DE3227657C2 - Keramische Vielschicht-Schaltungsplatte und Verfahren zu ihrer Herstellung - Google Patents
Keramische Vielschicht-Schaltungsplatte und Verfahren zu ihrer HerstellungInfo
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Abstract
Die Vielschicht-Schaltungsplatte wird aus einem anorganischen isolierenden Material, wie einem kristallisierbaren Glas, kristallinen Oxid oder nichtkristallisierten Glas, einem leitenden Material, wie einem Metall oder einer Mischung eines Metalls mit nichtkristallisiertem Glas, einem aus einer Mischung eines leitenden Materials mit dem kristallisierbaren Glas oder nichtkristallisierten Glas bestehenden Widerstandsmaterial und einem aus einer Mischung von einer Mischung aus Bariumtitanat mit anderem Oxid mit dem nichtkristallisierten Glas oder kristallisierbaren Glas, einem bleihaltigen Perowskittypoxid oder einem bleihaltigen laminaren Wismut oxid bestehenden dielektrischen Material gebildet und hat einen Vielschichtaufbau, worin eine erste isolierende Schicht (1), ein erster Widerstandskreis (5) oder Kondensatorkreis (6) oder Widerstands-Kondensator-Kreis (5, 6) eine zweite isolierende Schicht (8), ein zweiter Widerstandskreis (13) oder Kondensatorkreis (14) oder Widerstands-Kondensator-Kreis (13, 14) in dieser Reihenfolge übereinandergeschichtet sind, wobei die zweite isolierende Schicht (8) wenigstens ein mit dem leitenden Material gefülltes durchgehendes Loch (9) aufweist; und es wird ein Verfahren zur Herstellung derselben offenbart.
Description
4. Verfahren nach Anspruch 3, dadurch gekennzeichnet, daß man die Leiter der Rohschaltungen
und die leitenden Materialien, womit die durchgehenden Löcher zu füllen sind, aus einem organischen
Träger und
einem Metall, das bei einer Temperatur von 600 bis 1000° C stabil ist, oder
einem Metall, das bei einer Temperatur von 600 bis 10000C stabil ist, und einem nichtkristallisierten Glas mit einer Sintertemperatur von 600 bis 1000°C, einem Erweichungspunkt von 150 bis 25O0C unter der Sintertemperatur von a) bis c) und einem von 10 χ 10~7/°C größeren bis 30 χ 10-'/0C kleineren Wärmeausdehnungskoeffizient als dem von a) bis c) erzeugt.
einem Metall, das bei einer Temperatur von 600 bis 10000C stabil ist, und einem nichtkristallisierten Glas mit einer Sintertemperatur von 600 bis 1000°C, einem Erweichungspunkt von 150 bis 25O0C unter der Sintertemperatur von a) bis c) und einem von 10 χ 10~7/°C größeren bis 30 χ 10-'/0C kleineren Wärmeausdehnungskoeffizient als dem von a) bis c) erzeugt.
Die Erfindung bezieht sich auf eine keramische Vielschicht-Schaltungsplatte
der im Oberbegriff des Patentanspruchs vorausgesetzten Art und ein Verfahren zu
ihrer Herstellung gemäß Oberbegriff des Patentanspruchs 3.
In allgemeinen elektronischen Schaltungen wird eine mit Keramikstoffen od. dgl. abgedichtete integrierte
Schaltung oder sog. abgedichtete integrierte Schaltung verwendet. Wenn eine nicht abgedichtete integrierte
Schaltung anstelle einer abgedichteten integrierten Schaltung verwendet wird, muß ein Scnaltungsanschlußleiter
mit einem Leiter-Leiter-Abstand von etwa μπι auf einem Stubstrat gebildet werden, da eine
nicht abgedichtete integrierte Schaltung kleiner als eine abgedichtete integrierte Schaltung ist und der Abstand
zwischen den Anschlußpunkten in der nicht abgedichteten integrierten Schaltung kleiner als in der abgedichteten
integrierten Schaltung ist.
Wenn jedoch die Anschlußleiter nach einem sog. Trockenverfahren gebildet werden, das das Drucken einer
leitenden Paste auf ein gesintertes keramisches Substrat« (im folgenden einfach als ein »keramisches Substrat
bezeichnet) vorsieht, worauf man es trocknet und brennt, tritt Kurzschluß zwischen den Verdrahtungslt-itern
auf, falls nicht der Leiter-Leitcr-Abstand so groß
wie etwa 400 um ist. da ein solches Trockenverfahren Flecken bzw. Fehler beim Drucken verursacht.
Dagegen wandert nach dem sog. Naßverfahren, das das Drucken einer leitenden Paste auf ein ungesintertes
keramisches Substrat (im folgenden einfach mit »Roh-
-) band« bezeichnet), das hauptsächlich aus Aluminiumoxid
besteht, vorsieht, wonach es getrocknet und gesintert
wird, ein Lösungsmittel in der gedruckten leitenden Paste in das Rohband ein, so daß beim Drucken keine
Flecken oder Fehler auftreten. Außerdem schrumpft
in das Rohband beim Sintern um 10—20%. Daher lassen
sich feine Verdrahtungsleiter mit hoher Dichte bilden.
Da jedoch das Sintern eines hauptsächlich aus Aluminiumoxid bestehenden Rohbandes bei einer Temperatur
von 1500—1600°C abläuft, muß der Verdrahtungsleiter
aus einem feuerfesten Metall, das seine Qualität beim Sintern nicht ändert, wie z. B. Molybdän, Wolfram.
Mangan od. dgl., gebildet werden. Außerdem ändern, wenn Widerslände und Dielektrika in der inneren
Schicht einer Vielschicht-Schaltungsplatte vorgesehen werden, diese ihre Güte zur Zeit des Sintern des Rohbandes.
