KR101555646B1 - 보정 테이블을 이용하여 오차를 보정하기 위한 전압 측정 장치 - Google Patents

보정 테이블을 이용하여 오차를 보정하기 위한 전압 측정 장치 Download PDF

Info

Publication number
KR101555646B1
KR101555646B1 KR1020150101742A KR20150101742A KR101555646B1 KR 101555646 B1 KR101555646 B1 KR 101555646B1 KR 1020150101742 A KR1020150101742 A KR 1020150101742A KR 20150101742 A KR20150101742 A KR 20150101742A KR 101555646 B1 KR101555646 B1 KR 101555646B1
Authority
KR
South Korea
Prior art keywords
voltage
value
digital
correction
analog
Prior art date
Application number
KR1020150101742A
Other languages
English (en)
Inventor
이동훈
조영기
Original Assignee
엘아이지넥스원 주식회사
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by 엘아이지넥스원 주식회사 filed Critical 엘아이지넥스원 주식회사
Priority to KR1020150101742A priority Critical patent/KR101555646B1/ko
Application granted granted Critical
Publication of KR101555646B1 publication Critical patent/KR101555646B1/ko

Links

Images

Classifications

    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01RMEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
    • G01R35/00Testing or calibrating of apparatus covered by the other groups of this subclass
    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01RMEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
    • G01R1/00Details of instruments or arrangements of the types included in groups G01R5/00 - G01R13/00 and G01R31/00
    • G01R1/02General constructional details
    • G01R1/04Housings; Supporting members; Arrangements of terminals
    • G01R1/0408Test fixtures or contact fields; Connectors or connecting adaptors; Test clips; Test sockets
    • G01R1/0416Connectors, terminals
    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01RMEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
    • G01R19/00Arrangements for measuring currents or voltages or for indicating presence or sign thereof
    • G01R19/0084Arrangements for measuring currents or voltages or for indicating presence or sign thereof measuring voltage only
    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01RMEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
    • G01R19/00Arrangements for measuring currents or voltages or for indicating presence or sign thereof
    • G01R19/25Arrangements for measuring currents or voltages or for indicating presence or sign thereof using digital measurement techniques

Landscapes

  • Physics & Mathematics (AREA)
  • General Physics & Mathematics (AREA)
  • Measurement Of Current Or Voltage (AREA)

Abstract

본 발명은 복수개의 보정값이 기록된 보정 테이블을 이용하여 전압 오차를 보정하는 전압 측정 장치에 관한 것이다. 본 발명은 보정모드를 통해 디지털 값인 내부전압을 복수개로 등분하여 아날로그 값으로 출력하는 디지털 아날로그 변환부, 내부전압에 대한 아날로그 보정값을 산출하고, 산출된 아날로그 보정값 각각에 대응되는 디지털 값인 디지털 보정값과 아날로그 보정값을 포함하는 보정값을 저장하여 보정 테이블을 생성하는 보정값 산출부, 보정 테이블이 저장되는 저장부, 외부장치와 연결되면 외부장치의 특정 전압에 대한 디지털 값을 계측하는 아날로그 디지털 변환부, 보정 테이블에 기록된 복수개의 상기 보정값 중 디지털 보정값과 계측된 디지털 값을 기반으로 미리 정의된 계산식의 인덱스를 설정하는 인덱스 설정부 및 인덱스가 설정된 계산식을 통해 상기 외부장치의 특정 전압을 획득하는 전압 획득부를 포함한다.

