JP2003255374A - 液晶表示装置 - Google Patents
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- H01L27/12—Devices consisting of a plurality of semiconductor or other solid-state components formed in or on a common substrate including semiconductor components specially adapted for rectifying, oscillating, amplifying or switching and having at least one potential-jump barrier or surface barrier; including integrated passive circuit elements with at least one potential-jump barrier or surface barrier the substrate being other than a semiconductor body, e.g. an insulating body
- H01L27/1214—Devices consisting of a plurality of semiconductor or other solid-state components formed in or on a common substrate including semiconductor components specially adapted for rectifying, oscillating, amplifying or switching and having at least one potential-jump barrier or surface barrier; including integrated passive circuit elements with at least one potential-jump barrier or surface barrier the substrate being other than a semiconductor body, e.g. an insulating body comprising a plurality of TFTs formed on a non-semiconducting substrate, e.g. driving circuits for AMLCDs
- H01L27/1255—Devices consisting of a plurality of semiconductor or other solid-state components formed in or on a common substrate including semiconductor components specially adapted for rectifying, oscillating, amplifying or switching and having at least one potential-jump barrier or surface barrier; including integrated passive circuit elements with at least one potential-jump barrier or surface barrier the substrate being other than a semiconductor body, e.g. an insulating body comprising a plurality of TFTs formed on a non-semiconducting substrate, e.g. driving circuits for AMLCDs integrated with passive devices, e.g. auxiliary capacitors
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01L—SEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
- H01L29/00—Semiconductor devices adapted for rectifying, amplifying, oscillating or switching, or capacitors or resistors with at least one potential-jump barrier or surface barrier, e.g. PN junction depletion layer or carrier concentration layer; Details of semiconductor bodies or of electrodes thereof ; Multistep manufacturing processes therefor
- H01L29/40—Electrodes ; Multistep manufacturing processes therefor
- H01L29/41—Electrodes ; Multistep manufacturing processes therefor characterised by their shape, relative sizes or dispositions
- H01L29/423—Electrodes ; Multistep manufacturing processes therefor characterised by their shape, relative sizes or dispositions not carrying the current to be rectified, amplified or switched
- H01L29/42312—Gate electrodes for field effect devices
- H01L29/42316—Gate electrodes for field effect devices for field-effect transistors
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- H01L29/42384—Gate electrodes for field effect devices for field-effect transistors with insulated gate for thin film field effect transistors, e.g. characterised by the thickness or the shape of the insulator or the dimensions, the shape or the lay-out of the conductor
-
- G—PHYSICS
