹陥部(キャビティー)18と対応する位置に応力緩和部12を有した蓋体3を用意する工程と、封止部(メタライズ層)10とロウ材層11bとが整合するように蓋体3をベース基板2に配置する工程と、蓋体3の周縁にエネルギービーム(レーザー光、電子ビームを含む)を照射して封止部(メタライズ層)10に対して蓋体3を接合する工程と、を有している。
中層板2bの一端部寄りの上面には、電子素子搭載用の複数の素子搭載用パッド13が形成され、素子搭載用パッド13は複数の貫通ビア15を経由して、ベース基板2の外側底面の実装端子14と電気的に導通している。
ズ層(封止部)10は、例えばメタライズ印刷(タングステンW等)、焼成、ニッケル(
Ni)メッキ、シールリングロー付け、ニッケル(Ni)メッキ、金(Au)メッキ等で
形成されている。また、近年では、セラミック基板面に、セミアディティブ法を用いて銅
(Cu)、ニッケル(Ni)、金(Au)等メタライズ層を形成する方法が開発されてい
る。この方法は、焼成済みのグリーンシート上にスパッタによる金属膜(銅Cu)の成膜
、フォトリソグラフィ技術、メッキ(Ni+Au)、エッチング手法を用い、所定のメタ
ライズ層を、高温加熱を伴わないで形成するものである。後者のメタライズ層(封止部)
は平面度に優れている。
また、ベース基板2の外部底面には外部配線と接続するための複数の実装端子14を備
えている。
以上の説明では、セラミックス基板を三層積層したベース基板2の例を説明したが、2
層、4層等であってもよい。また、図1(b)に示す素子搭載用パッド13、貫通ビア1
5は、一例に過ぎず、他の配線例を用いてもよい。また、必要に応じて封止部(メタライ
ズ層)10と、接地用の実装端子14と、を導通する貫通ビアを設けることが望ましい。
本発明の容器1を電子デバイス等に用いるとき、金属性の蓋体3をグランド電位に保持す
ることにより、蓋体3のシールド効果によって外部からの不要な電気的信号、例えばノイ
ズなどから保護することができるし、また、外部に対し不要輻射を防止することができる
。
なお、本例では、肉厚が均一な外周領域3aに対して応力緩衝部12の肉厚を傾斜状に漸減させるように構成したが、外周領域3aと応力緩衝部12との境界に段差部を設けてもよい。また応力緩衝部12の肉厚を全体に渡って均一厚としてもよいし、図1(c)に示すように外周部から中央部に向けて厚さが漸減するようにしてもよい。
また、非平面形状である応力緩衝部12を構成する蓋体3の断面形状は、鋸歯状であってもよい。非平面形状であることにより、残留応力を吸収・低減し、ベース基板2のセラミック材にかかる応力を減らし、クラックの発生を防止することができる。
図5からも明らかなように、蓋体3の外側端部(図5では左側)は、エネルギービームの照射により上面が山のように盛り上がり、ロウ材層11b’には十分な濡れ性が生じ、蓋体3の外側端部の一部に這い上がっていることが分かる。また、ロウ材層11b’は、接合部の蓋体3の底面で十分に溶融し、表面張力を受けて固化したことがこの図から明らかである。
ウ材層11b”が、溶融し表面張力により接合部に引き寄せられ、キャビティー18側で
、ロウ材層11b”が無い領域が生じていることを見出した。容器1の気密度と、ロウ材
層11b”が無い領域(応力緩和部と称す)との関係を調べてみると、応力緩和部が生じ
るような接合条件でエネルギービーム接合した容器は、気密度の良品率が極めて良好であ
ることが判明した。つまり、エネルギービーム照射により封止部10に近接するキャビテ
ィー18側のロウ材層11b”が溶融し、表面張力で封止部10と、蓋体3の間に引き寄
せられ、固化した様子が図5に示されている。接合部近傍のキャビティー18側のロウ材
層11b”が、接合部10aに引き寄せられて、ロウ材層11b”が無い領域が形成され
、この領域が残留応力に対する応力緩和部12として機能する、即ち応力緩和部12が接
合によって生じた残留応力を吸収・低減していることを見出した。
厚さや形状の変化のない平板状の蓋体3であっても、エネルギービームの出力、スポッ
ト径、照射位置、照射時間等の接合条件を適正に設定することにより、封止部10に近接
するキャビティー側のロウ材層11bが溶融し、表面張力により接合部10aに引き寄せ
られて、封止部10に近接するキャビティー18側にロウ材層11b”が無い領域、即ち
応力緩和部12が形成され、残留応力を吸収・低減し、セラミック材に生じるクラックを
防止できることを見出した。
また、図1(c)に示すように、応力緩和部12の肉厚を蓋体3の他の部分、つまり外周領域3aより薄肉とすることにより、エネルギービーム接合時に生じる残留応力をより吸収し低減できるので、容器1にクラック等を生じさせないという効果がある。
