JP4791334B2 - 光受信装置および光受信装置のバイアス電圧制御方法 - Google Patents

光受信装置および光受信装置のバイアス電圧制御方法 Download PDF

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Description

本発明は、アバランシェフォトダイオードを備える光受信装置に係り、特にアバランシェフォトダイオードの周辺温度に対応して、アバランシェフォトダイオードに適用される増倍率が予め設定した増倍率になるように、アバランシェフォトダイオードに印加されるバイアス電圧を制御する光増幅装置および光増幅装置のバイアス電圧制御方法に関する。
アバランシェフォトダイオード(以降、APDと記載する場合がある。)を受光素子として備える光受信装置は光通信装置に多く用いられている。
この光受信装置を含んだ光送受信装置は、安定した装置の供給を目的として規定される標準仕様のMSA(Multi−Source Agreement)に準拠することが必要になってきた。MSAは製品のパッケージサイズ、ピン配置、インタフェース仕様などを、複数のベンダー間で共通化することによって、製品の安定した供給体制を確立するために制定された業界標準である。
光受信装置の受信する光信号の強度をモニタしたモニタ信号においても、このMSAに規定されている。この光受信装置が運用に供している場合においても、このモニタ信号を用いて、この光受信装置が受信する光信号を常時監視したいとのユーザの要求がある。このユーザの要求を実現するためには、高いモニタ精度を実現することが必要となる。
APDは受信する光信号の強度に応じた光信号電流を発生するため、カレントミラー回路を用いてAPDに流れる光信号電流をモニタする光受信装置が知られている(例えば、特許文献1参照)。
APDに流れる光信号電流は、受信する光信号の強度に対して常に線形に動作することが望ましい。この光信号の強度が大きい領域においては、光信号電流はこの強度に比例する。しかし、一般的な光受信装置は、この光信号の強度が小さい領域においては、信号対雑音比の最適化を図るため、増倍率が大きくなるようにAPDに印加するバイアス電圧を制御している。そのため、この光信号の強度が小さい領域においては、光信号電流は光信号の強度に対して非線形となり、受信する光信号の強度を正確にモニタすることが困難になっている(例えば、特許文献2参照)。
しかし、APDが受信する光信号の強度とAPDに流れる光信号電流のモニタの関係を、APDの周辺温度変化に対応して、ほぼ線形の関係とする検討が成されており、解決策が開示されている(例えば、特許文献3参照)。
特開平11−40840号公報 特開2002−217833号公報 特開2004−289206号公報
以上記載したように、APDを備える光受信装置においては、APDが受信する入力光の強度とAPDに流れる光電流(モニタ電流)の関係を、ほぼ線形の関係とする技術が開示されているが、温度変動による増倍率の変化に伴って光電流(モニタ電流)が非線形となる課題が存在している。
本発明は、APDを備える光受信装置において、APDが受信する入力光の強度を精度良くモニタできるように、本光受信装置が備えるAPDに最適な増倍率を予め設定し、APDの周辺温度変化に対応して、常時APDに適用される増倍率が予め設定されたその増倍率を維持できる光受信装置および光受信装置のバイアス電圧制御方法を提供することを目的とする。
本発明の第一の態様は、入力光を電気信号に変換するAPDと、制御信号に基づいて該APDに印加されるバイアス電圧を生成するバイアス回路と、該APDの周辺温度をモニタする温度モニタ回路と、予め設定した増倍率を記憶し、該温度モニタ回路がモニタした温度に対応する増倍率が、該予め設定した増倍率になるように該バイアス回路を制御する演算回路とを備えた光受信装置である。
第一の態様によれば、APDに適用される増倍率が、予め設定し演算回路に記憶された増倍率になるように、APDに印加されるバイアス電圧を制御する光受信装置の提供が可能となる。
本発明の第二の態様は、前記の第一の態様の光受信装置であって、前記の予め設定した増倍率は、受信する入力光の信号誤りが最小となる前記のバイアス電圧に対応する増倍率であることを特徴とする光受信装置である。
第二の態様によれば、予め設定される増倍率が、受信する入力光の信号誤りが最小となる増倍率となり、その増倍率になるようにAPDに印加されるバイアス電圧を制御する光受信装置の提供が可能となる。
本発明の第三の態様は、入力光を電気信号に変換するAPDを備える光受信装置のバイアス電圧制御方法であって、予め一意の増倍率を設定する増倍率設定ステップと、該APDの周辺温度に対応する増倍率が該一意の増倍率になるように、該APDのバイアス電圧を制御するバイアス電圧制御ステップを備えることを特徴とする光受信装置のバイアス電圧制御方法である。
第三の態様によれば、APDに適用される増倍率が、予め設定し演算回路に記憶された増倍率になるようにAPDに印加されるバイアス電圧を制御する光受信装置のバイアス電圧制御方法の提供が可能となる。
