CN101681972A - 具有载体基底的发光二极管上的透明欧姆接触 - Google Patents
具有载体基底的发光二极管上的透明欧姆接触 Download PDFInfo
- Publication number
- CN101681972A CN101681972A CN200880020777A CN200880020777A CN101681972A CN 101681972 A CN101681972 A CN 101681972A CN 200880020777 A CN200880020777 A CN 200880020777A CN 200880020777 A CN200880020777 A CN 200880020777A CN 101681972 A CN101681972 A CN 101681972A
- Authority
- CN
- China
- Prior art keywords
- light
- ohmic contact
- emitting diode
- transparent
- diode according
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Granted
Links
- 239000000758 substrate Substances 0.000 title claims abstract description 100
- 150000004767 nitrides Chemical class 0.000 claims abstract description 40
- 230000004913 activation Effects 0.000 claims description 31
- 229910010271 silicon carbide Inorganic materials 0.000 claims description 25
- 229910052751 metal Inorganic materials 0.000 claims description 16
- 239000002184 metal Substances 0.000 claims description 16
- JMASRVWKEDWRBT-UHFFFAOYSA-N Gallium nitride Chemical compound [Ga]#N JMASRVWKEDWRBT-UHFFFAOYSA-N 0.000 claims description 12
- 229910002601 GaN Inorganic materials 0.000 claims description 11
- 238000002161 passivation Methods 0.000 claims description 11
- VYPSYNLAJGMNEJ-UHFFFAOYSA-N Silicium dioxide Chemical compound O=[Si]=O VYPSYNLAJGMNEJ-UHFFFAOYSA-N 0.000 claims description 8
- XLOMVQKBTHCTTD-UHFFFAOYSA-N Zinc monoxide Chemical compound [Zn]=O XLOMVQKBTHCTTD-UHFFFAOYSA-N 0.000 claims description 8
- 229910052738 indium Inorganic materials 0.000 claims description 8
- MRNHPUHPBOKKQT-UHFFFAOYSA-N indium;tin;hydrate Chemical compound O.[In].[Sn] MRNHPUHPBOKKQT-UHFFFAOYSA-N 0.000 claims description 8
- 229910052581 Si3N4 Inorganic materials 0.000 claims description 7
- 239000000565 sealant Substances 0.000 claims description 7
- HQVNEWCFYHHQES-UHFFFAOYSA-N silicon nitride Chemical compound N12[Si]34N5[Si]62N3[Si]51N64 HQVNEWCFYHHQES-UHFFFAOYSA-N 0.000 claims description 7
- 230000008859 change Effects 0.000 claims description 6
- 238000009940 knitting Methods 0.000 claims description 6
- 239000004973 liquid crystal related substance Substances 0.000 claims description 6
- XUIMIQQOPSSXEZ-UHFFFAOYSA-N Silicon Chemical compound [Si] XUIMIQQOPSSXEZ-UHFFFAOYSA-N 0.000 claims description 5
- RENIMWXTRZPXDX-UHFFFAOYSA-N [Ti].[Ni].[W] Chemical compound [Ti].[Ni].[W] RENIMWXTRZPXDX-UHFFFAOYSA-N 0.000 claims description 5
- 238000009826 distribution Methods 0.000 claims description 5
- 229910052710 silicon Inorganic materials 0.000 claims description 5
- 239000010703 silicon Substances 0.000 claims description 5
- 229910052718 tin Inorganic materials 0.000 claims description 5
- 229910001218 Gallium arsenide Inorganic materials 0.000 claims description 4
- 229910006404 SnO 2 Inorganic materials 0.000 claims description 4
- CSBHIHQQSASAFO-UHFFFAOYSA-N [Cd].[Sn] Chemical compound [Cd].[Sn] CSBHIHQQSASAFO-UHFFFAOYSA-N 0.000 claims description 4
- 229910052733 gallium Inorganic materials 0.000 claims description 4
- APFVFJFRJDLVQX-UHFFFAOYSA-N indium atom Chemical compound [In] APFVFJFRJDLVQX-UHFFFAOYSA-N 0.000 claims description 4
- 229910003437 indium oxide Inorganic materials 0.000 claims description 4
- PJXISJQVUVHSOJ-UHFFFAOYSA-N indium(iii) oxide Chemical compound [O-2].[O-2].[O-2].[In+3].[In+3] PJXISJQVUVHSOJ-UHFFFAOYSA-N 0.000 claims description 4
- CPLXHLVBOLITMK-UHFFFAOYSA-N magnesium oxide Inorganic materials [Mg]=O CPLXHLVBOLITMK-UHFFFAOYSA-N 0.000 claims description 4
- 239000000395 magnesium oxide Substances 0.000 claims description 4
- AXZKOIWUVFPNLO-UHFFFAOYSA-N magnesium;oxygen(2-) Chemical compound [O-2].[Mg+2] AXZKOIWUVFPNLO-UHFFFAOYSA-N 0.000 claims description 4
- 229910000480 nickel oxide Inorganic materials 0.000 claims description 4
- GNRSAWUEBMWBQH-UHFFFAOYSA-N oxonickel Chemical compound [Ni]=O GNRSAWUEBMWBQH-UHFFFAOYSA-N 0.000 claims description 4
- 239000000377 silicon dioxide Substances 0.000 claims description 4
- 235000012239 silicon dioxide Nutrition 0.000 claims description 4
- XOLBLPGZBRYERU-UHFFFAOYSA-N tin dioxide Chemical compound O=[Sn]=O XOLBLPGZBRYERU-UHFFFAOYSA-N 0.000 claims description 4
- 229910001887 tin oxide Inorganic materials 0.000 claims description 4
- 239000011701 zinc Substances 0.000 claims description 4
- 239000011787 zinc oxide Substances 0.000 claims description 4
- 239000000284 extract Substances 0.000 claims description 3
- 239000000203 mixture Substances 0.000 claims description 3
- 239000012780 transparent material Substances 0.000 claims description 3
- AMGQUBHHOARCQH-UHFFFAOYSA-N indium;oxotin Chemical compound [In].[Sn]=O AMGQUBHHOARCQH-UHFFFAOYSA-N 0.000 claims 2
- 230000000644 propagated effect Effects 0.000 claims 2
- 239000000463 material Substances 0.000 description 21
- 230000012010 growth Effects 0.000 description 18
- 238000000034 method Methods 0.000 description 14
- 239000004065 semiconductor Substances 0.000 description 14
- OAICVXFJPJFONN-UHFFFAOYSA-N Phosphorus Chemical compound [P] OAICVXFJPJFONN-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 12
- 230000008901 benefit Effects 0.000 description 12
- 239000013078 crystal Substances 0.000 description 7
- 230000008569 process Effects 0.000 description 7
- 229910052594 sapphire Inorganic materials 0.000 description 7
- 239000010980 sapphire Substances 0.000 description 7
- HBMJWWWQQXIZIP-UHFFFAOYSA-N silicon carbide Chemical compound [Si+]#[C-] HBMJWWWQQXIZIP-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 7
- 238000005229 chemical vapour deposition Methods 0.000 description 6
- 230000006798 recombination Effects 0.000 description 6
- 238000005215 recombination Methods 0.000 description 6
- 238000000605 extraction Methods 0.000 description 5
- 238000001228 spectrum Methods 0.000 description 5
- 235000012431 wafers Nutrition 0.000 description 5
- 238000000576 coating method Methods 0.000 description 4
- 238000005516 engineering process Methods 0.000 description 4
- 230000001976 improved effect Effects 0.000 description 4
- 230000004224 protection Effects 0.000 description 4
- 230000015572 biosynthetic process Effects 0.000 description 3
- 239000011248 coating agent Substances 0.000 description 3
- 238000004519 manufacturing process Methods 0.000 description 3
- 229920001296 polysiloxane Polymers 0.000 description 3
