|
FR1582850A
(enExample)
|
1968-03-29 |
1969-10-10 |
|
|
|
JPS5062389A
(enExample)
*
|
1973-10-01 |
1975-05-28 |
|
|
|
GB1535824A
(en)
|
1976-02-11 |
1978-12-13 |
Standard Telephones Cables Ltd |
Avalanche photodetector biassing system
|
|
US4181863A
(en)
|
1976-04-03 |
1980-01-01 |
Ferranti Limited |
Photodiode circuit arrangements
|
|
GB1532262A
(en)
|
1976-04-03 |
1978-11-15 |
Ferranti Ltd |
Photodiode circuit arrangements
|
|
GB1503088A
(en)
*
|
1976-07-22 |
1978-03-08 |
Standard Telephones Cables Ltd |
Avalanche photodetector
|
|
JPS5341280A
(en)
|
1976-09-27 |
1978-04-14 |
Nippon Telegr & Teleph Corp <Ntt> |
Photodetecting system of multiplication constant control
|
|
JPS5916812Y2
(ja)
|
1978-06-27 |
1984-05-17 |
キヤノン株式会社 |
カメラの測光回路
|
|
JPS6017051B2
(ja)
|
1978-11-20 |
1985-04-30 |
東京光学機械株式会社 |
アバランシェ・ダイオ−ドの温度補償方法
|
|
JPS55127082A
(en)
|
1979-03-23 |
1980-10-01 |
Nec Corp |
Bias voltage generating circuit of avalanche photodiode
|
|
SE417145B
(sv)
*
|
1979-05-30 |
1981-02-23 |
Asea Ab |
Lavinfotodiodanordning med en lavindiod och med organ for styrning av diodens multiplikationsfaktor
|
|
US4464048A
(en)
|
1981-03-25 |
1984-08-07 |
Barr & Stroud Limited |
Laser rangefinders
|
|
JPS60178673A
(ja)
|
1984-02-24 |
1985-09-12 |
Nec Corp |
アバランシフオトダイオ−ド
|
|
JPS60180347A
(ja)
|
1984-02-28 |
1985-09-14 |
Fujitsu Ltd |
アバランシエフオトダイオ−ドの温度補償回路
|
|
JPS60211886A
(ja)
|
1984-04-05 |
1985-10-24 |
Nec Corp |
アバランシフオトダイオ−ドの製造方法
|
|
JPS6138975U
(ja)
|
1984-08-09 |
1986-03-11 |
株式会社東芝 |
印刷配線板
|
|
JPH0799782B2
(ja)
*
|
1985-06-18 |
1995-10-25 |
株式会社ニコン |
半導体光検出装置
|
|
JPS62239727A
(ja)
|
1986-04-11 |
1987-10-20 |
Nec Corp |
アバランシエホトダイオ−ドの利得制御方式
|
|
JPS62279671A
(ja)
|
1986-05-28 |
1987-12-04 |
Mitsubishi Electric Corp |
固体撮像装置
|
|
JPH0828488B2
(ja)
|
1987-07-07 |
1996-03-21 |
富士通株式会社 |
半導体装置
|
|
JPH01118714A
(ja)
|
1987-10-30 |
1989-05-11 |
Omron Tateisi Electron Co |
光学式位置検出センサ
|
|
US4948989A
(en)
*
|
1989-01-31 |
1990-08-14 |
Science Applications International Corporation |
Radiation-hardened temperature-compensated voltage reference
|
|
JPH0321082A
(ja)
|
1989-06-19 |
1991-01-29 |
Fujitsu Ltd |
光受信回路
|
|
JPH04111477A
(ja)
|
1990-08-31 |
1992-04-13 |
Sumitomo Electric Ind Ltd |
受光素子
|
|
JPH04256376A
(ja)
*
|
1991-02-08 |
1992-09-11 |
Hamamatsu Photonics Kk |
アバランシェホトダイオード及びその製造方法
|
|
JPH05235396A
(ja)
|
1992-02-24 |
1993-09-10 |
Sumitomo Electric Ind Ltd |
半導体受光装置
|
|
JP3121100B2
(ja)
|
1992-03-25 |
2000-12-25 |
株式会社日立製作所 |
固体撮像装置
|
|
JPH06224463A
(ja)
*
|
1993-01-22 |
1994-08-12 |
Mitsubishi Electric Corp |
半導体受光装置
|
|
JPH0763854A
(ja)
|
1993-06-16 |
1995-03-10 |
Kansei Corp |
レーザー送受光装置
|
|
JP2686036B2
(ja)
|
1993-07-09 |
1997-12-08 |
浜松ホトニクス株式会社 |
アバランシェフォトダイオードのバイアス回路
|
|
JP3421103B2
(ja)
|
1993-12-20 |
2003-06-30 |
浜松ホトニクス株式会社 |
アバランシェフォトダイオードを用いた光検出回路
|
|
JPH07263653A
(ja)
|
1994-03-17 |