本発明の第四の態様は、前記の第三の態様の光受信装置のバイアス電圧制御方法であって、前記の増倍率設定ステップは、受信する入力光の信号誤りが最小となるように、前記のバイアス電圧を調整するバイアス電圧調整ステップと、前記のAPDのブレークダウン電圧の温度傾斜に基づいて、該バイアス電圧調整ステップでバイアス電圧を獲得した時の該APDの周辺温度に対応するAPDのブレークダウン電圧を算出する第1のブレークダウン電圧算出ステップと、該バイアス電圧調整ステップで獲得したバイアス電圧と、該第1のブレークダウン電圧算出ステップで算出したブレークダウン電圧と、該APD素子の組成に基づく定数とを用いて増倍率を算出する増倍率算出ステップを備えることを特徴とする光受信装置のバイアス電圧制御方法である。
第四の態様によれば、予め設定される増倍率が、受信する入力光の信号誤りが最小となる増倍率となり、その増倍率になるようにAPDに印加されるバイアス電圧を制御する光受信装置のバイアス電圧制御方法の提供が可能となる。
本発明の光受信装置および光受信装置のバイアス電圧制御方法は、予めある温度条件の下において、受信する入力光の信号誤りが最小となる増倍率を求め、その増倍率を光受信装置に記憶し、光受信装置が運用される温度条件に対応する増倍率が、その記憶された増倍率になるようにAPDに印加されるバイアス電圧を制御する特徴を有している。
以降、図面を併用して本発明の詳細を説明する。なお、図面において同一のものまたは類似するものについては同一の符号を記載する。
図1は基本構成図であり、本発明の光受信装置の基本構成を説明するための図である。10はアバランシェフォトダイオード(APD)であり、入力光である光信号110を受信し光信号110の強度に応じた光信号電流120を発生する。20はバイアス回路であり、APD10にバイアス電圧を印加する。30は温度モニタ回路であり、APD10の周辺温度をモニタする。40は演算回路であり、予め設定された増倍率(Multiplication Factor、記号としてMを用いる。)を基準の増倍率Mとして記憶し、温度モニタ回路30からの温度モニタ情報130に基づいて、バイアス電圧制御情報140を生成するための演算を行う。なお、バイアス回路20はバイアス電圧制御情報140に基づいてバイアス電圧を制御する。50は増幅回路であり、光信号電流120を電圧変換し電圧変換された電圧信号を増幅する。60はデータ・クロック生成回路であり、増幅された電圧信号150に内在するデータ信号161とクロック信号162を生成する。
図2は一般的なAPDの増倍率とバイアス電圧と温度の関係を示す図であり、(a)はAPDの周辺温度が0℃の場合のAPDの増倍率とバイアス電圧の関係、(b)はAPDの周辺温度が25℃の場合のAPDの増倍率とバイアス電圧の関係、(c)はAPDの周辺温度が60℃の場合のAPDの増倍率とバイアス電圧の関係の概略を示している。本図が示しているように、APDの周辺温度によって増倍率とバイアス電圧の関係は変動するので、APDの周辺温度が変動した場合に、APDに印加されるバイアス電圧を制御することによって増倍率を一定に保持することは可能である。
よって、本発明の光受信装置は、モニタするAPD10の周辺温度において、演算回路40は温度モニタ情報130に基づいて、APD10に適用される増倍率が、記憶されている基準の増倍率MになるようなAPD10に印加されるバイアス電圧を演算して求め、その演算結果に基づいてバイアス回路20を制御する。
(実施例1)
図3は本発明の光受信装置を説明する図(1)である。
図4は演算回路で用いる算術式を示す図である。
図5はブレークダウン電圧の温度傾斜を示す図であり、アバランシェフォトダイオードのブレークダウン電圧と温度の関係を示している。図2に記載したアバランシェフォトダイオードの特性より、アバランシェフォトダイオードのブレークダウン電圧は図5に示すような温度傾斜(記号としてΓを用いる。)を備える温度依存性を有している。この図5の特性は図4の(2)の式によって表すことができ、温度Tが規定の温度t(例えば、常温の25℃とする。)の時のブレークダウン電圧Vbr(T=t)を基準に、温度Tの時のブレークダウン電圧Vbrを求めることができる。
図3において、APD10にはバイアス回路20が発生するバイアス電圧が印加されており、入力光である光信号110を受信することによって光信号110の強度に応じた光信号電流120が、バイアス回路20を電流源として電流モニタ回路70、APD10に流れる。増幅回路50は光信号電流120を受信し、受信した電流信号を電圧信号に変換し、その電圧信号を一定レベルまで増幅する。データ・クロック生成回路60は増幅された電圧信号150を受信し、電圧信号150に内在するデータ信号161とクロック信号162を生成する。電流モニタ回路70は、例えばカレントミラー回路によって構成され、光信号電流120をモニタしモニタ電流171を生成する。温度モニタ回路30はAPD10の周辺温度をモニタし温度モニタ情報130を生成する。
APD10は、ある温度条件(例えば、常温の25℃とする。)の元で光信号110を受信する。演算回路41は、その受信した光信号110の信号誤りが最小となるようにバイアス回路20を制御し、そのバイアス電圧をバイアス電圧モニタ回路80でモニタする。演算回路41は、上記の温度条件の下で、APD10のブレークダウン電圧Vbrと、信号誤りが最小となる場合のバイアス電圧Vapdと、APD10の素子の組成に基づく温度に依存しない定数nから、図4の(1)の式を用いてAPD10の上記の温度における増倍率を算出し、この算出した増倍率を基準の増倍率Mとして記憶する。
そして、演算回路41は、温度モニタ回路30がモニタするAPD10の周辺温度に基づいて、図4の(2)の式を用いて、その温度におけるAPD10のブレークダウン電圧を算出し、その算出したブレークダウン電圧Vbrを記憶する。
