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Die
Erfindung betrifft eine Spannungsgeneratorschaltung nach dem Oberbegriff
von Patentanspruch 1 und ein zugehöriges Verfahren zur Erzeugung
einer internen Spannung.
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Eine
Spannungsgeneratorschaltung zum Erzeugen einer internen Spannung
in einem herkömmlichen
Halbleiterspeicherbaustein umfasst einen Spannungsgenerator für ein Speicherzellenfeld
und einen Spannungsgenerator für
periphere Schaltungen des Speicherzellenfelds.
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Der
Spannungsgenerator für
das Speicherzellenfeld versorgt einen Bitleitungsabtastverstärker mit
einem Metall-Oxid-Halbleiter-Bauelement mit positivem Kanal (PMOS),
das eine Spannung einer Bitleitung abtastet und auf den Pegel einer
internen Spannung verstärkt,
mit der internen Spannung.
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Der
Spannungsgenerator für
das Speicherzellenfeld des herkömmlichen
Halbleiterspeicherbausteins umfasst einen Übersteuerungstransistor, der ein
Abfallen der erzeugten internen Spannung verhindert, wenn ein Bitleitungsabtastvorgang
ausgeführt
wird. Der Pegel der internen Spannung steigt vor dem Ausführen des
Bitleitungsabtastvorgangs an und verhindert ein Abfallen des Pegels
der internen Spannung, wenn der Bitleitungsabtastvorgang ausgeführt wird.
Dadurch kann die Spannung der Bitleitung schnell auf den Pegel der
internen Spannung verstärkt
werden, so dass Lese- und Schreibgeschwindigkeiten nicht verzögert werden.
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1 zeigt ein Schaltbild einer
herkömmlichen
Spannungsgeneratorschaltung 10 für die interne Spannung. Die
Spannungsgeneratorschaltung 10 umfasst einen Komparator 11,
einen Metall-Oxid-Halbleiter-Transistor
mit negativem Kanal (NMOS) N1 und einen PMOS-Transistor P1.
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In 1 ist der NMOS-Transistor
N1 als Steuertransistor zum Steuern der Übersteuerung des PMOS-Transistors
P1 ausgeführt,
der als Treiber zum Treiben einer internen Spannung VCCA ausgeführt ist.
VREFA bezeichnet eine Referenzspannung für die interne Spannung VCCA,
VEXT bezeichnet eine externe Versorgungsspannung, die von außerhalb
an den Halbleiterspeicherbaustein angelegt wird, und PACT bezeichnet
ein Aktivierungssignal und ein Pulssignal mit einer vorgegebenen
Pulsbreite, welches erzeugt wird, bevor ein Aktivierungsbefehl an
den Halbleiterspeicherbaustein angelegt und der Bitleitungsabtastvorgang
durchgeführt
wird.
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Im
Betrieb führt
der PMOS-Transistor P1 einen normalen Treibervorgang aus, wenn das
Aktivierungssignal PACT mit einem niedrigen Pegel angelegt wird,
um den NMOS-Transistor N1 der Spannungsgeneratorschaltung 10 aus 1 sperrend zu schalten.
Im Gegensatz dazu führt der
PMOS-Transistor P1 eine Übersteuerungsfunktion
aus, wenn das Aktivierungssignal PACT mit einem hohen Pegel angelegt
wird, um den NMOS-Transistor N1 leitend zu schalten.
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Ist
die interne Spannung VCCA während
eines normalen Treibervorgangs niedriger als die Referenzspannung
VREFA, dann vergleicht der Komparator 11 die interne Spannung
VCCA mit der Referenzspannung VREFA und senkt eine Spannung an einem
Knoten A ab. Daraus resultiert, dass die Treiberfähigkeit
des PMOS-Transistors P1 vergrößert wird,
wobei die interne Spannung VCCA ansteigt.
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Ist
andererseits die interne Spannung VCCA während eines normalen Treibervorgangs
höher als die
Referenzspannung VREFA, dann vergleicht der Komparator 11 die
interne Spannung VCCA mit der Referenzspannung VREFA und erhöht die Spannung am
Knoten A. Daraus resultiert, dass die Treiberfähigkeit des PMOS-Transistors
P1 verkleinert wird, wobei die interne Spannung VCCA absinkt.
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Die
Spannungsgeneratorschaltung 10 wiederholt die oben beschriebenen
Vorgänge
während eines
normalen Treiberbetriebs, um die interne Spannung VCCA auf dem gleichen
Pegel wie die Referenzspannung VREFA zu halten.
