JPH04251517A - 過電圧保護回路 - Google Patents
過電圧保護回路Info
- Publication number
- JPH04251517A JPH04251517A JP40924590A JP40924590A JPH04251517A JP H04251517 A JPH04251517 A JP H04251517A JP 40924590 A JP40924590 A JP 40924590A JP 40924590 A JP40924590 A JP 40924590A JP H04251517 A JPH04251517 A JP H04251517A
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- Japan
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- current
- resistor
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- input
- input terminal
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- 238000001514 detection method Methods 0.000 claims description 14
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 4
- 230000003321 amplification Effects 0.000 description 1
- 230000000694 effects Effects 0.000 description 1
- 238000003199 nucleic acid amplification method Methods 0.000 description 1
- 102220029901 rs140332992 Human genes 0.000 description 1
- 102220110933 rs151253274 Human genes 0.000 description 1
Landscapes
- Measurement Of Current Or Voltage (AREA)
- Emergency Protection Circuit Devices (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【0001】
【産業上の利用分野】本発明は入力保護回路に関し、更
に詳しくは、過大入力に対する入力保護回路の特性改善
に関する。
に詳しくは、過大入力に対する入力保護回路の特性改善
に関する。
【0002】
【従来の技術】図2は、従来の入力保護回路の回路図で
ある。図中、In は入力電圧Ei が印加される入力
端子、6はデバイス、R4 は電流制限用の抵抗である
。D1 は第1のダイオ−ドで、アノ−ドが入力端子I
n に接続され、カソ−ドが正の電位+Vccに接続さ
れている。 D2 は第2のダイオ−ドで、カソ−ドが入力端子In
に接続され、アノ−ドが負の電位−Vee側に接続さ
れている。なお、ダイオ−ドの電.圧降下はVd とす
る。
ある。図中、In は入力電圧Ei が印加される入力
端子、6はデバイス、R4 は電流制限用の抵抗である
。D1 は第1のダイオ−ドで、アノ−ドが入力端子I
n に接続され、カソ−ドが正の電位+Vccに接続さ
れている。 D2 は第2のダイオ−ドで、カソ−ドが入力端子In
に接続され、アノ−ドが負の電位−Vee側に接続さ
れている。なお、ダイオ−ドの電.圧降下はVd とす
る。
【0003】入力電圧Ei がEi <+Vcc+Vd
およびEi >−Vee−Vd のときは、ダイオ−
ドD1 、D2 は逆バイアスとなり、大きな抵抗とな
る。このためにダイオ−ドD1 、D2 は電流が流れ
ず、デバイス6に入力電圧Eiが直接に印加される。逆
に、入力電圧Ei が+Vcc+Vd より大きくなる
とダイオ−ドD1 が順バイヤスとなって電流が流れる
ために、デバイス6の入力端には、+Vcc+Vd の
電圧が印加される。−Vee−Vd の場合についても
