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HINTERGRUND
DER ERFINDUNG
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Gebiet der Erfindung
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Die
vorliegende Erfindung betrifft eine Reinigungs- und Trocknungseinrichtung,
welche zu bearbeitende Gegenstände
reinigt, beispielsweise Halbleiterwafer und Glassubstrate für LCDs (Flüssigkristallanzeigen)
und dergleichen, durch deren Eintauchen in Reinigungsflüssigkeit,
beispielsweise Chemikalien und Spülflüssigkeiten, und welche dann
die Gegenstände
trocknet.
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Beschreibung
des Stands der Technik
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Die
WO 92/08554 A beschreibt eine Reinigungs- und Trocknungseinrichtung
gemäß dem Oberbegriff
des Patentanspruchs 1. Die US-A-5 368 649 beschreibt eine ähnliche
Reinigungs- und Trocknungseinrichtung, deren Verbindungsteil nicht
so angeordnet ist, dass es sich durch die Verbindungsöffnung erstreckt.
Die EP-A-0 832 697, die relevant zur Bestimmung der Neuheit des
Gegenstands gemäß der vorliegenden
Erfindung gemäß Art. 54(3)
ist, jedoch in Bezug auf erfinderische Tätigkeit nach Art. 54 EPÜ nicht zu
berücksichtigen
ist, beschreibt eine ähnliche
Reinigungs- und Trocknungseinrichtung wie die US-A-5 368 449.
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Üblicherweise
ist auf dem Gebiet der Herstellung von Halbleiterbauelementen ein
häufig
eingesetzter Reinigungsprozess vorhanden, bei welchem die zu bearbeitenden
Gegenstände,
beispielsweise Halbleiterwafer und LCD-Glassubstrate und dergleichen (nachstehend
als „Wafer
usw." bezeichnet)
aufeinanderfolgend in ein Prozessbad eingetaucht werden, das mit
den Chemikalien, den Spülflüssigkeiten
oder dergleichen gefüllt
ist. Weiterhin ist auch eine Trocknungseinrichtung bekannt, welche die
Wafer usw. entwässert
und trocknet, dadurch, dass die Oberflächen der Wafer usw. nach dem
Reinigen mit einem Trocknungsgas eines Dampfes eines flüchtigen
organischen Lösungsmittels
beispielsweise IPA (Isopropylalkohol) und dergleichen in Kontakt
gebracht werden, zum Kondensieren oder Absorbieren des Dampfes des
Trocknungsgases auf den Oberflächen.
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Die
voranstehend geschilderte, herkömmliche
Reinigungs- und Trocknungseinrichtung weist einen Trocknungsabschnitt
auf, der oberhalb eines Reinigungsabschnitts angeordnet ist, welcher
die Reinigungsflüssigkeit
der Chemikalien, die Spülflüssigkeiten
oder dergleichen aufbewahrt, und einen Verschluss zum Öffnen und
Verschließen
einer Verbindungsöffnung
zwischen dem Reinigungsabschnitt und dem Trocknungsabschnitt. In
dieser Reinigungs- und Trocknungseinrichtung werden, nachdem die
zu bearbeitenden Wafer von einem Förderarm, welcher die Wafer
transportiert, an eine Transportvorrichtung durch die geöffnete Verbindungsöffnung geliefert wurden,
die Wafer in dem Reinigungsabschnitt gereinigt, während der
Förderarm
zurückgezogen
wird. Nach dem Reinigen werden die Wafer aus dem Reinigungsabschnitt
heraufgezogen, und in den Trocknungsabschnitt übertragen. Dann wird der Reinigungsabschnitt
von dem Trocknungsabschnitt dadurch getrennt, dass die Verbindungsöffnung durch den
Verschluss geschlossen wird, und dann wird das Trocknungsgas in
den Trocknungsabschnitt zum Trocknen der Wafer eingegeben.
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Bei
der voranstehend geschilderten, herkömmlichen Reinigungs- und Trocknungseinrichtung ist
infolge der Tatsache, dass die Dichtung um den Verschluss herum
durch Dichtungsteile vorgenommen wird, beispielsweise O-Ringe und
dergleichen, immer noch die Möglichkeit
vorhanden, dass die Dichtung zwischen dem Reinigungsabschnitt und
einem Antriebsteil zum Öffnen
und Schließen
des Verschlusses nicht perfekt erzielt wird, sodass Teilchen, die
in dem Antriebsteil hervorgerufen werden, in den Reinigungsabschnitt
eindringen. Weiterhin besteht auch die Möglichkeit, dass eine Atmosphäre in dem Reinigungsabschnitt
in das Antriebsteil hineingelangt, sodass die Leistung des Antriebsteils
beeinflusst wird, und die Lebensdauer der Einrichtung selbst in
nachteiliger Weise verkürzt
wird.
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Wiederum
wird darauf hingewiesen, dass die voranstehend geschilderte Trocknungseinrichtung
so ausgebildet ist, dass sie die mehreren Wafer usw. in einer Trocknungskammer
aufnimmt, während
sie voneinander in gleichen Abständen
in Horizontalrichtung beabstandet sind, und dazu ausgebildet ist,
das Trocknungsgas gegen die Wafer usw. durch eine Trocknungsgas-
Zufuhrvorrichtung zu blasen, beispielsweise Gasdüsen, die in der Trocknungskammer
vorgesehen sind, um die Wafer usw. zu entwässern und zu trocknen.
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Da
bei der so ausgebildeten Trocknungseinrichtung die voranstehend
erwähnte
Trocknungsgas- Zufuhrvorrichtung ortsfest angeordnet ist, ist es
jedoch schwierig, das Trocknungsgas gleichmäßig über die gesamten Oberflächen der
Wafer usw. zuzuführen.
Infolge eines ungleichmäßigen Trocknens
der Wafer usw. kann dies dazu führen,
dass der Trocknungswirkungsgrad beeinträchtigt wird. Weiterhin treten
infolge der Tatsache, dass eine Menge an Trocknungsgas dazu erforderlich
ist, das Trocknungsgas über
den gesamten Oberflächen
der Wafer usw. zuzuführen,
Probleme in Bezug auf Erhöhung des
Gasverbrauches und dahingehend auf, dass viel Zeit für den Trocknungsprozess
benötigt
wird.
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ZUSAMMENFASSUNG
DER ERFINDUNG
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Daher
besteht ein Ziel der vorliegenden Erfindung in der Bereitstellung
einer Reinigungs- und Trocknungseinrichtung, die dazu fähig ist,
Teilchen am Eindringen in Bearbeitungskammern durch ein Antriebsteil
eines Verschlusses zum Öffnen
und Schließen
einer Reinigungskammer und einer Trocknungskammer zu hindern, und
welche verhindern kann, dass eine Atmosphäre in der Bearbeitungskammer
in das Antriebsteil hineingelangt, wodurch Verbesserungen in Bezug
auf die Produktausbeute und die Leistung der Einrichtung erzielt
werden können,
während
deren Lebensdauer verlängert
wird.
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Ein
weiteres Ziel der vorliegenden Erfindung besteht in der Bereitstellung
einer Reinigungseinrichtung, durch welche ermöglicht wird, den Trocknungswirkungsgrad
zu verbessern, und den Verbrauch an Trocknungsgas zu verringern.
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Die
Erfindung ist eine Einrichtung, welche die im Patentanspruch 1 angegebenen
Merkmale aufweist. Bevorzugte Ausführungsformen der Erfindung sind
in den abhängigen
Patentansprüchen
angegeben.
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Gemäß der vorliegenden
Erfindung wird eine Reinigungs- und Trocknungseinrichtung zum Reinigen
und Trocknen eines zu bearbeitenden Gegenstands zur Verfügung gestellt,
wobei die Einrichtung aufweist:
einen Bearbeitungsbehälter, der
eine Reinigungskammer aufweist, die in sich Reinigungsflüssigkeit zum
Reinigen des zu bearbeitenden Gegenstands aufnimmt, und eine Trocknungskammer
aufweist, welche oberhalb der Reinigungskammer angeordnet ist, um
den zu bearbeitenden Gegenstand zu trocknen;
einen Verschluss,
der zwischen der Reinigungskammer und der Trocknungskammer des Bearbeitungsbehälters angeordnet
ist, zum verbindbaren Unterteilen des Bearbeitungsbehälters in
die Reinigungskammer und die Trocknungskammer;
eine Verschlussantriebseinheit,
die außerhalb
des Bearbeitungsbehälters
angeordnet ist, zum Öffnen und
Schließen
des Verschlusses;
eine Verbindungsöffnung, die in einer Außenwand des
Bearbeitungsbehälters
vorgesehen ist;
ein Verbindungsteil, das so angeordnet ist,
dass es sich durch die Verbindungsöffnung erstreckt, zum Verbinden
des Verschlusses mit der Verschlussantriebseinheit; und
eine
Flüssigkeitsdichtungsvorrichtung
zum Abdichten der Verbindungsöffnung,
durch welche das Verbindungsteil hindurchgeht, mit Flüssigkeit.
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Da
ein Öffnungs-
und Schließteil
des Verschlusses durch die Flüssigkeitsdichtungsvorrichtung
auf luftdichte und wasserdichte Art und Weise abgedichtet werden
kann, wird daher ermöglicht,
das Eindringen von in einem Antriebsteil des Verschlusses erzeugten
Teilchen in die Trocknungs- und Reinigungskammern zu verhindern.
Daher können
die Reinigungs- und
Trocknungsprozesse der Gegenstände
unter optimalen Bedingungen durchgeführt werden, sodass die Produktausbeute
verbessert werden kann.
