JP6167494B2 - 電子デバイス用容器の製造方法、電子デバイスの製造方法、電子デバイス、電子機器及び移動体機器 - Google Patents

電子デバイス用容器の製造方法、電子デバイスの製造方法、電子デバイス、電子機器及び移動体機器 Download PDF

Info

Publication number
JP6167494B2
JP6167494B2 JP2012211896A JP2012211896A JP6167494B2 JP 6167494 B2 JP6167494 B2 JP 6167494B2 JP 2012211896 A JP2012211896 A JP 2012211896A JP 2012211896 A JP2012211896 A JP 2012211896A JP 6167494 B2 JP6167494 B2 JP 6167494B2
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
material layer
lid
electronic device
brazing material
base substrate
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Expired - Fee Related
Application number
JP2012211896A
Other languages
English (en)
Other versions
JP2014067849A5 (ja
JP2014067849A (ja
Inventor
英男 宮坂
英男 宮坂
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Seiko Epson Corp
Original Assignee
Seiko Epson Corp
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Seiko Epson Corp filed Critical Seiko Epson Corp
Priority to JP2012211896A priority Critical patent/JP6167494B2/ja
Priority to US14/031,663 priority patent/US9660176B2/en
Priority to CN201310435933.9A priority patent/CN103681519B/zh
Publication of JP2014067849A publication Critical patent/JP2014067849A/ja
Publication of JP2014067849A5 publication Critical patent/JP2014067849A5/ja
Application granted granted Critical
Publication of JP6167494B2 publication Critical patent/JP6167494B2/ja
Expired - Fee Related legal-status Critical Current
Anticipated expiration legal-status Critical

Links

Images

Classifications

    • HELECTRICITY
    • H10SEMICONDUCTOR DEVICES; ELECTRIC SOLID-STATE DEVICES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
    • H10NELECTRIC SOLID-STATE DEVICES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
    • H10N30/00Piezoelectric or electrostrictive devices
    • H10N30/01Manufacture or treatment
    • H10N30/02Forming enclosures or casings
    • BPERFORMING OPERATIONS; TRANSPORTING
    • B23MACHINE TOOLS; METAL-WORKING NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
    • B23KSOLDERING OR UNSOLDERING; WELDING; CLADDING OR PLATING BY SOLDERING OR WELDING; CUTTING BY APPLYING HEAT LOCALLY, e.g. FLAME CUTTING; WORKING BY LASER BEAM
    • B23K1/00Soldering, e.g. brazing, or unsoldering
    • B23K1/0008Soldering, e.g. brazing, or unsoldering specially adapted for particular articles or work
    • B23K1/0016Brazing of electronic components
    • BPERFORMING OPERATIONS; TRANSPORTING
    • B23MACHINE TOOLS; METAL-WORKING NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
    • B23KSOLDERING OR UNSOLDERING; WELDING; CLADDING OR PLATING BY SOLDERING OR WELDING; CUTTING BY APPLYING HEAT LOCALLY, e.g. FLAME CUTTING; WORKING BY LASER BEAM
    • B23K1/00Soldering, e.g. brazing, or unsoldering
    • B23K1/005Soldering by means of radiant energy
    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01CMEASURING DISTANCES, LEVELS OR BEARINGS; SURVEYING; NAVIGATION; GYROSCOPIC INSTRUMENTS; PHOTOGRAMMETRY OR VIDEOGRAMMETRY
    • G01C19/00Gyroscopes; Turn-sensitive devices using vibrating masses; Turn-sensitive devices without moving masses; Measuring angular rate using gyroscopic effects
    • G01C19/56Turn-sensitive devices using vibrating masses, e.g. vibratory angular rate sensors based on Coriolis forces
    • G01C19/5607Turn-sensitive devices using vibrating masses, e.g. vibratory angular rate sensors based on Coriolis forces using vibrating tuning forks
    • G01C19/5628Manufacturing; Trimming; Mounting; Housings
    • HELECTRICITY
    • H03ELECTRONIC CIRCUITRY
    • H03HIMPEDANCE NETWORKS, e.g. RESONANT CIRCUITS; RESONATORS
    • H03H9/00Networks comprising electromechanical or electro-acoustic elements; Electromechanical resonators
    • H03H9/02Details
    • H03H9/05Holders or supports
    • H03H9/10Mounting in enclosures
    • HELECTRICITY
    • H03ELECTRONIC CIRCUITRY
    • H03HIMPEDANCE NETWORKS, e.g. RESONANT CIRCUITS; RESONATORS
    • H03H9/00Networks comprising electromechanical or electro-acoustic elements; Electromechanical resonators
    • H03H9/02Details
    • H03H9/05Holders or supports
    • H03H9/10Mounting in enclosures
    • H03H9/1007Mounting in enclosures for bulk acoustic wave [BAW] devices
    • H03H9/1014Mounting in enclosures for bulk acoustic wave [BAW] devices the enclosure being defined by a frame built on a substrate and a cap, the frame having no mechanical contact with the BAW device
    • H03H9/1021Mounting in enclosures for bulk acoustic wave [BAW] devices the enclosure being defined by a frame built on a substrate and a cap, the frame having no mechanical contact with the BAW device the BAW device being of the cantilever type
    • HELECTRICITY
    • H03ELECTRONIC CIRCUITRY
    • H03HIMPEDANCE NETWORKS, e.g. RESONANT CIRCUITS; RESONATORS
    • H03H9/00Networks comprising electromechanical or electro-acoustic elements; Electromechanical resonators
    • H03H9/02Details
    • H03H9/05Holders or supports
    • H03H9/10Mounting in enclosures
    • H03H9/1057Mounting in enclosures for microelectro-mechanical devices
    • HELECTRICITY
    • H03ELECTRONIC CIRCUITRY
    • H03HIMPEDANCE NETWORKS, e.g. RESONANT CIRCUITS; RESONATORS
    • H03H9/00Networks comprising electromechanical or electro-acoustic elements; Electromechanical resonators
    • H03H9/02Details
    • H03H9/05Holders or supports
    • H03H9/10Mounting in enclosures
    • H03H9/1064Mounting in enclosures for surface acoustic wave [SAW] devices
    • H03H9/1071Mounting in enclosures for surface acoustic wave [SAW] devices the enclosure being defined by a frame built on a substrate and a cap, the frame having no mechanical contact with the SAW device
    • BPERFORMING OPERATIONS; TRANSPORTING
    • B23MACHINE TOOLS; METAL-WORKING NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
    • B23KSOLDERING OR UNSOLDERING; WELDING; CLADDING OR PLATING BY SOLDERING OR WELDING; CUTTING BY APPLYING HEAT LOCALLY, e.g. FLAME CUTTING; WORKING BY LASER BEAM
    • B23K2101/00Articles made by soldering, welding or cutting
    • B23K2101/36Electric or electronic devices
    • YGENERAL TAGGING OF NEW TECHNOLOGICAL DEVELOPMENTS; GENERAL TAGGING OF CROSS-SECTIONAL TECHNOLOGIES SPANNING OVER SEVERAL SECTIONS OF THE IPC; TECHNICAL SUBJECTS COVERED BY FORMER USPC CROSS-REFERENCE ART COLLECTIONS [XRACs] AND DIGESTS
    • Y10TECHNICAL SUBJECTS COVERED BY FORMER USPC
    • Y10TTECHNICAL SUBJECTS COVERED BY FORMER US CLASSIFICATION
    • Y10T29/00Metal working
    • Y10T29/42Piezoelectric device making

Landscapes

  • Physics & Mathematics (AREA)
  • Engineering & Computer Science (AREA)
  • Acoustics & Sound (AREA)
  • Manufacturing & Machinery (AREA)
  • Mechanical Engineering (AREA)
  • General Physics & Mathematics (AREA)
  • Radar, Positioning & Navigation (AREA)
  • Remote Sensing (AREA)
  • Piezo-Electric Or Mechanical Vibrators, Or Delay Or Filter Circuits (AREA)

