JP2002160943A - 非晶質材料の加工方法及びガラス基板 - Google Patents

非晶質材料の加工方法及びガラス基板

Info

Publication number
JP2002160943A
JP2002160943A JP2001267198A JP2001267198A JP2002160943A JP 2002160943 A JP2002160943 A JP 2002160943A JP 2001267198 A JP2001267198 A JP 2001267198A JP 2001267198 A JP2001267198 A JP 2001267198A JP 2002160943 A JP2002160943 A JP 2002160943A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
amorphous material
processing
layer
inorganic glass
material according
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Granted
Application number
JP2001267198A
Other languages
English (en)
Other versions
JP4034056B2 (ja
Inventor
Junji Kurachi
淳史 倉知
Kazuishi Mitani
一石 三谷
Yasuhiro Saito
靖弘 斉藤
Hiroyuki Inomata
宏之 猪又
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Nippon Sheet Glass Co Ltd
Original Assignee
Nippon Sheet Glass Co Ltd
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Nippon Sheet Glass Co Ltd filed Critical Nippon Sheet Glass Co Ltd
Priority to JP2001267198A priority Critical patent/JP4034056B2/ja
Priority to US09/949,692 priority patent/US6913702B2/en
Publication of JP2002160943A publication Critical patent/JP2002160943A/ja
Priority to US11/131,816 priority patent/US7727407B2/en
Application granted granted Critical
Publication of JP4034056B2 publication Critical patent/JP4034056B2/ja
Anticipated expiration legal-status Critical
Expired - Fee Related legal-status Critical Current

Links

Classifications

    • CCHEMISTRY; METALLURGY
    • C03GLASS; MINERAL OR SLAG WOOL
    • C03CCHEMICAL COMPOSITION OF GLASSES, GLAZES OR VITREOUS ENAMELS; SURFACE TREATMENT OF GLASS; SURFACE TREATMENT OF FIBRES OR FILAMENTS MADE FROM GLASS, MINERALS OR SLAGS; JOINING GLASS TO GLASS OR OTHER MATERIALS
    • C03C19/00Surface treatment of glass, not in the form of fibres or filaments, by mechanical means
    • BPERFORMING OPERATIONS; TRANSPORTING
    • B24GRINDING; POLISHING
    • B24BMACHINES, DEVICES, OR PROCESSES FOR GRINDING OR POLISHING; DRESSING OR CONDITIONING OF ABRADING SURFACES; FEEDING OF GRINDING, POLISHING, OR LAPPING AGENTS
    • B24B37/00Lapping machines or devices; Accessories
    • B24B37/04Lapping machines or devices; Accessories designed for working plane surfaces
    • B24B37/042Lapping machines or devices; Accessories designed for working plane surfaces operating processes therefor
    • BPERFORMING OPERATIONS; TRANSPORTING
    • B24GRINDING; POLISHING
    • B24BMACHINES, DEVICES, OR PROCESSES FOR GRINDING OR POLISHING; DRESSING OR CONDITIONING OF ABRADING SURFACES; FEEDING OF GRINDING, POLISHING, OR LAPPING AGENTS
    • B24B7/00Machines or devices designed for grinding plane surfaces on work, including polishing plane glass surfaces; Accessories therefor
    • B24B7/20Machines or devices designed for grinding plane surfaces on work, including polishing plane glass surfaces; Accessories therefor characterised by a special design with respect to properties of the material of non-metallic articles to be ground
    • B24B7/22Machines or devices designed for grinding plane surfaces on work, including polishing plane glass surfaces; Accessories therefor characterised by a special design with respect to properties of the material of non-metallic articles to be ground for grinding inorganic material, e.g. stone, ceramics, porcelain
    • B24B7/24Machines or devices designed for grinding plane surfaces on work, including polishing plane glass surfaces; Accessories therefor characterised by a special design with respect to properties of the material of non-metallic articles to be ground for grinding inorganic material, e.g. stone, ceramics, porcelain for grinding or polishing glass
    • CCHEMISTRY; METALLURGY
    • C03GLASS; MINERAL OR SLAG WOOL
    • C03CCHEMICAL COMPOSITION OF GLASSES, GLAZES OR VITREOUS ENAMELS; SURFACE TREATMENT OF GLASS; SURFACE TREATMENT OF FIBRES OR FILAMENTS MADE FROM GLASS, MINERALS OR SLAGS; JOINING GLASS TO GLASS OR OTHER MATERIALS
    • C03C15/00Surface treatment of glass, not in the form of fibres or filaments, by etching
    • CCHEMISTRY; METALLURGY
    • C03GLASS; MINERAL OR SLAG WOOL
    • C03CCHEMICAL COMPOSITION OF GLASSES, GLAZES OR VITREOUS ENAMELS; SURFACE TREATMENT OF GLASS; SURFACE TREATMENT OF FIBRES OR FILAMENTS MADE FROM GLASS, MINERALS OR SLAGS; JOINING GLASS TO GLASS OR OTHER MATERIALS
    • C03C3/00Glass compositions
    • C03C3/04Glass compositions containing silica
    • C03C3/076Glass compositions containing silica with 40% to 90% silica, by weight
    • C03C3/083Glass compositions containing silica with 40% to 90% silica, by weight containing aluminium oxide or an iron compound
    • C03C3/085Glass compositions containing silica with 40% to 90% silica, by weight containing aluminium oxide or an iron compound containing an oxide of a divalent metal
    • C03C3/087Glass compositions containing silica with 40% to 90% silica, by weight containing aluminium oxide or an iron compound containing an oxide of a divalent metal containing calcium oxide, e.g. common sheet or container glass
    • CCHEMISTRY; METALLURGY
    • C03GLASS; MINERAL OR SLAG WOOL
    • C03CCHEMICAL COMPOSITION OF GLASSES, GLAZES OR VITREOUS ENAMELS; SURFACE TREATMENT OF GLASS; SURFACE TREATMENT OF FIBRES OR FILAMENTS MADE FROM GLASS, MINERALS OR SLAGS; JOINING GLASS TO GLASS OR OTHER MATERIALS
    • C03C3/00Glass compositions
    • C03C3/04Glass compositions containing silica
    • C03C3/076Glass compositions containing silica with 40% to 90% silica, by weight
    • C03C3/089Glass compositions containing silica with 40% to 90% silica, by weight containing boron
    • C03C3/091Glass compositions containing silica with 40% to 90% silica, by weight containing boron containing aluminium
    • CCHEMISTRY; METALLURGY
    • C03GLASS; MINERAL OR SLAG WOOL
    • C03CCHEMICAL COMPOSITION OF GLASSES, GLAZES OR VITREOUS ENAMELS; SURFACE TREATMENT OF GLASS; SURFACE TREATMENT OF FIBRES OR FILAMENTS MADE FROM GLASS, MINERALS OR SLAGS; JOINING GLASS TO GLASS OR OTHER MATERIALS
    • C03C3/00Glass compositions
    • C03C3/04Glass compositions containing silica
    • C03C3/076Glass compositions containing silica with 40% to 90% silica, by weight
    • C03C3/095Glass compositions containing silica with 40% to 90% silica, by weight containing rare earths
    • CCHEMISTRY; METALLURGY
    • C03GLASS; MINERAL OR SLAG WOOL
    • C03CCHEMICAL COMPOSITION OF GLASSES, GLAZES OR VITREOUS ENAMELS; SURFACE TREATMENT OF GLASS; SURFACE TREATMENT OF FIBRES OR FILAMENTS MADE FROM GLASS, MINERALS OR SLAGS; JOINING GLASS TO GLASS OR OTHER MATERIALS
    • C03C2204/00Glasses, glazes or enamels with special properties
    • C03C2204/08Glass having a rough surface
    • YGENERAL TAGGING OF NEW TECHNOLOGICAL DEVELOPMENTS; GENERAL TAGGING OF CROSS-SECTIONAL TECHNOLOGIES SPANNING OVER SEVERAL SECTIONS OF THE IPC; TECHNICAL SUBJECTS COVERED BY FORMER USPC CROSS-REFERENCE ART COLLECTIONS [XRACs] AND DIGESTS
    • Y10TECHNICAL SUBJECTS COVERED BY FORMER USPC
    • Y10STECHNICAL SUBJECTS COVERED BY FORMER USPC CROSS-REFERENCE ART COLLECTIONS [XRACs] AND DIGESTS
    • Y10S977/00Nanotechnology
    • Y10S977/84Manufacture, treatment, or detection of nanostructure
    • Y10S977/849Manufacture, treatment, or detection of nanostructure with scanning probe
    • Y10S977/855Manufacture, treatment, or detection of nanostructure with scanning probe for manufacture of nanostructure
    • Y10S977/856Manufacture, treatment, or detection of nanostructure with scanning probe for manufacture of nanostructure including etching/cutting

Landscapes

  • Chemical & Material Sciences (AREA)
  • Engineering & Computer Science (AREA)
  • Materials Engineering (AREA)
  • Chemical Kinetics & Catalysis (AREA)
  • General Chemical & Material Sciences (AREA)
  • Geochemistry & Mineralogy (AREA)
  • Life Sciences & Earth Sciences (AREA)
  • Organic Chemistry (AREA)
  • Mechanical Engineering (AREA)
  • Ceramic Engineering (AREA)
  • Inorganic Chemistry (AREA)
  • Glass Compositions (AREA)
  • Surface Treatment Of Glass (AREA)

Abstract

(57)【要約】 【課題】 均一な突起高さを有する表面凸部を非晶質材
料の所望位置に形成することができるようにした。 【解決手段】 無機ガラス1の表面にダイヤモンド製の
圧子2を所定の加圧力で押し当てて高密度化された圧縮
層4を形成し、次いで前記無機ガラス1をフッ酸を含有
する酸性エッチング液に浸漬して第1のエッチング処理
を行い、さらにpH11以上の水酸化カリウム水溶液等
のアルカリ性エッチング液に前記無機ガラス1を浸漬し
て変質層7を除去する第2のエッチング処理を行い、無
機ガラス1の表面に微小凸部5を形成する。

