JP4350568B2 - 内部電圧発生回路 - Google Patents

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Description

本発明は半導体メモリ装置に係り、特に半導体メモリ装置の内部電圧発生回路に関する。
従来の半導体メモリ装置の内部電圧発生回路は、大別して、メモリセルアレイのための内部電圧発生回路とメモリセルアレイの周辺回路のための内部電圧発生回路とで構成される。
これらのうち、メモリセルアレイのための内部電圧発生回路は、ビットラインの電圧を感知し、内部電圧レベルに増幅するPMOSビットラインセンス増幅器に内部電圧を供給する。
そして、従来の半導体メモリ装置のメモリセルアレイのための内部電圧発生回路は、ビットラインセンシング動作が実行される時発生する内部電圧のレベル降下を防止するためにオーバードライビングトランジスタを備える。それにより、ビットラインセンシング動作が実行される前に、内部電圧のレベルを上昇させて措くことにより、ビットラインセンシング動作が実行される時の内部電圧のレベル降下が防止されるようになる。これにより、ビットラインが内部電圧レベルに速く増幅できるようになり、リード及びライト速度が遅れなくなる。
図1は、従来の内部電圧発生回路の構成の一例を示したもので、内部電圧発生回路10は比較器11、NMOSトランジスタN1、及びPMOSトランジスタP1で構成されている。
図1で、NMOSトランジスタN1は、PMOSトランジスタP1のオーバードライビングを制御するためのオーバードライビング制御トランジスタであって、PMOSトランジスタP1は内部電圧VCCAをドライビングするためのドライバである。
VREFAは、内部電圧VCCAのための基準電圧を、VEXTは半導体メモリ装置外部から印加される外部電源電圧を示している。PACTはアクティブ信号であって、半導体メモリ装置にアクティブ命令が印加されて、ビットラインセンシング動作が実行される前に発生する所定のパルス幅を有するパルス信号である。
図1に示した回路の動作を説明すると次の通りである。
まず、“ロー”レベルのアクティブ信号PACTが印加されてNMOSトランジスタN1がオフされると、PMOSトランジスタP1は正常ドライビング動作を実行する。“ハイ”レベルのアクティブ信号PACTが印加されてNMOSトランジスタN1がオンされると、PMOSトランジスタP1はオーバードライビング動作を実行する。
正常ドライビング動作時に内部電圧VCCAのレベルが基準電圧VREFAのレベルより低い場合に、比較器11は基準電圧VREFAと内部電圧VCCAとを比較してノードAの電圧を低下させる。すると、PMOSトランジスタP1は駆動能力が向上し、内部電圧VCCAのレベルを上昇させる。
一方、正常ドライビング動作時に内部電圧VCCAのレベルが基準電圧VREFAのレベルより高い場合には、比較器11は基準電圧VREFAと内部電圧VCCAとを比較してノードAの電圧を上昇させる。すると、PMOSトランジスタP1の駆動能力が低くなって内部電圧VCCAのレベルを低下させる。
内部電圧発生回路は、正常ドライビング動作時に上述したような動作を反復的に実行することにより内部電圧VCCAを基準電圧VREFAレベルに維持する。
そして、オーバードライビング動作時にはNMOSトランジスタN1がオンされてノードAのレベルを正常ドライビング動作時よりさらに低下させる。すると、PMOSトランジスタP1の駆動能力が正常ドライビング動作時よりさらに向上して内部電圧VCCAのレベルを基準電圧VREFAレベルよりさらに高いレベルにオーバードライビングする。
ところが、この時、外部電源電圧VEXTのレベルが上昇すると、PMOSトランジスタP1のゲートとソースとの間の電圧差が大きくなってPMOSトランジスタP1の駆動能力が必要以上に上昇するようになって内部電圧VCCAのレベルがオーバーシューティングされるようになる。すなわち、内部電圧VCCAのレベルが、オーバードライビングすることを所望する電圧(以下、目標電圧という)よりはるかに高い電圧レベルにまで上昇するようになる。
このように内部電圧VCCAのレベルが目標電圧以上にオーバーシューティングされるようになると、ビットライン電圧レベルが高まり、ライト及びリード動作時にセンシングタイムが遅れ、データライト及びリード速度が遅れるようになるという問題点がある。
図2は、従来の内部電圧発生回路のアクティブ信号PACTに対する内部電圧VCCAの変化を示すグラフであって、実線は正常にオーバードライビング動作が実行された場合を、点線は目標電圧以上にオーバーシューティングが発生した場合を示す。
図2に示したように、アクティブ信号PACTが所定のパルス幅を有して発生する場合に、低いレベルの外部電源電圧VEXTが印加されると、実線で示したように基準電圧VREFAレベルを維持した内部電圧VCCAが電圧△だけオーバードライビングされて目標電圧VREFA+△に到達するようになる。しかし、高いレベルの外部電源電圧VEXTが印加されると、点線で示したように基準電圧VREFAレベルを維持した内部電圧VCCAが目標電圧VREFA+△を越えた電圧レベルにまで上昇するようになるオーバーシューティングが発生する。これによって、ビットラインセンシング動作時に、内部電圧VCCAのレベルが基準電圧VREFAレベルに下がることができなくなり、電圧δだけ高いレベルを維持するようになる。