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- G02F—OPTICAL DEVICES OR ARRANGEMENTS FOR THE CONTROL OF LIGHT BY MODIFICATION OF THE OPTICAL PROPERTIES OF THE MEDIA OF THE ELEMENTS INVOLVED THEREIN; NON-LINEAR OPTICS; FREQUENCY-CHANGING OF LIGHT; OPTICAL LOGIC ELEMENTS; OPTICAL ANALOGUE/DIGITAL CONVERTERS
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- G02F2201/12—Constructional arrangements not provided for in groups G02F1/00 - G02F7/00 electrode
- G02F2201/123—Constructional arrangements not provided for in groups G02F1/00 - G02F7/00 electrode pixel
Abstract
に、凹凸構造を有する反射電極が特に工程を増やすこと
なく形成された半透過型の液晶表示装置を提供すること
を目的とする。 【解決手段】 半透過型の液晶表示装置を作製するにあ
たり、透明電極と反射電極とからなる電極の形成におい
て、複数の島状のパターンからなる反射電極と透明導電
膜からなる透明電極とを積層して形成することにより凹
凸形状を有し、光の散乱性を高めてディスプレイの視認
性を向上させることを特徴とする。さらに、複数の島状
のパターンは、配線と同時に形成することができるので
製造プロセス中において、凹凸構造を形成するためだけ
のパターニング工程を特に増やすことなく、凹凸構造を
形成することができる。よって、大幅なコスト削減と、
生産性の向上が可能となる。
Description
ス型、アクティブマトリクス型の液晶表示装置に関す
る。特に、透過型および反射型の両機能を兼ね備えた半
透過型液晶表示装置の電極構造に関する。
末の爆発的な普及により、軽量・省消費電力・使用環境
の変化に応じて対応可能なディスプレイが必要とされて
いる。
示装置、または有機EL表示装置が有望視されている代
表格である。
せるためだけであれば、消費電力は少ない。しかし、液
晶自体は発光しないので、ディスプレイとして表示を出
すためにはバックライトを必要とする。携帯電話用途で
は、一般にELバックライトが用いられるが、このバッ
クライトのために別途電力が必要となり、液晶特有の省
消費電力の特徴が十分には活かせず、省消費電力化には
不利である。また、暗い環境下ではディスプレイの表示
がコントラスト良く見えるが、通常の明るい環境下では
表示があまり良く見えなくなり、上方出射方式及び下方
出射方式のいずれの場合においても使用環境に応じた適
応性には難がある。
が発光することが特徴である。消費電力は反射型液晶表
示装置よりも大きくなるが、透過型液晶表示装置よりも
(バックライト付き)よりも小さい。しかし、透過型液
晶表示装置の場合と同じく、暗い環境下ではディスプレ
イの表示が良く見えるが、通常の明るい環境下では表示
があまり良く見えないので、やはり、上方出射方式及び
下方出射方式のいずれの場合においても使用環境に応じ
た適応性には難がある。
めの光として環境中からの外光を利用する。ディスプレ
イ側からすると、基本的にはバックライトが不要であ
り、液晶と駆動回路を駆動させるための電力しか必要と
しないため、積極的な省消費電力化が図れる。しかし、
前2者とは全く逆で、明るい環境下ではディスプレイの
表示が良く見えるが、暗い環境下では表示があまり良く
見えなくなる。携帯情報端末の用途を考えると、屋外の
使用が主であり、比較的明るい環境で表示を見るケース
が多いとはいえ、これでもやはり、使用環境に応じた適
応性の点では不十分である。そのため、一部では、暗い
環境下でも反射型表示装置として表示を行うことができ
るように、フロントライトを組み込んだものが市販され
ている。
み合わせることにより、両者の利点を有する半透過型液
晶ディスプレイが注目されている。明るい環境下では、
反射型のもつ省消費電力とこの環境下での視認性の良さ
という特徴を活かし、一方暗い環境下では、バックライ
トを用いて、透過型の持つコントラストの良さという特
徴を活かしている。
11−101992号において開示されており、一つの
表示画素に外光を反射する反射部とバックライトからの
光を透過する透過部とを作り込むことにより、周囲が真
っ暗の場合にはバックライトからの透過部を透過する光
と反射率の比較的高い膜により形成した反射部により反
射する光を利用して表示を行う両用型液晶表示装置とし
て、さらに外光が明るい場合には、光反射率の比較的高
い膜により形成した反射部により反射する光を利用して
表示を行う反射型液晶表示装置として用いることができ
るというような構成の反射透過両用型(半透過型)の液
晶表示装置である。
おいては、特に反射表示を行う反射部において光拡散性
を有する特殊な凹凸構造が付与されている。反射電極
は、その構造上、表面に対して、ある方向からある入射
角をもって入射した光に対して、ある特定の方向のある
特定の出射角のところにしか反射しない(スネルの法
則)ため、表面が平坦であると光の入射に対して光の出
る方向、角度が一定に決まってしまうからである。この
ような状態でディスプレイを作製すると非常に視認性の
悪い表示になる。
置は、携帯情報端末という特殊な使用条件にうまく対応
したディスプレイであるといえる。特に携帯電話用途で
は、今後も大きな需要が見込まれると予想される。そこ
で、安定した需要を確保するため、もしくは膨大な需要
に対応するためには、より一層のコスト削減につとめる
必要があることは明らかである。
するためには、反射電極よりも下の層に凹凸形状を付け
た後、その上に反射電極を形成する等の方法が必要とな
る。
装置を作製するためには、画素電極を構成する反射電極
および透過電極のいずれか一方、または両方の表面や、
画素電極の下の層に凹凸構造を形成するためのパターニ
ングが必要となるため、工程が増える。工程が増えるこ
とは、歩留まりの低下や、プロセス時間の延長、コスト
の増加といった不利な事態を招くことになる。
レイを提供すると共に、凹凸構造を有する反射電極が特
に工程を増やすことなく形成された半透過型の液晶表示
装置を提供することを目的とする。
に本発明では、半透過型の液晶表示装置を作製するにあ
たり、透明電極と反射電極とからなる電極の形成におい
て、複数の島状のパターンからなる反射電極と透明導電
膜からなる透明電極とを積層して形成することにより凹
凸形状を有し、光の散乱性を高めてディスプレイの視認
性を向上させることを特徴とする。さらに、複数の島状
のパターンは、配線と同時に形成することができるので
製造プロセス中において、凹凸構造を形成するためだけ
のパターニング工程を特に増やすことなく、凹凸構造を
形成することができる。よって、大幅なコスト削減と、
生産性の向上が可能となる。
成された透明性導電膜と、前記透明性導電膜上に形成さ
れた配線および複数の島状のパターンとを有し、前記透
明性導電膜、前記配線、および前記複数の島状のパター
ンは電気的に接続されることを特徴とする液晶表示装置
である。
ーンは、反射電極としての機能を有する。また、透明性
導電膜からなる透明電極と複数の島状のパターンからな
る反射電極とが積層形成されることにより、反射電極を