演算回路41は、図4の(1)の式を用いて、前記の算出して記憶したブレークダウン電圧Vbrと予め記憶されている定数nを用い、先に算出し記憶した基準の増倍率Mになるバイアス電圧Vapdを算出し、そのバイアス電圧Vapdを記憶する。
演算回路41は、この算出して記憶したバイアス電圧Vapdに基づいてバイアス電圧制御情報140を生成しバイアス回路20を制御する。
演算回路41は、モニタ電流171を受信し、予めMSA等により決められた条件に則したデータに変換してモニタ信号172を生成する。
上記で説明した基準の増倍率Mを算出する場合について詳細に説明する。
図6は基準の増倍率を予め設定する場合について説明するための図である。
図7は演算回路を説明するための図であり、演算回路41の機能構成を示している。
図8はデータ記憶部のテーブル(1)であり、データ記憶部413が有するテーブルに予め記憶するAPDに関するデータを示すテーブルである。
図9はデータ記憶部のテーブル(2)であり、本発明の光受信装置の運用において、データ記憶部413が記憶するデータを示すテーブルである。
図6において、1は本発明の光受信装置である。2は測定器であり、光受信装置1に光ケーブル等を介して光信号110を送信し、光受信装置1からのデータ信号161とクロック信号162を同軸ケーブル等を介して受信し、光信号110に対する信号誤りを測定する。光受信装置1の構成は図3の構成と同じである。
図7において、411はバイアス回路制御部、412は外部制御部、413はデータ記憶部、414はモニタ電流変換部、415はCPU部、416はメモリ部であり、ここに示す機能部のそれぞれはCPUバス4150に接続し、CPU部415の制御に基づいて動作する。
バイアス回路制御部411はバイアス回路20を制御するためのバイアス電圧制御情報140を生成する。
外部制御部412は外部インタフェース141を介して外部に接続する機器(例えばパソコンであり、以降、外部機器と記載する場合がある。)と通信する。この外部機器との通信することによって、演算回路41は外部機器によって制御される。
データ記憶部413は図8、図9に示すテーブルのデータを記憶する。
データ記憶部413は、光受信装置1が運用される前に、光受信装置1が使用するアバランシェフォトダイオードに関するデータ、図8の(11)〜(14)を記憶する。(11)のnはAPD素子の組成に基づく温度に依存しない定数である。(12)のΓはブレークダウン電圧の温度傾斜である。(13)のtは基準温度である。(14)のVbr(T−t)は基準温度tにおけるブレークダウン電圧である。これらのデータ(11)〜(14)は、外部制御部412に接続される外部機器の制御によってデータ記憶部413に記憶される。
データ記憶部413は、光受信装置1の運用において図9の(21)〜(26)のデータを記憶する。(21)のTはAPD10の周辺温度であり、温度モニタ情報130によって通知されるデータを記憶したものである。(22)のVapdとエラーレートは、APD10に印加されるバイアス電圧と、そのバイアス電圧における信号誤りを測定した結果のエラーレート値である。このバイアス電圧Vapdはバイアス電圧モニタ情報180によって通知されるデータを記憶したものである。このエラーレート値は、このバイアス電圧Vapdにおける測定器2での測定結果が外部装置を介して通知されたデータを記憶したものである。よって、(22)においては複数のVapdとエラーレートが記憶される。(23)のVapd(M)はエラーレートが最小となるバイアス電圧であり、上記の(22)に記憶されているエラーレートの中で最小値となる場合のバイアス電圧Vapd(M)として記憶される。(24)のVbr(T)は温度T(21)の場合のブレークダウン電圧であり、前述のように演算回路41が算出することによって求める。つまり、演算回路41は図8のΓ(12)、t(13)、Vbr(T−t)(14)のそれぞれと図9のT(21)をデータ記憶部413から読み出して、それぞれの値を使用して図4の(2)の式から温度Tにおけるブレークダウン電圧Vbrを算出し、データ記憶部413に記憶する。(25)のMは基準となる増倍率であり、前述のように演算回路41が算出することによって求める。つまり、演算回路41は図8のn(11)と図9のVapd(M)(23)、Vbr(T)(24)のそれぞれをデータ記憶部413から読出して、それぞれの値を使用して図4の(1)の式から基準となる増倍率Mを算出し、データ記憶部413に記憶する。(26)のVapd(T)は温度Tの場合に制御されるバイアス電圧の値であり、演算回路41が算出することによって求める。つまり、演算回路41は前記の温度Tの場合のブレークダウン電圧Vbr(T)(24)、基準となる増倍率M(25)のそれぞれをデータ記憶部413から読み出して、それぞれの値を使用して図4の(1)の式からVapd(T)を算出し、データ記憶部413に記憶する。
モニタ電流変換部414は電流モニタ回路70からのモニタ電流171を受信し、予めMSA等により決められた条件に則したデータに変換してモニタ信号172を生成する。
CPU部415はメモリ部416に格納されているプログラムに応じ、例えば図4に示した(1)、(2)の式を演算し、これらの式の演算に必要なデータの書き込み、読み出しの制御を行う。