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Während eines Übersteuerungsvorgangs wird
der Transistor N1 leitend geschaltet, um den Spannungspegel am Knoten
A unter den Spannungspegel beim normalen Treiberbetrieb abzusenken.
Dadurch wird die Treiberfähigkeit
des PMOS-Transistors P1 verglichen mit dem normalen Treiberbetrieb
gesteigert, um die interne Spannung VCCA auf einen Pegel höher als
die Referenzspannung VREFA zu übersteuern.
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Wenn
jedoch die externe Versorgungsspannung VEXT ansteigt, erhöht sich
eine Spannungsdifferenz zwischen einem Gateanschluss und ei nem Sourceanschluss
des PMOS-Transistors P1, so dass die Treiberfähigkeit des PMOS-Transistors
P1 stärker
als benötigt
gesteigert wird, wodurch der Pegel der internen Spannung VCCA überschwingt.
Das bedeutet, dass der Pegel der internen Spannung VCCA für den Übersteuerungsvorgang
sehr viel höher
als ein gewünschter
Spannungspegel ist, der nachfolgend auch als Zielspannung bezeichnet
wird.
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Überschwingt
die interne Spannung VCCA oder ist sie höher als die Zielspannung, dann
wird auch der Spannungspegel der Bitleitung höher. Daraus resultiert, dass
die Abtastzeit während
der Durchführung
von Schreib- und Lesevorgängen
verzögert
wird, was zu Verzögerungen
der Datenschreib- und/oder Datenlesegeschwindigkeit führen kann.
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2 zeigt eine Darstellung
der Veränderung
der internen Spannung VCCA in Bezug auf das Aktivierungssignal PACT
in der herkömmlichen Spannungsgeneratorschaltung 10.
Eine durchgezogene Linie repräsentiert
den Übersteuerungsbetrieb und
eine gepunktete Linie repräsentiert
das Überschwingen,
wenn die interne Spannung VCCA höher als
die Zielspannung ist.
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Wie
aus 2 ersichtlich ist,
wird für
den Fall, dass das Aktivierungssignal PACT mit einer vorgegebenen
Pulsbreite erzeugt wird, die interne Spannung VCCA, die auf dem
Pegel der Referenzspannung VREFA gehalten wird, um einen Spannungswert Δ übersteuert
und erreicht die durch eine gestrichelte Linie dargestellte Zielspannung
VCCA + Δ, wenn
die externe Spannung VEXT mit einem niedrigen Pegel angelegt wird.
Wie jedoch durch die gepunktete Linie verdeutlicht wird, steigt
die interne Spannung VCCA über
den Spannungspegel der Zielspannung VCCA + Δ hinaus an, wenn die externe Spannung
VEXT mit einem hohen Pegel angelegt wird. Dadurch nimmt während eines
Bitleitungsabtastvorgangs der Pegel der internen Spannung VCCA nicht
auf den Pegel der Referenzspannung VREFA ab, sondern verbleibt auf
einem Span nungspegel VREFA + δ,
der höher
als der Pegel der Referenzspannung VREFA ist.
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Wie
oben ausgeführt
ist, kann bei der herkömmlichen
Spannungsgeneratorschaltung 10 für die interne Spannung VCCA
während
eines Übersteuerungsvorgangs
ein Überschwingen
auftreten, wenn die externe Spannung VEXT mit einem hohen Pegel
angelegt wird, wodurch die interne Spannung VCCA auf einen höheren Pegel
als die Zielspannung angehoben wird, so dass die interne Spannung VCCA
anschließend
nicht auf den Referenzspannungspegel VREFA absinkt. Dies erhöht die Abtastdauer
während
eines Bitleitungsabtastvorgangs, was zu einer Verzögerung in
der Schreib-/Lesegeschwindigkeit führt.
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Es
ist Aufgabe der Erfindung, eine Spannungsgeneratorschaltung zur
Verfügung
zu stellen, welche die genannten Unzulänglichkeiten ganz oder teilweise
vermeidet, sowie ein zugehöriges
Verfahren zur Spannungserzeugung anzugeben.
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Die
Erfindung löst
diese Aufgabe durch eine Spannungsgeneratorschaltung mit den Merkmalen des
Patentanspruchs 1, 7 oder 13 und durch ein Verfahren zur Erzeugung
einer internen Spannung mit den Merkmalen des Patentanspruchs 21.
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Vorteilhafte
Weiterbildungen der Erfindung sind in den abhängigen Ansprüchen angegeben.
