CN104205786A - 具有测试托盘的测试系统 - Google Patents

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Abstract

本发明公开了一种测试系统，其中待测装置被加载到测试托盘中并且在多个测试工位处进行测试。要在给定测试工位处对待测装置进行测试，可将测试托盘安装到测试工位处的测试固定装置中。每个测试工位处的测试设备可经由测试固定装置和测试托盘与待测装置通信。每个测试托盘可具有可用于将所述待测装置固定至测试托盘的弹簧加载拐角部分。测试托盘可具有与每个测试固定装置处的对应触点配合的触点，并且可具有连接至待测装置的内置缆线。测试固定装置可具有可检测在测试固定装置上是否存在测试托盘的检测器。

Description

具有测试托盘的测试系统
本申请要求2012年5月15日提交的美国专利申请No.13/472,399以及2012年2月6日提交的美国临时专利申请No.61/595,572的优先权，这些专利申请据此以引用的方式全文并入本文。
背景技术
本发明整体涉及测试系统，且更具体地讲，涉及将测试托盘用作测试设备与待测装置之间的界面的测试系统。
通常在组装之后对电子装置进行测试以确保装置性能符合设计规格。例如，可在一系列测试工位处对装置进行测试以确保装置中的部件及软件正令人满意地工作。在每个测试工位处，操作人员可使用缆线将装置耦合至测试设备。在所有测试工位处的测试均成功之后，可将装置运送至最终用户。
附接及拆卸测试缆线连接器的过程可缩减测试缆线连接器的寿命，并且对于测试系统操作人员而言，可能是麻烦且繁重的。如果不小心，则测试可能不太准确并消耗比所需时间更多的时间。另外，测试系统操作人员与待测装置之间的过度接触可能增大待测装置外观损坏的风险。
因此将期望能够提供执行制造操作(诸如对电子装置进行测试操作)的改进方式。
发明内容
可提供一种测试系统，其中待测装置被安装在测试托盘中并且在多个测试工位处进行测试。要在给定测试工位处对待测装置进行测试，可将测试托盘安装在测试工位处的测试固定装置中。每个测试工位处的测试设备可经由测试托盘与待测装置通信。
每个测试托盘可具有相对于托盘的中心部分移动的活动拐角部分。可使用一个或多个弹簧加载构件来将活动拐角部分朝着托盘的中心部分偏置。当需要将待测装置安装在测试托盘中时，可使测试托盘上的杆件致动以将拐角部分移动远离托盘的中心部分。在将待测装置放置到测试托盘的中心部分上之后，可释放杆件以允许拐角部分返回至其平衡位置，从而将待测装置固定至测试托盘。
测试托盘可具有测试托盘触点，所述测试托盘触点可用于将测试托盘中的待测装置电耦合至测试工位处的测试固定装置。测试固定装置可具有与测试托盘上的触点配合的对应的测试固定装置触点。
测试托盘可具有一条或多条缆线。缆线可嵌入在测试托盘中的凹槽中。测试托盘缆线可具有被配置为与待测装置中的输入输出端口配合的第一端以及电耦合至测试托盘触点的第二端。当测试托盘安装在测试固定装置中时，缆线可用于在测试固定装置与待测装置之间传送信号。
测试托盘可具有用于相对于测试托盘的旋转轴线平衡测试托盘的重量的重量平衡特征，诸如孔。当待测装置被安装在托盘中时，重量平衡特征可用于将托盘的质量中心与待测装置的质量中心对齐。
测试固定装置可具有当测试托盘安装于测试固定装置中时与对应接合特征接合的接合特征，诸如一个或多个弹簧加载构件。
测试固定装置可具有被配置为检测在测试固定装置上是否存在测试托盘的一个或多个检测器。
测试固定装置可具有可用于对待测装置中的一个或多个电气部件进行测试的测试设备。测试托盘可具有一个或多个开口以允许测试设备与正接受测试的电气部件通信。
在将待测装置安装进测试托盘中之后，可将测试托盘缆线连接至待测装置。然后可通过将测试托盘触点与测试固定装置触点配合来将测试托盘安装在测试工位处的测试固定装置中。在将测试托盘安装在测试固定装置中之后，可在测试固定装置处对待测装置进行测试。可在另外的测试工位处对待测装置进行测试，而不需要将待测装置从测试托盘中移除或将测试托盘缆线从待测装置拆卸的步骤。可通过将测试托盘安装进与每个另外的测试工位相关联的测试固定装置中，来在另外的测试工位处对待测装置进行测试。
根据附图以及以下对优选实施例的详细描述，本发明的其他特征、本发明的本质以及各种优点将更加显而易见。
附图说明
图1为根据本发明实施例的可使用测试托盘来制造的示例性电子装置的示意图，该示例性电子装置诸如平板电脑。
图2为根据本发明实施例的示例性电子装置的透视图，该示例性电子装置诸如可使用测试托盘来制造的类型的手持装置。
图3为根据本发明实施例的制造设备的图示，该制造设备为可用于制造电子装置的类型。
图4为根据本发明实施例的示出可如何将待测装置安装在被配置为接收在测试工位测试固定装置内的测试托盘中的图示。
图5为根据本发明实施例的测试托盘的前透视图。
