JPH11275755A - アバランシェフォトダイオード保護回路を有する光受信回路 - Google Patents

アバランシェフォトダイオード保護回路を有する光受信回路

Info

Publication number
JPH11275755A
JPH11275755A JP10070750A JP7075098A JPH11275755A JP H11275755 A JPH11275755 A JP H11275755A JP 10070750 A JP10070750 A JP 10070750A JP 7075098 A JP7075098 A JP 7075098A JP H11275755 A JPH11275755 A JP H11275755A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
avalanche photodiode
voltage
circuit
bias control
control circuit
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Withdrawn
Application number
JP10070750A
Other languages
English (en)
Inventor
Yoshinori Okuma
義則 大隈
Yuji Miyaki
裕司 宮木
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Fujitsu Ltd
Original Assignee
Fujitsu Ltd
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Fujitsu Ltd filed Critical Fujitsu Ltd
Priority to JP10070750A priority Critical patent/JPH11275755A/ja
Publication of JPH11275755A publication Critical patent/JPH11275755A/ja
Withdrawn legal-status Critical Current

Links

Landscapes

  • Emergency Protection Circuit Devices (AREA)
  • Amplifiers (AREA)
  • Optical Communication System (AREA)

Abstract

(57)【要約】 【課題】 電源投入過程で、アバランシェフォトダイオ
ードの過電圧による破壊を防止した光受信回路を提供す
る。 【解決手段】 アバランシェフォトダイオードAPDの
電圧供給用の電源VAPDのみが供給され、バイアス制御
回路用の電源Vcc、Veeは供給されていない状態を検出
する回路Da、Db又は、アバランシェフォトダイオー
ドに印加される電圧V1が過電圧であることを検出する
回路R6、R7、R9、R10を光受信回路に付加し、
この回路による検出結果に基づいて保護回路PR1、P
R2、Tr2を動作させるようにする。

