KR20220115730A - 표시모듈 검사 장치 - Google Patents

표시모듈 검사 장치 Download PDF

Info

Publication number
KR20220115730A
KR20220115730A KR1020210018904A KR20210018904A KR20220115730A KR 20220115730 A KR20220115730 A KR 20220115730A KR 1020210018904 A KR1020210018904 A KR 1020210018904A KR 20210018904 A KR20210018904 A KR 20210018904A KR 20220115730 A KR20220115730 A KR 20220115730A
Authority
KR
South Korea
Prior art keywords
variable
display module
support
support part
inspection
Prior art date
Application number
KR1020210018904A
Other languages
English (en)
Inventor
황성모
신정환
Original Assignee
삼성디스플레이 주식회사
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by 삼성디스플레이 주식회사 filed Critical 삼성디스플레이 주식회사
Priority to KR1020210018904A priority Critical patent/KR20220115730A/ko
Priority to US17/496,444 priority patent/US11898965B2/en
Priority to CN202210093079.1A priority patent/CN114913793A/zh
Publication of KR20220115730A publication Critical patent/KR20220115730A/ko

Links

Images

Classifications

    • G—PHYSICS
    • G01—MEASURING; TESTING
    • G01R—MEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
    • G01R31/00—Arrangements for testing electric properties; Arrangements for locating electric faults; Arrangements for electrical testing characterised by what is being tested not provided for elsewhere
    • G01R31/28—Testing of electronic circuits, e.g. by signal tracer
    • G01R31/2832—Specific tests of electronic circuits not provided for elsewhere
    • G01R31/2836—Fault-finding or characterising
    • G01R31/2844—Fault-finding or characterising using test interfaces, e.g. adapters, test boxes, switches, PIN drivers
    • G—PHYSICS
    • G01—MEASURING; TESTING
    • G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
    • G01N21/00—Investigating or analysing materials by the use of optical means, i.e. using sub-millimetre waves, infrared, visible or ultraviolet light
    • G01N21/84—Systems specially adapted for particular applications
    • G01N21/88—Investigating the presence of flaws or contamination
    • G01N21/8803—Visual inspection
    • G—PHYSICS
    • G09—EDUCATION; CRYPTOGRAPHY; DISPLAY; ADVERTISING; SEALS
    • G09G—ARRANGEMENTS OR CIRCUITS FOR CONTROL OF INDICATING DEVICES USING STATIC MEANS TO PRESENT VARIABLE INFORMATION
    • G09G3/00—Control arrangements or circuits, of interest only in connection with visual indicators other than cathode-ray tubes
    • G09G3/006—Electronic inspection or testing of displays and display drivers, e.g. of LED or LCD displays
    • G—PHYSICS
    • G01—MEASURING; TESTING
    • G01R—MEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
    • G01R1/00—Details of instruments or arrangements of the types included in groups G01R5/00 - G01R13/00 and G01R31/00
    • G01R1/02—General constructional details
    • G01R1/04—Housings; Supporting members; Arrangements of terminals
    • G01R1/0408—Test fixtures or contact fields; Connectors or connecting adaptors; Test clips; Test sockets
    • G—PHYSICS
    • G01—MEASURING; TESTING
    • G01R—MEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
    • G01R31/00—Arrangements for testing electric properties; Arrangements for locating electric faults; Arrangements for electrical testing characterised by what is being tested not provided for elsewhere
    • G01R31/28—Testing of electronic circuits, e.g. by signal tracer
    • G01R31/282—Testing of electronic circuits specially adapted for particular applications not provided for elsewhere
    • G01R31/2825—Testing of electronic circuits specially adapted for particular applications not provided for elsewhere in household appliances or professional audio/video equipment
    • G—PHYSICS
    • G02—OPTICS
    • G02F—OPTICAL DEVICES OR ARRANGEMENTS FOR THE CONTROL OF LIGHT BY MODIFICATION OF THE OPTICAL PROPERTIES OF THE MEDIA OF THE ELEMENTS INVOLVED THEREIN; NON-LINEAR OPTICS; FREQUENCY-CHANGING OF LIGHT; OPTICAL LOGIC ELEMENTS; OPTICAL ANALOGUE/DIGITAL CONVERTERS
    • G02F1/00—Devices or arrangements for the control of the intensity, colour, phase, polarisation or direction of light arriving from an independent light source, e.g. switching, gating or modulating; Non-linear optics
    • G02F1/01—Devices or arrangements for the control of the intensity, colour, phase, polarisation or direction of light arriving from an independent light source, e.g. switching, gating or modulating; Non-linear optics for the control of the intensity, phase, polarisation or colour 
    • G02F1/13—Devices or arrangements for the control of the intensity, colour, phase, polarisation or direction of light arriving from an independent light source, e.g. switching, gating or modulating; Non-linear optics for the control of the intensity, phase, polarisation or colour  based on liquid crystals, e.g. single liquid crystal display cells
    • G02F1/1306—Details
    • G02F1/1309—Repairing; Testing
    • G—PHYSICS
    • G01—MEASURING; TESTING
    • G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
    • G01N21/00—Investigating or analysing materials by the use of optical means, i.e. using sub-millimetre waves, infrared, visible or ultraviolet light
    • G01N21/84—Systems specially adapted for particular applications
    • G01N21/88—Investigating the presence of flaws or contamination
    • G01N21/95—Investigating the presence of flaws or contamination characterised by the material or shape of the object to be examined
    • G01N2021/9513—Liquid crystal panels

Landscapes

  • Physics & Mathematics (AREA)
  • General Physics & Mathematics (AREA)
  • Engineering & Computer Science (AREA)
  • Chemical & Material Sciences (AREA)
  • Nonlinear Science (AREA)
  • General Health & Medical Sciences (AREA)
  • Pathology (AREA)
  • Health & Medical Sciences (AREA)
  • Analytical Chemistry (AREA)
  • Biochemistry (AREA)
  • Theoretical Computer Science (AREA)
  • Immunology (AREA)
  • Life Sciences & Earth Sciences (AREA)
  • Computer Hardware Design (AREA)
  • General Engineering & Computer Science (AREA)
  • Crystallography & Structural Chemistry (AREA)
  • Optics & Photonics (AREA)
  • Multimedia (AREA)
  • Devices For Indicating Variable Information By Combining Individual Elements (AREA)
  • Testing Of Individual Semiconductor Devices (AREA)

Abstract

일 실시예에 따른 표시모듈 검사 장치는 바닥면 및 바닥면에서 연장된 측면을 포함하는 제1 함몰부가 정의된 안착부; 및 검사용 커넥터를 포함하는 검사부; 를 포함하고, 안착부는 소정의 강성을 가지고 바닥면 상에 배치된 지지부, 및 지지부와 측면을 연결하는 가변부를 포함하고, 가변부는 소정의 탄성을 가지거나, 또는 일부가 측면 내로 관통될 수 있다.

