CN104718703A - 光接收功率监测器的校正装置和校正方法 - Google Patents

光接收功率监测器的校正装置和校正方法 Download PDF

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Abstract

本发明的目的是，通过在光学模块中安装信号光的光接收功率监测器的校正装置，利用较少资源快速且精确地将光接收功率的测量值校正成实际值。校正装置配备有校正表，当校正信号光的光接收功率的测量值时参考校正表，并且在这个校正表中，基于多个参考值和多个实际值之间的对应关系，预先存储多个校正值。在校正表中，相比于其中实际值的变化相对于测量值的变化大的区间，对于其中实际值的变化相对于测量值的变化小的区间，来使得参考值之间的间隔更小并且存储更多的校正值。当指示信号光的光接收功率的测量值的输入值匹配校正表中的参考值时，校正装置从校正表读取与参考值对应的校正值。当输入值不匹配校正表中的参考值时，校正装置根据基于输入值的预定计算公式来计算校正值。

Description

光接收功率监测器的校正装置和校正方法
技术领域
本发明涉及用于使用APD 10(雪崩光电二极管)校正具有光接收功能的光学模块中的光接收功率监测器的测量值的装置和方法。
本申请是基于并且要求2012年8月16日提交的日本专利申请No.2012-180414的优先权权益，该申请的内容通过引用并入本文。
背景技术
传统上，已经开发出并且在各种文献中公开了与光学模块的光接收功率监测器相关的技术。专利文献1公开了一种光功率计，该光功率计使用校正系数校正光接收灵敏度，以精确测量被测量光的光功率，即使光接收元件的光接收灵敏度随时间推移而下降。专利文献2公开了一种光学LAN系统，该光学LAN系统适于基于光接收功率检测器的值控制光学接收/发送模块的光输出信号。专利文献3公开了通过校正电路的暗电流或漏电流造成的偏移来提高精度的光接收功率监测器电路。专利文献4公开了在使用干涉计测量位置、长度、距离或光学长度的过程中补偿电子雪崩光电二极管(APD)进行的多次测量之间的取数据时间中的差异和不确定的技术。
SFF协会(小形状因子协会)已经创建了用于光学收发器的诊断监测接口的SFF-8472规范(参见非专利文献1)。当用该规范校正光学模块中的光接收功率监测器的测量值时，MPU(微处理单元)将测量值输入用于进行线性插值、三阶曲线插值等的计算公式中，以计算校正值。在SFF-8472规范中，基于光接收功率监测器的测量值，执行四阶插值的计算公式，以计算光接收功率的实际值(下文中，被称为校正值)。
实际值＝A×ADC值4+B×ADC值3+C×ADC值2+D×ADC值+E
在以上的计算公式中，“ADC值”表示通过用A/D转换器将使用光电二极管将接收到的光转换成电信号而得到的模拟值转换成数字值而得到的测量值。另外，A、B、C、D和E表示用于校正的恒定值。
通常，为了实现光学模块中的小型化、低功耗和低成本，需要安装成本低且低速的MPU。然而，使用这种MPU使得难以通过在短时间内执行诸如四阶插值的高负荷处理基于光接收功率监测器的测量值来计算实际值。
当在不进行任何四阶插值计算的情况下用成本低且低速的MPU校正光接收功率监测器的测量值时，可通过致使MPU预先形成存储测量值和实际值之间的关系的表并且参考该表来获取与测量值对应的实际值。
专利文献3和专利文献4描述了以上传统技术。专利文献3公开了光接收功率监测器的结构示例，并且专利文献4公开了参考查询表以补偿APD特性的技术。
[引用列表]
[专利文献]
[PTL1]
日本未经审查的专利申请公开No.2005-249473
[PTL2]
日本未经审查的专利申请公开No.2009-033568
[PTL3]
日本未经审查的专利申请公开No.2010-212900
[PTL4]
日本未经审查的专利申请公开(PCT申请的翻译)No.2009-517693
[非专利文献]
[NPL1]
SFF协会，URL：“ftp://ftp.seagate.com/sff/SFF-8472.PDF”；
“SFF-8472 Rev.11.3”
发明内容
[技术问题]
然而，当光接收功率检测器的测量值的范围大时，与测量值对应的实际值(即，校正值)的数目增加，从而增大描述测量值和实际值之间的关系并且造成存储器使用增加的表的大小。
本发明是依据以上情形实现的，本发明的目的是提供光学模块中的光接收功率监测器的校正装置和校正方法，其允许减小光接收功率监测器的测量值校正表的大小并且允许高精度获取对应于测量值的校正值。
[问题的解决方案]
本发明涉及一种光学模块的光接收功率监测器的校正装置。所述校正装置包括：存储单元，其存储校正表，当校正信号光的光接收功率的测量值时参考所述校正表并且所述校正表基于多个参考值和多个实际值之间的相关性预先存储多个校正值；信号处理单元，其当指示所述信号光的光接收功率的测量值的输入值匹配所述校正表中的参考值时从所述校正表读取与所述参考值相关联的校正值，并且当所述输入值不匹配所述校正表中的任何参考值时根据基于所述输入值的预定计算公式计算校正值。另外，按以下这种方式将所述多个校正值存储在所述校正表中：相比于所述实际值的变化相对于所述参考值的变化大的区间，对于所述实际值的变化相对于所述参考值的变化小的区间，多个参考值之间的间隔较小。
本发明涉及一种光学模块的光接收监测器的校正方法。所述校正方法包括：按以下这种方式将多个校正值存储在校正表中：相比于实际值的变化相对于参考值的变化大的区间，对于所述实际值的变化相对于所述参考值的变化小的区间，多个参考值之间的间隔较小，当校正信号光的光接收功率的测量值时参考所述校正表并且所述校正表基于多个参考值和多个实际值之间的相关性存储多个校正值；当指示所述信号光的光接收功率的测量值的输入值匹配所述校正表中的参考值时，从所述校正表读取与所述参考值相关联的校正值，并且当所述输入值不匹配所述校正表中的任何参考值时，根据基于所述输入值的预定计算公式计算校正值。
本发明涉及一种包含光学模块的光接收功率监测器的校正方法的程序。
[本发明的有益效果]
