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Die
Erfindung betrifft eine Redundanzprogrammierschaltung und ein zugehöriges Verfahren zum
Ausführen
eines Redundanzprogrammiervorgangs.
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Die
Herstellung eines Halbleiterbauelements, z.B. eines Halbleiterspeicherbauelements, kann
verschiedene Tests umfassen, z.B. von Chips oder von Speicherbauelementen
auf einem Wafer, um eine korrekte Funktion des Halbleiterbauelements
zu verifizieren. Solche Überprüfungen können beispielsweise
verifizieren, ob Schaltungsbauelemente in dem Halbleiterbauelement
in Überstimmung
mit einer vorgegebenen Spezifikation oder einem vorgegebenen Protokoll
arbeiten. Bei einer beispielhaften Überprüfung kann eine Mehrzahl von Testparametern
verwendet werden, um elektrische Eigenschaften und/oder eine Funktionsweise
eines getesteten Halbleiterbauelements zu überprüfen. Zeigt die gegebene Überprüfung eine
nicht korrekte Funktionsweise des überprüften Halbleiterbauelements
an, z.B. weil die elektrischen Eigenschaften und/oder die Funktionsweise
nicht richtig sind, dann kann es sein, dass ein Debugging des Halbleiterbauelements
nicht möglich
ist.
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Bei
einem Beispiel, in welchem das Halbleiterbauelement eine defekte
Speicherzelle innerhalb eines Speicherzellenfelds aufweisen kann,
kann jedoch ein Reparaturvorgang, z.B. ein Debuggingvorgang, ausgeführt werden,
welcher die defekte Speicherzelle durch eine Redundanzspeicherzelle
ersetzt. In anderen Worten ausgedrückt, wenn ein Teil der Speicherzellen
im Halbleiterbauelement defekt ist, kann der defekte Teil der Speicherzellen
durch wenigstens eine redundant hergestellte Ersatzspeicherzelle
ersetzt werden, wodurch das Halbleiterbauelement in die Lage versetzt
wird, korrekt zu arbeiten.
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Eine
Redundanzprogrammierschaltung, welche alternativ auch als Sicherungsbox
oder Ersatzschaltung bezeichnet wird, kann verwendet werden, um
den oben beschriebenen Debuggingvorgang oder Auswechselvorgang der
defekten Speicherzellen auszuführen.
Die Redundanzprogrammierschaltung kann einen Prozess verwenden,
welcher ein Schmelzen von Sicherungen umfasst, z.B. mit einem Hochenergielicht,
einem Laser usw., wie nachfolgend detaillierter unter Bezugnahme
auf 1 beschrieben wird.
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1 zeigt ein Blockdiagramm
eines herkömmlichen
Halbleiterbauelements 107. Das herkömmliche Halbleiterbauelement 107 kann
ein Speicherzellenfeld 40 mit einem normalen Speicherzellenfeld 41 und
einem Ersatzspeicherzellenfeld 42 umfassen. Das normale
Speicherzellenfeld 41 und das Ersatzspeicherzellenfeld 42 können mit
Zeilendecodern 20, 21, 22, 23,
einem Ersatzzeilendecoder 25, Spaltendecodern 30, 31 und
einem Ersatzspaltendecoder 35 verbunden sein. Die Zeilendecoder 20, 21, 22 und 23 und
die Spaltendecoder 30 und 31 können mit dem normalen Speicherzellenfeld 41 assoziiert
sein und der Ersatzzeilendecoder 25 und der Ersatzspaltendecoder 35 können mit
dem Ersatzspeicherzellenfeld 42 assoziiert sein.
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In 1 kann ein herkömmlicher
Redundanzvorgang durch eine Zeilenersatzschaltung 10 und/oder
eine Spaltenersatzschaltung 11 durchgeführt werden, welche gemeinsam
als die oben beschriebene Redundanzprogrammierschaltung wirken.
Die Zeilenersatzschaltung 10 kann eine vordecodierte Zeilenadresse
DRAi von einem Zeilenvordecoder 6 empfangen und ein Zeilenredundanzfreigabesignal
X-RENi erzeugen. Das Zeilenredundanzfreigabesignal X-RENi kann vom
Ersatzzeilendecoder 25 empfangen werden, welcher basierend
auf dem empfangenen Zeilenredundanzfreigabesignal X-RENi einen Debuggingvorgang
in Zeilenrichtung ausführen
kann. Analog kann die Spaltenersatzschaltung 11 eine vordecodierte
Spaltenadresse DCAi von einem Spaltenvordecoder 7 empfangen und
ein Spaltenredundanzfreigabesignal Y-RENi erzeugen. Das Spaltenredundanzfreigabesignal
Y-RENi kann an den Ersatzspaltendecoder 35 angelegt werden,
welcher basierend auf dem empfangenen Spaltenredundanzfreigabesignal
Y-RENi einen Debuggingvorgang in Spaltenrichtung ausführen kann.
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2 zeigt einen verwendeten
Pfad einer Decodieradresse, welche an die Zeilen-/Spaltenersatzschaltungen 10/11 im
Halbleiterbauelement 107 aus 1 angelegt
wird. Wenn beispielsweise eine externe Adresse EADDi mit 7 Bit an
einen Adressenpuffer 2 angelegt wird, erzeugen Zeilen-
und Spalteninternadressengeneratoren 4/5 jeweils
ein angelegtes Bitsignal und ein komplementäres Signal, wobei das komplementäre Signal
von einem logischen Pegel korrespondierender Bits der externen Adresse EADDi
mit 7 Bits invertiert wird, um interne Adressen IRAi und ICAi mit
14 Bit zu erzeugen.
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Die
Zeilen-/Spalteninternadressengeneratoren 4/5 können so
integriert werden, dass eine interne Adresse, z.B. eine Zeilen-
oder Spaltenadresse, erzeugt werden kann. Die Zeilen-/Spaltenvordecoder 6/7 können die
interne Adresse vordecodieren und können beispielsweise eine vordecodierte
Adresse mit 16 Bit erzeugen, z.B. DA01 4 Bit + DA234 8Bit + DA56
4 Bit. Der Zeilendecoder 20 kann die vordecodierte Zeilenadresse
DRAi decodieren und eine gegebene Wortleitung unter den Wortleitungen
WL0:n des normalen Speicherzellenfelds 41 auswählen und die
Zeilenersatzschaltung 10 kann ein Zeilenredundanzfreigabesignal
X-RENi erzeugen, um eine vorgegebene Zeile einer defekten Speicherzelle
in Reaktion auf die vordecodierte Zeilenadresse DRAi zu ersetzen.
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Analog
kann der Spaltendecoder 30 die vordecodierte Spaltenadresse
DCAi decodieren und eine vorgegebene Spaltenauswahlleitung unter
einer Mehrzahl von Spaltenauswahlleitungen des normalen Speicherzellenfelds 41 auswählen. Die
Spaltenersatzschaltung 11 kann ein Spaltenredundanzfreigabesignal
Y-RENi erzeugen, um eine vorgegebene Spalte einer defekten Speicherzelle
in Reaktion auf die vordecodierte Spaltenadresse DCAi zu ersetzen.
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Unter
Bezugnahme auf 2 können Leitungen
vordecodierter Adressen, welche an die Decoder 20/30 und
die Zeilen-/Spaltenersatzschaltungen 10/11 angelegt
werden, in Leitungen L1, L2 und L3 aufgeteilt werden. Wenn eine
Schaltung, z.B. die Ersatzschaltung 10, die Ersatzschaltung 11 usw.,
mit einem Decoder ein NAND-Gatter und einen Inverter umfasst, können NMOS-Transistoren
innerhalb des NAND-Gatters durch einen Body-Effekt beeinflusst werden.
Der Body-Effekt
kann verursachen, dass die Schaltung instabil arbeitet.
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3 zeigt die herkömmliche
Zeilen-/Spaltenersatzschaltung 10/11 aus 1. Die Zeilen-/Spaltenersatzschaltung 10/11 kann
eine Hauptsicherungsschaltung MFC, NMOS-Transistoren N1 bis N16,
eine Mehrzahl von Sicherungen F1 bis F16, Betriebsfreigabetransistoren
M1/M2/M3 und ein UND-Gatter AND1 umfassen. Eine Hauptsicherung MF
kann innerhalb der Hauptsicherungsschaltung MFC angeordnet sein.
Die Sicherungen F1 bis F16 können
Adressen einer defekten Speicherzelle speichern, um einen Redundanzvorgang
auszuführen. Bei
einem Bei spiel können
die Sicherungen F1 bis F16 ein Siliziummaterial umfassen, z.B. Polysilizium. Die
Sicherungen F1 bis F16 können
durch ein Hochenergielicht, wie einen Laser, durchtrennt werden, z.B.
geschmolzen, durchschnitten, geöffnet
usw. Die Sicherungen F1 bis F16 können in einem peripheren Schaltungsbereich
auf einem Chip angeordnet sein, z.B. in der Zeilen-/Spaltenersatzschaltung 10/11.
