DE19928075B4 - Speichermodul mit Wärmeableiter - Google Patents
Speichermodul mit Wärmeableiter Download PDFInfo
- Publication number
- DE19928075B4 DE19928075B4 DE19928075A DE19928075A DE19928075B4 DE 19928075 B4 DE19928075 B4 DE 19928075B4 DE 19928075 A DE19928075 A DE 19928075A DE 19928075 A DE19928075 A DE 19928075A DE 19928075 B4 DE19928075 B4 DE 19928075B4
- Authority
- DE
- Germany
- Prior art keywords
- heat sink
- memory module
- circuit board
- memory
- heat
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Expired - Lifetime
Links
Classifications
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01L—SEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
- H01L23/00—Details of semiconductor or other solid state devices
- H01L23/34—Arrangements for cooling, heating, ventilating or temperature compensation ; Temperature sensing arrangements
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01L—SEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
- H01L23/00—Details of semiconductor or other solid state devices
- H01L23/34—Arrangements for cooling, heating, ventilating or temperature compensation ; Temperature sensing arrangements
- H01L23/36—Selection of materials, or shaping, to facilitate cooling or heating, e.g. heatsinks
- H01L23/367—Cooling facilitated by shape of device
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01L—SEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
- H01L25/00—Assemblies consisting of a plurality of individual semiconductor or other solid state devices ; Multistep manufacturing processes thereof
- H01L25/03—Assemblies consisting of a plurality of individual semiconductor or other solid state devices ; Multistep manufacturing processes thereof all the devices being of a type provided for in the same subgroup of groups H01L27/00 - H01L33/00, or in a single subclass of H10K, H10N, e.g. assemblies of rectifier diodes
- H01L25/10—Assemblies consisting of a plurality of individual semiconductor or other solid state devices ; Multistep manufacturing processes thereof all the devices being of a type provided for in the same subgroup of groups H01L27/00 - H01L33/00, or in a single subclass of H10K, H10N, e.g. assemblies of rectifier diodes the devices having separate containers
- H01L25/105—Assemblies consisting of a plurality of individual semiconductor or other solid state devices ; Multistep manufacturing processes thereof all the devices being of a type provided for in the same subgroup of groups H01L27/00 - H01L33/00, or in a single subclass of H10K, H10N, e.g. assemblies of rectifier diodes the devices having separate containers the devices being of a type provided for in group H01L27/00
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01L—SEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
- H01L2225/00—Details relating to assemblies covered by the group H01L25/00 but not provided for in its subgroups
- H01L2225/03—All the devices being of a type provided for in the same subgroup of groups H01L27/00 - H01L33/648 and H10K99/00
- H01L2225/10—All the devices being of a type provided for in the same subgroup of groups H01L27/00 - H01L33/648 and H10K99/00 the devices having separate containers
- H01L2225/1005—All the devices being of a type provided for in the same subgroup of groups H01L27/00 - H01L33/648 and H10K99/00 the devices having separate containers the devices being of a type provided for in group H01L27/00
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01L—SEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
- H01L2225/00—Details relating to assemblies covered by the group H01L25/00 but not provided for in its subgroups
- H01L2225/03—All the devices being of a type provided for in the same subgroup of groups H01L27/00 - H01L33/648 and H10K99/00
- H01L2225/10—All the devices being of a type provided for in the same subgroup of groups H01L27/00 - H01L33/648 and H10K99/00 the devices having separate containers
- H01L2225/1005—All the devices being of a type provided for in the same subgroup of groups H01L27/00 - H01L33/648 and H10K99/00 the devices having separate containers the devices being of a type provided for in group H01L27/00
- H01L2225/1011—All the devices being of a type provided for in the same subgroup of groups H01L27/00 - H01L33/648 and H10K99/00 the devices having separate containers the devices being of a type provided for in group H01L27/00 the containers being in a stacked arrangement
- H01L2225/1017—All the devices being of a type provided for in the same subgroup of groups H01L27/00 - H01L33/648 and H10K99/00 the devices having separate containers the devices being of a type provided for in group H01L27/00 the containers being in a stacked arrangement the lowermost container comprising a device support
- H01L2225/1029—All the devices being of a type provided for in the same subgroup of groups H01L27/00 - H01L33/648 and H10K99/00 the devices having separate containers the devices being of a type provided for in group H01L27/00 the containers being in a stacked arrangement the lowermost container comprising a device support the support being a lead frame
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01L—SEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
- H01L2225/00—Details relating to assemblies covered by the group H01L25/00 but not provided for in its subgroups
- H01L2225/03—All the devices being of a type provided for in the same subgroup of groups H01L27/00 - H01L33/648 and H10K99/00
- H01L2225/10—All the devices being of a type provided for in the same subgroup of groups H01L27/00 - H01L33/648 and H10K99/00 the devices having separate containers
- H01L2225/1005—All the devices being of a type provided for in the same subgroup of groups H01L27/00 - H01L33/648 and H10K99/00 the devices having separate containers the devices being of a type provided for in group H01L27/00
- H01L2225/1011—All the devices being of a type provided for in the same subgroup of groups H01L27/00 - H01L33/648 and H10K99/00 the devices having separate containers the devices being of a type provided for in group H01L27/00 the containers being in a stacked arrangement
- H01L2225/1047—Details of electrical connections between containers
- H01L2225/107—Indirect electrical connections, e.g. via an interposer, a flexible substrate, using TAB
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01L—SEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
- H01L2225/00—Details relating to assemblies covered by the group H01L25/00 but not provided for in its subgroups
- H01L2225/03—All the devices being of a type provided for in the same subgroup of groups H01L27/00 - H01L33/648 and H10K99/00
- H01L2225/10—All the devices being of a type provided for in the same subgroup of groups H01L27/00 - H01L33/648 and H10K99/00 the devices having separate containers
- H01L2225/1005—All the devices being of a type provided for in the same subgroup of groups H01L27/00 - H01L33/648 and H10K99/00 the devices having separate containers the devices being of a type provided for in group H01L27/00
- H01L2225/1011—All the devices being of a type provided for in the same subgroup of groups H01L27/00 - H01L33/648 and H10K99/00 the devices having separate containers the devices being of a type provided for in group H01L27/00 the containers being in a stacked arrangement
- H01L2225/1094—Thermal management, e.g. cooling
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01L—SEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
- H01L2924/00—Indexing scheme for arrangements or methods for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies as covered by H01L24/00
- H01L2924/0001—Technical content checked by a classifier
- H01L2924/0002—Not covered by any one of groups H01L24/00, H01L24/00 and H01L2224/00
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01L—SEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
- H01L2924/00—Indexing scheme for arrangements or methods for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies as covered by H01L24/00
- H01L2924/30—Technical effects
- H01L2924/35—Mechanical effects
- H01L2924/351—Thermal stress
- H01L2924/3511—Warping
Landscapes
- Engineering & Computer Science (AREA)
- Power Engineering (AREA)
- Microelectronics & Electronic Packaging (AREA)
- Physics & Mathematics (AREA)
- Condensed Matter Physics & Semiconductors (AREA)
- General Physics & Mathematics (AREA)
- Computer Hardware Design (AREA)
- Chemical & Material Sciences (AREA)
- Materials Engineering (AREA)
- Cooling Or The Like Of Electrical Apparatus (AREA)
- Cooling Or The Like Of Semiconductors Or Solid State Devices (AREA)
Abstract
wobei ein thermisch leitendes Material (6; 8) zwischen Wärmeableiter (5; 7) und gepackten Speicherschaltkreisen (3) eingefügt ist und mit dem Wärmeableiter (5; 7) und den gepackten Speicherschaltkreisen (3) in Kontakt steht, wobei das thermisch leitende Material (6; 8) ein thermisch hochleitender Gummi (8), der eine elektrisch isolierende Eigenschaft aufweist, ist, und
der Wärmeableiter (5; 7) aus einem elastischen Material gebildet ist, so dass der Wärmeleiter (5; 7) eine Federeigenschaft aufweist, durch die das Speichermodul, das in den U-förmigen Ausschnitt des Wärmeleiters (5;...
Description
- Die vorliegende Erfindung bezieht sich auf ein Speichermodul, das mit einem Wärmeableiter ausgestattet ist.
- In letzter Zeit hat die Erhöhung der Betriebsgeschwindigkeit und der Speicherkapazität bei Halbleiterspeichern wie einem DRAM (dynamischer Random-Access-Speicher) schnelle Fortschritte gemacht. Bei einer erhöhten Integrationsdichte der Halbleiterspeicher nimmt die erzeugte Wärmemenge der Halbleiterspeicher ICs (integrierte Schaltung) entsprechend zu. Zusätzlich wird die Verkleinerung eines Moduls, in dem mikroelektronische Komponenten einschließlich der Halbleiterspeicher-ICs untergebracht sind, gefordert. Andererseits umfasst ein Speichermodul in einigen Fällen ein IC oder ähnliches, um eine Zeitverzögerung eines Signals, die durch die erhöhte Betriebsgeschwindigkeit von einzelnen DRAMs verursacht wird, zu kompensieren. Als Folge werden auf einer Leiterplatte zusätzlich zu den Halbleiterspeichern-ICs viele ICs und chipartige Schaltungskomponenten angebracht, so dass die Anzahl an Komponenten, die in einem Speichermodul angebracht sind, eine Tendenz zum Ansteigen aufweist.
