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  1. 放射線のビームを調節する照明システムと、
    前記放射線のビームの断面にパターンを与えるパターニングデバイスを保持する支持構造体と、
    基板を保持する基板テーブルと、
    パターン化したビームを前記基板の目標部分上に投影する投影システムと、
    前記投影システムの少なくとも一部、前記照明システムの少なくとも一部、またはその両方を含む容積に流体を提供する流体供給システムと、
    前記流体供給システムと前記投影システムとの間の開口を覆うカバー手段と、
    前記カバー手段を前記流体供給システムに結合する結合デバイスと、
    を備えるリソグラフィ装置。
  2. 前記結合デバイスは、ガスベアリングを含む、請求項1記載の装置。
  3. 前記結合デバイスは、少なくとも部分真空を含む、請求項1又は2記載の装置。
  4. 複数のガス出口及び複数の少なくとも部分真空の入口を含む、請求項3に記載の装置。
  5. 前記ガス出口およびガス入口は、それぞれ、環状をなすガス供給領域、および、環状をなす少なくとも部分真空の領域に設けられており、前記環状をなすガス供給領域、および、前記環状をなす少なくとも部分真空の領域は、前記投影システムの光軸のまわりに同心状に配されている、請求項4に記載の装置。
  6. 前記環状をなすガス供給領域、および、前記環状をなす少なくとも部分真空の領域は、それぞれ多孔質材料を含む、請求項5に記載の装置。
  7. 前記環状をなすガス供給領域の多孔質材料は、前記環状をなす少なくとも部分真空の領域の多孔質材料よりも高い多孔性を有する、請求項6記載の装置。
  8. 前記カバー手段を拾いあげるために前記ガス出口からのガスを止める請求項4乃至7のいずれか一項に記載の装置。
  9. 前記カバー手段は、前記基板テーブル内に配置され、前記カバー手段の表面は、前記基板テーブルの表面と同一平面上にある請求項1乃至8のいずれか一項に記載の装置。
  10. 前記結合デバイスは、さらに、前記流体供給システムを前記基板テーブル及び/又は基板に結合可能である、請求項1乃至9のいずれか一項に記載の装置。
  11. 投影システムを用いて、パターン化したビームを基板の目標部分上に投影すること、
    前記投影システムの少なくとも一部、照明システムの少なくとも一部、またはその両方を含む容積に、流体供給システムを用いて、流体を提供すること、および
    前記流体供給システムと前記投影システムとの間の開口を覆うカバー手段と、前記流体供給システムとを結合すること、を含むデバイス製造方法
  12. 前記流体供給システムと前記カバー手段とを真空を用いて結合する請求項11に記載の製造方法。
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Families Citing this family (43)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
SG121818A1 (en) 2002-11-12 2006-05-26 Asml Netherlands Bv Lithographic apparatus and device manufacturing method
KR101177330B1 (ko) 2003-04-10 2012-08-30 가부시키가이샤 니콘 액침 리소그래피 장치
SG141425A1 (en) 2003-04-10 2008-04-28 Nikon Corp Environmental system including vacuum scavange for an immersion lithography apparatus
JP4315198B2 (ja) 2003-04-11 2009-08-19 株式会社ニコン 液浸液体を光学アセンブリ下に維持するリソグラフィ装置及び液浸液体維持方法並びにそれらを用いるデバイス製造方法
TWI442694B (zh) * 2003-05-30 2014-06-21 Asml Netherlands Bv 微影裝置及元件製造方法
KR101146962B1 (ko) 2003-06-19 2012-05-22 가부시키가이샤 니콘 노광 장치 및 디바이스 제조방법
US8064044B2 (en) * 2004-01-05 2011-11-22 Nikon Corporation Exposure apparatus, exposure method, and device producing method
US7589822B2 (en) 2004-02-02 2009-09-15 Nikon Corporation Stage drive method and stage unit, exposure apparatus, and device manufacturing method
TWI402893B (zh) * 2004-03-25 2013-07-21 尼康股份有限公司 曝光方法
US7486381B2 (en) * 2004-05-21 2009-02-03 Asml Netherlands B.V. Lithographic apparatus and device manufacturing method
US7522261B2 (en) * 2004-09-24 2009-04-21 Asml Netherlands B.V. Lithographic apparatus and device manufacturing method
US7119876B2 (en) * 2004-10-18 2006-10-10 Asml Netherlands B.V. Lithographic apparatus and device manufacturing method
US7583357B2 (en) * 2004-11-12 2009-09-01 Asml Netherlands B.V. Lithographic apparatus and device manufacturing method
US20070132976A1 (en) * 2005-03-31 2007-06-14 Nikon Corporation Exposure apparatus, exposure method, and method for producing device
US7411654B2 (en) 2005-04-05 2008-08-12 Asml Netherlands B.V. Lithographic apparatus and device manufacturing method
US7834974B2 (en) 2005-06-28 2010-11-16 Asml Netherlands B.V. Lithographic apparatus and device manufacturing method
US7170583B2 (en) * 2005-06-29 2007-01-30 Asml Netherlands B.V. Lithographic apparatus immersion damage control
US7432513B2 (en) * 2005-10-21 2008-10-07 Asml Netherlands B.V. Gas shower, lithographic apparatus and use of a gas shower
US8125610B2 (en) 2005-12-02 2012-02-28 ASML Metherlands B.V. Method for preventing or reducing contamination of an immersion type projection apparatus and an immersion type lithographic apparatus
US7728952B2 (en) * 2007-01-25 2010-06-01 Taiwan Semiconductor Manufacturing Company, Ltd. Method and system for closing plate take-over in immersion lithography
US8654305B2 (en) * 2007-02-15 2014-02-18 Asml Holding N.V. Systems and methods for insitu lens cleaning in immersion lithography
US8817226B2 (en) * 2007-02-15 2014-08-26 Asml Holding N.V. Systems and methods for insitu lens cleaning using ozone in immersion lithography
NL1035908A1 (nl) * 2007-09-25 2009-03-26 Asml Netherlands Bv Lithographic apparatus and device manufacturing method.