在根据本发明的方面的校正装置和校正方法中，在通过将多个参考值和多个校正值彼此相关联来存储它们的校正表中，相比于均用多个位表示的指示信号光的光接收功率的测量值的数字输入值的数目，参考值的数目少，使得校正表的存储容量可减小。另外，通过使用针对输入值所属的参考值的各范围而设置的非线性计算公式，允许计算即使是不匹配校正表中存储的任何参考值的输入值的校正值。此外，按以下这种方式将多个校正值存储在校正表中：相比于实际值的变化相对于参考值的变化大的区间，对于所述实际值的变化相对于所述参考值的变化小的区间，多个参考值之间的间隔较小。这样造成在相比于表现出参考值变化率大的线性插值表现出的参考值变化率较小高阶曲线插值中精细地设置校正值，从而允许高精度地计算与输入值对应的校正值。
附图说明
图1是根据本发明的第一实施例的光学模块的框图；
图2是示出光学模块中APD的光接收功率和输出电流之间的相关性的特征图表；
图3是示出光学模块中光接收功率的ADC测量值和实际值之间的相关性的特征图表；
图4是示出光学模块的存储器中存储的校正表的存储内容的表；
图5是示出光学模块的MPU执行的校正处理的流程图；
图6是示出光学模块的MPU执行的线性插值的特征图表；
图7是根据本发明的第二实施例的光学模块的框图；
图8是示出光学模块的存储器中存储的校正表的存储内容的表；
图9是示出光学模块的存储器中存储的计算信息表的存储内容的表；
图10是示出光学模块的MPU执行的校正处理的流程图；
图11是示出基于计算信息表的非线性插值功能的特征图表；
图12是示出根据本发明的第三实施例的光学模块的存储器中存储的校正表的存储内容的表；
图13是示出根据本发明的第三实施例的光学模块的存储器中存储的计算信息表的存储内容的表；
图14是示出基于计算信息表的非线性插值函数的特征图表；以及
图15是根据以上实施例的基本结构的数据校正装置的框图。
具体实施方式
将参考各实施例和附图提供对根据本发明的各实施例的光学模块中的光接收功率监测器的校正装置和校正方法。
第一实施例
图1是根据本发明的第一实施例的光学模块10的框图。光学模块10包括APD(雪崩光电二极管)1、TIA(跨阻抗放大器)2、LIM(限制放大器)3、ADP驱动电源4、电流镜电路5、电流电压转换电路6、A/D转换器7、MPU 8和存储器9。存储器9具有校正表91。光学模块10设置有光接收功能和光接收功率监测功能，光接收功能用于将APD1接收的信号光转换成主信号输出，光接收功率监测功能用于测量APD1的光接收功率。
作为光接收元件的APD 1输出与接收到的信号光对应的电流Iapd。作为预放大器的TIA 2以与反馈电阻器R的电阻值成比例的增益放大APD 1产生的电流Iapd，以转换成电压信号。作为后放大器的LIM3将TIA 2的输出信号放大直至预定大小，以产生主信号输出。
电流镜电路5将APD驱动电路4作为恒压源操作以驱动APD 1并且还产生与APD 1中产生的电流Iapd成比例的电流Icm，以将电流Icm输出到电流电压转换电路6。电流电压转换电路6将电流Icm转换成电压信号，以将电压信号输出到A/D转换器7。
A/D转换器7将电流电压转换电路6的电压信号转换成数字值，以将数字值输出到MPU 8。MPU 8根据信号光的光接收功率的实际值，执行用于校正A/D转换器7的数字值(下文中被称为ADC测量值ad)的校正处理。校正处理校正APD 1的输入信号光的光接收功率的实际值和ADC测量值ad之间的误差。图2示出光接收功率的实际值和ADC测量值ad之间的相关性，其中，在这两个值之间创建预先设置的非线性相关性。在MPU 8执行的校正处理中，基于图2中示出的相关性和计算信息，使用预先设置的表计算与ADC测量值ad对应的校正值。
将参考图2和图3提供对MPU 8执行的校正处理的概况的描述。图2是示出APD 1的光接收功率和APD 1的输出电流Iapd之间的关系的特征图表，其中，水平轴表示APD 1的光接收功率并且垂直轴表示APD 1的输出电流Iapd。总体上，图2中的示出的非线性相关性是在APD 1的光接收功率和APD 1的输出电流Iapd之间创建的。另外，图2的相关性还包括APD 1的暗电流的影响。
图3是示出ADC测量值ad和实际值之间的关系的特征图表，其中，水平轴表示ADC测量值ad并且垂直轴表示实际值。在图3的特征图表中，在ADC测量值和实际值之间创建四阶曲线插值关系。
实际值＝A×(ADC测量值ad)4+B×(ADC测量值ad)3+C×(ADC测量值)2+D×(ADC测量值ad)+E
当图3中示出的相关性是ADC测量值和实际值之间的时，相比于其中实际值的变化比ADC测量值的变化大的区间，对于实际值的变化比ADC测量值的变化小的区间，需要增加的分辨率。由于MPU 8根据ADC测量值ad和实际值之间的相关性通过参考校正表91来获取ADC测量值ad的校正值，因此处理负荷可降低并且校正处理的精度可提高。另外，四阶曲线插值一直具有拐点，因此不表示单调递增。如图3中所示，通过将单调递增线性插值与四阶曲线插值相结合以防止曲线经过拐点，能够避免不期望的错误操作。
校正表91是存储APD 1的光接收功率的多个ACD测量值和多个实际值(即，校正值)之间的对应关系的表。校正表91用作查询表。MPU 8是指校正表91中指明的ACD测量值(下文中，被称为ADC测量值Mk)的参考点，以搜索与A/D转换器7的ADC测量值ad匹配的ADC测量值Mk。ADC测量值Mk中的符号“k”表示校正表91中的要素编号。MPU 8从校正表91中搜索与A/D转换器7的ADC测量值ad匹配的ADC测量值Mk，以获取与ADC测量值Mk对应的校正值Gk作为光接收功率的实际值。当MPU 8找到与A/D转换器7的ADC测量值ad匹配的ADC测量值Mk时，MPU 8从校正表91读取与ADC测量值Mk对应的校正值Gk，从而可获取与ADC测量值ad对应的校正值。
在本实施例中，为了节省光学模块10的存储器容量，校正表91中存储的ADC测量值Mk的数目相比于用位数表示的A/D转换器7的ADC测量值ad的数目而言有所减少。换句话讲，校正表91存储比ADC测量值ad的数目少的数目的ADC测量值Mk。因此，当MPU 8在校正表91中执行搜索时，发生ADC测量值ad不匹配任何ADC测量值Mk。在这种情况下，MPU 8根据线性计算公式执行插值计算，以计算与ADC测量值ad对应的校正值。