メモリ部416は演算回路41で実行される演算等の制御のプログラムが格納されている。
次に、光受信装置1が基準となる増倍率M(25)を求め、光受信装置1が備えるAPD10のバイアス電圧を制御する方法について説明する。
保守者は、図6に示すように光受信装置1に測定器2を接続し、外部インタフェース141を介して演算回路41を制御する外部機器(図示せず。)を接続する。
保守者は、外部機器よりAPD10に使用するアバランシェフォトダイオードに関するデータ(11)〜(14)をデータ記憶部413に格納する。
保守者が外部機器より演算回路41を制御することによって、演算回路41はAPD10のバイアス電圧を変動させ、測定器2によって測定される信号誤りを、外部機器を介して監視し、信号誤りが最小となるバイアス電圧を求め、そのバイアス電圧をデータ記憶部413に記憶する。この時、測定器2は外部機器と接続して外部機器の制御によって測定を行う測定系を構成してもよい。
保守者が外部機器より演算回路41を制御することによって、演算回路41は増倍率を算出し、その基準の増倍率Mをデータ記憶部413に記憶する。
図10は全体フローである。
ステップS10は、APD10のバイアス電圧を制御するために必要となる基準の増倍率Mを設定するためのステップである。
ステップS20は、変動する温度条件のもとで、ステップS10で設定した基準の増倍率Mになるようにバイアス電圧を制御するためのステップである。
図11は増倍率設定フローであり、上記のステップS10を説明する制御フローである。
S11. 図6にて説明した光受信装置1を測定器2と接続する。
S12. 光受信装置にパソコン等の外部機器を接続し、図8に示す(11)〜(14)のデータをデータ記憶部413に記憶させる。そして、この外部機器から演算回路41に対して、基準となる増倍率Mを設定するように指示する。
S13. 外部機器からの指示に基づいて、演算回路41は、バイアス回路制御部411を制御してバイアス回路20が発生するAPD10に印加されるバイアス電圧を設定する。本バイアス電圧の設定は、例えば、バイアス電圧として許容される電圧の最小電圧を先ず設定し、次のステップS14,S15の制御ループの中で、予め設定した電圧幅毎に順次スキャンし最大電圧まで設定する。
S14. ステップS13で設定したバイアス電圧は、APD10のバイアス電圧として許容されるバイアス電圧範囲内で電圧であるかを判断する。
S15. 前記のステップS14において、設定されるバイアス電圧はAPD10の許容されるバイアス電圧範囲内の場合である。本ステップでは、測定器2が測定する信号誤りを記録する。図9の(22)に示すバイアス電圧Vapdとエラーレートを、外部機器を介してデータ記憶部413に記録する。この記録については、バイアス電圧Vapd毎にエラーレートの値を順次記録する。
S16. 前記のステップS14において、APD10の許容されるバイアス電圧範囲内での信号誤り測定を終了した場合である。本ステップでは、前記のステップS15において測定し記録した信号誤りの測定値を、バイアス電圧をキーとして検索し、その測定値が最小となるバイアス電圧Vapd(M)を求め、その電圧を記憶する。
S17. 温度モニタ情報130を介して得られるAPD10の周辺温度情報(図9のT(21))と、予めデータ記憶部413に記憶されている温度傾斜Γ(図8の(12))と、予めデータ記憶部413に記憶されている基準温度におけるAPD10のブレークダウン電圧Vbr(T=t)(図8の(14))と、図4の(2)の式を用い、ブレークダウン電圧Vbrを計算して求める。
S18. 前記ステップS16で求めたバイアス電圧Vapd(M)と、前記ステップS17で求めたブレークダウン電圧Vbrと、予めデータ記憶部413に格納されている定数n(図8の(11))と、図4の(1)の式を用い、増倍率Mを計算して求める。そして、その増倍率を基準となる増倍率Mとしてデータ記憶部413に記憶する(図9の(25))。
図12はバイアス電圧制御フローであり、上記のステップS20を説明する制御フローである。このバイアス電圧制御フローは、本発明の光受信装置1が光通信システム(図示せず。)にて運用されている場合に、APDに印加されるバイアス電圧をAPDの周辺温度に応じて制御するためのフローである。
S21. 温度モニタ情報130を介して得られるAPD10の周辺温度情報をデータ記憶部413に格納する(図9の(21))。
S22. 図4の(2)の式を用い、予めデータ記憶部413に格納されている温度傾斜Γ(図8の(12))と、予めデータ記憶部413に格納されている基準温度におけるAPD10のブレークダウン電圧Vbr(T=t)(図8の(14))と、前記ステップS21で得られた温度情報を上記の式に適用し、前記ステップS21で得られた温度におけるブレークダウン電圧Vbrを計算して求める。
S23. 前記ステップS22で求めたブレークダウン電圧Vbrをデータ記憶部413に記憶する(図9の(24))。
S24. 図4の(1)の式を用い、予めデータ記憶部413に記憶されているAPD10の素子の組成に基づく温度に依存しない定数n(図8の(11))と、前記ステップS23にて記憶部413に記憶されたブレークダウン電圧Vbr(図9の(24))と、前記のステップS18にて記憶部413に記憶された増倍率M(図9の(25))を上記の式に適用し、バイアス電圧Vapdを計算して求め、記憶部413にそのバイアス電圧Vapdを記憶する(図9の(26))。
