JP2007515798A5 - - Google Patents
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- 放射のビームを提供するようになされた照明システムと、
前記ビームの断面にパターンを付与するようになされたパターニング・デバイスを保持するようになされた支持構造と、
基板を保持するようになされた基板テーブルと、
パターン化されたビームを前記基板の目標部分に投射するようになされた投影システムと、
前記基板と前記投影システムの間の空間に液浸液を提供するようになされた液体供給システムであって、前記空間の境界の少なくとも一部に沿って展開し、且つ、前記基板テーブル上の対象に対して正しい位置に置かれた障壁部材を備え、それにより前記障壁部材と前記対象の間の液浸液によって生成されるあらゆる毛管圧が、前記空間に液浸液を拘束するほど高くなることのない液体供給システムと、
前記障壁部材の外側に放射状に配置された、液浸液を除去するための少なくとも1つの出口と、
を備え、
前記少なくとも1つの出口が前記基板テーブルの上に設けられており、
前記障壁部材と前記対象の間にシールが提供されないリソグラフィ装置。 - 放射のビームを提供するようになされた照明システムと、
前記ビームの断面にパターンを付与するようになされたパターニング・デバイスを保持するようになされた支持構造と、
基板を保持するようになされた基板テーブルと、
パターン化されたビームを前記基板の目標部分に投射するようになされた投影システムと、
前記基板と前記投影システムの間の空間に液浸液を提供するようになされた液体供給システムであって、前記空間の境界の少なくとも一部に沿って展開し、且つ、前記基板テーブル上の対象に対して正しい位置に置かれた障壁部材を備え、それにより前記障壁部材と前記対象の間の液浸液によって生成されるあらゆる毛管圧が、前記空間に液浸液を拘束するほど高くなることのない液体供給システムと、
前記障壁部材の外側に放射状に配置された、液浸液を除去するための少なくとも1つの出口と、
を備え、
前記少なくとも1つの出口が前記基板テーブルの上方に懸垂されており、
前記障壁部材と前記対象の間にシールが提供されないリソグラフィ装置。 - 放射のビームを提供するようになされた照明システムと、
前記ビームの断面にパターンを付与するようになされたパターニング・デバイスを保持するようになされた支持構造と、
基板を保持するようになされた基板テーブルと、
パターン化されたビームを前記基板の目標部分に投射するようになされた投影システムと、
前記基板と前記投影システムの間の空間に液浸液を提供するようになされた液体供給システムであって、前記空間の境界の少なくとも一部に沿って展開し、且つ、前記基板テーブル上の対象に対して正しい位置に置かれた障壁部材を備え、それにより前記障壁部材と前記対象の間の液浸液によって生成されるあらゆる毛管圧が、前記空間に液浸液を拘束するほど高くなることのない液体供給システムと、
前記対象に対する前記障壁部材の高さ及び傾斜のうちの少なくともいずれか1つを調整するようになされたアクチュエータと、
を備え、
前記障壁部材と前記対象の間にシールが提供されないリソグラフィ装置。 - 前記障壁部材の外側に放射状に配置された、液浸液を除去するための少なくとも1つの出口をさらに備えた、請求項3に記載の装置。
- 前記少なくとも1つの出口が前記基板テーブルの上に設けられた、請求項4に記載の装置。
- 前記少なくとも1つの出口が前記基板テーブルの上方に懸垂された、請求項4に記載の装置。
- 前記対象が前記基板を備え、前記障壁部材と前記基板の間の距離が少なくとも50μmである、請求項1〜6のいずれか1項に記載の装置。
- 前記対象が前記基板を備え、前記障壁部材と前記基板の間の距離が実質的に100μm、150μm又は300μmのうちのいずれかである、請求項1〜6のいずれか1項に記載の装置。
- 前記障壁部材が前記投影システムから機械的に分離された、請求項1〜6のいずれか1項に記載の装置。
- 前記障壁部材が、前記基板テーブルを支持しているベース・フレーム及び前記投影システムを支持している投影システム・フレームのうちの少なくともいずれか一方に接続された、請求項1〜6のいずれか1項に記載の装置。
- 前記障壁部材が前記投影システムの光軸の方向に自由に移動する、請求項1〜6のいずれか1項に記載の装置。
- 前記対象が前記基板、センサ及びシャッタのうちの少なくともいずれか1つを備えた、請求項1〜6のいずれか1項に記載の装置。
- 前記障壁部材が前記空間に液浸液を供給するための少なくとも1つの入口を備えた、請求項1〜6のいずれか1項に記載の装置。
- 基板テーブル上の基板と投影システムの間の空間に液浸液を提供するステップであって、前記空間の境界の少なくとも一部に沿って障壁部材が展開するステップと、
前記障壁部材と対象の間の液浸液によって生成されるあらゆる毛管圧が、前記空間に液浸液を拘束するほど高くならないように前記障壁部材及び前記対象のうちの少なくともいずれか一方を配置することによって前記障壁部材と前記基板テーブル上の前記対象の間で液浸液をリークさせるステップと、
パターン化された放射のビームを前記投影システムを使用して前記基板の目標部分に投射するステップと、
前記障壁部材の外側に放射状に配置された少なくとも1つの出口を介して液浸液を除去するステップと、
を含み、
前記少なくとも1つの出口が前記基板テーブルの上に配置されている、デバイス製造方法。 - 前記対象が前記基板を備え、前記障壁部材と前記基板の間の距離が少なくとも50μmである、請求項14に記載のデバイス製造方法。
- 前記障壁部材が前記投影システムから機械的に分離された、請求項14に記載のデバイス製造方法。
- 前記障壁部材を前記投影システムの光軸の方向に移動させるステップを含む、請求項14に記載のデバイス製造方法。
- 前記対象が前記基板、センサ及びシャッタのうちの少なくともいずれか1つを備えた、請求項14に記載のデバイス製造方法。
- 前記障壁部材から前記空間へ液浸液を供給するステップを含む、請求項14に記載のデバイス製造方法。
- 放射のビームを提供するようになされた照明システムと、
前記ビームの断面にパターンを付与するようになされたパターニング・デバイスを保持するようになされた支持構造と、
