FI117578B - Menetelmä ja järjestely elektronisen laitteen testauksen suorittamiseksi - Google Patents
Menetelmä ja järjestely elektronisen laitteen testauksen suorittamiseksi Download PDFInfo
- Publication number
- FI117578B FI117578B FI20031765A FI20031765A FI117578B FI 117578 B FI117578 B FI 117578B FI 20031765 A FI20031765 A FI 20031765A FI 20031765 A FI20031765 A FI 20031765A FI 117578 B FI117578 B FI 117578B
- Authority
- FI
- Finland
- Prior art keywords
- electronic device
- testing
- arrangement
- positioning
- test
- Prior art date
Links
Classifications
-
- H—ELECTRICITY
- H04—ELECTRIC COMMUNICATION TECHNIQUE
- H04M—TELEPHONIC COMMUNICATION
- H04M1/00—Substation equipment, e.g. for use by subscribers
- H04M1/24—Arrangements for testing
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01R—MEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
- G01R1/00—Details of instruments or arrangements of the types included in groups G01R5/00 - G01R13/00 and G01R31/00
- G01R1/02—General constructional details
- G01R1/04—Housings; Supporting members; Arrangements of terminals
- G01R1/0408—Test fixtures or contact fields; Connectors or connecting adaptors; Test clips; Test sockets
Landscapes
- Engineering & Computer Science (AREA)
- Signal Processing (AREA)
- Testing Electric Properties And Detecting Electric Faults (AREA)
- Testing Of Individual Semiconductor Devices (AREA)
Description
1 ? 117578
Menetelmä ja järjestely elektronisen laitteen testauksen suorittamiseksi . ? j
Ala
Keksinnön kohteena on järjestely ja menetelmä elektronisen laitteen 5 testauksen suorittamiseksi.
Tausta
Ennen kuin elektroninen laite toimitetaan myyntiin, sen testaaminen on hyvin tärkeää. Testauksella pyritään varmistamaan se, että elektroninen laite, kuten matkapuhelin, on täysin toimiva ja rakenteellisesti virheetön. Testauk-10 sessa testattava elektroninen laite kytketään testausyksikön kytkentäjärjestelyyn, joka pitää testattavaa elektronista laitetta paikallaan ja joka toimii käyttöliittymänä elektroniseen laitteeseen. Kytkentäjärjestelyn kautta elektronista laitetta ohjataan ja mittaussignaalit siirtyvät elektronisesta laitteesta signaalinkäsittelylaitteisiin.
15 Kytkentäjärjestely käsittää elektroniseen laitteeseen laitekohtaisesti sovitettuja mekaanisia osia, joiden on luonnollisesti oltava testattavan elektro- - nisen laitteen mittojen ja muotojen mukaisia. Mekaanisten osien avulla testattava elektroninen laite kiinnitetään testaukseen lujasti ja muodostetaan mahdollisesti tarvittavat sähköiset, akustiset ja optiset kytkennät riittävän hyvin.
: .·. 20 Kytkentäjärjestely voi käsittää antureita tai aktuaattoreita tms., joilla voidaan • · · ]'V suorittaa erilaisia testejä.
!.*"* Elektroniikkateollisuudessa on paljon laitteita, jotka on valmistettu : " samalle pohjaratkaisulle mutta joihin on tehty erilaisia muunnelmia markkinoi- \ den tarpeiden mukaan. Tällaiset laitteet kuuluvat samaan tuoteperheeseen, * * · : 25 koska niillä eroistaan huolimatta on monia yhteisiä piirteitä. Eri perheisiin kuu- luvilla tuotteilla ei puolestaan ole tavallisesti testauksen kannalta juurikaan yhteistä.
: :*: Testauslaitteiden suunnittelussa onkin pyritty valmistamaan täysin • · · .*·*. universaaleja testausjärjestelmiä. Tunnettuihin ratkaisuihin liittyy kuitenkin on- 30 gelmia. Universaalin kytkentäjärjestelyn suunnittelu ja valmistus vaatisi valta- * · · ‘ vasti resursseja ja tarkkaa testausjärjestelyn suunnittelua yhdessä laitevalmis- tajan kanssa. Tämä ei ole useinkaan mahdollista. Lisäksi uusi muunnelma tuo-teperheessä pakottaa suunnittelemaan ja valmistamaan kokonaan uuden kyt- ··· .·. : kentäjärjestelyn, mikä on kallista ja hankalaa ja hidastaa tuotteen testattavuut- • * · .
35 ta.
2 117578
Lyhyt selostus
Keksinnön tavoitteena on toteuttaa parannettu testausjärjestely ja -menetelmä. Tämän saavuttaa testausjärjestely elektronisen laitteen testausta varten, testausjärjestelyn käsittäessä testausyksikön, joka sisältää kytkentäjär-5 jestelyn ja aktuaattorimekanismin, ja aktuaattorimekanismi on sovitettu liikuttamaan kytkentäjärjestelyä ja elektronista laitetta kontaktiin toistensa kanssa testausta varten ja irrottamaan kytkentäjärjestelyn elektronisesta laitteesta testauksen päättyessä. Edelleen kytkentäjärjestely käsittää ainakin kaksi kytken-täjärjestelyosaa, joista ainakin yksi on sovitettu käytettäväksi tuoteperheeseen 10 kuuluvien elektronisten laitteiden testauksessa ja joista ainakin yksi muu on sovitettu käytettäväksi mainitun tuoteperheen elektronisen laitteen tuotespesifi-sessä testauksessa.
Keksinnön kohteena on myös elektronisen laitteen testausmenetelmä, jossa syötetään mitattava elektroninen laite testausyksikköön, liikutetaan 15 aktuaattorimekanismilla kytkentäjärjestelyä ja elektronista laitetta kontaktiin toistensa kanssa testausta varten ja irrotetaan kytkentäjärjestely elektronisesta laitteesta testauksen päättyessä. Edelleen menetelmässä testataan elektronista laitetta käyttäen kytkentäjärjestelyä, joka käsittää ainakin kaksi kytkentäjär-jestelyosaa, joista ainakin yksi on sovitettu käytettäväksi tuoteperheeseen kuu-20 luvien elektronisten laitteiden testauksessa ja joista ainakin yksi muu on sovitettu käytettäväksi saman tuoteperheen tuotespesifisessä testauksessa.