- 229920005989 resin Polymers 0.000 description 3
- 239000011347 resin Substances 0.000 description 3
- UFHFLCQGNIYNRP-UHFFFAOYSA-N Hydrogen Chemical compound [H][H] UFHFLCQGNIYNRP-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- DGAQECJNVWCQMB-PUAWFVPOSA-M Ilexoside XXIX Chemical compound C[C@@H]1CC[C@@]2(CC[C@@]3(C(=CC[C@H]4[C@]3(CC[C@@H]5[C@@]4(CC[C@@H](C5(C)C)OS(=O)(=O)[O-])C)C)[C@@H]2[C@]1(C)O)C)C(=O)O[C@H]6[C@@H]([C@H]([C@@H]([C@H](O6)CO)O)O)O.[Na+] DGAQECJNVWCQMB-PUAWFVPOSA-M 0.000 description 2
- 239000003795 chemical substances by application Substances 0.000 description 2
- 230000000694 effects Effects 0.000 description 2
- 238000005538 encapsulation Methods 0.000 description 2
- 230000007613 environmental effect Effects 0.000 description 2
- 229910052739 hydrogen Inorganic materials 0.000 description 2
- 239000001257 hydrogen Substances 0.000 description 2
- 238000005286 illumination Methods 0.000 description 2
- 239000004033 plastic Substances 0.000 description 2
- 229920000642 polymer Polymers 0.000 description 2
- -1 polysiloxanes Polymers 0.000 description 2
- 238000007789 sealing Methods 0.000 description 2
- 229910052708 sodium Inorganic materials 0.000 description 2
- 239000011734 sodium Substances 0.000 description 2
- 229910017083 AlN Inorganic materials 0.000 description 1
- PIGFYZPCRLYGLF-UHFFFAOYSA-N Aluminum nitride Chemical compound [Al]#N PIGFYZPCRLYGLF-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 229910052684 Cerium Inorganic materials 0.000 description 1
- 229910004298 SiO 2 Inorganic materials 0.000 description 1
- 238000010521 absorption reaction Methods 0.000 description 1
- 230000003213 activating effect Effects 0.000 description 1
- 229910045601 alloy Inorganic materials 0.000 description 1
- 239000000956 alloy Substances 0.000 description 1
- 239000004411 aluminium Substances 0.000 description 1
- 229910052782 aluminium Inorganic materials 0.000 description 1
- XAGFODPZIPBFFR-UHFFFAOYSA-N aluminium Chemical compound [Al] XAGFODPZIPBFFR-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 230000003321 amplification Effects 0.000 description 1
- 230000002238 attenuated effect Effects 0.000 description 1
- 239000000969 carrier Substances 0.000 description 1
- GWXLDORMOJMVQZ-UHFFFAOYSA-N cerium Chemical compound [Ce] GWXLDORMOJMVQZ-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 239000003086 colorant Substances 0.000 description 1
- 150000001875 compounds Chemical class 0.000 description 1
- 239000004020 conductor Substances 0.000 description 1
- 238000010276 construction Methods 0.000 description 1
- 229920001577 copolymer Polymers 0.000 description 1
- 230000002596 correlated effect Effects 0.000 description 1
- 230000008878 coupling Effects 0.000 description 1
- 238000010168 coupling process Methods 0.000 description 1
- 238000005859 coupling reaction Methods 0.000 description 1
- 238000002425 crystallisation Methods 0.000 description 1
- 230000008025 crystallization Effects 0.000 description 1
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 1
- 238000004821 distillation Methods 0.000 description 1
- 239000002001 electrolyte material Substances 0.000 description 1
- 238000004049 embossing Methods 0.000 description 1
- 238000000407 epitaxy Methods 0.000 description 1
- 239000003822 epoxy resin Substances 0.000 description 1
- 230000002349 favourable effect Effects 0.000 description 1
- HZXMRANICFIONG-UHFFFAOYSA-N gallium phosphide Chemical compound [Ga]#P HZXMRANICFIONG-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 239000002223 garnet Substances 0.000 description 1
- 239000012212 insulator Substances 0.000 description 1
- 230000031700 light absorption Effects 0.000 description 1
- 230000035800 maturation Effects 0.000 description 1
- 239000000155 melt Substances 0.000 description 1
- 230000008018 melting Effects 0.000 description 1
- 238000002844 melting Methods 0.000 description 1
- 230000004048 modification Effects 0.000 description 1
- 238000012986 modification Methods 0.000 description 1
- CLDVQCMGOSGNIW-UHFFFAOYSA-N nickel tin Chemical compound [Ni].[Sn] CLDVQCMGOSGNIW-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 238000003199 nucleic acid amplification method Methods 0.000 description 1
- TWNQGVIAIRXVLR-UHFFFAOYSA-N oxo(oxoalumanyloxy)alumane Chemical compound O=[Al]O[Al]=O TWNQGVIAIRXVLR-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 229920000647 polyepoxide Polymers 0.000 description 1
- 230000000750 progressive effect Effects 0.000 description 1
- 230000001737 promoting effect Effects 0.000 description 1
- 230000009467 reduction Effects 0.000 description 1
- 230000026267 regulation of growth Effects 0.000 description 1
- 230000004044 response Effects 0.000 description 1
- 238000007788 roughening Methods 0.000 description 1
- 238000004062 sedimentation Methods 0.000 description 1
- 238000007493 shaping process Methods 0.000 description 1
- 229910000679 solder Inorganic materials 0.000 description 1
- 239000007787 solid Substances 0.000 description 1
- 238000004544 sputter deposition Methods 0.000 description 1
- 239000000126 substance Substances 0.000 description 1
- 230000008093 supporting effect Effects 0.000 description 1
- 238000001429 visible spectrum Methods 0.000 description 1
Images
Classifications
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01L—SEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
- H01L33/00—Semiconductor devices having potential barriers specially adapted for light emission; Processes or apparatus specially adapted for the manufacture or treatment thereof or of parts thereof; Details thereof
- H01L33/36—Semiconductor devices having potential barriers specially adapted for light emission; Processes or apparatus specially adapted for the manufacture or treatment thereof or of parts thereof; Details thereof characterised by the electrodes
- H01L33/40—Materials therefor
- H01L33/42—Transparent materials
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01L—SEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
- H01L33/00—Semiconductor devices having potential barriers specially adapted for light emission; Processes or apparatus specially adapted for the manufacture or treatment thereof or of parts thereof; Details thereof
- H01L33/005—Processes
