JP2003511761A - 光学読み取り用の符号化用紙 - Google Patents

光学読み取り用の符号化用紙

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Abstract

(57)【要約】 複数のマークを備えた符号化パターンを有する製品であって、前記マークのそれぞれが少なくとも２つの異なる値のうちの１つを表しており、前記符号化パターンが、また、複数の基準位置を備えており、前記複数のマークのそれぞれが１つの前記基準位置に関連付けられ、前記各マークの値がその基準位置に対するその位置によって決定されている。発明は、また前記製品の使用法を備える。

Description

【発明の詳細な説明】
【０００１】
【発明の技術分野】本発明は、符号化パターンを備えた製品に関し、この符号
化パターンは、それぞれが、少なくとも２つの異なる値の１つを表す多数のマー
クを備えている。本発明は、また、このような符号化パターンの利用に関する。
【０００２】
【発明の背景】異なるタイプのマークによって、ある表面上に、符号化された
情報を記憶することは、既に知られている。
【０００３】例えば、米国特許番号５、８５２，４３４には、書き込み面上
の多数の位置のＸ及びＹ座標を符号化する位置符号化パターンが記載されている
。この位置符号化パターンは、これを連続的に読むことにより、ユーザが、書き
込み面上に生成したグラフィカル情報を電子的に記録することを可能にする。
【０００４】上記米国特許番号５，８５２，４３４には、位置符号化パター
ンの構成の３つの例が挙げられている。第１の例において、パターンはドットで
あり、各ドットは３つの同心円から構成されている。最外円はＸ座標を表し、中
間円がＹ座標を表している。さらに外側の２つの円は１６分割されており、これ
らの埋まり具合により異なる数字が示される。つまり座標Ｘ，Ｙの各ペアは固有
の外観を有する複雑なシンボルで符号化される。
【０００５】第２の例では、書き込み面の各点の座標は、バーコードによっ
て表されており、Ｘ座標のためのバーコードはＹ座標のためのバーコードの上に
配置されている。
【０００６】第３の例として、チェッカー盤パターンを用いてＸ座標とＹ座
標が符号化可能であると記載されている。しかしながらチェッカー盤パターンの
構成や座標への変換方法については説明されていない。
【０００７】公知のパターンには、該パターンが複雑なシンボルから構成さ
れるという問題がある。シンボルを小さくするとパターン化された書き込み面の
製造が一層困難となり、位置決定を誤る危険性が高くなる。一方シンボルを大き
くすると位置解像度が低下してしまう。
【０００８】さらに、プロセッサは複雑なシンボルを解釈しなければならな
いことから、検出された位置符号化パターンの処理が一層複雑になるという問題
もある。
【０００９】また、位置決定をできるようにするためには、少なくとも１つ
のシンボルを完全に記録する必要があり、このため位置符号化パターンの記録に
用いる検出器又はセンサーを、４つのシンボルが同時に記録できるようにしなく
てはならない。従って、必要とされるセンサーの面と、１つの位置を定義する位
置符号化パターンの面との比は大きくなる。
【００１０】ＥＰ ０ ５７８ ６９２に、四角い形をしたセルで構成され
る位置符号化パターンが記載されている。セルの値は、それらの外形、例えば、
色で決まる。セルは、分離ゾーンによって分離でき、これによって同じ色の２つ
の隣り合うセルは区別できる。この位置符号化パターンは、特定の数のセル（こ
れはシンボルである）が協働して位置を符号化するという点において、米国特許
番号５，８５２，４３４と異なっている。この符号化は、更に、フローティング
（浮動的）であり、これは、前述の数のセルを含むパターンの任意の部分表面が
、位置を符号化することを意味する。各セルは、従って、複数の位置の符号化に
寄与する。このようにして、必要とされるセンサーの面と、１つの位置を定義す
る位置符号化パターンの部分との比は、前述の米国特許における場合より小さく
なる。更に、各セルは、より単純であり、従って、位置符号化パターンを復号化
するプロセッサは、より少ない数の異なる要素を認識できれば足りる。しかしな
がら、プロセッサは、少なくとも２種類のセルの位置を決定し、区別できる必要
がある。
【００１１】ＥＰ ０ １７１ ２８４ Ｂ１は、水平線及び垂直線で構成
される他のフローティング位置符号化パターンを示しており、ここで、垂直線は
水平方向の位置を符号化し、水平線は垂直方向の位置を符号化している。これら
の線は、１ｍｍの倍数となる位置ごとに見つけられる。このような位置における
線の存在は、１を符号化し、このような位置における線の不存在は、０を符号化
している。
【００１２】しかしながら、線の間の交点を記録することは困難なので、線
のパターンを記録し、復号化することは困難である。更に、センサーが基準に対
し平行に保持されず、その結果、これらの線がもはや平行でなく見えるというケ
ースがしばしば起こる。従って、線が実際に無いことを決定することが困難にな
る。更に、多数連続して線が無い部分を作ると、復号化が困難になる。また、情
報容量は小さい。
【００１３】出願人によるスウェーデン特許出願第９９０１９５４−９号（
１９９９年５月２８日に出願され、出願の時点では公衆に利用可能でなく、従っ
て、先行技術とならない）には、フローティング型の更なる位置符号化パターン
が記載され、ここで、位置情報は、第１及び第２のサイズのドットによって、グ
ラフィカルに符号化されており、第１のサイズのドットは０に対応し、第２のサ
イズのドットは１に対応している。複数のドットが協働して１つの位置の座標を
符号化する。
【００１４】一般的な要求として、面上に情報を記録するのに用いられる符
号化パターンは、単位エリア内に多数の情報を符号化できるようなものでなけれ
ばならないと共に、違う種類の干渉の影響下にあっても検出及び復号化が単純な
ものでなければならない。
【００１５】
【発明の概要】本発明の目的は、従って、少なくとも公知の符号化パターンよ
りも大きな広がりをもって、この要求を満たす符号化パターンを備えた製品を提
供することにある。
【００１６】この目的は、請求項１に従う製品によって達成される。
【００１７】本発明は、更に詳細には、複数のマークを備えた符号化パター
ンを有する製品に関し、各マークが、少なくとも２つの異なる値の１つを表して
いる。符号化パターンは、複数の基準位置を備えており、前記マークのそれぞれ
は、前記複数の基準位置の１つに関連付けられ、各マークの値は、その基準位置
に対するその位置によって決定される。
【００１８】先行技術において、符号化は、通常、１又は複数のシンボルや
マークの外形を用いて達成され、各シンボルやマークの値は、その外形によって
決定される。その結果、符号化パターンを復号化する装置は、異なるシンボルや
マークを認識できるものでなければならず、これは、干渉に対する感度を増大し
、復号化をより困難にする。
【００１９】本発明によれば、各マークの値は、その基準位置に対してどの