JP2009094145A (ja) * 2007-10-04 2009-04-30 Canon Inc 露光装置、露光方法およびデバイス製造方法
NL2005586A (en) * 2009-12-02 2011-06-06 Asml Netherlands Bv Lithographic apparatus and sealing device for a lithographic apparatus.
EP2381310B1 (en) 2010-04-22 2015-05-06 ASML Netherlands BV Fluid handling structure and lithographic apparatus
WO2012027406A2 (en) * 2010-08-24 2012-03-01 Nikon Corporation Vacuum chamber assembly for supporting a workpiece
NL2008199A (en) 2011-02-28 2012-08-29 Asml Netherlands Bv A fluid handling structure, a lithographic apparatus and a device manufacturing method.
NL2008695A (en) * 2011-05-25 2012-11-27 Asml Netherlands Bv Lithographic apparatus comprising substrate table.
NL2009591A (en) * 2011-11-22 2013-05-23 Asml Netherlands Bv Lithographic apparatus and device manufacturing method.
WO2014005780A1 (en) 2012-07-06 2014-01-09 Asml Netherlands B.V. A lithographic apparatus
US9568828B2 (en) * 2012-10-12 2017-02-14 Nikon Corporation Exposure apparatus, exposing method, device manufacturing method, program, and recording medium
US10095129B2 (en) 2014-07-04 2018-10-09 Asml Netherlands B.V. Lithographic apparatus and a method of manufacturing a device using a lithographic apparatus
US11397385B2 (en) 2016-06-17 2022-07-26 Taiwan Semiconductor Manufacturing Company, Ltd Apparatus and a method of forming a particle shield
CN107783283B (zh) * 2016-08-30 2020-01-24 上海微电子装备(集团)股份有限公司 镜片防污染装置及方法
CN109283797B (zh) 2017-07-21 2021-04-30 上海微电子装备(集团)股份有限公司 物镜保护装置、物镜系统以及光刻设备
EP3620858B1 (en) * 2018-09-10 2023-11-01 Canon Kabushiki Kaisha Exposure apparatus and method of manufacturing article
WO2021032356A1 (en) * 2019-08-20 2021-02-25 Asml Netherlands B.V. Substrate holder, lithographic apparatus and method
JP7378481B2 (ja) * 2019-12-26 2023-11-13 ナンジン リアン セミコンダクター リミテッド 半導体産業におけるウェハ幾何学形状測定のためのツールアーキテクチャ
EP3919978A1 (en) * 2020-06-05 2021-12-08 Taiwan Semiconductor Manufacturing Co., Ltd. Apparatus and a method of forming a particle shield
US11740564B2 (en) * 2020-06-18 2023-08-29 Taiwan Semiconductor Manufacturing Company, Ltd. Lithography apparatus and method using the same
CN113262956B (zh) * 2021-07-21 2021-10-15 四川洪芯微科技有限公司 一种半导体晶圆表面处理装置
DE102023204744A1 (de) 2023-05-22 2024-05-16 Carl Zeiss Smt Gmbh Optisches system und projektionsbelichtungsanlage

Family Cites Families (13)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS57153433A (en) * 1981-03-18 1982-09-22 Hitachi Ltd Manufacturing device for semiconductor
US5900354A (en) * 1997-07-03 1999-05-04 Batchelder; John Samuel Method for optical inspection and lithography
EP1041605A4 (en) * 1997-08-29 2005-09-21 Nikon Corp TEMPERATURE ADJUSTMENT FOR A DISPLAY DEVICE
AU4653999A (en) * 1999-07-16 2001-02-05 Nikon Corporation Exposure method and system
EP1279070B1 (en) * 2000-05-03 2007-10-03 ASML Holding N.V. Apparatus for providing a purged optical path in a projection photolithography system and a corresponding method
JP2001358056A (ja) * 2000-06-15 2001-12-26 Canon Inc 露光装置
TWI222668B (en) * 2001-12-21 2004-10-21 Nikon Corp Gas purging method and exposure system, and device production method
US6788477B2 (en) * 2002-10-22 2004-09-07 Taiwan Semiconductor Manufacturing Co., Ltd. Apparatus for method for immersion lithography
EP1429188B1 (en) * 2002-11-12 2013-06-19 ASML Netherlands B.V. Lithographic projection apparatus
EP2495613B1 (en) 2002-11-12 2013-07-31 ASML Netherlands B.V. Lithographic apparatus
DE60335595D1 (de) * 2002-11-12 2011-02-17 Asml Netherlands Bv Lithographischer Apparat mit Immersion und Verfahren zur Herstellung einer Vorrichtung
JP4362867B2 (ja) * 2002-12-10 2009-11-11 株式会社ニコン 露光装置及びデバイス製造方法
EP1503244A1 (en) * 2003-07-28 2005-02-02 ASML Netherlands B.V. Lithographic projection apparatus and device manufacturing method

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