图6为根据本发明实施例的测试托盘的后透视图。
图7为根据本发明实施例的被配置为接收测试托盘的示例性测试工位测试固定装置的顶部透视图。
图8为根据本发明实施例的示例性测试工位测试固定装置的横截面侧视图。
图9为根据本发明实施例的待测装置已安装于其中的测试托盘的透视图。
图10为根据本发明实施例的位于测试托盘中的待测装置的横截面侧视图，该测试托盘已安装在配对测试工位测试固定装置中。
图11为根据本发明实施例的位于测试托盘中的呈倒置配置的待测装置的横截面侧视图。
图12为根据本发明实施例的位于测试托盘中的呈正面朝上配置的待测装置的横截面侧视图。
图13为根据本发明实施例的位于测试托盘中的待测装置的横截面侧视图，该测试托盘具有用于适应测试的开口。
图14为根据本发明实施例的待测装置以及具有存在检测机构的相关测试工位测试固定装置的分解透视图。
图15为根据本发明实施例的具有配对接合特征的测试工位测试固定装置和测试托盘的横截面侧视图。
图16为根据本发明实施例的示例性自动化测试托盘加载机的透视图，该示例性自动化测试托盘加载机可用于辅助操作人员将待测装置加载进测试托盘中。
具体实施方式
可使用自动化制造设备来制造电子装置，诸如图1的电子装置10。自动化制造设备可包括用于将装置部件组装在一起以形成电子装置的设备。自动化制造设备还可包括用于评估装置是否已正确组装并且正在正确地发挥作用的测试系统。
还可以使用自动化制造系统及相关测试装置来组装和测试诸如图1的装置10的装置。该制造系统可包括一个或多个工位，诸如用于执行测试操作的一个或多个测试工位。
正在测试系统中接受测试的装置有时可称为待测装置。可使用输送带、使用机器人臂和/或使用其他加载设备来将待测装置提供至测试工位。如有需要，可由测试系统操作人员在测试工位之间传送待测装置。
每个测试工位处的测试设备可用于对装置执行相关测试。例如，一个测试工位可具有用于对装置中的显示器进行测试的设备。另一个测试工位可具有用于对装置中的音频部件进行测试的设备。又一个测试工位可具有用于对装置中的光传感器进行测试的设备。又一个测试工位可具有用于对装置中的无线通信电路进行测试的设备。测试系统中的自动化设备可用于加载及卸载待测装置、用于在测试工位之间传送待测装置，以及用于执行测试并维护测试结果的数据库。
可使用测试设备对任何合适的装置进行测试。例如，可对图1的装置10进行测试。装置10可为具有集成计算机的计算机监视器、台式计算机、电视机、笔记本计算机、其他便携式电子设备(诸如蜂窝电话、平板电脑、媒体播放器、手表式装置、挂件装置、耳机装置、其他紧凑型便携式装置)或其他电子设备。在图1所示的配置中，装置10为手持式电子装置，诸如蜂窝电话、媒体播放器、导航系统装置或游戏装置。
如图1中所示，装置10可包括外壳，诸如外壳12。外壳12(有时可称为壳体)可由塑料、玻璃、陶瓷、纤维复合材料、金属(如，不锈钢、铝等)、其他合适的材料或这些材料的组合形成。在一些情况下，外壳12的部分可由电介质或其他低导电率材料形成。在其他情况下，外壳12或构成外壳12的结构中的至少一些可由金属元件形成。
如果需要，装置10可具有显示器，例如显示器14。显示器14可为组装了电容式触摸电极或可能对触摸不敏感的触摸屏。显示器14可包括通过发光二极管(LED)、有机LED(OLED)、等离子单元、电泳显示元件、电湿润显示元件、液晶显示器(LCD)部件或其他合适的图像像素结构形成的图像像素。显示器14的表面可覆盖盖玻层。如有需要，可将用于诸如按钮20的按钮的开口、用于诸如扬声器端口22的扬声器端口的开口以及其他开口形成在显示器14的封盖层中。
显示器14的中心部分(如，活动区域16)可包括活动图像像素结构。周围的矩形环状不活动区域(区域18)可能缺乏活动图像像素结构。如有需要，可以使不活动区域18的宽度最小化(如，以产生无边界显示器)。
装置10可包括诸如正面相机24的部件。相机24可取向为在装置10的操作期间获取用户的图像。装置10在不活动区域18的部分26中可包括传感器。这些传感器可包括，例如，基于红外线的接近传感器，其包括红外线发射器和对应的光检测器以发射和检测来自附近物体的反射光。部分26中的传感器还可包括用于检测在装置10的周围环境中的光量的环境光传感器。如有需要，可在装置10中使用其他类型的传感器。图1的例子仅是示例性的。
装置10可包括输入输出端口，诸如端口28。诸如端口28的端口可包括音频输入输出端口、模拟输入输出端口、数字数据输入输出端口或其他端口。每个端口可具有相关的连接器。例如，音频端口可具有相关的四触点音频连接器，数字数据端口可具有带两个或更多个引脚(触点)的连接器、带四个或更多个引脚的连接器、带三十个引脚的连接器或其他合适的数据端口连接器。