:.· * Keksinnön edullisia suoritusmuotoja kuvataan epäitsenäisissä pa- : tenttivaatimuksissa.
··· ·< "·„ Keksinnön mukaisella menetelmällä ja järjestelyllä saavutetaan • 25 useita etuja. Kytkentäjärjestelyn ei tarvitse olla kokonaan tuotespesifinen, vaan kytkentäjärjestely on muunneltavissa testattavan tuoteperheen mukaan. Kyt- ’···. kentäjärjestely voidaan suunnitella ja valmistaa kunkin tuotteen valmistajan • · mukaan huomioiden tuotteen eri kehitysvaiheet.
: ·'*: Kuvioluettelo • · ' * * * 30 Keksintöä selostetaan nyt lähemmin edullisten suoritusmuotojen yh- teydessä, viitaten oheisiin piirroksiin, joissa • · · kuvio 1 esittää testauslaiterakennetta, • · *.’* kuvio 2 esittää testauksessa käytettävää paikoitusratkaisun periaa- O tetta, :/·: 35 kuvio 3 esittää paikoitusratkaisua, ; 3 117578 kuvio 4 esittää paikoitusratkaisua, ja kuvio 5 esittää vuokaaviota.
Suoritusmuotojen kuvaus
Keksinnön mukainen testausjärjestely ja -menetelmä soveltuvat eri-5 tyisesti elektronisten laitteiden, kuten matkapuhelimien testaukseen, tähän kuitenkaan rajoittumatta.
Tässä hakemuksessa elektronisella laitteella tarkoitetaan elektronista komponenttia tai komponenttien muodostamaa kokonaisuutta, jossa ainakin yksi komponentti on elektroninen komponentti.
10 Tarkastellaan aluksi esitetyn ratkaisun mukaista testauslaiteraken- netta kuvion 1 avulla. Testausjärjestelmä käsittää ainakin yhden mittauslaitteiston 100 elektronisten laitteiden testauksen suorittamista varten. Mittauslaitteisto 100 voi sijaita testauskehikossa 102, jollainen on esimerkiksi 19” rack-kote-lo, missä merkintä " tarkoittaa tuumaa, joka vastaa 25,4 mm. Testauskehik-15 koon on helppo integroida testauksessa tarvittava kytkentäjärjestely, testaus-käsittelijä (handler) ja mittauslaitteisto, joka voi käsittää testauselektroniikan. Testauskäsittelijän tarkoituksena on suorittaa liikkeet testattavan elektronisen laitteen kytkemistä varten testausyksikössä. Testausjärjestelmässä käytetään usein testausmanipulaattoria, joka siirtää testattavan elektronisen laitteen pää-20 kulkuradaltaan testausyksikköön testattavaksi, vaikka testausmanipulaattori ei : .·. välttämätön olekaan.
• · · , Testauskehikko 102 voi käsittää esimerkiksi kaksi testausyksikköä 104 - 106, mittauslaitteiston testauslaitteita 108 - 110, testausohjaimen 112, y . monitorin 114 ja kuljettimen 116. Testausyksikkö voi sisältää mittauslaitteita, 25 testausyksikköohjaimen, ohjausväylän, teholähteen jne. (ei esitetty kuviossa • * · : ·* 1). Mittauslaitteiston mittauslaitteet mittaavat testattavaa elektronista laitetta
«M
testausohjaimen 112 ja yksikköohjaimen ohjaamana. Yksikköohjain, jossa on mikroprosessori ja sopivia ohjelmia, voi myös suorittaa signaalien esikäsittelyä * i.:*: kuten suodattamista ja signaalien käsittelyä. Yksikköohjainta ei kuitenkaan 30 välttämättä tarvita. Kunkin testausyksikön ohjausvälineenä voi toimia tes-y..t tausohjain 112 ohjausväylän kautta. Sekä testausyksikön elektroniset osat että > ;[.* testattava elektroninen laite voi saada käyttämänsä sähköisen tehon testaus- • t *·;·* yksikön teholähteestä.
Testauslaiterakenne voi käsittää kaapeloinnin (ei esitetty kuviossa ·’·.· 35 1), jolla testattava elektroninen laite (Device Under Test, DUT) ja testausyksi- * · kön testauselektroniikka kytketään toisiinsa tuotekohtaisen tai tuoteperhekoh-
; ' A
117578 täisen kytkentäjärjestelyn (fixture) ja siihen kuuluvan testauskäsittelijän kytken-täliittymän (handler connector interface) kautta. Testauskäsittelijän ja testaus-järjestelmän ohjauksen tiedonsiirto suoritetaan myös kaapeloinnin kautta.
Kytkentäjärjestelyn mekaanisten osien avulla testattava elektroninen 5 laite kiinnitetään testaukseen lujasti ja muodostetaan mahdollisesti tarvittavat sähköiset, mekaaniset ja optiset kytkennät riittävän hyvin. Kytkentäjärjestelyyn voi kuulua antureita, kontaktipintoja, optisia ja akustisia komponentteja tai ak-tuaattoreita, joilla voidaan suorittaa mekaanisia testejä.