Description

本発明は、容器本体と蓋体との溶接方法の改善を図った電子デバイス用容器の製造方法、電子デバイスの製造方法、それを用いた電子機器、及び移動体機器に関するものである。
電子素子を容器内に気密封止する構造としては、一面が開口したセラミック容器本体内に電子素子を配置し、導電性部材を用いて電子素子と容器本体側配線との電気的導通を図った後、容器本体の開口周縁部に形成した封止部と金属製の蓋体とを、シーム溶接(抵抗溶接)して密封する手法、又はレーザー光、電子ビームを用いて両者を溶融して接合する手法等が用いられている。
特許文献1には、シーム溶接を用いて製造される圧電デバイスが開示されている。圧電デバイスは、電子素子用の容器と、圧電素子と、を備えている。電子素子用の容器は、凹陥部を有する容器本体と、蓋体と、備えている。
容器本体は、基板部の一方の主面に枠部が設けられて、凹陥部が形成されている。容器本体を構成する基板部は、例えばアルミナセラミックス等のセラミック材料を複数積層することよって形成されている。枠部は、コバール等の金属から成り、中空部を有する枠状のシールリングが用いられる。また、枠部は、基板部の一方の主面に形成されたメタライズに、ロウ付けなどにより接続される。そして、基板部の一方の主面には、一対の素子搭載パッドが設けられている。また、容器本体の他方の主面には、複数の実装端子が設けられている。
蓋体は、42アロイやコバールなどからなり、凹陥部側に面している主面に、外側縁部から内側に向かって厚みが増すように傾斜部が設けられている。蓋体は、所定雰囲気内で容器本体の枠部上に配置され、シーム溶接機のローラ電極を蓋体に接触させ、ローラ電極に電流を流しながら蓋体の外周縁に沿って動かすことで枠部に接合される。
蓋体には外側縁部から内側に向かって傾斜部が設けられているため、ローラ電極と搬送治具の接触を防止できる。また、ローラ電極の傾斜角を大きくしても、蓋体と枠部とが接触している幅(接合幅)を小さくできる。これにより、容器本体にかかる熱応力(残留応力)を低減することができ、容器体本に生じる割れやカケ等を防止することができると、開示されている。
特開2010−178113公報
しかしながら、近年益々容器の小型化が進み、特許文献1に開示されているように、蓋体の構造を端縁より蓋体の中央に向かって厚みを増すように傾斜をつけたとしても、蓋体自体の厚さが0.1mm程度しかないため、溶接時に発生する熱応力(残留応力)に起因する容器本体のクラック発生は避けることが難しいという問題があった。
本発明は上記問題を解決するためになされたもので、溶接時に生じる熱応力(残留応力)を緩和する応力緩和部を蓋体に設ける電子デバイス用容器の製造方法と、電子デバイスの製造方法、この製造方法を用いた電子デバイス、電子機器、及び移動体機器を提供することにある。
本発明は、上記の課題の少なくとも一部を解決するためになされたものであり、以下の形態又は適用例として実現することが可能である。
[適用例1]本発明に係る電子デバイス用容器の製造方法は、凹陥部を有し、前記凹陥部の周縁に封止部を備えているベース基板と、及び金属を材料とする基材層とロウ材層とを含んでいる蓋体とを用意する工程と、前記封止部と前記ロウ材層とが重なるように前記蓋体を前記ベース基板に配置する工程と、前記蓋体の板厚が、前記封止部と接合された部分よりも、厚み方向の平面視でその内側に位置する部分の方が小さくなるように、前記エネルギービームを照射して前記封止部に前記蓋体を接合する工程と、を含むことを特徴とする電子デバイス用容器の製造方法である。
この製造方法によれば、ベース基板の封止部に蓋体をエネルギービーム接合するとき、蓋体、及びベース基板の線膨張係数の違いと、両者の各部分の温度分布の偏倚により、容器を常温に戻すと残留応力が生じるが、厚み方向の平面視で前記封止部と蓋体の接合された部分よりも内側に位置する部分の方が小さくなる所謂応力緩和部により残留応力を吸収・低減し、容器にクラック等を生じさせないという効果がある。
[適用例2]本発明に係る電子デバイスの製造方法は、電子素子と、凹陥部を有し、前記凹陥部の周縁に封止部を備えているベース基板と、及び金属を材料とする基材層とロウ材層とを含んでいる蓋体とを用意する工程と、前記凹陥部の底部に前記電子素子を配置する工程と、前記封止部と前記ロウ材層とが重なるように前記蓋体を前記ベース基板に配置する工程と、前記蓋体の板厚が、前記封止部と接合された部分よりも、厚み方向の平面視でその内側に位置する部分の方が小さくなるように、前記エネルギービームを照射して前記封止部に前記蓋体を接合する工程と、を含むことを特徴とする電子デバイスの製造方法である。
この製造方法によれば、電子デバイス、例えば圧電振動子の製造時に蓋体をベース基板にエネルギービーム接合する際に生じる残留応力を吸収し、低減できるので、電子デバイスのリーク不良を大幅に低減できるという効果がある。
[適用例3]また電子デバイスの製造方法は、前記接合する工程では、前記ロウ材が移動することで、前記蓋体の板厚の小さい部分を形成することを特徴とする適用例2に記載の電子デバイスの製造方法である。
この製造方法によれば、エネルギービームを適切に照射することにより、蓋体に板厚の薄い部分を形成できるので、この薄い部分が応力緩和部として作用し、ベース基板にクラックの発生を防止でき、気密度に優れた電子デバイスが得られるという効果がある。
[適用例4]また電子デバイスの製造方法は、電子素子と、凹陥部を有し、前記凹陥部の周縁に封止部を備えているベース基板と、及び金属を材料とする基材層とロウ材層とを含み、厚み方向の平面視で一部分に応力緩和部を有している蓋体とを用意する工程と、前記凹陥部の底部に前記電子素子を配置する工程と、前記封止部と前記ロウ材層とが重なり、厚み方向の平面視で前記応力緩和部と前記凹陥部とが重なるように前記蓋体を前記ベース基板に配置する工程と、エネルギービームを照射して前記封止部に前記蓋体を接合する工程と、を含むことを特徴とする電子デバイスの製造方法である。
この製造方法によれば、ベース基板の凹陥部と、厚み方向の平面視で一部分に応力緩和部を有している蓋体と、を重なるようにエネルギービーム接合するので、接合後に生じる残留応力を応力緩和部が低減し、ベース基板にクラックが生じるのを防止し、気密度の高い電子デバイスが得られるという効果がある。
[適用例5]また電子デバイスの製造方法は、前記応力緩和部は、前記蓋体の他の部分よりも板厚が小さいことを特徴とする適用例4に記載の電子デバイスの製造方法である。
この製造方法によれば、応力緩和部が、蓋体の他の部分よりも板厚が小さく形成されているので、ベース基板と、蓋体とをエネルギービーム接合する際に生じる残留応力を、応力緩和部が低減し、ベース基板にクラックが生じるのを防止し、気密性に優れた電子デバイスが得られるという効果がある。
[適用例6]また電子デバイスの製造方法は、前記応力緩和部は、厚み方向に曲がっていることを特徴とする適用例4に記載の電子デバイスの製造方法である。
この製造方法によれば、前記応力緩和部は、厚み方向に曲がっているのでベース基板と、蓋体とをエネルギービーム接合する際に生じる残留応力をより緩和し、ベース基板にクラックが生じるのを防止し、気密性に優れた電子デバイスが得られるという効果がある。
[適用例7]本発明の電子機器は、適用例2乃至6の何れか一項に記載の電子デバイスの製造方法により製造された電子デバイスを備えていることを特徴とする電子機器である。
この構成によれば、気密性が良く、周波数精度、周波数温度特性、エージング特性の良好な電子デバイスを用いて電子機器を構成するので、長期に亘って周波数の安定な電子機器が得られるという効果がある。
[適用例8]本発明の移動体機器は、適用例2乃至6の何れか一項に記載の電子デバイスの製造方法により製造された電子デバイスを備えていることを特徴とする移動体機器である。
この構成によれば、気密性が良く、小型で且つ周波数精度、周波数温度特性、エージング特性の良好な電子デバイスを用いて移動体機器を構成するので、移動体機器の小型化と、長期に亘って周波数の安定な移動体機器が得られるという効果がある。
本発明に係る電子デバイス用容器の、(a)は分解斜視図であり、(b)は(a)のP−P断面図であり、(c)は蓋体の断面図。 エネルギービーム接合法を説明するための電子デバイス用容器の一部を拡大した断面図。 他の実施例の蓋体の、(a)は平面図であり、(b)は断面図。 他の実施例の蓋体の、(a)は平面図であり、(b)は断面図。 平板状蓋体を用いた容器の一部拡大断面図。 電子デバイスの製造手順を示すフローチャート。 (a)は電子デバイス(圧電振動子)の断面図であり、(b)は他の電子デバイス(圧電発振器)の断面図。 (a)はジャイロセンサーの構成を示す平面図であり、(b)はその断面図であり、(c)は動作を説明する模式図。 電子機器の概略図。 移動機器の説明図。
以下、本発明の実施の形態を図面に基づいて詳細に説明する。
図1(a)は、本発明に係る電子デバイス用容器1の一実施形態の分解斜視図であり、同図(b)は(a)のP−P断面図であり、同図(c)は蓋体3の拡大断面図である。
電子素子を収容する容器1は、電子素子を搭載可能な凹陥部を有するセラミック製のベース基板(容器本体)2と、ベース基板2の一面に設けられた凹陥部(キャビティー)18を気密封止する蓋体3と、を備えている。
本発明に係る電子デバイス用容器1の製造方法の概略は次の通りである。即ち、セラミックを材料とする絶縁基板2Aを備えたベース基板2と、金属製の蓋体3と、を備えた電子デバイス用容器1の製造方法であり、凹陥部18を有し、凹陥部の周縁に封止部10を備えているベース基板2と、金属を材料とする基材層とロウ材層とを含んでいる蓋体3とを用意する工程と、封止部とロウ材層とが重なるように蓋体をベース基板に配置する工程と、蓋体の板厚が、封止部と接合された部分よりも、厚み方向の平面視でその内側に位置する部分の方が小さくなるように、前記エネルギービームを照射して前記封止部に前記蓋体を接合する工程と、を有している。
これを換言すれば、本発明の電子デバイス容器の製造方法は、凹陥部(キャビティー)18を有し、この凹陥部(キャビティー)18の上部周縁に封止部(メタライズ層)10を備えたベース基板2を用意する工程と、蓋体用基材層11a、及び蓋体用基材層11aの一方の主面全体に積層されたロウ材層11bを有すると共に、凹陥部(キャビティー)18と対応する位置に応力緩和部12を有した蓋体3を用意する工程と、封止部(メタライズ層)10とロウ材層11bとが整合するように蓋体3をベース基板2に配置する工程と、蓋体3の周縁にエネルギービーム(レーザー光、電子ビームを含む)を照射して封止部(メタライズ層)10に対して蓋体3を接合する工程と、を有している。
ベース基板2は、例えばセラミックス材料からなる平板状の下層板2aと、中空環状体の中層板2bと、中空環状体の上層板2cと、を積層して構成された絶縁基板2Aと、メタライズ層10等を備えている。下層板2aはベース基板2の底部を形成し、中層板2bは電子素子の実装面を形成し、中空環状体の上層板2cは、中層板2bと共に、ベース基板2の内部空間(キャビテーション)を形成する。セラミック基板の下層板2a、中層板2b、上層板2cを構成するセラミック基材(絶縁基板2A)は、グリーンシートを成形・加工してから焼成することにより形成されている。
中層板2bの一端部寄りの上面には、電子素子搭載用の複数の素子搭載用パッド13が形成され、素子搭載用パッド13は複数の貫通ビア15を経由して、ベース基板2の外側底面の実装端子14と電気的に導通している。
上層板2cの上部周縁には、メタライズ層(封止部)10が形成されている。メタライ
ズ層(封止部)10は、例えばメタライズ印刷(タングステンW等)、焼成、ニッケル(
Ni)メッキ、シールリングロー付け、ニッケル(Ni)メッキ、金(Au)メッキ等で
形成されている。また、近年では、セラミック基板面に、セミアディティブ法を用いて銅
(Cu)、ニッケル(Ni)、金(Au)等メタライズ層を形成する方法が開発されてい
る。この方法は、焼成済みのグリーンシート上にスパッタによる金属膜(銅Cu)の成膜
、フォトリソグラフィ技術、メッキ(Ni+Au)、エッチング手法を用い、所定のメタ
ライズ層を、高温加熱を伴わないで形成するものである。後者のメタライズ層(封止部)
は平面度に優れている。
また、ベース基板2の外部底面には外部配線と接続するための複数の実装端子14を備
えている。
以上の説明では、セラミックス基板を三層積層したベース基板2の例を説明したが、2
層、4層等であってもよい。また、図1(b)に示す素子搭載用パッド13、貫通ビア1
5は、一例に過ぎず、他の配線例を用いてもよい。また、必要に応じて封止部(メタライ
ズ層)10と、接地用の実装端子14と、を導通する貫通ビアを設けることが望ましい。
本発明の容器1を電子デバイス等に用いるとき、金属性の蓋体3をグランド電位に保持す
ることにより、蓋体3のシールド効果によって外部からの不要な電気的信号、例えばノイ
ズなどから保護することができるし、また、外部に対し不要輻射を防止することができる