Description

보정 테이블을 이용하여 오차를 보정하기 위한 전압 측정 장치{Voltage measuring apparatus for correcting error using correction table}
본 발명은 전압 측정 장치에 관한 것으로, 특히 복수개의 보정값이 기록된 보정 테이블을 이용하여 전압 오차를 보정하는 전압 측정 장치에 관한 것이다.
유도조종장치를 개발하는 경우 이를 점검할 수 있는 점검장비가 같이 개발된다. 점검장비는 점검하는 과정에서 점검 케이블을 통해 유도조종장치와 연결되고 유도조종장치의 이상유무를 점검하게 된다. 이러한 점검장비는 점검 항목 중 유도조종장치의 전압을 계측한다.
또한, 점검장비는 전압 계측하는 과정에서 점검장비 측의 전압 측정을 위한 아날로그 프론트 엔드(Analog Front End:AFE) 회로의 수동소자의 오차로 인해 실제 전압과 다르게 측정하는 경우가 발생한다. 그리고 유도조종장치와 연결되는 점검 케이블은 점검환경에 따라 그 길이가 길어지게 되며 이는 임피던스 성분을 발생시켜 전압 계측에 오차를 발생시키는 요인으로 작용한다.
이러한 오차 성분에 대한 분석과 별도의 사용자의 세부적인 조작에 의해 보정 작업 없이 자동으로 계측 오차를 반영하여 계측 값을 얻을 수 있도록 하는 방법이 요구되는 실정이다.
종래의 점검장비의 전압오차 보정 방법은 먼저, 점검장비의 AFE의 이득값을 산출하여 ADC(Analog Digital Convert)값을 전압 값으로 환산한다. 그 후, 점검장비로 입력되는 전압을 별도의 전압 계측 장비인 DMM(Digital Multi Meter)으로 측정하고 점검장비가 ADC로 얻은 디지털 값에 이득을 반영한 전압 값과 비교한다. DMM과 점검장비가 산출한 전압값을 일치시키도록 점검장비 소프트웨어 측에서 점검장비 디지털 전압값의 오프셋 및 이득 값을 보정한다.
이러한 종래의 점검 장비의 전압오차 보정 방법은 사용자가 점검 환경이 변할 경우 매번 오차를 보정하여야 한다. 또한, 종래의 보정 방법은 오프셋 보정만을 반영하고 구간별 이득 오차는 반영되지 않는 문제점이 있다. 이는 ADC에 의한 출력값이 완벽히 선형적이지 않을 경우 보정 당시 기준 값만 일치하고 다른 구간에서는 다른 값으로 계측되는 문제를 발생시킬 수 있다.
한국 공개 특허 제10-2005-0114483호 (2005.12.06 공개)
본 발명의 목적은 외부장치의 전압 점검 과정에서 발생하는 오차 성분에 대해 자동 보정하여 외부장치의 실제 전압을 계측하기 위한 보정 테이블을 이용하여 오차를 보정하는 전압 측정 장치를 제공하는데 있다.
상기 목적을 달성하기 위한 오차를 보정하기 위한 전압 측정 장치는 보정 테이블이 저장된 저장부; 외부장치와 연결되면 상기 외부장치의 전압에 대한 디지털 값을 계측하는 아날로그 디지털 변환부; 상기 보정 테이블에 기록된 보정값들 중 디지털 보정값과 상기 계측된 디지털 값을 기반으로 미리 정의된 계산식의 인덱스를 설정하는 인덱스 설정부; 및 상기 인덱스가 설정된 상기 계산식을 통해 상기 외부장치의 전압을 획득하는 전압 획득부를 포함한다.
보정모드를 통해 디지털 값인 내부전압을 복수개로 등분하여 아날로그 값으로 출력하는 디지털 아날로그 변환부; 및 상기 보정값 중 상기 내부전압에 대한 아날로그 보정값을 산출하고, 상기 산출된 아날로그 보정값 각각에 대한 디지털 값인 상기 디지털 보정값과 상기 아날로그 보정값을 저장하여 상기 보정 테이블을 생성하는 보정값 산출부를 더 포함하는 것을 특징으로 한다.
상기 보정값 산출부는 상기 내부전압의 최대값과 상기 내부전압의 최소값의 차를 상기 내부전압을 등분한 개수로 나누고, 상기 내부전압의 출력된 순서에 해당하는 값을 곱하고, 상기 내부전압의 최소값을 더하여 상기 아날로그 보정값을 산출하는 것을 특징으로 한다.
상기 인덱스 설정부는 상기 외부장치의 전압을 계측한 디지털 값이 최초 디지털 보정값과 같거나 작으면 인덱스를 1로 설정하고, 상기 외부장치의 전압을 계측한 디지털 값이 마지막 디지털 보정값 보다 크면 인덱스를 내부전압이 등분된 개수로 설정하고, 상기 외부장치의 전압을 계측한 디지털 값이 서로 인접하는 디지털 보정값 사이에 위치하면 나중에 생성된 디지털 보정값의 출력 순서를 나타내는 값으로 설정하는 것을 특징으로 한다.
상기 전압 획득부는 상기 외부장치의 특정 전압을 수학식
Figure 112015069508592-pat00001
(여기서, Vin은 외부장치의 보정된 전압을 나타내고, Vdac i 및 ADCi는 보정 테이블의 i번째에 해당하는 아날로그 보정값 및 디지털 보정값이고, ADCin은 외부장치의 특정전압을 계측한 디지털 값이고, i는 ADCin이 보정 테이블의 ADCi 보다 크지 않으면서 가장 가까울 때의 인덱스를 나타낸다.)에 따라 획득하는 것을 특징으로 한다.