図5に示すように、エネルギービームの出力、スポット径、照射位置、照射時間等の接合条件を適正に設定することにより、製造が容易であり且つコストの安い平板形状の蓋体3を用いて、この蓋体3に応力緩和部12を形成することができ、エネルギービーム接合時に生じる残留応力を吸収し低減できるので、容器1にクラック等を生じさせないという効果がある。
まず、本発明に係る電子デバイス用容器の製造方法の概略は次の通りである
凹陥部18を有し、凹陥部の周縁に封止部10を備えているベース基板2、及び金属を材料とする基材層とロウ材層とを含んでいる蓋体3を用意する工程と、封止部とロウ材層とが重なるように蓋体をベース基板に配置する工程と、蓋体の板厚が、封止部と接合された部分よりも、厚み方向の平面視でその内側に位置する部分の方が小さくなるように、エネルギービームを照射して前記封止部に前記蓋体を接合する工程と、を含む。
次に、本発明に係る電子デバイスの製造方法の概略は次の通りである。
即ち、凹陥部18を有し、凹陥部18の周縁に封止部10を備えたベース基板2を用意する工程と、蓋体用基材層11a、及び蓋体用基材層11aの一方の主面全体に積層されたロウ材層11bを有すると共に、凹陥部18と対応する位置に応力緩和部12を有した蓋体3を用意する工程と、凹陥部18に電子素子30を配置する工程と、封止部10とロウ材層11bとが整合するように蓋体3をベース基板2に配置する工程と、蓋体3にエネルギービームを照射して封止部10に対して蓋体3を接合する工程と、を有している(S1a〜S6))。
この製造方法によれば、電子デバイス、例えば圧電振動子5の製造時に蓋体3をベース基板2にエネルギービーム接合する際に生じる残留応力を吸収し、低減できるので、圧電振動子5の気密不良を大幅に低減できるという効果がある。
を示す縦断面図である。圧電振動子5は、電子素子(圧電振動素子)30と、電子素子3
0を収容する容器1とを備えている。容器1は、凹陥部(キャビティー)18を有するベ
ース基板2と、金属製の蓋体3と、を備えている。蓋体3のベース基板2と接合する面に
はロウ材層11bが全面に形成されている。ベース基板2は、図7(a)に示すように、
二層の絶縁基板(下層板、上層板)を有し、絶縁材料としての酸化アルミニウム質のセラ
ミック・グリーンシートを焼結して形成される。環状の封止部10は、多層のメタライズ
層から構成されている。また、凹陥部(キャビティー)18の底部には一対の素子搭載用
パッド13が形成されている。実装端子14は、容器本体の外部底面に複数形成されてい
る。
ベース基板2を構成する絶縁基板に形成された素子搭載用パッド13と、実装端子14
とは、貫通ビア15により電気的に導通されている。素子搭載パッド13の位置は、電子
素子30を載置した際に、電子素子30のパッド電極に対応するように配置されている。
励振電極は、水晶基板のほぼ中央部に形成され、水晶基板の端部に形成された電極パッドに向けて夫々延在するリード電極を形成する。励振電極の一例は、スパッタ法、真空蒸着法等を用い、クロム(Cr)、又はニッケル(Ni)の電極膜を下地とし、その上に金(Au)の電極膜を積層した水晶基板を、フォトリソグラフィ技法にて所定の形状に形成する。この手法を用いると、励振電極、リード電極、電極パッドが一度に、所定の形状で形成することが可能である。励振電極の大きさは、要求される仕様により、メサ型構造の頂部、又は周縁の一部まで広がる場合がある。また、励振電極の大きさは高次の屈曲モードを抑圧するように、その寸法を決めるのが一般的である。
図7(a)に示すように、電子デバイス、例えば圧電デバイス5を構成すれば、ベース基板2の残留応力が緩和されるので、リーク不良率の改善はもとより、周波数精度、周波数温度特性、経年変化の優れた圧電デバイスを構成することができるという効果がある。
振動ジャイロ素子40は、基部41と、基部41の対向する2つの端縁から夫々同一直線上に突設された1対の検出用振動腕45a、45bと、を備えている。更に、振動ジャイロ素子40は、基部41の対向する他の2つの端縁から夫々検出用振動腕45a、45bと直交する方向に同一直線上に突設された1対の第1の連結腕42a、42bと、各第1の連結腕42a、42bの先部からそれと直交する両方向へ夫々突設された各1対の駆動用振動腕43a、43b及び44a、44bと、を備えている。
腕45a、45bと直交する方向に同一直線上に突設された各1対の第2の連結腕41a
、41b、及び41c、41dと、各第2の連結腕41a、41b、及び41c、41d
の先端部からそれと直交する両方向へ夫々突設され、検出用振動腕45a、45bと、駆
動用振動腕43a、43b及び44a、44bとの間に配置された各1対の支持腕46a
、46b及び47a、47bと、を備えている。
励振電極は、少なくとも1対の検出用振動腕45a、45bと、各1対の駆動用振動腕
43a、43b及び44a、44bと、に夫々形成されている。支持腕46a、46b及
び47a、47bには、複数の電極パッド(図示せず)が形成され、この電極パッドと励