ように配置されているかによって、決定される。この値はマークの位置に基づい
ているので、全てのマークは、同じ外形を有して良い。この結果、符号化パター
ンは、製品に適用する上で単純になる。更に、マークの検出が簡単になり、これ
が、符号化パターンの一部でない製品上の他のマークの存在によって影響されな
い。更に、この符号化パターンは、光学技術以外の他の技術、例えば、化学的、
電気的又は機械的なパターンを用いて、より簡単に認識できる。マークの設計は
、また、マークが光学的に読み取られるものであるとき、符号化パターンを備え
た製品がより美的であることが望まれるであろうことを意味している。結局、情
報の密度に対してマークの間の距離を大きくでき、これは、符号化パターンが、
読み取りの間に起こる汚れの動きに対して、低感度であることを意味している。
【００２０】基準位置は、ここでは、検出可能な位置であり、且つ、異なる
方法でマークが配置できるところに関連する位置を意味している。基準位置は、
製品上に印すことができるが、これらはまた、仮想のもの又は間接的に検出でき
るものであってよい。
【００２１】また、マークが表している値は、好ましくは数の値であるが、
文字やシンボルの類のような、文字の値であってよいことが指摘される。
【００２２】マークの位置は、好ましくは、その重心によって決定すること
ができ、これは、不規則な形状のマークの使用を可能とし、製品にパターンを適
用するときの要求を少なくする。
【００２３】好適な実施形態において、各基準位置には、１つのマークが割
り当てられる。これにより、全ての値がマークにより符号化されるという利点が
得られる。マークの欠如は、従って、常にエラーを意味する。
【００２４】マークは、基準位置の中及び外の双方に配置できる。２値パタ
ーンの可能な表現として、例えば、基準位置内のマークが０を表し、基準位置の
外のマークが１を表す（又は、これらが反対でもよい）ようにすることができる
。
【００２５】好適な実施形態において、しかしながら、本質的に全てのマー
クは、それらの基準位置に対しずらされている。このようにして、パターンはラ
ンダムであり、同時に、肉眼でも見えるほどに均一である。
【００２６】しかしながら、幾つかの特別なパラメータ、例えば、仮想ラス
ターの位置を示すために、２、３のマークが、それらの基準位置内に置かれるよ
うにすべきである。
【００２７】更に、好適な実施形態において、本質的に全てのマークは、そ
れらの基準位置に対して同じ距離だけずらされている。基準位置がどこに配置さ
れているかが分かれば、基準位置からの所定の距離でマークを探せば十分であり
、マークの検出が容易になり、エラーのリスクが軽減される。更に、基準位置か
らの適切な距離にマークがあることを検出すれば足りる。このマークの外形は重
要度が低く、そのため、製品上にパターンを適用する場合の精度の要求を低減す
る。
【００２８】特に好ましい実施形態においては、各マークは、その基準位置
に対し４つの直交方向の１つの方向に、ずらされる。この基準位置を知ることに
より、マークを、従って、４つの異なる方向において探すだけでよい。これは、
マークの検出を容易にし、高速化する。更に、このパターンの部分でなく、４つ
の直行方向に沿わない位置にあるマークは、検出されず、従って、パターンの復
号化に影響を与える危険性がないので、エラーのリスクが軽減される。
【００２９】基準位置に対するマークの位置を決定できるためには、基準位
置を知る必要がある。この目的のために、符号化パターンは、好ましくは、ラス
ター線を備えたラスターを備え、ラスター線の交点が、マークの基準位置を規定
する。基準位置は、従って、製品上に、規則的に配列される。これは、検出を容
易にし、エラーのリスクを低減する。更に、これは、仮想ラスターの使用を可能
にする。
【００３０】好適な実施形態において、ラスター線間の距離は、おおよそ２
５０μｍから３００μｍ、好ましくは、３００μｍである。これは、情報の高密
度化を可能にするが、依然、信頼性のある検出が可能である。
【００３１】好適な実施形態において、ラスター線は、また、矩形、好まし
くは、正方形の網目状の形である。後者の例で、ラスター線間の距離は、従って
、両方向において同じである。
【００３２】好適な実施形態において、更に、各マークは、ラスター線の１
つに沿ってずらされる。ラスターを知れば、ラスター線が表現している確定した
方向に沿ってサーチを行なうことによって、効果的な方法でマークを検出できる
。
【００３３】好適な実施形態において、各マークは、その基準位置から、ラ
スター線間の距離の１／４から１／８、好ましくは１／６の距離だけずらされて
いる。このずれが、ラスター線の間隔のおおよそ１／６であるとき、マークが属
する基準位置がどちらかを決定することは比較的容易である。
【００３４】ラスター線を備えるラスターは、それがマークを検出する装置
によって直接検出できるように、表面上に指標することができる。しかしながら
、この場合、ラスターはまた、装置により検出され、マークと区別できるように
されなければならない。好適な実施形態においては、ラスターは仮想のものであ
り、これは、ラスターが如何なる方法によっても製品上に印されないが、マーク
の配置からその位置が特定できるものであることを意味する。従って、ラスター
は、製品での読み取りに代えて、マークによって間接的に決定される。
【００３５】既に述べたように、本質的に全てのマークは、好適な実施形態
において、本質的に同じ外観を有している。これは、製品上にこれらを配列する
ことを容易にする。
【００３６】マークは、好ましくは、何らかの単純な幾何学形状を有してい
る。これらは、したがって、おおよそ、円形、三角形又は矩形であることが好ま
しい。これらは、塗り潰されても又そうでなくともよいが、前者のほうが、検出
が容易になるので好ましい。
【００３７】マークは、その基準位置を覆うべきでなく、従って、ずれ量の
倍（すなわち、２００％）以上の大きさの直径を持つべきでない。しかしながら
、これは厳格なものではなく、所定量の重なり合い（例えば、２４０％）は許容
できる。最初に、センサーの解像度とパターンを生成するのに使用する印刷処理
における要求によって、最小のサイズが決定される。しかしながら、センサーに
おける粒子やノイズの問題を避ける目的から、実用上、マークは、ずれ量のおお
よそ５０％以下の小さな直径とすべきでない。
【００３８】符号化パターンは、検出器で検出できる上述のタイプのマーク
を生成するために用いることができる如何なる特性によっても認識し得る。この
特性は、電気的なものや化学的なもの、又は何らかの他のタイプのものとするこ
とができる。しかしながら、符号化パターンは、好適には、製品上への配列を容
易にするために、光学的に読み取れるものである。例えば、製品上に印刷するこ
とができる。
【００３９】好適な実施形態において、符号化パターンは、赤外光により読
み取ることができる。このようにして、赤外光で読み取ることができない情報を
、符号化パターンの読み取りと干渉することなく、その上に重ねることができる