同様である。
およびEi >−Vee−Vd のときは、ダイオ−
ドD1 、D2 は逆バイアスとなり、大きな抵抗とな
る。このためにダイオ−ドD1 、D2 は電流が流れ
ず、デバイス6に入力電圧Eiが直接に印加される。逆
に、入力電圧Ei が+Vcc+Vd より大きくなる
とダイオ−ドD1 が順バイヤスとなって電流が流れる
ために、デバイス6の入力端には、+Vcc+Vd の
電圧が印加される。−Vee−Vd の場合についても
同様である。
【0004】このように、入力電圧Ei がEi >+
Vcc+Vd 及びEi <−Vee−Vd になった
としても、デバイス6に印加される電圧は、+Vcc+
Vd (−Vee−Vd )以下に押さえられる。
Vcc+Vd 及びEi <−Vee−Vd になった
としても、デバイス6に印加される電圧は、+Vcc+
Vd (−Vee−Vd )以下に押さえられる。
【0005】
【発明が解決しようとする課題】従来のこのような入力
保護回路は、線路インピ−ダンスなどの関係で、電流制
限用抵抗を大きな抵抗値にすることができない場合があ
る。このような場合は、デバイスに過電圧が印加される
と、電流制限用抵抗とクランプ用ダイオ−ドに、保護が
働いている間は大電流が流れ続ける。このため、電流制
限用抵抗は、大電流に耐えるものを使用しなければなら
ないという問題があった。
保護回路は、線路インピ−ダンスなどの関係で、電流制
限用抵抗を大きな抵抗値にすることができない場合があ
る。このような場合は、デバイスに過電圧が印加される
と、電流制限用抵抗とクランプ用ダイオ−ドに、保護が
働いている間は大電流が流れ続ける。このため、電流制
限用抵抗は、大電流に耐えるものを使用しなければなら
ないという問題があった。
【0006】本発明は、このような点に鑑みてなされた
もので、デバイスに過電圧が印加されて入力保護回路に
大電流が流れた場合に、入力保護回路に流れた電流値を
検知し、デバイスに印加される過電圧をスイッチによっ
てオフするようにした入力保護回路を提供することにあ
る。
もので、デバイスに過電圧が印加されて入力保護回路に
大電流が流れた場合に、入力保護回路に流れた電流値を
検知し、デバイスに印加される過電圧をスイッチによっ
てオフするようにした入力保護回路を提供することにあ
る。
【0007】
【課題を解決するための手段】このような目的を達成す
るために本発明は、一定電圧を発生する基準電圧発生部
と、この基準電圧発生部から印加される電圧をゲイン設
定用抵抗の分圧比に基づいて増幅する演算増幅器と、こ
の演算増幅器の出力信号が印加され、当該出力電流をブ
−ストするパワ−トランジスタと、このパワ−トランジ
スタと直流電源間に接続されるダミ−負荷抵抗と、保護
すべきデバイスの入力端子と前記パワ−トランジスタ間
に接続されたダイオ−ドと、保護すべきデバイスの入力
端子に接続された電流制限抵抗と信号が印加される入力
部との間に設けられたスイッチと、前記ダミ−負荷抵抗
と前記パワ−トランジスタ間の電流値を検出する電流検
出手段と、を具備し、前記電流検出手段に一定以上の電
流が流れた時に前記スイッチをオフすることを特徴とし
ている。
るために本発明は、一定電圧を発生する基準電圧発生部
と、この基準電圧発生部から印加される電圧をゲイン設
定用抵抗の分圧比に基づいて増幅する演算増幅器と、こ
の演算増幅器の出力信号が印加され、当該出力電流をブ
−ストするパワ−トランジスタと、このパワ−トランジ
スタと直流電源間に接続されるダミ−負荷抵抗と、保護
すべきデバイスの入力端子と前記パワ−トランジスタ間
に接続されたダイオ−ドと、保護すべきデバイスの入力
端子に接続された電流制限抵抗と信号が印加される入力
部との間に設けられたスイッチと、前記ダミ−負荷抵抗
と前記パワ−トランジスタ間の電流値を検出する電流検
出手段と、を具備し、前記電流検出手段に一定以上の電
流が流れた時に前記スイッチをオフすることを特徴とし
ている。
【0008】
【作用】本発明の各構成要素は、次のような作用をする
。基準電圧発生部は、一定電圧を演算増幅器の非反転入
力端子に印加する。演算増幅器は、非反転入力端子に印
加された電圧を、反転入力端子に接続されたゲイン設定
用抵抗に基づいて増幅する。パワ−トランジスタは、過