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Vorteilhafte,
nachfolgend beschriebene Ausführungsformen
der Erfindung sowie das zu deren besserem Verständnis oben erläuterte,
herkömmliche
Ausführungsbeispiel
sind in den Zeichnungen dargestellt. Es zeigen:
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1 ein Schaltbild einer herkömmlichen Spannungsgeneratorschaltung,
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2 eine schematische Darstellung
der Veränderung
einer internen Spannung VCCA der herkömmlichen Spannungsgeneratorschaltung
in Bezug auf ein Aktivierungssignal,
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3 ein Schaltbild einer erfindungsgemäßen Schaltung
zur Erzeugung einer internen Spannung,
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4 ein Schaltbild eines Spannungsdetektors
der Spannungsgeneratorschaltung aus 3,
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5 ein Schaltbild eines modifizierten Spannungsdetektors
der Spannungsgeneratorschaltung aus 3,
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6 ein Schaltbild einer konkreten
schaltungstechnischen Realisierung des modifizierten Spannungsdetektors
aus 5,
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7 ein Schaltbild einer weiteren
erfindungsgemäßen Schaltung
zur Erzeugung einer internen Spannung,
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8 ein Schaltbild eines Spannungsteilers der
Spannungsgeneratorschaltung aus 7 und
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9 eine schematische Darstellung
der Veränderung
der internen Spannung VCCA und eines Signals VA in der Spannungsgeneratorschaltung aus 3.
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3 zeigt ein Schaltbild eines
Ausführungsbeispiels
einer erfindungsgemäßen Schaltung 20 zur
Erzeugung einer internen Spannung VCCA. Die Spannungsgeneratorschaltung 20 umfasst
einen Komparator 11, einen NMOS-Transistor N1, einen PMOS-Transistor
P1 und einen Spannungsdetektor 21 zum Detektieren der internen
Spannung VCCA.
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Die
gleichen Bezugszeichen in den Schaltungen aus 1 und 3 bezeichnen
Komponenten, die gleiche oder ähnliche
Funktionen ausführen.
So vergleicht der Komparator 11 beispielsweise die interne
Spannung VCCA mit einer Referenzspannung VREFA und gibt ein Treibersignal
an den PMOS-Transistor P1 aus. Im Zusammenhang mit der Beschreibung
der Ausführungsbeispiele
weist ein deaktiviertes Signal einen Spannungspegel auf, welcher
unterhalb eines vorgegebenen Spannungspegels liegt, beispielsweise
einen niedrigen logischen Spannungspegel. Analog weist ein aktiviertes
Signal einen Spannungspegel auf, welcher oberhalb eines vorgegebenen
Spannungspegels liegt, beispielsweise einen hohen logischen Spannungspegel.
Beispiele für
niedrige und hohe Pegel werden nachfolgend unter Bezugnahme auf 9 beschrieben.
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Wie
aus 3 ersichtlich ist,
detektiert der Spannungsdetektor 21 die interne Spannung
VCCA in Reaktion auf ein Aktivierungssignal PACT und aktiviert ein
Signal VA, wenn der Pegel der internen Spannung VCCA niedriger oder
gleich einer Zielspannung ist, und deaktiviert das Signal VA, wenn
die interne Spannung VCCA größer als
die Zielspannung ist. Insbesondere detektiert der Spannungsdetektor 21,
wenn das Aktivierungssignal PACT aktiviert ist, erst den Pegel der
internen Spannung VCCA und erzeugt dann das Signal VA mit einem
hohen Pegel, wenn die interne Spannung VCCA kleiner oder gleich einer
Zielspannung ist, bzw. mit einem niedrigen Pegel, wenn die interne
Spannung VCCA die Zielspannung übersteigt.
Andererseits erzeugt der Spannungsdetektor 21 das Signal
VA mit einem niedrigen Pegel, wenn das Aktivierungssignal PACT deaktiviert ist,
d.h. beispielsweise auf einem niedrigen Pegel erzeugt wird.
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Während des
Betriebs erzeugt der Detektor 21 für die interne Spannung VCCA
der Spannungsgeneratorschaltung 20 das Signal VA mit einem
niedrigen Pegel, wenn das Aktivierungssignal PACT auf einem niedrigen
Pegel erzeugt wird, und der NMOS-Transistor N1 wird sperrend geschaltet.
In diesem Zustand führt
die Spannungsgeneratorschaltung 20 einen normalen Treibervorgang
aus, um den Pegel der internen Spannung VCCA auf dem Pegel der Referenzspannung
VREFA zu halten, wobei der normale Treibervorgang auf einem vom
Komparator 11 an den PMOS-Transistor P1 übertragenen
Ausgabesignal basiert.