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【発明の属する技術分野】本発明は、電源投入過程又は
電源遮断時におけるアバランシェフォトダイオードの破
壊を防止するためのアバランシェフォトダイオード保護
回路を有する光受信回路に関する。
【0002】
【従来の技術】図1は従来の光受信回路の一例を示す回
路図である。図において、APDはアバランシェフォト
ダイオード、OPはオペアンプ、PAはプリアンプ、T
rは制御用トランジスタである。アバランシェフォトダ
イオードAPDのカソードは抵抗器R2及びR1を介し
てアバランシェフォトダイオード用の電源VAPD に接続
されており、アノードはプリアンプPAの入力に接続さ
れている。抵抗器R1とR2との接続点V1は制御用ト
ランジスタTrのコレクタに接続されているとともに抵
抗器R3及びR4を介して接地されている。抵抗器R3
とR4との接続点はオペアンプOPの非反転入力端子に
接続されており、その反転入力端子には基準電圧Vre
fが入力されている。オペアンプOPの電源はVccとV
eeであり、アバランシェフォトダイオード用の電源VAP
D とは異なる。オペアンプOPの出力は制御用トランジ
スタTrのベースに接続されており、制御用トランジス
タTrのエミッタは抵抗器R5を介して接地されてい
る。
【0003】オペアンプOPと、制御用トランジスタT
rと、抵抗器R3、R4、及びR5とは、アバランシェ
フォトダイオードAPDの両端電圧を一定に保つための
バイアス制御回路を構成している。動作において、光信
号はアバランシェフォトダイオードAPDにより電流に
変換され、次段に接続されたプリアンプPAにより電圧
に変換されて、信号出力となる。一方、上記バイアス制
御回路は、アバランシェフォトダイオードAPDの増倍
率を最適にするために、アバランシェフォトダイオード
APDの両端電圧を制御する。
【0004】この制御の動作を説明する。抵抗R1を流
れる電流Iは I=I1+IAPD で示される。一方、接続点V1における電圧(やはりV
1で表す)は、 V1=VAPD −(R1×I) で示され、先の式に代入すると、 V1=VAPD −{R1×(I1+IAPD )} で示される。
【0005】接続点V1の電圧はR3とR4で分圧され
て、バイアス制御回路によりモニタされ、この電圧V1
が設定された電圧Vrefと同じになるように電流I1
を制御することで接続点V1の電圧が安定化する。これ
によりアバランシェフォトダイオードAPDの両端電圧
は最適値に安定化する。
【0006】
【発明が解決しようとする課題】電圧電圧の投入過程に
おいて、バイアス制御回路の電源電圧Vcc及びVee
を投入する前にアバランシェフォトダイオード用の電源
電圧VAPD のみが供給された場合を考えると、この状態
ではバイアス制御回路内の制御用トランジスタTrはオ
ンにならないので、抵抗器R1を流れる電流Iはほぼ零
である。アバランシェフォトダイオードAPDを流れる
電流IAPD が零とすると、アバランシェフォトダイオー
ドAPDには電源電圧VAPD がそのまま印加され、その
結果ブレークダウン電圧を越える電圧がアバランシェフ
ォトダイオードAPDに加わりアバランシェフォトダイ
オードAPDが破壊されるという問題がある。
【0007】本発明の目的は、アバランシェフォトダイ
オードを含む光受信回路において、電源電圧の投入過程
において、バイアス制御回路の電源電圧Vcc及びVe
eを投入する前にアバランシェフォトダイオード用の電
源電圧VAPD のみが供給された場合のアバランシェフォ
トダイオードの破壊を防止するためのアバランシェフォ
トダイオード保護回路を有する光受信回路を提供するこ
とにある。
【0008】
【課題を解決するための手段】電源電圧の投入過程にお
いてアバランシェフォトダイオードAPDの電圧供給用
の電源のみが供給され、バイアス制御回路用の電源は供
給されていない状態でのみ上記問題が発生することに鑑
み、上記目的を達成するために、本発明により、この状
態を検出する回路又は、アバランシェフォトダイオード
APDに印加される電圧が過電圧であることを検出する
回路を光受信回路に付加し、この回路による検出結果に
基づいて保護回路を動作させるようにする。
【0009】そのために、本発明の一態様により提供さ
れるものは、アバランシェフォトダイオードと、アバラ
ンシェフォトダイオードの両端電圧を動作時に一定に保
つバイアス制御回路とを含む光受信回路において、バイ
アス制御回路への電源供給過渡時又は電源遮断時でのア
バランシェフォトダイオードへの過電圧の印加を防止す
るアバランシェフォトダイオード保護回路を具備するこ
とを特徴とする、アバランシェフォトダイオード保護回
路を有する光受信回路である。
【0010】アバランシェフォトダイオード保護回路
は、アバランシェフォトダイオードのカソードとアース
との間に接続されており、且つ、アバランシェフォトダ
イオードの両端電圧がアバランシェフォトダイオードの
ブレークダウン電圧以上のときに導通する電流パスを備
えていることが好ましい。上記電流パスは、アバランシ
ェフォトダイオードのカソードとアースとの間に接続さ
れたツエナーダイオードを備えており、アバランシェフ
ォトダイオードの両端電圧がアバランシェフォトダイオ
ードのブレークダウン電圧以上のときにツエナーダイオ
ードが導通するように構成されていることが好ましい。
【0011】これに替えて、上記電流パスは、アバラン
シェフォトダイオードのカソードとアースにコレクタと