Description

표시모듈 검사 장치{INSPECTION APPARATUS FOR DISPLAY MODULE}
본 발명은 표시모듈 검사 장치에 관한 것으로 더욱 상세하게는 다양한 크기의 표시모듈을 수용할 수 있는 검사 장치에 관한 것이다.
표시장치는 표시화면에 다양한 영상을 표시하여 사용자에게 정보를 제공한다. 표시장치는 표시모듈을 포함하여, 표시화면에 영상을 표시할 수 있다. 표시모듈은 영상을 표시하는 표시패널, 표시패널을 보호하는 윈도우, 표시패널에 신호를 전달하는 회로기판 등을 포함할 수 있다. 또한, 표시모듈은 사용자의 입력을 인식하기 위한 입력 감지층을 더 포함할 수 있고, 입력 감지층에 신호를 전달하는 회로기판을 더 포함할 수 있다. 즉, 표시모듈은 회로기판 등을 통해서 외부의 신호를 표시패널이나 입력 감지층에 전달할 수 있다.
한편, 다양한 표시 장치가 개발됨에 따라, 표시모듈의 크기가 다양하게 개발되고 있다. 이에 따라, 표시모듈 검사 장치도 다양한 크기의 표시모듈을 수용할 수 있도록 개발되고 있다.
본 발명의 목적은 다양한 크기의 표시모듈을 수용할 수 있는 표시모듈 검사 장치를 제공하는데 있다.
본 발명의 일 실시예에 따른 표시모듈 검사 장치는 바닥면 및 상기 바닥면에서 연장된 측면을 포함하는 제1 함몰부가 정의된 안착부; 및 검사용 커넥터를 포함하는 검사부; 를 포함하고, 상기 안착부는 소정의 강성을 가지고 상기 바닥면 상에 배치된 지지부, 및 상기 지지부와 상기 측면을 연결하는 가변부를 포함하고, 상기 가변부는 소정의 탄성을 가지거나, 또는 일부가 상기 측면 내로 관통될 수 있다.
일 실시예에서, 상기 가변부는 용수철 또는 나사를 포함할 수 있다.
일 실시예에서, 상기 가변부는 복수로 제공될 수 있다.
일 실시예에서, 상기 가변부는 제1 가변부, 제2 가변부, 제3 가변부 및 제4 가변부를 포함하고, 상기 제1 내지 제4 가변부에는 제1 지지부, 제2 지지부, 제3 지지부, 및 제4 지지부가 각각 연결될 수 있다.
일 실시예에서, 상기 제1 내지 제4 지지부는 서로 이격될 수 있다.
일 실시예에서, 상기 제1 지지부는 상기 제3 지지부와 마주하고, 상기 제2 지지부는 상기 제4 지지부와 마주할 수 있다.
일 실시예에서, 상기 안착부는 상기 측면을 따라 상기 제1 함몰부 내에 배치되고, 상기 제1 내지 상기 제4 지지부를 둘러싸는 쿠션부를 더 포함할 수 있다.
일 실시예에서, 상기 지지부에는 상기 제1 함몰부와 이격되고, 함몰된 형상을 가지는 제2 함몰부가 더 정의되고, 상기 검사부는 상기 제2 함몰부에 중첩할 수 있다.
일 실시예에서, 상기 검사부의 일면에는 2개의 돌출부들 및 상기 2개의 돌출부들에 각각 연결된 2개의 서브가변부들이 배치되고, 상기 검사용 커넥터의 양단은 상기 2개의 서브가변부들에 각각 연결되고, 상기 서브가변부는 소정의 탄성을 가지거나, 또는 일부가 상기 돌출부 내로 관통될 수 있다.
일 실시예에서, 상기 서브가변부는 용수철 또는 나사를 포함할 수 있다.
일 실시예에서, 상기 지지부는 소정의 각도로 휘어진 바(bar) 형상을 가질 수 있다.
일 실시예에서, 상기 바닥면은 제1 방향 및 상기 제1 방향과 교차하는 제2 방향과 평행하고, 상기 측면은 상기 제1 및 제2 방향과 교차하는 제3 방향과 평행할 수 있다.
일 실시예에서, 상기 안착부는 금속을 포함할 수 있다.
일 실시예에서, 상기 지지부는 금속 및 세라믹 중 적어도 하나를 포함할 수 있다.
본 발명의 일 실시예에 따른 표시모듈 검사장치는 각각이 함몰된 형상을 가지는 제1 함몰부와 제2 함몰부가 정의된 안착부; 및 상기 제2 함몰부에 중첩하고 검사용 커넥터를 포함하는 검사부; 를 포함하고, 상기 안착부는 상기 제1 함몰부에 중첩하고, 형상기억합금을 포함하는 지지부를 포함할 수 있다.
일 실시예에서, 상기 지지부는 서로 이격된 제1 지지부, 제2 지지부, 제3 지지부, 및 제4 지지부를 포함할 수 있다.
일 실시예에서, 상기 제1 내지 제4 지지부 각각은 소정의 각도로 벤딩된 바(bar) 형상을 포함할 수 있다.
일 실시예에서, 상기 안착부는 상기 제1 함몰부 내에 배치되고, 상기 제1 내지 제4 지지부를 둘러싸는 쿠션부를 더 포함할 수 있다.
일 실시예에서, 상기 검사용 커넥터는 복수의 연결핀 삽입부를 포함할 수 있다.
일 실시예에서, 상기 검사부의 일면에는 2개의 돌출부들 및 상기 2개의 돌출부들에 각각 연결된 2개의 서브가변부들이 배치되고, 상기 검사용 커넥터의 양단은 상기 2개의 서브가변부들에 각각 연결되고, 상기 서브가변부는 소정의 탄성을 가지거나, 또는 일부가 상기 돌출부 내로 관통될 수 있다.
본 발명의 표시모듈 검사 장치는 다양한 크기의 표시모듈을 수용할 수 있다.
본 발명의 표시모듈 검사 장치는 다양한 크기의 표시모듈에 적용 가능하여, 신규 검사 장치의 제작 비용을 감소시킬 수 있다.
도 1 및 도 2는 일 실시예에 따른 표시모듈 검사 장치의 사시도들이다.
도 3은 일 실시예에 따른 검사부의 사시도이다.
도 4a는 일 실시예에 따른 표시장치의 사시도이다.
도 4b는 일 실시예에 따른 표시모듈의 분해사시도이다.
도 4c는 일 실시예에 따른 표시모듈의 평면도이다.
도 5a는 일 실시예에 따른 표시모듈 검사 장치에서, 표시모듈이 안착된 상태를 도시한 평면도이다.
도 5b는 다른 실시예에 따른 표시모듈 검사 장치에서, 표시모듈이 안착된 상태를 도시한 평면도이다.
도 6a는 표시모듈 검사 장치에 표시모듈이 안착된 상태의 일 실시예를 도시한 평면도이다.
도 6b는 일 실시예에 따른 검사부의 사시도이다.
도 7은 표시모듈 검사 장치에 표시모듈이 안착된 상태의 일 실시예를 도시한 평면도이다.
도 8은 일 실시예의 표시모듈 검사 장치에서 검사부가 닫힌 상태를 도시한 평면도이다.
본 명세서에서, 어떤 구성요소(또는 영역, 층, 부분 등)가 다른 구성요소 "상에 있다", "연결된다", 또는 "결합된다"고 언급되는 경우에 그것은 다른 구성요소 상에 직접 배치/연결/결합될 수 있거나 또는 그들 사이에 제3의 구성요소가 배치될 수도 있다는 것을 의미한다.
동일한 도면부호는 동일한 구성요소를 지칭한다. 또한, 도면들에 있어서, 구성요소들의 두께, 비율, 및 치수는 기술적 내용의 효과적인 설명을 위해 과장된 것이다.
"및/또는"은 연관된 구성들이 정의할 수 있는 하나 이상의 조합을 모두 포함한다.
제1, 제2 등의 용어는 다양한 구성요소들을 설명하는데 사용될 수 있지만, 상기 구성요소들은 상기 용어들에 의해 한정되어서는 안 된다. 상기 용어들은 하나의 구성요소를 다른 구성요소로부터 구별하는 목적으로만 사용된다. 예를 들어, 본 발명의 권리 범위를 벗어나지 않으면서 제1 구성요소는 제2 구성요소로 명명될 수 있고, 유사하게 제2 구성요소도 제1 구성요소로 명명될 수 있다. 단수의 표현은 문맥상 명백하게 다르게 뜻하지 않는 한, 복수의 표현을 포함한다.
또한, "아래에", "하측에", "위에", "상측에" 등의 용어는 도면에 도시된 구성들의 연관관계를 설명하기 위해 사용된다. 상기 용어들은 상대적인 개념으로, 도면에 표시된 방향을 기준으로 설명된다.