振電極との間は、夫々電気的に接続されている。
振動ジャイロセンサー7は、ベース基板2の内面の、振動ジャイロ素子40の各検出
用振動腕45a、45b、及び各駆動用振動腕43a、43b及び44a、44bの先部
と対向する部位に金属、又は高分子材の緩衝材が設けられている。
振動ジャイロセンサー7にZ軸回りの角速度ωが加わると、駆動用振動腕43a、43b、44a、44b及び第1の連結腕42a、42bにコリオリ力が働き、新たな振動が励起される。この振動は重心Gに対して周方向の振動である。同時に、検出用振動腕45a、45bは、この振動に応じて検出振動が励起される。この振動により発生した歪を検出用振動腕45a、45bに形成した検出電極が検出して角速度が求められる。
以上のように電子機器を構成すると、気密性が良く、周波数精度、周波数温度特性、エージング特性の良好な電子デバイスを用いて電子機器8を構成するので、長期に亘って周波数の安定な電子機器8が得られるという効果がある。
Claims (11)
- 凹陥部を有し、前記凹陥部の周縁に封止部を備えているベース基板、及び基材層とロウ材層とを含んでいる蓋体を用意する工程と、
前記封止部と前記ロウ材層とが重なるように前記蓋体を前記ベース基板に配置する工程と、
前記蓋体において、前記ロウ材層が無い領域が生ずるように、エネルギービームを照射して前記封止部に前記蓋体を接合する工程と、
を含むことを特徴とする電子デバイス用容器の製造方法。 - 電子素子と、
凹陥部を有し、前記凹陥部の周縁に封止部を備えているベース基板、及び基材層とロウ材層とを含んでいる蓋体を用意する工程と、
前記凹陥部の底部に前記電子素子を配置する工程と、
前記封止部と前記ロウ材層とが重なるように前記蓋体を前記ベース基板に配置する工程と、
前記蓋体において、前記ロウ材層が無い領域が生ずるように、エネルギービームを照射して前記封止部に前記蓋体を接合する工程と、
を含むことを特徴とする電子デバイスの製造方法。 - 前記接合する工程では、前記ロウ材が移動することで、前記ロウ材層が無い領域が生ずることを特徴とする請求項2に記載の電子デバイスの製造方法。
- 前記基材層が平板状であることを特徴とする請求項2または3に記載の電子デバイスの製造方法。
- 前記接合する工程では、前記蓋体において、前記基材層の厚さが、前記封止部と接合された部分の方が、厚み方向の平面視でその内側に位置する部分よりも大きくなるように、前記エネルギービームを照射することを特徴とする請求項2乃至4の何れか一項に記載の電子デバイスの製造方法。
- 電子素子と、
凹陥部を有し、前記凹陥部の周縁に封止部を備えているベース基板、及び基材層とロウ材層を含み、厚み方向の平面視で前記ベース基板との接合部より内側で外周側より中央部に向かって前記基材層の肉厚が減少するように構成されている応力緩和部を有している蓋体とを用意する工程と、
前記凹陥部の底部に前記電子素子を配置する工程と、
前記封止部と前記ロウ材層とが重なり、厚み方向の平面視で前記応力緩和部と前記凹陥部とが重なるように前記蓋体を前記ベース基板に配置する工程と、
エネルギービームを照射して前記封止部に前記蓋体を接合する工程と、
を含むことを特徴とする電子デバイスの製造方法。 - 凹陥部を有し、前記凹陥部の周縁に封止部を備えているベース基板と
基材層とロウ材層とを含んでいる蓋体と、
前記凹陥部の底部に配置された電子素子と、
を備え、
前記蓋体は、前記封止部と前記ロウ材層とが重なるような配置で前記ベース基板に接合されており、
前記封止部と接合された部分の前記ロウ材と、厚み方向の平面視で前記封止部と接合された部分より内側に位置する部分の前記ロウ材との間に、前記ロウ材が無い部分がある、
ことを特徴とする電子デバイス。 - 前記封止部と接合された部分の前記基材層の厚さが、厚み方向の平面視で前記封止部と接合された部分より内側に位置する部分の前記基材層の厚さよりも大きい、ことを特徴とする請求項7に記載の電子デバイス。
- 凹陥部を有し、前記凹陥部の周縁に封止部を備えているベース基板と
基材層とロウ材層を含み、厚み方向の平面視で前記ベース基板との接合部より内側で外周側より中央部に向かって前記基材層の肉厚が減少するように構成されている応力緩和部を有している蓋体と、
前記凹陥部の底部に配置された電子素子と、
を備え、
前記蓋体は、前記封止部と前記ロウ材層とが重なり、厚み方向の平面視で前記応力緩和部と前記凹陥部とが重なるような配置で前記ベース基板に接合されている、
ことを特徴とする電子デバイス。 - 請求項7乃至9の何れか一項に記載の電子デバイスを備えていることを特徴とする電子機器。
- 請求項7乃至9の何れか一項に記載の電子デバイスを備えていることを特徴とする移動体機器。
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