基板を保持するようになされた基板テーブルと、
パターン化されたビームを前記基板の目標部分に投射するようになされた投影システムと、
前記基板と前記投影システムの間の空間に液浸液を提供するようになされた液体供給システムであって、前記空間の境界の上に提供された少なくとも1つの液浸液入口ポートを備えた液体供給システムと、
前記少なくとも1つの液浸液入口ポートの外側に放射状に配置された少なくとも1つの液浸液出口ポートと、
を備え、
前記少なくとも1つの液浸液出口ポートが前記基板テーブルの上に配置されており、
前記空間から液浸液が流出することができるよう、前記空間に液浸液が実質的に拘束されないリソグラフィ装置。 - 放射のビームを提供するようになされた照明システムと、
前記ビームの断面にパターンを付与するようになされたパターニング・デバイスを保持するようになされた支持構造と、
基板を保持するようになされた基板テーブルと、
パターン化されたビームを前記基板の目標部分に投射するようになされた投影システムと、
前記基板と前記投影システムの間の空間に液浸液を提供するようになされた液体供給システムであって、前記空間の境界の上に提供された少なくとも1つの液浸液入口ポートを備えた液体供給システムと、
前記少なくとも1つの液浸液入口ポートの外側に放射状に配置された少なくとも1つの液浸液出口ポートと、
を備え、
前記少なくとも1つの出口ポートが前記基板テーブルの上方に懸垂されており、
前記空間から液浸液が流出することができるよう、前記空間に液浸液が実質的に拘束されないリソグラフィ装置。 - 放射のビームを提供するようになされた照明システムと、
前記ビームの断面にパターンを付与するようになされたパターニング・デバイスを保持するようになされた支持構造と、
基板を保持するようになされた基板テーブルと、
パターン化されたビームを前記基板の目標部分に投射するようになされた投影システムと、
前記基板と前記投影システムの間の空間に液浸液を提供するようになされた液体供給システムであって、前記空間の境界の上に提供された少なくとも1つの液浸液入口ポートを備えた液体供給システムと、
前記基板に対する前記少なくとも1つの液浸液入口ポートの高さ及び傾斜のうちの少なくともいずれか1つを調整するようになされたアクチュエータと、
を備え、
前記空間から液浸液が流出することができるよう、前記空間に液浸液が実質的に拘束されないリソグラフィ装置。 - 前記少なくとも1つの液浸液入口ポートの外側に放射状に配置された少なくとも1つの液浸液出口ポートをさらに備えた、請求項22に記載の装置。
- 前記少なくとも1つの液浸液出口が前記基板テーブルの上に設けられた、請求項23に記載の装置。
- 前記少なくとも1つの液浸液出口が前記基板テーブルの上方に懸垂された、請求項23に記載の装置。
- 障壁部材と前記基板の間の距離が少なくとも50μmである、請求項20〜25のいずれか1項に記載の装置。
- 前記少なくとも1つの液浸液入口ポートが前記投影システムから機械的に分離された、請求項20〜25のいずれか1項に記載の装置。
- 前記少なくとも1つの液浸液入口ポートが、前記基板テーブルを支持しているベース・フレーム及び前記投影システムを支持している投影システム・フレームのうちの少なくともいずれか一方に接続された、請求項20〜25のいずれか1項に記載の装置。
- 前記少なくとも1つの液浸液入口ポートが前記投影システムの光軸の方向に自由に移動する、請求項20〜25のいずれか1項に記載の装置。
- 放射のビームを提供するようになされた照明システムと、
前記ビームの断面にパターンを付与するようになされたパターニング・デバイスを保持するようになされた支持構造と、
基板を保持するようになされた基板テーブルと、
パターン化されたビームを前記基板の目標部分に投射するようになされた投影システムと、
前記基板と前記投影システムの間の空間に液浸液を提供するようになされた、少なくとも1つの液浸液入口ポートを備えた液体供給システムと、
前記少なくとも1つの液浸液入口ポートの外側に放射状に配置された少なくとも1つの液浸液出口ポートと、
を備え、
前記少なくとも1つの液浸液出口ポートが、少なくとも前記基板テーブルの上に提供された、リソグラフィ装置。 - 放射のビームを提供するようになされた照明システムと、
前記ビームの断面にパターンを付与するようになされたパターニング・デバイスを保持するようになされた支持構造と、
基板を保持するようになされた基板テーブルと、
パターン化されたビームを前記基板の目標部分に投射するようになされた投影システムと、
前記基板と前記投影システムの間の空間に液浸液を提供するようになされた、少なくとも1つの液浸液入口ポートを備えた液体供給システムと、
前記少なくとも1つの液浸液入口ポートの外側に放射状に配置された少なくとも1つの液浸液出口ポートと、
を備え、
前記少なくとも1つの液浸液出口ポートが、少なくとも前記基板テーブルの上方に懸垂された、リソグラフィ装置。 - 放射のビームを提供するようになされた照明システムと、
前記ビームの断面にパターンを付与するようになされたパターニング・デバイスを保持するようになされた支持構造と、
基板を保持するようになされた基板テーブルと、
パターン化されたビームを前記基板の目標部分に投射するようになされた投影システムと、
前記基板と前記投影システムの間の空間に液浸液を提供するようになされた、少なくとも1つの液浸液入口ポートを備えた液体供給システムと、
前記基板に対する前記少なくとも1つの液浸液入口ポートの高さ及び傾斜のうちの少なくともいずれか1つを調整するようになされたアクチュエータと、
前記基板テーブルの上に提供され、或いは前記基板テーブルの上方に懸垂された少なくとも1つの液浸液出口ポートと、
を備えるリソグラフィ装置。 - 前記少なくとも1つの液浸液入口ポートと前記基板の間の距離が少なくとも50μmである、請求項30〜32のいずれか1項に記載の装置。
- 前記少なくとも1つの液浸液入口ポートが前記投影システムから機械的に分離された、請求項30〜32のいずれか1項に記載の装置。
- 前記少なくとも1つの液浸液入口ポートが、前記基板テーブルを支持しているベース・フレーム及び前記投影システムを支持している投影システム・フレームのうちの少なくともいずれか一方に接続された、請求項30〜32のいずれか1項に記載の装置。