- Nun wird mit Bezug auf
1A und1B , die eine schematische Draufsicht und eine schematische Seitenansicht eines typischen Beispieles eines Speichermoduls nach dem Stand der Technik sind, ein Speichermodul nach dem Stand der Technik beschrieben. Wie in den1A und1B gezeigt, wird das Speichermodul generell mit Bezugszeichen10 bezeichnet und umfasst eine Anzahl eng angeordneter/gepackter Speicher-ICs3 und eine Mehrzahl chipartiger Kondensatoren2 , die auf jeder Seite einer Leiterplatte1 angebracht sind. Die Leiterplatte1 weist eine Reihe Kontaktflächen4 auf, die zur elektrischen Verbindung mit einem entsprechenden Anschlusssockel entlang einer Längsseitenkante jeder Seite der Leiterplatte1 vorgesehen sind. - Wie man aus den
1A und1B sieht, sind die Halbleiterspeicher-ICs3 und die chipartigen Kondensatoren2 auf jeder Vorderseite der Leiterplatte1 in nacktem Zustand1 angebracht, und das Speichermodul10 wird in einen Schlitz in einem System, wie z. B. einem Personalcomputer, in diesem nackten Zustand eingesetzt. Deshalb wird die Wärme, die in den Speicher-ICs3 erzeugt wird, nur von der Oberfläche der Speicher-ICs3 abgestrahlt. - Weil die Wärmestrahlung von der Oberfläche der Speicher-ICs nur die Ableitung der in den Speicher-ICs erzeugten Wärme, ist, kann bei dem oben erwähnten Speichermodul nach dem Stand der Technik keine zufrieden stellende Wärmeableitungswirksamkeit erreicht werden. Weil die Wärmeabstrahlungswirksamkeit selbst durch die Form der DRAM-Anordnung beeinflusst wird, begegnet man des weiteren einem neuen Problem darin, dass die Leistung des Speichers wegen der erhöhten Wärme der DRAM, die durch eine erhöhte Integrationsdichte verursacht wird, sinkt.
- Weil das Speichermodul nach dem Stand der Technik in dem Zustand, dass sich alle Komponenten, die auf dem Modul angebracht sind, in nacktem Zustand befinden, zusammengesetzt wird, besteht außerdem eine hohe Wahrscheinlichkeit, dass die chipartigen Komponenten, wie Kondensatoren und Widerstände, die an einer Randzone der Leiterplatte des Speichermoduls liegen, aufgrund mechanischer Stöße im Verlauf eines Transportes abbrechen oder verloren gehen. Weiterhin wird mit einer erhöhten Leistung der ICs, die auf der Leiterplatte des Speichermoduls angebracht sind, der Pin-Abstand der angeordneten ICs eng, mit der Folge, dass ein weiteres neues Problem auftritt, wie z. B. ein Kurzschließen der Pins des IC, das durch eine äußere Ursache hervorgerufen wird.
- Abgesehen davon werden die Komponenten einschließlich der Speicher-ICs auf herkömmliche Weise durch Anordnen der Komponenten auf einer Lötpaste, die auf die Leiterplatte gedruckt ist, und Einbringen der Leiterplatte in einem Schmelzofen, so dass die Komponenten auf der Leiterplatte verlötet werden, auf der Leiterplatte angebracht. Bei diesem Prozess wird die Leiterplatte oft verzogen bzw. verwunden, und, wenn die Komponenten auf der verzogenen Leiterplatte angebracht werden, wirkt eine (mechanische) Spannung auf die Leiterplatte, wenn das Speichermodul in einem Schlitz in ein System, wie z. B. einen Personalcomputer, eingesetzt wird, mit dem Ergebnis, dass sich die Komponenten von der Leiterplatte lösen.
- Die japanische Patentanmeldung Veröffentlichung (vor der Prüfung)
JP 07-202 120 A - Dieser Stand der Technik soll die Wärmeabstrahlungswirksamkeit einzelner Speicher-ICs heben, mit dem Ergebnis, dass das Speichermodul, das aus einer Anzahl von auf einer Leiterplatte angebrachten Speicher-ICs, die eine hohe Wärmeabstrahlungswirksamkeit aufweisen, aufgebaut ist, insgesamt eine hohe Wärmeabstrahlungswirksamkeit aufweisen kann. Jedoch werden die einzelnen Speicher-ICs in der Struktur kompliziert und teuer, und deshalb wird das Speichermodul entsprechend teuer. Außerdem kann diese Methode das Problem des Verziehens/Verwindens der Leiterplatte nicht lösen.
- Aus dem deutschen Gebrauchsmuster
DE 94 15 755 U1 ist eine Anordnung bekannt, bei der hochintegrierte Schaltkreise und Kühlkörper formschlüssig miteinander in Kontakt stehen. Als Ausgleich für kleine Höhenunterschiede können Wärme leitende Folien dienen. DieDE 44 10 467 A1 befasst sich mit einer Wärmesenkenanordnung mit einer thermisch leitenden Platte für eine Mehrzahl von integrierten Schaltungen auf einem Substrat. Als thermische Schnittstellen zwischen der thermisch leitenden Platte und einer Wärmesenke bzw. zwischen den Schaltungschips und der thermisch leitenden Platte wird Indium-Lot bzw. eine Wärmepaste vorgeschlagen. Beiden Anordnungen sind die weiter oben erwähnten Nachteile gemeinsam. - Demgemäß ist es ein Ziel der vorliegenden Erfindung, ein Speichermodul, an das ein Wärmeableiter angepasst ist, zur Verfügung zu stellen, das die oben erwähnten Probleme des Standes der Technik überwindet, wobei der Wärmeableiter ausgebildet ist, um an ein Speichermodul angepasst zu werden, und der Wärme, die von gepackten Halbleiterspeichern wie DRAMs, die an dem Speichermodul angebracht sind, erzeugt wird, effektiv ableiten kann, und der Komponenten, die auf einer Leiterplatte des Speichermoduls angebracht sind, vor einem mechanischen Stoß schützen kann, und der auch den Grad des Verziehens/Verwindens der Leiterplatte, auf der die gepackten Halbleiterspeicher und die anderen Komponenten angebracht sind, unterscheiden kann.
- Die obigen und andere Ziele der vorliegenden Erfindung werden in Übereinstimmung mit der vorliegenden Erfindung durch ein Speichermodul gelöst, das aus einer Mehrzahl auf einer Leiterplatte angebrachter gepackter, integrierter Speicherschaltkreise gebildet und mit einem Wärmeableiter ausgestattet ist, der einen solchen U-förmigen Querschnitt mit einer oberen Platte und einem Seitenplattenpaar aufweist, dass das Speichermodul in die U-förmige Ausnehmung des Wärmeableiters eingesetzt ist und dabei die gepackten, integrierten Speicherschaltkreise durch die jeweiligen Seitenplatten abgedeckt sind, wobei ein thermisch leitendes Material zwischen Wärmeableiter und gepackten Speicherschaltkreisen eingefügt ist und mit dem Wärmeableiter und den gepackten Speicherschaltkreisen in Kontakt steht, wobei das thermisch leitende Material ein thermisch hochleitender Gummi, der eine elektrisch isolierende Eigenschaft aufweist, ist, und der Wärmeableiter aus einem elastischen Material gebildet ist, so dass der Wärmeleiter eine Federeigenschaft aufweist, durch die das Speichermodul, das in den U-förmigen Ausschnitt des Wärmeleiters eingesetzt ist, von dem Wärmeableiter mechanisch und elastisch gehalten wird.
- Vorzugsweise weist der Wärmeableiter an seiner äußeren Oberfläche eine Anzahl von Wölbungen auf, die eine vergrößerte äußere Oberfläche schaffen.
- Der Wärmeableiter kann von dem Speichermodul lösbar sein.
- Vorzugsweise hat der Wärmeableiter eine Länge des Wärmeableiters und eine Tiefe der U-förmigen Ausnehmung, die ausreichend ist, um alle gepackten, integrierten Speicherschaltkreise, die auf der Leiterplatte angebracht sind, abzudecken.
- Die obigen und andere Ziele, Merkmale und Vorteile der vorliegenden Erfindung werden aus der folgenden Beschreibung der bevorzugten Ausführungsformen der Erfindung unter Bezugnahme auf die begleitenden Zeichnungen deutlich.