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【発明の属する技術分野】本発明は無機ガラス材料等の
非晶質材料の加工方法、及び該非晶質材料を使用したガ
ラス基板に関する。
【0002】
【従来の技術】非晶質材料としてのガラスは、高い硬度
と均質な物性を有し、安価で経済性に優れていることか
ら、従来から多岐にわたる分野で使用されている。
【0003】すなわち、表面に微小な突起が形成された
ガラス基板は、液晶表示素子では前記突起が所謂セルギ
ャップのギャップ長を決定する役割を果たし、セルギャ
ップ調整用のガラスビーズを使用することなく、所望の
セルギャップを有する液晶表示素子を製造することがで
きる。
【0004】また、この種の微小な突起や微小な凹凸が
表面に形成されたガラス基板は、光ディスクや光磁気デ
ィスクでも前記微小な凹凸が信号読取に重要な役割を果
たし、また、規則正しく配列された突起を有する光回折
格子を製造する上でもガラス基板は重要な部品となって
いる。
【0005】そして、この種のガラス基板は、ハードデ
ィスクドライブ(HDD)の磁気ディスク用基板にも広
く使用されている。
【0006】ところで、HDDでは、一般に、ディスク
が静止しているときは磁気ヘッドがディスク表面に接触
し、HDDが起動すると磁気ヘッドをディスクから僅か
に浮かせた状態でディスクを高速回転させるCSS(Co
ntact Start Stop)方式と呼称される駆動方式が採用さ
れている。
【0007】そして、HDDをCSS方式で駆動させる
場合、起動時から磁気ヘッドを浮かせる際に、磁気ヘッ
ドがディスクに固着したり或いは起動・停止時の摩擦を
低減させるために、テクスチャと呼称される微小凹凸を
ガラス基板の表面に形成することが一般に行われてい
る。すなわち、ガラスは脆性材料であり塑性材料に比べ
ると形状加工が著しく困難ではあるが、ディスク基板と
しての有用性から、従来より、ガラス基板の表面に微小
凹凸を形成する様々な方法が開発され、実用化されてい
る。
【0008】例えば、特開昭64−42025号公報に
は、フッ素を含む薬液、又はフッ化水素ガスを使用して
エッチング処理を行い、これによりガラス基板上に微小
凹凸を形成した技術が開示されている(第1の従来技
術)。
【0009】また、特開平7−296380号公報に
は、ガラス基板を結晶化処理し、その表面を鏡面研磨し
た後、フッ酸に硫酸又はフッ化アンモニウムを加えたエ
ッチング液により処理し、ガラス基板表面に微細な凹凸
を形成した技術が開示されている(第2の従来技術)。
【0010】さらに、特開平8−249654号公報に
は、超微粒子を単分散化した状態で基板に塗布し、次い
でドライエッチングにより表面保護層をエッチングした
後、超微粒子を除去して基板の表面に微細な凹凸を形成
した技術が開示されている(第3の従来技術)。
【0011】また、特開平7−182655号公報や特
開平9−194229号公報には、所定エネルギのレー
ザをガラス基板の表面に照射してレーザ照射部位を隆起
させ、これによりガラス基板の表面に突起部を形成した
技術が開示されている(第4の従来技術)。
【0012】
【発明が解決しようとする課題】しかしながら、上記第
1の従来技術では、所定の化学組成を有するガラスに対
し、フッ素を含む薬液、又はフッ化水素ガスを使用して
エッチング処理を行っているのみであるため、形成され
る表面凹凸は突起高さも不規則な粗面となり、均一な突
起高さを有するテクスチャを得ることは困難であるとい
う問題点があった。
【0013】また、上記第2の従来技術は、ガラス基板
を結晶化処理して結晶化層と非晶質層とを形成し、結晶
層と非結晶層とでエッチング速度が異なることを利用し
てガラス基板上に表面凹凸を形成したものであり、した
がって通常の均質なガラス材には適用することができな
いという問題点があった。
【0014】さらに、上記第3の従来技術では、基板上
に超微粒子を被着し、ドライエッチングを行った後、超
微粒子を除去しているので、通常の金属性マスクでマス
キングしてエッチング処理を施す場合と異なり、微小な
表面凹凸を形成することは可能と考えられるが、ドライ
エッチングはエッチング速度が遅く、このためコストの
高騰化を招き、大量生産には不向きであるという問題点
があった。
【0015】また、上記第4の従来技術は、ガラス基板
の表面にレーザを照射しているため、特定波長のレーザ
光に対し大きな吸光係数を持つガラス材に加工対象が限
定されるという問題点があった。また、該第4の従来技
術では、形成される凸部の突起高さはレーザ光の出力に
極めて敏感であるため、所望の突起高さを有する均一な
凸部を得ることは困難であるという問題点があった。
【0016】このように第1乃至第4の従来技術では、
未だ均一な突起高さを有する微小凹凸、特に微小凸部を
工業的に大量生産することができないという問題点があ
った。しかも、近年、HDDの分野においては、ディス
クのより一層の高密度化が要請されてきており、ディス
クの高密度化に伴ってガラス基板の表面凹凸の突起高さ
を極力低くし且つ該突起高さの均一性が要求されてきて
いる。
【0017】本発明はこのような事情に鑑みなされたも
のであって、均一な突起高さを有する表面凸部を非晶質
材料の所望位置に形成することができる非晶質材料の加
工方法及び該非晶質材料を使用した磁気ディスク用基板
を提供することを目的とする。
【0018】
【課題を解決するための手段】本発明者等は、均一な突
起高さを有する微小凸部を非晶質材料の所望位置に形成
すべく、鋭意研究した結果、無機ガラス等の非晶質材料
は常温においても高圧力で加圧することにより塑性流動
を起こして高密度化し、高密度化された圧縮層と該圧縮
層以外の非圧縮層とでは異なる化学的特性を有するとい
う知見を得た。
【0019】そして、さらに本発明者等が研究を進めた
ところ、前記圧縮層と該圧縮層以外の非圧縮層とで除去
能力の異なる処理液を使用して前記非晶質材料の表層面
の除去処理を行うことにより、前記圧縮層を凸形状に加
工することができるという知見を得た。
【0020】本発明はこれらの知見に基づきなされたも
のであって、本発明に係る非晶質材料の加工方法は、非
晶質材料の表面に対し部分的に所定の加圧力を負荷して
高密度化された圧縮層を形成し、次いで該圧縮層と該圧
縮層以外の非圧縮層とで除去能力の異なる処理剤を使用
して前記非晶質材料の表層面を除去し、前記圧縮層を凸
形状に加工することを特徴とし、また、前記非晶質材料
は、具体的には無機ガラスであることを特徴とし、さら
に前記処理剤は、前記圧縮層と前記非圧縮層とでエッチ
ング速度の異なるエッチング液であることを特徴として
いる。
【0021】また、エッチング液としては、無機ガラス
に対して大きなエッチング作用を呈することのできる酸
を含有した酸性溶液、特にフッ酸を含有した酸性エッチ
ング液を使用するのが好ましい。
【0022】ところで、酸性エッチング液でエッチング
処理を行うと、無機ガラスを構成する成分の一部が酸性
エッチング液に溶出し、非圧縮層の表面に変質層が形成
される。そして、本発明者等の研究結果により、該変質
層はアルカリ性エッチング液でエッチング処理を行うこ
とにより除去することができるということが判明した。
【0023】そこで、本発明の非晶質材料の加工方法
は、前記酸性エッチング液で第1のエッチング処理を行
った後、アルカリ性エッチング液で第2のエッチング処
理を行うことを特徴としている。
【0024】このように第1のエッチング処理を行った
後、アルカリ性エッチング液で第2のエッチング処理を
行うことにより、前記変質層を除去することができるの
で、ガラス表面とガラス内部とで同質に保つことがで
き、また、表面凸部の突起高さが高くなるので、高い突
起高さが必要とされる用途に好適した非晶質材料を得る
ことができる。
【0025】また、非晶質材料である無機ガラスはケイ
素酸化物を主成分とするものであるが、該無機ガラスに
アルミニウム酸化物が含有されている場合は、アルミニ
ウム酸化物が酸性溶液に溶出し易いため、酸性エッチン
グ液によりエッチング処理が促進される。しかも、アル
ミニウム酸化物は酸以外の薬品に対しては耐蝕性に優れ
ている。したがって、高密度化された圧縮層は緻密化さ
れたケイ素酸化物がその他の成分の溶出を妨げる一方、
非圧縮層ではアルミニウム酸化物が酸性エッチング液に
より選択的にエッチングされ、その結果無機ガラス表面
には微小凸部が容易に形成される。
【0026】したがって、前記非晶質材料が、少なくと
もケイ素酸化物と、アルミニウム酸化物とを含有してい
るのが好ましい。
【0027】また、アルカリ土類金属酸化物はキレート
剤を含有したアルカリ性溶液に溶出し易く、また、耐水
性に優れている。したがって、非晶質材料中にアルカリ
土類金属酸化物が含まれている場合は、キレート剤を含
有したアルカリ性エッチング液によりアルカリ土類金属
酸化物が選択的にエッチングされ、アルカリ性エッチン
グ液によるエッチング処理のみでもガラス表面に微小凸
部を形成することが可能となる。
【0028】そこで、本発明は、前記エッチング液は、
キレート剤を含有したアルカリ性溶液であることを特徴
とし、また前記非晶質材料は、少なくともケイ素酸化物
と、アルカリ土類金属酸化物から成る群から選択された
少なくとも1種以上の酸化物とを含有することを特徴と
するのも好ましい。
【0029】また、非晶質材料の表面に圧縮層を形成す
るためには、非晶質材料の硬度よりも大きな硬度を有す
る部材で前記非晶質材料を押圧する必要がある。
【0030】そこで、本発明は、前記圧縮層は、前記非
晶質材料の硬度よりも大きな硬度を有する圧子を押圧し
て形成することを特徴とし、或いは前記圧子を非晶質材
料の表面に押し当てた状態で前記表面上を相対移動さ
せ、前記圧縮層を形成することを特徴としている。
【0031】また、非晶質材料の表面に前記圧縮層を形
成するためには、前記圧子をプローブに用いると微細な
加工を施すことができる。
【0032】特に、前記プローブが、走査型プローブ顕
微鏡のプローブである場合、微細な加工を確実に行うこ
とができる。
【0033】また、その他の表面凸部を形成する方法と
しては、非晶質材料の硬度よりも大きな硬度を有する微
粒子を前記非晶質材料の表面に衝突させて一度に多量の
表面凸部を形成するのも好ましい。
【0034】前記微粒子は、非晶質材料の表面損傷を避
ける観点から、スラリ状であることを特徴としている。
【0035】また、圧縮層は圧子を押し当てて形成され
ているため、通常、圧子の底面形状に対応した窪み部が
圧縮層の頭頂部に形成される。したがって、圧縮層を形
成した後、表面層の除去処理を行う前に、必要に応じて
表面処理を行い、窪み部を除去するようにしてもよい。
【0036】すなわち、前記圧縮層を形成した後、該圧
縮層に表面処理を施し、その後、前記処理剤を使用して
前記表層面を除去するのも好ましい。