Daher ist es bei der Vielschicht-Schaltungsplatle erforderlich, die Widerstände und Dielektrika in der
obersten Schicht nach dem Sintern des Rohbandes auszubilden.
Wenn ein Rohband bei einer Temperatur unter 10000C gesintert werden kann, lassen sich andere als die
oben erwähnten Stoffe als Verdrahtungsleiter verwenden, und Widerstände und Dielektrika können in der
inneren Schicht der keramischen Vielschicht-Schaltungsplatte
vorgesehen werden.
Als anorganische Isoliermaterialien für das Rohband, die bei einer Temperatur unter 10000C sinterbar sind,
kennt man ein kristallisierbares Glas, das aus /?-Spodumen
als Hauptbestandteil und Lithiummetasilikat als Hilfsbestandteil besteht, und ein kristallisierbares Glas,
das aus <*-Cordierit als Hauptbestandteil und Klinoenstatit als Hilfsbestandteil besteht.
Jedoch müssen diese Materialien für eine zu lange Zeitdauer erhitzt werden (wenn die Erhitzungszeitdauer
kurz war, trat ein Abschälen des Verdrahtungsleiters auf), da sie eine Aufheizgeschwindigkeit von 2°C/min
oder weniger, eine Haltezeit von 1 —5 h bei der Sintertemperatur
und eine Abkühlungsgeschwindigkeit von 4"C/min oder weniger erforder cn.
Der Erfindung liegt die Aufgabe zugrunde, eine keramische
Vielschicht-Schaltungsplatte zu entwickeln, die unter Überwindung der erwähnten Nachteile sich nicht
deformiert, keine Verwerfungen und Wellungen sowie kein Abschälen der Schaltungsmuster zeigt, so daß Verdrahtungsmuster
hoher Dichte und hoher Feinheit erhältlich sind, und ein Verfahren zur Herstellung dieser
Vielschicht-Schaltungsplatte anzugeben.
Diese Aufgabe wird bei einer Vielschicht-Schaltungsplatte und einem Herstellungsverfahren der eingangs
vorausgesetzten Art durch die Kombination der kennzeichnenden Merkmale des Patentanspruchs 1 bzw. des
Patentanspruchs 3 gelöst.
Zugehörige Ausgestaltungen sind in den Patentansprüchen 2 bzw. 4 gekennzeichnet.
bu Die angestrebten Eigenschaften der Vielschicht-Schaltungsplatte
werden dank der bestimmten Beziehungen /wischen der Sinterteniperatur der isolierenden
Schichten und den physikalischen Eigenschaften des Glases, das Bestandteil der Widerstands- bzw. Kondensatormaterialicn
ist, erreicht.
Das Sintern der Vielschicht-Schaltungsplatte wird zweckmäßig 10—30 min bei einer Temperatur von
bOO—lOOO'C durchgeführt, bei der sieh das erwähnte
anorganische isolierende Material sintern läßt und das Glas in der erwähnten leitenden Paste, der Widerslandspaste
und der dielektrischen Paste erweichen und schmelzen kann.
Wenn nichtkristallisierte Gläser von unterschiedlichem Erweichungspunkt im anorganischen isolierenden
Material und in der Widerstandspaste verwendet werden, sind die Erhitzungsgeschwindigkeit und die Abkühlungsgeschwindigkeit
vorzugsweise 50—100"C/min im Temperaturbereich höher als der niedrigere Erweichungspunkt.
Wenn die Erhitzungs- oder Abkühlungsgcschwindigkeit geringer als oben ist, verursacht das
übermäßige Schmelzen von Glas die Verformung eines Schaltungsmusters, und eine ungleichmäßige Schrumpfung
eines gesinterten Substrats verursacht eine Verwerfung. Andererseits tritt, wenn die Erhitzungs- oder
Abkühlungsgeschwindigkeit größer, als oben erwähnt ist, die Verwerfung oder Wellenbildung des Substrats
aufgrund der Ungleichmäßigkeit des Erhitzens bzw. Abkühlensauf.
Im folgenden werden die in der keramischen Vielschicht-Schaltungsplatte
verwendbaren, an sich bekannten Materialien näher erläutert.
Als Beispiele von bei 600—10000C sinterbarem kristallisierbarem
Glas seien kristallisierbare Gläser erwähnt, aus denen sich Krislällchen von Anorthit
(CaAbSi3O8), Celsian (BaAl2Si2OH). Nephelin
(NaAISiO4) oder Sphen (CaTiSiOs) zur Zeil des Sinterns
abscheiden. Eines davon wird für ein kristallisierbares Glas verwendet.
Als Beispiele des bei 600-10000C sinterbaren isolierenden
kristallinen Oxids sind Metalloxide, wie z. B. Aluminiumoxid (AI2Os), Siliziumoxid (SiO2), Magnesiumoxid
(MgO), Kalziumoxid (CaO). Bariumoxid (BaO), Zirkoniumoxid (ZrO2), Kalziumzirkonat (CaZrOi) u.dgl.,
Magnesiumspinell (MgAI2O4), Aliminosilikate, wie z. B.
Anorthit (CaAI2Si2Os). Celsian (BuAI2Si2O1,) u.dgl., und
Silikate, wie z. B. Zirkon (ZrSiO-i) u. dgl., zu erwähnen.
Sie können entweder allein oder in Mischungsform von zwei oder mehr dieser Verbindungen verwendet werden.