- Kurze Beschreibung der Zeichnungen
-
1A und1B sind eine schematische Draufsicht bzw. eine schematische Seitenansicht eines typischen Beispieles eines Speichermoduls nach dem Stand der Technik; -
2A und2B sind eine schematische Draufsicht bzw. ein schematischer Querschnitt einer ersten Ausführungsform des Speichermoduls, das in Übereinstimmung mit der vorliegenden Erfindung an den Wärmeableiter angepasst ist; -
2C ist eine schematische teilweise Schnittansicht entlang der Linie A-A in2B ; -
3A und3B sind eine schematische Draufsicht bzw. ein schematischer Querschnitt einer zweiten Ausführungsform des Speichermoduls, das in Übereinstimmung mit der vorliegenden Erfindung an den Wärmeableiter angepasst ist; und -
3C ist eine schematische teilweise Schnittansicht entlang der Linie B-B in3B . - Beschreibung der bevorzugten Ausführungsformen
- Bezug nehmend auf
2A und2B ist eine schematische Draufsicht bzw. ein schematischer Querschnitt einer ersten Ausführungsform des Speichermoduls, das in den Wärmeableiter in Übereinstimmung mit der vorliegenden Erfindung eingepasst ist, gezeigt.2C ist eine schematische teilweise Schnittansicht entlang der Linie A-A in2B . In den2A ,2B und2C sind Elementen, die ähnlich den in1A und1B gezeigten sind, die gleichen Bezugszeichen gegeben, und eine Erklärung wird zur Vereinfachung weggelassen. - Wie man aus einem Vergleich der
1A und1B mit den2A und2B sieht, ist die erste Ausführungsform dadurch gekennzeichnet, dass das herkömmliche Speichermodul10 (bestehend aus einer Mehrzahl Speicher-ICs3 und einer Mehrzahl chipartiger Kondensatoren2 , die auf einer Leiterplatte1 , die eine Anzahl Kontaktflächen4 , die entlang einer Seitenkante der Leiterplatte1 angeordnet sind, aufweist, angebracht sind) in Übereinstimmung mit der vorliegenden Erfindung an eine/einen ”Abdeckung und Wärmeableiter”5 angepasst ist. - Diese/dieser ”Abdeckung und Wärmeableiter”
5 hat einen U-förmigen Querschnitt, wie in2B gezeigt ist. Die/der ”Abdeckung und Wärmeableiter”5 weist eine obere Platte5A und ein Paar Seitenplatten5B und5C auf, die sich von gegenüberliegenden Längsseiten der oberen Platte5A vertikal und gerade nach unten erstrecken, so dass sie dazwischen eine U-förmige tiefe Ausnehmung begrenzen. Ein Abstand S zwischen den gegenüberliegenden inneren Oberflächen der Seitenplatten5B und5C ist größer als die Stärke T des Speichermoduls10 . Dieser Abstand11 ist von einem oberen Ende bis zu einem unteren Ende der Seitenplatten5B und5C konstant. Die Länge L der/des ”Abdeckung und Wärmeableiters”5 und die Tiefe D der U-förmigen tiefen Ausnehmung (ein Abstand von einer inneren Oberfläche der oberen Platte5A zu einer freien Kante des Paares Seitenplatten5B und5C ) sind ausreichend, um alle gepackten Speicher-ICs und die anderen Komponenten, die auf der Leiterplatte angebracht sind, abzudecken, aber die Kontaktflächen4 in einem offenen Zustand zu erhalten. In der gezeigten Ausführungsform ist die Länge L der/des ”Abdeckung und Wärmeableiters” 5 länger als ein Abstand von einer linken Kante des am weitesten links angeordneten gepackten Speicher-ICs bis zu einer rechten Kante des am weitesten rechts angeordneten gepackten Speicher-ICs in2A , aber kürzer als die Länge der Leiterplatte1 , und die Tiefe D ist in dem in2A gezeigten Zustand etwas länger als ein Abstand von einem oberen Ende der Leiterplatte1 bis zu einem unteren Ende der gepackten Speicher-ICs. - Wie in den
2A und2B gezeigt ist, weist außerdem wenigstens das Seitenplattenpaar5B und5C der/des ”Abdeckung und Wärmeableiters”5 vorzugsweise eine Anzahl Wölbungen oder schmale Vorsprünge5D auf, die an ihrer äußeren Oberfläche gebildet sind, um die Fläche der Oberflächen zu vergrößern, um so die Wärmeabstrahlungswirksamkeit zu erhöhen. Aber nicht nur das Seitenplattenpaar5B und5C , sondern auch die obere Platte5A kann eine Anzahl Wölbungen oder schmale Vorsprünge5D an ihrer äußeren Oberfläche aufweisen. - Folglich passt die/der ”Abdeckung und Wärmeableiter”
5 so über das Speichermodul10 , dass das Speichermodul in die U-förmige tiefe Ausnehmung zwischen dem Seitenplattenpaar5B und5C eingesetzt wird und alle gepackten Speicher-ICs3 und die anderen Komponenten2 , die an jeder Seite der Leiterplatte1 angebracht sind, durch die Seitenplatten5B und5C abgedeckt, aber die Kontaktflächen4 nicht durch die Seitenplatten5B und5C abgedeckt sind. In diesem Zustand wird, wie in2C gezeigt ist, ein thermisch leitendes Material6 , das eine gute thermische Leitfähigkeit und eine elektrisch isolierende Eigenschaft aufweist, in den Raum zwischen der inneren Oberfläche jeder Seitenplatte5B und5C und jeder gepackten Speicher-IC3 gefüllt, so dass die Wärme, die in jeder gepackten Speicher-IC3 erzeugt wird, über das thermisch leitenden Material6 zu einer entsprechenden Seitenplatte5B oder5C geleitet wird. Weil sich das thermisch leitende Material6 zwischen den Seitenplatten5B und5C der/des ”Abdeckung und Wärmeableiters”5 und jeder gepackten Speicher-IC3 befindet, ist die/der ”Abdeckung und Wärmeableiter”5 von dem Speichermodul lösbar. - Wie oben erwähnt, wird die/der ”Abdeckung und Wärmeableiter”
5 in der ersten Ausführungsform über das herkömmliche Speichermodul10 gepasst, wobei das thermisch leitende Material, zwischen die/den ”Abdeckung und Wärmeableiter”5 und die gepackten Speicher-ICs3 gefüllt wird. Bei dieser Anordnung wird die Wärme, die in jedem gepackten Speicher-IC3 erzeugt wird, über das thermisch leitende Material6 zu der/dem ”Abdeckung und Wärmeableiter”5 geleitet, und die Wärme wird von der Oberfläche der/des ”Abdeckung und Wärmeableiters”5 abgestrahlt. Weil die äußere Oberfläche der/des ”Abdeckung und Wärmeableiters”5 merklich größer ist als die gesamten äußeren Oberflächen aller gepackten Speicher-IC3 , die auf der Leiterplatte1 angebracht sind, kann die Wärme, die in den gepackten Speicher-ICs3 erzeugt wird, effektiver von der/dem ”Abdeckung und Wärmeableiter”5 abgeleitet werden als bei dem herkömmlichen Speichermodul10 , das in1A und1B gezeigt ist. Selbst wenn die äußere Oberfläche der/des ”Abdeckung und Wärmeableiters”5 keine Wölbungen5D hat, brauchen hier, wenn die äußere Oberfläche der/des ”Abdeckung und Wärmeableiters”5 merklich größer als die gesamte Oberfläche aller gepackter Speicher-IC3 , die auf der Leiterplatte angebracht sind, ist, die Wölbungen5D nicht notwendigerweise an der äußeren Oberfläche der/des ”Abdeckung und Wärmeableiters”5 vorgesehen zu sein. Es ist jedoch besonders bevorzugt, dass die Wölbungen5D an der äußeren Oberfläche der/des ”Abdeckung und Wärmeableiters”5 vorgesehen sind, weil es möglich ist, die äußere Oberfläche der/des ”Abdeckung und Wärmeableiters”5 weiter zu erhöhen. - Weil alle gepackten Speicher-IC
3 und die anderen Komponenten2 , die auf der Leiterplatte1 angebracht sind, von der/dem ”Abdeckung und Wärmeableiter”5 abgedeckt sind, sind die chipartigen Komponenten, wie Kondensatoren und Widerstände, die an einer Randzone der Leiterplatte1 liegen, des Weiteren vor einem mechanischen Stoß geschützt und deshalb besteht keine Möglichkeit, dass die chipartigen Komponenten, die an der Randzone der Leiterplatte des Speichermoduls liegen, im Verlauf eines Transportes abgebrochen werden oder verloren gehen. - Wie oben erwähnt ist, wird die Leiterplatte zusätzlich oft verzogen bzw. verbogen, wenn die Komponenten einschließlich der Speicher-ICs an der Leiterplatte durch Schmelzen der Lötpaste, die auf die Leiterplatte gedruckt ist, angebracht werden. Wenn das Verziehen der Leiterplatte eine bestimmte Grenze übersteigt, kann die/der ”Abdeckung und Wärmeableiter”
5 nicht mehr über das Speichermodul10 gepasst werden. Deshalb ist es möglich, den Grad des Verziehens der Leiterplatte danach zu unterscheiden, ob die/der ”Abdeckung und Wärmeableiter”5 über das Speichermodul10 passen kann oder nicht. Demgemäß ist es möglich zu verhindern, dass die Komponenten von der Leiterplatte abgelöst werden, was durch Einsetzen der Leiterplatte, die ein Verziehen aufweist, das die Grenze überschreitet, in einen Schlitz innerhalb eines Systems, wie einem Personalcomputer, verursacht werden würde. - In dieser ersten Ausführungsform ist es ausreichend, wenn die/der ”Abdeckung und Wärmeableiter”