Testattava elektroninen laite voidaan sijoittaa jompaankumpaan tes-10 tausyksikköön 104 - 106, jossa erilaisilla mittauslaitteiston testauslaitteilla 108 - 110, kuten antureilla ja mahdollisesti mekaanisilla koestimilla, mitataan ja kokeillaan elektronisen laitteen toimintaa. Testausta ohjataan testausohjaimella 112, joka voi myös tallentaa testaustulokset. Ohjaimena 112 voi toimia PC-tie-tokone (Personal Computer) tai muu vastaava digitaalista signaalinkäsittelyä 15 ohjaava ja suorittava laite. Testaustuloksia ja muuta testaukseen liittyvää ja käyttäjää palvelevaa informaatiota voidaan esittää monitorilla 114. Testattavat ? laitteet voidaan siirtää testauslaiterakenteen 100 läpi pois testauksesta tai seu-raavaan testauslaiterakenteeseen testauslaiterakenteessa 100 olevien aukkojen 116 ja kuljettimen 118 avulla. Testattavat elektroniset laitteet syötetään tes-20 tauslaiterakenteen 100 testausyksiköihin 104 - 106 testauslaiterakenteessa olevien aukkojen 120 - 122 kautta. Testattavat elektroniset laitteet voidaan • myös syöttää ulos testauslaiterakenteesta 100 samojen aukkojen 120-122 • * * · . kautta, mutta tavallisesti testauslaiterakenteen 100 vastakkaisilla puolilla on :"* myös aukot elektronisten laitteiden syöttämiseksi ulos. Testausyksikkö, jota voi • · · - -71 25 kutsua myös testauskammioksi, on tavallisesti täysin suljettu tila testauksen ." .. aikana häiriöiden vähentämiseksi. Erityisesti radiotaajuuksia testattaessa tes- • · · tausyksikön seinien tulee estää radiotaajuisen säteilyn lähteminen testausyksi- # ♦ *···* köstä ja estää radiotaajuisen säteilyn saapuminen testausyksikköön. Testaus- yksikön seinät voivat olla sähköä johtavaa ainetta, kuten metallia, tai riittävän 30 pienisilmäistä metalliverkkoa. Eristystä tarvitaan myös optisessa ja akustisessa testauksessa.
· · .♦·*. Tarkastellaan nyt esitettyä ratkaisua kuvion 2 avulla. Testausyksikkö • · · l,.' 104 sisältää aktuaattorimekanismin 208 ja kytkentäjärjestelyn 200, jossa on T* kaksi kytkentäjärjestelyosaa 2000, 2002. Paletilla 204 oleva elektroninen laite % ϊ.,.ϊ 35 206 syötetään testausyksikön 104 sisään testausyksikön vasemmassa kyljes- sä olevan aukon kautta (ei esitetty kuviossa 1) nuolen osoittamalla tavalla.
5 117578
Testauksen jälkeen paletilla 204 oleva elektroninen laite 206 siirretään ulos testausyksiköstä 104 oikeassa sivussa olevan aukon kautta (ei esitetty kuviossa 1) nuolen osoittamalla tavalla. Kun aktuaattorimekanismi 208 liikuttaa testauksen aloittamista varten kytkentäjärjestelyosaa 2002 tarpeeksi paljon ylöspäin 5 nuolen osoittamalla tavalla, paletilla 204 oleva elektroninen laite 206 ja kytken-täjärjestelyosa 2000 voivat kytkeytyä elektroniseen laitteeseen yläpuolelta ja kytkentäjärjestelyosa 2002 voi kytkeytyä elektroniseen laitteeseen alapuolelta testausta varten. Kytkeytyessään kytkentäjärjestely voi muodostaa mekaanisen kontaktin elektroniseen laitteeseen 206 tai palettiin 204 tai molempiin. Kyt-10 kentäjärjestelyssä voidaan käyttää antureita, jotka ovat galvaanisessa kosketuksessa elektronisen laitteen kanssa, tai antureita, jotka eivät ole galvaanisessa eivätkä muunkaanlaisessa mekaanisessa kosketuksessa elektronisen laitteen kanssa. Ilman mekaanista kosketusta suoritettavia mittauksia ovat esimerkiksi radiotaajuusmittaukset, optiset mittaukset ja akustiset mittaukset. Tes-15 tauksen päättyessä aktuaattorimekanismi 208 laskee kytkentäjärjestelyosaa 208 alaspäin nuolen osoittamalla tavalla, jolloin paletti 204 elektronisine laitteineen 206 laskeutuu myös alaspäin ja kytkentäjärjestelyosat 2000, 2002 irtoavat elektronisesta laitteesta 206.
Esitetyn ratkaisun mukaisesti kytkentäjärjestely käsittää ainakin 20 kaksi kytkentäjärjestelyosaa 2000, 2002, joista ainakin yksi (esimerkiksi kytkentäjärjestelyosa 2000) on sovitettu käytettäväksi tuoteperheeseen kuuluvien : elektronisten laitteiden testauksessa ja joista ainakin yksi muu (esimerkiksi kyt- . kentäjärjestelyosa 2002) on sovitettu käytettäväksi mainitun tuoteperheen elek- • · · ;·" ironisen laitteen tuotespesifisessä testauksessa. Tämä tarkoittaa sitä, että kyt- • · · | , 25 kentäjärjestelyosaa 2000 voidaan käyttää hyvin monenlaisten elektronisten „* .* laitteiden testauksessa, kunhan vain testattavat elektroniset laitteet kuuluvat • » · samaan tuoteperheeseen. Kytkentäjärjestelyosaa 2002 puolestaan voidaan käyttää vain yhdenlaisen elektronisen laitteen testaukseen, eli kytkentäjärjestelyosa 2002 on vaihdettava aina, kun testattavan laitteen tyyppi muuttuu, vaikka :#|.ί 30 pysyttäisiin samassa tuoteperheessä. Tuoteperheen eri tuotteet on rakennettu samalle pohjalle, mutta eri tuotteissa on erilaisia ominaisuuksia, jotka on saatu a.|.' aikaan erilaisilla rakenteellisilla tai ohjelmallisilla muunnoksilla. Esimerkiksi matkapuhelimen tuoteperheessä eri matkapuhelimella voi olla sama suorittava • * **;·* yksikkö (engine) mutta ylä- ja alakuoret ja/tai näppäimistön näppäinmatto voi- :"j: 35 vat olla erilaiset. Yleisesti voi olla myös niin, että suorittava yksikkö eri elektro- :*·.· nisissä laitteissa voi poiketa toisistaan, mutta kuoret ovat samat.
• · 6 117578
Esitetyn ratkaisun mukaisesti tuotespesifiseen testaukseen tarkoitettu, ainakin yksi kytkentäjärjestelyosa (esimerkiksi kytkentäjärjestelyosa 2000) on kytkentäjärjestelyn modulaarinen osa, joka on yksinkertaisesti vaihdettavissa muita kytkentäjärjestelyosia vaihtamatta. Esitetyssä ratkaisussa myös muut ; 5 kytkentäjärjestelyosat voivat olla yksinkertaisesti vaihdettavissa, mikä tarkoittaa sitä, että mekaaniset ja sähköiset liitynnät voidaan toteuttaa ilman työkalu-ja.