다르게 정의되지 않는 한, 본 명세서에서 사용된 모든 용어 (기술 용어 및 과학 용어 포함)는 본 발명이 속하는 기술 분야의 당업자에 의해 일반적으로 이해되는 것과 동일한 의미를 갖는다. 또한, 일반적으로 사용되는 사전에서 정의된 용어와 같은 용어는 관련 기술의 맥락에서 의미와 일치하는 의미를 갖는 것으로 해석되어야 하고, 이상적인 또는 지나치게 형식적인 의미로 해석되지 않는 한, 명시적으로 여기에서 정의된다.
"포함하다" 또는 "가지다" 등의 용어는 명세서 상에 기재된 특징, 숫자, 단계, 동작, 구성요소, 부품 또는 이들을 조합한 것이 존재함을 지정하려는 것이지, 하나 또는 그 이상의 다른 특징들이나 숫자, 단계, 동작, 구성요소, 부분품 또는 이들을 조합한 것들의 존재 또는 부가 가능성을 미리 배제하지 않는 것으로 이해되어야 한다.
이하, 도면을 참조하여 본 발명의 표시모듈 검사 장치(PID)에 대해 설명한다.
도 1 및 도 2는 일 실시예에 따른 표시모듈 검사 장치(PID)의 사시도들이다.
도 1을 참조하면, 본 발명의 실시예에 따른 표시모듈 검사 장치(PID)는 제1 함몰부(RES1) 및 제2 함몰부(RES2)가 정의된 안착부(SUP), 안착부(SUP)에 연결된 검사부(IP), 및 검사부(IP)에 연결된 제1 표시부(DI1) 및 제2 표시부(DI2)를 포함할 수 있다.
안착부(SUP)는 제1 방향(DR1) 및 제1 방향(DR1)과 교차하는 제2 방향(DR2)에 의해 정의된 평면과 나란할 수 있다. 이하, 제1 및 제2 방향들(DR1,DR2)에 의해 정의된 평면에 실질적으로 수직하게 교차하는 방향은 제3 방향(DR3)으로 정의된다. 예를 들어, 제3 방향(DR3)에서 바라봤을 때, 일 실시예의 안착부(SUP)는 사각형 형상을 가질 수 있다.
안착부(SUP)는 금속을 포함하는 것일 수 있다. 예를 들어 안착부(SUP)는 SUS 등을 포함할 수 있다.
제1 함몰부(RES1)는 안착부(SUP)의 상면에 정의될 수 있다. 예를 들어, 제1 함몰부(RES1)는 안착부(SUP)의 상면으로부터 하부로 함몰되어 형성될 수 있다. 제1 함몰부(RES1)는 바닥면(BF) 및 바닥면(BF)에서 연장된 측면(IF)을 포함할 수 있다. 일 실시에서, 바닥면(BF)은 제1 방향(DR1) 및 제2 방향(DR2)에 의해 정의된 평면과 나란할 수 있다. 예를 들어, 바닥면(BF)은 제1 방향(DR1)으로 연장된 장변들 및 제2 방향(DR2)으로 연장된 단변들을 갖는 직사각형 형상을 가질 수 있다.
측면(IF)은 바닥면(BF)에서 제3 방향(DR3)으로 연장된 것일 수 있다.
제1 함몰부(RES1)에는 가변부(AT) 및 지지부(BT)가 배치될 수 있다.
지지부(BT)는 바닥면(BF) 상에 배치되는 것일 수 있다. 가변부(AT)는 지지부(BT)와 측면(IF)을 연결하는 것일 수 있다.
가변부(AT)는 소정의 탄성을 가지거나, 또는 일부가 측면(IF) 내로 관통하는 것일 수 있다. 가변부(AT)에 의해서, 지지부(BT)와 측면(IF) 사이의 거리가 조절될 수 있다. 예를 들어, 가변부(AT)는 용수철, 또는 나사를 포함할 수 있다. 도 1 및 도 2에는 가변부(AT)가 용수철인 실시예를 도시하였다. 가변부(AT)가 용수철일 경우, 지지부(BT)에 가해지는 외력에 따라, 지지부(BT)와 측면(IF) 사이의 거리가 조절될 수 있다. 다만 실시예가 이에 제한되는 것은 아니며, 가변부(AT)는 나사(screw)일 수 있다. 가변부(AT)가 나사일 경우, 나사의 적어도 일부를 측면(IF) 내로 삽입하여, 지지부(BT)와 측면(IF) 사이의 거리를 조절할 수 있다. 즉, 가변부(AT)의 탄성 또는 외부로 노출되는 가변부(AT)의 길이를 조절하여, 지지부(BT)와 측면(IF) 사이의 거리를 조절할 수 있다.
일 실시예에서, 가변부(AT) 및 지지부(BT) 각각은 복수로 제공될 수 있다. 예를 들어, 가변부(AT)는 제1 가변부(aa1), 제2 가변부(aa2), 제3 가변부(aa3) 및 제4 가변부(aa4)를 포함할 수 있다. 제1 가변부(aa1), 제2 가변부(aa2), 제3 가변부(aa3) 및 제4 가변부(aa4)는 서로 이격될 수 있다. 다만, 실시예가 이에 제한되는 것은 아니며, 가변부(AT)는 1개, 2개, 3개, 또는 5개 이상 제공될 수 있다.
제1 가변부(aa1), 제2 가변부(aa2), 제3 가변부(aa3) 및 제4 가변부(aa4)에는 제1 지지부(bb1), 제2 지지부(bb2), 제3 지지부(bb3) 및 제4 지지부(bb4)가 각각 연결될 수 있다. 제1 지지부(bb1), 제2 지지부(bb2), 제3 지지부(bb3) 및 제4 지지부(bb4)는 서로 이격될 수 있다. 또한, 일 실시예에서, 제1 지지부(bb1), 제2 지지부(bb2), 제3 지지부(bb3) 및 제4 지지부(bb4) 각각은 소정의 각도로 벤딩된 바(bar) 형상을 가질 수 있다.
예를 들어, 제1 지지부(bb1)는 제3 지지부(bb3)와 마주하고, 제2 지지부(bb2)는 제4 지지부(bb4)와 마주하도록 서로 이격되어 배치될 수 있다, 제1 지지부(bb1), 제2 지지부(bb2), 제3 지지부(bb3) 및 제4 지지부(bb4) 각각은 90도로 벤딩된 형상을 가질 수 있다. 이에 따라, 제1 지지부(bb1), 제2 지지부(bb2), 제3 지지부(bb3) 및 제4 지지부(bb4) 각각은 사각형의 모서리를 형상을 가질 수 있다. 제1 지지부(bb1), 제2 지지부(bb2), 제3 지지부(bb3) 및 제4 지지부(bb4)로 둘러싸인 사각형상의 안착 공간(SP)이 제1 함몰부(RES1) 내에 형성될 수 있다. 다만, 실시예가 이에 제한되는 것은 아니며, 제1 지지부(bb1), 제2 지지부(bb2), 제3 지지부(bb3) 및 제4 지지부(bb4)의 벤딩 각도 및 형상에 따라서, 안착 공간(SP)의 형상은 다양하게 조절될 수 있다.
안착 공간(SP)에는 표시모듈 검사 장치(PID)의 검사 대상이 배치될 수 있다. 예를 들어, 후술할 표시모듈이 안착 공간(SP)에 배치될 수 있다.
지지부(BT)는 금속, 또는 세라믹을 포함할 수 있다. 지지부(BT)는 소정의 강성을 가지고 피검사 대상인 표시모듈을 안정적으로 지지할 수 있다. 이에 대하여 뒤에서 자세히 설명한다.
전술한 바와 같이 가변부(AT)의 길이가 조절됨에 따라, 측면(IF)과 지지부(BT) 사이의 거리가 조절되면서 안착 공간(SP)의 크기가 조절될 수 있다. 예를 들어, 피검사 대상인 표시모듈의 크기에 따라 안착 공간(SP)의 크기가 조절될 수 있다. 이에 따라, 본 발명의 표시모듈 검사 장치(PID)는 다양한 크기의 표시모듈들을 수용할 수 있다.
안착부(SUP) 내에는 제2 함몰부(RES2)가 제1 함몰부(RES1)와 이격되어 형성될 수 있다. 제2 함몰부(RES2)는 안착부(SUP)의 상면으로부터 하부로 함몰된 형상을 가지는 것일 수 있다. 검사부(IP)는 제2 함몰부(RES2)에 중첩하게 배치될 수 있다. 구체적으로, 검사부(IP)는 제2 함몰부(RES2) 내에 배치될 수 있다.