エミッタが接続されたトランジスタを備えており、アバ
ランシェフォトダイオードの両端電圧がアバランシェフ
ォトダイオードのブレークダウン電圧以上のときにトラ
ンジスタが導通するように構成されていてもよい。上記
バイアス制御回路は、アバランシェフォトダイオードの
両端電圧を基準レベルと比較する演算増幅器と、演算増
幅器の出力が基準レベル以上のときオンになる制御用ト
ランジスタとを備え、電流パスはこの制御用トランジス
タを含んでおり、アバランシェフォトダイオードの両端
電圧がアバランシェフォトダイオードのブレークダウン
電圧以上のときに制御用トランジスタが導通するように
構成されていてもよい。
【0012】アバランシェフォトダイオード保護回路
は、バイアス制御回路の電源のオフを監視する手段と、
バイアス制御回路の電源がオフのときに導通するトラン
ジスタとを備え、そのトランジスタのコレクタとエミッ
タはアバランシェフォトダイオードのカソードとアース
に接続されていてもよい。アバランシェフォトダイオー
ド保護回路は、バイアス制御回路の電源のオフを監視す
る手段と、バイアス制御回路の電源がオフのときにバイ
アス制御回路の電流制御部に電流を流す手段とを備えて
いてもよい。
【0013】本発明の他の態様によれば、アバランシェ
フォトダイオードと、アバランシェフォトダイオードの
両端電圧を動作時に一定に保つバイアス制御回路とを含
む光受信回路において、バイアス制御回路の電源は、ア
バランシェフォトダイオード用の電源と共用であり、バ
イアス制御回路は、バイアス制御回路とアバランシェフ
ォトダイオードとの接続点の電圧を基準値と比較するこ
とにより接続点の電圧を安定化するための電圧フィード
バック回路であることを特徴とする、アバランシェフォ
トダイオード保護回路を有する光受信回路が提供され
る。
【0014】
【発明の実施の形態】以下、本発明の実施例を図面によ
り説明する。実施例1 図2は本発明の第1の実施例による光受信回路を示す回
路図である。同図において、図1と同一部分には同一の
参照符号を付してある。図1との相違は、図2において
は、アバランシェフォトダイオードAPDに並列にツエ
ナーダイオードD1が接続されていることである。即
ち、ツエナーダイオードD1のカソードはアバランシェ
フォトダイオードAPDのカソードに接続されており、
ツエナーダイオードD1のアノードは接地されている。
この並列接続されたツエナーダイオードがアバランシェ
フォトダイオード保護回路PR1を構成している。
【0015】このツエナーダイオードD1としては、ブ
レークダウン電圧がアバランシェフォトダイオードAP
Dのブレークダウン電圧以上のものを用いる。また、ツ
エナーダイオードD1のブレークダウン電圧はバイアス
制御回路Bにより保持されるアバランシェフォトダイオ
ードAPDの両端電圧より高い電圧にした。動作におい
て、アバランシェフォトダイオードAPDに供給用の電
圧、例えば、85Vのみが供給され、バイアス制御回路
Bのための電圧Vcc及びVeeは供給されていない過渡状
態では、バイアス制御回路Bへの電流Imが零なので抵
抗器R1には電流が流れず、したがって抵抗器R1とR
2との接続点の電圧V1は電源電圧VAPD (例えば85
V)に近くなろうとする。しかし、本発明の実施例によ
りツエナーダイオードD1を設けたので、抵抗器R1、
R2及びツエナーダイオードD1を通して電源(やはり
VAPD で表わす)から接地に電流が流れる。この結果、
接続点V1の電圧は下がるので、アバランシェフォトダ
イオードAPDの両端電圧によりアバランシェフォトダ
イオードAPDが破壊されることはない。
【0016】バイアス制御回路Bに電源電圧Vcc及び
Veeが投入されると、接続点V1の電圧はツエナーナ
イオードD1のブレークダウン電圧より低い電圧に安定
化されるので、ツエナーダイオードD1はオフし、通常
の光受信回路として動作する。実施例2 図3は本発明の第2の実施例による光受信回路を示す回
路図である。図2との相違点は、図2におけるアバラン
シェフォトダイオード保護回路PR1に替えて、図3に
おいてはアバランシェフォトダイオード保護回路PR2
が用いられていることである。アバランシェフォトダイ
オード保護回路PR2は、トランジスタTr2と抵抗器
R6及びR7からなっている。トランジスタTr2のコ
レクタは接続点V1に接続されており、エミッタは接地
されている。接続点V1と接地との間に抵抗器R6とR
7が直列接続されている。抵抗器R6とR7の接続点は
トランジスタTr2のベースに接続されている。抵抗器
R6及びR7の抵抗値は、アバランシェフォトダイオー
ドAPDのバイアス電圧がアバランシェフォトダイオー
ドAPDのブレークダウン電圧以上になるとトランジス
タTr2がオンになるような値に設定されている。
【0017】動作において、アバランシェフォトダイオ
ードAPDに供給用の電圧VAPD のみが供給され、バイ
アス制御回路Bのための電圧Vcc及びVeeは供給されて
いない過渡状態では、バイアス制御回路Bへの電流Im
が零なので抵抗器R1には電流が流れず、したがって抵
抗器R1とR2との接続点の電圧V1はアバランシェフ
ォトダイオードAPDへの供給用の電圧VAPD に近くな
ろうとする。しかし、本発明の実施例によりアバランシ
ェフォトダイオード保護回路PR2を設けたので、トラ
ンジスタTr2がオンになり、VAPD から抵抗器R1及
びトランジスタTr2を介して接地に電流が流れる。こ
の結果、接続点V1の電圧は下がるので、アバランシェ