。
【００４０】好適な実施形態において、マークは、符号化パターンによって
占められる表面における、０．２５％から２０％、好ましくはおおよそ９％を占
有する。パターンが、例えば、白い紙のシート上に印刷される場合、この例では
、紙は、淡いグレーがかるだけであり、これは、本質的に通常の紙と同じ状態を
呈することを意味する。
【００４１】符号化パターンは、好ましくは、製品上の複数の位置を符号化
する位置符号化パターンであり、各位置は、複数のマークによって符号化される
。しかしながら、符号化パターンは、また、他の情報を符号化するために用いら
れてもよい。
【００４２】本製品は、符号化パターンを備えることができる如何なる製品
であってもよい。これは、物理的な製品である必要はなく、電子的なもの、例え
ば、コンピュータ・スクリーン上の画像や表面でもよく、ここに、符号化パター
ンが電子的に重ねられる。
【００４３】本発明の他の側面によれば、本発明は、それぞれが少なくとも
２つの異なる値のうちの１つを表している複数のマークと、複数の基準位置とを
備える符号化パターンの使用法に関し、前記複数のマークのそれぞれは、前記複
数の基準位置のうちの１つに関係付けられており、各マークの値が、対応する基
準位置に対するその位置によって決定付けられる。
【００４４】このようなパターンの使用法における利点は、製品上の符号化
パターンについての説明から明らかである。製品上の符号化パターンに関し述べ
られた特徴は、当然、符号化パターンの使用法にも適用される。この使用法は、
例えば、製品上に符号化パターンを印刷し、この符号化パターンを電子的な形態
で記憶し、この符号化パターンを復号化することからなる。
【００４５】以下、添付の図面を参照し実施形態に従って、本発明を詳細に
説明する。
【００４６】
【好適な実施形態の説明】図１は紙のシート１の形をした製品の一部を示して
おり、その表面２の少なくとも一部上には、位置決定を可能にする光学的に読取
り可能な位置符号化パターン３が設けられている。
【００４７】位置符号化パターンは、マーク４を備えており、これは、「パ
ターン」としての外観を備えるよう、表面２に整然と配列されている。紙のシー
トは、Ｘ座標軸とＹ座標軸を有する。位置の決定は、本製品の表面全域で実行す
ることができる。他の例においては、位置決定を可能とする表面が、製品の一部
分を構成するようにできる。
【００４８】パターンは、例えば、この表面に書かれ又は作図されている情
報の電子的象徴を提供するために用いることができる。電子的象徴は、ペンで表
面に書き込みを行っている間に提供することができ、これは、位置符号化パター
ンの読み取りにより、紙のシート上のペンの位置を連続的に決定することによっ
て可能となる。
【００４９】位置符号化パターンは、仮想ラスター及び複数のマーク４を備
え、仮想ラスターは、目にも見えず、また表面上の位置を決定するための装置に
よって直接検出することもできないものであり、また、複数のマークのそれぞれ
は、その配置に依存して、以下に説明する１から４の４つの値のうちの１つを表
している。ここで、明確にする目的から、図１の位置符号化パターンは、拡大し
て示されていることが指摘されなければならない。更に、これは、紙のシートの
一部にのみ配列して示されている。
【００５０】位置符号化パターンは、全書き込み表面上の部分表面の位置が
、この部分表面上のマークによって一意に決定されるよう配列されている。第１
及び第２の部分表面５ａ，５ｂは、図１において破線で示されている。第２の部
分表面は、部分的に第１の部分表面と重なっている。第１の部分表面５ａ上の位
置符号化パターンの部分（ここでは、４×４のマーク）は、第１の位置を符号化
し、第２の部分表面５ｂ上の位置符号化パターンの部分は、第２の位置を符号化
する。位置符号化パターンは、従って、隣り合う第１及び第２の位置に関し部分
的に同じである。このような位置符号化パターンを、本明細書では、「フローテ
ィング（浮動的）」と呼ぶ。各部分表面は、特定の位置を符号化する。
【００５１】図２ａ〜ｄは、マークの設計方法及びその基準位置６に対する
配置方法を示している。基準位置６（これは、また、ラスター点と呼ぶことがで
きる。）は、ラスター線８の交点により表される。マーク７は、円形のドットの
形をしている。マーク７及びラスター点６は、これらで、シンボルを構成する。
【００５２】一実施形態において、ラスター線間の距離は３００μｍであり
、ラスター線間の角度は９０度である。他のラスター線間の間隔としては、例え
ば、１００ｄｐｉの倍数の解像度を有しているプリンタやスキャナに合わせるた
めに、２５４μｍが可能であるが、これは、２５．４ｍｍ／１００（すなわち、
２５４μｍ）の点の間の距離に対応している。
【００５３】マークの値は、従って、基準位置に対してマークがどこに配置
されているかに依存している。図２の例では、４つの位置が可能であり、それら
は、基準位置から伸びている各ラスター線上にある。基準位置からのずれは、全
ての値に関し、同じ大きさである。
【００５４】各マーク７は、基準位置６に対してずらされており、基準位置
の上にはマークは無い。更に、各基準位置毎にただ１つのマークだけがあり、こ
のマークは、その基準位置に対してずらされている。これを、パターンを構成す
るマークに適用する。表面上には、パターンの一部でなく、従って、符号化に寄
与しない他のマークがあってよい。このようなマークは、例えば、小さい塵、表
面上の絵や図形からの意図しない点やマーク、意図されたマークであってよい。
表面上のパターン化されたマークの位置は、十分に定義されているので、パター
ンは、このような干渉の影響を受けない。
【００５５】一実施形態において、マークは、基準位置６に対し、ラスター
線８に沿って５０μｍだけずれた位置にある。このずれは、好ましくは、ラスタ
ー間隔の１／６であり、こうすれば、特定のマークが属する基準位置を決定する
ことが相対的に容易となる。このずれは、少なくともラスター間隔のおおよそ１
／８とすべきであり、そうしなければ、ずれの決定が困難になり、解像度の要求
が高くなる。一方で、このずれは、マークが属する基準位置を決定できるように
するためには、ラスター間隔のおおよそ１／４以下とすべきである。
【００５６】ずれは、ラスター線に沿っている必要は無く、マークを分割さ
れた四分区間内に配置することができる。しかしながら、マークがラスター線に
沿ってずらされている場合には、マーク間の距離が最小になり、以下に詳細に説
明するように、ラスター線を再現することに用いることができるという利点があ
る。
【００５７】各マークは、おおよそずれ量と同じか僅かに小さい半径を有す
るおおむね円形ドットで構成されている。半径は、ずれ量の２５％から１２０％
とできる。この半径が、ずれ量よりも大きい場合、ラスター線を決定することが
困難となる。この半径が極めて小さい場合、マークを記録するためにより高い解
像度が要求される。
【００５８】マークは、円や丸まったものである必要は無く、あらゆる好適
な形状、すなわち、正方形や三角などを使用することができる。