電圧が印加されると、エミッタ、コレクタに電流を流し
、クランプ電圧を一定に維持しようとする。電流検出ダ
イオ−ドは、過電圧が印加されてエミッタ、コレクタに
流れる電流を検出し、一定以上の電流が流れた時に、リ
レ−スイッチをオフする。
。基準電圧発生部は、一定電圧を演算増幅器の非反転入
力端子に印加する。演算増幅器は、非反転入力端子に印
加された電圧を、反転入力端子に接続されたゲイン設定
用抵抗に基づいて増幅する。パワ−トランジスタは、過
電圧が印加されると、エミッタ、コレクタに電流を流し
、クランプ電圧を一定に維持しようとする。電流検出ダ
イオ−ドは、過電圧が印加されてエミッタ、コレクタに
流れる電流を検出し、一定以上の電流が流れた時に、リ
レ−スイッチをオフする。
【0009】
【実施例】以下図面を用いて、本発明の実施例を詳細に
説明する。図1は、本発明の入力保護回路の実施例を示
す構成ブロック図である。図中、1はツェナ−ダイオ−
ド等によって構成された基準電圧発生部で、基準電圧v
1 を演算増幅器2の非反転入力端子に印加している。
説明する。図1は、本発明の入力保護回路の実施例を示
す構成ブロック図である。図中、1はツェナ−ダイオ−
ド等によって構成された基準電圧発生部で、基準電圧v
1 を演算増幅器2の非反転入力端子に印加している。
【0010】演算増幅器2の出力端子は、抵抗R1 を
介してパワ−トランジスタ3のベ−スが接続されている
。 このパワ−トランジスタ3のコレクタは共通電位に接続
され、エミッタは電流検出ダイオ−ド4のカソ−ド側に
接続されている。電流検出ダイオ−ド4のアノ−ドは、
ダミ−負荷抵抗R2 を介し電源Vccに接続されてい
る。 尚、電流検出ダイオ−ド4は、電流確度向上のため
に、抵抗R10が並列に設けられているが、抵抗R10
と電流検出ダイオ−ド4を直列に設けるようにしてもよ
い。
介してパワ−トランジスタ3のベ−スが接続されている
。 このパワ−トランジスタ3のコレクタは共通電位に接続
され、エミッタは電流検出ダイオ−ド4のカソ−ド側に
接続されている。電流検出ダイオ−ド4のアノ−ドは、
ダミ−負荷抵抗R2 を介し電源Vccに接続されてい
る。 尚、電流検出ダイオ−ド4は、電流確度向上のため
に、抵抗R10が並列に設けられているが、抵抗R10
と電流検出ダイオ−ド4を直列に設けるようにしてもよ
い。
【0011】R3 はダミ−負荷抵抗R2 と共通電位
間に抵抗R31と抵抗R32が直列接続されて設けられ
たゲイン設定用の抵抗で、その中点H1 は演算増幅器
2の反転入力端子に接続されている。このため、D点(
電流検出ダイオ−ド4のアノ−ド)の電位v2 は、演
算増幅器2によって非反転動作の負帰還がかかっている
ために、常にA・v1 となり一定に保たれる。ここで
、Aは演算増幅器2の増幅率で、A=(R31+R32
)/R31である。
間に抵抗R31と抵抗R32が直列接続されて設けられ
たゲイン設定用の抵抗で、その中点H1 は演算増幅器
2の反転入力端子に接続されている。このため、D点(
電流検出ダイオ−ド4のアノ−ド)の電位v2 は、演
算増幅器2によって非反転動作の負帰還がかかっている
ために、常にA・v1 となり一定に保たれる。ここで
、Aは演算増幅器2の増幅率で、A=(R31+R32
)/R31である。
【0012】5はクランプダイオ−ドで、カソ−ドがエ
ミッタに接続され、アノ−ドが入力電圧Ei の印加さ
れるデバイス6の入力端子に接続されている。R4 は
デバイス6の入力端子に接続された電流制限用抵抗で、
リレ−スイッチ70を介して入力端子In に接続され
ている。尚、リレ−スイッチ70は、リレ−コイル71
に印加される電源VRLのオン/オフによって駆動され
る。
ミッタに接続され、アノ−ドが入力電圧Ei の印加さ
れるデバイス6の入力端子に接続されている。R4 は
デバイス6の入力端子に接続された電流制限用抵抗で、
リレ−スイッチ70を介して入力端子In に接続され
ている。尚、リレ−スイッチ70は、リレ−コイル71
に印加される電源VRLのオン/オフによって駆動され
る。
【0013】R5 は電源Vccと共通電位間に抵抗R
51とR52を直列接続して設けた分圧抵抗、8はコン
パレ−タで、反転入力端子には電流検出ダイオ−ド4の
カソ−ド側の(E点)電圧v3 が印加され、非反転入