フォトダイオードAPDの両端電圧によりアバランシェ
フォトダイオードAPDが破壊されることはない。
【0018】バイアス制御回路Bに電源電圧Vcc及び
Veeが投入されると、バイアス制御回路Bの作用によ
り接続点V1の電圧はトランジスタTr2をオンさせる
電圧より低い電圧に安定化されるので、トランジスタT
r2はオフし、通常の光受信回路として動作する。実施例3 図4は本発明の第3の実施例による光受信回路を示す回
路図である。図2との相違点は、図2におけるアバラン
シェフォトダイオード保護回路PR1を設けずに、図4
においてはバイアス制御回路Baの構成を図2のバイア
ス制御回路Bと若干異ならしめたことである。即ち、図
4においては、バイアス制御回路Baは、図2のバイア
ス制御回路B内の構成要素に加えて、抵抗器R8、R
9、及びR10と、ダイオードD2及びD3とを備えて
いる。抵抗器R9及びR10は接続点V1と接地の間に
直列接続されている。ダイオードD2のアノードは抵抗
R9とR10との接続点に接続されている。ダイオード
D2のカソードはトランジスタTr1のベースに接続さ
れているとともに抵抗器R5を介して接地されている。
ダイオードD3のアノードはオペアンプOPの出力に接
続されており、カソードは制御用トランジスタTr1の
ベースに接続されている。したがって制御用トランジス
タTr1のベースには、ダイオードD2のカソードの電
位とダイオードD3のカソードの電位とのワイヤードO
Rが入力される。抵抗器R9及びR10の抵抗値は、ア
バランシェフォトダイオードAPDのバイアス電圧、即
ち、抵抗器R1とR2との接続点V1の電圧がアバラン
シェフォトダイオードAPDのブレークダウン電圧以上
になるとバイアス制御回路Ba内の制御用トランジスタ
Tr1がオンになるような値に設定されている。こうし
て、抵抗器R9、R10、ダイオードD2、ダイオード
D3、制御用トランジスタTr1、及び抵抗器R5はア
バランシェフォトダイオード保護回路を形成している。
【0019】動作において、アバランシェフォトダイオ
ードAPDに供給用の電圧VAPD のみが供給され、バイ
アス制御回路Bのための電圧Vcc及びVeeは供給されて
いない過渡状態では、バイアス制御回路Bへの電流Im
が零なので抵抗器R1には電流が流れず、したがって抵
抗器R1とR2との接続点の電圧V1はアバランシェフ
ォトダイオードAPDへの供給用の電圧VAPD に近くな
ろうとする。しかし、本発明の実施例により接続点V1
の電圧がアバランシェフォトダイオードAPDのブレー
クダウン電圧以上になると抵抗器R9、R10で分圧さ
れた電圧をダイオードD2を介して制御用トランジスタ
Tr1のベースに接続する経路でトランジスタTr1が
オンになるように抵抗器R9、R10の抵抗値を定め、
その時のベース電圧と抵抗器R5によって、トランジス
タTr1がオン時の電流Iを流すように設定すると、ア
バランシェフォトダイオード用の電源VAPD から、抵抗
器R1、制御用トランジスタTr1、及び抵抗器R5を
介して電流が流れ、その結果接続点V1の電圧はR1×
Iだけ電圧降下する。したがって、アバランシェフォト
ダイオードAPDの両端電圧によりアバランシェフォト
ダイオードAPDが破壊されることはない。
【0020】バイアス制御回路Bに電源電圧Vcc及び
Veeが投入されると、バイアス制御回路Baの作用に
より接続点V1の電圧は制御用トランジスタTr1をオ
ンさせる電圧より低い電圧に安定化されるので、制御用
トランジスタTr1はオフし、通常の光受信回路として
動作する。実施例4 図5は本発明の第4の実施例による光受信回路を示す回
路図であり、図3に示した実施例の改良である。図3と
の相違点は、図3における抵抗器R6及びR7による抵
抗分割回路に替えて、図5においてはバイアス制御回路
のVcc電源投入判定回路DaとVee電源投入判定回
路Dbとを設けたことである。即ち、図5において、V
cc電源投入回路Daは比較器COMP1と、ダイオー
ドD51及びD52と、抵抗器R51とを備えており、
Vee電源投入回路Dbは比較器COMP2と、ダイオ
ードD53と、抵抗器R52及びR53とを備えてい
る。
【0021】両比較器COPM1及びCOPM2に供給
される電源は、アバランシェフォトダイオード用の電源
VAPD であり、その正電極は抵抗器R51を介してそれ
ぞれの比較器に接続されている。抵抗器R51と並列に
逆流防止用のダイオードD52が接続されている。比較
器COPM1の反転入力端子にはバイアス制御回路Bの
正電源Vccの正電極が接続されており、非反転入力端
子には基準電圧ref51が入力される。比較器COP
M1の出力はダイオードD51を介してトランジスタT
r2のベースに接続されている。同様に、比較器COP
M2の反転入力端子にはバイアス制御回路Bの電源Ve
eの負電極が接続されており、非反転入力端子には基準
電圧ref52が入力される。比較器COPM1の出力
はダイオードD53を介してトランジスタTr2のベー
スに接続されている。
【0022】動作において、バイアス制御回路Bの電源
であるVcc及びVeeが基準値refに達しているか
をVcc電源投入判定回路DaとVee電源投入判定回
路Dbとでそれぞれ判定する。Vcc電源がオフの時は
比較器COPM1の出力は“H”レベルとなり、Vcc
電源がオンの時は比較器COPM1の出力は“L”レベ
ルとなる。また、Vee電源がオフの時は比較器COP
M2の出力は“H”レベルとなり、Vee電源がオンの