검사부(IP)의 일측은 연결부(RCT)에 의해서 안착부(SUP)에 연결될 수 있다. 예를 들어, 연결부(RCT)는 힌지일 수 있다. 연결부(RCT)가 회전함에 따라, 검사부(IP)의 일측이 회전할 수 있다. 예를 들어, 도 1에 도시된 바와 같이 검사부(IP)는 제2 함몰부(RES2)에 중첩할 수 있다. 구체적으로, 검사부(IP)는 제2 함몰부(RES2) 내에 배치될 수 있다. 또는 도 2에 도시된 바와 같이 검사부(IP)는 제2 함몰부(RES2)로부터 이격될 수 있다. 검사부(IP)가 제2 함몰부(RES2) 내에 배치된 상태는 검사부(IP)의 닫힘 상태로 정의될 수 있다. 검사부(IP)가 제2 함몰부(RES2)로부터 이격된 상태는 검사부(IP)의 열림 상태로 정의될 수 있다.
도 2를 참조하면, 검사부(IP)가 열리면서 안착부(SUP) 내부의 가이드 홈(GG)이 외부로 노출될 수 있다. 가이드 홈(GG)은 제1 함몰부(RES1)에서 연장된 것으로, 함몰된 형상을 가질 수 있다. 가이드 홈(GG)은 제1 함몰부(RES1)에서 제2 함몰부(RES2) 방향으로 연장되어, 적어도 일부가 제2 함몰부(RES2)에 중첩할 수 있다.
검사부(IP)는 제1 부분(PP1), 제1 부분(PP1)으로부터 양측으로 연장된 제2 부분(PP2) 및 제3 부분(PP3)을 포함할 수 있다. 제2 부분(PP2)은 제1 부분(PP1)에서 제3 방향(DR3)으로 연장된 것일 수 있다. 제3 부분(PP3)은 제1 부분(PP1)에서 제3 방향(DR3)의 반대 방향으로 연장된 것일 수 있다.
제1 부분(PP1)은 제1 방향(DR1) 및 제2 방향(DR2)으로 정의된 평면과 나란한 상면을 가질 수 있다. 제1 부분(PP1)의 상면에는 제1 표시부(DI1) 및 제2 표시부(DI2)가 배치될 수 있다. 제1 표시부(DI1) 및 제2 표시부(DI2)는 사용자에게 노출될 수 있다. 일 실시예에서, 제1 및 제2 표시부(DI1,DI2)는 제2 방향(DR2)으로 배열될 수 있다. 제1 표시부(DI1)에 인접한 검사부(IP)의 상면에 정상 상태를 나타내는 "ON" 문자가 새겨질 수 있다. 제2 표시부(DI2)에 인접한 검사부(IP)의 상면에 불량 상태를 나타내는 "OFF" 문자가 새겨질 수 있다. 제1 및 제2 표시부(DI1,DI2) 각각은 빛을 발광할 수 있다.
도 3은 일 실시예에 따른 검사부(IP)의 사시도이다. 검사부(IP)는 검사용 커넥터를 포함할 수 있다.
제1 부분(PP1)은 하부에 제3 방향(DR3)의 반대 방향으로 돌출된 2개의 돌출부(RP)들을 포함할 수 있다. 2개의 돌출부(RP)는 서로 이격되고, 각각 제2 방향(DR2)으로 연장된 것일 수 있다.
2개의 돌출부(RP) 사이에는 검사용 커넥터가 배치될 수 있다. 일 실시예에서, 검사용 커넥터는 제1 커넥터(CNT1)를 포함할 수 있다. 제1 커넥터(CNT1)는 암 단자를 포함할 수 있다. 예를 들어, 제1 커넥터(CNT1)는 암형(female type) 커넥터 핀들로 구성된 n 개의 연결핀 삽입부(CPI)들을 포함할 수 있다.
연결핀 삽입부(CPI)들은 제1 방향(DR1)으로 배열될 수 있다. 예시적으로, 1개의 열로 배열된 연결핀 삽입부(CPI)들을 도시되었으나, 이에 한정되지 않고, 연결핀 삽입부(CPI)들은 복수 개의 열들로 배열될 수도 있다. 또는, 연결핀 삽입부(CPI)들은 제2 방향(DR2)으로 배열될 수도 있다.
2개의 돌출부(RP)에는 제1 서브가변부(CC1) 및 제2 서브가변부(CC2)가 각각 연결될 수 있다. 제1 서브가변부(CC1)의 일단은 돌출부(RP)에 연결되고, 제1 서브가변부(CC1)의 타단은 제1 커넥터(CNT1)의 일단에 연결될 수 있다. 제2 서브가변부(CC2)의 일단은 돌출부(RP)에 연결되고, 제2 서브가변부(CC2)의 제1 커넥터(CNT1)의 타단에 연결될 수 있다. 즉, 제1 커넥터(CNT1)는 제1 및 제2 서브가변부(CC1, CC2)에 의해서 2개의 돌출부(RP)에 연결될 수 있다. 제1 커넥터(CNT1)는 제1 및 제2 서브가변부(CC1, CC2)와 탈착이 가능한 것일 수 있다.
제1 및 제2 서브가변부(CC1, CC2) 각각은 소정의 탄성을 가지거나, 또는 돌출부(RP) 내로 관통할 수 있다. 예를 들어, 제1 및 제2 서브가변부(CC1, CC2) 각각은 용수철 또는 나사를 포함할 수 있다. 도 3에서는 일 예로 제1 및 제2 서브가변부(CC1, CC2)가 용수철인 것을 도시하였다. 제1 및 제2 서브가변부(CC1, CC2) 각각은 제1 커넥터(CNT1)의 크기에 따라 용수철의 길이가 압축되거나 늘어나면서, 다양한 크기의 제1 커넥터(CNT1)를 수용할 수 있다.
다른 예로, 2개의 서브가변부(CC1, CC2)가 나사인 경우, 돌출부(RP) 내로 나사를 삽입하여 돌출부(RP) 밖으로 노출되는 나사의 길이를 조절할 수 있다. 즉, 제1 커넥터(CNT1)의 크기에 따라 돌출부(RP) 밖으로 노출되는 제1 및 제2 서브가변부(CC1, CC2)의 길이가 조절될 수 있다.
한편, 안착 공간(SP, 도 1 참조)에 배치되는 표시모듈(DM)의 크기에 대응하여, 검사용 커넥터인 제1 커넥터(CNT1)가 변경될 수 있다. 이때, 제1 커넥터(CNT1)의 크기가 변경되더라도, 본 발명의 표시모듈 검사 장치(PID)는 검사부(IP) 내에 서브가변부(CC1, CC2)를 포함하여, 다양한 크기의 제1 커넥터(CNT1)를 수용할 수 있다.
본 발명의 일 실시예에 따른 표시모듈 검사 장치(PID)는 안착부(SUP)가 가변부(AT)를 포함하여 표시모듈의 안착 공간(SP)의 크기를 조절할 수 있다. 또한, 표시모듈 검사 장치(PID)는 검사부(IP)가 서브가변부(CC1, CC2)를 포함하여, 다양한 크기의 제1 커넥터(CNT1)를 수용할 수 있다. 이에 따라, 본 발명의 표시모듈 검사 장치(PID)는 다양한 크기의 표시모듈(DM)을 수용하고, 검사할 수 있다.
이하, 도 4a 내지 도 4c를 참조하여 피검사 대상인 표시모듈(DM)에 대하여 설명한다.
도 4a는 일 실시예에 따른 표시장치(DD)의 사시도이다. 도 4b는 일 실시예에 따른 표시모듈(DM)의 분해사시도이다. 도 4c는 일 실시예에 따른 표시모듈(DM)의 평면도이다.
도 4a를 참조하면, 일 실시예의 표시장치(DD)는 제1 방향(DR1) 및 제2 방향(DR2) 각각에 평행한 표시면(IS)을 포함할 수 있다. 표시면(IS)은 제3 방향(DR3)을 향해 영상(IM)을 표시할 수 있다. 영상(IM)이 표시되는 표시면(IS)은 표시장치(DD)의 전면(front surface)과 대응될 수 있다.
도 4a에는 표시장치(DD)의 일 실시예로 스마트폰을 도시하였으나, 실시예가 이에 제한되는 것은 아니다. 본 발명에 따른 표시장치(DD)는 텔레비전, 모니터 등과 같은 대형 전자장치를 비롯하여, 태블릿, 자동차 내비게이션, 게임기, 스마트 워치 등과 같은 중소형 전자장치 등에 사용될 수 있다.
도 4a에 도시된 것과 같이, 표시장치(DD)의 표시면(IS)은 복수의 영역들을 포함할 수 있다. 표시장치(DD)의 표시면(IS)은 복수의 영역들로 구분될 수 있다. 표시장치(DD)의 표시면(IS)은 표시영역(DA) 및 비표시영역(NDA)이 정의될 수 있다.