【0037】また、前記表面処理は、非晶質材料の表面
損傷を避ける観点からは、前記非晶質材料の硬度と同等
以下の硬度を有する遊離砥粒、例えばコロイダルシリカ
で研磨するのが好ましい。
【0038】また、本発明に係るガラス基板は、非晶質
材料が多成分系無機ガラスで構成されると共に、上記非
晶質材料の加工方法により凸部が形成されていることを
特徴としている。
【0039】上記加工方法により得られた非晶質材料
は、突起高さが高く均一で微細な凸部を多数且つ任意の
パターンで、例えば同心円状に分布させることが可能で
あるので、ガラス基板を磁気ディスク用基板に使用し、
CSS方式で駆動したときでも、起動時に磁気ヘッドが
基板に固着するのを防止することができ、さらに走行中
における磁気ヘッドと基板との間隙変動や磁気ヘッドと
基板との衝突による読取エラーを防止することができ、
ノイズ特性に優れた磁気ディスク基板を得ることができ
る。
【0040】
【発明の実施の形態】次に、本発明の実施の形態を図面
に基づいて詳説する。
【0041】図1は本発明に係る非晶質材料の加工方法
の一実施の形態(第1の実施の形態)を示す製造工程の
説明図である。
【0042】図1(a)において、1は非晶質材料とし
ての無機ガラス1であって、本実施の形態では、酸性溶
液及びアルカリ性溶液に対するエッチング性や磁気ディ
スク用基板として使用した場合の特性を考慮し、その組
成範囲が、SiO2:55mol%〜72mol%、Al
23:1mol%〜12.5mol%、アルカリ土類金属酸化
物(MgO、CaO、SrO及びBaO):総計で2mo
l%〜16mol%、Li2O:5mol%〜20mol%、Na2
O:12mol%以下とされている。
【0043】以下、その限定理由について述べる。
【0044】SiO2は無機ガラスを構成する主要成分
であり、含有率が55mol%未満になるとガラスの耐久
性が悪化する一方、72mol%を超えると粘度が上がり
過ぎて溶融が困難になる。そこで、本実施の形態ではS
iO2の含有率を55mol%〜72mol%に設定した。
【0045】Al23はガラスの耐久性を向上させる成
分であり、また酸性エッチング液に対して溶出し易い成
分である。しかしながら、その含有率が1mol%未満で
は所期の作用効果を奏することができず、一方その含有
率が12.5mol%を超えると粘度が上がり過ぎて耐失透
性が低下し、溶融が困難になる。そこで、本実施の形態
ではAl23の含有率を1mol%〜12.5mol%に設定
した。
【0046】MgO、CaO、SrO及びBaO等はア
ルカリ土類金属酸化物であるが、斯かるアルカリ土類金
属酸化物は無機ガラスの溶融性を高める他、キレート剤
を含有したアルカリ性溶液に対して溶出し易く、したが
って該アルカリ性エッチング液に対してエッチング処理
を促進する。しかしながら、その含有率が2mol%以下
では所期の作用効果を奏することができず、一方、その
含有率が16mol%を超えるとガラスの液相温度が上昇
し、耐失透性が悪化する。そこで、本実施の形態ではア
ルカリ土類金属酸化物であるMgO、CaO、SrO及
びBaOの含有率を総計で2mol%〜16mol%に設定し
た。
【0047】Li2Oはガラス溶融時の溶融性を高める
成分であるが、その含有率が5mol%未満の場合は、粘
度が上がって溶融が困難になり、一方、その含有率が2
0mol%を超えると化学的耐久性が悪化する。そこで、
本実施の形態ではLi2Oの含有率を5mol%〜20mol
%に設定した。
【0048】Na2Oもガラス溶融時の溶融性を高める
成分であるが、その含有率が12mol%を超えると化学
的耐久性が悪化する。このため、本実施の形態ではNa
2Oの含有率を12mol%以下に設定した。
【0049】尚、これらLi2O、Na2O等のアルカリ
金属酸化物を無機ガラス1中に含有させることにより、
イオン交換による化学強化が可能となる。
【0050】さらに、上記無機ガラス1は、本発明が要
求している諸特性を損なわない範囲でFe23、Mn
O、NiO、Cr23、CoOなどの着色剤等を適宜含
有させることができる。
【0051】以上のような、磁気ディスク用基板として
の組成を有する無機ガラス1の他にも、例えば、Al2
3に加えてB23を含む無機ガラスや、無アルカリガ
ラス、光学用途向けに屈折率を制御するための成分を有
する無機ガラスに対しても、本発明は有効である。
【0052】次いで、図1(a)の矢印Aに示すよう
に、圧子2を無機ガラス1の表面に押し当て、図1
(b)に示すように無機ガラス1の表面に窪み部3を有
する圧縮層4を形成する。この処理を繰り返し実行して
複数の所望の位置の各々に圧縮層4を形成する。
【0053】圧子2は無機ガラス1の硬度よりも大きな
硬度を有する必要があり、ダイヤモンド製や超硬合金製
の材料を使用することができる。また、圧子2の形状と
しては錐形形状が好ましく、錐形の底面形状としては所
望の突起形状に応じて四角錐形状等の任意の形状を使用
することができるが、クラックの発生を防止する観点か
らは、球面等の圧縮力の分布が均一で稜線を有さない形
状が好ましい。
【0054】また、圧子2として、プローブを用いるこ
とができる。前記プローブとして、例えば走査型プロー
ブ顕微鏡(SPM)用のプローブも用いることができ
る。SPMを用いることにより、μmオーダの微小な領
域に圧縮層4のパターンを任意の位置に制御性良く形成
することが可能である。このときプローブで無機ガラス
1の表面を掃引することにより、圧縮層4は点状だけで
なく、線状や面状に形成することができる。また、用い
ることができるプローブの材質や形状は特に限定されな
い。
【0055】さらに、圧子2を無機ガラス1に押し当て
る際の加圧力は、本実施の形態では例えば、ダイヤモン
ド製の圧子2の場合、荷重0.3GPa〜4GPaに設
定されている。すなわち、荷重が0.3GPa未満の場
合は無機ガラス1の表面に圧縮層4を形成することがで
きず、一方、荷重が4GPaを超えるとクラック等の破
壊が生じる虞がある。そこで、本実施の形態では圧子2
により無機ガラス1に負荷される荷重を、大概0.3G
Pa〜4GPaに設定した。
【0056】次に、圧縮層4が形成された無機ガラス1
を酸性エッチング液に浸漬して第1のエッチング処理を
行って無機ガラス1の表層面を除去し、これにより図1
(c)に示すように、圧縮層4部分に微小凸部5が形成
され、さらに、圧縮層4以外の非圧縮層6からはSiO
2以外の成分が溶出して変質層7を形成する。
【0057】すなわち、無機ガラス1の組成中には耐酸
性が強い成分と耐酸性が弱い成分とがある。具体的に
は、SiO2は耐酸性が強く、Al23、アルカリ金属
酸化物(Li2O及びNa2O)、アルカリ土類金属酸化
物(MgO、CaO、SrO及びBaO等)は酸に浸蝕
され易いという特質を有する。
【0058】したがって、高密度化された圧縮層4は緻
密化したSiO2がその他の成分の溶出を妨げるため酸
性エッチング液によってエッチングされ難い一方で、非
圧縮層6はSiO2成分以外の成分は酸性エッチング液
によって選択的にエッチングする。そして、これにより
非圧縮層6ではエッチングが促進され、圧縮層4は微小
凸部5となって残存する。
【0059】さらに、上述したように非圧縮層6はSi
2成分以外の成分を酸性エッチング液は選択的にエッ
チングするが、その結果、SiO2以外の成分が溶出
し、非圧縮層6の表面には多孔質な変質層7が形成され
る。
【0060】尚、酸性エッチング液としては、硫酸、硝
酸、塩酸、フルオロ酢酸等の水溶液を使用することがで
きるが、所望のエッチング処理を迅速に行なうためには
強酸の水溶液であることが望ましく、特に濃度が0.0
05vol%以上のフッ酸を含有した水溶液はエッチング
作用に優れ、最も好ましい。
【0061】次いで、アルカリ性エッチング液に浸漬し
て第2のエッチング処理を行い、図1(d)に示すよう
に、変質層7を除去する。すなわち、変質層7は化学的
に不安定な多孔質部分であり、無機ガラス1の表面から
SiO2以外の成分が溶出した部分であるため、斯かる
変質層7を除去することにより、ガラス表面をガラス内
部と同様、化学的に安定した構造にする。
【0062】尚、アルカリ性エッチング液としては、例
えばpH11以上の水酸化カリウム水溶液や、市販のア
ルカリ洗浄液の希釈液を使用することができる。
【0063】また、アルカリ土類金属酸化物は、キレー
ト剤を含有したアルカリ性溶液に溶出し易く、斯かる観
点からキレート剤を含有したアルカリ性エッチング液で
第2のエッチング処理を行うのも好ましい。
【0064】ここで、キレート剤としては、EDTA
(エチレンジアミン四酢酸)、NTA(ニトリロ三酢
酸)等のアミノカルボン酸、シュウ酸等の多価カルボン
酸、STPP(トリポリリン酸ナトリウム)等のリン酸
塩を使用することができる。
【0065】このように本第1の実施の形態によれば、
圧縮層4を形成し、圧縮層4と非圧縮層6とでエッチン
グ性の相違を利用して圧縮層4を形成した部分に微小凸
部5を形成しているので、突起高さが均一な微小凸部5
を任意のパターンで無機ガラス1表面に形成することが
できる。
【0066】図2は本発明の第2の実施の形態を示す製
造工程の説明図であって、本第2の実施の形態では、図
2(a)に示すように、無機ガラス1の表面に球形の圧
子8を押し当て、次いで矢印B方向に掃引し、圧子8の
移動軌跡に沿って線状の圧縮層9を形成する。この処理
を繰り返し実行して複数の所望の位置の各々に圧縮層9
を形成する。
【0067】次いで、第1の実施の形態と同様、酸性エ
ッチング液、好ましくはフッ酸水溶液に浸漬して第1の
エッチング処理を施して表層面を除去し、これにより、
図2(b)に示すように、線状の微小凸部10及び変質
層11が形成される。
【0068】次いで、アルカリ性エッチング液で変質層
11を除去し、図2(c)に示すように、線状の微小凸
部10が形成された無機ガラス1が製造される。
【0069】このように圧子8を掃引して圧縮層9を形
成することによっても、第1の実施の形態と同様、突起
高さが均一な微小凸部10を任意のパターンで無機ガラ
ス1表面に形成することができる。
【0070】また、圧縮層4を形成する他の方法として
は、例えば、無機ガラス1よりも大きい硬度を有する微
粒子を無機ガラス1の表面に衝突させ、無機ガラス1の
表面に多数の圧縮層4を一度に形成することができる。
微粒子を衝突させる方法としては、例えば、空気を媒体
として微粒子を無機ガラス1に吹き付けるエアブラスト
法、水等の液体を媒体としてスラリ状にした微粒子を無
機ガラス1に吹き付けるウエットブラスト法等が挙げら
れる。特に後者は、液体を媒体としているので、個々の
微粒子を凝集させずに無機ガラス1の表面に衝突させる
ことができ、また噴射スピードを制御しやすいので、過
圧による傷やクラックの発生がほとんど無く、無機ガラ
ス1の表面に均一に圧縮層4を形成することが可能であ