점검모드에서 상기 외부장치와 연결되기 위한 제1 커넥터; 및 상기 보정모드에서 상기 디지털 아날로그 변환부를 통해 출력되는 상기 내부전압이 상기 아날로그 디지털 변환부로 입력되기 위해 상기 제1 커넥터와 케이블을 통해 연결되기 위한 제2 커넥터를 더 포함하는 것을 특징으로 한다.
따라서, 본 발명은 점검 케이블의 임피던스 성분과 아날로그 입력 전단부의 이득에 대한 별도의 분석없이 외부장치의 전압을 획득할 수 있다.
또한, 본 발명은 전압 보정을 위해 복수개로 등분된 내부전압에 대해 구간 별로 보간법이 적용되어 좀 더 정밀하게 외부장치의 전압을 측정할 수 있다.
또한, 본 발명은 외부장치의 전압 계측을 위한 보정 작업을 자동으로 수행할 수 있으며, 사람보다 정확하고 빠르게 보정 작업을 수행할 수 있다.
도1 은 본 발명의 실시예에 따른 보정 테이블을 이용하는 전압 측정 방법을 간략히 나타내는 흐름도이다.
도2 는 본 발명의 실시예에 따른 보정 테이블을 생성하는 방법을 간략히 나타내는 흐름도이다.
도3 은 본 발명의 실시예에 따른 보정 테이블을 나타내는 도면이다.
도4 는 본 발명의 실시예에 따른 오차를 보정하기 위한 전압 측정 장치를 간략히 나타내는 블록도이다.
본 발명과 본 발명의 동작상의 이점 및 본 발명의 실시에 의하여 달성되는 목적을 충분히 이해하기 위해서는 본 발명의 바람직한 실시예를 예시하는 첨부 도면 및 첨부 도면에 기재된 내용을 참조하여야만 한다.
이하, 첨부한 도면을 참조하여 본 발명의 바람직한 실시예를 설명함으로서, 본 발명을 상세히 설명한다. 그러나, 본 발명은 여러 가지 상이한 형태로 구현될 수 있으며, 설명하는 실시예에 한정되는 것이 아니다. 그리고, 본 발명을 명확하게 설명하기 위하여 설명과 관계없는 부분은 생략되며, 도면의 동일한 참조부호는 동일한 부재임을 나타낸다.
명세서 전체에서, 어떤 부분이 어떤 구성요소를 “포함”한다고 할 때, 이는 특별히 반대되는 기재가 없는 한 다른 구성요소를 제외하는 것이 아니라, 다른 구성요소를 더 포함할 수 있는 것을 의미한다. 또한, 명세서에 기재된 “...부”, “...기”, “모듈”, “블록” 등의 용어는 적어도 하나의 기능이나 동작을 처리하는 단위를 의미하며, 이는 하드웨어나 소프트웨어 또는 하드웨어 및 소프트웨어의 결합으로 구현될 수 있다.
도1 은 본 발명의 실시예에 따른 보정 테이블을 이용하는 전압 측정 방법을 간략히 나타내는 흐름도이다.
도1 을 참조하면, 본 발명의 보정 테이블을 이용하는 전압 측정 방법은 외부 장치의 특정 전압 측정을 위한 점검 모드로 운용하는 단계(S101), 보정 테이블에 기록된 보정값들을 불러오는 단계(S103), 외부장치의 전압을 계측하는 단계(S104), 보정값과 계측된 외부장치의 전압을 이용하여 인덱스를 설정하는 단계(S107) 및 인덱스가 적용된 계산식을 통해 보정된 전압을 산출하는 단계(109)를 포함한다.
본 발명의 실시예에 따른 전압 측정 방법은 먼저 운용하는 단계(S101)에서 전압 측정 장치가 점검 모드로 동작하여 외부장치(예 유도조종장치)와 점검 케이블을 통해 연결되는 것을 시작으로 외부장치의 특정 전압을 측정하게 된다.
그런 다음 불러오는 단계(S103)에서 본 발명의 일실시예에 따른 보정 테이블로부터 복수개의 보정값을 불러온다.
그런 다음 계측하는 단계(S105)에서 외부장치와 연결된 점검 케이블을 통해 전압 측정이 가능하게 되면 외부장치의 특정 전압을 계측하여 디지털 값으로 획득할 수 있다. 여기서, 계측되는 외부장치의 특정 전압은 외부장치 내부에 위치하는 전원에 대한 전압일 수 있으며, 또한 이러한 전원을 공급받는 외부장치의 내부 부하에 걸리는 전압일 수도 있다.
계측된 외부장치의 특정 전압에 대한 디지털 값은 점검 케이블의 임피던스 성분과 아날로그 입력 전단부(Analog Front End Circuit)의 이득 오차 성분이 포함되어 있다. 이러한 오차 성분을 자동 보정하기 위한 보정값들이 보정 테이블에 저장되어 있는 것이다.
그런 다음 설정하는 단계(S107)에서 불러온 보정값들과 계측한 외부장치의 특정 전압에 대한 디지털 값을 이용하여 추후 보정된 전압을 산출하는데 이용되는 계산식에 적용될 인덱스를 설정한다. 이러한 인덱스는 다음의 수학식1에 따라 설정될 수 있다.
Figure 112015069508592-pat00002
(여기서 i는 인덱스이며, ADCin은 외부장치의 전압을 계측한 디지털 값이고, ADC0는 최초 디지털 보정값이고, ADCN은 마지막 디지털 보정값이고, ADCk는 k값에 따른 디지털 보정값이고, k는 상수를 나타낸다.)
수학식 1을 살펴보면, 외부장치의 특정 전압을 계측한 디지털 값 ADCin가 최초 디지털 보정값 ADC0와 같거나 작으면 인덱스는 1로 설정하고, 외부장치의 전압을 계측한 디지털 값 ADCin가 마지막 디지털 보정값 ADC0 보다 크면 인덱스는 N으로 설정하고, 외부장치의 전압을 계측한 디지털 값 ADCin가 ADCk와 ADCk -1 사이에 있으면 인덱스는 상수 k로 설정한다. N값은 사용자에 의해 임의로 설정될 수 있으며, 높을수록 더욱 정밀하게 외부장치의 특정 전압을 획득할 수 있다.