このように従来の内部電圧発生回路は、外部電源電圧VEXTのレベルが上昇すると、オーバードライビング動作時に目標電圧以上にオーバーシューティングが発生して内部電圧が基準電圧レベルより上昇するようになる。したがって、ビットラインセンシング動作時にセンシングタイムが増加してデータライト及びリード速度が遅れるようになる。
本発明の目的はオーバードライビング動作時に外部電源電圧のレベルが上昇しても内部電圧レベルのオーバーシューティングを改善できる内部電圧発生回路及び方法を提供することにある。
前記目的を達成するための本発明の内部電圧発生回路の第1形態は、基準電圧と内部電圧とを比較して第1駆動信号を出力する比較手段、前記第1駆動信号に応答して前記内部電圧を出力する内部電圧駆動手段、アクティブ信号に応答して前記内部電圧を感知して第2駆動信号を発生する内部電圧感知手段、及び前記第2駆動信号に応答して前記第1駆動信号を制御するオーバードライビング制御手段を備えることを特徴とする。
前記内部電圧駆動手段は、PMOSトランジスタを備え、前記オーバードライビング制御手段は前記比較回路の出力端に連結したドレインと前記第2駆動信号が印加されるゲートと接地電圧に連結したソースとを有するNMOSトランジスタを備えることを特徴とする。また、アクティブ信号は所定のパルス幅を有するパルス信号であることを特徴とする。
前記内部電圧感知手段は、前記アクティブ信号が非活性化されると前記第2駆動信号を非活性化して、前記アクティブ信号が活性化されて前記内部電圧が目標電圧より小さかったり同一であれば前記第2駆動信号を活性化して、前記内部電圧が前記目標電圧より大きければ前記第2駆動信号を非活性化することを特徴とする。
前記内部電圧感知手段は、前記アクティブ信号がローレベルならばローレベルの前記第2駆動信号を出力して、前記アクティブ信号がハイレベルであって前記内部電圧が目標電圧より小さかったり同一であればハイレベルの前記第2駆動信号を出力して、前記アクティブ信号がハイレベルであって前記内部電圧が前記目標電圧より大きければローレベルの前記第2駆動信号を出力することを特徴とする。
前記内部電圧感知手段は、前記内部電圧と接地電圧との間に連結して前記アクティブ信号を反転して反転アクティブ信号を発生する第1インバータ、前記内部電圧と接地電圧との間に連結して前記反転アクティブ信号を反転する第2インバータ、前記第2インバータの出力信号を受信して第1電圧を出力する第1電圧発生回路、前記内部電圧に連結して前記第1インバータの出力信号に応答して前記第2駆動信号を活性化する第1トランジスタ、接地電圧に連結して前記第1電圧が所定電圧を越えるとオンされて前記第2駆動信号を非活性化する第2トランジスタ、及び前記反転アクティブ信号に応答して前記第2駆動信号を非活性化するスイッチングトランジスタを備えることを特徴とする。また、前記第1トランジスタは前記内部電圧が印加されるソースと前記反転アクティブ信号が印加されるゲートと前記第2駆動信号を発生するドレインとを有したPMOSトランジスタであって、前記第2トランジスタは前記接地電圧が印加されるソースと前記第1電圧が印加されるゲートと前記第2駆動信号を発生するドレインとを有したNMOSトランジスタであって、前記スイッチングトランジスタは前記反転アクティブ信号が印加されるゲートと接地電圧に連結したソースと前記第2駆動信号を発生するドレインとを有したNMOSトランジスタであることを特徴とする。
前記目的を達成するための本発明の内部電圧発生回路の第2形態は、基準電圧と内部電圧とを比較して第1駆動信号を出力する第1比較手段、前記第1駆動信号に応答して前記内部電圧を出力する内部電圧駆動手段、前記アクティブ信号に応答して前記内部電圧を分配して分配された電圧を発生する電圧分配手段、前記分配された電圧と前記基準電圧とを比較して前記第2駆動信号を発生する第2比較手段、及び前記第2駆動信号に応答して前記第1駆動信号のレベルを制御するオーバードライビング制御手段を備えることを特徴とする。
前記オーバードライビング制御手段は、前記比較回路の出力端に連結したドレインと前記第2駆動信号が印加されるゲートと接地電圧に連結したソースとを有するNMOSトランジスタを備えることを特徴とする。
前記電圧分配手段は、前記アクティブ信号が非活性化されると前記内部電圧を出力して、前記アクティブ信号が活性化されると前記内部電圧を分配して前記分配された電圧を発生することを特徴とする。前記電圧分配手段は前記内部電圧が目標電圧より小さかったり同一であれば前記基準電圧より低い前記分配された電圧を発生して、前記内部電圧が前記目標電圧より大きければ前記基準電圧より高い前記分配された電圧を発生することを特徴とする。前記電圧分配手段は前記アクティブ信号がローレベルならば前記内部電圧を出力して、前記アクティブ信号がハイレベルならば前記内部電圧を分配して前記分配された電圧を発生することを特徴とする。
前記電圧分配手段は、前記内部電圧と第1ノードとに連結した第1負荷、前記第1ノードと第2ノードとの間に連結した第2負荷、及び前記第2ノードに連結したドレインと前記アクティブ信号が印加されるゲートと接地電圧に連結したソースとを有するスイッチングトランジスタを備えて、前記第1ノードを介して前記分配された電圧を発生することを特徴とする。前記スイッチングトランジスタはNMOSトランジスタを備えることを特徴とする。