S25. 記憶部413に記憶されているバイアス電圧Vapdに基づいてバイアス制御回部411よりバイアス電圧制御情報140を送信する。
なお、前記のステップS21からS25は予め設定した周期にて実行する。
以上説明のように、本発明の光受信装置と信号誤り測定器を接続し、測定時の温度条件の下で、信号誤りが最小となるバイアス電圧を見出し、そのバイアス電圧に基づいて増倍率を計算して求め、その増倍率を基準の増倍率として光受信装置に記憶させる。そして、この光受信装置において、アバランシェフォトダイオードの周辺温度に変動があったとしても、前記の基準の増倍率になるようにバイアス電圧を制御するので、常に増倍率が一定となる光受信装置および光受信装置のバイアス電圧制御方法を提供することができる。
(実施例2)
図13は本発明の光受信装置を説明する図(2)であり、図3で説明した光受信装置に比べて、増幅回路50の構成を変更し、切替え回路90を追加している。増幅回路51は光信号電流120を電圧変換し電圧変換された電圧信号を一定の増幅率に基づいて増幅する。増幅回路52は一定の増倍率で増幅された電圧信号151を一定のレベルまで増幅する。図3で説明した増幅回路50をこの増幅回路51と増幅回路52で構成している。
切替え回路90は、電流モニタ回路70からのモニタ電流171の信号と、増幅回路51からの電圧信号151の信号とを切り替えて演算回路42へモニタ信号191を送信している。
図14は切替え回路を説明する図である。91はデータ変換部であり、電流モニタ回路70からのモニタ電流171の信号を電圧信号データに変換する、つまり電流のアナログ信号を電圧のディジタルデータに変換する。92はデータ変換部であり、増幅回路51からの電圧信号151の信号を電圧信号データに変換する、つまり電圧のアナログ信号を電圧のディジタルデータに変換する。94は閾値格納部であり、予め閾値が設定されている。95は比較部であり、データ変換部91からのディジタルデータであるモニタ電流値を、閾値格納部94に格納されている閾値と比較する。96は選択部であり、比較部95の比較結果に応じて、データ変換部91からのディジタルデータとデータ変換部92からのディジタルデータとの何れかを選択し、演算回路42へモニタ信号191として送信する。
図13において、入力光である光信号110の強度が極めて低い場合に光信号電流120、モニタ電流171の信号レベルは極めて低いレベルになり、これらの信号を扱う回路の雑音レベルとの比(信号対雑音比)は悪化する。そのため、モニタ電流171の信号レベルが予め設定した閾値以下もしくは閾値より低くなった場合に、増幅されたモニタ電流に切り替える。
図13において、増幅回路51は予め設定した一定の増幅率を有しており、光信号電流120の電流信号を電圧信号に変換し、その電圧信号をその一定の増幅率に基づいて増幅する。
よって、光信号110を受信した場合、光信号110の強度に応じた信号電流120とそのモニタ電流171が発生し、切替え回路90には、モニタ電流171と一定の増幅率に基づいて増幅された電圧信号151が入力される。
図14において、データ変換部91では入力されるモニタ電流171の電流信号を電圧信号に変換し、その電圧信号をアナログ・ディジタル変換(AD変換)し電圧データに変換する。データ変換部92では、入力される電圧信号151をAD変換し電圧データに変換する。データ変換部91が出力する電圧データは比較部95と選択部96に入力される。比較部95は、データ変換部91からの電圧データを閾値格納部94に予め設定され格納されている閾値と比較し、その比較結果信号192を生成する。選択部96は比較結果信号192に基づいて、データ変換部91からの電圧データとデータ変換部92からの電圧データの何れかを選択する。この選択により、選択部96は、データ変換部91からの電圧データによって示されるモニタ電流値が、閾値格納部94に格納されている閾値によって示される電流値より大きい場合はデータ変換部91からの電圧データを選択し、小さい場合はデータ変換部92からの電圧データを選択し、選択されたモニタ信号191を出力する。比較結果信号192は、例えば、データ変換部91からの電圧データによって示されるモニタ電流値が、閾値格納部94に格納されている閾値によって示される電流値より大きい場合は論理レベル“0”の信号を、小さい場合は論理レベル“1”となる信号である。
図15は演算回路(2)を説明するための図であり、図13の演算回路42の機能構成を示している。図7の演算回路41に比べて、演算回路42のモニタ電流変換部424は、比較部95の比較結果信号192に基づく制御機能を備えている。つまり、モニタ電流変換部424は、モニタ信号191、比較結果信号192を受信する。モニタ電流変換部424は、比較結果信号192が論理レベル“0”の時には、受信した電圧データを予めMSA等により決められた条件に則したデータに変換してモニタ信号172を生成する。モニタ電流変換部424は、比較結果信号192が論理レベル“1”の時には、モニタ信号191を増幅回路51が有する一定の増幅率に基づいて除算し、増幅回路51によって増幅した以前のレベルに戻し、予めMSA等により決められた条件に則したデータに変換してモニタ信号172を生成する。
以上説明のように、実施例1の本発明の光受信装置に加えて、受信する光信号の強度が極めて低い場合に、予め設定した増幅率に基づいて増幅した信号を用いてモニタ信号を生成する処理を行い、最終的に出力するモニタ信号にはその増幅率で除算したレベルのモニタ信号としている。よって、回路雑音に強い、つまりダイナミックレンジの広い光受信装置を提供することができる。