1995-10-13 |
Hamamatsu Photonics Kk |
固体撮像装置
|
|
JPH08207281A
(ja)
|
1995-02-06 |
1996-08-13 |
Canon Inc |
インクジェット記録ヘッド
|
|
JPH10247717A
(ja)
|
1997-03-04 |
1998-09-14 |
Matsushita Electron Corp |
半導体装置
|
|
JP3479966B2
(ja)
|
1998-01-30 |
2003-12-15 |
住友電気工業株式会社 |
光電流モニタ回路及び光受信器
|
|
JPH11275755A
(ja)
|
1998-03-19 |
1999-10-08 |
Fujitsu Ltd |
アバランシェフォトダイオード保護回路を有する光受信回路
|
|
JP2000171295A
(ja)
|
1998-12-03 |
2000-06-23 |
Nec Corp |
Apdバイアス回路
|
|
JP3668926B2
(ja)
|
1999-08-27 |
2005-07-06 |
株式会社ルネサステクノロジ |
光インタコネクション受信モジュール
|
|
US6313459B1
(en)
|
2000-05-31 |
2001-11-06 |
Nortel Networks Limited |
Method for calibrating and operating an uncooled avalanche photodiode optical receiver
|
|
JP3509851B2
(ja)
|
2000-12-28 |
2004-03-22 |
サンケン電気株式会社 |
電子回路装置及びこれを使用したスィチング回路装置
|
|
US20030117121A1
(en)
|
2001-12-20 |
2003-06-26 |
Prescott Daniel C. |
High-side current-sense circuit for precision application
|
|
KR100566197B1
(ko)
|
2003-01-02 |
2006-03-29 |
삼성전자주식회사 |
Apd 광수신기의 온도 보상 장치
|
|
JP2004281488A
(ja)
|
2003-03-13 |
2004-10-07 |
Renesas Technology Corp |
半導体装置及びその製造方法
|
|
JP4223304B2
(ja)
|
2003-03-19 |
2009-02-12 |
三菱電機株式会社 |
光受信器
|
|
JP2004303878A
(ja)
*
|
2003-03-31 |
2004-10-28 |
Nippon Sheet Glass Co Ltd |
受光素子アレイ
|
|
JP3956923B2
(ja)
|
2003-09-19 |
2007-08-08 |
住友電気工業株式会社 |
アバランシェフォトダイオードのバイアス電圧制御回路
|
|
JP4399337B2
(ja)
|
2004-09-13 |
2010-01-13 |
株式会社フューチャービジョン |
平面パターンを有する基板およびそれを用いた表示装置
|
|
JP2007266251A
(ja)
|
2006-03-28 |
2007-10-11 |
Nippon Telegr & Teleph Corp <Ntt> |
光半導体装置
|
|
CN101484999B
(zh)
|
2006-07-03 |
2011-09-14 |
浜松光子学株式会社 |
光电二极管阵列
|
|
CN200950235Y
(zh)
|
2006-09-25 |
2007-09-19 |
深圳飞通光电子技术有限公司 |
雪崩光电二极管的温度补偿偏压电路
|
|
CN200959101Y
(zh)
|
2006-10-12 |
2007-10-10 |
宁波中科集成电路设计中心有限公司 |
一种雪崩光电二极管的温度补偿装置
|
|
JP4791334B2
(ja)
|
2006-12-11 |
2011-10-12 |
富士通オプティカルコンポーネンツ株式会社 |
光受信装置および光受信装置のバイアス電圧制御方法
|
|
JP4642047B2
(ja)
|
2007-06-15 |
2011-03-02 |
三洋電機株式会社 |
半導体装置
|
|
JP2009038157A
(ja)
|
2007-07-31 |
2009-02-19 |
Sumitomo Electric Ind Ltd |
受光素子アレイ、一次元受光素子アレイおよび二次元受光素子アレイ
|
|
CN102246058B
(zh)
*
|
2008-12-15 |
2014-06-11 |
皇家飞利浦电子股份有限公司 |
用于硅光电倍增管和其他单光子计数器的温度补偿电路
|
|
JP5483544B2
(ja)
|
2009-10-21 |
2014-05-07 |
住友電工デバイス・イノベーション株式会社 |
半導体受光装置
|
|
CN201601136U
(zh)
|
2010-01-13 |
2010-10-06 |
山东交通职业学院 |
一种用于激光接收电路的温度补偿电路
|
|
US20120101614A1
(en)
|
2010-10-22 |
2012-04-26 |
Allan Ghaemi |
System and Method for Manufacturing Optical Network Components
|
|
JP5844580B2
(ja)
|
2011-09-05 |
2016-01-20 |
浜松ホトニクス株式会社 |
固体撮像素子及び固体撮像素子の実装構造
|
|
JP5926921B2
(ja)
|
2011-10-21 |
2016-05-25 |
浜松ホトニクス株式会社 |
光検出装置
|
|
JP5791461B2
(ja)
|
2011-10-21 |
2015-10-07 |
浜松ホトニクス株式会社 |
光検出装置
|
|
JP2013164263A
(ja)
|
2012-02-09 |
2013-08-22 |
Mitsubishi Electric Corp |
受光装置及び距離測定装置及び形状測定装置
|
|
JP5984617B2
(ja)
|
2012-10-18 |
2016-09-06 |
浜松ホトニクス株式会社 |
フォトダイオードアレイ
|
|
DE102013100696B3
(de)
|