- H01L33/0093—Wafer bonding; Removal of the growth substrate
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01L—SEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
- H01L33/00—Semiconductor devices having potential barriers specially adapted for light emission; Processes or apparatus specially adapted for the manufacture or treatment thereof or of parts thereof; Details thereof
- H01L33/02—Semiconductor devices having potential barriers specially adapted for light emission; Processes or apparatus specially adapted for the manufacture or treatment thereof or of parts thereof; Details thereof characterised by the semiconductor bodies
- H01L33/20—Semiconductor devices having potential barriers specially adapted for light emission; Processes or apparatus specially adapted for the manufacture or treatment thereof or of parts thereof; Details thereof characterised by the semiconductor bodies with a particular shape, e.g. curved or truncated substrate
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01L—SEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
- H01L33/00—Semiconductor devices having potential barriers specially adapted for light emission; Processes or apparatus specially adapted for the manufacture or treatment thereof or of parts thereof; Details thereof
- H01L33/02—Semiconductor devices having potential barriers specially adapted for light emission; Processes or apparatus specially adapted for the manufacture or treatment thereof or of parts thereof; Details thereof characterised by the semiconductor bodies
- H01L33/20—Semiconductor devices having potential barriers specially adapted for light emission; Processes or apparatus specially adapted for the manufacture or treatment thereof or of parts thereof; Details thereof characterised by the semiconductor bodies with a particular shape, e.g. curved or truncated substrate
- H01L33/22—Roughened surfaces, e.g. at the interface between epitaxial layers
Landscapes
- Engineering & Computer Science (AREA)
- Manufacturing & Machinery (AREA)
- Computer Hardware Design (AREA)
- Microelectronics & Electronic Packaging (AREA)
- Power Engineering (AREA)
- Led Devices (AREA)
Abstract
公开了一种发光二极管,其包括至少由导电性载体基底上的第III族氮化物的p型和n型外延层形成的激活结构。导电性接合体系连接激活结构与导电性载体基底。第一透明欧姆接触在邻近导电性载体基底的激活结构上,第二透明欧姆接触在与导电性载体基底相对的激活结构上,第三欧姆接触在与激活结构相对的导电性载体基底上。
Description
技术领域
本发明涉及发光二极管,特别涉及提高发光二极管的外部量子效率,在所述发光二极管中,部分或全部去除生长基底并添加载体基底。
背景技术
发光二极管(LEDs)是一类通过促进在适当的半导体材料中的电子空穴复合过程而将外加电压转换为光的光子半导体器件。而且,在复合过程中释放的一些或全部能量产生光子。
发光二极管享有其他半导体器件的许多有利特性。这些通常包括强的物理特性、长的寿命、高的可靠性和依赖于特殊材料的低成本。
本文使用了工业上普遍且熟知的许多术语。然而,在该工业中,这些术语有时在其含义方面非正式地混用。因此,本文尽可能准确地使用这些术语,但是,在每一情况中,其含义在上下文中是清楚的。
因此,术语“二极管”或“芯片”典型地指最低限度地包括两种相反传导性类型(p和n)的半导体部分以及当施加电位差时使得电流流过所得p-n结的一些形式的欧姆接触的结构。
术语“灯”用于指发光二极管,所述发光二极管与适当的机械支承体和电接触以及潜在的透镜匹配,以形成能够添加至或包括于电路或照明器材或该二者的独立装置。
正如本文中使用的,术语“封装”典型地是指适当的物理和电子结构上的半导体芯片(有时简单地为施加电流通过的小片金属)连同塑料透镜(树脂、环氧树脂、密封剂)的布置,所述塑料透镜向二极管提供一些物理保护并且能够光学地引导光输出。
关于发光二极管和二极管灯的结构和操作的适当参考文献包括Sze、PHYSICS OF SEMICONDUCTOR DEVICES第二版(1981)和Schubert,LIGHT-EMITTING DIODES,CambridgeUniversity Press(2003)。
由LED发出的颜色在很大程度上由形成它的材料来限定。由砷化镓(GaAs)和磷化镓(GaP)形成的二极管趋于发出在光谱的较低能量(黄色、红色和红外区的)部分中的光子。材料如碳化硅(SiC)和第III族氮化物具有较大带隙,因而能够产生在电磁光谱(electromagnetic spectrum)的绿色、蓝色、紫色和紫外线部分中出现的具有较大能量的光子。
在一些应用中,当使LED的输出调制(moderated)或转换为不同颜色时,LED是更有用的。随着发出蓝光的LED的可获得性大幅增强,引入降频转换(down-convert)蓝色光子的发出黄光的磷光体也同样地增加。组合由二极管发出的蓝色光和由磷光体发出的黄色光能够产生白色光。再有,在特别包括照明和作为用于彩色显示器的发亮(经常是背光)的许多应用中,来自固态源的白色光的可用性提供结合它们的能力。在此类装置(例如计算机平面屏幕、个人数字助理和手机)中,蓝色LED和黄色磷光体产生白色光,其然后以某种方式分布以照明彩色像素。经常通过组合液晶、滤色器和偏振器形成此类彩色像素,通常将包括背光的整个单元称作液晶显示器(“LCD”)。
随着发光二极管的应用在商业上的增多,以及随着对用于产生白光的二极管的基本特性理解的成熟,在技术方面感兴趣的发展趋于为增加由给定二极管结构产生的光总量的那些,所有的其他因素是相等的。
在这点上,在任何给定量的时间内,由二极管产生的单个光子的数目依赖于在二极管中发生复合过程的数目,光子的数目通常少于复合过程的数目(即,并不是每一过程都产生光子)。再有,复合过程的数目依赖于施加通过二极管的电流量。复合过程的数目又典型地少于注入经过该结的电子数。因此,这些电性能能够减少二极管的外部输出。
另外,当光子产生时,实际上它们也必须离开二极管和由观察者感知到的灯。尽管许多光子将容易地离开灯,但许多已知效应阻碍一部分光子离开。这些效应由二极管中多种材料的折射率差引起,从而减少LED灯的外部输出(即其效率)。这些包括光子的内部反射直至光子被衰减发射或者吸收(即斯涅尔定律(Snell′s Law)和菲涅尔损耗(Fresnel Loss)),而不是发射。二极管中材料之间折射率差也能够改变被发射光子(斯涅尔定律)朝向随后衰减或吸收它的物体的方向。对于通过含磷光体LED灯中的磷光体发射的黄色光子,能够发生相同结果。在LED灯中,该“物体”能够包括基底、包装部分和金属接触层。确实,使得半导体材料发射光子的相同量子机械特性也将促使它们吸收光子。因而,即使LED中的发光外延层也能够吸收发射的光子和降低二极管的总外部效率(external efficiency)。
包括许多发光二极管的许多半导体装置以半导体基底和基底上半导体材料外延层的基本形式存在。外延层经常(尽管非必要地排他)形成装置的激活部(active portion)。因为它们以既提高它们的化学纯度又产生高度有序的晶体结构的方式(随后化学气相沉积)生长,所以它们通常有利于该目的。另外,化学气相沉积提供用于准确地掺杂外延层的优良技术。再者,适当的纯度、晶体结构和掺杂对于成功地操作半导体装置是典型地期望的或必要的。
然而,用于制作外延层的化学气相沉积(CVD)和相关技术比其他晶体生长技术如升华或从熔体中生长(有时称作块体生长(bulk growth))通常更耗时。结果,当预期结构不是外延层时,这些较为迅速(相对地)的方法经常用于产生适当的晶体。
因而,通过组合块体生长基底与外延层,能够产生具有晶体结构、组成纯度、掺杂和有效制作的合理组合的总体结构。
然而,因为几个有关晶体生长的原因,实际上得不到第III族氮化物的块体(即,适当大的尺寸)单晶。因此,第III族氮化物LED典型地形成于其他块体基底材料(最普通的蓝宝石(Al2O3)和碳化硅(SiC))上。蓝宝石相对廉价、可广泛获得和高度透明。可选择地,蓝宝石为不良热导体,因此较少地适于某些高功率的应用。另外,在一些装置中,优选导电性基底,且蓝宝石是绝缘性的而不是导电性的。蓝宝石还带有(例如)约16%的与氮化镓的晶格失配。
碳化硅具有比蓝宝石更好的热导率和更好的与第III族氮化物的晶格匹配,即,约3.5%的与氮化镓和仅约1%的与氮化铝的失配。能够导电性地掺杂碳化硅,但是还是比蓝宝石更加昂贵。
尽管碳化硅提供用于第III族氮化物外延层的生长的优点,但还有促进最终二极管中使用其他基底材料的其他原因。为了使用此类其他材料,必须部分地或整体地去除该生长基底(典型地为碳化硅)和必须添加载体基底。
依赖于最终二极管的功能和用途,使用此类载体基底提供几个优点。作为优点之一,在最终二极管中不需要对于二极管制作步骤中生长基底所需的厚度。通过去除生长基底并利用载体基底替换它,能够有利地降低二极管的总厚度。这在例如于2004年9月22日提交的共同未决的共同受让(commonly assigned)申请号10/951,042中(“High Efficiency Group III Nitride-SiliconCarbide Light Emitting Diode”)描述。
作为另一优点,利用载体基底替换生长基底经常导致载体基底置于离开生长基底的激活层的相对侧上。例如,碳化硅生长基底经常地为n型。因此,在碳化硅基底上生长的第一外延层经常地为n型第III族氮化物层。然后,p型层在n型层的上方生长。
然后,将载体基底典型地添加至p型层,以形成具有两种基底(生长和载体)的中间结构。当从n型层去除生长基底时,载体基底保持附着于p型层。所得结构具有载体基底、载体基底上的p型层和作为相对载体基底的部分的n型层。
尽管p型层对于生产p-n结和p-n结特性是必要的,但是p型第III族氮化物材料的电导率与n型层的电导率相比相对低。结果,难以获得分布于p型层中期望量的电流。
通过使用载体基底,能够倒装(flip)外延层,并能够将p型层导电性地安装至载体基底,n型层能够形成二极管的发射面。在该取向上,n型层的较高电导率提供在横向电流(lateralcurrent flow)方面的优点,并由此提供光提取方面的优点。
作为又一优点,尽管至今的观察为经验性的,但从第III族氮化物发光二极管已观察到增加的亮度,在所述发光二极管中,在碳化硅上生长外延层,其后将碳化硅基底去除并用载体基底替换。
美国专利申请公布20060131599中提供一些关于基底如何能够影响整个装置性能的另外的解释和考虑。
载体基底也能够提供比碳化硅基底更适用于某些焊接技术或其他后续制作步骤的结构。
在其他情况下,环境中的工作二极管不需要碳化硅的热性质或电性质或光性质。在该情况下,碳化硅提供对于生长但不是对于用途的优点。当然,这不同于碳化硅的固有半导体特性为相关性能的某些动力装置(power device)。因为能够再利用去除的碳化硅基底(典型地用作晶片,然后作为晶片去除),在碳化硅上生长第III族氮化物外延层然后去除碳化硅基底能够降低所得二极管的总成本。因此,尽管碳化硅比蓝宝石或其他基底材料相对更昂贵,但以该方式再利用它减缓了制作成本,同时提供用于第III族氮化物外延层的SiC生长优点。
因为至少这些原因,将生长基底去除后在载体基底上生产第III族氮化物发光二极管保留着重大兴趣,从而获得用于在该技术方面继续改进的期望。另外,在该载体基底结构的环境中提高发光二极管的外部量子效率保留着继续的目标。
发明内容
一方面,本发明为包括至少由以下形成的激活结构的发光二极管:第III族氮化物的p型和n型外延层、导电性载体基底、将激活结构与导电性载体基底连接的导电性接合体系、相对于与导电性载体基底邻近的激活结构的第一透明欧姆接触(ohmiccontact)、相对于与导电性载体基底相对的激活结构的第二透明欧姆接触和相对于与激活结构相对的导电性载体基底的第三欧姆接触。