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Vorzugsweise
weist die Flüssigkeitsdichtungsvorrichtung
auf:
ein Flüssigkeitsvorratsbehälterbad,
das ein inneres Vorratsbehälterbad
aufweist, das innerhalb der Verbindungsöffnung in der Außenwand
angeordnet ist, wobei das innere Vorratsbehälterbad nach oben geöffnet ist,
und dessen oberer Öffnungsrand
oberhalb eines oberen Endes der Verbindungsöffnung angeordnet ist, und
ein äußeres Vorratsbehälterbad
aufweist, das außerhalb
der Verbindungsöffnung
in der Außenwand
angeordnet ist, wobei das äußere Vorratsbehälterbad
nach oben offen ist, und dessen oberer Öffnungsrand oberhalb des oberen
Endes der Verbindungsöffnung
angeordnet ist; und
Dichtungsflüssigkeit, die in dem Flüssigkeitsvorratsbehälterbad
gespeichert ist, sodass ihre Flüssigkeitsoberfläche oberhalb
des oberen Endes der Verbindungsöffnung
und unter dem oberen Öffnungsende
des Flüssigkeitsvorratsbehälterbades
liegt;
und wobei das Verbindungsteil so gebogen ist, dass es
sich voN dem Verschluss zu der Verschlussantriebseinheit über eine Öffnung des
inneren Vorratsbehälters
erstreckt, die Verbindungsöffnung
in der Außenwand,
und eine Öffnung
des äußeren Vorratsbehälterbades,
in dieser Reihenfolge, während
es durch die Dichtungsflüssigkeit
hindurchgeht.
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Da
der obere Öffnungsrand
der Verbindungsöffnung
an der Außenwand
des Bearbeitungsbehälters
in die Dichtungsflüssigkeit
eingetaucht ist, wird daher ermöglicht,
die Verschlussantriebseinheit und die Kammern festzulegen. Daher
wird ermöglicht,
zu verhindern, dass in der Antriebseinheit des Verschlusses erzeugte
Teilchen in die Trocknungs- und Reinigungskammern eindringen, um
zu verhindern, dass die jeweiligen Atmosphären in den Kammern sich im
Antriebsteil der Antriebseinheiten mischen.
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Vorzugsweise
ist bei der voranstehend geschilderten Reinigungs- und Trocknungseinrichtung das
Flüssigkeitsvorratsbehälterbad
auf seinem unteren Teil mit einem Zufuhranschluss zum Zuführen der Dichtungsflüssigkeit
von einer Quelle für
diese versehen, und ist weiterhin auf seinem oberen Teil mit einem
Ablassanschluss zum Ablassen der Dichtungsflüssigkeit versehen, welche aus
dem Flüssigkeitsvorratsbehälterbad überläuft.
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Da
ermöglicht
wird, durchgehend ein wannenförmiges
Bad der Flüssigkeitsdichtungsvorrichtung
mit der zugeführten
Dichtungsflüssigkeit
zu füllen
und von dort überlaufen
zu lassen, wird daher ermöglicht,
sicher die Antriebseinheit des Verschlusses und die Kammern auf
wasserdichte Art und Weise abzudichten, und die in der Antriebseinheit
erzeugten Teilchen in der Flüssigkeitsdichtungsvorrichtung
aufzunehmen, und sie dann von einem Ablassteil abzulassen.
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Vorzugsweise
weist in der voranstehend geschilderten Reinigungs- und Trocknungseinrichtung die
Verschlussantriebseinheit ein Antriebsteil zum Antreiben des Verschlusses
und ein mit Inertgas gefülltes
Gehäuse
auf, zum Umschließen
der Antriebseinheit.
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Da
das Antriebsteil der Verschlussantriebseinheit mit einer Atmosphäre aus Inertgas
gefüllt
ist, wird daher ermöglicht,
sicher zu verhindern, dass sich die Atmosphären in den Kammern in dem Antriebsteil
mischen.
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Vorzugsweise
ist in der Reinigungs- und Trocknungseinrichtung der Bearbeitungsbehälter auf seiner
Innenwand zwischen der Reinigungskammer und der Trocknungskammer
mit einer Dichtungsoberfläche
versehen, welche einen plattenförmigen Umfang
des Verschlusses in seiner geschlossenen Position aufnimmt, um hierdurch
die Reinigungskammer von der Trocknungskammer zu trennen; und
weist
der Verschluss einen oberen und einen unteren Verschlusskörper auf,
die plattenförmig
sind, und so angeordnet sind, dass sie sich gegenseitig überlappen,
sowie eine Relativbewegungsvorrichtung auf, die zwischen dem oberen
Verschlusskörper
und dem unteren Verschlusskörper
angeordnet ist, zur Relativbewegung des oberen und des unteren Verschlusskörpers in
Richtung nahe zueinander und getrennt voneinander.
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Durch
Betätigung
der Relativbewegungsvorrichtung auf solche Weise, dass sowohl der
obere als auch der untere Verschlusskörper voneinander nach oben
und unten getrennt werden, wird daher ermöglicht, den Verschluss gegen
die Dichtungsoberfläche zu
drücken.
Daher kann die Reinigungskammer sicher von der Trocknungskammer
abgeschaltet werden.
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Vorzugsweise
ist in der Reinigungs- und Trocknungseinrichtung der Bearbeitungsbehälter auf seiner
Innenwand zwischen der Reinigungskammer und der Trocknungskammer
mit einer Dichtungsoberfläche
versehen, die einen plattenförmigen
Umfang des Verschlusses in seiner geschlossenen Position aufnimmt,
um hierdurch die Reinigungskammer von der Trocknungskammer zu trennen;
und weist die Reinigungs- und Trocknungseinrichtung weiterhin auf:
eine
Antriebsvorrichtung, die zwischen der Flüssigkeitsdichtungsvorrichtung
und der Verschlussantriebseinheit angeordnet ist, zum Antreiben
und Bewegen des Verschlusses in dessen geschlossene Position zu
der Dichtungsoberfläche
hin.
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In
diesem Fall ist es nicht erforderlich, ein mechanisches Betätigungsteil,
beispielsweise die voranstehend geschilderte Relativbewegungsvorrichtung,
in dem Bearbeitungsbehälter
vorzusehen. Daher wird ermöglicht,
die Reinheit des Bearbeitungsbehälters
noch weiter zu verbessern.
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Vorzugsweise
weist die Reinigungs- und Trocknungseinrichtung auf:
eine Gegenstandstransportvorrichtung
zum Transportieren mehrerer zu bearbeitender Gegenstände so,
dass sie voneinander in horizontaler Richtung getrennt sind;
wobei
die Trocknungskammer dazu ausgebildet ist, die Gegenstände in sich
zusammen mit der Gegenstandstransportvorrichtung aufzunehmen, und
die Gegenstände
zu trocknen;
eine Trocknungsgas-Zufuhrvorrichtung, die in der Trocknungskammer
angeordnet ist, um Trocknungsgas den zu bearbeitenden Gegenständen zuzuführen; und
eine
Bewegungsvorrichtung zum Bewegen der Gegenstände und der Trocknungsgas-Zufuhrvorrichtung
relativ zueinander.
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Mit
der voranstehend geschilderten Anordnung wird infolge der Relativbewegung
der Gegenstände
und der Trocknungsgas-Zufuhrvorrichtung
ermöglicht,
das Trocknungsgas gegen die gesamten Oberflächen der Gegenstände zuzuführen und
einen gleichmäßigen Kontakt
zu erzielen, sodass die sich ergebende Kondensation oder Absorption
des Trocknungsgasdampfes dazu führt,
dass die Gegenstände entwässert und
getrocknet werden. Trotz einer geringeren Zufuhr an Trocknungsgas
wird daher ermöglicht,
die Gegenstände
gleichmäßig zu trocknen.
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Vorzugsweise
weist bei der voranstehend geschilderten Reinigungs- und Trocknungseinrichtung
das Trocknungsgas einen Dampf eines organischen Lösungsmittels
auf. Hierbei kann das voranstehend erwähnte Trocknungsgas ein Inertgas
sein, beispielsweise Luft, Stickstoffgas (N2) oder dergleichen.
Vorzugsweise besteht das Trocknungsgas aus einem Dampf eines organischen
Lösungsmittels,
beispielsweise der Alkoholketonfamilie von IPA (Isopropylalkohol)
usw., der Etherfamilie, einem mehrwertigen Alkohol usw.
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Vorzugsweise
weisen bei der voranstehenden Reinigungs- und Trocknungseinrichtung
die zu bearbeitenden Gegenstände
die Form von Platten auf;
und weist die Trocknungsgas-Zufuhrvorrichtung mehrere
Düsen auf,
die in Abständen
in einer Richtung zum Anordnen der zu bearbeitenden Gegenstände angeordnet
sind; und
arbeitet die Bewegungsvorrichtung so, dass sie jede der
Düsen in
einer Ebene parallel zu jedem der Gegenstände in Form von Platten bewegt.
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In
diesem Fall wird ermöglicht,
das Trocknungsgas gleichmäßig in Kontakt
mit den Oberflächen
der Gegenstände
zu bringen, sodass der Trocknungswirkungsgrad bei einer Verringerung
des Trocknungsgasverbrauches verbessert werden kann.
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Vorzugsweise
ist die voranstehend geschilderte Reinigungs- und Trocknungseinrichtung
so ausgebildet, dass die Bewegungsvorrichtung so arbeitet, dass
sie jede der Düsen
in deren Umfangsrichtung bewegt.
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Alternativ,
gemäß einem
anderen Aspekt der vorliegenden Erfindung, arbeitet die Bewegungsvorrichtung
so, dass sie jede der Düsen
in einer Ebene parallel zu jedem der Gegenstände in Schwingungen versetzt.
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Alternativ,
gemäß einem
anderen Aspekt der vorliegenden Erfindung, arbeitet die Bewegungsvorrichtung
so, dass sie jede der Düsen
in Vertikalrichtung bewegt.
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Gemäß einem
anderen Aspekt der vorliegenden Erfindung wird die voranstehend
geschilderte Reinigungs- und Trocknungseinrichtung zur Verfügung gestellt,
in welcher die zu bearbeitenden Gegenstände die Form von Platten aufweisen;
wobei
die Trocknungsgas-Zufuhrvorrichtung eine Düse zum Ausstoßen von
Gas zu den zu bearbeitenden Gegenständen aufweist; und
die
Bewegungsvorrichtung so arbeitet, dass sie die Düse in einer Richtung zum Anordnen
der zu bearbeitenden Gegenstände
bewegt.