前記第2比較手段は、前記アクティブ信号が非活性化されると前記第2駆動信号を非活性化して、前記アクティブ信号が活性化されると前記基準電圧と前記分配された電圧を比較して前記分配された電圧が前記基準電圧より小さければ前記第2駆動信号を活性化して、前記分配された電圧が前記基準電圧より高ければ前記第2駆動信号を非活性化することを特徴とする。
前記第2比較手段は、前記アクティブ信号がローレベルならばローレベルの前記第2駆動信号を出力して、前記アクティブ信号がハイレベルならば前記基準電圧と前記分配された電圧を比較して前記分配された電圧が前記基準電圧より小さければハイレベルの前記第2駆動信号を発生して、前記分配された電圧が前記基準電圧より高ければローレベルの前記第2駆動信号を発生することを特徴とする。
前記第2比較手段は、前記アクティブ信号を反転して反転アクティブ信号を発生する第1インバータ、前記反転アクティブ信号に応答して前記第2駆動信号を非活性化するスイッチングトランジスタ、及び前記基準電圧と前記第1ノードの電圧とを比較して前記第1ノードの電圧が前記基準電圧より低ければ前記第2駆動信号を活性化して、前記第1ノードの電圧が前記基準電圧より高ければ前記第2駆動信号を非活性化する比較器を備えることを特徴とする。前記スイッチングトランジスタは前記反転アクティブ信号が印加されるゲートと接地電圧に連結したソースと前記第2駆動信号を発生するドレインとを有したNMOSトランジスタであることを特徴とする。
前記目的を達成するための本発明の内部電圧発生回路の第3形態は、基準電圧と比較電圧とを比較して第1駆動信号を出力する比較手段、前記第1駆動信号に応答して内部電圧を出力する内部電圧駆動手段、及び正常ドライビング動作時には前記内部電圧を入力して前記比較電圧を発生して、オーバードライビング動作時にはアクティブ信号に応答して前記内部電圧を分配して分配された内部電圧を前記比較電圧として発生する電圧分配手段を含むことを特徴とする。
前記電圧分配手段は、前記アクティブ信号が非活性化されると前記内部電圧を出力して、前記アクティブ信号が活性化されると前記内部電圧を分配して前記分配された内部電圧を発生することを特徴とする。前記電圧分配手段は前記内部電圧が目標電圧より小さかったり同一であれば前記基準電圧より低い前記分配された内部電圧を発生して、前記内部電圧が前記目標電圧より大きければ前記基準電圧より高い前記分配された内部電圧を発生することを特徴とする。
前記電圧分配手段は、前記アクティブ信号がローレベルならば前記内部電圧を出力して、前記アクティブ信号がハイレベルならば前記内部電圧を分配して前記分配された内部電圧を発生することを特徴とする。
前記電圧分配手段は、前記内部電圧と第1ノードとに連結した第1負荷、前記第1ノードと第2ノードとの間に連結した第2負荷、及び前記第2ノードに連結したドレインと前記アクティブ信号が印加されるゲートと接地電圧に連結したソースとを有するスイッチングトランジスタを備え、前記第1ノードを介して前記分配された内部電圧を発生することを特徴とする。
前記目的を達成するための本発明の内部電圧発生方法は、内部電圧と基準電圧とを比較して第1駆動信号を発生する段階、前記第1駆動信号に応答して前記内部電圧を出力する段階、アクティブ信号に応答して前記内部電圧を検出して第2駆動信号を出力する段階、及び前記第2駆動信号に応答して前記第1駆動信号を制御する段階を備えることを特徴とする。
前記方法は、前記アクティブ信号が非活性化されると前記第2駆動信号を非活性化する段階、前記アクティブ信号が活性化されて前記内部電圧が目標電圧より小さかったり同一であれば前記第2駆動信号を活性化する段階、及び前記アクティブ信号が活性化されて前記内部電圧が前記目標電圧より大きければ前記第2駆動信号を非活性化する段階をさらに備えることを特徴とする。
また、前記方法は、前記アクティブ信号がローレベルならばローレベルの前記第2駆動信号を出力する段階、前記アクティブ信号がハイレベルであって前記内部電圧が目標電圧より小さかったり同一であればハイレベルの前記第2駆動信号を出力する段階、及び前記アクティブ信号がハイレベルであって前記内部電圧が前記目標電圧より高ければローレベルの前記第2駆動信号を出力する段階をさらに備えることを特徴とする。
本発明の内部電圧発生回路は、アクティブ信号が活性化された区間で内部電圧の変化を監視して内部電圧が目標電圧を越えるとオーバードライビング動作を中止して、目標電圧内にあればオーバードライビング動作を実行する動作を可変的に実行することによって外部電源電圧が増加しても内部電圧がオーバーシューティングされることを改善できる。
したがって、本発明の内部電圧発生回路が適用される半導体メモリ装置のビットラインセンシング速度が改善されてデータリード及びライト速度が遅れなくなる。
本発明と本発明の動作上の利点及び本発明の実施によって達成される目的を十分に理解するためには、本発明の望ましい実施例を例示する添付図面及び添付図面に記載された内容を参照しなければならない。
以下、添付した図面を参照して本発明の内部電圧発生回路を説明する。各図面に付された同一の参照符号は同一部材を示す。
図3は、本発明の内部電圧発生回路の第1実施例の構成を示したもので、内部電圧発生回路20は比較器11、NMOSトランジスタN1、PMOSトランジスタP1、及び内部電圧感知器21で構成されている。