有する部分では、光に対する反射性を有する電極とな
り、透明電極上に反射電極を有さず、透明電極が表面に
露出している部分では、光に対する透過性を有する透明
電極となる。従って、本発明では、反射性と透過性とい
う2種類の性質を有する電極を画素電極として有する半
透過型の液晶表示装置が形成される。すなわち、本発明
における画素電極は、反射電極と透明電極とからなり、
凹凸構造を有する。
は、波長400〜800nm(可視光領域)における垂
直反射特性で75%以上の反射率をもつ導電膜を用いる
こととする。なお、このような材料としては、アルミニ
ウム(Al)や銀(Ag)の他、これらを主成分とする
合金材料を用いることができる。
装置は、基板上に形成された薄膜トランジスタと、前記
薄膜トランジスタ上に絶縁膜を介して形成された透明性
導電膜と、前記透明性導電膜上に形成された配線および
複数の島状のパターンとを有し、前記配線は、前記薄膜
トランジスタおよび前記透明性導電膜を電気的に接続す
ることを特徴とする液晶表示装置である。
透明性導電膜、配線および複数の島状のパターンとを有
する第1の基板と、第2の透明性導電膜を有する第2の
基板と、液晶とを有し、前記配線および前記複数の島状
のパターンは、前記第1の透明性導電膜上に形成され、
前記透明性導電膜、前記配線、および前記複数の島状の
パターンは電気的に接続され、前記第1の基板の膜形成
面と、前記第2の基板の膜形成面と、が互いに向き合っ
て配置され、かつ前記第1の基板と、前記第2の基板
と、の間に前記液晶が挟まれていることを特徴とする液
晶表示装置である。
ランジスタ、第1の透明性導電膜、配線および複数の島
状のパターンとを有する第1の基板と、第2の透明性導
電膜を有する第2の基板と、液晶とを有し、前記配線お
よび前記複数の島状のパターンは、前記第1の透明性導
電膜上に形成され、前記配線は、前記薄膜トランジスタ
と、前記第1の透明性導電膜および前記複数の島状のパ
ターンとを電気的に接続し、前記第1の基板の膜形成面
と、前記第2の基板の膜形成面と、が互いに向き合って
配置され、かつ前記第1の基板と、前記第2の基板と、
の間に前記液晶が挟まれていることを特徴とする液晶表
示装置である。
からなる島状のパターンと配線とをエッチングにより形
成することができる、さらにエッチングにより同時に形
成する場合には反射性導電膜の成膜表面から見て凹凸構
造を構成することができるため、通常凹凸構造を形成す
る際に用いられるフォトリソグラフィーの工程を減らす
ことができ、大幅なコスト削減と、生産性の向上を実現
することができる。
の島状のパターンはランダムな形状、ランダムな配置で
形成され、第1の透明性導電膜と電気的に接続されてい
る。但し、反射性導電膜をエッチングすることにより形
成される島状のパターンは、反射の機能を向上させる上
でパターン端部のテーパー角をより小さくすることが望
ましい。なお、本発明における複数の島状のパターン
は、各パターン端部のテーパー角が5〜60°であるこ
とを特徴とする。
成された反射性導電膜からなる複数の島状のパターンが
占める面積の割合は、画素部の面積の50〜90%であ
ることを特徴とする。
して説明する。基板101上には半導体層105が形成
されている。半導体層105は、非晶質半導体層を熱処
理により結晶化させた多結晶半導体層で形成し、厚さは
30〜750nm程度の厚さで形成する。さらにその上に
はゲート絶縁膜106が形成されている。なお、ゲート
絶縁膜106は30〜100nmの酸化シリコン膜によ
り形成される。
電極107、容量配線108が同一層で形成され、その
上に酸化シリコン膜から成る第1絶縁膜109とアクリ
ル膜から成る第2絶縁膜110が形成される。なお、第
1絶縁膜109を形成する材料としては、酸化シリコン
膜の他に、窒化シリコン膜、窒化酸化シリコン膜および
塗布シリコン酸化膜(SOG:Spin On Glass)等のシ
リコンを含む無機材料を用いることができる。また、第
2絶縁膜110を形成する材料としては、アクリル膜
(感光性アクリルを含む)の他にポリイミド、ポリアミ
ド、BCB(ベンゾシクロブテン)といった有機材料を
用いることができる。
1側に透過させるための電極であり、透明電極111を
形成する材料としては、酸化インジウム・スズ(IT
O)膜や酸化インジウムに2〜20[%]の酸化亜鉛(Z
nO)を混合した透明導電膜を用いて100〜200n
mの膜厚で形成する。さらにこれをパターニングするこ
とにより画素毎に透明電極111を形成する。
02とのコンタクトを形成する電極でもあり、ソース線
でもある。また、配線113は、TFT115のドレイ
ン領域103とのコンタクトを形成する電極である。
レイン領域103、およびチャネル形成領域104が形
成されている。また、ソース領域102およびドレイン
領域103を除き、容量配線108と重なる位置に形成
される半導体層105は容量素子の一方の電極として機
能している。
膜と同一の膜により、先に形成した透明電極111上に
反射性導電膜からなる反射電極114が形成される。す
なわち、フォトリソグラフィーの技術を用いて画素部の
透明電極111上には複数の島状のパターンを形成し、
それ以外の部分には配線112、113を形成する。な
お、ここで形成される島状のパターンは、ランダムな形
状、配置で形成されており、反射電極114を形成す
る。反射電極114は、このような構造を有することか
ら表面に入射された光を散乱させる機能を持たせること
ができる。
に形成された反射電極114に入射した光は、反射電極
114の形状により散乱するが、反射電極114が形成
されずに透明電極222が露出している部分において入
射した光は、透明電極111を透過し、基板101側に
出射することができる。
は、その形状を図2(A)で示すようにランダムな形状
で、ランダムな位置に形成することにより、反射電極に
対して入射される光の角度(入射角)と反射電極により
反射された光の角度(反射角)とをずらすことにより、
光を散乱させることができる。
をずらす上で重要となるのは、反射電極を構成する複数
の反射体の形状であり、図2(B)に示す各反射体のテ
ーパースロープ面(反射面)210が基板面(基準面)
211に対してどの位傾いているかを示す角度であり、
これをテーパー角(θ)212として示す。
(θ)212を5〜60°となるように反射体を形成す
ることで基板面(基準面)211に対する出射角に比べ
てテーパースロープ面(反射面)210に対する出射角
をずらして光を散乱させ、パネルの視認性を向上させる
ことが可能である。
する入射光213、反射光214の挙動を示したもので
ある。基準面211に対する入射方向をain、出射方向
をa out、また反射面210に対する入射方向をa'in、
出射方向をa'outとし、さらに入射角(φ1)215、
出射角(φ2)216を基準面に対して定義することと
すると、ここでは、基準面211と反射面210が一致
していることからain=a'in=φ1、およびaout=a'
out=φ2が成り立つ。
outが成り立つことから、ain=aout、およびφ1=φ2
が成り立つ。
12がついたテーパースロープ面が反射面となっている
場合の入射光213、出射光214の挙動を示したもの
である。
面211に対して、それぞれ入射角(φ1') 217、
出射角(φ2')218とすると、ain=φ1'、およびa
out=φ2'であり、また、a'in=φ1'+θ、およびa'
