FI117578B - Method and arrangement for performing testing of an electronic device - Google Patents
Method and arrangement for performing testing of an electronic device Download PDFInfo
- Publication number
- FI117578B FI117578B FI20031765A FI20031765A FI117578B FI 117578 B FI117578 B FI 117578B FI 20031765 A FI20031765 A FI 20031765A FI 20031765 A FI20031765 A FI 20031765A FI 117578 B FI117578 B FI 117578B
- Authority
- FI
- Finland
- Prior art keywords
- electronic device
- testing
- arrangement
- positioning
- test
- Prior art date
Links
Classifications
-
- H—ELECTRICITY
- H04—ELECTRIC COMMUNICATION TECHNIQUE
- H04M—TELEPHONIC COMMUNICATION
- H04M1/00—Substation equipment, e.g. for use by subscribers
- H04M1/24—Arrangements for testing
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01R—MEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
- G01R1/00—Details of instruments or arrangements of the types included in groups G01R5/00 - G01R13/00 and G01R31/00
- G01R1/02—General constructional details
- G01R1/04—Housings; Supporting members; Arrangements of terminals
- G01R1/0408—Test fixtures or contact fields; Connectors or connecting adaptors; Test clips; Test sockets
Landscapes
- Engineering & Computer Science (AREA)
- Signal Processing (AREA)
- Testing Electric Properties And Detecting Electric Faults (AREA)
- Testing Of Individual Semiconductor Devices (AREA)
Description
1 ? 1175781? 117578
Menetelmä ja järjestely elektronisen laitteen testauksen suorittamiseksi . ? jMethod and arrangement for performing testing of an electronic device. ? j
AlaArea
Keksinnön kohteena on järjestely ja menetelmä elektronisen laitteen 5 testauksen suorittamiseksi.The invention relates to an arrangement and method for performing testing of an electronic device 5.
TaustaBackground
Ennen kuin elektroninen laite toimitetaan myyntiin, sen testaaminen on hyvin tärkeää. Testauksella pyritään varmistamaan se, että elektroninen laite, kuten matkapuhelin, on täysin toimiva ja rakenteellisesti virheetön. Testauk-10 sessa testattava elektroninen laite kytketään testausyksikön kytkentäjärjestelyyn, joka pitää testattavaa elektronista laitetta paikallaan ja joka toimii käyttöliittymänä elektroniseen laitteeseen. Kytkentäjärjestelyn kautta elektronista laitetta ohjataan ja mittaussignaalit siirtyvät elektronisesta laitteesta signaalinkäsittelylaitteisiin.Before an electronic device is sold, it is very important to test it. The purpose of testing is to ensure that an electronic device, such as a mobile phone, is fully functional and structurally sound. In Testuk-10, the electronic device under test is coupled to a test unit switching arrangement that holds the electronic device under test in place and acts as a user interface to the electronic device. Through the switching arrangement, the electronic device is controlled and the measurement signals are transferred from the electronic device to the signal processing equipment.
15 Kytkentäjärjestely käsittää elektroniseen laitteeseen laitekohtaisesti sovitettuja mekaanisia osia, joiden on luonnollisesti oltava testattavan elektro- - nisen laitteen mittojen ja muotojen mukaisia. Mekaanisten osien avulla testattava elektroninen laite kiinnitetään testaukseen lujasti ja muodostetaan mahdollisesti tarvittavat sähköiset, akustiset ja optiset kytkennät riittävän hyvin.15 The switching arrangement comprises mechanical parts adapted to the electronic device, which of course must conform to the dimensions and shape of the electronic device under test. The electronic component to be tested by means of mechanical components shall be firmly attached to the test and the necessary electrical, acoustic and optical circuits shall be adequately formed.
: .·. 20 Kytkentäjärjestely voi käsittää antureita tai aktuaattoreita tms., joilla voidaan • · · ]'V suorittaa erilaisia testejä.:. ·. 20 The switching arrangement may comprise sensors or actuators, etc., for performing various tests.
!.*"* Elektroniikkateollisuudessa on paljon laitteita, jotka on valmistettu : " samalle pohjaratkaisulle mutta joihin on tehty erilaisia muunnelmia markkinoi- \ den tarpeiden mukaan. Tällaiset laitteet kuuluvat samaan tuoteperheeseen, * * · : 25 koska niillä eroistaan huolimatta on monia yhteisiä piirteitä. Eri perheisiin kuu- luvilla tuotteilla ei puolestaan ole tavallisesti testauksen kannalta juurikaan yhteistä.!. * "* The electronics industry has a lot of hardware made:" for the same floor plan but with different variations according to market needs. Such devices belong to the same product family, * * ·: 25 because they have many common features despite their differences. On the other hand, products belonging to different families usually have little in common with testing.
: :*: Testauslaitteiden suunnittelussa onkin pyritty valmistamaan täysin • · · .*·*. universaaleja testausjärjestelmiä. Tunnettuihin ratkaisuihin liittyy kuitenkin on- 30 gelmia. Universaalin kytkentäjärjestelyn suunnittelu ja valmistus vaatisi valta- * · · ‘ vasti resursseja ja tarkkaa testausjärjestelyn suunnittelua yhdessä laitevalmis- tajan kanssa. Tämä ei ole useinkaan mahdollista. Lisäksi uusi muunnelma tuo-teperheessä pakottaa suunnittelemaan ja valmistamaan kokonaan uuden kyt- ··· .·. : kentäjärjestelyn, mikä on kallista ja hankalaa ja hidastaa tuotteen testattavuut- • * · .:: *: In designing the testing equipment, we have made complete efforts to · · ·. * · *. universal testing systems. However, known solutions present problems. Designing and manufacturing a universal switching arrangement would require a huge amount of resources and rigorous design of the testing arrangement together with the device manufacturer. This is often not possible. In addition, the new variant in the product family forces the design and manufacture of a completely new ···. ·. : field organization, which is expensive and cumbersome, and slows down the testability of the product.
35 ta.35 ta.
2 1175782 117578
Lyhyt selostusShort description
Keksinnön tavoitteena on toteuttaa parannettu testausjärjestely ja -menetelmä. Tämän saavuttaa testausjärjestely elektronisen laitteen testausta varten, testausjärjestelyn käsittäessä testausyksikön, joka sisältää kytkentäjär-5 jestelyn ja aktuaattorimekanismin, ja aktuaattorimekanismi on sovitettu liikuttamaan kytkentäjärjestelyä ja elektronista laitetta kontaktiin toistensa kanssa testausta varten ja irrottamaan kytkentäjärjestelyn elektronisesta laitteesta testauksen päättyessä. Edelleen kytkentäjärjestely käsittää ainakin kaksi kytken-täjärjestelyosaa, joista ainakin yksi on sovitettu käytettäväksi tuoteperheeseen 10 kuuluvien elektronisten laitteiden testauksessa ja joista ainakin yksi muu on sovitettu käytettäväksi mainitun tuoteperheen elektronisen laitteen tuotespesifi-sessä testauksessa.It is an object of the invention to provide an improved testing arrangement and method. This is achieved by a test arrangement for testing an electronic device, the test arrangement comprising a test unit including a switching arrangement and an actuating mechanism, and the actuating mechanism being adapted to move the switching arrangement and the electronic device to contact with each other for testing and disengaging the switching arrangement. Further, the coupling arrangement comprises at least two coupling arrangement portions, at least one of which is adapted for use in the testing of electronic devices of the product family 10 and at least one of the others is adapted for use in product-specific testing of the electronic device of the said family.