また、金属製の蓋体3は、図1(c)の断面図に示すように、外周縁より中央部に向かって蓋体3の肉厚が減少するように構成されている。しかも、蓋体3は、ベース基板2を構成するセラミック基板(下層板2a、中層板2b、上層板2c)の線膨張係数(7ppm/℃)に近い線膨張係数を有した金属材料のコバール(線膨張係数:5.5ppm/℃)から成る蓋体用基材層11aと、蓋体用基材層11aの下面にクラッド法により積層されたロウ材層11b、例えば銀ロウと、蓋体用基材層11aの上面にクラッド法により積層された酸化防止膜用のニッケル膜11cと、から構成されている。なお、蓋体用基材層11aの材料としては、コバールの他に、42ニッケル、SUS等も使用することができる。
図2は、電子デバイス用容器のエネルギービーム(例えばレーザー光)接合法を説明する図であり、図1の容器の一部を拡大した縦断面図である。ベース基板2の環状の封止部(メタライズ層)10上に、ロウ材層11bが接合するように金属製の蓋体3を整合・配置し、蓋体3の周縁にエネルギービームを照射する。封止部(メタライズ層)10と、金属製蓋体3の周縁部とを接合する際のエネルギービームの照射位置は、図2に示すようにエネルギービームのスポット径の中心部が、封止部(メタライズ層)10と蓋体3との接合部10aの幅寸法W1の中心部とほぼ合致するように設定する。エネルギービームのスポット径の一例は100μm程度であり、接合部10aの幅寸法W1の一例は、150μm程度である。エネルギービームのエネルギーはスポット径の中心部で最大であり、中心部から遠ざかるにつれてそのエネルギーは減少する。なお、スポット径の中心部を、接合部10aの幅寸法W1の中心部より蓋体3の中央寄りに少し偏倚させ、スポット径の端が接合部10aの内側端部10bにかかる、或いは端部を越えるようにしてもよい。このようにエネルギービームの中心位置、端部の位置を設定すると、蓋体3裏面のロウ材層11bを均一、且つ確実に溶融させることにより、均一、且つ必要十分な範囲に展開させることが可能となる。
ベース基板2の上層板2cの上部周縁に形成された環状の封止部(メタライズ層)10に、図4に示すような平板状の金属製蓋体3を整合するように配置し、蓋体3の接合する部分にエネルギービーム(例えばレーザー光、電子ビーム等)を照射すると、比較的低融点の合金からなる接合部材としてのロウ材層11b、例えば銀ロウが溶融、固化して接合し、容器1は気密封止される。このとき、エネルギービームの照射によって金属製の蓋体3が発熱し、この熱がロウ材層11bを介して封止部(メタライズ層)10に伝導し、更にベース基板2の上層板2c、中層板2b、下層板2aへと伝わるが、熱の温度分布は一様ではなく、各部分により温度差が生じる。その上、ベース基板2を形成するセラミック基板と、蓋体3を構成するコバールとでは、線膨張係数に差があり、容器1を封止した後、容器1を常温に戻すと、ロウ材層11bを介してベース基板2と、蓋体3との間に残留応力が発生することになる。容器1を小型化するに応じて、ベース基板2は応力に対して脆弱となり、ベース基板2のセラミック材(例えば上層板2c)にクラックが生じる虞がある。
そこで、本発明の第1の実施形態例は、図1(c)に示すように、蓋体3の断面形状を、ベース基板2の環状の封止部(メタライズ層)10と接合する外周領域3aは一様の肉厚とし、この領域から蓋体3の中央部に向かって肉厚が薄くなるように応力緩衝部12を構成している。このように、蓋体3の一部に張力に対し変形する領域、即ち応力緩衝部12を設けることにより、接合によって生じる残留応力をこの応力緩衝部12で吸収・低減し、ベース基板2のセラミック材にかかる応力を減らし、クラックの発生を防止するようにした。
なお、本例では、肉厚が均一な外周領域3aに対して応力緩衝部12の肉厚を傾斜状に漸減させるように構成したが、外周領域3aと応力緩衝部12との境界に段差部を設けてもよい。また応力緩衝部12の肉厚を全体に渡って均一厚としてもよいし、図1(c)に示すように外周部から中央部に向けて厚さが漸減するようにしてもよい。
図3は、蓋体3の第2の実施形態例であり、同図(a)は平面図であり、同図(b)は(a)のP−P断面図である。第2の実施例の特徴は、蓋体3の断面形状を、環状体の封止部(メタライズ層)10と接合する外周領域3aは一様の肉厚とし、この外周領域3aよりも蓋体3の中央寄りの内側領域3bを波型形状(非平面形状)とし、この内側領域を応力緩衝部12とした点である。このように非平面形状から成る応力緩衝部12を構成することにより、接合によって生じる残留応力をこの応力緩衝部で吸収・低減し、ベース基板2のセラミック材にかかる応力を減らして、クラックの発生を防止するようにしている。
また、非平面形状である応力緩衝部12を構成する蓋体3の断面形状は、鋸歯状であってもよい。非平面形状であることにより、残留応力を吸収・低減し、ベース基板2のセラミック材にかかる応力を減らし、クラックの発生を防止することができる。
図4は、蓋体3の第3の実施形態例であり、同図(a)は平面図であり、同図(b)は(a)のP−P断面図である。ここでは、図4に示すような一般的な平板状の蓋体3を用いて、残留応力を緩和する方法がないか検討した。ベース基板2の封止部(メタライズ層)10と、図4に示すように断面形状が矩形状の蓋体3との接合実験で、エネルギービームの出力、スポット径、照射位置、照射時間等の接合条件を種々変えて接合した。容器の気密度を測定し、接合断面をSEM写真に撮り、ロウ材層11bが溶融し、固化した状態と、接合条件との関係を検討した。図5は、このような実験において得られたSEM写真の模式図の一例である。
図5からも明らかなように、蓋体3の外側端部(図では左側)は、エネルギービームの照射により上面が山のように盛り上がり、ロウ材層11b’には十分な濡れ性が生じ、蓋体3の外側端部の一部に這い上がっていることが分かる。また、ロウ材層11b’は、接合部の蓋体3の底面で十分に溶融し、表面張力を受けて固化したことがこの図から明らかである。