図3において、図1に示した構成と同一参照符号で示した構成は、図1に示した構成と同一の機能を実行するので図1の説明を参考にすれば容易に理解できるはずである。
図3において、内部電圧感知器21は、アクティブ信号PACTに応答して内部電圧VCCAを感知して、内部電圧VCCAのレベルが目標電圧内にあれば信号VAを活性化し、内部電圧VCCAのレベルが目標電圧を外れると信号VAを非活性化する。すなわち、内部電圧感知器21はアクティブ信号PACTが非活性化されると“ロー”レベルの信号VAを発生し、アクティブ信号PACTが活性化されると内部電圧VCCAのレベルを感知して内部電圧VCCAのレベルが目標電圧内にあれば“ハイ”レベルの信号VAを発生し、内部電圧VCCAのレベルが目標電圧を外れると“ロー”レベルの信号VAを発生する。
図3に示した回路の作動を説明すると次の通りである。
まず、“ロー”レベルのアクティブ信号PACTが発生すると内部電圧感知器21は、“ロー”レベルの信号VAを発生して、NMOSトランジスタN1はオフされる。この状態において、内部電圧発生回路20は図1に示した回路と同様に内部電圧VCCAレベルを基準電圧VREFレベルに維持するための正常ドライビング動作を実行する。
そして、“ハイ”レベルのアクティブ信号PACTが発生すると内部電圧感知器21は、内部電圧VCCAのレベルを感知して内部電圧VCCAレベルが目標電圧内にあれば“ハイ”レベルの信号VAを発生し、これによりNMOSトランジスタN1はオンされる。すると、ノードAのレベルが正常ドライビング動作時よりさらに低くなってPMOSトランジスタP1の駆動能力が正常ドライビング動作時よりさらに向上し、PMOSトランジスタP1がオーバードライビング動作を実行するようになる。ところが、この時、内部電圧VCCAのレベルが目標電圧を外れるようになれば内部電圧感知器21は“ロー”レベルの信号VAを発生し、これによりNMOSトランジスタN1がオフされる。そうすると、PMOSトランジスタP1の駆動能力が正常ドライビング動作時の駆動能力に低下し、オーバードライビング動作を中止するようになる。
すなわち、図3に示した内部電圧感知器21は、アクティブ信号PACTが活性化された状態で内部電圧VCCAのレベルを監視し、目標電圧内にあればNMOSトランジスタN1をオンしてオーバードライビング動作を実行し、目標電圧を外れるとNMOSトランジスタN1をオフしてオーバードライビング動作を中止する。
図4は、図3に示した内部電圧発生回路の内部電圧感知器の第1実施例の構成を示す。内部電圧感知器21はインバータI1、I2、PMOSトランジスタP2、P3、NMOSトランジスタN2、N3、及び抵抗R1で構成されている。
図4において、インバータI1、I2のそれぞれの電源電圧として内部電圧VCCAが印加されるように構成されている。
図4に示した内部電圧感知器を構成する構成要素それぞれの機能を説明すると次の通りである。
インバータI1は、アクティブ信号PACTを反転して反転アクティブ信号PACTBを発生する。インバータI2は反転アクティブ信号PACTBを反転する。PMOSトランジスタP2はインバータI2の出力信号の電圧レベルをPMOSトランジスタP2のしきい電圧VTPレベルだけ低下させる。PMOSトランジスタP2と抵抗R1とはインバータI2の出力信号の電圧を分配してノードBに分配された電圧を発生する。NMOSトランジスタN2はノードBの電圧レベルがNMOSトランジスタN2のしきい電圧VTNより大きければオンされ、小さければオフされる。そして、PMOSトランジスタP3は“ロー”レベルの反転アクティブ信号PACTBに応答してオンされ、ノードBの電圧レベルを上昇させる。NMOSトランジスタN3は“ハイ”レベルの反転アクティブ信号PACTBに応答してオンされ、正常ドライビング動作時に信号VAがフローティングされることを防止する。
図4に示した内部電圧発生回路の内部電圧感知器の動作を説明すると次の通りである。
“ロー”レベルのアクティブ信号PACTが印加されるとインバータI1は“ハイ”レベルの信号を発生する。これにより、PMOSトランジスタP3がオフされ、NMOSトランジスタN3がオンされて“ロー”レベルの信号VAを発生する。すると、NMOSトランジスタN1がオフされ、PMOSトランジスタP1は比較器11の出力信号に応答して正常ドライビング動作を実行する。
“ハイ”レベルのアクティブ信号PACTが印加されるとインバータI1は“ロー”レベルの信号を発生する。これにより、PMOSトランジスタP3がオンされ“ハイ”レベルの信号VAを発生する。そして、“ハイ”レベルの信号VAに応答してNMOSトランジスタN1がオンされ、ノードAの電圧レベルを低下させる。すると、PMOSトランジスタP1がオーバードライビング動作を実行するようになる。
そして、インバータI2は、“ハイ”レベルの信号を発生する。この時、インバータI2の出力電圧のレベルは内部電圧VCCAレベルになる。PMOSトランジスタP2と抵抗R1とは内部電圧VCCAレベルを電圧分配し、ノードBに分配された電圧を発生する。NMOSトランジスタN2はノードBの電圧レベルがNMOSトランジスタN2のしきい電圧VTNより低ければ(すなわち、内部電圧VCCAのレベルが目標電圧内にあれば)オフされ“ハイ”レベルの信号VAを維持する。すると、NMOSトランジスタN1によるノードAの電圧減少が続いてPMOSトランジスタP1の駆動能力を継続的に上昇させる。すなわち、PMOSトランジスタP1はオーバードライビング動作を継続的に実行する。