以上の実施例1〜2を含む実施形態に関し、更に以下の付記を開示する。
(付記1) 入力光を電気信号に変換するアバランシェフォトダイオードと、
制御信号に基づいて該アバランシェフォトダイオードに印加されるバイアス電圧を生成するバイアス回路と、
該アバランシェフォトダイオードの周辺温度をモニタする温度モニタ回路と、
予め設定した増倍率を記憶し、該温度モニタ回路がモニタした温度に対応する増倍率が、該予め設定した増倍率になるように該バイアス回路を制御する演算回路とを備えた光受信装置。
(付記2) 付記1に記載の光受信装置であって、
前記の予め設定した増倍率は、受信する入力光の信号誤りが最小となる前記のバイアス電圧に対応する増倍率であることを特徴とする光受信装置。
(付記3) 付記2に記載の光受信装置であって、前記の演算回路は、
前記のアバランシェフォトダイオードのブレークダウン電圧の温度傾斜に関するデータと、
基準温度と該基準温度における該アバランシェフォトダイオードのブレークダウン電圧のデータと、
該アバランシェフォトダイオード素子の組成に基づく定数に関するデータと、
前記の信号誤りが最小となるバイアス電圧に対応する増倍率のデータのそれぞれを記憶するデータ記憶部を備えることを特徴とする光受信装置。
(付記4) 付記1に記載の光受信装置であって、
前記のアバランシェフォトダイオードに流れる電流をモニタする電流モニタ回路を備えることを特徴とする光受信装置。
(付記5) 付記4に記載の光受信装置であって、
前記のアバランシェフォトダイオードに流れる電流を予め設定した倍率で増幅する増幅回路と、
前記の電流モニタ回路のモニタ値が予め設定した閾値より大きい場合は該電流モニタ回路のモニタ値を出力し、該電流モニタ回路のモニタ値が予め設定した該閾値以下の場合は該増幅回路の出力を出力するように切り替える切替え回路と、
該電流モニタ回路のモニタ値が予め設定した該閾値以下の場合に、該切替え回路から出力されるモニタ値を、予め設定した該倍率で減衰したモニタ値を出力する演算回路を備え、
該演算回路は該モニタ値を予め決められた形式に変換して出力することを特徴とする光受信装置。
(付記6) 入力光を電気信号に変換するアバランシェフォトダイオードを備える光受信装置のバイアス電圧制御方法であって、
予め一意の増倍率を設定する増倍率設定ステップと、
該アバランシェフォトダイオードの周辺温度に対応する増倍率が該一意の増倍率になるように、該アバランシェフォトダイオードのバイアス電圧を制御するバイアス電圧制御ステップを備えることを特徴とする光受信装置のバイアス電圧制御方法。
(付記7) 付記6に記載の光受信装置のバイアス電圧制御方法であって、前記の増倍率設定ステップは、
受信する入力光の信号誤りが最小となるように、前記のバイアス電圧を調整するバイアス電圧調整ステップと、
前記のアバランシェフォトダイオードのブレークダウン電圧の温度傾斜に基づいて、該バイアス電圧調整ステップでバイアス電圧を獲得した時の該アバランシェフォトダイオードの周辺温度に対応するブレークダウン電圧を算出する第1のブレークダウン電圧算出ステップと、
該バイアス電圧調整ステップで獲得したバイアス電圧と、該第1のブレークダウン電圧算出ステップで算出したブレークダウン電圧と、該アバランシェフォトダイオード素子の組成に基づく定数とを用いて増倍率を算出する増倍率算出ステップを備えることを特徴とする光受信装置のバイアス電圧制御方法。
(付記8) 付記6に記載の光受信装置のバイアス電圧制御方法であって、前記のバイアス電圧制御ステップは、
前記のアバランシェフォトダイオードの周辺温度をモニタする温度モニタステップと、
前記のブレークダウン電圧の温度傾斜に基づいて、該温度モニタステップで獲得した温度に対応するアバランシェフォトダイオードのブレークダウン電圧を算出する第2のブレークダウン電圧算出ステップと、
前記の増倍率算出ステップで算出した増倍率と、該第2のブレークダウン電圧算出ステップで算出したブレークダウン電圧と、前記のアバランシェフォトダイオード素子の組成に基づく定数とを用いてバイアス電圧を算出するバイアス電圧算出ステップを備えることを特徴とする光受信装置のバイアス電圧制御方法。
本発明の光受信装置の基本構成を説明する図 APDの増倍率とバイアス電圧と温度の関係を示す図 本発明の光受信装置を説明する図(1) 演算回路で用いる算術式を示す図 ブレークダウン電圧の温度傾斜を示す図 基準の増倍率を予め設定する場合について説明する図 演算回路を説明する図 データ記憶部のテーブルを説明する図(1) データ記憶部のテーブルを説明する図(2) 光受信装置のバイアス電圧制御の全体フローを示す図 増倍率設定フローを示す図 バイアス電圧制御フローを示す図 本発明の光受信装置を説明する図(2) 切替え回路を説明する図 演算回路の構成を示す図(2)
符号の説明
1 光受信装置
2 測定器
10 アバランシェフォトダイオード(APD)
20 バイアス回路
30 温度モニタ回路
40、41、42 演算回路
411 バイアス回路制御部
412 外部制御部
413 データ記憶部
414、424 モニタ電流変換部
415 CPU部
416 メモリ部
50、51、52 増幅回路
60 データ・クロック生成回路
70 電流モニタ回路