また、図5において、封止部10と蓋体3との接合部よりもキャビティー18寄りのロ
ウ材層11b”が、溶融し表面張力により接合部に引き寄せられ、キャビティー18側で
、ロウ材層11b”が無い領域が生じていることを見出した。容器1の気密度と、ロウ材
層11b”が無い領域(応力緩和部と称す)との関係を調べてみると、応力緩和部が生じ
るような接合条件でエネルギービーム接合した容器は、気密度の良品率が極めて良好であ
ることが判明した。つまり、エネルギービーム照射により封止部10に近接するキャビテ
ィー18側のロウ材層11b”が溶融し、表面張力で封止部10と、蓋体3の間に引き寄
せられ、固化した様子が図5に示されている。接合部近傍のキャビティー18側のロウ材
層11b”が、接合部10aに引き寄せられて、ロウ材層11b”が無い領域が形成され
、この領域が残留応力に対する応力緩和部12として機能する、即ち応力緩和部12が接
合によって生じた残留応力を吸収・低減していることを見出した。
厚さや形状の変化のない平板状の蓋体3であっても、エネルギービームの出力、スポッ
ト径、照射位置、照射時間等の接合条件を適正に設定することにより、封止部10に近接
するキャビティー側のロウ材層11bが溶融し、表面張力により接合部10aに引き寄せ
られて、封止部10に近接するキャビティー18側にロウ材層11b”が無い領域、即ち
応力緩和部12が形成され、残留応力を吸収・低減し、セラミック材に生じるクラックを
防止できることを見出した。
以上に説明したように、ベース基板2の封止部10に蓋体3をエネルギービーム接合するとき、ベース基板2、及び蓋体3の線膨張係数の違いと、両者の各部分の温度分布の偏倚により、容器1を常温に戻すと残留応力が生じるが、蓋体3に設けた応力緩和部12により残留応力を吸収・低減し、容器1にクラック等を生じさせないという効果がある。
また、図1(c)に示すように、応力緩和部12の肉厚を蓋体3の他の部分、つまり外周領域3aより薄肉とすることにより、エネルギービーム接合時に生じる残留応力をより吸収し低減できるので、容器1にクラック等を生じさせないという効果がある。
また、図3に示すように、容器の大きさに応じて応力緩和部の形状を非平板状、例えば波型形状とすることにより、残留応力をよりよく吸収し低減できるので、容器にクラック等を生じさせないという効果がある。
図5に示すように、エネルギービームの出力、スポット径、照射位置、照射時間等の接合条件を適正に設定することにより、製造が容易であり且つコストの安い平板形状の蓋体3を用いて、この蓋体3に応力緩和部12を形成することができ、エネルギービーム接合時に生じる残留応力を吸収し低減できるので、容器1にクラック等を生じさせないという効果がある。
次に、図6は本発明に係る電子デバイスの製造方法の一例を示すフローチャートである。図6は、図7(a)に示す電子デバイス5の製造方法を説明するフローチャートであるが、同図(b)の電子デバイス6についても同等の手順による製造が可能である。
まず、本発明に係る電子デバイス用容器の製造方法の概略は次の通りである
凹陥部18を有し、凹陥部の周縁に封止部10を備えているベース基板2、及び金属を材料とする基材層とロウ材層とを含んでいる蓋体3を用意する工程と、封止部とロウ材層とが重なるように蓋体をベース基板に配置する工程と、蓋体の板厚が、封止部と接合された部分よりも、厚み方向の平面視でその内側に位置する部分の方が小さくなるように、エネルギービームを照射して前記封止部に前記蓋体を接合する工程と、を含む。
次に、本発明に係る電子デバイスの製造方法の概略は次の通りである。
即ち、凹陥部18を有し、凹陥部18の周縁に封止部10を備えたベース基板2を用意する工程と、蓋体用基材層11a、及び蓋体用基材層11aの一方の主面全体に積層されたロウ材層11bを有すると共に、凹陥部18と対応する位置に応力緩和部12を有した蓋体3を用意する工程と、凹陥部18に電子素子30を配置する工程と、封止部10とロウ材層11bとが整合するように蓋体3をベース基板2に配置する工程と、蓋体3にエネルギービームを照射して封止部10に対して蓋体3を接合する工程と、を有している(S1a〜S6))。
この製造方法によれば、電子デバイス、例えば圧電振動子5の製造時に蓋体3をベース基板2にエネルギービーム接合する際に生じる残留応力を吸収し、低減できるので、圧電振動子5の気密不良を大幅に低減できるという効果がある。
図7(a)は、本発明に係る電子デバイスの実施形態の一例である圧電振動子5の構成
を示す縦断面図である。圧電振動子5は、電子素子(圧電振動素子)30と、電子素子3
0を収容する容器1とを備えている。容器1は、凹陥部(キャビティー)18を有するベ
ース基板2と、金属製の蓋体3と、を備えている。蓋体3のベース基板2と接合する面に
はロウ材層11bが全面に形成されている。ベース基板2は、図7(a)に示すように、
二層の絶縁基板(下層板、上層板)を有し、絶縁材料としての酸化アルミニウム質のセラ
ミック・グリーンシートを焼結して形成される。環状の封止部10は、多層のメタライズ
層から構成されている。また、凹陥部(キャビティー)18の底部には一対の素子搭載用
パッド13が形成されている。実装端子14は、容器本体の外部底面に複数形成されてい
る。
ベース基板2を構成する絶縁基板に形成された素子搭載用パッド13と、実装端子14
とは、貫通ビア15により電気的に導通されている。素子搭載パッド13の位置は、電子
素子30を載置した際に、電子素子30のパッド電極に対応するように配置されている。
電子素子(圧電振動素子)30の一例は、水晶基板と、一対の励振電極と、リード電極と、電極パッドと、を概略備えている。水晶基板は、ATカット水晶振動子の場合、小型化を図るためメサ型構造とするのが一般的である。メサ型構造の水晶基板は、大型水晶ウェハーにフォトリソグラフィ技法と、エッチング手法とを適用することにより、同一品質の水晶基板を大量の製造することが可能である。水晶基板のメサ型構造は、水晶振動子の要求特性により、厚さ方向に対称な1段構造でもよいし、2段、3段構造であってもよい。
励振電極は、水晶基板のほぼ中央部に形成され、水晶基板の端部に形成された電極パッドに向けて夫々延在するリード電極を形成する。励振電極の一例は、スパッタ法、真空蒸着法等を用い、クロム(Cr)、又はニッケル(Ni)の電極膜を下地とし、その上に金(Au)の電極膜を積層した水晶基板を、フォトリソグラフィ技法にて所定の形状に形成する。この手法を用いると、励振電極、リード電極、電極パッドが一度に、所定の形状で形成することが可能である。励振電極の大きさは、要求される仕様により、メサ型構造の頂部、又は周縁の一部まで広がる場合がある。また、励振電極の大きさは高次の屈曲モードを抑圧するように、その寸法を決めるのが一般的である。
ベース基板2に電子素子30を固定する際にはまず、素子搭載パッド13に導電性接着剤35を塗布し、これに電子素子30のパッド電極が整合するように載置して所定の荷重をかける。導電性接着剤35としては、シリコン系接着剤、エポキシ系接着剤、ポリイミド系接着剤等があるが、接着剤35に起因する応力(∝歪)の大きさが小さく、経年変化を考慮して脱ガスの少ない接着剤を選ぶとよい。