마지막으로 산출하는 단계(109)에서 설정하는 단계(S107)에서 설정된 인덱스가 적용된 계산식을 통해 점검 케이블의 임피던스 성분과 아날로그 입력 전단부의 오차 성분이 제거된 외부장치의 실질 전압을 산출할 수 있다. 이러한 외부장치의 실질 전압은 다음의 수학식2에 따라 산출될 수 있다.
Figure 112015069508592-pat00003
(여기서, Vin은 외부장치의 보정된 전압을 나타내고, Vdac i 및 ADCi는 보정 테이블의 i번째 값이고, ADCin은 외부장치의 전압에 대한 측정된 디지털 값이고, i는 ADCin이 보정 테이블의 ADCi 보다 크지 않으면서 가장 가까울 때의 인덱스를 나타낸다.)
수학식 2를 살펴보면, 수학식 1을 통해 인덱스가 결정되면, 인접하는 아날로그 보정값들의 차(Vdaci-Vdaci - 1)에서 인접하는 디지털 보정값들의 차(ADCi-ADCi - 1)를 나누고, 여기에 외부장치의 전압에 대한 디지털 값과 디지털 보정값의 차(ADCin-ADCi-1)를 곱하며, 여기에 아날로그 보정값(Vdaci-1)을 더함으로써 최종 외부장치의 실질 전압(Vin)을 산출할 수 있다. 인덱스(i)는 0부터 N사이의 값으로 설정된다.
여기서, 이용되는 수학식 2는 선형 보간법이 적용된 수학식이며, 전압 구간별로 측정된 디지털 값(ADCin)과 보정된 전압(Vin)과의 관계가 1차 함수 형태라고 가정한다.
도2 는 본 발명의 실시예에 따른 보정 테이블을 생성하는 방법을 간략히 나타내는 흐름도이고, 도3 은 본 발명의 실시예에 따른 보정 테이블을 나타내는 도면이다.
도2 내지 도3 을 참조하면, 본 발명의 실시예에 따른 보정 테이블을 생성하는 방법은 외부장치와 연결 전 보정모드로 동작하여 사용자가 원하는 내부전압을 N등분하고, i값을 0으로 정의하는 단계(S201), i번째 내부전압을 출력하는 단계(S203), i번째 아날로그 보정값 및 디지털 보정값을 산출하는 단계(S205), 산출된 아날로그 보정값 및 디지털 보정값을 보정 테이블에 기록하는 단계(S207), i값에 1을 더하는 단계(S209), i값이 N값 이하인지 판단하는 단계(S211) 및 완성된 보정 테이블을 저장부에 저장하는 단계(S213)를 포함한다.
본 발명의 실시예에 따른 보정 테이블을 생성하는 방법은 먼저 정의하는 단계(S201)에서 전압 측정 장치는 외부장치와 연결 전 내부적으로 점검 케이블을 통해 루프백(loopback)형태로 연결되며, 이때 전압 측정 장치는 보정모드로 동작하여 사용자가 원하는 임의의 내부전압을 N 등분하고 i값을 0으로 정의한다. 여기서, i값은 앞서 설명한 바와 같이 내부전압이 출력되는 순서를 나타낸다.
그런 다음 출력하는 단계(S203)에서 i번째 내부전압을 내부적으로 연결된 점검 케이블을 통해 출력한다.
그런 다음 산출하는 단계(S205)에서 i번째 내부전압에 대한 아날로그 보정값 및 디지털 보정값을 산출한다. 여기서, 아날로그 보정값은 다음의 수학식 3을 통해 산출된다.
Figure 112015069508592-pat00004
(여기서 Vdaci는 내부전압의 아날로그 보정값을 나타내며, VdacMAX는 내부전압 최대값이고, Vdacmin은 내부전압 최소값이고, N은 내부전압이 등분된 개수이며, i는 내부전압의 출력 순서를 의미한다.)
수학식 3을 살펴보면, i번째 내부전압의 아날로그 보정값(Vdaci)은 내부전압의 최대값(VdacMAX)과 내부전압의 최소값(VdacMIN)의 차에서 내부전압을 등분한 N값을 나누고 여기에 i번째 값을 곱하며, 그리고 나서 내부전압의 최소값(VdacMIN)을 더함으로써 산출할 수 있다. 여기서, 내부전압을 등분하는 N값은 높을수록 전압 구간별 특성을 세밀하게 반영할 수 있으므로 사용자가 원하는 구간별 정확도를 고려하여 정의되는 것이 바람직하다.
또한, i번째 내부전압의 디지털 보정값(ADCi)은 i번째 출력되는 내부전압이 아날로그 신호에서 점검 케이블과 아날로그 입력 전단부를 통과하여 디지털 신호로 변환되는 값으로서, 노이즈를 제외하고 DC성분만을 추출하기 위해 i번째 내부전압을 충분히 수집하여 평균을 취한 값이다. 평균값 산출을 위한 수집 개수는 사용자의 필요에 따라 정해질 수 있다.
그런 다음 기록하는 단계(S207)에서 산출된 아날로그 보정값 및 디지털 보정값을 보정 테이블에 기록한다. 도3을 참조하면, N+1개의 아날로그 보정값과 디지털 보정값이 기록되어 있음을 확인할 수 있다. 여기서, 보여지는 보정 테이블은 전체 보정값이 기록된 것으로서, 이후 S209단계와 S211단계를 통해 순차적으로 기록된 것이다.
그런 다음 더하는 단계(S209)에서 다음 내부전압을 출력하기 위해 i값에 1을 더한다.