接下来，将参考图4描述校正表91。形成图4中示出的校正表91，以使其适于具有12位分辨率的A/D转换器7将输入电压转换成范围是“0”至“4095”的ADC测量值ad的情况。
在图4的校正表中，为了当输入小时精确校正光接收功率，64ADC测量值Mk之间的间隔没有被设置成相等的，而是被设置成不等的。具体地，使用四种不同种类的间隔设置ADC测量值Mk之间的间隔。本文中，校正表91具有与四个不同间隔对应的四个区域，从区域1到区域4。另外，将校正值Gk1、Gk2、Gk3和Gk4与区域1、2、3和4的ADC测量值Mk相关联。校正值Gk1、Gk2、Gk3和Gk4被统称为校正值Gkx(x＝1、2、3或4)。在这种情况下，在区域1中，ADC测量值Mk之间的间隔被设置成“1”；在区域2中，ADC测量值Mk之间的间隔被设置成“4”；在区域3中，ADC测量值Mk之间的间隔被设置成“16”；在区域4中，ADC测量值Mk之间的间隔被设置成“240”。另外，区域1具有“1”至“16”的要素编号；区域2具有“17”至“32”的要素编号；区域3具有“33”至“48”的要素编号；并且区域4具有“49”至“64”的要素编号。
在区域1中，与要素编号k(k＝1至16)对应的ADC测量值Mk与校正值Gk1相关联。也就是说，在区域1中，ADC测量值Mk＝k1且k1＝k。换句话讲，在区域1中，确定使得ADC测量值Mk之间的间隔是“1”并且ADC测量值Mk＝k1。具体地，k＝1至16时的ADC测量值Mk是从“1”至“16”的整数并且这些值之间的间隔是“1”。另外，在区域1中，校正值Gk1与ADC测量值Mk相关联。因此，校正表91的校正值Gk1对应于ADC测量值Mk＝“1”至“16”。
在区域2中，与要素编号k(k＝17至32)对应的ADC测量值Mk与校正值Gk2相关联。也就是说，在区域2中，ADC测量值Mk＝k2且k2＝4×(k-16)+16。换句话讲，在区域2中，确定使得ADC测量值Mk之间的间隔是“4”并且ADC测量值Mk＝k2。具体地，k＝17至32时的ADC测量值Mk是整数“20”、“24”、“28”、“32”、“36”、“40”、“44”、“48”、“52”、“56”、“60”、“64”、“68”、“72”、“76”和“80”并且这些值之间的间隔是“4”。另外，在区域2中，校正值Gk2与ADC测量值Mk相关联。因此，校正表91的校正值Gk2对应于ADC测量值Mk＝20、24、…、76和80。
在区域3中，与要素编号k(k＝33至48)对应的ADC测量值Mk与校正值Gk3相关联。也就是说，在区域3中，ADC测量值Mk＝k3且k3＝16×(k-32)+80。换句话讲，在区域3中，确定使得ADC测量值Mk之间的间隔是“16”并且ADC测量值Mk＝k3。具体地，k＝33至48时的ADC测量值Mk是整数“96”、“112”、“128”、“144”、“160”、“176”、“192”、“208”、“224”、“240”、“256”、“272”、“288”、“304”、“320”和“336”并且这些值之间的间隔是“16”。另外，在区域3中，校正值Gk3与ADC测量值Mk相关联。因此，校正表91的校正值Gk3对应于ADC测量值Mk＝96、112、…、320和336。
在区域4中，与要素编号k(k＝49至64)对应的ADC测量值Mk与校正值Gk4相关联。也就是说，在区域4中，ADC测量值Mk＝k4且k4＝240×(k-48)+336。换句话讲，在区域4中，确定使得ADC测量值Mk之间的间隔是“240”并且ADC测量值Mk＝k4。具体地，k＝49至64时的ADC测量值Mk是整数“576”、“816”、“1056”、“1296”、“1536”、“1776”、“2016”、“2256”、“2496”、“2736”、“2976”、“3216”、“3456”、“3696”、“3936”和“4176”并且这些值之间的间隔是“240”。另外，在区域4中，校正值Gk4与ADC测量值Mk相关联。因此，校正表91的校正值Gk4对应于ADC测量值Mk＝576、816、…、3936和4176。
在校正表91中，在图3中示出的ADC测量值ad和电流值之间的相关性中，确定ADC测量值Mk，使得相比于电流值的变化相对于ADC测量值ad的变化大的区间(对于图3中ADC测量值ad大并且电流值也大的区间)，对于电流值的变化相对于ADC测量值ad的变化小的区间(对于图3中ADC测量值ad小并且电流值也小的区间)，ADC测量值Mk之间的间隔更小。
通常，光学模块10中的光接收功率监测功能需要大约20dB至30dB的光接收范围。因此，A/D转换器7的分辨率通常被设置成10位或更多。当APD 1的光接收功率的ADC测量值Mk和校正值(即，电流值)被假定以1:1关系彼此对应时，校正表91需要包括用10位或更多的表示的校正值的数目，使得大存储器容量是必需的。另一方面，在本实施例中，为了节省存储器容量，校正表91中指明的参考值和校正值的组合的数目(即，要素编号k)减少并且使用预先预定的线性计算来计算与减少的校正值数目对应的校正值。尽管为了将校正值与ADC测量值Mk以1:1的关系相关联，4096个校正值是必需的，但图4中示出的校正表91中的校正值的数目减少至64(k＝64)。
接下来，将参考图5描述MPU 8执行的校正处理(即，MPU 8通过输入来自A/D转换器7的ADC测量值ad计算校正值Gkx的处理)。
(步骤S101)
MPU 8输入来自A/D转换器7的ADC测量值ad。
(步骤S102)
MPU 8参考校正表91，以确定ADC测量值ad是否匹配校正表91中的64个ADC测量值Mk中的任一个。
(步骤S103)
当在步骤S102中确定ADC测量值ad匹配校正表91中的64个ADC测量值Mk中的任一个时(即，当步骤S102的确定结果是“是”时)，MPU 8从校正表91获取与ADC测量值Mk的要素编号相同的要素编号k被分配到的校正值Gkx。
(步骤S104)