ベース基板2に搭載された電子素子30の導電性接着剤35を硬化させるために、所定の温度の高温炉に所定の時間入れる。導電性接着剤35を硬化させ、アニール処理を施した後、励振電極に質量を付加するか、又は質量を減じて周波数調整を行う。ベース基板2の上面に形成した封止部10上に、蓋体3を配置し、エネルギービーム接合機のチャンバー内で真空中、又は窒素Nガスの雰囲気中で蓋体3のロウ材層11bと、封止部10とをエネルギービーム接合して密封し、圧電振動子5が完成する。
図7(a)に示すように、電子デバイス、例えば圧電デバイス5を構成すれば、ベース基板2の残留応力が緩和されるので、リーク不良率の改善はもとより、周波数精度、周波数温度特性、経年変化の優れた圧電デバイスを構成することができるという効果がある。
図7(b)は、本発明に係る電子デバイス6の実施形態を示す縦断面図である。電子デバイス6は、例えば電子素子30と、少なくとも1つの第2の電子素子37と、電子素子30、及び第2の電子素子37を収容する、ベース基板2と蓋体3とを備えた容器1と、を概略備えている。ベース基板2のキャビティー18の底面には、素子搭載用パッド13と、部品搭載用パッド13aとが設けられ、両者とも貫通ビア15で実装端子14と導通接続されている。素子搭載用パッド13に導電性接着剤35を塗布し、電子素子30のパッド電極を載置し、所定の加重をかけ、導電性接着剤35を硬化させるため熱処理する。更に、部品搭載用パッド13aに第2の電子素子37を載置し、超音波ボンディング等の手段で接合する。ベース基板2の上面の封止部10に整合するように、蓋体3を載置し、エネルギービーム接合機のチャンバーに入れ、エネルギービーム接合して、電子デバイス6を完成する。電子デバイス6の容器1内は、真空であってもよいし、窒素(N)を充填してもよい。
以上の実施形態例では、容器1に収容する第2の電子素子37としては、サーミスタ、コンデンサ、リアクタンス素子、半導体素子(可変容量ダイオード、発振回路、増幅器等を備えたIC)のうち少なくとも一つを用いて電子デバイスを構成することが望ましい。
図8(a)は、本発明に係る容器1を用いて構成したジャイロセンサー7の概略平面図であり、蓋体3を取り除いて示している。図8(b)は、(a)のP−P断面図である。振動ジャイロセンサー7は、振動ジャイロ素子40と、振動ジャイロ素子40を収容する容器1と、を概略備えている。容器1は、図1に示すように、ベース基板2と、ベース基板2のキャビティーを気密封止する蓋体3と、を備えている。
振動ジャイロ素子40は、基部41と、基部41の対向する2つの端縁から夫々同一直線上に突設された1対の検出用振動腕45a、45bと、を備えている。更に、振動ジャイロ素子40は、基部41の対向する他の2つの端縁から夫々検出用振動腕45a、45bと直交する方向に同一直線上に突設された1対の第1の連結腕42a、42bと、各第1の連結腕42a、42bの先部からそれと直交する両方向へ夫々突設された各1対の駆動用振動腕43a、43b及び44a、44bと、を備えている。
振動ジャイロ素子40は、基部41の対向する他の2つの端縁から夫々前記検出用振動
腕45a、45bと直交する方向に同一直線上に突設された各1対の第2の連結腕41a
、41b、及び41c、41dと、各第2の連結腕41a、41b、及び41c、41d
の先端部からそれと直交する両方向へ夫々突設され、検出用振動腕45a、45bと、駆
動用振動腕43a、43b及び44a、44bとの間に配置された各1対の支持腕46a
、46b及び47a、47bと、を備えている。
励振電極は、少なくとも1対の検出用振動腕45a、45bと、各1対の駆動用振動腕
43a、43b及び44a、44bと、に夫々形成されている。支持腕46a、46b及
び47a、47bには、複数の電極パッド(図示せず)が形成され、この電極パッドと励
振電極との間は、夫々電気的に接続されている。
振動ジャイロセンサー7は、ベース基板2の内面の、振動ジャイロ素子40の各検出
用振動腕45a、45b、及び各駆動用振動腕43a、43b及び44a、44bの先部
と対向する部位に金属、又は高分子材の緩衝材が設けられている。
図8(c)は振動ジャイロ素子の動作を説明する模式平面図である。振動ジャイロセンサー7は角速度が加わらない状態では、駆動用振動腕43a、43b、44a、44bが矢印Eで示す方向に屈曲振動を行う。このとき、駆動用振動腕43a、43bと、44a、44bとが、重心Gを通るY軸方向の直線に関して線対称の振動を行っているため、基部41、連結腕42a、42b、検出用振動腕45a、45bは、ほとんど振動しない。
振動ジャイロセンサー7にZ軸回りの角速度ωが加わると、駆動用振動腕43a、43b、44a、44b及び第1の連結腕42a、42bにコリオリ力が働き、新たな振動が励起される。この振動は重心Gに対して周方向の振動である。同時に、検出用振動腕45a、45bは、この振動に応じて検出振動が励起される。この振動により発生した歪を検出用振動腕45a、45bに形成した検出電極が検出して角速度が求められる。
図9は本発明に係る電子機器の構成を示す概略構成図である。電子機器8は上記の電子デバイス5〜7の少なくとも1つを備えている。電子デバイスを用いた電子機器8としては、伝送機器等が挙げられる。これらの電子機器8において電子デバイスは、基準信号源、あるいは電圧可変型発振器等として用いられ、小型で、電気的特性の良好な電子機器を提供できる。
以上のように電子機器を構成すると、気密性が良く、周波数精度、周波数温度特性、エージング特性の良好な電子デバイスを用いて電子機器8を構成するので、長期に亘って周波数の安定な電子機器8が得られるという効果がある。
図10は、一具体例として移動体機器を搭載した自動車110を概略的に示す。自動車110には、例えば図8に示すようにジャイロセンサー素子40を有するジャイロセンサー7が組み込まれる。ジャイロセンサー7は車体111の姿勢を検出することができる。ジャイロセンサー7の検出信号は車体姿勢制御装置112に供給されることができる。車体姿勢制御装置112は例えば車体111の姿勢に応じてサスペンションの硬軟を制御したり個々の車輪113のブレーキを制御したりすることができる。その他、こういった姿勢制御は二足歩行ロボットやラジコンヘリコプターで利用されることができる。姿勢制御の実現にあたってジャイロセンサー7が組み込まれる。
この構成によれば、気密性が良く、小型で且つ電気的特性が安定であり、エージング特性の良好な電子デバイスを用いて移動体機器を構成するので、移動体機器の小型化と、長期に亘って周波数の安定な移動体機器が得られるという効果がある。
1…容器、2…ベース基板(容器本体)、2A…絶縁基板、3…蓋体、3a…外周領域、3b…内側領域、5、6…電子デバイス、7…振動ジャイロセンサー、8…デジタル携帯電話、10…封止部(メタライズ層)、10a…接合部、10b…内側端部、11a…基材層、11b、11b’、11b”…ロウ材層、11c…ニッケル膜、12…応力緩和部、13…素子搭載用パッド、13a…部品搭載用パッド、14…実装端子、15…貫通ビア、18…キャビティー、30…電子素子、37…第2の電子素子、40…振動ジャイロ素子(電子素子)、41a、41b、41c、41d…第2の連結腕、42a、42b…第1の連結腕、43a、43b、44a、44b…駆動用振動腕、45a、45b…検出用振動腕、46a、46b、47a、47b…支持腕、G…重心