Kuvio 3 esittää testausjärjestelyä hieman tarkemmin. Tässä kuviossa kytkentäjärjestelyosia ovat yläadapteri 348, ala-adapteri 350 ja kytkentäjär-10 jestelyosa 306. Näistä yläadapteri 348 ja ala-adapteri 350 voidaan ajatella tuo-teperhekohtaisiksi ja kytkentäjärjestelyosaa 306 voidaan pitää tuotekohtaisena. Eri kytkentäjärjestelyosat voivat olla kelluvia (floating) eli ne voivat liikkua vapaasti ainakin ennalta määrätyissä rajoissa. On myös mahdollista, että kytkentäjärjestelyosat voivat olla kiinteitä eli ne voivat olla kiinni testausyksikössä.
15 Ala-adapteri 350 voi olla kiinni testausyksikön kehikossa esimerkiksi liittimen 354 kautta.
Yleisesti testausjärjestelmä käsittää paikoitusvälineet 300, 304, 310, 312, jotka on tarkoitettu kunkin kytkentäjärjestelyosan 2000, 2002 ja elektronisen laitteen 206 keskinäiseen paikoittamiseen. Kukin tuotespesifiseen testauk-20 seen sopiva kytkentäjärjestelyosa 306 voi liikkua vapaasti ennalta määrätyissä rajoissa ennen paikoitusta. Testausjärjestelmä käsittää paikoittamiseen tarkoi-: .·. tettujen paikoitusvälineiden 300, 304, 310, 312 vastakappaleet 302, 308, 314.
. Testausta varten paikoittamiseen tarkoitetut paikoitusvälineet 300, 304, 310, • · · 312 ja niiden vastakappaleet 302, 308, 314 paikoittavat kukin kytkentäjärjeste- • · · * . 25 lyosan 306 ja elektronisen laitteen 206 halutulla tavalla toistensa suhteen ak- * · · · / tuaattorimekanismin 320 liikuttaessa kytkentäjärjestelyä ja elektronista laitetta * * * kytkeytymään toisiinsa.
Testausyksikkö voi sisältää testausyksikön suhteen kiinteästi sijoite- t tut, paletin 204 paikoittamiseen tarkoitetut paikoitusvälineet 300. Paikoitusväli- 30 neet 300 voivat tällöin olla kiinni yläadapterissa 348, joka voi olla kiinni testaus- yksikön kehikossa esimerkiksi liittimen 352 kautta. Yläadapterissa 348 voi olla y..m kiinni myös anturi- tai aktuaattorimoduuli 370, jollainen on esimerkiksi matka- ;!.* puhelimeen tarkoitettu peräliitin. Paikoitusvälineet 300 voivat olla kuten kuvios- • · *·;·* sa 3 ohjaintappeja. Paletti 204 voi olla sovitettu liikkumaan vapaasti ennen pai- 35 koitusta, mutta testausyksikön sisällä liike on ennalta määrätyissä rajoissa.
:*·,· Paletti 204 käsittää paletin paikoittamiseen tarkoitettujen paikoitusvälineiden • · 117578 7 ‘ - -f 300 vastakappaleet 302, jotka voivat olla kuten kuviossa 3 ohjaintappeihin sovitettuja aukkoja. Testauksen alkaessa paletin 204 paikoittamiseen tarkoitetut paikoitusvälineet 300 ja niiden vastakappaleet 302 painuvat ja kohdistuvat toisiinsa paikoittaen paletin 204 aktuaattorimekanismin 320 liikuttaessa kytkentä-5 järjestelyä ja elektronista laitetta kontaktiin toistensa kanssa. Koska testattava elektroninen laite 206 on kiinnitetty liikkumattomaksi paikalleen paletille 204, myös elektroninen laite 206 paikoittuu tarkasti haluttuun paikkaan. Kuvion 3 aktuaattorimekanismi 320 vastaa kuvion 2 aktuaattorimekanismia 208.
Testausyksikkö voi sisältää testausyksikön suhteen kiinteästi sijoite-10 tut, kunkin kytkentäjärjestelyosan paikoittamiseen tarkoitetut paikoitusvälineet 304, jotka voivat olla kiinni ala-adapterissa 350. Paikoitusvälineet 304 voivat olla aukkoja ala-adapterissa 350, kuten kuviossa 3 on esitetty. Lisäksi ala-adapteri 306 voi käsittää moduuleja 340, jotka ovat liittimiä, antureita tai aktu-aattoreita testattavaan laitteeseen 206 kytkeytymistä, mittaamista, ohjaamista 15 ja käyttämistä varten. Ala-adapteri 350 voi puolestaan olla kiinni testausyksikön kehikossa. Kukin tuotespesifiseen testaukseen sopiva kytkentäjärjestely-osa 306 voi olla sovitettu liikkumaan vapaasti ennalta määrätyissä rajoissa ennen paikoitusta. Kukin tuotespesifiseen testaukseen sopiva kytkentäjärjestely-osa 306 voi käsittää kytkentäjärjestelyn paikoittamiseen tarkoitettujen paikoi-20 tusvälineiden vastakappaleet 308. Lisäksi kukin tuotespesifiseen testaukseen tarkoitettu kytkentäjärjestelyosa 306 käsittää moduuleja 330, jotka ovat liittimiä, : antureita tai aktuaattoreita testattavaan laitteeseen 206 kytkeytymistä, mittaa- ,"·[ mistä, ohjaamista ja käyttämistä varten. Näitä varten ala-adapterissa on aukko j • * · ' tai aukkoja (ei esitetty kuviossa 3). Testauksen alkaessa kytkentäjärjestely-: *! 25 osan 306 paikoittamiseen tarkoitetut paikoitusvälineet 304 ja niiden vastakap paleet 308 on sovitettu paikoittamaan kukin tuotespesifiseen testaukseen so-·’^* piva kytkentäjärjestely 306 aktuaattorimekanismin 320 liikuttaessa kytkentäjär- jestelyä 306 ja paletilla 204 olevaa elektronista laitetta 206 kontaktiin toistensa kanssa. Tällöin vastakappaleena toimivat tapit 308 painuvat paikoitusvälineinä : :\* 30 304 oleviin aukkoihin.