Keksinnön kohteena on myös elektronisen laitteen testausmenetelmä, jossa syötetään mitattava elektroninen laite testausyksikköön, liikutetaan 15 aktuaattorimekanismilla kytkentäjärjestelyä ja elektronista laitetta kontaktiin toistensa kanssa testausta varten ja irrotetaan kytkentäjärjestely elektronisesta laitteesta testauksen päättyessä. Edelleen menetelmässä testataan elektronista laitetta käyttäen kytkentäjärjestelyä, joka käsittää ainakin kaksi kytkentäjär-jestelyosaa, joista ainakin yksi on sovitettu käytettäväksi tuoteperheeseen kuu-20 luvien elektronisten laitteiden testauksessa ja joista ainakin yksi muu on sovitettu käytettäväksi saman tuoteperheen tuotespesifisessä testauksessa.The invention also relates to a method of testing an electronic device by feeding a measurable electronic device to a test unit, moving the switching arrangement and the electronic device into contact with one another for testing and disconnecting the switching arrangement from the electronic device upon completion of testing. The method further comprises testing an electronic device using a switching arrangement comprising at least two switching system components, at least one of which is adapted for use in testing electronic devices belonging to a product family and at least one of which is adapted for use in product specific testing of the same product family.
:.· * Keksinnön edullisia suoritusmuotoja kuvataan epäitsenäisissä pa- : tenttivaatimuksissa.Preferred embodiments of the invention are described in the dependent claims.
··· ·< "·„ Keksinnön mukaisella menetelmällä ja järjestelyllä saavutetaan • 25 useita etuja. Kytkentäjärjestelyn ei tarvitse olla kokonaan tuotespesifinen, vaan kytkentäjärjestely on muunneltavissa testattavan tuoteperheen mukaan. Kyt- ’···. kentäjärjestely voidaan suunnitella ja valmistaa kunkin tuotteen valmistajan • · mukaan huomioiden tuotteen eri kehitysvaiheet.··· · <"·" The method and arrangement of the invention provide several advantages. The switching arrangement does not have to be completely product specific, but the switching arrangement can be varied according to the product family being tested. The switching arrangement can be designed and manufactured by the manufacturer of each product. · Taking into account the various stages of product development.
: ·'*: Kuvioluettelo • · ' * * * 30 Keksintöä selostetaan nyt lähemmin edullisten suoritusmuotojen yh- teydessä, viitaten oheisiin piirroksiin, joissa • · · kuvio 1 esittää testauslaiterakennetta, • · *.’* kuvio 2 esittää testauksessa käytettävää paikoitusratkaisun periaa- O tetta, :/·: 35 kuvio 3 esittää paikoitusratkaisua, ; 3 117578 kuvio 4 esittää paikoitusratkaisua, ja kuvio 5 esittää vuokaaviota.The invention will now be described in more detail with reference to the preferred embodiments, with reference to the accompanying drawings, in which: · Fig. 1 shows a test apparatus structure, • · *. Fig. 2 illustrates the principle of a positioning solution used in testing. Fig. 3 shows a positioning solution,; 3 117578 Figure 4 shows a positioning solution, and Figure 5 shows a flow chart.
Suoritusmuotojen kuvausDescription of Embodiments
Keksinnön mukainen testausjärjestely ja -menetelmä soveltuvat eri-5 tyisesti elektronisten laitteiden, kuten matkapuhelimien testaukseen, tähän kuitenkaan rajoittumatta.The testing arrangement and method according to the invention are particularly applicable to, but not limited to, testing of electronic devices such as mobile phones.
Tässä hakemuksessa elektronisella laitteella tarkoitetaan elektronista komponenttia tai komponenttien muodostamaa kokonaisuutta, jossa ainakin yksi komponentti on elektroninen komponentti.As used herein, an electronic device is an electronic component or assembly of components, wherein at least one component is an electronic component.
10 Tarkastellaan aluksi esitetyn ratkaisun mukaista testauslaiteraken- netta kuvion 1 avulla. Testausjärjestelmä käsittää ainakin yhden mittauslaitteiston 100 elektronisten laitteiden testauksen suorittamista varten. Mittauslaitteisto 100 voi sijaita testauskehikossa 102, jollainen on esimerkiksi 19” rack-kote-lo, missä merkintä " tarkoittaa tuumaa, joka vastaa 25,4 mm. Testauskehik-15 koon on helppo integroida testauksessa tarvittava kytkentäjärjestely, testaus-käsittelijä (handler) ja mittauslaitteisto, joka voi käsittää testauselektroniikan. Testauskäsittelijän tarkoituksena on suorittaa liikkeet testattavan elektronisen laitteen kytkemistä varten testausyksikössä. Testausjärjestelmässä käytetään usein testausmanipulaattoria, joka siirtää testattavan elektronisen laitteen pää-20 kulkuradaltaan testausyksikköön testattavaksi, vaikka testausmanipulaattori ei : .·. välttämätön olekaan.10, a test apparatus structure according to the initially presented solution is considered with reference to FIG. The testing system comprises at least one measuring apparatus 100 for performing testing of electronic devices. The measuring apparatus 100 may be located in a test frame 102, such as a 19 "rack housing, where" denotes an inch equivalent to 25.4 mm. The size of the test frame 15 is easy to integrate with the switching arrangement required for testing, the handler and the measuring apparatus. The test system often utilizes a test manipulator that moves the test device from its main 20 to the test unit for testing, even though the test manipulator is not:. ·.
• · · , Testauskehikko 102 voi käsittää esimerkiksi kaksi testausyksikköä 104 - 106, mittauslaitteiston testauslaitteita 108 - 110, testausohjaimen 112, y . monitorin 114 ja kuljettimen 116. Testausyksikkö voi sisältää mittauslaitteita, 25 testausyksikköohjaimen, ohjausväylän, teholähteen jne. (ei esitetty kuviossa • * · : ·* 1). Mittauslaitteiston mittauslaitteet mittaavat testattavaa elektronista laitettaThe test frame 102 may comprise, for example, two test units 104 to 106, test apparatus 108 to 110, test controller 112, y. monitor 114 and conveyor 116. The test unit may include measuring devices, 25 test unit drivers, a control bus, a power supply, etc. (not shown in Figure * * ·: · * 1). Measuring apparatus measuring instruments measure the electronic device under test
«M«M
testausohjaimen 112 ja yksikköohjaimen ohjaamana. Yksikköohjain, jossa on mikroprosessori ja sopivia ohjelmia, voi myös suorittaa signaalien esikäsittelyä * i.:*: kuten suodattamista ja signaalien käsittelyä. Yksikköohjainta ei kuitenkaan 30 välttämättä tarvita. Kunkin testausyksikön ohjausvälineenä voi toimia tes-y..t tausohjain 112 ohjausväylän kautta. Sekä testausyksikön elektroniset osat että > ;[.* testattava elektroninen laite voi saada käyttämänsä sähköisen tehon testaus- • t *·;·* yksikön teholähteestä.controlled by test controller 112 and unit controller. A unit controller with a microprocessor and suitable programs can also perform signal processing * i.:*: such as filtering and signal processing. However, a unit controller may not be needed. The control means of each of the test units may be a tes-y..t background controller 112 via the control bus. Both the electronic components of the test unit and the>; [. * Electronic device under test can obtain the electrical power tests they use from the power supply * *; · * unit.