그런 다음 판단하는 단계(S211)에서 i값이 N값 이하인지 판단한다. 여기서, i값이 N값 이하이면, S203 단계로 돌아가서 그 이후 단계를 진행하고, i값이 N값을 초과하면, 바로 다음 단계로 넘어간다.
마지막으로 저장하는 단계(S213)에서 이때까지의 보정값들로 구성된 보정 테이블을 저장부에 저장한다. 이렇게 생성된 보정 테이블은 점검 모드에서 외부장치의 전압 산출에 이용될 수 있다.
*도4 는 본 발명의 실시예에 따른 오차를 보정하기 위한 전압 측정 장치를 간략히 나타내는 블록도이다.
본 발명의 실시예에 따른 전압 측정 장치는 내부전압을 출력하여 보정 테이블을 생성하고 외부장치(유도조종장치)(400)의 전압을 측정하는 제어부(310), 외부장치의 전압 및 내부전압을 디지털 값으로 변환하는 아날로그 디지털 변환부(Analog digital Converter)(320), 내부전압을 아날로그 신호로 변환하여 출력하는 디지털 아날로그 변환부(Digital Analog Converter)(330), 외부장치의 전압 및 내부전압을 적당한 크기의 신호로 변환하는 아날로그 입력 전단부(340), 외부장치와 케이블을 통해 연결되는 커넥터부(350) 및 보정 테이블이 저장되는 저장부(360)를 포함한다.
본 발명의 전압 측정 장치는 아날로그 입력 전단부(340)의 이득 오차와 점검 케이블의 임피던스 성분을 별도의 분석없이 시스템 응답만을 이용하여 오차를 보정할 수 있다.
이를 위해 전압 측정 장치는 별도의 보정 모드가 존재하여야 한다. 자동 보정 모드에서는 점검 모드 시와 점검 케이블 연결 구성을 달리하여야 하며 보정을 위한 소프트웨어적인 처리가 요구된다.
하드웨어의 변경되는 구성으로는 종래의 전압 측정 장치에 디지털 아날로그 변환부가 추가된다. 그리고 점검 케이블의 유도조종장치와 연결되는 커넥터부(350)에 자기 자신과 연결할 수 있도록 제2 커넥터(352)가 탑재되어야 한다.
도4의 (a)를 참조하면, 보정 모드에서 제어부(310)는 먼저 원하는 내부전압을 생성하고, 디지털 아날로그 변환부(330)를 제어하여 원하는 내부전압을 출력할 수 있다. 여기서, 디지털 아날로그 변환부(330)는 Precision Voltage Reference IC를 통해 더욱 정밀한 내부전압을 출력할 수 있다. 이러한 제어부(310)는 CPU(Central Processing Unit) 및 FPGA(Field Programmable Gate Array)로 구성될 수 있다. 또한, 제어부(310)는 보정값 산출부(311), 인덱스 설정부(312) 및 전압 획득부(313)를 포함한다.
보정값 산출부(311)는 N등분되어 출력되어 디지털 아날로그 변환부(330), 2 커넥터(352), 제1 커넥터(351), 아날로그 입력 전단부(340) 및 아날로그 디지털 변환부(320)를 통해 전달되는 내부전압을 통해 앞서 설명한 바와 같이 수학식 3을 이용하여 아날로그 보정값 및 디지털 보정값을 산출할 수 있다. 보정값 산출부(311)는 산출된 아날로그 보정값 및 디지털 보정값을 보정 테이블에 기록하여 저장부(360)에 저장할 수 있다.
도4의 (b)를 참조하면, 점검 모드에서 인덱스 설정부(312)는 외부장치가 케이블을 통해 제1 커넥터(351)과 연결되면, 저장부(360)로부터 보정 테이블을 불러와 보정 테이블에 기록된 디지털 보정값과 아날로그 디지털 변환부(320)를 통해 획득된 외부장치의 전압에 대한 디지털 값을 이용하여 수학식 2에 적용될 인덱스를 수학식 1을 통해 설정할 수 있다.
전압 획득부(313)는 인덱스 설정부(312)를 통해 인덱스가 설정되면, 인덱스를 수학식 2에 적용하여 외부장치의 실질 전압을 산출할 수 있다.
본 발명에 따른 방법은 컴퓨터로 읽을 수 있는 기록매체에 컴퓨터가 읽을 수 있는 코드로서 구현하는 것이 가능하다. 컴퓨터가 읽을 수 있는 기록매체는 컴퓨터 시스템에 의하여 읽혀질 수 있는 데이터가 저장되는 모든 종류의 기록장치를 포함한다. 기록매체의 예로는 ROM, RAM, CD-ROM, 자기 테이프, 플로피 디스크, 광데이터 저장장치 등이 있으며, 또한 캐리어 웨이브(예를 들어 인터넷을 통한 전송)의 형태로 구현되는 것도 포함한다. 또한 컴퓨터가 읽을 수 있는 기록매체는 네트워크로 연결된 컴퓨터 시스템에 분산되어 분산방식으로 컴퓨터가 읽을 수 있는 코드가 저장되고 실행될 수 있다.
본 발명은 도면에 도시된 실시예를 참고로 설명되었으나 이는 예시적인 것에 불과하며, 본 기술 분야의 통상의 지식을 가진 자라면 이로부터 다양한 변형 및 균등한 타 실시예가 가능하다는 점을 이해할 것이다.
따라서, 본 발명의 진정한 기술적 보호 범위는 첨부된 등록청구범위의 기술적 사상에 의해 정해져야 할 것이다.
300: 전압 측정 장치
310: 제어부
311: 보정값 산출부
312: 인덱스 설정부
313: 전압 획득부
320: 아날로그 디지털 변환부
330: 디지털 아날로그 변환부
340: 아날로그 입력 전단부
350: 커넥터부
351: 제1 커넥터
352: 제2 커넥터
360: 저장부