在步骤S103中，MPU 8从校正表91获取校正值Gk1、Gk2、Gk3或Gk4并且将校正值中的任一个作为ADC测量值ad的校正值存储在存储器9中的预定区域中。
例如，当MPU 8从A/D转换器7输入的ADC测量值ad是“1”时，在校正表91中指明与ADC测量值ad对应的ADC测量值M1，使得MPU 8从校正表91获取与ADC测量值M1对应的“校正值Gk1”。另外，当MPU 8从A/D转换器7输入的ADC测量值ad是“128”时，在校正表91中指明与ADC测量值ad对应的ADC测量值M35，使得MPU 8从校正表91获取与ADC测量值M35对应的“校正值G128”。此外，当MPU 8从A/D转换器7输入的ADC测量值ad是“816”时，在校正表91中指明与ADC测量值ad对应的ADC测量值M50，使得MPU 8从校正表91获取与ADC测量值M50对应的“校正值G816”。
(步骤S105)
另一方面，当在步骤S102中确定ADC测量值不匹配校正表91中的64个ADC测量值Mk中的任一个时(即，当步骤S102的确定结果是“否”时)，MPU 8通过线性插值计算ADC测量值ad的校正值。具体地，MPU 8比较从A/D转换器7输入的ADC测量值ad与ADC测量值Mk并且确定与ADC测量值ad对应的要素编号k。例如，MPU8确定从与ADC测量值ad对应的ADC测量值Mk到小于ADC测量值Mk+1的范围并且基于ADC测量值Mk和ADC测量值Mk+1执行线性插值。图6示出MPU 8执行的线性插值的概况。
例如，当MPU 8从A/D转换器7输入的ADC测量值ad是“81”时，在校正表91中没有指明与ADC测量值ad对应的ADC测量值Mk，并且因此MPU 8确定与ADC测量值ad＝“81”对应的要素编号k。ADC测量值ad＝“81”被包括在从ADC测量值M32＝“80”到小于ADC测量值M33＝“96”的范围内。因此，MPU 8基于ADC测量值M32＝“80”和ADC测量值M33＝“96”计算ADC测量值ad＝“81”的校正值。线性插值是已知的，因此将省略对其的详细描述。
(步骤S106)
MPU 8将步骤S105中得到的校正值G存储在存储器9的预定区域中。
第二实施例
接下来，将提供对本发明的第二实施例的详细描述。图7是根据本发明的第二实施例的光学模块10a的框图。根据第二实施例的光学模块10a的基本结构与根据第一实施例的光学模块10的基本结构相同。因此，为模块10a的构成要素提供相同的附图标记，并且将省略对其的描述。不同于光学模块10，光学模块10a的存储器9存储两种表，即，校正表91a和计算信息表92a。
图8是示出校正表91a的存储内容的表。图8的校正表91a是结合其中A/D转换器7具有12位分辨率并且将输入电压转换成范围是“0”到“4095”的ADC测量值ad的情况形成的。校正表91a是通过将APD1的光接收功率的多个ADC测量值Mk与多个实际值(即，校正值)彼此相关联来存储这些值的表。校正表91a用作查询表。另外，ADC测量值Mk＝64×(k-1)+1。具体地，在校正表91a中，ADC测量值Mk之间的间隔是“64”，并且k＝1至16时的ADC测量值Mk是整数“1”、“65”、“129”、…、“64×(k-1)+1”、…“3869”和“4033”。在校正表91a中，校正值Gk与ADC测量值Mk相关联。也就是说，校正表91a中指明的校正值Gk对应于ADC测量值Mk＝“1”、“65”、“129”、…、“64×(k-1)+1”、…“3869”和“4033”。
在图8的校正表91a中，多个ADC测量值Mk之间的间隔被设置成“64”。也就是说，ADC测量值Mk中的各值被顺序设置成要素编号1的ADC测量值Mk＝“1”、要素编号2的ADC测量值Mk＝“65”等。由“64+(k-1)+1”表示与要素编号k对应的ADC测量值Mk。另外，ADC测量值Mk对应于校正值Gk，要素编号k表示从“1”至“64”的整数。
图9是示出计算信息表92a的存储内容的表。图9的计算信息表92a包括与图8的结构表91a中的要素相同数目的要素。计算信息表92a根据各要素编号k描述将被应用于ADC测量值ad的非线性计算公式，ADC测量值ad具有在ADC测量值Mk和ADC测量值Mk+1之间的值。在图9中，非线性计算公式如下地表示：
Gk_k+1＝Ak_k+1×(Mk_k+1)4+Bk_k+1×(Mk_k+1)3+Ck_k+1×(Mk_k+1)2+Dk_k+1×(Mk_k+1)+Ek_k+1
在以上公式中，Gk_k+1表示插值计算之后的校正值，并且Mk_k+1表示ADC测量值ad。另外，Ak_k+1、Bk_k+1、Ck_k+1、Dk_k+1和Ek_k+1表示基于图2中示出的相关性确定的恒定值。下标“k_k+1”指示ADC测量值ad是校正表91a中的ADC测量值Mk和ADC测量值Mk_k+1之间的值。换句话讲，ADC测量值Mk_k+1是与校正表91a中指明的ADC测量值Mk中的任一个不匹配的ADC测量值ad并且在ADC测量值Mk和ADC测量值Mk_k+1之间。因此，计算信息表92a指示ADC测量值Mk_k+1的校正点Gk_k+1是通过上述计算公式计算的。另外，在图9中，下标“64_E”指示ADC测量值ad属于直至比校正表91a中的最大要素编号“64”的ADC测量值Mk(＝M64)大的最大值的范围。
在计算信息表92a中，当多个计算公式的基本元素都相同(即，在上述计算公式Gk_k+1的情况下)时，可通过要素编号k和恒定值Ak_k+1、Bk_k+1、Ck_k+1、Dk_k+1和Ek_k+1形成表。换句话讲，在没有描述计算公式的一般形式的情况下，只可在计算信息表92a中提供参数。另外，不必将计算信息表92a形成为表形式，并且可在MPU 8执行的程序中描述计算信息表92a。
接下来，将参考图10描述MPU 8执行的校正处理(MPU 8通过从A/D转换器7输入ADC测量值ad来计算校正值Gk的处理)。
(步骤S201)
MPU 8从A/D转换器7输入ADC测量值ad。
(步骤S202)
MPU 8参考校正表91a，以确定从A/D转换器7输入的ADC测量值ad是否匹配校正表91a中的64个ADC测量值Mk中的任一个。
(步骤S203)