• · ·
Kytkentäjärjestelyosan paikoittamiseen tarkoitetut paikoitusvälineet • · · 304 eivät kuitenkaan välttämättä ole testausyksikön suhteen kiinteästi sijoite- *;,*,* tut, vaan kunkin kytkentäjärjestelyosan paikoittamiseen tarkoitetut paikoitusvä- • · ’·"* lineet 304 voivat liikkua vapaasti ennalta määrätyissä rajoissa. Tämä on mah- 35 dollista esimerkiksi silloin, kun ala-adapteri 350 ei ole kiinni testausyksikön ke- :**,· hikossa. Paletissa 204 voi olla paikoittamista varten vastakappaleisiin 308 so- • · 8 117578 tr vitetut paikoitusvälineet 310, joka voi olla tappiin sopiva kolo. Kun tuotespesifi-seen testaukseen sopiva kytkentäjärjestelyosa 306 nousee kohti palettia 204, vastakappaleena 308 toimivat tapit työntyvät ala-adapterin paikoitusvälineinä 304 toimivien reikien 304 läpi paikoitusvälineisiin 310, jolloin sekä ala-adapteri ; •1 5 350 että tuotespesifiseen testaukseen sopiva kytkentäjärjestelyosa 306 paikoit- tuu tarkasti haluttuun paikkaan testausta varten.
Ala-adapteri 350 voi käsittää myös erilliset kytkentäjärjestelyosan paikoittamiseen tarkoitetut paikoitusvälineet 312, joiden vastakappaleet 314 voivat olla paletissa 204. Paikoitusvälineet 312 voivat olla tappimaisia ja vasta-10 kappaleet 314 tappeihin sopivia aukkoja. Nämäkin paikoitusvälineet ja niiden vastakappaleet painuvat toisiaan vasten, kun aktuaattorimekanismi 320 liikuttaa kytkentäjärjestelyä kontaktiin elektronisen laitteen kanssa.
Aktuaattorimekanismi 320 voi toimia esimerkiksi siten, kuin kuviossa 3 on esitetty. Aktuaattorimekanismi 320 voi käsittää pneumaattisen tai hyd-15 raulisen painesylinterin 3200, joka työntää tai vetää mäntää 3202. Mäntä 3202 puolestaan liikuttaa edestakaisin kiilamaista kappaletta 3204, joka on kosketuksissa rullan 3206 kanssa. Rulla 3206 on kiinni tukikappaleessa 3208, joka « on kosketuksissa tuotespesifisen kytkentäjärjestelyosan 306 kanssa. Tukikap-pale 3208 voi olla mekaanisesti kiinni rakenteessa 360, johon tuotespesifinen 20 kytkentäjärjestelyosa 306 on kiinnitetty. Ala-adapteri 350 voi puolestaan olla kiinni rakenteessa 360. Kun kiilamainen kappale 3204 liikkuu, rulla 3206 rullaa : .·. kiilamaisen kappaleen 3204 pintaa pitkin ja nousee tai laskee riippuen siitä, *"·] kumpaan suuntaan kiilamainen kappale 3204 liikkuu. Tällöin ala-adapteri 350 • « · ja rakenne 360 kytkentäjärjestelyjen 306 nousevat ja laskevat muodostaen : *[ 25 tai irrottaen testauksessa tarvittavat kytkennät. Painesylinterin sijaan kiilamai- 4i* / sen kappaleen 3204 liike voidaan saada aikaan myös sähkömoottorilla. Lisäksi J ·* koko aktuaattorimekanismi 320 ja kytkentäjärjestelyosien kytkeminen testatta- vaan laitteeseen voidaan toteuttaa monin eri tavoin eikä esitetyn ratkaisun toimivuus riipu siitä, miten aktuaattorimekanismi varsinaisesti toimii.
30 Käytettäessä sekä kunkin kytkentäjärjestelyosan paikoittamiseen tarkoitettuja paikoitusvälineitä että paletin paikoittamiseen tarkoitettuja paikoi- ·«· tusvälineitä samaan aikaan voidaan kukin tuotespesifiseen testaukseen sopiva kytkentäjärjestelyjä paletti paikoittaa tarkasti toistensa suhteen, kun aktuaatto- • * *·;·* rimekanismi liikuttaa kytkentäjärjestelyä ja elektronista laitetta kontaktiin tois- 35 tensa kanssa.
• · · • · * · · . · • · · • · 9 ' 117578
Testausyksikkö voi sisältää elektronisen laitteen paikoittamiseen tarkoitetut paikoitusvälineet 400 paletin paikoittamiseen tarkoitettujen paikoi-tusvälineiden 300 sijaan (tai lisäksi), kuten kuviossa 4 on esitetty. Tällöin samaan tapaan kuin palettikin elektroninen laite 206 voi liikkua vapaasti ennalta 5 määrätyissä rajoissa ennen paikoitusta. Elektroninen laite 206 voi käsittää elektronisen laitteen paikoittamiseen tarkoitettujen paikoitusvälineiden 400 vastakappaleet 402. Testauksen alkaessa elektronisen laitteen paikoittamiseen tarkoitetut paikoitusvälineet 400 ja niiden vastakappaleet 402 on sovitettu pai-koittamaan elektroninen laite 206 halutulla tavalla kytkentäjärjestelyn suhteen 10 aktuaattorimekanismin 320 liikuttaessa kytkentäjärjestelyä ja elektronista laitetta 206 kytkeytymään toisiinsa.
Elektronisessa laitteessa 206 voi olla paikoittamista varten vasta-kappaleisiin 308 sovitetut paikoitusvälineet 410, joka voi olla tappiin sopiva kolo. Kun tuotespesifiseen testaukseen sopiva kytkentäjärjestelyosa 306 nou-15 see kohti elektronista laitetta 206, vastakappaleena 308 toimivat tapit työntyvät ala-adapterin paikoitusvälineinä 304 toimivien reikien 304 läpi paikoitusvälinei-siin 410, jolloin sekä ala-adapteri 350 että tuotespesifiseen testaukseen sopiva kytkentäjärjestelyosa 306 paikoittuu tarkasti haluttuun paikkaan testausta varten.