【００５９】通常、各マークは、センサーチップの複数の画素をカバーする
が、これらの画素の重心が記録又は計算され、続く処理で使用される。従って、
マークの正確な形状は、重要ではない。よって、相対的に簡単な印刷処理が使用
でき、これで、要求されるずれ量を、マークの重心が備えていることが保証され
る。
【００６０】以下では、図２ａのマークは値１を、図２ｂのマークは値２を
、図２ｃのマークは値３を、図２ｄのマークは値４を表している。
【００６１】各マークは、従って、１から４の４つの値のうちの１つを表し
ている。これは、位置符号化パターンが、Ｘ座標用の第１の位置符号と、Ｙ座標
用の第２の位置符号に分割できることを意味している。この分割は、以下のよう
になる。
【００６２】
【表１】
【００６３】このように、各シンボル値は、Ｘコード用の第１の値（この場
合はビット）、及びＹコード用の第２の値（この場合はビット）に変換される。
この方法で、２つの完全に独立したビットパターンがパターンを用いて得られる
。逆にいえば、２又はそれ以上のビットパターンは、図２に従う複数のマークに
よりグラフィカルに符号化される全体パターンに統合することができる。
【００６４】各位置は、複数のマークにより符号化される。この例では、二
次元、すなわち、Ｘ座標とＹ座標の位置を符号化するために、４×４のマークを
使用する。
【００６５】位置コードは、１と０の数字列から構成されるが、そのビット
列には、その数字列内で同じ４ビットの並びが１度しか現れないという特性があ
る。ビット列は循環的なものであり、数字列の終わりを数字列の先頭に結合した
場合にも、同様にその特性が適用される。従って、４ビットの並びは、常時、ビ
ット列内で一意に決まった位置を持っている。
【００６６】ビット列が４ビットの並びに対して前述した特性を持っている
場合、そのビット列は最大１６ビット長にできる。しかし、この例では、以下の
ように７ビット長のビット列を使用する。 「０００１０１０」
【００６７】このビット列は、列内の位置番号を符号化する以下のような７
つの一意な４ビットの並びを含む。
【００６８】
【表２】
【００６９】Ｘ座標の符号化では、符号化される表面全域に渡って、ビット
列は縦列内に順に書き込まれ、左の縦列Ｋ0はＸ座標のゼロ（０）に対応する。
１つの縦列において、ビット列は、従って、連続して複数回繰り返される。
【００７０】符号化は、隣り合う縦列内の隣り合うビット列間における差、
すなわち位置のずれに基づく。差の大きさは、開始する隣り合う縦列のビット列
内における位置番号（すなわち、ビットの並び）によって決まる。
【００７１】具体的には、第１の縦列Ｋn内の４ビットの並びにより符号化
され、従って値（位置）０〜６を持てる位置番号と、隣り合う縦列Ｋn+1内の対
応する「高さ」における隣り合う４ビットの並びにより符号化される位置符号と
の間の７を法とする差Δnを取る場合、その結果は、位置、すなわち、違いがで
きる２つの縦列に沿う「高さ」に拘わらず、同じになる。従って、２つの縦列の
２つのビットの並びについての位置番号間の差を使用して、Ｙ座標の全てに対し
て一定であるＸ座標を符号化できる。
【００７２】この例では、表面上の各位置が４×４のマークを含む部分表面
により符号化されているので、４つの垂直のビットの並びがあり、従って、それ
ぞれが値０から６を持つ３つの差をＸ座標を符号化するために利用できる。
【００７３】パターンは、コード・ウィンドウＦに分割され、各コード・ウ
ィンドウは４×４のマークからなるという特性を有する。従って、４つの水平の
ビットの並び及び４つの垂直のビットの並びが利用でき、３つの差がＸ方向で生
成でき、４つの位置がＹ方向で得られる。これら３つの差及び４つの位置は、Ｘ
方向及びＹ方向における部分表面の位置を符号化する。Ｘ方向で隣り合うウィン
ドウは、図１に示すように、共通の縦列を持つ。従って、第１のコード・ウィン
ドウＦ0,0は、縦列Ｋ0，Ｋ1，Ｋ2，Ｋ3からのビットの並び、及び行Ｒ0，Ｒ1，
Ｒ2，Ｒ3からのビットの並びを含んでいる。Ｘ方向では差が用いられるので、Ｘ
方向及びＹ方向において対角に隣り合うウィンドウ、すなわちウィンドウＦ1,1
は、縦列Ｋ3，Ｋ4，Ｋ5，Ｋ6からと、行Ｒ4，Ｒ5，Ｒ6，Ｒ7からのビットの並び
を含んでいる。Ｘ方向における符号化のみを考えるとき、コード・ウィンドウは
、Ｙ方向に無制限に伸びるものとして考えることができる。同様に、Ｙ方向にお
ける符号化のみを考えるとき、コード・ウィンドウは、Ｘ方向に無制限に伸びる
ものとして考えることができる。このようなＸ方向及びＹ方向に無制限に伸びる
第１及び第２のコード・ウィンドウは、それぞれ協同して図１に示したタイプの
コード・ウィンドウ、例えばＦ0,0を構成する。
【００７４】各ウィンドウは、Ｘ方向におけるウィンドウの位置を与えるウ
ィンドウ座標Ｆxと、Ｙ方向におけるウィンドウの位置を与えるウィンドウ座標
Ｆyとを有する。従って、ウィンドウと縦列との間の対応関係は、以下のように
なる。 Ｋi ＝ ３ Ｆx Ｒj ＝ ４ Ｆy
【００７５】符号化は、以下のような方法、すなわち、１つの差Δ0が常に
値１または２になり、これは、Ｘ方向におけるコード・ウィンドウの位置を表す
番号の最下位桁Ｓ0を指し、他の２つの差Δ1，Δ2が３〜６の範囲の値になり、
これらは、コード・ウィンドウの座標のための２つの上位桁Ｓ1，Ｓ2を指すよう
にして行われる。従って、Ｘコード内では差が０になるものは、コードパターン
が対称的になってしまうので、許容されない。言い換えると、縦列は、その差が
、以下のようになるように符号化される。 (3〜6); (3〜6); (1〜2); (3〜6); (3〜6); (1〜2); (3〜6); (3〜6); (1〜2);
…
【００７６】従って、各Ｘ座標は、３と６の間の２つの差Δ1，Δ2、これに
続く１か２の１つの差Δ0によって符号化される。最小の差Δ0から１を差し引き
、他の差から３を差し引くと、３つの数字Ｓ2，Ｓ1，Ｓ0が得られるが、これは
、混合基数において、Ｘ方向におけるコード・ウィンドウの位置番号を直接与え
、ここから、Ｘ座標が、以下に示す例のように、直接決定できる。コード・ウィ
ンドウの位置番号は、以下になる。 Ｓ2 × （４×２） ＋ Ｓ1 × ２ ＋ Ｓ0 × １
【００７７】前述した原理を使用して、コード・ウィンドウ０，１，２．．
．３１を、３個の差により表される３つの数字からなるコード・ウィンドウの位
置番号を用いて符号化できる。これらの差が、上記の数字列に基づいたビットパ
ターンを使用して符号化される。ビットパターンは最終的に、図２のマークを使
用してグラフィカルに符号化される。
【００７８】多くの場合、４×４のマークからなる部分表面を読み込んだと
き、多くの場合において、部分表面は１つのコード・ウィンドウに一致しないの
で、Ｘ座標を符号化する完全な位置番号を得ることができないが、Ｘ方向におけ
る隣接する２つのコード・ウィンドウをカバーするので、２つの位置番号の部分
を得ることができる。そして、これらの番号の最下位桁Ｓ0は、常に１か２であ