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Wenn
das normale Speicherzellenfeld 41 eine defekte Speicherzelle
umfasst und eine Zeilen- und/oder Spaltenadresse zur Bestimmung
der defekten Speicherzelle angelegt wird, z.B. während des Betriebs, dann können die
Zeilenersatzschaltung 10 und/oder die Spaltenersatzschaltung 11 ein
Redundanzfreigabesignal RENi ausgeben, um eine Zeile und/oder Spalte
der defekten Speicherzelle zu sperren und eine Zeile oder Spalte
einer redundanten Speicherzelle freizugeben, z.B. basierend auf
einem Durchtrennen der Sicherungen F1 bis F16. Bei einem Beispiel
unter Bezugnahme auf 3 können die Hauptsicherung
MF und die Sicherungen F2 bis F4, F6 bis F12 und F14 bis F16 mittels
eines Sicherungsdurchtrennungs- oder Sicherungsdurchbrennvorgang
durchtrennt oder durchgebrannt werden, wenn eine Speicherzelle,
welche mit einer externen Adresse „0000000" korrespondiert, beispielsweise während eines Überprüfungsvorgangs
als defekt bestimmt wird. Die Sicherungen F1, F5 und F13 werden nicht
durchtrennt. Ein Redundanzfreigabesignal RENi kann vom UND-Gatter
AND1 mit einem ersten logischen Pegel ausgegeben werden, z.B. mit
einem höheren
logischen Pegel, einem niedrigeren logischen Pegel usw., wenn die
externe Adresse mit dem Wert „0000000" angelegt wird.
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Wenn
ein normales Sperrsignal auf einem zweiten logischen Pegel, z.B.
einem niedrigeren Pegel, einem höheren
logischen Pegel usw., an den Zeilen-/Spaltendecoder 20/30 angelegt
wird, kann der Zeilen-/Spaltendecoder 20/30 eine
normale Zeile oder normale Spalte sperren. Eine Zeile oder Spalte einer
defekten Speicherzelle kann in einen nicht be triebsbereiten Zustand
gesetzt werden, z.B. in einen Zustand, in welchem nicht aus dem
Speicher gelesen oder in ihn geschrieben werden kann. Zudem kann das
Redundanzfreigabesignal RENi an einen Ersatzzeilen-/Ersatzpaltendecoder 25/35 angelegt
werden. Eine Zeile oder Spalte der Ersatzspeicherzelle kann freigegeben
werden und die defekte Speicherzelle kann durch eine redundante
Ersatzspeicherzelle ersetzt werden.
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In
anderen Worten ausgedrückt,
kann eine defekte Speicherzelle mittels Durchtrennen oder Durchbrennen
einer Hauptsicherung unter den Sicherungen MF und F1 bis F16 in
der Zeilen-/Spaltenersatzschaltung 10/11 und einer
Sicherung, welche mit einem Adressenbit der defekten Speicherzelle korrespondiert,
ersetzt werden.
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Mit
dem oben beschriebenen herkömmlichen
Redundanzprogrammiervorgang kann eine Herstellungsausbeute von Halbleiterbauelementen durch
Reparieren einer defekten Speicherzelle erhöht werden. Eine Chipabmessung
und eine Dauer des Redundanzprogrammiervorgangs können jedoch
auch mit der Anzahl von Sicherungen skalieren. Wenn das herkömmliche
Halbleiterbauelement 107 beispielsweise zusätzlichen
Speicher benötigt,
benötigt
es eventuell auch zusätzliche
Sicherungen für den
Redundanzprogrammiervorgang, z.B. weil mehr Bits erforderlich sind,
um den zusätzlichen
Speicher zu adressieren, wodurch eine größere Chipabmessung erforderlich
ist, welche eine Ausbeute des Halbleiterbauelements 107 reduziert
und eine längere Dauer
für jeden
Ersatz einer defekten Speicherzelle erfordern kann, z.B. weil viele
Sicherungen durchtrennt/durchgebrannt werden, wodurch sich die Betriebsgeschwindigkeit
reduziert.
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Zudem
können
die Sicherungen F1 bis F16 aus 3 korrespondierend
zu Adressenbits vor der Decodierung angeordnet sein, z.B. kann eine
Sicherung mit jeweils einem vordecodierten Adressenbit assoziiert
sein.
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Mit
der Anordnung der Sicherungen F1 bis F16 korrespondierend mit Adressenbits
vor der Decodierung kann die Anzahl der Sicherungen in dem Halbleiterbauelement 107 reduziert
werden. Die Anordnung der Sicherungen F1 bis F16 in 3 kann jedoch erfordern, dass Adressenleitungen
unabhängig
hinzugefügt
werden, z.B. werden die Adressenleitungen eventuell gemeinsam genutzt,
was die Komplexität
des herkömmlichen
Halbleiterbauelements 107 erhöhen kann.
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Der
Erfindung liegt als technisches Problem die Bereitstellung einer
Redundanzprogrammierschaltung und eines Verfahrens zum Ausführen eines
Redundanzprogrammiervorgangs zugrunde, die in der Lage sind, die
oben genannten Schwierigkeiten des Standes der Technik wenigstens
teilweise zu überwinden.
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Die
Erfindung löst
dieses Problem durch die Bereitstellung einer Redundanzprogrammierschaltung
mit den Merkmalen des Patentanspruchs 1, 22, 33 oder 45 und durch
ein Verfahren mit den Merkmalen des Patentanspruchs 26, 30, 31 oder
44.
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Vorteilhafte
Weiterbildungen der Erfindung sind in den abhängigen Ansprüchen angegeben.
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Eine
weitere Ausführungsform
der Erfindung betrifft ein Verfahren zur Durchführung eines Redundanzprogrammiervorgangs,
das ein Erzeugen eines Betriebsfreigabesignals, ein Erzeugen eines
Betriebsstatusindikators, der einen Status von wenigstens einer
Steuersicherung anzeigt, und ein Decodieren von Signalbits einer
Decodieradresse in Reaktion auf den Betriebsstatusindikator und
ein Übertragen eines
gegebenen logischen Pegels, der zu einer defekten Speicherzelle
gehört,
zusammen mit der Decodieradresse an einen Decodierausgabeanschluss umfasst.
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Vorteilhafte,
nachfolgend beschriebene Ausführungsformen
der Erfindung sowie die zu deren besserem Verständnis oben erläuterten,
herkömmlichen
Ausführungsbeispiele
sind in den Zeichnungen dargestellt. Es zeigen:
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1 ein
Blockdiagramm eines herkömmlichen
Halbleiterbauelements,
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2 ein
Blockdiagramm mit einem verwendeten Pfad einer Decodieradresse,
welche an die Zeilen-/Spaltenersatzschaltungen in dem herkömmlichen
Halbleiterbauelement aus 1 angelegt wird,
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3 eine
herkömmliche
Zeilen-/Spaltenersatzschaltung des Bauelements gemäß 1,
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4 ein
Blockdiagramm einer Redundanzprogrammierschaltung gemäß einer
Ausführungsform
der Erfindung,
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5 ein
Schaltbild einer spezifischen Realisierung der Redundanzprogrammierschaltung
aus 4 gemäß der Erfindung,
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6 ein
Schaltbild einer weiteren spezifischen Realisierung der Redundanzprogrammierschaltung
aus 4 gemäß der Erfindung,
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7 ein
Blockdiagramm einer spezifischen Realisierung der Redundanzprogrammierschaltung gemäß der Erfindung,
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8 ein
Schaltbild einer spezifischen Realisierung der Redundanzprogrammierschaltung
aus 7 gemäß der Erfindung,
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9 ein
Schaltbild einer spezifischen Realisierung der Redundanzprogrammierschaltung
aus 7 gemäß der Erfindung,
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10 ein
Schaltbild einer spezifischen Realisierung der Redundanzprogrammierschaltung
gemäß der Erfindung,
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11 ein
Blockdiagramm eines weiteren Halbleiterspeicherbauelements gemäß der Erfindung,
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12 ein
Blockdiagramm einer Zeilen-/Spaltenersatzschaltung gemäß der Erfindung,
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13 ein
Schaltbild einer spezifischen Realisierung der Zeilen-/Spaltenersatzschaltung
aus 12 gemäß der Erfindung,
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14 ein
Schaltbild eines Hauptsicherungsteils zur Verwendung in der Schaltung
von 12 gemäß der Erfindung,
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15 ein
schematisches Diagramm eines Sicherungsreduzierungsbeispiels gemäß der Ausführungsform
aus 13,
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16 ein
Blockdiagramm einer weiteren Redundanzprogrammierschaltung gemäß der Erfindung,
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17 ein
Schaltbild eines Hauptsicherungsteils zur Verwendung in der Schaltung
aus 16 gemäß der Erfindung,
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18 ein
Schaltbild eines Steuersicherungsteils zur Verwendung in der Schaltung
aus 16 gemäß der Erfindung
und
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19 ein
Schaltbild eines ersten, zweiten und dritten Decoders und eines
Kombinationsteils zur Verwendung in der Schaltung aus 16 gemäß der Erfindung.
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Nachfolgend
werden erfindungsgemäße Ausführungsbeispiele
unter Bezugnahme auf die zugehörigen
Zeichnungen im Detail beschrieben. In den Zeichnungen werden gleiche
Bezugszeichen verwendet, um gleiche Elemente in allen Zeichnungen
zu bezeichnen. Es ist jedoch eine Anzahl von Transistoren, z.B.
NMOS-Transistoren, PMOS-Transistoren usw., in den Figuren dargestellt.
Selbstverständlich
können,
während
bestimmte Transistoren in verschiedenen Figuren gleiche Bezugszeichen aufweisen,
die ähnlich
bezeichneten Transistoren in den Ausführungsbeispielen der Erfindung
gleich oder unterschiedlich sein.