5 eine gute thermische Leitfähigkeit und eine mechanische Festigkeit aufweist, die ausreichend ist, um die Komponenten2 und3 , die auf der Leiterplatte1 angebracht sind, vor einem mechanischen Stoß zu schützen. Demgemäß kann die/der ”Abdeckung und Wärmeableiter”5 aus Metall oder Keramik gebildet sein. - Bezug nehmend auf
3A und3B ist eine schematische Draufsicht bzw. ein schematischer Querschnitt einer zweiten Ausführungsform des Speichermoduls, das in Übereinstimmung mit der vorliegenden Erfindung an den Wärmeableiter gepasst ist, gezeigt.3C ist eine schematische teilweise Schnittansicht entlang der Linie B-B in3B . In3A ,3B und3C sind den Elementen, die den in2A ,2B und2C gezeigten ähnlich sind, die gleichen Bezugszeichen gegeben, und eine Erklärung wird zur Vereinfachung weggelassen. - Wie man aus einem Vergleich zwischen den
3A ,3B und3C sowie den2A ,2B und2C sieht, unterscheidet sich die zweite Ausführungsform von der ersten Ausführungsform darin, dass die/der ”Abdeckung und Wärmeableiter”5 und das thermisch leitende Material6 der ersten Ausführungsform eine/ein klemmartige/r ”Abdeckung und Wärmeableiter”7 bzw. ein thermisch hochleitendes Gummi8 , das eine elektrisch isolierende Eigenschaft hat, sind. - Die/der klemmartige ”Abdeckung und Wärmeableiter”
7 ist aus einem elastischen Material z. B. Metall oder Keramik, das eine Federeigenschaft aufweist, gebildet und hat einen deformierten U-förmigen Querschnitt, wie in3B gezeigt ist. Genauer hat die/der klemmartige ”Abdeckung und Wärmeableiter”7 eine obere Platte7A und ein Paar Seitenplatten7B und7C , die sich von gegenüberliegenden Längsseiten der oberen Platte5A nach unten erstrecken, um sich von der oberen Platte7A zuerst über einen kurzen Abstand leicht nach innen zu erstrecken und sich dann vertikal und gerade zu erstrecken, um so dazwischen eine deformierte U-förmige tiefe Ausnehmung zu begrenzen und eine Klemm-Funktion zwischen dem Paar Seitenplatten7B und7C aufzuweisen. - Ähnlich der ersten Ausführungsform hat zusätzlich wenigstens das Paar Seitenplatten
7B und7C der/des klemmartigen ”Abdeckung und Wärmeableiters”7 vorzugsweise eine Anzahl Wölbungen oder schmale Vorsprünge7D , die an ihrer äußeren Oberfläche ausgebildet sind, um eine vergrößerte Oberfläche zu haben, um die Wärmeabstrahlungswirksamkeit zu erhöhen. Aber nicht nur das Paar Seitenplatten7B und7C , sondern auch die obere Platte7A kann eine Anzahl von Wölbungen oder schmalen Vorsprüngen7D an ihrer äußeren Oberfläche aufweisen. - Ähnlich der ersten Ausführungsform ist ein Abstand S zwischen gegenüberliegenden inneren Oberflächen eines vertikalen geraden Abschnittes der Seitenplatten
7B und7C größer als die Stärke T des Speichermoduls10 . Eine Länge L der/des ”Abdeckung und Wärmeableiters”5 und eine Tiefe D der tiefen Ausnehmung (ein Abstand von einer inneren Oberfläche der oberen Platte7A bis zu einer freien Kante des Seitenplattenpaars7B und7C ) sind ausreichend, um alle gepackten Speicher-ICs und die anderen Komponenten, die auf der Leiterplatte1 angebracht sind, abzudecken, aber die Kontaktflächen4 in einem freien Zustand zu erhalten. Zusätzlich weist der vertikale gerade Abschnitt jeder Seitenplatte7B und7C eine Größe auf, die ausreichend ist, um alle gepackten Speicher-ICs und die anderen Komponenten, die auf der Leiterplatte1 angebracht sind, abzudecken, wie in3B gezeigt ist. - Folglich wird die/der klemmartige ”Abdeckung und Wärmeableiter”
7 auf solche Art und Weise über das Speichermodul10 gepasst, dass das Speichermodul10 in die tiefe Ausnehmung zwischen dem Seitenplattenpaar7B und7C eingefügt wird und dass alle gepackten Speicher-ICs3 und die anderen Komponenten2 , die auf jeder Seite der Leiterplatte angebracht sind, durch die Seitenplatten7B und7C abgedeckt sind und zwischen den Seitenplatten7B und7C gehalten werden, wobei der thermisch hochleitende Gummi8 zwischen der inneren Oberfläche jeder Seitenplatte7B und7C und jeder gepackten Speicher-IC3 eingesetzt ist. Die Kontaktflächen4 werden jedoch nicht durch die Seitenplatten7B und7C abgedeckt. - Bei dieser zweiten Ausführungsform kann die Verbindung zwischen der/dem klemmartigen ”Abdeckung und Wärmeableiter”
7 und den gepackten Speicher-ICs3 im Vergleich zur ersten Ausführungsform verstärkt werden, weil die/der ”Abdeckung und Wärmeableiter”5 durch die/den klemmartige/n ”Abdeckung und Wärmeableiter”7 ersetzt ist, die/der aus elastischem Material gebildet ist, wobei der thermisch hochleitende Gummi8 zwischen die Seitenplatten7B und7C und die gepackten Speicher-ICs3 eingesetzt ist. Deshalb kann die Wärme, die in jedem gepackten Speicher-IC3 erzeugt wird, über den thermisch hochleitenden Gummi8 effektiver zu der/dem klemmartigen ”Abdeckung und Wärmeableiter”7 geleitet werden, so dass die Wärme von der Oberfläche der/des klemmartigen ”Abdeckung und Wärmeableiters”7 abgestrahlt wird. - Ähnlich der ersten Ausführungsform kann die Wärme, die in den gepackten Speicher-ICs
3 erzeugt wird, effektiver von der/dem klemmartigen ”Abdeckung und Wärmeableiter”7 abgeleitet werden als von dem herkömmlichen Speichermodul10 , das in1A und1B gezeigt ist, weil die äußere Oberfläche der/des klemmartigen ”Abdeckung und Wärmeableiters”7 merklich größer ist als die gesamte äußere Oberfläche aller gepackten Speicher-IC3 , die auf der Leiterplatte angebracht sind. Zusätzlich kann, die Wärme, die in den Speicher-ICs3 erzeugt wird, effektiver abgeleitet werden als bei der/dem ”Abdeckung und Wärmeableiter”5 der ersten Ausführungsform, weil die Verbindung zwischen der/dem klemmartigen ”Abdeckung und Wärmeableiter”7 und den gepackten Speicher-ICs3 verglichen mit der ersten Ausführungsform erhöht werden kann. - Weil das Speichermodul
10 durch die/den klemmartige/n ”Abdeckung und Wärmeableiter”7 gehalten wird, wobei eine abgemessene Kraft, von der elastischen Eigenschaft der/des klemmartigen ”Abdeckung und Wärmeableiters”7 ausgeübt wird, wird außerdem im Vergleich zu herkömmlichen Ausführungsformen die Möglichkeit, dass die/der ”Abdeckung und Wärmeableiter” von dem Speichermodul10 abfällt, merklich geringer. - Ähnlich zu der ersten Ausführungsform werden außerdem die chipartigen Komponenten wie z. B. Kondensatoren und Widerstände, die an einer Randzone der Leiterplatte
1 liegen, vor einem mechanischen Stoß geschützt, weil alle gepackten Speicher-ICs3 und die anderen Komponenten2 , die auf der Leiterplatte1 angebracht sind, mit der/dem klemmartigen ”Abdeckung und Wärmeableiter”7 abgedeckt sind, und deshalb besteht keine Möglichkeit, dass die chipartigen Komponenten, die an der Randzone der Leiterplatte des Speichermoduls angeordnet sind, im Verlauf eines Transports abgebrochen werden oder verloren gehen. - Wie oben erwähnt ist, wird die Leiterplatte außerdem oft verzogen, wenn die Komponenten einschließlich der Speicher-ICs durch Schmelzen der Lötpaste, die auf die Leiterplatte gedruckt ist, auf der Leiterplatte angebracht werden. Wenn das Verziehen der Leiterplatte eine bestimmte Grenze übersteigt, kann die/der klemmartige ”Abdeckung und Wärmeableiter”
7 nicht mehr über das Speichermodul10 gepasst werden. Deshalb ist es ähnlich zu der ersten Ausführungsform möglich, den Grad des Verziehens der Leiterplatte danach zu unterscheiden, ob die/der klemmartige ”Abdeckung und Wärmeableiter”7 über das Speichermodul10 gepasst werden kann. Demgemäß ist es möglich, die Komponenten vor einem Ablösen von der Leiterplatte zu schützen, was durch Einsetzen der Leiterplatte, deren Verziehen die Grenze überschreitet, in einen Schlitz innerhalb eines Systems, wie z. B. einem Personalcomputer, verursacht werden würde. - Wie man aus dem Obigen sieht, hat das Speichermodul, das an den Wärmeableiter in Übereinstimmung mit der vorliegenden Erfindung angepasst ist, die folgenden Vorteile: Ein erster Vorteil ist, dass die Wärme, die in den gepackten Speicher-ICs und vorzugsweise den anderen Komponenten, die in dem Speichermodul angebracht sind, erzeugt wird, effektiver abgeleitet werden kann. Der Grund dafür ist, dass, weil die Wärme erzeugenden Körper wie die gepackten Speicher-ICs mit der/dem ”Abdeckung und Wärmeableiter” über den thermisch hochleitenden Gummi in einer guten Wärme leitenden Beziehung verbunden sind, die Wärme, die in den Wärme erzeugenden Körpern erzeugt wird, effektiv zu der/dem ”Abdeckung und Wärmeableiter” geleitet wird und weiter effektiv von der Oberfläche der/des ”Abdeckung und Wärmeableiters”, die/der eine große Oberfläche hat, abgeleitet wird.