传感器(诸如与图1的区域26相关联的传感器)、相机(诸如相机24)、音频端口(诸如扬声器端口22)、按钮(诸如按钮20)以及端口(诸如端口28)可位于设备外壳12的任何合适部分(如，前外壳面诸如显示器盖玻部分，后外壳面诸如后平坦外壳壁，侧壁结构，等等)上。
图2为呈示例性配置的装置10的透视图，其中装置10为平板电脑。如图2中所示，装置10可包括外壳，诸如外壳12。外壳12可由金属、塑料、基于纤维的复合材料、玻璃、陶瓷、其他材料或者这些材料的组合形成。装置10可具有覆盖有显示器14的上(前)表面。显示器14的活动部分16可具有(例如)矩形形状。显示器14的不活动部分18可具有用于容纳按钮20的开口、相机24的窗口区域以及诸如部分26的与一个或多个光学传感器(诸如基于红外线的接近传感器和/或环境光传感器)相关联的部分。
图3为示例性系统的图示，该示例性系统为可用于诸如装置测试的制造操作的类型。如图3中所示，系统30可包括一个或多个工位，诸如测试工位36。通常，测试系统30可包括自动化设备，该自动化设备用于加载及卸载待测装置、用于在测试工位之间传送待测装置，以及用于执行测试并维护测试结果的数据库。
每个测试工位36可例如包括用于对待测装置10执行一个或多个测试的测试设备45，并因此可有时称为装置测试仪或DUT测试仪。例如，第一类测试工位36可具有用于对待测装置10中的显示器进行测试的设备。第二类测试工位36可具有用于对待测装置10中的音频部件进行测试的设备。另一类测试工位36可具有用于对待测装置10中的光传感器进行测试的设备。另一类测试工位36可具有用于对待测装置10中的无线通信电路进行测试的设备。如有需要，测试系统30可包括沿着输送带38布置的不止一个相同类型的测试工位，使得可并行地测试多个待测装置10。
如有需要，待测装置10可安装在测试托盘诸如托盘32中。托盘32可被配置为接收一个或多个待测装置。例如，托盘32可具有多个狭槽，每个狭槽被配置为接收对应的待测装置。如有需要，托盘32可被配置为接收仅单个待测装置。
可手动地或使用自动化设备将装置10安装在测试托盘32中。为了方便手动安装，测试托盘32可包括方便人工操纵的特征。例如，测试托盘32可包括有助于操作人员打开和关闭钳夹或测试托盘32中的其他装置保持特征的特征。
如有需要，可使用诸如输送带38的输送带(如，在方向40上移动的皮带)来在测试工位36之间传送已安装在测试托盘32中的待测装置10。每个测试工位36可具有诸如加载机47的加载机构(如，具有一个或多个由计算机控制的定位臂的机器人加载机)和/或可具有相关的测试系统操作人员。测试系统操作人员和/或加载机47可将测试托盘32在输送带38与测试工位36之间传输。例如，测试系统操作人员和/或加载机47可从输送机38上拾取测试托盘32(如，加载有装置10的测试托盘)(箭头50)，可将测试托盘提供至该测试工位处的测试仪45以执行对装置10的所需测试，并且可在测试之后将测试托盘返回至输送机38(箭头52)。如有需要，还可将测试托盘32从一个测试工位直接传输至另一个测试工位。
测试托盘32可允许测试系统操作人员在不必与待测装置10进行物理接触的情况下处理待测装置10。测试托盘32既可用作待测装置10与测试系统操作人员之间的界面，又可用作待测装置10与测试工位之间的界面。测试托盘32可例如比待测装置10更稳固，可具有被配置为与测试工位36处的测试工位测试固定装置配合的接合特征，可具有便于跟踪的识别编号，并且可具有促进由测试工位36对待测装置10进行测试的其他特征。
测试工位36可将测试结果提供至计算设备诸如测试主机42(如，一个或多个已联网计算机)以供处理。测试主机42可维护测试结果的数据库，可用于向测试工位36发送测试命令，可在托盘和待测装置通过系统30时跟踪各个托盘和待测装置，并且可执行其他控制操作。
图4为示出可如何将待测装置10接收在测试托盘32内并示出可如何将测试托盘32接收在测试固定装置34的导向结构50内的图示。如图4中所示，测试托盘32(有时称为待测装置接收结构、待测装置固定器或装置到测试固定装置界面结构)可具有待测装置10安置在其上的基座，诸如基座48。侧壁46可被配置为围绕待测装置10的一些或所有侧面，并且可包含装置定位特征，诸如正切表面和凹口。侧壁结构46的一部分(诸如侧壁结构46的拐角部分44)可相对于托盘32的中心部分(如，在待测装置10安装于托盘32中时，相对于待测装置10)移动。在将待测装置10安装进由侧壁46和基座48形成的凹陷部期间，可将部分44移动远离侧壁46以允许待测装置10被插入到凹陷部中。在将待测装置插入到托盘32的凹陷部分中之后，部分44可朝着待测装置10向后移动以将待测装置10保持在托盘32内。
测试固定装置34可具有支撑结构(诸如基座52)，导向结构50附接至该支撑结构。导向结构50可被配置为接收测试托盘32的侧壁46的外部部分。导向结构50和/或托盘32上的接合特征可有助于在测试期间将托盘32保持在测试固定装置34内的适当位置。