Claims (11)

  1. 凹陥部を有し、前記凹陥部の周縁に封止部を備えているベース基板、及び基材層とロウ材層とを含んでいる蓋体を用意する工程と、
    前記封止部と前記ロウ材層とが重なるように前記蓋体を前記ベース基板に配置する工程と、
    前記蓋体において、前記ロウ材層が無い領域が生ずるように、エネルギービームを照射して前記封止部に前記蓋体を接合する工程と、
    を含むことを特徴とする電子デバイス用容器の製造方法。
  2. 電子素子と、
    凹陥部を有し、前記凹陥部の周縁に封止部を備えているベース基板、及び基材層とロウ材層とを含んでいる蓋体を用意する工程と、
    前記凹陥部の底部に前記電子素子を配置する工程と、
    前記封止部と前記ロウ材層とが重なるように前記蓋体を前記ベース基板に配置する工程と、
    前記蓋体において、前記ロウ材層が無い領域が生ずるように、エネルギービームを照射して前記封止部に前記蓋体を接合する工程と、
    を含むことを特徴とする電子デバイスの製造方法。
  3. 前記接合する工程では、前記ロウ材が移動することで、前記ロウ材層が無い領域が生ずることを特徴とする請求項2に記載の電子デバイスの製造方法。
  4. 前記基材層が平板状であることを特徴とする請求項2または3に記載の電子デバイスの製造方法。
  5. 前記接合する工程では、前記蓋体において、前記基材層の厚さが、前記封止部と接合された部分の方が、厚み方向の平面視でその内側に位置する部分よりも大きくなるように、前記エネルギービームを照射することを特徴とする請求項2乃至4の何れか一項に記載の電子デバイスの製造方法。
  6. 電子素子と、
    凹陥部を有し、前記凹陥部の周縁に封止部を備えているベース基板、及び基材層とロウ材層を含み、厚み方向の平面視で前記ベース基板との接合部より内側で外周側より中央部に向かって前記基材層の肉厚が減少するように構成されている応力緩和部を有している蓋体とを用意する工程と、
    前記凹陥部の底部に前記電子素子を配置する工程と、
    前記封止部と前記ロウ材層とが重なり、厚み方向の平面視で前記応力緩和部と前記凹陥部とが重なるように前記蓋体を前記ベース基板に配置する工程と、
    エネルギービームを照射して前記封止部に前記蓋体を接合する工程と、
    を含むことを特徴とする電子デバイスの製造方法。
  7. 凹陥部を有し、前記凹陥部の周縁に封止部を備えているベース基板と
    基材層とロウ材層とを含んでいる蓋体と、
    前記凹陥部の底部に配置された電子素子と、
    を備え、
    前記蓋体は、前記封止部と前記ロウ材層とが重なるような配置で前記ベース基板に接合されており、
    前記封止部と接合された部分の前記ロウ材と、厚み方向の平面視で前記封止部と接合された部分より内側に位置する部分の前記ロウ材との間に、前記ロウ材が無い部分がある、
    ことを特徴とする電子デバイス。
  8. 前記封止部と接合された部分の前記基材層の厚さが、厚み方向の平面視で前記封止部と接合された部分より内側に位置する部分の前記基材層の厚さよりも大きい、ことを特徴とする請求項7に記載の電子デバイス。
  9. 凹陥部を有し、前記凹陥部の周縁に封止部を備えているベース基板と
    基材層とロウ材層を含み、厚み方向の平面視で前記ベース基板との接合部より内側で外周側より中央部に向かって前記基材層の肉厚が減少するように構成されている応力緩和部を有している蓋体と、
    前記凹陥部の底部に配置された電子素子と、
    を備え、
    前記蓋体は、前記封止部と前記ロウ材層とが重なり、厚み方向の平面視で前記応力緩和部と前記凹陥部とが重なるような配置で前記ベース基板に接合されている、
    ことを特徴とする電子デバイス。
  10. 請求項7乃至9の何れか一項に記載の電子デバイスを備えていることを特徴とする電子機器。
  11. 請求項7乃至9の何れか一項に記載の電子デバイスを備えていることを特徴とする移動体機器。
JP2012211896A 2012-09-26 2012-09-26 電子デバイス用容器の製造方法、電子デバイスの製造方法、電子デバイス、電子機器及び移動体機器 Expired - Fee Related JP6167494B2 (ja)

Priority Applications (3)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2012211896A JP6167494B2 (ja) 2012-09-26 2012-09-26 電子デバイス用容器の製造方法、電子デバイスの製造方法、電子デバイス、電子機器及び移動体機器
US14/031,663 US9660176B2 (en) 2012-09-26 2013-09-19 Method of manufacturing electronic device, electronic apparatus, and mobile apparatus
CN201310435933.9A CN103681519B (zh) 2012-09-26 2013-09-23 电子器件的制造方法、电子设备以及移动体设备

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2012211896A JP6167494B2 (ja) 2012-09-26 2012-09-26 電子デバイス用容器の製造方法、電子デバイスの製造方法、電子デバイス、電子機器及び移動体機器

Publications (3)

Publication Number Publication Date
JP2014067849A JP2014067849A (ja) 2014-04-17
JP2014067849A5 JP2014067849A5 (ja) 2015-09-24
JP6167494B2 true JP6167494B2 (ja) 2017-07-26

Family

ID=50318653

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP2012211896A Expired - Fee Related JP6167494B2 (ja) 2012-09-26 2012-09-26 電子デバイス用容器の製造方法、電子デバイスの製造方法、電子デバイス、電子機器及び移動体機器

Country Status (3)

Country Link
US (1) US9660176B2 (ja)
JP (1) JP6167494B2 (ja)
CN (1) CN103681519B (ja)

Families Citing this family (17)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN103837145B (zh) * 2012-11-26 2018-12-28 精工爱普生株式会社 电子器件及其制造方法、盖体、电子设备以及移动体
WO2015182678A1 (ja) * 2014-05-28 2015-12-03 日本特殊陶業株式会社 配線基板
KR20160004158A (ko) * 2014-07-02 2016-01-12 삼성전기주식회사 패키지 기판
JP6450612B2 (ja) * 2015-03-11 2019-01-09 日本特殊陶業株式会社 電子部品装置およびその製造方法
JP6499886B2 (ja) * 2015-03-11 2019-04-10 田中貴金属工業株式会社 電子部品封止用キャップ
CN107431476B (zh) 2015-04-27 2020-06-12 株式会社村田制作所 谐振子以及谐振装置
CN107431472B (zh) 2015-04-27 2020-05-12 株式会社村田制作所 谐振子以及谐振装置
CN107534432B (zh) 2015-04-28 2020-06-05 株式会社村田制作所 谐振子以及谐振装置
US10014189B2 (en) * 2015-06-02 2018-07-03 Ngk Spark Plug Co., Ltd. Ceramic package with brazing material near seal member
CN106100604B (zh) * 2016-07-18 2018-12-07 应达利电子股份有限公司 带阻容环路的谐振器、基座、基座组及基座的制备方法
JP2018182574A (ja) * 2017-04-14 2018-11-15 株式会社村田製作所 圧電振動子及び電子部品
JP2019047309A (ja) * 2017-09-01 2019-03-22 株式会社村田製作所 圧電振動子
CN108031939B (zh) * 2017-11-10 2020-10-27 武汉凌云光电科技有限责任公司 一种激光焊接磁性材料的方法
US10812046B2 (en) * 2018-02-07 2020-10-20 Murata Manufacturing Co., Ltd. Micromechanical resonator having reduced size
WO2020080221A1 (ja) * 2018-10-15 2020-04-23 三菱マテリアル株式会社 パッケージ用蓋材及びパッケージ
CN109979824B (zh) * 2018-12-04 2020-05-15 江苏长电科技股份有限公司 一种陶瓷封装陶瓷盖的定位贴装方法
JP7558882B2 (ja) * 2021-04-27 2024-10-01 Ngkエレクトロデバイス株式会社 電子装置