当在步骤S202中确定ADC测量值ad匹配校正表91a中的64个ADC测量值Mk中的任一个时(即，当步骤S202的确定结果是“是”时)，MPU 8从校正表91a获取具有与ADC测量值Mk的要素编号k相同要素编号k的校正值Gk。
(步骤S204)
MPU 8将步骤S203中从校正表91a获取的校正值Gk与ADC测量值ad相关联，以将该值存储在存储器9的预定区域中。
例如，当MPU 8从A/D转换器7输入ADC测量值ad“1”时，在校正表91a中指明ADC测量值M1与ADC测量值ad匹配，使得MPU8从校正表91a获取与ADC测量值M1相关联的校正值G1。另外，当MPU 8从A/D转换器7输入ADC测量值ad“129”时，在校正表91a中指明ADC测量值M3与ADC测量值ad匹配，使得MPU 8从校正表91a获取与ADC测量值M3相关联的校正值G3。此外，当MPU 8从A/D转换器7输入ADC测量值ad“4033”时，在校正表91a中指明ADC测量值M64与ADC测量值ad匹配，使得MPU 8从校正表91a获取与ADC测量值M64相关联的校正值G64。
(步骤S205)
另一方面，当在步骤S202中确定ADC测量值ad不匹配校正表91a中的64个ADC测量值Mk中的任一个时(即，当步骤S202的确定结果是“否”时)，MPU 8参考计算信息表92a，以计算ADC测量值ad的校正值。
具体地，MPU 8将从A/D转换器7输入的ADC测量值ad与ADC测量值Mk进行比较，以确定与ADC测量值ad对应的要素编号k。例如，MPU 8确定从与ADC测量值ad对应的ADC测量值Mk到小于ADC测量值Mk+1的范围。MPU 8确定与ADC测量值ad对应的要素编号k，以从计算信息表92a获取与要素编号k(即，这指示从与ADC测量值ad对应的ADC测量值Mk到小于ADC测量值Mk+1的范围)对应的校正值Gk_k+1的计算信息。在本实施例中，计算信息表92a存储用于计算校正值Gk_k+1的计算公式。因此MPU 8从计算信息表92a读取与要素编号k对应的校正值Gk_k+1的计算公式。
例如，MPU 8从计算信息表92a获取用于计算与要素编号k对应的校正值Gk_k+1的计算公式。
Gk_k+1＝Ak_k+1×(ADC测量值ad)4+Bk_k+1×(ADC测量值ad)3+Ck_k+1×(ADC测量值ad)2+Dk_k+1×(ADC测量值ad)+Ek_k+1
例如，当MPU 8从A/D转换器7输入ADC测量值ad“80”时，在校正表91a中没有指明ADC测量值Mk与ADC测量值ad匹配。因此，MPU 8确定与ADC测量值ad“80”对应的要素编号k。ADC测量值ad“80”被包括在从ADC测量值M2“65”到小于ADC测量值M3“129”的范围内。因此，MPU 8确定ADC测量值ad“80”对应于要素编号k＝“2”并且从计算信息表92a读取与ADC测量值ad对应的校正值G2_3的计算公式。在这种情况下，MPU 8从计算信息表92a读取下面的计算公式。
G2_3＝A2_3×(ADC测量值ad)4+B2_3×(ADC测量值ad)3+C2_3×(ADC测量值ad)2+D2_3×(ADC测量值ad)+E2_3
(步骤S206)
MPU 8将从A/D转换器输入的ADC测量值ad“80”代入从计算信息表92a读取的校正值G2_3的计算公式中，计算与ADC测量值ad对应的校正值。
当只在计算信息表92a中指明校正值的计算公式中使用的恒定值(Ak_k+1、Bk_k+1、Ck_k+1、Dk_k+1和Ek_k+1)时，MPU 8只从计算信息表92a读取与ADC测量值ad的要素编号k对应的恒定值。然后，MPU 8将ADC测量值ad和恒定值代入预先确定的计算公式中，以计算与ADC测量值ad对应的校正值Gk_k+1。
Gk_k+1＝Ak_k+1×(ADC测量值ad)4+Bk_k+1×(ADC测量值ad)3+Ck_k+1×(ADC测量值ad)2+Dk_k+1×(ADC测量值ad)+Ek_k+1
(步骤S207)
MPU 8将步骤S206中计算的校正值Gk_k+1存储在存储器9的预定区域中。
接下来，将参考图11描述图10中示出的MPU 8进行校正处理的执行示例。图11是示出ADC测量值ad和校正值之间关系的特征图表。例如，当ADC测量值ad与校正表91a中的ADC测量值Mk匹配时(即，当“ADC测量值ad”＝“ADC测量值Mk”时)，在步骤S203中MPU8从校正表91a获取校正值Gk。另外，当ADC测量值ad与校正表91a中的ADC测量值Mk+1匹配时(即，当“ADC测量值ad”＝“ADC测量值Mk+1”时)，MPU 8在步骤S203中从校正表91a获取校正值Gk+1。
另一方面，当ADC测量值ad在校正表91a中的ADC测量值Mk和ADC测量值Mk+1之间时，MPU 8在步骤S205中从校正表91a获取校正表91a中指明的多个ADC测量值Mk之中的小于并最接近ADC测量值ad的ADC测量值Mk。MPU 8确定ADC测量值Mk的要素编号k是ADC测量值ad的要素编号k。MPU 8基于要素编号k参考计算信息表92a，以获取与要素编号k对应的计算信息。然后，在步骤S206中，MPU 8使用图11中示出的插值计算来计算ADC测量值ad的校正值Gk+1。以此方式，MPU 8可根据ADC测量值ad获得校正值Gk、Gk+1或Gk_k+1。
MPU 8可使用多个校正值将步骤S204或步骤S208中存储在存储器9中的校正值Gk或Gk+1处理成平均值或“OMA(光学调制幅度)”，并且然后响应于来自例如光学模块10a外部的终端装置(未示出)的请求经由信号线将其发送到终端装置。
在步骤S206中，MPU 8执行的插值函数不一定必须是四阶函数，例如，通过将系数Ak_k+1、Bk_k+1、Ck_k+1或Dk_k+1设置成“0”可以是三阶或更低阶函数或线性函数。可替选地，如图3中所示，可设置灵活的插值函数，使得使用四阶曲线插值相对小的ADC测量值ad的范围，而线性插值相对大的ADC测量值ad的范围。
第三实施例
接下来，将提供对根据本发明的第三实施例的光学模块10b(未示出)的描述。第三实施例的光学模块10b的基本结构与第二实施例的光学模块10a的基本结构相同，因此将省略对其的详细描述。不同于光学模块10a(参见图7)，光学模块10b将校正表91a和计算信息表92b存储在存储器9中。