- 前記少なくとも1つの液浸液入口ポートが前記投影システムの光軸の方向に自由に移動する、請求項30〜32のいずれか1項に記載の装置。
Applications Claiming Priority (2)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
US10/743,271 US7394521B2 (en) | 2003-12-23 | 2003-12-23 | Lithographic apparatus and device manufacturing method |
PCT/EP2004/014282 WO2005064405A2 (en) | 2003-12-23 | 2004-12-15 | Lithographic apparatus and device manufacturing method |
Related Child Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP2008062774A Division JP4526572B2 (ja) | 2003-12-23 | 2008-03-12 | リソグラフィ装置 |
Publications (3)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JP2007515798A JP2007515798A (ja) | 2007-06-14 |
JP2007515798A5 true JP2007515798A5 (ja) | 2007-08-02 |
JP4157146B2 JP4157146B2 (ja) | 2008-09-24 |
Family
ID=34678626
Family Applications (2)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP2006545996A Expired - Fee Related JP4157146B2 (ja) | 2003-12-23 | 2004-12-15 | リソグラフィ装置及びデバイス製造方法 |
JP2008062774A Expired - Fee Related JP4526572B2 (ja) | 2003-12-23 | 2008-03-12 | リソグラフィ装置 |
Family Applications After (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP2008062774A Expired - Fee Related JP4526572B2 (ja) | 2003-12-23 | 2008-03-12 | リソグラフィ装置 |
Country Status (7)
Country | Link |
---|---|
US (2) | US7394521B2 (ja) |
EP (3) | EP2259139B1 (ja) |
JP (2) | JP4157146B2 (ja) |
KR (1) | KR100855337B1 (ja) |
CN (2) | CN101872129B (ja) |
TW (1) | TWI261151B (ja) |
WO (1) | WO2005064405A2 (ja) |
Families Citing this family (216)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US9482966B2 (en) | 2002-11-12 | 2016-11-01 | Asml Netherlands B.V. | Lithographic apparatus and device manufacturing method |
CN100568101C (zh) | 2002-11-12 | 2009-12-09 | Asml荷兰有限公司 | 光刻装置和器件制造方法 |
SG121822A1 (en) * | 2002-11-12 | 2006-05-26 | Asml Netherlands Bv | Lithographic apparatus and device manufacturing method |
US7110081B2 (en) | 2002-11-12 | 2006-09-19 | Asml Netherlands B.V. | Lithographic apparatus and device manufacturing method |
US10503084B2 (en) | 2002-11-12 | 2019-12-10 | Asml Netherlands B.V. | Lithographic apparatus and device manufacturing method |
SG121818A1 (en) | 2002-11-12 | 2006-05-26 | Asml Netherlands Bv | Lithographic apparatus and device manufacturing method |
DE60335595D1 (de) * | 2002-11-12 | 2011-02-17 | Asml Netherlands Bv | Lithographischer Apparat mit Immersion und Verfahren zur Herstellung einer Vorrichtung |
KR20050062665A (ko) | 2002-12-10 | 2005-06-23 | 가부시키가이샤 니콘 | 노광장치 및 디바이스 제조방법 |
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EP1610361B1 (en) * | 2003-03-25 | 2014-05-21 | Nikon Corporation | Exposure system and device production method |
WO2004090956A1 (ja) | 2003-04-07 | 2004-10-21 | Nikon Corporation | 露光装置及びデバイス製造方法 |