图5为测试托盘32的前透视图。如图5的示例性配置所示，测试托盘32可具有弹簧加载拐角部分44。为了将待测装置10加载到测试托盘32中，可将拐角部分44和相关的杆58沿方向59移动。可使用弹簧或使用其他类型的弹簧加载构件来使拐角部分44向内(如，朝着测试托盘32的中心部分)偏置。在已将待测装置10加载到测试托盘32中之后，可释放拐角部分44。与拐角部分44相关联的弹簧可使拐角部分44沿方向56向内偏置，以将待测装置10保持在测试托盘32内。
测试托盘32可具有接合特征，诸如侧壁46中的凹陷部60。凹陷部60(有时称为开口、狭槽或凹槽)可被配置为与测试固定装置34的导向结构50上的对应的接合特征(诸如图4的特征51)配合。
图6为测试托盘32的后透视图。如图6中所示，基座48可具有诸如开口64的开口，操作人员可穿过该开口操作诸如致动构件，致动构件66。在图6的例子中，致动构件66已以杆件的形式实现。当操作人员需要将待测装置10加载到托盘32的前部中(或从托盘32的前部卸载待测装置10)时，操作人员的手指可放置在指孔68中且操作人员的拇指可放置在杆件66上，以沿方向70拉动杆件66。杆件可围绕枢转点72枢转(向内)，从而沿方向59向外挤压弹簧加载杆58及侧壁46的拐角部分44。如有需要，可使用其他类型的致动构件来控制拐角部分44(如，可使用一个或多个按钮、开关和/或其他类型的致动器来控制拐角部分44)。
如有需要，可使用自动化加载机来辅助操作人员打开和闭合拐角部分44。自动化加载机可包含拉动杆件66的由计算机控制的致动器。
托盘32可具有孔，诸如孔74，以便在测试期间促进对待测装置10的测试测量。例如，诸如孔74的开口可用于允许来自测试光源的光到达待测装置10的区域26中的环境光传感器(图2)(如，当待测装置10已面朝下地加载到测试托盘32中时)。诸如孔74的开口还可用于允许装置10中的磁性传感器接受测试(如，通过允许将磁体放置为邻近装置10中的磁性传感器)。
托盘32可具有诸如孔76的重量平衡特征，以有助于确保托盘32相对于旋转轴线78以旋转的方式保持重量平衡。托盘32内的质量(重量)旋转平衡可促进使用系统30中的定位设备(诸如测试工位36中的加载机47和/或加载臂)对测试托盘32进行定位，并且可允许装置10旋转以供测试(如，用于测试诸如加速度计的运动传感器)。可对平衡孔76进行配置，使得托盘32的质量中心与待测装置10的质量中心对齐。
可能期望在系统30中使用测试托盘期间将其堆叠。可将堆叠特征(诸如堆叠特征80)形成在侧壁46的部分上，使得诸如托盘32的多个托盘可堆叠在彼此之上。在堆叠时，诸如侧壁堆叠特征80的堆叠特征可安置在侧壁46的配对部分(诸如图5中的堆叠特征部分82)上。
测试托盘32可具有电触点诸如触点62(有时称为引脚、接触垫、或垫)。当待测装置10加载到托盘32中时，可使用缆线将待测装置10中的一个或多个连接器端口连接至触点62。如有需要，狭槽85可用作临时性连接器固定器，用于接收缆线的一端处的连接器。托盘32可包括凹槽诸如凹槽84，用于在基座48内对缆线进行路由。
缆线的一端可被配置为使用连接器来与诸如图2的端口28的装置端口配合。缆线的相对端可端接在触点62处。触点62可为例如由镀有金的镍形成的接触垫。触点62可被配置为与测试固定装置34中的对应的弹簧加载引脚或其他触点配合并形成电连接。
使用测试托盘32和测试固定装置34可允许待测装置10被准确地放置在测试工位36内(如，作为例子，以+/-0.1mm或更佳的准确度)。测试托盘32可保护待测装置10在测试期间免受刮伤和其他损坏。用于将待测装置附接到触点62的布线可构建到测试托盘32中。可使用诸如活动拐角44的夹持结构来促进加载和卸载。
可将待测装置10以面朝上配置或者面朝下配置接收在测试托盘32中，在面朝上配置中，显示器14面朝外远离托盘32，在面朝下配置中，显示器14面朝下至测试托盘32的基座48之上。如联系图6的堆叠对齐特征80所述，如有需要，可将测试托盘32堆叠。可在不存在待测装置10时(即，在托盘32为空时)将托盘32堆叠，或者可在加载待测装置10之后将托盘32堆叠。测试工位36可包含可检测托盘32的存在或不存在的检测器。
每个托盘32可包含位置特征，诸如孔86(图6)。如图7中所示，每个测试工位36(即，每个测试固定装置34)可包含与特征86配合的配对特征诸如突起(引脚)88，并从而可将托盘32相对于测试工位准确地放置在所需的位置。将孔和配对突起用作将托盘32相对于测试固定装置32对齐的特征仅是示例性的。如有需要，可使用任何合适形状的对齐特征。