るので、どの数字が最下位のものであるか分かり、完全な位置番号を容易に再構
築することができる。
【００７９】Ｙ座標は、コード・ウィンドウを用いたＸ座標で使用したのと
ほぼ同じ原理に従って符号化される。循環型の数字列（Ｘ符号化に使用したのと
同じ数字列）は、位置を符号化する表面に渡って水平行に繰り返して、書き込ま
れる。Ｘ座標の場合とちょうど同じ様に、この行は、数字列内の異なった位置か
ら始める、すなわち、異なるビットの並びを使用して始める。しかし、Ｙ座標に
対しては差を使用せず、各行のその数字列の開始位置に基づいた値を使用して座
標を符号化する。４×４のマークのＸ座標が決定されると、４×４のマーク内の
Ｙコード内に含まれている行の数字列内の開始位置を実際に決定できる。
【００８０】Ｙコードにおいて、最上位桁Ｓ0は、これを特定の範囲内の値
を持つただ１つの数にすることによって、判断される。この例では、４つの行の
内の１つの行を、その行がコード・ウィンドウ内の最下位桁Ｓ0に関係している
ことを示すために、数字列内の位置０〜１から始め、他の３つの行を、コード・
ウィンドウ内の他の桁Ｓ1，Ｓ2，Ｓ3を示すために、数字列内の位置２〜６の何
れかから始める。従って、Ｙ方向に、以下のような値の並びが存在する。 (2〜6); (2〜6); (2〜6); (0〜1); (2〜6); (2〜6); (2〜6); (0〜1); (2〜6);
…
【００８１】従って、各コード・ウィンドウは、２と６の間の３個の値、並
びにこれに続く０と１の間の値を使用して符号化される。
【００８２】小さい値から０を差し引き、他の値から２を差し引くと、Ｘ方
向と同様な方法で、混合基数におけるＹ方向の位置Ｓ3，Ｓ2，Ｓ1，Ｓ0が得られ
、この位置からコード・ウィンドウの位置番号を直接決定できる。すなわち、 Ｓ3 ×（５×５×２）＋Ｓ2 ×（５×２）＋Ｓ1 × ２ ＋Ｓ0 × １
【００８３】上記の方法を使用して、コード・ウィンドウに関し、Ｘ方向の
４×４×２＝３２個の位置番号を符号化できる。各コード・ウィンドウは、３つ
の縦列からのビット並びを備え、これは、３×３２＝９６個の縦列、すなわちＸ
座標を与える。更に、コード・ウィンドウに関し、Ｙ方向に５×５×５×２＝２
５０個の位置番号を符号化できる。このような位置番号のそれぞれは、４つの行
からの水平ビット並びを備え、これは、４×２５０＝１０００個の行、すなわち
Ｙ座標を与える。このように、合計して９６０００個の座標位置を符号化できる
。
【００８４】しかし、Ｘの符号化は差に基づいているので、最初のコード・
ウィンドウにおける１番目の数字列が始まる位置を選択できる。この１番目の数
字列が７個の異なった位置から始められることを考慮すると、７×９６０００＝
６７２０００個の位置を符号化できる。Ｘ及びＹ座標が決定された場合、第１の
縦列Ｋ0にある第１の数字列の開始位置が計算できる。第１の数字列の前述した
７個の異なる開始位置は、製品上の異なる頁や書き込み面を符号化できるように
する。
【００８５】理論上、４×４のマーク（それぞれが４つの値を持つ）を持っ
た部分表面は、４4*4個の位置を符号化でき、これは、４，２９４，９６７，２
９６の位置に相応する。部分表面の位置における浮動的な決定を可能とするため
に、６０００（4294967296/672000）を超える冗長性がある。
【００８６】冗長性は、部分的に前記差の大きさにおける制約に含まれてお
り、また、部分的に位置コードに使用する１６のうちの７ビットだけとしたこと
に含まれている。しかしながら、この後者のものは、部分表面の回転位置を決定
するのに用いることができる。前記ビット列内の次のビットが前記４ビットの並
びに追加された場合、５ビットの並びが得られる。５番目のビットは、使用され
る部分表面の直ぐ外の隣接ビットを読むことによって得られる。このような追加
ビットは、通常、容易に利用できる。
【００８７】センサーによって読み取られる部分表面は、４つの異なる回転
位置、すなわち、コード・ウィンドウに対し０、９０、１８０又は２７０度回転
している可能性がある。部分表面が回転しているこれらのケースにおいて、コー
ドの読み取りは、しかしながら、読み取られたコードが、それが０度の回転角で
読み取られた場合と比較して、Ｘ方向又はＹ方向の何れか又は双方に反転及び逆
転させたものになる。ここでは、以下のテーブルに従うマークの値の僅かに異な
る復号化が使用されるものとする。
【００８８】
【表３】
【００８９】前述の５ビットの並びは、正しい方向で、且つ、逆転も反転も
されていない形でのみ、前記７ビット列内に現れるという性質を持っている。こ
れは、ビット列（０００１０１０）がただ２つの「１」を含んでいるという事実
から明らかである。従って、全ての５ビットの並びは、少なくとも３つの０を含
んでいなければならず、これは、逆転（必要であれば、反転）した時には、起こ
りえない３つの１になる。よって、ビット列内の位置番号を持っていない５ビッ
トの並びが見つけられたときは、この部分表面は、おそらく回転されていると結
論付けることができ、新しい位置がチェックされる。
【００９０】本実施形態に従う発明を更に説明するために、次に、前述の実
施形態における位置コードに基づく特別の例を示す。
【００９１】図３は、位置を決定する装置によって読み込まれる４×４のマ
ークを含む画像の一例を示している。 これらの４×４のマークは、次の値を持っている。 ４ ４ ４ ２ ３ ２ ３ ４ ４ ４ ２ ４ １ ３ ２ ４
【００９２】これらの値は、次の２進ＸコードとＹコードを表している。 Ｘコード： Ｙコード： ０ ０ ０ ０ ０ ０ ０ １ １ ０ １ ０ ０ １ ０ ０ ０ ０ ０ ０ ０ ０ １ ０ １ １ ０ ０ １ ０ １ ０
【００９３】Ｘコード内の垂直方向のビットの並びは、ビット列内の位置２
０ ４ ６を符号化している。縦列間の差は−２ ４ ２であり、７を法とす
る剰余は５ ４ ２になる。これは、混合基数で、（５−３）×８＋（４−３）
×２＋（２−１）＝１６＋２＋１＝１９のコード・ウィンドウの位置番号を符号
化する。最初に符号化されるコード・ウィンドウは位置０である。よって、１〜
２の範囲内にあり、部分表面の４×４のマーク内に見られるこの差は、２０番目
の差になる。更に、このような差のそれぞれに対する全部で３つの縦列が存在し
、開始の縦列が存在するので、４×４のＸコードの一番右の縦方向の並びがＸコ
ードの６１番目（縦列６０）の縦列に属し（３×２０＋１＝６１）、一番左の縦
方向の並びが５８番目（縦列５７）に属する。
【００９４】Ｙコードの水平方向のビットの並びは、数字列内の位置０ ４
１ ３を符号化する。これらの水平方向のビットの並びは、５８番目の縦列から
始まるので、行の開始位置は、これらの数字から５７を引いたものの７を法とす
る剰余であり、開始位置が６ ３ ０ ２になる。混合基数の数に変換すると、こ
れは６−２、３−２、０−０、２−２＝４ １ ０ ０になる。ここで、３番目の
桁が注目している数字内の最下位桁である。次に、４番目の桁が次の数字内の最