Claims (5)

  1. 보정모드를 통해 디지털 값인 내부전압을 복수개로 등분하여 아날로그 값으로 출력하는 디지털 아날로그 변환부;
    상기 내부전압에 대한 아날로그 보정값을 산출하고, 상기 산출된 아날로그 보정값 각각에 대응되는 디지털 값인 디지털 보정값과 상기 아날로그 보정값을 포함하는 보정값을 저장하여 보정 테이블을 생성하는 보정값 산출부;
    상기 보정 테이블이 저장되는 저장부;
    외부장치와 연결되면 상기 외부장치의 특정 전압에 대한 디지털 값을 계측하는 아날로그 디지털 변환부;
    상기 보정 테이블에 기록된 복수개의 상기 보정값 중 상기 디지털 보정값과 상기 계측된 디지털 값을 기반으로 미리 정의된 계산식의 인덱스를 설정하는 인덱스 설정부; 및
    상기 인덱스가 설정된 상기 계산식을 통해 상기 외부장치의 특정 전압을 획득하는 전압 획득부
    를 포함하는 것을 특징으로 하는 오차를 보정하기 위한 전압 측정 장치.
  2. 제1 항에 있어서, 상기 보정값 산출부는
    상기 내부전압의 최대값과 상기 내부전압의 최소값의 차를 상기 내부전압을 등분한 개수로 나누고, 상기 내부전압의 출력된 순서에 해당하는 값을 곱하고, 상기 내부전압의 최소값을 더하여 상기 아날로그 보정값을 산출하는 것
    을 특징으로 하는 오차를 보정하기 위한 전압 측정 장치.
  3. 제1 항에 있어서, 상기 인덱스 설정부는
    상기 외부장치의 전압을 계측한 디지털 값이 최초 디지털 보정값과 같거나 작으면 인덱스를 1로 설정하고, 상기 외부장치의 전압을 계측한 디지털 값이 마지막 디지털 보정값 보다 크면 인덱스를 내부전압이 등분된 개수로 설정하고, 상기 외부장치의 전압을 계측한 디지털 값이 서로 인접하는 디지털 보정값 사이에 위치하면 나중에 생성된 디지털 보정값의 출력 순서를 나타내는 값으로 설정하는 것
    을 특징으로 하는 오차를 보정하기 위한 전압 측정 장치.
  4. 제1 항에 있어서, 상기 전압 획득부는
    상기 외부장치의 특정 전압을 수학식
    Figure 112015069508592-pat00005