時は比較器COPM1の出力は“L”レベルとなる。ダ
イオードORとなる点V5が“L”となるのは、比較器
COMP1及びCOPM2の出力が共に“L”レベルの
とき、即ち、Vcc電源及びVee電源が共にオンの時
である。この時は、バイアス制御回路Bが動作している
ので点V1の電圧は低い値に安定化されていてアバラン
シェフォトダイオードAPDを破壊するおそれがない。
したがって、トランジスタTr2はオフとなる。一方、
Vcc電源及びVee電源の少なくとも一方がオフの時
は、ダイオードORの点V5は“H”レベルとなってト
ランジスタTr2がオンになり、アバランシェフォトダ
イオード用の電源VAPD から、抵抗器R1及びトランジ
スタTr2を介して電流が流れ、その結果、接続点V1
の電圧はR1×Iだけ電圧降下する。したがって、アバ
ランシェフォトダイオードAPDの両端電圧によりアバ
ランシェフォトダイオードAPDが破壊されることはな
い。実施例5 図6は本発明の第5の実施例による光受信回路を示す回
路図であり、図4に示した実施例の改良である。図4と
の相違点は、図4における抵抗器R8、R9及びR10
とダイオードD2とによる回路に替えて、図5に示した
Vcc電源投入判定回路Da及びVee電源投入判定回
路Dbからなる電源投入判定回路DcのダイオードOR
の出力点V5とダイオードD3のカソードとをワイヤー
ドORによりバイアス制御回路Bb内の制御用トランジ
スタTr1のベースに接続したことである。
【0023】動作において、図5の場合と同様に、ダイ
オードORとなる点V5が“L”となるのは、比較器C
OMP1及びCOPM2の出力が共に“L”レベルのと
き、即ち、Vcc電源及びVee電源が共にオンの時で
ある。この時は、トランジスタTr1のベースに接続さ
れている点V6の電位はダイオードD3の出力のみによ
り決まり、したがってバイアス制御回路Bが動作してい
るので点V1の電圧は低い値に安定化されていてアバラ
ンシェフォトダイオードAPDを破壊するおそれがな
い。一方、Vcc電源及びVee電源の少なくとも一方
がオフの時は、ダイオードORの点V5は“H”レベル
となるので、ワイヤードORの点V6も“H”レベルと
なりトランジスタTr1がオンになる。この結果、アバ
ランシェフォトダイオード用の電源VAPD から、抵抗器
R1及びトランジスタTr2を介して電流が流れ、接続
点V1の電圧はR1×Iだけ電圧降下する。したがっ
て、アバランシェフォトダイオードAPDの両端電圧に
よりアバランシェフォトダイオードAPDが破壊される
ことはない。実施例6 図7は本発明の第6の実施例による光受信回路を示す回
路図である。この実施例では、アバランシェフォトダイ
オード用の電源VAPD と、トランジスタTr3と比較器
COMPとで電圧源VSを構成し、この電圧源VSをバ
イアス制御回路として用いる。即ち、電圧源VSと抵抗
器R2との接続点V1は比較器COMPの反転入力端子
に接続されており、非反転入力端子には基準電圧ref
が入力される。比較器COMPの出力はトランジスタT
r3のベースに接続されており、トランジスタTr3の
コレクタはアバランシェフォトダイオード用電源VAPD
の正電極に接続されており、エミッタは接続点V1に接
続されている。接続点V1は抵抗器R2を介してアバラ
ンシェフォトダイオードAPDのカソードに接続されて
おり、そのアノードはプリアンプPAに接続されてい
る。
【0024】比較器COMPの電源はアバランシェフォ
トダイオードの電源と共通なので、図1に示したよう
な、アバランシェフォトダイオードの電源とは別の電源
を持つバイアス制御回路を有する光受信回路における電
源投入時の過渡時の問題は図7の回路では存在しない。
電圧源VSは点V1の電圧を基準値refと比較するこ
とにより点V1の電圧を安定化するための電圧フィード
バック回路である。こうして、点V1の電圧は基準レベ
ルrefに等しくなるように制御される。したがって、
アバランシェフォトダイオードAPDには過大な電圧は
印加されない。
【0025】
【発明の効果】以上の説明から明らかなように、本発明
によれば、アバランシェフォトダイオードを含む光受信
回路において、電源電圧の投入過程においてアバランシ
ェフォトダイオードが過電圧により破壊されることがな
いようにしたアバランシェフォトダイオード保護回路を
有する光受信回路が提供される。
【図面の簡単な説明】
【図1】従来の光受信回路の一例を示す回路図である。
【図2】本発明の第1の実施例による光受信回路を示す
回路図である。
【図3】本発明の第2の実施例による光受信回路を示す
回路図である。
【図4】本発明の第3の実施例による光受信回路を示す
回路図である。
【図5】本発明の第4の実施例による光受信回路を示す
回路図である。
【図6】本発明の第5の実施例による光受信回路を示す
回路図である。
【図7】本発明の第6の実施例による光受信回路を示す
回路図である。
【符号の説明】
APD…アバランシェフォトダイオード B…バイアス制御回路 Ba…バイアス制御回路 D1…ツエナーダイオード Tr2…トランジスタ Tr、Tr1…制御用トランジスタ PR1…アバランシェフォトダイオード保護回路 PR2…アバランシェフォトダイオード保護回路 Da…Vcc電源投入判定回路 Db…Vee電源投入判定回路 Dc…電源投入判定回路
───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (51)Int.Cl.6 識別記号 FI H04B 10/14 10/04 10/06