每个测试固定装置34可具有相应组的配对触点(如，弹簧加载引脚)诸如配对触点98。测试固定装置34上的配对触点98可被配置为与测试托盘32上的触点62配合。由于使用与测试托盘32相关联的布线来将待测装置10连接至测试托盘32中的触点62，所以不必反复地在每个测试工位处将待测装置10与布线连接和断开连接。相反地，可通过将测试托盘32中的触点62耦合至每个测试固定装置34中的对应触点98(如，弹簧加载引脚)来形成在每个测试工位处待测装置与测试设备之间的连接。通过使缆线需要与每个待测装置连接和断开连接的次数最少化，可以延长测试仪缆线和连接器的寿命。
图7示出了测试固定装置导向结构50可如何具有诸如弹簧加载夹片51的部分。在将托盘32插入到测试固定装置34中期间，托盘32的侧壁46可将夹片51向内按压。一旦托盘32已被定位为使得夹片51与托盘32中的开口60对齐(图5和图6)，夹片51便可弹入开口60中，以将托盘32固定到固定装置34。夹片51可具有有助于将测试托盘32靠近测试固定装置34的基座52保持的成角度表面。在测试期间，夹片51可用于将测试托盘32抵靠固定装置34内的基座52保持。
结构90可形成开孔延伸部，用于对在待测装置10的区域26中的环境光传感器进行测试。结构92可用于将托盘32从测试固定装置34顶出。
图8示出了触点98的侧视图。如有需要，触点98相对于测试固定装置34的表面99的高度在维度Z上交错以确保信号连接以可预测的次序发生(如，使得所需触点诸如接地触点在其他信号路径之前进行接触)。
图9为测试托盘32和待测装置10的透视图。如图9中所示，可使用测试托盘32的拐角部分44将待测装置10保持在测试托盘32内。缆线96可具有带有连接至相应触点62的引线的一端，并且可具有带有连接器诸如连接器94的相对端。在将待测装置10安装在托盘32中之前，可将连接器94保存在狭槽85中。当需要在待测装置10与触点62之间形成电连接时，操作人员(或自动化设备)可将连接器94从狭槽85移除，并可将连接器94插入到待测装置10中与输入输出端口28相关联的连接器中。通过以该方式将连接器94塞进待测装置10的端口28中，触点62中的每一个可连接至端口28中的相应触点。如有需要，可将缆线96嵌入托盘32中(如，可嵌入托盘32的凹槽诸如图5的凹槽84中)。
可容纳在缆线96中的信号线的例子包括正电源线、接地电源线、通用串行总线(USB)信号线对中的D+和D-数据线、控制线、通用异步接收器/发送器(UART)线，以及其他路径。
图10为系统30中的测试工位的侧视图。在图10的配置中，待测装置10已安装在测试托盘32中。测试托盘32已安装在测试工位36处的测试固定装置34中。缆线96(图9)可用于将待测装置10电连接至测试托盘32中的触点62。每个触点62可被测试固定装置34中的对应触点接触，如通过触点(引脚)98所例示。由信号线100形成的信号路径可用于将测试固定装置34中的触点98耦合至测试工位计算设备102。计算设备102可使用一个或多个计算机或其他测试设备来实施。由信号线100和缆线96形成的信号路径可为例如通用串行总线(USB)路径(如，1.0、2.0、3.0等)，可为I2C路径，可为串行外围接口(SPI)路径，可为控制器区域网络(CAN)总线，或者可为任何其他合适的通信路径。
图11为处于一种配置的测试托盘32的横截面侧视图，在该配置中，侧壁46已具有成角度内表面，诸如成角度表面46A和成角度表面46B。如图11中所示，表面46A和46B可相对于垂直维度Z以非零角度取向。当待测装置与图11的待测装置10一样以倒置(反转)取向放置时，待测装置10的弯曲边缘部分10T可抵靠测试托盘32的表面106被成角度表面46B沿方向104向下挤压。当将待测装置以如图12中所示的正面朝上(非反转)配置安装在测试托盘32中时，成角度表面46A可有助于将待测装置10沿方向104向下挤压以将待测装置保持在测试托盘32内。
图13为安装在测试托盘32中的待测装置10的横截面侧视图。如图13中所示，待测装置10可包含电气部件诸如部件108。部件108可为例如环境光传感器、基于光的接近传感器、电容传感器、发光二极管(如，用于状态指示器)、显示部件、磁性传感器或其他电气部件。可使用测试固定装置34中的测试设备110来对部件108进行测试。部件108和测试设备110可通过测试托盘32中的开口74进行通信。
如果(例如)部件108为光传感器，则测试设备110可为发射已校准的光信号的光源。来自测试设备110的光信号可穿过开口74并且可被传感器108接收。可使用缆线诸如缆线96和触点62将所得的光传感器信号从待测装置10传送至与测试工位36相关联的计算设备102(图9和图10)。
如有需要，测试设备110可包括用于测试部件108的磁体(如，当部件108为磁性传感器时)，可包括用于测试部件108的音频源(如，当部件108为诸如麦克风的音频部件时)，可包含用于测试部件108的麦克风(如，当部件108为扬声器或其他音频源时)，可包含用于测试部件108的光传感器(如，当部件108为光源时)，可包含按钮按压装置(如，当部件108为按钮时)，或者可基于其他测试装置。