20 Ala-adapteri 350, joka voi olla kiinni testausyksikön kehikossa liitti men 354 kautta, voi käsittää myös erilliset kytkentäjärjestelyosan paikoittami-: .·. seen tarkoitetut paikoitusvälineet 412, joiden vastakappaleet 414 voivat olla elektronisessa laitteessa 206. Paikoitusvälineet 412 voivat olla tappimaisia ja • · · vastakappaleet 414 tappeihin sopivia aukkoja. Nämäkin paikoitusvälineet ja : " 25 niiden vastakappaleet painuvat toisiaan vasten, kun aktuaattorimekanismi 320 j 4* liikuttaa kytkentäjärjestelyä kontaktiin elektronisen laitteen kanssa.
: Esitetyssä ratkaisussa paikoittaminen ja kohdistaminen suoritetaan toisiinsa muodoiltaan toisiinsa sovitettujen mekaanisten rakenteiden avulla.
Tällaisia rakenteita ovat esimerkiksi muotosulkeiset rakenteet tai pulttiliitokset, : 30 joissa pultti toimii kolmantena muotosulkeisena rakenteena kummallekin toi- - :***. siinsa kohdistuvalle osalle. Vaikka yllä kuvatuissa ratkaisuissa on viitattu tap- * * * peihin, aukkoihin ja koloihin, voi paikoittamisen suorittaa hyvin monenlaisten * * * *;[/ mekaanisten rakenteiden ja muotojen avulla, koska kytkeytyessään toisiinsa *···* kaikki toisiinsa sovitetut muodot, jotka vähentävät tai rajoittavat liikkumisva- 35 pausasteita, kohdistavat myös kappaleita toisiinsa.
··· • » • · · .
» Il t Φ 117578 § 10
Kuviossa 5 on vielä kerran esitetty menetelmän tärkeimmät askeleet. Askeleessa 500 aktuaattorimekanismilla liikutetaan kytkentäjärjestelyä ja elektronista laitetta kontaktiin toistensa kanssa testausta varten ja irrotetaan kytkentäjärjestely elektronisesta laitteesta testauksen päättyessä. Askeleessa 5 502 elektronista laitetta testataan käyttäen kytkentäjärjestelyä, joka käsittää ainakin kaksi kytkentäjärjestelyosaa, joista ainakin yksi on sovitettu käytettä- ; vaksi tuoteperheeseen kuuluvien elektronisten laitteiden testauksessa ja joista ainakin yksi muu on sovitettu käytettäväksi saman tuoteperheen tuotespesifi-sessä testauksessa. Tuotespesifiseen testaukseen tarkoitettu, ainakin yksi kyt-10 kentäjärjestelyosa, joka on kytkentäjärjestelyn modulaarinen osa, voidaan vaihtaa elektronisen laitteen tuotespesifikaation muuttuessa muuttamatta muita kytkentäjärjestelyosia.
Vaikka keksintöä on edellä selostettu viitaten oheisten piirustusten mukaiseen esimerkkiin, on selvää, ettei keksintö ole rajoittunut siihen, vaan 15 sitä voidaan muunnella monin tavoin oheisten patenttivaatimusten puitteissa.
• · * · · • 1 · • 1 · * · · • · · · .? • · • · · • ·· ··· * · • · *·· -1 f · .--1.
• 1 • · 1 • 1 1 • · · * 1 1 * 1 · • · • · *·· • · · * · · • 1 · ··· '1 • · ···; • · tl • 1 · ···' • · 1 • ·
Claims (12)
1. Testausjärjestely elektronisen laitteen testausta varten, testaus-järjestelyn käsittäessä testausyksikön (104), joka sisältää kytkentäjärjestelyn (200) ja aktuaattorimekanismin (208), ja 5 aktuaattorimekanismi (208) on sovitettu liikuttamaan kytkentäjärjes telyä (200) ja elektronista laitetta (206) kontaktiin toistensa kanssa testausta varten ja irrottamaan kytkentäjärjestelyn (200) elektronisesta laitteesta (206) testauksen päättyessä, tunnettu siitä, että kytkentäjärjestely (200) käsittää ainakin kaksi kytkentäjärjestelyosaa 10 (2000, 2002), joista ainakin yksi on sovitettu käytettäväksi tuoteperheeseen kuuluvien elektronisten laitteiden testauksessa ja joista ainakin yksi muu on sovitettu käytettäväksi mainitun tuoteperheen elektronisen laitteen tuotes-pesifisessä testauksessa.
2. Patenttivaatimuksen 1 mukainen testausjärjestely, tunnettu 15 siitä, että tuotespesifiseen testaukseen tarkoitettu, ainakin yksi kytkentäjärjes- telyosa (2002) on kytkentäjärjestelyn modulaarinen osa, joka on vaihdettavissa muita kytkentäjärjestelyosia (2000, 2002) vaihtamatta.
3. Patenttivaatimuksen 1 mukainen testausjärjestely, tunnettu siitä, että testausjärjestely käsittää paikoitusvälineet (300, 304, 310, 312, 400), 20 jotka on tarkoitettu kunkin kytkentäjärjestelyosan (2000, 2002) ja elektronisen laitteen (206) keskinäiseen paikoittamiseen, : kukin tuotespesifiseen testaukseen sopiva kytkentäjärjestelyosa "... (306) on sovitettu liikkumaan vapaasti ennalta määrätyissä rajoissa ennen pai- , koitusta, " • · 25 testausjärjestely käsittää paikoittamiseen tarkoitettujen paikoitusvä- lineiden (300, 304, 310, 312, 400) vastakappaleet (302, 308, 314, 402), ja *"'* testausta varten paikoittamiseen tarkoitetut paikoitusvälineet (300, 304, 310, 312, 400) ja niiden vastakappaleet (302, 308, 314, 402) on sovitettu **:· paikoittamaan kukin tuotespesifiseen testaukseen sopiva kytkentäjärjestely ja * * * : ' 30 elektroninen laite (206) halutulla tavalla toistensa suhteen aktuaattorimekanis- min (320) liikuttaessa kytkentäjärjestelyä ja elektronista laitetta kytkeytymään .·*·. toisiinsa. • · • · · *
4. Patenttivaatimuksen 3 mukainen testausjärjestely, tunnettu • * · siitä, että kytkentäjärjestelyosan (2000, 2002) ja elektronisen laitteen (206) • · *. 117578 I 12 '·:·ΐ > paikoittamiseen tarkoitetut paikoitusvälineet (300) on testausyksikön suhteen kiinteästi sijoitettu.