Als das nichtkristallisierte Glas mit einer Sintertemperatur von 600— 100O0C, das mit dem isolierenden kristallinen
Oxid zu vermischen ist. sind solche mit einem Erweichungspunkt von 7500C oder darunter und mit
einer Sintertemperatur von 600—1000"C vorzuziehen, worunter man Bleialuniinoborosilikatgläser. die BaO,
CaO, ZnO, SrO. TiO2, Bi2O3 u. dgl. enthalten, besonders
bevorzugt.
Es ist auch zulässig, daß dieses Glas eine geringe Menge eines Alkalimetalloxids, wie z. B. Na2O, Li2O.
K2Ou. dgl. enthält.
Als Beispiele des isolierenden polykristallinen Oxids,
das sich bei 600— 100O0C sintern läßt, sind Germaniumoxid
(GeO2) sowie Mischungen zu erwähnen, die durch Zusetzen einer Verbindung der Gruppe SiO2, AI2O3,
CaO, PbO, Bi2O3, B2Oj u. dgl. zu GeO2 erhalten werden.
Als die zur Bildung eines Verdrahtungsleiters verwendete leitende Paste werden Pasten verwendet, die
aus einem Bindemittel und wenigstens einem Metall der Gruppe Gold. Silber. Platin und Palladium oder einem
Legierungsmetallpulver, wie z. B. Ag-Pd od. dgl., zusammengesetzt sind.
Zur weiteren Verbesserung der Haftung zwischen dem Verdrahtungsleiter und der isolierenden Schicht
wird ein nichtkristallisiertes Glas in die erwähnte, aus einem Metallpulver und einem Bindemittel zusammengesetzte
leitende Paste eingemischt, wobei das nichtkristallisierte Glas eine Sintertemperatur von
600—10O0°C haben muß, sein Erweichungspunkt 150—2500C niedriger als die Sintertemperatur des in
der isolierenden Schicht verwendeten anorganischen isolierenden Materials sein muß und sein Wärmeausdehnungskoeffizient
im Bereich von 10 χ 10~7/°C höher als dem des anorganischen isolierenden Materials
bis 30 χ 10-V0C niedriger als dem des anorganischen
isolierenden Materials sein muß.
ίο Als zur Bildung eines Widerstandes verwendete Widerstandspastc
werden Pasten, die aus einem leitenden Pulver, einem nichtkristallisierten Glas oder kristallisierbarem
Glas und einem Bindemittel zusammengesetzt sind, verwendet, wobei das leitende Pulver wenigstens
eines aus der Gruppe der Metallpulver, wie z. B. pulverförmiges Gold, Silber, Platin, Palladium u.dgl.,
Rutheniumoxide, wie z. B. RuO2, Bi2Ru2O?, Pb2Ru2Oe
u.dgl.. Iridiumoxide, wie z.B. IrO2, Bi2Ir2O?, Pb2Ir2Oe,
u. dgl., und Suizide, wie z. B. MoSi2, CoSi2 u. dgl., ist,
wobei außerdem das nichtkristallisierte Glas eine Sinlertemperatur von 600— 10000C haben muß, sein Erweichungspunkt
150—2500C niedriger als die Brenntemperatur
des in der isolierenden Schicht verwendeten anorganischen isolierenden Materials sein muß und sein
Wärmeausdehnungskoeffizient im Bereich von IO χ 10-7/°C größer als der des anorganischen isolierenden
Materials bis 30 χ 10-7/°C kleiner als der des anorganischen isolierenden Materials sein muß, und wobei
ferner das kristallisierbare Glas eine Sintertempera-
JO tür von 600— 10000C haben muß, seine Kristallisationsnemperatur
im Bereich von 5O0C unter der Sintertemperatur
des in der Isolierschicht verwendeten anorganischen isolierenden Materials bis 500C über der Sintertemperatur
des anorganischen isolierenden Materials
J5 sein muß und sein Wärmeausdehnungskoeffizient im
Bereich von 10 χ 10-7/°C größer als der des anorganischen
isolierenden Materials bis 30 χ 10~7/°C kleiner
als der des anorganischen isolierenden Materials sein muß.
Wenn der Erweichungspunkt oder die Kristallisationstcmpcratur
der Gläser niedriger als der erwähnte Temperaturbereich ist, fließt nichtkristallisiertes Glas
bei der Sintertemperatur des in der Isolierschicht verwendeten
anorganischen isolierenden Materials, so daß das Widcrstandsmusier unregelmäßig wird oder das
Glas in die Isolierschicht einwandert und die ungleichmäßige Schrumpfung oder Verwerfung der Isolierschicht
zur Zeit des Sinterns verursacht. Im Fall des kristallisierbaren Glases kristallisiert unter solchen Bedingungen
das Glas und wird hoch viskos, bis es ungeeignet wird, der Schrumpfung der isolierenden Schicht
zur Zeit des Sinterns zu folgen, wodurch die Verwerfung der Schaltungsplatte verursacht wird.
Wenn andererseits der Erweichungspunkt oder die Kristallisationstemperatur des Glases höher als der oben erwähnte Bereich ist, kann das nichtkristallisierte Glas nicht ausreichend geschmolzen werden, so daß sich kein dichter Widerstand erhalten läßt, während das kristallisierbare Glas so fließt, daß das Widerstandsmuster
Wenn andererseits der Erweichungspunkt oder die Kristallisationstemperatur des Glases höher als der oben erwähnte Bereich ist, kann das nichtkristallisierte Glas nicht ausreichend geschmolzen werden, so daß sich kein dichter Widerstand erhalten läßt, während das kristallisierbare Glas so fließt, daß das Widerstandsmuster
bo unregelmäßig wird und das Glas in die Isolierschicht
unter Verursachung einer ungleichmäßigen Schrumpfung zur Zeit des Sinterns einwandert, wodurch die Verwerfung
der Schaltungsplatte verursacht wird.