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Wird
das Aktivierungssignal PACT mit einem hohen Pegel erzeugt, dann
detektiert der Spannungsdetektor 21 den Pegel der internen
Spannung VCCA und erzeugt das Signal VA mit einem hohen Pegel, wenn
die interne Spannung VCCA kleiner oder gleich der Zielspannung ist,
so dass der NMOS-Transistor N1 leitend geschaltet wird. Daraus resultiert,
dass ein Spannungspegel an einem Knoten A kleiner wird als während des
normalen Treiberbetriebs und die Treiberfähigkeit des PMOS-Transistors
P1 verglichen mit dem normalen Treiberbetrieb gesteigert wird, so
dass der PMOS-Transistor P1 einen Übersteuerungsvorgang ausführt. Ist
der Pegel der internen Spannung VCCA jedoch höher als die Zielspannung, dann
erzeugt der Spannungsdetektor 21 das Signal VA mit einem
niedrigen Pegel, wodurch der NMOS-Transistor N1 sperrend geschaltet
wird. Daraus resultiert, dass die Treiberfähigkeit des PMOS-Transistors P1 verglichen
mit dem normalen Treiberbetrieb verkleinert wird, so dass der Übersteuerungsvorgang
beendet wird. Entsprechend bestimmt der korrespondierende Zustand
des NMOS-Transistors N1, d.h. leitend oder sperrend, in Abhängigkeit
vom Pegel des Signals VA, das an den NMOS-Transistor N1 angelegt
wird, ob eine Übersteuerung
auftritt.
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Das
bedeutet, dass der Spannungsdetektor 21 aus 3 den Pegel der internen
Spannung VCCA überwacht,
wenn das Aktivierungssignal PACT aktiviert ist, und den NMOS-Transistor
N1 leitend schaltet, um den Übersteuerungsvorgang
auszuführen,
wenn die interne Spannung VCCA kleiner oder gleich der Zielspannung
ist, und den NMOS-Transistor
N1 sperrend schaltet, um den Übersteuerungsvorgang
zu beenden, wenn die interne Spannung VCCA größer als die Zielspannung ist.
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4 zeigt eine schaltungstechnische
Realisierung des Spannungsdetektors 21 der Spannungsgeneratorschaltung 20 aus 3. Der Spannungsdetektor 21 umfasst
in diesem Beispiel Inverter I1 und I2, PMOS-Transistoren P2 und P3, NMOS-Transistoren
N2 und N3 und einen Widerstand R1.
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Der
Spannungsdetektor 21 ist so ausgeführt, dass die interne Spannung
VCCA als Versorgungsspannung an die Inverter I1 und I2 angelegt
ist. Nachfolgend wird die Funktionsweise des Spannungsdetektors 21 aus 4 beschrieben.
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Der
Inverter I1 invertiert das Aktivierungssignal PACT, um ein invertiertes
Aktivierungssignal PACTB zu erzeugen. Der Inverter I2 invertiert
das invertierte Aktivierungssignal PACTB. Der PMOS-Transistor P2
senkt den Spannungspegel des Ausgabesignals des Inverters I2 um
einen Wert ab, der gleich einer Schwellwertspannung VTP des PMOS-Transistors P2 ist.
Der PMOS-Transistor P2 und der Widerstand R1 teilen den Spannungspegel des
Ausgabesignals des Inverters I2, um eine Teilspannung an einem Knoten
B zu erzeugen. Der NMOS-Transistor N2 ist leitend geschaltet, wenn
der Spannungspegel am Knoten B größer als eine Schwellwertspannung
VTN des NMOS-Transistors N2 ist, oder sperrend geschaltet, wenn
der Spannungspegel am Knoten B kleiner als die Schwellwertspannung
VTN des NMOS-Transistors N2 ist. Der PMOS-Transistor P3 wird in
Reaktion auf das invertierte Aktivierungssignal PACTB mit einem
niedrigen Pegel leitend geschaltet, um den Spannungspegel am Knoten
B zu erhöhen.
Der NMOS-Transistor N3 wird während
des normalen Treiberbetriebs in Reaktion auf einen hohen Pegel des
invertierten Aktivierungssignals PACTB leitend geschaltet, um ein
Floaten des Signals VA zu verhindern.