Testauslaiterakenne voi käsittää kaapeloinnin (ei esitetty kuviossa ·’·.· 35 1), jolla testattava elektroninen laite (Device Under Test, DUT) ja testausyksi- * · kön testauselektroniikka kytketään toisiinsa tuotekohtaisen tai tuoteperhekoh-The test device structure may comprise cabling (not shown in Figure · · · · 35 1) that connects the Device Under Test (DUT) and the test electronics of the test unit to a product or family of products.
; ' A; 'A
117578 täisen kytkentäjärjestelyn (fixture) ja siihen kuuluvan testauskäsittelijän kytken-täliittymän (handler connector interface) kautta. Testauskäsittelijän ja testaus-järjestelmän ohjauksen tiedonsiirto suoritetaan myös kaapeloinnin kautta.117578 through a fixture and its associated test handler connector interface. Communication between the test handler and the control of the test system is also performed via cabling.
Kytkentäjärjestelyn mekaanisten osien avulla testattava elektroninen 5 laite kiinnitetään testaukseen lujasti ja muodostetaan mahdollisesti tarvittavat sähköiset, mekaaniset ja optiset kytkennät riittävän hyvin. Kytkentäjärjestelyyn voi kuulua antureita, kontaktipintoja, optisia ja akustisia komponentteja tai ak-tuaattoreita, joilla voidaan suorittaa mekaanisia testejä.The electronic device 5 to be tested by means of the mechanical parts of the switching arrangement is securely fastened to the test and the necessary electrical, mechanical and optical connections are formed sufficiently well. The coupling arrangement may include sensors, contact surfaces, optical and acoustic components, or actuators for performing mechanical tests.
Testattava elektroninen laite voidaan sijoittaa jompaankumpaan tes-10 tausyksikköön 104 - 106, jossa erilaisilla mittauslaitteiston testauslaitteilla 108 - 110, kuten antureilla ja mahdollisesti mekaanisilla koestimilla, mitataan ja kokeillaan elektronisen laitteen toimintaa. Testausta ohjataan testausohjaimella 112, joka voi myös tallentaa testaustulokset. Ohjaimena 112 voi toimia PC-tie-tokone (Personal Computer) tai muu vastaava digitaalista signaalinkäsittelyä 15 ohjaava ja suorittava laite. Testaustuloksia ja muuta testaukseen liittyvää ja käyttäjää palvelevaa informaatiota voidaan esittää monitorilla 114. Testattavat ? laitteet voidaan siirtää testauslaiterakenteen 100 läpi pois testauksesta tai seu-raavaan testauslaiterakenteeseen testauslaiterakenteessa 100 olevien aukkojen 116 ja kuljettimen 118 avulla. Testattavat elektroniset laitteet syötetään tes-20 tauslaiterakenteen 100 testausyksiköihin 104 - 106 testauslaiterakenteessa olevien aukkojen 120 - 122 kautta. Testattavat elektroniset laitteet voidaan • myös syöttää ulos testauslaiterakenteesta 100 samojen aukkojen 120-122 • * * · . kautta, mutta tavallisesti testauslaiterakenteen 100 vastakkaisilla puolilla on :"* myös aukot elektronisten laitteiden syöttämiseksi ulos. Testausyksikkö, jota voi • · · - -71 25 kutsua myös testauskammioksi, on tavallisesti täysin suljettu tila testauksen ." .. aikana häiriöiden vähentämiseksi. Erityisesti radiotaajuuksia testattaessa tes- • · · tausyksikön seinien tulee estää radiotaajuisen säteilyn lähteminen testausyksi- # ♦ *···* köstä ja estää radiotaajuisen säteilyn saapuminen testausyksikköön. Testaus- yksikön seinät voivat olla sähköä johtavaa ainetta, kuten metallia, tai riittävän 30 pienisilmäistä metalliverkkoa. Eristystä tarvitaan myös optisessa ja akustisessa testauksessa.The electronic device under test may be located in one of the test units 104-106, where various measuring apparatus 108-101, such as sensors and possibly mechanical testers, are used to measure and test the performance of the electronic device. Testing is controlled by test controller 112, which may also store test results. Controller 112 may be a personal computer or other similar device controlling and performing digital signal processing 15. Test results and other test-related and user-friendly information can be displayed on monitor 114. Testable? the devices may be moved through the test device structure 100 out of testing or to the following test device structure by means of openings 116 and conveyor 118 in the test device structure 100. The electronic devices to be tested are fed to the test units 104-106 of the tes-20 backend structure 100 through openings 120-122 in the tester structure. The electronic devices being tested can also be • output from the test device structure 100 with the same openings 120-122 • * * ·. , but usually on opposite sides of the test device structure 100 has: "* also openings for outputting electronic devices. The test unit, which may also be referred to as a test chamber, is usually a completely closed space for testing." .. during interference reduction. Particularly when testing radio frequencies, the walls of the test • • · unit should prevent radio frequency radiation from leaving the test unit and prevent the RF unit from entering the test unit. The walls of the test unit may be an electrically conductive material, such as metal, or a metal mesh of sufficient mesh size. Insulation is also required for optical and acoustic testing.
· · .♦·*. Tarkastellaan nyt esitettyä ratkaisua kuvion 2 avulla. Testausyksikkö • · · l,.' 104 sisältää aktuaattorimekanismin 208 ja kytkentäjärjestelyn 200, jossa on T* kaksi kytkentäjärjestelyosaa 2000, 2002. Paletilla 204 oleva elektroninen laite % ϊ.,.ϊ 35 206 syötetään testausyksikön 104 sisään testausyksikön vasemmassa kyljes- sä olevan aukon kautta (ei esitetty kuviossa 1) nuolen osoittamalla tavalla.· ·. ♦ · *. Referring now to Figure 2, the present solution will be considered. Testing Unit • · · l ,. ' 104 includes an actuator mechanism 208 and a coupling arrangement 200 having T * two coupling arrangement portions 2000, 2002. The electronic device% ϊ., Ϊ 35 206 on pallet 204 is fed into the test unit 104 through an opening on the left side of the test unit (not shown in Figure 1). as shown.
