TWI741829B - 觸控面板自動化功能測試機構 - Google Patents
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Abstract
一種觸控面板自動化功能測試機構,具有一基座,該基座下方依序固設有一連接筒與一導引環圈,該導引環圈外側凹設有一導引槽,該導引槽具有一彎曲段,該基座內則設有一馬達,該馬達驅動一旋轉組件,該旋轉組件設有複數可上下位移的觸動器,該觸動器具有一滾輪,該滾輪嵌入該導引槽內,藉此當該馬達驅動該旋轉組件旋轉時,各該觸動器會隨之繞該導引環圈旋轉,進而當該觸動器的滾輪經過該彎曲段時,該觸動器會上下起伏,使得該觸動器碰觸待測的觸控面板來作觸控測試。
Description
本發明係有關一種觸控面板自動化功能測試機構,係一種工業產品測試機具者。
車載用觸控面板組裝完成後,需要進行單點觸控或多點觸控等功能測試。
而測試需求種類上,有一定時間內碰觸預定次數、長按預定時間、多點碰觸、以預定頻率作往復運動等等;
但目前的測試機構無法將上述的動作種類整合於其中,實用性上明顯不足。
有鑑於上述缺失弊端,本發明人認為具有改正之必要,遂以從事相關技術以及產品設計製造之多年經驗,秉持優良設計理念,針對以上不良處加以研究創作,在經過不斷的努力後,終乃推出本發明觸控面板自動化功能測試機構,期以更正產品結構以提升產品優良之功效。
本發明觸控面板自動化功能測試機構之主要目的,係提供一種整合單點與多點觸控等多種測試功能於其中的器具者。
爲達到前揭之目的,本發明觸控面板自動化功能測試機構包括有:
一基座;
一導引組件,具有一連接筒,該連接筒固設於該基座下端,該連接筒下方則固設有一導引環圈,該導引環圈外側凹設有一導引槽,該導引槽由一水平段與一彎曲段連接而成;
一驅動組件,具有一固設在該基座內的馬達,該馬達具有一轉軸,該轉軸固接一軸接件一端,該軸接件另一端則固接一從動軸,該從動軸往下依序穿過該基座下端、該連接筒與該導引環圈;
一旋轉組件,具有一旋轉圈與一位在該旋轉圈下方的旋轉盤,該旋轉圈與該旋轉盤之間固接複數固接柱,另該旋轉圈與該旋轉盤分別貫穿有複數上開孔與複數下開孔,該旋轉盤固設於該從動軸下端,使得該馬達可驅動該旋轉組件繞該導引環圈旋轉;
複數觸動器,該觸動器具有一升降桿,該升降桿穿過該旋轉圈的其中一上開孔,該升降桿下端固接一聯結件,該聯結件再固接一觸動件,該觸動件穿過該旋轉盤的其中一下開孔,該聯結件外側並樞設一滾輪,該滾輪嵌設於該導引槽內;
一組接件,設於該基座上端。
組接件即用於連接一機械手臂等驅動設備,使得驅動設備可驅動本機構作升降、橫移與旋轉等動作;
而本機構可用於進行多點或單點觸控等測試:
進行多點同時觸控測試時,各觸動器的滾輪皆位在水平段內,而讓各觸動件皆位於同一水平高度,而馬達不進行動作,僅由驅動設備驅動本機構上下升降,藉此即可讓各觸動件同時碰觸待測的觸控面板,以達到多點同時觸控測試的效果;
進行單點觸控測試時,驅動設備會將本機構停止在待測面板上方適當距離,接著由馬達驅動旋轉組件旋轉,以帶動各觸動器繞導引環圈旋轉,而因觸動器的滾輪位在導引槽內,所以當滾輪經過彎曲段而上下起伏時,所屬的觸動件也隨之上下位移而碰觸到待測面板,即可達到單點觸控測試的效果;
另由驅動設備將基座停止在使觸動件碰觸到顯示面板的位置並馬達停止運轉時,即可達到長按測試的效果,或由驅動設備驅動基座左右橫移時,即可達到讓觸動件保持碰觸並往復滑移的測試效果等等。
而與以往的測試機構相比,本機構將單點觸控、多點觸控等多種測試功能整合於其中,顯見本機構為一實用性較為完備的進步產品。
[請參閱第一圖至第五圖]本發明係有關一種觸控面板自動化功能測試機構,其包括:
一基座(1),具有一上座體(11)與一下座體(12),該上座體(11)與該下座體(12)之間固接一隔板(13),該上座體(11)與該隔板(13)之間界定出一上容室(14),該下座體(12)與該隔板(13)之間則界定出一下容室(15);
一導引組件(2),具有一連接筒(21),該連接筒(21)固設於該下座體(12)下方,該連接筒(21)下方則固設有一圓環狀的導引環圈(22),該導引環圈(22)外側環繞地凹設有一導引槽(23),該導引槽(23)由一水平段(231)與一彎曲段(232)連接而成,從第四圖可清楚看出水平段(231)與彎曲段(232)的形狀特徵,假設有一平面正交於導引環圈(22)的中心軸(如導引環圈(22)的頂面與底面),水平段(231)會平行於該平面,彎曲段(232)則相對該平面呈波浪起伏狀;