るので、圧縮層4の形成方法としてより好ましい。
【0071】さらに、圧縮層4を形成する際には、図1
(b)に示すように、窪み部3が形成されるため、該窪
み部3を残存させた状態でエッチング処理した場合は、
微小凸部5の形状は、図1(d)に示すように、略V字
状、又はカルデラ状になる場合がある。したがって無機
ガラス1の用途によっては表面処理を行って窪み部3を
除去した後、エッチング処理を施すようにしてもよい。
【0072】ここで、表面処理としては、無機ガラス1
に傷等が付かないようにする必要があり、したがって無
機ガラス1の硬度と同等又はそれ以下の硬度を有する遊
離砥粒を使用して研磨処理するのが好ましく、また、遊
離砥粒は球形であるのが好ましく、例えばコロイダルシ
リカを使用することができる。
【0073】さらに、上述したようにアルカリ土類金属
はキレート剤を含有したアルカリ性溶液に対して溶出し
易いため、アルカリ土類金属を含有した化合物、すなわ
ち、MgO、CaO、SrO及びBaO等は前記アルカ
リ性エッチング液に対して選択的にエッチングされ、し
たがって、突起高さが小さくてもよい場合は、アルカリ
性溶液によるエッチングのみでも可能、即ち、酸性エッ
チング溶液を使用したエッチングを省略することも可能
である。
【0074】また、上記非晶質材料を磁気ディスク用基
板として使用する場合は、アルカリ性エッチング液によ
る第2のエッチング処理の後、化学強化処理を行ってガ
ラス基板の表面圧縮応力を高めるのが好ましい。すなわ
ち、例えば、温度360℃〜380℃下、所定の容量比
に調合された硝酸カリウムと硝酸ナトリウムとの溶融塩
に0.5時間〜4時間浸漬し、無機ガラス中のアルカリ
イオンをより大きなイオン半径を有するアルカリイオン
にイオン交換して表面圧縮応力を高め、これにより磁気
ディスクを高速回転させても破損するのを防止すること
ができる。
【0075】そして、上記加工方法により得られた非晶
質材料は、突起高さが均一で微細な凸部を多数且つ任意
のパターンで、例えば同心円状に分布させることが可能
であるので、上記非晶質材料を磁気ディスク用基板とし
て使用した場合、CSS方式で駆動したときでも起動時
に磁気ヘッドが基板に固着するのを防止することがで
き、さらに走行中における磁気ヘッドと基板との間隙変
動や磁気ヘッドと基板との衝突による読取エラーを防止
することができ、ノイズ特性に優れた磁気ディスク基板
を得ることができる。
【0076】
【実施例】次に、本発明の実施例を具体的に説明する。
【0077】表1は本実施例で使用した無機ガラス1の
組成一覧であり、本発明者等は表1に示す組成1〜組成
8のいずれかの無機ガラス1を使用して、以下のような
試験片(実施例1〜13及び比較例1,2)を作製し、
表面凸部の状態(底面直径及び突起高さ)を観察した。
【0078】
【表1】
【0079】〔実施例1〕組成1の無機ガラス1を使用
し、該無機ガラス1の表面の平滑性を向上させるべく研
磨した後、温度460℃で2時間保持し、研磨による歪
みを除去した。次いで無機ガラス1の表面に頂角136
°の四角錐形状に形成されたダイヤモンドからなる圧子
2を荷重5g(3GPa)で15秒間押し当て、これに
より25箇所の窪み部3を有する圧縮層4を形成した。
そしてこの後、遊離砥粒としてのコロイダルシリカが混
入したスラリを使用して200nm研磨し、前記窪み部
3を除去した。次に、窪み部3が除去された無機ガラス
1を濃度0.025vol%のフッ酸水溶液に浸漬して、
エッチングし、その後pH12のアルカリ性エッチング
液に浸漬して変質層7を除去し、実施例1の試験片を作
製した。
【0080】そして、該試験片の表面形状をAFM(原
子間力顕微鏡)で観察したところ、試験片の表面には微
小凸部5が形成され、その形状は、底面が一辺4μmの
略正方形の山形形状であった。また、突起高さは120
nm±5nmであり、突起高さのバラツキの小さい、均
一な微小凸部5が形成された。
【0081】〔実施例2〕組成1の無機ガラス1を使用
し、該無機ガラス1の表面の平滑性を向上させるべく研
磨した後、無機ガラス1の表面に頂角136°の四角錐
形状に形成されたダイヤモンドからなる圧子2を荷重1
0g(1.5GPa)で15秒間押し当て、これにより
窪み部3を有する圧縮層4を形成した。次に、圧縮層4
が形成された無機ガラス1を濃度0.15vol%のフッ
酸水溶液に浸漬して、エッチングし、その後pH12の
アルカリ性エッチング液に浸漬して変質層7を除去し、
実施例2の試験片を作製した。
【0082】そして、該試験片の表面形状をAFM(原
子間力顕微鏡)で観察したところ、試験片の表面には微
小凸部5が形成されたが、実施例1と異なり、圧縮層4
形成後に表面処理を行っていないので窪み部3が残存
し、その形状は、底面が一辺8μmの略正方形のカルデ
ラ形状であった。また、フッ酸水溶液の濃度が実施例1
よりも濃く、このため非圧縮層6でのエッチングが促進
され、その結果、外輪山部分の突起高さは700nmで
あった。
【0083】〔実施例3〕組成1の無機ガラス1を使用
し、該無機ガラス1の表面の平滑性を向上させるべく研
磨した後、温度460℃で2時間保持し、研磨による歪
みを除去した。次いで無機ガラス1の表面に頂角136
°の四角錐形状に形成されたダイヤモンドからなる圧子
2を荷重1g(0.6GPa)で15秒間押し当て、こ
れにより窪み部3を有する圧縮層4を形成した。そして
この後コロイダルシリカが混入したスラリを使用して1
00nm研磨し、前記窪み部3を除去した。次に、窪み
部3が除去された無機ガラス1を濃度1vol%の硫酸水
溶液に浸漬して、エッチングし、その後pH12のアル
カリ性エッチング液に浸漬して変質層7を除去し、実施
例3の試験片を作製した。
【0084】そして、該試験片の表面形状をAFM(原
子間力顕微鏡)で観察したところ、試験片の表面には微
小凸部5が形成され、その形状は、底面が一辺4μmの
略正方形の山形形状であった。また、酸性エッチング液
として硫酸水溶液を使用しているので、フッ酸水溶液に
比べるとエッチング作用が小さく、突起高さは7nmと
低かった。
【0085】〔実施例4〕組成2の無機ガラス1を使用
し、該無機ガラス1の表面の平滑性を向上させるべく研
磨した後、先端が曲率半径5μmの球面形状とされた超
硬合金製の圧子2を荷重1g(0.6GPa)で15秒
間、無機ガラス1の表面に押し当て、これにより窪み部
3を有する圧縮層4を形成した。次に、該無機ガラス1
を濃度0.025vol%のフッ酸水溶液に浸漬して、エ
ッチングし、その後pH12のアルカリ性エッチング液
に浸漬して変質層7を除去し、実施例4の試験片を作製
した。
【0086】そして、該試験片の表面形状をAFM(原
子間力顕微鏡)で観察したところ、試験片の表面には微
小凸部5が形成され、その形状は、底面が直径6μmの
略円形とされたカルデラ形状となった。また、実施例1
(組成1)に比べてAl23の含有量が小さく、このた
め非圧縮層6でのエッチングが促進されず、外輪山部分
の突起高さは25nmであった。
【0087】〔実施例5〕組成3の無機ガラス1を使用
し、該無機ガラス1の表面の平滑性を向上させるべく研
磨した後、温度460℃で2時間保持し、研磨による歪
みを除去した。次いで無機ガラス1の表面に頂角136
°の四角錐形状に形成されたダイヤモンドからなる圧子
2を荷重1g(0.6GPa)で15秒間押し当て、こ
れにより窪み部3を有する圧縮層4を形成した。そして
この後コロイダルシリカが混入したスラリを使用して2
00nm研磨し、前記窪み部3を除去した。次に、1vo
l%の水酸化カリウム水溶液及び0.2vol%のEDTA
を含有したアルカリ性エッチング液に浸漬して、エッチ
ングし、実施例5の試験片を作製した。
【0088】そして、該試験片の表面形状をAFM(原
子間力顕微鏡)で観察したところ、試験片の表面には微
小凸部5が形成され、その形状は、底面が一辺4μmの
略正方形の山形形状であった。また、酸性溶液によるエ
ッチングを行わずにアルカリ性溶液のみでエッチング処
理を行ったため、突起高さは実施例1に比べて低く、1
2nmであった。
【0089】〔実施例6〕組成1の無機ガラス1を使用
し、該無機ガラス1の表面の平滑性を向上させるべく研
磨した後、温度460℃で2時間保持し、研磨による歪
みを除去した。次いで稜角110°、直径7mmの超硬
合金製のローラを荷重25g、速度0.1m/secで無
機ガラス1上を掃引し、線状の圧縮層4を形成した。そ
してこの後コロイダルシリカが混入したスラリを使用し
て300nm研磨し、窪み部3を除去した。次に、窪み
部3が除去された無機ガラス1を濃度0.025vol%
のフッ酸水溶液に浸漬して、エッチングし、その後pH
12のアルカリ性エッチング液に浸漬して変質層11を
除去し、実施例6の試験片を作製した。
【0090】そして、該試験片の表面形状をAFM(原
子間力顕微鏡)で観察したところ、試験片の表面には頂
部が平坦な線状の微小凸部10が形成され、その形状
は、幅が10μm、突起高さが120nmであった。
【0091】〔実施例7〕組成1の無機ガラス1を使用
し、該無機ガラス1の表面の平滑性を向上させるべく研
磨した後、9.8×104Pa(1kg/cm2)の圧搾
空気を使用して粒径20μmのジルコニア粒子を20秒
間吹き付け、これにより窪み部3を有する多数の圧縮層
4を形成した。そしてこの後コロイダルシリカが混入し
たスラリを使用して200nm研磨し、前記窪み部3を
除去した。次に、窪み部3が除去された無機ガラス1を
濃度0.025vol%のフッ酸水溶液に浸漬して、エッ
チングし、その後pH12のアルカリ性エッチング液に
浸漬して変質層7を除去し、実施例7の試験片を作製し
た。
【0092】そして、該試験片の表面形状をAFM(原
子間力顕微鏡)で観察したところ、試験片の表面には1
0μm2当り50個の微小凸部5が形成され、その形状
は、底面が直径4μmの略円形の山形形状であって、突
起高さは100nm±10nmであった。
【0093】〔実施例8〕粒径5μmのアルミナ研磨剤
を17vol%含んだスラリを、0.05MPaの圧搾空
気で90×2.0mmのノズルから霧状に吹き出しなが
ら、ノズルを25mm/secの速さで、組成1の無機ガ
ラス1表面を走査して吹き付け、これにより窪み部3を
有する多数の圧縮層4を形成した。その後セリュウム粉
を混入したスラリを使用して60nm研磨し、前記窪み
部3を除去した。次に、窪み部3が除去された無機ガラ
ス1を濃度0.10vol%のフッ酸水溶液に浸漬してエ
ッチングし、その後pH12のアルカリ性エッチング液
に浸漬して変質層7を除去し、実施例8の試験片を作製
した。
【0094】そして、該試験片の表面形状をAFMで観
察したところ、試験片の表面には10μm2当たり84
個の微小凸部5が形成され、その形状は、底面が直径5
70nmの略円形の山形形状であり、突起高さは130
±5nmであった。またこの方法では、ウエットブラス