图12示出根据第三实施例的光学模块10b的存储器9中存储的校正表91b的存储内容。如同根据第二实施例(参见图8)的校正表91a，结合具有12位分辨率的A/D转换器7形成根据第三实施例的校正表91b。在校正表91b中，为了当输入小时精确地校正光接收功率，64个ADC测量值Mk之间的间隔没有被设置成相等的，而是被设置成不等的。如图12中所示，校正表91b为ADC测量值Mk设置四种间隔并且具有四个区域。具体地，在区域1中，ADC测量值Mk之间的间隔是“1”；在区域2中，ADC测量值Mk之间的间隔是“4”；在区域3中，ADC测量值Mk之间的间隔是“16”；在区域4中，ADC测量值Mk之间的间隔是“240”。本文中，区域1对应于要素编号k＝1至16；区域2对应于要素编号k＝17至32；区域3对应于要素编号k＝33至48；区域4对应于要素编号k＝49至64。
在区域1中，与要素编号k(k＝1至16)对应的ADC测量值Mk与校正值Gk1相关联。也就是说，在区域1中，保持ADC测量值Mk＝k1和k1＝k。换句话讲，在区域1中，确定使得ADC测量值Mk之间的间隔是“1”并且ADC测量值Mk＝k1。具体地，k＝1至16时的ADC测量值Mk是从“1”至“16”的整数并且这些值之间的间隔是“1”。另外，在区域1中，校正值Gk1与ADC测量值Mk相关联。因此，校正表91b的校正值Gk1对应于ADC测量值Mk＝“1”至“16”。
在区域2中，与要素编号k(k＝17至32)对应的ADC测量值Mk与校正值Gk2相关联。也就是说，在区域2中，ADC测量值Mk＝k2和k2＝4×(k-16)+16。换句话讲，在区域2中，确定使得ADC测量值Mk之间的间隔是“4”并且ADC测量值Mk＝k2。具体地，k＝17至32时的ADC测量值Mk是整数“20”、“24”、“28”、“32”、“36”、“40”、“44”、“48”、“52”、“56”、“60”、“64”、“68”、“72”、“76”和“80”并且这些值之间的间隔是“4”。另外，在区域2中，校正值Gk2与ADC测量值Mk相关联。因此，校正表91b的校正值Gk2对应于ADC测量值Mk＝“20”、“24”、…、“76”和“80”。
在区域3中，与要素编号k(k＝33至48)对应的ADC测量值Mk与校正值Gk3相关联。也就是说，在区域3中，ADC测量值Mk＝k3且k3＝16×(k-32)+80。换句话讲，在区域3中，确定使得ADC测量值Mk之间的间隔是“16”并且ADC测量值Mk＝k3。具体地，k＝33至48时的ADC测量值Mk是整数“96”、“112”、“128”、“144”、“160”、“176”、“192”、“208”、“224”、“240”、“256”、“272”、“288”、“304”、“320”和“336”并且这些值之间的间隔是“16”。另外，在区域3中，校正值Gk3与ADC测量值Mk相关联。因此，校正表91b的校正值Gk3对应于ADC测量值Mk＝“96”、“112”、…、“320”和“336”。
在区域4中，与要素编号k(k＝49至64)对应的ADC测量值Mk与校正值Gk4相关联。也就是说，在区域4中，ADC测量值Mk＝k4且k4＝240×(k-48)+336。换句话讲，在区域4中，确定使得ADC测量值Mk之间的间隔是“240”并且ADC测量值Mk＝k4。具体地，k＝49至64时的ADC测量值Mk是整数“576”、“816”、“1056”、“1296”、“1536”、“1776”、“2016”、“2256”、“2496”、“2736”、“2976”、“3216”、“3456”、“3696”、“3936”和“4176”并且这些值之间的间隔是“240”。另外，在区域4中，校正值Gk4与ADC测量值Mk相关联。因此，校正表91b的校正值Gk4对应于ADC测量值Mk＝“576”、“816”、…、“3936”和“4176”。
接下来，将参考图13和图14描述根据本实施例的非线性插值函数。图13示出计算信息表92b的存储内容，并且图14示出ADC测量值ad和计算信息表92b中基于非线性插值函数的校正值之间的关系。在图13的计算信息表92b中，如下地设置要素编号k的计算信息。在图9的计算信息表92a中，指数计算的基数(即，第四项和第三项的基数)是“ADC测量值ad”，而在图13的计算信息表92b中，其基数是“ADC测量值ad-Mk”。
Gkx_kx+1＝Ak_k+1×(ADC测量值ad-Mk)4+Bk_k+1×(ADC测量值ad-Mk)3+Ck_k+1×(ADC测量值ad-Mk)2+Dk_k+1×(ADC测量值ad-Mk)+Ek_k+1
如图14的特征图表中所示地，执行使用图13的计算信息表92b的校正处理的插值计算。MPU 8参考校正表92b确定从A/D转换器7输入的ADC测量值ad是否匹配校正表92b中的64个ADC测量值Mk中的任一个。当MPU 8确定输入的ADC测量值ad匹配校正表92b中的64个ADC测量值Mk中的任一个时，MPU 8从校正表91b获取与ADC测量值ad对应的四个校正值Gk1、Gk2、Gk3和Gk4中的任一个并且将校正值作为输入的ADC测量值ad的校正值存储在存储器9的预定区域中。
例如，当MPU 8从A/D转换器7输入的ADC测量值ad是“1”时，在校正表91b中指明与ADC测量值ad对应的ADC测量值M1，使得MPU 8从校正表91b获取与ADC测量值M1相关联的校正值Gk1。另外，当MPU 8输入ADC测量值ad“128”时，在校正表91b中指明与ADC测量值ad对应的ADC测量值M35，使得MPU 8从校正表91b获取与ADC测量值M35相关联的校正值G128。此外，当MPU 8输入ADC测量值ad“816”时，在校正表91b中指明与ADC测量值ad对应的ADC测量值M50，使得MPU 8从校正表91b获取与ADC测量值M50相关联的校正值G816。