Als die zur Bildung des Dielektrikums verwendete dielektrische Paste können Pasten verwendet werden, die aus einem Dielektrikumspulver mit einer hohen Dielektrizitätskonstante, einem nichtkristallisierten Glas oder kristallisierbarem Glas und einem Bindemittel un-
Als die zur Bildung des Dielektrikums verwendete dielektrische Paste können Pasten verwendet werden, die aus einem Dielektrikumspulver mit einer hohen Dielektrizitätskonstante, einem nichtkristallisierten Glas oder kristallisierbarem Glas und einem Bindemittel un-
ler der Bedingung zusammcngescl/.l sind, chil.1 das Dielektrikum
mit einer hohen Dielektrizitätskonstante eine Mischung von Bariumtitanat mit einem Stoff der
Gruppe Magnesiumtitanat, Kalziumtitanat, Sirontiumtitanat,
Kalziumzirkonat, Bariumzirkonat, Nickclstannat,
Kalziumstannat. Bariumoxid, Lathanoxid u. dgl. ist und eine Sintertemperatur von 1000"C oder höher hat,
daß weiter das nichtkristallisierte Glas eine Sintertemperatur von 600—10000C hat, sein Erweichungspunkt
150—250°C niedriger als die Sintertemperatur des in der Isolierschicht verwendeten anorganischen isolierenden
Materials ist und sein Wärmeausdehnungskoeffizient im Bereich von 10 χ 10-7/°C über dem des anorganischen
isolierenden Materials bis 30 χ 10-7/°C unter
dem des anorganischen isolierenden Materials ist, und daß ferner das kristallisierbare Glas eine Sintertemperatur
von 600—10000C hat, seine Kristallisationsteinperatur
im Bereich von 500C unter der Sintertemperatur des in der Isolierschicht verwendeten anorganischen
isolierenden Materials bis 5O0C über dieser Sintertemperatur
ist und sein Wärmeausdehnungskoeffizient im Bereich von 10 χ 10~7/°C über dem des anorganischen
isolierenden Materials bis 30 χ 10-7/°C unter dem des
anorganischen isolierenden Materials ist.
Wenn der Erweichungspunkt oder die Kristallisationstemperatur des Glases niedriger als der oben erwähnte
Temperaturbereich ist, fließt das nichtkristallisierte Glas bei der Sintertemperatur des anorganischen
isolierenden Materials, so daß das Dielektrikumsmuster unregelmäßig wird und das Glas in die isolierende
Schicht einwandert, wodurch das ungleichmäßige Schrumpfen oder Verwerfen der Isolierschicht zur Zeit
des Sinterns verursacht wird, während das kristallisierbare Glas kristallisiert und hoch viskos wird, bis das
Glas ungeeignet wird, dem Schrumpfen der Isolierschicht zur Zeit des Sinterns zu folgen, so daß sich die
Schaltungsplatte verzieht.
Wenn andererseits der Erweichungspunkt oder die Kristallisationstemperatur des Glases höher als der
oben erwähnte Temperaturbereich ist, kann das nichtkristallisierte Glas nicht ausreichend geschmolzen werden,
so daß man kein dichtes Dielektrikum erhalten kann, während das kristallisierbare Glas fließt und das
Dielektrikumsmuster unregelmäßig macht oder in die Isolierschicht einwandert und so ein ungleichmäßiges
Schrumpfen der Isolierschicht zur Zeit des Sinterns hervorruft, was die Verwerfung der Schaltungsplatte verursacht.
Die Erfindung wird anhand der in der einzigen Figur der Zeichnung veranschaulichten Ausführungsbcispiele
näher erläutert: sie zeigt einen Querschnitt zur Veranschaulichung eines Ausführungsbeispiels der Vielschicht-Schaltungsplatte
gemäß der Erfindung.
Beispie! 1
Man verwendete ein kristallisierbares Glas als das anorganische isolierende Material, ein nichtkristallisiertes
Glas als Bindemittelglas für einen Widerstand und ein dielektrisches Material mit einem niedrigen
Schmelzpunkt
Die Pasten für ein Rohband und eine Isolierzwischenschicht wurden in der folgenden Weise hergestellt Man
wog Oxyde, Karbonate und Hydroxide so aus, daß die Anteile (Gew.-%) der Bestandteile folgende wurden:
30% SiO2, 13% CaO, 12% Al2Oj, 11% ZrO2, 28% PbO,
4% B2O3 und 2% MgO. Sie wurden miteinander in einer
Kugelmühle vermischt, und die Mischung wurde in einem
Plalinbccher bei 1500"C" geschmolzen und dann
zwecks rascher Abkühlung in Wasser gegossen, wodurch ein roh zerkleinertes Glas erhalten wurde. Es
wurde mittels eines Achatmörsers und einer Kugelmüh-
r. Ic pulverisiert, um ein Glaspulver mit einer Durchschnittstcilchi.'ngioßc
von 2.0 μιτι zu erhalten. Es zeigte
einen exothermen Spitzenwert bei 8200C, der der Abscheidung
von kristallinem Anorthit (CaAbSiA) entsprach. Wenn es bei 8500C wärmebehandelt wurde,
in zeigte es einen Wärmeausdehnungskoeffizient von 52 χ 10-'/0C.