Family Cites Families (80)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US3217088A (en) * 1962-11-30 1965-11-09 Owens Illinois Glass Co Joining glass members and encapsulation of small electrical components
US3268779A (en) * 1963-11-06 1966-08-23 Int Rectifier Corp Hermetically sealed semiconductor device
JPS4815401Y1 (ja) * 1968-11-29 1973-04-27
US4372037A (en) * 1975-03-03 1983-02-08 Hughes Aircraft Company Large area hybrid microcircuit assembly
JPS5279794A (en) * 1975-12-26 1977-07-05 Seiko Instr & Electronics Ltd Piezo-vibrator unit
JPS5925486B2 (ja) * 1977-11-15 1984-06-18 シチズン時計株式会社 圧電振動子の容器
US4328921A (en) * 1980-06-02 1982-05-11 Cominco Ltd. Attachment of solder preform to a cover for a sealed container
US4746583A (en) * 1986-11-21 1988-05-24 Indium Corporation Ceramic combined cover
US4750665A (en) * 1986-11-21 1988-06-14 Indium Corporation Of America Method of producing a combination cover
JPH0736952B2 (ja) * 1986-11-27 1995-04-26 京セラ株式会社 メタライズ金属層の表面被覆構造
US4769272A (en) * 1987-03-17 1988-09-06 National Semiconductor Corporation Ceramic lid hermetic seal package structure
EP0287722A1 (en) * 1987-04-22 1988-10-26 Fujitsu Limited Process for laser welding of aluminium based elements
JPH02122714A (ja) * 1988-10-31 1990-05-10 Matsushima Kogyo Co Ltd 圧電振動子
JPH0766316A (ja) * 1993-08-27 1995-03-10 Sumitomo Kinzoku Ceramics:Kk 半導体素子封止用パッケージとそのリッド
DE19649458A1 (de) * 1996-03-14 1998-10-22 Tech Gmbh Antriebstechnik Und Lotmaterial zur Anbringung von großen Halbleiterchips
JP3856912B2 (ja) 1997-07-15 2006-12-13 リバーエレテック株式会社 電子部品用パッケージの封止用治具
JP2000357937A (ja) * 1999-06-17 2000-12-26 Murata Mfg Co Ltd 弾性表面波装置
JP2001185986A (ja) 1999-12-22 2001-07-06 Seiko Epson Corp 圧電振動子及び圧電発振器とこれらの封止方法
DE10138335B4 (de) * 2000-07-28 2010-10-21 Kyocera Corp. Oberflächenwellen-Bauteil
JP2002043769A (ja) * 2000-07-31 2002-02-08 Kyocera Corp 金属蓋付電子部品
US6587008B2 (en) * 2000-09-22 2003-07-01 Kyocera Corporation Piezoelectric oscillator and a method for manufacturing the same
JP4328462B2 (ja) * 2000-12-14 2009-09-09 千住金属工業株式会社 はんだコートリッド
US6626352B2 (en) * 2001-01-11 2003-09-30 Ching-Chieh Li Soldering method for sealing on-line transfer device of cable and products made thereby
JP2002261570A (ja) * 2001-03-06 2002-09-13 Citizen Watch Co Ltd 水晶振動子用パッケージベースおよびそれを用いた水晶振動子パッケージ構造体の製造方法
EP1414151A4 (en) * 2001-06-21 2005-01-26 Matsushita Electric Industrial Co Ltd ACOUSTIC SURFACE WAVING DEVICE, METHOD FOR PRODUCING THE DEVICE AND ELECTRONIC CONSTRUCTION ELEMENT WITH THE SAME
JPWO2003017364A1 (ja) * 2001-08-17 2004-12-09 シチズン時計株式会社 電子装置及びその製造方法
JP2003158211A (ja) 2001-11-19 2003-05-30 Daishinku Corp 電子部品用パッケージおよび当該パッケージを用いた圧電振動デバイス
DE10219951A1 (de) * 2002-05-03 2003-11-13 Patent Treuhand Ges Fuer Elektrische Gluehlampen Mbh Verfahren zur Verkapselung eines Bauelements auf Basis organischer Halbleiter
JP3960156B2 (ja) * 2002-07-19 2007-08-15 千住金属工業株式会社 板状基板封止用リッドの製造方法
US7154206B2 (en) * 2002-07-31 2006-12-26 Kyocera Corporation Surface acoustic wave device and method for manufacturing same
JP2004304017A (ja) 2003-03-31 2004-10-28 Kyocera Kinseki Corp 電子部品パッケ−ジ
JP2006196932A (ja) * 2003-05-07 2006-07-27 Seiko Epson Corp 音叉型圧電デバイスの製造方法および音叉型圧電デバイス
JP2005183903A (ja) * 2003-12-22 2005-07-07 Rohm & Haas Electronic Materials Llc 電子デバイスおよび電子デバイスを形成する方法
US20050173812A1 (en) * 2004-02-06 2005-08-11 Howard Morgenstern Microsystem enclosure and method of hermetic sealing
JP2005317895A (ja) * 2004-03-31 2005-11-10 Citizen Watch Co Ltd 電子部品封止体の製造方法および電子部品封止体
US7351641B2 (en) * 2004-08-12 2008-04-01 Tessera, Inc. Structure and method of forming capped chips
JP2006114601A (ja) * 2004-10-13 2006-04-27 Matsushita Electric Ind Co Ltd 蓋体と電子部品用パッケージ
JP2006261158A (ja) * 2005-03-15 2006-09-28 Mitsubishi Electric Corp 半導体パッケージ
CN101238639B (zh) * 2005-08-10 2011-11-23 株式会社大真空 压电振动设备及其制造方法
JP2007173974A (ja) 2005-12-19 2007-07-05 Nippon Dempa Kogyo Co Ltd 水晶デバイス
JP4665768B2 (ja) * 2006-01-10 2011-04-06 エプソントヨコム株式会社 気密封止構造および圧電デバイスとその製造方法
JP2007208562A (ja) * 2006-01-31 2007-08-16 Nippon Dempa Kogyo Co Ltd 表面実装用の水晶デバイス
JP2007222907A (ja) * 2006-02-23 2007-09-06 Denso Corp 配線部材のレーザー照射式半田接合方法
CN101356728B (zh) * 2006-08-10 2014-10-01 株式会社大真空 压电振动器件
US8179023B2 (en) * 2007-02-20 2012-05-15 Nihon Dempa Kogyo, Co., Ltd. Package-type piezoelectric resonator and method of manufacturing package-type piezoelectric resonator
CN101622706B (zh) * 2007-02-26 2011-05-18 株式会社新王材料 气密密封用盖、电子部件容纳用封装和电子部件容纳用封装的制造方法
US8505804B2 (en) * 2007-03-22 2013-08-13 Tanaka Kikinzoku Kogyo K.K. Metal paste for sealing, hermetic sealing method for piezoelectric element, and piezoelectric device
US8069549B2 (en) * 2007-03-22 2011-12-06 Seiko Epson Corporation Method for sealing a quartz crystal device
JP5087323B2 (ja) * 2007-06-12 2012-12-05 日本電波工業株式会社 表面実装用とした接合型の水晶発振器
CN101790787B (zh) * 2007-08-23 2012-07-18 株式会社大真空 电子部件用封装、电子部件用封装的基底、以及电子部件用封装与电路基板的接合结构
JP2009054750A (ja) 2007-08-27 2009-03-12 Kyocera Corp 電子部品搭載用パッケージおよびそれを用いた電子装置
US7755261B2 (en) * 2007-10-19 2010-07-13 Seiko Epson Corporation Electronic component, mounting structure thereof, and method for mounting electronic component
JP2009146645A (ja) * 2007-12-12 2009-07-02 Toyota Motor Corp 溶接構造体の製造方法及び電池の製造方法
JP2009295780A (ja) * 2008-06-05 2009-12-17 Daishinku Corp 表面実装型電子部品の製造方法
DE102008037359A1 (de) * 2008-08-12 2010-02-18 Gsi Helmholtzzentrum Für Schwerionenforschung Gmbh Werkstückanordnung
JP5123225B2 (ja) 2009-01-28 2013-01-23 パナソニック株式会社 赤外線センサ素子のパッケージ
JP2010178113A (ja) 2009-01-30 2010-08-12 Kyocera Kinseki Corp 圧電デバイス
CN102498666B (zh) * 2009-09-18 2015-10-14 株式会社大真空 压电振动片以及压电振动片的制造方法
JP2011142374A (ja) * 2010-01-05 2011-07-21 Seiko Epson Corp 圧電デバイス、圧電デバイスの製造方法
JP2011146973A (ja) * 2010-01-15 2011-07-28 Seiko Epson Corp 圧電デバイスの製造方法
JP5853702B2 (ja) * 2010-01-29 2016-02-09 株式会社大真空 圧電振動デバイス
WO2011118415A1 (ja) * 2010-03-24 2011-09-29 株式会社大真空 電子部品用パッケージのベース、電子部品用パッケージ
EP2555426B1 (en) * 2010-04-01 2019-01-09 Daishinku Corporation Base of surface-mount-type electronic component-use package, and surface-mount-type electronic component-use package
JP5123987B2 (ja) * 2010-05-28 2013-01-23 日本電波工業株式会社 圧電デバイス、および圧電デバイスの周波数調整方法
DE102010042543B4 (de) * 2010-06-30 2017-06-29 Vectron International Gmbh Metallisierung für Hohlraumgehäuse und nicht-magnetisches hermetisch dichtes Hohlraumgehäuse
JP5915644B2 (ja) * 2011-03-18 2016-05-11 株式会社大真空 電子部品パッケージ、電子部品、及び電子部品パッケージの製造方法
JP5838689B2 (ja) * 2011-09-26 2016-01-06 セイコーエプソン株式会社 センサー素子、センサー素子の製造方法、センサーデバイスおよび電子機器
JP5977021B2 (ja) * 2011-11-30 2016-08-24 日本電波工業株式会社 表面実装型圧電発振器
CN104115395B (zh) * 2012-02-28 2017-06-09 株式会社大真空 表面安装型压电振荡器
JP6044101B2 (ja) * 2012-04-10 2016-12-14 セイコーエプソン株式会社 センサーデバイス、センサーデバイスの製造方法および電子機器
JP6155551B2 (ja) * 2012-04-10 2017-07-05 セイコーエプソン株式会社 電子デバイス、電子機器および電子デバイスの製造方法
JP6051577B2 (ja) * 2012-04-20 2016-12-27 セイコーエプソン株式会社 電子デバイスおよび電子機器
US9831414B2 (en) * 2012-06-19 2017-11-28 Daishinku Corporation Surface mounted piezoelectric vibrator
JP2014036081A (ja) * 2012-08-08 2014-02-24 Seiko Epson Corp 電子デバイスの製造方法、電子デバイス、電子機器、および移動体
JP2014086522A (ja) * 2012-10-23 2014-05-12 Seiko Epson Corp 電子デバイスの製造方法、電子部品用容器の接合装置、電子機器、及び移動体機器
CN103837145B (zh) * 2012-11-26 2018-12-28 精工爱普生株式会社 电子器件及其制造方法、盖体、电子设备以及移动体
CN103972180A (zh) * 2013-01-30 2014-08-06 精工爱普生株式会社 电子装置的制造方法、电子装置、电子设备以及移动体
DE102013002628B4 (de) * 2013-02-18 2014-09-04 Tesat-Spacecom Gmbh & Co.Kg Gehäuse und Verfahren zum Verbinden zweier Gehäuseteile
CN104038305A (zh) * 2013-03-05 2014-09-10 住友电气工业株式会社 封装部件、光设备封装构造体、封装部件的制造方法及光设备封装构造体的制造方法
JP2014197575A (ja) * 2013-03-29 2014-10-16 セイコーエプソン株式会社 パッケージ、電子デバイス、電子デバイスの製造方法、電子機器、及び移動体