另一方面,本发明为包括以下的发光二极管:导电性载体基底、导电性载体基底上的p型第III族氮化物外延层、相对于p型层的并位于p型层与导电性载体基底之间的第一透明欧姆接触、p型氮化镓层上的n型氮化镓外延层、n型氮化镓外延层上的双凸面、基本上覆盖n型外延层和双凸面的第二透明欧姆接触(第二透明欧姆接触形成与n型外延层相对的双凸面)和相对于与第III族氮化物层相对的载体基底的第三欧姆接触。
又一方面,本发明为发光二极管灯,该发光二极管灯包括头部、头部上的发光二极管,该二极管至少包括第III族氮化物的n型和p型层的激活结构、激活结构的相对侧上的各透明欧姆接触层、导电性载体基底、导电性载体基底与头部之间的欧姆接触以及覆盖头部上的发光二极管和头部部分的密封剂。
又一方面,本发明为包括发光二极管灯、邻近该灯的光扩散器(light diffuser)、邻近该扩散器的多个液晶和滤色器的显示器。
基于以下结合附图的详细描述,本发明的前述的和其他目的、优点及其完成的方法将变得更加清楚。
附图说明
图1和2为根据本发明的发光二极管的横截面示意图。
图3为根据本发明的发光二极管灯的横截面示意性视图。
图4为安装根据本发明的二极管和二极管灯的显示器的局部分解示意图。
具体实施方式
图1说明以10所泛指的根据本发明的二极管的第一实施方案。该二极管10包括通过由至少一层p型第III族氮化物外延层12和一层IIIn型第III族氮化物外延层形成的由符号11所指示的激活结构。在本领域中,第III族氮化物外延层的性质和制作为普遍熟知的,不再另外详细地描述。通常(尽管不是排他地),发光层由氮化镓(GaN)或氮化铟镓(InxGa1-xN)形成,在一定情形例如缓冲层中使用氮化铝镓(AlxGa1-xN)层。尽管图1说明作为一层p型层12和一层n型层13之间的顺向(straightforward)p-n结的发光激活结构11,但可以理解,该激活结构11能够包括附加层如量子阱、多重量子阱或者单或双异质结。再有,这些为本领域所熟知,不再详细地描述。
二极管10包括导电性载体基底14。该载体基底14能够为可以为导电性掺杂的任何材料(或者是导电性的,例如金属),其与平常的制作步骤是相容的,并另外支持和补充发光激活结构11的操作。适当的导电性载体结构包括硅、碳化硅和另外满足所述条件的其他任何材料。
因为载体基底14不是最初的生长基底,所以由括号15指示的导电性接合体系将激活结构11与导电性载体基底14进行连接。图1说明分别作为两金属层16和17的接合体系,但是可以理解,在一些情况下,单层可以是适当的,同时在其他情形中,更多层能够提供优点。在以下美国专利申请公布中提及适当金属接合层的性质和构成的实例:对于“Nickel-Tin B ondingSystem for Semiconductor Wafers and Devices(用于半导体晶片和装置的镍-锡接合体系)”的20080003777;和对于“ModifiedGold-Tin System with Increased Melting Temperature for WaferBonding(对于晶片接合的具有提高的熔融温度的改性金-锡体系)”的20080073665。可以理解,这些对所要求保护的本发明是描述性的而不是限制性的。
二极管10包括邻近导电性载体基底14的相对于激活结构11的第一透明欧姆接触20。第二透明欧姆接触21与导电性载体基底14相对地位于激活结构11上。使得第三欧姆接触22朝向导电性载体基底14的相对一侧,从而完成该基本结构。
如本文所用,术语“透明的”是指透过至少约70%的通过二极管10产生的频率的入射光,优选透过90-100%的该光的欧姆接触。
用于透明欧姆接触以组合三层氮化物层(和其他半导体材料)的最普通材料为氧化铟锡(ITO),各欧姆接触分别能够由氧化铟锡形成。其他候选材料包括以下:氧化铟锡、氧化镍、氧化锌、氧化镉锡、钛钨镍(titanium tungsten nickel)、氧化铟、氧化锡、氧化镁、ZnGa2O4、SnO2/Sb、Ga2O3/Sn、AgInO2/Sn、In2O3/Zn、CuA1O2、LaCuOS、CuGaO2和SrCu2O2。尽管第三欧姆接触22不必是透明的,但能够使其透明,并且透明时由该相同种类的材料制成。
图1还说明第一和第二欧姆接触20和21基本上覆盖所有的激活层11的相关部分。这有助于电流分布,特别是对于p型层12。
透明欧姆接触20和21(以及潜在地对基底14的欧姆接触22)还能够由具有不同折射率的多个不同透明材料层形成。通过该接触提供渐变(progressive)的折射率,当光经过该接触时,此结构最小化菲涅尔损耗。
通过氧化铟锡接触能够获得类似的优点,其是通过该接触而使铟的量梯度化,以逐渐地改变折射率和最小化当光经过该接触时的菲涅尔损耗。
二极管10还能够包括在基底14和激活部分11之间或邻近基底14和激活部分11的至少一层反射层。该反射层能够包括接合金属16或17之一、基底14本身或者邻近接合层的附加层(未示出),或者甚至这些反射层的组合。
发光二极管10还能够包括在示出n型层13以及第二欧姆接触21一部分的放大分解部分中以23所示的双凸面。
在以下美国专利申请公布中提及示例性的(但并非限制性的)技术和所得的双凸面:对于“High Efficiency Group IIINitride LED with Lenticular Surface(具有双凸面的高效第III族氮化物LED)”的20060060874;对于“Method of Forming 3DFeatures on LEDs For Improved Light Extraction(用于改进光提取的在LED上形成3D特征的方法)”的20070037307;和对于“Improved External Extraction Light Emitting Diode Based UponCrystallographic Faceted Surfaces(基于结晶晶面的改进的外部提取发光二极管)”的20060186418。正如在本文中分别指出的,利用压花技术能够形成该双凸面,或者以化学方法产生该双凸面。有时将该双凸面称作“粗糙化的”或“有织纹的”的表面。
在典型实施方案中,二极管10包括对于第二透明欧姆接触21的接合垫(bonding pad)24。同样,该接合垫24还能够包括反射层25,其反射离开接合垫的光。
尽管将光反射回至激活层具有一些缺点(因为出于直接与这些层的光子发射有关的原因,这些层吸收光子),但接合垫24还是典型地最高度地吸收发射的光子的二极管部分。因此,从接合垫24反射光子几乎总是提高光提取。
图1进一步说明二极管10能够任选地包括以26指示的带点部分所指的钝化层(passivation layer)。氮化硅为示例性的钝化结构,正如氮化硅和二氧化硅(SiO2)或氮氧化硅的组合那样。该氮化硅能够为化学计量的(Si3N4)或非化学计量的,而为了最小化或排除氢进入层内,优选溅射沉积。一般说来,氢的存在不利地影响一些第III族氮化物层的特性。正如放大部分所说明的,钝化层26能够任选地包括双凸面27。
正如图1说明的,环境保护体现对于包括钝化层26的至少一个原因。因此,钝化层26基本上覆盖所有的第二欧姆接触21。
图2示出以30泛指的根据本发明的发光二极管的第二实施方案。该二极管30包括在导电性载体基底31和在导电性载体基底31上的p型外延第III族氮化物层32。
正如本文中所用的,术语“在...上”是指二极管中元件的相对位置。尽管该含义在上下文中是清楚的,特别是结合附图理解时,但是一层在另一层“上”的描述能够包括层接触或者它们在彼此上方或下方的情形。在要求清楚的情况下,接触的层将这样描述,但在上下文中,该结构通常是清楚的。
第一透明欧姆接触33提供在p型层32和导电性载体基底31之间的电接触。n型氮化镓外延层34在p型氮化镓层32之上。n型层34具有双凸面35。
第二透明欧姆接触36基本上覆盖整个n型外延层34和双凸面35。该第二透明欧姆接触36也形成相对n型外延层34的双凸面37。该双凸面37的形状与双凸面35相同,或者它的形状能够与双凸面35不同。
当二极管的发射部分为p型时,能够适用相同关系;即,第III族氮化物的p型层能够包括双凸面,双凸的p型层上的金属透明欧姆接触同样具有双凸面。以相同的方式,欧姆接触的双凸面能够与外延层的双凸面相同(即相符合),或者它能够具有不同的双凸模式(lenticular pattern)。
透明欧姆接触33和36能够具有关于图1所指的任何特性,并选自相同种类的材料。正如在第一实施方案中,该接触能够潜在地包括多层在它们各自的折射率方面渐变的层,或者关于铟的原子分数梯度化的ITO层。
第三欧姆接触40与第III族氮化物层34和32相对而位于导电性载体基底上。
图2中说明的实施方案包括有助于提高来自外延层的光的外部提取的倾斜侧壁41。该成形在美国专利申请公布20060131599中详细地描述到。尽管基底的成形能够包括多种几何形状选择,但在许多情形中,如图2中所示的直的(straightforwardly)倾斜的侧壁是适当的。
正如在第一实施方案中,二极管30能够包括在与第二透明欧姆接触36电接触的接合垫42。尽管图2中没有说明,接合垫42也能够包括反射层或反射面,以最小化或消除通过接合垫42的光吸收。
由符号43所示的接合体系将外延层34与导电性载体基底31进行连接。说明两层金属接合层44和45。然而,正如在第一实施方案中的情况下,可以理解,在一些情况下,欧姆层33能够用于将基底31与外延层32和34连接,或者在其他情况下,该接合体系能够不是金属,条件是它是充分导电性的。类似地,能够将接合结构43限于单层,或者它能够包括多层。
正如在第一实施方案中,二极管30能够包括典型地选自由接合金属层44或45或者导电性载体基底31之一组成的组的反射层或反射面。
以类似于图1中所示的导电性载体基底14的方式,导电性载体基底31能够包含适于二极管结构和功能的材料,但是该材料最典型地选自由硅、碳化硅、砷化镓和金属组成的组。
正如在前面的实施方案中,图2中所示的二极管30包括钝化层46,其覆盖第二透明欧姆接触36和接合垫42。用于钝化层46的示例性组成包括氮化硅(化学计量的和非化学计量的),潜在地二氧化硅,以及在一些情况下的氮化硅层和二氧化硅层的有利组合。
图3为根据本发明的发光二极管灯50的示意图。灯50包括根据本发明的发光二极管,其能够包括关于图1和2中所述的实施方案10或30之一。
二极管10位于对二极管10形成机械支承和电接触的头部51上。头部51也作为用于灯50的电极。线53提供对第二电极54的电接触。从广义上使用术语“头部”,以在灯的环境中描述用于LED的适当的机电支承体。
密封剂55覆盖LED 10、以及头部51和电极54的部分。密封剂55提供用于灯50的透镜,还提供对二极管10的环境保护。密封剂能够为适于本发明目的且不以其他方式干扰LED芯片或灯的其他元件的操作的任何材料。正如对于“Phosphor Position InLight Emitting Diodes”(发光二极管中的磷光体位置)的美国专利申请公布20080054279中提及的,当LED芯片在光谱的较高能量部分中发光时(例如,蓝色、紫色和紫外线),该密封剂对在该频率发射的光子应当是较低反应性的或者惰性的。因此,聚硅氧烷(“硅酮”)树脂趋于特别好地适于该密封剂。通常,术语聚硅氧烷是指在-(-Si-O-)n-骨架上构建的任何聚合物(典型地具有有机侧基团(side group))。从广义上使用术语“树脂”,以指形成封装部的任意聚合物、共聚物或复合物。这些材料对于本领域普通技术人员来说通常是熟知的,因而不必详细地讨论。
正如前面提及的,在一些实施方案中,密封剂含有由阴影部分56所示的磷光体,所述磷光体典型地降频转换(down-convert)由二极管10发出的光。最典型地,因为第III族氮化物材料系统在光谱的蓝色部分中发光,所以磷光体56响应于蓝光频率,并最初(尽管不是排他地)在可见光谱的黄色部分中发光。来自二极管10的蓝色光和来自磷光体56的黄色光的组合产生白色光的外部发射。铈掺杂的钇铝石榴石(YAG)为用于该目的的示例性磷光体。
图4说明能够将根据本发明的几个灯50安装于以60泛指的显示器中。除了指出:它们典型地包括二极管灯50和沿其主要平面都扩散光并还使垂直于其主要平面的一些光改变方向的光分配器(light distributor)61之外,各种显示器的性质和操作通常是已知的,本文中将不再详细地描述。
在许多情形中,显示器还将包括由矩形62示意性指示的一系列液晶和通过单个矩形63示意性说明的一系列适当的一个或多个滤色器。在显示器中能够包括其他元件,不过为了清楚起见,此处予以省略。当将信号施加于液晶时,液晶一般沿“开”或“关”定向进行操作,从而组合彩色过滤器63时,显示器60产生彩色图像。
在附图和说明书中,已解释本发明的优选实施方案,尽管已采用特定的术语,但是仅以通用的和描述性的意义使用它们而并不是出于限制的目的,本发明的范围限定于权利要求书中。
Claims (36)
1.一种发光二极管,其包含:
激活结构,其至少由第III族氮化物的p型和n型外延层形成;
导电性载体基底;
导电性接合体系,其连接所述激活结构与所述导电性载体基底;
相对于与所述导电性载体基底邻近的所述激活结构的第一透明欧姆接触;
相对于与所述导电性载体基底相对的所述激活结构的第二透明欧姆接触;和
相对于与所述激活结构相对的所述导电性载体基底的第三欧姆接触。
2.根据权利要求1所述的发光二极管,其中所述第一和第二透明欧姆接触选自由以下组成的组:氧化铟锡、氧化镍、氧化锌、氧化镉锡、钛钨镍、氧化铟、氧化锡、氧化镁、ZnGa2O4、SnO2/Sb、Ga2O3/Sn、AgInO2/Sn、In2O3/Zn、CuAlO2、LaCuOS、CuGaO2和SrCu2O2。
3.根据权利要求1所述的发光二极管,其中所述接合体系至少包含一金属层。
4.根据权利要求1所述的发光二极管,其进一步包含选自由以下组成的组的至少一反射层:所述接合层之一;所述基底;邻近所述接合层的附加层;及其组合。
5.根据权利要求1所述的发光二极管,其中相对于所述载体基底的所述第三欧姆接触是透明的,并选自由以下组成的组:氧化铟锡、氧化镍、氧化锌、氧化镉锡、钛钨镍、氧化铟、氧化锡、氧化镁、ZnGa2O4、SnO2/Sb、Ga2O3/Sn、AgInO2/Sn、In2O3/Zn、CuAlO2、LaCuOS、CuGaO2和SrCu2O2。
6.根据权利要求1所述的发光二极管,其进一步包含在所述激活结构和所述透明欧姆接触之间的双凸面。
7.根据权利要求6所述的发光二极管,其中所述透明欧姆接触的表面也是双凸的。
8.根据权利要求1所述的发光二极管,其进一步包含相对于所述第二透明欧姆接触的接合垫。
9.根据权利要求8所述的发光二极管,其进一步包含在所述接合垫和所述第二透明欧姆接触之间的反射层,所述反射层用于反射离开所述接合垫的光。