표시영역(DA)은 영상(IM)이 표시되는 영역일 수 있으며, 사용자는 표시영역(DA)을 통해 영상(IM)을 시인한다. 표시영역(DA)은 사각 형상일 수 있다. 비표시영역(NDA)은 표시영역(DA)을 에워쌀 수 있다. 이에 따라, 표시영역(DA)의 형상은 실질적으로 비표시영역(NDA)에 의해 정의될 수 있다. 다만, 이는 예시적으로 도시한 것이고, 비표시영역(NDA)은 표시영역(DA)의 일측에만 인접하여 배치될 수도 있고, 생략될 수도 있다.
비표시영역(NDA)은 표시영역(DA)에 인접한 영역으로, 영상(IM)이 표시되지 않는 영역이다. 비표시영역(NDA)에 의해 표시장치(DD)의 베젤 영역이 정의될 수 있다.
비표시영역(NDA)은 표시영역(DA)을 에워쌀 수 있다. 다만, 이는 예시적으로 도시한 것이고, 비표시영역(NDA)은 표시영역(DA)의 가장자리 중 일부에만 인접할 수도 있으며 어느 하나의 실시예로 한정되지 않는다.
본 발명에 따른 표시장치(DD)는 외부에서 인가되는 사용자의 입력(TC)을 감지할 수 있다. 사용자의 입력(TC)은 사용자 신체의 일부, 광, 열, 또는 압력 등 다양한 형태의 외부 입력들을 포함한다. 본 실시예에서, 사용자의 입력(TC)은 전면에 인가되는 사용자의 손으로 도시되었다. 다만, 이는 예시적으로 도시한 것이고, 상술한 바와 같이 사용자의 입력(TC)은 다양한 형태(예를 들면, 사용자의 손을 이용한 입력, 터치 펜, 스타일러스 펜과 같은 기구를 이용한 입력 등)로 제공될 수 있다. 또한, 표시장치(DD)는 표시장치(DD)의 구조에 따라 표시장치(DD)의 측면이나 배면에 인가되는 사용자의 입력(TC)을 감지할 수도 있으며, 어느 하나의 실시예로 한정되지 않는다.
표시장치(DD)는 표시면(IS)을 활성화시켜 영상(IM)을 표시하는 동시에 입력(TC)을 감지할 수 있다. 본 실시예에서 입력(TC)을 감지하는 영역은 영상(IM)이 표시되는 표시영역(DA)에 구비된 것으로 도시되었다. 다만, 이는 예시적으로 도시한 것이고, 입력(TC)을 감지하는 영역은 비표시영역(NDA)에 제공되거나, 표시면(IS)의 모든 영역에 제공될 수도 있다.
도 4b는 표시장치(DD)에 포함된 표시모듈(DM)을 간단히 도시한 것이다. 도 4b를 참조하면, 본 발명의 일 실시예에 따른 표시모듈(DM)은 영상을 표시하는 표시패널(DP) 및 표시패널(DP) 상에 배치된 윈도우(WM)를 포함할 수 있다.
표시패널(DP)은 유기발광 표시패널(Organic Light emitting diode display panel), 퀀텀닷 표시패널(Quantum dot display panel), 액정 표시 패널(liquid crystal display panel), 플라즈마 표시 패널(plasma display panel), 전기영동 표시 패널(electrophoretic display panel), MEMS 표시 패널(microelectromechanical system display panel) 및 일렉트로웨팅 표시 패널(electrowetting display panel) 등일 수 있다.
윈도우(WM)의 상면은 도 4a에 도시된 표시장치(DD)의 표시면(IS)을 정의할 수 있다. 윈도우(WM)는 광학적으로 투명할 수 있다. 이에 따라, 표시패널(DP)에서 생성된 영상은 윈도우(WM)를 관통하여 사용자에게 용이하게 인식될 수 있다.
윈도우(WM)는 연성 재질로 이루어질 수 있다. 이에 따라, 일 실시예의 윈도우(WM)는 접히거나 펼쳐질 수 있다. 이에 따라 표시패널(DP)이 접히거나 펼쳐질 때 윈도우(WM)의 형상이 함께 변화할 수 있다.
윈도우(WM)는 표시패널(DP)에서 생성된 영상을 투과시키면서 동시에 외부의 충격을 완화시킴으로써 표시패널(DP)을 보호할 수 있다. 예를 들어, 윈도우(WM)는 외부의 충격에 의해 표시패널(DP)이 파손되거나 오작동하는 것을 방지한다. 외부로부터의 충격은 예를 들어 압력, 스트레스 등과 같이 외력으로 인해 표시패널(DP)에 결함을 야기할 수 있는 자극을 의미한다. 윈도우(WM)는 점 충격 및 면 충격에 의한 표시패널(DP)의 굽힘 변형, 압축 변형 및/또는 인장 변형을 완화함으로써 표시패널(DP)의 불량을 방지할 수 있다.
표시패널(DP)과 윈도우(WM) 사이에는 하나 이상의 기능층(FC)이 배치될 수 있다. 예를 들어, 기능층(FC)은 외광 반사를 차단하는 반사 방지층일 수 있다. 반사 방지층은 표시장치(DD)의 전면을 통해 입사되는 외광에 의해 표시패널(DP)을 구성하는 소자들이 외부에서 시인되는 문제를 방지할 수 있다. 반사 방지층은 편광 필름 및/또는 위상 지연 필름을 포함할 수 있다. 반사 방지층의 동작 원리에 따라 위상 지연 필름의 개수와 위상 지연 필름의 위상 지연 길이가 결정될 수 있다.
기능층(FC)은 사용자의 입력(TC, 도 4a 참조)을 감지하는 입력 감지층을 더 포함할 수 있다. 예를 들어, 입력 감지층은 적어도 하나의 연속 공정을 통해 표시패널(DP) 상에 직접 배치될 수 있다. 입력 감지층이 표시패널(DP) 상에 "직접 배치"된다는 것은, 별도의 접착층 없이 입력 감지층이 표시패널(DP) 상에 배치되는 것을 의미한다.
도 4b에서는 기능층(FC)이 표시패널(DP)의 상면에 배치되는 것으로 도시하였으나, 이에 한정되지 않는다. 다른 실시예에서, 기능층(FC)은 표시패널(DP)의 하면에 배치될 수 있다.
윈도우(WM)와 기능층(FC) 사이 및 기능층(FC)과 표시패널(DP) 사이에는 접착층이 더 배치될 수 있다. 예를 들어, 접착층은 접착제(pressure sensitive adhesive, PSA), 광학 투명 접착제(optical clear adhesive, OCA), 또는 광학 투명 레진(optical clear resin, OCR) 등일 수 있다.
도 4c를 참조하면, 표시모듈(DM)은 회로기판(PCB) 및 제2 커넥터(CNT2)를 더 포함할 수 있다. 회로기판(PCB)은 표시패널(DP) 또는 기능층(FC) 중 적어도 하나에 연결된 것일 수 있다. 회로기판(PCB)은 연성 회로기판일 수 있다. 도 4c에서는 일 예로 하나의 회로기판(PCB)을 도시하였으나, 이에 제한되지 않고 표시모듈(DM)은 2개 이상의 회로기판(PCB)을 포함할 수 있다.
회로기판(PCB) 상에는 제2 커넥터(CNT2)가 배치될 수 있다. 제2 커넥터(CNT2)는 회로기판(PCB)을 통해서 표시모듈(DM)에 전기적 신호를 전달할 수 있다. 제2 커넥터(CNT2)는 숫 단자를 포함할 수 있다. 예를 들어, 제2 커넥터(CNT2)는 숫형(male type) 커넥터 핀들로 구성된 n 개의 연결핀(PIN)들을 포함할 수 있다. 연결핀(PIN)들은 제1 방향(DR1)으로 배열될 수 있다. 예시적으로, 1개의 열로 배열된 연결핀(PIN)들이 도시되었으나, 이에 한정되지 않고, 연결핀(PIN)들은 복수 개의 열들로 배열될 수도 있다. 또는, 연결핀(PIN)들은 제2 방향(DR2)으로 배열될 수도 있다.
제2 커넥터(CNT2)의 n 개의 연결핀(PIN)들은 제1 커넥터(CNT1, 도 3 참조)의 n 개의 연결핀 삽입부(CPI, 도 3 참조)들에 삽입될 수 있다.