- Ein zweiter Vorteil ist, dass die Komponenten, die auf der Leiterplatte angebracht sind, vor mechanischem Stoß geschützt sind, weil alle Komponenten, die auf der Leiterplatte angebracht sind, mit der/dem ”Abdeckung und Wärmeableiter” abgedeckt sind, der eine ausreichende mechanische Festigkeit hat, um die Komponenten, die auf der Leiterplatte angebracht sind, vor mechanischen Stößen zu schützen, abgedeckt werden, mit dem Ergebnis, dass eine von außen ausgeübte Kraft nicht auf die Komponenten, die auf der Leiterplatte befestigt sind, ausgeübt wird.
- Ein dritter Vorteil ist, dass es möglich ist, zu unterscheiden, ob der Grad des Verziehens der Leiterplatte eine erlaubte Grenze überschreitet oder nicht. Weil die/der ”Abdeckung und Wärmeableiter” nicht mehr über das Speichermodul gepasst werden kann, wenn das Verziehen der Leiterplatte (das wegen der Wärme und anderer Ursachen auftritt, wenn die Komponenten einschließlich der Speicher-ICs auf der Leiterplatte angebracht werden) eine bestimmte Grenze übersteigt. Durch Ausführen eines elektrischen Tests für das Speichermodul, das an die/dem ”Abdeckung und Wärmeableiter” angepasst ist, ist es außerdem möglich, zu erkennen, ob sich die Komponenten, die auf der Leiterplatte angebracht sind, von der Leiterplatte lösen oder nicht, selbst wenn die/der ”Abdeckung und Wärmeableiter” über das Speichermodul, das ein leichtes Verziehen aufweist, gepasst werden kann. Deshalb ist es möglich, ein Ausliefern eines defekten Speichermoduls an den Markt zu verhindern.
- Die Erfindung ist somit mit Bezug auf die spezifischen Ausführungsformen gezeigt und beschrieben worden. Jedoch wird darauf hingewiesen, dass die vorliegende Erfindung in keiner Weise auf die Details der gezeigten Strukturen begrenzt ist, sondern innerhalb des Schutzbereiches der beigefügten Ansprüche Änderungen und Modifikationen vorgenommen werden können.
Claims (4)
- Speichermodul, das aus einer Mehrzahl auf einer Leiterplatte (
1 ) angebrachter gepackter, integrierter Speicherschaltkreise (3 ) gebildet und mit einem Wärmeableiter (5 ;7 ) ausgestattet ist, der einen solchen U-förmigen Querschnitt mit einer oberen Platte (5A ,7A ) und einem Seitenplattenpaar (5B ,7B ,5C ,7C ) aufweist, dass das Speichermodul in die U-förmige Ausnehmung des Wärmeableiters eingesetzt ist und dabei die gepackten, integrierten Speicherschaltkreise durch die jeweiligen Seitenplatten abgedeckt sind, wobei ein thermisch leitendes Material (6 ;8 ) zwischen Wärmeableiter (5 ;7 ) und gepackten Speicherschaltkreisen (3 ) eingefügt ist und mit dem Wärmeableiter (5 ;7 ) und den gepackten Speicherschaltkreisen (3 ) in Kontakt steht, wobei das thermisch leitende Material (6 ;8 ) ein thermisch hochleitender Gummi (8 ), der eine elektrisch isolierende Eigenschaft aufweist, ist, und der Wärmeableiter (5 ;7 ) aus einem elastischen Material gebildet ist, so dass der Wärmeleiter (5 ;7 ) eine Federeigenschaft aufweist, durch die das Speichermodul, das in den U-förmigen Ausschnitt des Wärmeleiters (5 ;7 ) eingesetzt ist, von dem Wärmeableiter (5 ;7 ) mechanisch und elastisch gehalten wird. - Speichermodul nach Anspruch 1, wobei der Wärmeableiter (
5 ;7 ) an seiner äußeren Oberfläche eine Anzahl Wölbungen zur Bildung einer vergrößerten Fläche aufweist. - Speichermodul nach einem der Ansprüche 1 und 2, wobei der Wärmeableiter (
5 ;7 ) von dem Speichermodul lösbar ist. - Speichermodul nach einem der Ansprüche 1 bis 3, wobei der Wärmeableiter (
5 ;7 ) eine Länge des Wärmeableiters (5 ;7 ) und eine Tiefe der U-förmigen Ausnehmung aufweist, die ausreichend sind, um alle gepackten, integrierten Speicherschaltkreise (3 ), die auf einer Leiterplatte (1 ) angebracht sind, abzudecken.