上位桁である。この場合、これは、注目している数字内のものと同じにならなけ
ればならない（注目している数字が位置の全てで取り得る最大の数から構成され
る場合に、例外が発生する。その場合、次の数字の始まりが、注目している数字
の始まりよりも１大きくなることが分かる）。
【００９５】次に、４桁の数字の位置が、混合基数で、０×５０＋４×１０
＋１×２＋０×１＝４２になる。 従って、Ｙコードの３番目の水平ビットの並びが、４３番目のコード・ウィン
ドウに属し、これは０か１の開始位置を持ち、そして、このようなコード・ウィ
ンドウのそれぞれについて全部で４行あるので、３番目の行が４３×４＝１７２
番になる。 従って、この例で、４×４のマークを備える部分表面の一番左上の角の位置が
（５８，１７０）になる。
【００９６】４×４グループにおけるＸコード内の垂直ビットの並びが行１
７０上で始まるので、全パターンのＸ縦列は、数字列の位置（（２ ０ ４ ６）
−１６９） ｍｏｄ ７＝１ ６ ３ ５から始まる。最後の開始位置（５）と最初
の開始位置の間で、数字０〜１９が混合基数で符号化され、混合基数での数字０
〜１９の表示を合計することによって、これらの縦列の間の合計差を得る。これ
を行なう簡単なアルゴリズムがこれら２０個の数字を生成し、直接それらの数を
合計することになる。結果の総和はｓと言われる。よって、紙や書き込み面は、
（５−ｓ）ｍｏｄ ７によって得られる。
【００９７】コード・ウィンドウを識別できるようにするために、部分表面
においてどのビットが最下位のものであるかを決定する他の方法を、以下に説明
する。最下位ビット（ＬＳＢ）は、部分表面の差における最小の数、又は最小位
置番号として定義される。このようにして、座標の最大使用可能な数の減少（冗
長性）は、相対的に小さい。例えば、前述の例のＸ方向における第１のコード・
ウィンドウは、全て、ＬＳＢ＝１、及び２と６の間の他の数を持つことができ、
これは２５個のコード・ウィンドウとなり、次のコード・ウィンドウは、ＬＳＢ
＝２、及び３と６の間の他の数を持つことができ、これは１６個のコード・ウィ
ンドウとなり、次のコード・ウィンドウは、ＬＳＢ＝３、及び４と６の間の他の
数を持つことができ、これは９個のコード・ウィンドウとなり、次のコード・ウ
ィンドウは、ＬＳＢ＝４、及び５と６の間の他の数を持つことができ、これは４
個のコード・ウィンドウとなり、次のコード・ウィンドウは、ＬＳＢ＝５、及び
６である他の数を持つことができ、これは１個のコード・ウィンドウとなり、総
計で、前述の例の３２個に対し、５５個のコード・ウィンドウを持つ。
【００９８】上記の例で、一実施形態が説明され、その中で、各位置は４×
４のマークを使用して符号化され、７ビットの数字列が使用された。もちろん、
これは、ほんの一例にすぎない。位置は、より多くのまたはより少ない数のマー
クを使用して符号化できる。両方の方向で同じ数である必要がない。数字列を異
なった長さにし、２進数以外にしても良いし、他の基数、例えば１６進コードに
基づくことも可能である。Ｘ方向の符号化とＹ方向の符号化に異なった数字列を
使用可能である。マークは、値の異なる数字を表すことができる。
【００９９】実用的な例において、部分表面として、６×６のマークからな
るものが使用され、この場合、ビット列は、最大２6ビット、すなわち６４ビッ
トとすることができる。しかしながら、部分表面の回転位置を決定する能力を持
たせるために、５１ビットのビット列、すなわち５１個の位置を使用する。この
ようなビット列の例は、以下のとおりである。 ０００００１１０００１１１１１０１０１０１１０１１００１１０１０００１０
１００１１１０１１１１００１０
【０１００】このような６×６のマークからなる部分表面は、理論上、４６
６個の位置を符号化でき、前述の０．３ｍｍのラスター寸法では、巨大な表面と
なる。
【０１０１】７ビット列を用いた前述のものと同様の方法で、本発明に従え
ば、前記特性は、部分表面を、少なくともその中央において、部分表面の両側の
１ビットを含むように拡大して、６×６のシンボルの部分表面内の３番目及び４
番目の行において、８個のマーク（１個は部分表面の各側）が読まれるようにし
、これをＹ方向も同様とするという方法で利用できる。前述の５１ビットを含む
ビット列は、６ビットのビット並びが、ただ１度だけ出現し、６ビットの前述の
ビット並びを含む８ビットの並びが、ただ１度だけ出現し、決して逆転した位置
又は反転及び逆転されたときには出現しないという特性を有している。このよう
にして、部分表面の回転位置は、行３、行４、縦列３及び/又は縦列４における
８ビットを読むことによって、決定できる。回転位置が分かれば、部分表面は、
処理を続ける前に、正しい位置に回転することができる。
【０１０２】できるだけランダムなパターンを得ることが望ましく、こうす
れば、過度に対称的な領域は出現しない。６×６のマークを備える部分表面が、
図２ａ〜２ｄに従った異なる位置の全てを有するマークを含むパターンを得るこ
とが望ましい。更にばらつき度を増大し、繰り返しの特性を避けるために、「シ
ャッフル」と呼ばれる方法が使用できる。各水平ビット並びは、所定の開始位置
から始まる。しかしながら、ずれ量が分かっているのなら、各行毎に、水平方向
における開始位置をずらすことができる。これは、各最下位ビット（ＬＳＢ）を
、隣接する量に対し、独立ずれ方向量で配置する。このずれ方向量は、各行が水
平方向にずらされる量を規定する。図１のＹ軸は、「スパイク跡」のように見え
る。
【０１０３】４×４のコード・ウィンドウを用いた上述の例において、この
ずれ方向量は、ＬＳＢ＝０に対し、１，２，４，０とすることができ、ＬＳＢ＝
１に対し、２，２，３，０とすることができる。これは、番号２と０をそれぞれ
引いた後、処理を続ける前に、上述のずれ量がビット並びの位置番号から差し引
かれる（５を法とする剰余で）こととなることを意味する。上述の例において、
Ｙ座標に関し、混合基数で数字４ １ ０ ０（Ｓ2，Ｓ1，Ｓ0，Ｓ4）が得られ、
ここで、右から２つめの数字が最下位桁（ＬＳＢ）である。ずれ方向量１，２，
４，０が数字４と１に用いられるので（ＬＳＢ＝０）、２が４から引かれてＳ2
＝２となり、４が１から引かれて（５を法とする剰余で）Ｓ1＝２となる。数字
Ｓ0＝０は変わらずに残る（最下位桁に対するずれ方向量の値は、常に０である
）。最終的に、数字Ｓ4は次のコード・ウィンドウに属し、これはＬＳＢ＝１で
あり、第２のずれ方向量が使用される。従って、２が０から差し引かれ（５を法
とする剰余で）、Ｓ4＝３となる。
【０１０４】同様の方法が、Ｙ座標のコードを変えるために使用できる。し
かしながら、上述の例においては差０が使用されておらず、コードは既に相対的
にランダムに分散されているので、Ｘ座標を変える必要性は小さい。
【０１０５】上記の例で、マークをドットとしているが、もちろん、別の形
状にすることもできる。例えば、マークは、仮想ラスター点から始まり、そこか
ら所定の位置に伸びる線や楕円から構成できる。ドット以外の他のシンボル、た
とえば、正方形、長方形、三角形、円、楕円とすることができ、また、塗り潰さ