力端子には分圧抵抗R5 の抵抗R51、R52で決定
された基準電圧v4 が印加されている。
51とR52を直列接続して設けた分圧抵抗、8はコン
パレ−タで、反転入力端子には電流検出ダイオ−ド4の
カソ−ド側の(E点)電圧v3 が印加され、非反転入
力端子には分圧抵抗R5 の抵抗R51、R52で決定
された基準電圧v4 が印加されている。
【0014】コンパレ−タ8は、基準電圧v4 より反
転入力端子に印加されるE点の電位v3 が低くなった
時に、ハイレベルの信号をD型フリップフロップ9に出
力する。すなわち、コンパレ−タ8は、電流検出ダイオ
−ド4の電圧降下Vd によってE点の電圧v3 が降
下した時にハイレベルの信号をD型フリップフロップ9
に出力する。R6 はコンパレ−タ8の出力端子に設け
られたプルアップ抵抗である。
転入力端子に印加されるE点の電位v3 が低くなった
時に、ハイレベルの信号をD型フリップフロップ9に出
力する。すなわち、コンパレ−タ8は、電流検出ダイオ
−ド4の電圧降下Vd によってE点の電圧v3 が降
下した時にハイレベルの信号をD型フリップフロップ9
に出力する。R6 はコンパレ−タ8の出力端子に設け
られたプルアップ抵抗である。
【0015】D型フリップフロップ9は、D端子に共通
電位が印加されていて、コンパレ−タ8から入力された
ハイレベルの信号によって、Q出力を抵抗R9を介して
リレ−ドライバ10に出力する。リレ−ドライバ10は
、D型フリップフロップ9からベ−スに入力されたQ出
力によって、ベ−スの電位とエミッタが等電位となる。 このため、リレ−コイルには、電源電圧VRLが印加さ
れるなくなり、リレ−スイッチ70はオフされる。
電位が印加されていて、コンパレ−タ8から入力された
ハイレベルの信号によって、Q出力を抵抗R9を介して
リレ−ドライバ10に出力する。リレ−ドライバ10は
、D型フリップフロップ9からベ−スに入力されたQ出
力によって、ベ−スの電位とエミッタが等電位となる。 このため、リレ−コイルには、電源電圧VRLが印加さ
れるなくなり、リレ−スイッチ70はオフされる。
【0016】次に、このように構成された入力保護回路
の保護動作を定常状態と過電圧が印加された場合とに分
けて説明する。尚、各電子部品の容量数値は、v1 =
2.5 V、v5 (Vcc)=10V、R2 =2
KΩ、R31=2 KΩ、R32=3.6 KΩ、Vf
=1.0 V(ただし、順方向電流If =80mA
の時)、R4 =25Ω、R51=1.5 KΩ、R5
2=2.55KΩとする。
の保護動作を定常状態と過電圧が印加された場合とに分
けて説明する。尚、各電子部品の容量数値は、v1 =
2.5 V、v5 (Vcc)=10V、R2 =2
KΩ、R31=2 KΩ、R32=3.6 KΩ、Vf
=1.0 V(ただし、順方向電流If =80mA
の時)、R4 =25Ω、R51=1.5 KΩ、R5
2=2.55KΩとする。
【0017】Ei ≦(v2 +vf )の場合クラン
プダイオ−ド5は逆バイヤスとなっていて、電流If
は流れない。よって、デバイス6側のF点の電圧v6
は、v6 =Ei の関係が保たれ、入力電圧Ei が
デバイス6に直接印加される。この時、D点の電位v2
は7Vになっていて、ダミ−負荷抵抗R2 には、1
、5mAの電流I1 が流れている。この電流I1 は
、ゲイン設定用抵抗R3 側に1.25mAの電流I2
が流れ、ダイオ−ド側に250μAの電流I3 が流
れる。
プダイオ−ド5は逆バイヤスとなっていて、電流If
は流れない。よって、デバイス6側のF点の電圧v6
は、v6 =Ei の関係が保たれ、入力電圧Ei が
デバイス6に直接印加される。この時、D点の電位v2
は7Vになっていて、ダミ−負荷抵抗R2 には、1
、5mAの電流I1 が流れている。この電流I1 は
、ゲイン設定用抵抗R3 側に1.25mAの電流I2
が流れ、ダイオ−ド側に250μAの電流I3 が流
れる。
【0018】このように過電圧が印加されていない場合
は、電流検出ダイオ−ド4は、μA程度の電流I3 が
流れているだけで、ほとんど電圧降下がない。このため
、E点の電位v3 は、ほぼD点の電位に等しく、コン
パレ−タ8の反転入力端子には7Vの電圧が印加されて
いる。一方、コンパレ−タ8の非反転入力端子は、6.