Nach den üblichen Verfahren zur Herstellung von Rohbänder- und Isolierzwischenschichtpasten wurde
das Glaspulver in der folgenden Weise zu einem Rohband und einer Isolierpaste verarbeitet. Man vermischte
100 g des Giaspuivers mit 6 g Polyvinylbutyral, wozu
3 cm' Butylphihalylbutylglycolat und 60 cmJ einer Lösungsmittelmischung
zugesetzt wurden, die aus 60Vol.% Trichloräthylen, 17 Vol.% Perchloräthylen
und 23 Vol.% Butylalkohol bestand. Die Mischung wurde in einer Aluminiumoxidkugelmühle zum Erhalten einer
Trübe geknetet. Sie wurde durch ein Abstreifmesser geführt, getrocknet, zu einem Band mit einer Dicke von
0,8 mm geformt und dann geeignet in Rohbänder geschnitten. Eine Isolierzwischenschichtpaste wurde hergestellt,
indem man 50 g Äthylzellulose in 450 g Tridecanol zum Erhalten eines organischen Bindemittels auflöste,
40 cm' des organischen Bindemittels zu 100 g des Glaspulvers zusetzte und dann die Mischung in einem
jo Aluminiumoxidkneter verknetete.
Das Bindemittelglas für das Leiter- und Widerstandsmaterial war ein nichtkristallisiertes Glas mit der folgenden
Zusammensetzung (Gewicht): 60% SiO2, 14% PbO, 9%AI2Oi, 7% CaO, 5% B2O3,1% MgO, 2% Na2O
und 2% K2O. Es hatte einen Erweichungspunkt von 68O0C und einen Wärmeausdehnungskoeffizient von
60 χ 10-'/0C. Es wurde pulverisiert, bis die Durchscnittsteilchengröße
2,5 μηι erreichte. Eine Leiterpaste wurde hergestellt, indem man ein Ag-Pd-Mischpulverin
das Glaspulver in einem Anteil von 9,7 g des Mischpulvers je 0,3 g Glaspulver einmischte, dann ein organisches
Bindemittel in einem Anteil von 3 cm-1 Bindemittel je 0,3 g Glaspulver zusetzte und die erhaltene Mischung
knetete. In ähnlicher Weise wurde eine Widerstandspaste
hergestellt, indem man RuO2 mit einer Durchschnittsteilchengröße
von 0,8 μηι mit dem Glaspulver in einem Anteil von 2,0 g RuO2 je 8,0 g Glaspulver vermischte,
dann ein organisches Bindemittel in einem Anteil von 3 cm' Bindemittel je 8,0 g Glaspulver zusetzte
und dann die erhaltene Mischung verknetete.
Ein Dielektrikum mit einem niedrigen Schmelzpunkt wurde hergestellt, indem man PbO, Fe2Ö3, WÖ3 und
TiO2 vermischte, die Mischung 2 h bei 8000C zur Synthese
von 0,75 Pb(Fe2,3Wi/3)O3-0,25 PbTiO3 wärmebehandelte
und das letztere pulverisierte, bis seine Durchschniltsteilchengröße
2,3 μΐη erreichte. Eine dielektrische Paste wurde hergestellt, indem man dem Pulver ein
organisches Bindemittel in einem Anteil von 3 cmJ Bindemittel
je 10 g Pulver zusetzte. Dieses Dielektrikum
bo wurde unter Schrumpfung bei 850°C gesintert. Sein
Schmelzpunkt war 1100" C.
Nun wird, das Verfahren zur Herstellung einer Vielschicht-Schaltungsplatte
anhand der Figur erläutert. Auf ein in der oben erwähnten Weise hergestelltes Glasrohband 1 wurde die erwähnte leitende Paste zur
Bildung einer ersten Verdrahtungsschicht 2, einer Widerstandselektrode 3 und einer Kondensatorelektrode
gedruckt. Nach deren Trocknen wurde die oben er-
10
15
20
25
wähnte Widerstandspasie zur Bildung eines Erstschichtwiderstands
5 gedruckt. Dann wurde die oben erwähnte dielektrische Paste zur Bildung eines Erstschichtkondensators
6 gedruckt, und die oben erwähnte leitende Paste wurde zur Bildung einer Kondcnsatorgegenelcktrode
7 gedruckt.
Dann wurde die oben erwähnte Zwischenschichtisolierpaste zur Bildung einer Isolierzwischenschicht 8 gedruckt.
Zu dieser Zeit wurde ein durchgehendes Loch 9 zur elektrischen Verbindung der Ober- und Unterseiten
der Schicht gebildet. Dann wurde die oben erwähnte leitende Paste gedruckt, um eine Schichtenverbindung
durch das durchgehende Loch herzustellen und gleichzeitig eine Zweitschichtverdrahtung 10, eine Widerstandselektrode
3', eine Kondensatorelektrodc 4', eine Kondensatorgegenelektrode 7', einen äußeren Vcrbindungsanschluß
11 und einen Teilemontageanschluß 12 in der gleichen Weise wie bei der ersten Schicht zu
bilden. Dann wurden ein Zweitschichtwiderstand 13 und ein Zweitschichtkondensator 14 gebildet, indem man die
oben erwähnte Widerstandspaste und die oben erwähnte dielektrische Paste druckte und außerdem die oben
erwähnte leitende Paste auf die dielektrische Schicht druckte.
Das ungesinterte Substrat, das in der vorstehend erwähnten Weise gedruckt und vielschichtig ausgebildet
war, wurde in einem Dickschicht-Bandofen eines Luftfeuerungstyps unter Aufrechterhaltung einer Temperatur
von 850°C 10 min wärmebehandelt. Obwohl das Rohband hierbei eine Schrumpfung von 15% zeigte,
beobachtete man weder irgendeine Verwerfung des Substrats noch irgendein Abschälen und Reißen einer
Widerstandsschicht und einer Dielektrikumschicht.
Als das anorganische isolierende Material wurde eine Mischung eines isolierenden kristallisierbaren Oxids
und eines nichtkristallisierten Glases verwendet. Als das Bindemittelglas für den Widerstand wurde ein kristallisierbares
Glas verwendet. Als das Bindemittelglas des Dielektrikums wurde nichtkristallisiertes Glas verwendet.