5. Patenttivaatimuksen 1 mukainen testausjärjestely, tunnettu siitä, että testausyksikkö (104) sisältää kunkin kytkentäjärjestelyosan (2000, 5 2002) paikoittamiseen tarkoitetut paikoitusvälineet (304, 310), kukin tuotespesifiseen testaukseen sopiva kytkentäjärjestelyosa (306) on sovitettu liikkumaan vapaasti ennalta määrätyissä rajoissa ennen paikoitusta, kukin tuotespesifiseen testaukseen sopiva kytkentäjärjestelyosa 10 (306) käsittää paikoittamiseen tarkoitettujen paikoitusvälineiden (304, 310) vastakappaleet (308), ja testausta varten paikoittamiseen tarkoitetut paikoitusvälineet (304, 310. ja niiden vastakappaleet (308) on sovitettu paikoittamaan kukin kytkentäjärjestelyosa (2000, 2002, 306, 348, 350) ja elektroninen laite (206) halutulla 15 tavalla aktuaattorimekanismin (320) liikuttaessa kytkentäjärjestelyä ja elektronista laitetta kytkeytymään toisiinsa.
6. Patenttivaatimuksen 1 mukainen testausjärjestely, tunnettu siitä, että testausyksikkö sisältää elektronisen laitteen paikoittamiseen tarkoitetut paikoitusvälineet (400), 20 elektroninen laite (206) on sovitettu liikkumaan vapaasti ennalta • · : määrätyissä rajoissa ennen paikoitusta, elektroninen laite (206) käsittää elektronisen laitteen paikoittami- j’\. seen tarkoitettujen paikoitusvälineiden (400) vastakappaleet (402), ja *:·*: testausta varten elektronisen laitteen (206) paikoittamiseen tarkoite- f ·’·*; 25 tut paikoitusvälineet (400) ja niiden vastakappaleet (402) on sovitettu paikoit- • · .·**. tamaan elektroninen laite (206) halutulla tavalla kytkentäjärjestelyn suhteen aktuaattorimekanismin (320) liikuttaessa kytkentäjärjestelyä ja elektronista lai-_ ^ tetta kytkeytymään toisiinsa. φ · · *··. • * ·
7. Patenttivaatimuksen 1 mukainen testausjärjestely, tunnettu 30 siitä, että testausyksikkö sisältää paletin paikoittamiseen tarkoitetut paikoitus- • · * välineet (308, 312), testattavan elektronisen laitteen ollessa kiinnitetty liikku- ♦ · "* mattomaksi paikalleen paletille (204), • · · paletti (204) on sovitettu liikkumaan vapaasti ennalta määrätyissä rajoissa ennen paikoitusta, 117578 paletti (204) käsittää paletin paikoittamiseen tarkoitettujen paikoitus-välineiden (308, 312) vastakappaleet (310, 314), ja testauksen alkaessa paletin paikoittamiseen tarkoitetut paikoitusvä-lineet (308, 312) ja niiden vastakappaleet (310, 312) on sovitettu paikoitta-5 maan paletti (204) halutulla tavalla kytkentäjärjestelyn suhteen aktuaattorime-kanismin (320) liikuttaessa kytkentäjärjestelyä ja elektronista laitetta kytkeytymään toisiinsa.
8. Elektronisen laitteen testausmenetelmä, jossa syötetään mitattava elektroninen laite (206) testausyksikköön, liikutetaan (500) aktuaattorime- 10 kanismilla (320) kytkentäjärjestelyä (200) ja elektronista laitetta (206) kontaktiin toistensa kanssa testausta varten ja irrotetaan kytkentäjärjestely elektronisesta laitteesta testauksen päättyessä, t u n n e 11 u siitä, että testataan (502) elektronista laitetta (206) käyttäen kytkentäjärjestelyä (200), joka käsittää ainakin kaksi kytkentäjärjestelyosaa (2000, 2002), joista 15 ainakin yksi on sovitettu käytettäväksi tuoteperheeseen kuuluvien elektronisten laitteiden testauksessa ja joista ainakin yksi muu on sovitettu käytettäväksi saman tuoteperheen tuotespesifisessä testauksessa.
9. Patenttivaatimuksen 8 mukainen menetelmä, tunnettu siitä, että vaihdetaan elektronisen laitteen (206) tuotespesifikaation muuttuessa tuo- 20 tespesifiseen testaukseen tarkoitettu, ainakin yksi kytkentäjärjestelyosa (2000), **·: : joka on kytkentäjärjestelyn modulaarinen osa, muuttamatta muita kytkentäjär- jestelyosia (2002). • · • · • · ♦
10. Patenttivaatimuksen 8 mukainen menetelmä, tu n n ett u siitä, • · että paikoitetaan elektroninen laite (206) testauksen alkaessa testausjärjestel- 25 mässä olevien elektronisen laitteen (206) ja kytkentäjärjestelyn (200) paikoit- • * ***** tamiseen tarkoitettujen paikoitusvälineiden (300, 304, 310, 312, 400) ja niiden , vastakappaleiden (302, 308, 314, 402) avulla elektronisen laitteen (206) ja kyt-kentäjärjestelyosien (2000, 2002) kohdistamiseksi ja kytkemiseksi toisiinsa. * · φ • · • · ·
11. Patenttivaatimuksen 8 mukainen menetelmä, tunnettu siitä, • * · 30 että kiinnitetään testattava elektroninen laite liikkumattomaksi paikalleen pale- *··.* tille (204), paletin (204) liikkuessa ennalta määrätyissä rajoissa testausyksi- :***: kössä ennen paikoitusta, ja * · · : paikoitetaan paletti (204) testauksen alkaessa testausyksikössä ole vien paletin paikoittamiseen tarkoitettujen paikoitusvälineiden (308, 312) ja pa- 117578 letissä olevien paletin paikoittamiseen tarkoitettujen paikoitusvälineiden vasta-kappaleiden (310, 314) avulla elektronisen laitteen (206) ja kytkentäjärjestelyn (200) kohdistamiseksi ja kytkemiseksi toisiinsa.