一方、NMOSトランジスタN2は、ノードBの電圧レベルがNMOSトランジスタN2のしきい電圧VTNより高ければ(すなわち、内部電圧VCCAのレベルが目標電圧を外れると)オンされ、信号VAの電圧レベルを低下させる。すると、NMOSトランジスタN1によるノードAの電圧減少が減るようになってPMOSトランジスタP1の駆動能力が正常ドライビング動作時の駆動能力よりも低くなるようになる。これにより、PMOSトランジスタP1はオーバードライビング動作を中止するようになる。
すなわち、図4に示した内部電圧感知器は、“ハイ”レベルのアクティブ信号PACTが発生する場合にもオーバードライビング動作の制御が可能であって、内部電圧VCCAのレベルが目標電圧内にあればNMOSトランジスタN2をオンしてPMOSトランジスタP1がオーバードライビング動作を実行する。また、内部電圧VCCAのレベルが目標電圧を外れるとNMOSトランジスタN2をオフし、PMOSトランジスタP1がオーバードライビング動作を実行しないようにすることによって内部電圧VCCAレベルのオーバーシューティングを防止する。
図5は、図3に示した本発明の内部電圧発生回路の内部電圧感知器の第2実施例の構成を示すブロック図であって、内部電圧感知器21は電圧分配器22と電圧比較器23とで構成されている。
図5に示した内部電圧感知器のブロックそれぞれの機能を説明すると次の通りである。
電圧分配器22は、アクティブ信号PACTに応答して内部電圧VCCAを分配する。電圧比較器23は電圧分配器22によって分配された電圧と基準電圧VREFAとを比較して信号VAを発生する。
図5に示した内部電圧感知器の動作を説明すると次の通りである。
“ロー”レベルのアクティブ信号PACTが発生すれば電圧分配器22は、電圧分配動作を実行しないようになる。電圧比較器23は“ロー”レベルのアクティブ信号PACTに応答して“ロー”レベルの信号VAを発生する。したがって、NMOSトランジスタN1がオフされてPMOSトランジスタP1は正常ドライビング動作を実行するようになる。
そして、“ハイ”レベルのアクティブ信号PACTが発生すれば電圧分配器22は、内部電圧VCCAを分配して分配された電圧を発生する。内部電圧VCCAが目標電圧内にあれば基準電圧VREFAより低いレベルの分配された電圧を発生し、目標電圧を外れるようになれば電圧分配器22は基準電圧VREFAより高いレベルの分配された電圧を発生する。電圧比較器23は分配された電圧と基準電圧VREFAとを比較して分配された電圧が基準電圧VREFAより低ければ“ハイ”レベルの信号VAを発生し、基準電圧VREFAより高ければ“ロー”レベルの信号VAを発生する。
したがって、内部電圧感知器21は、内部電圧VCCAが目標電圧内にあれば“ハイ”レベルの信号VAを発生してNMOSトランジスタN1をオンすることによってPMOSトランジスタP1がオーバードライビング動作を実行する。また、内部電圧VCCAが目標電圧を外れるようになれば“ロー”レベルの信号VAを発生してNMOSトランジスタN1をオフすることによってPMOSトランジスタP1がオーバードライビング動作を中止するようにする。
図6は、図5に示した内部電圧発生回路の内部電圧感知器の具体的な実施例の構成を示したもので、電圧分配器22は抵抗R2、R3、及びNMOSトランジスタN4で構成され、電圧比較器23は比較器COM、インバータI3、及びNMOSトランジスタN5で構成されている。抵抗R2、R3はMOSトランジスタでも実現可能である。
図6において、インバータI3の電源電圧として内部電圧VCCAが印加されるように構成されている。
図6に示した内部電圧感知器を構成する構成要素それぞれの機能を説明すると次の通りである。
NMOSトランジスタN4は、“ハイ”レベルのアクティブ信号PACTに応答してオンされる。抵抗R2、R3はNMOSトランジスタN4がオンされると内部電圧VCCAを分配し、ノードCに分配された電圧を発生する。比較器COMは基準電圧VREFAと分配された電圧とを比較して信号VAを発生する。インバータI3はアクティブ信号PACTを反転し、反転アクティブ信号PACTBを発生する。NMOSトランジスタN5は“ハイ”レベルの反転アクティブ信号PACTBに応答してオンされ、“ロー”レベルの信号VAを発生する。NMOSトランジスタN5は正常ドライビング動作時に信号VAがフローティングされることを防止する。
図6に示した内部電圧感知器の動作を説明すると次の通りである。
“ロー”レベルのアクティブ信号PACTが印加されるとインバータI3は、“ハイ”レベルの反転アクティブ信号PACTBを発生する。これにより、NMOSトランジスタN5がオンされて“ロー”レベルの信号VAを発生する。すると、NMOSトランジスタN1がオフされ、PMOSトランジスタP1は正常ドライビング動作を実行するようになる。