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Während des
Betriebs erzeugt der Inverter I1 des Spannungsdetektors 21 ein
Signal mit einem hohen Pegel, wenn das Aktivierungssignal PACT mit
einem niedrigen Pegel an den Inverter I1 angelegt wird. Der PMOS-Transistor
P3 wird sperrend geschaltet und der NMOS-Transistor N2 wird leitend
geschaltet, so dass das Signal VA mit einem niedrigen Pegel erzeugt
wird. Entsprechend wird der NMOS-Transistor N1 sperrend geschaltet
und der PMOS-Transistor P1 führt
einen normalen Treibervorgang in Reaktion auf das Ausgabesignal
des Komparators 11 aus.
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Wird
das Aktivierungssignal PACT mit einem hohen Pegel an den Inverter
I1 angelegt, dann erzeugt der Inverter I1 ein Signal mit einem niedrigen Pegel.
Der PMOS-Transistor P3 wird leitend geschaltet, um das Signal VA
mit einem hohen Pegel zu erzeugen. Der NMOS-Transistor N1 wird in
Reaktion auf das Signal VA mit einem hohen Pegel leitend geschaltet,
um den Spannungspegel am Knoten A abzusenken. Dadurch führt der
PMOS-Transistor P1 einen Übersteuerungsvorgang
aus.
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Der
Inverter I2 erzeugt ein Signal mit einem hohen Pegel, wobei der
Ausgabespannungspegel des Inverters I2 gleich dem Pegel der internen
Spannung VCCA ist. Der PMOS-Transistor P2 und der Widerstand R1
teilen die Ausgabespannung des Inverters I2, um die Teilspannung
am Knoten B zu erzeugen. Der NMOS-Transistor N2 ist sperrend geschaltet,
um das Signal VA auf einem hohen Pegel zu halten, wenn der Spannungspegel
am Knoten B kleiner als die Schwellwertspannung VTN des NMOS-Transistors
N2 ist, d.h. die interne Spannung VCCA ist kleiner oder gleich der
Zielspannung. Eine vom NMOS-Transistor N1 verursachte Spannungsabnahme
am Knoten A bleibt zur Steigerung der Treiberfähigkeit des PMOS-Transistors
P1 erhalten. Das bedeutet, dass der PMOS-Transistor P1 den Übersteuerungsvorgang
fortsetzt.
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Andererseits
wird der NMOS-Transistor N2 leitend geschaltet, um den Spannungspegel
des Signals VA abzusenken, wenn der Spannungspegel am Knoten B höher als
die Schwellwertspannung VTN des NMOS-Transistors N2 ist, d.h. die interne
Spannung VCCA ist größer als
die Zielspannung. Eine vom NMOS-Transistor N1 verursachte Spannungsabnahme
am Knoten A wird dadurch graduell verkleinert, so dass die Treiberfähigkeit
des PMOS-Transistors P1 auf die Treiberfähigkeit für den normalen Treiberbetrieb
reduziert wird. Daher beendet der PMOS-Transistor P1 den Übersteuerungsbetrieb.
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Daraus
resultiert, dass der Übersteuerungsbetrieb
gesteuert werden kann, obwohl das Aktivierungssignal PACT mit einem
hohen Pegel erzeugt wird. Der Spannungsdetektor 21 schaltet
den NMOS-Transistor N1 leitend, damit der PMOS-Transistor P1 einen Übersteuerungsvorgang
ausführt, wenn
der Pegel der internen Spannung VCCA kleiner oder gleich der Zielspannung
ist. Der Spannungsdetektor 21 schaltet den NMOS-Transistor
N1 sperrend, damit der PMOS-Transistor P1 keinen Übersteuerungsvorgang
ausführt,
wenn der Pegel der internen Spannung VCCA die Zielspannung übersteigt,
wodurch ein Überschwingen
des Pegels der internen Spannung VCCA verhindert wird.
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5 zeigt ein Schaltbild eines
modifizierten Spannungsdetektors 21 der Spannungsgeneratorschaltung 20 aus 3. Der Spannungsdetektor 21 umfasst
einen Spannungsteiler 22 und einen Spannungskomparator 23.
Nachfolgend wird die Funktionsweise der Komponenten aus 5 beschrieben.
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Der
Spannungsteiler 22 teilt die interne Spannung VCCA in Reaktion
auf das Aktivierungssignal PACT. Der Spannungskomparator 23 vergleicht eine
Teilspannung vom Spannungsteiler 22 mit der Referenzspannung
VREFA, um das Signal VA zu erzeugen.