Eine Rohband- und Isolierzwischenschichtpaste wurden in der folgenden Weise hergestellt. Man wog Oxide,
Karbonate und Hydroxide so aus. daß die Anteile (Gewicht) der Bestandteile folgende wurden: 55% SiO:,
17% PbO, 9% Al2O3,8% CaO, 5% B3O). 1% MgO. 3%
Na2O und 2% K2O. Sie wurden miteinander in einer
Kugelmühle vermischt und dann in der gleichen Weise wie im Beispiel 1 behandelt, um ein Pulver aus nichtkrisiaiiisiertem
Glas mit einer Durchschnitisieiichcngrößc
von 2,5 μηι und einem Erweichungspunkt von 690° C zu erhalten. 70 g dieses Glaspulvers wurden 15 g eines Aluminiumoxidpulvers
mit einer Durchschnittsteilchengröße von 0,6 μιη, 10 g eines Magnesiumoxidspinellpulvers
(MgAl2Ot) mit einer Durchschnittsteilchengröße von
2,0 um und 5 g eines Kalziumzirkonatpulvers (CaZrO3)
mit einer Durchschnittsteilchengröße von 2,5 μιη anteilig
zugesetzt, und die erhaltene Mischung wurde homogenisiert
und in der gleichen Weise wie im Beispiel I zu einer Rohband- und einer Isolierzwischenschiehlpaste
verarbeitet. Obwohl dieses Rohband das Schrumpfungsausmaß mit Steigerung der Wärmebehandlungstemperatur
etwas erhöhte, zeigte es eine starke b5 Schrumpfung bei 800°C. und das Schrumpfen bei bis zu
900" C war fast konstant etwa 16%. Aufgrund dieser Feststellung wurde eine Temperatur von 850° C als die
Brenntemperatur des Rohbandes angenommen.
Das Bindemittelglas des Widerstandes wurde in der folgenden Weise hergestellt. Man wog Oxide, Karbonate
und Hydroxide so aus, daß die Anteile der Bestandtei-Ie (Gewicht) folgende wurden: 31% SiO2,4% B2O3,10%
AI201, 11 % TiO2, 25% BaO, 12% ZnO, 4% CaO und 3%
MgO. Sie wurden in der gleichen Weise wie im Beispiel I behandelt, um ein Glaspulver mit einer Durchschniltsteilchengröße
von 2,0 μίτι zu erhalten. Dieses Glaspulver war ein kristallisierbares Glas mit einem
exothermen Spitzenwert von 840°C, der der Abscheidung des Cclisankristalls (BaAl2Si2Os) entsprach. 8,0 g
dieses Glaspulvers wurden 2,0 g eines Bi2Ru2O?-Pulvers
mit einer Durchschnittsteilchengröße von 1,5 μίτι anteilsmäßig
zugemischt. Dann wurden je 10 g dieser pulvcrförrnägcn
Mischung 3 cm' eines organischen Bindemittels zugesetzt, und die erhaltene Mischung wurde
zum Erhalten einer Widerstandspaste verknetet.
Als das nichtkristallisierte Bindemittelglas für das Dielektrikum wurde ein feinpulverisiertes Glas mit der
folgenden Zusammensetzung (Gewicht): 60% Bi2O3,
15% PbO, 11% SiO2. 5% AI2O3.4% CaO. 3% ZnO und
2% B2O3 und mit einer Durchschnittsteilchengröße von
2,7 μιη verwendet. Dieses Glaspulver hatte einen Erweichungspunkt
von 5300C.
Die dielektrische Paste wurde hergestellt, indem man
anteilsmäßig 0.3 g des in der oben erwähnten Weise hergestellten feinpulverisierten Glases mit 9,7 g eines
pulverisierten Bariumtitanatpulvers (BaTiO3) mit einer
Durchschnittsteilchengröße von 2,5 μιη vermischte und 100 g der erhaltenen pulverförmigen Mischung zusammen
mit 3 cm1 eines organischen Bindemittels verknetete.
Eine aus einer Ag-Pd-Pulvcrmischung und einem organischen
Bindemittel zusammengesetzte leitende Paste, die Widerstandspaste, die dielektrische Paste und
die Isolierzwischenschichtpaste, die frisch hergestellt waren, wurden in der gleichen Weise wie im Beispiel 1
auf das Rohband gedruckt und zu einem vielschichtigen Band geformt. Das vielschichtige Band wurde in einem
Dickschicht-Bandofen eines Luftfeuerungstyps der Eignung zur Beibehaltung einer Temperatur von 8500C
10 min wärmebehandelt, um eine in der Figur gezeigte Schallungsplatte zu erhalten. Dabei zeigte die Schaltungsplatte
eine Schrumpfung von 16%, doch fand man weder irgendeine Verwerfung des Substrats noch irgendeine
Abschälung und Rißbildung des Widerstands und des Dielektrikums.
45
50
Als das anorganische isolierende Maieri;
Oxidkeramik mit einem niedrigen Schmelzpunkt verwendet. Als das Bindemittelsglas für den Widerstand und das Dielektrikum wurde ein kristallisierbares Glas verwendet.
Oxidkeramik mit einem niedrigen Schmelzpunkt verwendet. Als das Bindemittelsglas für den Widerstand und das Dielektrikum wurde ein kristallisierbares Glas verwendet.
Eine Rohband- und Isolierzwischenschichtpaste wurden in der folgenden Weise hergestellt Man wog Oxide,
Karbonate und Hydroxide so aus, daß die Anteile (Gewi wicht) der Bestandteile folgende wurden: 35% GcO2,
35% BaO, 14% Al2Oi. 7% CaO. 5% PbO. 3% Bi2O3 und
1% B2O). Sie wurden zusammen in einer Kugelmühle
gemischt, mit einer wäßrigen Polyvinylalkohollösung vermischt und dann unter Druck zu einer Scheibe geformt.