5 1175785, 117578
Testauksen jälkeen paletilla 204 oleva elektroninen laite 206 siirretään ulos testausyksiköstä 104 oikeassa sivussa olevan aukon kautta (ei esitetty kuviossa 1) nuolen osoittamalla tavalla. Kun aktuaattorimekanismi 208 liikuttaa testauksen aloittamista varten kytkentäjärjestelyosaa 2002 tarpeeksi paljon ylöspäin 5 nuolen osoittamalla tavalla, paletilla 204 oleva elektroninen laite 206 ja kytken-täjärjestelyosa 2000 voivat kytkeytyä elektroniseen laitteeseen yläpuolelta ja kytkentäjärjestelyosa 2002 voi kytkeytyä elektroniseen laitteeseen alapuolelta testausta varten. Kytkeytyessään kytkentäjärjestely voi muodostaa mekaanisen kontaktin elektroniseen laitteeseen 206 tai palettiin 204 tai molempiin. Kyt-10 kentäjärjestelyssä voidaan käyttää antureita, jotka ovat galvaanisessa kosketuksessa elektronisen laitteen kanssa, tai antureita, jotka eivät ole galvaanisessa eivätkä muunkaanlaisessa mekaanisessa kosketuksessa elektronisen laitteen kanssa. Ilman mekaanista kosketusta suoritettavia mittauksia ovat esimerkiksi radiotaajuusmittaukset, optiset mittaukset ja akustiset mittaukset. Tes-15 tauksen päättyessä aktuaattorimekanismi 208 laskee kytkentäjärjestelyosaa 208 alaspäin nuolen osoittamalla tavalla, jolloin paletti 204 elektronisine laitteineen 206 laskeutuu myös alaspäin ja kytkentäjärjestelyosat 2000, 2002 irtoavat elektronisesta laitteesta 206.The palette of 204 after testing the electronic device 206 is moved out of the testing unit 104 at the right side of the opening (not shown in Figure 1) indicated by the arrow. When the actuator mechanism 208 to move to the start of the test fixture part 2002 upwards sufficiently much as indicated by the arrow 5, the electronic device 204 on the palette 206 and the fixture part 2000 may connect to the electronic device from above and the fixture part 2002 may be connected to the electronic device from below for testing. Upon engagement, the coupling arrangement may establish mechanical contact with electronic device 206 or pallet 204 or both. In the Kyt-10 field arrangement, sensors that are in galvanic contact with the electronic device, or sensors that are neither galvanic nor any other mechanical contact with the electronic device, can be used. Measurements without mechanical contact include radio frequency measurements, optical measurements and acoustic measurements. 15 Tes-flow end of the actuator mechanism 208 calculates the fixture part 208 downwards as shown by the arrow, whereby the palette 204 of electronic active fittings 206 also descends downwards and the fixture parts 2000, 2002 detached from the electronic device 206.
Esitetyn ratkaisun mukaisesti kytkentäjärjestely käsittää ainakin 20 kaksi kytkentäjärjestelyosaa 2000, 2002, joista ainakin yksi (esimerkiksi kytkentäjärjestelyosa 2000) on sovitettu käytettäväksi tuoteperheeseen kuuluvien : elektronisten laitteiden testauksessa ja joista ainakin yksi muu (esimerkiksi kyt- . kentäjärjestelyosa 2002) on sovitettu käytettäväksi mainitun tuoteperheen elek- • · · ;·" ironisen laitteen tuotespesifisessä testauksessa. Tämä tarkoittaa sitä, että kyt- • · · | , 25 kentäjärjestelyosaa 2000 voidaan käyttää hyvin monenlaisten elektronisten „* .* laitteiden testauksessa, kunhan vain testattavat elektroniset laitteet kuuluvat • » · samaan tuoteperheeseen. Kytkentäjärjestelyosaa 2002 puolestaan voidaan käyttää vain yhdenlaisen elektronisen laitteen testaukseen, eli kytkentäjärjestelyosa 2002 on vaihdettava aina, kun testattavan laitteen tyyppi muuttuu, vaikka :#|.ί 30 pysyttäisiin samassa tuoteperheessä. Tuoteperheen eri tuotteet on rakennettu samalle pohjalle, mutta eri tuotteissa on erilaisia ominaisuuksia, jotka on saatu a.|.' aikaan erilaisilla rakenteellisilla tai ohjelmallisilla muunnoksilla. Esimerkiksi matkapuhelimen tuoteperheessä eri matkapuhelimella voi olla sama suorittava • * **;·* yksikkö (engine) mutta ylä- ja alakuoret ja/tai näppäimistön näppäinmatto voi- :"j: 35 vat olla erilaiset. Yleisesti voi olla myös niin, että suorittava yksikkö eri elektro- :*·.· nisissä laitteissa voi poiketa toisistaan, mutta kuoret ovat samat.According to the embodiment disclosed, the switching arrangement comprises at least 20 two switching arrangement portions 2000, 2002, of which at least one (e.g., switching arrangement portion 2000) is adapted to be used for testing electronic devices and at least one other (e.g. switching arrangement portion 2002) • · ·; · "for product-specific testing of an ironic device. This means that the switching field elements of • · · |, 2000 can be used for testing a wide variety of electronic devices, as long as the electronic devices being tested belong to the same product family. The switching arrangement 2002, on the other hand, can only be used to test one type of electronic device, i.e. the switching arrangement 2002 must be replaced whenever the type of device being tested changes, even if: # | .ί 30 remains in the same product family. een different products are built on the same basis but different products have different properties obtained by a. |. ' For example, in a mobile phone product family, different mobile phones may have the same executable engine, but the top and bottom shells and / or the keypad mat may be different. In general, it may also be the case that the executing unit may differ from one another to another, but the shells are the same.
• · 6 117578• · 6 117578
Esitetyn ratkaisun mukaisesti tuotespesifiseen testaukseen tarkoitettu, ainakin yksi kytkentäjärjestelyosa (esimerkiksi kytkentäjärjestelyosa 2000) on kytkentäjärjestelyn modulaarinen osa, joka on yksinkertaisesti vaihdettavissa muita kytkentäjärjestelyosia vaihtamatta. Esitetyssä ratkaisussa myös muut ; 5 kytkentäjärjestelyosat voivat olla yksinkertaisesti vaihdettavissa, mikä tarkoittaa sitä, että mekaaniset ja sähköiset liitynnät voidaan toteuttaa ilman työkalu-ja.According to the disclosed solution, at least one switching arrangement portion (e.g., a switching arrangement portion 2000) for product-specific testing is a modular portion of a switching arrangement that is simply replaceable without replacing other switching arrangement parts. The solution presented also includes others; The switching arrangement components can be simply interchangeable, which means that the mechanical and electrical connections can be implemented without tools.
Kuvio 3 esittää testausjärjestelyä hieman tarkemmin. Tässä kuviossa kytkentäjärjestelyosia ovat yläadapteri 348, ala-adapteri 350 ja kytkentäjär-10 jestelyosa 306. Näistä yläadapteri 348 ja ala-adapteri 350 voidaan ajatella tuo-teperhekohtaisiksi ja kytkentäjärjestelyosaa 306 voidaan pitää tuotekohtaisena. Eri kytkentäjärjestelyosat voivat olla kelluvia (floating) eli ne voivat liikkua vapaasti ainakin ennalta määrätyissä rajoissa. On myös mahdollista, että kytkentäjärjestelyosat voivat olla kiinteitä eli ne voivat olla kiinni testausyksikössä.Figure 3 shows the test arrangement in a slightly more detailed manner. In this figure, the coupling arrangement portions include the top adapter 348, the bottom adapter 350, and the coupling arrangement 306. Of these, the top adapter 348 and the bottom adapter 350 can be thought of as product family-specific and the coupling arrangement portion 306 can be considered product-specific. The various coupling arrangement portions may be floating, i.e. they may move freely at least within predetermined limits. It is also possible that the coupling arrangement portions may be fixed, i.e. they may be attached to the test unit.