10.根据权利要求1所述的发光二极管,其包含在所述激活结构上的倾斜侧壁。
11.根据权利要求1所述的发光二极管,其中所述透明欧姆接触的至少一种包含多层,所述多层相互之间折射率渐变,以最小化当光传播通过所述接触时的菲涅尔损耗。
12.根据权利要求1所述的发光二极管,其中所述透明欧姆接触的至少一种包含氧化铟锡,其中铟的量贯穿该接触梯度化,以逐渐改变折射率和最小化当光传播通过所述接触时的菲涅尔损耗。
13.根据权利要求1所述的发光二极管,其进一步包含所述第二欧姆接触上的钝化层,所述钝化层选自由氮化硅、二氧化硅和氮氧化硅组成的组,并基本上覆盖所述第二欧姆接触和所述激活部分的全部。
14.根据权利要求1所述的发光二极管,其中所述第二透明欧姆接触基本上覆盖所述激活结构的全部。
15.一种发光二极管,其包含:
导电性载体基底;
在所述导电性载体基底上的p型第III族氮化物外延层;
相对于所述p型层的第一透明欧姆接触,所述第一透明欧姆接触在所述p型层与所述导电性载体基底之间;
在所述p型氮化镓层上的n型氮化镓外延层;
在所述n型氮化镓外延层上的双凸面;
基本上覆盖所述n型外延层和所述双凸面的第二透明欧姆接触;
所述第二透明欧姆接触形成与所述n型外延层相对的双凸面;和
相对于与所述第III族氮化物层相对的所述载体基底的第三欧姆接触。
16.根据权利要求15所述的发光二极管,其包含在所述第III族氮化物外延层的至少之一中形成的倾斜侧壁,以增加来自所述外延层的光的外部提取。
17.根据权利要求15所述的发光二极管,其中相对于所述载体基底的所述第三欧姆接触是透明的。
18.根据权利要求15所述的发光二极管,其中所述第一、第二和第三透明欧姆接触的至少之一选自以下组成的组:氧化铟锡、氧化镍、氧化锌、氧化镉锡、钛钨镍、氧化铟、氧化锡、氧化镁、ZnGa2O4、SnO2/Sb、Ga2O3/Sn、AgInO2/Sn、In2O3/Zn、CuAlO2、LaCuOS、CuGaO2和SrCu2O2。
19.根据权利要求15所述的发光二极管,其进一步包含对于所述第二透明欧姆接触的接合垫。
20.根据权利要求15所述的发光二极管,其进一步包含在所述第一透明欧姆接触与所述导电性载体基底之间的接合层。
21.根据权利要求20所述的发光二极管,其中所述接合层至少包含一金属层。
22.根据权利要求21所述的发光二极管,其进一步包含反射层,所述反射层选自由其中所述接合金属层之一和所述导电性载体基底组成的组。
23.根据权利要求15所述的发光二极管,其中所述导电性载体基底选自由硅、碳化硅、砷化镓和金属组成的组。
24.根据权利要求15所述的发光二极管,其进一步包含覆盖所述第二透明欧姆接触的钝化层。
25.根据权利要求24所述的发光二极管,其中所述钝化层包含氮化硅。
26.根据权利要求15所述的发光二极管,其中所述透明欧姆接触的至少一种包含多层透明材料层,所述多层透明材料层具有渐变的折射率,以最小化当光通过所述透明接触时的菲涅尔损耗。
27.根据权利要求15所述的发光二极管,其中所述透明欧姆接触的至少一种包含氧化铟锡层,在该氧化铟锡层中,铟的量贯穿该接触逐渐梯度化,以最小化当光穿过所述透明接触时的菲涅尔损耗。
28.根据权利要求15所述的发光二极管,其中所述p型第III族氮化物外延层具有双凸面。
29.一种发光二极管灯,其包含:
头部;
所述头部上的发光二极管;所述二极管至少包括:第III族氮化物的n型和p型层的激活结构;在所述激活结构的相对侧上的各透明欧姆接触;导电性载体基底;和所述导电性载体基底与所述头部之间的欧姆接触;和
覆盖所述头部上的发光二极管和所述头部部分的密封剂。
30.一种显示器,其包含:
根据权利要求29所述的灯;
邻近所述灯的光扩散器;
邻近所述扩散器的多个液晶;和
滤色器。
31.一种发光二极管,其包含:
至少由第III族氮化物的p型和n型外延层形成的激活结构;
导电性载体基底;
连接所述激活结构与所述导电性载体基底的导电性接合体系;
一种或多种透明接触,所述透明接触选自由以下组成的组:相对于与所述导电性载体基底邻近的所述激活结构的第一透明欧姆接触,相对于与所述导电性载体基底相对的所述激活结构的第二透明欧姆接触,以及所述第一和第二接触;和
相对于与所述激活结构相对的所述导电性载体基底的第三欧姆接触。
32.在包括载体基底和第III族氮化物激活部分的发光二极管中,其改进包含:
在第III族氮化物层上的双凸面;和
在所述的双凸第III族氮化物层上的透明金属欧姆接触。
33.根据权利要求32所述的发光二极管,其中所述透明金属欧姆接触也具有双凸面。
34.根据权利要求32所述的发光二极管,其中所述欧姆接触上的所述双凸面不同于所述第III族氮化物层上的所述双凸面。
35.根据权利要求32所述的发光二极管,其中所述第III族氮化物层为n型或p型。
36.根据权利要求32所述的发光二极管,其包含:
至少两种透明欧姆接触,所述欧姆接触之一相对于p型第III族氮化物层,另一所述欧姆接触相对于n型第III族氮化物层;和
所述透明欧姆接触的至少之一包括至少一双凸面。
Applications Claiming Priority (3)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
US11/738,171 | 2007-04-20 | ||
US11/738,171 US9484499B2 (en) | 2007-04-20 | 2007-04-20 | Transparent ohmic contacts on light emitting diodes with carrier substrates |
PCT/US2008/059390 WO2008130823A1 (en) | 2007-04-20 | 2008-04-04 | Transparent ohmic contacts on light emitting diodes with carrier substrates |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
CN101681972A true CN101681972A (zh) | 2010-03-24 |
CN101681972B CN101681972B (zh) | 2015-08-05 |
Family
ID=39540669
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
CN200880020777.7A Active CN101681972B (zh) | 2007-04-20 | 2008-04-04 | 具有载体基底的发光二极管上的透明欧姆接触 |
Country Status (6)
Country | Link |
---|---|
US (1) | US9484499B2 (zh) |
EP (1) | EP2140503B1 (zh) |
JP (1) | JP2010525574A (zh) |
CN (1) | CN101681972B (zh) |
TW (1) | TWI460882B (zh) |
WO (1) | WO2008130823A1 (zh) |
Cited By (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
CN103280498A (zh) * | 2013-04-22 | 2013-09-04 | 常州大学 | 尖锥形氧化锌/氧化镍异质结二极管的制备方法 |
CN103996761A (zh) * | 2013-02-16 | 2014-08-20 | 晶元光电股份有限公司 | 发光元件 |
Families Citing this family (12)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US7557380B2 (en) * | 2004-07-27 | 2009-07-07 | Cree, Inc. | Light emitting devices having a reflective bond pad and methods of fabricating light emitting devices having reflective bond pads |
US8101961B2 (en) * | 2006-01-25 | 2012-01-24 | Cree, Inc. | Transparent ohmic contacts on light emitting diodes with growth substrates |
KR101325053B1 (ko) * | 2007-04-18 | 2013-11-05 | 삼성디스플레이 주식회사 | 박막 트랜지스터 기판 및 이의 제조 방법 |
US9484499B2 (en) * | 2007-04-20 | 2016-11-01 | Cree, Inc. | Transparent ohmic contacts on light emitting diodes with carrier substrates |
JP4829190B2 (ja) * | 2007-08-22 | 2011-12-07 | 株式会社東芝 | 発光素子 |
US8368100B2 (en) | 2007-11-14 | 2013-02-05 | Cree, Inc. | Semiconductor light emitting diodes having reflective structures and methods of fabricating same |
KR101449030B1 (ko) * | 2008-04-05 | 2014-10-08 | 엘지이노텍 주식회사 | 그룹 3족 질화물계 반도체 발광다이오드 소자 및 이의 제조방법 |
KR100969126B1 (ko) * | 2009-03-10 | 2010-07-09 | 엘지이노텍 주식회사 | 발광 소자 |
US20110186884A1 (en) * | 2010-02-03 | 2011-08-04 | National Central University | LED Reflective Structure and Method of Fabricating the Same |
US8481353B2 (en) * | 2011-04-14 | 2013-07-09 | Opto Tech Corporation | Method of separating nitride films from the growth substrates by selective photo-enhanced wet oxidation |
USD826871S1 (en) | 2014-12-11 | 2018-08-28 | Cree, Inc. | Light emitting diode device |
US11615959B2 (en) * | 2021-08-31 | 2023-03-28 | Hestia Power Shanghai Technology Inc. | Silicon carbide semiconductor device and manufacturing method thereof |
Citations (3)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP3105430U (ja) * | 2004-04-23 | 2004-10-28 | 炬▲きん▼科技股▲ふん▼有限公司 | 垂直電極構造の窒化ガリウム系発光ダイオード |
US20060091405A1 (en) * | 2004-10-29 | 2006-05-04 | Samsung Electro-Mechanics Co., Ltd. | Multi-layer electrode and compound semiconductor light emitting device comprising the same |
CN1816917A (zh) * | 2003-04-30 | 2006-08-09 | 克里公司 | 具有渐变折射率减反射层的发光器件及其制作方法 |
Family Cites Families (149)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
DE2755433C2 (de) * | 1977-12-13 | 1986-09-25 | Telefunken electronic GmbH, 7100 Heilbronn | Strahlungsemittierende Halbleiterdiode |
JPS5742179Y2 (zh) | 1978-01-06 | 1982-09-17 | ||
US4894703A (en) * | 1982-03-19 | 1990-01-16 | American Telephone And Telegraph Company, At&T Bell Laboratories | Restricted contact, planar photodiode |
US4860069A (en) * | 1983-09-24 | 1989-08-22 | Semiconductor Energy Laboratory Co., Ltd. | Non-single-cry stal semiconductor light emitting device |
JPS61141185A (ja) * | 1984-12-13 | 1986-06-28 | Fuji Electric Co Ltd | 光起電力素子の製造方法 |
JPS61141185U (zh) | 1985-02-25 | 1986-09-01 | ||
US4866005A (en) * | 1987-10-26 | 1989-09-12 | North Carolina State University | Sublimation of silicon carbide to produce large, device quality single crystals of silicon carbide |
JPH0268968A (ja) | 1988-09-02 | 1990-03-08 | Sharp Corp | 化合物半導体発光素子 |
JP2953468B2 (ja) | 1989-06-21 | 1999-09-27 | 三菱化学株式会社 | 化合物半導体装置及びその表面処理加工方法 |