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4 zeigt
ein Blockdiagramm einer Redundanzprogrammierschaltung 405 gemäß einer
Ausführungsform
der Erfindung. In der Ausführungsform gemäß 4 kann
die Redundanzprogrammierschaltung 405 einen Hauptsicherungsteil 200,
einen Steuersicherungsteil 300 mit einer ersten Steuersicherung 310 und
einer zweiten Steuersicherung 330 und einen Multiplexerteil 400 mit
einem ersten Multiplexer 410 und einem zweiten Multiplexer 430 umfassen.
Die in 4 dargestellten Elemente werden nachfolgend unter
Bezugnahme auf die beispielhaften Ausführungsformen gemäß 5 und 6 detaillierter
beschrieben.
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5 ist
ein Schaltbild der Redundanzprogrammierschaltung 405 gemäß 4 entsprechend einer
Ausführungsform
der Erfindung. In der Ausführungsform
gemäß 5 kann
der Hauptsicherungsteil 200 eine Hauptsicherung MF umfassen
und ein Betriebsfreigabesignal ENB als Statussignal erzeugen, welches
einen Betriebsstatus der Hauptsicherung MF anzeigen kann. In einem
Beispiel kann der Betriebsstatus darin bestehen, ob die Hauptsicherung
MF durchtrennt oder nicht durchtrennt ist, wobei ein durchtrennter
Zustand anzeigen kann, dass kein Strom durch die Hauptsicherung
MF fließt,
und ein nicht durchtrennter Zustand anzeigen kann, dass ein Strom
durch die Hauptsicherung MF fließt.
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In
der Ausführungsform
gemäß 5 kann der
Hauptsicherungsteil 200 einen PMOS-Transistor PM1 und einen
NMOS-Transistor NM1 umfassen. Die Transistoren PM1/NM1 können mit
der Hauptsicherung MF verbunden sein und ein komplementäres Einschaltsignal
VCCHB empfangen. Zudem kann der Hauptsicherungsteil 200 einen
Inverterzwischenspeicher L1 mit einem Eingabeanschluss umfassen, welcher
mit einem Ausgabeanschluss der Hauptsicherung MF verbunden ist.
Der Inverterzwischenspeicher L1 kann Inverter IN1, IN2 umfassen
und mit einem Ausgangsinverter IN3 verbunden sein. Das komplementäre Einschaltsignal
VCCHB kann eine invertierte Ausführung
eines Einschaltsignals VCCH sein. Das komplementäre Einschaltsignal VCCHB kann
bei einer Auslösung
eines Einschaltvorgangs auf einem ersten logischen Pegel gehalten
werden, z.B. einem höheren
Pegel. Das komplementäre
Einschaltsignal VCCHB kann nach dem Einschaltvorgang auf einen zweiten
Logikpegel wechseln, z.B. einen niedrigeren logischen Pegel. Eine
Ausgabe des Ausgangsinverters IN3 kann das Betriebsfreigabesignal
ENB sein.
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In
der Ausführungsform
gemäß 5 kann der
Steuersicherungsteil 300 wenigstens zwei Steuersicherungen
F1 und F2 umfassen und erste bis M-te Steuersignalpaare, wobei z.B.
das M-te Steuersignalpaar (A, /A), (B, /B) usw. mit der M-ten Steuersicherung
F1, F2 usw. korrespondiert, als Statussignale erzeugen, welche einen
Betriebsstatus von jeder korrespondierenden Steuersicherung F1,
F2 anzeigen können,
wobei der Betriebsstatus beispielsweise ist, ob die Sicherung F1
und/oder F2 durchtrennt oder nicht durchtrennt sind, wobei M eine
natürliche
Zahl größer oder
gleich 2 ist.
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In
der Ausführungsform
gemäß 5 kann die
erste Steuersicherung 310 einen PMOS-Transistor PM2 und
einen NMOS-Transistor NM2 umfassen. Die Transistoren PM2/NM2 können mit
der Steuersicherung F1 verbunden sein und das komplementäre Einschaltsignal
VCCHB empfangen. Zudem kann die erste Steuersicherung 310 einen
Inverterzwischenspeicher L2 mit einem Eingabeanschluss umfassen, welcher
mit einem Ausgabeanschluss der Steuersicherung F1 verbunden ist.
Der Inverterzwischenspeicher L2 kann Inverter IN4 und IN5 umfassen
und mit einem Ausgabe-NOR-Gatter NOR1 verbunden sein.
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In
der Ausführungsform
gemäß 5 kann die
zweite Steuersicherung 330 einen PMOS-Transistor PM3 und
einen NMOS-Transistor NM3 umfassen. Die Transistoren PM3/NM3 können mit
der Steuersicherung F2 verbunden sein und das komplementäre Einschaltsignal
VCCHB empfangen. Zudem kann die zweite Steuersicherung 330 einen
Inverterzwischenspeicher L3 mit einem Eingabeanschluss umfassen,
welcher mit einem Ausgabeanschluss der Steuersicherung F2 verbunden
ist. Der Inverterzwischenspeicher L3 kann Inverter IN6 und IN7 umfassen
und mit einem Ausgabeinverter IN8 verbunden sein.
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In
der Ausführungsform
gemäß 5 kann der
erste Multiplexer 410 NMOS-Transistoren M1 bis M4 umfassen.
Der erste Multiplexer 410 kann vorgegebene logische Pegel,
z.B. den ersten logischen Pegel, den zweiten logischen Pegel usw.,
für Signalbitanteile,
z.B. DA01<0>, DA01<3>, von Signalbits, z.B. DA01<0>, DA01<1>, DA01<2>, DA01<3>, einer Decodieradresse,
welche in Einheiten von 2n Bit angelegt wird, an Ausgabeanschlüsse OU1
und OU2, welche in einer Anzahl korrespondierend zu den Signalbitanteilen
bereitgestellt werden, in Reaktion auf ein korrespondierendes Steuersignalpaar,
z.B. Steuersignalpaar A, /A, unter den ersten bis M-ten Steuersignalpaaren
ausgeben, wobei n eine natürliche
Zahl größer oder
gleich 2 ist.
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In
der Ausführungsform
gemäß 5 kann der
zweite Multiplexer 430 NMOS-Transistoren M5 und M6 umfassen.
Der zweite Multiplexer 430 kann betrieben werden, z.B.
freigegeben werden, wenn ein Betriebsfreigabetransistor 450 sperrend
geschaltet wird. Wenn das Betriebsfreigabesignal ENB aktiviert wird,
z.B. auf den zweiten logischen Pegel gesetzt wird, kann der zweite
Multiplexer 430 in Reaktion auf Steuersignalpaare, z.B.
Steuersignalpaar B, /B, welche nicht an den ersten Multiplexer 410 angelegt
werden, wenn das Betriebsfreigabesignal ENB aktiviert wird, z.B.
auf den zweiten logischen Pegel gesetzt wird, eine untergeordnete
Halbierung der Signalbitanteile ausführen, welche von Ausgabeanschlüssen des
ersten Multiplexers 410 empfangen werden. Hierbei kann
der zweite Multiplexer 430 einen gegebenen logischen Pegel,
z.B. den ersten und/oder den zweiten logischen Pegel, welcher mit einem
einzelnen Bit korrespondiert, an einen Programmierausgabeanschluss
FO1 ausgeben.
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Im
Folgenden sei ein gegebener Anschluss, der ein Signalbit, z.B. DA01<0>, einer Decodieradresse
empfängt,
um einen Redundanzvorgang auszuführen,
zur weiteren Erläuterung
als ein erster Ausgabeanschluss bezeichnet. In einem Beispiel kann der
erste Ausgabeanschluss mit dem Ausgabeanschluss OU1 korrespondieren
und andere Ausgabeanschlüsse
können
vom Programmierausgabeanschluss FO1 separiert sein.
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In
einer weiteren Ausgestaltung der Erfindung wird während eines
Redundanzvorgangs unter Bezugnahme auf den zweiten Multiplexer 430 nur
ein gegebener logischer Pegel des ersten Ausgabeanschlusses, z.B.
des Ausgabeanschlusses OU1, zum Programmierausgabeanschluss FO1 übertragen werden.
Andere Ausgabeanschlüsse,
z.B. der Ausgabeanschluss OU2, können
vom Programmierausgabeanschluss FO1 separiert sein.
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In
einer weiteren Ausgestaltung der Erfindung wird, unter Bezugnahme
auf 5, wenn Signalbits (DA01<0>,
DA01<1>, DA01<2>, DA01<3>) der Decodieradresse
4 Bits umfassen, wie z.B. in 5 dargestellt
ist, eine auf den ersten logischen Pegel gesetzte Ausgabe des Multiplexerteils 400 an den
Programmierausgabeanschluss FO1 angelegt. Wenn eine Adresse einer
defekten Speicherzelle unter den normalen Speicherzellen beispielsweise gleich
(00) ist, können
die Hauptsicherung MF und die Steuersicherungen F1 und F2 durchtrennt
werden, z.B. von einem Laserstrahl. Hierbei kann die Redundanzprogrammierung
durch einen Durchtrennvorgang ausgeführt werden.