도 5a는 일 실시예에 따른 표시모듈 검사 장치(PID)에서, 표시모듈(DM)이 안착된 상태를 도시한 평면도이다. 도 5b는 다른 실시예에 따른 표시모듈 검사 장치(PID)에서 표시모듈(DM)이 안착된 상태를 도시한 평면도이다.
도 5a 및 도 5b는 도 4a 내지 도 4c에서 전술한 표시모듈(DM)이 표시모듈 검사 장치(PID)의 안착부(SUP)에 배치된 것을 도시한 것이다.
도 5a를 참조하면, 일 실시예의 표시모듈(DM)은 제1 길이(WD1)를 가질 수 있다. 제1 내지 제4 가변부(aa1, aa2, aa3, aa4)의 길이는 표시모듈(DM)의 제1 길이(WD1)에 맞게 조절되고, 표시모듈(DM)이 안착 공간(SP, 도 1)에 배치될 수 있다. 회로기판(PCB) 및 제2 커넥터(CNT2)는 가이드 홈(GG)에 배치될 수 있다.
제1 내지 제4 지지부(bb1, bb2, bb3, bb4)는 표시모듈(DM)을 둘러쌀 수 있다.
한편, 표시모듈 검사 장치(PID)는 쿠션부(FA)를 더 포함할 수 있다. 쿠션부(FA)는 제1 함몰부(RES1) 내에 측면(IF, 도 1 참조)을 따라 배치될 수 있다. 쿠션부(FA)는 제1 내지 제4 지지부(bb1, bb2, bb3, bb4)를 둘러싸는 것일 수 있다.
쿠션부(FA)는 제1 내지 제4 지지부(bb1, bb2, bb3, bb4)를 보조하여 표시모듈(DM)을 안정적으로 지지하는 것일 수 있다. 쿠션부(FA)는 유연성이 있는 물질을 포함할 수 있으며, 예를 들어, 스펀지, 발포폼, 또는 우레탄 등을 포함할 수 있다. 이에 따라, 가변부(AT)의 길이나 지지부(BT)의 위치가 변경될 때, 이에 맞게 쿠션부(FA)의 부피가 조절될 수 있다.
도 6a는 표시모듈 검사 장치(PID)에 표시모듈(DM')이 안착된 상태의 일 실시예를 도시한 평면도이다. 도 6b는 일 실시예에 따른 검사부(IP')의 사시도이다.
도 6a는 일 실시예의 표시모듈(DM')이 표시모듈 검사 장치(PID)의 안착부(SUP)에 배치된 것을 도시한 것이다. 표시모듈(DM')은 제1 길이(WD1, 도 5a 참조)보다 큰 제2 길이(WD2)를 가질 수 있다.
도 5a 및 도 6a를 함께 참조하면, 표시모듈(DM, DM')의 길이가 제1 길이(WD1)에서 제2 길이(WD2)로 증가함에 따라, 제1 내지 제4 가변부(aa1, aa2, aa3, aa4) 각각의 길이가 더욱 작아질 수 있다. 예를 들어, 제1 내지 제4 가변부(aa1, aa2, aa3, aa4)의 용수철이 더욱 압축될 수 있다.
또한, 제2 길이(WD2)를 가지는 표시모듈(DM')의 제2 커넥터(CNT2')의 크기는 제1 길이(WD1)를 가지는 표시모듈(DM)의 제2 커넥터(CNT2)의 크기보다 클 수 있다. 예를 들어, 제2 커넥터(CNT2')는 2n개의 연결핀(PIN')들을 포함할 수 있다.
도 6b를 참조하면, 제2 커넥터(CNT2')의 크기에 대응하여, 제1 커넥터(CNT1')의 크기도 커질 수 있다. 예를 들어, 제1 커넥터(CNT1')는 2n개의 연결핀 삽입부(CPI')를 포함할 수 있다. 제1 커넥터(CNT1')의 크기가 증가할 경우, 제1 및 제2 서브가변부(CC1,CC2) 용수철이 더욱 압축될 수 있다.
본 발명의 표시모듈 검사 장치(PID)는 가변부(AT) 및 서브가변부(CC1, CC2)의 길이를 조절하여, 다양한 크기의 표시모듈(DM, DM')을 수용할 수 있다.
한편, 본 발명의 표시모듈 검사 장치(PID)의 구조가 전술한 실시예에 제한되는 것은 아니다.
도 7은 표시모듈 검사 장치(PID)에 표시모듈(DM)이 안착된 상태의 일 실시예를 도시한 평면도이다. 도 7에 도시된 구성 중 도 1 내지 도 6b에서 설명한 구성과 동일한 구성에는, 동일한 설명이 적용될 수 있다.
도 7을 참조하면, 일 실시에의 표시모듈 검사 장치(PID)는 제1 함몰부(RES1)에 제1 내지 제4 지지부(bb1', bb2', bb3', bb4')를 포함할 수 있다. 제1 내지 제4 지지부(bb1', bb2', bb3', bb4')는 쿠션부(FA)에 의해 둘러싸일 수 있다.
제1 내지 제4 지지부(bb1', bb2', bb3', bb4') 각각은 형상 기억 합금(shape-memory　alloy)을 포함한다. 예를 들어, 제1 내지 제4 지지부(bb1', bb2', bb3', bb4') 각각에 열을 가하여 제1 내지 제4 지지부(bb1', bb2', bb3', bb4') 각각의 형상을 변형 시키고, 안착 공간(SP, 도 1 참조)의 크기를 조절할 수 있다. 이에 따라, 안착 공간(SP, 도 1 참조)의 크기를 표시모듈(DM)의 크기에 맞게 조절할 수 있다. 이외의 구성에 대해서는 도 1 내지 도 6b에서 전술한 설명이 동일하게 적용될 수 있다.
도 8은 일 실시예의 표시모듈 검사 장치(PID)에서 검사부(IP)가 닫힌 상태를 도시한 평면도이다. 검사부(IP)는 제2 함몰부(RES2)에 배치될 수 있다.
가이드 홈(GG)에 배치된 제2 커넥터(CNT2)는 검사부(IP)에 의해 가려질 수 있다. 검사부(IP)가 닫힘 상태일 때, 제2 커넥터(CNT2)는 제1 커넥터(CNT1)에 연결될 수 있다. 검사부(IP)는 서로 연결된 제1 및 제2 커넥터(CNT1, CNT2)를 통해 테스트 신호를 표시모듈(DM)에 제공할 수 있다.
테스트 신호는 표시모듈(DM)에 포함된 표시 패널(DP, 도 4b 참조), 또는 기능층(FC, 도 4b 참조)을 구동시키기 위한 신호일 수 있다. 테스트 신호에 따라 표시 패널(DP, 도 4b 참조), 또는 기능층(FC, 도 4b 참조)의 동작 상태를 확인하여 표시모듈(DM)을 검사할 수 있다.
또한, 도 1 내지 도 8에서는 표시모듈 검사 장치(PID)가 제1 함몰부(RES1) 및 제2 함몰부(RES2)를 포함하는 것으로 설명하였으나, 제3 함몰부를 더 포함할 수 있으며, 제3 함몰부에 표시모듈의 회로기판 및 제3 커넥터를 배치하여, 2개 이상의 커넥터에 대해 검사할 수 있다.
본 발명의 표시모듈 검사 장치는 안착부에 배치된 가변부와 지지부를 포함하여 피검사 대상인 표시모듈이 배치되는 안착 공간의 크기를 조절할 수 있다. 또한, 표시모듈 검사 장치는 검사부에 배치된 서브가변부를 포함하여, 다양한 크기의 검사용 커넥터를 수용할 수 있다. 이에 따라, 본 발명의 표시모듈 검사 장치는 다양한 크기의 표시모듈을 수용하여 검사할 수 있다.
이상 실시예를 참조하여 설명하였지만, 해당 기술 분야의 숙련된 당업자는 하기의 청구범위에 기재된 본 발명의 사상 및 영역으로부터 벗어나지 않는 범위 내에서 본 발명을 다양하게 수정 및 변경시킬 수 있음을 이해할 수 있을 것이다. 또한 본 발명에 개시된 실시예는 본 발명의 기술 사상을 한정하기 위한 것이 아니고, 하기의 청구범위 및 그와 동등한 범위 내에 있는 모든 기술 사상은 본 발명의 권리범위에 포함되는 것으로 해석되어야 할 것이다.
PID: 표시모듈 검사 장치 DM: 표시모듈
DP: 표시패널 SUP: 지지부
RES1, RES2: 제1 및 제2 함몰부 IP: 검사부
AT: 가변부 BT: 지지부
CC1, CC2: 제1 및 제2 서브가변부 SP: 안착공간
CNT1, CNT2: 제1 및 제2 커넥터 FA: 쿠션부