15 Ala-adapteri 350 voi olla kiinni testausyksikön kehikossa esimerkiksi liittimen 354 kautta.The lower adapter 350 may be attached to the test unit frame, for example, via connector 354.
Yleisesti testausjärjestelmä käsittää paikoitusvälineet 300, 304, 310, 312, jotka on tarkoitettu kunkin kytkentäjärjestelyosan 2000, 2002 ja elektronisen laitteen 206 keskinäiseen paikoittamiseen. Kukin tuotespesifiseen testauk-20 seen sopiva kytkentäjärjestelyosa 306 voi liikkua vapaasti ennalta määrätyissä rajoissa ennen paikoitusta. Testausjärjestelmä käsittää paikoittamiseen tarkoi-: .·. tettujen paikoitusvälineiden 300, 304, 310, 312 vastakappaleet 302, 308, 314.Generally, the test system comprises positioning means 300, 304, 310, 312 for positioning each of the switching arrangement parts 2000, 2002 and the electronic device 206. Each coupling arrangement portion 306 suitable for product-specific test pause 20 can move freely within predetermined limits prior to positioning. The test system includes:. counterparts 302, 308, 314 of the positioning means 300, 304, 310, 312.
. Testausta varten paikoittamiseen tarkoitetut paikoitusvälineet 300, 304, 310, • · · 312 ja niiden vastakappaleet 302, 308, 314 paikoittavat kukin kytkentäjärjeste- • · · * . 25 lyosan 306 ja elektronisen laitteen 206 halutulla tavalla toistensa suhteen ak- * · · · / tuaattorimekanismin 320 liikuttaessa kytkentäjärjestelyä ja elektronista laitetta * * * kytkeytymään toisiinsa.. The positioning means 300, 304, 310, • 312 and their counterparts 302, 308, 314 for testing position each of the switching systems. 25 lyos 306 and electronic device 206 as desired relative to one another as the actuator mechanism 320 moves the switching arrangement and the electronic device * * * to engage.
Testausyksikkö voi sisältää testausyksikön suhteen kiinteästi sijoite- t tut, paletin 204 paikoittamiseen tarkoitetut paikoitusvälineet 300. Paikoitusväli- 30 neet 300 voivat tällöin olla kiinni yläadapterissa 348, joka voi olla kiinni testaus- yksikön kehikossa esimerkiksi liittimen 352 kautta. Yläadapterissa 348 voi olla y..m kiinni myös anturi- tai aktuaattorimoduuli 370, jollainen on esimerkiksi matka- ;!.* puhelimeen tarkoitettu peräliitin. Paikoitusvälineet 300 voivat olla kuten kuvios- • · *·;·* sa 3 ohjaintappeja. Paletti 204 voi olla sovitettu liikkumaan vapaasti ennen pai- 35 koitusta, mutta testausyksikön sisällä liike on ennalta määrätyissä rajoissa.The test unit may include positioning means 300 for positioning the pallet 204 stationary with respect to the test unit. The positioning means 300 may then be attached to the top adapter 348, which may be secured to the test unit frame, for example through connector 352. The top adapter 348 may also have a sensor or actuator module 370 attached, such as a stern connector for a mobile phone. The positioning means 300 may be like the guide pins 3 in the pattern. The pallet 204 may be arranged to move freely prior to positioning, but within the test unit the movement is within predetermined limits.
:*·,· Paletti 204 käsittää paletin paikoittamiseen tarkoitettujen paikoitusvälineiden • · 117578 7 ‘ - -f 300 vastakappaleet 302, jotka voivat olla kuten kuviossa 3 ohjaintappeihin sovitettuja aukkoja. Testauksen alkaessa paletin 204 paikoittamiseen tarkoitetut paikoitusvälineet 300 ja niiden vastakappaleet 302 painuvat ja kohdistuvat toisiinsa paikoittaen paletin 204 aktuaattorimekanismin 320 liikuttaessa kytkentä-5 järjestelyä ja elektronista laitetta kontaktiin toistensa kanssa. Koska testattava elektroninen laite 206 on kiinnitetty liikkumattomaksi paikalleen paletille 204, myös elektroninen laite 206 paikoittuu tarkasti haluttuun paikkaan. Kuvion 3 aktuaattorimekanismi 320 vastaa kuvion 2 aktuaattorimekanismia 208.The pallet 204 comprises counterparts 302 of positioning means for positioning the pallet, which may be as openings in the guide pins as shown in Fig. 3. As testing begins, the positioning means 300 for positioning the pallet 204 and their counterparts 302 are depressed and aligned with one another, positioning the actuator mechanism 320 of the pallet 204 as the switching arrangement and electronic device contacts each other. Since the electronic device 206 to be tested is fixedly stationary on the pallet 204, the electronic device 206 is also precisely positioned at the desired location. The actuator mechanism 320 of Figure 3 corresponds to the actuator mechanism 208 of Figure 2.
Testausyksikkö voi sisältää testausyksikön suhteen kiinteästi sijoite-10 tut, kunkin kytkentäjärjestelyosan paikoittamiseen tarkoitetut paikoitusvälineet 304, jotka voivat olla kiinni ala-adapterissa 350. Paikoitusvälineet 304 voivat olla aukkoja ala-adapterissa 350, kuten kuviossa 3 on esitetty. Lisäksi ala-adapteri 306 voi käsittää moduuleja 340, jotka ovat liittimiä, antureita tai aktu-aattoreita testattavaan laitteeseen 206 kytkeytymistä, mittaamista, ohjaamista 15 ja käyttämistä varten. Ala-adapteri 350 voi puolestaan olla kiinni testausyksikön kehikossa. Kukin tuotespesifiseen testaukseen sopiva kytkentäjärjestely-osa 306 voi olla sovitettu liikkumaan vapaasti ennalta määrätyissä rajoissa ennen paikoitusta. Kukin tuotespesifiseen testaukseen sopiva kytkentäjärjestely-osa 306 voi käsittää kytkentäjärjestelyn paikoittamiseen tarkoitettujen paikoi-20 tusvälineiden vastakappaleet 308. Lisäksi kukin tuotespesifiseen testaukseen tarkoitettu kytkentäjärjestelyosa 306 käsittää moduuleja 330, jotka ovat liittimiä, : antureita tai aktuaattoreita testattavaan laitteeseen 206 kytkeytymistä, mittaa- ,"·[ mistä, ohjaamista ja käyttämistä varten. Näitä varten ala-adapterissa on aukko j • * · ' tai aukkoja (ei esitetty kuviossa 3). Testauksen alkaessa kytkentäjärjestely-: *! 25 osan 306 paikoittamiseen tarkoitetut paikoitusvälineet 304 ja niiden vastakap paleet 308 on sovitettu paikoittamaan kukin tuotespesifiseen testaukseen so-·’^* piva kytkentäjärjestely 306 aktuaattorimekanismin 320 liikuttaessa kytkentäjär- jestelyä 306 ja paletilla 204 olevaa elektronista laitetta 206 kontaktiin toistensa kanssa. Tällöin vastakappaleena toimivat tapit 308 painuvat paikoitusvälineinä : :\* 30 304 oleviin aukkoihin.The test unit may include positioning means 304 fixedly positioned with respect to the test unit, for positioning each switching arrangement portion, which may be secured to the lower adapter 350. The positioning means 304 may be apertures in the lower adapter 350, as shown in Figure 3. In addition, the sub-adapter 306 may comprise modules 340 which are connectors, sensors or actuators for connection, measurement, control 15 and operation with the device 206 being tested. The lower adapter 350, in turn, may be attached to the test unit frame. Each coupling arrangement portion 306 suitable for product-specific testing may be adapted to move freely within predetermined limits prior to positioning. Each coupling arrangement portion 306 suitable for product-specific testing may include counterparts 308 for positioning means for positioning the coupling arrangement. For this purpose, the lower adapter has an opening j * * · 'or openings (not shown in Fig. 3). At the start of testing, the positioning means 304 and their counterparts 308 for positioning the switching arrangement: *! 25 are adapted to position each product-specific testing suitable coupling arrangement 306 as the actuator mechanism 320 moves the coupling arrangement 306 and the electronic device 206 on the pallet 204 into contact with each other. line:: \ * 30 304 for openings.