out=φ2'−θが成り立つ。
outが成り立つことから、φ1'+θ=φ2'−θが成り立
つ。この式から、入射角(φ1') 217と出射角
(φ2')218との関係をφ2'− φ1'=2θで示すこ
とができる。これは、入射光213の入射方向(ain)
と出射光214の出射方向(aout)とが2θずれてい
ることを意味する。
は、ここでのずれ角(2θ)を40°以下の範囲で均一
に分布させることが好ましいことから、テーパー角
(θ)212が20°以下となるように反射体204を
形成することがさらに好ましい。
を構成する反射体204のテーパー角(θ)212を5
〜60°で形成することにより、反射電極114に入射
した光を効率よく散乱させることができる。従って、本
発明の構造は、TFTの作製プロセスを増加させること
なく、ディスプレイの視認性を高めることが可能であ
る。
板上にTFTを有する素子基板(図1)に対向電極を有
する対向基板(図示せず)を合わせ、両者の間に液晶を
備えることにより半透過型の液晶表示装置を形成するこ
とができる。
型TFTを備えたアクティブマトリクス基板の作製工程
の例を示す。なお、説明には画素部の一部の上面図およ
び断面図を示した図3〜図7を用いる。
晶質半導体層を形成する。ここでは基板301として石
英基板を用い、非晶質半導体層を膜厚10〜100nm
で形成する。
ラス基板、プラスチック基板を用いることができる。ガ
ラス基板を用いる場合には、ガラス歪み点よりも10〜
20℃程度低い温度であらかじめ熱処理しておいても良
い。また、基板301のTFTを形成する表面に、基板
301からの不純物拡散を防ぐために、酸化シリコン
膜、窒化シリコン膜または酸化窒化シリコン膜などの絶
縁膜から成る下地膜を形成するとよい。
晶質シリコン膜(アモルファスシリコン膜)をLPCV
D法により形成する。次いで、この非晶質半導体層を結
晶化させる。ここでは、特開平8−78329号公報記
載の技術を用いて結晶化させる。同公報記載の技術は、
非晶質シリコン膜に対して結晶化を助長する金属元素を
選択的に添加し、加熱処理を行うことで添加領域を起点
として広がる結晶質シリコン膜を形成するものである。
ここでは結晶化を助長する金属元素としてニッケルを用
い、脱水素化のための熱処理(450℃、1時間)の
後、結晶化のための熱処理(600℃、12時間)を行
う。なお、ここでは、結晶化に上記公報記載の技術を用
いたが特に限定されず、公知の結晶化処理(レーザー結
晶化法、熱結晶化法等)を用いることが可能である。
粒内に残される欠陥を補修するためのレーザー光(Xe
Cl:波長308nm)の照射を行う。レーザー光には
波長400nm以下のエキシマレーザ光や、YAGレー
ザーの第2高調波、第3高調波を用いる。いずれにして
も、繰り返し周波数10〜1000Hz程度のパルスレー
ザー光を用い、当該レーザー光を光学系にて100〜4
00mJ/cm2に集光し、90〜95%のオーバーラップ率
をもって照射し、シリコン膜表面を走査させればよい。
iをゲッタリングする。ここでは、ゲッタリング方法と
して希ガス元素を含む半導体層を用いて行う例を示す。
上記レーザー光の照射により形成された酸化膜に加え、
オゾン水で表面を120秒処理して合計1〜5nmの酸
化膜からなるバリア層を形成する。次いで、バリア層上
にスパッタ法にてゲッタリングサイトとなるアルゴン元
素を含む非晶質シリコン膜を膜厚150nmで形成す
る。本実施例のスパッタ法による成膜条件は、成膜圧力
を0.3Paとし、ガス(Ar)流量を50(sccm)と
し、成膜パワーを3kWとし、基板温度を150℃とす
る。なお、上記条件での非晶質シリコン膜に含まれるア
ルゴン元素の原子濃度は、3×1020/cm3〜6×1020
/cm3、酸素の原子濃度は1×1019/cm3〜3×1019/c
m3である。その後、ランプアニール装置を用いて650
℃、3分の熱処理を行いゲッタリングする。なお、ラン
プアニール装置の代わりに電気炉を用いてもよい。
として、ゲッタリングサイトであるアルゴン元素を含む
非晶質シリコン膜を選択的に除去した後、バリア層を希
フッ酸で選択的に除去する。なお、ゲッタリングの際、
ニッケルは酸素濃度の高い領域に移動しやすい傾向があ
るため、酸化膜からなるバリア層をゲッタリング後に除
去することが望ましい。
リシリコン膜とも呼ばれる)の表面にオゾン水で薄い酸
化膜を形成した後、レジストからなるマスクを形成し、
所望の形状にエッチング処理して島状に分離された半導
体層305を形成する。半導体層305を形成した後、
レジストからなるマスクを除去し、さらに半導体層30
5を覆うゲート絶縁膜306を100nmの膜厚で形成
した後、熱酸化を行う。
にp型またはn型の不純物元素を低濃度に添加するチャ
ネルドープ工程を全面または選択的に行う。このチャネ
ルドープ工程は、TFTのしきい値電圧を制御するため
の工程である。なお、半導体に対してp型を付与する不
純物元素には、ボロン(B)、アルミニウム(Al)、
ガリウム(Ga)など周期律第13族元素が知られてい
る。また、半導体に対してn型を付与する不純物元素と
しては周期律15族に属する元素、典型的にはリン
(P)または砒素(As)が知られている。なお、ここ
ではジボラン(B2H6)を質量分離しないでプラズマ励
起したイオンドープ法でボロンを添加する。もちろん、
質量分離を行うイオンインプランテーション法を用いて
もよい。
ングを行ってゲート電極307および容量配線308を
形成する。ここでは、窒化タンタル(TaN)(膜厚3
0nm)とタングステン(膜厚370nm)との積層構
造を用いる。また、本実施例ではダブルゲート構造とす
る。なお、保持容量は、ゲート絶縁膜306を誘電体と
し、容量配線308と半導体層305の一部である領域
a(303a)とで構成されている。
308をマスクとして自己整合的にリンを低濃度に添加
する。この低濃度に添加された領域のリンの濃度が、1
×1016〜5×1018/cm3、代表的には3×1017〜3
×1018/cm3となるように調整する。
ンを高濃度に添加し、ソース領域302またはドレイン
領域303となる高濃度不純物領域を形成する。この高
濃度不純物領域のリンの濃度が1×1020〜1×1021
/cm3(代表的には2×1020〜5×1020/cm3)となる
ように調整する。なお、半導体層305のうち、ゲート
電極307と重なる領域はチャネル形成領域304とな
り、マスクで覆われた領域は低濃度不純物領域となりL
DD領域311となる。さらに、ゲート電極307、容
量配線308、およびマスクのいずれにも覆われない領
域は、ソース領域302、ドレイン領域303を含む高
濃度不純物領域となる。
TFTと駆動回路のTFTを形成するが、駆動回路のT
FTにおいてもチャネル形成領域の両側であって、ソー
スおよびドレイン領域との間にソースおよびドレイン領
域よりも不純物濃度の低い低濃度不純物領域を設けても
よいし、片側に低濃度不純物領域を設けてもよい。しか
し、必ずしも両側に低濃度不純物領域を設ける必要はな
く、実施者が適宜マスクを設計すればよい。
一基板上に形成される駆動回路に用いるpチャネル型T
FTを形成するために、マスクでnチャネル型TFTと
なる領域を覆い、ボロンを添加してソース領域またはド
レイン領域を形成する。
307および容量配線308を覆う第1絶縁膜309を
形成する。ここでは、酸化シリコン膜を50nmの膜厚