ト法で圧縮層4を形成させたため、クラックを発生させ
ずに高さがよくそろった突起を形成することができた。
【0095】〔実施例9〕組成1の無機ガラス1を使用
し、バネ定数46N/mで先端の曲率半径が10nmの
球面形状であるダイヤモンドコートシリコン単結晶製S
PM用プローブを、無機ガラス1表面に押し当て直線状
に掃引し、これにより窪み部を有する圧縮層9を形成し
た。次に、該無機ガラス1を濃度0.10vol%のフッ
酸水溶液に浸漬してエッチングし、その後pH12のア
ルカリ性エッチング液に浸漬して変質層11を除去し、
実施例9の試験片を作製した。
【0096】そして、該試験片の表面形状をAFMで観
察したところ、試験片の表面には幅1μm、高さ100
±5nmの尾根状の突起が、プローブを掃引した跡に沿
って精度よく形成されていることが判った。
【0097】〔実施例10〕組成5の無機ガラス1表面
に実施例8と同様の処理を行い、実施例10の試験片を
作製した。
【0098】そして、該試験片の表面形状をAFMで観
察したところ、試験片の表面には10μm2当たり49
個の微小凸部5が形成され、その形状は、底面が直径4
60nmの略円形の山形形状であった。その突起高さは
120±5nmであり、突起高さのばらつきの小さい均
一な微小凸部5が形成された。このように、Al23
他にB23を含む組成の無機ガラス1においても、表面
に微小凸部5を形成することができた。
【0099】〔実施例11〕組成6の無機ガラス1表面
に実施例8と同様の処理を行い、実施例11の試験片を
作製した。
【0100】そして、該試験片の表面形状をAFMで観
察したところ、試験片の表面には10μm2当たり11
個の微小凸部5が形成され、その形状は、底面が直径3
30nmの略円形の山形形状であった。その突起高さは
100±5nmであり、突起高さのばらつきの小さい均
一な微小凸部5が形成された。このように実施例10と
同様に、Al23の他にB23を含む組成の無機ガラス
1においても、表面に微小凸部5を形成することができ
た。
【0101】〔実施例12〕組成7の無機ガラス1表面
に実施例4と同様の処理を行い、窪み部3を有する圧縮
層4を形成した。次に、窪み部3が除去された無機ガラ
ス1を濃度0.10vol%のフッ酸水溶液に浸漬してエ
ッチングし、その後pH12のアルカリ性エッチング液
に浸漬して変質層7を除去し、実施例12の試験片を作
製した。
【0102】そして、該試験片の表面形状をAFMで観
察したところ、試験片の表面には微小凸部5が形成さ
れ、その形状は、底面が5μmの略円形とされたカルデ
ラ状であった。その外輪山部分の突起高さは0.8μm
であった。
【0103】〔実施例13〕組成8の無機ガラス1表面
に実施例4と同様の処理を行い、窪み部3を有する圧縮
層4を形成した。次に、窪み部3が除去された無機ガラ
ス1を濃度0.10vol%のフッ酸水溶液に浸漬してエ
ッチングし、その後pH12のアルカリ性エッチング液
に浸漬して変質層7を除去し、実施例13の試験片を作
製した。
【0104】そして、該試験片の表面形状をAFMで観
察したところ、試験片の表面には微小凸部5が形成さ
れ、その形状は、底面が10μmの略円形とされたカル
デラ状であった。その外輪山部分の突起高さは1.3μ
mであった。
【0105】〔比較例1〕組成4の無機ガラス1を使用
し、該無機ガラス1の表面の平滑性を向上させるべく研
磨した後、該無機ガラス1を、温度380℃下、硝酸カ
リウムと硝酸ナトリウムとが容量比で6:4に調合され
た溶融塩に1時間浸漬し、化学強化処理を行って圧縮層
4を形成し、次いで、波長266nm、出力10mW、
パルス幅5nsecのレーザ光を無機ガラス1に照射し、
比較例1の試験片を作製した。
【0106】そして、該試験片の表面形状をAFM(原
子間力顕微鏡)で観察したところ、試験片の表面が隆起
して多数の微小凸部5が形成され、その形状は、底面が
直径5μmの略円形の山形形状であって、突起高さは3
0nm±15nmであった。すなわち、比較例1は微小
凸部5の突起高さが30nm±15nmであり、そのバ
ラツキ度合が実施例1及び実施例7に比べると大きいこ
とが判った。
【0107】〔比較例2〕組成1の無機ガラス1を使用
し、該無機ガラス1の表面の平滑性を向上させるべく研
磨した後、温度460℃で2時間保持し、研磨による歪
みを除去した。次いで無機ガラス1の表面に頂角136
°の四角錐形状に形成されたダイヤモンドからなる圧子
2を荷重500g(4.2GPa)で15秒間押し当
て、これにより窪み部3を有する圧縮層4を形成した。
そしてこの後コロイダルシリカが混入したスラリを使用
して500nm研磨し、前記窪み部3を除去した。次
に、窪み部3が除去された無機ガラス1を濃度0.15
vol%のフッ酸水溶液に浸漬してエッチングし、その後
pH12のアルカリ性エッチング液に浸漬して変質層7
を除去し、比較例2の試験片を作製した。
【0108】そして、該試験片の表面形状をAFM(原
子間力顕微鏡)で観察したところ、試験片の表面には微
小凸部5が形成され、その形状は、底面が一辺40μm
の略正方形のカルデラ形状であって、外輪山部の突起高
さは700nmで頂部に平坦領域を有し、また微小凸部
5の周囲にクラックが発生した。
【0109】すなわち、比較例2では、4.2GPaと
いう大きな荷重を無機ガラスに負荷して圧縮層4を形成
しているため、微小凸部5の周囲にクラックが発生し
た。
【0110】
【発明の効果】以上詳述したように本発明に係る非晶質
材料の加工方法によれば、非晶質材料の表面に対し部分
的に所定の加圧力を負荷して高密度化された圧縮層を形
成し、次いで該圧縮層と該圧縮層以外の非圧縮層とで除
去能力の異なる処理剤を使用して前記非晶質材料の表層
面を除去し、前記圧縮層を凸形状に加工しているので、
突起高さの均一な微小凸部を任意のパターンで形成する
ことができる。
【0111】また、前記エッチング液として酸を含有し
た酸性溶液、特にフッ酸を含有した酸性エッチング液を
使用することにより非圧縮層のエッチング処理を効率良
く促進することができる。
【0112】また、前記酸性エッチング液で第1のエッ
チング処理を行った後、アルカリ性エッチング液で第2
のエッチング処理を行うので、第1のエッチング処理後
に非圧縮層の表面に形成される変質層がアルカリ性溶液
で除去され、ガラス表面をガラス内部と同質にすること
ができる。
【0113】また、前記非晶質材料が、少なくともケイ
素酸化物と、アルミニウム酸化物とを含有することによ
り、高密度化された圧縮層では緻密化したケイ素酸化物
がその他の成分の溶出を妨げ、一方非圧縮層では耐酸性
の低いアルミニウムが優先的にエッチングされ、その結
果、所望の微小凸部を迅速且つ容易に形成することがで
きる。
【0114】また、アルカリ土類金属酸化物は、キレー
ト剤を含有したアルカリ性溶液に対して溶出し易いた
め、非晶質材料が少なくともケイ素酸化物と、アルカリ
土類金属酸化物から選択された少なくとも1種以上の酸
化物とを含有し、且つキレート剤を含有したアルカリ性
エッチング液を使用した場合は、アルカリ性エッチング
液によりエッチングが促進され、したがってアルカリ性
エッチング液のみのエッチング作用でも非晶質材料の表
面に微小凹凸を形成することが可能となる。
【0115】また、圧縮層9を前記非晶質材料の硬度よ
りも大きな硬度を有する圧子8を押圧して形成すること
により、又は前記圧子8を非晶質材料の表面に押し当て
た状態で移動させて前記圧縮層9を形成することによ
り、所望の圧縮層9を任意の位置に容易に得ることがで
きる。
【0116】また、前記圧子8をプローブとすることに
より、微細な加工を施すことができる。
【0117】特に、前記プローブを、走査型プローブ顕
微鏡等のプローブとすることにより、確実に微細な加工
を施すことができる。
【0118】また、前記圧縮層4を、非晶質材料の硬度
よりも大きな硬度を有する微粒子を前記非晶質材料の表
面に衝突させて形成することにより、一度に多数の圧縮
層4を得ることができる。
【0119】更に、前記微粒子をスラリとすることによ
り、非晶質材料の表面損傷を避けることができる。
【0120】前記圧縮層を形成した後、該圧縮層に表面
処理を施し、その後、前記処理剤を使用して表層面を除
去することにより、圧子により形成された窪み部が残存
することなく、微小凸部を形成することができる。
【0121】また、前記表面処理は、前記非晶質材料の
硬度と同等以下の硬度を有する遊離砥粒、例えばコロイ
ダルシリカで研磨することにより、圧子の押圧により形
成された窪み部を容易に除去することができる。
【0122】そして、本発明に係るガラス基板は、非晶
質材料が多成分系無機ガラス1で構成されると共に、上
記加工方法により凸部が形成されることにより、該ガラ
ス基板を磁気ディスク用基板に使用し、CSS方式で駆
動したときでも起動時に磁気ヘッドが基板に固着するの
を効果的に防止することができ、さらに磁気ヘッドと基
板と間の間隙変動や磁気ヘッドと基板との間の衝突によ
る読取エラーを防止することができ、ノイズ特性に優れ
た磁気ディスク基板を得ることができる。
【図面の簡単な説明】
【図1】本発明に係る非晶質材料の加工方法の第1の実
施の形態を示す製造工程の説明図である。
【図2】本発明に係る非晶質材料の加工方法の第2の実
施の形態を示す製造工程の説明図である。
【符号の説明】
1 無機ガラス(非晶質材料) 2 圧子 4 圧縮層 6 非圧縮層 7 変質層 8 圧子 9 圧縮層 11 変質層
───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (72)発明者 斉藤 靖弘 大阪府大阪市中央区北浜4丁目7番28号 日本板硝子株式会社内 (72)発明者 猪又 宏之 大阪府大阪市中央区北浜4丁目7番28号 日本板硝子株式会社内 Fターム(参考) 4G059 AA08 AC01 BB04 BB12 BB14 4G062 AA01 BB01 CC10 DA06 DA07 DB03 DB04 DC01 DC02 DD01 DE01 DE02 DE03 DF01 EA03 EA04 EB01 EB02 EB03 EB04 EC01 ED01 ED02 ED03 ED04 EE01 EE02 EE03 EE04 EF01 EF02 EF03 EF04 EG01 EG02 EG03 EG04 FA01 FA10 FB01 FB02 FB03 FC01 FD01 FE01 FF01 FG01 FH01 FJ01 FK01 FK02 FK03 FL01 GA01 GA10 GB01 GC01 GD01 GE01 HH01 HH03 HH05 HH07 HH08 HH09 HH10 HH11 HH12 HH13 HH15 HH17 HH20 JJ01 JJ03 JJ05 JJ07 JJ10 KK01 KK03 KK05 KK07 KK10 MM27 NN40