• · ·• · ·
Kytkentäjärjestelyosan paikoittamiseen tarkoitetut paikoitusvälineet • · · 304 eivät kuitenkaan välttämättä ole testausyksikön suhteen kiinteästi sijoite- *;,*,* tut, vaan kunkin kytkentäjärjestelyosan paikoittamiseen tarkoitetut paikoitusvä- • · ’·"* lineet 304 voivat liikkua vapaasti ennalta määrätyissä rajoissa. Tämä on mah- 35 dollista esimerkiksi silloin, kun ala-adapteri 350 ei ole kiinni testausyksikön ke- :**,· hikossa. Paletissa 204 voi olla paikoittamista varten vastakappaleisiin 308 so- • · 8 117578 tr vitetut paikoitusvälineet 310, joka voi olla tappiin sopiva kolo. Kun tuotespesifi-seen testaukseen sopiva kytkentäjärjestelyosa 306 nousee kohti palettia 204, vastakappaleena 308 toimivat tapit työntyvät ala-adapterin paikoitusvälineinä 304 toimivien reikien 304 läpi paikoitusvälineisiin 310, jolloin sekä ala-adapteri ; •1 5 350 että tuotespesifiseen testaukseen sopiva kytkentäjärjestelyosa 306 paikoit- tuu tarkasti haluttuun paikkaan testausta varten.However, the positioning means for positioning the switching arrangement part 304 may not be stationary with respect to the test unit, but the positioning means 304 for positioning each switching arrangement part may move freely within predetermined limits. - $ 35, for example, when the bottom adapter 350 is not attached to the test unit body: **, · The pallet 204 may have positioning means 310 fitted to the mounts 308, which may be a recess suitable for the pin. When the coupling arrangement portion 306 suitable for product-specific testing rises toward the pallet 204, the pins acting as counterpart 308 project through holes 304 serving as lower adapter positioning means 304 to the positioning means 310, thereby allowing both the lower adapter and the product-specific coupling arrangement 306 to the desired p time for testing.
Ala-adapteri 350 voi käsittää myös erilliset kytkentäjärjestelyosan paikoittamiseen tarkoitetut paikoitusvälineet 312, joiden vastakappaleet 314 voivat olla paletissa 204. Paikoitusvälineet 312 voivat olla tappimaisia ja vasta-10 kappaleet 314 tappeihin sopivia aukkoja. Nämäkin paikoitusvälineet ja niiden vastakappaleet painuvat toisiaan vasten, kun aktuaattorimekanismi 320 liikuttaa kytkentäjärjestelyä kontaktiin elektronisen laitteen kanssa.The lower adapter 350 may also comprise separate positioning means 312 for positioning the coupling arrangement portion, the counter-members 314 of which may be in a pallet 204. The positioning means 312 may be pin-like and counter-pieces 314 may be provided with apertures for pins. Also, these positioning means and their counterparts are pressed against one another when the actuator mechanism 320 moves the coupling arrangement into contact with the electronic device.
Aktuaattorimekanismi 320 voi toimia esimerkiksi siten, kuin kuviossa 3 on esitetty. Aktuaattorimekanismi 320 voi käsittää pneumaattisen tai hyd-15 raulisen painesylinterin 3200, joka työntää tai vetää mäntää 3202. Mäntä 3202 puolestaan liikuttaa edestakaisin kiilamaista kappaletta 3204, joka on kosketuksissa rullan 3206 kanssa. Rulla 3206 on kiinni tukikappaleessa 3208, joka « on kosketuksissa tuotespesifisen kytkentäjärjestelyosan 306 kanssa. Tukikap-pale 3208 voi olla mekaanisesti kiinni rakenteessa 360, johon tuotespesifinen 20 kytkentäjärjestelyosa 306 on kiinnitetty. Ala-adapteri 350 voi puolestaan olla kiinni rakenteessa 360. Kun kiilamainen kappale 3204 liikkuu, rulla 3206 rullaa : .·. kiilamaisen kappaleen 3204 pintaa pitkin ja nousee tai laskee riippuen siitä, *"·] kumpaan suuntaan kiilamainen kappale 3204 liikkuu. Tällöin ala-adapteri 350 • « · ja rakenne 360 kytkentäjärjestelyjen 306 nousevat ja laskevat muodostaen : *[ 25 tai irrottaen testauksessa tarvittavat kytkennät. Painesylinterin sijaan kiilamai- 4i* / sen kappaleen 3204 liike voidaan saada aikaan myös sähkömoottorilla. Lisäksi J ·* koko aktuaattorimekanismi 320 ja kytkentäjärjestelyosien kytkeminen testatta- vaan laitteeseen voidaan toteuttaa monin eri tavoin eikä esitetyn ratkaisun toimivuus riipu siitä, miten aktuaattorimekanismi varsinaisesti toimii.The actuator mechanism 320 may function, for example, as shown in Figure 3. The actuator mechanism 320 may comprise a pneumatic or hyd-15 roller pressure cylinder 3200 which pushes or pulls the piston 3202. The piston 3202, in turn, reciprocates a wedge-shaped body 3204 which is in contact with the roller 3206. The roller 3206 is attached to a support piece 3208 which is in contact with the product-specific coupling arrangement portion 306. The support piece 3208 may be mechanically fixed to the structure 360 to which the product-specific coupling arrangement portion 306 is attached. The lower adapter 350, in turn, may be attached to the structure 360. As the wedge-shaped body 3204 moves, the roller 3206 rolls:. along the surface of the wedge-shaped piece 3204 and rising or falling depending on which direction the wedge-shaped piece 3204 moves. Then the lower adapter 350 • «· and the structure 360 of the coupling arrangements 306 rise and fall to form: * [25 or disconnect the necessary connections for testing. Instead of a pressure cylinder, the movement of the wedge member 4i * / its body 3204 can also be accomplished by an electric motor.Moreover, the entire actuator mechanism 320 and the connection of the switching arrangement components to the device under test can be implemented in many different ways
30 Käytettäessä sekä kunkin kytkentäjärjestelyosan paikoittamiseen tarkoitettuja paikoitusvälineitä että paletin paikoittamiseen tarkoitettuja paikoi- ·«· tusvälineitä samaan aikaan voidaan kukin tuotespesifiseen testaukseen sopiva kytkentäjärjestelyjä paletti paikoittaa tarkasti toistensa suhteen, kun aktuaatto- • * *·;·* rimekanismi liikuttaa kytkentäjärjestelyä ja elektronista laitetta kontaktiin tois- 35 tensa kanssa.30 Using both the positioning means for positioning each switching arrangement and the positioning means for pallet positioning, each of the switching arrangements suitable for product-specific testing can be accurately positioned relative to one another when the actuator and the actuator move the switching mechanism. - 35 with her.