3Vの基準電圧v4 が印加されているので、コンパレ
−タ8のQ出力はロ−レベルになっていて、リレ−スイ
ッチ70はオンされたままである。
は、電流検出ダイオ−ド4は、μA程度の電流I3 が
流れているだけで、ほとんど電圧降下がない。このため
、E点の電位v3 は、ほぼD点の電位に等しく、コン
パレ−タ8の反転入力端子には7Vの電圧が印加されて
いる。一方、コンパレ−タ8の非反転入力端子は、6.
3Vの基準電圧v4 が印加されているので、コンパレ
−タ8のQ出力はロ−レベルになっていて、リレ−スイ
ッチ70はオンされたままである。
【0019】Ei >(v3 +vf )の場合入力端
子Inに過電圧が印加されと、クランプダイオ−ド5は
順バイヤスになって、電流If がクランプダイオ−ド
5→電流検出ダイオ−ド4→エミッタ→コレクタと流れ
る。この時、デバイス6のF点の電位v6 は、8Vの
電圧が維持される。
子Inに過電圧が印加されと、クランプダイオ−ド5は
順バイヤスになって、電流If がクランプダイオ−ド
5→電流検出ダイオ−ド4→エミッタ→コレクタと流れ
る。この時、デバイス6のF点の電位v6 は、8Vの
電圧が維持される。
【0020】しかし、過電圧が印加されて保護回路に電
流If が流れると、E点は、電圧がD点よりほぼ1V
降下する。このため、コンパレ−タ8の反転入力端子に
印加される電圧v3 は6Vとなり、非反転入力端子に
印加されていている基準電圧v4 の6.3Vより低く
なるため、コンパレ−タ8は、ハイレベルをD型フリッ
プフロップ9に出力する。D型フリップフロップ9は、
クロック端子にハイレベルの信号を入力すると、D端子
に印加されている共通電位を抵抗R9 を介してリレ−
ドライバ10に出力し、リレ−スイッチ70をオフする
。尚、本実施例において、ダミ−負荷抵抗R2 とエミ
ッタ間の電流値は、電流検出ダイオ−ド4を用いて測定
されているが、ダミ−負荷抵抗R2 とエミッタ間に、
一定以上の電流が流れると発光するフォトダイオ−ドか
らなるフォトカプラを設けて出力を得ることもできる。
流If が流れると、E点は、電圧がD点よりほぼ1V
降下する。このため、コンパレ−タ8の反転入力端子に
印加される電圧v3 は6Vとなり、非反転入力端子に
印加されていている基準電圧v4 の6.3Vより低く
なるため、コンパレ−タ8は、ハイレベルをD型フリッ
プフロップ9に出力する。D型フリップフロップ9は、
クロック端子にハイレベルの信号を入力すると、D端子
に印加されている共通電位を抵抗R9 を介してリレ−
ドライバ10に出力し、リレ−スイッチ70をオフする
。尚、本実施例において、ダミ−負荷抵抗R2 とエミ
ッタ間の電流値は、電流検出ダイオ−ド4を用いて測定
されているが、ダミ−負荷抵抗R2 とエミッタ間に、
一定以上の電流が流れると発光するフォトダイオ−ドか
らなるフォトカプラを設けて出力を得ることもできる。
【0021】
【発明の効果】以上詳細に説明したように、本発明の入
力保護回路は、デバイスに過電圧が印加されて入力保護
回路に大電流が流れた場合に、入力端子とデバイス間に
設けたスイッチをオフして過電圧の印加を防止するよう
にしたものである。このために、過電圧が印加されて流
れる過電流から電流制限用抵抗を保護することができる
。 また、入力回路に挿入する過電流制限抵抗として
、その抵抗値が小さく、小電力用のものを使用すること
が可能になる。
力保護回路は、デバイスに過電圧が印加されて入力保護
回路に大電流が流れた場合に、入力端子とデバイス間に
設けたスイッチをオフして過電圧の印加を防止するよう
にしたものである。このために、過電圧が印加されて流
れる過電流から電流制限用抵抗を保護することができる
。 また、入力回路に挿入する過電流制限抵抗として
、その抵抗値が小さく、小電力用のものを使用すること
が可能になる。
【図1】本発明の入力保護回路の構成ブロック図である
。
。
【図2】従来の入力保護回路の構成ブロック図である。
1 基準電圧発生部
2 演算増幅器
3 パワ−トランジスタ