Claims (20)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】 非晶質材料の表面に対し部分的に所定の
    加圧力を負荷して高密度化された圧縮層を形成し、次い
    で該圧縮層と該圧縮層以外の非圧縮層とで除去能力の異
    なる処理剤を使用して前記非晶質材料の表層面を除去
    し、前記圧縮層を凸形状に加工することを特徴とする非
    晶質材料の加工方法。
  2. 【請求項2】 前記処理剤は、前記圧縮層と前記非圧縮
    層とでエッチング速度の異なるエッチング液であること
    を特徴とする請求項1記載の非晶質材料の加工方法。
  3. 【請求項3】 前記エッチング液は、酸を含有した酸性
    溶液であることを特徴とする請求項2記載の非晶質材料
    の加工方法。
  4. 【請求項4】 前記酸性溶液は、フッ酸を含有している
    ことを特徴とする請求項3記載の非晶質材料の加工方
    法。
  5. 【請求項5】 前記酸性溶液で第1のエッチング処理を
    行った後、アルカリ性溶液で第2のエッチング処理を行
    うことを特徴とする請求項3又は請求項4に記載の非晶
    質材料の加工方法。
  6. 【請求項6】 前記アルカリ性溶液は、キレート剤を含
    有していることを特徴とする請求項5記載の非晶質材料
    の加工方法。
  7. 【請求項7】 前記エッチング液は、キレート剤を含有
    したアルカリ性溶液であることを特徴とする請求項2記
    載の非晶質材料の加工方法。
  8. 【請求項8】 前記非晶質材料は、無機ガラスであるこ
    とを特徴とする請求項1乃至請求項7のいずれかに記載
    の非晶質材料の加工方法。
  9. 【請求項9】 前記無機ガラスは、少なくともケイ素酸
    化物と、アルミニウム酸化物とを含有していることを特
    徴とする請求項8記載の非晶質材料の加工方法。
  10. 【請求項10】 前記無機ガラスは、少なくともケイ素
    酸化物と、アルカリ土類金属酸化物から選択された少な
    くとも1種以上の酸化物とを含有していることを特徴と
    する請求項8記載の非晶質材料の加工方法。
  11. 【請求項11】 前記圧縮層は、前記非晶質材料の硬度
    よりも大きな硬度を有する圧子を押圧して形成すること
    を特徴とする請求項1乃至請求項10のいずれかに記載
    の非晶質材料の加工方法。
  12. 【請求項12】 前記圧子を非晶質材料の表面に押し当
    てた状態で前記表面上を相対移動させ、前記圧縮層を形
    成することを特徴とする請求項11記載の非晶質材料の
    加工方法。
  13. 【請求項13】 前記圧子は、プローブから成ることを
    特徴とする請求項11又は請求項12記載の非晶質材料
    の加工方法。
  14. 【請求項14】 前記プローブは、走査型プローブ顕微
    鏡のプローブから成ることを特徴とする請求項13記載
    の非晶質材料の加工方法。
  15. 【請求項15】 前記圧縮層は、前記非晶質材料の硬度
    よりも大きな硬度を有する微粒子を前記非晶質材料の表
    面に衝突させて形成することを特徴とする請求項1乃至
    請求項10のいずれかに記載の非晶質材料の加工方法。
  16. 【請求項16】 前記微粒子は、スラリ状であることを
    特徴とする請求項15記載の非晶質材料の加工方法。
  17. 【請求項17】 前記圧縮層を形成した後、該圧縮層に
    表面処理を施し、その後、前記処理剤を使用して前記表
    層面を除去することを特徴とする請求項1乃至請求項1
    6のいずれかに記載の非晶質材料の加工方法。
  18. 【請求項18】 前記表面処理は、前記非晶質材料の硬
    度と同等以下の硬度を有する遊離砥粒で研磨することを
    特徴とする請求項17記載の非晶質材料の加工方法。
  19. 【請求項19】 前記遊離砥粒は、コロイダルシリカで
    あることを特徴とする請求項18記載の非晶質材料の加
    工方法。
  20. 【請求項20】 非晶質材料が多成分系無機ガラスで構
    成されると共に、請求項1乃至請求項19のいずれかに
    記載の非晶質材料の加工方法により凸部が形成されてい
    ることを特徴とするガラス基板。
JP2001267198A 2000-09-13 2001-09-04 非晶質材料の加工方法 Expired - Fee Related JP4034056B2 (ja)