れたものでも、そうでないものでもよい。
【０１０６】上記の例では、マークは、正方形の形の部分表面内で、位置の
符号化に使用されている。部分表面は例えば、六角形などの別の形にすることも
可能である。マークは、直交するラスターにおけるラスター線に沿って配置され
る必要はなく、他の方法、例えば６０度などの他の角度のラスターにおけるラス
ター線に沿って、配置され得る。極座標系を使用してもよい。
【０１０７】図５及び図６に示すように、三角形又は六角形の形をしたラス
ターを使用することもできる。例えば、図５に示すように、三角形のラスターで
は、各マークを６つの異なる方向にずらすことができ、６6*6の部分表面位置に
相応するより膨大な容量を提供する。図６の六角形のラスター、蜂の巣状パター
ンでは、各マークは、ラスター線に沿って３つの異なる方向にずらすことができ
る。
【０１０８】前述したように、マークは、必ずしもラスター線に沿ってずら
される必要はなく、他の方向にずらす、例えば、正方形ラスター・パターンが用
いられるときには、それぞれを四分区間内に配置することができる。六角形ラス
ター・パターンにおいては、マークを４又はそれ以上の異なる方向、例えば、ラ
スター線に沿うものとラスター線に対し６０度の角度にある線に沿うものとで６
つの異なる方向にずらすことができる。
【０１０９】位置コードを検出できるようにするには、仮想ラスターが決定
されなければならない。これは、方形ラスター・パターンにおいては、別のマー
ク間の距離を調べることによって行う。２つのマーク間の最も短い距離が、水平
方向において値１と３又は垂直方向において値２と４を持つ２つの隣接したマー
クから導かれなければならない。これによって、これらのマークが２つのラスタ
ー点の間の１つのラスター線上に配置される。このようなマークの組みが検出さ
れた場合に、関連するラスター点（基準位置）が、ラスター点間の距離とラスタ
ー点からのマークのずれ量の知識を使用して決定され得る。１度、２つのラスタ
ー点の位置が決定されると、他のマークへの測定された距離を使用して、ラスタ
ー点間の距離の知識から、次のラスター点が決定できる。
【０１１０】マークがラスター線に沿って５０μｍずれており、それぞれが
３００μｍ離れている場合、２つのマークの最小距離、例えば値１と３を持った
マークにおける距離は２００μｍになる。次に小さい距離は、例えば、値１と２
を持ったマークの間であり、これは２５５μｍとなる。従って、最小距離と次に
小さい距離との間には、相対的に区別可能な差がある。他の対角までの差は、ま
た大きいものである。しかしながら、ずれ量が５０μｍより大きくなる、例えば
、７５μｍ（１／４）以上である場合、対角のものが問題を引き起こし、マーク
が属する基準位置の決定が困難となり得る。ずれ量が５０μｍ以下、例えば、お
およそ３５μｍ（１／８）以下の場合、最小距離は２３０μｍとなり、２６７μ
ｍである次の距離とで大きな差がない。この場合、光学読み取りに対する要求が
増大する。
【０１１１】マークは、それ自身のラスター点を覆うべきでなく、従って、
ずれ量の２倍以上の直径（２００％）を持つべきでない。しかしながら、これは
厳密なものではなく、所定のオーバーラップ（例えば、２４０％）は許容できる
。最初に、センサーの解像度及びパターンを生成するのに使用する印刷プロセス
での要求によって、この最小サイズが決定される。しかしながら、マークは、ゴ
ミやセンサーのノイズによる問題を避けるために、実用上、ずれ量のおおよそ５
０％以下の直径とすべきでない。
【０１１２】位置決定のための装置の一実施形態が、図４に図示される。装
置は、おおよそペンと同じ形をしたケース１１を備える。ケースの一方の短辺に
は開口１２がある。この短辺は、位置決定が行なわれる表面に接触するか、また
は、その近くに位置されるように意図されている。
【０１１３】ケースは、光学部品、電子回路部品および電源を基本的に含ん
でいる。 光学部品は、画像化されることになる表面を照明する少なくとも１個の赤外線
発光ダイオード１３、及び、二次元画像を記録するＣＣＤやＣＭＯＳセンサーな
どの光感性エリアセンサー１４を備える。必要であれば、装置は、ミラー及び／
又はレンズ系などの光学系を備えてよい。発光ダイオードは、赤外線発光ダイオ
ードで、センサーは赤外線光に反応するものとすることができる。 装置の電源は、ケースの独立した区画に取り付けられた電池１５から供給され
る。 電子回路部品は、センサー１４により記録された画像に基づいて位置を決定す
る画像処理手段１６、詳細には、センサーからの画像を読み、それらの画像に基
づいて位置決定を実行するようプログラムされたプロセッサを備えたプロセッサ
・ユニットを含んでいる。
【０１１４】本実施形態において、装置は、また、ペン先１７を備えており
、これを用いて、位置決定が実行されることとなる表面上に、通常の顔料による
書き込みをすることができる。ペン先１７は、ユーザが使うかどうかを選択でき
るよう出没自在である。特定の用途において装置は、ペン先を全く必要としない
。
【０１１５】顔料による書き込みは、好ましくは、赤外光に対し透過のタイ
プのものであり、マークは、好ましくは、赤外光を吸収する。赤外光を発光する
発光ダイオードと赤外光に反応するセンサーを用いることによって、パターンに
対する前述した書き込みに干渉されることなく、パターンの検出ができるように
なる。
【０１１６】装置は、また、ボタン１８を備え、これによって、装置は、起
動され、制御される。また、装置は、装置から及び装置へ情報を、例えば、赤外
線、無線波又は超音波などを使用して、無線伝送するためのトランシーバ１９を
有する。装置はまた、位置又は記録した情報を表示するためのディスプレイ２０
を備える。
【０１１７】テキストを記録する装置が、出願人のスウェーデン特許第９６
０４００８−４号に説明されている。この装置は、適切な方法でプログラムすれ
ば、位置決定のために使用できる。顔料による書き込みのために本装置が使用さ
れる場合には、ペン先を備える必要がある。
【０１１８】装置は、異なる物理的なケースに分けることができ、第１のケ
ースは、位置符号化パターンの画像を記録し、これらを第２のケース内に含まれ
る部品に転送するために必要な部品を含み、前記第２のケース内の部品において
、記録された画像に基づいて位置決定が実行される。
【０１１９】前述のように、位置決定は、画像内でマークの位置を決定し、
これを復号化すると共に、これによって得られたコードから位置を決定するソフ
トウェアを備えているプロセッサによって、実行される。当業者であれば、前述
の例に基づいて、位置符号化パターンの部分画像に基づいて位置決定を実行する
ソフトウェアを設計することができるであろう。
【０１２０】更に、前述の記載に基づいて、当業者は、位置符号化パターン
を印刷するためのソフトウェアを設計することができるであろう。
【０１２１】前記実施形態において、パターンは、光学的に読み取り可能な
ものであり、従って、センサーは光学的なものである。前述したように、パター