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Während des
Betriebs führt
der Spannungsteiler 22 keinen Spannungsteilungsbetrieb
aus, wenn das Aktivierungssignal PACT mit einem niedrigen Pegel
erzeugt wird. Der Spannungskomparator 23 erzeugt das Signal
VA mit einem niedrigen Pegel in Reaktion auf einen niedrigen Pegel
des Aktivierungssignals PACT. Daraus resultiert, dass der NMOS-Transistor N1 sperrend
geschaltet wird, so dass der PMOS-Transistor P1 einen normalen Treiberbetrieb ausführt.
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Wird
das Aktivierungssignal PACT mit einem hohen Pegel erzeugt, dann
teilt der Spannungsteiler 22 die interne Spannung VCCA,
um die Teilspannung zu erzeugen. Ist die interne Spannung VCCA kleiner oder
gleich der Zielspannung, dann ist die Teilspannung kleiner als die
Referenzspannung VREFA. Hingegen ist die Teilspannung höher als
die Referenzspannung VREFA, wenn die interne Spannung VCCA die Zielspannung übersteigt.
Der Spannungskomparator 23 vergleicht die Teilspannung
mit der Referenzspannung VREFA, um das Signal VA mit einem hohen
Pegel zu erzeugen, wenn die Teilspannung niedriger als die Referenzspannung
VREFA ist, oder um das Signal VA mit einem niedrigen Pegel zu erzeugen,
wenn die Teilspannung höher
als die Referenzspannung VREFA ist.
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Daher
erzeugt der Spannungsdetektor 21 das Signal VA mit einem
hohen Pegel, wenn die interne Spannung VCCA kleiner oder gleich
der Zielspannung ist, um den NMOS-Transistor N1 leitend zu schalten,
damit der PMOS-Transistor P1 einen Übersteuerungsbetrieb ausführt. Überschreitet
die interne Spannung VCCA hingegen die Zielspannung, dann erzeugt
der Spannungsdetektor 21 das Signal VA mit einem niedrigen
Pegel, um den NMOS-Transistor N1 sperrend zu schalten, damit der
PMOS-Transistor P1 den Übersteuerungsbetrieb
beendet.
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6 zeigt ein detailliertes
Schaltbild einer schaltungstechnischen Realisierung des Spannungsdetektors 21 aus 5. Der Spannungsteiler 22 umfasst
in diesem Beispiel Widerstände
R2 und R3 und einen NMOS-Transistor
N4, und der Spannungskomparator 23 umfasst einen Komparator COM,
einen Inverter I3 und einen NMOS-Transistor N5. Anstelle der Widerstände R2 und
R3 kann ein MOS-Transistor verwendet werden. Bei der Schaltung aus 6 wird die interne Spannung
VCCA als Versorgungsspannung an den Inverter I3 angelegt. Nachfolgend
wird die Funktionsweise des Spannungsdetektors aus 6 beschrieben.
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Der
NMOS-Transistor N4 wird in Reaktion auf das Aktivierungssignal PACT
mit einem hohen Pegel leitend geschaltet. Ist der NMOS-Transistor N4 leitend
geschaltet, dann teilen die Widerstände R2 und R3 die interne Spannung
VCCA und erzeugen an einem Knoten C die Teilspannung. Der Komparator
COM vergleicht die Referenzspannung mit der Teilspannung, um das
Signal VA zu erzeugen. Der Inverter I3 erzeugt das invertierte Aktivierungssignal PACTB.
Der NMOS-Transistor N5 wird in Reaktion auf das invertierte Aktivierungssignal
PACTB mit einem hohen Pegel leitend geschaltet, um das Signal VA
mit einem niedrigen Pegel zu erzeugen. Der NMOS-Transistor N5 verhindert
während
des normalen Treiberbetriebs einen floatenden Zustand des Signals
VA.
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Während des
Betriebs erzeugt der Inverter I3 des Spannungsdetektors 21 das
invertierte Aktivierungssignal PACTB mit einem hohen Pegel, wenn das
Aktivierungssignal PACT mit einem niedrigen Pegel an den Inverter
I3 angelegt wird. Dadurch wird der NMOS-Transistor N5 leitend geschaltet,
um das Signal VA mit einem niedrigen Pegel zu erzeugen. Daraus resultiert,
dass der NMOS-Transistor N1 sperrend geschaltet ist, wodurch der
PMOS-Transistor P1 den normalen Treiberbetrieb ausführt.