80 バイアス電圧モニタ回路
90 切替え回路
91、92 データ変換部
94 閾値格納部
95 比較部
96 切替部
110 光信号
120 光信号電流
130 温度モニタ情報
140 バイアス電圧制御情報
141 外部インタフェース
150、151 電圧信号
161 データ信号
162 クロック信号
171 モニタ電流
172 モニタ信号
180 バイアス電圧モニタ情報
191 モニタ信号
192 比較結果信号
4150 CPUバス

Claims (6)

  1. 入力光を電気信号に変換するアバランシェフォトダイオードと、
    制御信号に基づいて該アバランシェフォトダイオードに印加されるバイアス電圧を生成するバイアス回路と、
    該アバランシェフォトダイオードの周辺温度をモニタする温度モニタ回路と、
    該アバランシェフォトダイオードに流れる電流をモニタする電流モニタ回路と、
    該アバランシェフォトダイオードに流れる電流を予め設定した倍率で増幅する増幅回路と、
    該電流モニタ回路が獲得したモニタ値が予め設定した閾値より大きい場合は該モニタ値を出力し、該電流モニタ回路が獲得したモニタ値が予め設定した該閾値以下の場合は該増幅回路の出力を出力するように切り替える切替え回路と、
    予め設定した増倍率を記憶し、該温度モニタ回路がモニタした温度に対応する増倍率が、該予め設定した増倍率になるように該バイアス回路を制御すると共に、該電流モニタ回路が獲得したモニタ値が予め設定した該閾値以下の場合に該切替え回路から出力される該増幅回路の出力を、予め設定した該倍率で減衰させたものを、該電流モニタ回路が獲得したモニタ値として出力する演算回路とを備えた光受信装置。
  2. 請求項1に記載の光受信装置であって、
    前記の予め設定した増倍率は、受信する入力光の信号誤りが最小となる前記のバイアス電圧に対応する増倍率であることを特徴とする光受信装置。
  3. 請求項2に記載の光受信装置であって、前記の演算回路は、
    前記のアバランシェフォトダイオードのブレークダウン電圧の温度傾斜に関するデータと、
    基準温度と該基準温度における該アバランシェフォトダイオードのブレークダウン電圧のデータと、
    該アバランシェフォトダイオード素子の組成に基づく定数に関するデータと、
    前記の信号誤りが最小となるバイアス電圧に対応する増倍率のデータのそれぞれを記憶するデータ記憶部を備えることを特徴とする光受信装置。
  4. 入力光を電気信号に変換するアバランシェフォトダイオードを備える光受信装置のバイアス電圧制御方法であって、
    予め一意の増倍率を設定する増倍率設定ステップと、
    該アバランシェフォトダイオードの周辺温度に対応する増倍率が該一意の増倍率になるように、該アバランシェフォトダイオードのバイアス電圧を制御するバイアス電圧制御ステップと、
    該アバランシェフォトダイオードに流れる電流をモニタする電流モニタステップと、
    該電流モニタステップで獲得したモニタ値が予め設定した閾値より大きい場合は該モニタ値を出力し、該電流モニタステップで獲得したモニタ値が予め設定した該閾値以下の場合は、該アバランシェフォトダイオードに流れる電流を予め設定した倍率で増幅する増幅回路の出力を、予め設定した該倍率で減衰させたものを、該電流モニタステップで獲得したモニタ値として出力するモニタ電流値出力ステップを備えることを特徴とする光受信装置のバイアス電圧制御方法。
  5. 請求項4に記載の光受信装置のバイアス電圧制御方法であって、前記の増倍率設定ステップは、
    受信する入力光の信号誤りが最小となるように、前記のバイアス電圧を調整するバイアス電圧調整ステップと、
    前記のアバランシェフォトダイオードのブレークダウン電圧の温度傾斜に基づいて、該バイアス電圧調整ステップでバイアス電圧を獲得した時の該アバランシェフォトダイオードの周辺温度に対応するアバランシェフォトダイオードのブレークダウン電圧を算出する第1のブレークダウン電圧算出ステップと、
    該バイアス電圧調整ステップで獲得したバイアス電圧と、該第1のブレークダウン電圧算出ステップで算出したブレークダウン電圧と、該アバランシェフォトダイオード素子の組成に基づく定数とを用いて増倍率を算出する増倍率算出ステップを備えることを特徴とする光受信装置のバイアス電圧制御方法。
  6. 請求項4に記載の光受信装置のバイアス電圧制御方法であって、前記のバイアス電圧制御ステップは、
    前記のアバランシェフォトダイオードの周辺温度をモニタする温度モニタステップと、
    前記のブレークダウン電圧の温度傾斜に基づいて、該温度モニタステップで獲得した温度に対応するアバランシェフォトダイオードのブレークダウン電圧を算出する第2のブレークダウン電圧算出ステップと、
    前記の増倍率算出ステップで算出した増倍率と、該第2のブレークダウン電圧算出ステップで算出したブレークダウン電圧と、前記のアバランシェフォトダイオード素子の組成に基づく定数とを用いてバイアス電圧を算出するバイアス電圧算出ステップを備えることを特徴とする光受信装置のバイアス電圧制御方法。
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Families Citing this family (17)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