2013-01-24 |
2013-11-07 |
Sick Ag |
Optoelektronischer Sensor und Verfahren zur Erfassung von Objekten in einem Überwachungsbereich
|
|
KR101448393B1
(ko)
|
2013-06-27 |
2014-10-08 |
단국대학교 천안캠퍼스 산학협력단 |
의료용 레이저 수신단의 apd 이득 안정화 방법
|
|
US9541656B2
(en)
|
2013-12-20 |
2017-01-10 |
General Electric Company |
System and method for compensating temperature gain variation in radiation detectors
|
|
CN103728030A
(zh)
|
2013-12-20 |
2014-04-16 |
中国科学院合肥物质科学研究院 |
Apd温度自适应近红外单光子探测装置
|
|
JP2016061729A
(ja)
|
2014-09-19 |
2016-04-25 |
株式会社東芝 |
光子検出素子、光子検出装置、及び放射線分析装置
|
|
CN106033225B
(zh)
|
2015-03-16 |
2017-08-25 |
苏州旭创科技有限公司 |
低功耗apd偏压控制器与偏压控制方法及光电接收器
|
|
US10203400B2
(en)
|
2015-07-31 |
2019-02-12 |
Avago Technologies International Sales Pte. Limited |
Optical measurement system incorporating ambient light component nullification
|
|
US9954124B1
(en)
|
2016-01-08 |
2018-04-24 |
Board Of Trustees Of The University Of Alabama, For And On Behalf Of The University Of Alabama In Huntsville |
Thermo-compensated silicon photo-multiplier with on-chip temperature sensor
|
|
EP3493275B1
(en)
|
2016-07-27 |
2022-03-23 |
Hamamatsu Photonics K.K. |
Light detection device
|
|
SG11201906938WA
(en)
|
2017-01-30 |
2019-08-27 |
Medibeacon Inc |
Method for non-invasive monitoring of fluorescent tracer agent with diffuse reflection corrections
|
|
JP6696695B2
(ja)
|
2017-03-16 |
2020-05-20 |
株式会社東芝 |
光検出装置およびこれを用いた被写体検知システム
|
|
JP6741703B2
(ja)
|
2017-03-31 |
2020-08-19 |
株式会社デンソー |
光検出器
|
|
WO2019199796A1
(en)
*
|
2018-04-09 |
2019-10-17 |
Innovusion Ireland Limited |
Compensation circuitry for lidar receiver systems and method of use thereof
|
|
JP2020043229A
(ja)
*
|
2018-09-11 |
2020-03-19 |
ソニーセミコンダクタソリューションズ株式会社 |
光源装置、センシングモジュール
|
|
KR102544296B1
(ko)
|
2018-09-13 |
2023-06-16 |
쑤저우 레킨 세미컨덕터 컴퍼니 리미티드 |
표면발광레이저 소자 및 이를 구비한 표면발광레이저 장치
|
|
US11901379B2
(en)
*
|
2018-12-12 |
2024-02-13 |
Hamamatsu Photonics K.K. |
Photodetector
|
|
WO2020121851A1
(ja)
*
|
2018-12-12 |
2020-06-18 |
浜松ホトニクス株式会社 |
光検出装置
|
|
US12080822B2
(en)
*
|
2018-12-12 |
2024-09-03 |
Hamamatsu Photonics K.K. |
Photodetector and method for manufacturing photodetector
|
|
US11513002B2
(en)
*
|
2018-12-12 |
2022-11-29 |
Hamamatsu Photonics K.K. |
Light detection device having temperature compensated gain in avalanche photodiode
|
|
JP7455520B2
(ja)
*
|
2018-12-12 |
2024-03-26 |
浜松ホトニクス株式会社 |
光検出装置
|
|
US12322744B2
(en)
|
2018-12-12 |
2025-06-03 |
Hamamatsu Photonics K.K. |
Photodetector and method for manufacturing photodetector
|
|
WO2021084840A1
(ja)
*
|
2019-10-29 |
2021-05-06 |
パナソニックIpマネジメント株式会社 |
フォトセンサ及びそれを用いた距離測定システム
|
|
JP7403386B2
(ja)
*
|
2020-05-27 |
2023-12-22 |
三菱電機株式会社 |
半導体装置
|
|
US20230083263A1
(en)
|
2021-09-15 |
2023-03-16 |
Kabushiki Kaisha Toshiba |
Light detector, light detection system, lidar device, and mobile body
|