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Auch
in diesem Fall wird ermöglicht,
einen gleichmäßigen Kontakt
des Trocknungsgases mit den Oberflächen der Gegenstände zu erzielen,
sodass der Trocknungswirkungsgrad bei einer Verringerung des Trocknungsgasverbrauches
verbessert werden kann.
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Gemäß einem
anderen Aspekt der vorliegenden Erfindung wird die voranstehend
geschilderte Reinigungs- und Trocknungseinrichtung zur Verfügung gestellt,
in welcher die zu bearbeitenden Gegenstände die Form von Platten aufweisen;
wobei
die Trocknungsgas-Zufuhrvorrichtung mehrere Düsen aufweist, die in Abständen in
einer Richtung zum Anordnen der zu bearbeitenden Gegenstände angeordnet
sind; und
die Bewegungsvorrichtung so arbeitet, dass sie die Gegenstände als
eine Zentrumsachse entlang der Richtung zum Anordnen der zu bearbeitenden
Gegenstände
dreht.
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Daher
wird ermöglicht,
einen gleichmäßigen Kontakt
des Trocknungsgases mit den Oberflächen der Gegenstände zu erzielen,
sodass der Trocknungswirkungsgrad unter Verringerung des Trocknungsgasverbrauches
verbessert werden kann.
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Da
gemäß der vorliegenden
Erfindung die Trocknungskammer oberhalb der Reinigungskammer zum
Reinigen der zu bearbeitenden Gegenstände angeordnet ist, wird mit
der voranstehend geschilderten Anordnung ermöglicht, die in dem Reinigungsbad
gereinigten Gegenstände
hoch zu ziehen, um sie zu trocknen.
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Gemäß einem
anderen Aspekt der vorliegenden Erfindung ist bei der voranstehenden
Reinigungs- und Trocknungseinrichtung die Gegenstandstransportvorrichtung
bewegbar, um einen Pendelverkehr zwischen der Reinigungskammer und
der Trocknungskammer durchzuführen.
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Infolge
der Tatsache, dass die Gegenstandstransportvorrichtung bewegbar
zwischen der Reinigungskammer und der Trocknungskammer angeordnet
ist, wird daher ermöglicht,
die Gegenstände
zur Reinigungskammer und zur Trocknungskammer mit derselben Vorrichtung
zu bewegen, wodurch der Trocknungsprozess nach der Reinigung effizienter durchgeführt werden
kann.
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Die
voranstehenden und weiteren Merkmale und Vorteile der vorliegenden
Erfindung werden aus der Beschäftigung
mit der folgenden Beschreibung und den beigefügten Patenansprüchen deutlich
werden, und hieraus lässt
sich auch die Erfindung am besten verstehen, unter Bezugnahme auf
die beigefügten
Zeichnungen, die bevorzugte Ausführungsformen
der Erfindung zeigen.
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KURZBESCHREIBUNG
DER ZEICHNUNGEN
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1 ist
eine schematische Aufsicht auf ein Reinigungssystem, bei welchem
eine Reinigungs- und Trocknungseinrichtung gemäß der vorliegenden Erfindung
eingesetzt wird;
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2 ist
eine schematische Seitenansicht des Reinigungssystems von 1;
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3 ist
eine schematische Perspektivansicht der Reinigungs- und Trocknungseinrichtung, wobei
ein Beispiel für
die Erfindung gezeigt ist;
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4 ist
eine Querschnittsansicht der Reinigungs- und Trocknungseinrichtung
gemäß einer
ersten Ausführungsform
der Erfindung;
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5 ist
eine schematische Querschnittsansicht, die ein wesentliches Teil
der Reinigungs- und Trocknungseinrichtung von 4 zeigt;
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6 ist
eine vergrößerte Querschnittsansicht,
die einen Flüssigkeitsdichtungsmechanismus der
Reinigungs- und Trocknungseinrichtung von 5 zeigt;
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7 ist
eine Querschnittsansicht in Perspektivdarstellung, welche einen
Verschluss und den Flüssigkeitsdichtungsmechanismus
der Reinigungs- und
Trocknungseinrichtung von 4 zeigt;
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8 ist
eine vergrößerte Querschnittsansicht,
welche den Verschluss der Reinigungs- und Trocknungseinrichtung
von 4 zeigt;
-
9 ist
eine Querschnittsansicht, die ein anderes Beispiel für den Flüssigkeitsdichtungsmechanismus
von 6 zeigt;
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10 ist
eine Querschnittsansicht des Flüssigkeitsdichtungsmechanismus
von 9, wobei ein Zustand dargestellt ist, in welchem
der Verschluss nach oben bewegt wird;
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11 ist
eine Perspektivansicht, welche den Flüssigkeitsdichtungsmechanismus
von 9 zeigt;
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12 ist
eine Querschnittsansicht einer Hebevorrichtung für einen Trocknungskammerkörper und
einer Transportvorrichtung der Reinigungs- und Trocknungseinrichtung
gemäß der Erfindung;
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13 ist
eine Querschnittsansicht der Hebevorrichtung von 12 in
ihrem Betriebszustand;
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14 ist
eine schematische Querschnittsansicht der Reinigungs- und Trocknungseinrichtung, wobei
ein Zustand vor dem Liefern von zu bearbeitenden Substraten gezeigt
ist;
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15 ist
eine schematische Querschnittsansicht der Reinigungs- und Trocknungseinrichtung, wobei
ein Zustand zum Zeitpunkt der Lieferung der zu bearbeitenden Substrate
gezeigt ist;
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16 ist
eine schematische Querschnittsansicht der Reinigungs- und Trocknungseinrichtung, wobei
ein Zustand des Ladens der Substrate in ein Reinigungsbad gezeigt
ist;
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17 ist
eine schematische Querschnittsansicht der Reinigungs- und Trocknungseinrichtung, wobei
ein Zustand des Reinigens der Substrate gezeigt ist;
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18 ist
eine schematische Querschnittsansicht der Reinigungs- und Trocknungseinrichtung, wobei
ein Zustand des Einladens der Substrate in eine Trocknungskammer
gezeigt ist;
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19 ist
eine schematische Querschnittsansicht der Reinigungs- und Trocknungseinrichtung, wobei
ein Zustand des Trocknens der Substrate gezeigt ist;
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20 ist
eine schematische Querschnittsansicht der Reinigungs- und Trocknungseinrichtung, wobei
der Trocknungskammerkörper
angehoben nach dem Trocknungsprozess gezeigt ist;
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21 ist
eine schematische Querschnittsansicht der Reinigungs- und Trocknungseinrichtung, wobei
ein Zustand vor dem Empfang der getrockneten Substrate gezeigt ist;
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22 ist
eine schematische Querschnittsansicht der Reinigungs- und Trocknungseinrichtung, wobei
ein Zustand zum Zeitpunkt des Empfangs der getrockneten Substrate
gezeigt ist;
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23 ist
eine schematische Querschnittsansicht der Reinigungs- und Trocknungseinrichtung, wobei
ein Zustand des Entladens der Substrate gezeigt ist;
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24 ist
eine Querschnittsansicht der Reinigungs- und Trocknungseinrichtung
gemäß einer zweiten
Ausführungsform
der Erfindung;
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25 ist
eine Seitenquerschnittsansicht, die ein wesentliches Teil der Reinigungs-
und Trocknungseinrichtung von 24 zeigt;
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26 ist
eine Perspektivansicht, die eine Trocknungsgas-Zufuhrvorrichtung der Reinigungs- und
Trocknungseinrichtung von 24 gemäß der zweiten
Ausführungsform
der Erfindung zeigt;
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27 ist
eine Querschnittsansicht, die ein anderes Beispiel für die Reinigungs-
und Trocknungseinrichtung von 24 zeigt;
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28 ist
eine schematische Querschnittsansicht eines wesentlichen Teils der
Reinigungs- und Trocknungseinrichtung gemäß einer dritten Ausführungsform
der Erfindung;
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29 ist
eine schematische Perspektivansicht, welche die sich bewegende Trocknungsgas-Zufuhrvorrichtung
der Reinigungs- und Trocknungseinrichtung von 28 gemäß der dritten
Ausführungsform
der Erfindung zeigt;
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30 ist
eine schematische Querschnittsansicht eines wesentlichen Teils der
Reinigungs- und Trocknungseinrichtung gemäß einer vierten Ausführungsform
der Erfindung; und
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31 ist
eine schematische Perspektivansicht des wesentlichen Teils der Reinigungs-
und Trocknungseinrichtung von 30 gemäß der vierten
Ausführungsform
der Erfindung.
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BESCHREIBUNG
DER BEVORZUGTEN AUSFÜHRUNGSFORMEN
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Verschiedene
Ausführungsformen
der vorliegenden Erfindung werden unter Bezugnahme auf Zeichnungen
beschrieben. Es wird darauf hingewiesen, dass gemeinsam bei den
folgenden Ausführungsformen
die Reinigungs- und Trocknungseinrichtungen der Erfindung bei einem
Reinigungssystem für
Halbleiterwafer eingesetzt werden.
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[Erste Ausführungsform]
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1 ist
eine schematische Aufsicht, die ein Beispiel für das Reinigungssystem zeigt,
bei welchem die Reinigungs- und Trocknungseinrichtung gemäß der ersten
Ausführungsform
eingesetzt wird, und 2 ist eine schematische Seitenansicht
des Systems.
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Das
Reinigungssystem weist im Wesentlichen einen Förderabschnitt 2 auf,
durch welchen Behälter,
beispielsweise Träger 1 zur
Aufnahme von Halbleiterwafern W (nachstehend einfach als „Wafer" bezeichnet) als
zu bearbeitende Substrate in Horizontalrichtung herein- und heraustransportiert
werden, einen Bearbeitungsabschnitt 3, in welchem der Reinigungsprozess
für die
Wafer W unter Verwendung von Chemikalien, Reinigungsflüssigkeiten
usw. durchgeführt
wird, und danach der Trocknungsprozess durchgeführt wird, und einen Übergangsabschnitt 4,
der zwischen dem Förderabschnitt 2 und dem
Bearbeitungsabschnitt 3 angeordnet ist, zum Liefern der Wafer
W dazwischen, während
die Position und die Ausrichtung der Wafer W eingestellt und geändert wird.