で形成し、半導体層305にそれぞれの濃度で添加され
たn型またはp型不純物元素を活性化するための熱処理
工程を行う。ここでは850℃、30分の加熱処理を行
う(図3(A))。なお、ここでの画素上面図を図4に
示す。図4において、点線A−A’で切断した断面図が
図3(A)に相当する。
材料からなる第2絶縁膜313を形成する。ここでは膜
厚1μmのアクリル膜を用いることにより、第2絶縁膜
313の表面を平坦化することができる。これにより、
第2絶縁膜813の下層に形成されるパターンにより生
じる段差の影響を防ぐことができる。次いで、第2絶縁
膜313上にマスクを形成し、半導体層305に達する
コンタクトホール312を形成する(図3(B))。そ
して、コンタクトホール312の形成後にマスクを除去
する。なお、ここでの画素上面図を図5に示す。図5に
おいて、点線A−A’で切断した断面図が図3(B)に
相当する。
は酸化インジウム・スズ(ITO)膜)をスパッタリン
グ法により成膜し、これをフォトリソグラフィーの技術
を用いて矩形にパターニングする。そして、ウエットエ
ッチング処理を行った後で、クリーンオーブンにより2
50℃、60分の加熱処理を行うことにより、透明電極
313を形成する(図3(C))。なお、ここでの画素
上面図を図6に示す。図6において、点線A−A’で切
断した断面図が図3(C)に相当する。
ターニングすることにより、透明電極313上に形成さ
れる反射電極314の他、ソース線でもある配線315
や、TFT310と透明電極313とを電気的に接続す
る配線316を形成する。なお、ここで形成される第2
の導電膜は、本発明における反射電極を形成するための
反射性導電膜であり、アルミニウム、銀等の他、これら
を主成分とする合金材料を用いることができる。
i膜を50nm、Siを含むアルミニウム膜500nm
をスパッタ法で連続して形成した2層構造の積層膜を用
いている。
ソグラフィーの技術を用い、複数の島状パターンからな
る反射電極314、および配線315、316を形成す
る。また、ここで用いるエッチング方法としては、ドラ
イエッチング法を用い、テーパーエッチングおよび異方
性エッチングを行う。
て、テーパーエッチングを行うための第1のエッチング
処理を行う。第1のエッチング処理では第1及び第2の
エッチング条件で行う。エッチングにはICP(Induct
ively Coupled Plasma:誘導結合型プラズマ)エッチン
グ法を用いると良い。ICPエッチング法を用い、エッ
チング条件(コイル型の電極に印加される電力量、基板
側の電極に印加される電力量、基板側の電極温度等)を
適宜調節することによって所望のテーパー形状に膜をエ
ッチングすることができる。なお、エッチング用ガスと
しては、Cl2、BCl3、SiCl4、CCl4などを代
表とする塩素系ガスまたはCF4、SF 6、NF3などを
代表とするフッ素系ガス、またはO2を適宜用いること
ができる。
て、ICP(Inductively CoupledPlasma:誘導結合型
プラズマ)エッチング法を用い、エッチング用ガスにB
Cl 3とCl2とO2とを用い、それぞれのガス流量比を
65/10/5(sccm)とし、1.2Paの圧力で
コイル型の電極に500WのRF(13.56MHz)
電力を投入してプラズマを生成してエッチングを行う。
基板側(試料ステージ)にも300WのRF(13.5
6MHz)電力を投入し、実質的に負の自己バイアス電
圧を印加する。この第1のエッチング条件によりSiを
含むアルミニウム膜をエッチングして第1の導電層の端
部をテーパー形状とする。
ング条件に変え、エッチング用ガスにCF4とCl2とO
2とを用い、それぞれのガス流量比を25/25/10
(sccm)とし、1Paの圧力でコイル型の電極に5
00WのRF(13.56MHz)電力を投入してプラ
ズマを生成して約30秒程度のエッチングを行った。基
板側(試料ステージ)にも20WのRF(13.56M
Hz)電力を投入し、実質的に負の自己バイアス電圧を
印加する。CF4とCl2を混合した第2のエッチング条
件では、Siを含むアルミニウム膜及びTi膜とも同程
度にエッチングされる。
1の導電層と第2の導電層から成る第2の導電膜をテー
パー形状とすることができる。
ずに異方性エッチングを行うための第2のエッチング処
理を行う。ここでは、エッチング用ガスにBCl3とC
l2とを用い、それぞれのガス流量比を80/20(s
ccm)とし、1Paの圧力でコイル型の電極に300
WのRF(13.56MHz)電力を投入してプラズマ
を生成してエッチングを行う。基板側(試料ステージ)
にも50WのRF(13.56MHz)電力を投入し、
実質的に負の自己バイアス電圧を印加する。
315、316が形成されたところで、レジストを除去
し、図3(D)に示す構造を得る。なお、ここでの画素
上面図を図7に示す。図7において、点線A−A’で切
断した断面図が図3(D)に相当する。
透明電極313上にランダムに形成することにより、透
明電極313と反射電極314とが重なって形成されて
いる部分においては、光は反射電極314により反射さ
れ、反射電極314が形成されずに透明電極313が表
面に露出している部分においては、光は透明電極313
の内部を透過し、基板301側へ出射する。
るnチャネル型TFT、及び保持容量を有する画素部
と、nチャネル型TFT及びpチャネル型TFTを有す
る駆動回路と、を同一基板上に形成することができる。
本明細書中ではこのような基板を便宜上アクティブマト
リクス基板と呼ぶ。
工程に限定されないことはいうまでもない。例えば、各
導電膜としては、タンタル(Ta)、チタン(Ti)、
モリブデン(Mo)、タングステン(W)、クロム(C
r)、シリコン(Si)から選ばれた元素、または元素
を組み合わせた合金膜(代表的には、Mo―W合金、M
o―Ta合金)を用いることができる。また、各絶縁膜
としては、酸化シリコン膜や窒化シリコン膜や酸化窒化
シリコン膜や有機樹脂材料(ポリイミド、アクリル、ポ
リアミド、ポリイミドアミド、BCB(ベンゾシクロブ
テン)等)膜を用いることができる。
(D)に示すように配線パターンマスクを用いて、反射
電極314、および配線(315、316)を同時に形
成することができるため、アクティブマトリクス基板の
作製に必要なフォトマスクの数を増やすことなく反射電
極を透明電極上に島状に複数分離形成することができ
る。その結果、半透過型の液晶表示装置の作製におい
て、工程を短縮し、製造コストの低減及び歩留まりの向
上に寄与することができる。
構造の異なる半透過型の液晶表示装置の作製方法につい
て図8〜図10を用いて詳細に説明する。
上に非晶質半導膜を形成し、これを結晶化した後、パタ
ーニングにより島状に分離された半導体層805を形成
する。さらに、半導体層805上には、絶縁膜からなる
ゲート絶縁膜806が形成される。なお、ゲート絶縁膜
806が形成されるまでの作製方法については、実施例
1で示したのと同様であるので実施例1を参照すればよ
い。また、同様にして半導体層805を覆う絶縁膜を形
成した後、熱酸化を行い、ゲート絶縁膜806を形成す
る。
にp型またはn型の不純物元素を低濃度に添加するチャ
ネルドープ工程を全面または選択的に行う。
形成し、これをパターニングすることによりゲート電極
807、容量配線808、およびソース線となる配線8
09を形成することができる。なお、本実施例における
第1の導電膜は50〜100nmの厚さに形成したTa