另一方面，当MPU 8确定ADC测量值ad不匹配校正表91b中的64个ADC测量值Mk中的任一个时，MPU 8参考计算信息表92b计算ADC测量值ad的校正值。具体地，MPU 8比较输入的ADC测量值ad与ADC测量值Mk以确定与ADC测量值ad对应的要素编号k。例如，MPU 8确定从ADC测量值Mk到小于ADC测量值Mk+1的输入ADC测量值ad的范围。当确定了与ADC测量值ad对应的要素编号k时，MPU从计算信息表92b获取与要素编号k(即，指示从ADC测量值Mk到小于ADC测量值Mk+1的范围的要素编号)对应的校正值Gkx_kx+1的计算信息。计算信息表92b存储用于计算校正值Gkx_kx+1的计算公式。因此，MPU 8从计算信息表92b读取与要素编号k对应的校正值Gkx_kx+1的计算信息。具体地，MPU 8从计算信息表92b获取用于计算要素编号k的校正值Gkx_kx+1的计算信息(Gkx_kx+1＝Akx_kx+1×(ADC测量值ad-Mk)4+Bkx_kx+1×(ADC测量值ad-Mk)3+Ckx_kx+1×(ADC测量值ad-Mk)2+Dkx_kx+1×(ADC测量值ad-Mk)+Ekx_kx+1)。
例如，当MPU 8从A/D转换器7输入的ADC测量值ad是“81”时，在校正表91b中没有指明ADC测量值Mk与ADC测量值ad对应。因此，MPU 8确定与ADC测量值ad＝“81”对应的要素编号k。ADC测量值ad＝“81”被包括在从ADC测量值M32＝“80”到小于ADC测量值M33＝“96”的范围内。因此，MPU 8确定与ADC测量值“81”对应的要素编号k是“32”并且从计算信息表92b读取与ADC测量值ad对应的校正值G32_33的计算信息。换句话讲，MPU 8从计算信息表92b获取计算信息“G32_33＝A32_33×(ADC测量值ad-M32)4+B32_33×(ADC测量值ad-M32)3+C32_33×(ADC测量值ad-M32)2+D32_33×(ADC测量值ad-M32)+E32_33”。然后，MPU 8将输入的ADC测量值ad“81”代入校正值G32_33的计算公式，计算校正值G32_33。具体地，MPU 8根据以下提供的计算公式计算校正值G32_33。以此方式，MPU 8可减少通过使用预定计算公式执行ADC测量值ad的指数计算的处理负荷。
G32_33＝A32_33×(81-M32)4+B32_33×(81-M32)3+C32_33×(81-M32)2+D32_33×(81-M32)+E32_33
也就是说，当ADC测量值ad在ADC测量值Mk和ADC测量值Mk+1之间时，MPU使用校正表91b中的多个ADC测量值Mk之中的比ADC测量值ad小的ADC测量值Mk的最大值和ADC测量值ad(即，Mk_k+1)之差“Mk_k+1-Mk”作为基数执行指数计算，以计算校正值Gkx_kx+1。
在上述的第一实施例至第三实施例中，ADC测量值Mk和ADC测量值Mk+1之间的间隔被固定于“64”或者该间隔的最大值被设置成校正表91、91a和91b中的“240”(区域4)。因此，ADC测量值Mk和ADC测量值ad(即，Mk_k+1)之差小于“64”或小于“240”。换句话讲，可用6位或8位表示ADC测量值Mk和ADC测量值ad之差。也就是说，可通过使用6位值或8位值作为基数的指数计算进行插值计算。因此，相比于使用如图11中所示的MPU 8从A/D转换器7实际输入的ADC测量值ad(即，12位值)作为基数执行指数计算的情况，上述实施例使用差值“Mk_k+1-Mk”作为基数执行指数计算，使得插值函数的处理负荷可减小。然而，在校正表91、91a和91b中，必须进行设置，使得用比A/D转换器7的分辨率的位数少的位数表示与要素编号k对应的ADC测量值Mk之间的间隔。例如，ADC测量值Mk之间的间隔被设置成等于或小于“2048”，“2048”是比指示A/D转换器7的分辨率的12位小1位的11位的最大值。
图15是根据上述实施例的基本结构的数据校正装置100的框图。数据校正装置100包括存储单元101和信号处理单元102。存储单元101包括校正表103，校正表103通过基于参考值和实际值之间的相关性与多个参考值相关联来存储多个校正值。校正表103按以下这样的方式存储校正值：在参考值和实际值之间的相关性中，相比于实际值的变化相对于参考值的变化大的区间，对于实际值的变化相对于参考值的变化小的区间，参考值之间的间隔较小。当输入值(例如，ADC测量值ad)匹配校正表103中的参考值时，信号处理单元102从校正表103读取对应于参考值的校正值。另一方面，当输入值不匹配校正表103中的参考值中的任一个时，信号处理单元102通过预定计算来计算对应于输入值的校正值。图15的数据校正装置100对应于图1的光学模块的光接收功率监测功能单元；存储器单元101对应于存储器9；并且信号处理单元102对应于MPU 8。另外，校正表103对应于校正表91；校正表103的参考值对应于ADC测量值Mk；并且校正值对应于校正值Gk。
如上文所述，本发明可得到以下有益效果：
(1)通过使用APD电流为光接收功率监测电路中的多个区域中的每个设置所需的插值函数，可得到高速且高精度的光接收功率监测。
(2)可以高度灵活性容易地校正在APD电流和光接收功率之间建立的非线性特征。
(3)即使在使用没有表现出单调递增的插值方法(诸如，四阶插值)时，可将用于线性插值的单调递增函数等与之部分地组合。换句话讲，组合线性插值使得ADC测量值的实际值没有经过四阶插值的拐点，从而允许在设置多阶插值函数中的系数时受到的限制减少。
本发明不限于上述实施例。例如，可根据需要改变校正表91、91a和91b和计算信息表92a和92b中设置的要素的数目、ADC测量值Mk之间的间隔、非线性函数的阶数、以及用于计算非线性插值函数的参数的数目。当将多阶插值函数与一阶插值函数相结合时，用于计算的参数的数目最低可减少至“1”个。
在以上实施例中，MPU 8可通过执行非易失性存储器(未示出)中存储的程序，实现光接收功率监测器的校正装置的一些功能。在这种情况下，MPU 8执行的程序可被存储在计算机可读存储介质中或者可经由通信信道从服务器下载。另外，光学模块10在其内部包括计算机系统并且系统的处理步骤被以程序形式存储在计算机可读存储介质中。因此，可通过致使计算机系统读取和执行程序，实现光接收功率监测器的校正处理。术语“计算机系统”涵盖诸如CPU、存储器和外围装置的硬件和诸如操作系统(OS)的软件。另外，“计算机系统”涵盖当使用WWW系统时提供环境/显示环境的主页。