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In
einem weiteren Beispiel kann, unter Bezugnahme auf 5,
nach Empfang einer Lieferung von reparierten Halbleiterspeicherbauelementen, welche
z.B. durch einen Redundanzvorgang repariert wurden, eine Adresse,
z.B. die Adresse (00), welche eine Adresse einer defekten Speicherzelle anzeigt,
in einem normalen Betriebszustand angelegt werden, so dass Signalbits,
z.B. DA01<0>, DA01<1>, DA01<2>, DA01<3>, einer Decodieradresse
mit dem Wert (00, 01, 10, 11) korrespondieren, das Betriebsfreigabesignal
ENB mit dem zweiten logischen Pegel erzeugt wird, das Steuersignalpaar A,
/A mit dem ersten logischen Pegel bzw. dem zweiten logischen Pegel
erzeugt wird und das Steuersignalpaar B, /B mit dem ersten logischen
Pegel bzw. dem zweiten logischen Pegel erzeugt wird. Das Betriebsfreigabesignal
ENB kann auf den zweiten Pegel gesetzt werden, weil der NMOS-Transistor
NM1 leitend geschaltet werden kann, wenn das komplementäre Einschaltsignal
VCCHB mit dem ersten Pegel angelegt wird, so dass die Hauptsicherung
MF durchtrennt wird.
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Eine
Ausgabe EN des Inverterzwischenspeichers L1 kann auf den ersten
logischen Pegel wechseln und das Betriebsfreigabesignal ENB, z.B.
die Ausgabe des Ausgabeinverters IN3, kann auf den zweiten logischen
Pegel wechseln. Wenn das komplementäre Einschaltsignal VCCHB auf den
zweiten logischen Pegel wechselt, kann der NMOS-Transistor NM1 sperrend
geschaltet werden und die Ausgabe EN des Inverterzwischenspeichers
L1 kann auf dem ersten Pegel gehalten werden. Das komplementäre Einschaltsignal
VCCHB und das Betriebsfreigabesignal ENB können für eine gegebene Zeitperiode auf
dem zweiten Pegel gehalten werden.
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In
einem weiteren Beispiel kann, wenn die Ausgabesteuersignale A und
/A des Steuersignalpaars A, /A auf den ersten logischen Pegel bzw.
den zweiten logischen Pegel gesetzt werden, der NMOS-Transistor
NM1 leitend geschaltet werden, wenn das komplementäre Einschaltsignal
VCCHB mit dem ersten logischen Pegel angelegt wird, so dass die
Steuersicherung F1 durchtrennt werden kann. Das Steuersignal A,
z.B. vom Steuersignalpaar A, /A, des Inverterzwischenspeichers L2
kann auf den ersten logischen Pegel wechseln und das Steuersignal
/A vom NOR-Gatter NOR1, welches z.B. eine NOR-Verknüpfung des
Betriebsfreigabesignals ENB und des Steuersignals A vornimmt, kann
auf den zweiten Logikpegel wechseln. Wenn das komplementäre Einschaltsignal
VCCHB auf den zweiten Logikpegel wechselt, kann der NMOS-Transistor NM1 sperrend
geschaltet werden und das Steuersignal A vom Inverterzwischenspeicher
L2 kann auf dem ersten logischen Pegel gehalten werden. Daher können das
komplementäre
Einschaltsignal VCCHB und die Steuersignale A und /A des Steuersignalpaars
A, /A für
eine vorgegebene Zeitperiode auf ihren entsprechenden logischen
Pegeln gehalten werden.
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Zudem
kann in einem weiteren Beispiel, wenn die Steuersignale B und /B
des Steuersignalpaars B, /B mit dem ersten logischen Pegel bzw.
dem zweiten logischen Pegel erzeugt werden, die Funktionsweise der
zweiten Steuersicherung 330 ähnlich zu dem im Zusammenhang
mit der ersten Steuersicherung 310 beschriebenen Beispiel
sein, bei welchem die Steuersignale A und /A des Steuersignalpaars
A, /A auf den ersten bzw. zweiten logischen Pegel gesetzt werden.
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In
einem weiteren Beispiel können,
wenn das Betriebsfreigabesignal ENB aktiviert ist, das Steuersignalpaar
A, /A und das Steuersignalpaar B, /B auf den zweiten logischen Pegel,
den ersten logischen Pegel, den zweiten logischen Pegel bzw. den
ersten logischen Pegel wechseln, der Betriebsfreigabetransistor 450 kann
sperrend geschaltet werden, Transistoren M1 und M4 des ersten Multiplexers 410 können leitend
geschaltet werden und ein Transistor M5 des zweiten Multiplexers 430 kann
leitend geschaltet werden. Das Redundanzfreigabesignal RENi kann auf
den ersten logischen Pegel wechseln und an den Programmierausgabeanschluss
FO1 ausgegeben werden. Das Redundanzfreigabesignal RENi kann mit
dem Signalbit DA01<0> der Decodieradresse korrespondieren,
beispielsweise mit der Adresse (00). Ein Redundanzvorgang kann für die Adresse (00)
mittels Durchtrennen der Hauptsicherung MF und der Steuersicherungen
F1 und F2 ausgeführt werden,
wenn z.B. das Redundanzfreigabesignal RENi aktiviert wird, wenn
im Normalbetrieb eines Halbleiterbauelements, wie eines Halbleiterspeicherbauelements,
eine Adresse mit dem Wert (00) angelegt wird, wodurch ein Debugging-
oder Korrekturvorgang für
ein Halbleiterbauelement mit der Redundanzprogrammierschaltung 405 ausgeführt wird.
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Alternativ
kann in einem weiteren Beispiel, wenn ein Redundanzvorgang für die Adresse
(01) ausgeführt
wird, ein Signalbit DA01<1> der Decodieradresse
mit der Adresse (01) korrespondieren und die Hauptsicherung MF und
die Steuersicherung F2 können
durchgetrennt werden. In einem weiteren alternativen Beispiel kann,
wenn ein Redundanzvorgang für
die Adresse (10) ausgeführt
wird, ein Signalbit DA01<1> der Decodieradresse
mit der Adresse (10) korrespondieren und die Hauptsicherung MF kann
durchgetrennt werden. In einem weiteren alternativen Beispiel kann,
wenn ein Redundanzvorgang für
die Adresse (11) ausge führt
wird, ein Signalbit DA01<1> der Decodieradresse
mit der Adresse (11) korrespondieren und die Hauptsicherung MF und
die Steuersicherung F1 können
durchgetrennt werden.
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In
einer weiteren Ausgestaltung der Erfindung kann, unter Bezugnahme
auf 5, ein Redundanzvorgang mit Multiplexern durchgeführt werden, welche
eine Mehrzahl von Sicherungen steuern, deren Anzahl niedriger als
die Anzahl der Adressenbits ist, z.B. von einer Decodieradresse.
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6 zeigt
ein Schaltbild der Redundanzprogrammierschaltung 405 aus 4 gemäß einem Ausführungsbeispiel
der Erfindung. In diesem Beispiel zeigt 6 im Gegensatz
zu 5, in welcher basierend auf der Decodieradresse
mit 4 Bit erste und zweite Steuersicherungen 310/330 vorhanden sind,
sieben Steuersicherungen, z.B. 310, 330, 311, 331, 332, 312, 333 usw.,
basierend auf der Decodieradresse mit 16 Bit.
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In
einer alternativen beispielhaften Ausführungsform der vorliegenden
Erfindung kann, wenn Signalbits einer Decodieradresse auf 16 Bit
erhöht sind,
eine Redundanzsteuerschaltung, z.B. die Redundanzprogrammierschaltung 405,
eine höhere
Anzahl von Steuersicherungen, z.B. sieben, und eine Anzahl von Multiplexern
umfassen.
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In
der Ausführungsform
gemäß 6 kann der
zweite Multiplexer 430 aus 5 einer
aus einer Mehrzahl von Multiplexern sein, die je einem Programmierausgabeanschluss
FO1, FO2 und FO3 zugeordnet sind, deren Ausgaben von einem UND-Gatter 500 empfangen
werden können.
Die Ausgabe des UND-Gatters 500 kann das Redundanzfreigabesignal
RENi sein.
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In
der Ausführungsform
gemäß 6 kann die
Redundanzprogrammierschaltung 405 insgesamt acht Sicherungen
umfassen, welche z.B. eine Hauptsicherung MF und sieben Steuersicherungen 310/311/312/330/331/332/333 einschließen. Daher können weniger
Sicherungen als decodierte Adressenbits für den Redundanzvorgang verwendet
werden.
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In
einer weiteren Ausgestaltung der Erfindung können Steuersicherungen in einem
Steuersicherungsteil 300 angeordnet sein und das Redundanzfreigabesignal
RENi kann mit einem Multiplexvorgang erzeugt werden. Die oben beschriebene Ausführungsform
ermöglicht
eine Reduzierung, z.B. eine Halbierung, von Signalbits der Decodieradresse und
die Anzahl von Sicherungen, welche für eine Redundanzprogrammierung
verwendet werden, kann dadurch reduziert werden. Die reduzierte
Anzahl von Sicherungen kann die Chipabmessung reduzieren. Zudem
kann die Anzahl von Durchtrennungsvorgängen durch die Reduzierung
der Sicherungsanzahl reduziert werden, wodurch Effizienz und Geschwindigkeit
eines Redundanzvorgangs erhöht
werden, z.B. eine Reparatur- oder Debuggingzeit für Halbleiterbauelemente
mit der Redundanzprogrammierschaltung 405.
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7 zeigt
im Blockdiagramm eine Redundanzprogrammierschaltung 700 gemäß einer
weiteren Ausgestaltung der Erfindung. In der Ausführungsform
gemäß 7 umfasst
die Redundanzprogrammierschaltung den Hauptsicherungsteil 200, welcher
z.B. wie oben im Zusammenhang mit den 4 bis 6 beschrieben
ausgeführt
ist, den Steuersicherungsteil 300, welcher z.B. wie oben
im Zusammenhang mit den 4 bis 6 beschrieben
ausgeführt
ist, einen Multiplexer 420 und einen Programmiersicherungsteil 440.