N(窒化タンタル)と、100〜400nmの厚さに形
成したW(タングステン)とを積層することにより形成
する。
膜を用いて導電膜を形成したが、特に限定されず、いず
れもTa、W、Ti、Mo、Al、Cuから選ばれた元
素、または前記元素を主成分とする合金材料若しくは化
合物材料で形成してもよい。また、リン等の不純物元素
をドーピングした多結晶シリコン膜に代表される半導体
膜を用いてもよい。
08をマスクとして自己整合的にリンを低濃度に添加す
る。この低濃度に添加された領域のリンの濃度が、1×
10 16〜5×1018/cm3、代表的には3×1017〜3×
1018/cm3となるように調整する。
ンを高濃度に添加し、ソース領域802またはドレイン
領域803となる高濃度不純物領域を形成する。この高
濃度不純物領域のリンの濃度が1×1020〜1×1021
/cm3(代表的には2×1020〜5×1020/cm3)となる
ように調整する。なお、半導体層805のうち、ゲート
電極807と重なる領域はチャネル形成領域804とな
り、マスクで覆われた領域は低濃度不純物領域となりL
DD領域811となる。さらに、ゲート電極807、容
量配線808、およびマスクのいずれにも覆われない領
域は、ソース領域802、ドレイン領域803を含む高
濃度不純物領域となる。
にして、画素と同一基板上に形成される駆動回路に用い
るpチャネル型TFTを形成するために、マスクでnチ
ャネル型TFTとなる領域を覆い、ボロンを添加してソ
ース領域またはドレイン領域を形成する。
807、容量配線808および配線(ソース線)809
を覆う第1絶縁膜810を形成する。ここでは、酸化シ
リコン膜を50nmの膜厚で形成し、半導体層805に
それぞれの濃度で添加されたn型またはp型不純物元素
を活性化するための熱処理工程を行う。ここでは850
℃、30分の加熱処理を行う(図8(A))。なお、こ
こでの画素上面図を図9に示す。図9において、点線A
−A’で切断した断面図が図8(A)に相当する。
材料からなる第2絶縁膜813を形成する。ここでは膜
厚1μmのアクリル膜を用いることにより、第2絶縁膜
813の表面を平坦化することができる。これにより、
第2絶縁膜813の下層に形成されるパターンにより生
じる段差の影響を防ぐことができる。次いで、第2絶縁
膜813上にマスクを形成し、半導体層805に達する
コンタクトホール812をエッチングにより形成する
(図8(B))。そして、コンタクトホール812の形
成後にマスクを除去する。
は酸化インジウム・スズ(ITO)膜)をスパッタリン
グ法により成膜し、これをフォトリソグラフィーの技術
を用いて矩形にパターニングする。そして、ウエットエ
ッチング処理を行った後で、クリーンオーブンにより2
50℃、60分の加熱処理を行うことにより、透明電極
813を形成する(図8(C))。なお、ここでの画素
上面図を図9に示す。図9において、点線A−A’で切
断した断面図が図8(C)に相当する。
ターニングすることにより、透明電極813上に形成さ
れる反射電極814の他、配線(ソース線)809とT
FT810のソース領域とを電気的に接続する配線81
5や、TFT810のドレイン領域とコンタクトを形成
するための配線816や、TFT810のドレイン領域
と透明電極813とを電気的に接続する配線817を形
成する。なお、ここで形成される第2の導電膜は、本発
明における反射電極を形成するための反射性導電膜であ
り、アルミニウム、銀等の他、これらを主成分とする合
金材料を用いることができる。
i膜を50nm、Siを含むアルミニウム膜500nm
をスパッタ法で連続して形成した2層構造の積層膜を用
いている。
ソグラフィーの技術を用い、複数の島状パターンからな
る反射電極814、および配線815、816、817
を形成する。また、ここで用いるエッチング方法として
は、ドライエッチング法を用い、テーパーエッチングお
よび異方性エッチングを行う。
て、テーパーエッチングを行うための第1のエッチング
処理を行う。第1のエッチング処理では第1及び第2の
エッチング条件で行う。エッチングにはICP(Induct
ively Coupled Plasma:誘導結合型プラズマ)エッチン
グ法を用いると良い。ICPエッチング法を用い、エッ
チング条件(コイル型の電極に印加される電力量、基板
側の電極に印加される電力量、基板側の電極温度等)を
適宜調節することによって所望のテーパー形状に膜をエ
ッチングすることができる。なお、エッチング用ガスと
しては、Cl2、BCl3、SiCl4、CCl4などを代
表とする塩素系ガスまたはCF4、SF 6、NF3などを
代表とするフッ素系ガス、またはO2を適宜用いること
ができる。
て、ICP(Inductively CoupledPlasma:誘導結合型
プラズマ)エッチング法を用い、エッチング用ガスにB
Cl 3とCl2とO2とを用い、それぞれのガス流量比を
65/10/5(sccm)とし、1.2Paの圧力で
コイル型の電極に500WのRF(13.56MHz)
電力を投入してプラズマを生成してエッチングを行う。
基板側(試料ステージ)にも300WのRF(13.5
6MHz)電力を投入し、実質的に負の自己バイアス電
圧を印加する。この第1のエッチング条件によりSiを
含むアルミニウム膜をエッチングして第1の導電層の端
部をテーパー形状とする。
ング条件に変え、エッチング用ガスにCF4とCl2とO
2とを用い、それぞれのガス流量比を25/25/10
(sccm)とし、1Paの圧力でコイル型の電極に5
00WのRF(13.56MHz)電力を投入してプラ
ズマを生成して約30秒程度のエッチングを行った。基
板側(試料ステージ)にも20WのRF(13.56M
Hz)電力を投入し、実質的に負の自己バイアス電圧を
印加する。CF4とCl2を混合した第2のエッチング条
件では、Siを含むアルミニウム膜及びTi膜とも同程
度にエッチングされる。
1の導電層と第2の導電層から成る第2の導電膜をテー
パー形状とすることができる。
ずに異方性エッチングを行うための第2のエッチング処
理を行う。ここでは、エッチング用ガスにBCl3とC
l2とを用い、それぞれのガス流量比を80/20(s
ccm)とし、1Paの圧力でコイル型の電極に300
WのRF(13.56MHz)電力を投入してプラズマ
を生成してエッチングを行う。基板側(試料ステージ)
にも50WのRF(13.56MHz)電力を投入し、
実質的に負の自己バイアス電圧を印加する。
815、816、817が形成されたところで、レジス
トを除去し、図8(D)に示す構造を得る。なお、ここ
での画素上面図を図10に示す。図10において、点線
A−A’で切断した断面図が図8(D)に相当する。
ルゲート構造を有するnチャネル型TFT、及び保持容
量を有する画素部と、nチャネル型TFT及びpチャネ
ル型TFTを有する駆動回路とが同一基板上に有するア
クティブマトリクス基板が形成される。
(D)に示すように配線パターンマスクを用いて、反射
電極814、および配線(815、816、817)を
同時に形成することができるため、アクティブマトリク
ス基板の作製に必要なフォトマスクの数を増やすことな
く反射電極を透明電極上に島状に複数分離形成すること
ができる。その結果、半透過型の液晶表示装置の作製に
おいて、工程を短縮し、製造コストの低減及び歩留まり
の向上に寄与することができる。
び実施例2で示したのとは構造の異なるアクティブマト