Diese wurde unter ausreichenden Bedingungen zur Aufrechterhaltung einer Temperatur von 900°C 2 h
wärmebehandelt. Der gesinterte Körper wurde in einem Achatmörser und einer Kugelmühle pulverisiert.
Π
um ein Pulver mit einer DurchschniltMeilchengrößc von
2,2 μΐη zu erhalten.
In der gleichen Weise wie im Beispiel 1 wurde dieses
Pulver zu einer Rohband- und einer Isolicr/.wischcnschichlpastc
verarbeitet. r>
Als das kristallisicrbare Cilas für den Widerstand und
das. Dielektrikum wurde ein Glaspulver mit der gleichen anorganischen Zusammensetzung des Rohbandes wie
im Beispiel I verwendet. Eine Widerstandspaste wurde hergestellt, indem man je 3,0 g eines Rutheniumoxidpul- in
vers (RUO2) mit einer Durchschnittsteilchengröße von
0,8 μηι mit je 2,0 g des Bindemittelglaspulvers vermischte
und dann die Mischung zusammen mit einem organischen Bindemittel verknetete. Eine dielektrische Paste
wurde hergestellt, indem man je 9,5 g eines Bariumtitanatpuivers
(BaTiO3) mit einer Durchschnittsteilchcngrö-Be
von 2,7 μίτι mit je 0,5 g des Bindemittelglaspulvers
vermischte und die Mischung dann zusammen mit einem organischen Bindemittel verknetete.
Auf das so hergestellte Rohband wurden die im Beispiel 1 hergestellte leitende Paste, die Widerstandspaste,
die dielektrische Paste und die Isolierzwischenschichtpaste, die frisch hergestellt waren, wie im Beispiel 1 gedruckt
und zu einem Vielschichtband geformt. Das Vielschichtband
wurde in einem Dickschicht-Bandofen eines Luftfeuerungstyps mit der Eignung zur Aufrechterhaltung
einer Temperatur von 8500C 20 min wärmcbehandelt,
um die in der Figur dargestellte Schaltungsplatte zu erhalten. Man fand weder irgendeine Verwerfung
des Substrats noch irgendeine Abschälung und Rißbildung des Widerstandes und des Dielektrikums.
Hierzu 1 Blatt Zeichnungen
40
45
50
b0
Claims (3)
1. Keramische Vielschicht-Schaltungsplatte mit einer ersten isolierenden Schicht, einer auf der ersten
isolierenden Schicht vorgesehenen ersten Schaltung, einer auf der mit der ersten Schaltung versehenen
Oberfläche der ersten isolierenden Schicht vorgesehenen zweiten isolierenden Schicht, einer auf der
zweiten isolierenden Schicht vorgesehenen zweiten Schaltung, wobei wenigstens ein Paar einer isolierenden
Schicht und einer Schaltung bei Bedarf auf der zweiten Schaltung vorgesehen ist, und einem mit
einem leitenden Material zur Verbindung zwischen den auf den zugehörigen isolierenden Schichten vor- 1■>
gesehenen Schaltungen gefüllten durchgehenden Loch,
gekennzeichnet durch die Kombination folgender
Merkmale:
Die isolierenden Schichten bestehen aus
h)
bis c) und einem von 10 χ 10-'/° C größeren
bis 30 χ 10-7/°C kleineren Wärmeausdehnungskoeffizient
als dem von a) bis c) oder aus einem dielektrischen Material mit einer Sintertemperatur
von 800 bis 10000C.
a) einem kristallisierbaren Glas mit einer Sintertemperatur von 600 bis 1000° C,
b) einer Mischung mit einer Sintertemperatur von 600 bis 100O0C eines isolierenden kristallinen
Oxids und nichtkristallisierten Glases mit einem Erweichungspunkt von 7500C oder darunter
oder
c) einem isolierenden polykristallinen Oxid mit einer Sintertemperatur von 600 bis 10000C, wobei
wenigstens einer der Leiter der zwischen den isolierenden Schichten vorgesehenen
Schaltungen mil einem Widerstand, einem Kon- η densator oder einem Widerstand und einem
Kondensator versehen ist, die Widerstände der Schaltungen bestehen aus
d) einem Metall oder leitenden Material und aus einem nichtkristallisierten Glas mit einer Sintertemperatur
von 600 bis 10000C, einem Erweichungspunkt
von 150 bis 2500C unter der Sin- a) tertemperatur von a) bis c) und einem von
10 χ 10-V°C größeren bis 30 χ 10~V"C klei- b)
neren Wärmeausdehnungskoeffizient als dem von a) bis c) oder aus
e) einem Metall oder leitenden Material und aus kristallisiertem Glas mit einer Sintertemperatur
von 600 bis 1000°C, einer Kristallisationstempc- c)
ratur von 500C über bis 500C unter der Sintertemperatur
von a) bis c) und einem von 10 χ 10-7/°C größeren bis 30 χ 10-V0C kleineren
Wärmeausdehnungskoeffizient als dem d) von a) bis c), und die Kondensatoren der Schaltungen
bestehen aus κ
f) einem dielektrischen Material mit einer Sintertemperatur von 10000C oder höher und einem
nichtkristallisierten Glas mit einer Sintertemperatur von 600 bis 10000C, einem Erweichungspunkt
von wenigstens 150°C unter der Sinter- wi
temperatur von a) bis c) und einem c) 10 χ 10"?/°C größeren Wärmeausdehnungskoeffizient
als dem von a) bis c), aus
g) einem dielektrischen Material mit einer Sintertemperatur von 1000"C oder höher und einem hr,
kristallisierten Glas mit einer Sintertcmperatur von 600 bis 1000"C. einer KristalliMilionstemperatur
von 500C über bis 50°C unter der von a)
2. Keramische Vielschicht-Schaltungsplatte nach Anspruch 1, dadurch gekennzeichnet, daß die Leiter
der Schaltungen und die leitenden Materialien, womit
die durchgehenden Löcher gefüllt sind, aus
i) einem Metall, das bei einer Temperatur von 600 bis 10000C stabil ist, oder aus
j) einem Metall, das bei einer Temperatur von 600 bis 1000° C stabil ist, und einem nichtkristallisierten
Glas mit einer Sintertemperatur von 600 bis 10000C, einem Erweichungspunkt von 150
bis 250° C unter der Sintertemperatur von a) bis c) und einem von 10 χ 10-7/°C größeren bis
30 χ 10-V0C kleineren Wärmeausdehnungskoeffizient als dem von a) bis c) bestehen.