Claims (9)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】 アバランシェフォトダイオードと、該ア
    バランシェフォトダイオードの両端電圧を動作時に一定
    に保つバイアス制御回路とを含む光受信回路において、
    前記バイアス制御回路への電源供給過渡時又は電源遮断
    時での前記アバランシェフォトダイオードへの過電圧の
    印加を防止するアバランシェフォトダイオード保護回路
    を具備することを特徴とする、アバランシェフォトダイ
    オード保護回路を有する光受信回路。
  2. 【請求項2】 前記アバランシェフォトダイオード保護
    回路は、前記アバランシェフォトダイオードのカソード
    とアースとの間に接続されており、且つ、前記アバラン
    シェフォトダイオードの両端電圧が前記アバランシェフ
    ォトダイオードのブレークダウン電圧以上のときに導通
    する電流パスを備えることを特徴とする、請求項1に記
    載の光受信回路。
  3. 【請求項3】 前記電流パスは、前記アバランシェフォ
    トダイオードのカソードとアースとの間に接続されたツ
    エナーダイオードを備えており、前記アバランシェフォ
    トダイオードの両端電圧が前記アバランシェフォトダイ
    オードのブレークダウン電圧以上のときに前記ツエナー
    ダイオードが導通するように構成されていることを特徴
    とする、請求項2に記載の光受信回路。
  4. 【請求項4】 前記電流パスは、前記アバランシェフォ
    トダイオードのカソードとアースにコレクタとエミッタ
    が接続されたトランジスタを備えており、前記アバラン
    シェフォトダイオードの両端電圧が前記アバランシェフ
    ォトダイオードのブレークダウン電圧以上のときに前記
    トランジスタが導通するように構成されていることを特
    徴とする、請求項2に記載の光受信回路。
  5. 【請求項5】 前記トランジスタは前記バイアス制御回
    路の外部に設けられたものであることを特徴とする、請
    求項4に記載の光受信回路。
  6. 【請求項6】 前記バイアス制御回路は、前記アバラン
    シェフォトダイオードの両端電圧を基準レベルと比較す
    る演算増幅器と、該演算増幅器の出力が前記基準レベル
    以上のときオンになる制御用トランジスタとを備え、前
    記電流パスは前記制御用トランジスタを含んでおり、前
    記アバランシェフォトダイオードの両端電圧が前記アバ
    ランシェフォトダイオードのブレークダウン電圧以上の
    ときに前記制御用トランジスタが導通するように構成さ
    れていることを特徴とする、請求項2に記載の光受信回
    路。
  7. 【請求項7】 前記アバランシェフォトダイオード保護
    回路は、前記バイアス制御回路の電源のオフを監視する
    手段と、前記バイアス制御回路の電源がオフのときに導
    通するトランジスタとを備え、該トランジスタのコレク
    タとエミッタは前記アバランシェフォトダイオードのカ
    ソードとアースに接続されていることを特徴とする、請
    求項1に記載の光受信回路。
  8. 【請求項8】 前記アバランシェフォトダイオード保護
    回路は、前記バイアス制御回路の電源のオフを監視する
    手段と、前記バイアス制御回路の電源がオフのときに前
    記バイアス制御回路の電流制御部に電流を流す手段とを
    備えることを特徴とする、請求項1に記載の光受信回
    路。
  9. 【請求項9】 アバランシェフォトダイオードと、該ア
    バランシェフォトダイオードの両端電圧を動作時に一定
    に保つバイアス制御回路とを含む光受信回路において、
    前記バイアス制御回路の電源は、前記アバランシェフォ
    トダイオード用の電源と共用であり、前記バイアス制御
    回路は、前記バイアス制御回路と前記アバランシェフォ
    トダイオードとの接続点の電圧を基準値と比較すること
    により前記接続点の電圧を安定化するための電圧フィー
    ドバック回路であることを特徴とする、アバランシェフ
    ォトダイオード保護回路を有する光受信回路。
JP10070750A 1998-03-19 1998-03-19 アバランシェフォトダイオード保護回路を有する光受信回路 Withdrawn JPH11275755A (ja)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP10070750A JPH11275755A (ja) 1998-03-19 1998-03-19 アバランシェフォトダイオード保護回路を有する光受信回路