リクス基板を作製する方法について図12を用いて説明
する。
電極1207、ソース領域1202、ドレイン領域12
03、および配線(1212、1213)とを有するT
FT1215が形成されている。なお、配線(121
2、1213)は、ソース領域、およびドレイン領域と
それぞれ電気的に接続されている。
クス基板は、透明電極1211が配線(1212、12
13)よりも後に形成される点で実施例1、および実施
例2と異なる。
に第2絶縁膜1210を形成し、これにコンタクトホー
ルを形成した後、第2の導電膜が形成される。なお、こ
こで用いる第2の導電膜の材料としては、実施例1また
は実施例2と同じ材料を用いることができる。
ことにより配線(1212、1213)、および反射電
極1214を形成することができる。なお、複数の島状
のパターンを有する反射電極1214は、実施例1また
は実施例2において形成された反射電極の形成方法と同
様の方法により形成することができる。しかし、本実施
例における反射電極1214は、第2絶縁膜1210上
に島状に分離して形成されるので、形成時においては、
TFT1215との電気的な接続はされていないが、こ
の後、配線1213上の一部、および反射電極1214
上に透明性導電膜を積層形成して透明電極1211を形
成することにより、電気的な接続を形成することができ
る。
ブマトリクス基板も実施例4に示す方法を実施すること
により液晶表示装置として作製することができる。
製したアクティブマトリクス基板から、半透過型の液晶
表示装置を作製する工程を以下に説明する。説明には図
11の断面図を用いる。
ティブマトリクス基板を得た後、図11に示すようにア
クティブマトリクス基板上に配向膜1119を形成し、
ラビング処理を行う。なお、本実施例では配向膜111
9を形成する前に、基板間隔を保持するための球状のス
ペーサ1121を基板全面に散布した。また、球状のス
ペーサ1121に代えて、アクリル樹脂膜等の有機樹脂
膜をパターニングすることによって柱状のスペーサを所
望の位置に形成してもよい。
122上に着色層1123(1123a、1123
b)、および平坦化膜1124を形成する。なお、着色
層1123として、赤色の着色層1123a、青色の着
色層1123b、および緑色の着色層(図示せず)とが
形成される。なお、ここでは図示しないが、赤色の着色
層1123aと青色の着色層1123bとを一部重ねた
り、また、赤色の着色層1123aと緑色の着色層(図
示せず)とを一部重ねたりして、遮光部を形成してもよ
い。
膜からなる対向電極1125を画素部となる位置に形成
し、基板1122の全面に配向膜1126を形成し、ラ
ビング処理を施すことにより対向基板1128を得る。
されたアクティブマトリクス基板と対向基板1128と
をシール剤(図示せず)で貼り合わせる。シール剤には
フィラーが混入されていて、このフィラーと球状スペー
サによって均一な間隔(好ましくは2.0〜3.0μ
m)を持って2枚の基板が貼り合わされる。その後、両
基板の間に液晶材料1127を注入し、封止剤(図示せ
ず)によって完全に封止する。液晶材料1127には公
知の液晶材料を用いれば良い。このようにして図11に
示す半透過型液晶表示装置が完成する。そして、必要が
あれば、アクティブマトリクス基板または対向基板11
28を所望の形状に分断する。さらに、公知の技術を用
いて偏光板等を適宜設けた。そして、公知の技術を用い
てFPCを貼りつける。
図15の上面図を用いて説明する。アクティブマトリク
ス基板1501の中央には、画素部1504が配置され
ている。画素部1504の上側には、ソース信号線を駆
動するためのソース信号線駆動回路1502が配置され
ている。画素部1504の左右には、ゲート信号線を駆
動するためのゲート信号線駆動回路1503が配置され
ている。本実施例に示した例では、ゲート信号線駆動回
路1503は画素部に対して左右対称配置としている
が、これは片側のみの配置でも良く、液晶モジュールの
基板サイズ等を考慮して、設計者が適宜選択すれば良
い。ただし、回路の動作信頼性や駆動効率等を考える
と、図15に示した左右対称配置が望ましい。
ルプリント基板(Flexible Print Circuit:FPC)1
505から行われる。FPC1505は、基板1501
の所定の場所まで配置された配線に達するように、層間
絶縁膜および樹脂膜にコンタクトホールを開口し、接続
電極(図示せず)を形成した後、異方性導電膜等を介し
て圧着される。本実施例においては、接続電極はITO
を用いて形成した。
沿ってシール剤1507が塗布され、あらかじめアクテ
ィブマトリクス基板上に形成されたスペーサによって一
定のギャップ(基板1501と対向基板1506との間
隔)を保った状態で、対向基板806が貼り付けられ
る。その後、シール剤1507が塗布されていない部分
より液晶素子が注入され、封止剤1508によって密閉
される。以上の工程により、液晶モジュールが完成す
る。また、ここでは全ての駆動回路を基板上に形成した
例を示したが、駆動回路の一部に数個のICを用いても
よい。以上のようにして、アクティブマトリクス型液晶
表示装置が完成する。
気光学装置におけるブロック図を図13、14に示す。
なお、図13には、アナログ駆動を行うための回路構成
が示されている。本実施例は、ソース側駆動回路90、
画素部91およびゲート側駆動回路92を有している電
気光学装置について示している。なお、本明細書中にお
いて、駆動回路とはソース側処理回路およびゲート側駆
動回路を含めた総称を指している。
90a、バッファ90b、サンプリング回路(トランス
ファゲート)90cを設けている。また、ゲート側駆動
回路92は、シフトレジスタ92a、レベルシフタ92
b、バッファ92cを設けている。また、必要であれば
サンプリング回路とシフトレジスタとの間にレベルシフ
タ回路を設けてもよい。
数の画素からなり、その複数の画素各々がTFT素子を
含んでいる。
んでゲート側駆動回路92の反対側にさらにゲート側駆
動回路を設けても良い。
に示すように、サンプリング回路の代わりにラッチ
(A)93b、ラッチ(B)93cを設ければよい。ソ
ース側駆動回路93は、シフトレジスタ93a、ラッチ
(A)93b、ラッチ(B)93c、D/Aコンバータ
93d、バッファ93eを設けている。また、ゲート側
駆動回路95は、シフトレジスタ95a、レベルシフタ
95b、バッファ95cを設けている。また、必要であ
ればラッチ(B)93cとD/Aコンバータ93dとの
間にレベルシフタ回路を設けてもよい。
2に示した製造工程に従って実現することができる。ま
た、本実施例では画素部と駆動回路の構成のみ示してい
るが、本発明の製造工程に従えば、メモリやマイクロプ
ロセッサをも形成しうる。
半透過型の液晶表示装置は様々な電気光学装置に用いる
ことができる。そして、そのような電気光学装置を表示
媒体として組み込んだ電気器具全てに本発明を適用する
ことができる。
て作製された電気器具として、ビデオカメラ、デジタル
カメラ、ナビゲーションシステム、音響再生装置(カー
オーディオ、オーディオコンポ等)、ノート型パーソナ
ルコンピュータ、ゲーム機器、携帯情報端末(モバイル
コンピュータ、携帯電話、携帯型ゲーム機または電子書
籍等)、記録媒体を備えた画像再生装置(具体的にはデ
ジタルビデオディスク(DVD)等の記録媒体を再生
し、その画像を表示しうる表示装置を備えた装置)など