    (여기서, Vin은 외부장치의 보정된 전압을 나타내고, Vdaci 및 ADCi는 보정 테이블의 i번째에 해당하는 아날로그 보정값 및 디지털 보정값이고, ADCin은 외부장치의 특정전압을 계측한 디지털 값이고, i는 ADCin이 보정 테이블의 ADCi 보다 크지 않으면서 가장 가까울 때의 인덱스를 나타낸다.)
    에 따라 획득하는 것
    을 특징으로 하는 오차를 보정하기 위한 전압 측정 장치.
  5. 제1 항에 있어서,
    점검모드에서 상기 외부장치와 연결되기 위한 제1 커넥터; 및
    상기 보정모드에서 상기 디지털 아날로그 변환부를 통해 출력되는 상기 내부전압이 상기 아날로그 디지털 변환부로 입력되기 위해 상기 제1 커넥터와 케이블을 통해 연결되기 위한 제2 커넥터
    를 더 포함하는 것을 특징으로 하는 오차를 보정하기 위한 전압 측정 장치.
KR1020150101742A 2015-07-17 2015-07-17 보정 테이블을 이용하여 오차를 보정하기 위한 전압 측정 장치 KR101555646B1 (ko)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
KR1020150101742A KR101555646B1 (ko) 2015-07-17 2015-07-17 보정 테이블을 이용하여 오차를 보정하기 위한 전압 측정 장치