12. Patenttivaatimuksen 8 mukainen menetelmä, tunnettu siitä, | 5 että kunkin tuotespesifiseen testaukseen sopivan kytkentäjärjestelyosan (306) liikkuessa vapaasti ennalta määrätyissä rajoissa ennen paikoitusta paikoitetaan kukin tuotespesifiseen testaukseen sopiva kytkentäjär-jestelyosa (306) testauksen alkaessa kytkentäjärjestelyn paikoittamiseen tarkoitettujen paikoitusvälineiden (304, 310) ja niiden vastakappaleiden (308) 10 avulla elektroninen laitteen (206) ja kytkentäjärjestelyn (200) kohdistamiseksi ja kytkemiseksi toisiinsa. • t • · · # · · • · · · ·'··· • 1 2 3 · • · · »1· • · · # · · · · • · • 1 · *·· * 1 • 1 ...... ··· • · • · ··· # ·1· *·· · · ··· • 1 * · *·· • 1 · • 1 1 * · · ···'-• · • · • · · · 1 • · • · • · 1 2 » · 3 ··· * · 15 1 1 7578
Priority Applications (2)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
FI20031765A FI117578B (fi) | 2003-12-03 | 2003-12-03 | Menetelmä ja järjestely elektronisen laitteen testauksen suorittamiseksi |
PCT/FI2004/000731 WO2005054877A1 (en) | 2003-12-03 | 2004-12-02 | Method and arrangement for testing an electronic device |
Applications Claiming Priority (2)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
FI20031765 | 2003-12-03 | ||
FI20031765A FI117578B (fi) | 2003-12-03 | 2003-12-03 | Menetelmä ja järjestely elektronisen laitteen testauksen suorittamiseksi |
Publications (3)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
FI20031765A0 FI20031765A0 (fi) | 2003-12-03 |
FI20031765A FI20031765A (fi) | 2005-06-04 |
FI117578B true FI117578B (fi) | 2006-11-30 |
Family
ID=29763464
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
FI20031765A FI117578B (fi) | 2003-12-03 | 2003-12-03 | Menetelmä ja järjestely elektronisen laitteen testauksen suorittamiseksi |
Country Status (2)
Country | Link |
---|---|
FI (1) | FI117578B (fi) |
WO (1) | WO2005054877A1 (fi) |
Families Citing this family (5)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US8022712B2 (en) | 2005-12-20 | 2011-09-20 | Jot Automation Oy | Testing adapter |
FI122041B (fi) | 2008-09-18 | 2011-07-29 | Jot Automation Oy | Testiadapterikonfiguraatio |
CN102331427A (zh) * | 2011-08-30 | 2012-01-25 | 常州天合光能有限公司 | 太阳电池组件隐形裂纹测试方法 |
US20130200915A1 (en) * | 2012-02-06 | 2013-08-08 | Peter G. Panagas | Test System with Test Trays and Automated Test Tray Handling |
CN109061237B (zh) * | 2018-08-03 | 2022-05-17 | 中国航空工业集团公司雷华电子技术研究所 | 一种用于微波模块准确测试的自动装夹通用装置 |
Family Cites Families (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US6170329B1 (en) * | 1999-06-14 | 2001-01-09 | Agilent Technologies, Inc. | Test fixture customization adapter enclosure |
US6828773B2 (en) * | 2002-03-21 | 2004-12-07 | Agilent Technologies, Inc. | Adapter method and apparatus for interfacing a tester with a device under test |
-
2003
- 2003-12-03 FI FI20031765A patent/FI117578B/fi not_active IP Right Cessation
-
2004
- 2004-12-02 WO PCT/FI2004/000731 patent/WO2005054877A1/en not_active Application Discontinuation
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
FI20031765A0 (fi) | 2003-12-03 |
FI20031765A (fi) | 2005-06-04 |
WO2005054877A1 (en) | 2005-06-16 |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
KR102008457B1 (ko) | 음향 테스팅을 위한 마이크로폰 테스트 스탠드 | |
CN101490572B (zh) | 用于检测导电管脚相对于电路板位置的设备和方法 | |
JPWO2009025070A1 (ja) | 試験システムおよびドーターユニット | |
KR101342450B1 (ko) | 전자부품 시험장치, 소켓보드 조립체 및 인터페이스 장치 | |
JP2006322918A (ja) | インターフェース、及びそれを用いた半導体テスト装置 | |
KR20140020967A (ko) | 전자 부품의 자동화된 시험 및 검증을 위한 장치 | |
EP2963430B1 (en) | Contactor arrangement, test-in-strip handler and test-in-strip handler arrangement | |
FI117578B (fi) | Menetelmä ja järjestely elektronisen laitteen testauksen suorittamiseksi | |
WO2008089341A3 (en) | System for fault determinations for high frequency electronic circuits | |
KR20070042901A (ko) | Zif 커넥터 시스템, 테스트 헤드 및 정합 인쇄 회로보드의 결합 및 분리 방법 | |
CN201311478Y (zh) | 一种用于手机印制电路板全功能测试的装置 | |
US20130002280A1 (en) | Test probe alignment structures for radio-frequency test systems | |
EP2672283A1 (en) | Test device, test system, method and carrier for testing electronic components under variable pressure conditions | |
CN100582793C (zh) | 电子器件检测装置 | |
US9577770B2 (en) | Method for analyzing the RF performance of a probe card, detector assembly and system for analyzing the RF performance of a probe card | |
EP1312930A3 (en) | Apparatus for scan testing printed circuit boards | |
TW201500719A (zh) | 平面度測試機 | |
CN109596864B (zh) | 一种测试治具 | |
KR101891749B1 (ko) | 자동 검사장치 | |
EP3091365B1 (en) | Method for analyzing the rf performance of a probe card, detector assembly and system for analyzing the rf performance of a probe card | |
FI119529B (fi) | Elektronisen laitteen testaus | |
KR20100013641A (ko) | 커넥터 검사장치 및 방법 | |
CN218002486U (zh) | 一种电池尺寸测量设备 | |
CN220136284U (zh) | 一种接近传感器用检测机 | |
KR101086373B1 (ko) | 전기 검사 장치 |
Legal Events
Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
FG | Patent granted |
Ref document number: 117578 Country of ref document: FI |
|
PC | Transfer of assignment of patent |
Owner name: JOT AUTOMATION OY Free format text: JOT AUTOMATION OY |
|
MM | Patent lapsed |