KR101177331B1 (ko) * | 2003-04-09 | 2012-08-30 | 가부시키가이샤 니콘 | 액침 리소그래피 유체 제어 시스템 |
EP2921905B1 (en) | 2003-04-10 | 2017-12-27 | Nikon Corporation | Run-off path to collect liquid for an immersion lithography apparatus |
WO2004090633A2 (en) * | 2003-04-10 | 2004-10-21 | Nikon Corporation | An electro-osmotic element for an immersion lithography apparatus |
KR101177330B1 (ko) * | 2003-04-10 | 2012-08-30 | 가부시키가이샤 니콘 | 액침 리소그래피 장치 |
SG141425A1 (en) | 2003-04-10 | 2008-04-28 | Nikon Corp | Environmental system including vacuum scavange for an immersion lithography apparatus |
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TWI295414B (en) | 2003-05-13 | 2008-04-01 | Asml Netherlands Bv | Lithographic apparatus and device manufacturing method |
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TWI424470B (zh) | 2003-05-23 | 2014-01-21 | 尼康股份有限公司 | A method of manufacturing an exposure apparatus and an element |
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TWI263859B (en) | 2003-08-29 | 2006-10-11 | Asml Netherlands Bv | Lithographic apparatus and device manufacturing method |
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EP2261740B1 (en) | 2003-08-29 | 2014-07-09 | ASML Netherlands BV | Lithographic apparatus |
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KR101421398B1 (ko) | 2003-09-29 | 2014-07-18 | 가부시키가이샤 니콘 | 노광장치, 노광방법 및 디바이스 제조방법 |
KR101111364B1 (ko) | 2003-10-08 | 2012-02-27 | 가부시키가이샤 자오 니콘 | 기판 반송 장치 및 기판 반송 방법, 노광 장치 및 노광방법, 디바이스 제조 방법 |
KR20060126949A (ko) | 2003-10-08 | 2006-12-11 | 가부시키가이샤 니콘 | 기판 반송 장치와 기판 반송 방법, 노광 장치와 노광 방법,및 디바이스 제조 방법 |
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2003
- 2003-12-23 US US10/743,271 patent/US7394521B2/en not_active Expired - Lifetime
-
2004
- 2004-12-15 WO PCT/EP2004/014282 patent/WO2005064405A2/en not_active Application Discontinuation
- 2004-12-15 CN CN2009101391092A patent/CN101872129B/zh active Active
- 2004-12-15 JP JP2006545996A patent/JP4157146B2/ja not_active Expired - Fee Related
- 2004-12-15 KR KR1020067012462A patent/KR100855337B1/ko not_active IP Right Cessation
- 2004-12-15 EP EP10180289.0A patent/EP2259139B1/en not_active Not-in-force
- 2004-12-15 CN CNB2004800383431A patent/CN100507721C/zh not_active Expired - Fee Related
- 2004-12-15 EP EP17181223.3A patent/EP3287848B1/en not_active Not-in-force
- 2004-12-15 EP EP04803901A patent/EP1697799A2/en not_active Withdrawn
- 2004-12-17 TW TW093139476A patent/TWI261151B/zh not_active IP Right Cessation
-
2007
- 2007-07-31 US US11/882,292 patent/US7710541B2/en not_active Expired - Fee Related
-
2008
- 2008-03-12 JP JP2008062774A patent/JP4526572B2/ja not_active Expired - Fee Related
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