测试托盘32可包含一个开口(诸如开口74)，或者可包含两个或更多个开口(诸如开口74)。如有需要，开口(诸如开口74)可填充透明塑料或其他窗口材料(如，用于支持光学测试)。在测试托盘32具有多个开口的配置中，测试工位36可具有用于对待测装置10中的多个对应部件进行测试的多个对应装置110。
测试工位36可使用短路检测机构或其他传感器来检测测试托盘32何时已安装在测试固定装置34内。如图14中所示，例如，每个测试托盘32可具有诸如金属条带116的导体条带。垫118和120可形成在金属条带116的相对端处。金属垫118和120可被配置为与测试固定装置34中的对应触点诸如引脚112和114配合。计算设备102可测量引脚112和114之间的电阻。当电阻较高时，计算设备102可推断在引脚112和114之间存在开路并且可推断固定装置34内不存在托盘32。然而，当电阻较低时，计算设备102可推断在引脚112和114之间存在短路并且可推断托盘32已正确地坐置在测试固定装置34内。
图15为测试托盘32和测试固定装置34的横截面侧视图，示出了测试固定装置34的导向结构50上的特征51可如何用于将测试托盘32既牢固地固定又准确地定位在测试固定装置34上。如图15中所示，接合特征51可被配置为围绕轮轴或其他类型的铰链(诸如轮轴125)旋转。轮轴125可形成在特征51的下部中并且可允许特征51的上部沿方向127和129移动。一个或多个弹簧加载构件(诸如弹簧124)可用于将特征51沿方向122偏置。
当将测试托盘32沿方向126插入到测试固定装置34中时，测试托盘32的侧壁的表面128可挤压抵靠弹簧加载引脚51(如，接合特征51)的表面130，从而使引脚51的上部沿方向129回缩到结构50中。一旦已将开口60与引脚51对齐，弹簧124便可沿方向127迫使引脚51的上部进入开口60中。由于特征51围绕轮轴125旋转，所以由弹簧124提供的弹簧力中的一些将沿方向126被向下引导，从而使特征51的表面131沿方向126对测试托盘32的表面144向下挤压。这可以确保测试托盘32既牢固地固定至测试固定装置34，且测试托盘32还定位在相对于测试固定装置34的已知位置(如，特征51可用于将测试托盘32定位成尽可能靠近测试固定装置34)。
可能需要为测试系统操作人员提供沿方向59移动托盘32的拐角部分44的辅助。图16为可用于移动托盘32的拐角部分44的示例性加载机的透视图。如图16中所示，加载机132可具有导板，诸如板142。操作人员可将测试托盘32面朝上地放置在板142上，使得板142接收在测试托盘32的壁内并且使得构件138抵靠测试托盘32中的杆件66(图6)。操作人员(或由计算机控制的致动器)然后可将构件134沿方向136移动。构件134沿方向136的移动可导致构件138沿方向140移动，从而将测试托盘32的杆件66沿方向70移动并将拐角44沿方向59移动以接收待测装置。
根据一个实施例，提供了一种用于在测试期间容纳待测装置的测试装置，该测试装置包括被配置为接收待测装置的待测装置接收结构、待测装置接收结构的被配置为将待测装置保持在待测装置接收结构内的至少一个活动部分，以及被配置为移动该活动部分以将待测装置从待测装置接收结构释放的致动构件。
根据另一个实施例，所述至少一个活动部分包括活动拐角部分，并且该活动拐角部分朝着该待测装置接收结构的中心部分偏置。
根据另一个实施例，活动拐角部分包括至少一个弹簧加载构件。
根据另一个实施例，待测装置接收结构包括基座部分和至少一个侧壁，所述基座部分和至少一个侧壁限定凹陷部分，并且活动部分被配置为将该待测装置保持在凹陷部分内。
根据另一个实施例，测试装置还包括被配置为在测试期间将待测装置电耦合至测试工位的多个触点。
根据另一个实施例，测试装置还包括具有第一端和第二端的缆线，第一端电耦合至所述多个触点，并且第二端被配置为与待测装置中的输入输出端口配合。
根据另一个实施例，待测装置接收结构包括至少一个凹槽并且缆线嵌入在所述至少一个凹槽中。
根据另一个实施例，缆线包括信号线，该信号线选自正电源线、接地电源线、数据线、通用串行总线信号线、通用异步接收器/发送器线和控制线。
根据另一个实施例，待测装置接收结构可围绕旋转轴线旋转，并且待测装置接收结构包括至少一个重量平衡特征，该至少一个重量平衡特征被配置为当待测装置被接收在该待测装置接收结构内时将该待测装置接收结构的重量相对于该旋转轴线进行平衡。
根据另一个实施例，至少一个重量平衡特征包括位于待测装置接收结构中的多个孔。
根据一个实施例，提供了一种用于对待测装置进行测试的测试系统，该测试系统包括：测试托盘，其被配置为接收待测装置，该测试托盘包括被配置为当待测装置被测试托盘接收时电耦合至待测装置的多个测试托盘触点；以及测试固定装置，其被配置为接收测试托盘，该测试固定装置包括被配置为当测试托盘被测试固定装置接收时与多个测试托盘触点配合的多个测试固定装置触点。