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Der
Förderabschnitt 2 weist
ein Eingabeteil (Hereintransportteil) 5 und ein Ausgabeteil
(Heraustransportteil) 6 auf, die beide Seite an Seite an
einer Seite des Reinigungssystems angeordnet sind. In einem Eingangsanschluss 5a des
Eingabeteils 5 und einem Ausgangsteil 6a des Ausgabeteils 6 sind
Gleittische 7 vorgesehen, welche die Träger 1 in die Teile 5 und 6 einladen,
und sie auch aus den Teilen 5 und 6 entladen.
Träger-
Hebevorrichtungen 8 sind in dem Eingangsteil und Ausgangsteil 5 bzw. 6 vorgesehen. Infolge
des Vorhandenseins der Träger-
Hebevorrichtungen 8 können
die Träger 1 zwischen
den Eingabeteilen oder den Ausgabeteilen gefördert werden, und können die
leeren Träger 1 zu
einem Trägerbereitschaftsteil 9 geliefert
und von diesem entfernt werden, das oberhalb des Förderabschnitts 2 angeordnet
ist (siehe 2).
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Der Übergangsabschnitt 4 ist
in eine erste Kammer 4a und eine zweite Kammer 4b in
der Nähe des
Eingabeteils 5 bzw. des Ausgabeteils 6 über eine Trennwand 4c unterteilt.
In der ersten Kammer 4a ist ein Waferaufnehmerarm 10 angeordnet,
der mehrere Wafer W aus den Trägern 1 entnimmt,
und sie transportiert, und der sich in Horizontal- und Vertikalrichtungen
(X, Y, Z) bewegen kann, und sich in der Richtung θ drehen
kann; eine Kerbenausrichtungsvorrichtung 11, welche auf
den Wafern vorhandene Kerben erfasst; und eine erste Ausrichtungsänderungsvorrichtung 13,
die einen Zwischenraumeinstellmechanismus 12 zum Einstellen
der Abstände
zwischen den mehreren Wafern W aufweist, die von dem Waferaufnehmerarm 10 aufgenommen
wurden, und welche die Ausrichtung der Wafer W von ihrer horizontalen
Ausrichtung zu der vertikalen Ausrichtung ändert.
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Entsprechend
ist in der zweiten Kammer 4b ein Waferlieferarm 14 vorgesehen,
der die mehreren Wafer W, die bearbeitet und vertikal angeordnet
wurden, von dem Bearbeitungsabschnitt 3 empfängt und transportiert;
eine zweite Ausrichtungsänderungsvorrichtung 13A,
welche die Ausrichtung der Wafer W, die von dem Arm 14 geliefert
wurden, von der vertikalen Anordnung zu der horizontalen Anordnung ändert; und
ein Waferaufnahmearm 15, der die mehreren Wafer W in der
horizontalen Anordnung empfängt,
und sie dann in den leeren Trägern 1 aufnimmt, die
in das Ausgabeteil 6 transportiert wurden, und der sich
ebenfalls in den horizontalen und vertikalen Richtungen (X, Y, Z)
bewegen kann, und sich in der Richtung θ drehen kann. Es wird darauf
hingewiesen, dass die zweite Kammer 4b so ausgebildet ist,
dass sie von der Außenseite
aus geschlossen werden kann, und ihr Inhalt durch N2-Gas
ersetzt werden kann, das von einer nicht dargestellten Gasquelle
für Inertgas
geliefert wird, beispielsweise für
Stickstoffgas (N2-Gas).
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In
dem Bearbeitungsabschnitt 3 sind in Reihe eine erste Bearbeitungseinheit 16 zum
Entfernen von Teilchen und organischen Verunreinigungen, die an
den Wafern W anhaften, eine zweite Bearbeitungseinheit 17 zum
Entfernen metallischer Verunreinigungen, die an den Wafern W anhaften,
eine Reinigungs- und Trocknungseinrichtung 18 gemäß der Erfindung
als eine Reinigungs- und Trocknungseinheit zum Entfernen chemischer
Oxidationsschichten auf den Wafern W und deren nachfolgende Trocknung sowie
eine Spannvorrichtungsreinigungseinheit 19 angeordnet.
In einem Förderweg 20 gegenüberliegend
den jeweiligen Einheiten 16 bis 19 befindet sich ein
Waferförderarm 21,
der sich in den Richtungen X, Y (Horizontalrichtungen) und Z (Vertikalrichtungen) bewegen
kann, und sich in Richtung θ drehen
kann.
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Wie
in den 3 bis 13 gezeigt, weist die voranstehende
Reinigungs- und Trocknungseinrichtung 18 im Wesentlichen
ein Reinigungsbad 22 (Reinigungskammer) auf, in welchem
Reinigungsflüssigkeit,
beispielsweise Chemikalien (zum Beispiel Flusssäure), und reines Wasser enthalten
sind, und die Wafer W in die aufgenommene Reinigungsflüssigkeit
eingetaucht werden, eine Trocknungskammer 23, die oberhalb
des Reinigungsbades 22 angeordnet ist, und eine Trägervorrichtung,
beispielsweise ein Waferschiffchen 24 zum Transportieren
der mehreren Wafer W (beispielsweise von 50 Wafern) und zum Bewegen
der Wafer W in dem Reinigungsbad 22 und der Trocknungskammer 23.
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Das
Reinigungsbad 22 enthält
ein inneres Bad 22a aus beispielsweise Siliziumdioxidteilen
oder aus Polypropylenmaterial, und ein äußeres Bad 22b, das
außerhalb
eines oberen Endes des inneren Bades 22a angeordnet ist,
zur Aufnahme der Reinigungsflüssigkeit,
die aus dem inneren Bad 22a überläuft. Das innere Bad 22a ist
an beiden Seiten eines unteren Teils von ihm mit Reinigungsflüssigkeitsdüsen 25 versehen,
welche die Reinigungsflüssigkeit zu
den Wafern W in dem Reinigungsbad 22 ausspritzen. Durch
Zuführen
der Chemikalien oder reinen Wassers von einer nicht dargestellten
Flüssigkeitsquelle,
die an die Reinigungsflüssigkeitsdüsen 25 über Steuerventile
angeschlossen ist, ist das Reinigungsbad 22 dazu ausgebildet,
die Chemikalien oder das reine Wasser aufzubewahren. Weiterhin weist das
innere Bad 22a einen Ablassanschluss auf, der an der Unterseite
vorgesehen ist, und an ein Ablassrohr 26 angeschlossen
ist, wobei dazwischen ein Auslassventil 26a vorgesehen
ist. Entsprechend ist ein anderes Ablassrohr 27, in welchem
ein Auslassventil 27a vorgesehen ist, mit einem Ablassanschluss
an der Unterseite des äußeren Bades 22b angeschlossen.
Es wird darauf hingewiesen, dass ein Auslasskasten 28 außerhalb
des äußeren Bades 22b vorgesehen
ist, und mit einem Auslassanschluss versehen ist, der über ein
Ventil 29a mit einem Auslassrohr 29 verbunden
ist.
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Das
wie voranstehend geschildert ausgebildete Reinigungsbad 22 und
der Auslasskasten 28 sind in einem zylindrischen Kasten 30 mit
einer Unterseite angeordnet. Infolge der Bereitstellung einer horizontalen
Trennwand 31 ist der Kasten 30 in eine obere Kammer 32a an
der Seite des Reinigungsbades 22 und eine untere Kammer 32b an
den jeweiligen Seiten der Ablassöffnung
des Ablassrohrs 26 unterteilt, das an das innere Bad 22a angeschlossen
ist, der Ablassöffnung
des Ablassrohrs 27, das an das äußere Bad 22b angeschlossen
ist, und der Auslassöffnung
des Auslassrohrs 29. Durch diese Trennung wird ermöglicht,
das Eindringen der Atmosphäre
in der unteren Kammer 32 und von Spritzern überschüssiger Flüssigkeit
in die obere Kammer 32a zu verhindern, wodurch die Reinheit
der oberen Kammer 32a aufrechterhalten werden kann. Ein
Auslassfenster 33 ist in einer Seitenwand der oberen Kammer 32a vorgesehen,
Auslassfenster 34 sind auf einem oberen Abschnitt der Seitenwand
der unteren Kammer 32b angeordnet, und ein Ablassanschluss 35 ist
auf einem unteren Abschnitt der Seitenwand der unteren Kammer 32b vorgesehen.
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Die
Trocknungskammer 23 weist eine feste Base 37 auf,
die mit einer Öffnung 22c des
Reinigungsbades 22 über
einen Verschluss 36 in Verbindung steht, und einen Trocknungskammerkörper 39, der
gegen die feste Base 37 über ein Dichtungsteil anstößt, beispielsweise
einen O-Ring 38.
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Wie
in 5 gezeigt, ist der Verschluss 36 in einen
oberen Verschlusskörper 36a und
einen unteren Verschlusskörper 36b unterteilt,
und dazu ausgebildet, einen Zwischenraum zwischen den Körpern 36a, 36b durch
mehrere Zylinder 55 (beispielsweise acht Zylinder) einzustellen,
die dazwischen angeordnet sind (siehe die 7 und 8).
Der so ausgebildete Verschluss 36 ermöglicht es den Verschlusskörpern 36b, 36a einen
Kontakt mit dem Reinigungsbad 22 bzw. der Trocknungskammer 23 herzustellen, während der
Verschluss 36 geschlossen wird. Daher wird ermöglicht,
noch weiter die Trennung des Reinigungsbades 22 und der
Trocknungskammer 23 sicherzustellen. Es wird darauf hingewiesen,
dass dann, wenn nur der Abstand zwischen dem oberen Verschlusskörper 36a und
dem unteren Verschlusskörper 36b einstellbar
sein soll, die Zylinder 55 beispielsweise durch aufblasbare
Rohre mit einer Luftpumpe und dergleichen ersetzt werden können.