• · · • · * · · . · • · · • · 9 ' 117578• · · • · * · ·. · • · · • · 9 ’117578
Testausyksikkö voi sisältää elektronisen laitteen paikoittamiseen tarkoitetut paikoitusvälineet 400 paletin paikoittamiseen tarkoitettujen paikoi-tusvälineiden 300 sijaan (tai lisäksi), kuten kuviossa 4 on esitetty. Tällöin samaan tapaan kuin palettikin elektroninen laite 206 voi liikkua vapaasti ennalta 5 määrätyissä rajoissa ennen paikoitusta. Elektroninen laite 206 voi käsittää elektronisen laitteen paikoittamiseen tarkoitettujen paikoitusvälineiden 400 vastakappaleet 402. Testauksen alkaessa elektronisen laitteen paikoittamiseen tarkoitetut paikoitusvälineet 400 ja niiden vastakappaleet 402 on sovitettu pai-koittamaan elektroninen laite 206 halutulla tavalla kytkentäjärjestelyn suhteen 10 aktuaattorimekanismin 320 liikuttaessa kytkentäjärjestelyä ja elektronista laitetta 206 kytkeytymään toisiinsa.The test unit may include positioning means 400 for positioning the electronic device instead of (or in addition to) positioning means 300 for positioning the pallet, as shown in Figure 4. Here, as with the pallet, the electronic device 206 can move freely within predetermined limits prior to positioning. The electronic device 206 may comprise counterparts 402 of the positioning means 400 for positioning the electronic device.
Elektronisessa laitteessa 206 voi olla paikoittamista varten vasta-kappaleisiin 308 sovitetut paikoitusvälineet 410, joka voi olla tappiin sopiva kolo. Kun tuotespesifiseen testaukseen sopiva kytkentäjärjestelyosa 306 nou-15 see kohti elektronista laitetta 206, vastakappaleena 308 toimivat tapit työntyvät ala-adapterin paikoitusvälineinä 304 toimivien reikien 304 läpi paikoitusvälinei-siin 410, jolloin sekä ala-adapteri 350 että tuotespesifiseen testaukseen sopiva kytkentäjärjestelyosa 306 paikoittuu tarkasti haluttuun paikkaan testausta varten.The electronic device 206 may have positioning means 410 fitted to the counterparts 308 for positioning, which may be a recess suitable for the pin. When the coupling arrangement portion 306 suitable for product-specific testing is raised toward the electronic device 206, the pins acting as counterpart 308 extend through the holes 304 serving as the lower adapter positioning means 304 to the positioning means 410 for both the bottom adapter 350 and the product-specific testing position. for testing.
20 Ala-adapteri 350, joka voi olla kiinni testausyksikön kehikossa liitti men 354 kautta, voi käsittää myös erilliset kytkentäjärjestelyosan paikoittami-: .·. seen tarkoitetut paikoitusvälineet 412, joiden vastakappaleet 414 voivat olla elektronisessa laitteessa 206. Paikoitusvälineet 412 voivat olla tappimaisia ja • · · vastakappaleet 414 tappeihin sopivia aukkoja. Nämäkin paikoitusvälineet ja : " 25 niiden vastakappaleet painuvat toisiaan vasten, kun aktuaattorimekanismi 320 j 4* liikuttaa kytkentäjärjestelyä kontaktiin elektronisen laitteen kanssa.The lower adapter 350, which may be secured to the test unit frame through the connector 354, may also comprise separate positioning arrangements for the switching arrangement. The positioning means 412 may be pin-like and the opening pieces 414 may be apertures suitable for the pins. These positioning means and: "their counterparts are pressed against each other when the actuator mechanism 320 j 4 * moves the coupling arrangement into contact with the electronic device.
: Esitetyssä ratkaisussa paikoittaminen ja kohdistaminen suoritetaan toisiinsa muodoiltaan toisiinsa sovitettujen mekaanisten rakenteiden avulla.A: In the solution shown, positioning and alignment are accomplished by mechanical shapes that are matched to one another.
Tällaisia rakenteita ovat esimerkiksi muotosulkeiset rakenteet tai pulttiliitokset, : 30 joissa pultti toimii kolmantena muotosulkeisena rakenteena kummallekin toi- - :***. siinsa kohdistuvalle osalle. Vaikka yllä kuvatuissa ratkaisuissa on viitattu tap- * * * peihin, aukkoihin ja koloihin, voi paikoittamisen suorittaa hyvin monenlaisten * * * *;[/ mekaanisten rakenteiden ja muotojen avulla, koska kytkeytyessään toisiinsa *···* kaikki toisiinsa sovitetut muodot, jotka vähentävät tai rajoittavat liikkumisva- 35 pausasteita, kohdistavat myös kappaleita toisiinsa.Such structures include, for example, cantilevered structures or bolted joints, wherein the bolt serves as a third cantilevered structure for each of the two functions: ***. to the part of it. Although the solutions described above refer to pins, * * * pins, openings, and cavities, positioning can be accomplished by a wide variety of * * * *; [/ mechanical structures and shapes because, when interconnected, * ··· * all matched shapes that reduce or restrict the degrees of freedom of movement, also align the pieces with one another.
··· • » • · · .··· • »• · ·.