4 電流検出ダイオ−ド
5 クランプダイオ−ド
70 リレ−スイッチ
8 コンパレ−タ
Claims (1)
- 【請求項1】 一定電圧を発生する基準電圧発生部と
、この基準電圧発生部から印加される電圧をゲイン設定
用抵抗の分圧比に基づいて増幅する演算増幅器と、この
演算増幅器の出力信号が印加され、当該出力電流をブ−
ストするパワ−トランジスタと、このパワ−トランジス
タと直流電源間に接続されるダミ−負荷抵抗と、保護す
べきデバイスの入力端子と前記パワ−トランジスタ間に
接続されたダイオ−ドと、保護すべきデバイスの入力端
子に接続された電流制限抵抗と信号が印加される入力部
との間に設けられたスイッチと、前記ダミ−負荷抵抗と
前記パワ−トランジスタ間の電流値を検出する電流検出
手段と、を具備し、前記電流検出手段に一定以上の電流
が流れた時に前記スイッチをオフすることを特徴とした
入力保護回路。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP40924590A JPH04251517A (ja) | 1990-12-28 | 1990-12-28 | 過電圧保護回路 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP40924590A JPH04251517A (ja) | 1990-12-28 | 1990-12-28 | 過電圧保護回路 |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPH04251517A true JPH04251517A (ja) | 1992-09-07 |
Family
ID=18518594
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP40924590A Pending JPH04251517A (ja) | 1990-12-28 | 1990-12-28 | 過電圧保護回路 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JPH04251517A (ja) |
Cited By (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
WO2010140190A1 (ja) * | 2009-06-02 | 2010-12-09 | 株式会社アドバンテスト | 比較判定回路およびそれを用いた試験装置 |
US8133432B2 (en) | 2008-05-28 | 2012-03-13 | Ishifuku Metal Industry Co., Ltd. | Conductive material |
-
1990
- 1990-12-28 JP JP40924590A patent/JPH04251517A/ja active Pending
Cited By (4)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US8133432B2 (en) | 2008-05-28 | 2012-03-13 | Ishifuku Metal Industry Co., Ltd. | Conductive material |
WO2010140190A1 (ja) * | 2009-06-02 | 2010-12-09 | 株式会社アドバンテスト | 比較判定回路およびそれを用いた試験装置 |
JPWO2010140190A1 (ja) * | 2009-06-02 | 2012-11-15 | 株式会社アドバンテスト | 比較判定回路およびそれを用いた試験装置 |
US8704527B2 (en) | 2009-06-02 | 2014-04-22 | Advantest Corporation | Comparison judgment circuit |
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