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Vorstehend
von beiden Seiten des oberen Verschlusskörpers 36b in Bezug
auf die Schließrichtung
des Verschlusses 36 sind Flügelteile 58 vorgesehen,
welche kurbelförmige
Querschnitte aufweisen, und von denen eines mit einer Öffnungs-
und Schließvorrichtung 54 (nachstehend
als „Bewegungsvorrichtung" bezeichnet) versehen
ist. Beide Flügelteile 58 sind
bewegbar ausgebildet, während jeweilige
gebogene Abschnitte 58a der Teile 58 in Dichtungsflüssigkeit 59 eingetaucht
sind, die in wannenförmigen
Bädern 56 aufbewahrt
wird, die auf dem Reinigungsbad 22 angebracht sind.
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Auf
diese Weise wird ein Flüssigkeitsdichtungsmechanismus 60 gemäß der Erfindung
durch das wannenförmige
Bad 56, welches bewegbar den gebogenen Abschnitt 58a des
Flügelteils 58 aufnimmt,
das von dem Verschluss 36 vorsteht, und die Dichtungsflüssigkeit 59 gebildet,
die in dem Bad 56 aufbewahrt wird, zum Eintauchen des gebogenen Abschnitts 58a des
Flügelteils 58.
Infolge des wie voranstehend geschildert ausgebildeten Flüssigkeitsdichtungsmechanismus 60 wird
ermöglicht,
das Reinigungsbad 22 von außen aus luftdicht und wasserdicht
abzudichten. Es wird darauf hingewiesen, dass ein entsprechender
Flüssigkeitsdichtungsmechanismus
auch auf der entgegengesetzten Seite des Reinigungsbades 22 in
Bezug auf die Bewegungsvorrichtung 54 vorgesehen ist.
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Wiederum
wird das Reinigungsbad 22 von der Bewegungsvorrichtung 54 durch
die Trennwand 57 an einer Seite getrennt, und wird darüber hinaus das
untere Ende jeder Trennwand 57 in die Dichtungsflüssigkeit 59 im
Innern des gebogenen Abschnitts 58a des Flügelteils 58 in
dem wannenförmigen
Bad 56 eingetaucht. Daher wird ermöglicht, den Bearbeitungsbereich
in dem Reinigungsbad 22 auf sichere Weise gegenüber der
Atmosphäre
an der Seite der Bewegungsvorrichtung 54 zu isolieren.
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Wie
in 6 gezeigt, ist jedes wannenförmige Bad 56 an seiner
Unterseite mit einem Zufuhranschluss 63a versehen, an welchen
eine Flüssigkeitsquelle 61 angeschlossen
ist, über
ein Zufuhrrohr 62, in welchem ein Ventil 62a und
eine Drossel 62b vorgesehen sind. Weiterhin weist jedes
Bad 56 einen Ablassanschluss 63b auf einem oberen
Teil der Seitenwand auf, zum Abgeben der Dichtungsflüssigkeit 59,
welche beim Bad 56 überläuft.
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Wie
voranstehend erwähnt,
wird infolge der Tatsache, dass die Dichtungsflüssigkeit 59 von der Flüssigkeitsquelle 61 in
das wannenförmige
Bad 56 allmählich,
aber stetig fließt,
und über
den Ablassanschluss 63b überläuft, ermöglicht, das wannenförmige Bad 56 durchgehend
mit der Dichtungsflüssigkeit 59 zu
füllen.
Daher können
das Antriebsteil für
den Verschluss 36 an der Seite der Bewegungsvorrichtung 54 und
der Bearbeitungsbereich des Reinigungsbades 22 gegeneinander
wasserdicht abgedichtet werden. Weiterhin wird ebenfalls ermöglicht, Teilchen
festzuhalten, die von der Bewegungsvorrichtung 54 erzeugt
werden, durch den voranstehend geschilderten Flüssigkeitsdichtungsmechanismus 60,
und sie dann durch den Ablassanschluss 63b abzugeben.
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Wie
in 6 gezeigt, ist das Antriebsteil der Bewegungsvorrichtung 54 als
ein Kugelumlaufspindelmechanismus 65 ausgebildet, der aus
einer Spindelwelle 65a und einem beweglichen Körper 65b besteht,
der in beweglichem Eingriff mit der Spindelwelle 65a über eine
große
Anzahl an Kugeln (nicht dargestellt) steht, und mit dem Flügelteil 58 verbunden ist.
Bei Drehung der Spindelwelle 65a, die durch einen nicht
dargestellten Motor angetrieben wird, wird der bewegliche Körper 65b in
Axialrichtung bewegt, sodass der Verschluss 36 geöffnet und
geschlossen werden kann.
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Der
Kugelumlaufspindelmechanismus 65 der Bewegungsvorrichtung 54 ist
in einem Gehäuse 64 aufgenommen.
Das Gehäuse 64 ist
an seiner Oberseite mit einem Zufuhranschluss 64a versehen, der
an eine nicht dargestellte Inertgasquelle angeschlossen ist, zum
Zuführen
eines Inertgases, beispielsweise Stickstoff (N2)
in das Gehäuse 64.
Auf diese Weise wird durch Anordnen des Kugelumlaufspindelmechanismus 65 der
Bewegungsvorrichtung 54 in der Atmosphäre aus N2-Gas
ermöglicht,
auf sichere Weise zu verhindern, dass die Atmosphäre in dem
Reinigungsbereich in das Antriebsteil der Bewegungsvorrichtung 54 eindringt.
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Es
wird darauf hingewiesen, dass zwar das Antriebsteil der Bewegungsvorrichtung 54 bei
der voranstehend geschilderten Ausführungsform durch den Kugelumlaufspindelmechanismus 65 gebildet wird,
es jedoch durch einen anderen Mechanismus ersetzt werden kann, beispielsweise
einen Zylinder, einen Synchronriemen oder dergleichen, bei einer Abänderung.
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Die 9 und 10 zeigen
ein anderes Beispiel für
den Dichtungsmechanismus neben dem Verschluss. In diesen Figuren
sind gleiche Elemente wie jene bei dem voranstehend geschilderten
Dichtungsmechanismus der 5 bis 7 mit gleichen Bezugszeichen
bezeichnet, und wird jeweils auf die Beschreibung dieser Elemente
verzichtet.
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Bei
diesem Dichtungsmechanismus neben dem Verschluss ist ein Verschluss 136 nicht
auf zwei Teile aufgeteilt, sondern vereinigt in Form einer Platte ausgebildet.
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Bei
dieser Abänderung
sind mehrere Stellglieder 77 vorgesehen, von denen jedes
zwischen einem Flüssigkeitsdichtungsmechanismus 60 und
einer Öffnungs-/Schließ-Bewegungsvorrichtung 154 angeordnet
ist. Wie in 11 gezeigt, sind zwei Stellglieder 77 an
jeder Seite des Verschlusses 136 in dessen geschlossener
Position angeordnet. Infolge des Vorsehens der Stellglieder 77 können Flügelteile 158 des
Verschlusses 136, die durch die Bewegungsvorrichtung 154 in
die geschlossene Position versetzt werden, durch jeweilige Stangen 79 der Stellglieder 77 angehoben
werden.
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Das
Flügelteil 158 ist
an der Seite der Bewegungsvorrichtung 154 mit einem Abschnitt 158b versehen,
der größer ist
als jener des Flügelteils
von 6, um eine Länge,
die dazu benötigt
wird, dazwischen das Stellglied 77 anzuordnen. Ein Vorderende 158c des
Abschnitts 158b ist so ausgebildet, dass es in ein Gehäuse 164 durch
ein Loch 73 vorsteht, das oberhalb und unterhalb des Gehäuses 164 vorgesehen
ist. Eine Eingriffsnut 71 ist auf einem beweglichen Körper 165b eines
Kugelumlaufspindelmechanismus 165 vorgesehen. Das Vorderende 158c des Flügelteils 158 steht
so im Eingriff mit der Eingriffsnut 71, dass es sich in
Richtung nach oben und unten bewegt. Bei der Axialbewegung des beweglichen
Körpers 165b wird
das Vorderende 158c in dieselbe Richtung bewegt. Zusätzlich kann
das Vorderende 158c durch die Betätigung der Stellglieder 77 in
Richtung nach oben und unten bewegt werden.
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In
Bezug auf die Vertikalbewegung jedes Flügelteils 158 in Bezug
auf die Trennwand 57 ist ein abgebogener Abschnitt 158a des
Flügelteils 158 länger ausgebildet
als der gebogene Abschnitt 58a von 6 in Richtung
nach oben und unten. Weiterhin ist jedes wannenförmige Bad 156 tief
ausgebildet, um die Aufwärts-
und Abwärtsbewegung
des Flügelteils 158 zu
ermöglichen.
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Wenn
bei der voranstehend geschilderten Anordnung erforderlich wird,
den Verschluss 136 von der geöffneten Position in die geschlossene
Position zu bewegen, wird der Kugelumlaufspindelmechanismus 165 der
Bewegungsvorrichtung 164 aktiviert, damit zuerst der bewegliche
Körper 165b bewegt wird.
Daher wird das Vorderende 158c, das im Eingriff mit der
Eingriffsnut 71 des beweglichen Körpers 71 steht, in
einem in dem Gehäuse 164 vorgesehenem
Schlitz 81 bewegt, sodass sich der an den Flügelteilen 158 angebrachte
Verschluss 136 zur geschlossenen Position bewegt, wie in 11 gezeigt ist.
Wenn der Verschluss 139 die geschlossene Position erreicht,
werden die Stellglieder 77 aktiviert, um die Flügelteile 158 nach
oben zu bewegen. Dann wird das Vorderende 158c des Flügelteils 158 in
der Eingriffsnut 71 des beweglichen Körpers 165b nach oben
bewegt. Es wird darauf hingewiesen, dass in der geschlossenen Position
des Verschlusses 139 das Vorderende 158c in dem
Loch 73 am Ende des Schlitzes 81 angeordnet ist.