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP10070750A JPH11275755A (ja) 1998-03-19 1998-03-19 アバランシェフォトダイオード保護回路を有する光受信回路

Publications (1)

Publication Number Publication Date
JPH11275755A true JPH11275755A (ja) 1999-10-08

Family

ID=13440509

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP10070750A Withdrawn JPH11275755A (ja) 1998-03-19 1998-03-19 アバランシェフォトダイオード保護回路を有する光受信回路

Country Status (1)

Country Link
JP (1) JPH11275755A (ja)

Cited By (10)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2006086737A (ja) * 2004-09-15 2006-03-30 Sumitomo Electric Ind Ltd バイアス制御回路
KR100863668B1 (ko) 2007-04-17 2008-10-15 이우헌 서지 프로텍터
US20090283848A1 (en) * 2008-05-13 2009-11-19 Jds Uniphase Corporation Photodiode Assembly With Improved Electrostatic Discharge Damage Threshold
WO2010020278A1 (en) * 2008-08-20 2010-02-25 Telefonaktiebolaget Lm Ericsson (Publ) Avalanche photodiode circuits
CN104965553A (zh) * 2015-07-01 2015-10-07 博为科技有限公司 一种雪崩光电二极管过压保护方法及装置
CN106451393A (zh) * 2015-08-05 2017-02-22 三菱电机株式会社 光模块
CN106786453A (zh) * 2016-12-07 2017-05-31 深圳市共进电子股份有限公司 一种光模块apd保护电路
CN113167640A (zh) * 2018-12-12 2021-07-23 浜松光子学株式会社 光检测装置
US11901379B2 (en) 2018-12-12 2024-02-13 Hamamatsu Photonics K.K. Photodetector
US12080822B2 (en) 2018-12-12 2024-09-03 Hamamatsu Photonics K.K. Photodetector and method for manufacturing photodetector