一驅動組件(3),具有一馬達(31),該馬達(31)具有一轉軸(311),該馬達(31)固設在該上容室(14)內,並該轉軸(311)穿過該隔板(13)至該下容室(15),該轉軸(311)並固接一位在該下容室(15)內的軸接件(32)一端,該軸接件(32)另一端則固接一從動軸(33),該從動軸(33)往下依序穿過該下座體(12)、該連接筒(21)與該導引環圈(22);
一旋轉組件(4),具有一旋轉圈(41)與一位在該旋轉圈(41)下方的旋轉盤(42),該旋轉圈(41)與該旋轉盤(42)之間固接複數固接柱(43),另該旋轉圈(41)與該旋轉盤(42)分別貫穿有複數上開孔(411)與複數下開孔(421),各該上開孔(411)皆錯開於各該下開孔(421),並各該上開孔(411)內皆固設有一上塞環(44),各該下開孔(421)內則皆固設有一下塞環(45),該旋轉盤(42)固設於該從動軸(33)下端,使得該馬達(31)可驅動該旋轉組件(4)旋轉;
複數結構相同的觸動器(5),該觸動器(5)具有一升降桿(51),該升降桿(51)穿過該旋轉圈(41)的其中一上塞環(44),該升降桿(51)下端固接一聯結件(52),該聯結件(52)下方再固接一觸動件(53),該觸動件(53)穿過該旋轉盤(42)的其中一下塞環(45),該聯結件(52)外側並樞設一滾輪(54),該滾輪(54)嵌設於該導引槽(23)內,而因各該上開孔(411)皆錯開於各該下開孔(421),所以該觸動件(53)與該升降桿(51)不相互對應,藉此該觸動器(5)整體不會自轉,以防止該滾輪(54)脫離該導引槽(23);
一組接件(6),設於該上座體(11),該組接件(6)用於連接一機械手臂等驅動設備,使得驅動設備能驅動本機構作上下升降、橫移或旋轉等運動。
[請參閱第一圖至第四圖]本機構可用於進行多點或單點觸控等功能測試:
[請一併參閱第五圖]當進行多點同時觸控測試時,各觸動器(5)的滾輪(54)皆位在導引槽(23)的水平段(231)內,使得各觸動件(53)皆位於同一水平高度,並馬達(31)不進行動作,僅由驅動設備驅動本機構上下升降,即可讓各觸動件(53)同時往下碰觸待測的觸控面板,進而達到多點同時觸控測試的效果;
[請一併參閱第六圖與第七圖]而要進行單點測試時,驅動設備會將本機構停止在待測的觸控面板上方適當高度,接著馬達(31)會開始動作而驅動旋轉組件(4)旋轉,各觸動器(5)因而也隨著旋轉組件(4)繞導引環圈(22)旋轉,此時因觸動器(5)的滾輪(54)位在導引環圈(22)的導引槽(23)內,所以當滾輪(54)經過彎曲段(232)時,所屬的觸動件(53)也會上下位移而碰觸到觸控面板,即可達到單點觸控測試的效果;
另當驅動設備將基座(1)停止在讓觸動件(53)接觸觸控面板的位置並馬達(31)停止運轉時,即可達到長按測試的效果,或當驅動設備驅動基座(1)橫移時,也可達到於觸控面板往復滑控的測試效果等等。
而因本機構的原理是讓觸動器(5)繞導引環圈(22)旋轉,使得滾輪(54)經過彎曲段(232)時會讓觸動器(5)上下位移來進行單點碰觸,所以透過將馬達(31)電性連接電腦等控制設備,並控制馬達(31)的轉速,即可進行如1秒內碰觸5次、0.7秒內碰觸2次等單位時間內碰觸預定次數的雙擊或多擊測試,或者如前段所述讓馬達(31)暫時停頓時,也可達到如長按1秒等長按預定時間的測試。
[請參閱第一圖與第二圖]目前的實施例是具有10根觸動件(53)而可支持10點同時碰觸測試,在其它實施例中也可設有更多觸動件(53),而針對具不同刷新速率與報點頻率的顯示面板,例如刷新速率250Hz與報點頻率80~150 Hz等等,本發明只要如前述透過控制馬達(31)以適當的轉速運轉,進而帶動觸動件(53)於每秒碰觸適當次數,即可對應不同性能的顯示面板提供相對應的測試內容。
唯以上所述者,僅為本發明之一較佳實施例而已,當不能以之限定本發明之範圍。即大凡依申請專利範圍所作之均等變化與修飾,皆應仍屬本創作專利涵蓋之範圍內。
綜上所述,當知本發明具有新穎性、進步性,且本發明未見之於任何刊物,當符合專利法第22條之規定。
1:基座
11:上座體
12:下座體
13:隔板