Daher kann sich das Vorderende 158c nach oben bewegen,
ohne sich mit dem Gehäuse 164 zu
stören.
Auf diese Weise wird der Verschluss 136 nach oben verstellt,
um gegen einen O-Ring 75 auf der festen Basis 37 zu
drücken, sodass
die Trocknungskammer abgedichtet ist. Es wird darauf hingewiesen,
dass infolge der Tatsache, dass die wannenförmigen Bäder 156 und die gebogenen
Abschnitte 158a länger
als in 6 ausgebildet sind, ermöglicht wird, die Auswirkungen
des Flüssigkeitsdichtungsmechanismus 160 beizubehalten, trotz
der Aufwärtsbewegung
der Flügelteile 158.
Um den Verschluss 136 in die geöffnete Position zu bewegen,
müssen
nur die voranstehend geschilderten Vorgänge umgekehrt werden.
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Wie
in 4 gezeigt, weist die Trocknungskammer 23 den
Trocknungskammerkörper 39 als
Siliziumdioxidteil mit einem Querschnitt in Form eines umgekehrten
U und die feste Basis 37 auf, die ebenfalls als Siliziumdioxidteil
ausgebildet ist, sodass der Zustand der in der Kammer 23 aufgenommenen
Wafer W von außen
aus betrachtet werden kann. An beiden Seiten des Inneren der festen
Basis 37, welche die Trocknungskammer 23 festlegen,
sind Zufuhranschlüsse 40 vorgesehen,
um das Trocknungsgas aus Lösungsmitteldampf
(beispielsweise IPA) nach oben zuzuführen. Weiterhin weist die feste
Basis 37 ein Auslassteil 41 auf, das an der Seitenwand
vorgesehen ist, zum Abgeben des Trocknungsgases. Die Zufuhrteile 40 sind
an eine nicht dargestellte IPA-Gasquelle und eine nicht dargestellte
Heizvorrichtung für Trägergas (beispielsweise
N2) zum Zuführen
des Trocknungsgases unter Druck angeschlossen, während das Auslassteil 41 an
eine nicht dargestellte Auslasseinheit angeschlossen ist. Infolge
des Vorsehens der Zufuhrteile 40 und des Auslassteils 41 fließt daher
das Trocknungsgas, das in die Trocknungskammer 23 durch
die Zufuhrteile 40 eingegeben wird, entlang den inneren
Wänden
an beiden Seiten des Kammerkörpers 29 nach
oben, und fließt
dann vom Zentrum der Kammer 23 zum Auslassteil 41 nach
unten, wie in 4 durch Pfeile dargestellt.
Daher wird ermöglicht,
die Wafer W in gleichmäßigen Kontakt mit
dem Trocknungsgas zu versetzen, während der Trocknungsgasdampf
zum gleichmäßigen Trocknen kondensiert.
Es wird darauf hingewiesen, dass bei der Abänderung der Verschluss 36 mit
dem voranstehend geschilderten Auslassteil versehen sein kann.
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Heizlampen 42 (Lichtquellen
zur Erwärmung)
sind an beiden Seiten des Trocknungskammerkörpers 39 angeordnet,
und Reflexionsplatten 43 sind an der Rückseite der Wärmelampen 42 angeordnet.
Auf diese Weise kann infolge der Tatsache, dass das Innere der Trocknungskammer 23 durch Licht
erwärmt
wird, das von den Lampen 42 abgestrahlt wird, und durch
die Reflexionsplatten 43 reflektiert wird, das Trocknen
der Wafer W in der Trocknungskammer 23 gefördert werden.
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Weiterhin
ist, wie in den 12 und 13 gezeigt,
infolge der Bereitstellung einer ersten Hebevorrichtung 44,
der Trocknungskammerkörper 39 so ausgebildet,
dass er anhebbar ist, also anders ausgedrückt, von der festen Basis 37 getrennt
werden kann. Die erste Hebevorrichtung 44 ist in Form eines Kugelumlaufspindelmechanismus
ausgebildet, der aus einer Spindelwelle 47 besteht, die
von einem Motor 46 gedreht wird, und aus einem beweglichen
Körper 48 zum
Gewindeeingriff mit der Spindelwelle 47 über Kugeln.
Der bewegliche Körper 48 ist
mit zwei Gleitteilen 49 gekuppelt, die auf zwei Führungsschienen 50 gleiten,
die parallel zur Spindelwelle 47 verlaufen. Da die erste
Hebevorrichtung 44 mit dem Trocknungskammerkörper 39 über eine
Stütze 51 verbunden
ist, ist der Körper 39 so
ausgebildet, dass er sich in einer Aufwärts- und Abwärtsbewegung
bewegt.
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Hierbei
ist, infolge der Bereitstellung einer zweiten Hebevorrichtung 45,
das Waferschiffchen 24 so ausgebildet, dass es anhebbar
ist, also sich anders ausgedrückt,
sowohl in der Reinigungskammer 22 als auch in der Trocknungskammer 23 bewegen kann.
Entsprechend weist die zweite Hebevorrichtung 45 die Form
eines Kugelumlaufspindelmechanismus auf, der aus einer Spindelwelle 47A besteht, die
neben der Spindelwelle 47 der ersten Hebevorrichtung 44 angeordnet
ist, und durch einen Motor 46A gedreht wird, und einen
bewegbaren Körper 48A zum
Gewindeeingriff mit der Spindelwelle 47A über Kugeln.
Der bewegliche Körper 48A ist
mit zwei Gleitteilen 49A gekuppelt, die auf den Führungsschienen 50 gleiten,
die parallel zur Spindelwelle 47A verlaufen. Durch Verbinden
der zweiten Hebevorrichtung 45 mit einer Stange 24a des
Waferschiffchens 24 über
eine Stütze 51A kann
das Waferschiffchen 24 so ausgebildet werden, dass es sich
mit einer Bewegung nach oben und unten bewegt.
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Bei
der voranstehend geschilderten Anordnung kann, wenn der Trocknungskammerkörper 39 durch
Betätigung
der ersten Hebevorrichtung 44 angehoben wird, ein Raum
zum Einführen
der Wafer W oberhalb der Öffnung 22c des
Reinigungsbades 22 sichergestellt werden. In diesem Zustand
werden die Wafer W in Seitenrichtung durch den Waferförderarm 21 eingeladen,
und wird dann das Waferschiffchen 24 angehoben, um die
Wafer W von dem Arm 21 zu empfangen, durch die zweite Hebevorrichtung 45 (siehe 13).
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Bei
dieser Ausführungsform
kann infolge der Tatsache, dass die erste und die zweite Hebevorrichtung 44 bzw. 45 als
Kugelumlaufspindelmechanismus ausgebildet sind, und die Gleitteile 49, 49A auf den
gemeinsamen Führungsschienen 50 gleiten,
der Antriebsmechanismus vereinfacht werden, und können die
Anhebebewegungen des Kammerkörpers 39 und
des Waferschiffchens 24 mit hoher Genauigkeit durchgeführt werden.
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Es
wird darauf hingewiesen, dass der Trocknungskammerkörper 39 an
einer Seite der Oberseite mit einem Durchgangsloch 39a versehen
ist, durch welches die Stange 24a des Waferschiffchens 24 gleitend
hindurchgeht. Um die Luftdichtigkeit zwischen dem Durchgangsloch 39a und
der Stange 24a sicherzustellen, ist ein Dichtungsmechanismus 52 in einem
Zwischenraum angeordnet, der zwischen dem Durchgangsloch 39a und
der Stange 24a vorhanden ist.
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Ein
bewegliches Teil, das den beweglichen Körper 48 der ersten
Hebevorrichtung 44 und den Gleitteilen 49 zugeordnet
ist, weist einen Anschlag 53 auf, der einstückig ausgebildet
ist, um die Aufwärtsbewegungen
des beweglichen Körpers 48A der zweiten
Hebevorrichtung 45 und der Gleitteile 49A zu begrenzen
(siehe die 12 und 13). Infolge der
Bereitstellung des Anschlags 53 wird ermöglicht, zu
verhindern, dass versehentlich das aufsteigende Waferschiffchen 24 mit
dem Trocknungskammerkörper 39 zusammenstößt.
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Nunmehr
wird der Betriebsablauf der voranstehend geschilderten Reinigungs-
und Trocknungseinrichtung unter Bezugnahme auf die 14 bis 23 beschrieben.
Es wird darauf hingewiesen, dass die folgenden Vorgänge von
einer nicht dargestellten Steuereinheit ausgeführt werden.
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Zuerst
wird in dem Zustand, in welchem der Verschluss 36 für die Öffnung 22c des
Reinigungsbades 22 geschlossen ist, der Trocknungskammerkörper 39 angehoben,
um einen Raum oberhalb des Reinigungsbades 22 auszubilden,
durch die Betätigung
der ersten Hebevorrichtung 44. Dann wird der Förderarm 21,
der die Wafer W transportiert, seitlich in den Raum hineinbewegt,
um die Wafer W dort einzuladen (siehe 14). Gleichzeitig
wird das Waferschiffchen 24 durch die Betätigung der
zweiten Hebevorrichtung 45 angehoben, während das Waferschiffchen 24 die
Wafer W aufnimmt, die von dem Förderarm 21 getragen
werden (siehe 15). Nach Wegziehen des Förderarms 21 wird
der Verschluss 36 geöffnet,
und wird das Waferschiffchen 24 durch die zweite Hebevorrichtung 45 abgesenkt,
um die Wafer in das Reinigungsbad 22 einzuladen (siehe 16). Dann
wird auch der Trocknungskammerkörper 39 durch
die erste Hebevorrichtung 44 abgesenkt, sodass der Körper 39 in
engen Kontakt mit der festen Basis 37 gelangt. Im Zusammenhang
mit den voranstehend geschilderten Schritten kann alternativ der Verschluss 36 von
Anfang an geöffnet
sein.