ンは、光学特性以外の特性に基づくことができる。この場合、センサーは、もち
ろん、対象の特性を読むことができるタイプのものでなければならない。このよ
うな特性の例としては、化学的、聴覚的又は電磁的なマークがある。容量性又は
誘導性マークを用いることもできる。
【０１２２】前述の実施形態において、ラスターは直交グリッドであった。
これはまた、他の形状、例えば、６０度の角度を有する菱形グリッド、三角又は
六角グリッドなどでもよい。
【０１２３】ずれは、４方向前後のもの、例えば、六角仮想ラスターに沿う
３方向のずれが使用できる。直交ラスターにおいては、ラスターの再生を容易に
するために、２つのずれのみを使用すればよい。しかしながら、４方向における
ずれが好ましく、また、６か８方向を、本発明の範囲に含むことができる。
【０１２４】前記実施形態においては、利用できる最長の循環数字列は使用
されていない。その結果として、各種の方法で、例えば、エラー訂正、消去した
又は隠れたマークの置き換えなどのための冗長度が保証される。
【図面の簡単な説明】
【図１】図１は、位置符号化パターンを備えた本製品の一実施形態を図示し
ている。
【図２】図２は、本発明の一実施形態におけるマークの設計及び配置の方法
を図示している。
【図３】図３は、位置を符号化するのに使用する４×４のシンボルの例を図
示している。
【図４】図４は、位置検出に用いることができる装置を図示している。
【図５】図５は、三角状ラスターを用いた位置符号化パターンを示している
。
【図６】図６は、六角状ラスターを用いた位置符号化パターンを示している
。
───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (81)指定国 ＥＰ(ＡＴ，ＢＥ，ＣＨ，ＣＹ， ＤＥ，ＤＫ，ＥＳ，ＦＩ，ＦＲ，ＧＢ，ＧＲ，ＩＥ，Ｉ Ｔ，ＬＵ，ＭＣ，ＮＬ，ＰＴ，ＳＥ)，ＯＡ(ＢＦ，ＢＪ ，ＣＦ，ＣＧ，ＣＩ，ＣＭ，ＧＡ，ＧＮ，ＧＷ，ＭＬ， ＭＲ，ＮＥ，ＳＮ，ＴＤ，ＴＧ)，ＡＰ(ＧＨ，ＧＭ，Ｋ Ｅ，ＬＳ，ＭＷ，ＭＺ，ＳＤ，ＳＬ，ＳＺ，ＴＺ，ＵＧ ，ＺＷ)，ＥＡ(ＡＭ，ＡＺ，ＢＹ，ＫＧ，ＫＺ，ＭＤ， ＲＵ，ＴＪ，ＴＭ)，ＡＥ，ＡＧ，ＡＬ，ＡＭ，ＡＴ， ＡＵ，ＡＺ，ＢＡ，ＢＢ，ＢＧ，ＢＲ，ＢＹ，ＢＺ，Ｃ Ａ，ＣＨ，ＣＮ，ＣＲ，ＣＵ，ＣＺ，ＤＥ，ＤＫ，ＤＭ ，ＤＺ，ＥＥ，ＥＳ，ＦＩ，ＧＢ，ＧＤ，ＧＥ，ＧＨ， ＧＭ，ＨＲ，ＨＵ，ＩＤ，ＩＬ，ＩＮ，ＩＳ，ＪＰ，Ｋ Ｅ，ＫＧ，ＫＰ，ＫＲ，ＫＺ，ＬＣ，ＬＫ，ＬＲ，ＬＳ ，ＬＴ，ＬＵ，ＬＶ，ＭＡ，ＭＤ，ＭＧ，ＭＫ，ＭＮ， ＭＷ，ＭＸ，ＭＺ，ＮＯ，ＮＺ，ＰＬ，ＰＴ，ＲＯ，Ｒ Ｕ，ＳＤ，ＳＥ，ＳＧ，ＳＩ，ＳＫ，ＳＬ，ＴＪ，ＴＭ ，ＴＲ，ＴＴ，ＴＺ，ＵＡ，ＵＧ，ＵＳ，ＵＺ，ＶＮ， ＹＵ，ＺＡ，ＺＷ

Claims (21)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項１】 複数のマークを備えた符号化パターンを有する製品であって
    、前記マークのそれぞれが少なくとも２つの異なる値のうちの１つを表しており
    、前記符号化パターンが、また、複数の基準位置を備えており、前記複数のマー
    クのそれぞれが前記複数の基準位置の１つに関連付けられ、前記各マークの値が
    その基準位置に対するその位置によって示されていることを特徴とする製品。
  2. 【請求項２】 前記各基準位置に、１つのマークが割り当てられている請求
    項１に記載の製品。
  3. 【請求項３】 略全てのマークが、その基準位置に対してずらした位置にあ
    る請求項１又は２に記載の製品。
  4. 【請求項４】 略全てのマークが、その基準位置に対して同じ距離だけずら
    した位置にある請求項３に記載の製品。
  5. 【請求項５】 各マークが、その基準位置に対して直交する４方向のうちの
    １つの方向にずらした位置にある先行する請求項の何れか１つに記載の製品。
  6. 【請求項６】 前記符号化パターンが、ラスター線を有するラスターを備え
    、該ラスター線の交点が、前記マークの基準位置を規定する先行する請求項の何
    れか１つに記載の製品。
  7. 【請求項７】 前記ラスター線間の距離が、おおよそ２５０μｍから３００
    μｍの間である請求項６に記載の製品。
  8. 【請求項８】 前記ラスター線の形状が、矩形グリッド、好ましくは正方形
    グリッドである請求項６又は７に記載の製品。
  9. 【請求項９】 各マークが、前記ラスター線の１つに沿ってずらされている
    請求項６，７又は８に記載の製品。
  10. 【請求項１０】 各マークが、ラスター線間の距離の１／４から１／８、好
    ましくは１／６の距離だけ、その基準位置からずらされている請求項６〜９の何
    れか１つに記載の製品。
  11. 【請求項１１】 前記ラスターが仮想のものである請求項６〜１０の何れか
    １つに記載の製品。
  12. 【請求項１２】 全ての前記マークが、おおよそ同じ外形を有している先行
    する請求項の何れか１つに記載の製品。
  13. 【請求項１３】 前記マークが、おおよそ円形、三角形又は矩形である先行
    する請求項の何れか１つに記載の製品。
  14. 【請求項１４】 前記マークの有効直径が、その基準位置に対する前記マー
    クのずれ量のおおよそ５０％から２４０％である請求項４〜１３の何れか１つに
    記載の製品。
  15. 【請求項１５】 前記符号化パターンが光学的に読み取り可能なものである
    先行する請求項の何れか１つに記載の製品。
  16. 【請求項１６】 前記符号化パターンが赤外光により読み取り可能なもので
    ある先行する請求項１５に記載の製品。
  17. 【請求項１７】 前記製品が、前記符号化パターンを備えた表面を有してい
    る先行する請求項の何れか１つに記載の製品。
  18. 【請求項１８】 前記マークが、前記符号化パターンを備える表面の０．２
    ５％から２０％、好ましくはおおよそ９％を構成する先行する請求項の何れか１
    つに記載の製品。
  19. 【請求項１９】 前記符号化パターンが、前記製品上の複数の位置を符号化
    する位置符号化パターンであり、該各位置が、複数のマークによって符号化され
    ている先行する請求項の何れか１つに記載の製品。
  20. 【請求項２０】 前記製品が、紙のシートである先行する請求項の何れか１
    つに記載の製品。
  21. 【請求項２１】 複数のマークを備えた符号化パターンの使用法であって、
    前記マークのそれぞれが少なくとも２つの異なる値のうちの１つを表しており、
    前記符号化パターンが、また、複数の基準位置を備えており、前記複数のマーク
    のそれぞれが前記基準位置に関連付けられ、前記各マークの値がその基準位置に
    対するその位置によって決定されていることを特徴とする符号化パターンの使用
    法。
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