US5077587A (en) * | 1990-10-09 | 1991-12-31 | Eastman Kodak Company | Light-emitting diode with anti-reflection layer optimization |
US5214306A (en) * | 1991-01-29 | 1993-05-25 | Sanyo Electric Co., Ltd. | Light emitting diode |
US5334865A (en) * | 1991-07-31 | 1994-08-02 | Allied-Signal Inc. | MODFET structure for threshold control |
US6344663B1 (en) * | 1992-06-05 | 2002-02-05 | Cree, Inc. | Silicon carbide CMOS devices |
US5578839A (en) * | 1992-11-20 | 1996-11-26 | Nichia Chemical Industries, Ltd. | Light-emitting gallium nitride-based compound semiconductor device |
KR100286699B1 (ko) * | 1993-01-28 | 2001-04-16 | 오가와 에이지 | 질화갈륨계 3-5족 화합물 반도체 발광디바이스 및 그 제조방법 |
GB2277405A (en) * | 1993-04-22 | 1994-10-26 | Sharp Kk | Semiconductor colour display or detector array |
US5416342A (en) * | 1993-06-23 | 1995-05-16 | Cree Research, Inc. | Blue light-emitting diode with high external quantum efficiency |
TW319892B (zh) * | 1993-07-14 | 1997-11-11 | Omi Tadahiro | |
US5404282A (en) * | 1993-09-17 | 1995-04-04 | Hewlett-Packard Company | Multiple light emitting diode module |
US5393993A (en) * | 1993-12-13 | 1995-02-28 | Cree Research, Inc. | Buffer structure between silicon carbide and gallium nitride and resulting semiconductor devices |
JP2725592B2 (ja) * | 1994-03-30 | 1998-03-11 | 日本電気株式会社 | 電界効果トランジスタの製造方法 |
JPH07307489A (ja) * | 1994-05-13 | 1995-11-21 | Toshiba Corp | 半導体発光素子及びその製造方法 |
JPH07326823A (ja) | 1994-05-30 | 1995-12-12 | Canon Inc | 光半導体素子及びその製造方法 |
US5523589A (en) * | 1994-09-20 | 1996-06-04 | Cree Research, Inc. | Vertical geometry light emitting diode with group III nitride active layer and extended lifetime |
US5592501A (en) * | 1994-09-20 | 1997-01-07 | Cree Research, Inc. | Low-strain laser structures with group III nitride active layers |
JP3027095B2 (ja) | 1994-10-07 | 2000-03-27 | シャープ株式会社 | 半導体発光素子 |
US5567523A (en) * | 1994-10-19 | 1996-10-22 | Kobe Steel Research Laboratories, Usa, Applied Electronics Center | Magnetic recording medium comprising a carbon substrate, a silicon or aluminum nitride sub layer, and a barium hexaferrite magnetic layer |
US5661074A (en) | 1995-02-03 | 1997-08-26 | Advanced Technology Materials, Inc. | High brightness electroluminescent device emitting in the green to ultraviolet spectrum and method of making the same |
US5585648A (en) * | 1995-02-03 | 1996-12-17 | Tischler; Michael A. | High brightness electroluminescent device, emitting in the green to ultraviolet spectrum, and method of making the same |
US5739554A (en) * | 1995-05-08 | 1998-04-14 | Cree Research, Inc. | Double heterojunction light emitting diode with gallium nitride active layer |
JP3105430B2 (ja) | 1995-08-29 | 2000-10-30 | シャープ株式会社 | 面状発熱体 |
US6258617B1 (en) * | 1995-08-31 | 2001-07-10 | Kabushiki Kaisha Toshiba | Method of manufacturing blue light emitting element |
US5798537A (en) * | 1995-08-31 | 1998-08-25 | Kabushiki Kaisha Toshiba | Blue light-emitting device |
JP2877063B2 (ja) | 1995-11-06 | 1999-03-31 | 松下電器産業株式会社 | 半導体発光素子 |
JPH09139515A (ja) | 1995-11-15 | 1997-05-27 | Sharp Corp | 透明導電膜電極 |
US5915164A (en) * | 1995-12-28 | 1999-06-22 | U.S. Philips Corporation | Methods of making high voltage GaN-A1N based semiconductor devices |
US5812105A (en) * | 1996-06-10 | 1998-09-22 | Cree Research, Inc. | Led dot matrix drive method and apparatus |
JP3209096B2 (ja) * | 1996-05-21 | 2001-09-17 | 豊田合成株式会社 | 3族窒化物化合物半導体発光素子 |
US5708280A (en) * | 1996-06-21 | 1998-01-13 | Motorola | Integrated electro-optical package and method of fabrication |
JPH10189649A (ja) | 1996-12-20 | 1998-07-21 | Sharp Corp | 化合物半導体素子及びその電極形成方法 |
US5813752A (en) * | 1997-05-27 | 1998-09-29 | Philips Electronics North America Corporation | UV/blue LED-phosphor device with short wave pass, long wave pass band pass and peroit filters |
JP3462720B2 (ja) | 1997-07-16 | 2003-11-05 | 三洋電機株式会社 | n型窒化物半導体の電極及び前記電極を有する半導体素子並びにその製造方法 |
US6825501B2 (en) * | 1997-08-29 | 2004-11-30 | Cree, Inc. | Robust Group III light emitting diode for high reliability in standard packaging applications |
CA2299379C (en) * | 1997-08-29 | 2006-05-30 | Cree, Inc. | Robust group iii nitride light emitting diode for high reliability in standard applications |
JP3322300B2 (ja) | 1997-11-14 | 2002-09-09 | 日亜化学工業株式会社 | 窒化ガリウム系半導体発光素子と受光素子 |
JP2000091636A (ja) * | 1998-09-07 | 2000-03-31 | Rohm Co Ltd | 半導体発光素子の製法 |
US6459100B1 (en) * | 1998-09-16 | 2002-10-01 | Cree, Inc. | Vertical geometry ingan LED |
JP3469484B2 (ja) * | 1998-12-24 | 2003-11-25 | 株式会社東芝 | 半導体発光素子およびその製造方法 |
JP3833848B2 (ja) | 1999-05-10 | 2006-10-18 | パイオニア株式会社 | 3族窒化物半導体素子製造方法 |
US6380569B1 (en) | 1999-08-10 | 2002-04-30 | Rockwell Science Center, Llc | High power unipolar FET switch |
US6614056B1 (en) * | 1999-12-01 | 2003-09-02 | Cree Lighting Company | Scalable led with improved current spreading structures |
US6524971B1 (en) * | 1999-12-17 | 2003-02-25 | Agere Systems, Inc. | Method of deposition of films |
US6586781B2 (en) * | 2000-02-04 | 2003-07-01 | Cree Lighting Company | Group III nitride based FETs and HEMTs with reduced trapping and method for producing the same |
AU2001244670A1 (en) | 2000-03-31 | 2001-10-08 | Toyoda Gosei Co. Ltd. | Group-iii nitride compound semiconductor device |
JP4186032B2 (ja) * | 2000-06-29 | 2008-11-26 | 日本電気株式会社 | 半導体装置 |
JP2002026385A (ja) | 2000-07-06 | 2002-01-25 | Hitachi Cable Ltd | 発光ダイオード |
TWI257179B (en) * | 2000-07-17 | 2006-06-21 | Fujitsu Quantum Devices Ltd | High-speed compound semiconductor device operable at large output power with minimum leakage current |
US6380564B1 (en) * | 2000-08-16 | 2002-04-30 | United Epitaxy Company, Ltd. | Semiconductor light emitting device |
US7064355B2 (en) * | 2000-09-12 | 2006-06-20 | Lumileds Lighting U.S., Llc | Light emitting diodes with improved light extraction efficiency |
US6888171B2 (en) * | 2000-12-22 | 2005-05-03 | Dallan Luming Science & Technology Group Co., Ltd. | Light emitting diode |
US6791119B2 (en) * | 2001-02-01 | 2004-09-14 | Cree, Inc. | Light emitting diodes including modifications for light extraction |
US6445007B1 (en) * | 2001-03-19 | 2002-09-03 | Uni Light Technology Inc. | Light emitting diodes with spreading and improving light emitting area |
WO2002084829A1 (en) * | 2001-04-11 | 2002-10-24 | Cielo Communications, Inc. | Long wavelength vertical cavity surface emitting laser |