Priority Applications (3)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2001267198A JP4034056B2 (ja) 2000-09-13 2001-09-04 非晶質材料の加工方法
US09/949,692 US6913702B2 (en) 2000-09-13 2001-09-10 Amorphous material processing method and glass substrate
US11/131,816 US7727407B2 (en) 2000-09-13 2005-05-17 Amorphous material processing method

Applications Claiming Priority (3)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2000278299 2000-09-13
JP2000-278299 2000-09-13
JP2001267198A JP4034056B2 (ja) 2000-09-13 2001-09-04 非晶質材料の加工方法

Related Child Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP2006278746A Division JP4059285B2 (ja) 2000-09-13 2006-10-12 非晶質材料の加工方法

Publications (2)

Publication Number Publication Date
JP2002160943A true JP2002160943A (ja) 2002-06-04
JP4034056B2 JP4034056B2 (ja) 2008-01-16

Family

ID=26599872

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP2001267198A Expired - Fee Related JP4034056B2 (ja) 2000-09-13 2001-09-04 非晶質材料の加工方法

Country Status (2)

Country Link
US (2) US6913702B2 (ja)
JP (1) JP4034056B2 (ja)

Cited By (19)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2004101833A (ja) * 2002-09-09 2004-04-02 Chi Mei Electronics Corp 液晶ディスプレイの製造装置および製造方法
WO2004078668A1 (ja) * 2003-03-03 2004-09-16 Nippon Sheet Glass Company, Limited 凹凸のある表面を有する物品の製造方法
WO2004078667A1 (ja) * 2003-03-03 2004-09-16 Olympus Corporation ガラス基材の加工方法、加工ガラス製品及び応力印加装置
JP2005008442A (ja) * 2003-06-17 2005-01-13 Nishiyama Stainless Chem Kk ガラス板表面の凹部形成方法、マイクロレンズアレイの製造方法、及び、液晶表示装置
WO2005077852A1 (ja) * 2004-02-18 2005-08-25 Nippon Sheet Glass Company, Limited 凹凸のある表面を有するガラス基材の製造方法
JP2006082999A (ja) * 2004-09-15 2006-03-30 Olympus Corp 微小凸部の作製方法
JP2006176355A (ja) * 2004-12-21 2006-07-06 Namiki Precision Jewel Co Ltd パルスレーザによる微小構造の形成方法
US7407889B2 (en) 2003-03-03 2008-08-05 Nippon Sheet Glass Company, Limited Method of manufacturing article having uneven surface
JPWO2007061018A1 (ja) * 2005-11-22 2009-05-07 オリンパス株式会社 ガラス基材の加工方法およびガラス部品
WO2009123261A1 (ja) * 2008-04-01 2009-10-08 信越化学工業株式会社 Soi基板の製造方法
US7601446B2 (en) * 2002-11-07 2009-10-13 Hoya Corporation Substrate for information recording medium, information recording medium and method for manufacturing same
US7727407B2 (en) 2000-09-13 2010-06-01 Nippon Sheet Glass Co., Ltd. Amorphous material processing method
WO2014132983A1 (ja) * 2013-02-27 2014-09-04 旭硝子株式会社 ガラス基体の成形方法、およびガラス成形体
WO2016056788A3 (ko) * 2014-10-08 2017-04-27 코닝정밀소재 주식회사 무전해 도금층과의 접합력 증대를 위한 유리기판 제조방법
WO2017159411A1 (ja) * 2016-03-17 2017-09-21 旭硝子株式会社 ガラス板及びガラス構造体
WO2017179283A1 (ja) * 2016-04-11 2017-10-19 日本電気硝子株式会社 赤外線吸収ガラス板及びその製造方法、並びに固体撮像素子デバイス
JP2017190282A (ja) * 2016-04-11 2017-10-19 日本電気硝子株式会社 赤外線吸収ガラス板及びその製造方法、並びに固体撮像素子デバイス
WO2019058858A1 (ja) * 2017-09-20 2019-03-28 日本電気硝子株式会社 赤外線吸収ガラス板及びその製造方法、並びに固体撮像素子デバイス
WO2019065100A1 (ja) * 2017-09-27 2019-04-04 日本電気硝子株式会社 ガラス板及びその製造方法

Families Citing this family (10)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP4002154B2 (ja) * 2002-08-13 2007-10-31 東芝松下ディスプレイテクノロジー株式会社 液晶表示素子の製造方法およびその装置
WO2005017219A2 (en) * 2003-08-13 2005-02-24 Liquidmetal Technologies High durability structures of amorphous alloy and a method of forming
US8188166B2 (en) * 2005-07-29 2012-05-29 Aoc, Llc Unsaturated polyester resin compositions with improved weatherability
JP2012020921A (ja) * 2010-06-18 2012-02-02 Asahi Glass Co Ltd ディスプレイ装置用のガラスおよびガラス板
JP6006176B2 (ja) * 2013-06-06 2016-10-12 株式会社不二製作所 透光性ガラスの表面処理方法及び透光性ガラス
CN108349063B (zh) * 2016-03-31 2020-10-27 Hoya株式会社 载体及使用该载体的基板的制造方法
US20180086662A1 (en) * 2016-09-23 2018-03-29 Apple Inc. Process for forming textured glass component with high bending strength
CN114127023A (zh) * 2018-09-21 2022-03-01 康宁股份有限公司 图案化的玻璃制品及其制造方法
TW202106647A (zh) * 2019-05-15 2021-02-16 美商康寧公司 在高溫下用高濃度鹼金屬氫氧化物減少紋理化玻璃、玻璃陶瓷以及陶瓷製品之厚度的方法
CN118164686A (zh) 2019-09-09 2024-06-11 康宁股份有限公司 具纹理、防眩玻璃制品及其制作方法

Family Cites Families (44)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US3632406A (en) * 1970-01-20 1972-01-04 Norton Co Low-temperature vapor deposits of thick film coatings
DE2700761A1 (de) * 1976-01-13 1977-07-14 Gen Electric Verfahren zum vergroessern der spannungsfestigkeitseigenschaft von vakuumunterbrechern
US4046619A (en) * 1976-05-03 1977-09-06 The United States Of America As Represented By The Administrator Of The National Aeronautics And Space Administration Method of treating the surface of a glass member
JPS6226623A (ja) * 1985-07-26 1987-02-04 Hoya Corp 磁気記録媒体
JPS6391843A (ja) * 1986-10-06 1988-04-22 Fuji Photo Film Co Ltd 光デイスク基板
EP0263512B1 (en) * 1986-10-09 1994-06-01 Asahi Glass Company Ltd. Glass substrate for a magnetic disc and process for its production
JPS63114866A (ja) * 1986-10-31 1988-05-19 Hoya Corp ガラスの加工方法
JP2589986B2 (ja) 1987-08-10 1997-03-12 旭硝子株式会社 磁気記録媒体
JPH0433850Y2 (ja) 1987-09-07 1992-08-13
JP2636010B2 (ja) 1988-07-27 1997-07-30 オリンパス光学工業株式会社 成形用ガラス素材およびその製造方法
JPH06340448A (ja) 1993-05-26 1994-12-13 Asahi Glass Co Ltd ガラスのエッチング処理方法
TW300879B (ja) 1993-11-10 1997-03-21 Ibm
JP2947708B2 (ja) 1994-04-28 1999-09-13 旭テクノグラス株式会社 磁気ディスク用ガラス基板の製造方法
SG49584A1 (en) * 1994-12-28 1998-06-15 Hoya Corp Plate glass flattening method method of manufacturing an information recording glass substrate using flattened glass method of manufacturing a magnetic
JPH08249654A (ja) 1995-03-13 1996-09-27 Hitachi Ltd 表面凹凸形成法及びその表面凹凸形成法を用いた磁気ディスク、並びに磁気ディスク装置
JPH08329454A (ja) 1995-03-30 1996-12-13 A G Technol Kk 磁気ディスク用ガラス基板の製法
WO1996030901A1 (fr) * 1995-03-30 1996-10-03 Ag Technology Co., Ltd. Procede de fabrication d'un substrat en verre pour disque magnetique
US5743998A (en) * 1995-04-19 1998-04-28 Park Scientific Instruments Process for transferring microminiature patterns using spin-on glass resist media
JP4071309B2 (ja) 1995-11-14 2008-04-02 Hoya株式会社 磁気ディスク用ガラス基板及びその製造方法、並びに磁気ディスクメディアの製造方法
US5772905A (en) * 1995-11-15 1998-06-30 Regents Of The University Of Minnesota Nanoimprint lithography
JP3209925B2 (ja) * 1996-07-11 2001-09-17 富士通株式会社 プラズマディスプレイパネル及びその隔壁形成方法
JP3365213B2 (ja) * 1996-08-07 2003-01-08 富士電機株式会社 電子写真用感光体及びその製造方法
US5764353A (en) * 1996-11-29 1998-06-09 Seh America, Inc. Back side damage monitoring system
TW419442B (en) * 1996-12-18 2001-01-21 Koninkl Philips Electronics Nv Method of post-etching a mechanically treated substrate
TW381123B (en) * 1997-02-28 2000-02-01 Tosoh Corp A process for surface-treating a sputtering target
JP3359304B2 (ja) 1998-08-19 2002-12-24 ホーヤ株式会社 磁気記録媒体用ガラス基板、磁気記録媒体及びそれらの製造方法
US6383404B1 (en) * 1998-08-19 2002-05-07 Hoya Corporation Glass substrate for magnetic recording medium, magnetic recording medium, and method of manufacturing the same
US6241903B1 (en) * 1998-08-20 2001-06-05 Physical Optics Corporation Diffuser master and method of manufacture
US6553788B1 (en) * 1999-02-23 2003-04-29 Nippon Sheet Glass Co., Ltd. Glass substrate for magnetic disk and method for manufacturing
JP2000268348A (ja) * 1999-03-18 2000-09-29 Nippon Sheet Glass Co Ltd 情報記録媒体用ガラス基板及びその製造方法
US6544893B2 (en) * 1999-03-30 2003-04-08 Hoya Corporation Method of manufacturing a glass substrate for an information recording medium, and method of manufacturing an information recording medium
JP2001052937A (ja) * 1999-08-13 2001-02-23 Murata Mfg Co Ltd インダクタ及びその製造方法
JP3956587B2 (ja) * 1999-11-18 2007-08-08 Hoya株式会社 磁気ディスク用ガラス基板の洗浄方法
JP2001338878A (ja) * 2000-03-21 2001-12-07 Sharp Corp サセプタおよび表面処理方法
JP4034056B2 (ja) 2000-09-13 2008-01-16 日本板硝子株式会社 非晶質材料の加工方法
JP3734745B2 (ja) * 2000-12-18 2006-01-11 Hoya株式会社 磁気記録媒体用ガラス基板の製造方法およびそれを用いて得られる磁気記録媒体用ガラス基板
US6821893B2 (en) * 2001-03-26 2004-11-23 Hoya Corporation Method of manufacturing a substrate for information recording media
JP4185266B2 (ja) * 2001-07-25 2008-11-26 Hoya株式会社 情報記録媒体用基板の製造方法
JP2003069059A (ja) * 2001-08-28 2003-03-07 Kyocera Corp ガラス基板の粗面化方法およびそのガラス基板を用いた薄膜多結晶Si太陽電池
JP2003277102A (ja) * 2002-01-18 2003-10-02 Nippon Sheet Glass Co Ltd 情報記録媒体用ガラス基板の製造方法及び情報記録媒体用ガラス基板
JP2003212603A (ja) * 2002-01-18 2003-07-30 Nippon Sheet Glass Co Ltd 情報記録媒体用ガラス基板の製造方法
JP4795614B2 (ja) * 2002-10-23 2011-10-19 Hoya株式会社 情報記録媒体用ガラス基板及びその製造方法
JP4189383B2 (ja) * 2002-10-23 2008-12-03 Hoya株式会社 磁気記録媒体用ガラス基板の製造方法
WO2004078667A1 (ja) * 2003-03-03 2004-09-16 Olympus Corporation ガラス基材の加工方法、加工ガラス製品及び応力印加装置