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Dann
wird die Chemikalie (beispielsweise Flusssäure) von den Reinigungsflüssigkeitsdüsen 25 zugeführt, um
hierdurch die Wafer W zu reinigen. Alternativ kann die Chemikalie
vorher dem Reinigungsbad 22 zugeführt werden. Dann wird das reine
Wasser von den Reinigungsflüssigkeitsdüsen 25 ausgespritzt,
um die Chemikalie zu ersetzen, und wird aufeinanderfolgend der Reinigungsprozess
mit den Wafern W durchgeführt
(siehe 17). Nach dem Reinigen der Wafer
W wird das Waferschiffchen 24 durch die zweite Hebevorrichtung 45 angehoben,
um die Wafer W in die Trocknungskammer 23 einzuladen (siehe 18).
Dann wird der Verschluss 36 geschlossen, um die Trocknungskammer 23 gegenüber dem
Reinigungsbad 22 zu isolieren, und gegenüber der Außenluft.
Es wird darauf hingewiesen, dass bei einer Abänderung der Verschluss 36 während des Reinigungsprozesses
der Wafer W in dem Reinigungsbad 22 geschlossen sein kann.
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Dann
wird das Trocknungsgas, beispielsweise eine Gasmischung aus IPA
und N2, von der Trocknungsgasquelle ins Innere der Trocknungskammer 23 eingebracht,
sodass der Trocknungsprozess infolge des Kontakts der Wafer W mit
IPA durchgeführt wird
(siehe 19). Während des Trocknungsprozesses
wird ein Teil des Trocknungsgases von dem Auslassanschluss 41 abgegeben.
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Nachdem
die Wassertropfen, die auf den Wafern W anhafteten, durch IPA ersetzt
wurden, oder nachdem der Trocknungsprozess fertiggestellt wurde,
und dann Stickstoffgas (N2) von den Trocknungsgaszufuhrteilen 40 zugeführt wurde,
um die IPA-Atmosphäre der Trocknungskammer 23 auszuspülen, wird
der Trocknungskammerkörper 39 durch
die erste Hebevorrichtung 44 angehoben, um einen Raum zwischen
der Trocknungskammer 23 und dem Reinigungsbad 22 auszubilden
(siehe 20). Dann wird an einer Seite
des Raums der Vorderarm 21 in Horizontalrichtung in den
Raum unter dem Waferschiffchen 24 bewegt (siehe 21),
und wird danach das Waferschiffchen 24 durch die zweite
Hebevorrichtung 45 abgesenkt, um die Wafer W dem Waferförderarm 21 zuzuführen (siehe 22).
Nach Zufuhr der Wafer W wird der Förderarm 21 aus dem
Raum oberhalb des Reinigungsbades 22 zurückgezogen, um
die Wafer W einem nachfolgendem Prozess zuzuführen (siehe 23).
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Wie
voranstehend geschildert, wird gemäß der Ausführungsform infolge der Tatsache,
da die Ausbildung des Raums oberhalb des Reinigungsbades 22 infolge
des Anhebens des Trocknungskammerkörpers 24 ermöglicht,
dass sich der Förderarm 21 in
der Seite des Raums zum Liefern der Wafer W bewegen kann, ermöglicht,
die Höhe
der Einrichtung zu verringern, im Vergleich zu der herkömmlichen Einrichtung,
bei welcher die Wafer oberhalb der Trocknungskammer zugeführt werden,
sodass die Einrichtung verkleinert werden kann. Darüber hinaus kann
infolge des verkleinerten Bewegungsbereiches des Vorderarms 21 der
Bewegungszeitraum verkürzt werden,
um den Durchsatz der Wafer W zu verbessern.
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Obwohl
die Trocknungskammer bei der voranstehend geschilderten Ausführungsform
so ausgebildet ist, dass sie sich nach oben und unten bewegt, ist
die vorliegende Erfindung bei jeder Reinigungs- und Trocknungseinrichtung
einsetzbar, unter der Bedingung, dass die Trocknungskammer oberhalb
des Reinigungsbades angeordnet ist, während der Verschluss zwischen
der Trocknungskammer und dem Reinigungsbad angeordnet ist.
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Darüber hinaus
wurde zwar die voranstehende Ausführungsform so beschrieben,
dass die Reinigungs- und Trocknungseinrichtung bei dem Reinigungssystem
für Halbleiterwafer
eingesetzt wird, jedoch kann selbstverständlich die Trocknungseinrichtung
bei Bearbeitungssystemen über
den Reinigungsprozess hinaus eingesetzt werden. Weiterhin kann selbstverständlich die
Trocknungseinrichtung für
LCD-Glassubstrate eingesetzt werden, über Halbleiterwafer hinaus.
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[Zweite Ausführungsform]
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Die
zweite Ausführungsform
der vorliegenden Erfindung wird nachstehend unter Bezugnahme auf
die 24 bis 27 geschildert.
Es wird darauf hingewiesen, dass bei dieser Ausführungsform gleiche oder ähnliche
Elemente wie bei der ersten Ausführungsform
jeweils mit gleichen Bezugszeichen bezeichnet sind, und dass auf
eine jeweilige Erläuterung
dieser Elemente in der nachfolgenden Beschreibung verzichtet wird.
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24 zeigt
eine Reinigungs- und Trocknungseinrichtung 218 gemäß dieser
Ausführungsform.
In der Figur ist eine Trocknungskammer 223 als ein Siliziumdioxidteil
mit einem Querschnitt in Form eines umgekehrten U ausgebildet, welches
eine Öffnung 223a aufweist,
die mit einer Öffnung 22c des Reinigungsbades 22 über einen
Verschluss 236 in Verbindung steht. Innerhalb der Trocknungskammer 223 sind
Trocknungsgasdüsen 237 als
Trocknungsgas-Zufuhrvorrichtungen an beiden oberen Seiten der Kammer 223 angeordnet.
Wie in den 25 und 26 gezeigt,
ist jede der Trocknungsgasdüsen 237 als
Beregnungsdüse
eines Rohrs 237b ausgebildet, welche Düsenöffnungen 237a aufweist,
die in geeigneten Abständen
in Längsrichtung
des Rohrs 237b angeordnet sind. Bei jedem der Rohre 237b ist ein
Ende an seiner einen Seite so ausgebildet, dass es die Trocknungskammer 223 durch
einen Dichtungsmechanismus (nicht dargestellt) durchdringt, und
nach außen
hin vorsteht. Die vorstehenden Enden der jeweiligen Rohre 237b sind
mit sich drehenden Wellen 237d durch Schwenkglieder 237c verbunden.
Durch drehbare Lagerung durch nicht dargestellte Lager sind die
beiden Drehwellen 237d mit Synchronriemenscheiben 237e versehen,
um welche ein Synchronriemen 237f zur Kraftübertragung
herumgeschlungen ist. Beide Trocknungsgasdüsen 237 sind so ausgebildet,
dass sie entlang der Umfangsrichtung der Wafer W durch einen umstellbaren
Antriebsmotor 237g verstellt werden können, der mit der Drehwelle 237d an
einer Seite gekuppelt ist.
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Die
Trocknungsgasdüsen 237 sind
mit einem Trocknungsgasgenerator 239 über ein Zufuhrrohr 238 verbunden. Eine
nicht dargestellte Flüssigkeitsquelle
(beispielsweise für
IPA) für
das Trocknungsgas und eine nicht dargestellte Quelle eines Trägergases
(beispielsweise N2) sind an den Trocknungsgasgenerator 239 angeschlossen.
Weiterhin ist das Zufuhrrohr 238 auf dem Weg zum Generator 239 mit einem
Steuerventil 240 versehen, durch welches die Zufuhr an
Trocknungsgas (IPA+N2), das in dem Trocknungsgasgenerator 239 erzeugt
wurde, in die Trocknungskammer 223 durch die Trocknungsgasdüsen 237 gesteuert
wird. Es wird darauf hingewiesen, dass die Unterbrechung der Zufuhr
an flüssigem IPA
ermöglicht,
dass nur N2-Gas in die Trocknungskammer 223 durch die Trocknungsgaszufuhrdüsen 237 eingelassen
wird. Die Öffnungs-
und Schließvorgänge des
Steuerventils 240 werden durch Signale gesteuert, die von
einer Steuervorrichtung erzeugt werden, beispielsweise von einer
zentralen Verarbeitungseinheit (CPU) 260.
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Auf
diese Art und Weise ermöglicht
die voranstehend geschilderte Anordnung, das Trocknungsgas gegen
die Oberflächen
der Wafer W zu blasen, während
die Trocknungsgasdüsen 237 in
Umfangsrichtung der Wafer W bewegt werden.
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Auch
bei dieser Ausführungsform
werden das Öffnen
und Schließen
des Verschlusses 36 durch die Öffnungs/Schließbewegungsvorrichtung 54 erzielt, ähnlich wie
bei der ersten Ausführungsform.
Die Betriebsabläufe
der Vorrichtung 54 und der Zylinder 55 werden
durch Signale von der voranstehend geschilderten Steuervorrichtung
eingeleitet, also der CPU 260.
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Die
voranstehend geschilderte Reinigungs- und Trocknungseinrichtung
gemäß der Ausführungsform
arbeitet folgendermaßen.
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Zuerst
wird, unter der Bedingung, dass die Wafer W in dem Reinigungsbad 22 aufgenommen sind,
die Reinigungsflüssigkeit
(beispielsweise reines Wasser) gesammelt, sodass sie aus dem Bad 22 überläuft, und
der Reinigungsprozess durchgeführt wird.
Nach dem Reinigen der Wafer W wird dann das reine Wasser L in dem
Reinigungsbad 22 durch ein unteres Teil des Bades 22 abgelassen,
und dann wird ein Waferschiffchen 224 angehoben, um die
Wafer W in die Trocknungskammer 223 zu bewegen. Dann wird,
unter der Bedingung, dass der Verschluss 36 geschlossen
ist, das Trocknungsgas durch die Trocknungsgasdüsen 237 zugeführt, während diese
in Umfangsrichtung der Wafer W durch den Antriebsmotor 237g bewegt
werden, sodass die Entwässerung
und die Trocknung der Wafer W infolge des Kondensierens des reinen
Wassers L, das auf den Wafern W verbleibt, und des Trocknungsgases
durchgeführt
wird.