が挙げられる。それら電気器具の具体例を図16に示
す。
り、本体2101、表示部2102、受像部2103、
操作キー2104、外部接続ポート2105、シャッタ
ー2106等を含む。本発明により作製した液晶表示装
置をその表示部2102に用いることにより作製され
る。
ュータであり、本体2201、筐体2202、表示部2
203、キーボード2204、外部接続ポート220
5、ポインティングマウス2206等を含む。本発明に
より作製した液晶表示装置をその表示部2203に用い
ることにより作製される。
り、本体2301、表示部2302、スイッチ230
3、操作キー2304、赤外線ポート2305等を含
む。本発明により作製した液晶表示装置をその表示部2
302に用いることにより作製される。
画像再生装置(具体的にはDVD再生装置)であり、本
体2401、筐体2402、表示部A2403、表示部
B2404、記録媒体(DVD等)読み込み部240
5、操作キー2406、スピーカー部2407等を含
む。表示部A2403は主として画像情報を表示し、表
示部B2404は主として文字情報を表示するが、本発
明により作製した液晶表示装置をこれら表示部A、B2
403、2404に用いることにより作製される。な
お、記録媒体を備えた画像再生装置には家庭用ゲーム機
器なども含まれる。
2601、表示部2602、筐体2603、外部接続ポ
ート2604、リモコン受信部2605、受像部260
6、バッテリー2607、音声入力部2608、操作キ
ー2609、接眼部2610等を含む。本発明により作
製した液晶表示装置をその表示部2602に用いること
により作製される。
体2701、筐体2702、表示部2703、音声入力
部2704、音声出力部2705、操作キー2706、
外部接続ポート2707、アンテナ2708等を含む。
本発明により作製した液晶表示装置をその表示部270
3に用いることにより作製される。なお、表示部270
3は黒色の背景に白色の文字を表示することで携帯電話
の消費電力を抑えることができる。
晶表示装置の適用範囲は極めて広く、あらゆる分野の電
気器具を作製することが可能である。また、本実施の形
態の電気器具は実施例1〜実施例5を実施することによ
り作製された液晶表示装置を用いることにより完成させ
ることができる。
り、半透過型の液晶表示装置の作製において、透明電極
と、反射電極とで凹凸構造を形成することにより光の散
乱性を高めることができるので、ディスプレイの視認性
を向上させることができる。また、反射電極となる複数
の島状パターンは、導電膜をエッチングすることにより
配線と同時に形成することができるため、大幅なコスト
削減と、生産性の向上を実現することができる。
る図。
る図。
る図。
る図。
る図。
る図。
る図。
る図。
る図。
図。
る図。
明する図。
明する図。
図。
Claims (11)
- 【請求項1】絶縁表面上に形成された透明性導電膜と、 前記透明性導電膜上に形成された配線および複数の島状
のパターンを有し、 前記透明性導電膜、前記配線、および前記複数の島状の
パターンは電気的に接続されることを特徴とする液晶表
示装置。 - 【請求項2】絶縁表面上に形成された透明性導電膜と、 前記透明性導電膜上に同時に形成された配線および複数
の島状のパターンとを有し、 前記透明性導電膜、前記配線、および前記複数の島状の
パターンは電気的に接続されることを特徴とする液晶表
示装置。 - 【請求項3】基板上に形成された薄膜トランジスタと、 前記薄膜トランジスタ上に絶縁膜を介して形成された透
明性導電膜と、 前記透明性導電膜上に形成された配線および複数の島状
のパターンとを有し、 前記配線は、前記薄膜トランジスタおよび前記透明性導
電膜を電気的に接続することを特徴とする液晶表示装
置。 - 【請求項4】基板上に形成された薄膜トランジスタと、 前記薄膜トランジスタ上に絶縁膜を介して形成された透
明性導電膜と、 前記透明性導電膜上に同時に形成された配線および複数
の島状のパターンとを有し、 前記配線は、前記薄膜トランジスタおよび前記透明性導
電膜を電気的に接続することを特徴とする液晶表示装
置。 - 【請求項5】第1の透明性導電膜、配線および複数の島
状のパターンとを有する第1の基板と、第2の透明性導
電膜を有する第2の基板と、液晶とを有し、 前記配線および前記複数の島状のパターンは、前記第1
の透明性導電膜上に形成され、 前記透明性導電膜、前記配線、および前記複数の島状の
パターンは電気的に接続され、 前記第1の基板の膜形成面と、前記第2の基板の膜形成
面と、が互いに向き合って配置され、かつ前記第1の基
板と、前記第2の基板と、の間に前記液晶が挟まれてい
ることを特徴とする液晶表示装置。 - 【請求項6】第1の透明性導電膜、配線および複数の島
状のパターンとを有する第1の基板と、第2の透明性導
電膜を有する第2の基板と、液晶とを有し、 前記配線および前記複数の島状のパターンは、前記第1
の透明性導電膜上に同時に形成され、 前記透明性導電膜、前記配線、および前記複数の島状の
パターンは電気的に接続され、 前記第1の基板の膜形成面と、前記第2の基板の膜形成
面と、が互いに向き合って配置され、かつ前記第1の基
板と、前記第2の基板と、の間に前記液晶が挟まれてい
ることを特徴とする液晶表示装置。 - 【請求項7】薄膜トランジスタ、第1の透明性導電膜、
配線および複数の島状のパターンとを有する第1の基板
と、第2の透明性導電膜を有する第2の基板と、液晶と
を有し、 前記配線および前記複数の島状のパターンは、前記第1
の透明性導電膜上に形成され、 前記配線は、前記薄膜トランジスタと、前記第1の透明
性導電膜および前記複数の島状のパターンとを電気的に
接続し、 前記第1の基板の膜形成面と、前記第2の基板の膜形成
面と、が互いに向き合って配置され、かつ前記第1の基
板と、前記第2の基板と、の間に前記液晶が挟まれてい
ることを特徴とする液晶表示装置。 - 【請求項8】薄膜トランジスタ、第1の透明性導電膜、
配線および複数の島状のパターンとを有する第1の基板
と、第2の透明性導電膜を有する第2の基板と、液晶と
を有し、 前記配線および前記複数の島状のパターンは、前記第1
の透明性導電膜上に同時に形成され、 前記配線は、前記薄膜トランジスタと、前記第1の透明
性導電膜および前記複数の島状のパターンとを電気的に
接続し、 前記第1の基板の膜形成面と、前記第2の基板の膜形成
面と、が互いに向き合って配置され、かつ前記第1の基
板と、前記第2の基板と、の間に前記液晶が挟まれてい
ることを特徴とする液晶表示装置。 - 【請求項9】請求項1乃至請求項8のいずれか一におい
て、 前記複数の島状のパターンは、各パターン端部のテーパ
ー角が5〜60°であることを特徴とする液晶表示装
置。 - 【請求項10】請求項1乃至請求項9のいずれか一にお
いて、 前記複数の島状のパターンが占める面積の割合は、前記
透明性導電膜が占める面積の50〜90%であることを
特徴とする液晶表示装置。 - 【請求項11】請求項1乃至請求項10のいずれか一に
おいて、 前記液晶表示装置は、デジタルスチルカメラ、ノート型
パーソナルコンピュータ、モバイルコンピュータ、記録
媒体を備えた携帯型の画像再生装置、ビデオカメラ、携
帯電話から選ばれた一種であることを特徴とする液晶表
示装置。
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