Applications Claiming Priority (2)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP164720/98 | 1998-06-12 | ||
JP10164720A JP3109479B2 (ja) | 1998-06-12 | 1998-06-12 | 放熱体及び放熱体を装着したメモリモジュール |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
DE19928075A1 DE19928075A1 (de) | 2000-01-27 |
DE19928075B4 true DE19928075B4 (de) | 2010-04-08 |
Family
ID=15798620
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
DE19928075A Expired - Lifetime DE19928075B4 (de) | 1998-06-12 | 1999-06-12 | Speichermodul mit Wärmeableiter |
Country Status (6)
Country | Link |
---|---|
US (1) | US6424532B2 (de) |
JP (1) | JP3109479B2 (de) |
KR (1) | KR100297226B1 (de) |
CN (1) | CN1157783C (de) |
DE (1) | DE19928075B4 (de) |
TW (1) | TW405248B (de) |
Families Citing this family (121)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP3831159B2 (ja) * | 1999-10-18 | 2006-10-11 | 日本圧着端子製造株式会社 | コネクタ付電子モジュール |
US7301776B1 (en) * | 2004-11-16 | 2007-11-27 | Super Talent Electronics, Inc. | Light-weight flash hard drive with plastic frame |
KR100370270B1 (ko) * | 2000-01-19 | 2003-01-30 | 원지금속 주식회사 | 컴퓨터 램용 히터싱크와 그 제조방법 |
DE10038161A1 (de) * | 2000-08-04 | 2002-02-21 | Infineon Technologies Ag | Kühlvorrichtung für elektronische Bauteile und Verfahren zur Herstellung der Kühlvorrichtung |
KR100389920B1 (ko) * | 2000-12-12 | 2003-07-04 | 삼성전자주식회사 | 열팽창에 의한 신뢰성 저하를 개선할 수 있는 반도체 모듈 |
DE10134983A1 (de) * | 2001-07-18 | 2002-09-19 | Infineon Technologies Ag | Anordnung zur Kühlung integrierter Halbleiterbausteine |
DE10343525B4 (de) | 2002-09-27 | 2011-06-16 | Qimonda Ag | Verfahren zum Betreiben von Halbleiterbausteinen, Steuervorrichtung für Halbleiterbausteine und Anordnung zum Betreiben von Speicherbausteinen |
US6711021B1 (en) * | 2003-01-15 | 2004-03-23 | Hewlett-Packard Development Company, L.P. | Systems and methods that use at least one component to remove the heat generated by at least one other component |
US6967843B2 (en) * | 2003-02-11 | 2005-11-22 | Hewlett-Packard Development Company, L.P. | System and method for dissipating heat from an electronic board |
WO2004100262A1 (ja) * | 2003-05-07 | 2004-11-18 | Fujitsu Limited | 冷却部品、基板及び電子機器 |
US20050014308A1 (en) * | 2003-07-17 | 2005-01-20 | Yuan-Ping Tseng | Manufacturing process of memory module with direct die-attachment |
JP3845408B2 (ja) * | 2003-10-06 | 2006-11-15 | エルピーダメモリ株式会社 | メモリモジュール放熱装置 |
JP2005150454A (ja) * | 2003-11-17 | 2005-06-09 | Yaskawa Electric Corp | 電力変換装置の冷却構造 |
US7023700B2 (en) * | 2003-12-24 | 2006-04-04 | Super Talent Electronics, Inc. | Heat sink riveted to memory module with upper slots and open bottom edge for air flow |
DE102004009055B4 (de) * | 2004-02-23 | 2006-01-26 | Infineon Technologies Ag | Kühlanordnung für Geräte mit Leistungshalbleitern und Verfahren zum Kühlen derartiger Geräte |
KR100558065B1 (ko) * | 2004-03-15 | 2006-03-10 | 삼성전자주식회사 | 방열체가 구비된 반도체 모듈 |
KR100564620B1 (ko) | 2004-03-31 | 2006-03-29 | 삼성전자주식회사 | 열방출 특성을 개선한 메모리 모듈, 메모리 모듈용 소켓및 이를 이용한 메모리 모듈용 소켓 사용방법 |
US7254036B2 (en) * | 2004-04-09 | 2007-08-07 | Netlist, Inc. | High density memory module using stacked printed circuit boards |
US7079396B2 (en) | 2004-06-14 | 2006-07-18 | Sun Microsystems, Inc. | Memory module cooling |
EP1626410B1 (de) * | 2004-08-13 | 2007-05-09 | Wan-Chien Chang | Wärmestrahlendes und schützendes Gerät für ein Speichermodul |
KR20060018453A (ko) * | 2004-08-24 | 2006-03-02 | 삼성전자주식회사 | 히트 싱크를 갖는 반도체 소자 |
US7446410B2 (en) * | 2004-09-03 | 2008-11-04 | Entorian Technologies, Lp | Circuit module with thermal casing systems |
US7443023B2 (en) * | 2004-09-03 | 2008-10-28 | Entorian Technologies, Lp | High capacity thin module system |
US7768785B2 (en) * | 2004-09-29 | 2010-08-03 | Super Talent Electronics, Inc. | Memory module assembly including heat-sink plates with heat-exchange fins attached to integrated circuits by adhesive |
US7609523B1 (en) | 2004-09-29 | 2009-10-27 | Super Talent Electronics, Inc. | Memory module assembly including heat sink attached to integrated circuits by adhesive and clips |
US7215551B2 (en) * | 2004-09-29 | 2007-05-08 | Super Talent Electronics, Inc. | Memory module assembly including heat sink attached to integrated circuits by adhesive |
JP2006140192A (ja) * | 2004-11-10 | 2006-06-01 | Matsushita Electric Ind Co Ltd | 電子回路装置 |
US7521788B2 (en) * | 2004-11-15 | 2009-04-21 | Samsung Electronics Co., Ltd. | Semiconductor module with conductive element between chip packages |
JP2006148105A (ja) * | 2004-11-15 | 2006-06-08 | Samsung Electronics Co Ltd | 半導体モジュール及びその製造方法 |
KR100659071B1 (ko) * | 2004-11-19 | 2006-12-21 | 삼성에스디아이 주식회사 | 플라즈마 디스플레이 장치 |
US7310036B2 (en) * | 2005-01-10 | 2007-12-18 | International Business Machines Corporation | Heat sink for integrated circuit devices |
DE102006005955B4 (de) * | 2005-02-02 | 2007-01-25 | Samsung Electronics Co., Ltd., Suwon | Inline-Speichermodul |
KR100702016B1 (ko) | 2005-02-02 | 2007-03-30 | 삼성전자주식회사 | 양면 실장 메모리 모듈의 인쇄 회로 기판 및 이를이용하는 양면 실장 메모리 모듈 |
US7248351B2 (en) * | 2005-02-25 | 2007-07-24 | Infineon Technologies Ag | Optimizing light path uniformity in inspection systems |
US7289331B2 (en) * | 2005-03-30 | 2007-10-30 | International Business Machines Corporation | Interposable heat sink for adjacent memory modules |
JP2006287080A (ja) * | 2005-04-04 | 2006-10-19 | Hitachi Ltd | メモリモジュール |
US8077535B2 (en) | 2006-07-31 | 2011-12-13 | Google Inc. | Memory refresh apparatus and method |
US8111566B1 (en) | 2007-11-16 | 2012-02-07 | Google, Inc. | Optimal channel design for memory devices for providing a high-speed memory interface |
US8130560B1 (en) | 2006-11-13 | 2012-03-06 | Google Inc. | Multi-rank partial width memory modules |
US8386722B1 (en) | 2008-06-23 | 2013-02-26 | Google Inc. | Stacked DIMM memory interface |
GB2441726B (en) | 2005-06-24 | 2010-08-11 | Metaram Inc | An integrated memory core and memory interface circuit |
US8244971B2 (en) | 2006-07-31 | 2012-08-14 | Google Inc. | Memory circuit system and method |
US9171585B2 (en) | 2005-06-24 | 2015-10-27 | Google Inc. | Configurable memory circuit system and method |
US8327104B2 (en) | 2006-07-31 | 2012-12-04 | Google Inc. | Adjusting the timing of signals associated with a memory system |
US8081474B1 (en) | 2007-12-18 | 2011-12-20 | Google Inc. | Embossed heat spreader |
US8090897B2 (en) | 2006-07-31 | 2012-01-03 | Google Inc. | System and method for simulating an aspect of a memory circuit |
US8796830B1 (en) | 2006-09-01 | 2014-08-05 | Google Inc. | Stackable low-profile lead frame package |
US8055833B2 (en) | 2006-10-05 | 2011-11-08 | Google Inc. | System and method for increasing capacity, performance, and flexibility of flash storage |
US9542352B2 (en) | 2006-02-09 | 2017-01-10 | Google Inc. | System and method for reducing command scheduling constraints of memory circuits |
US7386656B2 (en) | 2006-07-31 | 2008-06-10 | Metaram, Inc. | Interface circuit system and method for performing power management operations in conjunction with only a portion of a memory circuit |
US20080028136A1 (en) | 2006-07-31 | 2008-01-31 | Schakel Keith R | Method and apparatus for refresh management of memory modules |
US8438328B2 (en) | 2008-02-21 | 2013-05-07 | Google Inc. | Emulation of abstracted DIMMs using abstracted DRAMs |