Claims (20)

  1. 바닥면 및 상기 바닥면에서 연장된 측면을 포함하는 제1 함몰부가 정의된 안착부; 및 검사용 커넥터를 포함하는 검사부; 를 포함하고,
    상기 안착부는 소정의 강성을 가지고 상기 바닥면 상에 배치된 지지부, 및 상기 지지부와 상기 측면을 연결하는 가변부를 포함하고,
    상기 가변부는 소정의 탄성을 가지거나, 또는 일부가 상기 측면 내로 관통될 수 있는 표시모듈 검사 장치.
  2. 제1 항에 있어서,
    상기 가변부는 용수철 또는 나사를 포함하는 표시모듈 검사 장치.
  3. 제1 항에 있어서,
    상기 가변부는 복수로 제공되는 표시모듈 검사 장치.
  4. 제1 항에 있어서,
    상기 가변부는 제1 가변부, 제2 가변부, 제3 가변부 및 제4 가변부를 포함하고,
    상기 제1 내지 제4 가변부에는 제1 지지부, 제2 지지부, 제3 지지부, 및 제4 지지부가 각각 연결되는 표시모듈 검사 장치.
  5. 제4 항에 있어서,
    상기 제1 내지 제4 지지부는 서로 이격된 표시모듈 검사 장치.
  6. 제4 항에 있어서,
    상기 제1 지지부는 상기 제3 지지부와 마주하고, 상기 제2 지지부는 상기 제4 지지부와 마주하는 표시모듈 검사 장치.
  7. 제4 항에 있어서,
    상기 안착부는 상기 측면을 따라 상기 제1 함몰부 내에 배치되고, 상기 제1 내지 상기 제4 지지부를 둘러싸는 쿠션부를 더 포함하는 표시모듈 검사 장치.
  8. 제1 항에 있어서,
    상기 지지부에는 상기 제1 함몰부와 이격되고, 함몰된 형상을 가지는 제2 함몰부가 더 정의되고,
    상기 검사부는 상기 제2 함몰부에 중첩하는 표시모듈 검사 장치.
  9. 제1 항에 있어서,
    상기 검사부의 일면에는 2개의 돌출부들 및 상기 2개의 돌출부들에 각각 연결된 2개의 서브가변부들이 배치되고,
    상기 검사용 커넥터의 양단은 상기 2개의 서브가변부들에 각각 연결되고,
    상기 서브가변부는 소정의 탄성을 가지거나, 또는 일부가 상기 돌출부 내로 관통될 수 있는 표시모듈 검사 장치.
  10. 제9 항에 있어서,
    상기 서브가변부는 용수철 또는 나사를 포함하는 표시모듈 검사 장치.
  11. 제1 항에 있어서,
    상기 지지부는 소정의 각도로 휘어진 바(bar) 형상을 가지는 표시모듈 검사 장치.
  12. 제1 항에 있어서,
    상기 바닥면은 제1 방향 및 상기 제1 방향과 교차하는 제2 방향과 평행하고,
    상기 측면은 상기 제1 및 제2 방향과 교차하는 제3 방향과 평행하는 표시모듈 검사 장치.
  13. 제1 항에 있어서,
    상기 안착부는 금속을 포함하는 표시모듈 검사 장치.
  14. 제1 항에 있어서,
    상기 지지부는 금속 및 세라믹 중 적어도 하나를 포함하는 표시모듈 검사 장치.
  15. 각각이 함몰된 형상을 가지는 제1 함몰부와 제2 함몰부가 정의된 안착부; 및 상기 제2 함몰부에 중첩하고 검사용 커넥터를 포함하는 검사부; 를 포함하고,
    상기 안착부는 상기 제1 함몰부에 중첩하고, 형상기억합금을 포함하는 지지부를 포함하는 표시모듈 검사 장치.
  16. 제15 항에 있어서,
    상기 지지부는 서로 이격된 제1 지지부, 제2 지지부, 제3 지지부, 및 제4 지지부를 포함하는 표시모듈 검사 장치.
  17. 제16 항에 있어서,
    상기 제1 내지 제4 지지부 각각은 소정의 각도로 벤딩된 바(bar) 형상을 포함하는 표시모듈 검사 장치.
  18. 제16 항에 있어서,
    상기 안착부는 상기 제1 함몰부 내에 배치되고, 상기 제1 내지 제4 지지부를 둘러싸는 쿠션부를 더 포함하는 표시모듈 검사 장치.
  19. 제16 항에 있어서,
    상기 검사용 커넥터는 복수의 연결핀 삽입부를 포함하는 표시모듈 검사 장치.
  20. 제16 항에 있어서,
    상기 검사부의 일면에는 2개의 돌출부들 및 상기 2개의 돌출부들에 각각 연결된 2개의 서브가변부들이 배치되고,
    상기 검사용 커넥터의 양단은 상기 2개의 서브가변부들에 각각 연결되고,
    상기 서브가변부는 소정의 탄성을 가지거나, 또는 일부가 상기 돌출부 내로 관통될 수 있는 표시모듈 검사 장치.
KR1020210018904A 2021-02-10 2021-02-10 표시모듈 검사 장치 KR20220115730A (ko)