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
KR1020150101742A KR101555646B1 (ko) 2015-07-17 2015-07-17 보정 테이블을 이용하여 오차를 보정하기 위한 전압 측정 장치

Related Parent Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
KR1020140112143A Division KR101555645B1 (ko) 2014-08-27 2014-08-27 보정 테이블을 이용하는 전압 측정 방법 및 오차를 보정하기 위한 전압 측정 장치

Publications (1)

Publication Number Publication Date
KR101555646B1 true KR101555646B1 (ko) 2015-09-25

Family

ID=54249094

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
KR1020150101742A KR101555646B1 (ko) 2015-07-17 2015-07-17 보정 테이블을 이용하여 오차를 보정하기 위한 전압 측정 장치

Country Status (1)

Country Link
KR (1) KR101555646B1 (ko)

Citations (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2009079972A (ja) 2007-09-26 2009-04-16 Osaki Electric Co Ltd 電力測定方法および電力測定装置

Patent Citations (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2009079972A (ja) 2007-09-26 2009-04-16 Osaki Electric Co Ltd 電力測定方法および電力測定装置

Similar Documents

Publication Publication Date Title
US9857782B2 (en) Output value correction method for physical quantity sensor apparatus, output correction method for physical quantity sensor, physical quantity sensor apparatus and output value correction apparatus for physical quantity sensor
JP2011109653A (ja) データ取込みシステム及びその校正方法
CN112946560A (zh) 电能表校准方法、装置、电能表及电能表系统
WO2020028314A1 (en) Current sensor configuration and calibration
US7373266B2 (en) Sensor calibration using selectively disconnected temperature
EP3111559B1 (en) On-chip analog-to-digital converter (adc) linearity test for embedded devices
US9857823B2 (en) Programmable temperature compensated voltage generator
US10371727B2 (en) Dynamic sensitivity adjustment for ADC measurements
US9209913B2 (en) Temperature compensation method and apparatus for received signal strength indicator
KR20160036338A (ko) 아날로그-디지털 컨버터 테스트장치 및 그 테스트방법
CN114499521A (zh) 信号校准方法、装置、计算机设备及存储介质
US20090240456A1 (en) Circuits and Methods for Calibrating a Delay Element
JP2011030206A (ja) 測定装置、プログラムおよび測定方法
KR101555646B1 (ko) 보정 테이블을 이용하여 오차를 보정하기 위한 전압 측정 장치
KR101555645B1 (ko) 보정 테이블을 이용하는 전압 측정 방법 및 오차를 보정하기 위한 전압 측정 장치
CN111412939B (zh) 用于编码器的实时校正方法及其系统
KR20090085283A (ko) 아날로그 디지털 변환기의 오차 보정 장치 및 방법
EP2579052A1 (en) Method for measuring resistance value of conversion resistance of current mode analog /digital converter
EP3767309B1 (en) Measurement system and method for automated measurement of several contributions to signal degradation
US8046396B2 (en) Residual Fourier-padding interpolation for instrumentation and measurement
US7508329B1 (en) Laser controller integrated circuit including variable resolution data processing device
US10890609B2 (en) Signal source, test system and method for testing a device under test
CN110068728B (zh) 确定脉冲调制信号相位谱的方法、装置及计算机设备
CN115494900B (zh) 基准电压扩展方法、系统、设备和计算机可读存储介质
CN113541690A (zh) 一种生产线检测设备的校准方法及模数转换校准系统

Legal Events

Date Code Title Description
E701 Decision to grant or registration of patent right
GRNT Written decision to grant
FPAY Annual fee payment

Payment date: 20180710

Year of fee payment: 4

FPAY Annual fee payment

Payment date: 20190731

Year of fee payment: 5