Cited By (40)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US7727407B2 (en) 2000-09-13 2010-06-01 Nippon Sheet Glass Co., Ltd. Amorphous material processing method
JP2004101833A (ja) * 2002-09-09 2004-04-02 Chi Mei Electronics Corp 液晶ディスプレイの製造装置および製造方法
US7601446B2 (en) * 2002-11-07 2009-10-13 Hoya Corporation Substrate for information recording medium, information recording medium and method for manufacturing same
JPWO2004078668A1 (ja) * 2003-03-03 2006-06-08 日本板硝子株式会社 凹凸のある表面を有する物品の製造方法
US7354526B2 (en) 2003-03-03 2008-04-08 Olympus Corporation Processing method for glass substrate, processed glass product and stress applying apparatus
WO2004078668A1 (ja) * 2003-03-03 2004-09-16 Nippon Sheet Glass Company, Limited 凹凸のある表面を有する物品の製造方法
WO2004078667A1 (ja) * 2003-03-03 2004-09-16 Olympus Corporation ガラス基材の加工方法、加工ガラス製品及び応力印加装置
JPWO2004078667A1 (ja) * 2003-03-03 2006-06-08 オリンパス株式会社 ガラス基材の加工方法、加工ガラス製品及び応力印加装置
JP4576332B2 (ja) * 2003-03-03 2010-11-04 オリンパス株式会社 ガラス基材の加工方法及び応力印加装置
US7407889B2 (en) 2003-03-03 2008-08-05 Nippon Sheet Glass Company, Limited Method of manufacturing article having uneven surface
JP2005008442A (ja) * 2003-06-17 2005-01-13 Nishiyama Stainless Chem Kk ガラス板表面の凹部形成方法、マイクロレンズアレイの製造方法、及び、液晶表示装置
WO2005077852A1 (ja) * 2004-02-18 2005-08-25 Nippon Sheet Glass Company, Limited 凹凸のある表面を有するガラス基材の製造方法
JP2005231926A (ja) * 2004-02-18 2005-09-02 Nippon Sheet Glass Co Ltd 凹凸のある表面を有するガラス基材の製造方法
JP4540361B2 (ja) * 2004-02-18 2010-09-08 日本板硝子株式会社 凹凸のある表面を有するガラス基材の製造方法
JP2006082999A (ja) * 2004-09-15 2006-03-30 Olympus Corp 微小凸部の作製方法
JP2006176355A (ja) * 2004-12-21 2006-07-06 Namiki Precision Jewel Co Ltd パルスレーザによる微小構造の形成方法
JP4630971B2 (ja) * 2004-12-21 2011-02-09 並木精密宝石株式会社 パルスレーザによる微小構造の形成方法
US8307672B2 (en) 2005-11-22 2012-11-13 Olympus Corporation Glass substrate processing method and glass component
JP4708428B2 (ja) * 2005-11-22 2011-06-22 オリンパス株式会社 ガラス基材の加工方法
JPWO2007061018A1 (ja) * 2005-11-22 2009-05-07 オリンパス株式会社 ガラス基材の加工方法およびガラス部品
WO2009123261A1 (ja) * 2008-04-01 2009-10-08 信越化学工業株式会社 Soi基板の製造方法
US8420503B2 (en) 2008-04-01 2013-04-16 Shin—Etsu Chemical Co., Ltd. Method for producing SOI substrate
JP5433567B2 (ja) * 2008-04-01 2014-03-05 信越化学工業株式会社 Soi基板の製造方法
WO2014132983A1 (ja) * 2013-02-27 2014-09-04 旭硝子株式会社 ガラス基体の成形方法、およびガラス成形体
WO2016056788A3 (ko) * 2014-10-08 2017-04-27 코닝정밀소재 주식회사 무전해 도금층과의 접합력 증대를 위한 유리기판 제조방법
WO2017159411A1 (ja) * 2016-03-17 2017-09-21 旭硝子株式会社 ガラス板及びガラス構造体
JPWO2017159411A1 (ja) * 2016-03-17 2019-02-14 Agc株式会社 ガラス板及びガラス構造体
CN108367966A (zh) * 2016-04-11 2018-08-03 日本电气硝子株式会社 红外线吸收玻璃板及其制造方法、以及固体摄像元件设备
JP2017190282A (ja) * 2016-04-11 2017-10-19 日本電気硝子株式会社 赤外線吸収ガラス板及びその製造方法、並びに固体撮像素子デバイス
WO2017179283A1 (ja) * 2016-04-11 2017-10-19 日本電気硝子株式会社 赤外線吸収ガラス板及びその製造方法、並びに固体撮像素子デバイス
WO2019058858A1 (ja) * 2017-09-20 2019-03-28 日本電気硝子株式会社 赤外線吸収ガラス板及びその製造方法、並びに固体撮像素子デバイス
JP2019055889A (ja) * 2017-09-20 2019-04-11 日本電気硝子株式会社 赤外線吸収ガラス板及びその製造方法、並びに固体撮像素子デバイス
TWI791530B (zh) * 2017-09-20 2023-02-11 日商日本電氣硝子股份有限公司 紅外線吸收玻璃板及其製造方法、以及固體攝像元件裝置
WO2019065100A1 (ja) * 2017-09-27 2019-04-04 日本電気硝子株式会社 ガラス板及びその製造方法
CN111094203A (zh) * 2017-09-27 2020-05-01 日本电气硝子株式会社 玻璃板及其制造方法
KR20200060342A (ko) * 2017-09-27 2020-05-29 니폰 덴키 가라스 가부시키가이샤 유리판 및 그 제조 방법
JPWO2019065100A1 (ja) * 2017-09-27 2020-09-03 日本電気硝子株式会社 ガラス板及びその製造方法
CN111094203B (zh) * 2017-09-27 2022-06-17 日本电气硝子株式会社 玻璃板及其制造方法
JP7230816B2 (ja) 2017-09-27 2023-03-01 日本電気硝子株式会社 ガラス板及びその製造方法
KR102555595B1 (ko) * 2017-09-27 2023-07-14 니폰 덴키 가라스 가부시키가이샤 유리판 및 그 제조 방법

Also Published As

Publication number Publication date
US6913702B2 (en) 2005-07-05
US20050211673A1 (en) 2005-09-29
US20020058463A1 (en) 2002-05-16
US7727407B2 (en) 2010-06-01
JP4034056B2 (ja) 2008-01-16

Similar Documents

Publication Publication Date Title
JP2002160943A (ja) 非晶質材料の加工方法及びガラス基板
JP4185266B2 (ja) 情報記録媒体用基板の製造方法
JP3734745B2 (ja) 磁気記録媒体用ガラス基板の製造方法およびそれを用いて得られる磁気記録媒体用ガラス基板
US8127433B2 (en) Method of manufacturing a glass substrate for magnetic disk
US6550278B2 (en) Method of manufacturing glass substrate for use as information recording medium
JP4795614B2 (ja) 情報記録媒体用ガラス基板及びその製造方法
JP4336524B2 (ja) 情報記録媒体用ガラス基材の製造方法
JP2006228431A (ja) 磁気ディスク用ガラス基板、磁気ディスク用ガラス基板の製造方法及び磁気ディスク
JP3953760B2 (ja) ガラス基材の微細加工方法、微細加工用ガラス基材及び微細加工ガラス製品
JP5037975B2 (ja) 磁気ディスク用ガラス基板の製造方法及び磁気ディスクの製造方法
JP2002237030A (ja) 情報記録媒体用基板及びその製造方法
JP2004063062A (ja) 情報記録媒体用ガラス基板の製造方法及びその製造方法で製造された情報記録媒体用ガラス基板
JP2003266283A (ja) 情報記録媒体用ガラス基板の製造方法
JP4623211B2 (ja) 情報記録媒体用ガラス基板の製造方法およびそれを用いる磁気ディスク
JPWO2004042709A1 (ja) 情報記録媒体用ガラス基板及びその製造方法
JP4059285B2 (ja) 非晶質材料の加工方法
JP2000348344A (ja) 磁気記録媒体用ガラス基板の製造方法、及び磁気記録媒体の製造方法
JP4326825B2 (ja) 化学強化ガラス基板の製造方法及び情報記録媒体用ガラス基板の製造方法
JP6059739B2 (ja) ハードディスク用ガラス基板の製造方法
JP5391220B2 (ja) 情報記録媒体用ガラス基板の製造方法
JP2001316133A (ja) ガラス基板の製造方法およびガラス基板、ならびにそのガラス基板を用いた情報記録装置
JP2737901B2 (ja) 磁気ディスク用ガラス基板の製造方法
JPH04139034A (ja) 磁気記録媒体用ガラス基板表面に凹凸を形成する方法
JP5433722B2 (ja) 情報記録媒体用ガラス基板及び磁気ディスク
JP2009120414A (ja) 凸部を有する基板表面の微細構造作製方法およびガラス部品

Legal Events

Date Code Title Description
A621 Written request for application examination

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A621

Effective date: 20040416

RD03 Notification of appointment of power of attorney

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A7423

Effective date: 20060427

A977 Report on retrieval

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A971007

Effective date: 20060810

A131 Notification of reasons for refusal

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131

Effective date: 20060822

A521 Written amendment

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523

Effective date: 20061013

A131 Notification of reasons for refusal

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131

Effective date: 20070417

A521 Written amendment

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523

Effective date: 20070523

TRDD Decision of grant or rejection written
A01 Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01

Effective date: 20071023

A61 First payment of annual fees (during grant procedure)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A61

Effective date: 20071024

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20101102

Year of fee payment: 3

R150 Certificate of patent or registration of utility model

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R150

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20101102

Year of fee payment: 3

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20111102

Year of fee payment: 4

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20111102

Year of fee payment: 4

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20121102

Year of fee payment: 5

LAPS Cancellation because of no payment of annual fees