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Auf
diese Weise wird ermöglicht,
durch Zuführen
des Trocknungsgases zu den Wafern W, während die Trocknungsgasdüsen 237 in
Umfangsrichtung der Wafer W bewegt werden, das Trocknungsgas mit
den Oberflächen
der Wafer W gleichmäßig in Kontakt
zu bringen. Daher kann das Trocknungswirkungsgrad verbessert werden,
während
der Verbrauch an Trocknungsgas verringert wird. Es wird darauf hingewiesen,
dass nach Trocknen der Wafer W dann Stickstoffgas (N2)
von den Trocknungsgasdüsen 237 in
die Trocknungskammer 223 zugeführt wird, um den Trocknungsprozess
der Wafer W fertigzustellen.
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Bei
der voranstehend geschilderten Ausführungsform werden die Trocknungsgasdüsen 237 in Umfangsrichtung
der Wafer W bewegt. Bei der Abänderung,
wie in 27 gezeigt, können Trocknungsgasdüsen 280 an
beiden Seiten in der Trocknungskammer 223 so ausgebildet
sein, dass sie in Vertikalrichtung in Schwingungen versetzt werden.
Wiederum sind zwar die Trocknungsgasdüsen 237 in Form von „Beregnungsdüsen" bei den voranstehend
geschilderten Ausführungsformen
vorgesehen, jedoch kann eine große Anzahl an Düsen, welche
Düsenöffnungen
aufweisen, die in geeigneten Abständen entlang der Anordnung
der Wafer W angeordnet sind, die Düsen 237 bei einer
Abänderung
ersetzen. Es wird darauf hingewiesen, dass in 27 die
anderen Elemente, die ähnlich
oder gleich jenen bei der voranstehend geschilderten Ausführungsform
sind, mit gleichen Bezugszeichen bezeichnet sind, und auf die Beschreibung
der gleichen oder entsprechende Elemente verzichtet wird.
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[Dritte Ausführungsform]
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28 ist
eine Querschnittansicht eines wesentlichen Teils der dritten Ausführungsform
der Erfindung, und 29 ist eine schematische Perspektivansicht
des wesentlichen Teils.
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Bei
der dritten Ausführungsform
sind Trocknungsgasdüsen 337 dazu
ausgebildet, dass sie sich in Vertikalrichtung bewegen. Damit sich
die Trocknungsgasdüsen 337 in
Vertikalrichtung in der Trocknungskammer 223 bewegen können, im
Einzelnen nach oberhalb und unterhalb neben den Wafern W, ist jede
der Trocknungsgasdüsen 335 in
Horizontalrichtung an einem Trägerteil 372 angebracht.
Das Trägerteil 372 ist
an einem Ende eines Kolbens 371 eines Ausdehnungszylinders 370 befestigt,
der an der Oberseite der Trocknungskammer 223 gehaltert ist.
Bei der Anordnung ist der Kolben 371 so ausgebildet, dass
er durch die Oberseite der Trocknungskammer 223 über einen
Dichtungsmechanismus 373 hindurchgeht. Die Trocknungsgasdüse 337 ist
mit dem Zufuhrrohr 238 (27) über Verbindungswege (nicht
gezeigt) verbunden, die in dem Kolben 371 und dem Trägerteil 372 vorgesehen
sind.
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Es
wird darauf hingewiesen, dass auch bei der dritten Ausführungsform
gleiche oder entsprechende Elemente wie bei der zweiten Ausführungsform
mit den gleichen Bezugszeichen bezeichnet sind, und auf die Beschreibung
der gleichen oder entsprechenden Elemente verzichtet wird.
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Mit
der voranstehend geschilderten Ausbildung wird ermöglicht,
das Trocknungsgas gegen die Wafer W zu blasen, die in die Trocknungskammer 223 transportiert
wurden, während
die Trocknungsgasdüsen 337 in
Vertikalrichtung bewegt werden, wodurch das Trocknungsgas gleichmäßig in Kontakt mit
den Oberflächen
der Wafer W versetzt werden kann. Daher kann der Trocknungswirkungsgrad
verbessert werden, während
der Verbrauch an Trocknungsgas verringert wird.
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[Vierte Ausführungsform]
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30 ist
eine Querschnittsansicht eines wesentlichen Teils der vierten Ausführungsform
der Erfindung, und 31 ist eine schematische Perspektivansicht
des wesentlichen Teils.
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Bei
der vierten Ausführungsform
sind Trocknungsgasdüsen
so ausgebildet, dass sie sich in der Anbringungsrichtung der Wafer
W bewegen. Die Trocknungsgasdüsen 437 sind
in Form von Beregnungsdüsen
vorhanden, von denen jede durch einen Bogendüsenkörper 437h gebildet
wird, der um die Wafer W herum vorgesehen ist, und die jeweils auf ihrer
inneren Seitenoberfläche
mit Düsenöffnungen 437a in
geeigneten Abständen
versehen sind. Infolge des Vorsehens eines Kugelumlaufspindelmechanismus 480 ist
jede Trocknungsgasdüse 437 dazu
ausgebildet, dass sie sich in der Trocknungskammer 423 in
Horizontalrichtung bewegt. Im Einzelnen sind Kugelumlaufspindeln 482 an
beiden Seiten der Trocknungskammer 423 in Horizontalrichtung
angeordnet. Im Gewindeeingriff mit jeder Kugelumlaufspindelwelle 482 über eine
nicht dargestellte Kugel befindet sich ein beweglicher Körper 483,
mit welchem die Trocknungsgasdüse 437 über ein
Halterungsteil 481 verbunden ist, das in einem horizontalen
Führungsschlitz 423a gleitet,
der in einer Seitenwand der Trocknungskammer 423 vorgesehen
ist. Da die Kugelumlaufspindelwelle 482 durch einen umsteuerbaren
Motor 484 angetrieben wird, kann sich die Trocknungsgasdüse 437 in
der Anbringungsrichtung der Wafer W bewegen. Es wird darauf hingewiesen,
dass jede der Trocknungsgasdüsen 437 an
das Zufuhrrohr über
Verbindungswege (nicht gezeigt) angeschlossen ist, die in dem beweglichen
Körper 483 und
dem Halterungsteil 481 vorgesehen sind.
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Es
wird darauf hingewiesen, dass auch bei der vierten Ausführungsform
gleiche oder ähnliche Elemente
wie bei der zweiten Ausführungsform
mit gleichen Bezugszeichen bezeichnet sind, und dass auf die Beschreibung
dieser gleichen oder entsprechenden Elemente verzichtet wird.
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Mit
der voranstehend geschilderten Ausbildung wird ermöglicht,
das Trocknungsgas gegen die Wafer W zu blasen, die in die Trocknungskammer 423 transportiert
werden, während
die Trocknungsgasdüsen 437 in
der Anordnungsrichtung der Wafer W bewegt werden, wodurch das Trocknungsgas gleichmäßig in Kontakt
mit den Oberflächen
der Wafer W versetzt werden kann. Daher kann der Trocknungswirkungsgrad
verbessert werden, während
der Verbrauch an Trocknungsgas verringert wird.
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Schließlich weist,
wie voranstehend erwähnt, die
Reinigungs- und
Trocknungseinrichtung gemäß der vorliegenden
Erfindung den Bearbeitungsbehälter
auf, der die Reinigungskammer aufweist, welche Reinigungsflüssigkeit
zum Reinigen des zu bearbeitenden Gegenstands darin aufnimmt, und
die Trocknungskammer, die oberhalb der Reinigungskammer angeordnet
ist, um den zu bearbeitenden Gegenstand zu trocknen; den Verschluss,
der zwischen der Reinigungskammer des Bearbeitungsbehälters und der
Trocknungskammer angeordnet ist, zum verbindbaren Trennen des Bearbeitungsbehälters auf
die Reinigungskammer und die Trocknungskammer; die Verschlussantriebseinheit,
die außerhalb
des Bearbeitungsbehälters
angeordnet ist, um den Verschluss zu öffnen und zu schließen; den
Verbindungsanschluss, der in einer Außenwand des Bearbeitungsbehälters vorgesehen
ist; das Verbindungsteil, das so angeordnet ist, dass es sich durch
den Verbindungsanschluss erstreckt, zur Verbindung des Verschlusses
mit der Verschlussantriebseinheit; und die Flüssigkeitsdichtungsvorrichtung
zum Abdichten des Verbindungsanschlusses, durch welchen das Verbindungsteil
hindurchgeht, durch Flüssigkeit.
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Da
das Öffnungs-
und Schließteil
des Verschlusses durch die Flüssigkeitsdichtungsvorrichtung
luftdicht und wasserdicht abgeschlossen werden kann, wird ermöglicht,
zu verhindern, dass die in einem Antriebsteil des Verschlusses erzeugten
Teilchen in die Trocknungs- und die Reinigungskammer eindringen.
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Weiterhin
wird gemäß der vorliegenden
Erfindung eine Reinigungs- und Trocknungseinrichtung zur Verfügung gestellt,
welche die Gegenstandstransportvorrichtung zum Transportieren der
zu bearbeitenden Gegenstände
aufweist, sodass diese voneinander in Horizontalrichtung getrennt
sind; die Trocknungskammer zur Aufnahme der Gegenstände zusammen
mit der Gegenstandstransportvorrichtung darin, und zum Trocknen
der Gegenstände;
die Trocknungsgas-Zufuhrvorrichtung, die in der Trocknungskammer
angeordnet ist, zum Zuführen
von Trocknungsgas zu den zu bearbeitenden Gegenständen; und
die Bewegungsvorrichtung zum Transportieren der Gegenstände und
der Trocknungsgas-Zufuhrvorrichtung so, dass diese sich relativ
zueinander bewegen.
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Mit
der voranstehend geschilderten Anordnung wird ermöglicht,
das Trocknungsgas in gleichmäßigen Kontakt
mit der gesamten Oberfläche
der Gegenstände
zu versetzen, wodurch der Trocknungswirkungsgrad verbessert werden
kann, während
der Verbrauch an Trocknungsgas verringert wird.