根据另一个实施例，测试托盘包括具有第一端和第二端的缆线，该第一端电耦合至所述多个测试托盘触点，该第二端被配置为与待测装置中的连接器配合，并且该缆线被配置为在待测装置与所述多个测试托盘触点之间传送信号。
根据另一个实施例，所述多个测试托盘触点包括多个接触垫，并且所述多个测试固定装置触点包括多个导电引脚。
根据另一个实施例，所述多个导电引脚包括多个弹簧加载引脚，所述多个弹簧加载引脚中的每个弹簧加载引脚具有相对于测试固定装置的表面的相关高度，并且所述多个弹簧加载引脚中的至少两个弹簧加载引脚的高度是不同的。
根据另一个实施例，测试固定装置包括多个测试固定装置接合特征，测试托盘包括多个测试托盘接合特征，并且所述测试固定装置接合特征被配置为当测试托盘被测试固定装置接收时与测试托盘接合特征接合。
根据另一个实施例，所述多个测试固定装置接合特征中的至少一个测试固定装置接合特征包括弹簧加载构件。
根据另一个实施例，所述多个测试托盘接合特征中的至少一个测试托盘接合特征包括凹陷部。
根据另一个实施例，测试固定装置包括被配置为检测在该测试固定装置上是否存在测试托盘的测试托盘检测器。
根据另一个实施例，待测装置包括电气部件，测试固定装置包括用于测试该电气部件的测试设备，并且测试托盘包括至少一个开口，测试设备与电气部件通过所述至少一个开口通信。
根据另一个实施例，待测装置包括光学部件，测试固定装置包括用于测试该光学部件的测试设备，并且测试托盘包括至少一个开口，光信号通过所述至少一个开口在测试设备与光学部件之间交换。
根据另一个实施例，测试托盘包括活动部分，该活动部分被配置为相对于该测试托盘的中心部分移动并且被配置为将待测装置固定在该测试托盘内。
根据另一个实施例，测试托盘还包括被配置为移动活动部分以将待测装置从测试托盘释放的致动构件。
根据另一个实施例，活动部分包括活动拐角部分，并且该活动拐角部分朝着中心部分偏置。
根据一个实施例，提供了一种用于对待测装置进行测试的方法，包括：将待测装置安装在测试托盘中，该测试托盘包括缆线和多个测试托盘触点，并且缆线具有连接至所述多个测试托盘触点的第一端；将缆线的第二端连接至待测装置；以及通过将所述多个测试托盘触点与测试固定装置上的对应的测试固定装置触点配合来将测试托盘安装在测试固定装置中。
根据另一个实施例，将待测装置安装在测试托盘中包括致动该测试托盘上的杆件以使该测试托盘的活动部分移动；当杆件被致动时，将待测装置放置在测试托盘的表面上；以及当待测装置位于测试托盘的表面上时，释放杆件以将待测装置固定至测试托盘。
根据另一个实施例，该方法还包括当待测装置被安装于测试托盘中时以及当测试托盘安装于测试固定装置中时，在测试固定装置处对待测装置进行测试。
根据另一个实施例，对待测装置执行测试包括经由缆线在待测装置与测试固定装置之间传送信号。
根据另一个实施例，该方法还包括：在测试之后，将测试托盘从测试固定装置中移除；在没有将待测装置从测试托盘中移除以及在没有将缆线从待测装置断开的情况下，将测试托盘安装在另外的测试固定装置中；以及在该另外的测试固定装置处对待测装置进行测试。
以上所述仅是说明本发明的原理，并且在不脱离本发明范围和实质的情况下，本领域内的技术人员可以做出各种修改。

Claims (28)

1.一种用于在测试期间容纳待测装置的测试装置，包括：
待测装置接收结构，其被配置为接收待测装置；
所述待测装置接收结构的至少一个活动部分，其被配置为将所述待测装置保持在所述待测装置接收结构内；以及
致动构件，其被配置为移动所述活动部分以将所述待测装置从所述待测装置接收结构释放。
2.根据权利要求1所述的测试装置，其中所述至少一个活动部分包括活动拐角部分，并且其中所述活动拐角部分朝着所述待测装置接收结构的中心部分偏置。
3.根据权利要求2所述的测试装置，其中所述活动拐角部分包括至少一个弹簧加载构件。
4.根据权利要求1所述的测试装置，其中所述待测装置接收结构包括基座部分和至少一个侧壁，其中所述基座部分和所述至少一个侧壁限定凹陷部分，并且其中所述活动部分被配置为将所述待测装置保持在所述凹陷部分内。
5.根据权利要求1所述的测试装置，还包括被配置为在测试期间将所述待测装置电耦合至测试工位的多个触点。
6.根据权利要求5所述的测试装置，还包括具有第一端和第二端的缆线，其中所述第一端电耦合至所述多个触点，并且其中所述第二端被配置为与所述待测装置中的输入输出端口配合。
7.根据权利要求6所述的测试装置，其中所述待测装置接收结构包括至少一个凹槽，并且其中所述缆线嵌入在所述至少一个凹槽中。
8.根据权利要求6所述的测试装置，其中所述缆线包括信号线，所述信号线选自以下各项构成的组：正电源线、接地电源线、数据线、通用串行总线信号线、通用异步接收器/发送器线和控制线。