US8397013B1 (en) | 2006-10-05 | 2013-03-12 | Google Inc. | Hybrid memory module |
US8041881B2 (en) | 2006-07-31 | 2011-10-18 | Google Inc. | Memory device with emulated characteristics |
US8335894B1 (en) | 2008-07-25 | 2012-12-18 | Google Inc. | Configurable memory system with interface circuit |
US8359187B2 (en) | 2005-06-24 | 2013-01-22 | Google Inc. | Simulating a different number of memory circuit devices |
US10013371B2 (en) | 2005-06-24 | 2018-07-03 | Google Llc | Configurable memory circuit system and method |
US8060774B2 (en) | 2005-06-24 | 2011-11-15 | Google Inc. | Memory systems and memory modules |
US20080082763A1 (en) | 2006-10-02 | 2008-04-03 | Metaram, Inc. | Apparatus and method for power management of memory circuits by a system or component thereof |
US8089795B2 (en) | 2006-02-09 | 2012-01-03 | Google Inc. | Memory module with memory stack and interface with enhanced capabilities |
US7609567B2 (en) * | 2005-06-24 | 2009-10-27 | Metaram, Inc. | System and method for simulating an aspect of a memory circuit |
US9507739B2 (en) | 2005-06-24 | 2016-11-29 | Google Inc. | Configurable memory circuit system and method |
KR100693920B1 (ko) | 2005-07-07 | 2007-03-12 | 삼성전자주식회사 | 히트 스프레더, 이를 갖는 반도체 패키지 모듈 및 메모리모듈 |
US7442050B1 (en) | 2005-08-29 | 2008-10-28 | Netlist, Inc. | Circuit card with flexible connection for memory module with heat spreader |
JP5242397B2 (ja) | 2005-09-02 | 2013-07-24 | メタラム インコーポレイテッド | Dramをスタックする方法及び装置 |
US20070070607A1 (en) * | 2005-09-23 | 2007-03-29 | Staktek Group, L.P. | Applied heat spreader with cooling fin |
US7295433B2 (en) * | 2005-10-28 | 2007-11-13 | Delphi Technologies, Inc. | Electronics assembly having multiple side cooling and method |
US20070121286A1 (en) * | 2005-11-29 | 2007-05-31 | International Business Machines Corporation | Memory module airflow redirector |
US9632929B2 (en) | 2006-02-09 | 2017-04-25 | Google Inc. | Translating an address associated with a command communicated between a system and memory circuits |
KR100849614B1 (ko) * | 2006-12-27 | 2008-07-31 | 주식회사 이노바텍 | 회로기판의 방열장치 |
US7619893B1 (en) | 2006-02-17 | 2009-11-17 | Netlist, Inc. | Heat spreader for electronic modules |
DE102006012446B3 (de) * | 2006-03-17 | 2007-12-20 | Infineon Technologies Ag | Speichermodul mit einem Mittel zur Kühlung, Verfahren zur Herstellung des Speichermoduls mit einem Mittel zur Kühlung sowie Datenverarbeitungsgerät umfassend ein Speichermodul mit einem Mittel zur Kühlung |
US20070274059A1 (en) * | 2006-05-25 | 2007-11-29 | Chennupati Raghuram Siva | Apparatus and method for shielding of electromagnetic interference of a memory module |
TWM304705U (en) * | 2006-07-04 | 2007-01-11 | Cooler Master Co Ltd | Display card heat sink |
US7400506B2 (en) * | 2006-07-11 | 2008-07-15 | Dell Products L.P. | Method and apparatus for cooling a memory device |
JP5069876B2 (ja) | 2006-07-13 | 2012-11-07 | 新光電気工業株式会社 | 半導体モジュールおよび放熱板 |
KR100778022B1 (ko) * | 2006-07-14 | 2007-11-21 | 주식회사 일창프리시젼 | 메모리모듈용 히트싱크 제조방법 |
US7724589B2 (en) | 2006-07-31 | 2010-05-25 | Google Inc. | System and method for delaying a signal communicated from a system to at least one of a plurality of memory circuits |
CN101118458A (zh) * | 2006-07-31 | 2008-02-06 | 华硕电脑股份有限公司 | 配置均温板的电子装置 |
US7474529B2 (en) * | 2006-11-29 | 2009-01-06 | International Business Machines Corporation | Folded-sheet-metal heatsinks for closely packaged heat-producing devices |
KR100885027B1 (ko) * | 2006-12-21 | 2009-04-02 | 티티엠주식회사 | 메모리 모듈의 방열 장치 |
WO2008082042A1 (en) * | 2006-12-29 | 2008-07-10 | Top Thermal Management Co, . Ltd. | Cooling system for memory module |
KR100885421B1 (ko) * | 2007-02-06 | 2009-02-24 | 삼성전자주식회사 | 인쇄 회로 기판 및 이를 사용하는 반도체 메모리 모듈 |
US7957134B2 (en) * | 2007-04-10 | 2011-06-07 | Hewlett-Packard Development Company, L.P. | System and method having evaporative cooling for memory |
US7679913B2 (en) * | 2007-05-11 | 2010-03-16 | Ming-Yang Hsieh | Memory module assembly and heat sink thereof |
KR100885976B1 (ko) * | 2007-06-25 | 2009-03-03 | 삼성전자주식회사 | 인쇄회로기판, 이를 구비한 메모리 모듈 및 이의 제조방법 |
US8209479B2 (en) | 2007-07-18 | 2012-06-26 | Google Inc. | Memory circuit system and method |
KR100848837B1 (ko) * | 2007-08-06 | 2008-07-28 | 주식회사 휘닉스아이씨피 | 메모리모듈 방열장치 및 그 제조방법 |
US8080874B1 (en) | 2007-09-14 | 2011-12-20 | Google Inc. | Providing additional space between an integrated circuit and a circuit board for positioning a component therebetween |
KR101403901B1 (ko) | 2007-11-05 | 2014-06-27 | 삼성전자주식회사 | 열방사를 위한 방열체 |
US20090129012A1 (en) * | 2007-11-21 | 2009-05-21 | Anton Legen | Method and apparatus for heat transfer |
KR100955936B1 (ko) | 2008-01-02 | 2010-05-03 | 주식회사 하이닉스반도체 | 반도체 패키지 모듈용 방열 장치 및 이를 갖는 반도체패키지 모듈 |
JP2009230505A (ja) * | 2008-03-24 | 2009-10-08 | Fujitsu Ltd | 基板ユニットおよび電子機器 |
KR100965269B1 (ko) | 2008-04-16 | 2010-06-22 | 이상철 | 전자부품 방열장치 및 이를 채용한 메모리모듈 |
US8018723B1 (en) | 2008-04-30 | 2011-09-13 | Netlist, Inc. | Heat dissipation for electronic modules |
TWM346844U (en) * | 2008-05-12 | 2008-12-11 | Comptake Technology Inc | Improved heat-dissipating structure for memory device |
US7684196B2 (en) * | 2008-05-13 | 2010-03-23 | International Business Machines Corporation | Enhancing the cooling of dual in-line memory modules |
TWM346847U (en) * | 2008-05-30 | 2008-12-11 | Comptake Technology Inc | Improved heat dissipation module of memory |
US7715197B2 (en) * | 2008-06-05 | 2010-05-11 | International Business Machines Corporation | Coined-sheet-metal heatsinks for closely packaged heat-producing devices such as dual in-line memory modules (DIMMs) |
JP5557441B2 (ja) * | 2008-10-31 | 2014-07-23 | 日立オートモティブシステムズ株式会社 | 電力変換装置および電動車両 |
US20100134982A1 (en) * | 2008-12-01 | 2010-06-03 | Meyer Iv George Anthony | Memory heat dissipating structure and memory device having the same |
WO2010144624A1 (en) | 2009-06-09 | 2010-12-16 | Google Inc. | Programming of dimm termination resistance values |
CN101998808A (zh) * | 2009-08-25 | 2011-03-30 | 富准精密工业(深圳)有限公司 | 散热装置 |
DE102009044368B4 (de) * | 2009-10-30 | 2014-07-03 | Lear Corporation Gmbh | Kühlanordnung |
US8767403B2 (en) * | 2009-10-30 | 2014-07-01 | Hewlett-Packard Development Company, L.P. | Frame having frame blades that participate in cooling memory modules |
GB2488738B (en) | 2010-03-08 | 2014-02-12 | Ibm | Liquid dimm cooling device |
US8139355B2 (en) | 2010-05-24 | 2012-03-20 | International Business Machines Corporation | Memory module connector having memory module cooling structures |
TWI391087B (zh) * | 2010-06-07 | 2013-03-21 | Hon Hai Prec Ind Co Ltd | 擴充卡裝置及其散熱器 |
CN201725266U (zh) * | 2010-06-17 | 2011-01-26 | 深圳富泰宏精密工业有限公司 | 内存条散热组件 |
CN102541218A (zh) * | 2010-12-25 | 2012-07-04 | 鸿富锦精密工业(深圳)有限公司 | 用于内存模块的散热装置 |
US9076753B2 (en) | 2012-05-18 | 2015-07-07 | International Business Machines Corporation | Apparatus for the compact cooling of modules |
US9437518B2 (en) | 2012-10-29 | 2016-09-06 | Samsung Electronics Co., Ltd. | Semiconductor module |
KR102127335B1 (ko) * | 2012-10-29 | 2020-06-30 | 삼성전자주식회사 | 반도체 모듈 |
HK1210376A2 (en) | 2015-08-17 | 2016-04-15 | 馮文標 號 | Assembly structure of high-power semiconductor and heat sink |
USD819746S1 (en) * | 2018-01-08 | 2018-06-05 | David Theodore Bernstein | Chess board |
US11011452B2 (en) * | 2018-11-29 | 2021-05-18 | Micron Technology, Inc. | Heat spreaders for semiconductor devices, and associated systems and methods |