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Wird
das Aktivierungssignal PACT mit einem hohen Pegel an den Inverter
I3 angelegt, dann wird der NMOS-Transistor N4 leitend geschaltet
und der Spannungsteiler 22 erzeugt am Knoten C über die Widerstände R2 und
R3 die Teilspannung. Der Spannungsteiler 22 erzeugt am
Knoten C die Teilspannung mit einem kleineren Pegel als die Referenzspannung
VREFA, wenn der Pegel der internen Spannung kleiner oder gleich
der Zielspannung ist, oder erzeugt am Knoten C die Teilspannung
mit einem größeren Pegel
als die Referenzspannung VREFA, wenn der Pegel der internen Spannung
größer als
die Zielspannung ist. Der Inverter I3 erzeugt das invertierte Aktivierungssignal
PACTB mit einem niedrigen Pegel, wodurch der NMOS-Transistor N5 sperrend
geschaltet wird. Der Komparator COM vergleicht die Spannung am Knoten
C mit der Referenzspannung VREFA, um das Signal VA mit einem hohen
Pegel zu erzeugen, wenn die Spannung am Knoten C kleiner als die
Referenzspannung VREFA ist, oder das Signal VA mit einem niedrigen
Pegel zu erzeugen, wenn die Spannung am Knoten C größer als die
Referenzspannung VREFA ist. Wird das Signal VA mit einem hohen Pegel
erzeugt, dann wird der NMOS-Transistor N1 leitend geschaltet, so
dass der PMOS-Transistor P1 den Übersteuerungsbetrieb ausführt. Wird
hingegen das Signal VA mit einem niedrigen Pegel erzeugt, dann wird
der NMOS-Transistor N1 sperrend geschaltet, so dass der PMOS-Transistor
P1 den Übersteuerungsbetrieb
beendet.
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7 zeigt ein Schaltbild eines
weiteren Ausführungsbeispiels
der erfindungsgemäßen Spannungsgeneratorschaltung 30.
Die Spannungsgeneratorschaltung 30 umfasst einen Komparator 11,
einen PMOS-Transistor P1 und einen Spannungsteiler 31.
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Während des
Betriebs erzeugt der Spannungsteiler 31 die interne Spannung
VCCA als eine Spannung VC, wenn das Aktivierungssignal PACT auf
einem niedrigen Pegel an den Spannungsteiler 31 angelegt
wird. Der Komparator 11 senkt wiederholend die Ausgabespannung
ab, wenn die Spannung VC kleiner als die Referenzspannung VREFA
ist, oder hebt die Ausgabespannung wiederholend an, wenn die Spannung
VC höher
als die Referenzspannung VREFA ist. Der PMOS-Transistor P1 führt basierend
auf der Ausgabespannung des Komparators 11 den normalen
Treibervorgang aus, um die interne Spannung VCCA auf dem Pegel der
Referenzspannung VREFA zu halten.
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Wird
das Aktivierungssignal PACT mit einem hohen Pegel an den Spannungsteiler 31 angelegt, dann
erzeugt der Spannungsteiler 31 die Spannung VC durch Teilen
der internen Spannung VCCA. Der Spannungsteiler 31 teilt
die interne Spannung VCCA, um die Spannung VC zu erzeugen, die kleiner
als beim normalen Treibervorgang ist, wenn die interne Spannung
VCCA kleiner oder gleich der Zielspannung ist, und teilt die interne
Spannung VCCA, um die Spannung VC zu erzeugen, die höher als
beim normalen Treibervorgang ist, wenn die interne Spannung VCCA
größer als
die Zielspannung ist. Um mit dem PMOS-Transistor P1 einen Übersteuerungsvorgang
auszuführen,
erzeugt der Komparator 11 die Ausgabespannung, die kleiner
als beim normalen Treibervorgang ist, wenn die Spannung VC mit einem niedrigeren
Pegel als beim normalen Treibervorgang eingegeben wird. Der Komparator 11 erhöht die Ausgabespannung,
um den PMOS-Transistor P1 zu veranlassen, den Übersteuerungsvorgang zu beenden, wenn
die Spannung VC mit einem Pegel eingegeben wird, der höher als
der Pegel der Referenzspannung VREFA ist.
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8 zeigt ein Schaltbild einer
schaltungstechnischen Realisierung des Spannungsteilers 31 der
Spannungsgeneratorschaltung 30 aus 7. Der Spannungsteiler 31 umfasst
in diesem Beispiel Widerstände
R4 und R5 und einen NMOS-Transistor N6.
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Während des
Betriebs wird der NMOS-Transistor N6 sperrend geschaltet und der
Spannungsteiler 31 gibt die interne Spannung VCCA als Spannung VC
aus, wenn das Aktivierungssignal PACT mit einem niedrigen Pegel
an den Spannungsteiler 31 angelegt wird.