Die in 7 dargestellten Elemente werden nachfolgend unter
Bezugnahme auf die Ausführungsformen
gemäß 8 und 9 detaillierter
beschrieben.
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8 ist
ein Schaltbild der Redundanzprogrammierschaltung 700 gemäß 7 entsprechend einer
weiteren Ausführungsform
der Erfindung. In der Ausführungsform
gemäß 8 kann
der Hauptsicherungsteil 200 wie der oben im Zusammenhang mit 5 beschriebene
Hauptsicherungsteil 200 funktionieren. Der Steuersicherungsteil 300 kann
wie die erste Steuersicherung 310 im Steuersicherungsteil 300 aus 5 funktionieren.
Der Multiplexer 420 kann wie der erste Multiplexer 410 aus 5 funktionieren.
Daher wird der Kürze
halber in der Beschreibung der beispielhaften Ausführungsform
gemäß 8 auf
die Beschreibung des Hauptsicherungsteils 200, des Steuersicherungsteils
und des Multiplexers 420 verzichtet.
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In
der Ausführungsform
gemäß 8 kann der
Programmiersicherungsteil 440 Programmiersicherungen FU1
und FU2 umfassen. Der Programmiersicherungsteil 440 kann
betrieben werden, z.B. freigegeben werden, wenn ein Betriebsfreigabetransistor 450 sperrend
geschaltet wird. Wenn das Betriebsfreigabesignal ENB aktiviert wird,
z.B. auf den zweiten logischen Pegel wechselt, kann der Programmiersicherungsteil 440 basierend
auf wenigstens einer programmierten Sicherung, z.B. einer nicht
durchtrennten Sicherung FU1 und einer durchtrennten Sicherung FU2
unter den Sicherungen FU1 und FU2, welche jeweils mit korrespondierenden Ausgabeanschlüssen OU1
und OU2 des Multiplexers 420 verbunden sind, auf den logischen
Pegel wechseln, welcher mit einem gegebenen Bit, z.B. dem Bit DA01<0>, assoziiert ist. Die
Ausgabe des Programmiersicherungsteils 440 kann vom Programmierausgabeanschluss
FO1 empfangen werden.
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In
einer weiteren Ausgestaltung der Erfindung kann der Programmiersicherungsteil 440 einen logischen
Pegel, welcher vom ersten Ausgabeanschluss OU1 empfangen wird, über die
mit dem ersten Ausgabeanschluss OU1 verbundene Sicherung FU1 an
den Programmierausgabeanschluss FO1 übertragen. Der Ausgabeanschluss
OU2 ist operativ nicht mit dem Programmierausgabeanschluss FO1 verbunden,
weil die Sicherung FU2 durchtrennt ist, welche mit wenigstens einem
Ausgabeanschluss OU2 verbunden ist, der vom ersten Ausgabeanschluss
OU1 unabhängig
oder separiert ist. Bei einem alternativen Beispiel kann die Sicherung
FU2 nicht durchtrennt und die Sicherung FU1 durchtrennt sein, z.B.
basierend auf einem anderen empfangenen Signalbit für den Redundanzvorgang.
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In
der Ausführungsform
gemäß 8 kann, wenn
Signalbits, z.B. DA01<0>, DA01<1>, DA01<2>, DA01<3>, der Decodieradresse
4 Bits umfassen, das Redundanzfreigabesignal RENi auf den ersten
logischen Pegel gesetzt werden und an den Programmierausgabeanschluss
FO1 ausgegeben werden. Wenn eine Adresse einer defekten Speicherzelle
beispielsweise den Wert (00) aufweist, können die Hauptsicherung MF,
die Steuersicherung F1 und die Programmiersicherung FU2 durchtrennt
werden, z.B. von einem Laserstrahl, um einen Redundanzvorgang auszuführen.
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In
einem weiteren Beispiel können
Signalbits, z.B. DA01<0>, DA01<1>, DA01<2>, DA01<3>, jeweils mit (00,
01, 10, 11) korrespondieren. In einem weiteren Beispiel kann das
Redundanzfreigabesignal RENi mit dem Signalbit DA01<0> der Decodieradresse
korrespondieren, beispielsweise mit der Adresse (00). Ein Redundanzvorgang
kann an der Adresse (00) mittels Durchtrennen der Hauptsicherung
MF, der Steuersicherung F1 und der Programmiersicherung FU2 ausgeführt werden,
wenn das Redundanzfreigabesignal RENi für die Adresse (00) aktiviert wird,
z.B. wenn die Adresse (00) im Normalbetrieb eines Halbleiterbauelements,
wie eines Halbleiterspeicherbauelements, angelegt wird, wodurch
ein Debugging- oder Korrekturvorgang für das Halbleiterbauelement
ausgeführt
wird.
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Alternativ
kann in einem weiteren Beispiel das Redundanzfreigabesignal RENi
mit einem Signalbit DA01<1> der Decodieradresse
korrespondieren, z.B. mit der Adresse (01). Ein Signalbit DA01<1> der Decodieradresse
kann mit der Adresse (01) korrespondieren und die Hauptsiche rung
MF und die Programmiersicherung FU2 können durchgetrennt werden.
In einem weiteren alternativen Beispiel kann das Redundanzfreigabesignal
RENi mit dem Signalbit DA01<2> der Decodieradresse
korrespondieren, z.B. mit der Adresse (10). Das Signalbit DA01<2> der Decodieradresse
kann mit der Adresse (10) korrespondieren und die Hauptsicherung
MF und die Programmiersicherung FU1 können durchgetrennt werden.
In einer weiteren alternativen Ausgestaltung kann das Redundanzfreigabesignal
RENi mit dem Signalbit DA01<3> der Decodieradresse
korrespondieren, z.B. mit der Adresse (11). Das Signalbit DA01<3> der Decodieradresse
kann mit der Adresse (11) korrespondieren und die Hauptsicherung
MF, die Steuersicherung F1 und die Programmiersicherung FU1 können durchgetrennt
werden.
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In
einer weiteren Ausgestaltung der 8 kann eine
Adresse (00) eine Adresse einer defekten Speicherzelle anzeigen
und während
eines Normalbetriebs des Halbleiterbauelements angelegt werden.
Signalbits DA01<0>, DA01<1>, DA01<2>, DA01<3> einer Decodieradresse
können
jeweils mit (00, 01, 10, 11) korrespondieren. Das Betriebsfreigabesignal
ENB kann mit dem zweiten logischen Pegel erzeugt werden und ein
Steuersignalpaar A, /A kann so erzeugt werden, dass das Steuersignal
A auf dem ersten logischen Pegel und das Steuersignal /A auf dem
zweiten logischen Pegel liegen.
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Der
Betriebsfreigabetransistor 450 kann sperrend geschaltet
werden, Transistoren M1 und M4 des Multiplexers 420 können leitend
geschaltet werden und die Programmiersicherung FU1 kann nicht durchtrennt
sein. Dadurch kann das Redundanzfreigabesignal RENi auf dem ersten
logischen Pegel an den Programmierausgabeanschluss FO1 ausgegeben
werden. Das empfangene Redundanzfreigabesignal RENi kann mit einem
Signalbit DA01<0> der Decodieradresse
korrespondieren, beispielsweise mit der Adresse (00). Ein Redundanzvorgang
kann erforderlich sein, um ein Debugging eines Halbleiterbauelements
mittels Durch trennen der Hauptsicherung MF, der Steuersicherung
F1 und der Programmiersicherung FU1 durchzuführen, wenn z.B. eine Adresse
(00) einer defekten Speicherzelle während des Betriebs eines Halbleiterbauelements angelegt
wird.
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In
einer weiteren Ausgestaltung der 8 kann eine
Adresse einer defekten Speicherzelle die Adresse (01) sein. In diesem
Beispiel kann ein Redundanzvorgang die Hauptsicherung MF und die
Programmiersicherung FU2 durchtrennen, um ein Debugging des Halbleiterbauelements
durchzuführen.
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In
einer weiteren Ausgestaltung der 8 kann eine
Adresse einer defekten Speicherzelle die Adresse (10) sein. In diesem
Beispiel kann ein Redundanzvorgang die Hauptsicherung MF und die
Programmiersicherung FU1 durchtrennen, um ein Debugging des Halbleiterbauelements
durchzuführen.
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In
einer weiteren Ausgestaltung der 8 kann eine
Adresse einer defekten Speicherzelle die Adresse (11) sein. In diesem
Beispiel kann ein Redundanzvorgang die Hauptsicherung MF, die Sicherung
F1 und die Programmiersicherung FU1 durchtrennen, um ein Debugging
des Halbleiterbauelements durchzuführen.
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In
einer weiteren Ausgestaltung der 8 kann ein
Redundanzprogrammiervorgang so ausgeführt werden, dass ein Multiplexvorgang
ausgeführt werden
kann, welcher Signalbits einer decodierten Zeilenadresse und/oder
einer decodierten Spaltenadresse steuert, wodurch die Anzahl von
verwendeten Sicherungen reduziert und die Zeitdauer eines Redundanzvorgangs
verkürzt
wird, verglichen z.B. mit einem herkömmlichen Redundanzvorgang.