US11079820B2 (en) | 2019-01-15 | 2021-08-03 | Microsoft Technology Licensing, Llc | Method and apparatus for improving removable storage performance |
US11520311B2 (en) | 2019-07-25 | 2022-12-06 | Microsoft Technology Licensing, Llc | High performance removable storage devices |
TWI777280B (zh) * | 2020-10-27 | 2022-09-11 | 技嘉科技股份有限公司 | 擴充卡外殼、擴充卡模組及伺服器 |
CN114428539B (zh) * | 2020-10-29 | 2024-05-14 | 技钢科技股份有限公司 | 扩充卡外壳、扩充卡模块及服务器 |
US11612084B1 (en) * | 2020-12-18 | 2023-03-21 | Zoox, Inc. | Modular heatsink for vehicle computer cooling architecture |
Citations (3)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
DE9415755U1 (de) * | 1994-09-29 | 1994-11-24 | Siemens Nixdorf Informationssysteme AG, 33106 Paderborn | Anordnung von hochintegrierten Schaltkreisen auf einer Mehrlagenkeramik |
DE4410467A1 (de) * | 1993-07-06 | 1995-01-19 | Hewlett Packard Co | Wärmesenkenanordnung mit einer thermisch leitenden Platte für eine Mehrzahl von integrierten Schaltungen auf einem Substrat |
JPH07202120A (ja) * | 1993-12-28 | 1995-08-04 | Hitachi Ltd | 高放熱型メモリおよび高放熱型メモリモジュール |
Family Cites Families (4)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US5587608A (en) * | 1995-10-27 | 1996-12-24 | Meng; Ching-Ming | Structure heat sink for power semiconductors |
US5815371A (en) * | 1996-09-26 | 1998-09-29 | Dell U.S.A., L.P. | Multi-function heat dissipator |
US5959839A (en) * | 1997-01-02 | 1999-09-28 | At&T Corp | Apparatus for heat removal using a flexible backplane |
US5867367A (en) * | 1997-12-04 | 1999-02-02 | Intel Corporation | Quad flat pack integrated circuit package |
-
1998
- 1998-06-12 JP JP10164720A patent/JP3109479B2/ja not_active Expired - Fee Related
-
1999
- 1999-06-11 TW TW088109945A patent/TW405248B/zh not_active IP Right Cessation
- 1999-06-12 DE DE19928075A patent/DE19928075B4/de not_active Expired - Lifetime
- 1999-06-12 KR KR1019990021875A patent/KR100297226B1/ko not_active IP Right Cessation
- 1999-06-14 CN CNB991090365A patent/CN1157783C/zh not_active Expired - Fee Related
- 1999-06-14 US US09/332,325 patent/US6424532B2/en not_active Expired - Lifetime
Patent Citations (3)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
DE4410467A1 (de) * | 1993-07-06 | 1995-01-19 | Hewlett Packard Co | Wärmesenkenanordnung mit einer thermisch leitenden Platte für eine Mehrzahl von integrierten Schaltungen auf einem Substrat |
JPH07202120A (ja) * | 1993-12-28 | 1995-08-04 | Hitachi Ltd | 高放熱型メモリおよび高放熱型メモリモジュール |
DE9415755U1 (de) * | 1994-09-29 | 1994-11-24 | Siemens Nixdorf Informationssysteme AG, 33106 Paderborn | Anordnung von hochintegrierten Schaltkreisen auf einer Mehrlagenkeramik |
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
DE19928075A1 (de) | 2000-01-27 |
JPH11354701A (ja) | 1999-12-24 |
TW405248B (en) | 2000-09-11 |
KR20000006134A (ko) | 2000-01-25 |
US20020001180A1 (en) | 2002-01-03 |
CN1157783C (zh) | 2004-07-14 |
KR100297226B1 (ko) | 2001-11-01 |
CN1239327A (zh) | 1999-12-22 |
JP3109479B2 (ja) | 2000-11-13 |
US6424532B2 (en) | 2002-07-23 |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
DE19928075B4 (de) | Speichermodul mit Wärmeableiter | |
DE68925403T2 (de) | Kühlungsstruktur für elektronische Bauelemente | |
DE10240730B4 (de) | Leiterplatte, Speichermodul und Herstellungsverfahren | |
DE69531177T2 (de) | Kartenartige Halbleiteranordnung | |
DE60130522T2 (de) | Kühlkörper zur Entkopplung von Klemmkräften in IC-Gehäusen | |
DE102011077206B4 (de) | Leiterplatte und Steuergerät für ein Getriebe eines Fahrzeugs mit der Leiterplatte | |
DE102005049872B4 (de) | IC-Bauelement mit Kühlanordnung | |
DE19801312A1 (de) | Halbleiterbauelement mit mehreren Substratlagen und zumindest einem Halbleiterchip und einem Verfahren zum Herstellen eines solchen Halbleiterbauelementes | |
DE4218112B4 (de) | Elektrisches Gerät, insbesondere Schalt- und Steuergerät für Kraftfahrzeuge | |
DE4135183C2 (de) | Anschlussleiste und deren Verwendung in einer Halbleiter-Anordnung | |
DE69216452T2 (de) | Halbleiteranordnung mit elektromagnetischer Abschirmung | |
DE102013203932A1 (de) | Elektronische, optoelektronische oder elektrische Anordnung | |
DE60038526T2 (de) | Elektronische Baugruppe | |
DE19725424C2 (de) | Leiterplatte mit in der Fläche montierten Bauteilen | |
DE3783266T2 (de) | Loesbares montierungssystem fuer halbleiter auf einem leitenden substrat. | |
DE10031951A1 (de) | Mehrchip-Halbleitermodul und Herstellungsverfahren dafür | |
EP0674827A1 (de) | Anordnung bestehend aus einer leiterplatte | |
DE3212592C2 (de) | Kühleinrichtung für Geräte der Nachrichtentechnik | |
DE102018128046A1 (de) | Elektronische Bauelementgehäuse | |
DE10023823A1 (de) | Multichip-Gehäuse | |
DE102007038937B4 (de) | Baugruppenanordnung | |
DE10334426A1 (de) | Halbleitervorrichtung | |
DE60020509T2 (de) | Elektronische baugruppe mit einer wärmeplatte | |
DE10297047B4 (de) | Lötfreie Leiterplatten-Baugruppe | |
DE10249331B4 (de) | Kühlvorrichtung |
Legal Events
Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
OP8 | Request for examination as to paragraph 44 patent law | ||
8127 | New person/name/address of the applicant |
Owner name: NEC CORP., TOKIO/TOKYO, JP Owner name: NEC ELECTRONICS CORP., KAWASAKI, KANAGAWA, JP |
|
8127 | New person/name/address of the applicant |
Owner name: ELPIDA MEMORY, INC., TOKIO/TOKYO, JP |
|
8364 | No opposition during term of opposition | ||
R082 | Change of representative |
Representative=s name: TBK, DE Representative=s name: STORK BAMBERGER PATENTANWAELTE, DE |
|
R082 | Change of representative |
Representative=s name: TBK, DE |
|
R081 | Change of applicant/patentee |
Owner name: PS4 LUXCO S.A.R.L., LU Free format text: FORMER OWNER: PS4 LUXCO S.A.R.L., LUXEMBOURG, LU Effective date: 20140825 Owner name: PS4 LUXCO S.A.R.L., LU Free format text: FORMER OWNER: ELPIDA MEMORY, INC., TOKYO, JP Effective date: 20140819 Owner name: LONGITUDE SEMICONDUCTOR S.A.R.L., LU Free format text: FORMER OWNER: PS4 LUXCO S.A.R.L., LUXEMBOURG, LU Effective date: 20140825 Owner name: LONGITUDE SEMICONDUCTOR S.A.R.L., LU Free format text: FORMER OWNER: ELPIDA MEMORY, INC., TOKYO, JP Effective date: 20140819 |
|
R082 | Change of representative |
Representative=s name: TBK, DE Effective date: 20140819 Representative=s name: TBK, DE Effective date: 20140825 |
|
R081 | Change of applicant/patentee |
Owner name: LONGITUDE LICENSING LTD., IE Free format text: FORMER OWNER: PS4 LUXCO S.A.R.L., LUXEMBOURG, LU Owner name: LONGITUDE SEMICONDUCTOR S.A.R.L., LU Free format text: FORMER OWNER: PS4 LUXCO S.A.R.L., LUXEMBOURG, LU |
|
R082 | Change of representative |
Representative=s name: TBK, DE |
|
R081 | Change of applicant/patentee |
Owner name: LONGITUDE LICENSING LTD., IE Free format text: FORMER OWNER: PS5 LUXCO S.A.R.L., LUXEMBURG, LU Owner name: LONGITUDE SEMICONDUCTOR S.A.R.L., LU Free format text: FORMER OWNER: PS5 LUXCO S.A.R.L., LUXEMBURG, LU |
|
R082 | Change of representative |
Representative=s name: TBK, DE |
|
R081 | Change of applicant/patentee |
Owner name: LONGITUDE LICENSING LTD., IE Free format text: FORMER OWNER: LONGITUDE SEMICONDUCTOR S.A.R.L., LUXEMBOURG, LU |
|
R082 | Change of representative |
Representative=s name: TBK, DE |
|
R071 | Expiry of right |