另外，实现各流程图中示出的光接收功率监测器的校正功能的程序可被记录在计算机可读存储介质中，然后由计算机系统读取和执行。“计算机可读存储介质”意指诸如软盘、磁-光盘、ROM或闪存存储器的可写入非易失性存储器、诸如CD-ROM的便携式存储介质和计算机系统内置的诸如硬盘的存储装置。
另外，“计算机可读存储介质”涵盖诸如非易失性存储器(例如，DRAM)的将程序在用作当经由诸如互联网或电话信道的网络通信信道发送程序时使用的服务器或客户端的计算机系统中保持特定时间段的装置。上述程序可经由传输介质或经由传输介质中的传输波从将程序存储在存储装置中的计算机系统被发送到另一个计算机系统。“用于传输程序的传输介质”意指诸如网络(通信网络)(如互联网、电话信道或通信信道)的具有传输信息的功能的介质。另外，上述程序可以是实现根据本发明的光接收功率监测器的部分校正功能的程序。可替选地，程序可以是通过将程序与已经存储在计算机系统中的程序相结合来实现本发明的功能的不同程序(或不同文档)。
最后，本发明不限于上述实施例并且涵盖在所附权利要求书中限定的本发明范围内的各种修改形式和设计变化。
[工业适用性]
本发明涉及光学通信设置中使用的光学模块的光接收功率检测器的校正装置和校正方法并且应用于将信号光的光接收功率的测量值校正成实际值的技术领域。
[附图标记列表]
1 APD(雪崩光电二极管)
2 TIA(跨阻抗放大器)
3 LIM(限制放大器)
4 ADP驱动电源
5 电流镜电路
6 电流电压转换电路
7 A/D转换器
8 MPU
9 存储器
10 光学模块
91、91a、91b 校正表
92a、92b 计算信息表

Claims (8)

1.一种光学模块的光接收功率监测器的校正装置，所述校正装置包括：
存储单元，所述存储单元存储校正表，当对信号光的光接收功率的测量值进行校正时参考所述校正表，并且所述校正表基于多个参考值和多个实际值之间的相关性而预先存储多个校正值；
信号处理单元，当用于指示所述信号光的光接收功率的测量值的输入值匹配所述校正表中的参考值时，所述信号处理单元从所述校正表读取与该参考值相关联的校正值，并且当该输入值不匹配所述校正表中的任何参考值时，所述信号处理单元根据基于该输入值的预定计算公式来计算校正值，
其中，所述多个校正值按这样的方式来被存储在所述校正表中：相比于其中所述实际值的变化相对于所述参考值的变化大的区间，对于其中所述实际值的变化相对于所述参考值的变化小的区间，所述多个参考值之间的间隔较小。
2.根据权利要求1所述的校正装置，其中，
相比于用于指示所述信号光的光接收功率的数字输入值的数目，而减少在所述校正表中存储的所述多个参考值的数目，所述数字输入值中的每个是由位数来表示的。
3.根据权利要求1所述的校正装置，其中，
所述存储单元包括计算信息表，所述计算信息表存储针对从第一参考值到小于第二参考值的各范围所设置的非线性计算公式，所述第一参考值等于或小于用于指示所述信号光的光接收功率的测量值的所述输入值，所述第二参考值等于或大于所述第一参考值；以及
当所述输入值匹配所述校正表中的参考值时，所述信号处理单元从所述校正表读取对应于所述参考值的校正值，并且当所述输入值不匹配所述校正表中的任何参考值时，所述信号处理单元根据在包括所述输入值在内的所述第一参考值和所述第二参考值的所述范围内所设置的非线性计算公式，来计算校正值。
4.根据权利要求3所述的校正装置，其中，所述非线性计算公式被表示如下：
校正值＝A×(输入值)4+B×(输入值)3+C×(输入值)2+D×(输入值)+E(其中，A、B、C、D和E表示预定系数)。
5.根据权利要求3所述的校正装置，其中，使用基于输入值而唯一地确定的参考值来将所述非线性计算公式表示如下：
校正值＝A×(输入值-参考值)4+B×(输入值-参考值)3+C×(输入值-参考值)2+D×(输入值-参考值)+E(其中，A、B、C、D和E表示预定系数)。
6.根据权利要求3所述的校正装置，其中，使用比所述输入值小的参考值中的最大参考值Mk来将所述非线性计算公式表示如下(其中，k表示整数)：
校正值＝A×(输入值-参考值)4+B×(输入值-参考值)3+C×(输入值-参考值)2+D×(输入值-参考值)+E(其中，A、B、C、D和E表示预定系数)。
7.一种用于光学模块的光接收监测器的校正方法，所述校正方法包括：
将多个校正值存储在校正表中，所述校正表用于当对信号光的光接收功率的测量值进行校正时来被参考，并且所述校正表基于所述多个参考值和所述多个实际值之间的相关性而预先存储多个校正值，所述多个校正值按这样的方式来被存储在所述校正表中：相比于其中实际值的变化相对于参考值的变化大的区间，对于其中所述实际值的变化相对于所述参考值的变化小的区间，所述多个参考值之间的间隔较小；以及
当用于指示所述信号光的光接收功率的测量值的输入值匹配所述校正表中的参考值时，从所述校正表读取与所述参考值相关联的校正值，并且当所述输入值不匹配所述校正表中的任何参考值时，根据基于所述输入值的预定计算公式来计算校正值。
8.一种包含用于光学模块的光接收功率监测器的校正方法的程序，所述程序使计算机：
参考校正表，该校正表用于当对信号光的光接收功率的测量值进行校正时来被参考，并且所述校正表基于多个参考值和多个实际值之间的相关性而预先存储多个校正值，其中，所述多个校正值按这样的方式来被存储在所述校正表中：相比于其中所述实际值的变化相对于所述参考值的变化大的区间，对于所述实际值的变化相对于所述参考值的变化小的区间，所述多个参考值之间的间隔较小；以及
当用于指示所述信号光的光接收功率的测量值的输入值匹配所述校正表中的参考值时，从所述校正表读取与所述参考值对应的校正值，并且当所述输入值不匹配所述校正表中的任何参考值时，根据基于所述输入值的预定计算公式来计算校正值。
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