Also Published As

Publication number Publication date
US20140084752A1 (en) 2014-03-27
US9660176B2 (en) 2017-05-23
CN103681519B (zh) 2017-11-14
JP2014067849A (ja) 2014-04-17
CN103681519A (zh) 2014-03-26

Similar Documents

Publication Publication Date Title
JP6167494B2 (ja) 電子デバイス用容器の製造方法、電子デバイスの製造方法、電子デバイス、電子機器及び移動体機器
KR101379786B1 (ko) 압전 진동 장치
JP4864152B2 (ja) 表面実装用の水晶振動子
US20140111919A1 (en) Method for manufacturing electronic device, bonding device for electronic component container, electronic apparatus, and apparatus for moving object
WO2003044857A1 (fr) Boitier pour composant electronique, et dispositif vibrant piezo-electrique utilisant le boitier pour composant electronique
JP7396496B2 (ja) 恒温槽型圧電発振器
JP5282392B2 (ja) 直接接合用ウェハ
JP2010103950A (ja) 振動子及びその製造方法
US12136909B2 (en) Vibrator element including base part, vibrating arm and weight provided to vibrating arm, vibrator device including vibrator element, and method of manufacturing vibrator element
JP2004229255A (ja) 水晶振動子セラミックパッケージ
TWI792541B (zh) 恆溫槽型壓電振盪器
JP2008131549A (ja) 水晶振動デバイス
JP2013153455A (ja) 接合用ウェハ
JP2006196932A (ja) 音叉型圧電デバイスの製造方法および音叉型圧電デバイス
JP2014086842A (ja) 圧電振動デバイス
JP4893578B2 (ja) 電子部品の封止方法
JP2009239475A (ja) 表面実装型圧電発振器
US20210265975A1 (en) Vibrator element, vibrator device, and method of manufacturing vibrator element
JP5432533B2 (ja) 電子デバイスの製造方法
WO2018070336A1 (ja) 圧電振動子及び圧電発振装置並びにこれらの製造方法
JP2010273006A (ja) 振動デバイス
JP2020167584A (ja) 振動素子、振動子及び振動素子の製造方法
JP4706546B2 (ja) 圧電振動デバイスの製造方法
JP2013024828A (ja) 物理量検出器、物理量検出デバイス、電子機器及び物理量検出器の製造方法
JP6698338B2 (ja) 音叉型水晶素子及びその音叉型水晶素子が実装された水晶デバイス

Legal Events

Date Code Title Description
A521 Request for written amendment filed

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523

Effective date: 20140314

RD04 Notification of resignation of power of attorney

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A7424

Effective date: 20150108

A521 Request for written amendment filed

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523

Effective date: 20150807

A621 Written request for application examination

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A621

Effective date: 20150807

RD04 Notification of resignation of power of attorney

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A7424

Effective date: 20160610

RD03 Notification of appointment of power of attorney

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A7423

Effective date: 20160624

A977 Report on retrieval

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A971007

Effective date: 20160711

A131 Notification of reasons for refusal

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131

Effective date: 20160726

A521 Request for written amendment filed

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523

Effective date: 20160909

A131 Notification of reasons for refusal

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131

Effective date: 20161129

A521 Request for written amendment filed

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523

Effective date: 20170120

TRDD Decision of grant or rejection written
A01 Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01

Effective date: 20170530

A61 First payment of annual fees (during grant procedure)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A61

Effective date: 20170612

R150 Certificate of patent or registration of utility model

Ref document number: 6167494

Country of ref document: JP

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R150

LAPS Cancellation because of no payment of annual fees