14:上容室
15:下容室
2:導引組件
21:連接筒
22:導引環圈
23:導引槽
231:水平段
232:彎曲段
3:驅動組件
31:馬達
311:轉軸
32:軸接件
33:從動軸
4:旋轉組件
41:旋轉圈
411:上開孔
42:旋轉盤
421:下開孔
43:固接柱
44:上塞環
45:下塞環
5:觸動器
51:升降桿
52:聯結件
53:觸動件
54:滾輪
6:組接件
第一圖係本發明觸控面板自動化功能測試機構之立體圖。
第二圖係本發明觸控面板自動化功能測試機構之剖面圖。
第三圖係本發明觸控面板自動化功能測試機構之另一方向剖面圖。
第四圖係本發明觸控面板自動化功能測試機構的導引環圈與觸動器之立體圖。
第五圖係本發明觸控面板自動化功能測試機構進行多點觸控測試時之狀態圖。
第六圖係本發明觸控面板自動化功能測試機構的旋轉組件之作動圖。
第七圖係本發明觸控面板自動化功能測試機構進行單點觸控測試時之作動圖。
無
1:基座
11:上座體
12:下座體
13:隔板
14:上容室
15:下容室
2:導引組件
21:連接筒
22:導引環圈
23:導引槽
3:驅動組件
31:馬達
32:軸接件
4:旋轉組件
41:旋轉圈
411:上開孔
42:旋轉盤
421:下開孔
43:固接柱
44:上塞環
45:下塞環
5:觸動器
51:升降桿
52:聯結件
53:觸動件
54:滾輪
6:組接件
Claims (3)
- 一種觸控面板自動化功能測試機構,包括: 一基座; 一導引組件,具有一連接筒,該連接筒固設於該基座一端,該連接筒再固設有一導引環圈,該導引環圈外側環繞地凹設有一導引槽,該導引槽具相連接的一水平段與一彎曲段; 一驅動組件,具有一固設在該基座內的馬達,該馬達具有一轉軸,該轉軸固接一軸接件一端,該軸接件另一端則固接一從動軸,該從動軸依序穿過該基座一端、該連接筒與該導引環圈; 一旋轉組件,具有一旋轉圈與一位在該旋轉圈下方的旋轉盤,該旋轉圈與該旋轉盤之間固接複數固接柱,另該旋轉圈與該旋轉盤分別貫穿有複數上開孔與複數下開孔,該旋轉盤固設於該從動軸一端; 複數觸動器,該觸動器具有一升降桿,該升降桿穿過該旋轉圈的其中一上開孔,該升降桿下端固接一聯結件,該聯結件再固接一觸動件,該觸動件穿過該旋轉盤的其中一下開孔,並該觸動件與該升降桿不相互對應,該聯結件外側則樞設一滾輪,該滾輪嵌設於該導引槽內者。
- 如請求項1所述之觸控面板自動化功能測試機構,其中,該基座具有一上座體與一下座體,該上座體與該下座體之間固接一隔板,該上座體與該隔板之間界定出一上容室,該下座體與該隔板之間則界定出一下容室,該馬達固設在該上容室內,並該轉軸穿過該隔板至該下容室,該軸接件則位在該下容室內再固接該從動軸,該從動軸則再穿過該下座體者。
- 如請求項1所述之觸控面板自動化功能測試機構,其中,該旋轉圈的各上開孔內皆固設有一上塞環,該旋轉盤的各下開孔內則皆固設有一下塞環,該觸動器的升降桿穿過該上塞環,該觸動件則穿過該下塞環者。
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Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
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TW109135392A TWI741829B (zh) | 2020-10-13 | 2020-10-13 | 觸控面板自動化功能測試機構 |
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Publication Number | Publication Date |
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TWI741829B true TWI741829B (zh) | 2021-10-01 |
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2020
- 2020-10-13 TW TW109135392A patent/TWI741829B/zh active
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