JP3697609B2 (ja) | 2001-05-23 | 2005-09-21 | 日立電線株式会社 | 半導体発光素子 |
TW564584B (en) * | 2001-06-25 | 2003-12-01 | Toshiba Corp | Semiconductor light emitting device |
JP2003133590A (ja) | 2001-10-25 | 2003-05-09 | Sharp Corp | 窒化ガリウム系化合物半導体発光素子及びその製造方法 |
WO2003065464A1 (fr) | 2002-01-28 | 2003-08-07 | Nichia Corporation | Dispositif a semi-conducteur a base de nitrure comprenant un substrat de support, et son procede de realisation |
AU2003267186A1 (en) * | 2002-05-08 | 2003-11-11 | Target Technology Company, Llc. | Silver alloy thin film reflector and transparent electrical conductor |
JP4123830B2 (ja) | 2002-05-28 | 2008-07-23 | 松下電工株式会社 | Ledチップ |
US6828596B2 (en) | 2002-06-13 | 2004-12-07 | Lumileds Lighting U.S., Llc | Contacting scheme for large and small area semiconductor light emitting flip chip devices |
US7041529B2 (en) * | 2002-10-23 | 2006-05-09 | Shin-Etsu Handotai Co., Ltd. | Light-emitting device and method of fabricating the same |
US6717362B1 (en) * | 2002-11-14 | 2004-04-06 | Agilent Technologies, Inc. | Light emitting diode with gradient index layering |
US6869812B1 (en) * | 2003-05-13 | 2005-03-22 | Heng Liu | High power AllnGaN based multi-chip light emitting diode |
US6974229B2 (en) | 2003-05-21 | 2005-12-13 | Lumileds Lighting U.S., Llc | Devices for creating brightness profiles |
JP2006128727A (ja) | 2003-05-27 | 2006-05-18 | Matsushita Electric Works Ltd | 半導体発光素子 |
TWI240969B (en) * | 2003-06-06 | 2005-10-01 | Sanken Electric Co Ltd | Nitride semiconductor device and method for manufacturing same |
JP4351585B2 (ja) | 2003-06-06 | 2009-10-28 | 矢崎総業株式会社 | スイッチング回路及び電圧計測回路 |
TWI240439B (en) * | 2003-09-24 | 2005-09-21 | Sanken Electric Co Ltd | Nitride semiconductor device and manufacturing method thereof |
US20050082562A1 (en) * | 2003-10-15 | 2005-04-21 | Epistar Corporation | High efficiency nitride based light emitting device |
JP4449405B2 (ja) | 2003-10-20 | 2010-04-14 | 日亜化学工業株式会社 | 窒化物半導体発光素子およびその製造方法 |
KR100586948B1 (ko) * | 2004-01-19 | 2006-06-07 | 삼성전기주식회사 | 질화물 반도체 발광소자 및 그 제조방법 |
JP4530739B2 (ja) | 2004-01-29 | 2010-08-25 | 京セラ株式会社 | 発光素子搭載用基板および発光装置 |
JP2005268601A (ja) | 2004-03-19 | 2005-09-29 | Sumitomo Chemical Co Ltd | 化合物半導体発光素子 |
JP4330476B2 (ja) * | 2004-03-29 | 2009-09-16 | スタンレー電気株式会社 | 半導体発光素子 |
US7419912B2 (en) * | 2004-04-01 | 2008-09-02 | Cree, Inc. | Laser patterning of light emitting devices |
EP1735838B1 (en) * | 2004-04-15 | 2011-10-05 | Trustees of Boston University | Optical devices featuring textured semiconductor layers |
US20050236636A1 (en) * | 2004-04-23 | 2005-10-27 | Supernova Optoelectronics Corp. | GaN-based light-emitting diode structure |
US7791061B2 (en) * | 2004-05-18 | 2010-09-07 | Cree, Inc. | External extraction light emitting diode based upon crystallographic faceted surfaces |
US7084441B2 (en) * | 2004-05-20 | 2006-08-01 | Cree, Inc. | Semiconductor devices having a hybrid channel layer, current aperture transistors and methods of fabricating same |
US7432142B2 (en) * | 2004-05-20 | 2008-10-07 | Cree, Inc. | Methods of fabricating nitride-based transistors having regrown ohmic contact regions |
US7332795B2 (en) * | 2004-05-22 | 2008-02-19 | Cree, Inc. | Dielectric passivation for semiconductor devices |
US7049639B2 (en) | 2004-05-28 | 2006-05-23 | Harvatek Corporation | LED packaging structure |
TWI433343B (zh) * | 2004-06-22 | 2014-04-01 | Verticle Inc | 具有改良光輸出的垂直構造半導體裝置 |
US7547928B2 (en) * | 2004-06-30 | 2009-06-16 | Interuniversitair Microelektronica Centrum (Imec) | AlGaN/GaN high electron mobility transistor devices |
US7795623B2 (en) * | 2004-06-30 | 2010-09-14 | Cree, Inc. | Light emitting devices having current reducing structures and methods of forming light emitting devices having current reducing structures |
US7375380B2 (en) | 2004-07-12 | 2008-05-20 | Rohm Co., Ltd. | Semiconductor light emitting device |
CN1860621A (zh) * | 2004-07-12 | 2006-11-08 | 罗姆股份有限公司 | 半导体发光元件 |
JP4386185B2 (ja) * | 2004-07-28 | 2009-12-16 | サンケン電気株式会社 | 窒化物半導体装置 |
JP2006066903A (ja) | 2004-07-29 | 2006-03-09 | Showa Denko Kk | 半導体発光素子用正極 |
US8115212B2 (en) | 2004-07-29 | 2012-02-14 | Showa Denko K.K. | Positive electrode for semiconductor light-emitting device |
KR100576870B1 (ko) * | 2004-08-11 | 2006-05-10 | 삼성전기주식회사 | 질화물 반도체 발광소자 및 제조방법 |
US8174037B2 (en) * | 2004-09-22 | 2012-05-08 | Cree, Inc. | High efficiency group III nitride LED with lenticular surface |
US7259402B2 (en) | 2004-09-22 | 2007-08-21 | Cree, Inc. | High efficiency group III nitride-silicon carbide light emitting diode |
US7274040B2 (en) * | 2004-10-06 | 2007-09-25 | Philips Lumileds Lighting Company, Llc | Contact and omnidirectional reflective mirror for flip chipped light emitting devices |
US7456443B2 (en) * | 2004-11-23 | 2008-11-25 | Cree, Inc. | Transistors having buried n-type and p-type regions beneath the source region |
US7821023B2 (en) | 2005-01-10 | 2010-10-26 | Cree, Inc. | Solid state lighting component |
US9070850B2 (en) | 2007-10-31 | 2015-06-30 | Cree, Inc. | Light emitting diode package and method for fabricating same |
US7413918B2 (en) * | 2005-01-11 | 2008-08-19 | Semileds Corporation | Method of making a light emitting diode |
KR100609117B1 (ko) | 2005-05-03 | 2006-08-08 | 삼성전기주식회사 | 질화물계 반도체 발광소자 및 그 제조방법 |
KR100675220B1 (ko) * | 2005-05-18 | 2007-01-29 | 삼성전기주식회사 | 질화물계 반도체 발광소자 |
JP4670489B2 (ja) * | 2005-06-06 | 2011-04-13 | 日立電線株式会社 | 発光ダイオード及びその製造方法 |
DE102005036572A1 (de) * | 2005-08-01 | 2007-02-08 | Scheidt & Bachmann Gmbh | Verfahren zum automatischen Ermitteln der Anzahl von sich in einem Gate aufhaltenden Personen und/oder Objekten |
US7875474B2 (en) | 2005-09-06 | 2011-01-25 | Show A Denko K.K. | Gallium nitride-based compound semiconductor light-emitting device and production method thereof |
KR100703091B1 (ko) | 2005-09-08 | 2007-04-06 | 삼성전기주식회사 | 질화물 반도체 발광 소자 및 그 제조 방법 |
TW200717843A (en) * | 2005-10-19 | 2007-05-01 | Epistar Corp | Light-emitting element with high-light-extracting-efficiency |
US8101961B2 (en) * | 2006-01-25 | 2012-01-24 | Cree, Inc. | Transparent ohmic contacts on light emitting diodes with growth substrates |
US7626210B2 (en) | 2006-06-09 | 2009-12-01 | Philips Lumileds Lighting Company, Llc | Low profile side emitting LED |