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9 zeigt
ein Schaltbild der Redundanzprogrammierschaltung 700 aus 7 gemäß einer weiteren
Ausgestaltung der Erfindung. Im Gegensatz zur Ausführungsform
gemäß 8,
in welcher die Anzahl der Sicherungen gleich vier ist, d.h. eine Hauptsicherung
MF, eine Steuersicherung F1 und zwei Programmiersicherungen FU1,
FU2, wenn Signalbits der Decodieradresse 4 Bits umfassen, zeigt 9 eine
weitere Ausführungsform
der Erfindung, in welcher die Anzahl der Sicherungen reduziert werden
kann, wenn die Anzahl der Signalbits der Decodieradresse zunimmt.
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In
der Ausführungsform
gemäß 9 kann, wenn
die Anzahl der Signalbits der Decodieradresse auf 16 Bits ansteigt,
die Redundanzprogrammierschaltung 900 zwölf Sicherungen
umfassen, mit einer Hauptsicherung MF, drei Steuersicherungen und acht
Programmiersicherungen, z.B. FU1 bis FU8.
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10 ist
ein Schaltbild einer Redundanzprogrammierschaltung 1000 gemäß einer
weiteren Ausführungsform
der Erfindung. In der Ausführungsform
gemäß 10 kann
die Redundanzprogrammierschaltung 1000 den Hauptsicherungsteil 200 und
die Steuersicherungen 310, 312, 313, 314 und 315 umfassen, über welche
Signalbits DA01<0>, DA01<1>, DA01<2>, DA01<3> der Decodieradresse und
Signalbits DA56<0>, DA56<1>, DA56<2>, DA56<3> der Decodieradresse
gemultiplext und über
die Programmierausgabeanschlüsse
FO1 und FO3 ausgegeben werden können.
Signalbits DA234<0> bis DA234<7> der Decodieradresse
können
gemultiplext und über
den Programmierausgabeanschluss FO2 ausgegeben werden und Steuersignalpaare
B, /B, C, /C und D, /D können
an die Multiplexer angelegt werden. Logische Pegel, z.B. der erste
logische Pegel, der zweite logische Pegel usw., an den Anschlüssen FO1,
FO2 und FO3 können über das
UND-Gatter 500 gategesteuert werden. Das UND-Gatter 500 kann
das Redundanzfreigabesignal RENi ausgegeben.
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In
der Ausführungsform
gemäß 10 kann die
Redundanzprogrammierschaltung 1000 insgesamt zehn Sicherungen
umfassen, z.B. eine Hauptsicherung und neun Sicherungen.
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11 zeigt
im Blockdiagramm ein Halbleiterspeicherbauelement 1100 gemäß einer
weiteren Ausführungsform
der Erfindung. In der Ausführungsform
gemäß 11 kann
das Halbleiterbauelement 1100 im Wesentlichen ähnlich wie
das herkömmliche Halbleiterbauelement 107 gemäß 1 funktionieren.
Das Halbleiterbauelement 1100 gemäß 11 umfasst
jedoch ein Zeilenersatzschaltung 10a und eine Spaltenersatzschaltung 11a,
welche sich in der Funktionsweise verglichen mit der Zeilenersatzschaltung 10 und
Spaltenersatzschaltung 11 aus 1 unterscheiden.
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In
der Ausführungsform
gemäß 11 kann ein
Teil der Signalbits einer Decodieradresse des Zeilenvordecoders 6,
z.B. die Ausgabe des Zeilenvordecoders 6, zu einer Eingabeleitung
LI1 und dadurch zur Zeilenersatzschaltung 10a übertragen
werden. Ein Teil der Signalbits einer internen Adresse, welche vom
Zeileninternadressengenerator 4 ausgegeben wird, z.B. die
Eingabe des Zeilenvordecoders 6, kann zu einer Eingabeleitung
LI2 und dadurch zur Zeilenersatzschaltung 10a übertragen
werden.
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In
der Ausführungsform
gemäß 11 kann ein
Teil der Signalbits einer Decodieradresse des Spaltenvordecoders 7,
z.B. die Ausgabe des Spaltenvordecoders 7, zur Spaltenersatzschaltung 11a übertragen
werden. Ein Teil der Signalbits einer internen Adresse, welche vom
Spalteninternadressengenerator 5 ausgegeben wird, z.B.
die Eingabe des Spaltenvordecoders 7, kann von der Spaltenersatzschaltung 11a empfangen
werden.
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In
der Ausführungsform
gemäß 11 können Sicherungen
in einem 1:1-Verhältnis
bezüglich der
Decodieradressenbits angeordnet werden. Zudem können Sicherungen auch vor der
Decodierung korrespondierend mit dem Teil der Adressenbits angeordnet
sein.
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12 ist
ein Blockdiagramm eines Beispiels der Zeilen-/Spaltenersatzschaltung 10a/11a aus 11 gemäß der Erfindung. 13 ist
ein Schaltbild der Zeilen-/Spaltenersatzschaltung 10a/11a aus 12 gemäß der Erfindung.
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In
der Ausführungsform
gemäß den 12 und 13 kann
die Zeilen-/Spaltenersatzschaltung 10a/11a einen
Hauptsicherungsteil 90 zum Erzeugen der Betriebsfreigabesignale
EN und ENB umfassen. Die Zeilen-/Spaltenersatzschaltung 10a/11a wird nachfolgend
im Zusammenhang mit 14 detaillierter beschrieben.
Zudem kann die Zeilen-/Spaltenersatzschaltung 10a/11a einen
erste Sicherungsboxteile 92/94, zweite Sicherungsboxteile 100/110/120 und
einen Gatesteuerungsteil 130 umfassen.
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14 ist
ein Schaltbild des Hauptsicherungsteils 90 aus 12 gemäß der Erfindung.
Der Hauptsicherungsteil 90 umfasst einen PMOS-Transistor PM14 und
einen NMOS-Transistor NM14, welche mit der Hauptsicherung MF verbunden
sind. Die Transistoren PM14 und NM14 empfangen das komplementäre Einschaltsignal
VCCHB. Zudem umfasst der Hauptsicherungsteil 90 einen Inverterzwischenspeicher
L14, welcher Inverter IN141, IN142 umfasst. Außerdem umfasst der Hauptsicherungsteil 90 einen Ausgabeinverter
IN143.
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In
der Ausführungsform
gemäß den 12 und 13 umfassen
die ersten Sicherungsboxteile 92 und 94 Programmiersicherungen,
welche korrespondierend mit entsprechenden Decodiersignalbits DA01<0:3> und DA56<0:3> angeordnet sind. Die ersten
Sicherungsboxteile 92 und 94 können jeweils in Reaktion auf
die Betriebsfreigabesignale EN/ENB erste Sicherungsboxausgabesignale
FO01 und FO56 erzeugen.
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In
der Ausführungsform
gemäß den 12 und 13 umfassen
die zweiten Sicherungsboxteile 100, 110 und 120 Programmiersicherungen,
welche korrespondierend mit Signalbits einer internen Adresse IADD<2>, IADD<3> und IADD<4> angeordnet sind, die
erzeugt werden, bevor eine angelegte externe Adresse decodiert wird.
Die zweiten Sicherungsboxteile 100/110/120 können jeweils
in Reaktion auf die Betriebsfreigabesignale EN/ENB zweite Sicherungsboxausgabesignale
FO2, FO3 und FO4 erzeugen.
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In
der Ausführungsform
gemäß 12 verknüpft der
Gatesteuerungsteil 130, z.B. ein UND-Gatter, die ersten
und zweiten Sicherungsboxausgabesignale FO01, FO56, FO2, FO3 und
FO4 und erzeugt das Redundanzfreigabesignal RENi.
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In
der Ausführungsform
gemäß 13 umfasst
der erste Sicherungsgehäuseteil 92 NMOS-Transistoren
N1 bis N4, Programmiersicherungen F1 bis F4, welche mit Sourceanschlüssen der NMOS-Transistoren
N1 bis N4 verbunden sind, und einen Betriebsfreigabe-NMOS-Transistor
M1.
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In
der Ausführungsform
gemäß 13 umfasst
der erste Sicherungsboxteil 94 NMOS-Transistoren N5 bis
N8, Programmiersicherungen F5 bis F8, welche mit Sourceanschlüssen der
NMOS-Transistoren N5 bis N8 verbunden sind, und einen Betriebsfreigabe-NMOS-Transistor
M2.
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In
der Ausführungsform
gemäß 13 umfasst
der zweite Sicherungsboxteil 100 eine Programmiersicherung
F9, Inverter IN131/IN132 und NMOS-Transistoren N9 bis N16. Der zweite
Sicherungsboxteil 120 um fasst eine Programmiersicherung
F11, Inverter IN135/IN136 und NMOS-Transistoren N25 bis N32.
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In
der Ausführungsform
gemäß 13 umfasst
der Gatesteuerungsteil 130 NAND-Gatter NAN1/NAN2 und ein
NOR-Gatter NOR1.
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Nachfolgend
wird ein Beispiel eines Redundanzprogrammiervorgangs für den zweiten
Sicherungsboxteil 100 aus 13 beschrieben.
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Gemäß der beispielhaften
Funktionsweise aus 13 wird ein Knoten ND1 bei einem
anfänglichen
Einschaltvorgang auf dem zweiten logischen Pegel gehalten. Wenn
die Programmiersicherung F9 nicht durchtrennt ist, kann ein logischer
Pegel am Knoten ND1 auf den ersten logischen Pegel wechseln, z.B.
auf einen Versorgungsspannungspegel VDD, welcher über die
Sicherung F9 angelegt wird, auf eine externe Versorgungsspannung
usw. Die NMOS-Transistoren N10 und N12 können leitend geschaltet werden
und die NMOS-Transistoren N13 und N16 können sperrend geschaltet werden.
