JP2000194014A5 - - Google Patents
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Description
【特許請求の範囲】
【請求項1】
画素TFTと保持容量とを含む画素マトリクス回路を有する半導体装置であって、
前記画素TFTは、第1配線と、第2配線と、前記第1配線と前記第2配線との間に半導体層が挟まれた構造を有し、
前記半導体層は、複数の絶縁層を介して前記第1配線と重なるチャネル形成領域と、前記チャネル形成領域に接し、且つ前記第1配線と重なる低濃度不純物領域と、を含み、
前記保持容量は、容量配線と、前記半導体層と同一組成の半導体領域と、前記容量配線と前記半導体領域の間に前記複数の絶縁層の一部が挟まれた構造を有することを特徴とする半導体装置。
【請求項2】
画素TFTと保持容量とを含む画素マトリクス回路を有する半導体装置であって、
前記画素TFTは、第1配線と、第2配線と、前記第1配線と前記第2配線との間に半導体層が挟まれた構造を有し、
前記半導体層は、第1絶縁層、第2絶縁層および酸化珪素膜を介して第1配線と重なるチャネル形成領域と、前記チャネル形成領域に接し、且つ前記第1配線と重なる低濃度不純物領域と、を含み、
前記保持容量は、容量配線と、前記半導体層と同一組成の半導体領域と、前記容量配線と前記半導体領域との間に前記前記第1絶縁層および前記酸化珪素膜とが挟まれた構造を有することを特徴とする半導体装置。
【請求項3】
請求項1または請求項2において、
前記第1配線はフローティング状態にあることを特徴とする半導体装置。
【請求項4】
請求項1または請求項2において、
前記第1配線は最低電源電位に保持されることを特徴とする半導体装置。
【請求項5】
同一基板上に画素マトリクス回路とドライバー回路とを有する半導体装置であって、
前記画素マトリクス回路は、画素TFTと保持容量とを有し、
前記ドライバー回路はNチャネル型TFTを有し、
前記画素TFTと前記Nチャネル型TFTは、第1配線と、第2配線と、前記第1配線と前記第2配線との間に半導体層が挟まれた構造をそれぞれ有し、
前記画素TFTと前記Nチャネル型TFTの有するそれぞれの前記半導体層は、複数の絶縁層を介して前記第1配線と重なるチャネル形成領域と、前記チャネル形成領域に接し、且つ前記第1配線と重なる低濃度不純物領域と、を含み、
前記保持容量は、容量配線と、前記半導体層と同一組成の半導体領域と、前記容量配線と前記半導体領域の間に前記複数の絶縁層の一部が挟まれた構造を有し、
前記画素TFTが有する前記第1配線は最低電源電位に保持され、前記Nチャネル型TFTが有する前記第1配線は、前記Nチャネル型TFTが有する前記第2配線と同電位に保持されることを特徴とする半導体装置。
【請求項6】
同一基板上に画素マトリクス回路とドライバー回路とを有する半導体装置であって、
前記画素マトリクス回路は、画素TFTと保持容量とを有し、
前記ドライバー回路はNチャネル型TFTを有し、
前記画素TFTと前記Nチャネル型TFTは、第1配線と、第2配線と、前記第1配線と前記第2配線との間に半導体層が挟まれた構造をそれぞれ有し、
前記画素TFTと前記Nチャネル型TFTの有するそれぞれの前記半導体層は、第1絶縁層、第2絶縁層および酸化珪素膜を介して第1配線と重なるチャネル形成領域と、前記チャネル形成領域に接し、且つ前記第1配線と重なる低濃度不純物領域と、を含み、
前記保持容量は、容量配線と、前記半導体層と同一組成の半導体領域と、前記容量配線と前記半導体領域の間に前記第1絶縁層と前記酸化珪素膜とが挟まれた構造を有し、
前記画素TFTが有する前記第1配線は最低電源電位に保持され、前記Nチャネル型TFTが有する前記第1配線は、前記Nチャネル型TFTが有する前記第2配線と同電位に保持されることを特徴とする半導体装置。
【請求項7】
請求項1乃至請求項6のいずれか一において、
前記第1配線とはタンタル(Ta)、クロム(Cr)、チタン(Ti)、タングステン(W)、モリブデン(Mo)、またはシリコン(Si)から選ばれた元素を主成分とする導電膜、前記元素を組み合わせた合金膜またはシリサイド膜、或いは前記導電膜、前記合金膜または前記シリサイド膜を積層した積層膜であることを特徴とする半導体装置。
【請求項8】
請求項1乃至請求項7のいずれか一において、
前記画素TFTが有する前記半導体層と前記保持容量が有する前記半導体領域とは同一の半導体膜であることを特徴とする半導体装置。
【請求項9】
請求項1乃至請求項8のいずれか一において、
前記第1絶縁層とはタンタル(Ta)、チタン(Ti)、バリウム(Ba)、ハフニウム(Hf)、ビスマス(Bi)、タングステン(W)、トリウム(Th)、タリウム(Tl)、または鉛(Pb)から選ばれた元素を含む酸化物またはハロゲン化物であることを特徴とする半導体装置。
【請求項10】
請求項1乃至請求項9のいずれか一に記載の半導体装置を有することを特徴とするアクティブマトリクス型液晶ディスプレイまたはアクティブマトリクス型ELディスプレイ。
【請求項11】
請求項1乃至請求項9のいずれか一に記載の半導体装置を有することを特徴とするビデオカメラ、デジタルカメラ、プロジェクター、プロジェクションTV、ゴーグル型ディスプレイ、カーナビゲーション、パーソナルコンピュータ、携帯情報端末。