“ハイ”レベルのアクティブ信号PACTが印加されると、NMOSトランジスタN4がオンされ、電圧分配器22はノードCに抵抗R2、R3によって分配された電圧を発生する。電圧分配器22は内部電圧VCCAのレベルが目標電圧内にあれば基準電圧VREFAより低い分配された電圧をノードCに発生し、目標電圧を外れると基準電圧VREFAより高い分配された電圧をノードCに発生する。インバータI3は“ロー”レベルの反転アクティブ信号PACTBを発生し、これによりNMOSトランジスタN5はオフされる。比較器COMはノードCの電圧と基準電圧VREFAとを比較してノードCの電圧が基準電圧VREFAより低ければ“ハイ”レベルの信号VAを発生し、高ければ“ロー”レベルの信号を発生する。“ハイ”レベルの信号VAが発生すればNMOSトランジスタN1がオンされてPMOSトランジスタP1はオーバードライビング動作を実行するようになる。また、“ロー”レベルの信号VAが発生すればNMOSトランジスタN1がオフされてPMOSトランジスタP1はオーバードライビング動作を中止するようになる。
図7は、本発明の内部電圧発生回路の第2実施例の構成を示す。内部電圧発生回路30は比較器11、PMOSトランジスタP1、及び電圧分配器31で構成されている。
図7に示した内部電圧発生回路は、NMOSトランジスタN1を用いず、電圧分配器31を用いて比較器11に印加される信号VCの電圧レベルを調節することによってオーバードライビング動作を制御する。
図7に示した内部電圧発生回路の動作を説明すると次の通りである。
“ロー”レベルのアクティブ信号PACTが印加されると電圧分配器31は、内部電圧VCCAを電圧VCとして発生する。比較器11は電圧VCが基準電圧VREFAより低ければ出力電圧のレベルを低下させ、基準電圧VREFAより高ければ出力電圧のレベルを上昇させる動作を反復的に実行する。PMOSトランジスタP1は比較器11の出力電圧によって正常ドライビング動作を実行して内部電圧VCCAのレベルを基準電圧VREFAレベルに維持する。
“ハイ”レベルのアクティブ信号PACTが印加されると、電圧分配器31は内部電圧VCCAを分配した電圧を電圧VCとして発生する。電圧分配器31は内部電圧VCCAが目標電圧内にあれば内部電圧VCCAを分配して正常ドライビング動作時よりさらに低いレベルの電圧VCを発生し、目標電圧を外れると内部電圧VCCAを分配して基準電圧VREFAより高いレベルの電圧VCを発生する。比較器11は正常動作時よりさらに低いレベルの電圧VCが入力されると、正常動作時よりさらに低いレベルの出力電圧を発生してPMOSトランジスタP1がオーバードライビング動作を実行するようにし、基準電圧VREFAより高いレベルの電圧VCが入力されると出力電圧のレベルを上昇させてPMOSトランジスタP1がオーバードライビング動作を中止するようにする。
図8は、図7に示した内部電圧発生回路の電圧分配器の実施例の構成を示す。電圧分配器31は抵抗R4、R5、及びNMOSトランジスタN6で構成されている。
図8に示した電圧分配器の動作を説明すると次の通りである。
“ロー”レベルのアクティブ信号PACTが印加されるとNMOSトランジスタN6がオフされて、電圧分配器31は内部電圧VCCAを電圧VCとして出力する。
“ハイ”レベルのアクティブ信号PACTが印加されるとNMOSトランジスタN6がオンされ、電圧分配器31は抵抗R4と抵抗R5とによって分配された電圧VCを発生する。この時、電圧分配器31から出力される電圧VCは内部電圧VCCAが目標電圧内にあれば正常ドライビング動作時の電圧VCより低い電圧を発生し、内部電圧VCCAが目標電圧を外れると基準電圧VREFAより高い電圧を発生する。これは電圧分配器31の抵抗R4、R5の値を適切に調節するにより可能になる。抵抗R4、R5はMOSトランジスタでも実現可能である。
したがって、図8に示した内部電圧発生回路は、アクティブ信号PACTが活性化された状態において、内部電圧VCCAが目標電圧内にあればオーバードライビング動作を実行し、目標電圧を外れるとオーバードライビング動作を中止する。
図9は、図3に示した本発明の内部電圧発生回路の内部電圧VCCAと信号VAの変化をシミュレーションしたグラフである。
図9に示したグラフは、内部電圧発生回路の基準電圧VREFAが約1.6V、目標電圧1.6+△(=0.4V)が約2.0Vに設計されている。約4Vの高い外部電源電圧VEXTが印加されて“ハイ”レベルのアクティブ信号PACTが発生する場合の内部電圧VCCAと信号VAの変化を示す。
“ハイ”レベルのアクティブ信号PACTが発生すれば、信号VAが“ハイ”レベルに遷移する。すると、図3に示したNMOSトランジスタN1がオンされてPMOSトランジスタP1がオーバードライビング動作を実行する。すると、内部電圧VCCAのレベルが上昇するようになる。
内部電圧VCCAのレベルが目標電圧を外れると信号VAが“ロー”レベルに遷移するようになって、これにより、図3に示したNMOSトランジスタN1がオフされてPMOSトランジスタP1はオーバードライビング動作を中止する。すると、内部電圧VCCAのレベルが低下するようになる。
そして、内部電圧VCCAのレベルが目標電圧以下に下がると信号VAが再び“ハイ”レベルに遷移するようになる。そうすると、図3に示したNMOSトランジスタN1が再びオンされてPMOSトランジスタP1はオーバードライビング動作を再び実行する。
図9に示したグラフから分かるように、本発明の内部電圧発生回路は、アクティブ信号が活性化された区間でオーバードライビング動作を継続的に実行するのではなく、内部電圧のレベルが目標電圧内にあればオーバードライビング動作を実行して、目標電圧以上にオーバードライビングされてオーバーシューティングになればオーバードライビング動作を中止することが可能である。