KR100975871B1 (ko) * 2008-10-17 2010-08-13 삼성모바일디스플레이주식회사 광 센싱 회로, 이를 포함하는 터치 패널, 및 광 센싱 회로의 구동 방법
CN102394692B (zh) * 2011-10-26 2014-09-03 索尔思光电(成都)有限公司 一种ddmi光模块收端监控电路及其突发模式光功率监控方法
WO2013111555A1 (ja) * 2012-01-23 2013-08-01 日本電気株式会社 光受信器、光受信器の制御方法、および光受信方法
WO2013111286A1 (ja) * 2012-01-25 2013-08-01 三菱電機株式会社 光受信器、局側光終端装置および受光レベルモニタ方法
US8879909B2 (en) * 2012-04-25 2014-11-04 Source Photonics, Inc. Circuits and methods for monitoring power parameters in an optical transceiver
US8901474B2 (en) * 2012-06-19 2014-12-02 Source Photonics, Inc. Enhanced received signal power indicators for optical receivers and transceivers, and methods of making and using the same
GB2510890A (en) * 2013-02-18 2014-08-20 St Microelectronics Res & Dev Method and apparatus
JP6257916B2 (ja) * 2013-04-26 2018-01-10 東芝メディカルシステムズ株式会社 光検出装置、放射線検出装置、放射線分析装置及び光検出方法
JP6315950B2 (ja) * 2013-11-22 2018-04-25 三菱電機株式会社 光パワーモニタ用回路、光モジュール、局側装置、光パワーモニタ方法及びプログラム
CN106033225B (zh) * 2015-03-16 2017-08-25 苏州旭创科技有限公司 低功耗apd偏压控制器与偏压控制方法及光电接收器
CN106533552B (zh) * 2016-10-27 2019-03-19 武汉光迅科技股份有限公司 一种光放大器突发模式下的光功率和增益探测装置和方法
JP7454917B2 (ja) * 2018-12-12 2024-03-25 浜松ホトニクス株式会社 光検出装置
US11513002B2 (en) 2018-12-12 2022-11-29 Hamamatsu Photonics K.K. Light detection device having temperature compensated gain in avalanche photodiode
US12113088B2 (en) 2018-12-12 2024-10-08 Hamamatsu Photonics K.K. Light detection device
WO2020121852A1 (ja) 2018-12-12 2020-06-18 浜松ホトニクス株式会社 光検出装置
WO2020121858A1 (ja) 2018-12-12 2020-06-18 浜松ホトニクス株式会社 光検出装置及び光検出装置の製造方法
CN110889242B (zh) * 2019-12-10 2023-10-20 深圳市联洲国际技术有限公司 Apd电压的调整方法、装置、存储介质及onu设备

Family Cites Families (7)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH1140840A (ja) * 1997-07-16 1999-02-12 Sumitomo Electric Ind Ltd 光受信器
US6222660B1 (en) * 1998-06-09 2001-04-24 Tektronix, Inc. Adaptive power supply for avalanche photodiode
US6313459B1 (en) * 2000-05-31 2001-11-06 Nortel Networks Limited Method for calibrating and operating an uncooled avalanche photodiode optical receiver
JP2002217833A (ja) * 2000-11-14 2002-08-02 Mitsubishi Electric Corp 光受信器
US20020057480A1 (en) 2000-11-14 2002-05-16 Toshitaka Ushiyama Optical receiver for optical communications
JP4223304B2 (ja) * 2003-03-19 2009-02-12 三菱電機株式会社 光受信器
JP2006128940A (ja) * 2004-10-27 2006-05-18 Sumitomo Electric Ind Ltd 光受信器

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