【請求項1】
画素TFTと保持容量とを含む画素マトリクス回路を有する半導体装置であって、
前記画素TFTは、第1配線と、第2配線と、前記第1配線と前記第2配線との間に半導体層が挟まれた構造を有し、
前記半導体層は、複数の絶縁層を介して前記第1配線と重なるチャネル形成領域と、前記チャネル形成領域に接し、且つ前記第1配線と重なる低濃度不純物領域と、を含み、
前記保持容量は、容量配線と、前記半導体層と同一組成の半導体領域と、前記容量配線と前記半導体領域の間に前記複数の絶縁層の一部が挟まれた構造を有することを特徴とする半導体装置。
【請求項2】
画素TFTと保持容量とを含む画素マトリクス回路を有する半導体装置であって、
前記画素TFTは、第1配線と、第2配線と、前記第1配線と前記第2配線との間に半導体層が挟まれた構造を有し、
前記半導体層は、第1絶縁層、第2絶縁層および酸化珪素膜を介して第1配線と重なるチャネル形成領域と、前記チャネル形成領域に接し、且つ前記第1配線と重なる低濃度不純物領域と、を含み、
前記保持容量は、容量配線と、前記半導体層と同一組成の半導体領域と、前記容量配線と前記半導体領域との間に前記前記第1絶縁層および前記酸化珪素膜とが挟まれた構造を有することを特徴とする半導体装置。
【請求項3】
請求項1または請求項2において、
前記第1配線はフローティング状態にあることを特徴とする半導体装置。
【請求項4】
請求項1または請求項2において、
前記第1配線は最低電源電位に保持されることを特徴とする半導体装置。
【請求項5】
同一基板上に画素マトリクス回路とドライバー回路とを有する半導体装置であって、
前記画素マトリクス回路は、画素TFTと保持容量とを有し、
前記ドライバー回路はNチャネル型TFTを有し、
前記画素TFTと前記Nチャネル型TFTは、第1配線と、第2配線と、前記第1配線と前記第2配線との間に半導体層が挟まれた構造をそれぞれ有し、
前記画素TFTと前記Nチャネル型TFTの有するそれぞれの前記半導体層は、複数の絶縁層を介して前記第1配線と重なるチャネル形成領域と、前記チャネル形成領域に接し、且つ前記第1配線と重なる低濃度不純物領域と、を含み、
前記保持容量は、容量配線と、前記半導体層と同一組成の半導体領域と、前記容量配線と前記半導体領域の間に前記複数の絶縁層の一部が挟まれた構造を有し、
前記画素TFTが有する前記第1配線は最低電源電位に保持され、前記Nチャネル型TFTが有する前記第1配線は、前記Nチャネル型TFTが有する前記第2配線と同電位に保持されることを特徴とする半導体装置。
【請求項6】
同一基板上に画素マトリクス回路とドライバー回路とを有する半導体装置であって、
前記画素マトリクス回路は、画素TFTと保持容量とを有し、
前記ドライバー回路はNチャネル型TFTを有し、
前記画素TFTと前記Nチャネル型TFTは、第1配線と、第2配線と、前記第1配線と前記第2配線との間に半導体層が挟まれた構造をそれぞれ有し、
前記画素TFTと前記Nチャネル型TFTの有するそれぞれの前記半導体層は、第1絶縁層、第2絶縁層および酸化珪素膜を介して第1配線と重なるチャネル形成領域と、前記チャネル形成領域に接し、且つ前記第1配線と重なる低濃度不純物領域と、を含み、
前記保持容量は、容量配線と、前記半導体層と同一組成の半導体領域と、前記容量配線と前記半導体領域の間に前記第1絶縁層と前記酸化珪素膜とが挟まれた構造を有し、
前記画素TFTが有する前記第1配線は最低電源電位に保持され、前記Nチャネル型TFTが有する前記第1配線は、前記Nチャネル型TFTが有する前記第2配線と同電位に保持されることを特徴とする半導体装置。
【請求項7】
請求項1乃至請求項6のいずれか一において、
前記第1配線とはタンタル(Ta)、クロム(Cr)、チタン(Ti)、タングステン(W)、モリブデン(Mo)、またはシリコン(Si)から選ばれた元素を主成分とする導電膜、前記元素を組み合わせた合金膜またはシリサイド膜、或いは前記導電膜、前記合金膜または前記シリサイド膜を積層した積層膜であることを特徴とする半導体装置。
【請求項8】
請求項1乃至請求項7のいずれか一において、
前記画素TFTが有する前記半導体層と前記保持容量が有する前記半導体領域とは同一の半導体膜であることを特徴とする半導体装置。
【請求項9】
請求項1乃至請求項8のいずれか一において、
前記第1絶縁層とはタンタル(Ta)、チタン(Ti)、バリウム(Ba)、ハフニウム(Hf)、ビスマス(Bi)、タングステン(W)、トリウム(Th)、タリウム(Tl)、または鉛(Pb)から選ばれた元素を含む酸化物またはハロゲン化物であることを特徴とする半導体装置。
【請求項10】
請求項1乃至請求項9のいずれか一に記載の半導体装置を有することを特徴とするアクティブマトリクス型液晶ディスプレイまたはアクティブマトリクス型ELディスプレイ。
【請求項11】
請求項1乃至請求項9のいずれか一に記載の半導体装置を有することを特徴とするビデオカメラ、デジタルカメラ、プロジェクター、プロジェクションTV、ゴーグル型ディスプレイ、カーナビゲーション、パーソナルコンピュータ、携帯情報端末。
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