本発明の内部電圧発生回路は、アクティブ信号が活性化された区間で内部電圧の変化を監視して内部電圧が目標電圧を越えるとオーバードライビング動作を中止し、目標電圧内にあればオーバードライビング動作を実行する動作を可変的に実行するので外部電源電圧が増加しても内部電圧がオーバーシューティングされることを改善できる。
したがって、本発明の内部電圧発生回路が適用される半導体メモリ装置のビットラインセンシング速度が改善され、データリード及びライト速度が遅れなくなる。
本発明は図面に示した実施例を参考しながら説明したがこれは例示に過ぎず、本技術分野の通常の知識を有する者ならばここから多様な変形及び均等な他の実施例が可能であるという点を理解するはずである。したがって、本発明の真の技術的保護範囲は添付された登録請求範囲の技術的思想により決まらなければならない。
従来の内部電圧発生回路の構成の一例を示すものである。 従来の内部電圧発生回路のアクティブ信号PACTに対する内部電圧VCCAの変化を示すグラフである。 本発明の内部電圧発生回路の第1実施例の構成を示すものである。 図3に示した内部電圧発生回路の内部電圧感知器の第1実施例の構成を示すものである。 図3に示した本発明の内部電圧発生回路の内部電圧感知器の第2実施例の構成を示すブロック図である。 図5に示した内部電圧発生回路の内部電圧感知器の具体的な実施例の構成を示すものである。 本発明の内部電圧発生回路の第2実施例の構成を示すものである。 図7に示した内部電圧発生回路の電圧分配器の実施例の構成を示すものである。 図3に示した本発明の内部電圧発生回路の内部電圧VCCAと信号VAの変化をシミュレーションしたグラフである。

Claims (13)

  1. 基準電圧と内部電圧とを比較して第1駆動信号を出力する比較手段と;
    前記第1駆動信号に応答して前記内部電圧を出力する内部電圧駆動手段と;
    所定のパルス幅を有するアクティブ信号に応答して前記内部電圧を感知し、第2駆動信号を発生する内部電圧感知手段と;
    前記第2駆動信号に応答して前記第1駆動信号を制御するオーバードライビング制御手段とを備え、
    前記内部電圧感知手段は、
    前記アイティブ信号が非活性化されると前記第2駆動信号を非活性化し、前記アクティブ信号が活性化され前記内部電圧が目標電圧より小さかったり同一であれば前記第2駆動信号を活性化し、前記内部電圧が前記目標電圧より大きければ前記第2駆動信号を非活性化することを特徴とする内部電圧発生回路。
  2. 基準電圧と内部電圧とを比較して第1駆動信号を出力する比較手段と;
    前記第1駆動信号に応答して前記内部電圧を出力する内部電圧駆動手段と;
    所定のパルス幅を有するアクティブ信号に応答して前記内部電圧を感知し、第2駆動信号を発生する内部電圧感知手段と;
    前記第2駆動信号に応答して前記第1駆動信号を制御するオーバードライビング制御手段とを備え、
    前記内部電圧感知手段は、
    前記内部電圧と接地電圧との間に連結して前記アクティブ信号を反転して反転アクティブ信号を発生する第1インバータと;
    前記内部電圧と接地電圧との間に連結して前記反転アクティブ信号を反転する第2インバータと;
    前記第2インバータの出力信号を受信して第1電圧を出力する第1電圧発生回路と;
    前記内部電圧に連結して前記第1インバータの出力信号に応答して前記第2駆動信号を活性化する第1トランジスタと;
    接地電圧に連結して前記第1電圧が所定電圧を越えるとオンされて前記第2駆動信号を非活性化する第2トランジスタと;
    前記反転アクティブ信号に応答して前記第2駆動信号を非活性化するスイッチングトランジスタとを備えることを特徴とする内部電圧発生回路。
  3. 前記第1トランジスタは、
    前記内部電圧が印加されるソースと、前記反転アクティブ信号が印加されるゲートと、前記第2駆動信号を発生するドレインとを有したPMOSトランジスタであることを特徴とする請求項に記載の内部電圧発生回路。
  4. 前記第2トランジスタは、
    前記接地電圧が印加されるソースと、前記第1電圧が印加されるゲートと、前記第2駆動信号を発生するドレインとを有したNMOSトランジスタであることを特徴とする請求項に記載の内部電圧発生回路。
  5. 前記スイッチングトランジスタは、
    前記反転アクティブ信号が印加されるゲートと、接地電圧に連結したソースと、前記第2駆動信号を発生するドレインとを有したNMOSトランジスタであることを特徴とする請求項に記載の内部電圧発生回路。
  6. 基準電圧と内部電圧とを比較して第1駆動信号を出力する第1比較手段と;
    前記第1駆動信号に応答して前記内部電圧を出力する内部電圧駆動手段と;
    所定のパルス幅を有するアクティブ信号に応答して前記内部電圧を分配して分配された電圧を発生する電圧分配手段と;
    前記分配された電圧と前記基準電圧とを比較して前記第2駆動信号を発生する第2比較手段と;
    前記第2駆動信号に応答して前記第1駆動信号のレベルを制御するオーバードライビング制御手段とを備え
    前記電圧分配手段は、
    前記アクティブ信号が非活性化されると前記内部電圧を出力し、前記アクティブ信号が活性化されると前記内部電圧を分配して前記分配された電圧を発生することを特徴とする内部電圧発生回路。