9.根据权利要求1所述的测试装置，其中所述待测装置接收结构可围绕旋转轴线旋转，并且其中所述待测装置接收结构包括至少一个重量平衡特征，所述至少一个重量平衡特征被配置为当所述待测装置被接收在所述待测装置接收结构内时将所述待测装置接收结构的重量相对于所述旋转轴进行平衡。
10.根据权利要求9所述的测试装置，其中所述至少一个重量平衡特征包括位于所述待测装置接收结构中的多个孔。
11.一种用于对待测装置进行测试的测试系统，包括：
测试托盘，其被配置为接收所述待测装置，其中所述测试托盘包括被配置为当所述待测装置被所述测试托盘接收时电耦合至所述待测装置的多个测试托盘触点；以及
测试固定装置，其被配置为接收所述测试托盘，其中所述测试固定装置包括被配置为当所述测试托盘被所述测试固定装置接收时与所述多个测试托盘触点配合的多个测试固定装置触点。
12.根据权利要求11所述的测试系统，其中所述测试托盘包括具有第一端和第二端的缆线，其中所述第一端电耦合至所述多个测试托盘触点，其中所述第二端被配置为与所述待测装置中的连接器配合，并且其中所述缆线被配置为在所述待测装置与所述多个测试托盘触点之间传送信号。
13.根据权利要求11所述的测试系统，其中所述多个测试托盘触点包括多个接触垫，并且其中所述多个测试固定装置触点包括多个导电引脚。
14.根据权利要求13所述的测试系统，其中所述多个导电引脚包括多个弹簧加载引脚，其中所述多个弹簧加载引脚中的每个弹簧加载引脚具有相对于所述测试固定装置的表面的相关高度，并且其中所述多个弹簧加载引脚中的至少两个弹簧加载引脚的高度是不同的。
15.根据权利要求11所述的测试系统，其中所述测试固定装置包括多个测试固定装置接合特征，其中所述测试托盘包括多个测试托盘接合特征，并且其中所述测试固定装置接合特征被配置为当所述测试托盘被所述测试固定装置接收时与所述测试托盘接合特征接合。
16.根据权利要求16所述的测试系统，其中所述多个测试固定装置接合特征中的至少一个测试固定装置接合特征包括弹簧加载构件。
17.根据权利要求16所述的测试系统，其中所述多个测试托盘接合特征中的至少一个测试托盘接合特征包括凹陷部。
18.根据权利要求11所述的测试系统，其中所述测试固定装置包括被配置为检测在所述测试固定装置上是否存在所述测试托盘的测试托盘检测器。
19.根据权利要求11所述的测试系统，其中所述待测装置包括电气部件，其中所述测试固定装置包括用于测试所述电气部件的测试设备，并且其中所述测试托盘包括至少一个开口，所述测试设备与所述电气部件通过所述至少一个开口通信。
20.根据权利要求11所述的测试系统，其中所述待测装置包括光学部件，其中所述测试固定装置包括用于测试所述光学部件的测试设备，并且其中所述测试托盘包括至少一个开口，光信号通过所述至少一个开口在所述测试设备与所述光学部件之间交换。
21.根据权利要求11所述的测试系统，其中所述测试托盘包括活动部分，所述活动部分被配置为相对于所述测试托盘的中心部分移动并且被配置为将所述待测装置保持在所述测试托盘内。
22.根据权利要求21所述的测试系统，其中所述测试托盘还包括被配置为移动所述活动部分以将所述待测装置从所述测试托盘释放的致动构件。
23.根据权利要求22所述的测试系统，其中所述活动部分包括活动拐角部分，并且其中所述活动拐角部分朝着所述中心部分偏置。
24.一种用于对待测装置进行测试的方法，包括：
将所述待测装置安装在测试托盘中，其中所述测试托盘包括缆线和多个测试托盘触点，并且其中所述缆线具有连接至所述多个测试托盘触点的第一端；
将所述缆线的第二端连接至所述待测装置；以及
通过将所述多个测试托盘触点与所述测试固定装置上的对应的测试固定装置触点配合来将所述测试托盘安装在所述测试固定装置中。
25.根据权利要求24所述的方法，其中将所述待测装置安装在所述测试托盘中包括：
致动所述测试托盘上的杆件以使所述测试托盘的活动部分移动；
当所述杆件被致动时，将所述待测装置放置在所述测试托盘的表面上；以及
当所述待测装置位于所述测试托盘的所述表面上时，释放所述杆件以将所述待测装置固定至所述测试托盘。
26.根据权利要求24所述的方法，还包括：
当所述待测装置被安装于所述测试托盘中时并且当所述测试托盘被安装于所述测试固定装置中时，在所述测试固定装置处对所述待测装置进行测试。
27.根据权利要求26所述的方法，其中对所述待测装置执行所述测试包括经由所述缆线在所述待测装置与所述测试固定装置之间传送信号。
28.根据权利要求26所述的方法，还包括：
在测试之后，将所述测试托盘从所述测试固定装置中移除；
在没有将所述待测装置从所述测试托盘中移除以及在没有将所述缆线从所述待测装置断开的情况下，将所述测试托盘安装在另外的测试固定装置中；以及
在所述另外的测试固定装置处对所述待测装置进行测试。
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