Ein Sourceanschluss des NMOS-Transistors
N12 kann mit einem Programmierausgabeanschluss FO2 verbunden sein.
Ein eingegebener logischer Zustand des Signalbits IADD<2> einer internen Adresse
kann über
den Transistor N10, den Transistor N12 und den Programmierausgabeanschluss
FO2 übertragen
und als Eingabe an das NAND-Gatter NAN2 angelegt werden.
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Alternativ
kann, wenn die Sicherung F9 durchtrennt ist, der eingegebene logische
Zustand des Signalbits IADD<2> unterbrochen werden,
z.B. kann der logische Pegel unabhängig vom logischen Pegel des
Signalbits IADD<2> der zweite logische Pegel
sein. Ein Signalpfad über
den Transistor N11, den Transistor N13 und den Programmierausgabeanschluss
FO2 kann aktiviert werden und das vom Inverter IN1 invertierte Signalbit
IADD<2> einer internen Adresse
kann als Eingabe an das NAND-Gatter NAN2 angelegt werden.
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In
der Ausführungsform
gemäß 13 kann die
Zeilen-/Spaltenersatzschaltung 10a/11a zwölf Sicherungen
umfassen.
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15 zeigt
ein Beispiel einer Sicherungsreduzierung gemäß der Ausführungsform aus 13. Im
Ausführungsbeispiel
gemäß 15 kann
die Zeilen-/Spaltenersatzschaltung 10a/11a elf
Sicherungen umfassen, ohne z.B. die Hauptsicherung MF zu zählen. Wie
oben ausgeführt
ist, kann die herkömmliche Zeilen-/Spaltenersatzschaltung 10/11 sechzehn
Sicherungen umfassen.
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In
der Ausführungsform
gemäß 15 können die
herkömmlichen
Zeilen-/Spaltenersatzschaltungen 10/11 jeweils
eine Fläche
S1 belegen und die Zeilen-/Spaltenersatzschaltungen 10a/11a können jeweils
eine Fläche
S2 auf dem Halbleiterchip belegen. Eine zusätzliche Fläche S3 zeigt eine Fläche an, welche
durch die Anordnung der Zeilen-/Spaltenersatzschaltungen 10a/11a anstatt
der herkömmlichen Zeilen-/Spaltenersatzschaltungen 10/11 eingespart werden
kann. Die zusätzliche
Fläche
S3 kann durch Entfernen der Sicherungen F12 bis F16 der Zeilen-/Spaltenersatzschaltung 10/11 bereitgestellt
werden. Die reduzierte Chipabmessung kann die Layoutfläche und/oder
den Reparaturzeitbedarf eines Halbleiterbauelements reduzieren,
z.B. des Halbleiterbauelements 1100.
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16 ist
ein Blockdiagramm einer weiteren Redundanzprogrammierschaltung 1600 gemäß der Erfindung.
Die Redundanzprogrammierschaltung 1600 zeigt ein Beispiel,
in welchem die decodierte Adresse 16 Bits umfasst.
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In
der Ausführungsform
gemäß 16 kann die
Redundanzprogrammierschaltung 1600 eine Anzahl von Sicherungen
umfassen, welche mit einer Anzahl von Bits in einer externen Adresse
oder einer internen Ad resse korrespondiert. Im Gegensatz dazu umfasst
die herkömmliche
Zeilen-/Spaltenersatzschaltung 10/11 von 1 für jedes
Signalbit der Decodieradresse eine Sicherung. In einem Beispiel kann
die herkömmliche
Zeilen-/Spaltenersatzschaltung 10/11 8 Sicherungen
umfassen, wenn eine interne Adresse 3 Bits und eine decodierte Adresse
oder Decodieradresse 8 Bits umfasst. Im Gegensatz dazu kann die
oben angegebene Redundanzprogrammierschaltung 1600 gemäß der Erfindung
3 Sicherungen umfassen.
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In
der Ausführungsform
gemäß 16 umfasst
die Redundanzprogrammierschaltung 1600 einen Hauptsicherungsteil 210,
eine Mehrzahl von Steuersicherungsteilen 311 bis 317,
einen Verknüpfungsteil 500,
einen ersten Decoder 411, einen zweiten Decoder 412 und
einen dritten Decoder 413.
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In
der Ausführungsform
gemäß 16 umfasst
der Hauptsicherungsteil 210 eine Hauptsicherung MF und
kann Betriebsfreigabesignale EN/ENB erzeugen, um einen Betriebszustand
der Hauptsicherung MF anzuzeigen, z.B. ob die Hauptsicherung MF
durchtrennt ist oder nicht durchtrennt ist.
-
17 ist
ein Schaltbild des Hauptsicherungsteils 210 aus 16 gemäß eines
Ausführungsbeispiels
der Erfindung. In der Ausführungsform
gemäß 17 umfasst
der Hauptsicherungsteil 210 einen PMOS-Transistor PM17, NMOS-Transistoren NM171/NM172
und einen Inverter INV17. Wenn das komplementäre Einschaltsignal VCCHB mit
einem ersten logischen Pegel angelegt wird und die Hauptsicherung
MF durchtrennt ist, kann der NMOS-Transistor NM171 leitend geschaltet
werden. Ein Betriebsfreigabesignal ENB des Inverters INV17 kann
auf den ersten logischen Pegel wechseln und ein Betriebsfreigabesignal
EN kann auf den zweiten logischen Pegel wechseln. Wenn das komplementäre Einschaltsignal
VCCHB auf den zweiten Pegel wechselt, kann der NMOS- Transistor NM171
sperrend geschaltet werden und die Ausgabe EN kann auf dem zweiten
logischen Pegel gehalten werden, z.B. durch einen Übergang
des NMOS-Transistors NM172 auf den ersten logischen Pegel. Dadurch können das
komplementäre
Einschaltsignal VCCHB und das Betriebsfreigabesignal EN auf dem
zweiten logischen Pegel gehalten werden.
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Bei
der Ausführungsform
gemäß 16 können Steuersicherungsteile 311 bis 317 basierend auf
einem Betriebsfreigabesignal, z.B. EN, ENB usw., des Hauptsicherungsteils 210 gesteuert
werden und eine Mehrzahl von Steuersicherungen AF umfassen, welche
basierend auf Informationen über Speicherzellendefekte
erste bis M-te Steuersignalpaare als Statussignale erzeugen können, welche
einen Betriebszustand bezüglich
der Durchtrennung der Steuersicherungen anzeigen, z.B. ob eine gegebene
Steuersicherung durchtrennt ist oder nicht durchtrennt ist, wobei
M z.B. eine natürliche
Zahl größer oder
gleich 2 ist. In einem Beispiel kann eine gegebene Anzahl von Steuersicherungen
AF mit der Bitanzahl eines Adressensignals korrespondieren, z.B. einem
internen Adressensignal, einem externen Adressensignal usw.
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18 ist
ein Schaltbild des Steuersicherungsteils 311 aus 16 gemäß eines
Ausführungsbeispiels
der Erfindung. In der Ausführungsform
gemäß 18 kann,
wenn das komplementäre Einschaltsignal
VCCHB mit dem ersten logischen Pegel angelegt wird und die Steuersicherung
AF durchtrennt ist, ein NMOS-Transistor NM181 leitend geschaltet
werden. Ein Ausgabesignal Ai eines Inverters INV18 kann auf den
ersten logischen Pegel wechseln und ein Ausgabesignal AiB von einem Durchlassgatter
PG1 kann auf den zweiten logischen Pegel wechseln. Wenn das komplementäre Einschaltsignal
VCCHB auf den zweiten Pegel wechselt, kann der NMOS-Transistor NM181
sperrend geschaltet werden und ein Knoten NO2 kann auf dem zweiten
logischen Pegel gehalten werden, z.B. basierend auf einem Einschaltübergang
eines NMOS- Transistors
NM182. Dadurch können
das komplementäre
Einschaltsignal VCCHB und das Steuersignal AiB auf dem zweiten logischen
Pegel gehalten werden und das Steuersignal Ai kann auf dem ersten
logischen Pegel gehalten werden.
-
19 ist
ein Schaltbild des ersten, zweiten und dritten Decoders 411/412/413 und
des Verknüpfungsteils 500 aus 16 gemäß einem
weiteren Ausführungsbeispiel
der Erfindung. In der Ausführungsform
gemäß 19 können der
erste, zweite und dritte Decoder 411/412/413,
welche z.B. jeweils einen NMOS-Transistor umfassen, jeweils ein
gegebenes Bit von Decodieradressensignalbits, welche jeweils in
Einheiten von 2m Bits angelegt werden, mit einem vorgegebenen logischen
Pegel, z.B. dem ersten logischen Pegel, dem zweiten logischen Pegel usw.,
an die Programmierausgabeanschlüsse
FO1, FO2, FO3 in Reaktion auf verknüpfte logische Eingaben von
korrespondierenden Steuersignalpaaren unter den ersten bis M-ten
Steuersignalpaaren ausgeben.
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In
der Ausführungsform
gemäß 19 umfasst
der erste Decoder 411 Einheitsdecoder DA01<0> bis DA01<3>, welche eine Redundanzdecodierung
einer Decodieradresse mit 4 Bit ausführen können. Jeder der Einheitsdecoder
umfasst NMOS-Transistoren, z.B. NMOS-Transistoren N1 und N2 in DA01<0> usw., deren Kanäle in Reihe
geschaltet sein können
und von einer verknüpften
logischen Eingabe gesteuert werden können, z.B. von einer kombinatorischen
logischen Eingabe, mit 2 Bit.