Priority Applications (3)

Application Number Priority Date Filing Date Title
KR1020210018904A KR20220115730A (ko) 2021-02-10 2021-02-10 표시모듈 검사 장치
US17/496,444 US11898965B2 (en) 2021-02-10 2021-10-07 Inspection apparatus for display module including a seat part having recess part
CN202210093079.1A CN114913793A (zh) 2021-02-10 2022-01-26 显示模块检查装置

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
KR1020210018904A KR20220115730A (ko) 2021-02-10 2021-02-10 표시모듈 검사 장치

Publications (1)

Publication Number Publication Date
KR20220115730A true KR20220115730A (ko) 2022-08-18

Family

ID=82703291

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
KR1020210018904A KR20220115730A (ko) 2021-02-10 2021-02-10 표시모듈 검사 장치

Country Status (3)

Country Link
US (1) US11898965B2 (ko)
KR (1) KR20220115730A (ko)
CN (1) CN114913793A (ko)

Family Cites Families (12)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH07325009A (ja) * 1994-06-01 1995-12-12 Mitsubishi Electric Corp 散乱型液晶パネルの点灯検査装置
KR20070117188A (ko) 2006-06-07 2007-12-12 삼성전자주식회사 표시 패널 검사 장치 및 방법
US20130200915A1 (en) * 2012-02-06 2013-08-08 Peter G. Panagas Test System with Test Trays and Automated Test Tray Handling
KR102038983B1 (ko) 2012-05-04 2019-11-01 삼성디스플레이 주식회사 유기 발광 표시 장치, 유기 발광 표시 장치 검사 방법 및 유기 발광 표시 장치 검사 장치
KR102037069B1 (ko) 2012-10-22 2019-10-30 삼성디스플레이 주식회사 표시 패널의 검사 장치 및 그 방법
WO2014065601A1 (en) * 2012-10-25 2014-05-01 Lg Electronics Inc. Display device
CN102998823B (zh) * 2012-12-06 2015-04-08 京东方科技集团股份有限公司 点灯检查设备的偏光片支撑部件及点灯检查设备
CN103674496B (zh) * 2013-12-23 2016-05-25 京东方科技集团股份有限公司 光源发光特性检测装置
KR101570215B1 (ko) 2014-05-13 2015-11-18 (주) 루켄테크놀러지스 전자 디바이스의 검사장치
KR102158539B1 (ko) 2014-05-15 2020-09-23 삼성디스플레이 주식회사 표시 패널의 검사 장치
KR102587583B1 (ko) * 2018-03-29 2023-10-11 삼성디스플레이 주식회사 지그 조립체 및 이를 이용한 표시 장치의 제조 방법
KR200488774Y1 (ko) 2018-11-08 2019-03-19 주식회사 솔릭스 디스플레이 패널 검사 장치

Also Published As

Publication number Publication date
US20220252521A1 (en) 2022-08-11
CN114913793A (zh) 2022-08-16
US11898965B2 (en) 2024-02-13

Similar Documents

Publication Publication Date Title
EP3440505B1 (en) Borderless display with curved edges
KR102366313B1 (ko) 보호 필름, 표시 모듈, 표시 장치, 표시 모듈 제조 방법 및 표시 장치 제조 방법
KR100387108B1 (ko) 액정표시장치
KR20150071415A (ko) 표시 장치
CN108227259B (zh) 电子装置
US20200264668A1 (en) Display device
JP5322622B2 (ja) 狭額縁ｌｃｄ対応タッチパネル
CN107438781B (zh) 热膨胀补偿背光照明
KR20220115730A (ko) 표시모듈 검사 장치
US10782815B1 (en) Electronic panel
US20190072804A1 (en) Display device
KR20220106869A (ko) 표시 모듈 검사 장치
US11764527B2 (en) Connector
CN220820973U (zh) 柔性显示装置
KR102652727B1 (ko) 표시장치 및 표시모듈 검사방법
US11839042B2 (en) Display device
KR102656427B1 (ko) 표시 모듈 검사 장치
KR102483770B1 (ko) 다수의 학생과의 고속미러링을 지원하는 전자칠판
KR20190052954A (ko) 표시 장치 및 이의 제조 방법
US20230209983A1 (en) Display device and method for manufacturing the same
US20230074702A1 (en) Display device
CN110618567B (en) Display apparatus
KR20240057504A (ko) 표시 모듈
CN112394834A (zh) 电子模块
KR20210108343A (ko) 플렉서블 표시장치

Legal Events

Date Code Title Description
A201 Request for examination