  7. 基準電圧と内部電圧とを比較して第1駆動信号を出力する第1比較手段と;
    前記第1駆動信号に応答して前記内部電圧を出力する内部電圧駆動手段と;
    所定のパルス幅を有するアクティブ信号に応答して前記内部電圧を分配して分配された電圧を発生する電圧分配手段と;
    前記分配された電圧と前記基準電圧とを比較して前記第2駆動信号を発生する第2比較手段と;
    前記第2駆動信号に応答して前記第1駆動信号のレベルを制御するオーバードライビング制御手段とを備え、
    前記電圧分配手段は、
    前記内部電圧が目標電圧より小さかったり同一であれば前記基準電圧より低い前記分配された電圧を発生し、前記内部電圧が前記目標電圧より大きければ前記基準電圧より高い前記分配された電圧を発生することを特徴とする内部電圧発生回路。
  8. 基準電圧と内部電圧とを比較して第1駆動信号を出力する第1比較手段と;
    前記第1駆動信号に応答して前記内部電圧を出力する内部電圧駆動手段と;
    所定のパルス幅を有するアクティブ信号に応答して前記内部電圧を分配して分配された電圧を発生する電圧分配手段と;
    前記分配された電圧と前記基準電圧とを比較して前記第2駆動信号を発生する第2比較手段と;
    前記第2駆動信号に応答して前記第1駆動信号のレベルを制御するオーバードライビング制御手段とを備え、
    前記電圧分配手段は、
    前記内部電圧と第1ノードとに連結した第1負荷と;
    前記第1ノードと第2ノードとの間に連結した第2負荷と;
    前記第2ノードに連結したドレインと、前記アクティブ信号が印加されるゲートと、接地電圧に連結したソースとを有するスイッチングトランジスタとを備え、
    前記第1ノードを介して前記分配された電圧を発生することを特徴とする内部電圧発生回路。
  9. 前記スイッチングトランジスタは、
    NMOSトランジスタで構成されたことを特徴とする請求項に記載の内部電圧発生回路。
  10. 基準電圧と内部電圧とを比較して第1駆動信号を出力する第1比較手段と;
    前記第1駆動信号に応答して前記内部電圧を出力する内部電圧駆動手段と;
    所定のパルス幅を有するアクティブ信号に応答して前記内部電圧を分配して分配された電圧を発生する電圧分配手段と;
    前記分配された電圧と前記基準電圧とを比較して前記第2駆動信号を発生する第2比較手段と;
    前記第2駆動信号に応答して前記第1駆動信号のレベルを制御するオーバードライビング制御手段とを備え、
    前記第2比較手段は、
    前記アクティブ信号が非活性化されると前記第2駆動信号を非活性化し、前記アクティブ信号が活性化されると前記基準電圧と前記分配された電圧とを比較して前記分配された電圧が前記基準電圧より小さければ前記第2駆動信号を活性化し、前記分配された電圧が前記基準電圧より高ければ前記第2駆動信号を非活性化することを特徴とする内部電圧発生回路。
  11. 基準電圧と内部電圧とを比較して第1駆動信号を出力する第1比較手段と;
    前記第1駆動信号に応答して前記内部電圧を出力する内部電圧駆動手段と;
    所定のパルス幅を有するアクティブ信号に応答して前記内部電圧を分配して分配された電圧を発生する電圧分配手段と;
    前記分配された電圧と前記基準電圧とを比較して前記第2駆動信号を発生する第2比較手段と;
    前記第2駆動信号に応答して前記第1駆動信号のレベルを制御するオーバードライビング制御手段とを備え、
    前記第2比較手段は、
    前記アクティブ信号を反転して反転アクティブ信号を発生する第1インバータと;
    前記反転アクティブ信号に応答して前記第2駆動信号を非活性化するスイッチングトランジスタと;
    前記基準電圧と前記第1ノードの電圧とを比較して前記第1ノードの電圧が前記基準電圧より低ければ前記第2駆動信号を活性化して、前記第1ノードの電圧が前記基準電圧より高ければ前記第2駆動信号を非活性化する比較器を備えることを特徴とする内部電圧発生回路。
  12. 前記スイッチングトランジスタは、
    前記反転アクティブ信号が印加されるゲートと、接地電圧に連結したソースと、前記第2駆動信号を発生するドレインとを有したNMOSトランジスタであることを特徴とする請求項11に記載の内部電圧発生回路。
  13. 内部電圧と基準電圧とを比較して第1駆動信号を発生する段階と;
    前記第1駆動信号に応答して前記内部電圧を出力する段階と;
    所定のパルス幅を有するアクティブ信号に応答して前記内部電圧を検出して第2駆動信号を出力する段階と
    前記第2駆動信号に応答して前記第1駆動信号を制御する段階とを備え、
    前記第2駆動信号を出力する段階は、
    前記アクティブ信号が非活性化されると前記第2駆動信号を非活性化する段階と;
    前記アクティブ信号が活性化されて前記内部電圧が目標電圧より小さかったり同一であれば前記第2駆動信号を活性化する段階と;
    前記アクティブ信号が活性化され、前記内部電圧が前記目標電圧より大きければ前記第2駆動信号を非活性化する段階とをさらに備えることを特徴とする内部電圧発生方法。
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