Cited By (17)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2006086737A (ja) * 2004-09-15 2006-03-30 Sumitomo Electric Ind Ltd バイアス制御回路
JP4501612B2 (ja) * 2004-09-15 2010-07-14 住友電気工業株式会社 バイアス制御回路
KR100863668B1 (ko) 2007-04-17 2008-10-15 이우헌 서지 프로텍터
US20090283848A1 (en) * 2008-05-13 2009-11-19 Jds Uniphase Corporation Photodiode Assembly With Improved Electrostatic Discharge Damage Threshold
WO2010020278A1 (en) * 2008-08-20 2010-02-25 Telefonaktiebolaget Lm Ericsson (Publ) Avalanche photodiode circuits
US8686343B2 (en) 2008-08-20 2014-04-01 Telefonaktiebolaget L M Ericsson (Publ) Avalanche photodiode circuits with protection against damage from sudden increases in incident light level
CN104965553A (zh) * 2015-07-01 2015-10-07 博为科技有限公司 一种雪崩光电二极管过压保护方法及装置
CN104965553B (zh) * 2015-07-01 2016-08-24 博为科技有限公司 一种雪崩光电二极管过压保护方法及装置
CN106451393A (zh) * 2015-08-05 2017-02-22 三菱电机株式会社 光模块
US10205034B2 (en) 2015-08-05 2019-02-12 Mitsubishi Electric Corporation Optical module
CN106451393B (zh) * 2015-08-05 2019-03-15 三菱电机株式会社 光模块
CN106786453A (zh) * 2016-12-07 2017-05-31 深圳市共进电子股份有限公司 一种光模块apd保护电路
CN106786453B (zh) * 2016-12-07 2019-09-17 深圳市共进电子股份有限公司 一种光模块apd保护电路
CN113167640A (zh) * 2018-12-12 2021-07-23 浜松光子学株式会社 光检测装置
US11901379B2 (en) 2018-12-12 2024-02-13 Hamamatsu Photonics K.K. Photodetector
US11927478B2 (en) 2018-12-12 2024-03-12 Hamamatsu Photonics K.K. Light detection device
US12080822B2 (en) 2018-12-12 2024-09-03 Hamamatsu Photonics K.K. Photodetector and method for manufacturing photodetector

Similar Documents

Publication Publication Date Title
JP3406215B2 (ja) リモートセンス式電源供給装置
JPH11275755A (ja) アバランシェフォトダイオード保護回路を有する光受信回路
JP2005304022A (ja) 光受信回路
KR20020010499A (ko) 전원 장치 및 전원 시스템
US5905617A (en) Differential amplifier having a protection circuit
US5451891A (en) Potential detecting circuit
US4343028A (en) Television receiver high voltage generator protection circuit
US20020141125A1 (en) Fault detection in a LED bias circuit
US5631549A (en) Linear regulator power supply with an overcurrent protection device
JPH0756496B2 (ja) ウインドウコンパレータ
JPH041588B2 (ja)
US11616504B2 (en) OPAMP overload power limit circuit, system, and a method thereof
JP4123134B2 (ja) レーザ駆動装置
JP2804678B2 (ja) 光検出装置
JP5331515B2 (ja) 安定化電源回路
JPH04251517A (ja) 過電圧保護回路
KR900006262B1 (ko) 온도보상용 정류회로를 갖는 카폰의 송신출력단 회로
JPH02306678A (ja) 半導体レーザ駆動制御装置
KR960005180Y1 (ko) 자동 발란스 레벨 제어회로
KR890003568Y1 (ko) 전원전압 레벨 한계치 검출회로
KR950006057Y1 (ko) 병렬제어형 안정화회로의 제너다이오드 보호회로
KR20090082021A (ko) 전류 제한회로
RU2138844C1 (ru) Стабилизатор постоянного потребляемого тока с комбинированной защитой
KR930001680Y1 (ko) 비 절연형 smps의 출력제어 회로
JP2002358581A (ja) 光電式煙感知器

Legal Events

Date Code Title Description
A300 Withdrawal of application because of no request for examination

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A300

Effective date: 20050607