» Il t Φ 117578 § 10»Il t Φ 117578 § 10
Kuviossa 5 on vielä kerran esitetty menetelmän tärkeimmät askeleet. Askeleessa 500 aktuaattorimekanismilla liikutetaan kytkentäjärjestelyä ja elektronista laitetta kontaktiin toistensa kanssa testausta varten ja irrotetaan kytkentäjärjestely elektronisesta laitteesta testauksen päättyessä. Askeleessa 5 502 elektronista laitetta testataan käyttäen kytkentäjärjestelyä, joka käsittää ainakin kaksi kytkentäjärjestelyosaa, joista ainakin yksi on sovitettu käytettä- ; vaksi tuoteperheeseen kuuluvien elektronisten laitteiden testauksessa ja joista ainakin yksi muu on sovitettu käytettäväksi saman tuoteperheen tuotespesifi-sessä testauksessa. Tuotespesifiseen testaukseen tarkoitettu, ainakin yksi kyt-10 kentäjärjestelyosa, joka on kytkentäjärjestelyn modulaarinen osa, voidaan vaihtaa elektronisen laitteen tuotespesifikaation muuttuessa muuttamatta muita kytkentäjärjestelyosia.Figure 5 shows once again the main steps of the method. In step 500, the actuator mechanism moves the switching arrangement and the electronic device into contact with one another for testing and disconnects the switching arrangement from the electronic device at the end of the test. In step 5,502, the electronic device is tested using a coupling arrangement comprising at least two coupling arrangement portions, at least one of which is adapted to be used; at least one of the others is adapted for use in product-specific testing of the same family of products. At least one switch-field arrangement part for product-specific testing, which is a modular part of the switch arrangement, can be changed as the product specification of the electronic device changes without changing other switch arrangement parts.
Vaikka keksintöä on edellä selostettu viitaten oheisten piirustusten mukaiseen esimerkkiin, on selvää, ettei keksintö ole rajoittunut siihen, vaan 15 sitä voidaan muunnella monin tavoin oheisten patenttivaatimusten puitteissa.Although the invention has been described above with reference to the example of the accompanying drawings, it is clear that the invention is not limited thereto, but that it can be modified in many ways within the scope of the appended claims.
• · * · · • 1 · • 1 · * · · • · · · .? • · • · · • ·· ··· * · • · *·· -1 f · .--1.• · * · · • 1 · • 1 · * · · • · ·.? • · • · · • ·· ··· * · • · * ·· -1 f · .-- 1.
• 1 • · 1 • 1 1 • · · * 1 1 * 1 · • · • · *·· • · · * · · • 1 · ··· '1 • · ···; • · tl • 1 · ···' • · 1 • ·• 1 • · 1 • 1 1 • · · * 1 1 * 1 · • · • · * · · • · · · · · · · · · · · · · · · · · · · · · · · · · · · · · · · · · · · · · · · ··· ···; • · tl • 1 · ··· '• · 1 • ·
Claims (12)
Priority Applications (2)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| FI20031765A FI117578B (en) | 2003-12-03 | 2003-12-03 | Method and arrangement for performing testing of an electronic device |
| PCT/FI2004/000731 WO2005054877A1 (en) | 2003-12-03 | 2004-12-02 | Method and arrangement for testing an electronic device |
Applications Claiming Priority (2)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| FI20031765A FI117578B (en) | 2003-12-03 | 2003-12-03 | Method and arrangement for performing testing of an electronic device |
| FI20031765 | 2003-12-03 |
Publications (3)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| FI20031765A0 FI20031765A0 (en) | 2003-12-03 |
| FI20031765A FI20031765A (en) | 2005-06-04 |
| FI117578B true FI117578B (en) | 2006-11-30 |
Family
ID=29763464
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| FI20031765A FI117578B (en) | 2003-12-03 | 2003-12-03 | Method and arrangement for performing testing of an electronic device |
Country Status (2)
| Country | Link |
|---|---|
| FI (1) | FI117578B (en) |
| WO (1) | WO2005054877A1 (en) |
Families Citing this family (5)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP4612091B2 (en) | 2005-12-20 | 2011-01-12 | ジェイオーティー・オートメーション・オーワイ | Inspection adapter |
| FI122041B (en) * | 2008-09-18 | 2011-07-29 | Jot Automation Oy | Test Adapter Configuration |
| CN102331427A (en) * | 2011-08-30 | 2012-01-25 | 常州天合光能有限公司 | Test method for invisible cracks on solar cell module |
| US20130200915A1 (en) * | 2012-02-06 | 2013-08-08 | Peter G. Panagas | Test System with Test Trays and Automated Test Tray Handling |
| CN109061237B (en) * | 2018-08-03 | 2022-05-17 | 中国航空工业集团公司雷华电子技术研究所 | Automatic clamping universal device for accurate testing of microwave module |
Family Cites Families (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US6170329B1 (en) * | 1999-06-14 | 2001-01-09 | Agilent Technologies, Inc. | Test fixture customization adapter enclosure |
| US6828773B2 (en) * | 2002-03-21 | 2004-12-07 | Agilent Technologies, Inc. | Adapter method and apparatus for interfacing a tester with a device under test |
-
2003
- 2003-12-03 FI FI20031765A patent/FI117578B/en not_active IP Right Cessation
-
2004
- 2004-12-02 WO PCT/FI2004/000731 patent/WO2005054877A1/en not_active Application Discontinuation
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| FI20031765A0 (en) | 2003-12-03 |
| FI20031765A (en) | 2005-06-04 |
| WO2005054877A1 (en) | 2005-06-16 |
Similar Documents
| Publication | Publication Date | Title |
|---|---|---|
| KR102008457B1 (en) | A microphone test stand for acoustic testing | |
| CN101490572B (en) | Apparatus and method for detecting a location of conductive pins with respect to a circuit board | |
| JPWO2009025070A1 (en) | Test system and daughter unit | |
| KR101342450B1 (en) | Electronic component testing apparatus, socket board assembly and interface apparatus | |
| JP2006322918A (en) | Interface, and semiconductor testing device using the same | |
| KR20140020967A (en) | Apparatus for the automated testing and validation of electronic components | |
| EP2963430B1 (en) | Contactor arrangement, test-in-strip handler and test-in-strip handler arrangement | |
| FI117578B (en) | Method and arrangement for performing testing of an electronic device | |
| WO2008079307A1 (en) | Probe card analysis system and method | |
| WO2008089341A3 (en) | System for fault determinations for high frequency electronic circuits | |
| KR20070042901A (en) | Zero insertion force printed circuit assembly connector system and method | |
| US9285419B2 (en) | Test probe alignment structures for radio-frequency test systems | |
| CN201311478Y (en) | Device for multifunctional test of mobile phone printed circuit board | |
| EP2672283A1 (en) | Test device, test system, method and carrier for testing electronic components under variable pressure conditions | |
| CN100582793C (en) | Electronic device detecting appliance | |
| US20160329974A1 (en) | Method for analyzing the rf performance of a probe card, detector assembly and system for analyzing the rf performance of a probe card | |
| CN109596864B (en) | Test fixture | |
| KR101891749B1 (en) | Automatic Test Apparatus | |
| EP3091365B1 (en) | Method for analyzing the rf performance of a probe card, detector assembly and system for analyzing the rf performance of a probe card | |
| FI119529B (en) | Electronic device testing | |
| KR20100013641A (en) | Tester and method for connector | |
| CN218002486U (en) | Battery size measuring equipment | |
| CN220136284U (en) | Detection machine for proximity sensor | |
| KR101086373B1 (en) | Apparatus for Inspecting Electrical Condition | |
| CN210572605U (en) | Circuit board inspection apparatus |
Legal Events
| Date | Code | Title | Description |
|---|---|---|---|
| FG | Patent granted |
Ref document number: 117578 Country of ref document: FI |
|
| PC | Transfer of assignment of patent |
Owner name: JOT AUTOMATION OY Free format text: JOT AUTOMATION OY |
|
| MM | Patent lapsed |