US8643195B2 (en) * | 2006-06-30 | 2014-02-04 | Cree, Inc. | Nickel tin bonding system for semiconductor wafers and devices |
US7608497B1 (en) * | 2006-09-08 | 2009-10-27 | Ivan Milosavljevic | Passivated tiered gate structure transistor and fabrication method |
US7855459B2 (en) * | 2006-09-22 | 2010-12-21 | Cree, Inc. | Modified gold-tin system with increased melting temperature for wafer bonding |
JP2008112957A (ja) | 2006-10-06 | 2008-05-15 | Mitsubishi Cable Ind Ltd | GaN系LEDチップ |
TW201448263A (zh) * | 2006-12-11 | 2014-12-16 | Univ California | 透明發光二極體 |
US20080197378A1 (en) * | 2007-02-20 | 2008-08-21 | Hua-Shuang Kong | Group III Nitride Diodes on Low Index Carrier Substrates |
JP5186776B2 (ja) * | 2007-02-22 | 2013-04-24 | 富士通株式会社 | 半導体装置及びその製造方法 |
JP5045336B2 (ja) | 2007-04-16 | 2012-10-10 | 豊田合成株式会社 | 半導体発光素子 |
US9484499B2 (en) * | 2007-04-20 | 2016-11-01 | Cree, Inc. | Transparent ohmic contacts on light emitting diodes with carrier substrates |
DE102007019776A1 (de) | 2007-04-26 | 2008-10-30 | Osram Opto Semiconductors Gmbh | Optoelektronisches Bauelement und Verfahren zur Herstellung einer Mehrzahl optoelektronischer Bauelemente |
JP2008294188A (ja) * | 2007-05-24 | 2008-12-04 | Toyoda Gosei Co Ltd | 半導体発光素子及びその製造方法 |
TWI344709B (en) | 2007-06-14 | 2011-07-01 | Epistar Corp | Light emitting device |
JP5251038B2 (ja) | 2007-08-23 | 2013-07-31 | 豊田合成株式会社 | 発光装置 |
DE102007046743A1 (de) | 2007-09-28 | 2009-04-02 | Osram Opto Semiconductors Gmbh | Optoelektronisches Bauelement sowie Verfahren zu dessen Herstellung |
JP5634003B2 (ja) | 2007-09-29 | 2014-12-03 | 日亜化学工業株式会社 | 発光装置 |
US9634191B2 (en) | 2007-11-14 | 2017-04-25 | Cree, Inc. | Wire bond free wafer level LED |
US8368100B2 (en) * | 2007-11-14 | 2013-02-05 | Cree, Inc. | Semiconductor light emitting diodes having reflective structures and methods of fabricating same |
USD631020S1 (en) | 2010-04-29 | 2011-01-18 | Edison Opto Corporation | LED package |
USD680504S1 (en) | 2010-07-30 | 2013-04-23 | Nichia Corporation | Light emitting diode |
USD646643S1 (en) | 2010-11-02 | 2011-10-11 | Silitek Electronic (Guangzhou) Co., Ltd. | Light emitting diode |
USD658139S1 (en) | 2011-01-31 | 2012-04-24 | Cree, Inc. | High-density emitter package |
USD691973S1 (en) | 2011-07-08 | 2013-10-22 | Cree, Inc. | Lamp packages |
CN103094264B (zh) | 2011-10-31 | 2016-03-02 | 光宝电子(广州)有限公司 | 高功率发光二极管 |
USD675169S1 (en) | 2011-12-13 | 2013-01-29 | Lextar Electronics Corp. | Multi-chip LED |
USD694201S1 (en) | 2012-03-30 | 2013-11-26 | Citizen Electronics Co., Ltd. | Light-emitting diode |
USD713804S1 (en) | 2012-05-14 | 2014-09-23 | Cree, Inc. | Light emitting diode (LED) package with multiple anodes and cathodes |
USD709464S1 (en) | 2012-05-31 | 2014-07-22 | Cree, Inc. | Light emitting diode (LED) package |
US20130328074A1 (en) | 2012-06-11 | 2013-12-12 | Cree, Inc. | Led package with multiple element light source and encapsulant having planar surfaces |
USD693781S1 (en) | 2012-08-22 | 2013-11-19 | Kabushiki Kaisha Toshiba | Light-emitting diode |
USD718725S1 (en) | 2013-08-01 | 2014-12-02 | Cree, Inc. | LED package with encapsulant |
USD746240S1 (en) | 2013-12-30 | 2015-12-29 | Cree, Inc. | LED package |
USD741821S1 (en) | 2014-04-10 | 2015-10-27 | Kingbright Electronics Co., Ltd. | LED component |
-
2007
- 2007-04-20 US US11/738,171 patent/US9484499B2/en active Active
-
2008
- 2008-04-04 EP EP08745097.9A patent/EP2140503B1/en active Active
- 2008-04-04 JP JP2010504160A patent/JP2010525574A/ja active Pending
- 2008-04-04 CN CN200880020777.7A patent/CN101681972B/zh active Active
- 2008-04-04 WO PCT/US2008/059390 patent/WO2008130823A1/en active Application Filing
- 2008-04-18 TW TW097114378A patent/TWI460882B/zh active
Patent Citations (3)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
CN1816917A (zh) * | 2003-04-30 | 2006-08-09 | 克里公司 | 具有渐变折射率减反射层的发光器件及其制作方法 |
JP3105430U (ja) * | 2004-04-23 | 2004-10-28 | 炬▲きん▼科技股▲ふん▼有限公司 | 垂直電極構造の窒化ガリウム系発光ダイオード |
US20060091405A1 (en) * | 2004-10-29 | 2006-05-04 | Samsung Electro-Mechanics Co., Ltd. | Multi-layer electrode and compound semiconductor light emitting device comprising the same |
Cited By (4)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
CN103996761A (zh) * | 2013-02-16 | 2014-08-20 | 晶元光电股份有限公司 | 发光元件 |
CN103996761B (zh) * | 2013-02-16 | 2018-04-10 | 晶元光电股份有限公司 | 发光元件 |
CN103280498A (zh) * | 2013-04-22 | 2013-09-04 | 常州大学 | 尖锥形氧化锌/氧化镍异质结二极管的制备方法 |
CN103280498B (zh) * | 2013-04-22 | 2016-08-03 | 常州大学 | 尖锥形氧化锌/氧化镍异质结二极管的制备方法 |
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
US20080258161A1 (en) | 2008-10-23 |
EP2140503B1 (en) | 2018-10-03 |
WO2008130823A1 (en) | 2008-10-30 |
JP2010525574A (ja) | 2010-07-22 |
US9484499B2 (en) | 2016-11-01 |
EP2140503A1 (en) | 2010-01-06 |
CN101681972B (zh) | 2015-08-05 |
TW200901520A (en) | 2009-01-01 |
TWI460882B (zh) | 2014-11-11 |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
CN101681972B (zh) | 具有载体基底的发光二极管上的透明欧姆接触 | |
US8994001B2 (en) | Light emitting device for improving a light emission efficiency | |
CN102339918B (zh) | 发光器件 | |
JP2012204839A (ja) | 発光素子及びその製造方法 | |
CN108565328B (zh) | 发光器件封装 | |
CN102832305A (zh) | 发光器件 | |
CN101681973B (zh) | 具有生长基底的发光二极管上的透明欧姆接触 | |
KR101954205B1 (ko) | 발광 소자 | |
KR20130071077A (ko) | 발광소자 및 이의 제조 방법 | |
KR101843420B1 (ko) | 발광소자, 발광 소자 제조방법 및 발광 소자 패키지 | |
KR20140092090A (ko) | 발광소자 패키지 | |
KR20130065096A (ko) | 발광 소자 | |
KR20140028231A (ko) | 발광소자 | |
KR101861636B1 (ko) | 발광 소자 | |
KR102076238B1 (ko) | 발광 소자 | |
KR101998764B1 (ko) | 발광 소자 | |
KR101861635B1 (ko) | 발광소자 및 이를 포함하는 발광소자 패키지 | |
KR101863871B1 (ko) | 발광소자 | |
KR101688043B1 (ko) | 발광 소자 및 발광 소자 패키지 | |
KR102066621B1 (ko) | 발광 소자 | |
KR20140090800A (ko) | 발광소자 | |
KR20130064249A (ko) | 발광 소자 | |
KR101874904B1 (ko) | 발광 소자 | |
KR20130064251A (ko) | 발광 소자 | |
KR20150012417A (ko) | 발광 소자 |
Legal Events
Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
C06 | Publication | ||
PB01 | Publication | ||
C10 | Entry into substantive examination | ||
SE01 | Entry into force of request for substantive examination | ||
C14 | Grant of patent or utility model | ||
GR01 | Patent grant | ||
TR01 | Transfer of patent right | ||
TR01 | Transfer of patent right |
Effective date of registration: 20221206 Address after: North Carolina Patentee after: Kerui led Co. Address before: North Carolina Patentee before: CREE, Inc. |