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Wird
das Aktivierungssignal PACT mit einem hohen Pegel an den Spannungsteiler 31 angelegt, dann
wird der NMOS-Transistor N6 leitend geschaltet und der Spannungsteiler 31 erzeugt
die durch die Widerstände
R4 und R5 geteilte Spannung VC. Hierbei erzeugt der Spannungsteiler 31 die
Spannung VC mit einem niedrigeren Pegel als beim normalen Treibervorgang,
wenn die interne Spannung VCCA kleiner oder gleich der Zielspannung
ist, und er erzeugt die Spannung VC mit einem höheren Pegel als die Referenzspannung
VREFA, wenn die interne Spannung VCCA größer als die Zielspannung ist.
Die Erzeugung von variierenden Werten der Spannung VC wird durch
ein angepasstes Einstellen der Widerstandswerte der Widerstände R4 und
R5 des Spannungsteilers 31 erreicht.
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Deshalb
führt die
Spannungsgeneratorschaltung 30 aus 8 einen Übersteuerungsvorgang aus, wenn
das aktive Aktivierungssignal PACT erzeugt wird und die interne
Spannung VCCA kleiner oder gleich der Zielspannung ist, und sie
beendet den Übersteuerungsvorgang,
wenn die interne Spannung VCCA größer als die Zielspannung ist.
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9 zeigt eine schematische
Darstellung der Änderung
der internen Spannung VCCA und des Signals VA in der Spannungsgeneratorschaltung 20 aus 3, speziell wenn die Referenzspannung
ungefähr
1,6V ist, die Zielspannung ungefähr
2,0V (= 1,6V + ΔV,
mit ΔV =
0,4V) ist, eine relativ hohe externe Versorgungsspannung VEXT von
ungefähr
4V angelegt wird und das Aktivierungssignal PACT mit einem hohen
Pegel erzeugt wird. Wird das Aktivierungssignal PACT mit einem hohen
Pegel angelegt, beispielsweise zum Zeitpunkt 20n, dann
wechselt das Signal VA auf einen hohen Pegel. Der NMOS-Transistor
N1 wird leitend ge schaltet und der PMOS-Transistor P1 führt einen Übersteuerungsvorgang
aus. Daraus resultiert, dass die interne Spannung VCCA ansteigt.
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Übersteigt
die interne Spannung VCCA die Zielspannung, dann wechselt das Signal
VA auf einen niedrigen Pegel. Der NMOS-Transistor N1 wird sperrend
geschaltet und der PMOS-Transistor P1 beendet den Übersteuerungsvorgang.
Dadurch wird die interne Spannung VCCA abgesenkt.
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Sinkt
die interne Spannung VCCA unter die Zielspannung ab, dann wechselt
das Signal VA auf hohen Pegel. Dadurch wird der NMOS-Transistor N1 wieder
leitend geschaltet und der PMOS-Transistor P1 führt wieder den Übersteuerungsvorgang
aus.
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Wie
aus 9 ersichtlich ist,
führt die
erfindungsgemäße Spannungsgeneratorschaltung
nicht kontinuierlich den Übersteuerungsvorgang
aus, wenn das Aktivierungssignal erzeugt wird. Statt dessen ist
es möglich,
den Übersteuerungsvorgang
auszuführen,
wenn der Pegel der internen Spannung kleiner oder gleich der Zielspannung
ist, und den Übersteuerungsvorgang
zu beenden, wenn der Pegel der internen Spannung größer als
die Zielspannung ist.
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Wie
in der obigen Beschreibung ausgeführt ist, überwacht die erfindungsgemäße Spannungsgeneratorschaltung
eine Veränderung
der internen Spannung, wenn das Aktivierungssignal aktiviert oder
erzeugt wird, und beendet den Übersteuerungsvorgang,
wenn die interne Spannung die Zielspannung übersteigt, während sie
den Übersteuerungsvorgang
ausführt,
wenn die interne Spannung kleiner oder gleich der Zielspannung ist,
wodurch ein Überschwingen
der internen Spannung auch dann verhindert wird, wenn die externe
Spannung ansteigt.
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Dadurch
haben Halbleiterspeicherbausteine mit der erfindungsgemäßen Schaltung
zur Erzeugung einer internen Spannung eine verbesserte Bitleitungsabtastgeschwindigkeit
und somit minimierte Datenlese- und Datenschreibverzögerungen.