-
In
der Ausführungsform
gemäß 19 umfasst
der zweite Decoder 412 Einheitsdecoder DA234<0> bis DA234<7>, welche eine Redundanzdecodierung
einer Decodieradresse mit 8 Bit ausführen können. Jeder der Einheitsdecoder
umfasst NMOS-Transistoren, z.B. NMOS-Transistoren N1, N2 und N3
in DA234<0> usw., deren Kanäle in Reihe geschaltet
sein können
und von einer verknüpften
logischen Eingabe gesteuert werden können, z.B. von einer kombinatorischen
logischen Eingabe, mit 3 Bit.
-
In
der Ausführungsform
gemäß 19 kann der
dritte Decoder 413 ähnlich
wie der oben beschriebene erste Decoder 411 aufgebaut sein
und ebenso funktionieren.
-
In
der Ausführungsform
gemäß 19 kann der
Verknüpfungsteil 500 das
UND-Gatter 500 sein, welches eine UND-Verknüpfung mit
Signalen durchführt,
welche von den Programmierausgabeanschlüssen FO1/FO2/FO3 empfangen
werden, und das Redundanzfreigabesignal RENi ausgeben kann. Bei
anderen Ausführungsbeispielen
kann der Verknüpfungsteil 500 andere
Verknüpfungslogikstrukturen
umfassen, z.B. ein UND-Gatter, ein NOR-Gatter, ein NAND-Gatter usw.
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In
der Ausführungsform
gemäß 19 umfassen
der erste/zweite/dritte Decoder 411/412/413 eventuell
keine Sicherungen. Zudem können
die ersten bis M-ten Steuersignalpaare, welche durch die Informationen über defekte
Speicherzellen erzeugt werden, eventuell nur eine Sicherung je Adressenbit umfassen,
z.B. eines internen Adressenbits, eines externen Adressenbits usw.
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Ein
Beispiel der Funktionsweise wird nun unter Bezugnahme auf 19 beschrieben.
Im folgenden Beispiel wird vorausgesetzt, dass eine interne oder
externe Adresse 7 Bits umfassen kann und eine Redundanzfreigabeadresse
Bits (A6, A5, A4, A3, A2, A1, A0) umfasst, welche jeweils mit der
Adresse (1111100) korrespondieren. Bei der beispielhaften Funktionsweise
gemäß 19 können andere
Steuersicherungen als die Steuersicherungen, welche mit den Adressenbits
A0 und A1 korrespondieren, z.B. die Hauptsicherung MF und die Steuersicherungen 311 bis 312,
durchtrennt werden. Signale A0B und A1B können durch den ersten Decoder 411 auf
den ersten logischen Pegel gesetzt werden. Ad ressenbits A2, A3 und
A4 können
auf den ersten logischen Pegel gesetzt und vom zweiten Decoder 412 empfangen
werden. Adressenbits A5 und A6 können
auf den ersten logischen Pegel gesetzt und vom dritten Decoder 413 empfangen
werden. Die Adresse (1111100) kann von einer/einem externen Quelle/Gerät empfangen
und in einem Adressendecoder decodiert werden, um die decodierte
Adressen DA01<0:3>, DA234<0:7> und DA56<0:3> zu erzeugen. Die erzeugten
Decodieradressensignale können
als DA01<0:3> mit dem ersten logischen
Pegel, z.B. einem höheren
logischen Pegel, am ersten Decoder 411, als DA234<0:7> mit dem ersten logischen
Pegel, z.B. einem höheren
logischen Pegel, am zweiten Decoder 412, als DA56<0:3> mit dem ersten logischen
Pegel, z.B. einem höheren
logischen Pegel, am dritten Decoder 413 empfangen werden.
Alle verbleibenden Decodieradressen können auf einem zweiten logischen
Pegel sein, z.B. einem niedrigeren logischen Pegel.
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Bei
dem oben beschriebenen beispielhaften Verfahren gemäß 19 kann
der Einheitsdecoder des ersten Decoders 411, welcher mit
der Decodieradresse DA01<0> korrespondiert und
z.B. NMOS-Transistoren N1 und N2 umfasst, in Reaktion auf die korrespondierenden
verknüpften
Logikpegel, z.B. A0B und A1B, leitend geschaltet oder aktiviert werden
und der aktivierte erste logische Pegel der Adresse DRA01<0> kann zum Programmierausgabeanschluss
FO1 übertragen
werden. Im zweiten Decoder 412 kann der Einheitsdecoder,
welcher mit der Decodieradresse DA234<7> korrespondiert
und z.B. NMOS-Transistoren N70/N71/N72 umfasst, in Reaktion auf
die korrespondierenden verknüpften Logikpegel,
z.B. A2, A3 und A4, leitend geschaltet oder aktiviert werden und
der aktivierte erste logische Pegel der Adresse DRA234<7> kann vom Programmierausgabeanschluss
FO2 empfangen werden. Im dritten Decoder 413 kann der Einheitsdecoder,
welcher mit der Decodieradresse DA56<3> korrespondiert
und z.B. NMOS-Transistoren
N30 und N31 umfasst, in Reaktion auf die korrespondie renden verknüpften Logikpegel,
z.B. A5 und A6, leitend geschaltet oder aktiviert werden und der
aktivierte erste logische Pegel der Adresse DRA56<0> kann zum Programmierausgabeanschluss
FO3 übertragen
werden.
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Bei
dem oben beschriebenen Verfahren gemäß 19 kann
jede der Ausgaben FO1, FO2 und FO3 auf den ersten Logikpegel wechseln.
Die Ausgabesignale der Decoder 411/412/413 können vom Verknüpfungsteil 500 empfangen
werden. Der Verknüpfungsteil 500 kann
z.B. eine UND-Verknüpfung mit
den empfangenen Signalen durchführen,
um ein Redundanzfreigabesignal RENi mit dem ersten logischen Pegel
zu erzeugen.
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In
der Ausführungsform
gemäß 19 kann ein
Redundanzvorgang mittels Durchtrennen einer Hauptsicherung MF und
anderer Steuersicherungen als die mit den defekten Adressensignalbits
assoziierten Sicherungen ausgeführt
werden. Das Redundanzfreigabesignal RENi kann leitend geschaltet oder
aktiviert werden, wenn eine defekte Adresse während eines Normalbetriebs
eines Halbleiterspeicherbauelements, z.B. des Halbleiterbauelements 1100,
angelegt wird, wodurch ein Debugging, z.B. ein Korrekturvorgang,
mit dem Halbleiterbauelement ausgeführt wird.
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Bei
einer anderen Ausführungsform
der Erfindung kann anstatt eines 1:1-Verhältnisses zwischen Sicherungen
und Signalbits einer Decodierzeilenadresse oder Decodierspaltenadresse
ein Redundanzvorgang unter Verwendung einer Verknüpfungslogik
ausgeführt
werden. Hierbei kann das Redundanzfreigabesignal mit einer höheren Geschwindigkeit
erzeugt werden. Zudem kann eine gegebene Anzahl von erforderlichen
Sicherungen reduziert werden. Außerdem kann eine Zeitdauer
für den
Redundanzvorgang reduziert werden, da beispielsweise eine Zeitspan ne
zur Durchtrennung gegebener Sicherungen während des Redundanzvorgangs
reduziert werden kann.
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Bei
einer weiteren Ausführungsform
der Erfindung kann die Anzahl von Sicherungen, welche für einen
Redundanzvorgang verwendet werden, reduziert werden, wodurch eine
Chipfläche
für ein
Halbleiterbauelement reduziert werden kann, so dass eine Reparaturzeitspanne
für das
Halbleiterbauelement reduziert werden kann.
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Die
bisher beschriebenen Ausführungsformen
der Erfindung können
auf verschiedene Weise variiert werden. Während oben beschriebene logische
Pegel beispielsweise entweder auf den ersten oder zweiten logischen
Pegel wechseln, versteht es sich, dass der erste oder zweite logische
Pegel auf oder vom ersten oder zweiten logischen Pegel wechseln
kann. In anderen Worten ausgedrückt,
ein Übergang
bedeutet nicht notwendigerweise, dass ein vorheriger logischer Pegel
sich von dem logischen Pegel unterscheidet, auf welchen übergegangen
wird.
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Zudem
versteht es sich, dass die oben beschriebenen ersten und zweiten
logischen Pegel/Zustände
in einer Ausführungsform
der Erfindung mit einem höheren
Pegel, z.B. einer logischen „1", bzw. einem niedrigeren
logischen Pegel, z.B. einer logischen „0", korrespondieren können. Alternativ können die
ersten und zweiten logischen Pegel/Zustände in anderen Ausführungsformen
der Erfindung jeweils mit dem niedrigeren logischen Pegel und dem höheren logischen
Pegel korrespondieren.
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Während die
oben beschriebenen beispielhaften Schaltungen, z.B. die Zeilen-/Spaltenersatzschaltungen 10a/11a usw.,
eine gegebene Anzahl von Sicherungen umfassen, können des Weiteren andere Ausführungsformen
der Erfindung eine beliebige Anzahl von Sicherungen umfassen, z.B.
basierend auf einer internen/externen, decodierten/uncodierten Adressenlänge.
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Während das
UND-Gatter bzw. der Verknüpfungsteil 500 oben
als UND-Gatter dargestellt
und beschrieben ist, können
andere Ausführungsformen der
Erfindung andere Arten von Verknüpfungslogik umfassen,
z.B. ein NOR-Gatter, ein NAND-Gatter usw.