3. Verfahren zur Herstellung einer keramischen Vielschicht-Schaltungsplatte nach Anspruch 1 oder
2, bei dem eine erste Rohschaltung durch Drucken auf einer ersten Rohschicht gebildet wird, eine rohe
Isolierschicht durch Drucken auf der ersten Rohschicht mit Ausnahme von durchgehenden Löchern
als Verbindungsteilen der ersten Rohschaltung gebildet wird, die durchgehenden Löcher mit einer leitenden
Paste gefüllt werden, wenigstens ein Paar einer rohen Isolierschicht mit mit einer Leiterpaste
gefüllten durchgehenden Löchern und einer rohen Schallung nach Bedarf weiter gebildet wird und die
so erhaltene rohe Schaltungsplatte gesintert wird, gekennzeichnet durch die Kombination folgender
Merkmale: Die Rohschicht und die rohen Isolierschichten erzeugt man aus einer isolierenden Aufschwemmung
aus einem organischen Lösungsmittel und
kristallisiertem Glas mit einer Sintertemperatur von 600 bis 1000° C.
einer Mischung mit einer Sintertemperatur von 600 bis 10000C eines isolierenden kristallinen
Oxids mit nichtkristallisiertem Glas eines Erweichungspunktes von 75O0C oder darüber
oder
einem isolierenden polykristallinen Oxid mit einer Sintertemperatur von 600 bis 10000C, die
Widerstände der Rohschaltungen erzeugt man aus einem organischen Träger und
einem Metall oder leitenden Material und aus einem nichtkristallisierten Glas mit einer Sintertemperatur von 600 bis 10000C, einem Erweichungspunkt von 150 bis 2500C unter der Sintertemperatur von a) bis c) und einem von 10 χ 10-V°C größeren bis 30 χ 10-7/°C kleineren Wärmeausdehnungskoeffizient als dem von a) bis c) oder
einem Metall oder leitenden Material und aus einem nichtkristallisierten Glas mit einer Sintertemperatur von 600 bis 10000C, einem Erweichungspunkt von 150 bis 2500C unter der Sintertemperatur von a) bis c) und einem von 10 χ 10-V°C größeren bis 30 χ 10-7/°C kleineren Wärmeausdehnungskoeffizient als dem von a) bis c) oder
einem Metall oder leitenden Material und einem kristallisierten Glas mit einer Sintertemperatur
von 600 bis 10000C. einer Kristallisaiionstempcratur
von 5O0C über bis 500C unter der
.Sintertemperatur von a) bis c) und einem von 10 χ 10-V0C größeren bis 30 χ 10-7/°C kleineren
Wärmeausdehnungskoeffizient als dem von (;i) bis (c), und die Kondensatoren der Rohschal·
tungen erzeugt man aus einem organischen Träger und
Π einem dielektrischen Material mit einer Sintertemperatur von 1000°C oder höhtr und einem
nichtkristallisierten Glas mit einer Sintertemperatur von 600 bis 10000C, einem Erweichungspunkt
von wenigstens 150°C unter der Sintertemperatur von a) bis c) und einem
10 χ 10-7/°C größeren Wärmeausdehnungskoe'fizient
als dem von a) bis c),
g) einem dielektrischen Material mit einer Sintertemperatur
von 10000C oder höher und einem kristallisierter; Glas mit einer Sintertemperatur
von 600 bis 10000C, einer Kristallisationstemperatur
von 500C über bis 500C unter der Sintertemperatur
von a) bis c) und einem 10 χ 10-TC größeren bis 30 χ 10-7/°C kleineren
Wärmeausdehnungskoeffizient als dem von a) bis c) oder
h) einem dielektrischen Material mil einer Sintertemperatur von 800 bis 1000° C.
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
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JP56115039A JPS5817651A (ja) | 1981-07-24 | 1981-07-24 | 多層回路板とその製造方法 |
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DE3227657C2 true DE3227657C2 (de) | 1984-09-13 |
Family
ID=14652676
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
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DE3227657A Expired DE3227657C2 (de) | 1981-07-24 | 1982-07-23 | Keramische Vielschicht-Schaltungsplatte und Verfahren zu ihrer Herstellung |
Country Status (3)
Country | Link |
---|---|
US (1) | US4490429A (de) |
JP (1) | JPS5817651A (de) |
DE (1) | DE3227657C2 (de) |
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- 1982-07-23 DE DE3227657A patent/DE3227657C2/de not_active Expired
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
DE3227657A1 (de) | 1983-02-17 |
JPH0343786B2 (de) | 1991-07-03 |
JPS5817651A (ja) | 1983-02-01 |
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